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METALURGIA Y SIDERURGIA

PARTE I ENSAYOS

ENSAYOS DE CARACTERIZACIN METALOGRFICA: METALOGRAFA CUANTITATIVA

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PARTE I ENSAYOS 1.2 ENSAYOS DE CARACTERIZACIN METALOGRFICA: METALOGRAFA CUANTITATIVA

EL TAMAO DE GRANO La determinacin del tamao de grano de los materiales policristalinos es, probablemente, la medida metalogrfica ms importante debido a la influencia del tamao de grano en las propiedades y el comportamiento del material El volumen medio de los cristales, es decir, el tamao de los granos de un material metlico, puede caracterizarse por diferentes parmetros convencionales deducidos de la observacin de la seccin de un corte plano del material especialmente preparada para revelar los contornos de la seccin de los cristales por el plano de corte En efecto, el problema de determinar el tamao de granos tridimensionales sobre la base de medidas en un plano siempre ha sido una tarea compleja para los metalurgistas, pues el tamao planar promedio no indica nada sobre el volumen de los granos presentes en el material, aunque es un valor de cierta utilidad En cualquier caso, estos mtodos puramente geomtricos de determinacin del tamao de grano tienen la ventaja de ser absolutamente independientes del metal o la aleacin considerada

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TRMINOS, DEFINICIONES, SMBOLOS Y ABREVIATURAS Los siguientes trminos y definiciones de aplicacin a la hora de calcular el tamao de grano de un producto metlico, estn incluidos en la Norma UNE EN ISO 643 Determinacin microgrfica del tamao de grano aparente Grano: Forma poligonal cerrada con lados ms o menos curvos, que pueden ser revelados sobre un corte plano de la muestra, pulida y preparada para el examen microgrfico Nmero de granos por unidad de rea de la superficie de la probeta, m (la unidad de rea estndar es el mm2) rea media del grano, a (en mm2):

1 a= m

Dimetro medio del grano, d (en mm):

d= a=

1 m
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CARACTERIZACIN DEL TAMAO DE GRANO MEDIANTE UN NDICE (I) ndice: Nmero adimensional G positivo, cero o eventualmente negativo, que se determina a partir del nmero medio m de granos contados en 1 mm2 de seccin de la probeta (1x) Por definicin, G = 1 para m = 16, estando los restantes ndices dados por la frmula

m = 8 2G
Esta frmula puede expresarse en las formas alternativas

G=

logm 3 log2

logm G= 3 0.301

G = 3 + 3.3219 logm

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CARACTERIZACIN DEL TAMAO DE GRANO MEDIANTE UN NDICE (II) La determinacin del ndice G precisa de la evaluacin previa del tamao de grano, para lo cual estn disponibles distintos mtodos

Mtodo de evaluacin por conteo (planimtrico)


Se traza o superpone un crculo que mide 79.8 mm de dimetro (5000 mm2 de superficie) sobre una micrografa realizada a un aumento lineal g tal que el nmero de granos mnimo contenido en la superficie circular sea de 50 La superficie de muestra correspondiente al rea de este crculo es

g n1 = nmero de granos dentro del crculo n2 = nmero de granos intersectados por el crculo

S=

5000
2

(S = 0.5 mm2 para g = 100)

n1 = 28 n2 = 24
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CARACTERIZACIN DEL TAMAO DE GRANO MEDIANTE UN NDICE (III) Si n2 es un nmero impar, se redondea al entero inmediatamente superior El nmero total de granos ng en el crculo trazado es entonces (ng = 40 en el ejemplo de la figura, pues n1 = 28 y n2 = 24)

n ng = n1 + 2 2

El nmero total de granos por milmetro cuadrado, m, sobre la superficie de la muestra es

m=

ng S

En particular, si g = 100 aumentos

g2 ng m= 5000 m = 2n100

Una vez determinado el parmetro m, el clculo del dimetro medio del grano (d) y del ndice de tamao de grano (G), son inmediatos a partir de la formulacin dada

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Mtodo de evaluacin por comparacin con imgenes tipo


El principio del mtodo consiste en comparar la imagen dada por el microscopio con una serie de imgenes tipo en las que los tamaos de los granos son conocidos Las imgenes tipo a un aumento de 100x estn numeradas desde 00 a 10 de manera que su nmero correspondiente sea igual al ndice G Se puede determinar entonces la imagen tipo con el tamao de grano ms prximo al de los campos examinados de la muestra, debiendo seleccionarse, al menos, tres campos de manera aleatoria sobre cada muestra Cuando el aumento g de la imagen examinada no es 100x, en este caso el ndice G viene dado por

g G = M + 6.64 log 100


siendo M el nmero de la imagen tipo ms prxima
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Imgenes tipo

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EL NMERO DE GRANO ASTM (I) En 1951, la ASTM defini el tamao de grano mediante un ndice G (ASTM), conocido con el nombre de tamao o nmero de grano ASTM, que cumpla la relacin bsica

n = 2G( ASTM ) 1

n = nmero de granos en una pulgada cuadrada a 100x

Esta relacin puede expresarse en la forma alternativa

G( ASTM ) =

logn +1 log 2

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EL NMERO DE GRANO ASTM (II) El ndice G (ASTM) = 1 corresponde a un nmero de 15.5 granos por unidad de superficie (mm2)

La ecuacin que proporciona los otros ndices en funcin del nmero de granos m por unidad de superficie (mm2) es

G( ASTM ) = 2.9542 + 3.3219 logm


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RELACIONES NUMRICAS ENTRE LOS DIVERSOS NDICES El ndice ASTM define un tamao de grano ligeramente mayor que el definido por el procedimiento mtrico de la norma europea, pero la diferencia (4.5%) no alcanza la vigsima parte de una unidad de ndice Esto es despreciable, teniendo en cuenta que la exactitud en la estimacin del tamao de grano generalmente es como mximo de media unidad, en las condiciones ms favorables En efecto, se ha visto anteriormente que

G = 3 + 3.3219 logm
La comparacin de esta frmula con la equivalente para el ndice de grano ASTM, muestra en efecto que

G( ASTM ) G = 0.0458

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OTROS PARMETROS CUANTIFICABLES Adems del tamao de grano y de los anlisis inclusionarios, existen otros muchos parmetros susceptibles de ser caracterizados por tcnicas de metalografa cuantitativa, como por ejemplo: Medida de gradientes estructurales (descarburaciones, espesor de capas, ...) Fracciones volumtricas de distintas fases Medida de longitudes (lneas de dislocaciones, ...) Espaciados (espaciado interlamelar, ...) Grados de anisotropa Factores de forma de elementos microestructurales Tamao de partculas
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