SSMICA La capacidad de un material de ser temporalmente deformado por el paso de una onda ssmica puede ser descripta por

las propiedades de la elasticidad. Esa propiedad fsica puede ser utilizada para distinguir diferentes materiales. Esta elasticidad es proporcional al esfuerzo aplicado, y desaparece cuando el mismo cesa. Si tenemos un objeto de volumen V1 sumergido en un fluido, a una presin 1, y luego incrementamos la presin !asta ", esto provoca #ue el volumen del objeto disminuya a V". Esto provoca #ue la densidad del objeto aumente de $1 a $". ruebas en materiales el%sticos demuestran #ue los cambios en el volumen y en la densidad son proporcionales al cambio en la presin. La constante de proporcionalidad k es el denominado mdulo de compresin hidrosttica k y est% definido como&

k=

P P = V , V1 , 1

P =P 1 P " V =V1 V" = 1 "

Este mdulo es una medida de la capacidad de una sustancia de ser comprimida, y puede ser calculado a l#uidos, slidos y gases. '!ora supongamos un cubo entre dos placas paralelas. (uando se aplica una fuerza ) en una placa la misma se mueve en una direccin paralela a la otra placa. (omo la superficie del cubo est% sujeta a la placa, la fuerza se aplica sobre toda el %rea de la superficie. Esto origina una deformacin, = F/A, #ue se denomina esfuerzo de cizalla. *n indicador de este esfuerzo es la distorsin l. En un cubo el%stico de longitud l, un pe#ue+o desplazamiento es proporcional al esfuerzo de cizalla. La constante de proporcionalidad se denomina mdulo de cizalla , #ue es definido como&
= l , l

Este mdulo no puede ser aplicado a l#uidos ideales y gases, en cuyo caso toma el valor de -. (onsideremos un cilindro en una prensa. Se aplica una fuerza ) al %rea en la direccin del eje del cilindro. Esta fuerza genera un esfuerzo compresivo = F/A. (uando el esfuerzo es 1, la longitud es l1 y el di%metro es d1. (uando se aplica el esfuerzo compresivo 2, la longitud del objeto disminuye a l2 y el di%metro aumenta a d2. El cambio en la longitud es proporcional al cambio en el esfuerzo de una sustancia el%stica, y la constante de proporcionalidad es el denominado mdulo de Young E, #ue se define como&
E= l , l
l = l1 l " = 1 "

.tro constante #ue es denominada mdulo de Poisson , #ue se utiliza para mostrar el cambio en el di%metro #ue es proporcional al cambio de longitud&
=
d , d1 l , l1

El mdulo de cizalla, el de oisson y el de /oung, son constante #ue son utilizadas para describir las propiedades el%sticas de los slidos. Ondas s smicas 0odas las ondas se e1presan con un movimiento armnico simple dado por la ecuacin&
A = F + jC

Los mdulos aumentan en profundidad muc!o m%s de lo #ue lo !ace la densidad. or ello las velocidades de las ondas aumentan con la profundidad. Las de menor frecuencia y mayor longitud de onda son las m%s r%pidas. ' mayor frecuencia !ay mayor disipacin y son las primeras ondas #ue se pierden. La amplitud disminuye a medida #ue me alejo de la fuente.

Ondas de cuerpo

La propagacin de una onda ssmica a trav2s de un medio, origina el desplazamiento de las partculas #ue lo componen. E1isten dos tipos b%sicos de ondas el%sticas de acuerdo con la direccin relativa del movimiento de las partculas respecto a la direccin de propagacin de la onda& 3 !as ondas P o compresi"as o longitudinales& en las cuales la direccin del movimiento de las partculas es paralela a la direccin de propagacin4 3 !as ondas S o trans"ersales& en las #ue la direccin del movimiento de las partculas es perpendicular a la direccin de propagacin de la onda. Es decir, !ay deformacin de cizalla perpendicular a la direccin de propagacin. Los l#uidos y los gases solo transmiten las ondas . Estas 5ltimas son m%s r%pidas y junto a las ondas S son las denominadas ondas de cuerpo debido a #ue pueden viajar directamente a trav2s de una sustancia en cual#uier direccin. La siguiente ecuacin demuestra la dependencia de la velocidad de propagacin de las ondas de cuerpo con las constantes el%sticas del medio y con la densidad&

En el caso de ondas longitudinales&

vP =

E 1 = (1 + )(1 " )

k 7 + 6

En el caso de ondas transversales&

vP =

E " (1 + )

vP 1 7 = vP v 1 v 6 "

vP 8 1.99 v

en los elementos naturales vP : " o 6 v . El dato ssmico se asumir% #ue resulta solamente de ondas planas incidiendo y reflej%ndose verticalmente. La !iptesis de planaridad implica considerar #ue las interfases reflectoras est%n suficientemente lejos de la fuente como para considerar #ue el frente de ondas esf2rico es casi plano.

Ondas de superficie 'l de las ondas de cuerpo, las ondas de superficie se producen por !aber una superficie libre con condiciones el%sticas en contacto con otra #ue no las posee, como por ejemplo suelo y aire. Est%s ondas se vuelven d2biles con la profundidad debajo de la superficie. Las mismas est%n representadas por& 3 Ondas #a$leigh& la partcula se mueve de forma circular en direccin contraria a la de propagacin y en un plano vertical #ue coincide con la direccin de propagacin. v! : ;,1- v 4

3 Ondas !o"e& es una deformacin de la superficie perpendicular a la propagacin. v" : v.

#efle%in $ refraccin de ondas s smicas *n frente de onda se deforma cuando alcanza una interfase. En ella pueden pasar tres cosas, #ue se refleje, #ue se refracte o #ue no le pase nada. ' esta 5ltima se la denomina onda directa. (uando la onda incidente alcanza este lmite entre sustancias, se convierte en ondas reflejadas y refractadas tipo y tipos S #ue viajan lejos del lmite en todas las direcciones. Las ondas S as generadas muestran un movimiento transversal de las partculas #ue sucede slo en el plano perpendicular a este lmite, #ue contiene el camino de la onda. En el 5nico caso de #ue incida una onda S con un movimiento transversal de sus partculas en un plano !orizontal, solamente se reflejan y refractan ondas S con la misma polarizacin, pero no ondas . La direccin de viaje de las ondas refractadas y reflejadas en una interfase depende de la direccin y %ngulo de la onda incidente y de la velocidad de la misma. Esto se ve reflejado en la le$ de Snell&

sen.i v = i sen.r vr

La refraccin cr tica sucede cuando la onda viaja por la interfase a una velocidad v2. La misma se produce cuando la onda incide con un %ngulo crtico sobre la interfase. ara el caso de la refraccin crtica, sen r < sen ;-= < 1, entonces de acuerdo a la ley de Snell se tiene #ue&

sen.ic =

vi vr

Lo #ue demuestra #ue el %ngulo depende de las velocidades de las ondas. Esto slo es posible si la onda refractada viaja a mayor velocidad #ue la incidente. ero esta onda #ue alcanza el %ngulo crtico y viaja por la interfase, luego se convierte en emisora de ondas #ue viajan !acia arriba de la misma. Esto se debe al principio de &u$gen #uien dice #ue todos los puntos de un frente de onda son fuentes de un nuevo tren de ondas #ue viajan lejos en todas las direcciones.

La resistencia #ue ejerce un medio !omog2neo al paso de una onda de sonido, se conoce como impedancia ac'stica y se define como el producto entre la velocidad de propagacin de dic!a onda en ese medio y la densidad total de dic!o medio.
# = .V

donde $ >gr,cm6? V >m,s?

Se puede definir al dato s smico como a#uel #ue resulta de registrar en escala de tiempo una onda compleja #ue !a viajado a trav2s de la 0ierra transmiti2ndose y reflej%ndose en los contrastes de impedancia ac5stica. Esta onda compleja se conoce como ond cula. La amplitud de la onda ssmica es cambiada por la refle1in y la refraccin. La magnitud de los contrastes >proporcin entre amplitudes? #ue presentan las amplitudes se mide en t2rminos de coeficientes de refle%in y la valiosa informacin #ue contienen puede e1traerse de las refle1iones primarias registradas. Estos coeficientes dependen del %ngulo de incidencia, la densidad de los medios y de la velocidad de las ondas en esos medios. 's el coeficiente de refle1in de la interfaz i se calcula mediante&

!i =

# i +1 # i # i +1 + # i

ara entender el valor #ue se obtiene consideremos un coeficiente @ < -.-A, lo #ue indica el mismo es #ue el AB de la energa incidente es reflejada !acia la superficie mientras #ue el ;6B restante contin5a su viaje transmiti2ndose al estrato siguiente. Los m%1imos valores #ue puede alcanzar son de 1 o 31, si es igual a - no !ay contraste de impedancia ac5stica y la onda se transmite. Aplicacin de la sismolog a a la prospeccin geof sica (uando se analiza una traza ssmica o un conjunto de ellas como en el caso de una seccin ssmica, se estudian eventos en escala de tiempo y se pretende obtener como resultado informacin del subsuelo en profundidad. La sismologa puede ser dividida en dos de acuerdo al comportamiento de las ondas frente a un cambio de medio& 3 S smica de refraccin& la cual puede ser profunda o somera. En este 5ltimo caso el instrumental es m%s econmico y simple. Este m2todo se basa en contraste de velocidades4 3 S smica de refle%in& a#uella de alta resolucin se utiliza en oceanografa, en geologa marina y lacustre, en geotecnia marina y en obras de ingeniera en el mar. En general se la utiliza en la 5ltima etapa de prospeccin de !idrocarburos para ver estructuras locales y la optimizacin de la e1plotacin. Este m2todo se basa en contrastes de impedancia ac5stica. S smica de refraccin #efraccin cr tica (uando las ondas salen desde el punto de emisin se propagan a trav2s del medio subyacente. Los gefonos situados sobre la superficie reciben primero la onda superficial #ue viaja en la interfase terreno3aire. Luego reciben a#uellas ondas refractadas en otra interfase #ue se encuentra en profundidad. 0odo punto alcanzado en ella se comporta seg5n el rincipio de Cuygens, es decir todo punto alcanzado se convierte en emisor, y esta nueva onda #ue sale de la interfase con un %ngulo crtico es la #ue reciben los receptores. En un punto puede darse la re$racci%n total, es decir el rayo se traslada por la interfase profunda. ero la onda #ue viaja por esta interfase lo !ace a mayor velocidad, por ello a cierta distancia 2sta se recibe al mismo tiempo en los gefonos #ue la superficial >directa?. En el punto donde se produce esto se lo denomina distancia cr tica. Luego de este punto la refractada llega antes #ue la directa. Esta distancia crtica es directamente proporcional al espesor de la capa e indirectamente proporcional al cociente de velocidades v2/v1.

La dromocrona horizontal es un gr%fico 1 o distancia vs tiempo para los distintos gefonos #ue permite la medicin de velocidades y espesores de las distintas capas, y la medicin de buzamiento de las capas. El tiempo donde la recta intercepta el eje vertical de tiempo se denomina tiempo de interceptacin Ti.

La siguiente figura es#uematiza como es el relevamiento de la informacin y como se arma esta dromocrona. El !ec!o de #ue los puntos se puedan plotear en una lnea recta, indica #ue el tiempo es directamente proporcional a la distancia de los gefonos, es decir a mayor distancia se encuentre el gefono, mayor tiempo tardar% en alcanzarlo la onda.

Supongamos el siguiente ejemplo de dos capas para calcular la profundidad D a la cual se encuentra la interfase&

como puede verse

'c Vo& Vo = = = senic '( V1& V1

#o =

)c V1 Vo &i V1 .Vo = " V1 + Vo " V " Vo " 1

Cay #ue tener muc!o cuidado en el c%lculo de los espesores de la primera capa, ya #ue si !ay errores en 2l los mismos se propagan al espesor de la segunda capa. Esto se ve en la siguiente ecuacin del c%lculo del espesor de la capa subyacente&
"#o V" Vo " 1 # 1 = &i " V"Vo
"

VV " 1 " " V" V1

!a profundidad total ( )o * )+

Clculo de "elocidad $ profundidad para "arias interfases Interfase inclinada En estos casos es importante aplicar la t,cnica de perfil-contraperfil. Este se basa en el Princi*io de Fer+at el cual dice #ue un rayo sigue el camino #ue le lleve menor tiempo recorrer, por ello los tiempos finales son los mismos en el perfil y en el contraperfil. Esto se realiza mediante el intercambio de lugar de la fuente y el receptor luego de !aber realizando las medidas correspondientes. El !ec!o de realizar perfil y contraperfil permite saber si la capa inclina o no, debido a #ue las curvas no son sim2tricas en ambos perfiles. El estrato inclina !acia el lado de la recta inicial mayor o mayor distancia crtica y de 0i mayor. Las velocidades encontradas son las aparentes, y la real se encuentra entre la ascendente y la descendente .a / . / .d

-ngulo.cr,tico = i =

1 Vo Vo arcsen + arcsen " V1 d V1 a

inclinaci%n.estrato = =

V1 1 Vo arcsen arcsen " V1 d V1 a

Vo sen i

V1 =

#1 =

&1 aVo " cos i

altura perpendicular al plano de incidencia del punto de e1plosin

.1 = &1 d altura perpendicular al punto final & aVo 1 /1 = 1 profundidad por debajo del punto de " cos i cos

emisin

Si al realizar perfil y contraperfil las rectas son iguales, indica #ue el reflector se encuentra !orizontal. Caso de un horizonte discontinuo (falla) (omo indica la siguiente figura, entre @9 y @A !ay un salto en el tiempo de arribo. En @E se recibe la onda difractada. En el contraperfil tambi2n se observa un salto de tiempo, pero 2ste es inverso al anterior. Este salto se produce desplazado de la falla, pero permite calcular el rec!azo de la misma. La onda directa no se ve afectada por la escarpa.

i+2

i+2

0 =

t.V1 t.V1 .V" = cos i1" V " V " 1 , " " 1

!imitaciones de la s smica de refraccin 'ntes de enunciar las limitaciones cabe mencionar #ue la ssmica de refraccin sirve en el caso de #ue las velocidades aumenten en profundidad. E1isten tres limitaciones a este m2todo, #ue son las #ue se describen a continuacin. Si la capa " de la siguiente figura es de menor velocidad #ue la capa 1, se pierde este segundo estrato por ser de 0a1a "elocidad ya #ue alcanzar%n primero a los receptores las ondas refractadas de la l%mina 6. Se !abla de una zona ciega.

0ambi2n en el caso de #ue se presente una capa de baja velocidad a mayor profundidad y luego le contin5en otras de mayor velocidad, como en el siguiente gr%fico, en la interfase V"3

V6 no !ay refraccin crtica, con lo cual la capa de baja velocidad no se detecta. Esto conlleva a un c%lculo de espesores errneos para interfases m%s profundas, se calculan espesores mayores #ue los reales.

En el caso de #ue se encuentren dos formaciones con la misma litolog a $ la misma "elocidad, se pierde la capa " #ue es la subyacente.

/ si e1iste una capa 2 no mu$ potente con respecto a la capa 1, la misma se pierde ya #ue no se observan los segundos arribos.

Aplicacin Se la utiliza para el c%lculo de las velocidades de las ondas y para saber las profundidades de discontinuidades ssmicas. 0ambi2n se utiliza para la identificacin de

formaciones geolgicas profundas, es decir para determinar la estratigrafa ssmica regional. En s este m2todo es m%s barato #ue el de ssmica de refle1in y es m%s e1peditivo. En el caso de la s smica de refraccin profunda, se utiliza para la investigacin geolgica3geofsica a escala regional. Se realiza para estudios tendientes a determinar la sucesin estratigr%fica de la columna estratigr%fica presentes en la cuenca sedimentaria y para encontrar la profundidad del basamento. Farca los bordes de cuencas y estructuras regionales. En algunos casos !an podido ser detectadas estructuras locales como lo son los domos salinos. En la investigacin cientfica se la !a utilizado para la determinacin de la discontinuidad de Fo!orovicic, la capa de baja velocidad y otras. La s smica de refraccin somera puede alcanzar unos 6-- m de profundidad como muc!o, y la se utiliza en obras ingenieriles para estimar las constantes el%sticas del sustrato portante, la determinacin de paleocanales y fallas #ue condicionen la estabilidad de represas !dricas4 en la b5s#ueda de agua y placeres de oro aluvional debido a #ue sirve para la determinacin del tec!o del bed rocG, y en la b5s#ueda de la informacin necesaria para realizar las correcciones est%ticas con mayor e1actitud en ssmica de refle1in para !idrocarburos como puede ser la determinacin de la topografa del tec!o de la roca consolidada y los espesores de la capa meteorizada. S smica de refle%in Introduccin 3eneral Es el m2todo geofsico m%s importante en la industria. Es la tecnologa esencial en la e1ploracin de !idrocarburos. resenta m%1ima sofisticacin y resolucin. resenta inversiones millonarias. Se utiliza para el estudio de la estructura, estratigrafa, y la presencia de fluidos, principalmente !idrocarburos. 0ambi2n tienen aplicaciones en estudios geolgicos, tectnicos, estratigr%ficos acad2micos >generalmente como subproducto?. El objetivo final de la ssmica de refle1in es el llegar a encontrar la seccin ssmica, o 5ltimamente al cubo >6H?. Los reflectores ssmicos suelen representar superficies geolgicas como lo son planos de estratificacin, discordancias o contacto de fluidos. La sal es un p2simo reflector ssmico y por ello aparece casi en blanco en la seccin. Las ventajas de este m2todo frente a la ssmica de refraccin son muc!as, entre las #ue se pueden mencionar #ue se necesitan tendidos m%s cortos por#ue la onda se refleja r%pidamente. 0ambi2n toda capa con contraste de impedancia ac5stica es reflejada sin importar las velocidades de cada una. La desventaja #ue presenta es la del reconocimiento de los arribos de un reflector en un sismograma. #efle%in s smica (onsiste en el envo de una se+al el%stica al terreno desde la superficie o a poca profundidad, y la registracin de los eventos reflejados, en estaciones registradoras #ue se encuentran !incadas en el terreno de forma regular y e#uidistante. El registro consta del tiempo #ue tard en llegar la se+al, la amplitud con la #ue llega y su polaridad.

El tiempo #ue tarda en recorrer la distancia S.@ es el 01, donde 1 es la distancia emisor3 receptor& 01 < "r , V1 entonces 01 < " >>1,"?" I !1"?1," , V1 para 1 < - el recorrido del rayo es vertical y de menor tiempo 4o ( 2 h+ 5 .+ y elevando al cuadrado #ueda #ue 01" < 1", V1" I 7 !1" , V1" luego dividiendo por 7 !1" y reordenando #ueda 4%2 5 67h+2 5 .+28 - %25 7h+2 ( + #ue es la Ecuacin de una !ip2rbola #ue describe la relacin entre el tiempo y la distancia. Siempre !ay #ue recordar #ue el tiempo en ssmica es el de ida y vuelta de la onda. Las ondas directas y refractadas describen una trayectoria recta en un gr%fico 0 vs d o en un sismograma. Fientras #ue la onda reflejada describe una !ip2rbola. donde r < >>1,"?" I !1"?1,"

9ormal Mo"e Out El JF. es la diferencia de tiempo de arribo de una refle1in en diferentes canales por distinto recorrido debido a geometra del tendido. Es decir a#uellos receptores #ue se

encuentren a mayor distancia de la fuente recibir%n a mayor tiempo la onda reflejada. En la siguiente figura la fuente se ubica en A y !acia ambos lados la onda tarda cada vez m%s tiempo en alcanzar los receptores, luego de #ue se reflejo en un reflector !orizontal.

(omo se dijo anteriormente el JF. es la diferencia de tiempo entre 01 y 0o entonces& 01 < 0o I K0 donde K0 < JF.

Sabemos #ue 01" < 1", V1" I 7 !1" , V1" y #ue 0o < "!1 , V1, entonces 01 < >0o" I 1", V1"?1," K0 < >0o" I 1", V1"?1," 3 0o pero 01 < 0o >1 I 1", 0o" V1"?1," y usando una e1pansin binomial tenemos #ue 01 < 0o >1 I 1", "0o"V1" I 17, L0o7 V17 I . . . . . ? usando solo los dos primeros t2rminos 01 0o I 1" 0o , " 0o" V1" < 0o I 1" , " 0oV1" Entonces 9MO ( :4 %2 5 2 4o.+2 He a#u se desprende #ue a mayor % mayor 9MO, tambi2n #ue a mayor 4o menor 9MO #ue se da cuando la capa se encuentra a mayor profundidad, y #ue a mayor .+ menor 9MO. Es importante saber #ue el JF. disminuye con la profundidad.

Clculo de "elocidad $ profundidad El c%lculo de la velocidad puede realizarse mediante la utilizacin de dos canales o con todos ellos. En el siguiente caso se utilizan dos canales&

0o < " !1 , V1

donde

h+ ( 4o .+ 5 2

0o < tiempo de arribo para trayectoria vertical. Sabemos #ue& 01" < 1", V1" I 7 !1" , V1" < 1", V1" I 0o" 0o < >01" 3 1", V1"?M ara un mismo arribo a distintos canales se da& 4o2 ( 4%+2 ; %+2 5 .+2 ( 4%22 ; %22 5 .+2 01"" N 011" < >1"" N 11"? , V1" entonces .+ ( 66%22 ; %+28 5 64%22 ; 4%+2 88< (alculando as V1 se puede calcular !1 y tambi2n 0o con las ecuaciones arriba mostradas. La siguiente demostracin muestra el c%lculo de V1 y 0o usando todas las traza o canales. Se parte de la siguiente ecuacin& 4%2 ( 6+ 5 .+28 6%28 * 4o2 Oraficando 01" vs 1", se observa la aparicin de una recta #ue se corresponde con la ecuacin de una recta vista arriba&

donde 4o2 se obtiene de la ordenada al origen y +5.+2 se obtiene de la pendiente. #efle%iones en superficies 0uzantes

(uando se encuentran superficies buzantes lo primero #ue se ve es #ue ! y d ya no coinciden como pasaba en superficies !orizontales. El siguiente gr%fico muestra como es la representacin del trazado de rayos, donde se puede ver #ue S= es un punto imagen au1iliar para la trayectoria de rayos. La distancia entre el punto imagen y el receptor es igual a la trayectoria total SH@ < SP@ SH I H@ < SPH I H@ >pues SH < SPH?

S== es el punto en la vertical sobre SP. Hado #ue SPPSP es la menor distancia de SP a la superficie, SPP es el punto receptor de 01 mnimo, donde se da #ue 0o 8 01 min. Es decir el recorrido S3SQQ es el de menor tiempo.

Entonces para encontrar el tiempo, tenemos #ue V < dist. , tiempo 01 < >SH I H@? , V1 < SP@ , V1 a!ora >SP@?" < >SQ SQQ?" I >SQQ@?" y SSQ < " !4 SSQQ < " ! sen R4 SQSQQ < " ! cos R y SQQ@ < SSQQ I S@ < 1 I " ! sen R entonces e1presando distancias como tiempo >V1 < cte? 01" < >" ! cos R , V1?" I >1 I " ! sen R , V1?" Sue es la ecuacin de una !ip2rbola con desplazamiento del 0o. Es decir el mnimo valor ya no se encuentra en 1 < - debido a #ue se desplaz la !ip2rbola como se muestra en la siguiente figura, o de otra forma a!ora 0o 8 0min.

Clculo de profundidad y buzamiento del reflector He la lectura del sismograma se desprende #ue 0o" < 7 !" , V1" y el tiempo mnimo entonces 0min < " ! cos R , V1 > ( arc cos 64min 5 4o8 0o < " ! , V1

cos R < 0min , 0o o

El Tmin < SSQQ < " ! sen R, entonces la profundidad a la cual se encuentra el reflector medida perpendicularmente al mismo es h ( ?min 5 2 sen > y ! < d cos R, entonces& d ( ?min 5 62 sen > cos >8 donde d < profundidad del reflector debajo del punto de e1plosin #ue es el centro del tendido o canal central. Dip o!e "ut (#Td)

Esta dado por el desplazamiento de la !ip2rbola, dado por la inclinacin del reflector. Las siguientes figuras muestran la informacin para calcular el %ngulo de inclinacin o buzamiento de un reflector, medido por el tiempo de arribo de dos receptores ubicados a la misma distancia de la fuente, pero en direcciones opuestas. Los tiempos de refle1in t) y t1) son observados en los receptores !) y !1) respectivamente, y 2&d = &) 3 &1) es el denomina dip mo"e out. ara un reflector !orizontal este K0d < -. 'l ser desigual a cero indica #ue el reflector est% inclinado !acia el receptor donde !ay un mayor tiempo de viaje.

K0d < 01 N 031

K0d < >" 1 sen R? , V1

> ( arc sen 66:4d .+8 2%8 Casta a!ora se consider R como buzamiento verdadero. Esto es solo verdadero si la lnea ssmica es perpendicular al rumbo del reflector. En caso contrario se deben realizar c%lculos tridimensionales& !orizonte reflector y tendido no comprendidos en el mismo plano4 trazado de rayos ssmicos fuera de la vertical. Figracin de una seccin ssmica.

#efle%iones en sistemas de capas m'ltiples En el siguiente caso se tomar%n m5ltiples capas !orizontales como muestra la figura donde se debe cumplir #ue V1 8 V" U V6

Entonces tenemos #ue&

0o1 < " !1 , V1 < " dt1 #ue es el tiempo #ue tarda en recorrer la se+al el intervalo 1 0o" < " !1 , V1 I " !" , V" < " dt1 I " dt" 0o6 < " !1 , V1 I " !" , V" I " !6 , V6 < " dt1 I " dt" I" dt6 4on ( 2 @ni(+6hi 5 .i8 donde C1 < !1 C" < !1 I !" C6 <!1 I !" I !6

Entonces la "elocidad promedio, debido a #ue la velocidad vara en funcin de la profundidad, y por eso es un promedio V1p< " C1, 0o1 < !1 , dt1 < V1 V"p< " C", 0o" < >!1 I !"? , >dt1 Idt"? V6p< " C6, 0o6 < >!1 I !" I !6? , >dt1 Idt" Idt6? o lo #ue es igual V6p< >V1 dt1 IV" dt" IV6 dt6? , >dt1 Idt" Idt6? Llegamos as a la e1presin de las velocidades promedio en funcin de las de intervalo& .Ap( @ni(+6.i dt+8 5 @ni(+ dt+ La profundidad de una capa n ser%& &n ( 6.np 4on8 5 2 La velocidad promedio no puede usarse para trayectorias #ue no corresponden a la vertical >1 8 -?. Hebido a #ue al alejarse de la trayectoria vertical de los rayos comienza a ser importante, a parte del espesor y n5mero de capa, la trayectoria dentro de cada capa. La distancia recorrida en cada capa depende de los %ngulos de refraccin #ue dependen de la ley de Snell. Se define entonces la "elocidad de ra z cuadrtica media 6"elocidad #MS8 #ue considera distintos recorridos en cada capa seg5n los %ngulos de refraccin. Esta velocidad tambi2n es una velocidad promedio. or construccin tenemos #ue cos i11 < !1 , S' < dt1 , Kt1 K t1 < dt1 , cos i11 Hefinimos V1rms < >V1" K t1 , K t1? M < >>V1" dt1 , cos i11? , >dt1 , cos i11?? M .bviamente para una capa V1 rms < V1 ara el segundo reflector K t1 < dt1 , cos i1" y K t" < dt" , cos i"" " " V" rms < >>V1 dt1 , cos i1" I V" dt" , cos i"" ? ,>dt1 , cos i1" I dt" , cos i"" ?? M Oeneralizando, la velocidad @FS para cada medio ser%

.nrms ( 6@nB(+ 6.B2 dtB 5 cos iBn8 5 @nB(+ 6dtB 5 cos iBn88< ara cual#uier reflector entonces tenemos #ue el tiempo de arribo de la se+al a una estacin situada a una distancia 1 es igual a& 4%n ( 64on2 * %2 5 .nrms28< Entonces la velocidad @FS ser% ligeramente diferente para cada estacin, es decir, cada receptor tiene su @FS, con lo cual no !ay una 5nica @FS. or ello se trabaja con una especie de media de todas las @FS. La misma depende de las velocidades, del espesor y de la direccin de viaje a trav2s de la capa situada por encima del reflector. Ecuacin de Di$ En una estructura de interfases m5ltiples se pueden determinar la velocidad de intervalo Vn y espesor 0 de una capa cual#uiera n seg5n& Vn" < >Vn">rms? 0o,n N Vn31">rms? 0o,n31? , >0o,n N 0o,n31? (onociendo Vn se puede calcular 0n !n < Vn >0o,n N 0o,n31? , " y la profundidad / a la cual se encuentra la capa n& Cn < Vni<1 !i #efle%iones m'ltiples La superficie terrestre es otra interfase, con lo cual !ay nuevamente refle1in en ella. 's contin5a sucesivamente reflej%ndose la onda como se muestra en la siguiente figura, !asta #ue alcanza al receptor. ueden !aber infinitas refle1iones en un mismo reflector, pero solamente unas pocas y primeras poseen la energa necesaria para aparecer como un pulso en un sismograma. ' mayor cantidad de m5ltiples tambi2n va decayendo la amplitud de la onda, con lo cual solamente las primeras poseen una amplitud #ue puede ser detectada en un sismograma. *na forma de pensar esta situacin es como #ue el tiempo #ue tarda en llegar una onda luego de reflejarse tanto, es el mismo #ue tardara si se reflejara una 5nica vez en una capa m%s profunda, conformada por dos capas de igual espesor y velocidad >reflector imaginario, punto H?.

or esto las refle1iones se pueden dividir en& #efle%in PrimariaC se denomina as cuando ocurre una sola refle1in de la onda antes de arribar al receptor4 #efle%in M'ltipleC se denomina de esta manera cuando la onda sufre m%s de una refle1in antes de arribar al receptor. Se considera ruda y se la intenta de eliminar. ara lograrlo, se localiza un evento ssmico cuyo 0o suele ser m5ltiplo del 0o de la refle1in primaria. La siguiente figura representa distintos tipos de m5ltiples&

La capacidad de producir m5ltiples depende de los coeficientes de reflecti"idad 6CD#D8. Este coeficiente representa el contraste de impedancias ac5sticas. Si se apro1iman a 1 !ay un !orizonte capaz de producir m5ltiples significativas4 pero si es m%s pe#ue+o sucede lo contrario.

Wnterfases con numerosas m5ltiples

Wnterfases sin m5ltiples significativas

Si se pasa de un medio de mayor impedancia ac5stica a otro de menor, !ay una polarizacin de la onda, es decir, cambia de sigo. Es muy importante identificar estas m5ltiples debido a #ue las mismas pueden indicar lmites de capas adicionales, #ue en realidad no e1isten. Eifraccin (omo dijimos en un principio, por principio de Cuygens cada punto receptor es emisor de ondas. 's #ue una singularidad en la interfase se convierte en un emisor singular y el receptor pasa a recibir adem%s de las ondas reflejadas una difractada. Esto se debe a #ue cuando incide un frente de ondas plano sobre el punto H ubicado en la singularidad, luego se propagar% un frente de ondas esf2rico desde ese punto. 's es #ue en el canal ubicado en el punto . no se va a poder discriminar la refle1in de la difraccin, debido a #ue tardan lo mismo en viajar en el medio. En cambio en otros receptores m%s alejados si se las puede diferenciar, por#ue las difractadas tardan m%s en llegar.

4dif ( 4+ * d4dif

d4dif ( 64+2 * %2 5 .+28+52

4dif ( 4+ * 64+2 * %2 5 .+28+52 Sue tambi2n aparece como una !ip2rbola en el registro. La presencia de estas difracciones puede indicar reflectores en una posicin donde ellos no se encuentran realmente, por eso es importante reconocerlas.

O0tencin de datos s smicos La ssmica necesita una topografa detallada, es decir, se necesita la cota y la ubicacin de los receptores. El m2todo ssmico consiste en el envo de una se+al el%stica al terreno y la recepcin y registro de tiempo, y amplitud de la se+al ssmica con su polaridad >signo?. Estos receptores son sensores #ue se disponen en lnea recta y #ue detectan la componente vertical del movimiento. Los mismos convierten la vibracin mec%nica en corriente el2ctrica #ue se transmite y se graba.

%uentes Se las puede dividir de acuerdo en #ue medio se este aplicando el m2todo ssmico& S smica 4errestre& 3 E)*losivos 3 Vi4roseis 3 .tros& ej. (inoseis. Se lo utiliza para ssmica somera y consiste en dejar caer un ca+o. Se utiliza en tendidos m%s pe#ue+os.

 S smica Marina 3 E)*losivos& se utilizan con mayor utilidad #ue en la terrestre 3 Ca5%n de Aire& es el m%s utilizado, consiste en un m2todo de aire comprimido, #ue genera una burbuja #ue e1plota y se propaga por el agua !asta llegar al lec!o donde se refleja. 3 *arker, etc. El primero se utiliza !aciendo descargas el2ctricas en el agua. &e'istracin En s smica terrestre se utilizan gefonos como receptores y cables ssmicos para la transmisin de la se+al. Los gefonos son sensibles al movimiento vertical del suelo. En s smica marina se utilizan !idrfonos como receptores y cables ssmicos marinos >streamer?. Los receptores est%n ubicados dentro de estos cables, con lo cual la recepcin es interna. Este !idrfono es sensible a variaciones de presin en el medio debido al paso de una onda ssmica, #ue es una diferencia #ue presentan con los gefonos. Este cable se lleva a poca profundidad y se miden las variaciones de presin. En ambos relevamientos se utiliza una unidad de control y procesamiento. ultiple$ado y desmultiple$ado La siguiente figura muestra un es#uema de cmo es el relevamiento y almacenamiento de los datos. Los datos son recibidos en los gefonos, luego viajan a trav2s de los cables ssmicos !asta los preamplificadores y,o filtros de la se+al, para finalmente alcanzar la unidad de control. '#u es donde se realiza el multiple%ado #ue es la confeccin de un 5nico registro para todos los canales. 0iene un lmite de canales #ue se pueden analizar. Se simplifica de esta manera la unidad de procesamiento. Esto se realiza mediante un muestreo sistem%tico y correlativo de la se+al. Se procede a la conversin de una se+al analgica a una digital, asign%ndole un n5mero a la amplitud. El desmultiple%ado es la confeccin de sismogramas individuales por canal mediante muestreo de la se+al digital. Es decir a los n5meros los descompongo en columnas. Este sismograma digital puede ser reemplazado por una curva.

&e'istro de (ibroseis (Correlo'rama) La se+al del vibroseis es muy larga >ej. 1E seg.? con lo cual la registracin es simult%nea con la emisin, es decir no se termin de largar la segunda se+al #ue ya se est% recibiendo la primera. Hebido a esto la lectura es imposible y por ello se aplica un procesamiento matem%tico denominado correlacin, entre la se+al emitida y el registro. El sismograma correlado o correlograma es transformar el registro del vibroseis en el correspondiente a una ondcula simple, denominada ondcula de )lauder. Esta ondcula es conocida como ondcula de fase cero. El arribo de la se+al coincide con el pico positivo de esta ondcula >marcado en la figura?. Luego se trabaja como si este correlograma fuera un sismograma. ara su construccin se realiza lo siguiente& C+ ( S+ % .+ * S2 % .2 * SA % .A DDDDDDDDDDSFG % .FG C2 ( S2 % .+ * SA % .2 * S7 % .A DDDDDDDDDDSF+ % .FG

4ipos de 4endidos Los tendidos ssmicos "H m%s comunes en la actualidad son los conocidos como& Hnd-Spread& la fuente se ubica en el e1tremo del tendido de registracin >tpico en relevamientos marinos?4 Split-Spread& la fuente se ubica en el centro del tendido de registracin >tpico en relevamientos terrestres?. Estos tendidos !an dejado de utilizarse mayormente debido a su cobertura parcial o sin multiplicidad del subsuelo.

T*cnica del CD+ (common depth point) Esta t2cnica reduce significativamente las refle1iones m5ltiples y resalta las primarias. El CEP es donde se puede pensar #ue se produce la refle1in. Es una disposicin geom2trica de fuentes y receptores #ue permiten cubrir la zona. Xajo condiciones ideales, la cobertura en profundidad es la mitad de la cobertura en superficie. Los puntos de refle1in est%n e#uidistanciados la mitad #ue los receptores.

La fuente se desplaza a lo largo del tendido y es ubicada con una e#uidistancia igual o m5ltiple de la e#uidistancia entre estaciones. El objetivo es #ue el mismo punto en profundidad sea muestreado m5ltiples veces. El fold es el n5mero de veces #ue un punto en profundidad es muestreado. Es muy importante ya #ue a mayor cantidad de fold !ay mayor cantidad de informacin y permite resaltar eventos #ue de otra forma son difciles de ver. El fold m%1imo se alcanza en la zona central del tendido y disminuye !acia los e1tremos.

Este fold m%1imo puede ser calculado de la siguiente forma& Ima% ( 9r Hr 5 2 Hs donde 9r < n5mero de receptores, Hr ( e#uidistancia entre receptores y Hs ( e#uidistancia entre fuentes. E1iste una relacin geom2trica simple entre receptores y fuentes para un

mismo (H . El CMP 6punto medio del tendido8 se ubica e1actamente por encima de los (H en condiciones ideales. Si miramos desde arriba !acia abajo del (F se observar%n todos los (H apilados correspondientes a esa lnea vertical. Este punto es muy importante, ya #ue de 2l se Ycolgar%Z la traza ssmica total, ya corregida, en un registro ssmico. Hebido a los diferentes espaciamientos fuente3receptor, todos los tiempos de arribo de las refle1iones son diferentes. or ello para un mismo (H !ay #ue realizar la correccin por el JF.. El proceso de seleccionar un sistema de trazas para ser apilado se llama sorting >clasificacin?. El grupo de trazas seleccionadas para un apilado particular de (H se llama CEP gathers y se realiza luego de todo el relevamiento, mediante el apilamiento de todas las trazas a las #ue le corresponde el mismo (F . En otras palabras, se juntan los sismogramas #ue corresponden al mismo (F . (ada sismograma corresponde a un par fuente3receptor, a diferencia de un sismograma com5n. El objetivo final es generar una 5nica traza para ser ubicada en la seccin ssmica. Presentacin de registros s smicos ueden ser de la siguiente manera& &ra.a de -rea varia4le& se pintan los picos de las curvas para remarcar los resaltos. El problema #ue presenta es #ue marca los picos pero tapa los senos4 &ra.a de densidad varia4le con *seudocolor& se pintan los picos y los senos de las curvas, pero de diferente color.

Correcciones Correccin esttica (To) Se denomina correccin esttica por#ue lo #ue se realiza es subir o bajar la traza de la curva seg5n el valor obtenido de correccin. 0o se utiliza por#ue se asume #ue la trayectoria de los rayos es vertical, ya #ue el contraste es muy grande entre la capa meteorizada y la subyacente, aumentando as muc!o el %ngulo refractado. ara cada fuente y receptor vara la cota y espesor de la capa meteorizada, #ue es la #ue absorbe la energa y !ace #ue las velocidades obtenidas sean menores. or eso variaciones laterales de la misma influyen de diferente forma seg5n la posicin del receptor. ero la funcin m%s importante de esta correccin es la de llevar la medicin a un plano de referencia ,nico, el datum, eliminando las influencias de la cota y el espesor de la capa meteorizada. 0oc < 0o N (0o se asume trayectoria vertical

C4o ( ho5.o * 6) ; )o ; ho8 5 .+ o C4o ( te * tJ te ( 6) - )o8 5 .+ donde te& tiempo de elevacin, tJ& tiempo de [eat!ering tJ ( ho 6+5.o ; +5 .+8

ara poder realizar esta correccin se deben conocer D #ue es la cota, !o #ue es el espesor de la capa meteorizada, Vo #ue es la velocidad de la capa meteorizada y V1 #ue es la velocidad de la primera capa subyacente a la meteorizada. 0odos estos datos se consiguen aplicando ssmica de refraccin, pero m%s precisamente la velocidad y el espesor de la capa meteorizada se obtienen poniendo un gefono en la boca del pozo del cual se realiz la e1plocin. La velocidad de la capa subyacente se obtiene por#ue es la primer onda refractada.

Correccin dinmica (- ") ara realizar esta correccin tambi2n se considera #ue los reflectores son !orizontales y #ue las velocidades no varan lateralmente. Se asume #ue la diferencia del tiempo de arribo es por la diferencia en el recorrido. Se lleva la !ip2rbola del gr%fico distancia3tiempo a una recta !orizontal para #ue est2n al mismo tiempo las ondas y poder as sumarlas. Esta correccin se realiza para cada (H . ara realizar esta correccin es necesario conocer la Vrms. 4%n ( 64on2 * %2 5 .nrms28<

Correccin por .mplitud El ndice de sem0lanza es una funcin #ue permite ver cuan bien se alinean las diferentes curvas. Si se obtiene un valor m%1imo #uiere decir #ue esa es la velocidad correcta y este valor se obtiene cuando& 3 !ay una refle1in4 3 las diferentes curvas est%n en fase4 3 la Vrms es la correcta.

Este ndice est% influido por los canales de menor recorrido por#ue en los otros se va perdiendo amplitud. ara eso se realiza la correccin por amplitud. ' medida #ue una onda se propaga pierde amplitud por& 3 E1pansin geom2trica& '1 < 'o,r donde '1& amplitud a la distancia 1 'o& amplitud inicial r& dist. recorrida 3 'bsorcin& '1 < 'o e1p >3a r? or lo tanto& '1< >'o e1p >3ar? ? , r con r < Vrms 01 A% ( 6Ao e%p 6- a .rms 4%88 5 .rms 4% donde a& coeficiente de absorcin

Los receptores m%s alejados aportar%n menos a definir la velocidad. ara corregir por amplitud necesitamos conocer la velocidad. Poder de #esolucin +oder de &esolucin horizontal La onda ssmica no es reflejada en un punto >(H ? sino en una zona. El tama+o de dic!a zona depende de la profundidad y la longitud de onda. Esta zona es la denominada zona de Iresnel. ' mayor zona !ay un menor poder de resolucin !orizontal. Esta dependencia de la profundidad se debe a #ue a mayor profundidad el frente de ondas es mayor por#ue se va aplanando, con lo cual la zona de )resnel es mayor. Esta zona #ueda definida entre dos puntos de interferencia destructiva debido a #ue la diferencia de camino ptico es igual a \," y abarca toda el %rea en el !orizonte reflector #ue contribuye a la refle1in. Las ondas reflejadas all est%n en fase.

La contribucin a la se+al de cada elemento de %rea dentro de la zona de )resnel no es e#uivalente, siendo m%1ima la misma en el punto de refle1in, #ue se ubica en el centro de la zona.

Las zonas de )resnel variaran para las distintas frecuencias componentes de la se+al.

E1iste una relacin del tama+o del objeto y la zona de )resnel. (uando el objeto es la mitad de la zona de )resnel, todava puede ser diferenciado pese a la difraccin. ero en ] es mayor la difraccin y el objeto ya no puede ser diferenciado.

El concepto de zona de )resnel implica #ue la refle1in abarca una zona transversal al perfil "H >refle1in fuera de plano?. +oder de resolucin !ertical

Es el mnimo espesor #ue puede ser resuelto como dos interfases independientes. Hepende de la longitud de onda. Se suele tomar como #ue @ < ] \ es el mnimo espesor diferenciable, aun#ue trabajando con la amplitud se puede continuar !asta 1,L \.

' partir de ] \ la diferencia de tiempo de arribo entre pico y valle permanece constante. 's comienza la disminucin de la amplitud. Se puede utilizar la disminucin en amplitud para inferir la disminucin de espesor.

#uido S smico El registro ssmico es una sumatoria de se+al >S? y ruido >@?. La relacin S,@ determina la calidad del registro. ' mayor relacin mayor calidad. Los ruidos pueden clasificados en& 3 Incoherentes& este tipo de ruido no es repetible o predecible. uede afectar solo a algunas estaciones y de diferente forma. Se reducen midiendo nuevamente4 3 Coherentes& es una se+al #ue se #uiere eliminar. Los son las refle1iones m5ltiples, las difracciones, las ondas superficiales. Los mismos vuelven a aparecer cuando se repite la medicin. La disminucin o eliminacin de ruido se realiza mediante los siguientes m2todos& diseKos de adLuisicin& se realizan ensayos de ruido. Se modifican los dise+os de ad#uisicin para disminuir ruidos, por ejemplo, se generan ondas @ayleig! lo

#ue se !ace es poner a los gefonos separados a una distancia igual a la \ de @ayleig!. ara realizar este ensayo se utilizan fuentes y receptores m5ltiples4 filtrados& los filtros de frecuencia pueden ser analgicos o digitales. El primer filtro es el dise+o del gefono, ya #ue est% dise+ado para captar ciertas frecuencias. *n tipo es el $iltro de 4aja $recuencia, donde slo pasa la se+al de baja frecuencia y #uedan atrapadas las de alta. .tro es el 4and1*ass, #ue es un filtro #ue elimina altas y bajas frecuencias y deja pasar solo una banda especfica o rango de frecuencias intermedias4 procesamientos Migracin& el objetivo es reposicionar los eventos ssmicos en su verdadera posicin, por ello se necesita conocer Vrms. 0ambi2n busca colapsar las difracciones, es decir !acer desaparecer estas !ip2rbolas. 0ambi2n intenta de compensar variaciones laterales de velocidad. (uando un reflector es inclinado su posicin en una seccin ssmica no corresponde a la verdadera, para ello se realiza lo siguiente&

^DQ < V1 >0o1 N 0o"? < V1 ^0 0g X < ^DQ , ^1 sen R < ^DQ , ^1 sen R < V1 ^0 , ^1 > ( arc sen 6.+ ^4 5 ^%8 (onociendo . se puede determinar > y se puede reposicionar el !orizonte reflector en su posicin real, debido a #ue el %ngulo del reflector es el mismo #ue !ay #ue rotar al punto para llevarlo a su posicin original. _ es el %ngulo #ue inicialmente se cree #ue inclina el reflector, el cual no es verdadero. Hebera recalcularse 0o y desplazarse la traza lateralmente. Oeneralizando se reemplaza V1 por Vn>rms?.

La mi'racin ms sencilla es modificar 0o en cada traza sin desplazamiento& 4om ( 4on cos > * 4on sen > 4g > donde 0om < 0o migrado. /a vimos #ue > depende de V, ^0 y ^1. /mearin'0 en un reflector inclinado no se produce un verdadero (H ya #ue cada trayectoria de rayos implica un punto de refle1in ligeramente desplazado pendiente arriba. (elocidad de stackin'0 depende de la inclinacin de la capa. Se realiza una migracin con correccin por Hip Fove .ut.

Wrregularidades en un reflector produce ondas difractadas #ue interfieren con las refle1iones de un sismograma. Estas ondas salen de forma radial desde el punto S #ue es donde se encuentra el 0o. (uando se apilan las trazas de los (H verticalmente para preparar una seccin ssmica, las ondas difractadas crean una imagen #ue podra ser confundida con un reflector ar#ueado. La imagen difraccin tiene una forma de !ip2rbola. El arco circular centrado en la posicin de 0o con un radio igual al tiempo de viaje del mismo, todos se interceptan en un punto com5n SQ. Esta condicin geom2trica es la llave para la migracin por difraccin. El objetivo principal de la migracin es el de remover la imagen de la difraccin de la seccin ssmica.

Cay m5ltiples modos y operaciones de migracin& 3 Hominio de tiempo& la migracin produce una seccin de tiempo

3 Hominio de la profundidad& la migracin involucra una conversin tiempo a profundidad >variaciones laterales de v? Los procedimientos m%s utilizados son& 3 Figracin por m2todo de `irc!off 3 Figracin por diferencias finitas 3 Figracin en el dominio de la frecuencia3n5mero de onda Pre-stacB& migracin correcta pero muy laboriosa Post-stacB& migracin simplificada, puede acarrear errores o p2rdida de informacin. !a tierra como filtro 6con"olucin8 La con"olucin es la sumatoria de efectos de transformacin de la onda a medida #ue se propaga por el planeta. or esto se considera a la 0ierra como un filtro #ue se puede describir como un operador matem%tico complejo. Los efectos de la 0ierra son el de absorber la onda, producir una e1pansin geom2trica y la presencia de refle1iones y refracciones, los cuales modifican la se+al, y a la salida de la misma >entrada en los receptores? es a!ora una onda compleja. La e1pansin geom2trica y la absorcin act5an reduciendo la amplitud de la onda. La absorcin tambi2n tiende a alterar el espectro de frecuencias de la onda por absorcin de la energa de alta frecuencia m%s f%cilmente #ue la de baja frecuencia. or ello, act5a como un filtro de pasa bajos.

ara entenderlo mejor, observemos la siguiente figura. ' es la columna litolgica y X la serie de coeficientes de refle1in correspondientes a cada cambio de impedancia ac5stica en '. (1 !asta (9 muestran la ondcula ( asociada a cada uno de los cinco coeficientes de refle1in considerados con su amplitud y signo correspondiente, es decir a#uella onda compleja #ue partiendo de la fuente se refleja en ese contraste y regresa al receptor. ero como no es posible detectar estas ondculas individualmente, los eventos simult%neos se interfieren dando origen al sismograma H, #ue es la simple superposicin >suma? de todos ellos.

El sismograma registrado conocido como traza ssmica 0>t? puede sintetizarse mediante la convolucin de los coeficientes de refle1in @>t? con la ondcula .>t?. 0>t? < .>t? a @>t? o 0>t? < .>t? a fc >t? donde 0& traza .& ondcula fc& filtro de convolucin

donde t es el tiempo empleado por la onda ssmica para recorrer el camino desde la fuente !asta las interfases reflectoras y desde all !asta el receptor. La decon"olucin es un filtro inverso para recuperar la onda original. Su funcin es eliminar parte del filtro terrestre >parte superior? y las m5ltiples muy marcadas >fuertes?. 0>t? < .>t? a f!r >t? a f[ >t? f[ >t? N1 < fde>t? donde f!r& eventos de refle1in f[& efectos no deseados fde& filtro de deconvolucin

0ambi2n e1iste la decon!olucin predicti!a, #ue se trata de preveer donde se va a dar la m5ltiple y se aplica all el filtro de la misma funcin pero inversa. Atri0utos de la seKal s smica La funcin es resaltar partes de la se+al para una m%s f%cil interpretacin.

La traza ssmica se puede interpretar como la proyeccin en el plano real de una traza compleja. S smica AE Se realiza con vibroseis al igual #ue las ondas S. resenta una cobertura en grilla regular de (H s muy superior a serie de perfiles "H ortogonales. En otras palabras, se diferencia de la "H en el espaciado y en el n5mero de datos, ya #ue maneja muc!os m%s. 0iene una cobertura areal continua y una mejor resolucin. En el dise+o en planta, se disponen las lneas de receptores paralelas entre s, pero perpendiculares a las lneas de emisores, las cuales tambi2n se disponen paralelamente entre si. En el armado de tendidos se busca siempre de armarlos de forma de #ue los puntos medios sean siempre los mismos y as sean (H . ero como los (H no son siempre los mismos, se dividen en zonas con una grilla, y los puntos suelen caer cerca del centro.

Cacia el centro de la grilla se obtiene el mayor fold, aun#ue 2stos son menores #ue en ssmica "H. Van en aumento desde los bordes de la grilla.

osteriormente se realizan las mismas correcciones #ue en ssmica "H. Anisotrop a s smica Han informacin estructural. Se las encuentra si se compara un perfil ssmico "H con una parte de la 6H y no son iguales. Ondas S El uso conjunto de ondas S y , es decir de su relacin la cual no es constante, permite evaluar par%metros de petrof%brica del suelo y diferentes comportamientos del mismo, como la presencia de una zona saturada con fluidos, ya #ue las ondas S desaparecen. Jo dan muc!a informacin adicional de la estructura, de la estratigrafa y la velocidad. Las ondas S son generadas por un tipo especial de vibroseis, donde el movimiento de la placa es lateral.

Interpretacin S smica

Es una combinacin de ciencia, m2todo y arte. Es esencial la e1periencia y el conocimiento del int2rprete de geologa y de fundamentos del m2todo ssmico. Los o01eti"os son un cuadro geolgico general >estratigrafa, tectnica, etc.?, el encontrar ambientes favorables para yacimientos de !idrocarburos, encontrar sus trampas tanto estructurales como estratigr%ficas y la presencia de fluidos. Hentro de las trampas estructurales se reconocen los anticlinales, las fallas >directas o inversas?, los domos4 mientras #ue las trampas estrati'rficas est%n representadas por discordancias, pinc!3outs o acu+amientos y la gradacin lateral. Hentro de las refle1iones se deben distinguir a#uellas con o sin contenido geolgico. '#uellas #ue no lo poseen son las m5ltiples, las difracciones, las refle1iones fuera de plano y las distorsiones por variaciones de velocidad. Fientras #ue las refle1iones con contenido geolgico son a#uellas superficies estratales, discordancias, corrimientos >fallas de bajo %ngulo #ue act5an como reflectores inclinados? y contactos entre fluidos. Este 5ltimo se observa como un punto brillante, es decir !ay una gran variacin en la amplitud. Es importante saber #ue los !orizontes reflectores tienen significado cronoestratigr%fico m%s #ue litoestratigr%fico, y #ue los reflectores ssmicos siguen superficies estratales #ue son lneas de tiempo. Jo siguen lmites litoestratigr%ficos. Los m2todos de interpretacin son dependientes del int2rprete, del objetivo y de la informacin disponible. Su objetivo principal es el de reconstruir la seccin geolgica del subsuelo a partir de la seccin ssmica. Es de gran importancia el procesado de la ondcula, debido a #ue una ondcula m%s corta y simple lleva a una seccin ssmica con mayor resolucin y calidad de refle1in. La interpretacin estructural y la estratigr%fica no es la misma, pero son interdependientes. La primera de ellas se basa en& 3 Heterminacin de reflectores principales 3 Heterminacin del basamento ssmico, el cual se reconoce por refle1iones mayormente inco!erentes y no se reconocen reflectores continuos. Jormalmente esta representado por rocas gneas o metamrficas o muy deformadas. 3 (ontinuidad de reflectores debido a #ue una discontinuidad en ellos podra indicar la presencia de fallas. La aparicin a ambos lados de la falla del mismo reflector ayuda al c%lculo del rec!azo de la misma 3 (aractersticas asociadas a estructuras, como las difracciones en fallas, los problemas de amplitud en pliegues y el pull up en domos, arrecifes, evaporitas, fallas. El deterioro de la refle1in sobre las c!arnelas de los anticlinales y la p2rdida de amplitud y calidad de la se+al son buenos indicadores de los pliegues 3 Wmportancia de la migracin 3 (o!erencia entre lneas 3 Finimizar errores de cierre 3 Estilos estructurales 3 Fapas estructurales, isop%#uicos, etc La interpretacin estratigr%fica se basa en& 3 (ontinuidad de reflectores 3 (aractersticas de los reflectores como son atributos, velocidades, coeficientes 3 Heterminacin de discordancias 3 (orrelacin con geologa de superficie 3 (orrelacin con geologa y perfiles de pozos 3 Sismoestratigrafa

Sismoestratigraf a Esta rama muestra un salto cualitativo en la interpretacin ssmica. El aumento de la calidad del dato ssmico permite !acer interpretaciones estratigr%ficas sofisticadas. Es la base de la Estratigrafa Secuencial. Secuencia depositacional Son un conjunto de estratos gen2ticamente vinculados y limitados por discordancias o concordancias correlativas. La secuencia s smica es una secuencia depositacional determinada por medio de la ssmica donde los estratos son los reflectores.

! mites de secuencias

El onlap indica un ascenso del nivel del mar. Fientras #ue un onlap costero indica agradacin costera. *n ascenso del nivel del mar no es sinnimo de transgresin

Figracin descendente brusca del onlap costero indica cada del nivel del mar < probable lmite de secuencia.

El offlap da informacin del r2gimen #ue oper en la formacin de la secuencia >desaparicin de algunos !orizontes?. La siguiente figura muestra algunas posibles terminaciones de reflectores dentro de una secuencia.

Iacies S smica El an%lisis conjunto de diferentes par%metros ssmicos >configuracin de reflectores, velocidad, forma e1terna del pa#uete de reflectores, atributos, etc.? permite definir facies ssmicas dentro de cada secuencia. Las facies ssmicas deben indicar caractersticas de los ambientes y procesos de sedimentacin. or ejemplo el arreglo geom2trico de reflectores puede ser&

(onfiguracin de los reflectores

)orma y configuracin de reflectores da informacin sobre energa del medio >ej. )acies cl%sticas de plataforma?.

@elacin entre facies ssmicas y geologa

S smica de Pozo Surge realizarla por#ue la ssmica superficial tiene una baja resolucin vertical >1,7\ N 1,L\?, pero posee una alta correlacin lateral. Lo contrario sucede para la ssmica de pozo. *no de los objetivos de la misma es comparar los datos obtenidos con a#uellos resultados de la ssmica superficial. El objetivo final es el de volcar la informacin obtenida de la perforacin de un pozo profundo sobre una seccin ssmica de superficie. 's se intenta de obtener una relacin clara entre los eventos ssmicos y geolgicos. Esto le permite valerse de la ssmica de superficie para e1trapolar lateralmente la informacin de pozo y elaborar mapas m%s confiables o ajustar los ya e1istentes. La ssmica de pozo puede au1iliar y complementar a la ssmica de superficie reduciendo la ambigbedad en su interpretacin, lo #ue le permitir% mejorar los planos y mapas del subsuelo #ue 2sta 5ltima genera. La misma puede ser dividida en& Sismograma sint2tico erfil Ssmico Vertical >VS ? .tros

Sismograma Sint,tico El mismo intenta e ayudar a la identificacin correcta de la posicin en tiempo de un determinado evento del #ue se conoce su posicin en profundidad. Se trata de la obtencin de una traza ssmica sint2tica a partir de datos de pozos. Es decir, es la traza ssmica en tiempo correspondiente al pozo. Se la obtiene luego de convolusionar matem%ticamente la ondcula con la columna de coeficientes de reflectividad o en otras palabras es la construccin de la columna en profundidad de coeficientes de reflectividad >(.@.?. Los datos necesarios& 3 Per$il s%nico& obtiene las velocidades del medio en zonas cercanas al pozo, las cuales sufren alteraciones por la construccin del mismo 3 Per$il de densidad& se puede deducir 3 Caracter,sticas de la ond,cula energeti.ante 3 Construcci%n de la colu+na de coe$icientes de re$lectividad 6contraste de i+*edancia ac7stica8 a *artir del *er$il s%nico 9 del de densidad En muc!os casos si no se corresponden el perfilaje ssmico del pozo con el superficial se debe a la ondcula. or eso se procede a la eleccin de la ondcula y a la convolucin a trav2s de la columna de coeficiente de reflectividad. Luego se realiza la conversin profundidad N tiempo >incorporacin de secciones no relevados del pozo?.

La correspondencia del sismograma sint2tico con el pozo >profundidad, litologa, edad, etc.? permite YatarZ esta informacin a la seccin ssmica relevada en superficie. Es decir se procede a la correlacin del sismograma sint2tico con la seccin ssmica. ero !ay #ue recordar #ue la respuesta ssmica depende de la ondcula energetizante, con lo cual con un sismograma sint2tico puede investigarse la variacin de la respuesta ssmica en funcin de la ondcula >utilidad en procesamiento e interpretacin?. La ondcula utilizada para generar este sismograma debe ser coincidente con la correspondiente a la seccin ssmica tras su procesamiento. El Sismograma sint2tico es unidimensional. ara considerar trayectorias de rayos m%s realistas debe recurrirse al modelado ssmico.

Perfil S smico .ertical 6.SP8 El sismograma sint2tico adem%s de las suposiciones #ue realiza y de los datos #ue necesita, se encuentra limitado por la e1tensin del pozo, es decir, slo es capaz de suministrar informacin sobre los estratos atravesados por el pozo, pero no de los ubicados por debajo de 2l. *na forma de independizarse de estas limitaciones es utilizar una t2cnica #ue comprenda la ad#uisicin de nuevos datos ssmicos independientes de la ssmica de superficie, y #ue cumpla con l re#uisito impuesto de obtener una traza ssmica de refle1iones primarias. Esta t2cnica es el Perfil S smico .ertical 6.SP8. El mismo es una evolucin de la prueba de velocidad donde se analiza no slo el arribo directo sino la onda completa. Es un perfil ssmico real obtenido en un pozo. Es la transformacin de la prueba de velocidad. Se coloca una fuente en la boca del pozo y gefonos en profundidad e#uiespaciados. Se toma registro por 637 segundos. La prueba de velocidad consiste en el registro de tiempo de los primeros arribos a los gefonos en el pozo. Estos gefonos est%n ubicados en interfases principales seg5n perfil snico. El fin de esta prueba es calibrar el perfil snico. El campo de ondas puede ser dividido en& Ondas E& descendentes. Llegan desde la parte superior, con lo cual los gefonos m%s profundos reciben m%s tarde esta se+al, es decir a mayor profundidad mayor tiempo. La misma consta de la onda directa >a? y de refle1iones m5ltiples >b, c y d?. Es muy importante por#ue da informacin de estas m5ltiples y sirve para aplicar un filtro preconvolucin. En este campo no e1isten refle1iones primarias4 Ondas M& ascendentes. Llegan desde abajo, con lo cual los gefonos m%s profundos son los primeros en recibir esta se+al, es decir a mayor profundidad menor tiempo. Este campo de ondas es comparable en cuanto a su estructura a un registro ssmico de superficie, es decir #ue los eventos de refle1in registrados pueden separarse en refle1iones primarias >a y b? y en m5ltiples >c y d?.

&e'istro de (/+ Los campos de ondas se pueden identificar en el registro como se muestra en la siguiente figura.

Los !orizontes reflectores en profundidad se reconocen por #uiebres en las ondas directas. En la siguiente figura se observan ondas ascendentes y m5ltiples de las mismas. Llevando cada evento H a igual tiempo >!orizontalizacin?, salvo el primer arribo, el resto son m5ltiples.

Si para cada estacin del receptor se dise+a. Sobre el registro de ondas H, un filtro de deconvolucin para atenuar m5ltiples, es decir un filtro al #ue entre la onda H completa y del #ue salga slo el arribo directo, y se lo aplica al registro de las ondas * correspondiente, se obtiene como resultado, un registro compuesto casi e1clusivamente de refle1iones primarias. 0ambi2n se puede utilizar a este campo de ondas H para la Ley de Velocidades y la calibracin de perfil snico. Las ondas * muestrean una zona de )resnel alrededor del pozo. *n registro VS no es una seccin ssmica. El resultado final del mismo significa ver apro1imadamente la misma zona desde profundidades diferentes. 0ras la !orizontalizacin del campo de ondas * se determinan las refle1iones principales y se puede realizar una conversin tiempo N profundidad de alta precisin. La importancia del m2todo es #ue proporciona informacin por debajo del pozo. Esto sirve para la correlacin de datos ssmicos del pozo con la seccin ssmica de superficie. Si se trata de localizar !orizontes reflectores, se deber% buscar amplitud, car%cter y esencialmente continuidad a lo largo de las trazas de un registro de onda * despu2s de la deconvolucin. En pozos dirigidos se puede obtener pseudosecciones ssmicas por debajo del pozo. 's se obtiene importante informacin para el desarrollo del mismo.

Se puede ubicar la fuente para focalizar la informacin en zonas de alto inter2s.

(enta1as2Des!enta1as y .plicaciones Las ventajas #ue presente este m2todo frente al sismograma sint2tico son& 3 0iene un origen ssmico con lo cual la ondcula es real 3 Wncidencia no vertical 3 Heterminacin del operador para eliminar m5ltiples 3 Heterminacin real de par%metros de deconvolucin 3 *bicacin de !orizontes reflectores por debajo del pozo Fientras #ue las desventajas son su costo. Las principales aplicaciones son& 3 (alibracin de ssmica de superficie& identificacin de !orizontes reflectores, dentro y por debajo del pozo 3 Ley de velocidades del pozo 3 Heterminacin de par%metros de procesamiento >deconvolucin? de secciones ssmicas de superficie 3 Wdentificacin de refle1iones m5ltiples 3 (onversin tiempo3profundidad de alta precisin 3 Heterminacin de propiedades ac5sticas de interfases rocosas 3 Estimacin de un perfil de impedancias ac5sticas por debajo del pozo Offset seismic profile 6OSP8 Los sismogramas sint2ticos y reales, presentan una caracterstica en com5n, y es #ue su an%lisis se efect5a en una dimensin, la profundidad z, o el tiempo t. Si se trata de e1tender e alcance de la ssmica de pozo a la solucin de problemas en dos dimensiones, distancia lateral 1 versus t o z se utilizan otros m2todos. (uando el objetivo es estudiar la continuidad lateral de los reflectores m%s all% del entorno del pozo, el VS es una !erramienta muy limitada. La t2cnica empleada en estos casos es disponer la fuente a cierta distancia de la boca del pozo, de manera #ue los puntos de refle1in se muevan significativamente a lo largo de los reflectores. El m2todo del .S se logra ubicando la fuente lejos del pozo, as los puntos de refle1in se ubican a lo largo del reflector. Se aplica para la generacin de mini secciones ssmicas >U M del offset?, es decir locales en inmediaciones del pozo, para la determinacin de estructuras y

control estructural en pozos dirigidos. *sualmente la distancia de la fuente vara entre 6-- y 6--- m.

.rigina secciones ssmicas cortas laterales y por debajo del pozo. *bicando fuentes en forma radial se puede tener una imagen pseudo 6H alrededor del pozo. Es muy utilizado en zonas de complicaciones estructurales.

Las principales aplicaciones son& 3 Oeneracin de secciones ssmicas locales inmediatas al pozo 3 Heterminacin de estructuras 3 (ontrol estructural en pozos dirigidos NalB-aJa$ seismic profile 6NSP8 Se logra con el desplazamiento sucesivo de la fuente para muestrear lateralmente un !orizonte y dejando fijos los gefonos. Fuy utilizado para observar por debajo del pozo durante la perforacin.

Las principales aplicaciones son& 3 Heterminacin estructural por debajo del pozo 3 osible control estructural de condiciones de perforacin