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Francisco Assis Barros de Oliveira, Doutorando
assis.barros@hotmail.com
8128-5239
CONTROLE ESTATSTICO
DE PROCESSO - CEP
02/04/2014
2
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3
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4
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5
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6
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Estabelecendo Planos de Controle
1. Coloque o processo sob controle
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2. Melhore a capabilidade do processo.
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Capabilidade do Processo para Dados
Contnuos
Cp =
LSE - LIE
6
LIE (Limite Inferior de Especificao): Limite Inferior do Projeto
Capabilidade do processo: ndice da faixa permissvel do valor projetado em relao a variao
natural do processo (largura de 3 ou 6)
Cp: ndice de capabilidade ideal para processos com especificaes nos dois lados
Cpk: ndice de capabilidade que permite observar as diferenas entre a media do processo e o valor mdio
das especificaes
y : Mdia do processo
LIE LSE
LSE - LIE
LSE - y y - LIE
y
--
-
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Exerccio 1
Quando = 2.5, C
p
= 1.33. Para que o C
p
seja
igual a 2.0 e consequentemente melhorar o
desempenho do processo, qual valor o deve
assumir?
A mdia est na mesma
posio do centro das
especificaes
Melhorando o
desempenho do
processo
490 510 500
LIE LSE
=2.5
C
p
=2.00
C
p
=1.33
=?
y
Exerccio 1 - 1
C
p
=
6
LSE-LIE
2=
20
510
LSE
490
LIE
500
LSE-LIE
20
deve ser melhorado para 1.67
6
=1.67
A mdia est na mesma
posio do centro das
especificaes
=?
(?)
y
Exerccio 2
Quando s = 1.67, C
pk
= 1.0. Para que o C
pk
seja igual a 1.5 e haja uma
melhoria no desempenho do processo, qual deve ser o valor da mdia,
considerando que o s permanece igual a 1.67?
Da mesma forma, para que o C
pk
seja igual a 1.5 e haja uma melhoria
no processo, qual deve ser o valor do enquanto a mdia do processo
se mantm em 495?
510 490 495
510 490 495
490
LIE
495 510
LSE
s =1.67
Deslocando a mdia
Reduzindo o desvio
padro
C
pk
=1.0
C
pk
=1.5
C
pk
=1.5
LIE LSE
LIE LSE
y
y
y
A mdia no est no
centro das especificaes
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Exerccio 2-2
5
490
LIE
510
LSE
495
2.5
497.5
490
LIE
510
LSE
495
1.1
Deslocando a mdia
Reduzindo o desvio
padro
3
LIE y
C
pk
=
1.67 3
490 y
1.5
=
497.5 y =
3
LIE y
C
pk
=
3
5
1.5
=
1.1 =
y
y
A mdia no est no
centro das especificaes
5
7.5
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02/04/2014
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Controle Estatstico do Processo (CEP)
Ferramentas para controlar
Eixo do Tempo
m
t
r
i
c
a
Converter dados em
informao
Ajudar no entendimento
Carta de Leitura &
carta de controle (carta x-R)
-
Utilizado para visualizar as mudanas na mtrica ao longo do tempo.
Carta de Leitura
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Carta de Controle
Tempo
Flutuaes devido ao Flutuaes devido ao
desgastedo
equipamento
Ocorre se as flutuaes no processo como um todo
aumentam, em funo de ajustes, condies imprprias ou
sintonia insuficiente entre os equipamentos e os
instrumentos de medio.
Para controlar
Para analisar
M
e
d
i
a
d
a
m
t
r
i
c
a
(estabelecimento dos limites de controle)
LSC : limite Superior de Controle
LC : Linha Central
LIC : Limite Inferior de Controle
Flutuaes devido a erros de ajustes
do equipamento quando houve uma
mudana no material
LSC
LIC
LC
Variao aleatria
(variaes que ocorrememuma situao normal)
Variao sistmica
(variaes que ocorremdevido a causas especiais que no
ocorremusualmente no processo)
Ferramenta usada para detectar mudanas no desvio padro de forma sistemtica (variaes
devido a causas especiais) para manter o processo em estado controlado.
Manter o processo estvel. Utiliza critrios do limite de controle.
Estrutura de uma Carta de Controle
1 2 3 4 5 6 7 8
x -C
L
-3
-2
-1
1
2
3
9
9
.
7
3
%
LSC
LIC