www.aulados.net Geologa y Yacimientos Minerales 2007 J.

Fernndez Barrenechea

Volver a Introduccin (pulsar aqu)

Tcnicas de caracterizacin
Microscopio de luz trasmitida y reflejada
Difraccin de rayos X (DRX)
Fluorescencia de rayos X (FRX)
Microscopio electrnico de barrido (SEM)
Microscopio electrnico de transmisin (TEM)
Microsonda electrnica (EPMA)
Otras...

 Difraccin de rayos X

Imagen tomada de: http://www.xtal.iqfr.csic.es/Cristalografia/parte_02.html

Algunas caractersticas de los rayos X...

Se propagan en lnea recta, ionizan gases, impresionan
pelculas fotogrficas, gran poder de penetracin.
Las longitudes de onda de los rayos X son comparables con
las distancias interatmicas en los cristales.
Los cristales: rejillas naturales de difraccin
Identificacin de fases minerales y determinacin de su
estructura.

Produccin de rayos X

nodo (Cu)

Ctodo (W)

(+)

(-)
electrones

Rayos - X

Produccin de rayos X
VENTANA DE
BERILIO

FILAMENTO DE
WOLFRAMIO

VIDRIO

ELECTRONES

AGUA

AL TRANSFORMADOR
NODO

RAYOS X

VACO

SECCIN ESQUEMTICA DE UN TUBO DE RAYOS X

Espectro de emisin de rayos X

Espectro continuo:
Prdida de E resultado
de la colisin.
Depende de la energa
del haz de electrones
que incide.

Intensidad

A mayor Z del nodo,

mayor intensidad.
Longitud de onda
Modificado de: http://www.gly.uga.edu/schroeder/geol6550/CM03.html

Espectro de emisin de rayos X

Espectro caracterstico
Electrn incidente

Intensidad

Electrn desplazado de la capa K

Ncleo

Capa K

Capa L

Capa M

Transiciones electrnicas
Longitud de onda

radiacin K

radiacin K

Modificado de: http://www.gly.uga.edu/schroeder/geol6550/CM03.html

Espectro de absorcin de rayos X

La disminucin de intensidad de los rayos X al atravesar una sustancia:

: coeficiente de absorcin lineal

t: espesor del cuerpo atravesado

Absorcin relativa

Intensidad de absorcin relativa

I = Ioe-t

I: intensidad final
Io: intensidad del rayo incidente

es proporcional a la densidad ( ), luego la relacin / (*)

Salto de
Radiacin de
es una constante para cada conjunto
de
elementos,
absorcin
Mo no
filtrada
independientemente de
su estado

e(-/) t

I = Io

Curva de
absorcin

I = Ioe-(* ) t

Curva de radiacin
de Mo filtrada

* = Coeficiente de absorcin msico

Modificado de: http://www.gly.uga.edu/schroeder/geol6550/CM03.html

Difraccin de rayos X por una fila reticular...

Figura de Klein y Hurlbut (2002)

Manual de Mineraloga,
John Wiley and Sons

Difraccin de rayos X por una fila reticular...

Ecuacin de Laue:
c (cos -cos ) = n

c = distancia interatmica
= ngulo de incidencia
= ngulo del haz difractado
n = nmero entero (orden de la difraccin)
= longitud de onda del haz de rayos X
Figuras de Klein y Hurlbut (2002) Manual de Mineraloga, John Wiley and Sons

Difraccin de rayos X por una red tridimensional...

Ecuaciones de Laue:
a (cos -cos ) = h
b (cos -cos ) = k
c (cos -cos ) = l

Figura de Klein y Hurlbut (2002)

Manual de Mineraloga,
John Wiley and Sons

Ley de Bragg
n=2d sen

n es el orden
en fase

en fase

Modificada de http://www.whitman.edu/geology/winter/

Mtodo de Laue
Clase de radiacin: policromtica
Caractersticas de la muestra: monocristal estacionario
La ecuacin de Bragg se cumple simultneamente para
varias direcciones
Bueno para simetra. Pobre para anlisis (distorsin).
Pelcula
fotogrfica

Cristal
Haz de
Rayos X

Modificado de Klein y Hurlbut (2002)

Manual de Mineraloga,
John Wiley and Sons

Mtodo de precesin

(Weissemberg, Buerguer,...)

Clase de radiacin: monocromtica

Caractersticas de la muestra: monocristal giratorio
Movimiento de cristal y pelcula para satisfacer la
ecuacin de Bragg para distintos planos.

Figura de Klein y Hurlbut (2002)

Manual de Mineraloga,
John Wiley and Sons

Mtodo de polvo policristalino

(Debye-Scherrer)

Clase de radiacin: monocromtica

Caractersticas de la muestra: polvo policristalino
Estn presentes todas las orientaciones posibles de
los cristales, luego slo es preciso variar .
Es el ms sencillo, y el ms utilizado para identificar
minerales (mezclas complejas, etc.)

FLUORESCENCIA DE RAYOS X
Fuente de energa: Rayos X (radiacin policromtica)
Rayos X secundarios.

Fotoelectrn

Rayos X

o
Radiacin
procedente
del tubo de
rayos X

Rayos X

Modificado de http://www.amptek.com/pdf/xrf.pdf

Ley de Bragg:
Cristal difractor

n=2d sen
espaciado y orientacin conocidas

Composicin qumica global, no mineralgica

Detector de rayos X

Tubo de rayos X

Lectura electrnica
y sistema de
control del
ordenador

Colimador

Rayos X de
excitacin
(primarios)

Trayectoria de
los rayos X
ngulo 2

Muestra de
anlisis
Rayos X caractersticos,
de fluorescencia
(secundarios)

Colimador

Cristal difractor
Modificado de Klein y Hurlbut (2002)
Manual de Mineraloga,
John Wiley and Sons

Composicin qumica global:

Tcnica macroanaltica
Espectro caracterstica de cada elemento presente
Cuantificacin

empleo de patrones

Preparacin de las muestras. Precauciones

Limitaciones: elementos con Z > 5 (efectos de absorcin y
dificultad para encontrar cristales con grandes espaciados)

Im/Ip = K (Cm/Cp)

Im = Intensidad de una lnea caracterstica () de la

muestra problema
Ip = Intensidad de la misma lnea caracterstica ()
en el patrn
Cm = Concentracin del elemento especfico en la
muestra problema
Cp = Concentracin del mismo elemento en el patrn.
K = Factor de correccin que tiene en cuenta los
efectos matriciales, etc.

Cuentas por segundo

Espectro de fluorescencia de rayos X

Energa (KeV)

MICROSONDA ELECTRNICA (EPMA)

Fuente de energa haz de electrones de alta
energa enfocado en un rea de 1-2 m2.
Microanlisis de un volumen de material muy
reducido composicin qumica, no mineralgica.
Espectros de emisin identificar los elementos
presentes.
Intensidades relativas de las lneas espectrales
proporcin de cada elemento.

Columna del dispositivo electrnico-ptico

Can de electrones (filamento de W)
Apertura inicial
Primera lente condensadora

Apertura final
Segunda lente condensadora

Lente final
Muestra

Haz de electrones estacionario...

Haz de electrones
de enfoque fino
Rayos X que se
analizan mediante
un espectrmetro

Superficie pulida
de la muestra a
analizar

1 m

Volumen analizado
(10 a 20 m3)

Modificado de Klein y Hurlbut (2002)

Manual de Mineraloga,
John Wiley and Sons

MICROSONDA ELECTRNICA (EPMA)

Cuentas por segundo

Fuente de energa haz de electrones de alta

energa enfocado en un rea de 1-2 m2.
Microanlisis de un volumen de material muy
reducido composicin qumica, no mineralgica.
Energa (KeV)
Im = Intensidad de una lnea caracterstica () de la
Espectros de emisin
identificar los elementos
muestra problema
Ip = Intensidad de la misma lnea caracterstica ()
presentes.
en el patrn
Im/Ip = K (Cm/Cp) Cm = Concentracin del elemento especfico en la
muestra problema
Intensidades relativas
de las lneas espectrales
Cp = Concentracin del mismo elemento en el patrn.
proporcin de cada
K = elemento.
Factor de correccin que tiene en cuenta los
efectos matriciales, etc.

Haz de electrones en movimiento...

Haz de electrones

Electrones retrodispersados
(Back-scattered electron, BSE)

Electrones
secundarios

Electrones Auger

Electrones
retrodispersados

Rayos X
caractersticos

rea: 4 m2 a 3 mm2
Informacin sobre:
1) la topografa de la superficie de
la muestra;
2) el nmero atmico medio (Z) del
material irradiado.

Generacin
primaria de Rayos
X caractersticos

Seal modular el brillo de un

osciloscopio imagen.

Generacin
secundaria de
Rayos X
caractersticos

Limitaciones distintos minerales

pueden presentar el mismo Z medio.

Resolucin espacial
de Rayos X
primarios

Modificado de M.P. Jones (1987)

Applied Mineralogy: a quantitative approach
Graham & Trotman

Mica

Cor

Chl

Chl

Imagen de electrones retrodispersados (BSE) en una muestra arcillosa en materiales del Cretcico
inferior de la Cuenca de Cameros (NE Espaa)

Mapas de rayos X

Distribucin de elementos

Imagen tomada de http://www.brookes.ac.uk/geology/sem/sem1.html

Mapa de rayos X de una arenisca, con la distribucin de C, Si y Ca

Imagen tomada de http://www.brookes.ac.uk/geology/sem/sem1.html

Mapa de rayos X de un granate zonado del Complejo de Lizard, Cornwall

Preparacin de la muestra para microsonda

Lminas delgadas muy bien pulidas.

Es preciso metalizar en vaco conducir electrones a tierra
Pelcula de carbono de 100-150 de espesor aumenta la
conductividad y reduce calentamiento.

Si deseas completar tu informacin sobre estas tcnicas puedes visitar, entre otras, las pginas:
http://epmalab.uoregon.edu/epmatext.htm#technique
http://jan.ucc.nau.edu/~wittke/Microprobe/Course%20Overview.html
http://www.geology.wisc.edu/~johnf/660.html

Microscopio electrnico de barrido (SEM)

BSE

Interesa destacar la topografa frente a composicin.

Resolucin del orden de 100

Electrones secundarios (SE):

Liberados por la muestra al incidir el haz de electrones.

Energa mucho ms baja que los BSE.
Resolucin similar al dimetro del haz
Cuanto menor es el ngulo entre la superficie y el haz, mayor es
la seal de los SE
Las muestras se metalizan con una pelcula de Au.

Microscopio electrnico de barrido (SEM)

Haz de
electrones
Detector

Instensidad

Electrones
secundarios

Muestra

Electrones
secundarios
Electrones
retrodispersados
E (eV)

Modificado de M.P. Jones (1987)

Applied Mineralogy: a quantitative approach
Graham & Trotman

Cristal de cloritoide en una matriz illtica visto al microscopio electrnico de barrido. Pizarras de bajo grado
metamrfico de la Cuenca de Cameros (NE Espaa)

Microscopio electrnico de Transmisin (TEM)

Sistema de iluminacin haz de electrones enfocados
Sistema de ampliacin de la imagen transmitida
Sistema de transformacin en una pantalla
fluorescente o en una pelcula fotogrfica
Suele llevar asociado un dispositivo de microanlisis
Permite realizar difraccin de electrones
Muestras: Suspensiones finas, o bien adelgazador
inico

Microscopio electrnico de Transmisin (HRTEM)

88

a = 18,2

b = 8,8

Imagen HRTEM de una seccin a-b de enstatita. Las zonas en blanco corresponden a los huecos M2 en la
estructura. (Buseck y Lijima, 1974).

Tomado de Klein y Hurlbut (2002)

Manual de Mineraloga,
John Wiley and Sons

123

a = 9,8

b = 18,0

Imagen HRTEM de una seccin a-b de hornblenda. Las zonas en blanco corresponden a los huecos A en la
estructura. (Buseck y Lijima, 1974).
Tomado de Klein y Hurlbut (2002)
Manual de Mineraloga,
John Wiley and Sons

Microscopio electrnico de Transmisin (HRTEM)

Imagen al microscopio electrnico de transmisin de cloritas (CH), moscovitas (MS) e interestratificados mica/clorita (ML) en
metaclastitas de muy bajo grado del Complejo Malguide de las Cordilleras Bticas (Ruiz Cruz, 2001)