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Topometra
Moiss Hinojosa Rivera, Martn Edgar Reyes Melo*
Abstract
The importance of accurate roughness
measurements is discussed in this work, the most
common techniques to record topographic profiles
are described and the most popular parameters
used to quantify roughness are presented. A brief
discussion on the self-affine character of heigth
profiles is also presented. The fact that both the
average roughness and the rms roughness
depended on the sample length and hence cannot be
considered as surface properties is emphasized. The
use of the roughness exponent in modern statistical
topometric methods is also included in this
discussion.
INTRODUCCIN
Las superficies de los cuerpos son objetos muy
complejos, en ellas la composicin qumica es en
general diferente de la composicin dentro de los
objetos, los materilogos saben que el ordenamiento
atmico tambin es muy distinto en las superficies y
es mucho ms complicado y dificil de describir, an
las superficies consideradas como muy lisas
muestran, cuando son analizadas a escala
suficientemente fina, una compleja diversidad de
particularidades geomtricas, tal vez estas razones
llevaron al ilustre Wolfgang Pauli (1900-1958) a
afirmar que las superficies son obra del demonio.
Desde el punto de vista de la ciencia e ingeniera
de materiales, la topografa se ocupa de la
descripcin del conjunto de particularidades
geomtricas naturales o artificiales que caracterizan
a una superficie. En cierta manera es un pleonasmo
hablar de topografa de superficies. Uno de los
conceptos que se usan en topografa para describir
la irregularidad de las superficies es el de rugosidad.
La cuantificacin de la rugosidad es uno de los
problemas que aborda la topometra. El objetivo del
27
28
componentes de un
29
Ra =
1
L
y(x ) dx
0
Rrms =
1
L
[y(x )] dx
2
Perfil terico
Parametros de
ondulacin
Parmetros de
rugosidad
30
Clase
Super finish
Polish
Ground
Smooth
Fine
Semifine
Medium
Semirough
Rough
Cleanup
TABLA I
Rugosidad, Ra
(m)
Costo relativo de
obtencin
0.10
0.20
0.40
0.80
1.60
3.2
6.3
12.5
25
50
40
35
25
18
13
9
6
4
2
1
31
difusa
espejo
fibrosa
32
AGRADECIMIENTOS
10
w(r) (nm)
LECTURAS RECOMENDADAS
1. F.M. Lira, J. L. Morn Lpez, El Encanto de las
Superficies, Serie la Ciencia desde Mxico, No.
111, Fondo de Cultura Econmica, 1992.
0.1
= 0.8
= 100 nm
0.01
1
10
100
1000
10000
r (nm)
Fig. 7. Variacin de los momentos estadsticos con el
tamao de muestreo en la zona espejo de una fractura en
vidrio.
CONCLUSIN
En general todas las superficies manifiestan una
gran irregularidad morfolgica. Industrialmente el
instrumento ms empleado para medir la rugosidad
es el perfilmetro. El microscopio de fuerza
atmica permite analizar la topografa a escalas
mucho ms finas que un perfilmetro. Los
parmetros ms empleados para medir la rugosidad
son Ra y Rrms, sin embargo estas cantidades
dependen del tamao de muestreo y no pueden ser
consideradas como propiedades de una superficie.
Los mtodos de vanguardia a nivel investigacin
emplean longitudes de muestreo variables y
cuantifican la rugosidad mediante el exponente de
Hurst y la longitud de correlacin.
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