AMEF de diseo y proceso un enfoque prctico

El objetivo de la conferencia era conocer cmo crear un AMEF (Anlisis de

Modo y Efecto de Falla) tanto de diseo como de proceso. Se comenz con
algunos ejemplos de fallas millonarias que han ocurrido en la historia del ser
humano, el primero de ellos fue cuando en la dcada de los 60s el
transbordador espacial Apolo 1 se incendi causando 3 prdidas humanas. A
partir de este incidente la NASA comenz a utilizar el AMEF para evitar ms
prdidas. Otro ejemplo fue el de Toyota, que hasta la fecha ha perdido cerca de
7 billones de dlares en demandas, indemnizaciones y multas. El objetivo de
AMEF es crear un documento capaz de identificar las fallas que puedan
generarse as como de ver los efectos que stas pudieran tener. Existen 2 tipos
de AMEFs, de diseo y de proceso. El AMEF de diseo es aquel encargado de
identificar las fallas que pudieran originarse por un mal diseo, en cuanto al de
proceso, ste se encarga de ver las fallas originadas en los procesos de
manufactura de un producto. Para crear un AMEF es necesario que se genere
con un equipo multidisciplinario es decir independientemente del El ingeniero
responsable del sistema, producto o proceso de manufactura/ ensamble se
incluye en el equipo, as como representantes de las reas de Diseo,
Manufactura, Ensamble, Calidad etc. Se evalan las posibles fallas y efectos
que puedan ocurrir asignndoles un grado de severidad que va en una escala
del 1 al 10. Despus de eso se identifica causas potenciales de la falla, en este
punto se les asigna un valor de rango de ocurrencia es decir, un valor de que
tan frecuente puede aparecer este tipo de error. Luego se analiza los controles
actuales existentes para detectar la posible falla, as como asignarle un rango
de deteccin en una escala del 1 al 10.