SPECTROSCOPIE DE EMISIE

Arderea etaloanelor şi a probelor în arc şi scânteie

Etaloanele şi probele care se află înglobate într-unul din electrozi vor fi aduse în stare de vapori la
nivelul arcului electric sau al scânteilor produse între cei 2 electrozi de carbon spectral. Arcul electric
şi scânteile sunt realizate prin descărcări la înaltă tensiune (zeci de mii de volţi), tensiune asigurata de
generatorul din figura de mai jos:

Generator universal de înaltă tensiune – Spectrograf cu

prismă Q24

Atomii elementelor analizate se vor găsi pentru scurt timp (τ =10-9 s) în stare excitată. După
absorbţia energiei de către atomii elementelor, aflaţi la temperatura de mii de grade Celsius a arcului
electric sau scânteilor, urmeaza dezexcitarea lor prin emisia de energie sub formă de radiaţie
electromagnetică. Înregistrarea emisiei specifice fiecărui element se realizează pe placa fotografică
sau computerizat, sub forma unui spectru de linii în domeniul UV-VIS.
După reglarea generatorului de înaltă tensiune la prametrii de lucru se selecteaza forma şi
dimensiunile fantelor de intrare în colimator, poziţia spectrului pe placă şi poziţiile scalei.
Se stabileste timpul comun (optim) de expunere al fiecărei determinari pentru etaloane şi
probe, se procedează la înregistrarea pe aceeaşi placă a spectrelor de emisie, în ordine succesivă şi la
pozitii diferite.
Probele solide sunt soluţii solide alcatuite din solvent şi solut astfel:
-solventul este reprezentat de pulberea de carbon spectral, fin mojarat, obţinut din materialul
electrozilor,
- solutul este reprezentat de probă sau de etaloane sub forma de oxizi, pregătiţi special, sau
achizitionaţi sub forma etaloanelor comercializate (amestec al unui număr mare de oxizi Na2O, K2O,
Cs2O, Rb2O, MgO, CaO, ... în aşa fel încât concentraţia exprimată în părţi pe milion (ppm), din
fiecare element să fie aceeaşi). 1 ppm = 1parte de element la un milion părţi de amestec.
În practică este necesar să fie utilizate mai multe concentraţii ale etaloanelor; din acest motiv
se procedeaza la diluţia etaloanelor pentru a obţine din etalonul cu concentraţia maximă etaloane cu
concentraţie mai mică conform următorului tabel:
 C0 “C1” “C2” “C3” “C4” “C5”
Etalon C0 (8/10) C0 (6/10) C0 (4/10) C0 (2/10) C0 (1/10)
iniţial
10 ppm 8ppm 6ppm 4ppm 2ppm 1ppm
8părţi+2 părţi 6părţi+4 părţi 4părţi+6 părţi 2părţi+8 părţi 1părţi+9
(C0 + SCSP) (C0 + SCSP) (C0 + SCSP) (C0 + SCSP) părţi
(C0 + SCSP)

SCSP = Solvent: Carbon Spectral- Pulbere

După pregatirea etaloanelor de bază şi a celor diluate, se procedează la înglobarea lor în

electrozi. Pentru acest lucru se realizează un orificiu cu diametrul φ = 3mm şi adâncime 10 mm, în
electrodul de grafit spectral. In orificiul format se introduce etalonul sau proba şi taseaza uşor.

Electrodul ce conţine etalonul sau proba este pregatit pentru a fi introdus în suportul electrozilor, asa
cum arata figura alăturată:
Suportul electrozilor

Electrod de grafit

Electrod de grafit ce conţine proba

- se fixeaza suportul ce conţine electozii în camera de ardere, aşa cum arată figura de mai jos

- se reglează curentul descărcării şi ceilalţi parametrii şi se porneşte

generatorul de înaltă tensiune, de către cadrul didactic
- camera de ardere este perfect aliniată pe bancul optic cu axa optică a
colimatorului
 Odată intrate în colimator radiaţiile electromagnetice sunt dispersate în monocromatorul cu
prismă şi apoi spectrul dispersat este înregistrat pe placa fotografică.

Suport cu placa
spectrală

Monocromator cu
prismă

Intrare colimator

La final placa spectrala este extrasă impreuna cu suportul ei şi este prelucrată la intuneric, sau în
lumina roşie, în camera obscura prin următoarele operaţii:
- revelare (developare), în soluţia revelatorului,
- spălare în apă distilata acidulată cu puţin acid acetic,
- fixare într-o soluţie de tiosulfat de sodiu,
- uscare.
- După developare, spălare şi fixare, imaginea plăcii fotografice spectrale se prezintă o succesiune de
linii verticale, de-a lungul domeniului spectral, peste care se suprapune scala spectrului.
Placa spectrală este pregătită astfel pentru analiza calitativă şi cantitativă.

Analiza spectrală de emisie calitativa

Analiza spectrală calitativă, în sectroscopia de emisie în arc şi scânteie, se bazeaza pe

identificarea şi recunoaşterea principalelor linii spectrale emise de elementele aduse în stare de
excitare, la nivelul arcului electric şi al scânteilor. În domeniul UV-VIS elementele analizate pot
prezenta mai multe linii dispersate în spectru, în funcţie de energia dezexcitărilor, respectiv de
frecvenţele liniilor emise.
În tabelul de mai jos sunt prezentate câteva exemple ale principalelor linii emise de
elementele: Fe, Mn, Cr, Pt, Au.
Elementul Lungimea de undă (nm)
438*
440*
Fe 523**
527*
533*
537*
403**
471*
473*
474*
475*
Mn 476*
477*
478*
482*
601*
602***
420*
421*
425*
427*
Cr 429*
429*
520*
541*
523*
530*
537*
Pt 539*
548*
584*
Au 506*
584*
628*

* singlet, ** dublet, *** triplet

Mod de lucru
Analiza calitativa presupune identificarea tuturor liniilor menţionate în tabelul de mai sus pentru
fiecare elemnt. Se va utiliza microscopul comparator prezentat în figura de mai jos:
Ocularul scalei microscopului Ocularul plăcii spectrale

Micrometrul
microscopului

Scala micrometrică Placă spectrală

Fiecare linie asociată unui element va fi analizată din punct de vedere al corespondenţei cu o
lungime de undă astfel :
Se măsoară, cu precizia maximă a instrumentului utilizat, distanţa dintre poziţiile liniilor
etalon cunoscute ale fierului (a2-a1) exprimată în mm sau µ m; poziţia a2 corespunde liniei spectrale
etalon λ2, iar poziţia a1 este corespunzătoare liniei etalon λ1.
Se măsoara poziţia ax corespunzătoare liniei elementului de analizat, în raport cu poziţiile a2
şi a1 corespunzătoare liniilor etalon, cunoscute ale Fe. Lungimea de unda λx a liniei necunoscute se
calculează cu ajutorul relaţiei:

a x (λ2 −λ1 ) + a 2 λ1 − a1λ2

λX =
(a1 −a 2 )

unde:
a1, a2 şi ax sunt poziţii determinate pe scala instrumentului (exprimate în μm în cazul utilizării
microscopului comparator, sau în mm în cazul utilizării spectroproiectorului),
λ1 , λ2 sunt lungimile de undă ale elementului etalon (Fe), exprimate în nm, obţinute din
consultarea tabelelor speciale cu date spectrale.

Se fixează placa spectrală pe platoul microscopului comparator. Prin ocularul din stânga se
vizează şi fixează linia investigată. Prin ocularul din dreapta, se citeşte, pe scala divizată în
 micrormetri, poziţia corespunţătoare liniei vizate. Se alege drept etalon una din linile spectrale ale
fierului, apoi se determină lungimea de undă λ x, a elementului analizat fata de aceasta linie.

Pe acelaşi principiu se bazează analiza calitativă care utilizează spectroproiectorul, cu

deosebirea că precizia determinărilor parametrului a1, a2 şi ax este mai mică (de ordinul milimetrilor).
Schema optică a spectroproiectorului este redată în figura de mai jos:

Oglindă SCHEMA OPTICĂ A UNUI

SPECTROPROIECTOR

Placă
spectrală
Imaginea mărită a plăcii
Lentilă
Convergentă

Sursă
http://www.docstoc.com/docs/26800331/Laboratoare-Chimie