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Grundlagen der Materialanalytik GMA-SAXS-01

Röntgen-Kleinwinkelstreuung

s oder q: Streuvektor
Grundlagen der Materialanalytik GMA-SAXS-02

Röntgen-Kleinwinkelstreuung

=
*

I(s) P(s) S(s)

=
*

s s s
I(s) = N P(s) S(s) P(s): Formfaktor
beschreibt die Form eines Partikels / einer Pore
S(s): Strukturfaktor
beschreibt die gegenseitige Anordnung
der Partikel / Poren
P(s) ~ Δρe N: Teilchenzahl
S(s) ~ Δρe Δρe: Differenz der Elektronendichten

Material ρe (1024 cm−3)


Luft ≈0
Wasser 0.334
Siliciumdioxid 0.661
Zirconiumdioxid 1.568
Δρe = Δρe
Grundlagen der Materialanalytik GMA-SAXS-03

Röntgen-Kleinwinkelstreuung
Charakteristische Streufunktionen (Formfaktoren)

--- Kugel ___ Würfel


Rotationsellipsoide mit v = c/a
(bei gleichem Gyrationsradius Rg)
Gyrationsradien

Bakteriophage SD
1 = experimentell, 2 = Modell
Grundlagen der Materialanalytik GMA-SAXS-04

Röntgen-Kleinwinkelstreuung
Charakteristische Streufunktionen (Formfaktoren)
Kieselsäurelösungen unterschiedlicher Konzentrationen in
Gegenwart von Tetrapropylammoniumhydroxid

Langreichweitige Ordnung
Organisch modifizierte Tonpartikel...
... in Wasser ... in Hexadecan
Grundlagen der Materialanalytik GMA-SAXS-05

Röntgen-Kleinwinkelstreuung
Oberflächenbeschaffenheit

Porodsches Gesetz: I(q) = I0 q−α log I / I0 = q −α

große Teilchen mit glatter Oberfläche: α = 4


(das eigentliche Porod-Gesetz)

dünne Plättchen: α = 2 dünne Stäbchen: α = 1

Rgq >> 1: Massenfraktale: M(r) ~ rDf: α < 3


Df: fraktale Dimension des Volumens
(Sekundärteilchen, das Volumen durchdringende Porosität)

R0q >> 1 Oberflächenfraktale: A(r) ~ r(2−Ds): α = 6−Ds mit 2 < Ds < 3


Ds: fraktale Dimension der Oberfläche
(Primärteilchen, die durch Aneinanderlagerung eine raue Oberfläche ausbilden)

Die Koch-Kurve: ein Fraktal


Grundlagen der Materialanalytik GMA-SAXS-06

Röntgen-Kleinwinkelstreuung
Experimentelles
SAXS-Gerät

SAXS-Gerät Mikrofocus-Röntgenquelle

Multischicht-Kollimator