Mae in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm, unless otherwise specified.
Wesentliche Merkmale
q Hergestellt im Schmelzepitaxieverfahren q Kathode galvanisch mit dem
Features
q q q q q
Gehuseboden verbunden
q Hohe Zuverlssigkeit q SFH 400: Gehusegleich mit SFH 216 q SFH 401: Gehusegleich mit
Fabricated in a liquid phase epitaxy process Cathode is electrically connected to the case High reliability SFH 400: Same package as SFH 216 SFH 401: Same package as BPX 43, BPY 62 q SFH 402: Same package as BPX 38, BPX 65
BPX 65 Anwendungen q Lichtschranken fr Gleich- und Wechsellichtbetrieb q IR-Fernsteuerungen q Industrieelektronik q Messen/Steuern/Regeln Semiconductor Group 536
Applications q Light-reflecting switches for steady and varying intensity q IR remote control q Industrial electronics q For drive and control circuits
10.95
fet06092
fet06091
fet06090
Typ Type SFH 400 SFH 400-3 SFH 401 SFH 401-3 SFH 402 SFH 402-2 SFH 402-3
Bestellnummer Ordering Code Q62702-P96 Q62702-P784 Q62702-P97 Q62702-P787 Q62702-P98 Q62702-P789 Q62702-P790
Gehuse Package 18 A3 DIN 41876 (TO-18), Glaslinse, hermetisch dichtes Gehuse, Anschlsse im 2.54-mm-Raster (1/10) 18 A3 DIN 41876 (TO-18) glass lens, hermetically sealed package, solder tabs lead spacing 2.54 mm (1/10).
Grenzwerte (TC = 25 oC) Maximum Ratings Bezeichnung Description Betriebs- und Lagertemperatur Operating and storage temperature range Sperrschichttemperatur Junction temperature Sperrspannung Reverse voltage Durchlastrom Forward current Stostrom, tp = 10 s, D = 0 Surge current Verlustleistung Power dissipation Wrmewiderstand Thermal resistance Wellenlnge der Strahlung Wavelength at peak emission IF = 100 mA, tp = 20 ms Symbol Symbol Top; Tstg Tj VR IF IFSM Ptot RthJA RthJC peak Wert Value 55 ... + 100 100 5 300 3 470 450 160 950 Einheit Unit
oC oC
V mA A mW K/W K/W nm
Semiconductor Group
537
Kennwerte (TA = 25 oC) Characteristics Bezeichnung Description Spektrale Bandbreite bei 50 % von Imax Spectral bandwidth at 50 % of Imax IF = 100 m A, tp = 20 ms Abstrahlwinkel Half angle SFH 400 SFH 401 SFH 402 Aktive Chipflche Active chip area Abmessungen der aktiven Chipflche Dimension of the active chip area Abstand Chipoberflche bis Linsenscheitel Distance chip front to lens top SFH 400 SFH 401 SFH 402 Schaltzeiten, Ie von 10 % auf 90 % und von 90 % auf 10 %, bei IF = 100 mA, RL = 50 Switching times, Ie from 10 % to 90 % and from 90 % to 10 %, IF = 100 mA, RL = 50 Kapazitt Capacitance VR = 0 V, f = 1 MHz Durchlaspannung Forward voltage IF = 100 mA, tp = 20 ms IF = 1 A, tp = 100 s Sperrstrom Reverse current VR = 5 V Gesamtstrahlungsflu Total radiant flux IF = 100 mA, tp = 20 ms Temperaturkoeffizient von Ie bzw. e, IF = 100 mA Temperature coefficient of Ie or e, IF = 100 mA Symbol Symbol Wert Value 55 Einheit Unit nm
A LxB LxW
H H H tr, tf
mm mm mm s
Co
40
pF
VF VF IR
V V A
mW
TCI
0.55
%/K
Semiconductor Group
538
Kennwerte (TA = 25 oC) Characteristics Bezeichnung Description Temperaturkoeffizient von VF, IF = 100 mA Temperature coefficient of VF, IF = 100 mA Temperaturkoeffizient von , IF = 100 mA Temperature coefficient of , IF = 100 mA Symbol Symbol TCV TC Wert Value 1.5 + 0.3 Einheit Unit mV/K nm/K
Gruppierung der Strahlstrke Ie in Achsrichtung gemessen bei einem Raumwinkel = 0.01 sr Grouping of radiant intensity Ie in axial direction at a steradian of = 0.01 sr Bezeichnung Description Symbol Symbol Wert Value SFH 400 Strahlstrke Radiant intensity IF = 100 mA, tp = 20 ms Strahlstrke Radiant intensity IF = 1 A, tp = 100 s SFH SFH 400-3 401 SFH 401-3 SFH 402 SFH 402-2 SFH 402-3 Einheit Unit
Ie min
20
32
16
16
2.5
2.5
mW/sr
Ie typ.
300
320
220
190
40
30
40
mW/sr
Semiconductor Group
539
Semiconductor Group
540
= f ( IF)
Permissible pulse handling capability IF = f (), TC = 25 oC, RthJC = 160 K/W, duty cycle D = parameter
Semiconductor Group
541