Cahier Technique No. 149 - EMC - FR

Collection Technique ..........................................................................
Cahier technique n 149 La CEM : la compatibilit lectromagntique
J. Delaballe
Les Cahiers Techniques constituent une collection dune centaine de titres dits lintention des ingnieurs et techniciens qui recherchent une information plus approfondie, complmentaire celle des guides, catalogues et notices techniques. Les Cahiers Techniques apportent des connaissances sur les nouvelles techniques et technologies lectrotechniques et lectroniques. Ils permettent galement de mieux comprendre les phnomnes rencontrs dans les installations, les systmes et les quipements. Chaque Cahier Technique traite en profondeur un thme prcis dans les domaines des rseaux lectriques, protections, contrle-commande et des automatismes industriels. Les derniers ouvrages parus peuvent tre tlchargs sur Internet partir du site Schneider Electric. Code : http://www.schneider-electric.com Rubrique : Le rendez-vous des experts Pour obtenir un Cahier Technique ou la liste des titres disponibles contactez votre agent Schneider Electric. La collection des Cahiers Techniques sinsre dans la Collection Technique de Schneider Electric.
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n 149
La CEM : la compatibilit lectromagntique
Jacques DELABALLE Docteur de lUniversit de Limoges en 1980, entre chez Merlin-Gerin en 1986 aprs sept annes passes chez Thomson. Il est responsable des laboratoires CEM du centre dessais de Schneider Electric et membre du Comit 77 (Compatibilit Electromagntique) de la Commission Electrotechnique Internationale (CEI).
CT 149(e) dition dcembre 2001
Lexique
Compatibilit ElectroMagntique, CEM (abrviation) (VEI 161-01-07) Aptitude dun appareil ou dun systme fonctionner dans son environnement lectromagntique, de faon satisfaisante et sans produire lui-mme des perturbations lectromagntiques intolrables pour tout ce qui se trouve dans cet environnement. Perturbation (lectromagntique) (VEI 161-01-05) Phnomne lectromagntique susceptible de crer des troubles de fonctionnement dun dispositif, dun appareil ou dun systme, ou daffecter dfavorablement la matire vivante ou inerte. Note : une perturbation lectromagntique peut tre un bruit, un signal non dsir ou une modification du milieu de propagation lui-mme. Niveau de compatibilit (lectromagntique) (VEI 161-03-10) Niveau maximal spcifi de perturbations lectromagntiques auquel on peut sattendre que soit soumis un dispositif, appareil ou systme fonctionnant dans des conditions particulires. Note : en pratique le niveau de compatibilit lectromagntique nest pas un niveau maximal absolu mais peut tre dpass avec une faible probabilit. Niveau de perturbation (non dfini dans le VEI 161) Valeur dune perturbation lectromagntique de forme donne, mesure dans des conditions spcifies. Limite de perturbation (VEI 161-03-08) Niveau maximal, admissible des perturbations lectromagntiques mesur dans des conditions spcifies. Niveau dimmunit (VEI 161-03-14) Niveau maximal dune perturbation lectromagntique de forme donne agissant sur un dispositif, appareil ou systme particulier, pour lequel celui-ci demeure capable de fonctionner avec la qualit voulue. Susceptibilit (lectromagntique) (VEI 161-01-21) Inaptitude dun dispositif, dun appareil ou dun systme fonctionner sans dgradation de qualit en prsence dune perturbation lectromagntique. La figure 1 permet de situer les diffrents termes ci-avant en terme de niveau. Dcibel Unit de puissance sonore, aussi utilise pour exprimer des rapports damplitude selon la relation : X/Xo (dB @) = 20 . log10 X/Xo, avec X = amplitude mesure, Xo = amplitude de rfrence, @ = unit de mesure de X et Xo. Quelques exemples sont donns dans le tableau suivant (cf. fig. 2 ).
Niveau
Susceptibilit des matriels (distribution statistique) Niveau d'immunit (valeur d'essai spcifie)
Niveau de compatibilit (valeur conventionnelle) Niveau d'mission (distribution statistique) Distribution statistique
fig. 1 : positionnement des niveaux en Compatibilit lectromagntique.
Rapports des amplitudes X/Xo 1 1,12 1,25 1,41 2 3,2 4 5 10 100 1000
dB 0 1 2 3 6 10 12 14 20 40 60
fig. 2 : rapports d'amplitude exprims en dB.
Cahier Technique Schneider n 149 / p.2
La CEM : la compatibilit lectromagntique

La CEM est prise en compte ds l'tude pour la fabrication des matriels lectrotechniques. Elle doit aussi tre applique leur mise en uvre. Ainsi, de l'architecte concepteur des btiments jusqu'aux cbleurs d'armoires, sans oublier les ingnieurs d'tudes de rseaux et les installateurs, tous sont concerns par cette discipline de paix ; discipline ayant pour objectif de faire cohabiter en bonne harmonie des matriels susceptibles d'tre perturbs et/ou d'tre metteurs de perturbations. Ce Cahier Technique, ralis partir d'une longue exprience acquise au sein de Schneider Electric, prsente les perturbations rencontres et quelques solutions pratiques.
Sommaire
1 Introduction 1.1 La Compatibilit Electromagntique - CEM - est un fait, mais aussi une discipline 1.2 Aujourd'hui la CEM est indispensable 1.3 Sa thorie est complexe 2.1 Il est important de bien la connatre 2.2 Un exemple de sources permanentes de perturbations conduites 2.3 Un exemple de sources de perturbations rayonnes 3.1 Diffrents modes de couplage existent 3.2 Le couplage champ cble, en mode commun ou diffrentiel 3.3 Le couplage par impdance commune 3.4 Le couplage cble cble en mode diffrentiel ou diaphonie 4.1 Les dfauts de fonctionnement 4.2 Des solutions 5.1 L'installation est un paramtre important dans la CEM globale d'un systme 5.2 A sa conception 5.3 A sa ralisation 5.4 Des exemples pratiques 6.1 Les normes 6.2 Les moyens d'essais 6.3 Les essais p. 4 p. 4 p. 5 p. 6 p. 7 p. 8 p. 10 p. 10 p. 12 p. 12 p. 14 p. 14 p. 17 p. 17 p. 18 p. 18 p. 20 p. 20 p. 21 p. 27 p. 28 p. 29 p. 30 p. 32
2 La source
3 Le couplage
4 La victime 5 L'installation
6 Normes, moyens d'essais et essais
7 Conclusion Annexe 1 : Impdance d'un conducteur en haute frquence Annexe 2 : Les diffrentes parties d'un cble Annexe 3 : Essais raliss aux laboratoires CEM de Schneider Electric Annexe 4 : Bibliographie
1 Introduction
1.1 La compatibilit lectromagntique - CEM - est un fait, mais aussi une discipline
Elle est le fait, pour des quipements ou systmes, de supporter mutuellement leurs effets lectromagntiques. Selon le vocabulaire lectrotechnique international VEI 161-01-07, la CEM est la capacit dun dispositif, quipement ou systme, fonctionner de manire satisfaisante dans son environnement lectromagntique sans introduire de perturbations intolrables pour quoi que ce soit dans cet environnement. Cette dfinition est galement celle adopte par la norme NF C 15-100, chapitre 33. Elle est maintenant une discipline, celle damliorer la cohabitation entre des lments susceptibles dmettre des perturbations lectromagntiques et/ou dy tre sensibles.
1.2 Aujourdhui la CEM est indispensable

De fait depuis toujours, tout appareil est soumis diverses perturbations lectromagntiques, et tout appareil lectrique en gnre peu ou prou. Ces perturbations sont gnres de multiples manires. A la base, leurs faits gnrateurs sont principalement des variations brusques de grandeurs lectriques, tension ou courant. Une prsentation des perturbations lectriques les plus courantes (cf. fig. 3 ) dans le domaine lectrotechnique basse tension est faite dans le Cahier Technique n 141. Le Cahier Technique n 143 traite par ailleurs des perturbations dues aux manuvres de lappareillage MT - Moyenne Tension. Ces perturbations peuvent se propager, par conduction le long des fils et cbles, ou par rayonnement sous forme dondes lectromagntiques. Elles engendrent des phnomnes indsirables ; le brouillage des ondes radio et les interfrences des missions radiolectriques dans les systmes de contrle-commande en sont deux exemples. Ces dernires annes, plusieurs facteurs se sont conjugus pour augmenter limportance de la CEM : c les perturbations sont de plus en plus importantes car U et I augmentent, c les circuits lectroniques sont de plus en plus sensibles, c les distances entre les circuits sensibles (souvent lectroniques) et les circuits perturbateurs (de puissance), se rduisent. Pour dvelopper ses nouveaux produits, Schneider Electric a d approfondir puis mettre en application cette discipline quest la CEM. En effet, dans lappareillage lectrique moderne se ctoient troitement courants faibles et courants
Classes Energtiques
Types Creux de tension
Frquences moyennes Hautes frquences
Harmoniques Surtensions
Dcharges lectrostatiques
Origines c Permutation de sources c Court-circuit c Dmarrage de moteurs de forte puissance c Systmes semi-conducteurs de puissance c Fours arc c Coups de foudre directs ou indirects c Manuvres d'appareils de commande c Coupure de courants de court-circuit par des appareils de protection Dcharges de l'lectricit statique accumule par une personne
Fig. 3 : les perturbations lectriques les plus courantes.
forts, lectronique de contrle-commande et lectronique de puissance, lectronique de protection et appareillage lectrique de puissance. La CEM est donc un critre fondamental prendre en compte dans toutes les phases de dveloppement et de fabrication des produits (cf. fig. 4 ), mais aussi dans les phases dinstallation et de cblage. La CEM est dailleurs maintenant prise en compte dans les normes et devient une contrainte lgislative. Lexprience et les ralisations de Schneider Electric ne se limitent pas la matrise du bon fonctionnement de tout systme lectrique et/ou lectronique dans un environnement lectromagntique habituel : par exemple, les quipements raliss sont aussi capables de rsister lenvironnement lectromagntique le plus contraignant, celui des IEM - HA - Impulsions ElectroMagntiques dorigine nuclaire en Haute Altitude. Pour cela, le durcissement, ou amlioration de la tenue des systmes soumis des impulsions lectromagntiques dorigine nuclaire, ncessite la mise en uvre des techniques les plus performantes de la CEM.
Fig. 4 : un exemple d'application de la CEM : une cellule MT SM6 intgre un disjoncteur qui coupe des centaines d'ampres sous quelques dizaines de kilovolts, et une unit programmable SEPAM de protection et de contrle-commande. L'ensemble doit toujours tre oprationnel, sans alas.
1.3 Sa thorie est complexe

Toute approche de la CEM conduit ltude dun systme trois composantes : c le gnrateur de perturbations ou source, c la propagation ou couplage, c et llment qui subit ou victime. Bien que ces trois composantes ne soient pas strictement indpendantes, dans la pratique elles sont supposes comme telles. A noter que linstallation qui sera aborde au chapitre n 5, a un rle prpondrant dans la propagation des perturbations. Cette tude thorique est difficile, car elle impose celle de la propagation des ondes lectromagntiques rgie par un ensemble dquations diffrentielles complexes : les quations de Maxwell. Leur rsolution nest gnralement pas possible de faon exacte dans des structures physiques relles, et mme avec des moyens informatiques trs performants, une rsolution numrique approche est galement trs difficile. En pratique il faut donc traiter les problmes de compatibilit lectromagntique en faisant un certain nombre dhypothses simplificatrices, en utilisant des modles, et surtout en ayant un recours constant lexprimentation et la mesure.
2 La source
2.1 Il est important de bien la connatre

La connaissance, ou plus exactement lidentification et la mesure, des sources est indispensable car elle permet darrter le choix des solutions mettre en uvre pour : c limiter leur perturbation (placer un bloc antiparasite RC en parallle sur la bobine CA, ou une diode sur la bobine CC, dun contacteur par exemple), c viter les couplages (carter deux lments difficilement compatibles par exemple), c et insensibiliser les victimes potentielles (utiliser des blindages par exemple). Ses principales causes Tout appareil ou phnomne physico-lectrique qui met une perturbation lectromagntique, par conduction ou par rayonnement, est qualifi de source. Parmi les principales causes de perturbations, il faut relever : la distribution dnergie lectrique, les ondes hertziennes, les dcharges lectrostatiques et la foudre. c Dans la distribution dnergie lectrique un grand nombre de perturbations proviennent de manuvres de fermeture et douverture des circuits : v en basse tension, les ouvertures des circuits inductifs comme les bobines de contacteurs, les moteurs, les lectrovannes produisent aux bornes des bobines des surtensions trs leves et riches en hautes frquences (quelques kV et des dizaines, voire centaines de MHz), v en moyenne et haute tension louverture et la fermeture des sectionneurs provoquent lapparition dondes front trs raide (quelques nanosecondes). Ces ondes sont particulirement perturbantes pour les systmes microprocesseur. c Les ondes hertziennes provenant des systmes de tlsurveillance, de tlcommande, radio communication, tlvision, talkie-walkie, sont, pour certains quipements lectroniques, des sources de perturbation de lordre de quelques volts par mtre. Tous ces metteurs sont de nos jours de plus en plus utiliss et conduisent durcir (protger) ces quipements. c Enfin, lhomme peut se charger lectrostatiquement ; par exemple en marchant sur de la moquette. Par temps froid et sec, son corps peut atteindre un potentiel suprieur 25 kV ! Tout contact avec un quipement lectronique provoque alors une dcharge lectrique qui peut pntrer dans lappareil par conduction et par rayonnement, et dont le temps de monte trs court (quelques nanosecondes) est trs perturbateur. Principales caractristiques de ces perturbations Ces sources de perturbations peuvent tre intentionnelles (metteur radio) ou non intentionnelles (soudeuse). Mais dune faon gnrale elles se distinguent par les caractristiques des perturbations quelles induisent : v le spectre, v la forme donde, ou le temps de monte, ou lenveloppe spectrale, v lamplitude, v lnergie. c Le spectre, ou bande de frquences couverte par les perturbations peut tre trs troit, cas des radiotlphones, ou au contraire large, four arc par exemple. Les perturbations impulsionnelles ont en particulier un spectre trs large, pouvant aller jusqu la centaine de MHz (cf. fig. 5 ). Nous trouvons dans cette dernire catgorie essentiellement les perturbations ayant pour source : v des dcharges lectrostatiques, v le fonctionnement dappareillage tels que relais, sectionneurs, contacteurs, interrupteurs et disjoncteurs, en BT et en MT/HT, v et enfin dans un domaine plus spcifique les Impulsions ElectroMagntiques Nuclaires (I.E.M.N.). Les couplages tant directement fonction de la frquence, la reprsentation frquentielle des perturbations lectromagntiques est couramment utilise en CEM. Cette reprsentation sapparente, pour un signal rptitif, sa dcomposition en srie de Fourier (comme une somme dharmoniques). c La forme donde est caractristique de lallure temporelle de la perturbation, sinusodale amortie ou bi-exponentielle par exemple. Elle sexprime sous la forme dun temps de monte tm, dune frquence quivalente ce temps de monte (0,35 / tm), ou simplement de la frquence de la perturbation si elle est bande troite, ou enfin sous la forme dune longueur donde qui se ramne la frquence f par la relation = c/f o c est la clrit de la lumire (3.108 m.s-1).
c Lamplitude est la valeur maximale atteinte par le signal, tension (volt), champ lectrique (volt/mtre),.
c Lnergie de la perturbation est lintgrale de sa puissance sur toute la dure de cette perturbation (Joule).
Cas dun signal radio
Amplitude de la perturbation 0 Temps T

Cas dun effet indirect de coup de foudre Amplitude de la perturbation
Densit spectrale
Bande troite
1/T
Frquence
Densit spectrale Bande large
tm
Temps
0,35 / tm
Frquence
Fig. 5 : exemple de catactristiques spectrales de perturbations.
2.2 Un exemple de sources permanentes de perturbations conduites en lectronique de puissance

En lectronique de puissance, les sources de perturbations sont principalement les transitoires de tension, plus rarement de courant. La tension peut varier de plusieurs centaines de volts en quelques dizaines de nanosecondes, ce qui reprsente des dV/dt suprieurs 10+9 V/s. Par exemple, la technique de dcoupage par Modulation de Largeur dImpulsions (MLI) (cf. fig. 6 ) utilise pour constituer une tension sinusodale partir dune tension continue,
a)
U Ucc t
b)
tm Ucc
td
Uca
e nd rtio (po
ur Co
be
a de) so u n si Uc
Fig. 6 : une source de perturbations dans les quipements d'lectronique de puissance : la technique de dcoupage par modulation de largeur d'implusions. a : principe, b : une impulsion fortement agrandie, (chelle dilate de t), la portion de sinusode est disproportionne car elle s'tale sur 20 ms ; tm 2 3 td (10 ns 1 s).
ncessite des variations de tension entre 0 et Ucc (660 V en triphas-redress) avec des temps trs brefs de quelques nanosecondes microsecondes selon les technologies. Ces variations brusques de tension engendrent divers phnomnes perturbateurs, dont par exprience le plus gnant est la circulation de courant travers toutes les capacits parasites. En ne tenant compte que de la capacit parasite Cp, le courant IMC = Cp.dV/dT. Il suffit donc, avec les valeurs de fronts voqus prcdemment, dune capacit parasite de 100 pF pour gnrer des courants de plusieurs centaines de mA. Ce courant perturbateur va circuler dans le conducteur de rfrence de tension de llectronique (circuit 0 V) et peut modifier des commandes (informations ou ordres), se superposer des mesures sensibles, voire gner dautres exploitants en tant rinject sur le rseau de distribution publique. Prendre en compte ce type de phnomne, donc matriser la CEM, pourrait consister ralentir la monte de la tension. Mais une telle solution entranerait une augmentation sensible des pertes par commutation dans les transistors et serait donc trs dfavorable du point de vue des contraintes thermiques. Une autre manire efficace de rduire ces courants est daugmenter limpdance de mode commun (entre structures et masse). Ainsi par exemple, pour le montage des composants lectroniques de puissance, deux solutions sont couramment utilises : c soit laisser flottants (sans liaison lectrique) les radiateurs de refroidissement des composants (cf. fig. 7 ), quand les rgles de scurit des personnes le permettent, c soit diminuer la capacit parasite entre le composant et son radiateur, par lutilisation dun isolant constante dilectrique faible (cf. fig. 8 ). Autant de prcautions qui feront la diffrence entre un convertisseur pollueur et un convertisseur rinjectant sur le rseau des perturbations minimales. Il faut noter que llectronique bas niveau du convertisseur doit tre, et est, protge contre
les perturbations gnres par ses propres circuits de puissance. La comprhension et la matrise du phnomne la source sont ncessaires pour une limitation efficace et conomique de lmission conduite. Il existe dautres sources de perturbations conduites, occurrence faible telles que la foudre et les surtensions de manuvre ; capables de gnrer des dV/dt et dI/dt importants. Ces perturbations sont galement gnratrices de champs rayonns.
Isolant Semi-conducteur
;; ;; ;; ;;
Cp
Radiateur
IMC
Masse
Fig. 7 : la capacit parasite du radiateur de refroidissement des composants lectroniques, un lment pris en compte dans la conception des bras d'onduleur .
Rondelle isolante pour botier TO3 Mica Plastique Alumine
Epaisseur (mm) 0,1 0,2 2
Capacit parasite (pF) 160 95 22
Fig. 8 : capacits parasites typiques des principaux isolants utiliss pour le montage des composants lectroniques.
2.3 Un exemple de sources de perturbations rayonnes : la fermeture dappareillage dans les postes moyenne tension et trs haute tension
Lenvironnement dans les postes, particulirement en moyenne tension et en trs haute tension, peut comporter des champs lectromagntiques impulsionnels trs intenses. Certaines manuvres dappareillage gnrent des variations de tension bien suprieures aux tensions nominales en des temps extrmement courts. A la fermeture dun interrupteur 24 kV par exemple, les claquages dits de pramorage font varier la tension de plusieurs dizaines de kV en quelques nanosecondes (10-9 s). Des prcisions sont apportes ce sujet dans le Cahier Technique n 153 Disjoncteurs au SF6 Fluarc et protection des moteurs MT . Des mesures effectues dans les laboratoires Schneider ont montr qu un mtre dune cellule moyenne tension 24 kV en manuvre, des champs impulsionnels sinusodaux amortis atteignent une valeur crte de 7,7 kV/m et une frquence de 80 MHz. Ces valeurs de champ
sont extrmement importantes. A titre de comparaison, un metteur radio portatif de 1 W (du type talkie-walkie) gnre, un mtre de son antenne, des champs de lordre de 3 5 V/m. Ces variations se propagent le long des conducteurs, jeux de barres, cbles, lignes ariennes. Etant donnes les frquences mises en jeu, autrement dit la rapidit du phnomne, les structures conductrices (jeux de barres) sont de vritables antennes rayonnantes. Et les champs lectromagntiques quelles gnrent ont des caractristiques qui dpendent fortement de lenvironnement physique notamment des enveloppes mtalliques (cloisonnements, cellules). Dans les postes blinds trs haute tension, les champs lectromagntiques sont particulirement importants. Les postes blinds isols au SF6 sont structure coaxiale, et prsentent donc une impdance caractristique
constante. Lors de brusques variations de tension, il se cre alors lintrieur des enveloppes mtalliques tubulaires des phnomnes dondes stationnaires. Celles-ci sont dues aux rflexions sur les ruptures dimpdances que reprsentent par exemple les cnes de traverse de sortie du blindage. Lamplitude et la dure du phnomne sen trouvent ainsi augmentes. Lenvironnement lectromagntique de la moyenne la trs haute tension demande donc des tudes pousses de compatibilit lectromagntique pour le dveloppement, linstallation des relayages et des dispositifs de contrle-commande. Ceci dautant plus que les perturbations rayonnes ne sont pas les seules perturbations gnres dans les postes qui sont galement sources des transitoires conduits de tension voqus au dbut de ce paragraphe (cf. fig. 9 ).
a)
b)
c)
Fig. 9 : trois exemples dappareils lectronique numrique dvelopps par Schneider Electric et conus en tenant compte des tudes de CEM. a : SEPAM, une unit de protection et contrle intgre dans les quipements MT (marque Merlin Gerin) ; b : une unit de protection et contrle des disjoncteurs de puissance BT Masterpact (marque Merlin Gerin) ; c : un variateur de vitesse de type ATV (marque Telemecanique).
3 Le couplage
3.1 Diffrents modes de couplage existent

Par couplage il faut comprendre liaison, passage ou transmission des perturbations lectromagntiques de la source vers la victime. Le couplage est caractris par un cfficient k f dit de couplage, exprim en dB (-75 dB par exemple), pouvant tre dfini comme lefficacit de transmission dune perturbation de la source la victime potentielle (k = 20 log A reue/A mise, avec A amplitude de la perturbation). Dfinir ce coefficient est important dans la connaissance de la CEM, car plus il est faible (plus sa valeur absolue en dcibel est importante), plus la perturbation effectivement reue par la victime potentielle est faible, et meilleure est la CEM. Trois modes de couplage sont classiquement distingus : c le couplage champ cble, en mode commun ou diffrentiel, c le couplage par impdance commune, c le couplage cble cble en mode diffrentiel ou diaphonie.
3.2 Le couplage champ cble, en mode commun ou diffrentiel

Un champ lectromagntique peut se coupler sur toute structure filaire, donc tout cble, et gnrer sur ces structures des tensions soit en mode commun (par rapport la masse), soit en mode diffrentiel (entre fils), soit et dailleurs plus gnralement les deux. Ces couplages sont appels champ cble, cest leffet dantenne des fileries, des pistes de circuits imprims etc. c Les couplages en mode commun sont donc ceux qui mettent en uvre des perturbations de type tension ou courant de mode commun. Une tension conduite de mode commun (VMC) est une tension qui sapplique lensemble des conducteurs actifs. Elle est rfrence par rapport la masse ou par rapport la terre (cas habituel en lectrotechnique) : ainsi les essais disolement de mode commun, des disjoncteurs basse tension, se font entre toutes les phases relies et la terre. Un courant de mode commun (IMC) est un courant qui parcourt tous les conducteurs actifs dans le mme sens (cf fig. 10 ). Le courant
Gnrateur de perturbations
;;;; ;;;; ;;;; ;;;; ;;;; ;;;; ;;;; ;;;;

Cp
IMC
VMC
PE
IMC
;;; ;;; ;;; ;;; ;;; ;;; ;;; ;;;

Cp
Fig. 10 : tension et courant de mode commun entre deux relais d'un caisson d'appareillage basse tension d'une cellule moyenne tension.
induit par un choc de foudre sur une ligne BT est un courant de mode commun. c Les couplages de mode diffrentiel concernent des tensions ou courants au sens classique du terme, par exemple entre les deux phases dun disjoncteur ou entre les deux fils qui amnent un signal de mesure llectronique. Les quations qui rgissent le couplage entre un champ lectromagntique dimpdance donde quelconque et une structure filaire, qui peut elle aussi tre quelconque, sont trs complexes. Dans la plupart des cas, elles ne peuvent tre rsolues ni analytiquement, ni mme numriquement. Cependant lun de ces couplages, simple et des plus frquents, peut sexprimer de manire analytique, il sagit du couplage entre la composante magntique dun champ lectromagntique et une boucle de surface S forme par des conducteurs (cf. fig. 11 ). La composante magntique H du champ induit en srie dans la boucle une tension gale : e = 0 S dH/dt, avec 0 = la permabilit du vide (4 10-7 H/m). Ainsi, par exemple, dans un poste moyenne tension, la boucle (dun fil ou dun cble) de 100 cm2 place 1 m dune cellule (cf. fig. 12 ), qui serait soumise un champ impulsionnel de 5,5 kVeff/m (valeur mesure en laboratoire) ,
verrait en transitoire une tension induite en srie gale 15 V. Cette loi est considre comme correcte tant que la plus grande dimension de la boucle nexcde pas un dixime de la longueur donde de la perturbation. Il faut rappeler ici, quune telle boucle (cf. fig. 12 ) est vite ralise dans le caisson relayage avec les fils vert-jaune lorsquils sont relis en toile la masse.
E Champ lectromagntique H
Surface soumise au champ lectromagntique
e e = tension induite par le champ lectromagntique
;;; ;;; ;;; ;;; ;;; ;;;

0 volt
Fig. 11 : un exemple de couplage champ cble de mode diffrentiel.
Masse de la cellule
;;; ;;; ;;; ;;; ;;; ;;;

0 volt
Fig. 12 : exemple de boucle de masse dans un caisson d'appareillage basse tension d'une cellule moyenne tension.
3.3 Le couplage par impdance commune
Circuit A d'alimentation +
Z commune 0 volt entre M
I alimentation + I mesure
Circuit B de mesure
Fig. 13 : les mesures effectues par l'amplificateur oprationnel seront errones car un courant perturbateur dans le circuit A (d'alimentation) suffit pour crer dans le circuit B (de mesure) des tensions perturbatrices.
Comme son nom lindique, le couplage par impdance commune rsulte de la prsence dune impdance commune deux ou plusieurs circuits. Cette impdance commune peut tre la liaison de masse, le rseau de terre, le rseau de distribution dnergie, le conducteur de retour de plusieurs signaux dans une mme liaison courant faible, etc. Voici un exemple (cf. fig. 13 ) permettant de comprendre toute limportance de ce mode de couplage : un courant perturbateur dans un circuit A de lordre de la dizaine de mA suffit pour crer dans un circuit B des tensions perturbatrices de plusieurs volts. Le circuit de mesure devrait avoir pour rfrence le point M et non le point A. Ceci peut assurment tre gnant avec des lectroniques circuits intgrs travaillant sous des tensions du mme ordre de grandeur. Dans cet exemple, limpdance commune peut tre les quelques mtres dun cble commun aux deux circuits A et B. La perturbation a alors une valeur Uc, telle que Uc = Ia Zc, avec : c Ia : courant perturbateur, c Zc : impdance commune (cf. fig. 14 ). La valeur de limpdance commune est gnralement extrmement faible en basse frquence. Pour un rseau de terre par exemple,
i1
i2
Z1 Uc
Zc
Z2
Ia = i1 + i2
E1 E2
Circuit alimentation
Circuit mesure
Fig. 14 : schma d'impdance commune.
la scurit impose des valeurs minimales de section des conducteurs de protection en fonction du rgime du neutre. La valeur de limpdance 50 Hz entre deux points du rseau de masse est donc toujours trs infrieure 1 . Mais il importe ici de considrer la valeur de cette mme impdance aux frquences caractristiques des phnomnes perturbateurs dcrits prcdemment. Et la valeur de cette impdance prend alors des valeurs beaucoup plus importantes, plusieurs k voire plus (cf. annexe 1).
3.4 Le couplage cble cble en mode diffrentiel ou diaphonie

La diaphonie est un mode de couplage qui se rapproche du couplage champ cble. Et, selon quelle a pour origine une variation de tension ou une variation de courant, elle est nomme diaphonie capacitive ou diaphonie inductive. Une variation brusque de tension entre un fil et un plan de masse ou entre deux fils (cf. fig. 15 ) gnre un champ qui peut tre faible distance, moyennant certaines approximations, considr comme principalement lectrique. Ce champ peut se coupler dans une autre structure filaire qui lui est parallle. Cest la diaphonie capacitive. De la mme manire, une variation de courant dans un fil ou cble gnre un champ lectromagntique qui, moyennant les mmes approximations, peut tre considr comme purement magntique. Ce champ peut alors se coupler dans une paire et induit une tension
perturbatrice. Cest la diaphonie inductive (cf. fig. 16 ). En fait, diaphonie capacitive et diaphonie inductive interviennent ds que des conducteurs ont un cheminement parallle et proche. Elles sont donc susceptibles de sappliquer dans tout chemin de cbles ou goulotte, et tout particulirement entre les cbles de puissance vhiculant en mode diffrentiel des perturbations HF et les paires de fils dun rseau vhiculant des signaux numriques. De plus, elles sont dautant plus efficaces que la longueur des fils circulant paralllement est grande, que lcartement des fils ou paires est faible, et que la frquence des phnomnes est leve. Par exemple pour la diaphonie capacitive et avec les notations de la figure 15 , le coefficient de couplage, en tension, sexprime de la manire suivante : C12 j 2f C C + VN 20 12 = V1 1 j 2f + R C C + 20 ) ( 12 avec : c V1, tension source, c VN, tension perturbatrice induite par le couplage, c C12, capacit de transfert entre les deux fils, proportionnelle la longueur des fils et un coefficient approch gal Log[1+(h/e)2] o h est lcartement entre les deux fils de la paire, et e lcartement entre les paires, c C20, capacit de fuite entre les deux fils de la paire perturbe, c R, impdance de charge de la paire perturbe. Dans cette formule le premier terme du dnominateur est gnralement ngligeable par rapport au deuxime terme. On peut donc crire en premire approximation que : C12 C12 + C20 VN 2f 1 V1 R (C12 + C20 ) = 2f R C12 = R C12 Pour fixer les ides, considrons deux paires de fils cheminant paralllement sur 10 m, avec h = 1 cm, e = 2 cm et R = 1 k. Le calcul donne pour un signal 1 MHz, un coefficient de couplage de -22 dB soit : VN 1 = V1 12
C12
R V1 h
VN
C20
Fig. 15 : une variation brusque de tension V1 entre deux fils gnre un champ qui, faible distance, peut tre considr comme principalement lectrique, et induire une tension VN dans une autre structure filaire qui lui est parallle ; ce mode de couplage est appel diaphonie capacitive.
Cble (puissance)
Paire de fils (bas niveau)
Fig. 16 : une variation de courant dans un cble gnre un champ lectromagntique qui, faible distance, peut tre considr comme purement magntique et induit alors une tension perturbatrice dans des fils formant une boucle ; ce mode de couplage est appel diaphonie inductive.
Dans la ralit, les couplages capacitifs et inductifs de ce type sont considrablement rduits par lutilisation de paires torsades, voire blindes.
4 La victime
La victime, dans la trilogie source/couplage/ victime, reprsente tout matriel susceptible dtre perturb. Il sagit gnralement dun quipement comprenant une partie lectronique, qui
prsente un dysfonctionnement d la prsence de perturbations lectromagntiques gnralement d'origine extrieure l'quipement.
4.1 Les dfauts de fonctionnement

Ils sont classs en quatre types : c permanent et mesurable, c alatoire non rptitif survenant lors de lapparition des perturbations, c alatoire non rptitif persistant aprs lapparition des perturbations, c dfaut permanent subi par lquipement (destruction de composant(s)). Ces quatre types sont caractristiques de la durabilit dun dfaut, mais ils ne caractrisent pas sa gravit. La gravit dun dfaut est un critre dpendant de la fonctionnalit, de la criticit de chaque quipement. Certains dfauts peuvent tre temporairement accepts, telle une perte momentane daffichage ; dautres sont inacceptables : appareillage de scurit ne remplissant plus sa fonction.
4.2 Des solutions

De nombreuses dispositions constructives permettent davoir cots rduits des matriels prsentant une bonne tenue aux perturbations lectromagntiques. Ces prcautions concernent : c la conception des circuits imprims (leur dcoupage fonctionnel, leur trac, leur connectique), c le choix des composants lectroniques, c la ralisation des enveloppes, c linterconnexion des masses, c le cblage. Ces choix concernent de nombreux intervenants, ils doivent donc tre faits au stade de ltude pour viter des surcots toujours importants en cas de modifications en fin de conception, voire aprs la mise sur le march. La mise en uvre de toutes ces prcautions demande un savoir-faire qui dpasse les actions de filtrage et de blindage, souvent prconises pour durcir un matriel aprs coup mme si leur efficacit nest nullement remise en cause. La conception des circuits imprims Lors du dessin des cartes, un certain nombre de rgles sont respecter. Ces rgles concernent le dcoupage fonctionnel des cartes et le trac des pistes. Tout dabord limplantation, il est dj possible de rduire les couplages entre composants dus leur proximit ; par exemple le regroupement des circuits par type : numrique - analogique puissance, en fonction de leur susceptibilit rduit leurs interfrences. D'autre part le trac des pistes (routage) sur un circuit imprim a une incidence importante sur la susceptibilit dune carte : le mme schma lectrique, implant de diffrentes manires aura une immunit aux perturbations pouvant varier dun facteur un plusieurs dizaines. Par exemple un trac des circuits langlaise (cf. fig. 17 ) en retirant le minimum de cuivre rduit leur rayonnement et leur sensibilit. Le choix des composants lectroniques De nombreux composants permettent dassurer une protection efficace contre les perturbations conduites. Le choix de ces composants est guid par la puissance des circuits protger (alimentation, contrle-commande,), et en fonction du type de perturbations. Ainsi, contre les perturbations de mode commun sur un circuit de puissance, un transformateur sera utilis si elles sont de basses frquences (< 1 kHz), et un filtre sera prfr pour les hautes frquences. Le tableau de la figure 18 donne une liste non exhaustive de composants de protection. Tous ne sont pas quivalents : un filtre ne protge pas des surtensions, et un parasurtenseur nlimine pas les perturbations HF.
La ralisation des enveloppes La ralisation dune enveloppe conductrice (blindage) autour des quipements sensibles est un moyen de les protger contre les champs lectro-magntiques. Pour une bonne efficacit, l'paisseur du matriau conducteur utilis doit dpasser la valeur de son
paisseur de peau aux frquences perturbatrices considres (cf. fig. 19 ). Face une perturbation, trs haute frquence ou un champ lectrique, un vernis conducteur peut tre utilis avec efficacit. Mais seule une enveloppe en matriaux forte permabilit permet d'arrter les champs magntiques en BF.
0 volt
Trac circuits fins
Trac l'anglaise
Trac avec plan de masse
Fig. 17 : le trac des circuits peut rduire la susceptibilit d'une carte : soit par minimisation des impdances (trac l'anglaise), soit par rduction des couplages dus au champ lectromagntique (trac avec plan de masse).
Types Parasurtenseur Composants pour filtrage Composants pour blindage
Exemples Eclateur, parafoudre, limiteur Varistance, diode Zener Transformateur, inductance, condensateur, filtre Grillage, plan de masse,cble blind, joint hyperfrquence, doigt de contact
Applications Installation, alimentation, contrle-commande Circuits lectroniques Alimentation, contrle-commande (installations et circuits lectroniques) Transmission d'information (armoire en site perturb)
Fig. 18 : liste de composants de protection.
Onde incidente Absorption
Conductivit -1 ( -1 .m )
Rflexion
Transmission
Epaisseur de l'enveloppe
Epaisseur de peau : =
1 2
Epaisseur de tle
Fig. 19 : phnomne cran d'une enveloppe mtallique.
L'interconnexion des masses Dans ce domaine, la continuit lectrique entre les diffrentes parties du botier est extrmement importante. Leur connexion doit tre ralise avec soin, par exemple en protgeant leurs zones de contact de tout dpt de peinture, mais aussi en utilisant des tresses larges et courtes (recherche dune rduction maximale de leur impdance). Le cblage De mme, le blindage des cbles, parfois appel cran (cf. vocabulaire des cbliers), est une extension de lenveloppe conductrice ralise autour de lquipement sensible. Il est donc reli celle-ci au plus court, et si possible sur toute sa circonfrence pour une protection contre des perturbations de frquences leves. Tout comme les couplages entre un champ lectromagntique et une structure filaire (cf. paragraphe 3), la thorie sur le blindage des cbles, trs complexe, est difficilement abordable dans le cadre de ce document. Des ouvrages de rfrence sont cits dans la bibliographie.
La prise en compte de toutes ces rgles de conception et de ralisation permet au produit ou au systme davoir une immunit aux perturbations lectromagntiques suffisante compte tenu du milieu dans lequel il est plac. Cependant, cette immunit ne peut tre valide quexprimentalement par des mesures qui permettent alors de quantifier lefficacit des diffrentes solutions. Ainsi par exemple, chez Merlin Gerin, les diffrentes maquettes des projets de dclencheurs lectroniques des disjoncteurs sont soumises un ensemble dessais svres, reprsentatifs des perturbations maximales auxquelles pourront tre soumis ces dclencheurs. Lobjectif final de ces essais tant de vrifier que le dclencheur nengendre pas de dclenchement intempestif et que le disjoncteur ouvre bien, lorsquil le doit, dans le temps requis. Les normes produits intgrent maintenant ces contraintes, c'est le cas, par exemple des normes : c CEI 60947-2, concernant les disjoncteurs industriels, c CEI 61131-2, relative aux automates programmables.
5 Linstallation
5.1 Linstallation est un paramtre important dans la CEM globale dun systme
Pour preuve, la norme NF C 15-100, norme gnrale dinstallation en BT, consacre la compatibilit lectromagntique un chapitre complet, le chapitre 33. Les deux chapitres prcdents dmontrent bien limportance que peut avoir linstallation dans les phnomnes de CEM, et cela de par sa conception comme de sa ralisation.
5.2 A sa conception
Lors des tudes et des implantations deux facteurs peuvent tout particulirement influencer la CEM : le choix des matriels et leurs dispositions relatives (cf. fig. 20 ). Car le premier facteur concerne tout la fois la slection des sources et des victimes : un appareil choisi pour une fonction donne peut tre plus ou moins gnrateur de perturbations et/ou susceptible. Par exemple, si deux appareils doivent fonctionner proximit lun de lautre, ils devront : c soit associer une source faiblement perturbatrice et une victime ordinaire (moyennement sensible), c soit au contraire associer une source ordinaire (moyennement perturbatrice) et une victime peu sensible, c ou du moins satisfaire un compromis entre ces deux extrmes. Et le second facteur directement dpendant du premier consiste positionner les matriels, dj dfinis et selon leurs caractristiques relatives, pour satisfaire aux besoins de CEM. Il est ais de comprendre que cette slection doit alors prendre en compte les cots des matriels, mais aussi ceux de leur mise en uvre.
Basse tension ateliers tableau de distribution

Laboratoire
Basse tension machines tableau avec transformateur de s paration Machines souder Poste de livraison MT/BT, tableau g n ral basse tension
Fabrication
Service commercial Service informatique Basse tension bureaux tableau de distribution et alimentation statique sans interruption
Fig. 20 : exemple d'une implantation d'quipements lectriques tenant compte de la CEM.
5.3 A sa ralisation
La mise en uvre des diffrents lments, dune installation lectrique comme dun quipement lectronique, obit aux principes dj noncs dans les chapitres prcdents. Dans la pratique, ce sont les diffrents modes de couplage coexistant simultanment qui seront tudier et rduire pour satisfaire aux objectifs de CEM. Et pour cela diffrentes solutions ou techniques devront tre utilises : c le maillage des circuits et des rseaux de masses et de terre, c la sparation lectrique des circuits, c un cblage bien pens.
5.4 Des exemples pratiques

Le maillage des circuits et des rseaux de masses et de terre Aujourdhui, les quipements sont sensibles des nergies trs faibles, ils contiennent des lectroniques sensibles aux hautes frquences et ils sont interconnects. Les couplages par impdance commune peuvent donc tre frquents. Pour les viter, un rseau de terre aussi quipotentiel que possible, pour tre plus prcis maill, est indispensable. Cette solution est lune des premires protections prendre contre les perturbations. Ainsi dans le rseau dune usine, tous les cbles de protection (PE) sont interconnecter, relier aux structures mtalliques existantes, comme le prescrit la NF C 15-100 (cf. fig. 21 ). De mme, dans un quipement, toutes les masses et carcasses dappareillages sont relier au plus court avec des raccords (fils ou tresses) peu impdants en HF, larges et courts, un rseau de masse maill. Le cblage dune armoire lectrique en est un exemple type : toutes les masses sont interconnecter. A ce sujet il faut noter un changement : le principe des masses relies en toile, parfois utilis avec les quipements lectroniques analogiques sensibles la ronflette 50 Hz , est maintenant abandonn au profit des rseaux maills beaucoup plus efficaces contre les perturbations pouvant affecter les dispositifs numriques actuels, relais de protection et systmes de contrle-commande. La sparation lectrique des circuits Cette technique consiste sparer les sources dnergie (habituellement 50 ou 60 Hz). Son but est dviter la perturbation dun quipement sensible par les perturbations conduites gnres par dautres quipements connects la mme source dalimentation. Son principe : un quipement sensible et un quipement perturbateur ont deux alimentations spares par des impdances importantes aux frquences perturbatrices. Les transformateurs (et non pas autotransformateurs) sont des sparateurs efficaces, particulirement pour les basses frquences : transformateurs MT/BT, transformateurs disolement, et tous les transformateurs dentre sur les lectroniques sont des limiteurs de propagation des perturbations conduites. Il est parfois ncessaire dimplanter un filtre sparateur pour liminer les perturbations HF. Si, de plus, lquipement sensible ncessite une alimentation secourue en cas de dfaillance
M PE PE
Fig. 21 : les maillages des circuits et des rseaux de masses et de terre sont trs souvent confondus dans les armoires lectriques.
secteur, il pourra tre aliment par une Alimentation Sans Interruption (ASI), dans la mesure o cette ASI comporte le ou les transformateurs disolement ncessaires. Un cblage bien pens Enfin, les trois mcanismes de couplage dcrits prcdemment seront limits si les chemins de cblage sont raliss selon les rgles suivantes : c Tous les circuits ne pouvant pas tre spars les uns des autres pour des raisons conomiques videntes, les cbles doivent tre regroups par catgorie. Le cheminement des diverses catgories sera physiquement spar : en particulier seront rassembls les cbles de puissance dun ct, les cbles bas niveau (tlphonie, contrle-commande, ) de lautre. Si le nombre de tranches, de chemins de cbles ou de goulottes le permet, les cbles de puissance, dintensit dpassant quelques ampres sous 230 V, et les cbles bas niveau cheminent dans deux passages diffrents. Sinon, une distance minimale est respecter entre les deux catgories, de lordre dune vingtaine de centimtres (cf. fig. 22 ). Entre ces deux catgories sera soigneusement vit tout lment commun. Les circuits ncessitant des informations bas niveau auront galement, autant que faire se peut, leur propre fil de retour (0 volt) pour viter les couplages par impdance commune. En particulier, la plupart des systmes de communication par bus ncessitent une paire de fils strictement et exclusivement rserve lchange des informations. c Dans tous les cas, la surface globale dune boucle, donc la distance entre un conducteur et
son retour, doit tre minimise. Pour la transmission dinformations, le torsadage des lignes permet encore de diminuer la susceptibilit aux couplages de mode diffrentiel. Lemploi de paires torsades est donc privilgier devant celui de la simple paire. c Les cbles de mesures, et de transmissions dinformations faible niveau, doivent tre si possible cran et, sauf prcision particulire du fournisseur, leur cran est reli la masse en un maximum de points. c Les goulottes support du cheminement des cbles doivent tre, dans la mesure du possible, des goulottes mtalliques. Ces goulottes sont interconnectes entre elles avec un contact lectrique correct, par vis par exemple et interconnectes avec le rseau maill de masse. c Les cbles les plus sensibles, ceux de mesure par exemple, sont placs dans un angle. Ils bnficient ainsi dune protection accrue contre les rayonnements lectromagntiques. Leur cran, sil existe, est reli rgulirement la goulotte. Lutilisation des canalisations prfabriques dans lesquels les cbles sont positionns et connects correctement, comme les Canalis de marque Tlmcanique avec cble de tlcommande incorpor, est donc tout fait prconise. Toutes ces prcautions de cblage, trs efficaces dans la prvention des problmes de CEM, sont dun surcot faible au stade de la conception de linstallation. Des modifications aprs coup, sur une installation dj existante avec des couplages lectromagntiques trop forts, sont par contre dun cot nettement plus important.
Cbles de puissance
Fils de contrle-commande
Conducteurs de mesure avec cran
d d = quelques centimtres
Fig. 22 : un exemple de cheminement de cbles.
6 Normes, moyens dessais et essais
6.1 Les normes

Depuis longtemps, des textes normatifs rgissent la compatibilit lectromagntique des matriels. Les premires rglementations ont t dictes par le Comit International Spcial des Perturbations Radiolectriques (C.I.S.P.R.). Elles limitaient essentiellement le pouvoir missif des diffrents appareils, principalement pour protger la transmission et la rception des ondes radios. Les comits nationaux, la Commission Electrotechnique Internationale (CEI) ont dict des textes normatifs couvrant lensemble de la CEM, mission et immunit, dans le domaine civil. Les textes normatifs militaires sur la CEM sont rassembls dans la GAM EG 13 en ce qui concerne la France, et dans les normes MIL-STD pour les Etats Unis. Le fort dveloppement de la compatibilit lectromagntique et lavnement de lEurope ont modifi le paysage normatif civil. Sur ce sujet le Conseil des Communauts Europennes a publi en mai 1989 une Directive Europenne, rfrence 89/336/CEE. Elle concerne le rapprochement des lgislations des tats membres relatives la compatibilit lectromagntique. En France, son application est rendue obligatoire par le dcret n 92.587. La Directive Europenne se proccupe non seulement des limitations des perturbations lmission, mais galement de la tenue minimale aux perturbations lectromagntiques ou immunit. Ainsi cette Directive se rfre des normes qui dfinissent des niveaux perturbateurs maximaux. Des comits techniques, ont t crs par le Comit Europen de Normalisation Electrotechnique (CENELEC). Ils ont rassembl les normes existantes qui correspondent l'application de la directive et rdig celles qui faisaient dfaut. Les travaux du TC 210 se sont appuys sur les pratiques du milieu industriel. Pour les mesures dmission, les normes allemandes VDE 871 et VDE 875 ont pendant un temps fait rfrence sur le sujet. Les textes normatifs europens rcents EN 55011, EN 55022, simposent maintenant. La norme CEI 61000 (anciennement CEI 1000) est la rfrence concernant la CEM, elle comporte plusieurs parties : c 61000-1 : Application - dfinitions, c 61000-2 : Environnement - niveaux de compatibilit, c 61000-3 : Limite des perturbations, c 61000-4 : Techniques dessai et de mesure. c 61000-5 : Guides dinstallation et dattnuation c 61000-6 : Normes gnriques La partie 4 comporte de nombreuses sections concernant les essais dimmunit, en particulier : v 1 - gnralits, v 2 - dcharges lectrostatiques, v 3 - champs radio-frquence, v 4 - transitoires lectriques en salves, v 5 - ondes de choc de foudre, v 6 - perturbations conduites > 9 kHz, v 7 - harmoniques, v 8 - champs magntiques 50 kHz, v 9 - champs magntiques impulsionnels, v 10 - champs magntiques oscillatoires amortis, v 11 - creux de tension, coupures brves et variation de tension, v 12 - ondes oscillatoires, v 13 - harmoniques et interharmoniques, v etc... Elles correspondent bien aux perturbations typiques du monde lectrotechnique moderne. Largement reconnues dans la communaut internationale, ce sont celles que Schneider applique pour ses produits. Le paragraphe suivant prsente plus en dtail les essais correspondant ces textes normatifs.
6.2 Les moyens d'essais

Comme expliqu prcdemment, le respect des rglementations impose des mesures et des essais, eux-mmes dfinis par des normes. De par son mtier, la compatibilit lectromagntique est depuis longtemps une proccupation majeure de Schneider Electric. Des moyens importants, comme une cage de Faraday, taient utiliss ds les annes 1970. Le centre d'essais Schneider dispose depuis de nombreuses annes de deux laboratoires CEM. Ils sont les outils indispensables la capitalisation et la diffusion de la comptence. Ils sont prestataires de service pour des clients extrieurs l'entreprise. Ainsi, ils ralisent des essais dans tous les domaines de la CEM : c dcharges lectrostatiques, c immunit conduite et rayonne, c mission conduite et rayonne.
Comme toute mesure, les mesures de compatibilit lectromagntique doivent tre reproductibles la fois dans le temps et dans l'espace, c'est--dire que deux mesures effectues dans deux laboratoires diffrents doivent avoir les mmes rsultats. Dans cette discipline, cela implique des moyens trs importants, donc des investissements substantiels, et une dmarche Qualit rigoureuse. La dmarche Qualit des laboratoires CEM de Schneider, sappuie sur des manuels Qualit et un ensemble de procdures. Ces procdures
concernent aussi bien les suivis dtalonnage, le raccordement aux talons, que chaque type de mesure lui-mme. La liste des essais normatifs que peuvent raliser les laboratoires est en annexe 3. Concrtisant cette dmarche Qualit : c le laboratoire Grenoblois est accrdit par le COFRAC (COmit FRanais d'ACcrditation), c le laboratoire de Nanterre est accrdit par l'ASEFA (Association des Stations d'Essais Franaises d'Appareils lectriques).
6.3 Les essais

Dcharges lectrostatiques Ces essais sont destins tester limmunit des cartes, quipements et systmes aux dcharges lectrostatiques. Les dcharges lectrostatiques rsultent des charges accumules par un individu, par exemple en marchant sur un sol isolant. Quand cet individu touche un matriel conducteur reli par une impdance la masse, il se dcharge brusquement travers celui-ci. Plusieurs tudes ont montr que la forme donde dpend des caractristiques de la source et des circuits de dcharge, mais aussi dautres paramtres, humidit relative de lair (cf. fig. 23 ), vitesse dapproche du corps charg, ici la main de lhomme, etc. Ces tudes ont dbouch sur des essais de dcharges types. Ils sont raliss laide dun gnrateur (pistolet) qui simule lhomme, dans des configurations dtermines (cf. fig. 24 ). Les dcharges sont appliques sur toutes les parties accessibles de lappareil contrler, sur son environnement immdiat, et sont rptes un nombre de fois suffisant pour garantir une tenue statistique. Ces mesures ncessitent donc un stand appropri.
Tension (kV) 16 15 14 Synthtique 13 12 11 10 9 8 7 6 5 Laine 4 3 2 Antistatique 1 0 5 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 Humidit relative (%)
Fig. 23 : influence de l'humidit relative de l'air sur la tension de dcharge lectrostatique en fonction du revtement de sol.
Table isolante
;; ;;;;;; ;;;;;; ;; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ; ;;; ; ; ; ; ;; ; ;

Plans conducteurs
Equipement sous test
Pistolet
Rseau
Rsistances 470 k
Isolant
Plan de masse de rfrence
; ;; ; ;
Alimentation
Fig. 24 : site d'essais de dcharge lectrostatique dfini par la norme CEI 61000-4-2.
Tous ces essais sont parfaitement dfinis par la norme CEI 1000-4-2 avec les niveaux de svrit du tableau de la figure 25 . Immunit conduite Ces essais permettent de qualifier la tenue dun appareil aux perturbations amenes par le cblage extrieur de cet appareil (entres, sorties, et alimentation). Comme il a t expliqu prcdemment ces perturbations sont diffrentes suivant la nature, et linstallation des cbles. Les signaux lectromagntiques ou transitoires retenus dans ces essais ont pour caractristiques (amplitude, forme donde, frquence, ) des valeurs typiques. Des mesures de perturbations effectues sur de nombreux sites ont permis de dgager principalement trois essais types : c Le premier essai, CEI 61000-4-4, est caractristique des perturbations induites par les manuvres dappareillage de commande. Il considre des transitoires lectriques rapides en salves. Ces salves se rptent une frquence de 3 Hz. Chaque salve est constitue dune centaine de transitoires espacs denviron 100 s. Chaque transitoire a un front de monte trs raide, 5 ns, avec une amplitude de plusieurs kV, variable suivant les svrits demandes (cf. fig. 26 et 27 ). Tous les cbles peuvent tre soumis des transitoires rapides. Ce type de perturbations se couple en effet trs facilement, par exemple par diaphonie (cf. chapitre Le couplage ), et il suffit donc quun cble gnre cette perturbation pour que tous ceux circulant dans le mme chemin de cbles y soient soumis. Lessai est donc fait sur tous les cbles : en mode commun sur ceux o la perturbation est a priori induite (en loccurence les cbles autres que lalimentation), en mode commun et en mode diffrentiel sur les cbles relis au secteur. Les perturbations sont injectes sur les cbles tests soit par couplage capacitif direct dans le cas
Niveaux de svrit selon la norme 1 2 3 4 Tension d'essai en kV 10 % Dcharge Dcharge dans l'air au contact 2 2 4 4 8 6 15 8
Fig. 25 : tensions de dcharge lectrostatique devant tre supportes par des matriels selon la CEI 61000-4-2.
a)
15 ms 300 ms
b) u
5 ns 100 s
Fig. 26 : allure des salves (a) et des transitoires rapides qui les composent (b).
Niveaux de svrit selon la norme 1 2 3 4 x
Tension d'essai applique ( 10 %) en kV sans altration du fonctionnement (sortie en circuit ouvert) Sur le circuit d'alimentation Sur les lignes d'entre et de sortie (de signal, donnes, et commande) 0,5 0,25 1 0,5 2 1 4 2 spcial spcial
Le niveau x est un niveau dfini contractuellement entre un fabricant et son client.
Fig. 27 : tableau des niveaux de svrit dfinis par la CEI 61000-4-4.
Fig. 28 : mesure de l'immunit aux transitoires rapides d'une centrale Isis (test 61000-4-4) dans une cage de Faraday. Sur cette photo sont visibles : le gnrateur de perturbation manipul par l'oprateur, la valise en bois contenant la pince de couplage et la centrale Isis ( gauche) raccorde au rseau Batibus.
des alimentations, soit laide dune pince de couplage, deux plaques mtalliques enserrant les cbles secondaires (cf. fig. 28 ). Lappareil test ne doit pas prsenter de dysfonctionnement pendant une dure dtermine (1 mn). Cet essai est le plus significatif de limmunit dun quipement car les transitoires rapides sont les plus frquents. c Le deuxime essai ralis est caractristique des effets secondaires de la foudre. Il est reprsentatif des perturbations conduites circulant sur le rseau BT aprs un coup de foudre sur une ligne (norme CEI 61000-4-5). Ces perturbations sont caractrises par une nergie, aussi se traduisent-elles par : v des ondes de tension 1,2 s - 50 s si limpdance prsente par lappareil test est leve, lamplitude pouvant atteindre plusieurs kV, voir figure 29 pour les tensions dessai prconises par la norme. v des ondes de courant 8 s - 20 s si cette mme impdance est faible, lamplitude atteignant alors plusieurs kA. Le front de monte de ces perturbations est mille fois plus long, de lordre de la microseconde, que celui des transitoires rapides en salves (cf. fig. 26). Le couplage dessai est ralis capacitivement, en mode commun et en mode diffrentiel avec des niveaux appropris. Sa procdure est semblable celle de lessai aux transitoires rapides : lappareil ne doit pas prsenter de dysfonctionnement.
Niveaux de svrit selon la norme 1 2 3 4 x
Tension d'essai de sortie en circuit ouvert (kV) 0,5 1 2 4 spcial
x est un niveau dfini contractuellement entre un fabriquant et son client.
Fig. 29 : niveaux en fonction des svrits dfinies par la norme CEI 61000-4-5 (impdance du gnrateur = 2 ).
c Le troisime essai ralis selon la norme CEI 61000-4-6, se rapporte aux prescriptions relatives l'immunit des matriels aux perturbations HF sur les cbles, dans la plage de 150 kHz 80 MHz (voire 230 MHz). Les sources de perturbations sont des champs lectromagntiques qui peuvent affecter la longueur totale des cbles raccords ces matriels et y induire des tensions et courants. Au cours de l'essai, les perturbations sont couples aux cbles par l'intermdiaire de Rseaux de Couplage-Dcouplage (RCD) dont l'impdance en mode commun, gale 150 reprsente l'impdance caractristique de la majorit des cbles. Toutefois, il faut noter qu'au cours de l'essai, les perturbations ne sont
appliques qu' un cble la fois, alors qu'en ralit le champ lectromagntique illumine tous les cbles connects. Cela constitue une diffrence notable laquelle on ne peut pas chapper. En effet, cela rendrait l'essai trs complexe et excessivement onreux que de coupler des signaux HF sur tous les cbles simultanment. Lorsque les RCD ne sont pas adapts, par exemple quand l'intensit du courant est trop leve, on utilise des pinces de couplage. Les perturbations HF, prconises par la norme CEI 61000-4-6 ont des niveaux de 1, 3 ou 10 volts. Elles sont modules en amplitude 80 % par une onde sinusodale 1 kHz. Avant l'essai, le signal injecter pour obtenir le bon niveau de perturbation est calibr et mmoris, puis appliqu sur les cbles normalement connects au matriel en essais. c Le quatrime essai consiste effectuer des interruptions brves et/ou des creux de tension sur les cbles dalimentation des quipements en essais. La norme CEI 61000-4-11 est la publication fondamentale de rfrence. Ces perturbations sont provoques par des dfauts du rseau dalimentation, de linstallation ou par des changements brusques et importants de la charge. Ces phnomnes, de nature alatoires, sont caractriss en terme de dviation partir de la tension assigne et en terme de dure. Les niveaux des creux sont gaux 30, 60 ou 100 % (coupure) de la tension assigne. Leurs dures peuvent tre comprises entre 0,5 et 50 priodes. c Le cinquime essai est ralis en conformit avec la norme CEI 61000-4-12 qui dfinit deux types dondes : v les ondes sinusodales amorties (connues galement sous le nom de ring waves ) qui apparaissent de manire isole sur les cbles basse tension des rseaux publics ou privs suite des manuvres, v les ondes oscillatoires amorties qui se prsentent sous la forme de salves. Ces dernires se manifestent gnralement dans des postes, des centrales, ou encore de grandes installations industrielles, notamment suite des manuvres de sectionneurs accompagnes de ramorages darc. Les tensions et courants transitoires rsultant de ces manuvres se caractrisent par une frquence doscillation qui dpend des temps de propagation et de la longueur des jeux de barres sur lesquels apparaissent ces ondes. Cette frquence varie entre 100 kHz et quelques MHz pour des postes haute tension ouverts, et peut
atteindre la dizaine de MHz, voire davantage, pour des postes haute tension blinds. Au cours des essais, les ondes sont couples aux cbles par lintermdiaire de rseaux de couplage-dcouplage. Selon le mode dinjection, lamplitude des perturbations peut varier entre 0,25 et 4 kV. Les matriels dits de table sont disposs sur un support isolant, alors que les matriels de sol ou en armoires sont isols du plan de masse dune distance de 0,1 m. Immunit rayonne Les essais d'immunit rayonne permettent de garantir le bon fonctionnement des appareils lorsquils sont soumis des champs lectromagntiques. Ces essais tant particulirement sensibles lenvironnement, les moyens et les comptences mettre en uvre pour raliser des mesures fiables et reproductibles d'immunit rayonne sont importants. Le milieu ambiant doit tre suffisamment propre pour ne pas tre gn par les ondes de toutes faons existantes, car (comme voqu au chapitre La source ) des champs lectromagntiques entretenus de plusieurs V/m sont frquents, tels ceux gnrs par des talkies-walkies, et des champs impulsionnels damplitude plus leve encore existent en milieu industriel. Ces essais sont donc raliss dans des cages de Faraday dont les parois sont recouvertes dabsorbants hyperfrquence. Ces cages sont qualifies danchoques lorsque toutes les parois y compris le plancher sont recouvertes, et de semi-anchoques lorsque le plancher ne lest pas. Dans ces cages, les champs sont gnrs par diffrentes antennes suivant les types de champ, les gammes de frquence et les polarisations (cf. fig. 30 ci-contre). Ces antennes sont alimentes partir dun gnrateur vobul dont le signal passe par un amplificateur de puissance large bande. Les champs gnrs sont calibrs laide de capteurs isotropiques large bande : le schma de la figure 31 ci-contre prsente une disposition typique de test. Des normes prcisent les limites de perturbations acceptables, ainsi la norme CEI 61000-4-3 prconise des essais sur la bande de frquences 80 MHz 2000 MHz avec trois niveaux de svrit (1, 3, 10 V/m), et sur les bandes 800 MHz 960 MHz et 1,4 GHz 2 GHz avec quatre niveaux de svrit 1, 3, 10 et 30 V/m. Des essais dimmunit au champ magntique la frquence du rseau sont galement effectus conformment la norme CEI 61000-4-8. Ce champ magntique est engendr par le courant
circulant dans les cbles, ou plus rarement par dautres appareils situs proximit, tel le flux de fuites de transformateurs. Les niveaux dessais de champ permanent ont des intensits comprises entre 1 et 100 A/m, alors que ceux de champ de courte dure de 1 3 s ont des intensits de 300 ou 1000 A/m. Le champ magntique est obtenu par la circulation dun courant dans une bobine dinduction. Il est appliqu au matriel en essai selon la mthode par immersion, cest dire quil
est plac au centre de la bobine. Cet essai ne doit tre effectu que pour des matriels qui contiennent des dispositifs sensibles au champ magntique (crans cathodiques, capteurs effet Hall, ). En ce qui concerne l'immunit en champ lectrique impulsionnel, tel que celui qui est observ proximit des ouvrages HT, il nexiste pas de mesures normalises. Dans ce domaine, les matriels Schneider sont donc tests suivant des procdures internes.
Fig. 30 : la cage de Faraday semi-anchoque et quelques antennes d'un laboratoire CEM de Schneider Electric.
Cage de Faraday semi-anchoque
Rseau Antenne Equipement sous test (victime) 1 kW Amplificateur large bande
Filtre
10 kHz 2 GHz
Gnrateur RF
Fig. 31 : disposition typique de test dans une cage de Faraday. Les mesures se font en deux tapes : 1 - calibrage du champ pour une gamme de frquences donne, en l'absence d'quipement, 2 - vrification de l'immunit de l'quipement.
Emission conduite Les mesures dmission conduite quantifient le niveau des perturbations rinjectes par lappareil test sur tous les cbles qui lui sont relis. Le niveau de ces perturbations dpend troitement de la charge haute frquence qui est connecte aux cbles, lappareil en essai tant alors considr comme le gnrateur (cf fig. 32 ). Pour effectuer des mesures reproductibles et en particulier viter les problmes lis limpdance
caractristique du rseau, les mesures dmission conduite sont ralises laide dun Rseau Stabilisateur dImpdance de Ligne (RSIL). Un appareil de mesure, en fait un rcepteur Haute Frquence, est connect ce RSIL, il permet de quantifier le niveau pour chaque frquence. Le niveau de perturbations rinjectes ne doit pas excder les limites fixes par les normes, limites qui dpendent du type de cbles et de lenvironnement. Le relev suivant (cf. fig. 33 ) prsente un rsultat obtenu sur un
Cage de Faraday semi-anchoque Rseau stabilisateur d'impdance de ligne Equipement sous test (source) Rseau Filtre Appareil de mesure
Fig. 32 : configuration de mesure d'mission conduite. L'EST - Equipement Sous Test - est considr comme un gnrateur, le RSIL comme une charge.
Tension mesur e (dB V)
100
80
X : NFEN55022 A QC
Capteur : RSIL Pas de pr ampli R cepteur : ESH3 D tecteur : cr te Bande passante : 10 kHz Pas lin aire : .0050 MHz Temps de mesure : .1000 s. Limiteur dimpulsion
Y : NFEN55022 A AV 60
40
20
0,34 0,73 Laboratoire CEM Schneider
1,1 1,5
5,4
9,2
13 30 Fr quence (MHz)
Fig. 33 : mesures des missions radiolectriques d'une centrale de traitement de l'information d'un Tableau Gnral Basse Tension - TGBT -.
TGBT (Tableau Gnral Basse Tension) et sa comparaison la norme EN 55 022. Emission rayonne Les mesures dmission rayonne quantifient le niveau des perturbations mises par un appareil sous forme dondes lectromagntiques. Tout comme pour les essais d'immunit rayonne, les mesures dmission rayonne ne doivent pas tre altres par les ondes dj existantes, CB, radio, etc. De mme, ces mesures ne doivent pas tre modifies par les rflexions des ondes sur des obstacles environnants. Ces deux contraintes sont antinomiques et de ce fait coexistent deux mthodes de mesure. La premire mthode consiste se placer en champ libre, plus prcisment sans aucun obstacle dans un primtre donn : le milieu ambiant est alors ce quil est. La deuxime mthode consiste se placer dans une cage de Faraday ; les rflexions sur les parois de la cage sont volontairement diminues par la prsence dabsorbants hyperfrquence (cf. fig. 30) : le milieu est alors parfaitement matris. Les laboratoires Schneider exploitent la deuxime mthode. Elle a comme important avantage de permettre lautomatisation de la mesure, et de limiter le nombre de dplacements dun appareil, car les mesures dmission et d'immunit peuvent tre ralises sur le mme site moyennant quelques amnagements. Tout
comme pour lmission conduite, les niveaux dmission rayonne doivent tre infrieurs des limites fixes par un cahier des charges ou une norme. Mesure de champ impulsionnel Les essais normatifs permettent de mesurer lmis-sion et de tester l'immunit des appareils ou systmes aux principales perturbations lectroma-gntiques rencontres dans les milieux industriels. Cependant, lenvironnement des matriels dvelopps par le Groupe Schneider prsente quelques caractristiques encore mal prises en compte par les textes normatifs. Il nexiste pas encore, par exemple, de procdures de test CEM spcifiques aux matriels placs dans les postes moyenne tension. Cest pourquoi Schneider a men des campagnes de mesure pour mieux connatre les perturbations typiques dans lenvironnement de ses matriels, principalement la proximit dappareillage basse tension, moyenne tension et trs haute tension. Dans une deuxime phase, des essais internes, avec des moyens dessais spcifiques, ont t mis au point. Ils permettent de tester la compatibilit lectromagntique des matriels sans avoir procder des essais en vrai grandeur. Les essais sont ainsi mieux reproductibles et moins coteux. Ils sont alors raliss au plus tt dans la conception, ce qui permet doptimiser les protections CEM au moindre cot.
7 Conclusion
Lintroduction de llectronique dans un grand nombre dapplications, et notamment dans les appareillages lectrotechniques, oblige prendre en compte une contrainte nouvelle : la compatibilit lectromagntique -CEM- . Assurer un bon fonctionnement en milieu perturb et ne pas tre euxmmes des perturbateurs sont des impratifs de qualit de ces produits. Ces deux impratifs ncessitent une comprhension de phnomnes complexes, au niveau de la source, des couplages, et au niveau de la victime. Ils obligent respecter un certain nombre de rgles dans la conception, lindustrialisation et la ralisation des produits.
Le site et linstallation jouent galement un grand rle dans la CEM. Do la ncessit de penser ds les premires tudes la disposition architecturale des lments de puissance, aux passages de cbles, aux blindages Et, avec des matriels ayant une bonne CEM, une installation bien ralise apporte des marges importantes de compatibilit. Seules des mesures ncessitant des comptences et des matriels sophistiqus permettent de quantifier la CEM de diffrents matriels. Le respect des normes permet ainsi lassurance du bon fonctionnement dun appareil dans son environnement lectromagntique.
Annexe 1 : impdance dun conducteur en haute frquence
Le niveau de CEM dans un quipement est fonction des couplages entre les circuits, ces couplages tant eux-mmes directement fonction des impdances entre ces circuits, particulirement en hautes frquences. Pour amliorer la CEM, il convient donc de connatre puis rduire ces impdances. Il existe un certain nombre de formules approches permettant de dterminer limpdance en haute frquence des principaux conducteurs utiliss. Ces formules sont lourdes et leur prcision nest quillusoire si la position prcise de chaque lment nest pas parfaitement dfinie. Or qui connait la position exacte dun fil par rapport un autre dans un chemin de cbles ? En fait la rponse est donne par lexprience de ces phnomnes jointe la connaissances des rgles thoriques lmentaires de llectricit. Tout dabord il est important davoir lesprit que limpdance dun conducteur est principalement fonction de sa partie selfique, prpondrante partir du kHz pour un cble standard. Ainsi, pour un cble fictif infini dans lair, sa valeur de self inductance linique varie de manire logarithmique avec le diamtre, donc trs faiblement : pour des cbles dont la longueur nexcde pas le quart de la longueur donde de
la perturbation prise en compte, une valeur de lordre du H par mtre quel que soit le diamtre peut tre retenue (cf. fig. 34 ). Si le cble est correctement plaqu sur un plan conducteur, cette valeur est fortement diminue. Elle dpend alors de la distance entre le cble et le plan. Des gains de 10 dB sur la valeur de la self inductance sont ainsi facilement obtenus. Aux plus hautes frquences, ce cble doit tre considr comme une ligne de transmission, et la grandeur importante est alors son impdance caractristique (de lordre de la centaine dohms). Avec ces considrations, une self inductance commune de plusieurs H est facilement atteinte, avec quelques mtres de fil vert-jaune par exemple. Ceci reprsente donc plusieurs ohms 1 MHz, et plusieurs centaines dohms 100 MHz. En conclusion, le plan mtallique conducteur est le moyen de relier lectriquement deux points avec limpdance la plus faible. Et ce, quelle que soit son paisseur ds lors quelle est suprieure lpaisseur de peau (415 m pour le cuivre 10 kHz). Ainsi, une plaque de cuivre prsente une self de 0,6 nH 10 kHz, soit une impdance par carr de 37 , (l'impdance reste la mme quelle que soit la surface du carr considr).
a)
b)
Z2
Z1
c)
d)
Z3
Z4
Fig. 34 : suivant les diffrents cas : a : cble dans l'air (L 1 H/m), b : cble plaqu sur une surface mtallique, c : treillis mtallique avec contact chaque croisement (par exemple fer bton soud), d : plan mtallique, et pour une mme longueur, les impdances liniques sont dans l'ordre Z1 > Z2 > Z3 > Z4.
Annexe 2 : les diffrentes parties dun cble
Les termes employs pour distinguer les diffrentes parties dun cble changent quelque peu de signification selon la destination du cble (cble de transport dnergie, cble de transport dinformations tlphoniques ou de contrle-commande), (cf fig. 35 ). Les dfinitions notes en italique sont celles de la CEI. Armure : protection mcanique du cble, gnralement constitue de deux feuillards en acier doux enrouls en hlice. Pour les cbles destins au transport dinformations, elle peut galement avoir un rle lectrique, tenir lieu de blindage lectrostatique et plus souvent de blindage lectromagntique. Blindage : synonyme dcran, matriau labor et destin rduire lintensit de rayonnement pntrant dans une rgion. Larmure ou lcran dun cble, quil soit destin au transport dnergie ou dinformations, peuvent constituer des blindages. Ecran : dispositif utilis pour rduire la pntration dun champ dans une rgion dtermine. Plusieurs fonctions sont remplies par cet lment : c crer une surface quipotentielle autour de lisolant,
c prvenir les effets des champs lectriques externes et internes, c assurer lcoulement du courant capacitif ainsi que du courant de dfaut terre (court-circuit homopolaire), c assurer la protection des personnes et du matriel en cas de perforation. Pour cela il est gnralement mtallique et continu (tube de plomb, nappe ou tresse de fils, ou rubans poss en hlice). Pour les cbles vhicules dinformations, lcran, plus souvent appel blindage, est constitu de rubans ou nappes de fils, en cuivre ou en aluminium, enrouls pour raliser un blindage contre les influences lectriques et magntiques. Il peut tre collectif, pour lensemble des conducteurs composant le cble, lorsque les influences perturbatrices sont extrieures. Il peut tre individuel, pour un certain nombre de conducteurs du cble, afin de les protger des influences des autres conducteurs de ce mme cble. Gaine : enveloppe ayant pour rle dassurer ltanchit du cble.
Exemple dun cble tlphonique
Gaine (PVC) Armure (2 feuillards acier) Gaine intrieure (PVC) Ecran mtallis (aluminium) Isolation (PVC) Ame (fil de cuivre)
Exemple dun cble de transport dnergie moyenne tension Gaine (PVC)
Armure (2 feuillards acier) Matelas (papier) Ecran mtallis (cuivre) Ruban conducteur Ame (fil de cuivre) Gaine de bourrage Isolation (PVC)
Fig. 35
Annexe 3 : essais raliss par les laboratoires CEM de Schneider Electric
Les laboratoires CEM de Schneider Electric ont les comptences et le matriel ncessaires pour raliser des essais conformment de nombreuses normes ou des spcifications particulires. Le client, interne ou externe l'entreprise, est assist s'il le souhaite par les spcialistes des laboratoires dans la recherche des normes et
svrits applicables son matriel. Il lui incombe aussi de dfinir quels sont les critres fonctionnels d'acceptabilit, soit en rfrence aux normes rgissant son produit, soit dfaut de normes selon les impratifs d'utilisation du produit (scurit, continuit de service, confort ).
Essais normatifs
Il serait fastidieux de tous les citer, d'autant plus que lvolution du paysage normatif est trs rapide notamment concernant les normes de produits. Nous indiquons ci-aprs les principaux textes de rfrence pour la conduite des essais. Immunit c CEI 61000-4-2 [= EN 61000-4-2 = NF EN 61000-4-2 (NF C 91-004-2)] Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-2 : techniques dessai et de mesure essai dimmunit aux dcharges lectrostatiques c CEI 61000-4-3 [= EN 61000-4-3 = NF EN 61000-4-3 (NF C 91-004-3)] Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-3 : Techniques dessai et de mesure essai dimmunit aux champs lectromagntiques rayonns aux frquences radiolectriques c CEI 61000-4-4 [= EN 61000-4-4 = NF EN 61000-4-4 (NF C 91-004-4)] Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-4 : techniques dessai et de mesure essais dimmunit aux transitoires lectriques rapides en salves c CEI 61000-4-5 [= EN 61000-4-5 = NF EN 61000-4-5 (NF C 91-004-5)] Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-5 : techniques dessai et de mesure essai dimmunit aux ondes de choc c CEI 61000-4-6 [= EN 61000-4-6 = NF EN 61000-4-6 (NF C 91-004-6)] Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-6 : techniques dessai et de mesure immunit aux perturbations condui-tes, induites par les champs radiolectriques c CEI 61000-4-8 [= EN 61000-4-8 = NF EN 61000-4-8 (NF C 91-004-8)] Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-8 : techniques dessai et de mesure essai dimmunit au champ magntique la frquence du rseau c CEI 61000-4-11 [= EN 61000-4-11 = NF EN 61000-4-11 (NF C 91-004-11)] Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-11 : techniques dessai et de mesure essais dimmunit aux creux de tension, coupures brves et variations de tension c CEI 61000-4-12 [=EN 61000-4-12 = NF EN 61000-4-12 (NF C 91-004-12)] Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 4-12 : Techniques dessai et de mesure Essai dimmunit aux ondes oscillatoires c CEI 61000-6-1 [=EN 61000-6-1 = NF EN 61000-6-1 (NF C 91-006-1)] Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 6-1 : Normes gnriques Immunit pour les environnements rsidentiels, commerciaux et de lindustrie lgre c CEI 61000-6-2 [=EN 61000-6-2 = NF EN 61000-6-2 (NF C 91-006-2)] Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 6-2 : Normes gnriques Immunit pour les environnements industriels Emission c CISPR 11 [= EN 55011 = NF EN 55011 (NF C 91-011)] Limites et mthodes de mesure des caractristiques de perturbations radiolectriques des appareils industriels, scientifiques et mdicaux (ISM) frquence radiolectrique c CISPR 14 [= EN 55014 = NF EN 55014 (NF C 91-014)] Limites et mthodes de mesure des perturbations radiolectriques produites par les appareils lectrodomestiques ou analogues comportant des moteurs ou des dispositifs thermiques, par les outils lectriques et par les appareils lectriques analogues (partie mission conduite) c CISPR 22 [= EN 55022 = NF EN 55022 (NF C 91-022)]
Limites et mthodes de mesure des caractristiques de perturbations radiolectriques produites par les appareils de traitement de linformation c CEI 61000-6-3 Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 6 : Normes gnriques Section 3 : sur l'mission pour les environnements rsidentiels, commerciaux et de l'industrie lgre c CEI 61000-6-4 Compatibilit lectromagntique (CEM) Partie 6 : Normes gnriques Section 4 : sur l'mission pour les environnements industriels c EN 50081-1 [= NF EN 50081-1 (NF C 91-081-1)] Compatibilit lectromagntique (CEM) Norme gnrique mission Partie 1 : rsidentiel, commercial et industrie lgre c EN 50081-2 [= NF EN 50081-2 (NF C 91-081-2)] Compatibilit lectromagntique (CEM) Norme gnrique mission Partie 2 : environnement industriel
Normes spcifiques c Centres de tlcommunications I 12-10, 1993 dite par le Comit des Spcifications des Equipements (CSE) France Tlcom. Environnement lectromagntique des quipements des centres. (partie immunit aux perturbations rayonnes et partie perturbations rayonnes et conduites) c Militaires GAM - EG -13 essais gnraux en environnement des matriels fascicules 62 et 63 c MIL STD 461/462 Electromagnetic emission and susceptibility requirements for the control of electromagnetic interference
Essais hors normes

Dans le cadre de leurs possibilits et de leurs comptences, les laboratoires peuvent effectuer des essais conformment dautres textes.
Annexe 4 : bibliographie
Normes c CEI 60364, NF C 15-100 : Installations lectriques basse tension. c CEI 61000-2 : Compatibilit lectromagntique (CEM). Partie 2 : Environnement. Section 1 : Description de lenvironnement Environnement lectromagntique pour les perturbations conduites Section 2 : niveaux de compatibilit pour les perturbations conduites basse frquence et la transmission de signaux sur les rseaux publics dalimentation a basse tension Partie 4 : Techniques dessai et de mesure. Partie 6 : Normes gnriques. c NF EN 55011, CISPR 11 (Comit International Spcial des Perturbations Radiolectriques) : Appareils industriels, scientifiques et mdicaux (ISM) frquence radiolectrique. Caractristiques de perturbations radiolectriques. Limites et mthodes de mesure. c NF EN 55022, CISPR 22 Limites et mthodes de mesure des caractristiques de perturbations radiolectriques produites par les appareils de traitement de linformation. Cahiers Techniques Schneider Electric c Les perturbations lectriques en BT Cahier Technique n 141 R. CALVAS c Disjoncteurs au SF6 Fluarc et protection des moteurs MT Cahier Technique n 143 J. HENNEBERT et D. GIBBS c Coexistence courants forts - courants faibles Cahier Technique n 187 R. CALVAS et J. DELABALLE
Publications diverses c Compatibilit lectromagntique - bruits et perturbations radiolectriques P. DEGAUQUE et J. HAMELIN Dunod diteur c Compatibilit lectromagntique M. IANOVICI et J.-J. MORF Presses Polytechniques Romandes c La compatibilit lectromagntique A. KOUYOUMDJIAN, avec R. CALVAS et J. DELABALLE Institut Schneider Formation Fvrier 1996, rf. MD1CEM1F c Les harmoniques et les installations lectriques A. KOUYOUMDJIAN Institut Schneider Formation Avril 1998, rf. MD1HRM1F c RGE n 10 consacr la compatibilit lectromagntique Novembre 1986.
Schneider Electric
Direction Scientifique et Technique, Service Communication Technique F-38050 Grenoble cedex 9 Tlcopie : 33 (0)4 76 57 98 60 E-mail : fr-tech-com@mail.schneider.fr
Ralisation : AXESS - Valence (26). Edition : Schneider Electric
- 20 12-01
XXXXX
2001 Schneider Electric

Cahier Technique No. 149 - EMC - FR

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Collection Technique ..........................................................................

Cahier technique n 149 La CEM : la compatibilit lectromagntique

CT 149(e) dition dcembre 2001

fig. 1 : positionnement des niveaux en Compatibilit lectromagntique.

fig. 2 : rapports d'amplitude exprims en dB.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.2

La CEM : la compatibilit lectromagntique

6 Normes, moyens d'essais et essais

Cahier Technique Schneider n 149 / p.3

1.2 Aujourdhui la CEM est indispensable

Types Creux de tension

Frquences moyennes Hautes frquences

Fig. 3 : les perturbations lectriques les plus courantes.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.4

1.3 Sa thorie est complexe

Cahier Technique Schneider n 149 / p.5

2.1 Il est important de bien la connatre

Cahier Technique Schneider n 149 / p.6

Cas dun signal radio

Amplitude de la perturbation 0 Temps T

Densit spectrale Bande large

Fig. 5 : exemple de catactristiques spectrales de perturbations.

2.2 Un exemple de sources permanentes de perturbations conduites en lectronique de puissance

Cahier Technique Schneider n 149 / p.7

Rondelle isolante pour botier TO3 Mica Plastique Alumine

Epaisseur (mm) 0,1 0,2 2

Capacit parasite (pF) 160 95 22

Cahier Technique Schneider n 149 / p.8

Cahier Technique Schneider n 149 / p.9

3.1 Diffrents modes de couplage existent

3.2 Le couplage champ cble, en mode commun ou diffrentiel

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Cahier Technique Schneider n 149 / p.10

Surface soumise au champ lectromagntique

e e = tension induite par le champ lectromagntique

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Fig. 11 : un exemple de couplage champ cble de mode diffrentiel.

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3.3 Le couplage par impdance commune

Z commune 0 volt entre M

Fig. 14 : schma d'impdance commune.

3.4 Le couplage cble cble en mode diffrentiel ou diaphonie

Cahier Technique Schneider n 149 / p.12

Paire de fils (bas niveau)

Cahier Technique Schneider n 149 / p.13

prsente un dysfonctionnement d la prsence de perturbations lectromagntiques gnralement d'origine extrieure l'quipement.

4.1 Les dfauts de fonctionnement

4.2 Des solutions

Cahier Technique Schneider n 149 / p.14

Trac circuits fins

Trac avec plan de masse

Types Parasurtenseur Composants pour filtrage Composants pour blindage

Fig. 18 : liste de composants de protection.

Onde incidente Absorption

Fig. 19 : phnomne cran d'une enveloppe mtallique.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.15

Cahier Technique Schneider n 149 / p.16

Basse tension ateliers tableau de distribution

Fig. 20 : exemple d'une implantation d'quipements lectriques tenant compte de la CEM.

Cahier Technique Schneider n 149 / p.17

5.4 Des exemples pratiques

Cahier Technique Schneider n 149 / p.18