Universidade de Aveiro 2008

Departamento de Electrnica, Telecomunicaes e Informtica

Ivo Manuel Lopes Seabra Loureno

Metodologia Analtica para Medir e Especiar o Carbono: Controlo de Temperatura

Universidade de Aveiro 2008

Departamento de Electrnica, Telecomunicaes e Informtica

Ivo Manuel Lopes Seabra Loureno

Metodologia Analtica para Medir e Especiar o Carbono: Controlo de Temperatura

Dissertao apresentada Universidade de Aveiro para cumprimento dos requisitos necessrios obteno do grau de Mestre em Engenharia Electrnica e de Telecomunicaes (Mestrado Integrado), realizada sob a orientao cientfica do Dr Antnio Ferreira Pereira de Melo, Professor catedrtico do Departamento de Electrnica, Telecomunicaes e Informtica da Universidade de Aveiro.

o jri
Presidente Doutor Alexandre Manuel Moutela Nunes da Mota
Professor associado da Universidade de Aveiro

Vogais

Doutor Antnio Ferreira Pereira de Melo (Orientador)

Professor Catedrtico da Universidade de Aveiro

Doutor Alberto Caridade Monteiro Couto

Professor Catedrtico do Departamento de Engenharia Industrial da Universidade do Minho

Doutora Petia Georgevia Georgevia (Co-orientador)

Professora Auxiliar Convidada da Universidade de Aveiro

agradecimentos

Este trabalho assinala assim o final de mais uma etapa da minha vida, mas isto no fruto de uma pessoa isolada do resto . Existem (e sempre existiro) pessoas que sem a sua ajuda, contribuio e dedicao nada disto seria possvel. Cabe-me assim aqui expressar a minha profunda e sria gratido a todos que, de algum modo, contriburam para a realizao deste trabalho. Em primeiro lugar, como no podia deixar de ser, aos meus Pais por todo o apoio e sacrifcio prestado ao longo destes anos e claro sem esquecer toda a restante famlia, a todos o meu obrigado. Queria agradecer tambm ao meu orientador Professor Doutor Antnio Ferreira de Melo pelo a sua ajuda e dedicao e pelo seu voto de confiana no meu trabalho, queria deixar aqui tambm aqui uma palavra de agradecimento ao Professor Doutor Casemiro Adrio Pio e ao meu colega de trabalho Mauro Fernando Pereira Almeida pelo seu apoio bastante importante para a realizao deste trabalho. Grato ao Departamento de Engenharia electrnica e Telecomunicaes da Universidade de Aveiro pelas condies que dispus para a realizao deste trabalho com uma palavra de agradecimento ao Professor Doutor Dinis Gomes de Magalhes dos Santos por me ter facultado o seu laboratrio de trabalho . Por ultimo, mas no menos importante, aos amigos que fiz ao longo destes anos pelo apoio e companheirismo prestado e continue assim por muitos anos pois sem vocs isto no seria possvel. A todos o meu sincero obrigado....

palavras-chave

Sistemas de controlo, Labview, PID, temperatura, controlo de processo, aquisio de dados, especiao de carbono.

resumo

A presente dissertao pretende expor o desenvolvimento de um algoritmo de controlo de temperatura implementado em ambiente de software Labview para um forno elctrico de um equipamento de especiao de carbono, bem como alteraes efectuadas neste equipamento, existente no departamento de Ambiente e Ordenamento(DAO) da Universidade de Aveiro, afim de criar uma nica plataforma de controlo e monitorizao de todo o processo, plataforma de gesto desenvolvida em ambiente de programao Labview.

keywords

Control systems, labview, PID, temperature, control process,data acquisition, carbon speciation.

abstract

This dissertation aims to explain the development of a temperature control algorithm implemented in Labview software program for an electric oven of a carbon speciation equipment, as well as changes in this equipment, existing at the Department of Environment (DAO) of University of Aveiro, in order to create a single platform to control and monitor the whole process,this management platform is developed in the programming environment Labview.

ndice
ndice de Figuras.................................................................................................................iii ndice de tabelas..................................................................................................................iv Acrnimos.............................................................................................................................v 1. Introduo..........................................................................................................................1 1.1. Objectivos e motivao..............................................................................................2 2. Noes bsicas de teoria de sistemas de controlo [11].....................................................3 2.1. Introduo ..................................................................................................................3 2.2. Controlo em malha aberta ........................................................................................3 2.3. Controlo em malha fechada ......................................................................................4 2.4. Compensao de sistemas de controlo .....................................................................6 2.4.1. Introduo ...........................................................................................................6 2.4.2. Tipos de controladores [14] ..............................................................................6 2.4.2.1. Controlador ON-OFF................................................................................6 2.4.2.2. Controlador Proporcional com saturao ...............................................8 2.4.2.3. Controladores PI........................................................................................9 2.4.2.4. Controlador PID ......................................................................................10 2.4.2.5. Sintonia de controladores PID ................................................................11 2.4.2.5.1. 1Mtodo de Ziegler Nichols ..........................................................11 2.4.2.5.2. 2 Mtodo de Ziegler Nichols .........................................................12 2.4.3. Critrios de desempenho de um sistema de controlo [12]..............................13 2.4.4. Sistemas em malha aberta de 1ordem [15]......................................................14 2.4.5. Erro em regime estacionrio de sistemas com realimentao unitria [12]...15 2.5. Medio de temperaturas [13].................................................................................17 2.5.1. Termopares .......................................................................................................17 2.5.2. Compensao da juno fria.............................................................................17 2.5.2.1. Compensao da juno via hardware ..................................................18 2.5.2.2. Compensao da juno via software......................................................19 2.5.3. Linearizao dos dados......................................................................................20 3. Descrio do equipamento existente .............................................................................21 3.1. Introduo.................................................................................................................21 3.1.1. Mdulo de controlo de temperatura ...............................................................24 3.1.2. Mdulo de medio da transmitncia do filtro................................................24 3.1.3. Mdulo de medio do carbono particulado ..................................................25 3.1.4. Mdulo de controlo da electrovlvula.............................................................25 3.2. Instrumentao usando labview .............................................................................25 3.2.1. Software Labview..............................................................................................25 3.2.2. Aquisio de dados ...........................................................................................27 3.2.2.1. Placa de aquisio ....................................................................................28 3.3. Software ...................................................................................................................29

3.3.1. Descrio do VI do sistema ..............................................................................29 4. Alteraes no equipamento actual em uso ....................................................................31 4.1. Introduo.................................................................................................................31 4.2. Laser-chopper-detector-Amplificador Lockin........................................................32 4.2.1. Laser-chopper....................................................................................................32 4.2.2. Detector ............................................................................................................33 4.2.3. Amplificador Lockin ........................................................................................34 4.3. Controlador de temperatura....................................................................................35 4.3.1. Forno 1...............................................................................................................35 4.3.1.1. Determinao das constantes do PID do forno 1...................................37 4.3.2. Forno 2 ..............................................................................................................38 4.3.2.1. Determinao das constantes do PID do forno 2...................................38 4.3.3. Esquemas e hardware .......................................................................................38 4.4. Painel frontal ........................................................................................................40 5. Anlise e apresentao de resultados .............................................................................41 5.1. Aquisio e filtragem ...............................................................................................41 5.2. Curvas de temperatura ............................................................................................43 5.2.1. Forno 1...............................................................................................................43 5.2.2. Forno 2 ..............................................................................................................44 5.2.3. Programas de temperaturas...............................................................................45 5.2.3.1. Programa amostra ...................................................................................45 5.2.3.2. Programa padro .....................................................................................46 5.3. Analise de vrias amostras.......................................................................................46 5.3.1. Filtro branco......................................................................................................46 5.3.2. Filtro sujo...........................................................................................................47 6. Concluses ......................................................................................................................49 7. Trabalhos futuros.............................................................................................................51 Referncias..........................................................................................................................53 Anexos.................................................................................................................................55 Anexo A Esquemas elctricos e aparelhagem elctrica.............................................55 Anexo B Curvas S ......................................................................................................57 Anexo C cd com cdigo em Labview ............................................................................58

ndice de Figuras
Figura 2.2.1: Sistema de um controlo em malha aberta......................................................3 Figura 2.3.1: Sistema de controlo em malha fechada .........................................................4 Figura 2.4.1: Algoritmo ON-OFF -sinal de controlo...........................................................7 Figura 2.4.2: Controlo ON_OFF com histerese...................................................................7 Figura 2.4.3: Diagrama de blocos de um sistema de controlo utilizando um controlador ON-OFF.................................................................................................................................8 Figura 2.4.4: Controlador Proporcional -sinal de controlo.................................................8 Figura 2.4.5: Diagrama de blocos de um sistema de controlo utilizando controlador Proporcional ........................................................................................................................9 Figura 2.4.6: : Diagrama de blocos de um sistema de controlo utilizando controlador PI ................................................................................................................................................9 Figura 2.4.7: Diagrama de blocos de um sistema de controlo utilizando controlador PID ..............................................................................................................................................10 Figura 2.4.8: curva em S......................................................................................................11 Figura 2.4.9: resposta de um sistema a um degrau unitrio..............................................14 Figura 2.4.10: sistema com realimentao unitria...........................................................15 Figura 2.5.1: leitura de um termopar tipo j .......................................................................18 Figura 2.5.2: modelo simplificado de leitura de um termopar..........................................18 Figura 2.5.3: compensao da juno fria via hardware....................................................19 Figura 2.5.4: compensao da juno fria via software.....................................................19 Figura 3.1.1: estrutura do forno..........................................................................................22 Figura 3.1.2: Esquema geral do sistema .............................................................................23 Figura 3.2.1: Exemplo de um painel frontal.......................................................................26 Figura 3.2.2: Exemplo de um diagrama de fluxo de sinal..................................................27 Figura 3.2.3: Exemplo de criao de um canal de leitura de tenso.................................28 Figura 3.3.1: Painel frontal do sistema...............................................................................29 Figura 4.2.1: Curva de operao do laser ...........................................................................32 Figura 4.2.2: SubVI laser_pulse..........................................................................................33 Figura 4.2.3: Resposta espectral..........................................................................................33 Figura 4.2.4: circuito de leitura do foto detector...............................................................34 Figura 4.2.5: Resposta espectral do filtro...........................................................................35 Figura 4.3.1: SubVI PID controler .....................................................................................35 Figura 4.3.2: painel frontal forno 1 ....................................................................................36 Figura 4.3.3: tabela de programas.......................................................................................37 Figura 4.3.4: Exemplo de programao de rampa e degrau...............................................37 Figura 4.3.5: Painel Frontal forno 2...................................................................................38 Figura 4.3.6: circuito buffer................................................................................................39 Figura 4.3.7: compensao da juno fria...........................................................................40 Figura 4.4.1: Indicador da amplitude do laser....................................................................41 Figura 4.4.2: Novo painel frontal........................................................................................41 Figura 5.1.1: sinal do laser...................................................................................................42 Figura 5.1.2: sinal do laser filtrado.....................................................................................42

Figura 5.1.3: FFT do sinal do laser......................................................................................42 Figura 5.1.4: FFT do sinal do laser filtrado.........................................................................43 Figura 5.2.1: evoluo da temperatura ( sp=150 )..............................................................43 Figura 5.2.2: evoluo da temperatura ( sp=350 )..............................................................44 Figura 5.2.3: evoluo da temperatura( sp = 600)..............................................................44 Figura 5.2.4: evoluo temperatura (sp= 650)....................................................................45 Figura 5.2.5: programa de temperatura completo de anlise da amostra via controle PID Labview ..............................................................................................................................46

ndice de tabelas
Tabela 2.1: regras sintonia 1mtodo de Ziegler Nichols..................................................12 Tabela 2.2: regras de sintonia 2 mtodo Ziegler Nichols.................................................12 Tabela 2.3: Erros em regimes permanentes em funo do tipo de sistema e sinal de excitao (para realimentao unitria).............................................................................16 Tabela 4.1: parmetros do PID em funo da temperatura de operao .........................38 Tabela 4.2: parmetros do PID do segundo forno.............................................................39

Acrnimos
PID CO2 VI DAC O2 N2 CO2 CN CO Proportional, Integral Derivative Dixido de carbono Instrumento virtual Digital Analogic converter Smbolo qumico do oxignio Smbolo qumico do azoto Smbolo qumico do dixido de carbono Carbono negro Carbono orgnico

1. Introduo
O conceito de automao industrial surgiu em meados da dcada de 1920 com Henry Ford e o seu modelo T de produo em srie na indstria automvel. Muito mudou desde ento em relao a automao industrial, e simplesmente automatizar um processo passou a no ser suficiente, tornou-se cada vez mais necessrio a interaco entre os elementos fsicos presentes nos processos de produo e as pessoas responsveis por monitoriza-lo [9]. A interaco pode ser realizada atravs de softwares com capacidade de monitorizar dados, estes softwares so responsveis pela a interface entre o hardware de aquisio de dados e o utilizador, oferecendo aos utilizadores ambientes grficos, rico em informaes, que possam ser utilizados por estes para monitorizar e, quando for o caso, controlar o processo industrial no qual o software aplicado. Torna-se assim necessrio a utilizao de ferramentas para auxiliar a implementao destes softwares que possam realizar um certo nmeros de tarefas, como aquisio de dados, armazenamento e visualizao destes pelos usurrios. Uma ferramenta fortemente utilizada na industria, e no s, para a realizar este software de gesto e controlo o Labview 1. A principal diferena existente entre o Labview e outras linguagens de programao que este baseado numa linguagem grfica, tambm conhecida como linguagem G, esta linguagem possui a vantagem de ser altamente produtiva em aplicaes que envolvam sistemas de aquisio de dados, controle e instrumentao. A linguagem G utiliza estruturas em forma de grficos e diagramas para criar cdigos de programao em blocos. Um dos aspectos a ter em conta quando se fala em processos industriais que estes normalmente to sujeitos a fortes restries no que diz respeito a variveis de controlo intervenientes neste processos, como por exemplo, um forno tem de ser mantido a uma temperatura constante, uma caldeira estar sujeita a uma determinada presso, um motor tem que manter a sua velocidade e estas condies tem de ser mantidas independentemente das cargas ou condies a que so sujeitos, tendo em conta estas imposies necessrio na maior parte dos casos recorrer a implementao de controladores ou compensadores responsveis por estabelecer estas condies. Hoje com o aparecimento dos controladores digitais a unidade compensadora passou, por motivos econmicos e de flexibilidade, a ser na maior parte dos casos prticos concretizada atravs de software, isto , um programa que executa um algoritmo matemtico, em vez de ser implementada atravs de um componente fsico como por exemplo circuitos electrnicos Na presente dissertao apresentada uma plataforma de gesto para controlo e monitorizao para um equipamento de especiao de carbono.
__________________________________________ 1- Propriedade da National Instruments

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1.1.Objectivos e motivao
Os objectivos do presente trabalho melhorar alguns aspectos num equipamento de especiao de carbono actualmente utilizado no departamento de Ambiente e Ordenamento da Universidade de Aveiro de modo a torna-lo de alguma forma mais automatizado, dando assim seguimento a um projecto j realizado em 06/08 [8], no qual para uma melhor optimizao do sistema se pretendia a substituio de um amplificador Lockin, por um algoritmo executado em Labview.. Para automatizar ainda mais o processo esta dissertao incide no desenvolvimento de um algoritmo de controlo de temperatura executado em Labview para substituio dos controladores PID existente no sistema. O algoritmo desenvolvido ser integrado no programa de controlo do processo j existente em ambiente de software Labview obtendo-se assim o controlo total do processo de anlise e do programa de temperaturas por computador, tornando assim o processo mais automatizado e mais prtico ao nvel da utilizao. O trabalho foi executado em conjunto com um aluno do Departamento de Ambiente e Ordenamento da Universidade de Aveiro o qual esteve responsvel por efectuar melhorias relacionados com os aspectos fsicos do analisador e o qual no objecto de estudo e anlise na presente dissertao.

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2. Noes bsicas de teoria de sistemas de controlo [11]

2.1.Introduo
A teoria dos sistemas de controlo procura estabelecer de um modo, qualitativo as bases fundamentais que regem o funcionamento do sistema de controlo fornecendo assim aos profissionais de engenharia um conjunto de ferramentas que lhe permitem o projecto e anlise dos sistemas de controlo que desempenham, da maneira mais eficiente possvel, a tarefa a que se destina. Em suma pode se entender que um sistema de controlo um sistema em que se manipula as entradas com o intuito de atingir o efeito desejado. No caso particular das engenharias, os sistemas de controlo possuem natureza fsica e baseiam a sua operao em fenmenos de transferncia, converso e dissipao de energia (elctrica, mecnica, trmica, etc...).A teoria dos sistemas de controlo procura neste caso descrever a interaco causa efeito atravs de operaes matemticas aplicados a modelos matemticos que descrevem os fenmenos fsicos correspondentes e a converso entre os diferentes tipos de energia envolvida nos sistemas fsicos.

2.2.Controlo em malha aberta

Designa-se controlo em malha aberta ou no realimentado um sistema cuja a entrada (referncia) no afectada pela sada (fig 3.2.1).

Figura 2.2.1: Sistema de um controlo em malha aberta Como se pode ver na figura o processo a controlar representa como o nome indica, o sistema a controlar, normalmente designada de process ou plant uma vez que, inicialmente, a teoria de controlo era exclusivamente aplicada a processos industriais. O bloco controlador (ou compensador) representa a parte do sistema de controle que implementa o que se designa por estratgia de controle, isto , o procedimento aplicar ao sinal de entrada r(t) de modo a que este se transforme num sinal apropriado que ao aplicar no processo a controlar conduza ao sinal de sada c(t) assumir o valor que se pretende.

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Vamos considerar o seguinte exemplo, pretende-se implementar um sistema cruise controler num veculo, este responsvel por manter a velocidade do veculo constante, previamente indicado pelo condutor. Neste caso o nosso sistema o veculo, a sada do sistema a velocidade do veculo e a varivel de controlo a posio do acelerador. Uma maneira simples de implementar este controlador era fixar a posio do acelerador quando o condutor lig-se o cruise controler, no entanto como de esperar a velocidade deste iria variar conforme o veculo tive-se a subir ou a descer, de facto qualquer variao nos parmetros no sistema (trajectria, presso, massa do veculo, etc...) inicialmente estabelecidos aquando da entrada do cruise controlerno sistema leva a variaes na velocidade de sada, a este tipo de controlo onde no h qualquer relao entre a sada e o sinal de controlo aplicado ao sistema denominado de controlo em malha aberta. Em resumo um controlo com estas caractersticas implica que as caractersticas dinmicas do processo a controlar/controlador se mantenham invariantes no tempo, sendo uma das inconvenientes para a realizao destes sistemas.

2.3.Controlo em malha fechada

Os problemas apresentados pelo controlo em malha aberta (variao dos seus parmetros) podem ser facilmente optimizados se recorremos a um esquema de controlo em que o sinal de sada vai ser subtrado ao sinal que representa o objectivo a atingir isto entrada (referncia). A este tipo de controlo denomina-se de controlo em malha fechada ou realimentado (fig 3.3.1).

Figura 2.3.1: Sistema de controlo em malha fechada Neste tipo de sistemas um sinal de realimentao h(t), derivado do sinal de sada c(t), atravs de uma unidade de realimentao ou medida adicionado algebricamente ao sinal de entrada (referncia) r(t) gerando assim o sinal de erro, sendo este sinal que passa a excitar o controlador ao contrrio do sistema em malha aberta onde o sinal de entrada aplicado directamente.

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Dependendo do sinal de realimentao o sistema pode possuir realimentao negativa caso o sinal de realimentao seja subtrado ao sinal de entrada, originando assim o sinal de erro, ou realimentao positiva caso o sinal de realimentao seja adicionado ao sinal de entrada, este so casos particulares de realimentao que levam os sistemas a serem instveis. O uso de realimentao negativa permite que o sinal aplicado ao controlador (sinal de erro) seja a diferena entre o objectivo atingir (a referncia) e uma funo do objectivo atingido (sinal de sada), assim sendo qualquer alterao dos parmetros do conjunto processo a controlar/controlador ser introduzida de sinal contrrio na entrada do controlador (realimentao negativa) levando sua atenuao na sada. Considerando o exemplo descrito acima do cruise controler o controlo em malha fechada seria conseguido se monitoriza-se-mos a velocidade efectivamente do carro e o aplica-se-mos ao controlador que efectuaria os ajustes necessrios a varivel de controlo (acelerador) de modo a obter um erro nulo (velocidade desejada) ou o mnimo possvel. Na maior parte dos casos necessrio proceder adaptao do sinal de sada para que este possa ser subtrado ao sinal de entrada, neste caso teremos de utilizar uma unidade de realimentao que transforme o sinal de sada num sinal comparado com o sinal de entrada. Esta unidade de realimentao normalmente uma unidade do tipo transdutor visto que a natureza fsica do sinal de sada (por exemplo rotaes por minuto de um veio mecnico) no coincide com a do sinal de referncia (por exemplo uma tenso elctrica). Os transdutores so assim unidades que transformam o sinal de um sistema fsico para outro. Consoante envolvem ou no o elemento humano designam-se por: -sensores - se o sistema que recebe o sinal de sada do transdutor no for humano. caso dos termopares, fotoclulas, extensmetros, taqumetros. -indicadores - se o destinatrio for o operador humano. o caso dos voltmetros, ampermetros, termmetros, indicadores de nvel, etc. No caso dos sinais de referncia e de sada possurem a mesma natureza fsica e o mesmo nvel de amplitude, a este tipo de sistema diz-se que possui realimentao unitria. Podemos concluir que, atravs da realimentao negativa, a preciso do sistema em relao ao valor desejado fortemente melhorada relativamente que se obtem com os sistemas no realimentados, pelo que de utilizar, sempre que possvel, sistemas de controlo realimentados.

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2.4.Compensao de sistemas de controlo 2.4.1.Introduo

A implementao de um sistema de controlo necessria para assegurar os objectivos operacionais de um dado processo. O sistema tem assim como objectivo suavizar a influncia de perturbaes externas, garantir e optimizar ao mximo o desempenho do processo. A implementao de um sistema de controlo que partida desempenhe a funo para o qual foi projectado na maior parte dos casos um acontecimento raro. Um dos mtodos aplicados para optimizar o sistema ajustar os parmetros do sistema, os parmetros que normalmente so alvo de ajuste o ganho do controlador ou o ganho da malha de feedback no caso de estarmos na presena de um controlo em malha fechada, caso a alterao dos parmetros do sistema no conduza a uma optimizao do sistema necessrio introduzir um novo elemento no circuito de controlo a que habitualmente se designa de compensador. As unidades de compensao (controladores) podem assim assumir a forma de um programa de computador ou ser unidades fsicas elctricas, mecnicas, hidrulicas, pneumticas ou de outro tipo. As mais comuns, por motivos de flexibilidade e economia, so normalmente as implementadas via microprocessadores.

2.4.2.Tipos de controladores [14]

So de seguida apresentados alguns algoritmos passveis de serem utilizados em controlo de sistemas simples, como o caso de processos trmicos, o qual ser alvo de estudo.na presente dissertao.
2.4.2.1. Controlador ON-OFF

O controlador mais simples de ser implementado o controlador ON-OFF. Neste tipo de controlador o sinal de erro aplicado na entrada de um comparador cuja a sada actua directamente na entrada do sistema. O sinal de controlo u(t) para este tipo de controlador dado por:

em que e(t) o sinal de erro definido como e(t)=r(t)-y(t). U max e Umin so respectivamente, o maior e o menor valor que o sinal de controlo u(t) pode tomar, o sinal r(t) e designado por referncia e finalmente y(t) que corresponde ao sinal de sada. O comportamento do controlador ON-OFF pode ser descrito de forma grfica pela seguinte figura (2.4.1).Dependendo do sinal do erro e(t) o sinal de controlo toma o valor mximo ou mnimo.

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Figura 2.4.1: Algoritmo ON-OFF -sinal de controlo Partindo do principio que o ganho esttico dos sistema a compensar positivo temos:

Se e(t) negativo significa que o sinal de sada y(t) superior ao sinal de referencia r(t) e o sinal de controlo toma o valor mnimo. Se e(t) positivo significa que o sinal de sada y(t) inferior ao sinal de referencia r(t) e o sinal de controlo toma o valor mximo.

Os controladores ON-OFF, na sua forma mais simples no tem muita utilidade prtica visto que num sistema de controlo real o sinal de controlo vai ter uma oscilao permanente, que se reflecte forosamente na sada. Um outro aspecto a ter em conta no que diz respeito a este controlador que este apresenta limitaes quando utilizado para comparar sinais afectados de rudo. Para evitar estes problemas utiliza-se um comparador com histerese. O comportamento do controlador ON-OFF com histerese pode ser descrito, de forma grfica pela figura (2.4.2).

Figura 2.4.2: Controlo ON_OFF com histerese O diagrama de blocos de um sistema de controlo utilizando um controlador ONOFF por histerese apresentado na figura (2.4.3).

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Figura 2.4.3: Diagrama de blocos de um sistema de controlo utilizando um controlador ON-OFF

2.4.2.2.Controlador Proporcional com saturao

Uma soluo capaz de evitar as oscilaes inerentes ao princpio de funcionamento do controlador ON-OFF consiste em utilizar um controlador cujo ganho seja reduzido para pequenos valores do erro. Este objectivo alcanado utilizando um controlador Proporcional. O sinal de controlo para este tipo de controlador dado por:

(2.1)

em que u0 amplitude do sinal de controlo correspondente a um sinal de erro e(t) nulo, -e0 e +e0 so os valores mximos do sinal de erro, umax e umin so respectivamente, a maior e a menor amplitude do sinal de controlo e Kp o ganho do controlador. O comportamento do algoritmo proporcional pode ser descrito de forma grfica pela figura(2.4.4).

Figura 2.4.4: Controlador Proporcional -sinal de controlo

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O diagrama de blocos de um sistema de controlo utilizando o controlador Proporcional apresentado na figura (2.4.5).

Figura 2.4.5: Diagrama de blocos de um sistema de controlo utilizando controlador Proporcional

2.4.2.3.Controladores PI
O controlador, cujo o diagrama de blocos apresentado na figura (2.4.6), composto por um bloco subtractor (obteno do sinal de erro), um bloco integrador (clculo do integral do sinal de erro), um bloco somador e um bloco de ganho.

Figura 2.4.6: : Diagrama de blocos de um sistema de controlo utilizando controlador PI Os sinais r(t), u(t), y(t) e e(t) so, respectivamente, o valor imposto (referncia), o sinal de controlo, o sinal de sada e o sinal de erro do controlador. As constantes Kp(ganho), Ti(constante de tempo de integrao ) so coeficientes escalares associados respectivamente ao ganho e aco integral do controlador. o sinal de controlo e dado por:
u t = Kp e t 1 e t d t (2.2) Ti

O sinal de controlo depende do ganho do controlador (Kp), do valor instantneo

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do erro e do integral do erro afectado do factor de escala (1/Ti). Por outras palavras, o sinal de controlo directamente proporcional ao sinal de erro e sua histria passada (aco integral).

2.4.2.4.Controlador PID
Num sistema de controlo do tipo proporcional integral diferencial (PID), cujo o diagrama de blocos apresentado na figura (2.4.7), o controlador composto por cinco componentes: um bloco subtractor (responsvel pela obteno do sinal de erro), um bloco diferenciador (responsvel pelo clculo da derivada do erro), um bloco integrador (responsvel pelo clculo do integral do sinal de erro), um bloco somador e um bloco de ganho.

Figura 2.4.7: Diagrama de blocos de um sistema de controlo utilizando controlador PID O sinal de controlo u(t) dado pela seguinte expresso: u t = Kp e t de t 1 e t Td (2.3) Ti dt

O sinal de controlo depende do ganho do controlador (Kp), do valor instantneo do sinal de erro, do integral e da derivada desse mesmo erro afectados respectivamente dos factores de escala (1/Ti) e Td. Ao parmetro Ti d-se, como j referido anteriormente, o nome de constante tempo de integrao. Ao parmetro Td d-se o nome de constante tempo de diferenciao.

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2.4.2.5.Sintonia de controladores PID

Um dos mtodos para sintonia de controladores PID recorre a um conjunto de regras empricas propostas, em 1942, por Ziegler e Nichols. A partir da resposta ao degrau de um sistema em malha aberta ou avaliando a resposta do sistema em malha fechada no limite de instabilidade foi possvel derivar um conjunto de heursticas que tornaram fcil a sintonia de compensador com trs graus de liberdade. de notar no entanto, apesar de ser simples, um controlador sintonizado por este mtodo no permite atingir um comportamento do sistema em malha fechada capaz de obedecer a requisitos especficos (ex. Sobreelevao tempo de estabelecimento, etc...). No entanto, a sua grande vantagem prende-se com o facto de no ser necessrio um modelo matemtico do sistema para o processo de projecto (ao contrrio da maior parte das tcnicas). Derivado do trabalho de Ziegler e Nichols apresentam-se de seguida dois mtodos para a sintonia de controladores para sistemas estveis. Ambos visam ajustar para o sistema compensado responder ao degrau com uma percentagem de sobreelevao mxima de 25%. 2.4.2.5.1.1Mtodo de Ziegler Nichols Este mtodo aplicado a sistemas cuja a resposta ao degrau em malha aberta no possua sobreelevao. Para aplicar este mtodo ento necessrio obter experimentalmente a resposta ao degrau unitrio do sistema a compensar em malha aberta e sem o controlador. A condio necessria para aplicao deste mtodo que a resposta ao degrau ser do tipo sobreamortecido ou seja a forma de um S distorcido. Veja-se como exemplo a resposta ao degrau de um determinado sistema.

Figura 2.4.8: curva em S O primeiro mtodo de Ziegler Nichols considera que a resposta com formato em S pode ser caracterizada por trs parmetros. O primeiro parmetro considerado a amplitude da resposta ao degrau em regime estacionrio(K), o segundo e terceiro parmetro so instantes de tempo, o instante L=T1 obtm-se desenhando a tangente curva no seu ponto de inflexo (ponto de declive mximo)e determinando a intercepo

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desta tangente com o eixo dos tempos que passa pela amplitude 0. O segundo parmetro o instante de tempo Te que corresponde ao intervalo de tempo que medeia entre o instante de aplicao do degrau e o instante em que a curva da resposta atinge 63,21% do valor final K. A partir deste valor define-se o intervalo de tempo T a = Te - T1. A partir destes valores e recorrendo a tabela que se segue obtm-se os valores para sintonia dos controladores PID.

Tabela 2.1: regras sintonia 1mtodo de Ziegler Nichols

2.4.2.5.2.2 Mtodo de Ziegler Nichols Este segundo mtodo parte de um ensaio prtico utilizando realimentao unitria e um compensador proporcional em srie com o sistema a compensar. O ensaio consiste em variar o ganho do controlador at a um valor de um ganho critico K cr que corresponde a uma sada alternada sinusoidal de amplitude constante e a um perodo P cr que se designa por perodo critico, a sintonia dos controladores PID pode ser obtida recorrendo a seguinte tabela.

Tabela 2.2: regras de sintonia 2 mtodo Ziegler Nichols

Uma grande desvantagem deste mtodo que a manipulao do ganho do controlador na regio prxima instabilidade do sistema uma tarefa muito perigosa quando se trata de uma aplicao industrial.

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2.4.3.Critrios de desempenho de um sistema de controlo [12]

No desenvolvimento de sistemas de controlo estes so projectados para que possam satisfazer certas condies de desempenho. Estas especificaes de desempenho podem ser aplicadas em termos do regime transitrio ou em regime permanente. O desempenho em regime permanente, em termos de erro em estado estacionrio, uma medida da preciso do sistema quando referido a uma entrada especifica. Por norma trs tipos de entrada so considerados:

Degrau unitrio ( r t =u t ) Rampa ( r t = mt u t ) 1 2 Parbola ( r t = t u t ) 2

O primeiro afere a capacidade do sistema reagir a variaes bruscas do sinal de referncia, e os restantes a capacidade do sistema seguir trajectrias. O erro em regime permanente (ess) a diferena, em regime permanente, da amplitude do sinal de entrada face ao sinal de sada. Para sistemas estveis este valor pode ser determinado recorrendo ao teorema do valor final.

Teorema do valor final O valor final da funo f(t), cuja transformada de Laplace F(s) :
lim t f t =lim s 0 s F s

(2.1)

se

f t t existe

O desempenho em regime transitrio de um sistema avaliado, em geral, pela resposta temporal do sistema a uma perturbao do tipo degrau. Entre outros destacamse os seguintes critrios de desempenho:

Tempo de subida (Tr) - Tempo necessrio para que a resposta do sistema, a um degrau unitrio, cresa de 10% a 90% do seu valor em regime permanente. Tempo de estabelecimento (Ts)- Tempo necessrio para que a resposta, a um degrau unitrio, atinja e permanea dentro de uma percentagem especificada do seu valor em regime permanente (normalmente 1%, 2% ou 5%).

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Constante de tempo ()- Refere-se a uma medida alternativa do tempo de estabelecimento. Para um sistema estvel de ordem superior a um refere-se ao tempo necessrio para que a envolvente da resposta transitria atinja 63% do seu valor em regime permanente.

Sobre-elevao( ) - a diferena mxima entre as solues transitria e de estado estacionrio para uma entrada em degrau. Este critrio representativo da estabilidade relativa e normalmente apresentado em termos percentuais relativamente ao valor em regime permanente.

Figura 2.4.9: resposta de um sistema a um degrau unitrio

2.4.4.Sistemas em malha aberta de 1ordem [15]

A compreenso do comportamento, tanto no domnio do tempo como da frequncia, de sistemas de primeira ordem e segunda ordem muito importante para a anlise e projecto de sistemas de controlo. Isto porque muitos dos sistemas fsicos possuem comportamentos que podem ser aproximados a sistemas de primeira ordem ou segunda ordem. Um sistema de primeira ordem possui apenas um plo e a funo de transferncia genrica : G s = K s 1 (2.2)

onde K representa o ganho do sistema e a constante de tempo. Da equao (2.2) conclui-se que um sistema de 1ordem possui um plo em s=-1/. A resposta deste sistema a um degrau unitrio , y t = K 1 e
t

(2.3)

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Relativamente a alguns critrios de desempenho abordados na seco anterior fcil verificar que, num sistema de primeira ordem, o tempo de subida , aproximadamente igual a: T r=2.2 (2.4) Define-se como sendo a constante de tempo do sistema o valor de que corresponde ao tempo necessrio para que o sinal de sada y(t) seja igual a 0.632 do seu valor estacionrio (quando t tende para infinito).

2.4.5.Erro em regime estacionrio de sistemas com realimentao unitria [12]

No projecto de muitos sistemas de controlo um dos critrios impostos tem a ver com a resposta, em estado estacionrio, do sistema. Para um sistema estvel em malha fechada, o nvel do sinal de sada do sistema, c(t), tende a estar, em regime permanente, o mais prximo possvel da magnitude do sinal de comando r(t). A diferena entre estes dois valores designada por erro em regime permanente ou estacionrio, por exemplo, num forno ser a diferena entre a temperatura que realmente o forno atinge e aquela que pretendamos que atingisse e que para tal marcmos, no selector de temperatura, como referncia. Em suma define-se o erro em regime estacionrio como: ess = lim t e t =lim t r t c t (2.5) ou, alternativamente, no domnio de Laplace, ess= lim s 0 E s = lim s 0 R s C s (2.6) Considerando um sistema com realimentao unitria

Figura 2.4.10: sistema com realimentao unitria Utilizando o teorema do valor final devemos ter para o erro em regime estacionrio: lim t e t =lim s 0 s R s =ess t 0 (2.7) 1G s

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Para que este objectivo anterior seja atingido necessrio que a funo de transferncia para a frente G(s) cumpra determinadas condies. Podemos escrever para o caso de uma funo de transferncia para a frente possuindo m zeros e n plos, dos quais p na origem: m k s zi i =1 G s = (2.8) q p s s pj j =1 Onde, para que o sistema seja possvel de realizar fisicamente, temos de ter m p+q = n. Substituindo G(s) na expresso (2.7) temos: ess t =lim s 0 s R s m k s zi i =1 1 q s p s pj j =1

(2.8)

Da equao 2.8 podemos concluir, atendendo que quando s ->0 os produtos infinitos tendem para valores constantes, que o valor do limite depende do expoente p (numero de plos na origem da funo de transferncia para a frente) e do sinal R(s). Atendendo que o valor do expoente p que vai tipificar o comportamento do sistema em relao ao erro em regime estacionrio assim designado por o tipo do sistema. Os sistemas de tipo 0, I e II so os mais comuns assim como os sinais de excitao de grau 0, I e II (degraus, rampas e parbolas). Na tabela que se segue resumem-se os valores de ess para todas as combinaes entre esses trs pares de casos degrau Tipo 0 Tipo I Tipo II 1/(1+Kp) 0 0 rampa 1/Kv 0 parbola 1/Ka

Tabela 2.3: Erros em regime permanente em funo do tipo de sistema e sinal de excitao (para realimentao unitria)

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Onde as constantes Kp, Kv e Ka so designadas por constantes de erro de posio, de velocidade e de acelerao respectivamente. E possuem os seguintes valores:
Kp= lim s 0 G s (2.9) Kv =lim s 0 s G s (2.10) Ka =lim s 0 s G s (2.11)
2

2.5.Medio de temperaturas [13] 2.5.1.Termopares

Os termopares so os sensores de temperatura mais usados actualmente, principalmente pelo seu baixo custo e larga faixa de operao. Um termopar surge sempre que dois metais diferentes so ligados um ao outro. Neste caso surge nos terminais do termopar uma tenso de circuito aberto (Vs) proporcional temperatura na juno do termopar (Ttc). Esta tenso chamada de tenso de Seebeck. A relao entre Ttc e Vs e dada por: Vs = S Ttc Ttc (2.12) Na qual S(Ttc) o Coeficiente de Seebeck que depende do tipo de termopar e funo da temperatura Ttc. A dependncia de S com a temperatura provoca uma certa no linearidade na caracterstica tenso vs temperatura do termopar. Contudo, para uma pequena faixa de temperatura podemos aproximar equao 2.12 por: Vs= S Ttc (2.13) Na qual S uma constante que depende do tipo de termopar.

2.5.2.Compensao da juno fria

A utilizao de termopares requer sempre a compensao das junes indesejveis, pois qualquer juno de dois metais constitui um termopar (fig 2.5.1). Para determinar a tenso da juno J1 teremos de medir a tenso da juno J2 e J3 pois a tenso V lida pelo aparelho de leitura seria a soma algbrica das tenses nas duas junes, v1 e v2 e v3, equao 2.14: V =V1V3V2=V1 1 V1 3 v2 2 (2.14)

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Figura 2.5.1: leitura de um termopar tipo j A anlise dos circuitos com termopares pode ser feita atravs das leis empricas dos termopares[17], permitindo assim esquecer os detalhes mais complexos do funcionamento destes circuitos e olhar para eles de forma simplificada fig(2.5.2).

Figura 2.5.2: modelo simplificado de leitura de um termopar

Analisando este modelo simplificado a tenso lida pelo voltmetro : V =Vtp 1 vtp amb (2.15)
A temperatura (1) pode ser facilmente calculada, pois conhecendo V (lido) e vtp(amb) (atravs amb), sabemos Vtp(1) e 1. O processo de determinar a temperatura juno Vtp(amb), necessria para a determinar a temperatura(1), designa-se por compensao de juno fria. Este processo pode ser feito por hardware ou por software.

2.5.2.1.Compensao da juno via hardware

A compensao de juno fria por hardware baseia-se na introduo, em srie com o circuito termoelctrico, de uma fonte de tenso para contrariar o efeito do termopar indesejado. Este princpio descrito na figura (2.5.3): um sensor detecta a

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temperatura da juno fria e injecta no circuito uma tenso que, somada a tenso proveniente da leitura do termopar, anula o efeito da tenso da juno fria.

Figura 2.5.3: compensao da juno fria via hardware

2.5.2.2.Compensao da juno via software

A compensao via hardware tem a desvantagem de obrigar utilizao de equipamento adicional para fazer a compensao da juno fria. A compensao por software aproveita o facto de praticamente todos os circuitos de instrumentao actuais serem baseados em microprocessadores. O princpio de funcionamento descrito na figura (2.5.4.): o que se faz agora passar a compensao para o lado do software. O valor da tenso produzido aos terminais do termopar lido, sem qualquer correco. Ao mesmo tempo lida a temperatura da juno fria. A compensao da juno feita pelo programa do microcontrolador subtraindo (ou adicionado) ao valor lido do termopar a compensao devida pela temperatura da juno.

Figura 2.5.4: compensao da juno fria via software

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2.5.3.Linearizao dos dados

A tenso de sada dos termopares altamente no linear. Por esta razo, necessrio aproximar -se a curva tenso vs temperatura dos termopares por polinmios ou usando-se uma tabela[18]. Estes polinmios tm a seguinte forma: T = a 0a 1v a 2v 2... a nv n (2.14) Onde, v a tenso do termopar em volts, T a temperatura em graus Celsius e a 0 at an so os coeficientes que so especficos de cada tipo de termopar e no caso de se pretender converter a temperatura na tenso equivalente usamos o seguinte polinmio: v =c 0c 1T c 2T 2... c nT n (2.15) Onde, v a tenso em volts, T a temperatura em graus Celsius e c 0 at cn so os coeficientes que so especficos de cada tipo de termopar.

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3. Descrio do equipamento existente

3.1.Introduo
O material carbonoso o principal componente do aerossol (componente particulada slida fina em suspenso na atmosfera). A fraco carbonosa da matria particulada consiste em carbono elementar (habitualmente definido por carbono negro) e uma variedade de compostos orgnicos[19]. Para a quantificao do carbono total (CT), carbono orgnico e carbono elementar (ou negro) existente no aerossol recorre-se a uma panplia de mtodos, normalmente classificados de mtodos qumicos, pticos e trmicos[19]. O mtodo qumico consiste na prvia eliminao da fraco orgnica por extraco de solventes ou extraco cida e posterior determinao de carbono elementar por volatilizao (passagem do estado slido ou lquido para um estado gasoso). Os mtodos pticos baseiam-se no facto da medio da absoro da luz pelo aerossol no intervalo de espectro visvel estar fortemente correlacionada com o contedo de carbono negro. Os mtodos trmicos, mais usuais, envolvem a colheita do aerossol sobre um filtro de fibra de quartzo com consequente volatilizao das partculas do filtro por aco do calor e anlise qumica dos gases produzidos. Esta tcnica de anlise normalmente associada a outros mtodos, como extraco qumica e mtodos pticos, com vista a melhorar a determinao de carbono negro e orgnico. Um dos processos menos sujeito a interferncias analticas o mtodo termo-ptico. Este mtodo consiste em libertar o carbono amostrado no filtro, atravs de aquecimento e oxidao, e posterior converso em dixido de carbono ou metano para deteco. Numa primeira fase na ausncia de O2, todo o CO volatilizado, introduzindo-se posteriormente O2 onde se volatiliza o CN. No entanto, o aquecimento num ambiente livre de O2, leva a pirlise de certos componentes de CO e a formao de carbono piroltico, basicamente consiste no processo processo pelo qual o carbono orgnico, a temperaturas elevadas, alterar a sua composio qumica, adquirindo uma estrutura semelhante a do carbono negro, visto isto, o carbono orgnico pirolisado pode ser confundido com o carbono negro. O fenmeno de pirlise pode ser corrigido com a monitorizao da reflectncia ou transmitncia da luz atravs do filtro durante anlise trmica [19]. O mtodo desenvolvido no Departamento de Ambiente e Ordenamento (DAO) consiste num sistema termo-ptico, baseado na transmitncia da luz atravs do filtro amostrado, com controlo do gs na zona de volatilizaco do carbono particulado. Neste sistema de anlise o carbono particulado diferenciado em diversas fraces em consequncia de um programa de aquecimento [10]. Para tal utilizado um tubo de quartzo com duas seces de aquecimento (Figura 1.1).

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Figura 3.1.1: estrutura do forno Legenda: B forno de quartzo B1 seco 1do forno B2 seco 2 do forno Numa primeira fase, com uma corrente gasosa de azoto (N 2), d-se o aquecimento controlado da amostra e a volatilizao sucessiva de compostos orgnicos carbonosos. Numa segunda fase, aps a volatilizao de todo o carbono orgnico, alterase a corrente de gs de arraste para uma mistura de ar/N2, com 4% de O2, onde juntamente com a elevao da temperatura se d a oxidao e volatilizao do carbono negro [10]. Com o intuito de corrigir o erro na quantificao de carbono negro (CN) associado ao fenmeno da pirlise de CO, o enegrecimento do filtro (resultante do processo de pirlise do carbono) monitorizado por medio da intensidade de luz emitida por um laser de comprimento de onda de 632 nm transmitida atravs do filtro no decorrer de cada anlise. A referida monitorizao permite determinar o ponto de diferenciao entre o carbono piroltico e carbono elementar original da amostra. A introduo de oxignio vai permitir que o carbono piroltico e o carbono negro da amostra oxidem de modo a que os valores de transmitncia medidos atingem os equiparados a um filtro de quartzo limpo. No ponto em que o valor do laser iguale o sinal inicial o ponto de separao entre o carbono negro e carbono formado pela pirlise dos compostos orgnicos [10]. Amostra colocada no forno de quartzo (B1), estando este com atmosfera controlada (inicialmente com N2, e posteriormente com O2/Ar) e onde se faz variar o aquecimento entre a temperatura ambiente e os 900C em intervalos de temperatura definidos[10]. Nessa zona (B1) introduz-se a amostra (filtro contendo as partculas a analisar) a qual colocada verticalmente num pequeno tudo de quartzo de menor seco que introduzido e deslocado at ao meio do forno B1. O forno B2, mantido a uma temperatura constante de 650C e atravessado longitudinalmente por uma vareta de quartzo transparente e preenchido com xido Cprico (CuO), o qual vai servir de catalizador no processo de oxidao dos compostos volatilizados no forno B1. No segundo forno existe a entrada de O2 durante todo o

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processo de amostragem de modo a garantir que a oxidao seja o mais eficiente possvel. A oxidao no segundo forno, vai transformar os compostos carbonosos volatilizados em CO2, o qual ser posteriormente determinado por um analisador de CO2 [10] Toda a informao ao longo da anlise (temperatura, sinal do laser, concentrao de CO2) enviada ao computador atravs de sinais elctricos, por meio de uma placa de aquisio de dados. Um rotmetro e um medidor de caudal mssico controlam os caudais de azoto (N2) e Oxignio (O2), que est a ser introduzido no forno [10]. Os dados so processados por meio de um software desenvolvido em ambiente LABVIEW. Em suma o mtodo desenvolvido do Departamento de Ambiente e Ordenamento da Universidade de Aveiro por Pio et al. (1994) consiste num sistema termo-ptico similar ao desenvolvido por Huntzinger et al (1982), a figura seguinte representa o esquema geral do analisador de carbono.

C4 E3

E3

Figura 3.1.2: Esquema geral do sistema Legenda:

A Garrafas de gs B Forno de quartzo B1 Forno 1 B2 Forno 2 C Laser de HeNe C1 Detector fotoelctrico C2 Motor DC e Acoplador ptico C3 Amplificador lock-in C4 Chopper mecnico D Analisador de CO2 E Caixa com tiristores de potncia E1 SR24 (programador PID forno1) E2 FP21 (programador PID forno2) E3 termopar tipo K F Medidor de caudal mssico G Rotmetro H Computador com placa de aquisio de dados I1 Vlvula I2 Circuito impresso com rel que serve de interruptor para abrir a vlvula, activado por sinal vindo de uma sada digital da placa de aquisio de dados.

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Basicamente o sistema pode ser dividido em quatro mdulos diferentes: o mdulo de controlo de temperatura, o mdulo que mede a transmitncia do filtro, o mdulo que mede a quantidade de carbono particulado e o mdulo que permite o accionamento da electrovlvula.

3.1.1.Mdulo de controlo de temperatura

Mdulo responsvel pelo o aquecimento dos fornos de quartzo, este constitudo pelos controladores PID, os tiristores de potncia e por termopares tipo K. O aquecimento do forno 1 efectuado por uma resistncia enrolada em torno do tubo e o seu controlo de potncia feito atravs do programador PID FP21 (E5), o tiristor de potncia PAC15P0013081 e o termopar tipo k (E1). O FP21 est programado de forma a ter dois perfis de aquecimento distintos: um plano para filtros sujos e outro para filtros brancos (filtros sem carbono particulado). O perfil de aquecimento para filtros sujos consiste em aquecer o forno 1 dos 30C a 600C, arrefecer at aos 350C na primeira fase da anlise, e depois aquecer dos 350C at aos 850C numa segunda fase da anlise. Para o plano de aquecimento de filtros brancos o PID est programo de forma a que o forno 1 aquea continuamente dos 30C aos 800C. O forno 2 mantido durante em toda anlise (em qualquer um do perfil de aquecimento) a uma temperatura constante de 650C, atravs do PID SR24, e tiristor de potncia e do termopar tipo k (E2).

3.1.2.Mdulo de medio da transmitncia do filtro

O mdulo que mede a transmitncia do filtro formado por um lazer de HeNe, por um chopper mecnico, por um detector fotoelctrico, por um amplificador Lockin[6], e por um taqumetro ptico. Como j foi dito anteriormente este mdulo serve para distinguir a medio do carbono orgnico do negro. O chopper mecnico, que gira a uma frequncia de 1khz, modela em amplitude o sinal de laser que incide no filtro. No extremo oposto o detector fotoelctrico, que se encontra alinhado com lazer e com o filtro converte o sinal de lazer modulado num sinal elctrico tambm de 1khz. O taqumetro ptico origina um sinal de referncia de 1Khz que actua no amplificador Lockin juntamente com o sinal elctrico de sada do detector fotoelctrico. Segundo o construtor deste amplificador ao colocar-se estes sinais em fase, esta estrutura origina uma voltagem DC de sada proporcional componente AC do sinal de sada do detector fotoelctrico e rejeita o rudo adicional captado no detector, provocado por fontes de luz externas indesejveis.

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3.1.3.Mdulo de medio do carbono particulado

O mdulo que mede a quantidade de carbono formado pelo medidor de carbono e este encontra-se ligado por uma tubo ao forno 2. O medidor de carbono origina uma tenso DC de sada proporcional ao carbono medido. O sinal de tenso de sada do detector fotoelctrico e do medidor de carbono, juntamente com um sinal de tenso de sada medido pelo FP21 atravs do termopar, ligam a uma placa de aquisio de dados. A aquisio destes sinais monitorizada atravs de um programa feito em Labview.

3.1.4.Mdulo de controlo da electrovlvula

O mdulo que permite abrir a electrovlvula formado, pelo circuito impresso que possui um rel sendo este accionado por uma sada digital da placa de aquisio de dados. Esta sada digital, quando activada por ordem do programa feito em Labview, permite a passagem de dum fluxo de ar que adicionado ao fluxo de N2 j existente no forno 1 e inicia-se a segunda fase da anlise.

3.2.Instrumentao usando labview 3.2.1.Software Labview

O programa Labview (Laboratory Virtual Instrument Engineering Workbench) foi desenvolvido pela National Instruments e utiliza uma linguagem de programao chamada G. Esta linguagem em vez de utilizar linhas de cdigo, usa uma linguagem de programao grfica, ou seja, o programa feito na forma de um diagrama de blocos. O Labview usa uma estrutura de programao orientada pelo fluxo de dados e hierrquica, isto , o fluxo de dados que controla a execuo, e deste modo, torna simples a implementao de sistemas complexos que englobem aquisio e manipulao de dados, ou ainda, o controle de equipamentos atravs do computador. Alm disso, o Labview possui vrias livrarias de funes para aplicaes especficas (aquisio de dados, anlise estatstica, processamento digital de sinais, gerao de sinais, etc...). Qualquer programa feito em Labview chamado de instrumento virtual (VI virtual instruments) j que sua aparncia e operao assemelham-se s de instrumentos reais, pode se criar um VI para ser utilizado noutro VI, quando um VI chamado noutro VI este designado de SubVI. Um instrumento virtual (VI), assim como um

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programa usual, composto por um conjunto de instrues (que fazem a manipulao e fluxo dos dados), e por uma interface com o usurio, na qual se encontram as entradas e sadas necessrias. Basicamente pode-se identificar em um VI duas partes que o compem: o painel frontal e o diagrama de fluxo de dados. O painel frontal a interface entre o utilizador e o programa, onde o utilizador insere os dados de controlo do programa e visualiza os resultados. Pode-se construir o painel frontal com controladores, indicadores e grficos que so os terminais de entrada e sada do VI. Na figura 3.2.1 mostrado um exemplo de painel frontal:

Figura 3.2.1: Exemplo de um painel frontal

O diagrama de fluxo de dados (tambm designado por diagrama de blocos) a estrutura do programa propriamente dita, que contm o cdigo fonte construdo de forma grfica. Os objectos usados no painel frontal (controladores, indicadores, etc...) aparecem neste diagrama como terminais. Pode-se ver na figura seguinte um exemplo dum diagrama de fluxos de dados correspondente ao painel frontal da figura 3.2.1

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Figura 3.2.2: Exemplo de um diagrama de fluxo de sinal

3.2.2.Aquisio de dados
O programa Labview pode comunicar e adquirir dados de instrumentos, atravs de GPIB, VXI e RS232, PCI e mais recente via USB. O Labview j possui os drivers dos barramentos referidos para comunicar com muitos instrumentos existentes. Para tal, basta usar as livrarias de instrumentos virtuais existentes de forma a controlar o instrumento para o fim desejado. Quando se junta o Labview com uma placa de aquisio de dados tambm da National Instruments consegue-se construir aplicaes mais poderosas e robustas. Pois as placas de aquisio de dados para alm terem entradas e sadas digitais possuem tambm entrada e sadas analgicas. O Labview tambm j possui muitos drivers para comunicar com estas entradas e sadas das placas de aquisio de dados. Umas das livrarias que possui estes drivers DAQ Assistant Express VI (fig 3.2.3). Com esta ferramenta criamos facilmente um canal virtual onde podemos definir que tipo de leitura a que o canal se destina tenso, corrente, temperatura, etc...

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Figura 3.2.3: Exemplo de criao de um canal de leitura de tenso

3.2.2.1.Placa de aquisio
A placa de aquisio de dados utilizada foi NI-USB-6222, esta placa possui 16 entradas analgicas com uma ADC de 16bits, taxa de amostragem 250KS/s ( capaz de adquirir 250000 amostras por segundo), possui ainda 2 sadas analgicas com uma taxa de 740KS/s, 24 entradas/ sadas digitais, 2 contadores/timer.

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3.3.Software 3.3.1.Descrio do VI do sistema

Como j explicado anteriormente um VI constitudo por um painel frontal e por um diagrama de fluxo de dados. O diagrama de fluxo de dados no ser aqui apresentado uma vez que este bastante grande, complexo e possui fluxos sobrepostos devido a certas estruturas que o Labview possui. O VI desenvolvido permite observar em tempo real, no painel frontal, a evoluo de uma anlise atravs do grfico. Permite ver a transmitncia do filtro a branco, a temperatura dos fornos a verde e quantidade de carbono a vermelho. Para alm, disso os valores que so imprimidos no grfico so guardados num ficheiro.txt, de forma a posteriormente serem analisados em Excel pelos usurios do sistema, para tratamento estatstico. O VI do sistema permite ainda ao usurio deste, definir o tempo de durao da anlise (Aquisition time), o tempo de amostragem da anlise (Sampling time), o caminho para guardar o ficheiro.txt (Log File) e o tempo em que vlvula aberta aps o incio da anlise (Valve time), na figura 3.3.1 apresentado o painel frontal do sistema

Figura 3.3.1: Painel frontal do sistema

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4. Alteraes no equipamento actual em uso

4.1.Introduo
Os aspectos tidos em considerao na automatizao e melhoria da anlise no sistema actual foram as seguintes: 1. Substituio do conjunto laser-chopper-detector-Amplficador Lockin, por um laser pulsado obtendo-se assim o mesmo principio do chopper, a substituio do detector existente por detector com funcionalidades melhoradas sobretudo na zona de funcionamento linear deste visto que o actual sofria de problemas de saturao e a substituio do amplificador Lockin por um subVI capaz de realizar a mesma funo deste, isto , originar um valor DC proporcional a componente AC do sinal captado pelo detector e com capacidade de rejeitar fontes de rudo originadas por fontes de luz externas indesejveis. 2. Automatizao dos controladores PID do forno, por meio de computador, como j referido o processo de anlise e o controlo do forno esto separados fisicamente, sendo que um dos objectivos da presente dissertao efectuar o controlo total do processo de anlise e do programa de temperatura por computador tornado assim o processo mais automatizado e mais prtico ao nvel do utilizador. 3. Alterao da estrutura fsica do analisador, procedendo-se alterao da disposio dos acessrios pticos em relao ao forno, tentando-se colocar o sistema laser - detector de um modo perpendicular ao tubo de quartzo. Com esta nova disposio, pretende-se a diminuio da interferncia de outras fontes luminosas (como a luz ambiente ou derivada do forno de aquecimento) no entanto levaria alterao do modo de colocao da amostra no analisador conforme ponto 4. 4. Automatizao do processo de colocao da amostra, que actualmente consiste na colocao do filtro de amostragem num tubo de vidro o qual arrastada manualmente para dentro do forno com uma vareta de metal, sendo que se adaptou numa das entradas do tubo de quartzo um sistema de colocao da amostra de modo a no ser necessrio utilizar o tubo de quartzo para colocao da amostra, este processo tem a vantagem de se poder utilizar outros tipos de filtros que no circulares e evita-se alguma perda de amostra associada ao manuseamento por parte do operador.

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Salienta-se o facto que as alteraes que foram abordadas no ponto 3 e 4, tal como o seu estudo de viabilidade tiveram a cargo do aluno do Departamento de Ambiente e Ordenamento (DAO) da Universidade de Aveiro pelo qual no ser alvo de estudo na presente dissertao.

4.2.Laser-chopper-detector-Amplificador Lockin
NOTA devido a complexidade do diagrama de fluxo de sinal, s ser aqui apresentado as partes consideradas mais importantes deste. O diagrama de fluxo de sinais completo poder ser consultado em CD anexo.

4.2.1.Laser-chopper

Figura 4.2.1: Curva de operao do laser O conjunto laser chopper foi substitudo por um laser de 635nm, 5mw com capacidade de ser pulsado por aplicao de um sinal digital. A figura 4.2.1 mostra a curva da potncia de sada em funo do sinal de entrada do laser. O sinal digital utilizado para excitar o laser provm via Labview. Para este efeito foi desenvolvido um subVI(fig 4.2.2) que utilizando o timer da placa de dados gera uma onda quadrada, este subVI permite gerar ondas quadradas com um amplitude de 0 a 5V e com duty-clycle e frequncia varivel.

Figura 4.2.2: SubVI laser_pulse

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4.2.2.Detector
Como detector foi utilizado um um fotododo de avalanche (APD), este tipo de fotododo tem a particularidade de utilizarem um mecanismo ganho interno quando aplicado uma tenso inversa, APD's conseguem assim medir intensidades de luz muito pequenas e podem ser utilizados em diversas aplicaes que requerem elevada sensibilidade tal como comunicaes pticas, e para esta aplicao em questo. Para esta aplicao especifica foi utilizado o APD S5343. Na figura (4.2.3) pode ser visto que este possui o seu pico de foto sensibilidade na ordem do comprimento de onda do laser (635nm).

Figura 4.2.3: Resposta espectral Na figura 4.2.4 apresenta-se o circuito electrnico realizado para leitura do sinal proveniente do detector. A resistncia de 1,2M serve para limitar a corrente no circuito e a resistncia de ganho foi escolhida de modo a optimizar ao mximo o sinal do fotodetector para esta aplicao em questo.

Figura 4.2.4: circuito de leitura do foto detector

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4.2.3.Amplificador Lockin
Ao nvel do diagrama de fluxo de sinais foi acrescentado um Sub Vi, capaz de realizar a funo do amplificador de Lockin, este adquire o sinal modelado proveniente do circuito de leitura do detector, filtra-o e fornece um valor entre 0 e 10 referente a amplitude do sinal AC modelado, o SubVI desenvolvido foi baseado num j anteriormente projectado[8]. Neste ponto a nicas alteraes que foram efectuadas foi ao nvel do diagrama de fluxo de sinal onde foi acrescentado o SubvI, programou-se a aquisio do sinal modelado de 1KHz, a uma taxa de amostragem de 50KS/s (sample rate), com uma aquisio de 2500 amostras (number of samples) de cada vez. Esta taxa de amostragem suficiente elevada de forma a evitar problemas de aliasing. Com estes dois parmetros adquirem-se 25 ciclos do sinal modelado de cada vez (50K /2500=25). O filtro utilizado foi um filtro FIR passa banda, da biblioteca do Labview. De forma a conseguir-se uma banda de passagem em redor de 1Khz o mais reduzida possvel sem provocar atenuao do sinal modelado adquirido, o filtro FIR passa banda foi programado com as seguintes caractersticas:

Ordem 800;

Lowest stopband frequency de 700Hz; Lowest passband frequency de 800Hz; Highest passband frequency de 1300Hz; Highest stopband frequency de 1200Hz;

Figura 4.2.5: Resposta espectral do filtro Depois de filtrado o sinal medido a amplitude deste que posteriormente amplificado para termos um sinal compreendido entre 0 e 10.

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4.3.Controlador de temperatura
Afim de tornar o controlo do processo descrito em captulos anteriores mais automatizado os controladores de temperatura foram ambos substitudos por algoritmos executados em Labview. Utilizamos para o efeito um controlador PID existente nas bibliotecas do Labview. A figura 4.3.1 apresenta a implementao do controlador.

Figura 4.3.1: SubVI PID controler

O SubVi desenvolvido tem como parmetros de entrada a temperatura desejada (0-800 C), a temperatura actual lida pelo termopar ( 0-800oC ) e devolve sada uma a tenso proporcional as suas entradas que varia de 0,4V a 2V, valores que permitem accionar o controlador de potncia(PAC15P0013081), o PID utilizado ainda tem a funcionalidade de autotuning [3]. Para acondicionamento dos sinais dos termopares foram desenvolvido o SubVI tensao2temperatura e o SubVI temperatura2tensao, que implementam os polinmios (2.14) e (2.15) respectivamente, que foram descritos na seco 2.5.3.
o

4.3.1.Forno 1
O painel frontal referente ao forno 1 ( fig 4.3.2) constitudo por boto ON/OFF, um painel indicador da temperatura a que este de encontra (PV1(oC)), um boto de autotune, para sempre que o utilizador assim o entender proceder ao ajuste dos parmetros do PID, ainda construdo por um indicador do programa de temperatura que esta a ser sujeito a amostra, os valores da temperatura desejada (SP1(oC)) so tambm amostrados em cada em instante no painel frontal.

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Figura 4.3.2: painel frontal forno 1

O utilizador pode seleccionar at seis programas de temperatura diferentes, todos os programas podem ser alterados e reprogramados, programas construdos podem ser do tipo degrau ou rampa, o programa de temperatura que vai ser executado pelo forno durante o processo de anlise ser o que for previamente escolhido pelo o utilizador na tabela de programas (fig 4.3.3.) .

Figura 4.3.3: tabela de programas

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Figura 4.3.4: Exemplo de programao de rampa e degrau

4.3.1.1.Determinao das constantes do PID do forno 1

Com o objectivo de determinar as constantes para o controlador PID e uma vez desconhecido o modelo matemtico que caracteriza o forno foi utilizado o 1 mtodo de Ziegler Nichols, para o efeito foram determinas as curvas S para o sistema em malha aberta. Uma vez que o forno 1 vai estar sujeito as variaes de temperatura que vai dos 30oC a 800 foram obtidas varias curvas para diferentes para vrios valores de temperatura. Na tabela que se segue to registados os valores que se obtiveram referentes a 1 mtodo de Ziegler Nichols. Atravs dos valores obtidos das curvas S ajustou-se o modelo de primeira ordem com tempo morto que do tipo da equao 4.1.para vrios valores de temperaturas.
G s = Kp T1s e (4.1) Ta s 1

Na posse do modelo matemtico foi simulado em Matlab a resposta do forno ao degrau efectuando assim os ajustes necessrios nos parmetros determinados pelo mtodo de Ziegler Nichols. Temperatura 150oC 350oC 500oC 600oC 1000oC Kp 19,7 16,00 17,00 14,00 15 Ti 1,1 0,32 0,35 0,25 0,2 Td 0.09 0 0 0 0

Tabela 4.1: parmetros do PID em funo da temperatura de operao

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4.3.2.Forno 2
O painel frontal (fig4.3.4) referente ao forno 2 de todo semelhante ao forno1 s com a excepo deste ter s a funcionalidade de ser inserida uma temperatura(SP(oC)), sendo esta temperatura constante ao longo de todo o processo .

Figura 4.3.5: Painel Frontal forno 2

4.3.2.1.Determinao das constantes do PID do forno 2

No segundo forno foi aplicado o mesmo mtodo aplicado acima, neste caso devido ao facto deste operar a uma temperatura constante foi determinada apenas uma curva S para um valor de temperatura mais adequado a temperatura a que este tem de operar. As seguintes constantes foram utilizadas. temperatura 650oC kp 14,5 Ti 0,5 Td 0

Tabela 4.2: parmetros do PID do segundo forno

4.3.3.Esquemas e hardware
Devido ao facto da DAC da placa de dados no ter corrente suficiente para accionar os controladores de potncia (4 a 20mA) fui implementado um circuito adicional para ataque a estes, para este efeito fui amplificador ligado como buffer de tenso, este tem capacidade de driver suficiente para gerar a corrente necessria. sada da DAC temos uma tenso que varia de 0,4 a 2V gerada pelo controlador PID, esta ser aplicada aos controladores que possuem uma resistncia de entrada de 100 gerando assim a corrente necessria para o controlo destes.

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Figura 4.3.6: circuito buffer

Um outro aspecto a ter em considerao foi proceder compensao das junes frias, para esse efeito foi utilizado o seguinte circuito.

Figura 4.3.7: compensao da juno fria O circuito mede a temperatura ambiente que posteriormente ser adicionada ao valor medido pelos termopares efectuando assim a compensao da juno fria. Para converter a tenso lida na temperatura correspondente foi desenvolvido um SubVI que implementa a seguinte equao.

T C =

V lido 2.731 10mV

(4.1)

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4.4.Painel frontal
Algumas alteraes foram efectuadas no painel frontal, alm dos painis referentes aos fornos, foi acrescentado uma escala de temperatura ao grfico que regista as temperaturas do forno 1 em cada instante, no grfico anterior era registado um valor de tenso proporcional ao valor de temperatura o que no permitia ao utilizador ter uma noo exacta da equivalente temperatura. Foi ainda acrescentado um bloco onde o utilizador pode consultar o valor da amplitude do sinal do laser. O inicio do processo de anlise d-se quando o utilizador preciona o boto de start, existente no painel frontal, dando incio ao setpoint previamente seleccionado para o forno 1.

Figura 4.4.1: Indicador da amplitude do laser

Figura 4.4.2: Novo Painel Frontal

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5. Anlise e apresentao de resultados

No presente captulo sero apresentados os resultados obtidos depois de terem efectuadas as alteraes descritas no captulo anterior e faz uma comparao deste novo sistema como o sistema j existente.

5.1.Aquisio e filtragem

Figura 5.1.1: sinal do laser

Figura 5.1.2: sinal do laser filtrado

Figura 5.1.3: FFT do sinal do laser

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Figura 5.1.4: FFT do sinal do laser filtrado Da anlise das formas de onda captada pelo detector (fig 5.1.1) temos um sinal com uma frequncia de 1Khz tal como esperado e observando as densidades espectrais do sinal no filtrado e filtrado, figura 5.1.3 e figura 5.1.4 respectivamente, uma forte componente na faixa dos 50 Hz mas esta no aparece no sinal depois de filtrado. Afim de se verificar a correcta filtragem de fontes externas ao sinal do laser procedeu-se ao aquecimento do forno1 (contm amostra) e com o laser desligado procedeu-se aquisio do sinal captado pelo detector, o resultado pode ser verificado na figura seguinte.

Figura 5.1.5: Rudo captado pelo detector

Pela anlise da figura (5.1.5) verificamos que temos valores de rudo reduzidos contudo existe um aumento da amplitude do sinal captado aquando o forno atinge temperaturas da ordem dos 850oC, situao no qual o rubor provocado pelo a resistncias de aquecimento bastante significativa. Nesta fase foi efectuado o mesmo teste com um filtro do tipo IIR e foi verificado que este reduz a amplitude resultante na parte final do programa, contudo este mais sensvel as pequenas variaes do sinal proveniente do detector verificando que este provocava pequenos flutuaes no sinal filtrado tendo se optado pela utilizao do filtro FIR.

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5.2.Curvas de temperatura 5.2.1.Forno 1

Na presente seco sero apresentadas a reposta do forno para vrios setpoints (SP), os setpoints escolhidos tem como base os patamares mais crticos do programa de temperatura no qual o forno 1 vai estar sujeito, como verificar mais adiante nesta seco. SP =150oC

Figura 5.2.1: evoluo da temperatura ( sp=150oC) PV1-temperatura do forno 1 SP1-setpoint SP= 350oC

Figura 5.2.2: evoluo da temperatura ( sp=350oC) PV1-temperatura do forno 1 SP1-setpoint

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SP= 600oC

Figura 5.2.3: evoluo da temperatura( sp = 600oC) PV1-temperatura do forno 1 SP1-setpoint Pela anlise das figuras acima podemos concluir que difcil controlar o forno para temperaturas mais baixas (sp1=150 a 350oC), obtendo um elevado overshoot e tempos de estabelecimento muito elevado, o mesmo j no se verifica para valores mais elevados de temperatura (sp1>350oC) onde temos uma resposta considerada ideal sem overshoot e um erro em regime estacionrio nulo.

5.2.2.Forno 2
SP= 650oC

Figura 5.2.4: evoluo temperatura (sp= 650oC) SP1 -setponit do forno 2 PV2-temperatura no forno 2

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Pela anlise da figura conclumos que efectivamente obtemos um erro em regime estacionrio nulo contudo o tempo de resposta bastante lento, o qual no impeditivo visto que a funo deste forno simplesmente operar a uma temperatura constante ao longo do processo de anlise.

5.2.3.Programas de temperaturas
Nesta seco sero apresentados os grficos da evoluo da temperatura em ambos os fornos para os programas mas usados no processo de anlise das amostras

5.2.3.1.Programa amostra

Figura 5.2.5: programa de temperatura completo de anlise da amostra via controle PID Labview A curva a verde representa a temperatura desejada (SP1) do forno 1 e a vermelho (PV1) a evoluo da temperatura neste, convm realar o problema do controlo para temperaturas baixas como se pode verificar no grfico acima no se consegue um controlo de temperatura perfeito para temperaturas inferiores aos 350oC. A curva a branco (PV2) representa a temperatura do forno 2 que tem de se manter ao longo do processo a 650oC

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5.2.3.2.Programa padro

Um programa muito utilizado o programa padro que consiste em gerar uma rampa at aos 800oC onde permanecer a esta temperatura durante um determinado perodo.

5.3.Analise de vrias amostras 5.3.1.Filtro branco

Figura 5.3.1: anlise de um filtro branco A figura acima apresenta o processo de anlise de uma amostra de um filtro branco (amostra que no contm qualquer partcula de carbono ). A amostra sujeita a um aumento de temperatura, neste caso um processo de aquecimento em rampa, e como era de esperar a amplitude do laser no variou ao longo do processo de

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temperatura, caracterstica deste tipo de amostra visto que no ocorre o enegrecimento deste, consequncia da pirlise dos compostos carbonosos.

5.3.2.Filtro sujo

Figura 5.3.2: anlise de um filtro sujo

Na figura acima est representado o processo de anlise de uma amostra de um filtro sujo contendo partculas de carbono, esta sujeita a um processo de temperatura que varia ao longo do processo de anlise libertando assim as partculas de carbono existente na amostra, o material libertado determinado atravs de um analisador de CO2, linha a verde, que se encontra ligado na extremidade do forno. Como j referido o processo de aquecimento vai originar a libertao do carbono bem como a pirlise de alguma parte deste provocando assim o enegrecimento da amostra e consequente reduo da amplitude do sinal do laser que atravessa a amostra. A monitorizao desta amplitude vai permitir saber qual o instante em que estamos na presena de carbono orgnico ou negro, no instante em que a amplitude do laser igualar o seu valor inicial passamos a estar na presena de carbono negro, uma vez que o carbono orgnico o que se liberta primeiro, a amplitude deste vai continuar a reagir at atingir o valor equiparado a um filtro branco.

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6. Concluses
Quanto aos objectivos inicialmente proposto podemos concluir que ambos foram compridos. No que diz respeito a substituio do conjunto laser, chopper e amplificador Lockin por um laser pulsado e respectivo algoritmo de filtragem podemos concluir que este efectua bem a filtragem contudo verificou-se que a potncia do laser muito reduzida, facto importante quando se pretende analisar filtros com bastante teor de poluio, uma vez que a luz do laser no atravessa essas amostra. Quanto a substituio dos controladores PID actualmente em uso pelo o algoritmo executado em Labview utilizando para o efeito o PID fornecido nas bibliotecas deste programa pode se concluir que o mesmo efectua correctamente o controlo de ambos os fornos apesar de haver uma dificuldade de reduzir o tempo de estabelecimento e o problema da sobreelevao quando estamos na presena de valores de temperatura na gama dos (150oC aos 350oC), isto relativo ao forno1. No caso do forno2 onde este apenas tem de trabalhar a uma temperatura constante o controlo deste bem efectuado uma vez que se consegue um erro em regime estacionrio nulo. Um aspecto a ter em considerao o facto de se verificar uma ligeira variao da amplitude do laser ao longo da anlise sobretudo para valores de temperatura elevados, vrios testes foram efectuados para determinar as causas de tal comportamento mas a causa ainda continua por determinar, reala-se o facto que este comportamento no impeditivo para a realizao das anlises uma vez que o instante em que ele ocorre a amostra s possui carbono negro.

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7. Trabalhos futuros
Com vista a optimizar ainda mais este equipamento para especificao de carbono e no que diz respeito ao processo de controlo de temperatura, seria til implementar o controlador com lgica difusa em vez do tpico controlo via PID visto o processo de aquecimento do forno no ser linear em toda a sua gama de funcionamento, sendo assim o controlador iria adaptar-se as diferentes zonas de funcionamento obtendo-se assim um melhor controlo da temperatura. Um dos aspectos a ter em considerao seria a substituio dos controladores de potncia com um controlo mais fino em vez da soluo dos tiristores uma vez que o controle destes no seja muito suave. Um dos aspectos a considerar seria implementar tambm um sistema de arrefecimento, tal ajudaria no problema dos elevados overshoots para temperaturas mais baixas pois iria acelerar o processo de arrefecimento do forno.

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Referncias
[1] National Instrumnets :Labview fundamentals ,August, 2007. [2] National Instrumnets :Getting_Sarted,August, 2007. [3] National Instruments:PID control Toolkit User Manual,August, 2007. [4] National Instruments:Measurrements Manuual,April, 2003. [5] National Instruments: M Series User Manual,December, 2007 [6] J.P.L: Amplificador De LOCK-IN, Universidade de Aveiro, Dezembro, 1990. [7] Joo Vaz, Jorge Castanheira: Avaliao e Optimizao de um Mtodo Termo-ptico de Anlise de Carbono Particulado Atmosfrico, Departamento de Ambiente e Ordenamento da Universidade de Aveiro, Julho, 2005. [8] Filipe Raimundo: Metodologia Analtica para Medir e Carbono,Departamento de Electrnica e telecomunicaes, Julho, 2007. Especiar o

[9] Daniel Sborgi Ribeiro e Tiago Giriboni da Rosa:Monitoramento de sinais na indstria: proposta de uma soluo abrangendo hardware e software, II Encontro de Engenharia e Tecnologia dos Campos Gerais [10] Pio, C.A.; Castro, L.M.; Ramos M.O. [1994]: Differenttiated of Organic and Elemental Carbon in Atmospheric Aerosol Particles by a Thermal-Optical Method, G. Angletti and Restlli, Proc. Sixth European Symp. on Physico-Chemical Behaviour of Athmosphric Pollutants, European Comission Report EUR 15609/2 EN, pp 706-710. [11] Antnio Pereira de Melo: Apontamentos de Sistemas de controlo. [12] Joo Paulo Coelho,controlo digital:material de apoio as aulas,Instituto Politcnico de Bragana. [13] Pedro Fonseca, Sistema de instrumentao Electrnica, Edio 2006/2007. [14] Alexandre Mota, controladores elementares,Fevereiro ,2003 [15] Alexandre Mota, Teoria de Sistemas, DETUA, 1998.

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[16] Hamamatsu: Characteristics and use of Si APD(Avannche Photodiode). [17]Benedict, B. C.(1984) Fundamentals of temperature, Pressure and Flow Measurments. [19] Avaliao da Determinao de Carbono Orgnico e Carbono Negro por um Mtodo Termo ptico, Joana Afonso.

[18] International Temperature Scale of 1990.(ITS-90) [19] http:// zone.ni.com/devzone/cda/tut/p/id/5053 [20 ]http:// www.ni.com/ [21 ] http://srdata.nist.gov/its90/main/

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Anexos
Anexo A Esquemas elctricos e aparelhagem elctrica

figura A.1:fonte de alimentao dos opamp's

figura A.2: caixa para acondicionamento de sinais

Figura A.3:Tiristores de potncia PAC15P0013081

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figura A4:placa de aquisio de dados com circuito de compensao da juno fria

Figura A5:Esquema do analisador

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Anexo B Curvas S
Forno 1
350 c u rva s y m ax 300

250

200

150

100

50
X : 0 .1 8 3 3 Y : 2 0 .3 3

10

15

20

25

30

35

40

figura B1: curva S fornecendo ao tiristor de potncia uma corrente de 10 mA

500 d a ta 1 y m ax 450

400

350

300

X : 7 .3 6 7 Y : 288

250

200

150

100

50

10

15

20

25

30

35

40

45

figura B2: curva S fornecendo ao tiristor de potncia uma corrente de 14 mA

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600

d a ta 1 y m ax

500

400

300

200

100

10

15

20

25

30

figura B3: curva S fornecendo ao tiristor de potncia uma corrente de17 mA

forno 2

700 d a ta 1 y m ax

600

500

400

300

200

100
X : 0 .5 3 3 3 Y : 2 3 .4 2

10

15

20

25

30

35

40

45

figura B4: curva S fornecendo ao tiristor de potncia uma corrente de 12 mA

Anexo C cd com cdigo em Labview

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