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Sumrio

1. Introduo ................................................................................................................................ 6 2. Objetivos .................................................................................................................................. 7 3. Fundamentao Terica ........................................................................................................... 7 3.1 Definio ............................................................................................................................. 7 3.2 Princpios da tica Geomtrica .......................................................................................... 7 3.3 Deflexo da Luz .................................................................................................................. 8 3.3.1 Leis da Reflexo .......................................................................................................... 8 3.4 Refrao da Luz .................................................................................................................. 8 3.4.1 Leis da Frao ............................................................................................................. 8 3.5 Decomposio da Luz ......................................................................................................... 9 3.5 Refringncia ........................................................................................................................ 9 3.6 Fundamentos de Fotoelasticidade ..................................................................................... 10 3.6.1 Luz e Polarizadores ................................................................................................... 10 3.6.2 Polarizao de ondas luminosas ................................................................................. 10 3.7 Determinao de Isoclnicas ............................................................................................. 14 3.8 Determinao de Isocromticas ........................................................................................ 15 3.9 Mtodo de Compensao de Tardy................................................................................... 16 3.10 ndice de refrao ........................................................................................................... 17 3.10.1 Lei da Dupla Refrao Temporria ......................................................................... 17 3.11 Fotoelasticidade Bidimensional ..................................................................................... 18 3.12 Mtodos de Calibrao de Materiais Fotoelsticos ........................................................ 19 4. Materiais e Equipamentos ...................................................................................................... 20 5. Procedimento Experimental ................................................................................................... 21 6. Anlise dos Resultados .......................................................................................................... 24 7. Concluses ............................................................................................................................. 30 8. Referncias Bibliogrficas ..................................................................................................... 31 ANEXO I Materiais Fotoelsticos e Aplicaes ...................................................................... 32

Lista de Figuras
Figura 1 - (a) Propagao retilnea; (b) Reversibilidade; (c) Independncia .............................. 8 Figura 2 - Reflexo regular da luz................................................................................................ 8 Figura 3 - Leis da refrao da luz................................................................................................. 9 Figura 4 - Ilustrao do conceito de refringncia ....................................................................... 10 Figura 5 - Polarizao da luz. ..................................................................................................... 10 Figura 6 - Montagem tpica de um polarizador em laboratrio. ................................................ 11 Figura 7 - Modelo carregado em um polariscpio plano ........................................................... 13 Figura 8 - Modelo carregado em um polariscpio circular ........................................................ 14 Figura 9 - Representao das isoclnicas.................................................................................... 14 Figura 10 - Representao das isocromticas ............................................................................ 15 Figura 11 - Mtodo de Tardy ..................................................................................................... 16 Figura 12 - Modelo de disco carregado...................................................................................... 19 Figura 13 - Modelo de viga retangular carregada ...................................................................... 19 Figura 14 - Modelo de corpo-de-prova de trao carregado ...................................................... 20 Figura 15 - Polariscpio ............................................................................................................. 20 Figura 16 - Clula de carga e indicador ..................................................................................... 21 Figura 17 - Dispositivo de carga ................................................................................................ 21 Figura 18 Paqumetro .............................................................................................................. 21 Figura 19 - Medio do disco utilizando o paqumetro ............................................................. 22 Figura 20 - Aplicao da carga no disco .................................................................................... 22 Figura 21 - Pontos selecionados para avaliao no experimento ............................................... 23 Figura 22 - Grfico plotado entre a carga aplicada e o numero de franjas mdias para posterior obteno da constante ptica ....................................................................................................... 25 Figura 23 - Imagem representativa ilustrando os pontos do disco, desenhada no Software Catia. ..................................................................................................................................................... 26 Figura 24 - Grfico relacionando as tenses cisalhantes para cada ponto. ................................ 27 Figura 25 - Grfico mostrando a diferena entre a tenso mxima experimental (azul) e a terica (vermelha). ...................................................................................................................... 29 Figura 26 - Disco de resina (material fotoelstico), sob ao de uma carga qualquer. .............. 32 Figura 27 - Tenses causadas pelo implante dentrio. ............................................................... 33 Figura 28 - Tenses em placas metlicas. .................................................................................. 33 Figura 29 - Franja sobre os pontos de interesse na regio dos rebites de uma placa de aplicao aeronutica. ................................................................................................................................. 33

Lista de Tabelas

Tabela 1 - Cores em fotoelasticidade ......................................................................................... 12 Tabela 2 - Anotaes dos dados geomtricos do disco fotoelstico........................................... 23 Tabela 3 - Ordem de franjas e ngulos de rotao anotados para cada carga P nos ensaios (1a etapa) ........................................................................................................................................... 23 Tabela 4 - Ordem de franjas e ngulos de rotao anotados para a carga P=0,61kgf para os 5 pontos diferentes (2a etapa) ......................................................................................................... 23 Tabela 5 - Dados experimentais obtidos em laboratrio para realizar a calibrao ................... 24 Tabela 6 - Valores experimentais par a carga P = 0,61kgf ......................................................... 27 Tabela 7 - Dados necessrios para o clculo das tenses mximas tericas. ............................. 28 Tabela 8 - Tenses tericas ........................................................................................................ 28 Tabela 9 - Comparao entre tenses mximas tericas e experimentais .................................. 29

1. Introduo

A fotoelasticidade uma tcnica experimental para anlise de tenses e/ou deformaes particularmente til para estudos em partes com formas complicadas, distribuies complexas de cargas ou ambas. Para estes casos, mtodos analticos tornam-se inviveis ou impossveis de serem aplicados, fazendo dos mtodos experimentais uma soluo realstica. Mesmo sendo uma tcnica descoberta em 1912 pelo pesquisador David Brewster, tem sido utilizada at ento na engenharia e biomecnica. David Brewster foi o primeiro pesquisador a observar os efeitos fotoelsticos quando realizou pesquisas de propriedades ativas de alguns materiais slidos e transparentes. Observou que slidos com caractersticas isotrpicas, quando submetidos a esforos, transformavam-se em anisotrpicos, e que o grau de anisotropia era proporcional magnitude da deformao do material. A passagem da luz polarizada atravs de um modelo confeccionado com material fotoelstico sob tenso ir gerar franjas luminosas escuras ou coloridas, formar desenhos que, uma vez analisados e medidos, iro determinar as deformaes e tenses do material, com as quais apresenta relaes matemticas precisas. A fotoelasticidade permite realizar anlise qualitativa e quantitativa que podem ser classificadas como plana ou tridimensional de transmisso e de reflexo. A anlise fotoelstica tambm muito utilizada em problemas onde h necessidade de informaes das tenses e/ou deformaes em uma grande rea da estrutura, uma vez que uma tcnica tica de campo contnuo, fornecendo uma imagem geral da distribuio das tenses, ao invs de informaes ponto a ponto. Assim a fotoelasticidade pode ser usada para localizar reas com nveis altos de tenses, para determinar as mximas tenses em pontos na superfcie e no interior da estrutura, bem como identificar reas com baixas tenses onde o material utilizado sem eficincia. Problemas envolvendo geometrias planas e tridimensionais, assim como estudos na superfcie de uma estrutura, tambm podem ser resolvidos usando os mtodos fotoelsticos. Esses estudos criam aplicaes utilizando este mtodo na rea envolvendo a biomecnica e mecnica dos implantes ortopdicos e partes de algumas estruturas do esqueleto humano, como: parafusos pediculares, vrtebras e coluna. Algumas dessas linhas de pesquisas so desenvolvidas no Laboratrio de Projetos Mecnicos (LPM) da Universidade Federal de Uberlndia (UFU). Neste relatrio foi feito o estudo das tenses em um disco comprimido diametralmente, utilizando a tcnica de fotoelasticidade.

2. Objetivos Esta aula prtica tem como objetivos: determinar, experimentalmente, nveis de tenses cisalhantes que atuam na direo perpendicular linha de aplicao da carga concentrada em um disco comprimido diametralmente; obter a constante fotoelstica do material do disco (por calibrao da resina do disco); determinar, teoricamente, o campo de tenses para o modelo fotoelstico do disco e, tambm, comparar os resultados experimentais com os tericos. 3. Fundamentao Terica 3.1 Definio A fotoelasticidade definida com a tcnica experimental para anlise de tenses e de deformaes atravs da utilizao de modelos constitudos de polmeros transparentes os quais apresentam anisotropia ou birrefringncia quando deformados, exibindo um fenmeno de dupla reafrao. Esses fenmenos so observados atravs da luz polarizada plana ou circular. O fenmeno da dupla refrao acidental foi descoberto em 1813 por Seebeck e em 1816 foi relacionado com o estado de deformao do meio transparente por David Brester, o qual apresentou um relatrio sugerindo a possibilidade da determinao experimental de tenses a partir de modelos estruturais transparente. O uso da fotoelasticidade teve um grande avano no sculo XX, a partir dos trabalhos de Cooker e Filon, na Inglaterra, de Foppl na Alemanha e de Frocht nos Estados Unidos. A foto elasticidade utiliza os conceitos da tica como, por exemplo, propagao da luz, polarizao, refringncia, entre outros. Alguns dos conceitos so apresentados na sequencia. 3.2 Princpios da tica Geomtrica 1) Princpio da Propagao Retilnea da Luz Em meios homogneos a luz se propaga em linha reta. 2) Princpio da Reversibilidade A trajetria dos raios no depende do sentido de propagao. 3) Princpio da Independncia dos Raios de Luz Cada raio de luz se propaga independe dos demais. A Figura 1 a seguir ilustra os trs princpios apresentados.

(a)

(b)

(c)

Figura 1 - (a) Propagao retilnea; (b) Reversibilidade; (c) Independncia

3.3 Deflexo da Luz O fenmeno da reflexo regular da luz ocorre sempre que um feixe luminoso incide sobre uma superfcie espelhada. Ao retornar para o meio de origem, os raios luminosos so desviados numa nica direo. A Figura 2 ilustra o fenmeno da reflexo regular da luz e suas caracterstica que so: raio incidente, raio refletido, ponto de incidncia, linha normal, ngulo de incidncia e ngulo de reflexo.

Figura 2 - Reflexo regular da luz.

3.3.1 Leis da Reflexo Primeira Lei: O raio incidente, o raio refletido e a normal superfcie de incidncia esto contidos num mesmo plano. Segunda Lei: O ngulo que o raio de reflexo forma com a normal igual ao ngulo que o raio de incidncia forma com a normal.

3.4 Refrao da Luz Quando um raio de luz atravessa a superfcie de separao entre dois meios transparentes (como, por exemplo, o ar e a gua), sua direo original de propagao desviada. Esse fenmeno definido como refrao da luz. Como a velocidade de propagao de uma onde depende do meio em que ela se propaga, toda vez que a onda atravessa obliquamente a superfcie de separao de dois meios, ela muda de direo, ou seja, sofre refrao. 3.4.1 Leis da Frao As leis de refrao para a luz, ilustradas na Figura 3, so: 8

Primeira Lei: O feixe incidente, o feixe refratado e a normal esto no mesmo plano. Segunda Lei: constante a relao entre o seno do ngulo de incidncia e o seno do ngulo de refrao. A segunda lei pode ser expressa pela Eq. (1) abaixo: (1)

Terceira Lei: O raio incidente e os raios refratados esto sempre em semiplanos opostos, separados pela normal N.

A Eq. (1) pode ser rescrita da seguinte forma: (2) Sendo e as velocidade da luz, respectivamente, nos meios 1 e 2.

Figura 3 - Leis da refrao da luz.

3.5 Decomposio da Luz A luz pode ser fisicamente separada. A luz branca composta por sete cores visveis que so: vermelho, alaranjado, amarelo, verde, azul, anil e violeta. Cada uma dessas cores denominada luz monocromtica ou radiao monocromtica, que significa uma cor s. 3.5 Refringncia Refringncia se refere ao ndice de refrao de um meio. Todo meio homogneo, transparente e istropo um meio refringente. Um meio mais refringente que o outro quando seu ndice de refrao maior. Em outras palavras, referindo-se Figura 4, se o raio refratado aproxima-se da normal, o meio 2 mais refringente que o meio 1; se o raio refratado afasta-se da normal, o meio 2 menos refringente que o meio 1.

(a)

(b)

Figura 4 - Ilustrao do conceito de refringncia

3.6 Fundamentos de Fotoelasticidade 3.6.1 Luz e Polarizadores O efeito fotoelstico pode ser explicado pela teoria eletromagntica de propagao da luz, a partir da equao de onda. A cada cor corresponde um comprimento de onda. Toda a teoria pode ser explicada para apenas um comprimento de onda, . Se for utilizada a luz branca, como a mesma composta de sete cores, deve-se considerar todos os comprimentos de onda, cada um correspondente a uma cor e a resposta fotoelstica estudada a partir dos efeitos correspondentes a cada um dos comprimentos de onda. Deve-se utilizar um filtro polarizador o qual admite apenas um plano de propagao de vetores eltricos. 3.6.2 Polarizao de ondas luminosas Diz-se que uma onda polarizada quando suas vibraes so todas paralelas, ou seja, quando os pontos vibram num nico plano. Obtm-se assim, luz polarizada fazendo a luz natural atravessar uma placa denominada polaride, que absorve todas as vibraes luminosas, exceto aquelas que se realizam numa determinada direo. A polarizao s ocorre em ondas transversais (Figura 5).

Figura 5 - Polarizao da luz.

O fenmeno da polarizao pode ocorrer por reflexo, por transmisso ou atravs de polarizadores. A polarizao por reflexo ocorre sempre que a luz se reflete numa superfcie polida, no metlica, sendo que as oscilaes paralelas superfcie se refletem com mais intensidade do que as oscilaes perpendiculares. No caso da polarizao por transmisso, o raio de luz ao atravessar o meio dividido em dois raios 10

polarizados em direes opostas. No caso de polarizao por meio de polarizadores, o polarizador atua como uma grade que s permite a passagem das oscilaes paralelas em vos. A luz polarizada tem caractersticas diferentes da no polarizada. Para saber se a luz polarizada ou no, deve-se dispor de um polarizador que atua como um analisador da direo de polarizao. Se o polarizador for girado e a intensidade da luz que o atravessa no se alterar, pode-se concluir que ela no polarizada. Se ela se reduzir, conclui-se que est polarizada e que, quanto maior a reduo da intensidade, maior a polarizao da luz incidente. A fotoelasticidade uma tcnica de campo global que fornece indicaes dos pontos mais sobrecarregados, os valores de tenses cisalhantes mximas e as direes principais. aplicvel em problemas bi e tridimensionais. Pode ser utilizada em laboratrio utilizando o mtodo de transmisso ou no campo, utilizando o mtodo de reflexo. Pode-se determinar quantitativamente a distribuio de tenses em componentes, localizando os pontos mais solicitados bem como suas direes principais, o que permite uma determinao mais detalhada das tenses em tais pontos crticos atravs de anlise por extensmetros eltricos. No caso de problemas de anlise de tenses bidimensionais pode-se usar um polariscpio de transmisso em escala de laboratrio ou de reflexo em laboratrio ou no campo. No caso de problemas de anlise de tenses tridimensionais, utiliza-se o mtodo de transmisso, utilizando-se o procedimento de congelamento de tenses e posterior corte em fatias. Na Figura 6 apresentado um esquema tpico de uma montagem para anlise de tenso, constitudo de uma fonte de luz branca ou monocromtica, um filtro de , o modelo a ser analisado, outro filtro de , e o observador.

Figura 6 - Montagem tpica de um polarizador em laboratrio.

A teoria da fotoelasticidade regida pela lei de Brewster a qual estabelece que velocidade de difrao diferentes ou ndices de difrao diferentes so provocados pelo estado de tenses no ponto. Matematicamente a lei de Brewster pode ser expressa como: (3) Na Figura 6, o polaride que est do lado da fonte de luz o polarizador; o que est do lado do observador o analisador. Esses dois polaroides podem ser girados por meio de um dispositivo mecnico podendo, pois, ser colocados em posies angulares relativas. Se, por exemplo, estiverem cruzados em relao origem, na ausncia de tenso mecnica, a luz no atravessa o modelo. Se esto submetidos a tenso mecnica, aparecero franjas. A resposta fotoelstica consiste de duas famlias de franjas que so 11

observada no modelo ou no prottipo. As duas famlias de franjas denominam-se respectivamente isocromticas e isoclnicas. Isocromticas constituem o lugar geomtrico dos pontos que possuem as mesmas diferenas de tenses principais, ou seja (4) sendo que: N a ordem da franja isocromtica que lido no polariscpio; t a espessura do modelo; um fator de calibrao tico do material utilizador; e e so as tenses principais paralelas ao plano do modelo ou fatia. Isoclnicas: o lugar geomtrico dos pontos cujas direes principais fazem ngulo zero ou 90 com os eixos do polariscpio. A Eq. (4) pode ser escrita tambm em termos de deformao, ou seja: (4) sendo o valor de franja expresso em termos de deformaes e: (5) Quando uma luz monocromtica utilizada, tem-se pontos claros, cinzas e negros. Quando se utiliza luz branca, as cores aparecem devido anulao de comprimentos de onda especficos. N=0 corresponde franja preta; N=1, tem-se passagem da franja vermelha para azul, correspondente a nm; N=2, tem-se a passagem da franja rosada para verde, correspondente a nm; N=3, tem-se a passagem da franja rosada para esverdeada, correspondente a nm. Na Tabela 1 so apresentadas os valores de ordem de franja N e a retardao correspondente para as diversas cores (correspondente ao comprimento de onda 575 nm, luz amarela).
Tabela 1 - Cores em fotoelasticidade

Cor Preto Cinza Branco Amarelo Laranja Vermelho Roxo Azul Laranja Rosa Violeta Verde

Retardao (mm) 0 160 260 350 460 520 577 620 940 1050 1150 1350

N 0 0,28 0,45 0,60 0,79 0,90 1,00 1,06 1,62 1,82 2,00 2,35 12

O polariscpio pode ser plano ou circular. Um polariscpio plano consiste de uma fonte de luz e de dois filtros polarizadores os quais so posicionados ortogonalmente. A intensidade da luz, I, aps o analisador zero na ausncia de um modelo fotoelstico e o eixo de polarizao, P, tambm o eixo de referncia zero do polariscpio. No polariscpio plano, com um modelo carregado, a intensidade da luz, I, observada para cada ponto de um modelo de material refringente proporcional ao quadrado da amplitude do vetor eltrico que atravessa o analisador. Pode-se escrever: (6) haver, ento, anulao da intensidade I no ponto observado quando se tiver; ou . a retardao angular igual a provocada pela diferena de tenses ; o ngulo que ou faz com o eixo de polarizao. Assim haver anulao da luz para todos os pontos para os quais se tem: , etc. O lugar geomtrico desses pontos sos as franjas isoclnicas; E etc. O lugar geomtrico destes pontos so as franjas isocromticas. Na Figura 7 esto ilustrados esses conceitos.

Figura 7 - Modelo carregado em um polariscpio plano

Um polariscpio consiste de um arranjo de elementos cruzados e o nome circular devido luz polarizada circular que se propaga entre os retardadores de de onda. Num polariscpio circular com um modelo carregado, a intensidade da luz independe das direes principais. Na posio cruzada a intensidade da luz proporcional ao quadrado do sendo de , ou oseja:

Assim, I= 0 para , ... ou N=0,1,2, ..., pois N= . Na Figura 8 est representado, de forma esquemtica um polariscpio circular com modelo carregado.

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Figura 8 - Modelo carregado em um polariscpio circular

3.7 Determinao de Isoclnicas As isoclnicas podem ser definidas como sendo o local geomtrico dos pontos do modelo que possuem a mesma direo das tenses principais, e estas coincidem com as direes de polarizao do polariscpio. So curvas pretas que aparecem no analisador de um polariscpio plano e seu valor pode ser determinado, girando-se o conjunto polarizador/analisador em relao ao modelo. A Figura 9 abaixo representa as isoclnicas de um disco sob compresso do dimetro vertical.

Figura 9 - Representao das isoclnicas

Para determinar as isoclnicas existem duas maneiras, a primeira diz respeito da obteno das isoclnicas no campo do modelo, e a segunda determina as mesmas de forma individual para cada ponto de interesse. Segue abaixo algumas regras que devem ser seguidas para facilitar o uso e a determinao das isoclnicas. A isoclnica deve coincidir com um eixo de simetria do modelo. Todas as isoclnicas devem passar atravs de pontos de carga concentrada. A tenso principal no contorno uma tenso tangencial e o parmetro da isoclnica coincide com a inclinao do contorno no ponto de interseco. Em eixos de simetria no existem tenses de cisalhamento. Os parmetros das isoclnicas podem ser utilizados para determinar as tenses de cisalhamento em um plano arbitrrio definido por um sistema de coordenadas XY. 14

3.8 Determinao de Isocromticas As isocromticas so definidas como sendo o lugar geomtrico dos pontos que apresentam o mesmo valor para a diferena entre as tenses principais. Este parmetro mais facilmente identificado no polariscpio circular, que tem a propriedade de eliminar o parmetro da isoclnicas. Se a fonte de luz utilizada for monocromtica, as isocromticas se apresentam como faixas escuras. Quando a fonte de luz branca, as isocromticas so formadas por faixas luminosas de diferentes coloraes dependendo da ordem de franja, N. A imagem a diante mostra um disco sob compresso analisado em um polariscpio circular sob luz branca. Observa-se que no existem as isoclnicas sobre o modelo.

Figura 10 - Representao das isocromticas

A tcnica valida para vrios tipos de modelos, sendo que as ordens de franja em um ponto do modelo podem ser obtidas de duas formas: Fotografa-se ou analisam-se as ordens de franjas inteiras que correspondem as fases mltiplas do comprimento de onda de luz utilizada. No caso estudado no laboratrio o espectro observado no analisador, apresenta coloraes diferencias para as ordens de franja. Geralmente, para se determinar a ordem de franja de pontos fora das franjas de ordem inteira faz-se uma interpolao ou extrapolao das isocromticas. Ao se utilizar os mtodos de compensao podem-se conseguir medidas mais prximas do valor verdadeiro, ou seja, ordens de franja fracionrias, o mtodo mais utilizado o mtodo de compensao de Tardy. Novamente para este caso, existem algumas regras que devem ser seguidas para facilitar o uso e a determinao das isocromticas. Se no houver carregamento no contorno possvel obter ou . Lei ptica das tenses em qualquer modelo fotoelstico determina a diferena das tenses principais . Se e ento , ou seja, possvel obter a tenso cisalhante mxima. Entre outras.

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3.9 Mtodo de Compensao de Tardy Aps compreender a determinao do numero de franjas inteiras que mostrado na Tabela 1 e analisando a Figura 11 a seguir, pode-se entender a determinao de ordens de franja fracionrias em um ponto qualquer do modelo usando compensao de Tardy.

Figura 11 - Mtodo de Tardy

A seguir sero listados alguns passos para se utilizar o mtodo com nfase. Passo 1: Primeiro efetua-se o ajuste do polariscpio na polarizao plana, a seguir, gira-se o conjunto polarizador/analisador at que uma isoclnica passe pelo ponto em questo. Fixa-se o conjunto nesta posio, fazendo com que os eixos de polarizao fiquem alinhados com a direo das tenses principais. Passo 02: Adiciona-se as duas placas retardadoras de de onda fazendo um ngulo de 45, com os eixos de polarizao, com isso passa-se o ajuste do polariscpio de plano para circular, fazendo com isto, desaparecer isoclnicas, ficando somente as isocromticas. Passo 03: Analisa-se o espectro, assinalando as ordens de franja de valores inteiros ao lado do ponto que se quer analisar. Identificam-se assim as ordens de franjas prximas ao ponto de interesse. Passo 04: Gira-se o analisador, observando cuidadosamente o movimento das franjas, at que uma das franjas de ordem inteira passe pelo ponto. No transferidor do polariscpio l-se o ngulo de rotao ( ). Passo 05: Se a franja que se moveu em direo ao ponto for de ordem menor (n1) tem-se que a ordem de franja fracionria no ponto dada pela seguinte relao: (7) Mas se a franja que se moveu for de ordem mais alta (n2), pode-se da mesma forma obter a equao representativa: 16

(8) As ordens de franjas de trao e compresso so exatamente iguais, por causa disso deve-se ficar atento quando for executar as contas. Alm disso, nas superfcies livres, as direes das tenses principais so tangentes e perpendiculares superfcie, respectivamente. A tenso principal perpendicular superfcie nula, se no existir carregamento. Assim, em uma superfcie livre, se a franja de ordem superior se mover em direo ao ponto, tem-se uma tenso de compresso neste ponto, e se a franja de ordem menor se mover em direo ao ponto, tem-se uma tenso de trao.
3.10 ndice de refrao A relao existente entre a velocidade de propagao da luz no vcuo e a velocidade de propagao da luz em um material conhecida como ndice de refrao absoluto. Quando se relaciona as velocidades de propagao da luz entre dois diferentes materiais, tem-se o ndice de refrao relativo de um meio em relao a outro meio. Em corpos homogneos e isotrpicos estes ndices so constantes e independem da direo de propagao. Alguns materiais como os plsticos, podem ser considerados homogneos quando esto sem nenhuma tenso aplicada, mas tornam-se heterogneos quando submetidos a uma tenso qualquer, assim verifica-se que a mudana no ndice de refrao funo da tenso aplicada. Ao analisar um caso especifico, pode-se se obter uma relao para o atraso relativo entre dois feixes de luz. O modelo ser plstico e transparente com espessura b, e com um determinado nvel de tenso, onde x e y so as direes das tenses principais em um ponto genrico. Um feixe de luz polarizada se propaga atravs do objeto, e se divide em dois feixes, estes se propagam nos planos x e y com velocidades dependentes das tenses aplicadas. Se as deformaes especificas ao longo dos eixos forem e , e as velocidades forem e , pode-se obter a formulao a seguir: (9) ( )

Onde: : ndice de refrao absoluto em relao ao eixo x. : ndice de refrao absoluta em relao ao eixo y. : fase entre dois feixes de luz. 3.10.1 Lei da Dupla Refrao Temporria Materiais transparentes no cristalinos so oticamente isotrpicos quando esto livres de tenses, mas tornam-se oticamente anisotrpicos quando solicitados. Este fato denominado dupla refrao temporria. Dos conceitos relativos variao dos nveis das tenses principais em funo dos ndices de refrao em materiais elsticos, desenvolvidos por Maxwell pode-se escrever as relaes, (10) 17

(11) Utilizando do conceito de retardadores de ondas, pode-se inferir a equao a seguir, que diz respeito diferena de fase angular a partir de uma relao com a diferena de fase linear , obtida anteriormente. (12) Da equao anterior e utilizando dos conceitos desenvolvidos por Maxwell, temse: (13) Onde: : Ordem de franja : constante ptica em termos da tenso Ao unirem-se as equaes anteriores, tem-se finalmente que, (14) Assim, a tenso cisalhante mxima fica determina por, (15) Portanto, a tenso cisalhante mxima pode ser determinada em toda a extenso do modelo conhecendo-se as ordens de franja no ponto analisado. 3.11 Fotoelasticidade Bidimensional Na fotoelasticidade bidimensional feita a anlise do estado plano de tenses. As tenses principais e so dadas por: Incidindo a luz na direo z v-se a diferena das tenses: ( ) (17) (16)

Regioes de tenses uniformes apresentam mesma ordem de franja, ou seja, constante, implica em N = constante. Em um contorno livre no h esforos externo aplicado e, portanto, a tenso nula. Este conceito utilizado para separar as tenses , pois neste caso, uma das tenses zero. O registro de isocromticas ou isoclnicas pode ser feito por meio da fotografia, por anlise de imagens, atravs de digitao de imagem ou por cpia da tela, em papel transparente.

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Observaes: um ponto de franja zero, onde se tem: denominado um ponto singular; um ponto de fanja zero quando se tem denominado um ponto isotrpico; isoclnicas de todos os valores passam pelos pontos isotrpicos e singulares, porque qualquer direo principal nesses pontos; isoclnica de um determinado valor, constante, deve passar por um eixo de simetria. Um eixo de simetria uma direo principal; os pontos de aplicao de carga admitem todos os valores de isoclnicas. 3.12 Mtodos de Calibrao de Materiais Fotoelsticos A calibrao de materiais fotoelsticos realizada com a finalidade de se obter o ou o . bem simples quando se conhece o estado de tenses em algum ponto do modelo e se l a ordem da franja naquele ponto. Os principais modelos que so normalmente utilizados para a calibrao so: um disco carregado; uma viga de seo retangular em momento e um corpo-de-prova de trao. No modelo de disco carregado determina-se no ponto central, o qual dado por (Figura 12): (18)

Figura 12 - Modelo de disco carregado

No modelo de viga retangular (Figura 13), o

dado por: (19)

Figura 13 - Modelo de viga retangular carregada

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No modelo de corpo-de-prova de trao (Figura 14),

dado por: (11)

Figura 14 - Modelo de corpo-de-prova de trao carregado

4. Materiais e Equipamentos Os materiais necessrios para a realizao do procedimento experimental so: 1) Polariscpio de transmisso: O polariscpio um instrumento que mede a diferena de fase que ocorre quando a luz polarizada passa atravs de um modelo fotoelstico tensionado, servindo para levar as ondas para um plano comum causando uma interferncia ptica entre elas.

Figura 15 - Polariscpio

2) Clula de carga com indicador: Utilizada para a medio da carga aplicada ao disco.

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Figura 16 - Clula de carga e indicador

3) Dispositivo de carga: Aplica a carga no disco.

Figura 17 - Dispositivo de carga

4) Paqumetro: Permite a medio dos dados geomtricos do disco fotoelstico.

Figura 18 Paqumetro

5. Procedimento Experimental No experimento ser utilizado um disco fotoelstico, o qual ser sujeito a uma carga vertical de compresso P. Trata-se de um disco flexvel, de resina. Antes de iniciar o experimento, utilizando um paqumetro, foram anotados os dados geomtricos do disco, como o dimetro e a espessura do mesmo, como mostrado na figura a seguir. 21

Figura 19 - Medio do disco utilizando o paqumetro

O experimento pode ser divido em duas etapas: 1 Etapa: O disco ser carregado por sete valores diferentes de fora P, que o solicitaro diametralmente, como mostra a figura abaixo. Para cada valor de carga, ser determinada a ordem de franja(N). Tendo-se esse conjunto de dados, ser obtida a curva de calibrao para a determinao da constante ptica do material do disco.

Figura 20 - Aplicao da carga no disco

2 Etapa: O mesmo disco ser carregado, novamente, para a obteno experimental das tenses de cisalhamento que ocorrem em cinco posies alinhadas paralelamente ao dimetro horizontal do mesmo, como mostrado na Figura 21. Tais tenses sero calculadas, utilizando-se a Lei ptica de Tenses, a partir do valor da constante fotoelstica, obtido na 1 Etapa.

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Figura 21 - Pontos selecionados para avaliao no experimento

A partir das descries acima, foram obtidas as seguintes anotaes dos ensaios:
Tabela 2 - Anotaes dos dados geomtricos do disco fotoelstico

Dados geomtricos do disco fotoelstico Dimetro (d) 39,70mm Espessura (h) 9,95mm
Tabela 3 - Ordem de franjas e ngulos de rotao anotados para cada carga P nos ensaios (1a etapa)

Carga Aplicada P (Kgf) 0,27 0,35 0,43 0,55 0,61 0,73 1,03

Parmetros pticos Ordem das Franjas Adjacentes ngulo de Rotao () N1 N2 (menor) (maior) 0 1 174 6 1 2 141 41 1 2 93 88 1 2 166 13 2 3 37 147 2 3 117 61 4 5 119 52

Tabela 4 - Ordem de franjas e ngulos de rotao anotados para a carga P=0,61kgf para os 5 pontos diferentes (2a etapa)

Pontos 1 2 3 4 5

Valor de carga aplicada = 0,61 Kgf Parmetros pticos Ordem das Franjas Adjacentes ngulos de rotao () N1 N2 (menor) (maior) 0 1 29 153 1 2 77 97 2 3 136 43 2 3 59 116 0 1 12 165

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6. Anlise dos Resultados Para efetuar os clculos, foram utilizados os dados coletados em laboratrio. Primeiramente foi realizada a calibrao. Para a realizao da mesma, um disco foi posicionado no polariscpio e o mesmo foi carregado por sete valores diferentes de fora P relativos ao ponto central do disco, que o solicitaro diametralmente. Para cada valor de carga, ser determinada a ordem de franja N. Tendo este conjunto de dados, ser obtida a curva de calibrao para a determinao da constante ptica do material do disco. A tabela abaixo mostra os dados coletados em laboratrio necessrios para a calibrao.
Tabela 5 - Dados experimentais obtidos em laboratrio para realizar a calibrao
Carga Aplicada P (Kgf) 0,27 0,35 0,43 0,55 0,61 0,73 1,03 Ordem das Franjas Adjacentes N1 N2 0 1 1 2 1 2 1 2 2 3 2 3 4 5 Parmetros pticos ngulo de Rotao () (menor) (maior) 174 6 141 41 93 88 166 13 37 147 117 61 119 52

Mtodo de Compensao de Tardy N(menor) N(maior) N(mdio) 0,97 0,97 0,967 1,78 1,77 1,778 1,52 1,51 1,514 1,92 1,93 1,925 2,21 2,18 2,194 2,65 2,66 2,656 4,66 4,71 4,686

A carga aplicada, as ordens das franjas adjacentes e os ngulos de rotaes foram obtidos diretamente pela balana (no caso da carga) e pelo polariscpio (para o restante dos dados). Utilizando o Mtodo de Compensao de Tardy, foi possvel o clculo de Nmenor e Nmaior utilizando-se das seguintes equaes:

Com posse dos valores de utilizando mdia aritmtica, portanto:

pode-se obter o valor de

Com os valores das cargas aplicadas (P) e os valores das franjas ( se traar o grfico PxN, ilustrado na figura abaixo:

), pode-

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Calibrao
1.2 Carga Aplicada (P) [Kgf] 1 0.8 0.6 0.4 0.2 0 0.000 0.500 1.000 1.500 2.000 2.500 3.000 3.500 4.000 4.500 5.000 y = 0.2066x + 0.1032

Nmero mdio de Franjas (Nmdio) Calibrao Linear (Calibrao)

Figura 22 - Grfico plotado entre a carga aplicada e o numero de franjas mdias para posterior obteno da constante ptica

No grfico acima se pode notar que tambm foi obtido a linearizao dos pontos, representada pela equao: No caso apresentado, a linearizao foi obtida automaticamente pelo programa Microsoft Excel. Porm, o mesmo resultado pode ser obtido utilizando as frmulas do mtodo dos mnimos quadrados, que so as representadas abaixo: ( ) ( ) )

onde A o coeficiente angular da reta de regresso e B o coeficiente linear da reta de regresso. Ou seja, A=0,2066 e B=0,1032. Sabe-se que a tenso no centro do disco dada por:

Utilizando a lei ptica das tenses e as equaes acima, possvel obter a equao da reta de calibrao utilizando o modelo do disco sob compresso, ou seja:

Sabendo o valor do coeficiente angular da reta de regresso obtida e com posse da equao da reta de calibrao acima, pode-se estimar o valor da constante ptica do material utilizado no experimento. Da equao acima, sabe-se que: P carga aplicada. No caso, P = 0,61 kgf; D dimetro do disco. No caso, D = 3,970cm; constante ptica, que se quer determinar; nmero mdio de franjas. 25

Tem-se que N a varivel independente, portanto o fator multiplicador de N se comportar como o coeficiente angular (A) da equao de regresso linear. Portanto:

Da equao de regresso linear, sabe-se que A = 0,2066. Portanto isolando tem-se que:

Portanto, a constante ptica do material utilizado corresponde a 0,1325kgf/cm. Com o valor da constante ptica possvel determinar as tenses cisalhantes mximas em qualquer ponto do disco. No experimento realizado, os pontos que foram feitas as medies esto representados na figura abaixo, com as respectivas cotas (em cm) dos eixos de referncia:

Figura 23 - Imagem representativa ilustrando os pontos do disco, desenhada no Software Catia.

Sabe-se que para determinar as tenses cisalhantes mximas nos pontos, necessrio utilizar da seguinte equao, que obtida atravs da Lei de BrewsterMaxwell (Lei ptica das tenses).

onde: N nmero de franjas. No caso, as mesmas podem ser determinadas do mesmo modo anteriormente citado (Mtodo de Compensao de Tardy); constante ptica do material; - espessura do disco. No caso, h = 0,995cm. 26

Fazendo os devidos clculos, possvel montar a tabela abaixo:


Tabela 6 - Valores experimentais par a carga P = 0,61kgf
Valor de carga aplicada = 0,61 Kgf Parmetros pticos ngulos de rotao () (menor) (maior) N(menor) N(maior) 29 153 0,16 0,15 77 97 1,43 1,46 136 43 2,76 2,76 59 116 2,33 2,36 12 165 0,07 0,08 Tenso Cisalhante Mxima N(mdio) mx(Kgf/cm) 0,156 1,444 2,758 2,342 0,075 0,01036 0,09618 0,18366 0,15591 0,00499 mx(kPa) 1,01356 9,41160 17,97254 15,25765 0,48868

Pontos 1 2 3 4 5

Ordem das Franjas Adjacentes N1 N2 0 1 1 2 2 3 2 3 0 1

Da tabela acima, nota-se dois valores da tenso cisalhante mxima. Isto porque os valores obtidos usando a fora em kgf e as medidas em centmetros retorna uma tenso em Kgf/cm. Portanto, utilizando das converses necessrias, possvel transformar a tenso para o sistema internacional, ou seja, em Pascais (Pa) (ou kPa, como na tabela). Esta converso feita pela multiplicao do valor obtido em Kgf/cm por 98. Tenses cisalhantes para cada ponto
20 18 16 14 12 10 8 6 4 2 0 P1 P2 P3 Pontos Experimental Figura 24 - Grfico relacionando as tenses cisalhantes para cada ponto. P4 P5

Como mtodo de comparao, necessrio obter as mesmas tenses cisalhantes, porm de maneira terica, utilizando a teoria da elasticidade, para que se possa determinar se o mtodo da fotoelasticidade um parmetro para se medir tenses ou no. Para obter as tenses cisalhantes mximas de modo terico, ser preciso primeiramente obter as tenses normais e a tenso cisalhante no plano. possvel obter as mesmas utilizando das seguintes equaes: * * + +

mx (kPa)

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* onde:

X e Y coordenadas cartesianas do ponto, com a referncia no centro do disco; P fora aplicada no disco. No caso, P = 0,61kgf; h espessura do disco. No caso, h = 0,995cm; R raio do disco. No caso, R = 1,985cm; D dimetro do disco. No caso, D = 3,97cm; [ ] ; [ ] . Com isso, possvel montar a seguinte tabela:

Tabela 7 - Dados necessrios para o clculo das tenses mximas tericas.

Pontos 1 2 3 4 5

X -1,34 -0,71 0 0,83 1,48

Dados tericos utilizados nos clculos Y R-Y R+Y 0,915 1,07 2,9 0,915 1,07 2,9 0,915 1,07 2,9 0,915 1,07 2,9 0,915 1,07 2,9

r1 2,9405 1,649 1,1449 1,8338 3,3353

r2 10,2056 8,9141 8,41 9,0989 10,6004

Com os dados da tabela acima, calculam-se as tenses. E com os valores de , possvel calcular utilizando a seguinte equao: ( )

Os valores das tenses utilizando as equaes acima descritas retornariam um valor na unidade kgf/cm2. Porm, utilizando das devidas converses, obtm-se as seguintes tenses, j no sistema internacional (SI):
Tabela 8 - Tenses tericas

Pontos 1 2 3 4 5

x (kPa) -0,776 1,342 9,620 0,327 -0,585

y (kPa) -4,734 -19,309 -39,244 -15,544 -2,875

xy (kPa) 9,86061 15,45980 4,54141 -6,91290 -2,95913

mx (kPa) 10,05729 18,59077 24,85085 10,52435 3,17289

Com os valores das tenses cisalhantes mximas experimentais e tericas, podese comparar os dois resultados, de maneira a comprovar se a fotoelasticidade um mtodo confivel ou no. Assim, sendo, utiliza-se a equao abaixo para determinar o erro percentual entre as duas tenses:

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Com isso, possvel construir a tabela abaixo:


Tabela 9 - Comparao entre tenses mximas tericas e experimentais

Pontos P1 P2 P3 P4 P5

mx exp (kPa) 1,01356 9,41160 17,97254 15,25765 0,48868

mx teor (kPa) 10,05729 18,59077 24,85085 10,52435 3,17289

Erro (%) 89,92217 49,37487 27,67838 44,97473 84,59828

Para tornar os dados da tabela mais visual, o grfico abaixo mostra a diferena entre os valores das tenses tericas e experimentais mximas: Comparao das Tenses Cisalhantes
30 25 mx (kPa) 20 15 10 5 0 P1 P2 P3 Pontos Experimental Terica P4 P5

Figura 25 - Grfico mostrando a diferena entre a tenso mxima experimental (azul) e a terica (vermelha).

O grfico anterior compara os valores encontrados para as tenses mximas experimentais e terica, essa diferena encontrada entre os dois valores, deve-se principalmente ao fato de que o procedimento experimental para a obteno das tenses ser muito influenciado pelo operador. A influncia deste encontrada na determinao de vrios valores experimentais, desde a obteno dos dados geomtricos do disco fotoelstico at na observao dos nmeros de franja, a qual requer experincia do observador e pode ser uns dos principais fatores para a discrepncia. Outro fator importante a determinao das tenses tericas, ela leva em conta a tenso para peas homogneas e sem defeitos, o que impossvel de se obter na prtica. E por fim, erros de arredondamento, converso de unidades e na adoo de constantes, como a gravidade, podem influenciar tambm na obteno das tenses.

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7. Concluses Este relatrio apresenta uma metodologia para obteno dos parmetros fotoelsticos utilizando luz polarizada. A validao da tcnica proposta foi feita atravs de um disco sob fora de compresso. Todos os modelos fotoelsticos, o aparato experimental utilizado e a avaliao da metodologia foram apresentados. O mtodo proposto pode ser empregado de forma vantajosa e eficiente na tcnica de fotoelasticidade, devido a sua facilidade de implementao. Dos resultados obtidos, percebe-se que o erro obtido foi pequeno, quando levase em considerao os diversos fatores que podem ter afetado os clculos, como por exemplo, a qualidade da pea ensaiada, a calibrao dos materiais utilizados e a necessidade de um operador experiente para a anlise e levantamento dos dados experimentais. defeitos e falta de homogeneidade da pea ensaiada, erro de calibrao na clula de carga e por fim, o principal deles que a experincia exigida ao operador no levantamento dos dados experimentais. Quando este mtodo operado por pessoas experientes e capacitadas, pode-se comprovar a boa preciso dos clculos de tenses utilizando a fotoelasticidade e portanto conclui-se que o uso dela fundamental em alguns casos onde a geometria da pea complexa e difcil determinar teoricamente o valor das tenses. Alm de ser uma tcnica que no depende do material ensaiado e que por isso pode ser aplicada a diversos tipos de materiais e que possibilita a compreenso e anlise das concentraes de tenso em uma pea.

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8. Referncias Bibliogrficas LIMA, A.M.G; RADE, D.A; SAAD, N.S. . Guia do laboratrio, Terceira Aula Prtica - Obteno de tenses em um disco comprimido diametralmente, utilizando a tcnica de fotoelasticidade, Laboratrio de Mecnica das Estruturas (LMEst). DALLY, J.W.; RILLEY, W.F. Experimental Stress Analysis. McGraw-Hill, 1978. ARAJO, C.A. Fotoelasticidade de Transmisso Plana UFU, Uberlndia, 2013. Materiais encontrados na internet: http://www.abfm.org.br/c2006/palestras/IBB1-Shimano.pdf http://www.eesc.usp.br/geopos/disserteses/joseschiavon.pdf http://www.posgrad.mecanica.ufu.br/posmec/15/pdf/POSMEC032.pdf

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ANEXO I Materiais Fotoelsticos e Aplicaes Os materiais fotoelsticos so denominados materiais birrefringentes. Eles apresentam diferentes ndices de refrao segundo os planos das tenses principais. Eles tem a funo de retardadores de onda, essa retardao dependendo do material, do tipo de luz utilizada e da diferena entre as tenses principais. A escolha do material adequado para uma anlise fotoelstica de suma importncia. No existe um material ideal, sendo que os materiais existentes, ditos materiais fotoelsticos apresentam vantagens e desvantagens. As principais propriedades que devem apresentar um material fotoelstico so: transparncia; alta sensibilidade (baixo ou ); propriedade elsticas e lineares; isotropia, homogeneidade; baixa fluncia; alto mdulo de elasticidade, E; alta figura de mrito, q = E/ ; ausncia de efeitos de bordo (tempo, umidade e usinagem); baixa influencia da temperatura sobre as propriedade; boa usinabilidade; baixo custo; facilidade na aplicao de desmoldantes; fundio de grandes volumes. Os principais materiais birrefringentes so: Columbia Resin CR-39, Homalite 100, PSM-1; policarbonato, poliuretano e polister, indicados para uso em fotoelasticidade bidimensional. Resinas epxi, indicadas para fotoelasticidade bi e tridimensional.

Figura 26 - Disco de resina (material fotoelstico), sob ao de uma carga qualquer.

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Quanto s aplicaes, a fotoelasticidade possui est presente em vrios campos da engenharia, medicina, odontologia, podendo citar entre elas: A determinao precisa de fatores de concentrao de tenses; A determinao qualitativa da distribuio de tenses em componentes, localizando pontos mais solicitados e suas direes principais para que se possa fazer uma anlise posterior por outro mtodo de anlise de tenses tais como a utilizao de extensmetros eltricos, com consequente economia; A determinao das direes principais nos dentes, durante a mastigao no campo da odontologia; A determinao da distribuio de tenses na estrutura ssea em corpos humanos tais como na coluna, nos membros superiores e inferiores do corpo humano, em medicina.

Figura 27 - Tenses causadas pelo implante dentrio.

Figura 28 - Tenses em placas metlicas.

Figura 29 - Franja sobre os pontos de interesse na regio dos rebites de uma placa de aplicao aeronutica.

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