Difrao da luz por fendas

Hugo L. Fragnito e Antonio C. Costa

Unicamp-IFGW, Maro de 2010 1. INTRODUO Difrao o nome genrico dado aos fenmenos associados a desvios da propagao da luz em relao ao previsto pela ptica geomtrica (ou seja, de raios retilneos) e que pem de manifesto a natureza ondulatria da luz. Fenmenos de difrao so observados para todos os tipos de ondas. Raramente observamos a difrao da luz no cotidiano. Entretanto, a difrao das ondas sonoras difcil de ser evitada; o som contorna obstculos de tamanhos relativamente grandes, tais como pessoas, rvores e moblias de uma sala. Esta diferena entre a difrao do som e da luz devida diferena entre os respectivos comprimentos de onda. O comprimento de onda do som da ordem de 1 m, enquanto que o da luz visvel da ordem de 500 nm. Ondas eletromagnticas utilizadas na transmisso de sinais de rdio, televiso e telefonia mvel, por exemplo, com comprimentos de onda que variam entre algumas dezenas de centmetros at alguns quilmetros, contornam facilmente obstculos como rvores e carros e at prdios, dependendo do caso. A difrao por uma fenda fina pode ser observada com uma montagem experimental simples e explicada matematicamente com um modelo tambm simples e que permite extrair concluses gerais acerca da difrao. Alm disso, quando a luz se difrata por um conjunto de aberturas peridicas, se observam interessantes fenmenos de interferncia entre as ondas originadas em cada abertura. A figura de difrao depende das condies de iluminao e de onde se observa a figura. Se o obstculo iluminado com ondas planas e a regio onde observamos a difrao est longe do obstculo dizemos que temos difrao de Fraunhofer. Em todos os outros casos dizemos que temos difrao de Fresnel. Neste experimento investigaremos a difrao de Fraunhofer produzida ao passar um feixe laser por fendas muito finas. 1.1. Difrao de fenda simples

r Luz b

y y

z
Fig. 1. Difrao da luz por uma fenda de largura b vista em um anteparo a uma distncia z. A largura do mximo central y.

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Na fig.1, um feixe de luz monocromtica de comprimento de onda passa por uma fenda de largura b e atinge um anteparo a uma distncia z. O feixe incidente tem frentes de onda planos, paralelos fenda, e a distncia z suficientemente grande como para considerar planos tambm os frentes de onda no anteparo (condio de difrao de Fraunhofer). 1 As ondas originrias em cada ponto da abertura interferem entre si e produzem o padro de difrao ilustrado nesta figura. Observamos um mximo central com intensidade I0 e pontos onde a intensidade luminosa se nula. A intensidade de luz em uma posio y = r sin sob o anteparo dada por

sin I = I0 ,
onde

(1)

= 1 kb sin , 2

(2a)

k = 2/ e r =

y 2 + z 2 . Se y << z podemos usar as aproximaes sin y/z e escrever

by . z

(2b)

Em y = 0 (correspondendo a = 0 e, portanto, = 0) observamos um mximo central de intensidade I0. J nos pontos onde = n (n = 1, 2, 3) a intensidade luminosa nula. Estes pontos de mnimos correspondem a valores de y tais que

yn = nz/b.
A largura do mximo central, y = y1 y-1, ento

(mnimos de difrao)

y = 2z/b.

(3)

Esta relao nos permite determinar b se conhecido (e vice-versa). No experimento vamos utilizar um laser de conhecido e medir z com uma trena e y com uma rgua, de modo que poderemos determinar b tipicamente com erro menor que 1%. Tambm dispomos de um microscpio metrolgico para medir b diretamente e verificar se o modelo est correto (ou para determinar o de um laser desconhecido). Temos ento duas formas alternativas de medir b: com o microscpio ou por difrao. A pergunta natural aqui qual mtodo mais preciso? A preciso do micrmetro do microscpio de 1 m e, se b ~ 200 m, com este instrumento podemos medir b com erro de 0,5 %. Por outro lado, mesmo usando uma rgua milimetrada, podemos medir o espaamento entre os mnimos de ordem n, ou seja ny, e dividir por n. O erro tambm dividido por n e, para n grande, podemos determinar y com erro menor que 0,5%. Utilizando difrao, em princpio, podemos determinar b com melhor preciso do que com o microscpio se e z forem conhecidos ou medidos com preciso de 0,1 % ou melhor. Um experimento adicional interessante medir o dimetro de um fio de cabelo utilizando a eq. (3). possvel mostrar que padro de difrao produzido por um dado obstculo
1

A condio para que a difrao possa ser considerada de Fraunhofer que z >> b2/2. Por exemplo, se b = 200 m e = 500 nm, deve ser z >> 40 cm. Isto est bem discutido no livro de G. Fowles (referncia 1 na lista bibliogrfica).

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essencialmente idntico ao produzido por uma abertura da mesma forma. 2 Na indstria, a difrao se utiliza muito para medir o dimetro de fios finos e pequenos espaamentos (como o gap de uma vela de carro). Uma grande vantagem de medir por difrao que a medida pode ser feita enquanto o fio fabricado, sem tocar nele e sem interromper o processo de fabricao. 1.2. Difrao de fenda dupla Um arranjo semelhante pode ser feito para se observar a difrao de fenda dupla. O efeito de difrao observado quando a luz passa por cada uma das fendas o mesmo discutido anteriormente, mas o resultado final em qualquer direo depende da diferena de caminho entre as duas contribuies.

b Luz h

z
Fig. 2. Difrao por uma fenda dupla (neste exemplo h = 3b). As franjas de interferncia tm perodo .

A fig. 2 nos mostra que a luz que passa por uma fenda interfere com a que passa pela outra fenda, produzindo no anteparo franjas de mximos e mnimos de luz com perodo . O padro de interferncia similar ao do experimento de Young (no qual a largura de cada fenda, b, muito menor que a separao entre elas, h), ou seja, com distribuio de intensidade

I=1 I [1 + cos(2 )] = I 0 cos 2 , 2 0

onde

(b h)

(4a)

=1 kh sin . 2

(4b)

Este padro de interferncia est representado na fig. 2 com a linha tracejada azul. Se a largura da fenda no desprezvel quando comparada com h, esse padro de interferncia
2

Este resultado conhecido como princpio de Babinet. Veja uma demonstrao simples deste princpio no livro de Fowles (ref. 1).

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modulado espacialmente pelo padro de difrao da fenda. Matematicamente, a distribuio de intensidade o produto entre a funo de interferncia e a de difrao (eq. 1):

I = I0

sin cos ,
2
2

(5)

onde usamos o fato que (1 + cos 2)/2 = cos . Os mximos de interferncia correspondem condio = n (n = 0, 1, 2,...) ou y = nz/h, de modo que a separao entre mximos (ou mnimos) de interferncia consecutivos (ou seja, o perodo das franjas),

= z/h.
Medindo z e (e conhecendo ) podemos usar a eq. (6) para determinar h.

(6)

1.3. Difrao por N fendas

A figura 3 mostra o padro produzido por N fendas iguais de largura b e separao h. Novamente, o padro o produto entre a funo de difrao (eq. 1) e a funo de interferncia 2 das N fendas, fN() = (sinN/Nsin) :

sin( N ) I = I0 N sin

sin .

(7)

Note que a eq. 7 vlida tambm para os casos de uma (N =1) ou duas (N = 2) fendas.

h r Luz b
y

Fig. 3. Difrao por uma rede de N fendas (neste exemplo h = 3b e N = 10). Os mximos de interferncia, com largura y, ficam cada vez mais finos medida que aumenta N.

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Para entender melhor o padro de difrao til analisar o padro de interferncia mostrado na figura 4. Nessa figura representamos a funo

sin( N ) f N () = . N sin
Esta funo apresenta mximos absolutos, chamados de mximos primrios, quando

(8)

= n (n = 0, 1, 2,...)
e que correspondem s posies yn = nz/h = n.

(mximos primrios)

(9)

Os mximos primrios so tambm chamados de picos de ordem n. Utilizando a regra de LHospital, podemos ver que, nesses mximos primrios, fN (n) = 1. A separao entre dois mximos primrios consecutivos dada pela eq. 6 e, como j comentado, nos permite medir h.
Mximos primrios

1.0 0,8

sin

sin N N sin

Intensidade, I/I0

0,6

0,4 0,2 0,0 4 2

Mximos secundrios

+ /

Fig. 4. A funo de interferncia (linha azul), a de difrao (verde tracejada) e o padro resultante (vermelha tracejada) como funo de . Neste exemplo, h = 3b, de modo que o mximo principal com = 3 coincide com o primeiro zero de difrao ( = ). A largura dos mximos principais /N. Note que entre dois mximos principais consecutivos h N 2 = 3 mximos secundrios, ento N = 5.

Entre os mximos primrios consecutivos temos vrios mximos secundrios, onde sin N perto de 1. O numerador na expresso (8) se anula se |N| mltiplo de e temos, em princpio, um zero da funo fN (). Porm, se e o denominador tambm se anula (isto , se

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tambm um mltiplo de ) ento o numerador e denominador se anulam e temos um mximo primrio. Por exemplo, se N = 5 (como na figura 4), temos mnimos de interferncia para = /N, 2/N, 3/N e 4/N, mas se = 5/N = temos um mximo primrio. Vemos ento que entre dois mximos primrios consecutivos temos sempre N 2 mximos secundrios. Isto pode ser utilizado para determinar N experimentalmente. Com exceo da ordem zero (i.e., o mximo central de interferncia, com n = 0), as posies dos mximos primrios dependem do comprimento de onda. Este fato utilizado para medir comprimentos de onda. A largura dos mximos , aproximadamente, = /N, como podemos ver do fato que a posio do mnimo adjacente ao mximo de ordem n = n + /N (na fig. 4 isto ilustrado com o mximo de primeira ordem). Em termos de tamanho no anteparo (vide fig. 3), a largura dos mximos y = z/Nh. (10)

Se N grande os mximos so muito estreitos e bem definidos, permitindo medir com boa preciso. Um arranjo com muitas fendas chamado de rede de difrao ou grade de difrao. As redes de difrao so muito utilizadas em espectroscopia.

2. OBJETIVOS
Os objetivos deste experimento so: a) observar os efeitos de difrao produzidos por uma fenda e os efeitos de interferncia produzidos por duas ou mais fendas; b) verificar quantitativamente as previses do modelo de difrao de Fraunhofer para uma fenda, medindo a largura da fenda por difrao e com um microscpio; c) verificar a validade do modelo no caso de duas ou mais fendas, determinando a largura, nmero e separao entre fendas atravs de medidas no padro de difrao/interferncia e medidas diretas com microscpio; d) avaliar a potencialidade de redes de difrao para medir comprimentos de onda.

3. PREPARAO
a) Reveja os conceitos de interferncia e difrao, principalmente os seguintes pontos: Interferncia Experimento de Young. Difrao de Fraunhofer. Difrao por uma fenda. Difrao e interferncia por fendas mltiplas rede de difrao.

b) No caso de uma fenda com abertura b = 1 mm, = 532 nm e z = 2 m, onde voc espera achar os primeiros 4 mnimos de difrao? c) Utilizando algum software de sua preferncia simule o experimento obtendo um grfico da intensidade relativa I/I0 versus y (vide eq. 1 e eq. 2b) para = 633 nm, b = 60 m e z = 2,3 m. Quanto aproximadamente a intensidade relativa dos primeiros 6 mximos? c) Simule no computador o padro de interferncia de duas fendas (experimento de Young) levando em considerao os efeitos de difrao (eq. 5) para = 633 nm, b = 60 m, z = 2,3 m e h = 130 m. Determine a posio dos mximos e mnimos de interferncia e de difrao.

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d) Simule no computador o padro previsto (eq. 6) para N = 3, 4, 5, 10. Que acontece com a largura dos mximos de interferncia quando aumenta N? Quantos mnimos e mximos secundrios de interferncia tm dentro do mximo central de difrao ( < < )?

4. PROCEDIMENTO EXPERIMENTAL
Os experimentos sero realizados com um laser de He-Ne [ = (632,82 0,05) nm no ar] ou um laser de conhecido 3 , e com outro laser de desconhecido (no laboratrio temos lasers que emitem no vermelho, azul e verde). As aberturas (fendas e aberturas de outras formas) foram impressas por foto-litografia sobre um vidro metalizado. Alinhamento Para que as medidas sejam feitas com preciso, o vidro com as fendas deve ser colocado perpendicular ao feixe do laser. Isso pode ser facilmente feito enviando o feixe refletido no vidro novamente para a sada do laser. Alinhe tambm o feixe laser paralelo ao trilho sobre o qual est montado o vidro com as aberturas. Reproduo do padro de difrao/interferncia Com uma folha de papel fixada com fita adesiva em um anteparo (ou na parede do laboratrio) possvel registrar com um lpis o perfil da difrao. Apagando as luzes do laboratrio fica mais fcil observar a separao entre os mximos e a variao na intensidade luminosa. Deslocando verticalmente o papel, podemos registrar vrios padres de difrao/interferncia na mesma folha. Identifique cada padro anotando a distancia z e o cdigo da abertura utilizada. (Tambm pode usar uma cmera fotogrfica para registrar os padres, mas no deve esquecer-se de colocar uma rgua na mesma foto para usar como referncia para medir as posies de mximos e mnimos. As fotos ficam mais bonitas no relatrio, mas do muito mais trabalho...) Medidas com o microscpio metrolgico Para verificar o modelo de difrao de Fraunhofer, vamos medir a abertura, nmero e separao entre fendas utilizando um microscpio metrolgico (Fig. 5). Coloque a mscara de vidro com as aberturas sobre a porta-amostra giratria e ajuste o foco; destrave os parafusos micromtricos (as travas esto indicadas na Fig. 5 mantenha-as apertadas para destravar) e desloque a mscara at achar a abertura desejada no seu campo visual. Gire a porta-amostra at alinhar as fendas paralelamente linha vertical da cruz do microscpio. Utilize o parafuso micromtrico para deslocar a mscara e medir as dimenses da abertura.

No laboratrio dispomos de um laser verde ( = 532 nm) e lasers no vermelho e no azul ( desconhecidos).

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6 A

Ajuste Foco B Porta-amostra C Trava eixo Y Controle lmpada D

Trava eixo X Parafusos micromtricos

Fig. 5. Microscpio metrolgico (esquerda), mscara com diferentes aberturas (direita acima) e detalhe do parafuso micromtrico (direita abaixo). Em cada volta completa o parafuso avana 1 mm e o tambor tem 100 divises (10 m cada). Alm disso, tem um Vernier com 10 divises (1 m cada). Na figura, a leitura de 11,433 mm.

Roteiro sugerido 0 Anote os instrumentos utilizados. 1 Montar o conjunto laser, fenda e anteparo. Alinhe o vidro com as aberturas e escolha a abertura correspondente a uma fenda simples (por exemplo, C1 na Fig. 5). Projete o padro de difrao/interferncia sobre o anteparo. Posicione o vidro a uma distncia de ~1 m do anteparo (utilize a trena para medir z). Cole uma folha de papel milimetrado no anteparo e desenhe a lpis o padro, indicando claramente as posies dos mximos e mnimos. Mea essas posies (se no tiver papel milimetrado, utilize uma rgua). Utilize a eq. 3 para determinar b e seu desvio. 2 Desloque o vidro horizontalmente at achar a prxima fenda (C2) com diferente largura. Desloque ~1 cm verticalmente a folha de papel no anteparo e desenhe o novo padro de difrao. Mea a largura do mximo central no papel e determine b e seu desvio. Repita essa medida para todas as fendas simples. Monte uma tabela com os valores de b b medidos e uma coluna em branco para preencher com os valores que medir com o microscpio (item 7). 3 Desloque o vidro verticalmente at achar uma abertura com duas fendas (B1). Desenhe no papel o padro observado, mea o perodo de interferncia e determine h utilizando a eq. 6. 4 Desloque horizontalmente o vidro at achar o prximo conjunto de duas fendas com diferente separao (B2). Desenhe o padro, mea o perodo e determine h. Repita essas medidas para todas as fendas duplas (Ateno: B4, B5, e B6 tm um valor de b nominalmente diferente de B1, B2, B3). Monte uma tabela com os valores de h medidos (e seus desvios) e deixando espao para preencher com os valores a medir com o microscpio.

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5 Posicione o vidro at achar o conjunto de aberturas A1 a A6. Deslocando horizontalmente o vidro passar por aberturas com 1, 2, 3,... N fendas, todas nominalmente com a mesma abertura e separao. Veja se consegue descobrir o valor de N para cada abertura A3,A6 apenas contando o nmero de mximos secundrios. Desenhe os padres observados para cada abertura (A1 a A6), medindo as posies dos mximos primrios (eq. 9) e a largura dos mximos principais (y, eq. 10). Apresente os resultados com uma tabela contendo os valores medidos de y, b e h (e seus respectivos desvios) para 1, 2, 3,... N fendas, deixando espao para preencher com os valores de b e h medidos com o microscpio, bem como o valor de N aferido com o microscpio. 6 Utilizando a abertura A6, mea o perodo dos mximos primrios para uns 10 valores de z (entre 1 e 2 m) e apresente o resultado em forma grfica de versus z, que deve dar uma reta, segundo a eq. 9 (ou eq. 6). Da inclinao da reta, determine h h (o erro deve ser menor do que no caso do item 5). Substitua agora o laser de He-Ne por outro de desconhecido e repita as mesmas medidas de em funo de z, coloque os dados no mesmo grfico e determine (da inclinao desta segunda reta) e seu desvio, utilizando o valor de h da primeira reta. 7 Mea diretamente com o microscpio, as dimenses b e h e o nmero de fendas, N, de todas as aberturas utilizadas; preenchendo ento os espaos nas tabelas dos itens anteriores. 8 Havendo tempo, observe os padres de difrao com as outras aberturas que no so fendas (D1 D6) e interprete os resultados. Tambm, tente medir o dimetro de um fio do seu cabelo (ou de um colega, se voc no tiver). No relatrio, apresente uma Xerox reduzida (~1/4 do original) dos padres observados. 5. BIBLIOGRAFIA 1 - G. R. Fowles, "Introduction to Modern Optics," Holt, Rinehart and Winston, 2nd edition, New York (1975). 2 J. P. McKelvey and H. Grotch, "Fisica 4 ", Harbra - Harper & Row do Brasil, So Paulo, cap. 26 (1981). 3 F. A. Jenkins and H. White, "Fundamental of Optics," MacGraw Hill, New York (1976). 4 E. Hecht, "Optics," Adelphi University, Addison-Wesley Publishing Company (1990).

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