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Donde k = constante de Boltzmann. Esta
expresin que se corresponde sorprendentemente
con los resultados experimentales a diversas
Temperaturas, se denomina Ley de Radiacin de
Planck.
2.3 Efecto Fotoelctrico.
El proceso por el cual se liberan electrones de
un material por la accin de la radiacin se
denomina emisin o Efecto fotoelctrico. La
emisin electrnica aumenta cuando aumenta la
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intensidad de la radiacin que incide sobre el
metal, ya que hay ms energa para liberar
electrones; pero se observa que depende en forma
caracterstica de la frecuencia de la radiacin
incidente. Esto significa que para cada sustancia
hay una frecuencia mnima
0
V de la radiacin
por debajo de la cual no se producen
fotoelectrones por ms intensa que sea la
radiacin, esta frecuencia mnima se llama
frecuencia Umbral.
En los metales existen electrones que se hallan
en las capas exteriores debidamente unidos al
ncleo del tomo, es decir, en red cristalina.
Estos electrones no escapan del metal porque no
tienen energa suficiente del metal. Una manera
de liberar electrones de un metal es haciendo que
estos absorban energa de la radiacin
electromagntica.
Sea W la energa necesaria para que un electrn
escape de un metal dado. La energa cintica del
fotoelectrn ser la diferencia entre la energa del
cuanto o fotn incidente y la energa para que el
electrn escape del metal.
k
E E W =
Donde
k
E es la energa cintica del fotoelectrn,
E la energa del electrn y W es la funcin de
trabajo.
La energa del fotn o cuanto de energa est
dada por la proposicin de Planck, E hv =
donde v es la frecuencia de la Radiacin.
k
E hf W =
Donde:
h = constante de Planck.
W es la funcin trabajo
f es la frecuencia.
Si los fotoelectrones emitidos se someten a un
voltaje de frenado para el cual, los electrones solo
alcanzaran al nodo cuando su energa en el
campo elctrico sea igual a la Energa Cintica:
k
eV E =
Donde:
V = voltaje, e = Carga electrn.
Si consideramos a W independiente de la
frecuencia existe una relacin lineal entre el
voltaje y la frecuencia dada por:
h W
V f
e e
=
3. Desarrollo experimental
Figura 1. Diagrama de montaje del equipo
PHIWE para analizar el efecto fotoelctrico.
Se realiz el montaje experimental del equipo
para determinar medir el voltaje de detencin o
de frenado para los diferentes filtros con
diferentes longitudes de onda, utilizando una
lmpara de mercurio.
Figura 2. Filtros de colores para diferentes
longitudes de onda PHIWE.
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4. Datos obtenidos del laboratorio.
Filtro
( ) nm
Voltaje de frenado
V1 V2 V3
V
366 (nm) 2,11 2.11 2,11 2.110
405(nm) 1.77 1.77 1,77 1.770
436(nm) 1.75 1.76 1,75 1.753
546(nm) 1.17 1.17 1,17 1.170
578(nm) 0.88 0.88 0,88 0.880
Tabla 1. Voltajes de frenado medidos, obtenidos de la
celda fotoelctrica de Potasio (K)
4. Clculos y anlisis de resultados
En la grfica 1 se muestra la curva Voltaje de
frenado contra frecuencia. Como la relacin
funcional entre Voltaje de frenado (V) y la
frecuencia (f) est dada por la ecuacin:
h W
V f
e e
=
Por lo que la pendiente de esta grfica est dada
por:
h
m
e
=
Y finalmente:
h me =
De acuerdo al mtodo de los mnimos cuadrados,
la pendiente de la lnea recta obtenida y del punto
b de interseccin estn dados por las expresiones:
( )
2
2
( )
i i i i
i i
N x y x y
m
N x x
y
( )
2
2
2
i i i i i
i i
x y x x y
b
N x x
Por lo que:
14
3.84 10 ( / ) m x V Hz
=
y 1.011 ( ) b V =
Tabla 2. Mtodo de los mnimos cuadrados
En la grfica 1, creada con origin, se muestra
tambin los datos obtenidos con el ajuste lineal,
obtenindose los mismos resultados.
Grafica 1. Voltajes de frenado (V) contra frecuencia
(f) para la celda fotoelctrica de Potasio (K).
El clculo de la constante de Plack arroja un
resultado de:
34
6.16 10 ( / ) h x J s
=
Clculo del error porcentual en la constante
de Planck.
El error porcentual para la constante de Planck
est dado por:
terico experimental
terico
% 100
h h
h x
h
| |
A =
|
\ .
Por lo que
7.09% h A =
( ) nm
f (x10
14
Hz) Voltaje(V) X10
29
xi Yi Xi^2 xi yi
578 5.190311 0.88 2.69 4.567
546 5.494505 1.17 3.019 6.423
436 6.880734 1.757 4.734 12.088
405 7.407407 1.763 5.486 13.068
366 8.196721 2.11 6.724 17.302
i
x
i
y
2
i
x
i i
x y
33.2 7.68 22.65 53.44
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Por lo que podemos afirmar que:
34
6.16 10 ( / ) 7.019% ( / ) h x J s J s
=
5. Conclusiones
La determinacin de la constante de Planck
arroj como resultado un valor de
-34
6.16 x10 h J s = con un margen de error
porcentual equivalente al 7.09 %. Este margen
lo atribuimos a factores externos como la
radiacin de la lmpara de mercurio utilizada
cerca de los equipos nuestros, sumado al tiempo
de descarga del capacitor de los equipos
amplificadores de seal, que obligaba en
ocasiones a partir de valores casi nulos en el
voltmetro.
Tambin debe considerarse el ancho de banda
de los filtros y su calibracin, lo cual puede
ocasionar errores sistemticos en las mediciones.
Se desconoce si el nodo de la celda
fotoelctrica es de Potasio, ya que si es diferente
aparece un voltaje adicional llamado Potencial de
Contacto que debe incluirse en los clculos.
Bibliografa
1. SEARS, Francis; ZEMANSKY, Mark.
Fsica Universitaria. Volumen. 9 edicin
Ed. Pearson Educacin. Mxico. 2000. Pag
236.
2. BENSON, Harris. Fsica universitaria.
Volumen. Primera edicin. Ed. Cecsia.
3. SERWAY, Raymond. Fsica. Tomo II. 4
edicin. Ed. Mc Graw Hill. Mxico. 2002.
Pag 456.
4. ROLDN, Juan. Fsica molecular [en lnea].
Colombia, Disponible en:
<http://jroldan.blogspot.com/2009/05/fisica..ht
ml> [consulta: 30 de Julio del 2009].
5.
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NOTA: TENER EN CUENTA LO SIGUIENTE
FORMATO PRESENTACIN ENSAYOS EXPERIMENTALES
TIPO ARTCULO CIENTFICO
- Resumen
- Palabras claves
(Deben estar incluidas en el resumen)
- Abstract
El mismo resumen pero escrito en ingls
- Key words
Las mismas palabras claves pero en ingls
1. INTRODUCCIN
Debe hacer una presentacin o induccin sobre el trabajo, incluyendo el
objetivo de llevar a cabo el mismo
2. FUNDAMENTOS TERICOS
Describir el marco de referencia conceptual pertinente a la prctica.
3. DESARROLLO EXPERIMENTAL
Contiene una descripcin concisa de los pasos realizados para llevar a cabo la
prctica, un esquema, foto o diagrama del montaje realizado.
4. CLCULOS Y ANLISIS DE RESULTADOS
- Clculos: Desarrollo Matemtico en el cual se describa las ecuaciones
utilizadas y los resultados obtenidos y/o muestre un ejemplo de los
clculos realizados (utilizando los datos obtenidos en la experiencia).
- Anlisis: Para la realizacin de este se debe tener en cuenta los
componentes matemticos, fsicos y grficos de la experiencia.
5. CONCLUSIONES
Se realiza teniendo en cuenta el objetivo planteado y los anlisis de los
resultados
7. BIBLIOGRAFA
El formato digital para la presentacin del artculo podr descargarse de la pgina del
curso
Durante la experiencia se formularan algunas preguntas que pueden orientar el anlisis
de la experiencia.
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Las grficas se pueden realizar diferente software tales como Excel, Matlab, derive,
Origin otro equivalente.
Los clculos deben realizarse empleando herramientas tales como el editor de
ecuaciones, math type u otro equivalente.
ESTRUCTURA MARC. TEO. CLCULOS ANLISIS CONCLUSIN DEF
La tabla anterior es para que el docente realice la evaluacin, cada tem tiene valor de
1.0/5.0
1. ESTRUCTURA DEL INFORME: Si cumple con el formato indicado.
2. MARCO TERICO: EXPLICACIN DE LOS FUNDAMENTOS TERICOS QUE
SUSTENTAN LA EXPERIENCIA.
3. CALCULOS: DEBEN ESTAR REALIZADOS TODOS LOS CALCULOS
CONCERNIENTES A LA EXPERIENCIA DE LABORATORIO.
4. ANALISIS: SE REFIERE AL ANALISIS DE LOS RESULTADOS DE LA
EXPERIENCIA, HACE RELACIN A LOS DATOS Y A LAS GRFICAS.
5. CONCLUSIONES: ESTE ITEM ES MUY IMPORTANTE EN EL LABORATORIO,
TIENE QUE VER CON LOS RESULTADOS OBTENIDOS, ANALISIS DE
POSIBLES ERRORES EN LOS RESULTADOS, COMPARACIN CON VALORES
TERICOS, TEC.