Espectrometra de reflexin en IR

La espectrometra de reflexin en el infrarrojo encuentra muchas aplicaciones en el caso de muestras slidas difciles de manipular como polmeros, fibras, alimentos, gomas, etc. Los espectros de reflexin no son exactamente iguales a los correspondientes espectros de absorcin, pero proporcionan la misma informacin cuali y cuantitativa.

Existen cuatro tipos de reflexin de la radiacin:

Reflexin especular Reflexin difusa Reflexin interna Reflexin total atenuada (ATR)

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Espectrometra de reflectancia difusa (I)

La espectrometra de reflectancia difusa en el infrarrojo de transformada de Fourier (DRIFTS) es eficaz para obtener espectros directamente sobre muestras pulverizadas con un mnimo de preparacin. La reflexin difusa es un proceso complejo que tiene lugar cuando un haz de radiacin choca con la superficie de un polvo finamente dividido. En estas muestras tiene lugar una reflexin especular en cada superficie plana. Como hay muchas superficies de stas y se encuentran orientadas al azar, la radiacin se refleja en todas las direcciones. El modelo ms utilizado que describe la intensidad de la radiacin reflejada difusa en trminos cuantitativos es el de Kubelka y Munk. En este modelo la intensidad de reflectancia relativa f (R):

(1 R )2 k f ( R ) 2 R s
Donde R es el cociente entre la intensidad reflejada por una muestra y la de un patrn no absorbente como el KCl finamente pulverizado, s es el coeficiente de dispersin y k, para muestra diluidas, es: k = 2,303 e c (c: concentracin molar)
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Espectrometra de reflectancia difusa (II)

Accesorio de reflectancia difusa para un espectrofotmetro FT-IR

Los espectros de reflectancia difusa se obtiene como una mezcla finamente dividida del compuesto (5%) en KCl. En estos los picos secundarios aparecen ms intensos
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Espectrometra de reflectancia total atenuada

El fenmeno ATR ocurre cuando un haz de radiacin pasa de un medio ms denso a uno menos denso (con un menor ndice de refraccin). La fraccin del haz incidente reflejada aumenta cuando el ngulo de incidencia aumenta. Toda la radiacin incidente es reflejada completamente en la interfase cuando el ngulo de incidencia es mayor que el ngulo crtico (que depende del ndice de refraccin). El haz penetra una distancia muy corta, pasando la interfase, dentro del medio menos denso antes de que ocurra la reflexin completa. Esta penetracin se denomina onda evanescente y es tpicamente de una profundidad de unos pocos micrmetros (mm). Esta profundidad depende de la longitud de onda, del ndice de refraccin de los materiales, y del ngulo que forma el haz incidente con la interfase. A longitudes de onda en las que el medio menos denso absorbe la radiacin evanescente, ocurre atenuacin del haz, es decir reflectancia total atenuada (ATR).

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Espectrometra de reflectancia total atenuada

La muestra es colocada normalmente en contacto cercano con el medio ms denso, un cristal de alto ndice de refraccin tal como el seleniuro de cinc, bromuro de talio-ioduro de talio (KRS-5), o germanio. La profundidad de la penetracin se calcula segn:

dp

donde lc es la longitud de onda en el cristal (l/nc), q es el ngulo de incidencia, ns y nc son los ndices de refraccin de la muestra y del cristal respectivamente. En la prctica, lo ms usado es un cristal de reflexin mltiple con un ngulo de 45.

2 sen q ns / nc
2

lc

2 1/ 2

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