Guia de Aplicao de Qualidade de Energia

Distrbios de Tenso
Medio de Cintilamento (Flicker)
D
i
s
t

r
b
i
o
s

d
e

T
e
n
s

o
5.2.3
Fluxo luminoso
Tenso
Nmero de variaes por minuto da tenso quadrada
Disturbios de tenso
Medio de Cintilamento (Flicker)
Zbigniew Hanzelka & Andrzej Bie

n
AGH University of Science and Technology
October, 2005
Este Guia foi produzido como parte do Leonardo Power Quality
Initiative (LPQI), um programa de educao e treinamento europeu
apoiado pela Comisso Europia (sob o Programa Leonardo da Vinci)
e pelo International Copper Association (ICA). Para informao
adicional sobre o LPQI visite www.lpqi.org.
European Copper Institute (ECI)
O European Copper Institute (ECI) (Instituto de Cobre Europeu) uma
joint venture entre o ICA (International Copper Association) e os
fabricantes europeus. O ECI representa os maiores produtores de cobre
do mundo e os fabricantes europeus mais importantes para promover o cobre na Europa.
Criado em janeiro de1996, o ECI apoiado por uma rede de onze Associaes de
Desenvolvimento do Cobre (CDAs) em Benelux, Frana, Alemanha, Grcia, Hungria, Itlia,
Polnia, Rssia, Escandinvia, Espanha e Reino Unido.
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uma instituio sem fins lucrativos, constituda por empresas
produtoras e transformadoras de cobre no Brasil com a misso de
estimular o uso tcnico e econmico do metal, promovendo sua utilizao correta e
eficiente. Desenvolve projetos nas vrias reas de aplicao do metal, divulgando as
vantagens da utilizao do cobre na energia eltrica, nas instalaes hidrulicas e de gs,
na arquitetura, no design e decorao de interiores, na sade e muitas outras.
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Medio de Cintilamento (Flicker)
Introduo
A tenso da rede de alimentao varia com o tempo devido s perturbaes que acontecem nos
processos de gerao, transmisso e distribuio de energia eltrica. Interao de cargas eltricas
com a rede causam deteriorao adicional da qualidade da energia eltrica.
Grandes cargas que solicitam correntes flutuantes, como grandes acionadores de motores e fornos de
arco, causam variaes de tenso cclicas que resultam em:
- Cintilamento de fontes de luz que podem causar desconforto fisiolgico significativo, fadigas
fsica e psicolgica, e at mesmo efeitos patolgicos para seres humanos;
- Problemas com a estabilidade de dispositivos eltricos e circuitos eletrnicos.
A Figura 1 ilustra o modo no qual uma pequena variao de tenso produz um efeito notvel no
fluxo luminoso de uma lmpada.
Figura 1 - Variao no fluxo luminoso resultante de uma variao temporria de tenso [1].
Pequenas variaes reincidentes da intensidade da tenso de rede causam o cintilamento de fontes de luz.
O efeito popularmente chamado cintilamento (flicker, em ingls) e um parmetro de qualidade de
energia significativo. Um exemplo de um espectro de tenso de uma rede onde o cintilamento aparente
est mostrado na Figura 2. O espectro mostrado tpico de uma tenso de uma rede que alimenta um
grande acionador eltrico no estacionrio. Uma lmpada, alimentada pelo mesmo n, ir cintilar com
freqncia de aproximadamente 1 Hz.
Figura 2 - Espectro de tenso da rede eltrica: direita, no diagrama, omitido o componente de 50 Hz.
O cintilamento expresso em termos de dois parmetros: severidade de cintilamento em curto prazo
(P
ST
) e severidade de cintilamento em longo prazo (P
LT
). A medio destes parmetros discutida
mais adiante neste documento.
Distrbios de Tenso
1
Fluxo luminoso
Tenso
Estimativa de flutuaes de tenso
O fenmeno de cintilamento de fontes de luz conhecido desde a introduo das redes de
alimentao de energia. Porm, cresceu rapidamente em importncia junto com o aumento no
nmero de cargas e o aumento no consumo de energia. Uma quantidade considervel de pesquisa
tem sido realizada sobre a medio e a e mitigao do cintilamento. Para quantificar a intensidade do
fenmeno de cintilamento da luz, pesquisas tm sido realizadas com o objetivo de desenvolver
equipamentos de medio, tcnicas de reteno e mtodos de mitigao. Este artigo discute os
princpios de medio e os princpios gerais de projeto de instrumentos de medio.
Inicialmente, os projetos de instrumentos estavam baseados em simples observaes do fluxo
luminoso. O prximo passo era desenvolver um modelo da reao humana - na forma de desconforto
ou perturbao - para a flutuao do fluxo luminoso. O modelo foi baseado em um bulbo de tungstnio
de 60 W, 230 V, uma vez que essa era a fonte de luz mais usada na Europa naquela poca.
A Figura 3 mostra o limiar de percepo do cintilamento em relao ao percentual de variao de
tenso (eixo y) e a variao de freqncia (eixo x). Onde a intensidade e a freqncia das variaes
situam-se acima da curva, provvel que o efeito esteja perturbando um observador humano,
enquanto que, abaixo da curva, provvel que o efeito seja imperceptvel. As linhas tracejadas
representam lmpadas de tungstnio projetadas para diferentes tenses nominais.
Instrumentos de medio de cintilamento antigos incluam uma lmpada de tungstnio tpica, 60 W,
230 V, um sensor de fluxo luminoso e um modelo analgico para simular a reao humana.
Pesquisas posteriores realizadas nos anos oitenta fizeram com que as atividades na rea de avaliao
de cintilamento convergissem e agora esto centralizadas na UIE (International Union for Electricity
Applications). O instrumento-modelo normalizado resultante completamente eletrnico; ele mede
a flutuao de tenso e simula tanto a resposta da fonte de luz quanto a reao humana. So obtidos
ainda dois resultados de medio adicionais; um para o efeito de cintilamento em curto prazo (P
ST
),
medido num intervalo de dez minutos, e um para longo prazo (P
LT
) que uma mdia permanente
dos valores P
ST
considerados num perodo de duas horas.
Figura 3 - Caracterstica de percepo do cintilamento para variaes de tenso de formas
de ondas quadradas aplicadas em lmpadas de 60 W
Medio da severidade de cintilamento em curto prazo
O diagrama de bloco do instrumento proposto pelo relatrio da UIE mostrado na Figura 4.
As flutuaes de tenso medidas so processadas usando um modelo de fluxo luminoso versus a
caracterstica de tenso da lmpada de tungstnio e um modelo da reao humana s flutuaes do
fluxo luminoso. Isto resulta em uma medio de cintilamento instantnea. Porm, cada pessoa
reage diferentemente em relao s variaes do fluxo luminoso e, assim, o valor P
ST
obtido por meio
de um modelo estatstico baseado em trabalhos experimentais com um grande grupo de indivduos.
2
Medio de Cintilamento
Nmero de variaes por minuto da tenso quadrada
Um diagrama de bloco detalhado do instrumento mostrado na Figura 5. Ele ilustra o esquema de
processamento do sinal de tenso proposto pela UIE e definido no documento normativo [2]. Os
instrumentos fabricados de acordo Figura 3 com incerteza menor do que 5%.
Figura 4 - Operaes para determinar a severidade de cintilamento PST.
Figura 5 - Estrutura do instrumento de medio de severidade de cintilamento da UIE.
O conversor analgico-digital s usado em implementaes digitais do instrumento. O conversor
quadrtico e os filtros formam o modelo de uma lmpada de tungstnio 60 W, 230 V. O filtro passa-alta
de 0,05 Hz serve apenas para remover o componente constante, uma vez que apenas variaes de
fluxo so medidas, e o filtro passa-baixa de 35 Hz representa as propriedades dinmicas da lmpada.
A segunda linha na Figura 5 modela a reao humana s variaes de fluxo luminoso. As reaes
do olho e do crebro so modeladas com o uso de um filtro passa-faixa com a seguinte frmula:
Medio de Cintilamento
3
P
ST
Tenso
de rede
Modelo da lmpada
Modelo da reao
humana
Operao estatstica sobre
a sensao instantnea
de cintilamento
Conversor A/D
(verso digital
Conversor
quadrtico
Conversor
quadrtico
Filtro passa-alta
Sinal de variao do fluxo luminoso
Sinal de severidade do cintilamento
Filtro passa-baixa
Filtro passa-baixa Filtro de ganho
Avaliao de FCP
Avaliao de P
ST
P
ST
Tenso
de rede
onde, para uma lmpada incandescente de 60 W 230 V:
k = 1,74802
= 2 4,05981

1
= 2 9,15494

2
= 2 2,27979

3
= 2 1,22535

4
= 2 21,9
Este filtro foi projetado com base na pesquisa psico-fisiolgica sobre a influncia da variao do fluxo
luminoso em um ser humano. Esta pesquisa incluiu a anlise do efeito das variaes de freqncia
e intensidade do fluxo luminoso em seres humanos. O conversor quadrtico e o filtro passa-baixa
de 0,53 Hz modelam o efeito de fadiga das variaes de fluxo luminoso.
A Figura 6 mostra a resposta de intensidade de todos os filtros usados no instrumento.
Figura 6 - Resposta de intensidade dos filtros de medio de cintilamento.
A terceira linha na Figura 5 mostra a seo de processamento estatstico digital. Avaliao de P
ST

baseada na Funo de Probabilidade Cumulativa (FPC) calculada durante o perodo de observao.

O mtodo de avaliao de FPC est mostrado na Figura 7.
Figura 7 - Processo de avaliao de FPC.
4
Medio de Cintilamento
Percentual do tempo para o qual s(t)
excedeu os limiares apropriados.
Percentual do tempo no qual
o sinal est entre os limiares.
Tempo de observao (s) T = 10 min
Severidade de cintilamento instantnea.
Filtro passa-baixa
em 35 Hz
Filtro passa-baixa
em 0,53 Hz
Filtro passa-alta em 0,53 Hz
Filtro de ganho
Freqncia (Hz)
G
a
n
h
o
A curva no lado esquerdo mostra a severidade de cintilamento instantnea (eixo y) em relao ao
tempo (eixo x) para um perodo de observao de 10 minutos. As linhas de grade horizontais
representam limiares que so usados para agrupar medies como mostrado no lado direito. Aqui o
eixo x representa a porcentagem do tempo de observao que os valores instantneos discretos excedem
o limiar apropriado. (Ver exemplo para o grupo mais baixo).
Na prtica, depois que as amostras so coletadas durante o tempo de observao de dez minutos,
os limiares so fixados de modo a corresponderem a percentuais, ou seja, por terem sido excedidos
em 0,1%, 1%, 3%, 10% e 50% do tempo de observao de dez minutos. No texto a seguir, estes percentuais
so designados por P
0,1
, P
1
, P
3
, etc., enquanto que o subescrito s (por exemplo, P
1S
, P
3S
) indica que
a mdia foi aplicada de acordo com as seguintes frmulas:
P
ST
calculado de acordo com a frmula:
Os valores de P
ST
so usados para avaliar P
LT
para tempos de observao mais longos de acordo com:
onde N o nmero de perodos de P
ST
dentro do perodo de observao de P
LT
, ou seja, 12 medies de
P
ST
(10 minutos) seriam exigidas para calcular o P
LT
(2 horas).
A Figura 8 mostra um registro de P
ST
no n da rede aonde um forno a arco foi conectado. Pode ser visto
que a condio operacional do forno influncia o valor de P
ST
. Neste caso, o valor de P
ST
varia por uma
relao de 15:1.
Figura 8 - Valores de P
ST
determinado durante a operao de um forno a arco.
Medio de Cintilamento
5
Tempo (min)
P
S
T
P
1S
= (P
0.7
+ P
1
+ P
1.3
)/ 3
P
3S
= (P
2.2
+ P
3
+ P
4
)/ 3
P
10S
= (P
6
+ P
8
+ P
10
+ P
13
+ P
17
)/ 5
P
50S
= (P
30
+ P
50
+ P
80
)/ 3
Calibrao e verificao de um instrumento de medio de severidade
de cintilamento
Como descrito anteriormente, a medio de cintilamento um processo complexo. Se instrumentos
de projetos e fabricantes diferentes devem produzir resultados consistentes no campo, so necessrios
procedimentos corretos de aprovao de funcionamento e calibrao.
Aprovao de funcionamento requer a validao do projeto, por exemplo, verificando-se que as
precises da modelagem e do clculo estatstico sejam suficientemente adequadas, atravs da aplicao
de sinais de teste predeterminados e monitorando as respostas apropriadas. Os sinais de teste
seriam definidos em termos de modulao da forma de onda (senoidal ou retangular), intensidade
e freqncia de forma que eles sejam consistentemente reproduzveis e previsveis.
A calibrao requer a verificao de cada amostra do instrumento, novamente com sinais predeterminados
de entrada, de modo a assegurar que o resultado indicado suficientemente preciso. Os fabricantes
tm que indicar com que freqncia o processo de calibrao deve ser repetido e fornecer os servios
para esta finalidade.
Medio e avaliao do cintilamento na rede de alimentao
Como mencionado na introduo, as fontes bsicas de flutuaes de tenso (e o conseqente cintilamento
das fontes de luz) so as grandes cargas eltricas.
Este mecanismo est ilustrado na Figura 9.
A tenso no ponto de conexo da carga menor do que a tenso da fonte por causa da queda de tenso.
U
zn
= I
Load
. Z
Zn
onde:
I
Load
= corrente de carga;
Z
Zn
= impedncia da rede;
vista pelo pontos de conexo da carga (a, b).
Uma vez que a tenso nos pontos (a, b)
U
ab
= U
ab
- U
Zn
pode ser notado que qualquer variao na corrente I
Load
, particularmente na componente reativa,
causar uma variao indesejvel na tenso U
ab
.
Em uma rede de potncia real, este fenmeno muito mais complexo, mas o princpio vlido.
Freqentemente, a pergunta que surge sobre se uma ligao planejada de uma carga rede causaria o
cintilamento ou aumentaria o nvel cintilamento acima do limite prescrito. A resposta para esta pergunta
depende dos parmetros da rede e de quaisquer cargas conectadas que possam causar efeitos negativos.
Figura 9 - Influncia de uma carga sobre uma rede.
6
Medio de Cintilamento
Uma vez que o efeito no pode ser medido antes da conexo, ele deve ser estimado. Questes
de compatibilidade so tratadas na norma IEC 61000-3-3 [5], na qual se assume uma impedncia
de referncia da fonte Z
Zn
equivalente a Re(Z
Zn
) = 0,4 W e Im(Z
Zn
) = 0,25 W em 50 Hz.
Adicionalmente, a norma indica um mtodo para melhorar a avaliao levando em conta o perfil
da modulao da tenso de alimentao, ou seja, os clculos assumem o pior caso de uma modulao
de forma de onda quadrada, requerendo, ento, modificaes para outras formas de ondas.
Figura 10 - Exemplo de um perfil de carga da referncia [5].
A Figura 10, obtida de [5], mostra um perfil, tpico de um acionador de motor, mostrando como
as variaes de tenso U so determinadas para o clculo de d = U/U
ab
. Os valores dos parmetros
de passo equivalentes dependem de t
1
, t
2
, t
3
etc, como ilustrado na norma. O clculo do valor efetivo
da tenso realizado a cada meio ciclo.
A norma [5] determina que:
o valor do ndice de severidade de cintilamento em curto prazo P
ST
1,0;
o valor do ndice de severidade de cintilamento em longo prazo P
LT
0,65;
variao da tenso relativa estacionria d 3%;
variao da tenso relativa mxima d
max
4%;
o valor de d durante a variao de tenso no deveria exceder 3% para uma durao maior
do que 200 ms.
Se a carga causa variaes da tenso U
ab
menos do que uma vez por hora, ou se as variaes
so resultantes de chaveamentos manuais, ento os valores permitidos so aumentados em 33%.
importante notar que assumida uma tenso de rede constante, ou seja, sem a presena da carga
sob teste no haveria nenhuma flutuao de tenso na rede.
O fenmeno de severidade de cintilamento no aditivo - operaes matemticas no podem ser
executadas sobre os resultados das medies de P
ST
ou P
LT
.
Concluso
O cintilamento tem sido um problema nas redes eltricas desde o principio. A partir dos anos oitenta,
os progressos na compreenso do fenmeno e do processo de percepo resultaram na normalizao
dos mtodos de medio e dos instrumentos de modo a permitir a medio confivel do cintilamento.
Os instrumentos modernos, que empregam tcnicas rpidas de processamento de sinal digitais,
permitem avaliar e resolver os problemas de cintilamento mais rapidamente.
Medio de Cintilamento
7
Tempo
T
e
n
s

o

d
e

a
l
i
m
e
n
t
a

o
Referncia:
[ 1 ] G ui d e to Q ua l i ty o f El ectr i ca l Sup p l y f o r Ind ustr i a l Insta l l a ti o ns, Pa r t 5 , Fl i cker a nd Vo l ta g e Fl uctua ti o ns, Po w er
Q ua l i ty W o r ki ng G r o up W G 2 , 2 0 0 0 .
[ 2 ] IEC 6 0 8 6 8 , Fl i cker meter, Functi o na l a nd Desi g n Sp eci f i ca ti o ns, 1 9 8 6 .
[ 3 ] IEC 6 0 8 6 8 -0 , A mend ment 1 , Fl i cker meter, Functi o na l a nd Desi g n Sp eci f i ca ti o ns, 1 9 9 0 .
[ 4 ] IEC 6 1 0 0 0 -4 -1 5 : 1 9 9 7 , El ectr o ma g neti c C o mp a ti b i l i ty (EM C ) - Pa r t 4 : Testi ng a nd M ea sur ement Techni q ues
- Secti o n 1 5 : Fl i cker meter - Functi o na l a nd Desi g n Sp eci f i ca ti o ns.
[ 5 ] IEC 6 1 0 0 0 -3 -3 : 1 9 9 5 , El ectr o ma g neti c co mp a ti b i l i ty (EM C ) - Pa r t 3 : Li mi ts - Secti o n 3 : Li mi ta ti o n o f Vo l ta g e
Fl uctua ti o ns a nd Fl i cker i n Lo w -vo l ta g e Sup p l y Sy stems f o r Eq ui p ment w i th Ra ted C ur r ent 1 6 A .
[ 6 ] M o mb a uer W : EM V M essung vo n Sp a nnug s-schw a nkung en und Fl i cker n mi t d em IEC -Fl i cker meter, VDE VERLA G ,
Ber l i n und O f f enb a ch 2 0 0 0 .
8
Medio de Cintilamento
European Copper Institute* (ECI)
www.eurocopper.org
Akademia Gorniczo-Hutnicza (AGH)
www.agh.edu.pl
Centre d'Innovaci Tecnolgica en Convertidors
Esttics i Accionaments (CITCEA-UPC)
www-citcea.upc.es
Comitato Elettrotecnico Italiano (CEI)
www.ceiuni.it
Copper Benelux*
www.copperbenelux.org
Copper Development Association* (CDA UK)
www.cda.org.uk
Deutsches Kupferinstitut* (DKI)
www.kupferinstitut.de
Engineering Consulting & Design* (ECD)
www.ecd.it
EPRI Solutions Inc
www.epri.com/eprisolutions
ETSII - Universidad Politcnica de Madrid
www.etsii.upm.es
Fluke Europe
www.fluke.com
Hochschule fr Technik und Wirtschaft* (HTW)
www.htw-saarland.de
Hogeschool West-Vlaanderen Departement PIH
www.pih.be
International Union for Electricity Applications (UIE)
www.uie.org
ISR - Universidade de Coimbra
www.isr.uc.pt
Istituto Italiano del Rame* (IIR)
www.iir.it
Katholieke Universiteit Leuven* (KU Leuven)
www.kuleuven.ac.be
Laborelec
www.laborelec.com
LEM Instruments
www.lem.com
MGE UPS Systems
www.mgeups.com
Otto-von-Guericke-Universitt Magdeburg
www.uni-magdeburg.de
Polish Copper Promotion Centre* (PCPC)
www.miedz.org.pl
Universit di Bergamo*
www.unibg.it
University of Bath
www.bath.ac.uk
The University of Manchester
www.manchester.ac.uk
Wroclaw University of Technology*
www.pwr.wroc.pl
Referncias & Membros Fundadores
David Chapman (Chief Editor) CDA UK david.chapman@copperdev.co.uk
Prof. Angelo Baggini Universit di Bergamo angelo.baggini@unibg.it
Dr. Araceli Hernndez Bayo ETSII - Universidad Politcnica de Madrid ahernandez@etsii.upm.es
Prof. Ronnie Belmans UIE ronnie.belmans@esat.kuleuven.ac.be
Dr. Franco Bua ECD franco.bua@ecd.it
Jean-Francois Christin MGE UPS Systems jean-francois.christin@mgeups.com
Prof. Anibal de Almeida ISR - Universidade de Coimbra adealmeida@isr.uc.pt
Hans De Keulenaer ECI hdk@eurocopper.org
Prof. Jan Desmet Hogeschool West-Vlaanderen jan.desmet@howest.be
Dr. ir Marcel Didden Laborelec marcel.didden@laborelec.com
Dr. Johan Driesen KU Leuven johan.driesen@esat.kuleuven.ac.be
Stefan Fassbinder DKI sfassbinder@kupferinstitut.de
Prof Zbigniew Hanzelka Akademia Gorniczo-Hutnicza hanzel@uci.agh.edu.pl
Stephanie Horton ERA Technology s tephanie.horton@era.co.uk
Dr. Antoni Klajn Wroclaw University of Technology antoni.klajn@pwr.wroc.pl
Kees Kokee Fluke Europe BV kees.kokee@fluke.nl
Prof. Wolfgang Langguth HTW wlang@htw-saarland.de
Jonathan Manson Gorham & Partners Ltd jonathanm@gorham.org
Prof. Henryk Markiewicz Wroclaw University of Technology henryk.markiewicz@pwr.wroc.pl
Carlo Masetti CEI masetti@ceiuni.it
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Dr. Miles Redfern University of Bath eesmar@bath.ac.uk
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Prof. Dr-Ing Zbigniew Styczynski Universitt Magdeburg Sty@E-Technik.Uni-Magdeburg.de
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Conselho Editorial
Dr eng Andrzej Bie

n
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