Difração de Raios X

Tópicos
Introdução

Princípio da Técnica

Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações

Profa. Dra. Simoni Maria Gheno

 Difração de Raios-X
Introdução

Princípio

Métodos de DRX
O que é?
Difratogramas

Aplicações
Como funciona?

Onde se aplica?
 Retículos de Bravais
Introdução

Princípio

Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações
 7 Sistemas de Bravais
Introdução

Princípio Si t
Sistema d
de cristalização
i t li ã Ei
Eixos Â
Ângulos
l entre
t os eixos
i
Cúbico a=b=c α = β = γ = 90º
Métodos de DRX
Tetragonal a=b≠c α = β = γ = 90
90º
Difratogramas Ortorrômbico a≠b≠c≠a α = β = γ = 90º
Aplicações Hexagonal
g a=b≠c α = β = 90º;; γ = 120º
Romboédrico ou Trigonal a = b = c α = β = γ ≠ 90º
Monoclínico a≠b≠c≠a α = γ = 90º; β ≠ 90º
Triclínico a≠b≠c≠a α ≠ β ≠ γ (todos ≠ 90º)
 Índices de Miller
Introdução
Notação para definir os planos de rede
Princípio
9Obtém-se as intersecções do plano com os eixos.
Métodos de DRX 9Obtém-se o inverso das intersecções
Difratogramas
(coordenadas do espaço recíproco).
9 Multiplica-se para obter os menores números
Aplicações inteiros
inteiros.

1
z
1/2, ∞, 1
Intersecções: 1/2
h = 1/x Inversos: 2, 0 ,1
(hkl) k = 1/y Índices de Miller: ((201))
l = 1/z
1/

y
Parâmetros
â de rede
1/2
x
 Índices de Miller
Introdução
Sistema Cúbico
Princípio

Métodos de DRX

Difratogramas Primitivo

Aplicações

Face
C t d
Centrada
(hkl)
Corpo
Centrado
 Descoberta dos Raios-X
Introdução
(1895) Wilhelm Roentgen ⇒ Descoberta dos
Princípio Raios X
Raios-X
Métodos de DRX Aparato experimental
Difratogramas B - bobina de indução
do tipo Ruhmkorff,
Aplicações
C - placa
l ffotográfica
t áfi
T - tubo evacuado de
Hittorf-Crookes

(1911/1912) Descoberta
D b t a dif
difração
ã de
d raios
i X–
possibilitando a determinação da estrutura
cristalina dos materiais
W. Roentgen
A. Padilha: Materiais para a Engenharia. Hemus, 2000
 Fenômeno de Difração – Lei de Bragg
Introdução
Difração de raios-X através de um cristal
Princípio
Raios-X incidentes Raios-X refletidos
Métodos de DRX λ

Difratogramas θ N

Aplicações θ
d P Q
O
d

d senθ d senθ
Se a Lei
S L i de
d
Bragg não for
Só ocorrerá reflexão (interferência construtiva)
satisfeita, a se a distância extra percorrida por cada feixe
difração não incidente for um múltiplo inteiro de λ.
λ
ocorre
Lei de Bragg PO + OQ = nλ= 2d senθ n = 1, 2, 3, 4...
 Geração e seleção dos Raios-X
Introdução
Os raios- X utilizados para analisar materiais
Princípio policristalinos devem ser monocromáticos,
monocromáticos ou
seja, o feixe deve apresentar um único
Métodos de DRX
comprimento
p de onda e estar em fase
Difratogramas
Emissão de raios-X - ocorre quando um alvo
Aplicações metálico, encerrado em uma cápsula evacuada
é bombardeado por elétrons acelerados

1.Onde os
elétrons são
gerados?

2.Como os
elétrons incidem
na amostra?
B.D. Cullity: Elements of X-ray Diffraction, 3rd Ed. Hardcover,2001
 Geração e seleção dos Raios-X
Introdução
A radiação emitida representa a superposição de
Princípio dois espectros:
9 espectro
Métodos de DRX
contínuo
Difratogramas 9 espectro
característico
Aplicações

A. Padilha: Materiais para a Engenharia. Hemus, 2000

 Geração e seleção dos Raios-X
Introdução
Interação de elétrons com um átomo, ilustrando
Princípio o aparecimento de raios
raios-X
X característicos deste
átomo
Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações

A. Padilha: Materiais para a Engenharia. Hemus, 2000

 Método do Pó
Introdução
Difractômetro
Princípio S= amostra
Métodos de DRX O= eixo no qual a
amostra e o
Difratogramas H detector giram

Aplicações Fonte

B, F= Colimadores
D= detector
B
E F
H, E: suportes
D
X-Ray Methods:
John Wiley &
Sons, 1987
 Método do Pó
Introdução
Difractômetro
Princípio
Difratograma DRX
Métodos de DRX

Difratogramas
λ = 0.1542 nm (CuKα)
Aplicações
Intensidade
(u.a))

Ângulo (2θ)
 Método do Pó
Introdução
Exemplo de Difractômetro
Princípio

Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações
 Intensidade Relativa
Introdução

Princípio

Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações

β ((2θ)) - largura
g
na metade da Posição 2θ
altura do pico
de difração Intensidade Relat. I/I1 ⇒ I1 pico de maior intensidade
Forma B (2θ)
 Parâmetros de Rede
Introdução 2θ I/I1 h k l

Princípio 7.193 100 1 0 0

10.156 69 1 1 0
12.449 35 1 1 1
Métodos de DRX
16.085 25 2 1 0
(410) 17.632 2 2 1 1
Difratogramas (311) (321) 20.368 6 2 2 0
21.638 36 3 0 0
23.960 53 3 1 1
Aplicações 26.077 16 3 2 0
(332) 27.077 47 3 2 1
(300)
(110) 29.913 55 4 1 0
(111)
(210)
(320)
(420)
Zeólita A (330)
(220) (422)
(Catalisador) (211)
 Difratogramas Cracterísticos
Introdução

Princípio

Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações

B.D. Cullity: Elements of X-ray Diffraction, 3rd Ed. Hardcover,2001

 Identificação de constituintes
microestruturais
Introdução

Princípio

Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações

LCE-UFSCar
 Métodos de quantificação de fases
Introdução
Métodos convencionais (área dos picos)
Princípio

Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações

A. Padilha: Técnicas de Análise Microestrutural. Hemus

 Métodos de quantificação de fases
Introdução
Método Rietveld (todo o difratograma)
Princípio
Técnica robusta para
Métodos de DRX
a análise quantitativa
Difratogramas de fases minerais,
através da difração de
Aplicações raios X
raios-X.

dif t
difratograma coletado
l t d
Hugo Rietveld (1964) difratograma calculado
por Rietveld
Ri t ld
resíduo do
processamento
t

R. A. Young - The Rietveld Method, 2aEd. Oxford, 1995

 Identificação de constituintes
microestruturais
Introdução
Espectro de difração do NaCl.
Princípio R di ã d
Radiação de cobre.
b Filt
Filtro d
de Ní
Níquell
Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações

A. Padilha: Materiais para a Engenharia. Hemus, 2000

 Identificação de constituintes
microestruturais
Introdução
JCPDS para o NaCl
Princípio

Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações

JCPDS –
Joint
Committee of
Powder
Diffraction
Standars
A. Padilha: Materiais para a Engenharia. Hemus, 2000
 Identificação de constituintes
microestruturais
Introdução Polifásico: Parte do espectro de difração do aço Ni-V
Princípio
temperado contendo cerca de 30% em volume de
austenita (γ) e martensita tetragonal (α).Radiação de
Métodos de DRX cormo. Filtro de vanádio.
111 γ
Difratogramas
110 α
Aplicações

frações volumétricas
de fases menores do
220 γ 200 γ
que 3-5% : 200 α
-dificilmente são
detectadas
- picos dessas fases
se confundem com
a radiação de fundo
A. Padilha: Materiais para a Engenharia. Hemus, 2000
 Determinação do Diagrama de Fases
Introdução
DRX na determinação de diagrama de fases
Princípio

Métodos de DRX
O diagrama
Difratogramas hipotético
Aplicações apresenta:
p
-3 fases sólidas,
-2 soluções
ç
terminais com
estrutura CFC
-1 estutura
intermediária
CCC
A. Padilha: Materiais para a Engenharia. Hemus, 2000
 Efeito de deformação
Introdução
Espectro de difração do latão
Princípio
(a) encruado;
Métodos de DRX (a) (b) recozido 200°C/1h;
( ) recozido
(c) id a 250°C/1h
250°C/1h;
Difratogramas
(b) (d) recozido 300°C/1h;
Aplicações (e) recozido 450°C/1h
450 C/1h

Entender os efeitos de
(c) deformação possibilita:
• determinar as tensões
Encruamento:
internas
acarreta tanto (d)
alargamento quanto • estudar a energia de
deslocamento dos defeito de empilhamento
máximos de
difração em (e)
comparação com
um material
recozido A. Padilha: Materiais para a Engenharia. Hemus, 2000
 Difração de raios-X do material vítreo
VT7
Introdução .

Princípio

Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações

VT7
Material vítreo
com 10% de
resíduo – fusão 7

E. C. S. N. SERPA: Obtenção de fritas cerâmicas a partir de resíduo refratário

proveniente do setor metalúrgico, Tese de Doutorado, UFSC, 2007
 Difração de raios-X da perlita
expandida
Introdução

Princípio

Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações

(a) perlita AF
(b) perlita SF-22
45°Öcaracterístico da
alta concentração de
silicatos,
banda larga entre 15° e
35°, provavelmente
p
atribuída a fase L.D. BELARMINO (UFRN); N. S. FERNANDES (UFRN) ; D.
amorfa. M. A. MELO, (UFRN): Caracterização físico-química da
perlita expandida. Química dos Materiais
 Difração de raios-X do pó do varistor
ZnO e ZnO dopado
Introdução

Princípio

Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações

Sinterização em ar a
1050 °C
C por 1 hora
(a) ZnO
(b) and ZnO+0.5
mol.% Cu
• Somente a fase ZnO é visível
• Nenhum pico de cobre foi observado

S.M.Gheno, J. Am. Ceram. Soc., 91 [11] 3593–3598 (2008)

 Difração de Raios-X do varistor ZnO
dopado
Introdução

Princípio

Métodos de DRX

Difratogramas

Aplicações

Sinterização em ar a
1050 °C
C por 1 hora
(a) ZnO-CuO
(b) ZnO-CuO+1
mol.% frita • 2θ= 26.7º e em 34º:Zn2SiO4 obtida a partir da
(c) ZnO-CuO+5
ZnO CuO 5
mol.% frita
reação da fase vítrea com os grãos de zinco a
altas temperaturas
S.M.Gheno, J. Am. Ceram. Soc., 91 [11] 3593–3598 (2008)