Beruflich Dokumente
Kultur Dokumente
__________________________________________________________________________________________
33
3- MATERIALES Y MTODOS
3.1. DISOLVENTES Y REACTIVOS
Los disolventes y reactivos, normalmente de calidad PA-ACS, se utilizaron sin purificacin previa.
Los disolventes deuterados utilizados para RMN son:
- CDCl
3
-d, grado de deuteracin mnimo 99,8% (Merck).
- TFA-d, grado de deuteracin mnimo 99,8% (Aldrich).
- TFA, grado de pureza 99,8% (Aldrich).
- cido frmico-d, grado de deuteracin mnimo 98% (Aldrich).
Los enzimas utilizados en los ensayos de biodegradacin son:
- Papana (Carica papaya), 30,000 unidades/mg, N 7144 (Merck).
- Proteinasa K (Tritirachium album), 11.3 unidades/mg (Sigma).
- Lipasa (Pseudomonas cepacea), 40 unidades/mg (Fluka).
- Lipasa (Candida cylindracea), 943 unidades/mg (Sigma).
- Lipasa (Rizophus delemar), 0.4 unidades/mg (Fluka)
3.2. SNTESIS
3.2.1. Sntesis de compuestos modelo.
La sntesis de los compuestos modelo se llev a cabo segn los procedimientos empleados en la
preparacin de retro-pptidos.
76
Para los dos compuestos con estructura: MeO-OC-R-NH-OC-R-CO-
NH-R-CO-OMe, donde R es un grupo metileno para el caso del aminocido glicina y R es el grupo
tereftlico (C
6
H
4
) u oxlico (CO-CO), el mtodo consisti en hacer reaccionar dos moles del ster
metlico del aminocido con un mol del dicloruro del cido correspondiente en presencia de trietilamina
como base.
El modelo: CH
3
C
6
H
4
CO-NHCH
2
CO-O(CH
2
)
6
O-OCCH
2
NH-COC
6
H
4
CH
3
, se prepar en dos etapas. La
primera es una esterificacin con cido p-toluenosulfnico de dos moles de glicina con uno de
1,6-hexanodiol. A continuacin, un mol del trmero anterior se trat con dos moles de cloruro de
4-metilbenzoilo en presencia de trietilamina como base.
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
34
3.2.2. Sntesis de polmeros.
El mtodo de polimerizacin empleado se eligi en funcin del tipo de polmero. Las poliesteramidas y
poliamidas fueron sintetizadas por polimerizacin interfacial o trmica, y los polisteres por
polimerizacin trmica.
3.2.2.1. POLIMERIZACIN INTERFACIAL
Se trata de una reaccin bimolecular que tiene lugar en la interfase entre dos lquidos inmiscibles. En la
fase orgnica se encuentra disuelto el dihaluro de cido, y en la fase acuosa la diamina o el diol segn
se trate de poliamidacin o poliesterificacin, respectivamente. Esta tcnica aprovecha la mayor
reactividad de los dihaluros de cido frente a sus correspondientes disteres o dicidos.
77
Algunos
factores como la conversin de la reaccin pueden verse afectados por la agitacin del sistema. Dos
tipos de sistemas pueden ser empleados: sin agitacin y con agitacin.
En los sistemas sin agitacin el polmero no es soluble en la interfase y al poner en contacto ambas
soluciones se observa la formacin de un film o filamento, l cual puede tener resistencia mecnica
suficiente para ir estirndose y eliminndose de forma contnua del medio de reaccin.
Los sistemas con agitacin se aplican a polmeros que precipitan rpidamente y no es necesaria la
formacin de un film para eliminarlo del medio de reaccin, el polmero es aislado por filtracin.
Algunos factores que influyen en el rendimiento y peso molecular de los polmeros obtenidos por el
mtodo de polimerizacin interfacial deben ser considerados. En primer lugar, es necesaria la
presencia en la fase acuosa de una base inorgnica que neutralice el subproducto cido procedente de
la reaccin de condensacin, en caso contraro ste reaccionara con la diamina para dar la sal
hidroclrica y se reducira sustancialmente el peso molecular resultante. Aunque las bases fuertes son
mejores aceptores de subproductos cidos y deben emplearse en la sntesis de poliamidas,
78
deber
considerarse su eleccin en el caso de monmeros con enlaces fcilmente hidrolizables a pH bsico.
En stos casos se escogen bases ms dbiles como el carbonato de sdio.
El dihaluro de cido puede sufrir hidrlisis dando lugar al dicido a concentraciones elevadas de base y
a bajas velocidades de polimerizacin. La hidrlisis no slo reduce la velocidad de polimerizacin, sino
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
35
tambin limita en gran medida el peso molecular del polmero debido a que el dicido resultante no
resulta reactivo a las temperaturas en que tiene lugar la polimerizacin interfacial.
La eleccin del disolvente en la fase orgnica tambin juega un papel importante en el control del peso
molecular, ya que la reaccin parece tener lugar en este lado de la interfase. El disolvente debe
mantener disuelto el polmero en crecimiento hasta que ste alcance un tamao suficientemente
grande como para precipitar. Disolventes como xileno y tetracloruro de carbono tienden a dar polmeros
de peso molecular ms bajo que cloroformo o diclorometano porque precipitan todas las fracciones
polimricas.
A pesar de las ventajas que el mtodo representa, existen ciertos inconvenientes que limitan su utilidad
industrial como el elevado coste de los reactivos y la grande cantidad de disolvente que es necesario
utilizar y recuperar posteriormente. La polimerizacin interfacial puede utilizarse para obtener diversos
polmeros, aunque los policarbonatos son los nicos que se obtienen actualmente a escala industrial.
3.2.2.2. POLIMERIZACIN TRMICA
El mtodo de polimerizacin trmica es ventajoso respecto al de polimerizacin interfacial para la
produccin industrial debido a que no es necesaria la recuperacin de reactivos o cualquier otro
tratamiento posterior a la polimerizacin.
Este proceso tiene un inters particular en la preparacin industrial de polisteres. Concretamente
podemos ilustrar el proceso caracterstico seguido en la sntesis de los polisteres relacionados con el
presente trabajo.
Los componentes, dicidos o sus steres y dioles, son aadidos en un recipiente provisto de
condensador, una entrada de gas, un termmetro y agitacin. En general se utiliza un exceso
estequiomtrico de diol debido a su mayor volatibilidad. Un flujo constante de nitrgeno es suministrado
para eliminar el aire, manteniendo la atmsfera inerte. Los componentes son calentados y agitados a
una temperatura cercana a 140-160
1
0
t
t
c
donde t y t
0
son los tiempos de cada de la disolucin y el disolvente; c es la concentracin de la
disolucin en g.dL
-1
. Los tiempos son proporcionales a la viscosidad si son suficientemente grandes
para lo cual debe elegirse adecuadamente el dimetro del capilar.
Una vez calculada la viscosidad intrnseca, se puede determinar el peso molecular viscosimtrico (M
v
)
de un polmero a partir de la ecuacin de Mark-Houwink:
[] = K.M
v
a
donde K (dL.g
-1
) y a son constantes tabuladas que dependen de la naturaleza del polmero, del
disolvente y de la temperatura.
Experimentalmente la determinacin de la viscosidad intrnseca se realiza midiendo el tiempo de flujo
(t) requerido para que un volumen determinado de disolucin polimrica atraviese el tubo capilar por
efecto de la gravedad y el tiempo que tarda en hacerlo un volumen equivalente de disolvente puro (t
0
).
Las medidas se efectuaron en un viscosmetro capilar Cannon-Ubbelhode tipo semi-micro (modelo 150)
termostatizado a 250.1
o
C en un bao de agua. Se utiliz cido dicloroactico como disolvente, en el
rango de concentraciones 0.1 a 0.035 g/dL.
3.3.1.2. CROMATOGRAFA DE PERMEACIN EN GEL (GPC)
La cromatografa de permeacin en gel es una potente tcnica de separacin que encontr gran
aplicacin en el campo de los polmeros despus de su desarrollo en 1961.
82
Actualmente es la tcnica
ms utilizada para la separacin de las molculas de una muestra polimrica en funcin del tamao
molecular. Se produce como consecuencia de la diferente penetracin de las macromolculas a travs
de los poros de un gel dispuesto en el interior de una columna cromatogrfica. Los materiales de
relleno de la columna son principalmente poliestireno poroso (entrecruzado e hinchado) y vidrio poroso.
c0
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
39
Los cromatgrafos utilizados son similares a los de HPLC, siendo la columna y el detector las partes
ms importantes del instrumento.
Cuando una disolucin polimrica, con diferentes tamaos moleculares es introducida en el interior de
la columna cromatogrfica tiene lugar un fraccionamento en funcin de su tamao molecular y de la
distribucin de tamao de poro del gel polimrico. Las molculas de mayor tamao se arrastran con el
disolvente, tardan menos tiempo en atravesar la columna y son las primeras en abandonarla, mientras
que las de tamao menor son retenidas durante un tiempo superior. A la salida de la columna se
registra la variacin entre el ndice de refraccin del disolvente puro y la fraccin recogida. Para
conocer los valores de los pesos moleculares se requiere un calibrado con patrones.
En este trabajo las medidas se realizaron en un cromatgrafo Waters (modelo 510) equipado con
columnas -Stiragel (Polymer Lab.) de 10000 y 1000 de estireno-divinilbenceno termostatizadas a
35
o
C, con un detector de ndice de refraccin (RI 410) y un programa para tratamiento de datos
(Mxima 820). El calibrado se realiz con muestras de poliestireno (Polysciences) de baja dispersidad.
El eluyente consisti en una mezcla de cloroformo/ortoclorofenol (90/10, v/v) y su velocidad de flujo fue
de 0.5 mL/min. El volumen inyectado fue de 100 L y la concentracin de las muestras fue de 2.5
mg/mL.
En este trabajo solamente se efectu el anlisis cromatogrfico con los polisteres. En los nylons y en
las poliesteramidas no fue posible su realizacin debido a los problemas de insolubilidad de estos
materiales en los disolventes orgnicos comunes.
3.3.2. Espectroscopa infrarroja (IR)
Constituye una tcnica espectroscpica de amplio uso que se basa en la excitacin de los modos de
vibracin de las molculas por la absorcin de la radiacin infrarroja. Aunque esta comprende
longitudes de onda () entre el visible y el microondas, la regin de infrarrojo medio entre 4000-300cm
-1
es la ms empleada desde un punto de vista prctico. Durante la excitacin es necesaria una variacin
del momento dipolar de la molcula para que se produzca una absorcin en el IR que puede asociarse
a vibraciones de tensin (simtrica o asimtrica) o de deformacin. La deteccin de los grupos
funcionales presentes es la principal aplicacin de la tcnica.
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
40
Las bandas de mayor importancia para los materiales estudiados se resumen a continuacin:
Metilenos
2940 cm
-1
: tensin asimtrica del C-H.
2860 cm
-1
: tensin simtrica del C-H.
1460 cm
-1
: deformacin asimtrica del C-H.
725 cm
-1
: deformacin simtrica del C-H.
Amida
3300 cm
-1
: vibracin de tensin del N-H (AMIDA A).
3100 cm
-1
: sobretono de la amida II (AMIDA B).
1650 cm
-1
: vibracin de tensin del C=O (AMIDA I).
1550 cm
-1
: vibracin de torsin del N-H y tensin del C-N (AMIDA II).
1300-1250 cm
-1
: interacciones entre las vibraciones de tensin del C-N y las de torsin del N-H.
Adems en esta zona aparecen las vibraciones de tensin del C-C y de torsin de los grupos
CH
2
y CH (AMIDA III).
627 cm
-1
: vibracin de torsin de N-C=0 (AMIDA IV).
700 cm
-1
: vibracin de torsin fuera del plano de N-H (AMIDA V).
600 cm
-1
: vibracin de torsin fuera del plano de C=O (AMIDA VI).
ster
1740 cm
-1
: vibracin de tensin del C=O.
1100 cm
-1
: vibraciones de tensin (simtrica y asimtrica) del C-O.
Los espectros fueron registrados en espectrofotmetros de transformada de Fourier Perkin-Elmer 1600
y Perkin-Elmer 2000 a partir de muestras slidas dispersas en pastillas de KBr o como pelculas
preparadas por evaporacin lenta del disolvente sobre ventana de NaCl.
3.3.3. Espectroscopa de resonancia magntica nuclear (RMN)
La tcnica de RMN se utiliza como complementaria a la espectroscopa infrarroja y constituye
actualmente una de las ms tiles y empleadas para conocer la estructura de los compuestos
orgnicos. Su papel en el campo de los polmeros se destaca especialmente por proporcionar datos
sobre su constitucin, organizacin y dinmica, que difcilmente podran obtenerse por otros medios.
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
41
La tcnica analiza la interaccin entre los niveles de energa de los espines de ciertos ncleos atmicos
con la radiacin electromagntica. nicamente los ncleos con momento magntico nuclear sern
observables. Los ncleos de sustancias orgnicas ms usuales en RMN, son los de protn (
1
H) y
carbono 13 (
13
C). La posicin de las seales obtenidas depende en los dos casos del entorno
electrnico. Los espectros de
1
H-RMN consisten en un registro de las seales de resonancia que
corresponden a los diferentes tipos de hidrgeno presentes en la muestra en forma de picos cuya
posicin, anchura, rea y subestructura permiten la potente caracterizacin arriba mencionada. La
posicin est asociada a la identidad de los diferentes grupos vecinos a los protones y se expresa
como desplazamiento qumico en ppm respecto a la seal de un grupo de referencia. El rea es
proporcional al nmero de protones presentes en la muestra.
Los espectros de RMN se realizaron con un espectrofotmetro Bruker AMX-300 que opera a 300.13 y
75.4 MHz para
1
H y
13
C, respectivamente. Experimentalmente estos espectros se obtienen disolviendo
la muestra en disolvente deuterados como son el cloroformo (CDCl
3
), cido trifluoroactico (TFA-d) y
cido frmico. La disolucin resultante se introduce en un tubo de vdrio especial de 5-10 mm de
dimetro, se aade una gota de la substancia de referencia (TMS) y se introduce en el imn
superconductor del aparato.
En el caso de los polmeros se pueden determinar su estructura qumica, la presencia de grupos
terminales y posibles ramificaciones. La presencia de grupos terminales en el espectro se utiliza para
determinar el peso molecular (M
n
) de los polmeros. Por ltimo, tambin resulta til en el seguimiento
de la degradacin de polmeros. La aparicin de nuevas seales o la disminucin de la intensidad de
otras existentes en el espectro inicial del polmero sirve para conocer el avance de la degradacin.
3.3.4. Anlisis trmico
El anlisis trmico comprende un conjunto de tcnicas cuyo objetivo es la determinacin del
comportamiento trmico de un material en funcin de la temperatura o del tiempo. En el campo de los
polmeros las tcnicas ms usuales son: anlisis trmico diferencial (DTA), calorimetra diferencial de
barrido (DSC), anlisis termogravimtrico (TGA) y el anlisis trmico dinamomecnico (DMTA).
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
42
3.3.4.1. CALORIMETRA DIFERENCIAL DE BARRIDO (DSC)
En los materiales polimricos, las transiciones trmicas ms importantes en DSC son la temperatura de
transicin vtrea (T
g
) y la temperatura de fusin (T
f
). En los polmeros amorfos la T
g
es la nica
transicin que se registra y aparece como un cambio abrupto de la lnea base. Por otra parte en los
muy cristalinos la T
g
es difcil de observar debido a la baja proporcin de parte amorfa en el polmero.
Los procesos de fusin/cristalizacin dan informacin cualitativa sobre la temperatura del pico de fusin
y cuantitativa sobre la cristalinidad del polmero (rea del pico). La fusin se manifiesta en un pico
endotrmico con subida ms o menos gradual y regular segn la naturaleza e histria trmica de la
muestra, y bajada brusca hasta recobrar la lnea base, que si se mantiene tras la fusin, puede decirse
que el material es estable para ser procesado por fusin. Lo contrario es indicio de descomposicin y
debe estudiarse con ms detalle por anlisis termogravimtrico. La cristalinidad se evala usando como
referencia el calor de fusin de un material 100% cristalino que puede estimarse a partir de las
contribuciones de grupo.
83
Los valores utilizados fueron 2.5 kJ/mol para el grupo ster, 2.0 kJ/mol
para el grupo amida, 4.7 kJ/mol para el grupo CH(CH
3
), 4.0 kJ/mol para el grupo metilnico y 5.0 kJ/mol
para el grupo p-fenilnico.
Normalmente en una calorimetra rutinaria se registran 4 barridos. En el primer barrido se obtiene
informacin acerca de la fusin de una muestra cristalizada directamente en el proceso de
polimerizacin. Inmediatamente despus de la fusin se procede el enfriamiento lento de la muestra
para observar la cristalizacin del fundido (2 barrido). Posteriormente se realiza un segundo
calentamiento (3 barrido) para verificar la fusin de la muestra cristalizada a partir del fundido y la
reproducibilidad de las fusiones observadas. Por ltimo, despus de haber sometido la muestra a un
enfriamiento rpido, se hace un tercer calentamiento (4 barrido) que permite determinar la temperatura
de transicin vtrea del material.
Los anlisis trmicos se han efectuado en un calormetro diferencial de barrido Perkin-Elmer DSC-30
equipado con un termoanalizador TA400 y en un calormetro Perkin-Elmer DSC-PYRIS 1. El calibrado
se realiz con ndio (T
f
= 429.75 K, H
f
= 3.267 kJ/mol). Las calorimetras se han registrado a una
velocidad de calentamiento de 20
C/min y de 10
C.
3.3.4.3. ENSAYOS TERMODINAMOMECNICOS (DMTA)
El anlisis trmico dinamomecnico suministra informacin cuantitativa de la variacin que experimenta
el mdulo durante las transiciones termodinmicas o relajaciones del material, pudindose detectar la
transicin , asociada a segmentos de la cadena principal, y otras transiciones (, , etc.),
correspondientes a movimientos moleculares locales. La tcnica es particularmente adecuada para
estudiar la transicin vtrea pues suele ser ms sensible que la calorimetra, especialmente con
polmeros cristalinos.
La aplicacin de una tensin a un material viscoelstico se traduce en el almacenamiento de energa
elstica y en una disipacin de energa en forma de calor. El comportamiento mecnico-dinmico se
evala en funcin de la temperatura. Para ello se aplica una tensin de forma cclica con una
frecuencia angular (), la deformacin causada por dicha tensin tambin vara de forma sinusoidal
pero con un cierto retardo en la respuesta. El fenmeno se interpreta descomponiendo la tensin
aplicada en dos componentes, uno en fase con la deformacin y otro en desfase con respecto a ella.
La expresin que corresponde a la deformacin sinusoidal de la muestra es:
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
44
(t) =
o
sen(t)
donde
o
es la deformacin mxima aplicada, es la frecuencia angular y t es el tiempo. La ecuacin
correspondiente a la tensin () producida por el material es:
(t) =
o
sen(t + )
donde
o
es la tensin mxima y es la diferencia de fase entre la deformacin aplicada y la tensin
producida. Las propiedades dinamomecnicas se describen mediante el mdulo complejo (E
):
E
= / = E + i E
donde E es el denominado mdulo de almacenamiento, que es una medida de la energa que puede
recuperarse de la deformacin producida en el material y E es el mdulo de prdidas que se relaciona
con la energa disipada por el material viscoelstico y que no puede recuperarse. La diferencia de fase
, que es la que determina la evolucin de calor en un material viscoelstico sometido a una tensin
cclica, queda determinada por la relacin entre estos dos componentes, mediante la llamada tangente
de prdidas o factor de disipacin (tan ).
tan = E/E
El anlisis DMTA se llev a cabo en un analizador Rheometrics PL-DMT MK3 con una frecuencia de
1 Hz. Las probetas utilizadas fueron de 25 x 10 mm
2
de tamao y 0.4 mm de espesor. El calentamiento
se efectu en atmsfera de nitrgeno a 2
C.
3.3.5. Solubilidad
La disolucin de un polmero es un proceso lento que ocurre en dos etapas. En la primera, las
molculas de disolvente se difunden lentamente dentro del polmero produciendo el hinchamiento del
mismo. El proceso de disolucin puede detenerse en esta fase, si las fuerzas intermoleculares
polmero-polmero (reticulacin, cristalinidad o enlaces por puentes de hidrgeno) son lo
suficientemente grandes como para impedirlo. En caso de que estas fuerzas puedan superarse por la
formacin de interacciones intensas polmero-disolvente, tendr lugar la segunda etapa de la
disolucin. En sta, el polmero hinchado se desintegra gradualmente convirtindose en una verdadera
disolucin. El proceso de disolucin puede ser bastante lento (das o semanas) para materiales de muy
alto peso molecular.
La temperatura es un factor importante que debe ser controlado durante el experimento. La
polidispersidad es una caracterstica de los polmeros que dificulta sus pruebas de solubilidad debido a
la coexistencia de molculas de bajo peso molecular; ms fcilmente solubles, y de alto peso
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
45
molecular; que se disuelven con mayor dificultad. Por esta razn, en un polmero pueden darse varios
casos de solubilidad:
Insolubilidad total en el disolvente.
Insolubilidad parcial: cuando tiene lugar la solubilizacin de las molculas de menor peso
molecular o cuando se produce un hinchamiento del polmero al penetrar el disolvente en el
material sin llegar a disolverlo.
Solubilidad parcial: en este caso las molculas de menor peso molecular pueden disolverse en
fro y las de mayor peso molecular al calentar la preparacin. Estas, sin embargo, vuelven a
precipitar al enfriar.
Solubilidad total en el disolvente.
Los ensayos de solubilidad consisten en depositar una pequea cantidad del polmero (1 mg) en un
tubo de ensayo al que se aade alrededor de 0.5 mL de disolvente. Tras la agitacin de la preparacin
se observa si se produce algn cambio en el ndice de refraccin del lquido, indicativo del proceso de
disolucin. Por el contrario, si no se detecta ningn cambio, se dice que no hay disolucin a
temperatura ambiente. Cuando se observa una variacin en el aspecto del polmero se considera que
se ha disuelto parcialmente. En aquellos tubos donde no se ha apreciado disolucin se calientan como
mximo a la temperatura del disolvente y se observan los cambios en la solucin.
3.4. CARACTERIZACIN ESTRUCTURAL
3.4.1. MICROSCOPA ELECTRNICA
En la ciencia de los polmeros generalmente el trmino morfologa se refiere a la organizacin y forma
superior al orden atomstico y el trmino estructura se refiere a los detalles de la disposicin atomstica
y molecular. La microscopa electrnica de transmisin (TEM) es capaz de resolver estructuras a
nivel atomstico y molecular y presenta un importante papel con respecto al anlisis morfolgico de los
polmeros. Su principal limitacin es el efecto destructivo que ejercen los electrones sobre los polmeros
y las muestras orgnicas en general. Aunque morfolgicamente la muestra parezca inalterada, el
deterioro de la estructura cristalina se manifiesta con la extincin progresiva del diagrama de difraccin.
No slo se destruyen las interacciones moleculares de tipo secundario, sino tambin los propios
enlaces covalentes. El control riguroso de la dosis de radiacin y el uso de sistemas de registro
extraordinariamente sensibles hace posible obtener los mejores diagramas de difraccin de electrones.
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
46
El fundamento de la microscopa electrnica es esencialmente el mismo que el de la microscopa
ptica, siendo la naturaleza de la radiacin empleada en cada caso la principal diferencia entre ellas
(Tabla 3).
TABLA 3. Diferencias entre la microscopa ptica y la electrnica.
Caracterstica Microscopa
ptica
Microscopa
electrnica
Tipo de radiacin UV o visible Haz electrnico
Resolucin 300 nm 0.2 nm
Rango de aumentos 2 - 2000 200 2 x 10
6
Entorno Ambiente Alto vaco
Destructiva No Si
Preparacin de muestras Fcil Difcil
Observacin Superfcies Pelculas
Detecta orientacin Si Si
La TEM se ocupa de la informacin suministrada por los electrones que traspasan una muestra slida
sobre la que se ha hecho incidir un haz electrnico coherente y a gran velocidad. La interaccin de los
electrones con la materia es un fenmeno complejo.
Cuando hacemos incidir un haz electrnico sobre una muestra los electrones pueden no desviarse de
la trayectoria inicial, o ser desviados elstica o inelsticamente dependiendo, respectivamente, de que
la interaccin sea con el ncleo o con algn orbital electrnico de alguno de los tomos que forman
parte del material. Los electrones desviados de forma inelstica experimentan un cambio en su
velocidad como consecuencia de la energa perdida en la colisin con la muestra, mientras que los
desviados de forma elstica mantienen su velocidad y son los responsables de los fenmenos de
difraccin. Los electrones no desviados y los desviados elsticamente son los nicos que contribuyen
de forma constructiva a la formacin de la imagen, mientras que los desviados de forma inelstica son
los responsables del ruido de fondo presente en toda imagen de microscopa electrnica. La proporcin
de electrones dispersados de forma elstica es directamente proporcional al grosor de la muestra. Por
esta razn, los experimentos de difraccin se realizan a un voltaje mayor (100 kV) que los de anlisis
morfolgico (80 kV).
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
47
El microscpio electrnico de transmisin consta de un sistema de iluminacin formado por un
filamento de tungsteno o wolframio que emite electrones, que sern acelerados por la elevada
diferencia de potencial a que son sometidos (80-100 kV). El haz de electrones es enfocado hacia la
muestra mediante dos lentes condensadoras, la primera recoge la imagen del filamento y la segunda
controla el rea de iluminacin. El vaco existente en la columna permite la transmisin de los
electrones, a travs de ella, hacia la muestra. A continuacin, se encuentra la lente objetivo que amplia
la imagen y finalmente la lente proyectora que la dirige hacia la pantalla fluorescente que recoge la
imagen final. Todas las lentes son de naturaleza electromagntica y su potencia se puede controlar
variando el voltaje.
La resolucin es una ventaja importante de sta tcnica frente a la de difraccin de rayos X y depende
de la longitud de onda del haz de electrones segn la ecuacin:
d = / n sen
siendo d la resolucin, la longitud de onda, n el ndice de refraccin del medio y el ngulo de
apertura de las lentes de microscopio.
Las modificaciones en el voltaje (V) modifican la longitud de onda del haz de electrones segn la
frmula = (1.5/V)
1/2
. As, para voltajes de 80 y 100 kV las longitudes de onda de los electrones son
0.041756 y 0.037013 , respectivamente.
84
La mxima resolucin se obtiene con longitudes de onda
ms cortas, es decir, diferencias de potencial ms elevadas y lentes de gran apertura. Generalmente,
para una substancia estable en un microscopio operando correctamente, la resolucin prctica viene
determinada por la aberracin cromtica debida a la presencia de electrones inelsticos. Dado que su
proporcin aumenta de forma exponencial con la cantidad de materia con la que colisiona, el espesor
de la muestra es decisivo para obtener buenas imgenes.
La preparacin de las muestras para microscopa electrnica de transmisin se efectu con un
evaporador de alto vaco Balzers BAE 080T. Los cristales se observaron con Microscpios Electrnicos
Philips EM301 y Philips Tecnai 10/12. El calibrado de los diagramas de difraccin de electrones se
realiz con oro (d
111
= 2.35 ) y la rotacin de la imagen se determin mediante cristales de MoO
3
.
La caracterizacin por microscopa electrnica de barrido (SEM) de los materiales polimricos
comprende una serie de aplicaciones que difieren en su estructura y micromorfologa. En cada caso la
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
48
estrategia de la exploracin es distinta dependiendo de la naturaleza de cada material y de las
posibilidades que se tienen para la preparacin de las muestras.
El microscopio electrnico de barrido forma la imagen con los electrones secundarios que se generan
en la interaccin de la radiacin electrnica con una capa superficial y fina de la muestra mediante un
proceso de rastreo.
Una analoga simple que describe perfectamente el mecanismo de operacin del microscopio
electrnico de barrido es una habitacin completamente oscura en donde se sita un exposmetro y
una luz flash que va iluminando las paredes de manera continuada y sistemtica. El exposmetro mide
la luz reflejada sealando mximos para las zonas blancas y lisas, y mnimos para las oscuras y
rugosas. El registro del exposmetro para toda la habitacin proporciona el mapa de la pared. En el
caso de una muestra observada con SEM las reas oscuras corresponden a las zonas de baja
reflectividad y las rugosas a los relieves superficiales. Podemos tener un contraste composicional,
dependiendo de la composicin qumica de la muestra, o un contraste topogrfico, dependiendo de la
morfologa superficial de la muestra.
La resolucin espacial de una observacin por SEM viene dada por el rea de la muestra reflectante, y
depende del grado de interaccin de la radiacin con la muestra. Esta interaccin genera electrones
reflejados (secundarios o elsticos) que son atrados por un detector para dar las imgenes
topogrficas.
La simplicidad en la preparacin de muestras para SEM es quizs la principal ventaja que ofrece esta
tcnica. El hecho de que la observacin de la muestra se haga punto a punto, permite la utilizacin de
muestras de cualquier tamao y forma, y da lugar a una gran profundidad de campo. De hecho, la
preparacin de muestras finas para microscopa ptica (0.1-0.3 mm) o hiperfinas para TEM (5-100 nm)
constituye la mayor limitacin prctica en el anlisis microscpico de muestras de polmeros por
transmisin.
En la SEM el metalizado de las muestras polimricas es indispensable y su funcin, adems de hacer
conductiva la superficie, es eliminar la electricidad esttica, minimizar el dao por radiacin y aumentar
la reflectividad electrnica. Normalmente, el metal utilizado suele ser el oro en presencia de una
atmsfera ionizante de argon.
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
49
La morfologa de la superficie de las pelculas de polmero sometidas a un proceso de degradacin se
observ con un Microscopio Electrnico de Barrido JEOL JSM-6400. Los films fueron metalizados con
oro usando un evaporador Balzers SCD-004 Sputter Coater.
3.4.1.1. Morfologa cristalina
Los niveles de organizacin supramolecular de un polmero cristalino se identifican con dos tipos de
morfologias: las lamelas y las esferulitas. As pues, un fenmeno peculiar en la organizacin
molecular de los polmeros cristalinos es el plegamiento molecular con la consiguiente formacin de la
estructura lamelar (Figura 24). Las lamelas son microcristales de espesor muy pequeo (< 25 nm) y
dimensiones basales que pueden llegar a ser de decenas de micrmetros. En estos cristales, la cadena
molecular se dispone mas o menos perpendicularmente a las bases y se pliega sobre si misma con una
cierta periodicidad que determina el grosor de los mismos.
Mediante cristalizacin en disoluciones diluidas es posible obtener estos microcristales con hbitos bien
definidos que suelen revelar la geometra de la celdilla cristalina (Figura 25).
Figura 25. Cristales lamelares de polietileno cristalizados en xileno a 83
o
C.
Figura 24. Modelo de la formacin de lamelas cristalinas en
polmeros con una nica direccin de puentes de hidrgeno.
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
50
Los monocristales de polmero suelen tener un grosor adecuado (< 100 ) para su estudio por sta
tcnica, pero presentan una imagen de bajo contraste, porque ste suele ser inversamente
proporcional al peso atmico de la muestra. Este inconveniente se soluciona sombreando los cristales
con una fina capa de un metal pesado (Cr, Pt, Pd, U, etc). El metal es evaporado a alto vaco
(10
-4
10
-5
torr) sobre las rejillas a un cierto ngulo y se deposita sobre los cristales resaltando las
caractersticas topogrficas de la muestra. Conociendo el ngulo de sombreado y midiendo la longitud
de las sombras resultantes se puede conocer el grosor aproximado de las lamelas del cristal. En este
trabajo, el sombreado se realiz con Pt-C con un ngulo de aproximadamente 15. En la Figura 26 se
muestra esquemticamente el ngulo de sombreado () y su relacin con el grosor lamelar (a). La
morfologa de los monocristales es un buen indicador, aunque no infalible, de la simetra presente en la
estructura cristalina.
En general, las celdillas tetragonales proporcionan cristales de base cuadrada, las hexagonales y
trigonales proporcionan cristales de forma hexagonal y las rmbicas cristales con forma de rombo.
La esferulita consiste en un agregado esfrico con un tamao que puede oscilar entre dcimas de
micrmetros y varios milmetros, y pueden ser observadas claramente en el microscopio ptico. Una
morfologa esferultica se obtiene por la cristalizacin del polmero a partir del estado fundido o por la
cristalizacin del polmero a partir de soluciones muy concentradas por evaporacin lenta del
disolvente. En el microscopio ptico de luz polarizada son fcilmente reconocibles como crculos
fuertemente birrefringentes que exhiben una cruz de malta caracterstica (Figura 27).
Figura 26. Esquema del sombreado para determinar el grosor lamelar.
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
51
Las esferulitas estn constituidas internamente por lamelas que irradian del centro. En muchos casos la
lamela se retuerce sobre si misma, de forma que la orientacin del eje molecular gira alrededor del
radio esferultico. Este fenmeno se refleja en la esferulita como una serie de bandas de extincin
concntricas que muestran una periodicidad dependiente de las condiciones en que ha cristalizado. La
medida de la birrefringencia permite diferenciar dos tipos de esferulitas: las positivas y las negativas.
De esta manera, si el ndice de refraccin en la direccin radial es mayor que en la direccin tangencial,
la esferulita es positiva, en caso contrario es negativa.
3.4.1.2. Difraccin de electrones
Los diagramas de difraccin de monocristales consisten en retculos puntuales que representan la
proyeccin de la red cristalina sobre el plano perpendicular al haz electrnico. Suponiendo que la
radiacin electrnica es paralela al eje cristalogrfico c las manchas de difraccin se indexan como hk0,
aunque en ocasiones pueden observarse reflexiones hkl con l distinto de 0 debido a una inclinacin
parcial de los cristales o a una disposicin no ortogonal de la celdilla unitaria.
El diagrama de difraccin de una muestra refleja su organizacin estructural a nivel atmico y
molecular. Para las muestras amorfas consiste en un halo difuso que rodea a una mancha central
correspondiente a la radiacin no desviada, mientras que para las cristalinas se observan diagramas
con mximos y mnimos, cuya disposicin en el espacio viene determinada por el tipo de estructura
presente.
Figura 27. Esferulita simple presentando extincin en forma de cruz
de malta observada en el microscopio ptico de luz polarizada.
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
52
Las posiciones de las reflexiones definen los espaciados de los planos cristalogrficos, realizndose su
determinacin segn la ley de Bragg. Dado que los ngulos con que son difractados los electrones
son muy pequeos (1-2
y CuK
) que se pueden
separarse mediante filtros adecuados. Para el estudio de los polmeros se utiliza la lnea CuK
de
= 0.154 nm y un filtro de nquel para eliminar al mximo la radiacin CuK
y la continua.
La difraccin de rayos X sigue el principio de Huyggens, donde cada rendija presente en el cristal acta
como un nuevo foco emisor de ondas que interfieren constructiva o destructivamente para producir la
difraccin. nicamente se produce interferencia constructiva cuando se cumple la ley de Bragg:
n = 2 d
hkl
sen
donde d
hkl
es el espaciado de los planos de Miller, el ngulo de incidencia o reflexin, n el nmero de
orden y la longitud de onda de la radiacin utilizada (Figura 31). El conjunto de espaciados
cristalogrficos permite determinar la celdilla unitaria determinada por los parmetros a, b, c y los
ngulos existentes entre ellos , , y . Esta celdilla representa la unidad ms pequea que refleja la
simetra del cristal.
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
58
tan 2 = D/2L
La difraccin de rayos X se realiz utilizando cmaras Warhus (W.H. Warhus, Wilmington, Delaware,
USA) tipo Statton con monocromador de grafito incorporado que selecciona la radiacin K
del Cu
( = 0.154 nm) y un generador Phillips modelo P-W 1130/90 provisto de un tubo Phillips sellado
(PW 2113 de 1200 W) de foco plano y con filtro de niquel. El calibrado se realiz con calcita
d
B
= 0.3035 nm o sulfuro de molibdeno d
002
= 0.6147 nm dependiendo de la longitud de cmara.
Las muestras analizadas por difraccin de rayos X corresponden a:
a) DIAGRAMAS DE POLVO
Son los diagramas de difraccin de muestras totalmente desorientadas y se caracterizan por la
presencia de una serie de anillos concntricos cuya intensidad y dimetro son caractersticos de cada
polmero. Estos anillos estn ligados a la reflexin producida por los planos cristalogrficos de los
cristales del polmero. Se obtienen colocando una muestra del polmero finamente triturado y
fuertemente compactado en un capilar de vidrio sin plomo con dimetro variable entre 0.5 y 1.5 mm.
Dado que cada uno de los cristales est dispuesto al azar con respecto al resto, la difraccin final tiene
forma de anillo que ser tanto ms definido cuanto ms cristalino sea el polmero. El nmero de
reflexiones presentes en estos diagramas es muy reducido, por lo que en muchas ocasiones la celdilla
unitaria no queda inequvocamente designada. As pues, para tener una buena aproximacin de la
estructura es de vital importancia disponer de diagramas de difraccin de muestras orientadas.
a) b)
Figura 31. a) Geometra de la difraccin de rayos X, b) relacin entre el dimetro de la difraccin (D) y el ngulo
de dispersin (2).
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
59
b) DIAGRAMAS DE FIBRA
Un diagrama de fibra muy orientado proporciona una informacin ms precisa que un diagrama de
difraccin de polvo, en cuanto a la asignacin de los ndices de Miller correspondientes a los planos
difractados y a la determinacin de la simetra cristalina. Las propiedades trmicas y el peso molecular
del polmero son condicionantes para la aplicacin de este mtodo. Debido a que el polmero es
estirado segn el propio eje molecular, estos diagramas se caracterizan por la aparicin de manchas
relacionadas con la repetitividad de cadena con orientacin meridional (M) o fuera del meridiano (oM)
segn el sistema cristalino, y manchas ecuatoriales (E), relacionadas con el empaquetamiento
cristalino. La orientacin de la muestra se consigue a partir del estirado de la masa polimrica fundida.
sta puede mejorarse al someter la muestra a un proceso posterior de templado que consiste en
reestirarla bajo tensin constante en estufa o en atmsfera de vapor de agua. El grado de orientacin
de la fibra resultante se estima cualitativamente mediante la birrefrigencia de la muestra bajo un
microscopio de luz polarizada.
c) DIAGRAMAS DE SEDIMENTO CRISTALINO
Estos diagramas estn orientados parcialmente segn el eje de apilamiento de las lamelas. Aportan
informacin adicional sobre la naturaleza lamelar de los cristales, ya que aparecen reflexiones
meridionales relacionadas con el espesor de la lamela debido a que la muestra se irradia paralelamente
a la superficie de deposicin. Tambin proporcionan informacin acerca de la inclinacin de la cadena
respecto a la lamela y del nmero de unidades repetitivas que pueden existir en el interior de la misma.
Cuando ste es reducido, se producen unas reflexiones dbiles adicionales denominadas mximos
subsidiarios. El nmero de los mismos observado entre las reflexiones correspondientes a dos rdenes
consecutivos de la repetitividad de residuo es igual al nmero de unidades repetitivas menos dos.
La preparacin de estos sedimentos requiere una optimizacin previa de las condiciones de
cristalizacin del polmero. Entre 20-25 mg de polmero perfectamente cristalizados son centrifugados
para obtener el sedimento de cristales que se separa por decantacin. Despus de lavarlos varias
veces con n-butanol, son suspendidos en l y filtrados lentamente en un dispositivo como el que
muestra la Figura 32.
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
60
3.4.3. COMPUESTOS MODELO
3.4.3.1. Obtencin de monocristales
En general, el crecimiento de un cristal debe ser lento para que las molculas o iones formen una
disposicin regular interna altamente ordenada llevando a la obtencin de un cristal bien formado
(monocristal), adecuado para el anlisis por difraccin de rayos X. El objetivo es alcanzar un estado de
saturacin de la solucin, el cual promueve la formacin de algunos ncleos cristalinos que
posteriormente llegarn a formar cristales de tamaos mayores. Cuando se inicia la cristalizacin el
sistema evoluciona hacia un equilibrio entre las partculas de la fase slida y la fase lquida, lo
suficientemente lento como para que las molculas puedan ordenarse en una red cristalina. El proceso
depende de factores tales como: la solubilidad, la temperatura, la fuerza inica, la nucleacin y el
crecimiento del cristal. El crecimiento depende de la naturaleza de las fuerzas en la superficie del
cristal, de la concentracin de la muestra y del medio de cristalizacin.
Normalmente, las caras del cristal que se desarrollan con mayor rapidez son aquellas en las que las
partculas se enlazan fuertemente por puentes de hidrgeno o fuerzas de van der Waals. Dependiendo
de las caractersticas propias de la molcula se forman cristales aciculares o bidimensionales debido a
la existencia de direcciones de crecimiento favorecidas. Variando las propiedades de los disolventes y
precipitantes como: densidad, constante dielctrica, viscosidad, solvatacin y volatilidad, se pueden
evitar estos problemas.
Figura 32. Dispositivo para obtener un sedimento de cristales para difraccin de rayos X.
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
61
Para la cristalizacin de una substancia se han de determinar los disolventes y precipitantes
adecuados. Un buen disolvente ser aquel que permita una concentracin de 5-200 mg/mL y un buen
precipitante ser aquel en que la solubilidad sea menor que 1 mg/mL. Si la concentracin del disolvente
es menor de 5-200 mg/mL, el flujo de soluto es bajo y se favorece la nucleacin sin crecimiento; si es
mayor, la viscosidad de la solucin es elevada por lo que la difusin es baja y se obtiene un slido
vtreo.
Entre las diferentes tcnicas utilizadas para la obtencin de monocristales destacamos dos que fueron
empleadas en este trabajo:
a) EVAPORACIN LENTA DEL DISOLVENTE
Evaporacin lenta del disolvente es un mtodo disponible para la obtencin de cristales de alta
calidad y, primariamente, usado para molculas pequeas. La velocidad de crecimiento es regulada
por el ajuste de condiciones (concentracin inicial, temperatura, velocidad de evaporacin) tal que los
cristales son obtenidos en pocos das. La velocidad de evaporacin puede ser ajustada cubriendo la
solucin con un vidrio de reloj o un Parafilm
). Luego, se
prepara un recipiente (bao o depsito) que contiene una mezcla precipitante-disolvente ms rica en
precipitante (5-10%) y se coloca todo en una cmara de cristalizacin cerrndola hermticamente. Al
aproximarse al equilibrio, si los porcentajes son correctos, la gota dentro del porta se enriquece
lentamente en precipitante y el producto cristaliza dando lugar a monocristales de grandes
dimensiones.
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
62
Los cristales obtenidos deben ser analizados previamente en una lupa binocular de luz polarizada. Los
criterios para su seleccin son los siguientes:
que posean una estructura interna uniforme y, por lo tanto, que no correspondan a maclas cristalinas
o diversos dominios cristalinos. Los cristales tampoco pueden estar fracturados ni tensionados. En la
realidad, sin embargo, los cristales son imperfectos ya que estn compuestos de pequeas regiones
algo desorientadas que dan lugar al trmino denominado mosaicidad.
que tengan un tamao y una forma apropiados, siendo la dimensin lateral ptima del orden de
0,2-0,4 mm. En todo caso el grosor ptimo debe situarse alrededor de 2/, donde es el coeficiente de
absorcin lineal.
Una vez obtenido el monocristal y despus de haber comprobado su calidad, se fija en el extremo de
un capilar por medio de un adhesivo amorfo para no interferir en la difraccin. El soporte consiste de
una base de metal (pieza de latn) junto al cual el capilar (vidrio) est pegado con cera y, en la otra
extremidad, tiene el adhesivo para fijar el monocristal. Una vez montado se coloca en la cabeza
goniomtrica del difractmetro.
En este trabajo se utiliz el mtodo de evaporacin lenta del disolvente y el de difusin de vapor para la
obtencin de los monocristales. La recogida de datos se realiz con un difractmetro Enraf-Nonius
CAD4. El aparato est equipado con un generador Enraf-Nonius modelo FR590D, utiliza un
monocromador de grafito y una radiacin de Cu K.
3.4.3.2. Recogida de datos
Los difractmetros utilizan una geometra ecuatorial en la que el haz difractado se mide siempre en un
plano horizontal definido por el haz incidente y la rotacin del detector alrededor de un eje que
atraviesa el cristal. El detector slo se mueve en este plano y forma un ngulo de 2 (entre 0-160
,
dentro del rango del instrumento) con el haz incidente. El goniostato ms utilizado es el de geometra
euleriana que da lugar al difractmetro de cuatro crculos con tres rotaciones para el cristal (, , ) y
una para el detector (2). Segn si es perpendicular o no a , el gonimetro se denomina de
geometra Euler o Kappa, respectivamente.
El gonimetro gira y orienta el cristal de forma que cada familia de planos cumpla la condicin de
difraccin de Bragg. La cabeza goniomtrica, que produce la rotacin (tipo spin) en el cristal,
Materiales y mtodos
__________________________________________________________________________________________
63
descansa sobre el bloque soportado por el bloque que a su vez es colineal con 2. El centro del
sistema (donde se coloca el cristal) y el detector estn en un plano perpendicular al eje /2. Para
evitar la prdida de intensidad por la absorcin del aire hay un tnel de helio en el camino del haz
difractado (Figura 33).
La recogida de un espectro consta de diferentes etapas:
1) Seleccin, montaje y centrado del cristal.
2) Determinacin de la celda unidad. A partir de la rotacin en el ngulo y registrando las
difracciones sobre un film Polaroid
C y a 70