Muestreo por Variables, Fraccin defectuosa

Jos D Salinas
Como la caracterstica de calidad es una variable, siempre existir ya sea un lmite de
especificacin inferior LIE, lmite de especificacin superior o ambos, que definan los valores
aceptables de esa caracterstica.
Considerando una caracterstica de calidad x normalmente distribuida y un lmite inferior de
especificaciones LIE, la fraccin defectuosa p es funcin de la media del lote y su desviacin
estndar .

Asumiendo que la desviacin estndar del proceso es conocida, se desea tomar una muestra del
lote para determinar si o no el valor de la media es tal que la fraccin defectuosa p es aceptable.
Para esto se tienen dos mtodos.



p

LIE
__
X x

Figura 8.1 Bases del muestreo por variables

Procedimiento 1.
Tomando una muestra aleatoria de n artculos del lote y calculando el estadstico

LIE X
Z
LIE

=
Z
LIE
expresa justamente la distancia entre la media X de la muestra y el lmite inferior de
especificacin LIE, entre mayor sea su valor, la media X de la muestra estar ms alejada del LIE
y en consecuencia menor ser la fraccin defectuosa p.

Si hay un valor crtico p que no deba ser excedido con una probabilidad establecida, se puede
traducir el valor de p en una distancia crtica por decir k para Z
LIE.
De esta forma si Z
LIE
<= k, se
aceptar el lote ya que automticamente la fraccin defectuosa p es satisfactoria, en caso
contrario la fraccin defectuosa p es mayor que la aceptable y se rechazar el lote.

Ejemplo 8.1 Si =100, =10 y LIE= 82:

8 . 1
10
100 82
=

LIE X
Z
LIE


Donde (-1.8) = 0.0359 o sea el 3.59% defectuoso.

Se sigue el mismo procedimiento para el caso de tener un lmite superior de especificacin
unilateral LSE.

X LSE
Z
LSE

=

Cuando se tiene un solo lmite de especificacin, la relacin entre Z y la fraccin defectuosa (p) es:


p Z
s
Z
i
0.25 0.6745
0.20 0.8416
0.15 1.0364
0.10 1.2816
0.05 1.6449
0.02 2.0537
0.01 2.3263






Procedimiento 2.

A partir de una muestra sencilla de tamao n del lote, se calcula Z
LIE
o
) 1 /( = n n Z Q
LIE LIE
(ms exacto) y se estima la fraccin defectuosa p como el rea
bajo la curva normal debajo de Z
LIE
, si esta fraccin estimada p, excede un valor mximo M,
se rechaza el lote, de otra forma se acepta.

Para el caso de lmites bilaterales se calculan ambos Q
LIE
y Q
LSE
.


) 1 /(

= n n
LIE X
Q
LIE

) 1 /(

= n n
X LSE
Q
LSE

Se estiman las fracciones defectuosas P(Q
LIE
) y P(Q
LSE
) de la tabla mostrada en el apndice
para estimar las fracciones defectuosas p
I
y p
S
, si la suma de ambas fracciones defectuosas
no excede al valor mximo permitido M se acepta el lote, en caso contrario se rechaza el
lote.

Cuando la desviacin estndar es desconocida, se puede estimar de la desviacin
estndar de la muestra s, remplazando en las frmulas anteriores a por s.


DISEO DE UN PLAN DE MUESTREO POR
VARIABLES
CON UNA CURVA CO ESPECFICA

Para disear un plan de muestreo por variables usando el procedimiento 1, el mtodo de k, que
tiene una curva OC especificada por dos puntos (p
1
, 1-), (p
2
, ) donde p
1
y p
2
son las fracciones
defectuosas que corresponden a niveles de calidad aceptables y rechazables respectivamente se
utiliza un nomograma.
L. J. Jacobson propuso un nomograma mostrando dos escalas diferentes, para estimar n y k con
sigma conocida y sigma desconocida.
Utilizando este nomograma podemos obtener la curva caracterstica de operacin CO,
cambiando los valores de las fracciones defectuosas p y hallando sus probabilidades de
aceptacin si se mantiene fijo n y k.

Ejemplo 8.2 Un embotellador ha establecido que la resistencia mnima para una botella de
plstico sea de LIE= 225 psi, si a lo ms el 1% no pasa el lmite, se aceptar el lote con una
probabilidad del 95% (p
1
=0.10 y 1-= 0.95), mientras que si el 6% o ms estn abajo del lmite, el
embotellador rechazar el lote con una probabilidad de 90% (p
2
=0.06, = 0.10).

Para hallar el plan de muestreo por variables n, k, se traza una lnea que une a el punto 0.01 en la
escala de fraccin defectuosas con el punto 0.95 en la escala de probabilidad de aceptacin.
Despus se traza una lnea similar que conecta los puntos p
2
= 0.06 y P
a
=0.10, en la interseccin de
esas lneas se lee, k=1.9 y n=40 para desconocida (siguiendo la lnea curveada) o n=15 (bajando
una lnea perpendicular) para conocida.


a) Procedimiento 1
Si se desconoce la desviacin estndar, se toma una muestra aleatoria de n = 40 piezas
calculando la media y la desviacin estndar s, se calcula ahora:

LIE X
Z
LIE

=

Si Z
I
k = 1.9 se acepta el lote, de otra forma se rechaza.

Si se conoce la desviacin estndar, la n pasa de 40 a 15 con menos costos, al bajar en forma
perpendicular en el punto de interseccin hacia la escala de n.
b) Procedimiento 2.
Una vez obtenidas n 40 y k = 1.9, se obtiene el valor de M del nomograma siguiente:


La abscisa se calcula como sigue (con n = 40 y k = 1.9):

35 . 0
) 39 ( 2
40 9 . 1
2
1
) 1 ( 2 2
1
= =

n
n k


Esto indica que M = 0.30.

Por ejemplo si se toma una muestra de n=40 partes y se observa que la media de la muestra
255 = X y s = 15, el valor de Z
LIE
es:

2
15
255 255
=

=
s
LIE X
Z
LIE


de las tablas para fraccin defectuosa al final de este captulo se obtiene una p = 0.020, y siendo
que es menor que M = 0.030, se acepta el lote.

Para lmites bilaterales se obtienen ambas p
i
y p
s
en base a Z
i
y Z
s
, si p
i
+ p
s
M se acepta el lote, si
no se cumple lo anterior, el lote se rechaza.