REVISTA DE CINCIA & TECNOLOGIA V. 11, N 22 pp.

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Mtodos de Ensaio Acelerado como
Alternativa para os Dados de Vida
de Fornecedor
Accelerated Test Methods as an Alternative
to the Catalogue Life Data
PEDRO LUIZ SASSERON
Indstrias Romi (Santa Brbara dOeste, SP)
psasseron@ estadao.com.br
ALVARO J OS ABACKERLI
Universidade Metodista de Piracicaba (Santa Brbara dOeste, SP)
abakerli@ unimep.br
RESUMO O tempo de vida dos componentes um dado necessrio para a determinao do prazo de garantia e o planeja-
mento da manuteno de mquinas e equipamentos. Os catlogos dos fornecedores nem sempre trazem esta informa-
o. Quando ela est disponvel, comum vericar que foi obtida em condies diversas daquelas de utilizao no
campo, o que diculta a converso para a situao desejada. Existem diferentes mtodos que visam determinar o tempo
de vida esperado para os componentes, entre eles o ensaio acelerado de vida. Este mtodo consiste em executar os testes
dos componentes sob condies de stress (maior temperatura, tenso, corrente etc.), acelerando a ocorrncia de falha, e
transpor os resultados para as condies desejadas. Neste trabalho, so analisados os dados de vida disponveis nos catlo-
gos de fornecedores, vericadas as diculdades de sua utilizao e propostos mtodos de ensaio acelerado de vida, como
alternativa para a sua determinao.
Palavras-chaveconabilidade ensaio acelerado dados de vida.
ABSTRACT The information on the life time of components is necessary to determine both the warranty term and the
maintenance planning of machines and equipment. The suppliers catalogs not always bring such information. When the
information is available, its common to see that it was obtained in different conditions from those of the user (in eld),
making it difcult to convert it to the desired situation. There are different methods of determining the components
expected lifetime, the accelerated life test being one of them. Such method consists of component testing under stress
conditions (higher temperature, voltage, current etc.), accelerating the failure occurrences, and transporting the results to
the users conditions. In this work, the life data available in the suppliers catalogs are analyzed; the difculties in their use
are veried, and the methods of accelerated life test are discussed as an alternative for its determination.
Keywords: RELIABILITY ACCELERATED LIFE TEST LIFE DATA.
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INTRODUO
expectativa de vida dos componentes um dado importante no desenvolvimento de um produto, seja
ele uma mquina ferramenta ou qualquer outro tipo de equipamento. Com os dados de vida, pode-se
calcular a conabilidade dos conjuntos, individualmente, ou do equipamento todo, determinar o
prazo de garantia, estimar os custos com reposio de peas em garantia, elaborar listas de materiais sobressa-
lentes e fornecer informaes para a manuteno preventiva do equipamento, entre outras coisas.
O caminho natural para obteno desses dados o catlogo do fabricante, em que so encontradas as
caractersticas tcnicas do componente a ser aplicado. Porm, nem sempre os dados de vida esto disponveis,
e raramente eles so encontrados nas condies de utilizao do equipamento. A maneira mais comum de
encontrar os dados na forma de um nmero, representando o tempo de vida ou o nmero de operaes-
limite dentro de condies especcas de aplicao. Alguns catlogos trazem grcos mostrando a variao
do tempo de vida em relao a uma varivel que nem sempre a que se pretende estudar.
Diante da completa falta ou da escassez de dados de vida providos pelo fornecedor, torna-se necessrio
encontrar alternativas para a sua obteno. Uma delas envolve testes que sejam capazes de fornecer as infor-
maes dentro de limites aceitveis de conabilidade, podendo ser convertidos para as condies de utiliza-
o do equipamento no campo.
Entre os mtodos de teste usuais, encontram-se o teste de uso nas condies de operao no campo e o
teste de uso contnuo, que pode representar uma acelerao em relao ao uso normal. Alm desses, h o
ensaio acelerado de vida, com o componente sendo submetido a um nvel elevado de corrente, temperatura,
tenso ou outra varivel que acelera o aparecimento de falha. Neste trabalho, sero discutidos os mtodos de
ensaio acelerado de vida como alternativa aos dados do fornecedor.
A NECESSIDADE DOS DADOS DE VIDA
Uma das aplicaes dos dados de vida de componentes a determinao do prazo de garantia da
mquina ou do equipamento. Em funo dos ciclos de operao da mquina e do regime de trabalho
imposto aos componentes, pode-se determinar quanto tempo cada um deles levar para apresentar falha.
A existncia de dados conveis de suma importncia para evitar grandes despesas dentro do perodo
de garantia. O envio de um assistente tcnico a um cliente para diagnosticar um problema e substituir um
componente pode representar uma despesa elevada, especialmente quando implicam viagens areas, hospe-
dagens etc. Em muitos casos, o valor das despesas expressivamente superior ao do componente substitudo.
Outra aplicao a elaborao da lista de materiais sobressalentes para reposio indicados pelo fabri-
cante da mquina ao cliente. O fato de o cliente ter sua disposio os componentes passveis de falha com
tempo previsto possibilita o planejamento da manuteno preventiva da mquina ou reduz o tempo de
manuteno corretiva, no caso de falha. A falta de preciso nos dados pode acarretar grande tempo de
mquina parada em caso de falha, principalmente devido ao tempo de aquisio do componente de reposi-
o no mercado. Esse fato, embora no represente despesa para o fabricante do equipamento quando fora de
garantia, pode comprometer a sua imagem e a satisfao do cliente (Healy, 2002).
Alm disso, os contratos de venda recentes tendem a ser mais exigentes em relao especicao dos
dados de vida dos componentes empregados nos equipamentos, alm da propenso ao aumento de seu
prazo de garantia. Essas tendncias ressaltam a importncia da qualidade dos dados de vida utilizados no
desenvolvimento do produto.
DADOS DISPONVEIS NOS CATLOGOS E QUALIDADE DA INFORMAO
Para escolha de um caso tpico, foram analisados os componentes eletroeletrnicos usados em
mquinas-ferramenta, tomando-se como exemplo um rel. Esse componente est presente na grande maio-
ria das mquinas e tem a funo de comandar motores, vlvulas e outros itens eltricos, estabelecendo o seu
estado operacional: ligado ou desligado.
A
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Foram selecionados catlogos de grandes fabricantes mundiais de rels dos Estados Unidos (Aromat,
1997), Alemanha (Murrelektronik, 2000 e Phoenix, 2000), Itlia (Finder, 2002) e Japo (Omron, 2000), e
deles coletados os dados disponveis. Essas informaes foram agrupadas por tipo de dados de cada fornece-
dor, sendo os dados tpicos mostrados na tabela 1.
Pela tabela, nota-se que os catlogos do fornecedor A no trazem nenhum dado de vida dos rels.
Desse modo, no possvel fazer qualquer estimativa sobre a expectativa de vida deles, embora sejam esses os
dados disponveis para o projeto, se utilizados os componentes deste fabricante.
Tab. 1 . Expectativa de vida de rel.
Pela tabela, observam-se os dados do fornecedor B, que informa em seus catlogos a vida mecnica do
rel. Entretanto, como se trata de um componente eletromecnico, na maioria dos casos, os dados forneci-
dos so insucientes para o uso em projeto. Isso se deve ao fato de as falhas da parte eltrica do componente
aparecerem primeiro. O modo de falha eltrica , em geral, cerca de duas ordens de grandeza menor do que
a mecnica, conforme se observa nos fornecedores C e D.
Vericando os dados do fornecedor C, nota-se uma vantagem em relao aos fornecedores A e B.
Alm da informao de vida mecnica, o catlogo do fornecedor C apresenta, ainda, a de vida eltrica para
cargas resistivas. Apesar da melhoria nas informaes, elas tambm so incompletas, considerando que a
maioria das cargas eltricas de mquinas so do tipo indutivo, como os motores e eletrovlvulas.
Finalmente, observando os dados de vida do fornecedor D, possvel observar mais um avano: alm
das informaes de vida mecnica e eltrica para cargas resistivas, aparece tambm a vida eltrica para cargas
indutivas. Agora, a restrio quanto ao uso das informaes ca por conta das condies de temperatura, ten-
so e corrente.
Se os valores dessas variveis estiverem dentro dos limites estabelecidos nos catlogos, os dados de vida
podem ser usados no projeto. Caso contrrio, seria necessrio fazer uma converso para a situao desejada.
Porm, somente alguns catlogos trazem as curvas de converso e, ainda assim, somente para a varivel cor-
rente.
Considerando que, em todos os casos, existem restries quanto s aplicaes das informaes dos
catlogos, tornam-se necessrias alternativas para a obteno dos dados de conabilidade necessrios. As
alternativas que sero discutidas na seqncia deste trabalho so os mtodos de teste de vida.
AS TCNICAS DE TESTE
Existem vrias maneiras de se obter os dados de vida de um componente por meio de testes. Entre elas,
sero discutidos o teste de uso nas condies normais de campo, o teste de acelerao pelo uso contnuo, os
ensaios acelerados qualitativos e os ensaios acelerados quantitativos.
O teste de vida normal, ou de campo, com os componentes trabalhando nas condies reais de
uso do equipamento, a primeira alternativa descrita que pode fornecer os dados de vida dos compo-
nentes. Esse ensaio pode ser realizado em bancada ou no prprio campo, com o componente fazendo
parte do equipamento em uso normal. A grande limitao dessa opo o tempo elevado para se obter
resultados.
FORNECEDOR
VIDA MECNICA
(OPERAES)
VIDA ELTRICA
CARGA RESISTIVA
(OPERAES)
VIDA ELTRICA
CARGA INDUTIVA
(OPERAES)
A - - -
B 1,0 . 10
7
- -
C 0,5 . 10
7
2,0 . 10
5
-
D 2,0 . 10
7
1,0 . 10
5
0,5 . 10
5
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Um segundo mtodo, a acelerao por uso contnuo, consiste em testar continuamente um compo-
nente que, em regime normal, funcionaria durante um tempo bem menor. Por exemplo, se um equipamento
trabalha durante algumas horas por dia em alguns dias da semana, pode ser posto a operar em regime cont-
nuo, 24 horas por dia e sete dias por semana. Quanto menor o tempo de uso normal do componente, maior
o fator de reduo do tempo total de teste. Nesse caso, a limitao ocorre com produtos de uso intenso em
que no possvel uma reduo signicativa de tempo (Vassiliou & Mettas, 2002).
Os ensaios acelerados qualitativos entre os quais esto os testes de tortura e os testes altamente acele-
rados so realizados em pequenas amostras, em que o produto submetido a um meio extremamente des-
favorvel, com nveis severos de stress. Se o produto sobrevive, aprovado. O ensaio altamente acelerado de
vida pode ser usado para a revelao do provvel modo de falha (Vassiliou & Mettas, 2002) e em algumas
fases do desenvolvimento de produto (Jawaid et al., 2002). Os dados obtidos normalmente no podem ser
extrapolados para condies reais de uso e no produzem um signicativo nmero de MTBF (Mean Time
Between Failure) (Silverman, s/d).
Os ensaios quantitativos estimulam o produto a falhar em um teste de vida. Isso acontece aplicando-se
um nvel de stress que excede as condies que o produto encontra em condies normais de uso. O tempo
at a falha, obtido sob essas condies, ento extrapolado para as condies de uso. O ensaio acelerado de
vida pode ser feito sob alta ou baixa temperatura, umidade, tenso, presso, vibrao etc., a m de acelerar
ou estimular o mecanismo de falha. Deve-se ter o cuidado de no introduzir modos de falha que nunca ocor-
reriam sob condies de uso. Normalmente, o nvel de stress deve cair fora dos limites de especicao do
produto, mas dentro dos limites do projeto (Vassiliou & Mettas, 2002).
O MTODO DE ENSAIO ACELERADO DE VIDA
Diante das possibilidades de determinao do tempo de vida discutidas, o ensaio acelerado de vida se
revela como adequado para quanticar o tempo at a falha de componentes, como alternativa aos dados de
catlogo. Para a discusso do mtodo, importante mostrar em que consiste esse teste, descrever os passos
para sua utilizao e apresentar alguns casos em que est sendo aplicado.
Uma tpica anlise de dados de vida determina, por meio do uso de distribuies estatsticas, a distri-
buio de vida que descreve o tempo at a falha de um produto. Estatisticamente falando, deseja- se determi-
nar a funo densidade de probabilidade (Pdf) da distribuio de falha para as condies ou os nveis de uso
do produto. Para isso, podem ser usadas distribuies como Weibull, exponencial e lognormal.
Para os dados obtidos num ensaio acelerado de vida, entretanto, necessrio um mtodo que permita
extrapolar as informaes coletadas para se chegar a uma estimativa dos nveis caractersticos de uso. O rela-
cionamento entre a funo densidade probabilidade obtida num ensaio sob stress e a mesma funo em con-
dies de uso normal pode ser conseguido com os modelos Arrhenius, Eyring, Potncia Inversa, Temperatura-
Umidade etc.
A gura 1 ilustra a funo densidade de probabilidade do tempo at a falha de um componente para
diferentes nveis de uso. Ela mostra as caractersticas da funo para a condio normal de uso e para o ensaio
acelerado (Vassiliou & Mettas, 2002).
Um passo para a anlise dos dados de um ensaio acelerado a escolha da distribuio de vida apro-
priada. Essa escolha depende das caractersticas dos dados coletados, sendo comum se calcular os parme-
tros para as vrias distribuies e vericar qual delas representa melhor o conjunto de dados (Vassiliou &
Mettas, 2002).
Denida a distribuio de vida, outro passo a determinao do modelo de extrapolao dessa distri-
buio, do nvel de stress elevado para o nvel de stress de uso normal, ou o que se deseja estudar. O modelo
mais adequado entre os j citados depende, principalmente, da varivel cujo nvel foi elevado nos testes,
como temperatura, umidade, potncia etc.
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Fig. 1 . Funo densidade de probabilidade em diferent es nveis de stress.
Outra questo na anlise do ensaio acelerado o carregamento de stress em funo do tempo. O mais
comum o carregamento constante ou no dependente do tempo. Esse tipo tem muitas vantagens sobre os
dependentes do tempo, como maior facilidade de trabalho, maior preciso e a considerao de que muitos
produtos trabalham em nveis constantes de stress. Nesta linha, possvel observar a existncia de trabalhos
utilizando o planejamento de mltiplos nveis de stress constante (Tang & Yang, 2002).
Quando se trata de stress varivel no tempo, temos a discusso em torno de modelos que utilizam o
step-stress test (Mettas & Vassiliou, 2002), com a distribuio de vida Weibull, e estudos de alternativas a essa
distribuio (Khamis & Higgins, 1999).
Entre as aplicaes do ensaio acelerado de vida, o maior nmero de ocorrncias est no desenvolvi-
mento de produto para determinao da expectativa de vida de um equipamento, como um aparelho de
projeo de imagens (Douglass, 1998). Tambm so encontradas aplicaes em mdulos que incorporam
algum tipo de tecnologia utilizada em outros produtos, como circuitos hbridos (Bhakta et al., 2002).
Outra aplicao importante a identicao e eliminao dos modos de falha de processos produtivos
de alguns equipamentos (Douglass & Sontheimer, 1998). importante lembrar que, para determinao do
modo de falha, em muitos casos, o ensaio altamente acelerado tambm pode ser aplicado.
O setor espacial, que precisa de materiais com alta conabilidade devido aos altos custos dos equipa-
mentos envolvidos, tambm utiliza o teste acelerado de vida. Um caso especco a acelerao por aumento
das radiaes, para estudar o comportamento do componente quando submetido aos altos ndices de radia-
o no espao (Benedetto, 1997-2002).
CONCLUSES
Com base nos itens anteriores, pode-se dizer que as informaes constantes nos catlogos de fornece-
dores so, geralmente, escassas ou incompletas quanto expectativa de vida dos componentes. Esse fato nos
leva a buscar alternativas para obteno desses dados.
Na discusso sobre os mtodos de testes existentes, o ensaio acelerado de vida se apresenta como uma
alternativa interessante, principalmente pela possibilidade de os dados obtidos pela acelerao poderem ser
extrapolados para as condies de uso desejadas.
Finalmente, pode-se dizer que os casos existentes de aplicao desse mtodo, especialmente no desen-
volvimento de produtos, indicam a viabilidade de ele ser utilizado como alternativa falta de dados de vida.
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Dados dos autores
PEDRO LUIZ SASSERON
Graduado em Engenharia Eltrica pela EFEI e
ps-graduado em M arketing pela Unisal. Atua no
desenvolvimento de produtos nas Indstrias
Romi. M estrando em Engenharia de Produo
na UNIM EP
ALVARO J OS ABACKERLI
Graduado em Engenharia M ecnica pela EESC/
USP-So Carlos, onde tambm doutorou-se em
M etrologia. Ps-doutoramento no National
Physical Laboratory (Inglaterra) e no National
Institute of Standards and Technology (Estados
Unidos). Docente na graduao e de ps-
graduao da UNIM EP
Recebimento do artigo: 15/abr./03
Consultoria: 25/nov./03 a 18/dez./03
Aprovado: 18/dez./03
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