56

4 AOS ELTRICOS DE GRO NO-ORIENTADO

O ao eltrico ideal para aplicaes magnticas aquele que pode ser magnetizado em
seu maior nvel de induo com o menor campo magntico externo e apresentar a menor
quantidade de perdas totais [1]. Este o princpio bsico que faz com que os fabricantes de
aos gastem milhes em pesquisas.
Os aos eltricos interessam a dois segmentos econmicos onde o Brasil tem
engenharia forte, a siderurgia e a indstria da eletricidade [55]. Um por cento do volume total
de aos produzidos anualmente utilizado por suas propriedades magnticas.
Os aos eltricos so utilizados por terem uma qualidade nica, no disponvel em
outros metais, polmeros ou cermicas: sua capacidade de amplificar milhares de vezes um
campo magntico externamente aplicado [55]. Essa propriedade o que viabiliza a existncia
da maioria das mquinas eltricas tais como motores, geradores e transformadores.
Segundo Landgraf [55], a histria dos aos eltricos no mundo tem seu incio
juntamente com a histria da indstria da eletricidade em 1880. Os aos de gro orientado,
por sua vez, foram desenvolvidos em 1934. No Brasil, a ACESITA iniciou produo de ao
GNO em 1956, pelo processo de laminao a quente de pacotes. Em 1979, iniciou a produo
de ao GNO laminado a frio, e, em 1981, a de ao GO, ambos com assistncia tcnica da
Armco [69]. A evoluo dos aos GNO, at hoje, tem sido na direo de reduzir as perdas
magnticas.
Tradicionalmente, as perdas magnticas correspondem ao principal parmetro de
controle desses materiais. A conscincia mundial da necessidade de conservar a energia torna
o tema das perdas ainda mais relevante [55]. Sendo assim, os principais fabricantes de
motores eltricos tm pressionado as siderrgicas a conseguir aos com melhores
desempenhos magnticos. Para estas aplicaes, onde h um aumento na demanda por maior
eficincia de energia, de fato, novas classes de aos esto sendo desenvolvidas a cada ano,
oferecendo menores perdas magnticas e maior permeabilidade magntica [3].

4.1 Classificao e as caractersticas dos aos

Dentro de uma grande variedade de aos, destacam-se os aos eltricos. Estes so
materiais magneticamente macios utilizados em ncleos de equipamentos para gerao,
57
distribuio e utilizao de energia eltrica [1]. Estes aos no conduzem corrente eltrica,
mas, fluxo magntico, que circula no interior do material. Os aos eltricos se diferenciam
dos outros tipos de aos por possurem silcio em sua composio. O ao ao silcio uma liga
de ferro e carbono contendo o silcio como principal elemento de liga [55].
Os aos planos siliciosos so classificados em GO e de GNO. Estes so aos ligados a
aplicaes eltricas uma vez que a presena do silcio na sua composio qumica, aliada ao
rgido controle de processo em todas as suas etapas de produo, garantes timas
propriedades magnticas.
Os aos eltricos de gro no-orientado foram desenvolvidos pelo metalrgico ingls
Robert Hadfield em 1900 [52] e logo se tornaram os materiais preferidos para fabricao de
transformadores, motores e geradores [11].
Para a classificao de GO e GNO, torna-se til o conceito de gro. Um gro constitui-
se de uma regio, em uma dada amostra, em que os cristais formadores da rede esto
orientados e posicionados da mesma forma.
A principal diferena entre os aos GO e GNO est nesta estrutura cristalogrfica de
ambos [55]. O ao ao silcio GO apresenta uma textura pronunciada, chamada textura de
Goss, cujos cristais apresentam a direo de mais fcil magnetizao como a direo [001],
que corresponde aresta do cubo paralela direo de laminao, e o plano diagonal do cubo
(110) paralelo ao plano da chapa. Esta caracterstica do GO lhe confere excelentes
propriedades magnticas na direo de laminao da chapa e o torna adequado para uso em
ncleos estticos, onde o fluxo magntico coincide com a direo de laminao, como no caso
dos transformadores [1]. O ao GNO no apresenta uma textura pronunciada, ou seja, h uma
disperso na orientao dos gros, e tem os valores das propriedades magnticas parecidas em
todas as direes do plano da chapa, o que o faz adequado para aplicaes que exigem
isotropia das propriedades magnticas ao longo do plano da chapa, onde o fluxo magntico
muda de direo, tais como motores eltricos e geradores de energia. Resumindo, aos GO
possuem as propriedades magnticas otimizadas na direo de sua laminao, enquanto os
aos GNO apresentam boas propriedades em qualquer direo considerada [1].
No caso das amostras estudadas neste trabalho, a nomenclatura GNO errnea, pois,
na verdade, esses aos tambm apresentam textura. De acordo com a anisotropia de
propriedades magnticas em funo das diferentes direes cristalogrficas, sabe-se qual seria
a textura terica ideal para este tipo de aplicao. O ideal seria dispor de materiais com
textura do tipo (100)[0vw], ou seja, todos os gros com planos {100} paralelos superfcie da
chapa e direes <0vw> presentes em todas as direes no plano da chapa. Essa orientao
58
tambm conhecida como fibra <100> paralela direo normal da chapa. Entretanto, os
aos hoje disponveis no tm essa textura, pois ainda no foi descoberto um processo
comercial que produza a textura ideal [55].
No caso de materiais texturizados, como os aos eltricos de gro no-orientado
estudados neste trabalho, todas as propriedades constituem-se de uma mdia das contribuies
de todos os gros. A textura, por exemplo, pode ser representada atravs de uma funo de
distribuio de orientaes [70]. conhecido que existe uma relao direta entre a textura e
perdas de energia e permeabilidade, mas esta correlao apenas estabelecida empiricamente.
Os gros e o contorno dos gros tm papel fundamental nos processos de
magnetizao dos materiais magnticos macios, uma vez que eles representam
descontinuidades magntica e estrutural atuando como fonte de plos magnticos livres e
centros de aprisionamento de paredes de domnio [7]. Porm, at hoje, uma interpretao
coerente dos mecanismos fsicos envolvendo a interao das paredes de domnios com o
contorno dos gros no foi desenvolvida.
Os aos GNO so classificados em trs tipos com relao ao processamento: aos
totalmente processados, onde as propriedades magnticas dos aos so desenvolvidas e/ou
alteradas completamente pelo fabricante. Na maioria de suas aplicaes, ele pode ser utilizado
sem qualquer tratamento posterior. Possui excelente valor de permeabilidade em altas
indues e baixo valor mdio de perdas magnticas; aos semi-processados, que so aos ao
silcio onde as propriedades magnticas devem ser desenvolvidas pelo usurio atravs de um
tratamento trmico de recozimento. So processados para ter grande crescimento de gro
neste recozimento; e por ltimo, aos no processados, so os aos tipo ABNT 1006/1008 de
qualidade comercial. Com tratamento trmico de descarbonetao e crescimento de gro
possvel obter reduo de cerca de 50% nas perdas magnticas. Mesmo com o tratamento
trmico adequado as propriedades magnticas no so to boas quando comparadas aos semi-
processados em funo da composio qumica diferenciada. So os aos de mais baixo custo
[55].
As propriedades teis nos aos eltricos de gro no-orientado so dependentes de
vrios parmetros tais como a composio da liga, as impurezas constituintes, o tamanho de
gro e a textura. Todos estes parmetros so resultados do processo de fabricao [19].


59
4.2 As perdas magnticas em aos

O tema das perdas magnticas em dispositivos como motores e geradores projetados
com aos eltricos GNO, onde o campo magntico aplicado em diferentes direes em
relao RD, em comparao com transformadores fabricados com aos eltricos GO, onde o
campo magntico aplicado em apenas uma direo, muito mais complexo pois as
condies de magnetizao so muito mais complicadas [11].
Como o material magntico sujeito a um campo magntico com amplitude e direo
que variam no tempo, as paredes de domnio ficam se movendo para frente e para trs
enquanto o campo faz uma revoluo completa. Mesmo neste caso, saltos Barkhausen
ocorrero gerando micro-correntes de Foucault e perdas por aquecimento Joule. A soma
destas perdas para uma revoluo dada pela perda rotacional, que no caso geral, incluir as
perdas devido a rotaes irreversveis do vetor magnetizao [11].
No caso dos aos eltricos, o valor das perdas magnticas depende de caractersticas
eletromagnticas do ensaio tais como induo mxima e freqncia de excitao; de
caractersticas fsicas da amostra tais como espessura, orientao da amostra em relao
direo de laminao, resistividade eltrica e densidade; e caractersticas estruturais do
material como densidade de discordncias, tamanho de gro, textura, distribuio de tamanho
de incluses e precipitados.
Para os aos eltricos, assim como para todos os materiais ferromagnticos, as perdas
crescem com o aumento da induo mxima e da freqncia. A figura 4.1 mostra o
comportamento da energia dissipada por ciclo de histerese em um ao ao silcio. Observa-se
claramente que quanto maior a induo atingida, maior parcela das perdas.

figura 4.1: Efeito de B
m
na energia dissipada por ciclo em aos ao silcio. Retirada da referncia [14, 56].
60

observado que atravs de muitos resultados experimentais que a porcentagem de Si,
o tamanho de gro, a densidade de impurezas e a textura influenciam no valor das perdas
totais.
No caso dos aos, o efeito da composio qumica sobre as perdas muito importante
uma vez que as principais classes de aos eltricos de gro no-orientado so diferenciadas
basicamente pelo seu teor de silcio, alumnio e fsforo. A adio desses elementos diminui a
induo de saturao e a permeabilidade e aumenta a dureza e a resistividade eltrica dos aos
[9]. Esta ltima, por sua vez, tem um efeito muito importante sobre a diminuio das perdas
parasitas e anmalas. A adio do silcio, por exemplo, ao ferro altera as propriedades
eltricas, magnticas e mecnicas do ao. Aumenta sua resistividade eltrica e diminuiu a
anisotropia. Isto de grande interesse, pois, com o aumento da resistividade eltrica, as
correntes de Foucault geradas pela variao com campo magntico diminuem, e com a
diminuio da anisotropia, como estes materiais so utilizados em equipamentos em que um
campo magntico varivel aplicado em vrias direes, este pode ser aplicado em qualquer
direo sem ocorrerem grandes diferenas. Porm, a adio do silcio diminui a induo do
material, ou seja, o material satura em um menor valor, alm de deixar o material quebradio,
tornando-se um problema para atividades que exigem a laminao do material.
O tamanho de gro corresponde varivel mais conhecida e importante no controle do
valor das perdas magnticas totais. Tem-se que um aumento no tamanho de gro 15 e 50 m
reduz as perdas magnticas totais. Um mnimo no valor das perdas ocorre quando o tamanho
de gro for de 150 m. Porm, com tamanhos de gros acima de 150 m, o valor das perdas
passa a aumentar. A existncia de um tamanho de gro timo est ligada ao fato de que,
apesar das perdas histerticas serem continuamente reduzidas com o aumento do tamanho de
gro, as perdas anmalas crescem. Deste modo, a soma das duas resulta em um valor mnimo
quando o tamanho de gro estiver em torno de 150 m [68].
As impurezas como o carbono, enxofre, nitrognio e oxignio tm forte influncia no
valor das perdas essencialmente por serem responsveis pela formao de centros de
aprisionamento de paredes de domnio [52].
A espessura da chapa tem efeito direto sobre as perdas parasitas, como mostrado
anteriormente. Porm, interessante notar que o efeito absoluto da espessura depende muito
da resistividade eltrica do ao [9].
61
A deformao plstica, mesmo que em pequenas quantidades, aumenta o valor das
perdas, pois introduz defeitos cristalinos e tenses elsticas. Neste ponto, est contido tambm
o efeito de tenses elsticas aplicadas ao material.
O efeito da textura nas perdas bastante forte. No caso extremo, do ao de gro
orientado, as perdas a 1.5 T e 60 Hz so da ordem de 1 W/kg na direo de laminao e de 4.5
W/kg na direo transversal. No caso dos aos GNO, o efeito da textura tambm pode ser
examinado comparando as perdas na direo de laminao e na direo transversal. As perdas
na transversal so sempre maiores que as perdas na longitudinal. Alm, nota-se que a maior
parte da anisotropia das perdas totais est concentrada nas perdas histerticas. Estas diferenas
devido textura ocorrem, pois, como j citado, a textura a principal responsvel pelo
aparecimento de anisotropias nos aos eltricos [3]. Sendo assim, havendo esta anisotropia, os
processos de magnetizao sero dependentes da direo que o campo magntico for
aplicado.
Honda et. al. [71] mostraram que, para maior parte dos aos eltricos, as propriedades
magnticas so piores quando medidas em 55 em relao RD. Este comportamento angular
das propriedades magnticas dos aos eltricos de gro no-orientado geralmente atribudo
textura cristalogrfica, ou seja, ocorrncia de uma significante componente (110)[001].
A figura 4.3 mostra o comportamento angular das perdas totais e das componentes
histertica, parasita e em excesso. Atravs desta figura, pode-se observar que a anisotropia das
perdas totais originada principalmente a partir da anisotropia das perdas histerticas.

0 20 40 60 80 100
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
3.5
P
anmala
P
parasita
P
Histertica
P
total
(
o
)
P
t
o
t
a
l

,


P
h
i
s
t
e
r

t
i
c
a

(
W
/
k
g
)
0.6
0.8
1.0
1.2
1.4
1.6
P
p
a
r
a
s
i
t
a

,


P
e
m

e
x
c
e
s
s
o

(
W
/
k
g
)

figura 4.2: Variao angular das perdas totais e da componente histertica, por corrente de Foucault e em
excesso medida em 1.5 T e 60 Hz ara o aos FeSi
3.2%
. Retirada da referncia [18].
62

De fato, de acordo com Landgraf et. al. [3, 4, 5, 18, 68], as perdas nos aos eltricos
de gro no-orientado classe E110 produzidos pela ACESITA so muito dependentes da
textura. A figura 4.3 mostra o comportamento da componente de alta induo e baixa induo
das perdas histerticas, de acordo com o mtodo grfico de diviso das perdas, em funo do
ngulo em relao RD.
0 20 40 60 80 100
0.0
0.1
0.2
0.3
0.4
Perdas em alta induo
Perdas em baixa induo
P
e
r
d
a
s

(
W
/
k
g
)
(
o
)

figura 4.3: Comportamento angular da componente de perda histertica para alta induo (P
HAI
) e baixa induo
(P
HBI
) de acordo com a separao citada na seo 3.4.2. Retirada da referncia [18].

Os grficos acima apresentam as perdas em funo do ngulo de corte observadas nos
aos eltricos de gro no-orientado estudados nesta dissertao. Nota-se, facilmente que, as
perdas so fortemente dependentes do ngulo de aplicao do campo magntico e medio
das perdas em relao direo de laminao. Neste fato, est implcito que os processos de
magnetizao que ocorrem ao longo da curva de histerese apresentam uma dependncia com
, devido textura.
63
5 PROCEDIMENTO EXPERIMENTAL

Neste captulo so descritos os sistemas experimentais e mtodos de medida e
tratamento de dados utilizados para o estudo dos processos de magnetizao em aos eltricos
de gro no-orientado.

5.1 Amostras

Neste trabalho, foram estudados aos eltricos de gro no-orientado FeSi
3.2%
classe
E110 produzidos pela empresa ACESITA (Aos Especiais Itabira). Estes aos, apesar de
serem classificados como de gro no-orientado, na verdade apresentam uma componente
relativamente pronunciada de textura (110)[001] orientada na RD. A textura foi determinada
por difrao de eltrons retroespalhados (EBSD) pela ACESITA.
Este ao apresenta alta permeabilidade e baixa remanncia, como ser observado
atravs das curvas de magnetizao, e a induo de saturao de aproximadamente 1.5 T.
Estas caractersticas fazem deste ao um timo material para ser utilizado em aplicaes
magnticas.
De acordo com informaes fornecidas pela ACESITA [72], estes aos possuem as
seguintes caractersticas, como mostram as tabela 5.1 e tabela 5.2.

Perdas magnticas mximas a 50 Hz e 1 T 1.1 W/kg
Perdas magnticas mximas a 60 Hz e 1 T 1.4 W/kg
Perdas magnticas mximas a 50 Hz e 1.5 T 2.7 W/kg
Perdas magnticas mximas a 60 Hz e 1.5 T 3.45 W/kg
Induo magntica mnima B2500 1.49 T
Induo magntica mnima B5000 1.6 T
Induo magntica mnima B10000 1.71 T
Envelhecimento magntico mximo 5 %
Densidade assumida 7.6 g/cm
3

Fator de empilhamento mnimo 97 %
ndice de dobramento mnimo 3
tabela 5.1: Especificaes garantidas fornecidas pela ACESITA [72].
64

Perdas magnticas mximas a 50 Hz e 1 T 1.01 W/kg
Perdas magnticas mximas a 60 Hz e 1 T 1.3 W/kg
Perdas magnticas mximas a 50 Hz e 1.5 T 2.51 W/kg
Perdas magnticas mximas a 60 Hz e 1.5 T 3.23 W/kg
Induo magntica mnima B2500 1.54 T
Induo magntica mnima B5000 1.63 T
Induo magntica mnima B10000 1.75 T
tabela 5.2: Caractersticas magnticas tpicas fornecidas pela ACESITA [72].

Segundo a referncia [73], as amostras estudadas apresentam resistividade eltrica de
55.3 .cm, quantidade de Si + Al igual a 3.85% e tamanho de gro de 130 m. Assim como
j citado anteriormente, estas amostras apresentam o comportamento tpico dos aos eltricos
de gro orientado, com os piores valores nas propriedades magnticas em torno de 55. A
figura 5.1 mostra a microestrutura do ao estudado nesta dissertao, onde se pode observar o
contorno dos gros.

figura 5.1: Microestrutura mostrando o contorno dos gros aos eltricos de gro no-orientado FeSi
3.2%
classe
E110. Retirada da referncia [73]

Para a realizao do estudo, foram cortadas amostras com o eixo principal a diferentes
ngulos iguais a 0, 10, 20, 30, 40, 50, 60, 70, 80 e 90 com relao RD, definida
durante o processo de fabricao. A figura 5.2 apresenta a definio do ngulo de corte para
as amostras estudadas. O corte das amostras foi realizado atravs de fotocorroso [74]. Com
isto, garantem-se poucos danos nas bordas da amostra, reduzindo eventuais distores na
estrutura de domnios.
65

figura 5.2: Geometria das amostras com relao aos eixos cristalogrficos.

Dois conjuntos de amostras foram utilizados. Para as curvas de magnetizao e
medidas de rudo Barkhausen, foi utilizado um conjunto nas quais as amostras tm dimenses
de 30 1 0.5 mm
3
. E para as medidas de magnetostrico, o conjunto composto por
amostras de dimenses de 30 3 0.5 mm
3
.

5.2 Medidas de Magnetizao

O dispositivo utilizado para medir a magnetizao das amostras o magnetmetro de
amostra vibrante (VSM). Este tipo de magnetmetro, desenvolvido no final da dcada de 50
por S. Foner [75, 76, 77], combinou avanos de mtodos magnetomtricos e indutivos
estticos e , atualmente, o sistema mais difundido para obteno de caractersticas
magnticas nos laboratrios, sendo um instrumento muito sensvel para medidas de momentos
magnticos. O seu princpio de funcionamento est baseado na Lei de Faraday-Lenz, ou seja,
na deteco de uma fora eletromotriz produzida em uma bobina por um fluxo magntico
varivel devido ao movimento da amostra. A amostra colocada na extremidade de uma haste
no magntica, fixada em um atuador eletromecnico, semelhante a um alto-falante, que lhe
confere um movimento vibratrio harmnico, atravs da vibrao perpendicular direo de
um campo magntico constante. Sobre as peas polares do eletrom so colocadas quatro
bobinas sensoras, duas sobre cada plo, de acordo com a configurao de Mallinson [75].
Esta configurao exige que as bobinas, sobre cada pea polar, estejam em oposio de fase.
O sinal de tenso captado nas bobinas sensoras, proporcional a magnetizao da amostra,
lida por um amplificador lock-in em fase com a freqncia de excitao de movimento da
66
amostra. Este arranjo insensvel a campos estticos de qualquer geometria e, deste modo,
campos intensos podem ser aplicados sem efeitos adversos. A sensibilidade deste mtodo
limitada principalmente pelo rudo mecnico transmitido do atuador eletromecnico para as
bobinas sensoras. E como a magnetizao da amostra esttica no VSM, ento nenhum efeito
de correntes de Foucault considerado.
A caracterizao magntica das amostras estudadas foi realizada utilizando-se um
VSM presente no LMMM. O sinal de tenso aplicado no atuador eletromecnico fornecido
por uma fonte de corrente, controlada por um amplificador lock-in Stanford Modelo SR830.
O mesmo lock-in controla uma fonte de corrente, que fornece 12 A a um eletrom
comercial GMW Magneto System 5403, que responsvel pelo campo magntico aplicado ao
longo do eixo principal das amostras. O campo aplicado, durante toda a medida, medido por
um sensor Hall modelo Globalmag TMAG-01T.
O sinal de campo lido pela entrada auxiliar do lock-in e convertido em valor de
campo. O lock-in conectado ao computador atravs de uma interface GPIB. Para o controle
e monitoramento do experimento, um programa foi desenvolvido na plataforma Agilent VEE.
No intuito de determinar o valor real da magnetizao do material a ser estudado,
calibra-se o VSM, adquirindo-se uma curva de magnetizao para uma amostra de nquel, que
possui magnetizao de saturao conhecida, do mesmo tamanho e forma da amostra
estudada. Deste modo, obtm-se um valor de referncia para o sistema.
Neste trabalho, todas as curvas de magnetizao foram obtidas a temperatura ambiente
e com campos mximos iguais a 2000 Oe.
Na figura 5.3, um esquema de um magnetmetro de amostra vibrante apresentado.

figura 5.3: Magnetmetro de amostra vibrante.
N
S
H
Bobinas
sensoras
Amostra
Atuador
eletromecnico
Peas
polares
67

5.3 Medidas de Induo

Para a obteno das curvas de induo dos aos, foi utilizado um fluxmetro. Neste
sistema, uma bobina sensora enrolada na regio central da amostra em estudo e o sistema
amostra mais bobina colocado em um circuito magntico. Um gerador de funes, acoplado
a uma fonte de corrente, responsvel pela variao do campo no interior do circuito
magntico atravs de uma bobina de excitao. Devido variao de fluxo no interior da
amostra, uma fora eletromotriz induzida nos terminais da bobina sensora. Essa fora
eletromotriz induzida dada por
dt
d
N

= . Como o interesse est na induo magntica da
amostra, que proporcional ao fluxo magntico, integra-se o sinal detectado na bobina
sensora atravs de um integrador analgico ou por integrao numrica [54]. O sinal lido
por um osciloscpio digital Tektronix TDS320 com interface via GPIB a um computador. O
software de aquisio foi desenvolvido na plataforma Agilent VEE.
As curvas de induo no so apresentadas nesta dissertao, pois foram obtidas
apenas com o objetivo de expressar os resultados de rudo Barkhausen e magnetostrico
como funo da induo. As curvas de induo utilizadas para expressar os resultados de
rudo Barkhausen foram obtidas no sistema Barkhausen enquanto que as curvas utilizadas
para expressar as medidas de magnetostrico foram adquiridas em um sistema adaptado ao
eletrom. Esta distino teve que ser feita, pois foram utilizadas diferentes amplitudes
mximas de campo magntico nas medidas de rudo Barkhausen e magnetostrico.

5.4 Rudo Barkhausen

Tendo como base o artigo original de H. Barkhausen [6], os experimentos para medida
do rudo Barkhausen so caracterizados pela induo de uma mudana de fluxo magntico em
uma bobina sensora em resposta a uma lenta variao do campo externo. A regularidade da
variao do campo aplicado contrasta com o carter irregular dos pulsos, que so o resultado
do movimento complicado das paredes de domnios.
68
Os componentes essenciais de uma medida indutiva de rudo Barkhausen consistem de
um dispositivo capaz de produzir um campo homogneo suficiente ao longo da amostra, e
uma bobina sensora enrolada em torno da amostra para detectar o fluxo de induo.
Existem vrias possibilidades para a gerao de campo magntico sobre a amostra.
Pode-se trabalhar utilizando um solenide, eletrom, yoke ou uma bobina de Helmholtz. No
trabalho realizado, utilizou-se um solenide pois, com este, conhece-se o valor correto do
campo aplicado sobre a amostra, tem-se um campo homogneo aplicado sobre a amostra e,
como se trata de um circuito magntico aberto, h a presena de um campo desmagnetizante.
A presena do campo desmagnetizante aumenta as chances de se obter o valor mdio de
dH
dM

constante, ou seja, de haver um processo estacionrio. Neste caso, um fator de
desmagnetizao alto pode permitir o estudo da nucleao e evoluo de novas famlias de
domnios, fato este que, possivelmente, no ocorreria em amostras maiores ou circuitos
magnticos fechados .
A bobina sensora detecta um sinal induzido que a soma da taxa de variao de fluxo
associada ao campo aplicado H, com a taxa de variao da magnetizao do prprio material,
ou seja:

dt
dB
NA
dt
dH
A A N
dt
d
N t
amostra amostra bobina
=

=
0
) ( ) ( (5.1)
onde = A
o
B.
Em condies experimentais mais simples, por exemplo quando um material tem
apenas dois domnios com magnetizaes opostas e, portanto, apenas uma parede de domnio,
o fluxo induzido simplesmente proporcional velocidade da parede de domnio v, com =
N(2M
S
dv). Porm, em um caso real as medidas indutivas detectam sempre o resultado do
movimento coletivo de muitas paredes de domnio. Uma conseqncia disso que o sinal
medido no permite a distino entre saltos Barkhausen nicos e a superposio espacial e/ou
temporal deles.

5.4.1 Sistema de aquisio de Rudo Barkhausen

A figura 5.4 apresenta um diagrama esquemtico do sistema experimental adotado
para as medidas de rudo Barkhausen. Neste sistema, a excitao da amostra feita por um
solenide, com compensao nas extremidades para reduo dos efeitos das bordas. Este
69
capaz de fornecer um campo magntico i H = 260 Oe, onde i a corrente em Ampres,
alimentado por uma fonte de corrente baseada no circuito integrado Burr-Brown OPA541.
Para melhorar a relao sinal/rudo, a fonte de corrente alimentada por conjuntos de baterias
de 12 V que fornecem uma tenso de alimentao simtrica +/- 12V . O controle desta fonte
feito por um gerador de funes Stanford Modelo DS345. Antes do sinal de corrente chegar
ao solenide, ele ainda passa atravs de um filtro passa-baixas, com freqncia de corte
menor do que 50 Hz, de modo a diminuir os efeitos da rede externa.
O sinal do rudo detectado por uma bobina sensora, de 5 mm de comprimento, com
aproximadamente 400 espiras de fio 44 AWG esmaltado, enrolada ao redor da regio central
da amostra. Em srie a esta bobina, foi colocada uma bobina idntica, mas em contra fase,
com o objetivo de retirar o sinal captado referente ao campo magntico externo. A resistncia
de cada bobina sensora de 40 .
O sinal Barkhausen, por ter amplitude muito baixa, amplificado e condicionado por
um pr-amplificador Stanford Modelo SR560 com filtro passa-baixas ajustvel. Este sinal
digitalizado ou por um osciloscpio digital Tektronix Modelo TDS320, com taxa de aquisio
ajustvel at 500 MBps e resoluo de 8 bits, conectado ao computador de controle por uma
interface GPIB (IEEE488). O processamento digital do sinal feito por um programa
desenvolvido na plataforma Agilent VEE.

figura 5.4: Esquema do sistema de medida do rudo Barkhausen.
Gerador de
funes
Amplificador
de baixo rudo
Filtro passa-baixas
Pr-amplificador
Filtro passa-baixas
Osciloscpio
Computador
Suporte para amostra
Amostra
Bobina de campo
Bobinas
sensoras
70

Como o sistema presente no laboratrio no possui resoluo suficiente para adquirir o
rudo Barkhausen ao longo de meio ciclo de histerese em uma nica aquisio, o
procedimento desenvolvido foi de dividir o meio ciclo de histerese em N intervalos de
tempos iguais. A amostra levada a excursionar seu lao de histerese com valores mximos
de campo magntico definido e, a um dado valor de campo determinado pelo operador,
enviado um sinal de disparo para o osciloscpio, iniciando a aquisio. Este valor de campo
pr-ajustado chamado de trigger do osciloscpio, como mostra a figura 5.5.
-16 -8 0 8 16
-2
-1
0
1
2
H
trigger

H(kA/m)
B
(
T
)
0.00 0.05 0.10 0.15 0.20


-
d

/
d
t

(

V
)

t(s)
0.00 0.05 0.10 0.15 0.20

t(s)

figura 5.5: Exemplo de curva de histerese onde indicado o campo de trigger e o intervalo onde so adquiridos
os dados de rudo. O grfico interno inferior mostra uma srie temporal tpica. O grfico interno superior mostra
os saltos correspondentes na induo da amostra.

Sendo assim, o programa desenvolvido faz com que, para cada ciclo de histerese, com
o mesmo valor de campo de trigger, seja dado um delay no osciloscpio para que a aquisio
dos dados seja realizada. Em cada ciclo de histerese, com um delay diferente, adquirida uma
srie temporal de rudo Barkhausen com 1000 pontos que corresponde a uma parte da curva.
O valor do delay para cada aquisio dado atravs da seguinte expresso:
|

\
|
=
2
0
T
N
n
delay (5.2)
71
onde n o nmero da aquisio, N
o
o nmero total de aquisies, ou seja, em quantas vezes
o meio ciclo de histerese foi dividido, e T o perodo do campo magntico externo.
Para todas as amostras, as medidas foram realizadas com um campo magntico de
freqncia igual a 50 mHz, amplitude mxima de 520 Oe, 2 A de corrente mxima na bobina
de excitao, e forma de onda triangular. O campo foi aplicado ao longo do eixo principal da
amostra.
A figura 5.5 apresenta a variao temporal do fluxo magntico (d/dt) detectado por
uma bobina sensora em funo do tempo enquanto a amostra excitada por um campo de
freqncia de 50 mHz, com amplitude mxima de 520 Oe e forma de onda triangular.
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
0
1
2
3
d

/
d
t

x

1
0
-
6

(
V
)
t (s)

figura 5.6: Srie temporal de rudo Barkhausen obtida em uma amostra de 0 com freqncia de excitao de 50
mHz.

Vrias medidas em meio ciclo de histerese foram realizadas e, nestas, observou-se que
o rudo Barkhausen relevante somente regio central do ciclo de histerese, ou seja, em torno
do campo coercivo. Deste modo, como as medidas so relativamente demoradas, a aquisio
do sinal Barkhausen foi realizada somente em torno do campo coercivo.
Para cada amostra foram realizadas 50 medidas do rudo Barkhausen nos 2 segundos
em torno do campo coercivo. Cada medida foi dividida em 20 partes, correspondendo a 100
ms para cada aquisio, ou seja, a escala de tempo no osciloscpio utilizada foi de 5 ms.
Sendo assim, a taxa de amostragem utilizada foi de 100 kS/s no osciloscpio e freqncia de
corte de 30 kHz e 6 dB/oitava no filtro passa baixa. O ganho no pr-amplificador utilizado foi
de 500.
72
Estes valores obedecem o que estabelece o teorema da amostragem, segundo o qual se
um conjunto de dados amostrado com um intervalo n entre pontos consecutivos, a
transformada de Fourier discreta deste conjunto de dados s tem significado fsico dentro do
intervalo de freqncias dado por [41]:
c
f f < (5.3)
onde
n
f
c

2
1
chamada de freqncia crtica de Nyquist. Qualquer componente fora desse
intervalo de freqncias falsamente transladado para dentro do mesmo, contribuindo com
componentes indesejadas no espectro de potncia. Para satisfazer este critrio e evitar as
componentes indesejadas, necessrio filtrar as freqncias maiores que a freqncia de
Nyquist. Isto feito usando-se o filtro passa-baixas do pr-amplificador, que corta freqncias
maiores que a metade da freqncia de amostragem. No caso do presente trabalho, a
freqncia de Nyquist foi de 50 kHz. [41]
A partir dos dados digitalizados, podem ser extradas vrias funes estatsticas tais
como espectros de potncia, distribuio de rea, tempo e amplitude dos saltos Barkhausen.
Porm, neste trabalho, foi obtido somente o valor mdio quadrtico (V
rms
) do rudo, que um
parmetro que indica o nvel de atividade Barkhausen no material.

5.4.2 Tratamento do rudo

Para o tratamento do sinal e, conseqente, obteno do V
rms
do rudo, foram
desenvolvidas duas rotinas na plataforma Agilent VEE. A figura 5.7 mostra uma srie
temporal de rudo Barkhausen com adquirida. Em cada uma das 50 sries temporais
adquiridas para cada amostra, foi realizado o processo de smoothing. Para isto, foi
desenvolvida uma rotina que realiza o smoothing e subtrai a linha adquirida do sinal do rudo
de modo a ter como resultado apenas o sinal de rudo propriamente dito, sem a linha base. A
figura 5.8 mostra uma srie temporal de rudo Barkhausen como adquirida e o respectivo
smoothing realizado. A figura 5.9 mostra a curva de rudo j com o smoothing subtrado.
esta ltima curva que ser utilizada para o clculo do V
rms
.
73
0.0 0.5 1.0 1.5 2.0
0
1
2
3
d /dt
d

/
d
t

x

1
0
-
6

(
V
)
t (s)

figura 5.7: Srie temporal de rudo Barkhausen adquirida.
0.0 0.5 1.0 1.5 2.0
0
1
2
3
d /dt
smoothing
d

/
d
t

x

1
0
-
6

(
V
)
t (s)

figura 5.8: Srie temporal de rudo Barkhausen adquirida (linha preta) e smoothing (linha vermelha).
0.0 0.5 1.0 1.5 2.0
-0.75
-0.50
-0.25
0.00
0.25
0.50
0.75
1.00
1.25
d

/
d
t

x

1
0
-
6

(
V
)
t (s)

figura 5.9: Curva final obtida aps a subtrao da linha base.
74

No intuito de quantificar a intensidade do rudo Barkhausen, ento, calcula-se o V
rms
da voltagem, definido pela expresso:
( )
2 / 1
1
2
1
(

=

=
N
i
i rms
V
N
V (5.4)
onde, N o nmero total de pontos por amostragem. Como em cada amostra foram realizadas
50 medidas de rudo Barkhausen e, para cada uma foi calculado o V
rms
, tem-se que o valor
efetivo uma simples mdia aritmtica sobre as 50 amostragens. Para o clculo do V
rms
e a
realizao da mdia aritmtica foi desenvolvida uma rotina na plataforma Agilent VEE. A
figura 5.10 mostra o V
rms
em funo do tempo obtido a partir da curva apresentada na figura
5.9.
0.0 0.5 1.0 1.5 2.0
0.0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
V
rms
V
r
m
s

x

1
0
-
7

(
V
)
t (s)

figura 5.10: V
rms
como uma funo do tempo.

5.5 Magnetostrico

5.5.1 Sistema de aquisio das curvas de magnetostrico

As medidas de magnetostrico foram realizadas pela tcnica de strain gauges,
explicada na seo 3.3.3 acima. A figura 5.11 mostra um esquema do sistema experimental
utilizado para as medidas de magnetostrico.
75

figura 5.11: Esquema do sistema de medida de magnetostrico.

Neste sistema, o sinal de voltagem proporcional variao da resistncia do strain
gauge e ao alongamento do material foi medido usando uma ponte de Wheatstone com quatro
resistores, na qual um destes resistores o strain gauge, conectada a um amplificador lock-in
Stanford Modelo SR830. O mesmo lock-in controla uma fonte de corrente, que fornece 12
A a um eletrom comercial GMW Magneto System 5403, que responsvel pelo campo
magntico aplicado ao longo do eixo principal das amostras. O campo aplicado, durante toda
a medida, medido por um sensor Hall modelo Globalmag TMAG-01T. Um programa
desenvolvido por A. Gndel na plataforma Agilent VEE controla e monitora o experimento.
Todas as medidas foram realizadas com um campo magntico esttico com amplitude
mxima de 2000 Oe. O campo foi aplicado ao longo do eixo principal da amostra. Para cada
amostra foram realizadas vrias medidas uma vez que o sistema muito sensvel a rudos
externos. Cada medida corresponde a meio ciclo de magnetizao de B
m
a B
m
. Medidas no
ciclo completo no foram realizadas, pois o sistema no possui resoluo para observar
histerese.
Duas configuraes de medidas foram realizadas: longitudinal e transversal. Em uma
medida longitudinal, o strain gauge colado paralelamente ao eixo principal da amostra. Na
medida transversal, o strain gauge colado em um ngulo de 90
o
com relao ao eixo
principal da amostra. Em ambos os casos, o campo magntico aplicado ao longo do eixo
principal da amostra. A figura 5.12 exemplifica as duas configuraes usadas neste trabalho.
Fonte de
corrente

Amplificador
Lock-in
Ponte de
Wheatstone
H
Sensor
Hall
Eletrom
Amostra +
Strain gauge
Voltmetro
Computador
76

figura 5.12: Configuraes dos strain gauges: (a) longitudinal e (b) transversal.

5.5.2 Colagem de strain gauge

Para todas as medidas de magnetostrico, foram utilizados strain gauges modelo
062BG de constantan produzidos pela empresa Excel Sensores Ind. Com. E Exportao Ltda,
com resistncia de 350 , fator de gauge de 2.1 0.05 e dimenses para grelha de (a) 1.57 x
(b) 1.27 mm
2
e totais de (c) 2.79 x (d) 1.27 mm
2
, de acordo com a figura 5.13, montados
como um brao de uma ponte de Wheatstone com os outros trs braos consistindo de trs
resistores de 350 cada. A voltagem de excitao para a ponte de Wheatstone fornecida pelo
lock-in foi de 2.5 V.

figura 5.13: Dimenses do strain gauge. (a) Comprimento da gralha, (b) comprimento total do strain gauge, (c)
largura da grelha, (d) largura total do strain gauge.

Com o objetivo de identificar os efeitos externos de temperatura e campo magntico
aplicado sobre o strain gauge, realizou-se o procedimento de colagem sobre uma amostra de
cobre, com as mesmas dimenses das amostras estudadas. Nenhuma variao de resistncia
foi observada. Sendo assim, tem-se que as variaes de resistncia observadas so associadas
somente a variaes dimensionais da amostra.
Uma etapa crtica do processo para realizar as medidas de magnetostrico a
colagem dos strain gauges, pois, se conduzida de forma incorreta, pode comprometer os
77
resultados obtidos. O objetivo o strain gauge reproduzir fielmente todas as deformaes da
superfcie da pea. Para, tanto, a primeira condio o strain gauge estar firmemente aderido
a esta superfcie, durante todo o tempo em que durar a medida. A preparao foi realizada
com cuidado para evitar contaminao da amostra e do strain gauge. Toda a manipulao foi
feita com pina, isso porque os strain gauges so fabricados, limpos e embalados em
ambientes controlados. Os materiais usados na limpeza da superfcie, tais como algodo
hidrfilo e papeis absorventes, so de alta pureza e os produtos qumicos so da classe PA.
Na primeira etapa, lixa-se a amostra com lixas dgua com diferentes graduaes ou
granulometrias, partindo das mais grossas, lixa de 400, at as mais finas, de 600, com o
objetivo de retirar as impurezas mais grosseiras. Aps essa etapa, se limpa a superfcie com
acetona para a remoo de contaminantes.
Para a colagem do strain gauge, utiliza-se um adesivo, base de Epoxi KBR-610. Usa-
se fita adesiva com 12 mm de largura para auxiliar na manipulao, transferncia e
posicionamento dos strain gauges. Uma almofada de borracha de silicone 40 40 mm
2

permite uma uniformizao na distribuio da presso aplicada sobre o strain gauge e uma
pelcula de teflon isola o contato do adesivo com o que no deve ser colado, quando o adesivo
se espalhar pela presso exercida. Todo o material utilizado foi produzido pela empresa Excel
Sensores Ind. Com. E Exportao Ltda. O strain gauge, atravs de uma fita, fica preso
superfcie da amostra por apenas um de seus lados, como se fosse a pgina de um livro.
Ento, levantando-se o strain gauge, como se fosse virar a pgina do livro, aplica-se o adesivo
a base de Epxi na superfcie da amostra e do lado inferior do strain gauge. Com uma pelcula
de teflon por sobre o strain gauge, este virado e encostado na amostra com a presso dos
dedos. Sobre o teflon coloca-se uma almofada de borracha de silicone, que presa sobre a
amostra utilizando um suporte, desenvolvido do LMMM, conforme mostra a figura a seguir.

figura 5.14: Suporte utilizado na colagem do strain gauge na amostra.
78

Com o suporte, aplica-se presso de 1 a 5 kg/mm
2
.
.
As duas partes, suporte mais
amostra com strain gauge, so levadas para cura em um forno a temperatura de
aproximadamente 150C por 2 horas. Aps o processo de cura, retira-se a almofada de
borracha de silicone e a pelcula de teflon e, com uma pina, remove-se a fita adesiva.
79
6 RESULTADOS

Neste captulo so apresentados e discutidos os resultados das medidas de
magnetizao, induo, rudo Barkhausen e magnetostrico em aos eltricos de gro no-
orientado FeSi
3.2%
classe E110 produzidos pela ACESITA. Paralelamente apresentao dos
resultados so identificados os mecanismos de magnetizao que podem ser medidos por cada
uma das tcnicas. Em seguida realizada uma anlise dos processos de magnetizao como
um todo atravs da combinao dos resultados, relacionando o mecanismo de magnetizao
com o nvel de induo B, o ngulo e a evoluo da estrutura de domnios.

6.1 Curvas de magnetizao

As curvas de magnetizao em funo do campo aplicado foram adquiridas utilizando-
se um magnetmetro de amostra vibrante. A figura 6.1 mostra as curvas de magnetizao em
funo do campo magntico externo e as curvas de magnetizao em funo do campo
efetivo, calculado de acordo com a equao 2.18. No foi possvel realizar a calibrao do
VSM devido dimenso das amostras. O valor da magnetizao de saturao foi obtido
atravs do conhecido valor da induo de saturao do material utilizando a expresso B =
o
(H + M).
De acordo com as curvas de magnetizao em funo do campo efetivo, as amostras
apresentaram um valor de magnetizao de saturao de aproximadamente 12.943 x 10
3
G =
1.03 x 10
6
A/m. Fica claro que este ao possui uma alta permeabilidade, como era esperado.
O valor de magnetizao de remanncia mdio de aproximadamente 7288.5 G = 580 x 10
3

A/m. O campo coercivo baixo. O valor mdio para o campo coercivo em torno de 6 Oe =
471.6 A/m. No foi possvel estabelecer um valor preciso do campo coercivo para cada
amostra, pois o sistema utilizado no apresenta resoluo e sensibilidade de campo. O campo
de saturao de aproximadamente 1000 Oe.
Observa-se que as curvas de magnetizao no apresentam diferenas observveis em
funo do ngulo de corte. Isto se deve ao fato que a curva de magnetizao um resultado da
combinao dos efeitos de todos os mecanismos de magnetizao que esto ocorrendo, no
fazendo distino como a magnetostrico, que no sensvel ao movimento de paredes de
180.
80
-1.2
-0.6
0.0
0.6
1.2


0


50
-1.2
-0.6
0.0
0.6
1.2


10


60
-1.2
-0.6
0.0
0.6
1.2

4

M

x

1
0
4

(
G
)
20


70
-1.2
-0.6
0.0
0.6
1.2


30


80
-1000 0 1000
-1.2
-0.6
0.0
0.6
1.2


40
-1000 0 1000

H (Oe)

90

figura 6.1: Curvas de magnetizao das amostras de 0, 10, 20, 30, 40, 50, 60, 70, 80 e 90. Linhas
pretas indicam as curvas de magnetizao como em funo do campo externo. Linhas vermelhas indicam as
curvas de magnetizao em funo do campo efetivo.
81
6.2 Curva de induo

A figura 6.2 apresenta uma a curva de induo tpica em funo do campo magntico
aplicado. Neste caso, mostrada a curva para a amostra de 0. A curva foi obtida pelo mtodo
fluxomtrico. Esta uma tpica curva dos aos eltricos GNO estudados. As curvas de
induo para as outras amostras, no mostradas aqui, apresentam comportamentos similares.
Alm disto, as curvas de induo somente foram adquiridas com o objetivo de expressar as
medidas de rudo Barkhausen e magnetostrico em funo da induo.
A induo de saturao das amostras, como pode ser visto na curva, de
aproximadamente 1.5 x 10
4
G
B
= 1.5 T. As variaes observadas nas escalas de induo para
diferentes amostras so atribudas a variaes dos campos desmagnetizantes associados a
imprecises nas dimenses da amostra. Alm disto, como todas as medidas foram realizadas
com campo magntico de freqncia e amplitude iguais e desde que cada amostra tem um
comportamento diferente no campo aplicado, o pico de induo reflete pequenas variaes da
permeabilidade de acordo com o ngulo com relao RD. E esta variao de permeabilidade
est associada orientao dos gros e dos eixos cristalogrficos em relao ao ngulo de
corte [17, 78].
-500 -400 -300 -200 -100 0 100 200 300 400 500
-1.5
-1.0
-0.5
0.0
0.5
1.0
1.5
B

x

1
0
4

(
G
)
B

(
T
)
H (Oe)
0
-1.5
-1.0
-0.5
0.0
0.5
1.0
1.5

figura 6.2: Curvas de induo da amostra de 0.
82

6.3 Medidas de rudo Barkhausen

A figura 6.3 apresenta a variao temporal do fluxo magntico (d/dt) detectado por
uma bobina sensora em funo do tempo enquanto a amostra excitada por um campo
magntico de freqncia de 50 mHz, amplitude mxima de 520 Oe e forma de onda
triangular. A aquisio ocorreu somente nos dois segundos centrais em torno de campo
coercivo. importante notar que, mesmo adquirindo apenas 2 segundos no ciclo de histerese
do material, abrangem-se valores de induo desde B
m
a B
m
, onde B
m
o valor mximo de
induo atingida.
As sries temporais medidas nas amostras de 10, 20, 30, 40, 50, 60, 70, 80 e
90, no mostradas aqui, apresentam comportamento semelhante. As medidas realizadas no
outro meio ciclo de histerese apresentam comportamento simtrico.

0.0 0.5 1.0 1.5 2.0
0
1
2
3
0
d

/
d
t

x

1
0
-
6

(
V
)
t (s)

figura 6.3: Srie temporal de rudo Barkhausen obtida nos dois segundos centrais em uma amostra de 0 com
freqncia de excitao de 50 mHz.

Nesta curva, observa-se uma grande quantidade de eventos Barkhausen. Alm disto, o
rudo est presente em quase todas as regies da curva de histerese, incluindo a regio de alta
induo [79].
interessante o fato de que, enquanto a amostra est sendo magnetizada a uma taxa
constante de campo, ocorrem drsticas mudanas ao longo da curva de magnetizao. Isto
significa que, em diferentes nveis de induo, um mesmo aumento de campo em um dado
intervalo de tempo faz com que o processo de magnetizao ocorra atravs de propriedades
83
estatsticas completamente diferentes. Por exemplo, um grande estado no estacionrio pode
ser facilmente reconhecido pela simples observao do comportamento do rudo no
osciloscpio.
Uma investigao com o intuito de quantificar a intensidade do rudo Barkhausen foi
realizada atravs do clculo do V
rms
. A figura 6.4 apresenta os resultados obtidos no clculo
do V
rms
do rudo Barkhausen em funo da induo como definido no captulo anterior. Em
cada curva, a escala da induo foi mostrada para exibir o estado magntico de cada amostra.
Neste caso, as caractersticas das curvas de V
rms
podem ser conectadas aos processos fsicos
de magnetizao do material ao longo da curva de histerese.
Em todas as medidas de rudo Barkhausen, o processo de magnetizao procede de
B
m
para B
m
.
A primeira caracterstica marcante do comportamento do V
rms
a presena de dois
picos intensos em valores de induo que correspondem a pontos acima do joelho da curva.
Este fato se torna muito interessante, pois, se comparado com o rudo Barkhausen usualmente
medido em amostras ferromagnticas, o pico de intensidade ocorre geralmente em torno do
campo coercivo e a discusso deste mximo em termos do movimento de paredes de domnio
lgica. Por outro lado, quando grandes intensidades de V
rms
so observadas na regio do
joelho da curva de magnetizao com menor intensidade na regio do campo coercivo, a
discusso em termos da nucleao e aniquilao de domnios lgica [80].
Esta caracterstica do V
rms
indica que a evoluo da estrutura de domnios ao longo da
curva de magnetizao caracterizada por dois mecanismos diferentes.
Os dois picos observados em altos valores de induo acima do joelho da curva de
magnetizao correspondem a uma impresso tpica de grandes instabilidades topolgicas na
estrutura de domnios do material. Estas instabilidades esto associadas com a nucleao de
domnios magnticos e refinamento da estrutura, caracterizando o primeiro pico, e com a
aniquilao dos domnios, associado ao segundo pico.
Os processos associados nucleao, crescimento e aniquilao de domnios so
caracterizados em mdia por grandes variaes de fluxo magntico pois durante estes
processos, ocorrem movimentos de paredes de 90 e 180 e rotao da magnetizao. Isto
significa que campos internos de acoplamento muito fortes atuam nas paredes de domnio nas
regies onde ocorrem grandes variaes da permeabilidade [81]. Bertotti [7] assume que a
aniquilao de domnios e a nucleao de domnios sejam os principais meios de dissipao
de energia acima do joelho da curva de magnetizao [82, 83].
84
notvel que, para todos os ngulos em relao RD, o primeiro pico do V
rms
tem
maior amplitude do que o segundo. Uma possvel explicao para esta caracterstica que a
nucleao e crescimento de novas estruturas de domnios geram mais atividade Barkhausen e,
conseqentemente, mais dissipao de energia do que a aniquilao de domnios magnticos.
Alm disto, o primeiro pico mais estreito, de modo que o processo de nucleao de
domnios seja considerado em um nvel de induo mais restrito, ou seja, o refinamento da
estrutura e a nucleao de domnios ocorrem a partir de menores valores de induo.
Para todos os ngulos, as posies dos picos so aproximadamente as mesmas. O
primeiro pico apresenta pequenas variaes. Porm, o segundo pico tem a sua largura
aumentada de modo que, em > 70, este se transforma em um plat. Nestes ngulos, a
aniquilao ocorre em menor proporo pois os domnios orientados ao longo dos eixos
cristalogrficos [100] e [010] esto favorveis ao campo magntico.
Por outro lado, na parte central da curva do V
rms
, em baixos valores de induo, o
processo de magnetizao pode ser associado simplesmente ao movimento de paredes de
domnio. Correspondentemente, o valor do V
rms
, neste ponto de induo em torno do campo
coercivo, menor do que nos picos e depende fracamente do valor da induo.
Em altos valores de induo, acima de 1.2 T, o V
rms
igual a zero. Sabe-se que os
processos de magnetizao como o movimento de paredes de domnios, aniquilao e
nucleao de domnios magnticos do origem ao sinal Barkhausen. Sendo assim, neste nvel
de induo, a amostra se encontra praticamente saturada e as pequenas variaes no valor da
magnetizao ocorrem predominantemente por rotaes irreversveis da magnetizao.
Resultados semelhantes foram obtidos em amostras de aos texturizadas por Sommer
et. al. [22]. Esta comparao importante, pois os aos estudados so de gro no-orientado,
mas apresentam uma componente de textura. Deste modo, os mecanismos de magnetizao ao
longo da curva de magnetizao podem apresentar algumas semelhanas.
Uma notvel diferena que existe entre os resultados obtidos nesta dissertao e os
resultados obtidos por Sommer et. al. [22] que no V
rms
obtido para os aos GNO, h
ausncia do pico principal em torno de B = 0. Isto se deve ao fato de que as amostras
estudadas, na ausncia de campo magntico, no apresentam uma estrutura de domnios tal
como a de aos eltricos GO formada por longos domnios separados por paredes de 180.
Em resumo, os resultados de rudo Barkhausen e V
rms
podem ser relacionados com o
movimento de paredes de domnios e a nucleao de novas estruturas de domnios e
aniquilao de domnios que so possveis candidatos a responsveis pela dissipao de
energia nos nveis de alta induo.
85
0
50
100
150


0


50
0
50
100
150


10


60
0
50
100
150

V
r
m
s

x

1
0
-
9

(
V
)
20


70
0
50
100
150


30


80
-1 0 1
0
50
100
150


40
-1 0 1

B (T)

90
figura 6.4: Valor mdio quadrtico (
rms
V ) do sinal Barkhausen em funo da induo B para as amostras de 0,
10, 20, 30, 40, 50, 60, 70, 80 e 90.
86
6.4 Medidas de magnetostrico

A figura 6.5 apresenta as curvas de magnetostrico esttica longitudinal, detectada
utilizando um strain gauge enquanto a amostra excitada por um campo magntico com
amplitude de 2000 Oe, em funo do campo aplicado para as amostras de 0, 10, 20, 30,
40, 50, 60, 70, 80 e 90. Assim como nas medidas de rudo Barkhausen, abrangem-se
valores de induo desde B
m
a B
m
.
Estas curvas so caractersticas de uma amostra policristalina [53]. As curvas de
magnetostrico para materiais policristalinos so representadas por um rpido aumento da
magnetostrico, , com o aumento do campo a partir de campo zero, at que um pico seja
atingido. Em seguida, com o aumento do campo magntico, h uma gradual diminuio de .
O rpido aumento inicial no valor de ocorre devido ao movimento de paredes de 90. Como
o aumento da intensidade do campo magntico a magnetizao se orienta para direes fceis
prximas direo do campo magntico e, deste modo, a magnetostrico atinge seu mximo.
Um aumento maior do campo faz com que ocorra rotao da magnetizao na direo do
campo aplicado e, assim, havendo uma diminuio do valor de [53]. Todos estes processos
esto ilustrados na figura 3.8.
No caso das amostras de aos eltricos GNO, medido corresponde a uma mdia da
contribuio dos muitos domnios de diferentes gros.
Observa-se que as maiores variaes do valor de ocorrem em campos muito baixos.
Porm, como as amostras apresentam alta permeabilidade, estas variaes acabam
acontecendo na regio de alta induo.
A figura 6.6 apresenta a magnetostrico longitudinal como uma funo da induo
para todas as amostras. Em cada curva, a escala da induo foi mostrada para exibir o estado
magntico de cada amostra. Assim, as caractersticas das curvas de magnetostrico podem
ser conectadas aos processos fsicos de magnetizao do material ao longo da curva de
histerese.
Antes de comear qualquer descrio sobre os mecanismos associados
magnetostrico, importante citar que o valor da magnetostrico o resultado da
combinao dos efeitos associados rotao da magnetizao, movimento de paredes de 90,
nucleao e aniquilao de domnios magnticos.
Neste trabalho, os dados de magnetostrico foram medidos a partir do estado
saturado e, deste modo, considerar-se- o valor da magnetostrico com o material saturado
87
como zero pois, neste estado, se conhece a estrutura de domnios do material. Este um ponto
crtico pois se poderia escolher qualquer outro ponto de induo como o zero da
magnetostrico tal como a magnetostrico em 0 = B . Porm, um estado desmagnetizado
real pode ser obtido por um grande nmero de arranjos de domnios diferentes, ou seja, a
estrutura que resulta em um estado desmagnetizado, no nica. Isto origina uma
ambigidade quando se define um estado com magnetostrico nula e que poderia prejudicar
a precisa avaliao experimental do valor de . Tal estado com 0 = seria possvel para um
material em que todos os tipos de domnios participassem com a mesma freqncia,
contribuindo com o mesmo volume. Neste caso seria definido um estado desmagnetizado
ideal com magnetostrico nula.
Todas estas curvas correspondem a meio ciclo da curva de histerese. As medidas
realizadas no outro meio ciclo so similares. Em todas as medidas de magnetostrico
realizadas, o processo de magnetizao procede de B
m
para B
m
.
Uma primeira caracterstica observada do comportamento das curvas de (B) a
semelhante forma apresentada para todas as amostras. Ou seja, nos mesmos pontos de
induo ocorrem os mesmos fenmenos. Porm, nota-se que a amplitude das variaes
diferente de amostra para amostra. Isto se deve ao fato de que, para amostras cortadas em um
ngulo em relao RD, as fraes de domnios, na ausncia de campo magntico,
orientados ao longo dos eixos cristalogrficos mudam. Sendo assim, quando o campo
magntico aplicado, o comportamento da estrutura de domnios ser intensamente
dependente do ngulo .
Dois picos no valor da magnetostrico so observados em altos valores de induo,
aproximadamente -1.2 T e 1.2 T. Para a magnetostrico, quando atingido o valor mximo,
tem-se um estado magntico no qual os vetores magnetizao esto orientados ao longo dos
eixos de fcil magnetizao. No caso dos aos eltricos GNO, os eixos cristalogrficos [100],
[010] e [001] do cristal correspondem aos eixos de fcil magnetizao.
Em altos valores de induo, acima de -1.2 T, antes de atingir o valor mximo, (B)
apresenta um simples aumento. Este aumento, por sua vez, associado rotao da
magnetizao. O mesmo processo de rotao da magnetizao observado em valores de
induo acima de 1.2 T, onde, aps atingir seu mximo, ocorre a diminuio de (B).
Entre -1.2 T e -1 T, (B) diminui significantemente e isto pode ser associado ao
movimento de paredes de domnio de 90. Neste nvel de induo, este movimento de paredes
de domnio uma conseqncia da nucleao e crescimento de novos domnios magnticos.
88
Nos valores de induo entre -1 T e 0 T, (B) no muda significantemente. Sendo
assim, o processo de magnetizao procede por movimento de parede de 180.
Entre 0 T e 1.2 T, at atingir o seu segundo valor mximo, (B) apresenta um aumento
significativo e isto pode ser associado ao movimento de paredes de domnio de 90.
notvel que, para todos os ngulos em relao RD, a primeira variao associada
ao movimento de paredes de 90, que pode ser associado nucleao, ocorre em um nvel de
induo mais estreito que o segundo. Assim como citado no caso do rudo Barkhausen, tem-se
que o processo de nucleao de domnios ocorre em um nvel de induo mais restrito, de
modo que a nucleao de domnios ocorre a partir de menores valores de induo.
89
-10.0
-5.0
0.0
5.0


0


50
-10.0
-5.0
0.0
5.0


10


60
-10.0
-5.0
0.0
5.0



x

1
0
-
6
20


70
-10.0
-5.0
0.0
5.0


30


80
-1000 0 1000
-10.0
-5.0
0.0
5.0


40
-1000 0 1000

H (Oe)

90
figura 6.5: Magnetostrico longitudinal em funo do campo magntico aplicado nas amostras 0, 10, 20,
30, 40, 50, 60, 70, 80 e 90.


90
-10.0
-5.0
0.0
5.0


0


50
-10.0
-5.0
0.0
5.0


10


60
-10.0
-5.0
0.0
5.0



x

1
0
-
6
20


70
-10.0
-5.0
0.0
5.0


30


80
-1 0 1
-10.0
-5.0
0.0
5.0


40
-1 0 1

B (T)

90
figura 6.6: Magnetostrico longitudinal em funo da induo para as amostras de 0, 10, 20, 30, 40, 50,
60, 70, 80 e 90.
91
Poucos resultados de magnetostrico obtidos em amostras de aos de gro no-
orientado so encontrados na literatura [2, 84]. Os resultados divergem entre si,
provavelmente devido a diferentes composies e texturas dos aos. Os resultados obtidos
neste trabalho so semelhantes aos obtidos por Makar et al. [84]. Alm disto, so coerentes
aos simulados a partir de dados experimentais de magnetizao obtidos por Mohammed et al.
[85]. A figura 6.7 mostra o comportamento da magnetostrico em funo do campo aplicado
e a figura 6.8, o comportamento da magnetostrico em funo da induo para uma amostra
GNO M-19 (Armco Non-oriented Electrical Steels) obtidos por simulao por Mohammed et.
al. [85]

figura 6.7: Curva de magnetostrico em funo do campo aplicado obtida por simulao. Retirado da
referncia [85].

figura 6.8: Curva de magnetostrico em funo da induo obtida por simulao. Retirado da referncia [85].

A figura 6.9 mostra a magnetostrico transversal como uma funo do campo. Para
materiais elasticamente e magneticamente isotrpicos, um alongamento em uma direo
sempre acompanhado por uma contrao na direo transversal e vice versa. Porm, esta regra
92
nem sempre verdadeira para materiais magneticamente anisotrpicos. Pode ser visto que as
mudanas nos valores da magnetostrico acontecem nos mesmos valores de induo que as
mudanas da magnetostrico longitudinal. Porm, observa-se que as mudanas ocorrem em
sentidos opostos.
A figura 6.10 apresenta a magnetostrico como uma funo da induo para todas as
amostras. Todas estas curvas correspondem a meio ciclo da curva de histerese. As medidas
realizadas no outro meio ciclo so similares. Como j citado anteriormente, o valor de
referncia para o zero corresponde magnetostrico de saturao, ou seja, a
aproximadamente 1.5 T.
Como as curvas de magnetostrico so assimtricas, pode-se dizer que estes aos
correspondem a amostras policristalinas que apresentam propriedades magneticamente
anisotrpicas e exibem pelo menos um eixo de fcil magnetizao. Isto certamente ocorre
pois as amostras apresentam a textura j citada. A distribuio de orientao dos gros
individuais determina os eixos de fcil magnetizao da amostra. Deste modo, a direo de
magnetizao determinar a frao de domnios magnticos e os mecanismos envolvidos no
processo de magnetizao e, assim, a assimetria entre o movimento de paredes de domnio de
90 e 180 e a quantidade de rotao da magnetizao necessria para magnetizar a amostra
determinar o valor e a forma das curvas de magnetostrico observadas que ocorrem quando
a magnetostrico ocorre ao longo de uma particular direo.
93
0.0
5.0
10.0
15.0


0


50
0.0
5.0
10.0
15.0


10


60
0.0
5.0
10.0
15.0



x

1
0
-
6
20


70
0.0
5.0
10.0
15.0


30


80
-1000 0 1000
0.0
5.0
10.0
15.0


40
-1000 0 1000

H (Oe)

90
figura 6.9: Magnetostrico transversal em funo do campo magntico aplicado nas amostras 0, 10, 20, 30,
40, 50, 60, 70, 80 e 90.


94
0.0
5.0
10.0
15.0


0


50
0.0
5.0
10.0
15.0


10


60
0.0
5.0
10.0
15.0



x

1
0
-
6
20


70
0.0
5.0
10.0
15.0


30


80
-1 0 1
0.0
5.0
10.0
15.0


40
-1 0 1

B (T)

90
figura 6.10: Magnetostrico transversal em funo da induo para as amostras de 0, 10, 20, 30, 40, 50,
60, 70, 80 e 90.




95
6.5 Detalhamento dos processos de magnetizao ao longo da curva de histerese

Combinando os resultados obtidos nas medidas de rudo Barkhausen e
magnetostrico, podem-se esclarecer quais so os mecanismos que, de fato, ocorrem ao
longo da curva de magnetizao e associ-los com as perdas nos aos eltricos de gro no-
orientado nos vrios nveis de induo. Para tanto, ser considerada uma descrio
relacionando a evoluo da estrutura de domnios com os respectivos mecanismos de
magnetizao em vrios nveis de induo.
Assim como para aos eltricos de gro orientado, a estrutura de domnios magnticos
nos aos eltricos de gro no-orientado poda ser dividida entre uma estrutura principal e uma
estrutura suplementar, de acordo com a definio dada na referncia [14]. Porm, nos aos
GNO, uma diferenciao entre as duas estruturas no possvel de ser estabelecida, pois a
frao da estrutura de domnios suplementar da mesma ordem da estrutura principal.
Conseqentemente, a estrutura de domnios bastante complexa [19, 89, 86], sendo difcil de
ser observada atravs de mtodos pticos [14]. Alm disto, a complexa estrutura de domnios
superficial, muitas vezes, no revela a estrutura de domnios interna [87]. Ento, como a
estrutura de domnios corresponde essencialmente da superposio das estruturas principal e
suplementar, as perdas podem ser associadas tanto com a nucleao, aniquilao e
refinamento das duas estruturas em cada ciclo de histerese, bem como com as interaes entre
as mesmas [14].
Mesmo havendo uma estrutura de domnios bastante complexa na ausncia de campo
magntico, nos aos eltricos de gro no-orientado, os domnios esto distribudos quase que
uniformemente entre os seis eixos cristalogrficos [88]. interessante notar que, como as
amostras so cortadas com diferentes ngulos com respeito RD, a frao de domnios
orientados em uma dada direo e, conseqentemente, o comportamento magntico mudam,
dependem de .
Vrios autores j mostraram que as propriedades magnticas das lminas de aos
eltricos comerciais cortadas em diferentes ngulos em relao RD seguem um
comportamento que pode ser associado presena de uma componente Goss da textura [73].
Sendo assim, para a discusso dos resultados, de fundamental importncia ter sempre
em mente que as amostras de aos eltricos de gro no-orientado estudadas apresentam uma
considervel componente de textura (110)[001] orientada na RD.
96
Toda a descrio do processo de magnetizao procede de B
m
para B
m
, onde B
m

aproximadamente 1.5 T. Nesta descrio, pode-se dividir a curva de induo em 8 regies, de
modo que cada regio seja caracterizada por um determinado mecanismo de magnetizao
dominante.
A figura 6.11 mostra meio ciclo de uma curva B H, separada nas 8 regies. A figura
6.12 mostra as curvas do V
rms
do rudo Barkhausen, magnetostrico longitudinal e
magnetostrico transversal para a amostra de 0 em funo da induo separadas nas
mesmas regies.
As regies so as seguintes:
Regio (I): Partindo do valor de induo de saturao negativo, B
m
, at atingir -1.2 T,
o processo de magnetizao inicialmente procede por rotao da magnetizao. Como a
rotao da magnetizao no gera rudo Barkhausen, o V
rms
zero. A magnetostrico, (B),
apresenta um aumento associado rotao. Neste nvel de induo, a amostra parte, atravs da
rotao da magnetizao, de um estado saturado para um estado onde os vetores
magnetizao dos domnios esto paralelos aos eixos [100], [010] e [001] do cristal, que
correspondem aos eixos de fcil magnetizao de um cristal de Fe. Em aproximadamente -1.2
T, tem-se o ponto exato em que a amostra apresenta o estado magntico no qual a
magnetizao est orientada ao longo dos eixos de fcil magnetizao pois (B) atinge seu
valor mximo.
Regio (II): Entre aproximadamente -1.2 T e -1 T, (B) diminui significantemente e
isto pode ser associado ao fato de que a rotao da magnetizao d lugar ao movimento de
paredes de domnios de 90. Neste nvel de induo, o movimento de paredes de domnio
uma conseqncia da nucleao e crescimento de novos domnios, mecanismos estes que
podem ser relacionados ao intenso aumento do V
rms
.
Nota-se que, primeiramente, (B) diminui de forma menos intensa e, em seguida, mais
rapidamente. Isto ocorre, pois, primeiramente, tem-se predominantemente o movimento de
paredes de 90. medida que o V
rms
aumenta, observa-se o incio do processo de nucleao e
crescimento de novos domnios e, a estes, associa-se o aumento no movimento de paredes de
domnio de 90.
Em aproximadamente -1 T, o V
rms
atinge o seu valor mximo, correspondendo ao
primeiro surto de eventos Barkhausen. Neste ponto, o processo de magnetizao ocorre
atravs de dois mecanismos bsicos: o crescimento dos domnios existentes e a nucleao de
novos domnios [7, 22, 79]. A estes dois mecanismos, tem-se o movimento de paredes de
domnios associado [83]. O fato do pico do V
rms
tornar-se mais fino d uma indicao do quo
97
intenso e rpido a evoluo da estrutura de domnios, ou, mais precisamente, a nucleao
dos domnios magnticos.
Regio (III): No intervalo de induo entre -1 T e -0.4 T, (B) no muda
significantemente e o V
rms
tem o seu valor diminudo. Como a magnetostrico sensvel
somente a movimentos de parede de 90 e rotao da magnetizao, conclui-se que nesta
regio o processo de magnetizao e o refinamento da estrutura de domnios ocorrem
predominantemente atravs do movimento de paredes de 180. Nucleao de novos domnios
ocorre em menor quantidade.
Regio (IV): Entre B igual a -0.4 T e 0 T, (B) e V
rms
no mudam significantemente.
Sendo assim, neste nvel de induo, o processo de magnetizao procede simplesmente por
movimento de paredes de domnio de 180.
Regio (V): De B aproximadamente igual a 0 T at 0.4 T, h um refinamento da
estrutura de domnios atravs do movimento de paredes de domnios de 90 e 180. Neste
intervalo de induo, V
rms
permanece praticamente constante, enquanto que (B) comea
lentamente a aumentar.
Regio (VI): Acima de 0.4 T at 1 T, a evoluo da estrutura de domnios procede
atravs do movimento de paredes de domnio de 90 e 180 como uma impresso do aumento
do valor de (B) e da mudana do V
rms
. Porm, medida que se atinge aproximadamente 1 T,
o movimento de paredes de domnio pode ser associado aniquilao de domnios
magnticos. Em aproximadamente 1 T, o V
rms
atinge o seu valor mximo, correspondendo ao
segundo surto de eventos Barkhausen. Neste ponto, o processo de magnetizao ocorre
atravs da aniquilao de domnios magnticos [7, 22, 79].
Regio (VII): Acima de 1 T, com a aniquilao dos domnios magnticos, o V
rms
do
rudo tem seu valor reduzido a zero. Movimentos de paredes de 90 em pequena quantidade
acontecem at em torno de 1.2 T, onde (B) atinge o seu segundo valor mximo. Novamente,
neste valor de induo, os domnios tm o vetor magnetizao orientado ao longo dos eixos
[100], [010] e [001] dos cristais.
Regio (VIII): Em valores mais altos de induo, acima de 1.2 T, o V
rms
zero. Neste
nvel de induo, as pequenas mudanas na magnetizao ocorrem devido rotao da
magnetizao, como uma impresso da diminuio do valor de (B).

98
-1.5
-1.0
-0.5
0.0
0.5
1.0
1.5
VIII
VII
VI
V
IV
III
II
I
B

(
T
)
H (u. a.)

figura 6.11: Os processos de magnetizao ao longo da curva de induo, de B
m
a B
m
, separados nas regies
(I), (II), (III), (IV), (V), (VI), (VII) e (VIII).

-1.5 -1.0 -0.5 0.0 0.5 1.0 1.5
0
5
10
15


x

1
0
-
6
B (T)
-10
-5
0
(c)
(b)
(a)


x

1
0
-
6
0
30
60
90
120
VIII VII VI V IV III II I
V
r
m
s

x

1
0
-
9

(
V
)

figura 6.12: (a) V
rms
do rudo Barkhausen, (b) magnetostrico longitudinal e (c) magnetostrico transversal
para a amostra de 0 em funo da induo separadas pelas regies (I), (II), (III), (IV), (V), (VI), (VII) e (VIII).


99
Sendo assim, torna-se claro que nos aos eltricos de gro no-orientado FeSi
3.2%
com
uma componente de textura (110)[001], a estrutura de domnios sofre modificaes
topolgicas em valores crticos de induo. Considerando o ngulo entre a direo de
laminao e o campo aplicado, as modificaes na estrutura de domnios procedem nos
mesmos valores de induo, porm, os mecanismos envolvidos ocorrem em diferentes
propores. Como para uma amostra cortada em um ngulo com RD, a frao de domnios
orientados em um dado eixo cristalogrfico muda, quando o campo magntico aplicado, o
comportamento da estrutura e os mecanismos envolvidos dependem de devido textura
[89].
Na literatura, dois intervalos angulares so considerados [22]:
Amostras com 0 < < 55: o eixo [001] favorecido. Partindo da induo de
saturao, o processo de magnetizao inicialmente devido nucleao de domnios e ao
subseqente movimento de paredes de domnios. Em parte, ocorre a nucleao de domnios
transversais ao plano da amostra, nos quais os vetores magnetizao esto orientados ao longo
dos eixos cristalogrficos <100> e <010>. A contrao do material est conectada nucleao
dos domnios na transversal, associado s medidas de magnetostrico. Tambm, a nucleao
e o crescimento so identificados pelo primeiro pico do V
rms
do rudo Barkhausen. Em nveis
de induo mais baixos, ocorre o refinamento da estrutura de domnios atravs do movimento
de paredes de domnio de 180 at a reverso do campo magntico. A partir da reverso do
campo, o movimento de paredes de domnio de 90 comea a ocorrer, at que em alta
induo, ocorra a aniquilao de domnios magnticos, incluindo a aniquilao dos domnios
transversais ao plano da amostra. Com o aumento do campo magntico, a estrutura de
domnios sofre um refinamento e, por fim, ocorre a rotao da magnetizao.
Amostras com 55 < < 90: os eixos cristalogrficos [100] e [010] so favorecidos.
Nestas amostras, partindo a induo de saturao, do mesmo modo, o processo de
magnetizao ocorre inicialmente pela nucleao de domnios transversais ao plano da
amostra. Novamente, a contrao do material est associada nucleao dos domnios ao
longo dos eixos <100> e <010>. Porm, como todos estes ngulos favorecem estes eixos,
existem pequenas diferenas de amostra para amostra dependendo de . Estas amostras
possuem maiores fraes de domnios transversais mesmo em campo zero e, deste modo,
mais movimento de parede de 90 ocorre para levar a magnetizao dos domnios transversais
ao plano para a direo do campo magntico no plano da amostra. Este fato observado
atravs das medidas de magnetostrico. A partir da nucleao, como j citado, o processo de
magnetizao ocorre na mesma seqncia que para as amostras com ngulos entre 0 e 55.
100
Como os aos estudados apresentam uma textura pronunciada, uma possvel razo
para a nucleao de uma estrutura de domnios transversais ao plano da amostra, assim como
nos aos eltricos GO, reside no fato de contrabalanar o aumento da energia magnetosttica e
magnetoelstica associada a plos magnticos livres que formados nos planos da amostra.
Considera-se que a formao dos plos magnticos livre seja uma conseqncia de um sutil
desalinhamento dos gros em relao ao plano da amostra [14, 54, 89, 90]. A figura 6.13
mostra uma possvel estrutura de domnios transversais formada, que consiste de um domnio
de fechamento formado pela combinao de domnios em certas direes de fcil
magnetizao e pode ser dividida em trs partes. Duas delas esto localizadas nas superfcies
opostas da amostra, em cima e embaixo. Elas tm forma triangular com base no plano (110) e
so chamadas de lancet domains. A terceira parte conecta as duas anteriores atravs de
vetores magnetizao alinhados ao longo dos eixos [100] e [010] [91, 92].

figura 6.13: Estrutura de domnios em forma de lanas. Retirada da referncia [91].

Sendo assim, observado que a dependncia das perdas de energia com o ngulo de
corte reflete a correspondente evoluo dos mecanismos de magnetizao pela transio do
movimento de paredes de 90 e 180 em eixo fceis <001> no plano para eixos fceis <100>
e <010> fora do plano. Tem-se que os domnios transversais ao plano esto limitados por
paredes de domnio de 90 e desde que o movimento de paredes de domnio de 90
geralmente relacionado a aumentar mais as perdas do que o movimento de paredes de 180,
devido talvez ao fenmeno magnetoelstico e s correntes de Foucault, a existncia desta
estrutura de domnio transversal pode aumentar muito as perdas.
Atravs da anlise dos resultados de rudo Barkhausen e magnetostrico, observou-se
que, na regio de baixa induo, o processo de magnetizao procede por meio de movimento
de paredes de 90 e 180. J na regio de alta induo, os resultados indicam que a evoluo
da estrutura de domnios ocorre por meio de movimentos de paredes de domnio que esto
associados nucleao e crescimento de novos domnios, no ramo descendente, e
aniquilao de domnios, no ramo ascendente da curva de magnetizao, e por rotaes
reversveis e irreversveis da magnetizao.
101
Deste modo, pode-se mostrar que, de acordo com a separao das perdas histerticas
em componentes de alta e baixa induo proposta por Landgraf et. al., as perdas em baixa
induo esto estritamente ligada aos movimentos de paredes de domnio de 180 e 90.
Logo, as perdas em alta induo podem ser explicadas em termos tanto da nucleao e
crescimento de estruturas de domnios e aniquilao de domnios, quanto com movimento de
paredes de domnio de 180 e 90 e rotao da magnetizao. Sendo assim, torna-se razovel
e entender o fato de que as perdas em alta induo, citadas anteriormente, representam quase
50% das perdas totais.
102
7 CONCLUSES E CONTINUAO DO TRABALHO

A proposta inicial deste trabalho foi de estudar o rudo Barkhausen e a
magnetostrico em aos eltricos de gro no-orientado FeSi
3.2%
classe E110 produzidos
pela empresa ACESITA com o intuito de entender os processos de magnetizao e identificar
os mecanismos de magnetizao que possivelmente so os responsveis pela dissipao de
energia ao longo da curva de histerese
Dentro desta proposta, estava a implementao do sistema de medidas de
magnetostrico no Laboratrio de Magnetismo e Materiais Magnticos e o melhoramento do
sistema de aquisio de rudo Barkhausen. Estas duas idias bsicas foram realizadas com
sucesso uma vez que se obtiveram resultados satisfatrios para o trabalho.
No que se segue, tm-se algumas concluses que valem ser salientadas.
Atravs do estudo das medidas de rudo Barkhausen, observado na regio de baixa e
alta induo, pode-se concluir que a dissipao de energia na regio de alta induo est
associada com movimentos irreversveis das paredes de domnios, rotaes irreversveis da
magnetizao e com nucleao de novas e diferentes estruturas de domnios, no ramo
ascendente, e ainda na nucleao de domnios, no ramo descendente da curva de
magnetizao.
As medidas de magnetostrico mostram que movimento de paredes de domnio de
90 e rotao da magnetizao esto presentes em altos nveis de induo. O movimento de
paredes de 90, em sua grande parte, est associado ao processo de nucleao, crescimento e
aniquilao de domnios magnticos, e est conectado com as perdas em alta induo.
Em resumo, as medidas de rudo Barkhausen e magnetostrico revelaram que na
regio de baixa induo, a dissipao de energia se d predominantemente por movimento de
paredes de domnio de 90 e 180. J, na regio de alta induo, o movimento de paredes de
domnio est presente, porm, o processo de magnetizao procede principalmente pela
nucleao, no ramo descendente, e aniquilao, no ramo ascendente da curva de
magnetizao. Devido textura observada nos aos estudados, possvel que os domnios
que estejam sendo nucleados sejam domnios transversais e lancet domains. importante
notar que a energia utilizada para a nucleao e aniquilao de domnios em um ciclo de
histerese convertida em perdas histerticas [70].
Sendo assim, pode-se concluir que o mtodo grfico de diviso das perdas histerticas
em componente de baixa e de alta induo proposto por Landgraf e colaboradores no
103
adequado ao sistema estudado pois ambas componentes de perdas podem ser associadas ao
mesmo mecanismo de magnetizao: o movimento de paredes de domnios.
A continuidade do trabalho se dar de forma a estudar aos com outras composies e
texturas, realizando o mesmo procedimento de medidas magnetizao, rudo Barkhausen e
magnetostrico. Um prximo passo ser observar os domnios deste ao estudado com o
intuito de determinar o tipo de estrutura de domnios que nucleada e aniquilada.
Tambm, pretende-se melhorar o sistema de aquisio de dados do sistema de rudo
Barkhausen, implementando-se uma nova placa digitalizadora com 12 bits de resoluo e
velocidade de aquisio de at 25 MS/s, substituindo o atual osciloscpio digital, com o
objetivo de se obter uma melhor resoluo temporal.
Alm disto, dispondo de um sistema de aquisio de rudo Barkhausen de alta
resoluo, tem-se por objetivo realizar o estudo da dinmica de magnetizao e do rudo
Barkhausen em filmes finos.
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