Servicio de Microscopa Electrnica Textos Microscopia electrnica de barrido ...
El microscopio electrnico de barrido (SEM) es un instrumento capaz de ofrecer un variado rango de informaciones procedentes de la superficie de la muestra. Su funcionamiento se basa en barrer un haz de electrones sobre un rea del tamao que deseemos (aumentos) mientras en un monitor se visualiza la informacin que hayamos seleccionado en funcin de los detectores que hayan disponibles. En el Servicio de Microscopa de la U.P.V. existen los siguientes: Detector de electrones secundarios (SE): es el que ofrece la tpica imagen en blanco y negro de la topografa de la superficie examinada. Es la seal ms adecuada para la observacin de la muestra por ser la de mayor resolucin. Detector de electrones retrodispersados (BSE): tambin ofrece una imagen de superficie aunque de menor resolucin. Su ventaja consiste en que es sensible a las variaciones en el nmero atmico de los elementos presentes en la superficie. Si tenemos una superficie totalmente lisa observaremos distintos tonos de gris en funcin de que existan varias fases con distintos elementos. Detector de rayos X (EDS): es el que recibe los rayos X procedentes de cada uno de los puntos de la superficie sobre los que pasa el haz de electrones. Como la energa de cada rayo X es caracterstica de cada elemento, podemos obtener informacin analtica cualitativa y cuantitativa de reas del tamao que deseemos de la superficie. Por ello se conoce esta tcnica como Microanlisis por EDS. Detector de rayos X (WDS): similar al anterior, pero en vez de recibir y procesar la energa de todos los rayos X a la vez, nicamente se mide la seal que genera un solo elemento. Esto hace que esta tcnica, aunque ms lenta, sea mucho ms sensible y precisa que la de EDS. Realmente son complementarias, pues el EDS ofrece una buena informacin de todos los elementos presentes en la superficie de la muestra y el WDS es capaz de resolver los picos de elementos cuyas energas de emisin estn muy cercanas, as como detectar concentraciones mucho ms pequeas de cualquier elemento y, sobre todo, de los ligeros. Detector de electrones retrodispersados difractados (BSED): en este caso slo se reciben aquellos electrones difractados por la superficie de la muestra que cumplen la ley de Bragg en el punto que son generados, es decir, se trata de una seal que nos aporta informacin de la estructura cristalina de la muestra. Si conocemos previamente la o las fases cristalinas presentes en nuestra muestra, el sistema es capaz de procesar la seal que recibe en forma de lneas de Kikuchi y ofrecer una variada informacin cristalogrfica: orientacin de granos, orientaciones relativas entre ellos, textura, identificacin de fases, evaluacin de tensin, fronteras de grano, tamao de grano