DETERMINACIN DEL TAMAO DE GRANO

Un gran nmero de examinaciones metalogrficas son realizadas con la finalidad de

determinar el tamao de grano de una aleacin. Este parmetro tiene un alto grado de
influencia en las propiedades mecnicas de los materiales metlicos.
La norma ASTM E 112-96 (Standard Test Methods for Determining Average Grain Size),
describe tres procedimientos para determinar el tamao de grano en una aleacin, los cuales
son resumidos a continuacin:
1. Procedimiento de comparacin
Este mtodo no requiere la realizacin de ningn conteo de granos, interceptos o
intercepciones, sino nicamente involucra la comparacin de una estructura de granos con
una serie de imgenes graduadas, que se encuentran ya sea en forma de cartas, en forma de
lminas de plsticos transparentes, o como retculas graduadas para el ocular del microscopio.
La Fig. 1 muestra un ejemplo de una de las retculas.


Fig. 1. Granos a 100X, tamao de grano ASTM 4.

El procedimiento es el siguiente:
- Se obtiene una fotomicrografa de la microestructura de la probeta a 100X.
Estructura de los Metales (V ciclo), I ngeniera Metalrgica Prof. Nilthon E. Zavaleta G.

- Luego se procede a la comparacin con una serie de grficas correspondientes a los
distintos tamaos de grano de la norma ASTM (como la mostrada en la Fig. 1). El nmero
del grfico ms parecido al aspecto de la probeta expresa el tamao de grano. Cuando
aparecen granos de varios tamaos el resultado suele expresarse con dos nmeros,
correspondientes a dos tamaos de grano, con la respectiva indicacin del tanto por ciento
existente de cada uno.
- Los aceros cuyo tamao de grano estn comprendidos entre el ASTM 1 y el ASTM 5 se
consideran como aceros de grano grueso, y mayores a ASTM 5, como de grano fino.
El nmero ASTM, representativo de un tamao de grano, est relacionado con el nmero
medio de ellos por pulgada cuadrada a 100X, mediante la relacin:
1 - G 2 o
A
2 100X) a gada granos/pul de N ( N =

donde:
G = nmero ASTM.
La reproducibilidad de los resultados est en un error 1 nmero ASTM.

2. Mtodo planimtrico de Jeffries
El mtodo planimtrico de Jeffries, usado en aleaciones ferrosas y no ferrosas, es muy exacto
y relativamente sencillo de realizar. Este mtodo es aplicable a materiales con granos
equiaxiales, lo cual suele ser el caso de metales y aleaciones completamente recocidas.
Este mtodo emplea rectngulos o un crculo (79.8 mm de dimetro) de 5000 mm
2
de rea.
Los rectngulos ms usados tienen las siguientes dimensiones:
70.7 x 70.7 mm.
65.0 x 77.0 mm.
60.0 x 83.3 mm.
55.0 x 91.0 mm.
50.0 x 100.0 mm.
Estas reas son marcadas sobre una placa de plstico transparente y se coloca en la pantalla
del microscopio metalogrfico o sobre una fotomicrografa. Se selecciona el aumento el cual
debe dar al menos 50 granos en el campo en el cual ser contado. Seguidamente se cuentan
cuidadosamente los granos cortados por la circunferencia, n
2
, y los granos que quedan
totalmente dentro de la circunferencia (o rectngulo), n
1
, con los datos obtenidos se aplica la
siguiente relacin:
f
n
n )
2
( granos/mm de N N
2
1
2
A
+ = =

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f, es el multiplicador de Jeffries, cuyo valor es:
5000
2
M
f =

donde M, es el aumento. Para asegurar un promedio razonable, se debe contar un mnimo de
tres campos escogido de manera aleatoria.
Desde N
A
, se calcula el nmero de tamao ASTM, G, usando la siguiente frmula (ASTM E
112-96):
| | 954 . 2 ) (log 322 . 3 =
A
N G
Una precisin de 0.25 nmero ASTM puede ser obtenido con una razonable esfuerzo.

Ejemplo:
Si en una fotomicrografa de un acero inoxidable austentico tomado a 150X (Fig. 2), se
sobrepuso una lmina transparente conteniendo una circunferencia de 5000 mm
2
de rea, en la
cual se obtuvo los siguientes resultados:
n
1
= 28 gramos enteros dentro de la circunferencia.
n
2
= 23 granos cortados por la circunferencia.

Fig. 2. Evaluacin del nmero de granos en un rea circunscripta por un crculo

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Entonces:
2
2
/ 178 75 . 177
5000
150

2
23
28 mm granos N
A
~ =
(

+ =

| | 52 . 4 954 . 2 ) 75 . 177 (log 322 . 3 = = G
Este valor se corrobora desde la tabla 1 dada por la norma ASTM E 112-96.

Tabla 1. Relacin de tamao de grano calculado para granos equiaxiales uniformes y
orientados aleatoriamente.


3. Mtodo del intercepto o procedimiento de Heyn
Este mtodo es apropiado utilizarlo cuando los granos no son equiaxiales; sin embargo,
tambin puede ser empleado de manera satisfactoria el caso de granos equiaxiales.
La medida del tamao de grano se realiza empleando un aumento M, sobre la pantalla del
microscopio o sobre una fotomicrografa. Se cuenta el nmero de granos cortados por uno o
ms segmentos rectilneos de una longitud suficiente tal que puedan cortarse por lo menos 50
intersecciones. Los granos tocados por el extremo de un segmento se consideran granos
medios, Fig. 3.

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Fig. 3. Interceptacin, N, contada para una lnea recta sobre una estructura de granos
monofsico donde las flechas indican seis interceptaciones y dos segmentos terminales en un
grano (2x1/2=1) y N=7.

Si L, es la longitud del segmento en milmetros, M el aumento y N el nmero de granos
cortados, se obtiene el nmero de granos interceptados por mm, N
L
, mediante:
| | /mm dos intercepta granos de nmero
L
NM
N
L
=

Para calcular el tamao de grano, primero determinamos la longitud de intercepto lineal
promedio, l, la cual es el recproco de N
L
. As, G es calculado desde la siguiente ecuacin
dada por la norma ASTM E 112-96.
| | mm/grano
1
L
N
l =

| | 288 . 3 ) (log 644 . 6 = l G


Por ejemplo: Si en una fotomicrografa de 100X se han contado 56 granos cortados por un
segmento de 70 mm de longitud, se tiene:
M = 100; N = 56 y L = 70 mm
Reemplazando en la ecuacin anterior se obtiene que:
| | /mm dos intercepta granos de nmero 80
70
100 56
= =
x
N
L
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| | mm/grano 0.0125
80
1
= = l

| | 36 . 9 288 . 3 ) 0125 . 0 (log 644 . 6 = = G
Este valor se corrobora desde la tabla 1 dada por la norma ASTM E 112-96.


DETERMINACIN DE LA CANTIDAD DE FASE PRESENTE
Una de las mediciones ms comunes, como es la determinacin de la cantidad de fases
presentes, puede ser realizada utilizando tres mtodos diferentes.

1. Anlisis del rea
Fue desarrollado por Delesse en 1848, y considera que el porcentaje de rea de una fase en un
plano 2-D es igual a su por ciento en volumen, es decir, A
A
= V
V
. Sin embargo, la medicin
del rea de la segunda fase es muy tediosa a menos que sean bastante gruesas.

2. Anlisis lineal
Fue desarrollado por Rosiwal en 1898, y considera que la fraccin lineal de las lneas de
prueba en una fase sobre un plano 2-D plano es igual a su porcentaje volumtrico, es decir, L
L

= V
V
. Este mtodo es ms fcil de determinar, pero todava es bastante tedioso.

3. Mtodo punto-cuenta
A inicios de 1930, varios investigadores en diferentes campos y pases mostraron que el
porcentaje de puntos sobre una cuadrcula de ensayo situado en la fase de inters fue igual al
porcentaje volumtrico, es decir, P
P
= V
V
. De los tres mtodos, esta tcnica es la ms
eficiente, es decir, da una mejor precisin con el menor esfuerzo cuando se realiza de manera
manual. La tcnica punto-cuenta se describe en detalle en la norma ASTM E 562-02
(Standard Test Method for Determining Volume Fraction by Systematic Manual Point) como
tambin en la norma ISO 9042.
Los analizadores de imagen utilizan esencialmente el mismo procedimiento, es decir, la
cantidad de una fase (por lo general llamado fraccin de rea o fraccin de volumen) se
determina por el nmero de "pixeles" en el fase de inters dividido por el nmero total de
pixeles; es decir, P
P
, expresa generalmente como porcentaje.

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Ejemplo Punto-Cuenta
La norma ASTM E 562-02 describe el procedimiento de conteo de puntos para determinar la
cantidad de constituyentes de segunda fase. Una rejilla con puntos espaciados de forma
sistemtica (por ejemplo, 10 filas de 10 puntos igualmente espaciados) es superpuesta sobre la
estructura, ya sea mediante una retcula ocular en el microscopio o una lmina de plstico
colocada sobre la microestructura o sobre la pantalla de un de monitor de televisin.
Los puntos se dibujan generalmente como lneas cruzadas perpendicularmente y el "punto" es
la interseccin de las dos lneas. Esta forma de colocar las lneas es para que los puntos reales
puedan ser visualizados fcilmente.
La densidad de punto ptimo para el conteo manual de puntos es por lo general determinado a
partir de 3/V
V
donde la fraccin en volumen (V
V
) es una fraccin (no un porcentaje). Si la
fraccin de volumen es 0.5 (50%), entonces la densidad de punto de la grilla ptimo es de 6.
Por otro lado, si la fraccin en volumen es 0.01 (1%), la densidad de punto ptimo es 300. La
fraccin de punto es la relacin entre los puntos en la fase de inters, y el nmero de puntos
de la grilla. Algunas personas optan por usar una grilla de 100 puntos para todos sus trabajos.
Puntos que caen en la interfase son contados como punto. Para obtener mejores resultados
manuales se necesita muestrear varios campos y hacer el menor trabajo como sea posible en
cada medicin de campo (el adagio, "hacer ms, menos bien "). La variabilidad de campo a
campo tiene una mayor influencia sobre la precisin de medicin que el conteo exacto sobre
un campo determinado.



La microestructura anterior muestra la fase beta en un metal Muntz (Cu-40% de Zn)
coloreado de manera preferencial mediante el reactivo de Klemm I, mientras que la matriz
alfa no se ve afectada, este tipo de ataque es la mejor condicin para el conteo de puntos.
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Dado que hay menos de que , contaremos el nmero de veces que los puntos caen en los
granos coloreados. La cantidad de es simplemente 100 - %.
Como se puede observar, tenemos superpuesta una grilla de ensayo de 64 puntos (8 filas de 8
puntos) sobre la estructura y tenemos 15 aciertos (puntos en la fase ) y 4 aciertos tangentes
(puntos en la interfase o/|). La fraccin de puntos (fraccin de volumen) es de 17/64 = 0.266
o el 26,6%.
La grilla de puntos se debe colocar al azar sobre la microestructura un nmero de veces de
modo que la fraccin de puntos se determina para un nmero de campos. El nmero necesario
de campos para dar una buena precisin, vara inversamente con el fraccin de volumen (a
ms baja fraccin en volumen, mayor es el nmero de campos a medir, es decir, mayor es el
nmero total de puntos de la grilla aplicada).