Guia de Lboratorios

FISICA DE
SEMICONDUCTORES
GUIAS DE LABORATORIO
Dr.rer.nat. Henry A. Mndez Pinzn

Juan Carlos Salcedo Reyes PhD
2011
GRUPO DE PELICULAS DELGADAS

DEPARTAMENTO DE FISICA
Indice de prcticas
1. Tratamiento de datos de laboratorio
2. El nmero de Avogadro.
3. La gota de aceite de Millikan
4. Carga especfica del electrn 14

5. La constante de Rydberg..
19
6. Espectro de emisin del Hidrgeno.
22
7. Espectro de absorcin de un material..... 26

8. Difraccin de electrones por una red poli-cristalina
31
9. Experimento de Franck-Hertz...
36
10. Reflexin de Bragg.
40
11. Microscopia de Efecto tnel y fuerza atmica
47
12. Fluorescencia de Rayos X. 49

13. Efecto Hall
57
14. Resistividad de un metal vs. Temperatura.
68
15. Caracterizacin elctrica de un diodo PN..
72
16. Estructuras cristalinas
74
17. La dualidad onda-partcula de la luz...
75
18. Efecto fotoelctrico I (mtodo del contravoltaje)...
79
19. Efecto fotoelctrico I (mtodo de la rejilla de difraccin).
83
20. Analoga ptica de la difraccin de electrones..
87
Anexo A. Cdigo fuente IV only.vi de LabVIEW 8.5.1..
90
Prctica 1
Tratamiento de datos de Laboratorio

Con esta prctica se pretende recordar el formalismo de anlisis de grficas y tratamiento
de errores. En particular, se desea determinar experimentalmente la ecuacin de tiempo
de vaciado de un recipiente cilndrico en funcin de la altura inicial y del dimetro del
orificio (ecuacin de continuidad de fluidos incompresibles).
1.1.
Principios fsicos y tericos
Para unificar criterios acerca del tratamiento de datos se adoptar las indicaciones
expuestas en el curso interactivo de fsica en internet elaborado por ngel Franco Garca.
De particular importancia son las secciones para estimar el error de las mediciones [2] y
para estimar el error en una regresin lineal (error en la pendiente e intercepto), as como
aclarar el mtodo de los mnimos cuadrados [3].
1.2.
Detalles experimentales
Suponga un recipiente cilndrico de seccin transversal

hasta una altura
, inicialmente lleno con agua
y con un orificio circular en su parte inferior de dimetro
(Fig. 1.1).
Figura 1.1. Diagrama esquemtico del experimento del tiempo de vaciado de un recipiente
cilndrico en funcin de la altura inicial de agua y del dimetro del orificio de evacuacin .
Se supone que cuanto t = 0 s, se abre el orificio y se mide el tiempo (en segundos) que
tarda en vaciarse el recipiente en funcin de la altura inicial h y del dimetro del orificio d
obteniendo el resultado de la tabla I.
h ( 0.05 cm)
1.05
4.05
10.05
30.05
1.55
13.5
26.5
43.5
73.5
2.05
7.5
15.5
23.5
41.5
3.05
3.5
6.5
10.5
18.5
5.05
1.5
2.5
3.5
6.5
d ( 0.05 cm)
Tabla I. Resultados experimentales de la medida del tiempo de evacuacin de agua de

un recipiente cilndrico. Todos los resultados del tiempo de vaciado se toman con un error
absoluto de 0.5 s.
Para iniciar el anlisis preliminar de los datos se sugiere efectuar inicialmente los
siguientes procedimientos:
1.2.1. Elaborar una grfica de t vs h.
1.2.2. Elaborar una grfica de t vs d.
1.2.3. A partir de los pasos 1 y 2, encontrar la relacin funcional entre h y t, as
como entre d y t, teniendo en cuenta por supuesto la incertidumbre en las
mediciones.
1.2.4. Encontrar la relacin entre h, d,y t.
Esta primera prctica de laboratorio tiene como objetivo que el estudiante analice un
sistema fsico en particular realizando un tratamiento adecuado de los datos
experimentales en el sentido de relacionar los resultados experimentales con los modelos
tericos y, de esta manera, extrapolar la validez de los mismos. Desde este punto de vista
en este laboratorio el estudiante debe recordar el procedimiento de tratamiento de
errores y linealizacin de grficas que aprendi en sus cursos bsicos de fsica. Es por
esta razn que en esta gua no se incluyen mas detalles del procedimiento a seguir. Se
evaluar la presentacin de las grficas, el anlisis adecuado de los errores, el
procedimiento de mnimos cuadrados y la obtencin de la ecuacin final.
1.3.
Referencias
[1] Angel Franco Garca. Pgina de internet

http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/. Junio de 2011.
Fsica
con
[2] Angel Franco Garca. Pgina de internet Errores en las

http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/unidades/medidas/medidas.htm#Reglas.
2011.
ordenador.
medidas.
Junio de
[3]
Angel
Franco
Garca.
Pgina
de
internet
Regresin
lineal.
http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/cinematica/regresion/regresion.htm. Junio de 2011.
Prctica 2
El nmero de Avogadro
Esta prctica tiene como objetivo determinar experimentalmente el nmero de Avogadro y

el volumen de una molcula de cido oleico. La determinacin experimental
necesariamente implica una estimacin de la incertidumbre de estas dos cantidades.
2.1. Fundamentos fsicos

En esta prctica se asume que cuando se deja caer una gota de solucin muy diluida (un
solvente voltil -etanol o alcohol, por ejemplo- y acido oleico) sobre agua, la gota se
extiende rpidamente, evaporando el solvente, y formando una capa muy delgada
(aproximadamente monomolecular) de cido. El cido oleico, algunas veces conocido
como omega 9, es un cido graso monoinsaturado (posee un solo doble enlace carbonocarbono) tpico de los aceites vegetales. La frmula qumica del cido oleico es C 18H34O2,
de modo que la cadena de carbonos (con un doble enlace central C 17H33-) es hidrfoba y
el radical cido (-COOH, polar) es hidrfilo, lo que produce que las molculas de cido
oleico (insoluble en agua) tiendan a ordenarse siguiendo la topografa de la superficie del
agua.
A partir de la densidad del cido oleico (0.895 g/cm3) , del volumen de cido contenido en
una gota de solucin y del rea de la capa delgada, se puede calcular su espesor.
Suponiendo que el volumen de una molcula es igual al volumen de una esfera de
dimetro igual al grosor de la capa, se puede calcular el nmero de molculas contenidas
en la monocapa y, usando la masa molar del cido oleico (282 g/mol), el nmero de
Avogadro (6.02214179(30)10 23 mol-1)
2.2. Detalles experimentales

En esta prctica se usarn como elementos: cido oleico, alcohol, licopodio, una cubeta
con agua, un gotero, papel milimetrado y una probeta graduada de 10 cm3. (Figura 2.1a)
[1]. Primero se prepara la solucin base mezclando 5 cm3 de cido con 95 cm3 de alcohol.
Posteriormente se mezclan 45cm3 de alcohol con 5 cm3 de la solucin base.
Figura 2.1. Montaje experimental para estimar el tamao de una molcula de aceite.
Tomado de la pgina oficial de LD-Didactics GmbH [1].
Debido a la alta transparencia de la capa de cido no se puede distinguir fcilmente la

superficie de la capa de cido, por lo que se debe usar un medio de contraste. Para ello,
se deposita previamente en la superficie del agua un pulverizado llamado licopodio, el
cual es un polvo de color blanco que queda suspendido en la superficie del agua. Cuando
se deposita el cido, ste desplaza al licopodio de la regin donde se forma la capa de
cido y se puede observar claramente (Figura 2.1b). Una vez se forma la capa de cido,
muy rpidamente, se mide el dimetro de la superficie circular resultante.
A manera de gua para el anlisis de los resultados se propone efectuar los siguientes
pasos previos:
2.2.1. Determinar el volumen de una gota de solucin con su respectiva incertidumbre.

2.2.2. Determinar, con su respectiva incertidumbre, el volumen de cido oleico en una
gota de solucin.
2.2.3. Calculando el valor del rea de la superficie de la capa de cido, determinar el
espesor de la capa.
2.2.4. A partir de los datos anteriores, y suponiendo que una molcula de cido oleico es
esfrica, calcular el volumen de una molcula.
2.2.5. A partir de los valores de la densidad y la masa molar del cido oleico calcular el
nmero de Avogadro.
2.3.
[1]
Referencias
LD-Didactics Physics Leaflets P6.1.1.1. Estimating the size of oil molecules.
http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6111_e.pdf . Junio de 2011.
Prctica 3
La gota de aceite de Millikan
El objeto de esta prctica es determinar experimentalmente la naturaleza discreta de la

carga elemental y su valor. Esta es una de las constantes fsicas de la naturaleza y su
valor experimental se estima en 1.602176487 10 -19 coulomb 4 10-27 c [1]. Los
preliminares de este experimento y su contexto son un tanto curiosos pues la historia de
este descubrimiento no est exenta de competencia, intrigas, denuncias de fraude y
errores fsicos [2].
3.1. Principios fsicos
Se trata de introducir unas goticas electrizadas por rozamiento de un aceite con densidad
conocida, en medio de un condensador de placas paralelas. La accin combinada de las
fuerza gravitatoria y elctrica en presencia de un fluido viscoso (aire) permite determinar
la carga adquirida por la gota de aceite electrizada. Cuando la gota ha alcanzado su
velocidad terminal se encuentra en una situacin de equilibrio de fuerzas, incluyendo la
fuerza de rozamiento viscoso. Una ilustracin preliminar del experimento puede
encontrarse en el applet creado por Magnus Karlsson [3].
La figura 3.1 ilustra el esquema general del experimento.
Figura 3.1. Esquema del experimento de la gota de aceite de Millikan.
El componente esencial del experimento es un condensador de placas paralelas

contenido en una caja oscura, al que se puede aplicar una diferencia de potencial de
varios cientos de voltios. Se tiene ademas una bomba manual inyectora de aceite
atomizado en pequeas goticas, las cuales al introducirse por un pequeo agujero de la
caja, se electrizan por rozamiento con sus paredes. Las gotas al interior de la caja pueden
observarse a travs de un cristal al que se le ha adaptado un pequeo microscopio de
bajo aumento, y para mejorar la observacin de las goticas, el interior de la caja puede
iluminarse con una pequea lmpara (no mostrada). El aceite empleado es un aceite
especial de gran calidad con baja presin de vapor que normalmente se usa en bombas
rotatorias y de alto vaco.
En ausencia de campo elctrico (o voltaje aplicado a las placas) la gota desciende por
accin de la gravedad. Sin embargo, al observarse a travs del microscopio la gota
parece que est ascendiendo, debido a que el microscopio proporciona una imagen
invertida. El ascenso de la gota es lento, teniendo en cuenta que el volumen de la gotica
es muy pequeo, y que ella est inmersa en un fluido viscoso (aire).
Una vez se acciona el campo elctrico se puede observar que algunas gotas aceleran su
ascenso, mientras que otras cambian su trayectoria en direccin opuesta (descendiendo
para el observador). La direccin ascendente o descendente de las goticas depende del
tipo de carga adquirida por cada una de ellas, y su velocidad depende de la magnitud de
esta carga adquirida. Este es el escenario que se observa en el applet de la referencia [2].
A manera de ejemplo, las goticas con carga negativa sern atradas hacia la placa
positiva del condensador y por tanto deben ascender. Sin embargo, el observador las
percibe como si estuvieran descendiendo debido a la inversin de la imagen por el
10
microscopio. Aunque es trabajoso medirla, la velocidad de cada una de las gotas puede
cuantificarse con la ayuda de un cronmetro, gracias a que el microscopio est dotado
con una reglilla micromtrica. La velocidad de cada una de estas gotas electrizadas puede
modificarse de manera controlada a travs del voltaje aplicado entre las placas del
condensador.
El montaje mostrado en la figura 3.2 es extrado de la pgina web oficial de la empresa

alemana LD Didactic GmbH. El aparato de Millikan LD 559 411 se conecta a la unidad
de servicio Millikan LD 559 421 [3]. Esta ltima consta de una fuente de voltaje DC
variable hasta 600V para suministrar la diferencia de potencial entre las placas del
condensador y otra fuente de voltaje DC constante de 12V para alimentar la lmpara.
Aunque no van a ser empleados en esta experiencia, la unidad de servicio Millikan posee
adems unos contadores digitales que permiten estimar el tiempo de trnsito de las gotas
con mayor precisin y asistido por computador.
a)
b)
Figura 3.2. a) Aparato de Millikan 559 411 de LD-Didactic GmbH con sus respectivos
componentes: 1- Plataforma, 2- Microscopio de medicin con ocular micromtrico, 3Condensador de placas paralelas, 4- Dispositivo de iluminacin, 5- Atomizador de aceite,
6- Pera de goma y 7- base del soporte. b) Conexiones del aparato de Millikan LD 559 411
a la Unidad de servicio Millikan LD 559 421.
11
La parte operativa de este experimento consiste en medir la velocidad de descenso (

ascenso) aparente de una gotica escogida, en funcin del voltaje aplicado a las placas del
condensador. Para hacer esto se selecciona una determinada gotica, cuya trayectoria
est dentro de la escala micromtrica del ocular del microscopio. Asumiendo que cada
gotica se mueve con velocidad constante (velocidad terminal) se mide su velocidad para
un determinado voltaje aplicado con ayuda de la escala micromtrica y un cronmetro.
Este mismo procedimiento se repite para varias gotas seleccionadas. Se debe elaborar
una grfica de la velocidad adquirida por cada gota en funcin del voltaje aplicado
(incluyendo cambios de polaridad).
La velocidad adquirida por la gota en funcin del voltaje aplicado debe depender en ltima
instancia de la carga elctrica que posee la gotica, y el propsito de esta prctica es
determinar la cantidad de carga de cada una de ellas con base en consideraciones
tericas y mediciones experimentales.
Para el anlisis de datos se sugiere:
3.2.1. Elaborar un diagrama de las fuerzas que actan sobre cada gotica en presencia
de un fluido viscoso, tanto para el caso en que la gotica est ascendiendo como
para el caso contrario.
3.2.2. Asumir que cada gotica es aproximadamente esfrica y emplear la ley de Stokes
para fluidos laminares.
3.2.3. Deducir una relacin entre la carga de la gota, las variables fsicas medidas
(velocidad y diferencia de potencial) y otros parmetros fsicos mencionados en la
siguiente seccin.
Datos tcnicos tiles
Distancia entre placas del condensador: 6 mm

Largo de la escala micromtrica: 10 mm
Divisin de la escala: 0.1 mm
Densidad del aceite: 877 Kg m-3.
12
Densidad del aire: seco, a 20 C y 101.325 kPa, la densidad es de 1.2041 kg/m 3 (IUPAC).
Viscosidad del aire: A 20 C, 1.8 10-5 Kgm-1s-1 [5].
3.3.
Referencias
[1] Valor recomendado por CODATA ao 2006. http://physics.nist.gov/cgi-bin/cuu/Value?e

Junio de 2011.
[2]
Applet
sobre
la
gota
de
aceite
de
Millikan.
http://physics.wku.edu/~womble/phys260/millikan.html. Junio de 2011.

[3]
LD
Physics
leaflets.
Unidad
de
Servicio
de
Millikan.
http://www.ld-
didactic.de/ga/5/559/559421/559421s.pdf. Junio de 2011.

[4] Ver experimentos introductorios de Fsica atmica y nuclear (VP6.1.1) de LeyboldDidactics en http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/p_index_e.html# . Junio de 2011.
[5] Danish Wind Industry Association.
http://www.talentfactory.dk/es/stat/unitsw.htm#visco. Junio de 2011.
13
Prctica 4
Carga especfica del electrn
La relacin entre la carga elemental del electrn
y su masa respectiva
conoce como carga especfica del electrn (
, es lo que se
). La idea de esta prctica de
laboratorio es determinar cuantitativamente esta relacin usando el mtodo original

empleado por J.J. Thompson en 1897.

Una partcula cargada que se mueve en presencia de un campo magntico
experimenta
la fuerza de Lorentz , que est dada por la ecuacin 4.1.

(4.1)
En la ecuacin 4.1, se tiene en cuenta la carga negativa del electrn y su respectiva
velocidad . El carcter vectorial de esta fuerza se ilustra en la figura 4.1.
En una configuracin donde la velocidad se
dirige perpendicularmente a la direccin del
campo
magntico,
la
trayectoria
del
electrn se curva debido a la fuerza de

Lorentz.
El caso en el que esta deflexin es

suficientemente pronunciada como para
que el electrn realice una trayectoria
circular cerrada, se lleva a cabo cuando su
velocidad y radio
Figura 4.1. Ilustracin de la fuerza de
alcanzan la condicin
establecida por la ecuacin 4.2.
Lorentz, de origen magntico [1].

14
(4.2)
Bajo esta condicin, la fuerza de Lorentz acta como una fuerza centrpeta, por
consiguiente para establecer su magnitud se tiene:
(4.3)
En consecuencia, la carga especfica puede expresarse en trminos de la rapidez

intensidad del campo magntico
, la
y el radio de su trayectoria circular :

(4.4)
En la configuracin del experimento de Thomson, mostrada en la figura 4.2, se tiene un

haz de electrones en una ampolleta de vidrio que contiene un gas a muy baja presin.
Los electrones en su movimiento ionizan
los tomos del gas, y su emisin de
luminiscencia
trayectoria
de
permite
los
visualizar
electrones.
la
Dicha
trayectoria alcanza una forma circular en

presencia del campo magntico generado
por las bobinas de Helmholz, y su radio
depende de la intensidad de
rapidez
y de la
de los electrones. Los electrones
proceden de un pequeo can, el cual

contiene un filamento que origina los
electrones por emisin termoinica.
Figura 4.2. Configuracin de Thomson

para visualizar la trayectoria de los
electrones en un gas ionizado.
15
De la ecuacin 4.4, puede observarse que para calcular la carga especfica del electrn
deben determinarse
. El radio de la trayectoria circular puede medirse
directamente, mientras que la intensidad del campo magntico generado por las bobinas
de Helmholz [3] y la rapidez de los electrones deben determinarse por mediciones
indirectas. La rapidez de los electrones se estima a travs del potencial de aceleracin de
los electrones . Por conservacin de la energa se tiene:
(4.5)
Combinando las expresiones 4.4 y 4.5, se obtiene:

(4.6)
Por otro lado, se conoce que el campo magntico generado por las bobinas de Helmholz
posee una gran uniformidad y obedece a la expresin dada en la ecuacin 4.7 [3].
(4.7)
donde
es la permeabilidad magntica del vaco (
vueltas de cada bobina y
),
el nmero de
su respectivo radio. En esta ecuacin se destaca el hecho de
que el campo magntico generado por las bobinas de Helmholz es proporcional a la

corriente que circula por ellas.
(4.8)
De esta forma, se obtiene una expresin final para la carga especfica del electrn
(ecuacin 4.9), que relaciona diversos parmetros directamente medibles: ,
(4.9)
16
La figura 4.3 muestra el montaje experimental [4], en el que se sita la ampolleta de vidrio
LD 555 571 en el interior de las bobinas de Helmholz LD 555 581 [5]. Las bobinas son
alimentadas por una fuente (0-16V, 0-5A) y se coloca un ampermetro para monitorear la
corriente. Se recomienda encender la fuente de alimentacin de las bobinas por cortos
periodos de tiempo para evitar sobrecalentamiento.
Figura 4.3. Montaje experimental propuesto por la empresa Phywe [4]
Por otro lado, en la ampolleta de vidrio se conectan dos fuentes de voltaje. Una de ellas
(6V, 1.5A) para alimentar el filamento que genera los electrones, y la otra es para
acelerarlos (0-500V).
El procedimiento experimental consiste en ajustar la corriente de las bobinas de Helmholz
y el voltaje de aceleracin de los electrones
, hasta obtener una trayectoria circular de
los electrones claramente visible de radio .
17
Como referencia para medir el radio de la trayectoria circular, puede usarse la

configuracin ilustrada en la figura 4.4 [5].
A
continuacin
se
vara
el
voltaje de aceleracin de los

electrones
se
ajusta
sucesivamente la corriente de
las bobinas hasta obtener el
mismo radio de la rbita de los
electrones. De esta forma se
obtiene una relacin entre
e ,
para un radio constante. Las

diversas
mediciones
pueden
graficarse, linealizarse y de all

efectuar una regresin lineal
Figura 4.4. Gua para la medicin del radio de la rbita
que permita estimar el valor de

la carga especfica del electrn
circular de los electrones [5].
con su respectiva incertidumbre.
4.3. Referencias
[1] Pgina web Jupiter radio. http://www.jupiterradio.com/jove-emission.php . Septiembre

de 2010.
[2]
S.E.A.
Engineering
Company.
Pgina
official,
septiembre
de
2010.
http://www.sea.co.th/seaweb/laboratoryexperimentsphysics5102.htm
[3] Wikipedia. http://en.wikipedia.org/wiki/Helmholtz_coil . Septiembre de 2010.
[4] Phywe Physics, Pginal official. http://www.phywe-es.com/1005/pid/26484/CARGAESPECIFICA-DEL-ELECTRON-e-m.htm . Septiembre de 2010.
[5]
LD
physics
leaflets,
specific
charge
of
the
electron.
http://www.ld-
didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6131_e.pdf . Septiembre de 2010
18
Prctica 5
La constante de Rydberg
El propsito de este laboratorio es hacer una estimacin cuantitativa de la constante de

Rydberg, a partir del espectro de emisin del hidrgeno en el rango visible, ms conocido
como serie de Balmer.

Una lmpara de descarga de hidrgeno emite una serie de lneas espectrales que cubren
el rango energtico desde el infrarrojo hasta el ultravioleta. Estas lneas son el resultado
de transiciones electrnicas que se presentan en los tomos ionizados dentro del gas,
como producto de la alta tensin a la que se somete la lmpara de energa.
Figura 5.1. Series del espectro de emisin del tomo de Hidrgeno [1].
19
La energa de las correspondientes lneas espectrales depende de la diferencia

energtica entre los niveles energticos involucrados en las transiciones electrnicas
(figura 5.1). En la emisin de radiacin involucra una transicin desde un estado inicial de
mayor energa (orbitas externas) hasta un estado final de menor energa. Es
precisamente este estado final el que determina el rango de energa de la emisin de luz.
As, aquellas transiciones que tienen como estado final el nivel fundamental (n=1),
tambin denominado estado base, estn en el rango espectral del ultravioleta y se
denomina serie de Lyman.
En el rango visible (serie de Balmer) se agrupan aquellas transiciones electrnicas cuyo

estado final corresponde al segundo nivel de energa, o primer estado excitado (n=2). Y
finalmente en el rango espectral del infarrojo, estn involucradas transiones electrnicas
cuyo estado final corresponde al tercer nivel de energia n=3 (serie de Paschen), cuarto
nivel de energa n=4 (Serie de Brackett), quinto nivel n=5 (Serie de Pfund), etc. En
general, la longitud de onda de la radiacin emitida est dada por la ecuacin 5.1.
(5.1)
donde Z es el nmero atmico, R es la constante de Rydberg, y
describen
respectivamente los estados inicial y final del electrn en su transicin. Para el caso de la
serie de Balmer en el tomo de Hidrgeno, la ecuacin 5.1 se transforma en:
(5.2)

La luz proveniente de una lmpara que contiene gas hidrgeno en su interior es difractada
por un medio dispersor, bien sea un prisma o una rejilla de difraccin (figura 5.2). Como
resultado se produce una serie de lneas espectrales, cuya longitud de onda puede ser
medida sobre una reglilla graduada.
20
Figura 5.2. Esquema del montaje experimental empleado para determinar el espectro de
emisin del hidrgeno [2].
Para evitar que la luz proveniente de la lmpara interfiera con la luz del ambiente, tanto el
prisma como la reglilla graduada se encuentran en el interior de un aparato que posee
una cmara oscura, y que se denmina espectrgrafo.
El problema a resolver consiste en determinar el valor de la constante de Rydberg con su
respectiva incertidumbre, midiendo la longitud de onda correspondiente a las lneas de
emisin de la serie de Balmer del hidrgeno.
5.3. Referencias
[1] Australia Telescope Outreach and education webpage.
http://outreach.atnf.csiro.au/education/senior/astrophysics/spectroscopyhow.html .
Septiembre 2010.
[2] Colorvision website.
http://www.horrorseek.com/home/halloween/wolfstone/Lighting/colvis_ColorVision.html.
Septiembre 2010.
21
Prctica 6
Espectro de emisin del Hidrgeno
En esta prctica se va a registrar el espectro de emisin del Hidrgeno con un

espectrofotmetro. Este instrumento proporciona un mtodo ms preciso para determinar
la constante de Rydberg , dada por la ecuacin 6.1.
(6.1)
El espectro de emisin de un elemento o compuesto qumico se define como la intensidad

relativa en funcin de la frecuencia de la radiacin emitida por el sistema cuando es
excitado por cualquier agente externo (temperatura, voltaje, radiacin, etc.). El espectro
de emisin de cada elemento es nico de modo que, por medio de la espectroscopia, se
pueden conocer los elementos constitutivos de un compuesto qumico desconocido. La
espectroscopia astronmica, por ejemplo, se usa para determinar la composicin qumica
de las estrellas.
Cuando un electrn de un tomo es excitado puede pasar de su estado base a un estado

excitado de mayor energa [1]. Posteriormente, en un instante definido por el tiempo de
relajacin (tpicamente del orden de los femto-segundos), el electrn pasa del estado
excitado al estado base emitiendo fotones con energa igual a la diferencia de energa
entre los dos niveles. La emisin de fotones con energa correspondiente a las
transiciones entre todos los posibles niveles de energa del tomo, que cumplan con las
reglas de seleccin, conforman el espectro de emisin del tomo. De acuerdo con el
modelo de Bohr, en el espectro de emisin del hidrogeno se pueden definir varios tipos de
22
emisin de acuerdo a los niveles de transicin: serie Lyman, serie Balmer y serie
Paschen, principalmente.
6.2.
En este laboratorio se analizara el espectro de emisin de una lmpara de Hidrgeno. El

montaje ptico se muestra en la Figura 6.1., y est compuesto de los siguientes
elementos:
6.2.1. Mesa ptica Edmund optics High Performance Laboratory Table NT59-908
6.2.2. Fuente de Luz. Lmpara de hidrogeno Oriel.
6.2.3. Lente plano-convexo de CaF2 de 12.7 mm de dimetro y 50.0 mm de distancia
focal (Thorlabs LA5183). Los lentes de CaF2 se usan comnmente en
aplicaciones que requieren alta transmisin tanto en IR como en UV (transmisin
0.95% en el rango 0.18 - 8.0 m)
Figura 6.1. Diagrama esquemtico del montaje ptico usado en el experimento diseado
para registrar el espectro de emisin de una lmpara de Hidrgeno.
6.2.3. Chopper ptico Stanford Research SR540 con frecuencia de modulacin de 4.0Hz
hasta 3.7KHz y disco de 5/6.
6.2.4. Monocromador Acton research spectral pro 775. Controlado por puerto RS3232,
rango de 200-1500 nm y 0.1 nm de resolucin.
23
6.2.5. Tubo fotomultiplicador (PMT) 77342 Side-on. PMT Oriel montado sobre una
carcasa 77265 estndar. La respuesta espectral del PMT se muestra en la fig. 6.2.
Figura 6.2. Respuesta espectral del tubo fotomultiplicador 77342 Side-on.
6.2.6. Amplificiador Lock-In. Es usado para medir seales muy dbiles (del orden de nV)
obteniendo mediciones muy precisas aun cuando la razn seal/ruido sea del
orden de 0.001. Los amplificadores Lock-in se basan en una tcnica de deteccin
sensible a la fase en la que se filtra la seal de entrada usando la frecuencia y la
fase de una seal de referencia.
6.2.7. Fuente regulada de alto voltaje oriel 70705 para alimentar el PMT. 2000 VDC,
2mA. Alta estabilidad.
6.2.8. Computador para adquisicin de datos. Todo el sistema (monocromador, PMT) es
controlado por LabView 8.5 via puerto GPIB. Se almacenan los espectros
(Intensidad vs Longitud de onda) en formato ASCII.
Con este montaje experimental se puede registrar el espectro de emisin de la lmpara

de hidrogeno, el cual consiste en una grfica que registra la intensidad de la luz
por la lmpara para cada longitud de onda , esto es
emitida
. Este espectro contiene toda la
informacin para determinar el valor experimental de la constante de Rydberg.
24
6.3.
Procedimiento sugerido para el anlisis del espectro
6.3.1. Convertir la longitud de onda (nm) a su correspondiente unidad de energa

expresada en electron-volts (eV). De esta manera se puede determinar la energa de los
principales picos de emisin.
6.3.2. De acuerdo a la longitud de onda
de los picos de emisin y a valores en la
literatura se identifican los picos correspondientes a la serie Balmer completando la

siguiente tabla:
Color
energa
Serie
nombre
Balmer
Balmer
Balmer
Balmer
nf
ni
6.3.3. De acuerdo a la expresin de Balmer dada por la ecuacin 6.2.,

(6.2)
Se puede elaborar una grafica de ( - 1/n2 ) en funcin de 1/ y a partir de ella

determinar el valor de R, con su respectivo error experimental.
6.3.4. Es muy importante comparar el valor obtenido con el valor terico calculado a
partir de la ecuacin 6.1.
6.3.5. A partir del valor obtenido de R, se puede determinar la longitud de onda de las
lneas de emisin de la serie Lyman y de la serie Paschen, e identificarlas en el
espectro de emisin. Discuta los resultados.
6.4.
Referencias
[1] Eisberg, R., Fsica cuntica tomos, molculas, slidos, ncleos y partculas, Editorial
Limusa, 1978.
25
Prctica 7
Espectro de absorcin de un material
Usando un espectrofotmetro se va a determinar el valor del gap de energa de un xido

semiconductor a partir de su espectro de absorcin. El material es un semiconductor
transparente denominado oxido de estao dopado con indio (Indium tin oxide ITO).
En general, uno de los procesos ms importantes en la descripcin de la interaccin

radiacin-materia es la absorcin, en la cual se describe como la energa de un fotn es
absorbida por un material y es transformada en otros tipos de energa (oscilaciones de la
red, por ejemplo). Una de las maneras ms sencillas y directas de determinar
experimentalmente la brecha de energa (band gap energy, E g) de un semiconductor es
determinando su espectro de absorcin. En el proceso de absorcin de radiacin visible,
un fotn con la suficiente energa excita un electrn de la banda de valencia a la banda de
conduccin, de modo que a partir del estudio de la radiacin transmitida/absorbida en
funcin de la energa de los fotones incidentes, se pueden determinar, en principio, las
posibles transiciones energticas de los electrones y, en particular, las llamadas
transiciones banda-banda (absorcin fundamental).
El coeficiente de absorcin () describe la cantidad de radiacin que es absorbida por un

material. Por otra parte, la transmitancia (T) es la razn entre la intensidad de radiacin
que atraviesa el material y la intensidad de la radiacin incidente. Dependiendo del tipo de
radiacin, se habla de UVT (transmitancia en el ultra violeta), VT (transmitancia en el
visible) o IRT (transmitancia en el infrarrojo).
26
(7.1)
Donde
es la intensidad de la radiacin transmitida e
es la intensidad de radiacin
incidente. Se puede definir, adems, la absorbancia del material como

(7.2)
De modo que el coeficiente de absorcin est definido por
(7.3)
donde
es el grosor del material. Por otra parte, suponiendo la aproximacin de banda
parablica para semiconductores se puede mostrar que [1]

(7.4)
En este laboratorio se analizara una muestra de ITO crecida por la tcnica de

pulverizacin catdica (sputtering) en el laboratorio de espectroscopia de la PUJ. El
montaje ptico se describe en la Figura 7.1.
Figura 7.1. Diagrama esquemtico del montaje ptico usado en el experimento de

transmisin.
27
En el montaje ptico intervienen los siguientes componentes:

7.2.1. Mesa ptica Edmund optics High Performance Laboratory Table NT59-908
7.2.2. Fuente de luz. Lmpara de Tungsteno halgena de 100W en un porta-lmpara
universal Oriel Co. 66057 con ptica UV y sistema de refrigeracin.
7.2.3. Lente plano-convexo de CaF2 de 12.7 mm de dimetro y 50.0 mm de distancia
focal (Thorlabs LA5183). Los lentes de CaF2 se usan comnmente en
aplicaciones que requieren alta transmisin tanto en IR como en UV (transmisin
0.95% en el rango 0.18 - 8.0 m)
7.2.4. Muestra. Pelcula delgada de ITO (Indium tin oxide o tin-doped indium oxide)
crecida por sputtering (erosin catdica)
7.2.5. Lente 2. Lente plano-convexo de CaF2 de 12.7 mm de dimetro y 80.0 mm de
distancia focal (Thorlabs LA5458).
7.2.6. Optical chopper Stanford Research SR540 con frecuencia de modulacin de 4.0Hz
hasta 3.7KHz y disco de 5/6. Monocromador Acton research spectral pro 775.
Controlado por puerto RS3232, rango de 200-1500 nm y 0.1 nm de resolucin.
Tubo fotomultiplicador (PMT) 77342 Side-on PMT Oriel montado sobre una
carcasa 77265 estndar. La respuesta espectral se muestra en la fig. 7.2.
7.2.7. Amplificador Lock-In Stanford Research SR839. Los amplificadores Lock-in son
usados para medir seales muy dbiles (del orden de nV) obteniendo mediciones
muy precisas aun cuando la razn seal/ruido sea del orden de 0.001. Los
amplificadores Lock-in se basan en una tcnica de deteccin sensible a la fase en
la que se filtra la seal de entrada usando la frecuencia y la fase de una seal de
referencia
7.2.8. Fuente regulada de alto voltaje oriel 70705 para alimentar el PMT . 2000 VDC,
2mA. Alta estabilidad.
7.2.9. Computador para adquisicin de datos. Todo el sistema (monocromador, PMT) es
controlado por LabView 8.5 via puerto GPIB. Se almacenan los espectros
(Intensidad vs Longitud de onda) en formato ASCII.
28
Figura 7.2. Respuesta espectral del tubo fotomultiplicador.
7.3.
Procedimiento sugerido.
Para determinar la transmitancia (Eq. 7.1), primero hay que determinar I e I0

independientemente y, despus, hacer numricamente el cociente. En mediciones
pticas, es muy usual hacer varios barridos del espectro y promediarlos con el fin de
mejorar la razn seal/ruido. El numero de barridos depende de qu tan ruidosa est la
seal (tpicamente se efectan 4 o 5 barridos).
La transmitancia se obtiene mediante el siguiente procedimiento:

7.3.1.
Se registra el espectro de emisin de la lmpara (I0) en el rango de longitudes de

onda entre 350 y 800 nm.
7.3.2. Se registra el espectro de transmisin del ITO (I) en el rango 350-800 nm.
7.3.3. Se determina la absorbancia (I/I0) en el rango 350-800 nm.
29
Con base en el espectro de absorbancia se contina adelante con el anlisis y tratamiento

de datos como sigue:
7.3.4. Se grafica la absorbancia en funcin de la longitud de onda .
7.3.5. Se grafica el coeficiente de absorcin.
7.3.6. Se expresa el espectro de absorbancia, en trminos de energa en unidades de
electron-volt (eV). Para ello debe hacerse la conversin de longitud de onda a su
equivalente energtico en eV.
7.3.7. Por extrapolacin, se determine el valor del gap Eg.
Es conveniente comparar estos resultados obtenidos con los reportados en la literatura, y

discutir en detalle el origen de las caractersticas especficas del espectro de transmisin
(oscilaciones y cada de la intensidad).
7.4.
Referencias
[1] Pankove J. Optical processes in semiconductors. Dover Publications Inc., New York
1971. ISBN: 0-486-60275-3.
30
Prctica 8
Difraccin de electrones por una red policristalina
El comportamiento ondulatorio del electrn se manifiesta a travs del fenmeno de

difraccin ocasionado por una cristal de grafito altamente orientado. En esta prctica se
utiliza dicho patrn de difraccin para determinar las constantes de red del cristal de
grafito.
Basado en la relacin cuntica momentum (
) vs nmero de onda (
) para el fotn, Luis
de Broglie en 1924 pretendi generalizarla y aplicarla para otras partculas. De esta

manera las propiedades ondulatorias para partculas quedan resumidas en la ecuacin
8.1:
(8.1)
donde
es la constante de Planck y
es la longitud de onda asociada al momentum de la
partcula.
Esta hiptesis formulada por De Broglie en su tesis de doctorado, fu confirmada
experimentalmente por Clinton Davisson y Lester Germer en 1927, hecho que le vali la
obtencin del premio nobel de fsica en 1929. Mientras que el experimento de Davisson y
Germer se efectu por reflexin de electrones sobre un monocristal de nquel, la presente
experiencia se basa en un montaje ideado en 1928 por G. P. Thomson [1], en la que se
produce el fenmeno difraccin cuando los electrones son transmitidos a travs de una
31
delgada cinta de grafito policristalino. Los tomos de grafito se consideran como una red
espacial que acta como una red de difraccin para los electrones.
El patrn de difraccin es registrado por una pantalla fluorescente en el tubo de rayos

catdicos, y tiene un aspecto similar al observado en la figura 8.1. Se aprecian claramente
dos anillos con diferentes dimetros
, que cambian de acuerdo con la longitud de
onda asociada al electrn, esto es, con su voltaje de aceleracin
La energa potencial de los electrones

acelerados es transformada en energa
cintica:
(8.2)
De all se obtiene la rapidez promedio

de los electrones, de carga
Con
esta
informacin
y masa
puede
determinarse la cantidad de movimiento

de los electrones:
(8.3)
Combinando las ecuaciones 3 y 1, se

obtiene:
(8.4)
Figura 8.1. Representacin esquemtica del
patrn de anillos observado por difraccin de
La ecuacin 8.4 expresa una relacin
electrones a travs de una rejilla de grafito.
inversa entre el voltaje de aceleracin

y la longitud de onda del electrn .
Cuando los electrones acelerados son difractados por el cristal de grafito, el patrn de
difraccin observado corresponde a la interferencia constructiva establecido por la
condicin de Bragg:
32
(8.5)
En la que
es la distancia entre planos cristalinos,
electrones medido con respecto al plano y
es el ngulo de incidencia del haz de
un nmero entero que determina el orden de
la difraccin. En un cristal de grafito se pueden encontrar dos diferentes distancias

interplanares
, como se ilustra en la figura 8.2.
Estas
distancias
interplanares
en
diferentes direcciones son tenidas en

cuenta debido a que se trata de un
material
policristalino,
coleccin
de
es
decir
una
pequeos monocristales
orientados aleatoriamente en diferentes

direcciones. Debido a que existen dos
diferentes distancias interplanares en el
cristal, la ecuacin 8.5 dice que para una
misma longitud de onda
se deben
presentar dos puntos de interferencia

Figura 8.2. Distancias interplanares en un
constructiva.
cristal de grafito [1].
orientacin
La
de
aleatoriedad
la
cinta
en
la
policristalina
ocasiona que en vez de un patrn

puntual, se presente el patrn de anillos
caractersticos ilustrados en la figura 8.1.
El montaje experimental se realiza en el interior de un tubo al vaco, de acuerdo a la

configuracin ilustrada en la figura 8.3.
33
Los electrones son

generados
por
emisin termoinica
en el filamento (F).
Ellos son acelerados
por una fuente de
voltaje que establece
la
diferencia
potencial
de
entre el
nodo (A) y el ctodo

(C). En el nodo est Figura 8.3. Esquema para determinar el ngulo de difraccin de
situada
la
policristalina
cinta electrones a travs de un cristal de grafito [1].

de
grafito.
El enfoque de los electrones es regulado por potenciales aplicados sobre el electrodo X, y

el patrn de difraccin de electrones puede visualizarse por la luminiscencia del
recubrimiento de fsforo de la pantalla situada en el extremo del tubo de rayos catdicos.
Dicha pantalla est situada a una distancia
= 13.5 cm del material policristalino, y sobre
ella pueden medirse directamente el dimetro de los anillos de difraccin
8.4. Procedimiento sugerido
Para ngulos muy pequeos, el trmino de la izquierda en la ecuacin 8.5 puede

aproximarse a:
(8.6)
En consecuencia la condicin de Bragg (ec. 8.5), combinada con la ec. 8.4 resulta en la
expresin:
34
(8.7)
De aqu se deriva una relacin inversa entre los parmetros medibles: el voltaje aplicado
, y el dimetro de los anillos
. Al variarse el voltaje
, el dimetro de los dos anillos v
cambiando, y esto dar lugar a que se realiza una serie de medidas experimentales.
Basndose en la ecuacin 8.7, y aplicando el procedimiento de linealizacin habitual en el
que las pendientes e interceptos contienen informacin sobre el sistema fsico, puede
determinarse las distancias interplanares del cristal de grafito con su respectiva
incertidumbre.
8.4 Referencias
[1] LD physics leaflets. http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6151_e.pdf . Octubre de

2010.
35
Prctica 9
Experimento de Franck-Hertz
El objetivo de esta prctica es reproducir y entender la importancia del experimento

clsico realizado por James Franck y Gustavo Hertz en 1914, que apoya el modelo de
Bohr y fundamenta la teora cuntica del tomo.

En su experimento se observ que los electrones al ser acelerados por un potencial en
presencia de un gas de Mercurio, pierden su energa en cuanto se alcanza cierto valor
umbral, y este fenmeno est acompaado por emisin de radiacin ultravioleta.
En
otras
palabras,
en
vez
de
obtenerse un incremento continuo de

la
corriente al incrementarse el
potencial de aceleracin de los

electrones, se observa un patrn de
saltos peridicos en la intensidad de
corriente, similar al ilustrado en la
figura 9.1. Tan solo unos meses ms
tarde, Niels Bohr reconoci que los
resultados
de
este
experimento
Figura 9.1. Patrn de corriente vs potencial demostraban la naturaleza cuntica

observado por los investigadores Franck y Hertz del tomo, de acuerdo con el modelo
en
1914,
para
la
corriente
producida
por
propuesto por l, pues muestra
electrones acelerados en presencia de un gas de
cmo
los
tomos
slo
pueden
Mercurio [1].
absorber cantidades especficas de

energa (cuantos) [2].
36
La esencia del experimento consiste en medir la caracterstica corriente-voltaje ( I vs U),

de un tubo al vaco de configuracin cilndrica, ilustrado en la figura 8.2.
El tubo contiene un filamento (ctodo K), el cual

por el fenmeno de emisin termoinica, emite
electrones cuando es calentado tras la aplicacin
de un pequeo voltaje
. La rejilla
solo se
emplea para regular el flujo de electrones

emitidos por el ctodo.
El punto relevante en el experimento es medir la

corriente que alcanza el nodo A cuando los
electrones son acelerados por la aplicacin de
una diferencia de potencial
a la rejilla
En un tubo al vaco se esperara un incremento

continuo de la corriente
esta diferencia de potencial
por la aplicacin de
.
Figura 8.2. Diagrama esquemtico

del tubo de Franck-Hertz [1].
Esta caracterstica cambia radicalmente cuando el tubo contiene un gas de Mercurio (Hg)
en su interior sometido a una presin aproximada de 15 hPa, a una temperatura regulada.
Esto se realiza introduciendo el tubo con el gas de Mercurio en un horno regulado con un
control de temperatura.
Para poder medir la caracterstica corriente voltaje de este tubo con vapor de mercurio
calentado y regulado, se emplea el montaje experimental esquematizado en la figura 8.3.
37
Figura 8.3. Montaje experimental para regular la temperatura del gas de Mercurio
contenido en el tubo de Franck-Hertz y medir su caracterstica corriente-voltaje [1].
El montaje est compuesto por varias secciones. La seccin
corresponde a la parte
posterior del control electrnico, y se encarga de calentar y regular la temperatura del

horno. La parte
es una termocupla que mide la temperatura del horno y la muestra en el
tablero del control electrnico. La seccin

electrones en el tubo, y mide la corriente
aplica el voltaje
para acelerar los
que llega al nodo. La electrnica interna del
control traduce estas seales como voltajes de salida
, que pueden ser ledos por un
osciloscopio por un graficador XY.
9.3. Interpretacin de los resultados
Los electrones son acelerados y por consiguiente su energa cintica se empieza a

incrementar gradualmente. Esto sucede hasta que los electrones adquieren la suficiente
38
energa cintica para interaccionar en colisiones inelsticas, excitando masivamente los

electrones internos de los tomos de Mercurio. Este fenmeno masivo de transferencia de
energa de los electrones a los tomos de Mercurio ocasiona una disminucin dramtica
en la intensidad de corriente, pues el nmero de electrones que llegan al nodo disminuye
drsticamente. Posteriormente, los tomos excitados decaen radiativamente emitiendo en
el ultravioleta. Al continuar aumentando progresivamente el potencial de aceleracin de
los electrones, stos pueden participar en dos o ms colisiones inelsticas sucesivas con
los tomos de Mercurio, dando lugar al patrn peridico de disminucin de la corriente a
intervalos regulares de potencial elctrico, caractersticos de la figura 9.1.
9.4. Referencias
[1]
Pgina
official
LD
Didactics
GmbH.
LD
Physics
leaflets.
http://www.pha.jhu.edu/~gritsan/2010.173.308/lab4/p6241_e.pdf . Octubre de 2010.
[2] Wikipedia. http://es.wikipedia.org/wiki/Experimento_de_Franck_y_Hertz . Octubre de

2010.
39
Prctica 10
Reflexin de Bragg
El objeto principal de esta experiencia de laboratorio es determinar cuantitativamente la

constante de red de un monocristal con estructura de tipo FCC, con su respectiva
estimacin de error.
El principio fsico subyacente en esta experiencia de laboratorio es la ley de Bragg, la cual

describe la interferencia producida en los rayos X reflejados por un cristal, causada por
mltiples reflexiones elsticas de los rayos X incidentes cuando stos interaccionan con
los planos cristalinos del material.
Debido a la periodicidad intrnseca del cristal, los
planos cristalinos orientados en cierta direccin escogida son paralelos entre s, y estn
espaciados a una distancia fija
. Una onda incidente con longitud de onda
se refleja
con mayor intensidad cuando satisface la condicin de Bragg:

(10.1)
donde
muestra la direccin de las ondas incidente y reflejada con respecto a los planos
cristalinos, y
es un nmero entero, que se conoce como el orden de difraccin.
Para un cristal con estructura de tipo FCC, como por ejemplo el cloruro de sodio (NaCl) o
el fosfuro de litio (LiF), cuya estructura cristalina se ilustra en la figura 10.1, los planos
cristalinos son paralelos a la superficie del cristal en el caso ms simple. La celda
convencional tiene una arista
, a la que ordinariamente se denomina constante de red.
40
Puede observarse en la figura 10.1, que la distancia interplanar

de la constante de red
corresponde a la mitad
:
(10.2)
De esta forma, la condicin de Bragg puede expresarse como:

(10.3)
En consecuencia, para
poder
determinar
la
constante de red del

cristal se requiere medir
el ngulo para el cual se
presenta
la
mayor
intensidad de los rayos

X
reflejados
cristal,
por
los
el
cuales
poseen una longitud de

onda
conocida. Esa es
precisamente la idea a
desarrollar
en
el
presente experimento.
Figura 10.1. Estructura cristalina de NaCl [1]. La celda
convencional tiene una arista
10.2.1. Generacin de los rayos X caractersticos.
Los rayos X caractersticos son generados por las transiciones electrnicas que se
producen en los tomos de un material, tras ser impactado por electrones con alta energa
41
que inciden desde el filamento. El material impactado, denominado blanco, emite rayos X
en un proceso ilustrado en la figura 10.2a. Los electrones incidentes ionizan los tomos
del blanco, y posteriormente un electrn localizado en niveles de energa ms externos
ocupa el hueco dejado en los niveles internos por el electrn expulsado. Esta transicin
electrnica deja como resultado la emisin de un fotn de alta energa, correspondiente a
la diferencia de energa entre los niveles involucrados en la transicin electrnica, desde
un nivel electrnico de mayor energa hasta otro nivel de menor energa.
b)
a)
Figura 10.2. Produccin de rayos X caractersticos. a) Ilustracin del proceso, que
involucra transiciones electrnicas entre distintos niveles de energa. b) Nomenclatura
espectroscpica.
La nomenclatura espectroscpica hace uso de la designacin de las letras K, L, M, N,

etc., a medida que se incrementa la energa de los niveles electrnicos principales del
tomo, los cuales corresponden a los nmeros cunticos principales 1, 2, 3, etc., del
modelo atmico de Bohr.
La transicin electrnica que produce rayos X se etiqueta con una letra mayscula que
corresponde al nivel electrnico de menor energa, que es el mismo nivel de energa
donde estaba el electrn expulsado, como se observa en la figura 10.2b. Adems de la
42
letra mayscula, la transicin electrnica se etiqueta con un subndice en carcter griego,

el cual designa los niveles consecutivamente superiores en orden ascendente de energa
como
, etc. De esta manera la transicin
hace referencia a un proceso en el que
un electrn del primer nivel de energa (K), fue expulsado y posteriormente un electrn
situado dos niveles de energa por encima, ocupa el hueco dejado por el electrn
expulsado. Esta transicin resulta en la emisin de un fotn que posee una energa (o
longitud de onda) bien definida, la cual es caracterstica del tipo de tomo que
experimenta dicha transicin electrnica. Para el presente experimento se usa como
material blanco al Molibdeno (Mo), cuyas emisiones caractersticas de rayos X,
poseen longitudes de onda de 0.7108
y 0.6309 , respectivamente.
10.2.2. La condicin de Bragg
Para determinar la distancia entre planos cristalinos se usa un detector de Geiger-Mller,

el cual mide la intensidad de los rayos X reflejados por un cristal a diferentes ngulos. La
mxima intensidad detectada se produce cuando la geometra cumple la condicin de
Bragg (ecuacin 1), en la que el ngulo
hace referencia tanto a la direccin de la
radiacin incidente, como a la radiacin reflejada elsticamente, medida con respecto a la

superficie de la muestra. Debido a que la fuente de rayos X en el equipo LD-554811 est
fijamente empotrada, la medicin para detectar la condicin de Bragg exige un
acoplamiento entre la rotacin del cristal y el movimiento del detector, como se ilustra en
la figura 10.3. All se muestran el colimador (1) que filtra los rayos X provenientes del
can, la muestra cristalina (2) que puede rotar sobre su propio eje y el detector de
Geiger-Mller (3) que puede moverse sobre una trayectoria circular concntrica al centro
del cristal.
43
El
acoplamiento
consiste
en
que
cristal-detector
mientras
la
muestra cristalina rota un ngulo ,

el detector se mueve rotando hasta
un ngulo cuyo valor es el doble de
la rotacin del cristal,
. Esto
garantiza que el detector mide

exactamente los rayos dispersados
elsticamente,
en
el
que
reflejada
incidente
Figura 10.3. Configuracin geomtrica para la
radiacin
medicin de la radiacin dispersada elsticamente.
forman el mismo ngulo
la
con
respecto a la superficie del cristal.
El montaje experimental para realizar la configuracin que permite medir los rayos X
dispersados elsticamente se muestra en la figura 10.4.
El cristal est montado sobre un
soporte f, capaz de rotar sobre su
propio eje y se fija mediante un
tornillo g. El conjunto puede
deslizarse sobre un riel d, hasta
que la distancia entre el centro
de la muestra y el colimador a,
sea aproximadamente de 5 cm.
El detector de Geiger-Mller c
est sujeto a un brazo deslizable
b, que le permite rotar alrededor
del cristal.
Figura 10.4. Equipo de rayos X LD-554811 en su

configuracin de Bragg [1].
44
10.3.
Ilustracin del problema
Siguiendo las orientaciones indicadas en la gua del equipo [1], se obtiene un espectro de
difraccin de rayos X similar al mostrado en la figura 10.5, el cual muestra la intensidad de
los rayos X medidos por el detector, en funcin del ngulo de inclinacin del cristal con
respecto a la horizontal. En este caso en particular se us un cristal de fosfuro de litio
(LiF) y una fuente de rayos X de Molibdeno (Mo). En el espectro se aprecia un par de
picos muy intensos detectados cerca a los 10 grados de inclinacin. El ms intenso de
ellos corresponde a la emisin
(con una longitud de onda
el otro, menos intenso, corresponde a la emisin
del Mo (
= 0.7108
) mientras que
= 0.6309
). Esta pareja
de picos aparece repetida otras dos veces en el mismo espectro a ngulos mayores,
alrededor de los 20 y 30 grados de inclinacin, respectivamente. Estas tres parejas de
picos en el espectro indican que la condicin de Bragg se ha cumplido tres veces. Una
comparacin con la ecuacin 10.1, permite establecer que para cada longitud de onda
hay 3 difracciones de Bragg en el espectro (n= 1,2,3), que pueden ubicarse a 3 diferentes
ngulos de difraccin . De all puede deducirse la distancia entre planos cristalinos , o
asimismo, la constante de red
2500
Intensidad (cps)
2000
1500
1000
500
0
0
10
15
20
25
30
35
40
(grados)
Figura 10.5. Espectro de difraccin de rayos X obtenido con el equipo LD- 554811,
usando un monocristal de cloruro de sodio (NaCl) y una fuente de molibdeno para la
45
emisin de los rayos X.
Como el espectro de difraccin de rayos X registr al menos 6 picos, correspondientes a 3

difracciones de Bragg para dos diferentes longitudes de onda, se tienen entonces 6 datos
experimentales para linealizar la ecuacin 1, y deducir a partir de esta linealizacin la
constante de red del cristal
, haciendo un tratamiento profesional de los datos y
estimando el respectivo error de la medicin.
10.4.
Referencias
[1] Leybold Didactics GmbH, Physics section, Solid State Physics leaflets p7.1.2.1.
http://www.leybold-didactic.de/literatur/hb/p_index_e.html#. Septiembre 2010.
46
Prctica 11
Microscopa de efecto tnel y de fuerza atmica
A partir de una imagen tomada sobre una superficie cristalina convenientemente

preparada, es posible determinar algunas propiedades morfolgicas del material
11.1. Fundamentos tericos
En la actualidad existen muchos recursos en la red que ilustran los fundamentos de las
microscopas de fuerza atmica y de efecto tnel, con multiples recursos multimedia que
incluyen applets, tutoriales y animaciones. Por ejemplo, puede hallarse en lnea un tutorial
muy instructivo sobre microscopa de efecto tnel (Scanning tunneling Microscopy STM)
en la referencia [1]. De igual manera hay una pgina muy interesante creada por el grupo
de tecnologa de imgenes de la universidad de Illinois [2] que ilustra los fundamentos de
la tcnica de microscopa de fuerza atmica (Atomic Force Microscopy) en sus diferentes
modalidades, mediante un tutorial que hace uso extensivo de animaciones y apletts.
La figura 11.1 muestra una imagen de una superficie de grafito altamente orientado
(Highly oriented pyrolitic Graphite - HOPG) tomada con el microscopio de efecto tnel
Nanosurf easy Scan.
A partir de esta imagen puede realizarse un anlisis de la morfologa de esta superficie

como:
47
11.2.1. Determinar los vectores primitivos de la malla superficial.

11.2.2. Determinar la celda primitiva
11.2.3. Determinar la constante de red
11..2.4. Determinar la celda de Wigner-Seitz
11.2.5. Determinar el radio de Bohr de los tomos de carbn
Figura 11.1. Imagen de HOPG tomada con el microscopio de efecto tnel (Scanning
tunneling Microscope - STM).
11.3. Referencias
[1] Tit-Wah-Hui, Scanning Tunneling Microscopy A tutorial.

http://www.chembio.uoguelph.ca/educmat/chm729/stmpage/stmtutor.htm . Junio de 2011.
[2] Imaging Technology Group, University of Illinois at Urbana-Champaign. Beckman

Institute for advanced science and technology.
http://virtual.itg.uiuc.edu/training/AFM_tutorial/ . Junio de 2011.
48
Prctica 12
Fluorescencia de Rayos X
Esta prctica describe un mtodo no destructivo para identificacin cualitativa de la

composicin qumica de una muestra slida desconocida, con base en la emisin de
rayos X caractersticos, despus de ser excitada por una fuente de Molibdeno.
12.1.
Principios fsicos
12.1.1. Generacin de rayos X
La figura 12.1, ilustran el proceso fsico de generacin de los rayos X por bombardeo de
electrones [1].
El can de electrones consiste en
un tubo al vaco en el que se
encuentra
un
filamento
de
tungsteno que se calienta cuando

una alta corriente, del orden de los
amperios, circula sobre l. Como
resultado, este filamento emite luz,
calor y electrones por emisin
termoinica.
Figura 12.1. Esquema del tubo de rayos X [1].
Los electrones son acelerados por aplicacin de un alto voltaje (del orden de los
kilovoltios) hacia el electrodo positivo (nodo). All se encuentra un disco metlico del
49
elemento, usualmente cobre (Cu) o Molibdeno (Mo), que ser impactado por los
electrones (blanco).
La interaccin de los electrones con el blanco ocasiona la generacin de rayos X
mediante los mecanismos ilustrados en la figura 12.2.
En
ella
se
aprecian
electrones
incidentes que han sido acelerados

desde el filamento. El primer electrn
pasa
una
relativamente
lejana
distancia del ncleo y por consiguiente

hay una dbil interaccin con el ncleo,
lo cual ocasiona una dbil desviacin de
su trayectoria con poca prdida de
energa. Este electrn emitir radiacin
de frenado (continua) con baja energa.
El electrn nmero 2 pasa ms cerca al Figura 12.2. Mecanismo de generacin de
ncleo
experimenta
una
mayor
rayos X.
desviacin de si trayectoria, emitiendo

radiacin de moderada energa.
El tercer electrn interacciona fuertemente con el ncleo y emite radiacin continua de

mxima energa. En cambio, el electrn nmero cuatro posee la energa justa para
extraer un electrn del primer nivel de energa, dejando un hueco en este nivel. En un
tiempo posterior este nivel ser ocupado por otro electrn perteneciente a una rbita ms
externa del tomo. Esto corresponde a una transicin electrnica desde un nivel
electrnico con mayor energa, a otro nivel de menor energa, con la subsecuente emisin
de un fotn. La energa de este fotn proporciona informacin sobre las energas de los
electrones en cada rbita de cada tomo, por eso se llama energa caracterstica, y se
usa para identificar la presencia de tomos de cada elemento. En otras palabras, esta
radiacin caracterstica se usa para efectuar anlisis de composicin qumica.
Por la configuracin de sus niveles electrnicos, cada elemento posee energas bien
definidas entre sus transiciones electrnicas, las cuales ya han sido ampliamente
estudiadas y han sido publicadas [2].
50
Para identificar su origen se usa la

notacin espectroscpica en el que la
serie de letras K, L, M, N,etc., identifica
el
nivel
electrnico
de
donde
fue
expulsado el electrn (donde queda

provisionalmente un hueco). El subndice
, , ,etc., denota el nivel electrnico
Figura 12.3. Simplificacin de la notacin
de mayor energa desde donde se

efecta la transicin electrnica que
espectroscpica.
cubre el hueco dejado por el electrn

expulsado.
La figura 12.3 ilustra el sentido de la notacin espectroscpica, aunque cabe anotar que
en la prctica la notacin se hace ms compleja pues se tiene en cuenta que los niveles
electrnicos poseen subniveles que a su vez tambin estn diferenciados por el spin
electrnico.
La figura 12.4 muestra el espectro
de emisin de rayos X de un blanco
de Molibdeno, registrado bajo un
voltaje de aceleracin de 35 kV, y
calibrado con el aparato de rayos X
LD Didactic GmbH [3]. Se aprecian
claramente las lneas de emisin
del Molibdeno K (17,48 keV) y K
(19,61
keV)
[2].
aprecian
otras
intensas
que
Tambin
lneas
se
menos Figura 12.4. Espectro de emisin del Molibdeno.
corresponden
a Tomado con el aparato de rayos X LD didactic
hierro, oro y plata provenientes del
GmbH [3], laboratorio de fsica moderna, Depto de
detector.
Fsica PUJ.
Estos picos caractersticos estn superpuestos sobre una radiacin continua originada por
el frenado de los electrones (Bremsstrahlung).
51
12.1.2. Fluorescencia de rayos X
Se llama fluorescencia a la emisin de rayos X caractersticos, llamados tambin

secundarios o fluorescentes, desde un material que ha sido bombardeado por fotones alta
energa (rayos X rayos gamma) [4]. La figura 12.5, ilustra el proceso de fluorescencia
[5].
La radiacin de alta energa es
capaz de provocar una transicin
electrnica, en la que un electrn
es excitado a un nivel superior
Figura 12.5. Mecanismo de fluorescencia de
rayos X.
desocupado,
dejando
provisionalmente desocupado un
estado de baja energa.
Este nivel de baja energa es ocupado por otro electrn, y esta transicin electrnica
provoca la emisin secundaria de otro fotn de rayos X, cuya energa es inferior a la del
fotn que origin la excitacin primaria del tomo en cuestin. Justamente el trmino
fluorescencia hace referencia a fenmenos en que la absorcin de radiacin de cierta
energa da lugar a la posterior re-emisin de radiacin con diferente energa,
generalmente menor [4].
La emisin de rayos X secundarios es caracterstica del material, en el sentido de que

posee informacin sobre las energas de sus niveles electrnicos, lo cual posibilita
identificar el tomo emisor, hecho que la convierte en una tcnica no destructiva para
efectuar anlisis de composicin qumica, o cuando menos la identificacin cualitativa de
elementos que componen una muestra. Esta ltima propiedad es el objeto de la presente
prctica de laboratorio.
52
12.2.
Antes de tomar un espectro de fluorescencia de Rayos X para identificar la composicin

qumica de una muestra, debe calibrarse primero la energa que mide el detector,
tomando un espectro de referencia directamente desde el can de rayos X (El blanco por
defecto es Molibdeno, Mo). El principio de funcionamiento del detector de Rayos X est
descrito en las referencias [6, 7] que incluyen una animacin explicativa. Por lo pronto, es
suficiente comprender que se trata de un arreglo de fotodiodos en el que cada uno de
ellos registra la intensidad de rayos X en cierto intervalo de energa E (denominado
canal). Este intervalo de energa se hace ms pequeo entre mayor sea la cantidad de
canales definidos. En otras palabras, la resolucin del espectro mejora en la medida en
que aumente el nmero de canales, que sin embargo tiene un lmite superior que est
determinado por el nmero de fotodiodos del detector. El espectro de referencia se
registra utilizando el montaje mostrado en la figura 12.6 [8].
PRECAUCION:
En
este
montaje
es
extremadamente
importante
atenuador
colocar
c,
el
para
disminuir la intensidad de
los rayos X que llegan al
detector d y evitar que
ste
se
avere.
atenuador
se
El
monta
sobre el colimador b, que

a su vez est situado
sobre
la
apertura
de
entrada a, desde donde

incide
la
radiacin
proveniente del can de

rayos X.
Figura 12.6. Montaje experimental para tomar el espectro de

referencia para calibracin de energa. El detector d se coloca
directamente sobre la salida del atenuador c, que a su vez
est montado sobre el colimador b. El colimador filtra los rayos
X que provienen de la abertura a de la cmara donde se
localiza el can de rayos X.
53
Para que la seal digital del detector de energa sea procesada por el computador, se
debe conectar el conversor anlogo-digital CASSY desde la salida del aparato de rayos X
al puerto USB del computador.
Previo a la adquisicin del espectro se recomienda:
12.2.1. Encender el detector y esperar algunos minutos hasta que el LED se torne verde.
12.2.2. Abrir el Software de CASSY LAB.
12.2.3. Establecer los siguientes parmetros recomendados para la medicin:
Medida Multicanal, 256 canales, pulsos negativos, voltaje = -2.5 V, tiempo de
medicin de 300 segundos.
12.2.4. PRECAUCION: Verificar que el atenuador c est colocado sobre el colimador b.
12.2.5. Ajustar el can de rayos X a U = 35 KV y con una corriente de emisin i = 0.1
mA.
12.2.6. Encender el can de rayos X.
12.2.7. Luego se procede a adquirir el espectro (F9).
ATENCION: Si la rata de conteo excede significativamente las 200 cps (cuentas por
segundo), debe reducirse la corriente de emisin.
Como resultado de la medicin, se adquiere un espectro similar al ilustrado en la figura
12.7, el cual fue registrado usando un can de rayos X con blanco de Molibdeno.
La ordenada corresponde a la
Fuente de Molibdeno
rata de conteo (cps), mientras
5000
que la abcisa registra la lectura

4000
de cada uno de los 256
3000
canales que se usaron en la
2000
medicin.
1000
principales corresponden a las
lneas de emisin K y K de la
1
51
101
151
201
251
referencia para un cann de rayos X de Molibdeno.
dos
picos
fuente de Molibdeno, mientras

que
Figura 12.7. Medicin multicanal del espectro de
Los
los dems picos
son
artefactos originados por los

materiales que constituyen el
detector de energa.
54
El procedimiento de calibracin de energa se efecta usando la rutina especificada en la

ventana Calibracin de energa (Alt+E). En la opcin calibracin global de energa se
puede asignar la energa de 17.48 eV al pico principal K , y la energa 19.61 eV al
segundo pico ms intenso K. Despus de estaq asignacin, la abcisa del espectro toma
un aqspecto similar al mostrado en la figura 12.4.
A partir de este procedimiento de calibracin, el software permite la identificacin de
cualquier otra lnea del espectro y de espectros que se tomen posteriormente, usando la
opcin del men Energas de rayos X.
La adquisicin de otro espectro, proveniente de una muestra slida requiere la deteccin
de rayos X proveniente de emisin secundaria de rayos X (fluorescencia) por parte de la
muestra, una vez que ha sido excitada con la energa primaria proveniente del can de
rayos X. La configuracin geomtrica ptima para la adquisicin del espectro de
fluorescencia de la muestra bajo estudio se ilustra en la figura 12.8 [6].
En esta configuracin ya no es necesario
usar el atenuador. Basta solo con usar el
colimador a) y acoplar el portamuestras b)
con
el
detector
c).
Los
parmetros
recomendados para la adquisicin de

datos son: Medida Multicanal, 256 canales,
pulsos negativos, voltaje = -6.0 V, tiempo
de medicin de 300 segundos. Ajustar el
can de rayos X a U = 35 KV y aumentar
la corriente de emisin i = 1 mA.
Figura
12.8.
Configuracin
geomtrica
Hay un kit de materiales para comprobar la
recomendada
calibracin
espectros de fluorescencia de rayos X para
de
energa
efectuada
previamente.
para
la
adquisicin
de
muestras slidas.
Sin embargo, la experiencia de identificacin de materiales se torna ms interesante

cuando se toma un espectro de un material de composicin desconocida pero con
algunas pistas. El estudiante puede apoyarse para su identificacin con las tablas de la
referencia [2] de libre adquisicin en la red.
55
12.3.
Referencias
[1] Figura tomada de la agencia australiana para la proteccin de radiacin y seguridad

nuclear. http://www.arpansa.gov.au/radiationprotection/basics/xrays.cfm (ltima visita,
abril de 2011).
[2] X-Ray data booklet. Publicado por el centro para ptica de rayos X y fuentes
avanzadas de luz del Lawrence Berkeley National laboratory (USA). http://xdb.lbl.gov/
[3] Aparato de rayos X LD-Didactic GmbH.
http://www.ld-didactic.de/index.php?id=128&L=2
[4] Wikipedia. http://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_fluorescence. ltima consulta, abril de
2011.
[5] Figura tomada de Wikimedia commons.
http://en.wikipedia.org/wiki/File:X-ray_fluorescence_simple_figure.svg
[6] LD Physics Leaflets P6.3.5.1 .LD Didactics GmbH. Recording and calibrating an XRay energy spectrum. http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6351_e.pdf
[7]
Ketek
pginal
oficial.
Function
of
silicon
drift
detector.
http://www.ketek.net/index.php?id=207 Junio de 2011.

[8] LD Physics leaflets P6.3.5.2. LD Didactics GmbH. Recording the energy spectrum of a
molybdenum anode. http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6352_e.pdf
56
Prctica 13
Efecto Hall
Con esta prctica se quiere determinar experimentalmente la concentracin y tipo de

portadores de carga de un semiconductor de Germanio a temperatura ambiente,
basado en el efecto Hall.
Existe una diversidad de tcnicas para determinar cada uno de los parmetros intrnsecos
que caracterizan las propiedades elctricas de un material. En particular, para determinar
la densidad de portadores de carga , la tcnica ms empleada es la de medicin del
voltaje Hall VH. Este voltaje resulta de la aplicacin de una corriente a un material en
presencia de un campo magntico, debido fundamentalmente a la fuerza de Lorentz, que
acta sobre cargas en movimiento bajo la accin de un campo magntico. El
descubrimiento de este efecto en 1879 se debe Edwin H. Hall, quien estaba realizando
investigaciones sobre la modificacin de la resistencia elctrica de los materiales en
presencia de un campo magntico, fenmeno conocido como magnetoresistencia.
Para un tratamiento ms riguroso del origen del efecto Hall, se recomiendan las
referencias [1-3]. Este voltaje resulta de un anlisis juicioso de la fuerza magntica que
acta sobre cada portador de carga (electrn hueco).
57
a)
b)
Figura 13.1. Ilustracin del origen del efecto Hall. a) La fuerza de Lorentz actuando sobre
un electrn [1]. b) Parmetros medibles en el experimento de Hall [4].
En la figura 13.1a se ilustra el efecto de la fuerza de Lorentz (dada por la ecuacin 13.1),
cuando acta sobre un electrn.
(13.1)
Para el caso de un electrn, se muestra que hay una acumulacin de electrones en un

borde de la muestra y, en el supuesto de un material neutro, los huecos (representados
como cargas positivas) se acumularan en la otra cara de la muestra. Como
consecuencia, se genera un campo elctrico de origen columbiano
, dirigido desde las
cargas positivas (huecos) hacia las cargas negativas (electrones), el cual es el origen del
voltaje Hall medido
. La polaridad de este voltaje cambia si los portadores de carga son
mayoritariamente huecos.
La figura 13.1b ilustra los parmetros medibles en un experimento de Hall DC. Usando
una fuente de voltaje DC (o de corriente DC) se hace circular una corriente
sobre una
muestra en forma de pelcula delgada de espesor , en presencia de un campo magntica

de intensidad . Como resultado, se detecta una diferencia de potencial
cuya polaridad
58
depende del tipo de portadores de carga mayoritarios en el semiconductor, y que est

dada por la ecuacin 13.2:
(13.2)
Para la presente experiencia, se tiene un semiconductor de Germanio de un milmetro de
espesor
. Se usar una aplicacin basada en el software
LabView 8.5 (ver anexo A), el cual permite medir el voltaje Hall para diversos valores de
intensidad de corriente. El propsito de variar la corriente es poseer una buena cantidad
de datos para el voltaje hall resultante, de tal manera que el error en la medicin se
reduce considerablemente.

Se trata bsicamente de implementar el esquema mostrado en la figura 13.1b. Una vista
general del montaje, se ilustra en la figura 13.2.
Figura 13.2. Fotografa que ilustra el montaje general e instrumentos que van a ser
empleados en la prctica.
59
La muestra semiconductora est montada sobre una tarjeta Phywe 11802, cuyos detalles
de conexin sern tratados ms adelante. Esta tarjeta debe colocarse entre los polos del
electroimn Phywe 06480.01, el cual est alimentado por su respectiva fuente Phywe
13531.93. Para hacer circular la corriente sobre la muestra se emplea la fuente de
corriente de precisin Keithley 6220, y el respectivo voltaje Hall es medido por el
nanovoltmetro Keithley 2182. Antes de hacer este montaje, debe medirse la intensidad
del campo magntico, cuyo procedimiento se describe en la siguiente seccin.
13.2.1. Calibracin del campo magntico
Los elementos necesarios para medir el campo magntico son el Teslmetro digital
Phywe 13610.93 (figura 3a) y la sonda Hall axial Phywe 13610.01 (Figura 13.3b). La
magnitud del campo magntico en miliTesla puede medirse en tres rangos diferentes,
insertando el conector de la sonda hall en el correspondiente socket del teslmetro. La
direccin del campo magntico viene determinada por la cara marcada con signo positivo
(+). Una magnitud positiva indica que esta cara est orientada hacia el polo positivo del
electroimn y viceversa. Curiosamente, la sonda hall debe su nombre a que es un
transductor que en presencia de un campo magntico induce un voltaje que es
proporcional a la intensidad del campo magntico.
Figura 13.3. Instrumentos para medicin del campo magntico. a) Teslmetro digital
Phywe 13610.93 b) Sonda hall axial Phywe 13610.01. La Hoja de instrucciones de uso de
estos instrumentos est disponible en la referencia [5].
60
El campo magntico es generado por un electroimn DC Phywe 06480.01, al que se le

adaptan dos polos metlicos entre sus respectivas bobinas (ver figura 13.4). Detalles
sobre las instrucciones de uso de este electroimn se encuentran disponibles en internet
bajo la referencia [6].
Como precauciones a tener en cuenta, este
electroimn debe usarse con la fuente de
potencia Phywe 13531.93, a una corriente
de operacin normal a 4 A, mximo 5 A por
20 minutos.
La intensidad del campo
magntico depende de la distancia entre

Figura 13.4. Electroimn Phywe 06480.01
los polos, la cual puede variarse usando los

tornillos ajustables mostrados en la fig.
13.5.
Por supuesto, tambin la intensidad del campo magntico depende de la corriente que
circula sobre sus bobinas. Como para tener una referencia acerca de los valores de
intensidad del campo magntico proporcionados por el electroimn para una corriente de
5 A, se muestra la siguiente tabla:
Distancia (mm)
2.5
5.0
10.0
20.0
B (T)
1.3
1.1
0.7
0.45
Los valores fueron tomados del manual del usuario del electroimn DC Phywe 06480.01
[6] .
13.2.2. La muestra semiconductora.
Un monocristal de Germanio est contenido en la tarjeta Phywe 11802.00 (de tipo n, en

este caso), que permite tener conexiones elctricas a los instrumentos, sin perturbar la
muestra cuando ella est en el gap entre los polos del electroimn. Las conexiones a los
instrumentos se ilustran en la figura 13.5.
61
Figura 13.5. Tarjeta Phywe 11802.00 que contiene la muestra semiconductora de

Germanio.
El cristal de germanio tipo n est sealado con el nmero 1. Los extremos del cristal van
conectados a la fuente de corriente Keithley 6220. Atencin debe prestarse a la polaridad
de la muestra: el conector positivo (2.1) debe conectarse al terminal rojo de la fuente de
corriente, mientras que el terminal negro se conecta al conector negativo (2.2). Los
contactos para medir el voltaje Hall se sealan con el nmero 3, y debe tenerse en cuenta
la forma en que se conecta al nanovoltmetro Keithley 2182, pues la polaridad del voltaje
Hall est determinada por el tipo de portadores mayoritarios (electrones o huecos). Como
regla general, el terminal rojo mide el potencial con respecto al terminal negro. Las otras
conexiones ilustradas en la figura 13.5 no sern utilizadas en la presente prctica.
62
13.2.3. Adquisicin de datos por el computador.
Una vez medido el campo magntico con el teslmetro, se implementa el montaje

mostrado en la figura 13.2. Tanto la fuente de corriente, como el nanovoltmetro son
controlados por el computador a travs de un puerto GPIB, y la adquisicin de datos se
realiza a travs de una aplicacin desarrollada usando el software Labview 8.5.1 de
National Instruments. La aplicacin se llama IV only.vi. Y la interface de usuario se
ilustra en la figura 13.6.
Figura 13.6. Interface de usuario de la aplicacin IV only.vi desarrollada con el software

Labview 8.5.1 para adquisicin de datos.
Para quienes estn interesados en el cdigo fuente del programa, este se anexa a la
presente gua [7].
El programa IV only.vi permite efectuar un barrido de corriente sobre la muestra, es decir
la fuente de corriente inyecta la corriente a la muestra empezando por el valor inicial en
amperes establecido en el control titulado Corriente inicial / A. El voltaje originado en los
contactos 3 es medido por el nanovoltmetro y mostrado en el indicador rotulado como
63
Voltaje / V. A continuacin el programa incrementa la corriente en la cantidad sealada

en el control titulado paso / A, y espera durante un segundo y vuelve a medir el voltaje
en los contactos 3, que se vuelve a mostrar en el indicador de voltaje. Estos valores de
corriente aplicada y voltaje medido se grafican simultneamente sobre la pantalla titulada
I-V Characteristics. Este proceso se repite hasta que la corriente alcance el valor lmite
establecido en el control rotulado como Corriente lmite / A. Finalmente, todo este
conjunto de datos se guarda en el archivo, cuya ubicacin est escrita en el control
superior derecho. La ejecucin de la aplicacin se inicia presionando sobre el botn con la
flecha, situado en la parte superior izquierda, y se interrumpe automticamente, excepto
que voluntariamente se desee hacerlo, en cuyo caso es recomendable presionar el botn
STOP de la aplicacin, para evitar complicaciones en la comunicacin entre el PC y los
instrumentos Keithley.
13.3. Procedimiento para la realizacin del experimento
Una vez descritos los montajes, el procedimiento a seguir para realizar la medicin del
efecto hall se efecta mediante los siguientes pasos:
13.3.1. Calibracin del campo magntico entre los polos del electroimn.
13.3.1.1.
Mover los tornillos del electroimn hasta que la distancia entre sus polos sea
aproximadamente de 3 mm.
13.3.1.2.
Conectar la sonda hall al teslmetro y encenderlo.
13.3.1.3.
Colocar la sonda Hall en el interior del electroimn, entre los dos polos SIN
CONECTAR.
13.3.1.4.
Mover el control de calibracin hasta que el indicador digital seale cero.
13.3.1.5.
Conectar el electroimn a la fuente de voltaje. Antes de encender la fuente,

verifique que el control de corriente este en su mnimo. A continuacin
encienda la fuente y amplifique gradualmente hasta que se alcance un valor de
4 A. Espere aproximadamente dos minutos y mida el valor y POLARIDAD del
campo magntico. (se recomienda leer las instrucciones de uso de la sonda
Hall para determinar la polaridad del campo magntico [8]).
64
13.3.1.6.
Devuelva el control de la fuente del electroimn a su valor mnimo, y apguela.

Tambin apague el teslmetro, retire la sonda Hall y gurdela.
13.3.2. Realizacin del montaje.
13.3.2.1.
Con ayuda de un soporte fije la tarjeta, de tal manera que pueda insertarse
cmodamente entre los polos del electroimn, y el semiconductor quede
justamente horizontal entre los polos y aproximadamente en la misma posicin
donde se encontraba la sonda hall cuando se midi el campo magntico.}
13.3.2.2.
Extraiga la tarjeta y conecte la fuente de corriente Keithley 6220 a los

contactos 2, y el nanovoltmetro Keithley 2182 a los contactos 3,
respectivamente. Anote bien la configuracin, pues es decisivo para poder
determinar si el semiconductor es de tipo N o P.
13.3.3. Medicin del voltaje hall.

13.3.3.1.
Encender el PC y los instrumentos Keithley (fuente de corriente y

nanovoltmetro). Despus de verificar que los instrumentos estn conectados a
travs de un cable GPIB, abrir el programa Labview 8.5.1. Busque la
aplicacin IV only.vi y brala. Como resultado se mostrar la interface de
usuario ilustrada en la figura 13.7.
13.3.3.2.
Escriba el nombre de archivo en el control de la parte superior derecha.
13.3.3.3.
Por seguridad el semiconductor debe someterse a corrientes pequeas. Un

buen punto de comienzo sera sealar en los controles una corriente inicial de 10
, una corriente final de 10
, y un paso de 1
. Con esto se pretende
que la fuente de corriente inyecte una corriente haciendo un barrido con 21

mediciones desde -10
, hasta 10
, en intervalos de 1
. Cada segundo,
la aplicacin registra los valores de corriente aplicada y voltaje resultante en el

respectivo indicador, adems los grafica y finalmente guarda en el archivo
indicado. El formato es de tipo ASCII, de tal manera que cualquier hoja
electrnica (tipo Excel, origin, etc.) los puede leer y procesar posteriormente.
13.3.3.4.
Antes de encender la fuente del electroimn, asegrese de que el botn de

control de corriente est en su mnimo. Encindala, y
gradualmente
establezca la corriente hasta una intensidad de 4 A. En principio, el valor del

campo magntico aplicado a la muestra semiconductora, debe coincidir con el
medido en el apartado 1. A continuacin, cambie el nombre de archivo de la
65
aplicacin IV Only.vi y ejecute el programa, accionando la el botn con la

flecha. Como resultado, debe obtenerse una caracterstica I-V lineal. Si ese no
es el caso, es decir que no se aprecia un cambio significativo en la pendiente
de la caracterstica I-V, se aconseja incrementar el valor de todos: la corriente
inicial, final, y el paso en un orden de magnitud, y efectuar las mediciones con
el campo magntico aplicado.
Una vez finalizada la medicin, apague la
fuente generadora del campo magntico.

13.3.3.5.
Invierta la polaridad de la fuente del campo magntico y repita la medicin,

siguiendo el procedimiento descrito en el numeral 3.4.
13.3.4. Gua para anlisis de las mediciones de efecto Hall
Siguiendo las instrucciones, se obtienen dos archivos en los que se tiene la

caracterstica IV con el campo magntico en ambas polaridades, respectivamente.
Este procedimiento se efecta porque an en ausencia de campo magntico,
existe un voltaje residual
en el lugar de los contactos Hall (electrodos 3 en la
figura 13.5). La idea de tomar dos mediciones con ambas polaridades de campo
magntico es justamente eliminar este voltaje residual
. Cuando se realiza la
primera medicin, los contactos Hall registran una superposicin del voltaje Hall y
el voltaje residual (ecuacin 13.3):
(13.3)
Al efectuar la segunda medicin con el campo magntico en direccin contraria,

se espera que solo el voltaje Hall tenga polaridad contraria, y por tanto el voltaje
medido para esta segunda medicin estar dado por la ecuacin 13.4:
(13.4)
Esto se debe a que el voltaje residual es independiente de la polaridad del campo

magntico. Por lo tanto, para obtener el voltaje Hall en la muestra, basta con restar
los voltajes medidos (ec. 13.5):
66
(13.5)
Este procedimiento debe efectuarse para el voltaje hall medido para cada valor de
corriente. De esta manera puede obtenerse una grfica de voltaje Hall en funcin
de la corriente aplicada
, que de acuerdo con la ecuacin 13.2 debe
presentar un comportamiento lineal que es de fcil interpretacin y permite obtener

la densidad y el tipo de portadores de carga
13.4.
del semiconductor de Germanio.
Referencias
[1] Tipler-Mosca. Fsica para la ciencia y la tecnologa. Vol 2A. 5 edicin. Editorial
Revert (2005). ISBN: 84-291-4404-8
[2] J. Singh. Physics of semiconductors and their heterostructures. Mc Graw Hill,Inc.
International edition (1993). ISBN: 0-07-057607-6
[3] P. Blood and J.W. Orton. The electrical characterization of semiconductor majority
carriers and electron states. Academic Press Ltd. (1992). ISBN: 0-12-528627-9.
[4] Ilustracin tomada de en.wikipedia.org. Agosto de 2010.
[5] Hoja de instrucciones de uso del teslmetro digital Phywe 13610.93. Agosto 2010.
http://www.phywe.com/index.php/fuseaction/download/lrn_file/bedanl.pdf/13610.93/e/1361
093e.pdf
[6] Hoja de instrucciones de uso del electroimn Phywe 06480.01
http://www.phywe.com/index.php/fuseaction/download/lrn_file/bedanl.pdf/06480.01/e/0648
001e.pdf .
[7] Hernndez Moreno, Clara Patricia. Estudio de propiedades optoelectrnicas de
materiales empleados en la construccin de diodos orgnicos emisores de luz (OLEDs).
Tesis de pregrado Ingenieria electrnica. Pontificia Universidad Javeriana (2010).
67
Prctica 14
Resistividad de un metal vs. temperatura
En esta experiencia se determina la curva de resistividad de un metal en funcin de la

temperatura, y a partir de ella se determina el coeficiente de temperatura para la
resistencia del metal , con base en mediciones de la resistencia elctrica R de una
lmina de cobre (Cu), que se calienta gradualmente hasta lograr un incremento de
aproximadamente 200C en su temperatura.
14.1.
Principios Fsicos
Una de las propiedades caractersticas de los metales es el incremento de su resistencia

elctrica cuando su temperatura aumenta. La explicacin sobre el origen de este
comportamiento difiere, segn se trate desde el punto de vista de la teora clsica de
Drude o diferentes modelos basados en desarrollos de la fsica moderna y la fsica del
estado slido. Aunque la dependencia entre la resistencia de un metal y su temperatura
no es necesariamente lineal, para un buen nmero de ellos y para cierto rango de
temperaturas esa relacin lineal puede ser aproximadamente vlida. Esto quiere decir que
la resistencia elctrica elctrica R en funcin de la temperatura T se rige
aproximadamente por la ecuacin 14.1 [1]:
(14.1)
donde
es la temperatura de referencia (la temperatura ambiente para este caso),
es la resistencia del material a la temperatura de referencia (resistencia inicial),

es la diferencia de temperaturas y es el coeficiente de temperatura para la
resistencia del metal.
68
Para elaborar la curva que expresa la dependencia entre la resistividad y la temperatura

de un material, debe determinarse la resistencia y del material mientras la temperatura
permanece aproximadamente constante, y adems deben tenerse en cuenta las
dimensiones y geometra del material. La resistencia del material puede medirse
utilizando una gran variedad de mtodos. Puesto que se trata de una lmina conductora,
en la presente experiencia se propone medir la resistencia utilizando el mtodo de dos
puntas que consiste en aplicar una diferencia de potencial entre dos contactos, y medir la
corriente inyectada a la muestra. La resistencia puede calcularse directamente a partir de
la ley de Ohm macroscpica:
(14.2)
A partir de all, y suponiendo que la muestra es homognea, en la que no hay una

variacin significativa en la relacin geomtrica entre las dimensiones del material, puede
determinarse la resistividad del material. Para mejorar la exactitud de las mediciones, la
resistencia no se determina por una simple medicin de corriente y voltaje para cada
temperatura, sino a partir de su caracterstica corriente-voltaje (I-V), en la que se toman
como mnimo 20 mediciones de corriente inyectada y voltaje aplicado. La exactitud de la
medicin se garantiza mientras se asegure que la temperatura permanece constante
durante la adquisicin de datos de corriente y voltaje. Para ello las mediciones de
corriente y voltaje deben efectuarse de una manera rpida y es muy til el empleo de un
computador programado para esa tarea. Para un material conductor, la caracterstica I-V
presenta una dependencia lineal, y de su pendiente puede deducirse la resistencia
elctrica del material.
14.2.
La caracterstica I-V del material se efecta usando el programa para adquisicin de datos
I-V Only, basado en la plataforma LabView 8.5.1 de National Instruments [2], que
controla la fuente de corriente de precisin Keithley 6220 y el nanovoltmetro Keithley
69
2182 [3]. Como prametros de adquisicin de datos se recomienda inyectar la corriente

desde -100 mA hasta 100 mA en pasos que incrementan la corriente en 10 mA cada
segundo, con esto pueden obtenerse una caracterstica I-V que contiene 20 mediciones
experimentales en un tiempo menor a 30 segundos. El montaje experimental se basa en
la placa de cobre para efecto hall 11803.00 suministrada por Phywe [4] que se muestra en
la figura 14.1.
Figura 14.1. Placa de cobre Phywe 11803.00 para medicin de resistividad y efecto Hall
en funcin de la temperatura. 1- Lmina de cobre. 2- Contactos para inyeccin de
corriente y medicin de voltaje con el mtodo de dos puntas. 3- Contactos para medicin
de voltaje Hall. 4- Baquelita. 5- Contactos para calentar la placa de cobre. 6- Termocupla.
7- Contactos para medir el termovoltaje.
Los terminales indicados con el nmero 2 se usan para determinar la caracterstica

corriente-voltaje de la muestra. Para incrementar la temperatura, se inyecta corriente
sobre los terminales 5, que suministra la potencia al calentador, el cual tiene forma de
serpentn y est aislado de la muestra por una lmina de baquelita. Se recomienda usar
para el calentador un voltaje mximo de 8V ( ~ 5A), con esta potencia se puede llegar a
un incremento de 175C. La termocupla (6) es de tipo T (Cu CuNi) y permite medir la
temperatura de la muestra a travs de un voltmetro de precisin Fluke 8842A [5]. En
primera aproximacin se tiene una variacin de 1C por cada 40V, sin embargo para un
70
registro ms preciso de la temperatura se usa la tabla de referencia certificada por la NIST

(National Institute of Standards and Technology) [6].
El procedimiento para la realizacin del experimento consiste entonces en registrar la

caracterstica I-V de la muestra y a continuacin incrementar ligeramente la potencia
elctrica del calentador, lo ocasionar un ligero incremento de la temperatura, que puede
leerse a travs del multmetro. Cuando la lectura alcance un valor estacionario, se
procede a realizar otra medicin de la caracterstica I-V y se contina incrementando la
potencia del calentar, y as sucesivamente se registra la caracterstica I-V para cada
temperatura, lo cual permitir obtener la curva de resistividad en funcin de la temperatura
de la muestra, teniendo en cuenta las dimensiones de la placa de cobre: largo = 35.0
0.5 mm, ancho = 25.0 0.5 mm y espesor = 18.0 0.5 mm.
14.3.
Referencias
[1] Wikipedia en versin inglesa. http://en.wikipedia.org/wiki/Temperature_coefficient.

Junio de 2011.
[2] Pgina oficial de national Instruments. http://www.ni.com/labview/whatis/esa/. Junio de
2011.
[3] Pgina oficial de Keithley instruments. http://www.keithley.com/products. Junio de
2011.
[4] Placa de cobre Phywe 11803.00 para medicin de efecto Hall.
http://fys.kuleuven.be/pradem/handleidingen/Halleffect%20bij%20koper.pdf. Junio de
2011.
[5] Pgina oficial del fabricante Fluke Corporation.
http://www.fluke.com/fluke/usen/products/categorydmm.htm . Junio de 2011.
[6] Pgina oficial del fabricante de termocuplas Omega Inc.
http://www.omega.com/temperature/z/pdf/z207.pdf. Junio de 2011.
71
Prctica 15
Caracterizacin elctrica de un diodo PN
Mediante la caracterstica corriente-voltaje (I-V) de un diodo PN es posible hallar

parmetros fsicos importantes como la constante de Planck , la corriente de saturacin
y a partir de esta ltima el potencial de difusin
, tambin conocido como barrera de
potencial a travs de la juntura PN.
15.1.
Principios fsicos
La solucin de las ecuaciones de Poisson y de continuidad, junto con la aplicacin de las

condiciones de frontera para difusin y recombinacin de portadores de carga a travs de
la juntura PN, conlleva a una expresin que relaciona la corriente inyectada a travs de
una juntura en dependencia del voltaje aplicado (caracterstica corriente-voltaje I-V) dada
por la ecuacin 1[1,2]:
(15.1)
donde
es la carga del electrn,
es la constante de Boltzmann y
la temperatura de
operacin del diodo. Teniendo en cuenta el valor de la energa trmica a temperatura

ambiente
, es fcil observar que para voltajes aplicados mayores a 0.1 V el
trmino exponencial es mucho mayor que la unidad y por consiguiente la ecuacin 1

puede simplificarse a la expresin:
(15.2)
72
Con esta aproximacin es fcil apreciar que bsicamente la corriente a travs de un diodo
se incrementa exponencialmente con el voltaje aplicado. Esto permite una fcil
linealizacin de la caracterstica I-V del diodo y a partir de all extraer informacin sobre
los parmetros buscados: la constante de Boltzmann, la corriente de saturacin y la altura
de la barrera de potencial a travs de de la juntura PN.
15.2.
La caracterstica I-V del diodo se usa el mtodo de dos puntas, en el que la fuente de
corriente de precisin Keithley 6220 y el nanovoltmetro Keithley 2182 [3] se conectan
directamente a las terminales del diodo, teniendo en cuenta su polaridad directa. La
adquisin de datos se efecta con el programa I-V Only, basado en la plataforma
LabView 8.5.1 de National Instruments [4], que controla la fuente de corriente y el
nanovoltmetro, y permite obtener un archivo tipo ASCII para poder efectuar el tratamiento
de un gran nmero de datos de las mediciones.
15.3.
Referencias
[1] Ben G. Streetman, Sanjay Kumar Banerjee. Solid state electronic devices. PearsonPrentice Halls. Philadelphia 6 th edition (2006). ISBN: 978-0131497269.
[2] Britney Spears guide to semiconductor physics. The PN Junction.
http://britneyspears.ac/physics/pn/pnjunct.htm. Junio de 2011.
[3] Pgina oficial de Keithley instruments. http://www.keithley.com/products. Junio de
2011.
[4] Placa de cobre Phywe 11803.00 para medicin de efecto Hall.
http://fys.kuleuven.be/pradem/handleidingen/Halleffect%20bij%20koper.pdf. Junio de
2011.
73
Prctica 16
Estructuras cristalinas
Mediante esta prctica se identifican las simetras y propiedades bsicas de las

estructuras cristalinas cbicas: cbica simple (Simple cubic - SC), cbica centrada en las
caras (Face-centerd cubic - FCC), cbica centrada en el cuerpo (Body-centered cubic
BCC) y la estructura de tipo Zinc-Blenda [1].
16.1 Detalles experimentales
En esta prctica se usarn los kits diseados para construir estructuras cristalinas. Cada
grupo de laboratorio usar dos kits para construir las estructuras cristalinas SC, FCC,
BCC y Zinc Blenda en los que se identificar:
16.1.1. Los vectores primitivos.
16.1.2. La celda primitiva
16.1.3. La constante de red.
16.1.4. La celda de Wigner-Seitz
16.1.5. Las principales operaciones de simetra [2].
16.2. Referencias
[1] Dr. S.J. Heyes. Structure of simple inorganic solids.

http://www.chem.ox.ac.uk/icl/heyes/structure_of_solids/strucsol.html. Junio de 2011
[2] Prof. Stephen A. Nelson. Tulane University. Introduction and symmetry operations.
http://www.tulane.edu/~sanelson/eens211/introsymmetry.htm. Junio de 2011.
74
Prctica 17
La dualidad onda-partcula de la luz
El efecto fotoelctrico es usado en esta prctica para mostrar que la luz posee
propiedades que en determinados experimentos ordinariamente son asociadas a
partculas, mientras que bajo otras condiciones manifiestan propiedades asociadas a
ondas (interferencia, difraccin). La demostracin del efecto fotoelctrico en este
experimento es nicamente de tipo cualitativo.
El efecto fotoelctrico consiste en la emisin de electrones por un material sometido a

radiacin de suficiente energa (figura 17.1) [1].
El fenmeno fue registrado por primera vez
en 1887 por Heinrich Hertz , razn por la
que tambin este fenmeno fue conocido
como efecto Hertz[2]. El estudio de este
fenmeno contribuy sustancialmente al
entendimiento de la naturaleza cuntica de
la luz y los electrones e influenci la
formacin del concepto de dualidad ondaFigura 17.1. Emisin de fotoelectrones.
Figura tomada del museo de ciencia y
tecnologa de Canad [1].
partcula [3]. Bajo este concepto tanto la luz

como
la
materia
en
general
posee
caractersticas tanto de onda, como de

partcula.
75
La faceta ondulatoria o corpuscular de la materia se manifiesta dependiendo de las

circunstancias [4]. El efecto fotoelctrico no pudo ser explicado por la teora clsica del
electromagnetismo, debido a que la energa de los electrones emitidos no depende de la
radiacin incidente [5]. Albert Einstein en 1905 efectu una descripcin matemtica de
este fenmeno asumiendo que la luz est compuesta de cuantos discretos llamados
fotones, cuya energa era proporcional a la frecuencia de la onda electromagntica. Este
resultado coincida con la hiptesis de Plack para explicar la radiancia de un cuerpo
negro. Einstein explic el efecto fotoelctrico en trmino de que un fotn con frecuencia
superior al umbral posee energa suficiente para expulsar un electrn del material. Esta
explicacin y sus consecuencias para fundamentar la teora cuntica y entender la
naturaleza de la dualidad onda-partcula le hizo acreedor del premio Nobel de Fsica en
1921.
La figura 17.2 ilustra tres evidencias experimentales relacionadas con el efecto

fotoelctrico [6].
Figura 17.2. Experimentos con efecto fotoelctrico. Figura tomada de School physics [6].
76
El experimento se efecta con un electroscopio cargado con una vara plstica o una
mquina de Whimshurt. En la primera secuencia, se observa que un electroscopio
conectado a una placa de Zinc cargada no es afectado cuando ste es iluminado con un
lser rojo. En la segunda secuencia se observa que la radiacin ultravioleta no afecta a la
placa de zinc cuando sta es cargada positivamente. En cambio en la secuencia tres se
observa que al iluminarse con luz ultravioleta, s hay una descarga del electroscopio
cuando est conectado a una placa de zinc cargada negativamente. Estos experimentos
muestran que efectivamente, hay desprendimiento de electrones por efecto de la
radiacin, y adems que los fotoelectrones se generan slo para radiaciones de mayor
frecuencia.
Adems de estas evidencias experimentales las investigaciones efectuadas con montajes

ms sofisticados en sistemas de vaco y usando detectores de electrones, han mostrado
que el nmero de electrones emitidos por segundo depende de la intensidad de la
radiacin incidente, y que la energa de los fotoelectrones depende de la frecuencia de la
radiacin incidente. Estos hechos no pueden explicarse con la teora clsica del
electromagnetismo, asumiendo que la luz es una onda electromagntica. Un seguimiento
ms detallado muestra que para cada material hay una frecuencia umbral, a partir de la
cual hay emisin de fotoelectrones cuando se ilumina con radiacin de mayor frecuencia,
y no hay emisin de fotoelectrones para frecuencias inferiores [6].
17.3. Referencias
[1]
Museo
de
ciencia
tecnologa
de
Canad.
http://www.sciencetech.technomuses.ca/english/whatson/sudbury_neutrino_observatory_p
art03.cfm . Junio de 2011.
[2] Weisstein, Eric W. (2007), "Eric Weisstein's World of Physics", Eric Weisstein's World
of Science, Wolfram Research.
[3] Serway, Raymond A. (1990). Physics for Scientists & Engineers (3rd ed.). Saunders.
pp. 1150. ISBN 0030302587.
77
[4] Wikipedia versin inglesa. http://en.wikipedia.org/wiki/Photoelectric_effect#cite_noteserway_1-0 . Junio de 2011.

[5] Robert Resnick, Basic Concepts in Relativity and Early Quantum Theory, Wiley, 1972,
p. 137.
[6]
Keith
Gibbs,
School
Physics
(2010).
http://www.schoolphysics.co.uk/age16-
19/Quantum%20physics/text/Photoelectric_effect/index.html. Junio de 2011.
78
Prctica 18
El efecto fotoelctrico I
El objetivo de este experimento es determinar el valor del cuanto de accin de Planck

(ms conocida como constante de Planck
) midiendo el contravoltaje de frenado de
electrones para diferentes longitudes de onda.
Segn Einstein la explicacin del efecto fotoelctrico se basa en la transferencia de

energa del fotn al electrn:
(18.1)
Usando la hiptesis de Planck y descomponiendo la energa del electrn en sus

componentes cintica
y potencial
se tiene:
(18.2)
La energa potencial se considera que es la energa necesaria para que el electrn pueda
salir del slido, y se denomina como funcin trabajo ,
(18.3)
Para medir la energa cintica, en esta prctica se utilizar el mtodo del contravoltaje.
Este mtodo consiste en aplicar una diferencia de potencial (potencial de frenado) que
contrarreste la energa cintica que posee el electrn cuando es expulsado del material.
Una ilustracin del mtodo se ilustra en la figura 18.1 [1].
79
Cuando el electrn es expulsado del

metal por efecto de la radiacin, ste
posee cierta energa cintica que le
permite alcanzar la placa C, que est
conectada a un detector de carga
(electrmetro). Al aplicarse a la placa
C un potencial negativo con respecto
al metal (contravoltaje), el electrn
experimentar una disminucin en su
velocidad (frenado) por efecto del
campo elctrico aplicado. Si el campo
es suficientemente intenso es posible
Figura
18.1.
Esquema
del
experimento
fotoelctrico por el mtodo de contravoltaje.

Imagen
tomada
de
la
pgina
Fsica
ordenador de Angel Franco Garca [1].
con
hacer que el electrn pierda toda su

energa cintica e incluso retorne de
vuelta
al
metal
de
donde
fue
expulsado previamente.
Cuando se alcanza esa condicin, el electrmetro no detectar ninguna carga, puesto que
ningn electrn posee energa cintica suficiente para alcanzar la placa C. De esta forma
se puede medir la energa cintica mxima de los fotoelectrones emitidos, aplicando un
contravoltaje
tal que el electrmetro no registre ninguna carga. Un applet ilustrativo
del mtodo de contravoltaje se puede apreciar en la referencia [1]. De esta manera, la

ecuacin 18.3 se transforma en:
(18.4)
Donde
18.2.
es la carga del electrn.
En la figura 18.2 se muestra el montaje experimental propuesto [2]. La lmpara de

mercurio es la fuente de radiacin con una amplia gama de longitudes de onda que se
extiende hasta el ultravioleta. Su frecuencia mxima puede ser limitada por un filtro F.
80
Figura 18.2. Montaje experimental para el experimento fotoelctrico. Figura tomada del
montaje propuesto por la firma LD-Didactics GmbH [2].
La lmpara se sita frente a la fotocelda Phywe 06778 [3], la cual contiene un par de
lminas metlicas (ctodo y nodo) dentro de una ampolleta de vidrio al vaco. El ctodo
es el metal (platino, Pt) que va a ser iluminado por la lmpara, mientras que el nodo
(Potasio, K) colecta los fotoelectrones emitidos y est conectado al electrmetro
amplificador. Se escoge potasio como material del nodo debido a que los elementos
alcalinos (grupo I de la tabla peridica) tienen una funcin trabajo pequea porque los
electrones de valencia estn muy dbilmente enlazados.
Los fotoelectrones que alcanzan el nodo son detectados por el electrmetro y su seal
es amplificada dando lugar a una fotocorriente. El contravoltaje
es aplicado hasta
anular la fotocorriente.
El procedimiento se repite colocando diversos filtros que limitan la frecuencia mxima de

emisin de la lmpara de Mercurio. De esta forma, puede medirse el potencial de retardo
, en funcin de la frecuencia de la radiacin incidente . La grfica resultante permite
deducir el valor de la constante de Planck , teniendo como referencia la ecuacin 18.4.
De all incluso podra deducirse el valor de la funcin trabajo del ctodo, sin embargo, si
se tiene en cuenta la contribucin del nodo, el valor resultante correspondera a la suma
de las funciones trabajo del nodo y ctodo conjuntamente.
81
18.3 Referencias
[1]
Fsica
con
ordenador.
Angel
Franco
Garca.
El
efecto
fotoelctrico.
http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/cuantica/fotoelectrico/fotoelectrico.htm. Junio de 2011.

[2] LD Physics leaflets P6.1.4.5. Determining Plancks constant counter voltage method.
http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6145_e.pdf. Junio de 2011.
[3] Plancks quantum of action from the photoelectric effect (line separation by diffraction
grating) LEP 5.1.05.
http://www.science.com.tw/catelog/images/phywe/LEP/LEP5105_01_05.pdf.
Junio
de
2011.
82
Prctica 19
El efecto fotoelctrico II
El objetivo de este experimento es determinar el valor del cuanto de accin de Planck

(ms conocida como constante de Planck ) usando la dispersin de lneas generada por
una rejilla de difraccin .
Segn Einstein la explicacin del efecto fotoelctrico se basa en la transferencia de

energa del fotn al electrn:
(19.1)
Usando la hiptesis de Planck y descomponiendo la energa del electrn en sus

componentes cintica
y potencial
se tiene:
(19.2)
La energa potencial se considera que es la energa necesaria para que el electrn pueda
salir del slido, y se denomina como funcin trabajo ,
(19.3)
Para medir la energa cintica, en esta prctica se utilizar el mtodo del contravoltaje.
Este mtodo consiste en aplicar una diferencia de potencial (potencial de frenado) que
contrarreste la energa cintica que posee el electrn cuando es expulsado del material.
Una ilustracin del mtodo se ilustra en la figura 19.1 [1].
83
Cuando el electrn es expulsado del

metal por efecto de la radiacin, ste
posee cierta energa cintica que le
permite alcanzar la placa C, que est
conectada a un detector de carga
(electrmetro). Al aplicarse a la placa
C un potencial negativo con respecto
al metal (contravoltaje), el electrn
experimentar una disminucin en su
velocidad (frenado) por efecto del
campo elctrico aplicado. Si el campo
es suficientemente intenso es posible
Figura
19.1.
Esquema
del
experimento
fotoelctrico por el mtodo de contravoltaje.

Imagen
tomada
de
la
pgina
Fsica
ordenador de Angel Franco Garca [1].
con
hacer que el electrn pierda toda su

energa cintica e incluso retorne de
vuelta
al
metal
de
donde
fue
expulsado previamente.
Cuando se alcanza esa condicin, el electrmetro no detectar ninguna carga, puesto que
ningn electrn posee energa cintica suficiente para alcanzar la placa C. De esta forma
se puede medir la energa cintica mxima de los fotoelectrones emitidos, aplicando un
contravoltaje
tal que el electrmetro no registre ninguna carga. Un applet ilustrativo
del mtodo de contravoltaje se puede apreciar en la referencia [1]. De esta manera, la

ecuacin 18.3 se transforma en:
(19.4)
Donde
19.2.
es la carga del electrn.
En la figura 19.2 se muestra el montaje experimental propuesto. La lmpara de mercurio

es la fuente de radiacin con una amplia gama de longitudes de onda que se extiende
hasta el ultravioleta.
84
Figura 19.2. Montaje experimental para el experimento fotoelctrico.
La lmpara se sita frente a la fotocelda Phywe 06778 [2], la cual contiene un par de
lminas metlicas (ctodo y nodo) dentro de una ampolleta de vidrio al vaco. El ctodo
es el metal (platino, Pt) que va a ser iluminado por la lmpara, mientras que el nodo
(Potasio, K) colecta los fotoelectrones emitidos y est conectado al electrmetro
amplificador. Se escoge potasio como material del nodo debido a que los elementos
alcalinos (grupo I de la tabla peridica) tienen una funcin trabajo pequea porque los
electrones de valencia estn muy dbilmente enlazados.
Al ser iluminado el ctodo, algunos de los fotoelectrones alcanzan el nodo, y se

establece una diferencia de potencial entre nodo y ctodo (contravoltaje), el cual alcanza
un valor lmite
despus de un corto tiempo en que el nodo adquiere carga negativa
por los electrones acumulados. De esta manera, los electrones fluyen en contra del
campo elctrico establecido por la carga acumulada en el nodo, y slo alcanzarn el
nodo cuando posean energa cintica suficiente para contrarrestar el potencial de retardo
. As, el valor estacionario
medido por el voltmetro conectado al electrmetro
permite determinar la energa cintica mxima de los fotoelectrones.
85
Para variar la frecuencia de la radiacin incidente, se usa una rejilla de difraccin y un

banco ptico de ngulo variable como puede observarse en la figura 19.3 [2].
Figura 19.3. Montaje experimental para medir efecto fotoelctrico con ayuda de una rejilla
de difraccin, propuesto por la empresa Phywe GmbH [2].
Al graduar el brazo del banco ptico a diferentes ngulos, se puede acceder a diversas
longitudes de onda dispersadas por la rejilla de difraccin. De esta forma, puede medirse
el potencial de retardo
, en funcin de la frecuencia de la radiacin incidente
grfica resultante permite deducir el valor de la constante de Planck
. La
, teniendo como
referencia la ecuacin 19.4. De all incluso podra deducirse el valor de la funcin trabajo
del ctodo, sin embargo, si se tiene en cuenta la contribucin del nodo, el valor
resultante correspondera a la suma de las funciones trabajo del nodo y ctodo
conjuntamente.
19.3 Referencias
[1]
Fsica
con
ordenador.
Angel
Franco
Garca.
El
efecto
fotoelctrico.
http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/cuantica/fotoelectrico/fotoelectrico.htm. Junio de 2011.

[2] Plancks quantum of action from the photoelectric effect (line separation by diffraction
grating) LEP 5.1.05.
http://www.science.com.tw/catelog/images/phywe/LEP/LEP5105_01_05.pdf.
Junio
de
2011.
86
Prctica 20
Analoga ptica de la difraccin de electrones
El propsito de este experimento es determinar la distancia entre ranuras de una rejilla de

difraccin haciendo uso de la imagen recproca obtenida en un patrn de difraccin.
La difraccin se refiere a una serie de fenmenos que ocurren cuando la luz encuentra un
obstculo. Sus efectos son generalmente ms pronunciados cuando la longitud de onda
de la luz tiene dimensiones similares a las de los objetos que generan la difraccin. Los
patrones de difraccin generados por una rejilla se modelan a partir de la interferencia
constructiva debido a las diferencias de camino entre las trayectorias de los haces deluz
cuando pasan por cada una de las ranuras de la rejilla. La base del tratamiento terico de
este fenmeno es el experimento de Young (o de la doble rendija), que constituye una
seccin obligatoria de cualquier texto de fsica bsica de nivel universitario [1, 2]. De all
se deduce que la condicin de interferencia constructiva se presenta cuando se cumple la
condicin:
(20.1)
donde
es la distancia entre ranuras de la rejilla de difraccin,
el ngulo para el cual se
presentan los mximos de intensidad de luz en el patrn de difraccin,

onda de la luz y
la longitud de
el orden de la difraccin que es un nmero entero y positivo.
87
El montaje experimental se muestra en la figura 20.1a [3].
Figura 20.1. a) Montaje experimental para la obtencin de un patrn de difraccin con

una rejilla. Imagen tomada de la firma LD-Didactics [3]. b) Imagen del patrn de difraccin
obtenido.
El lser y la rejilla de difraccin se montan sobre un banco ptico, lo cual permite obtener
el patrn de difraccin mostrado en la figura 20.1b. All pueden observarse seis franjas de
interferencia constructiva que corresponden a los armnicos de primero, segundo y tercer
orden situados simtricamente a derecha e izquierda del haz incidente, respectivamente.
Los ngulos a los que se presentan las franjas brillantes pueden medirse cuidadosamente
usando relaciones trigonomtricas. Tras una linealizacin del grfico de
para cada orden
de difraccin , y conociendo la longitud de onda de emisin del lser, es posible hacer

una estimacin experimental de la distancia entre ranuras de la rejilla de difraccin.
20.3 Referencias
[1] Wikipedia versin inglesa. http://en.wikipedia.org/wiki/Double-slit_experiment . Junio
de 2011.
88
[2] Sears, Zemansky, Young, Freedman. Fsica Universitaria con Fsica moderna,
Volumen 2, 11a Edicin (2005). Pearson educacin de Mxico SA de CV. ISBN: 970-260672-1.
[3] LD Physics Leaflets P6.1.5.2. Optical analogy to diffraction of electrons in a
polycrystalline lattice. http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6152_e.pdf . Junio de
2011.
89
ANEXO A
Cdigo fuente de la aplicacin IV only.vi, basada en el software LabView 8.5, para

medicin de la caracterstica corriente-voltaje (I-V).
Tomado de la tesis de pregrado de Ingeniera electrnica Estudio de propiedades

optoelectrnicas de materiales usados en la construccin de diodos orgnicos emisores
de luz (OLEDs), realizada por la estudiante Clara Patricia Hernandez Moreno en el primer
semestre de 2010, en la Pontificia Universidad Javeriana.
Programa utilizado para la adquisicin de datos de corriente y voltaje provenientes del

nanovoltmetro Kethley 2182 y la fuente de corriente de precisin Kethley 6220. La
comunicacin se estableci mediante puerto GPIB.
90
Interface de usuario.
91
En este primer marco se establece comunicacin entre el PC y los instrumentos: fuente

de corriente Keithley 6220 (direccin 20, voltaje mximo de salida 100V), y el
nanovoltmetro keithley 2182 (direccin 7, midiendo en canal 1, hasta 100V mximo).
92
En este marco est el ncleo central del programa.

La parte izquierda est diseada para empezar en el valor mnimo de corriente, e
incrementarla cada segundo hasta que se alcanza el valor mximo establecido en la
interface de usuario.
La parte inferior se encarga de almacenar los datos en un archivo de texto en formato
ASCII.
La rutina en el marco se encarga de comunicarse con los instrumentos, acumula los datos
de corriente y voltaje cada segundo, y los va apilando. Enseguida transmite las columnas
de datos tanto a la grfica (parte superior derecha), como al archivo de datos para su
escritura (parte inferior).
93
Este marco final se realiz para apagar la fuente de corriente al terminar las mediciones.
94

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FISICA DE

Dr.rer.nat. Henry A. Mndez Pinzn

GRUPO DE PELICULAS DELGADAS

1. Tratamiento de datos de laboratorio

3. La gota de aceite de Millikan

4. Carga especfica del electrn 14

6. Espectro de emisin del Hidrgeno.

7. Espectro de absorcin de un material..... 26

10. Reflexin de Bragg.

11. Microscopia de Efecto tnel y fuerza atmica

12. Fluorescencia de Rayos X. 49

14. Resistividad de un metal vs. Temperatura.

15. Caracterizacin elctrica de un diodo PN..

16. Estructuras cristalinas

17. La dualidad onda-partcula de la luz...

18. Efecto fotoelctrico I (mtodo del contravoltaje)...

19. Efecto fotoelctrico I (mtodo de la rejilla de difraccin).

20. Analoga ptica de la difraccin de electrones..

Anexo A. Cdigo fuente IV only.vi de LabVIEW 8.5.1..

Tratamiento de datos de Laboratorio

Principios fsicos y tericos

Suponga un recipiente cilndrico de seccin transversal

, inicialmente lleno con agua

y con un orificio circular en su parte inferior de dimetro

Tabla I. Resultados experimentales de la medida del tiempo de evacuacin de agua de

[1] Angel Franco Garca. Pgina de internet

[2] Angel Franco Garca. Pgina de internet Errores en las

Esta prctica tiene como objetivo determinar experimentalmente el nmero de Avogadro y

2.1. Fundamentos fsicos

2.2. Detalles experimentales

Debido a la alta transparencia de la capa de cido no se puede distinguir fcilmente la

2.2.1. Determinar el volumen de una gota de solucin con su respectiva incertidumbre.

http://www.ld-didactic.de/literatur/hb/e/p6/p6111_e.pdf . Junio de 2011.

La gota de aceite de Millikan

El objeto de esta prctica es determinar experimentalmente la naturaleza discreta de la

3.1. Principios fsicos

La figura 3.1 ilustra el esquema general del experimento.

Figura 3.1. Esquema del experimento de la gota de aceite de Millikan.

El componente esencial del experimento es un condensador de placas paralelas

El montaje mostrado en la figura 3.2 es extrado de la pgina web oficial de la empresa

La parte operativa de este experimento consiste en medir la velocidad de descenso (

Para el anlisis de datos se sugiere:

Distancia entre placas del condensador: 6 mm

[1] Valor recomendado por CODATA ao 2006. http://physics.nist.gov/cgi-bin/cuu/Value?e

http://physics.wku.edu/~womble/phys260/millikan.html. Junio de 2011.

didactic.de/ga/5/559/559421/559421s.pdf. Junio de 2011.

Carga especfica del electrn

La relacin entre la carga elemental del electrn

conoce como carga especfica del electrn (

). La idea de esta prctica de

laboratorio es determinar cuantitativamente esta relacin usando el mtodo original

4.1. Principios fsicos

la fuerza de Lorentz , que est dada por la ecuacin 4.1.

electrn se curva debido a la fuerza de

El caso en el que esta deflexin es

establecida por la ecuacin 4.2.

Lorentz, de origen magntico [1].

En consecuencia, la carga especfica puede expresarse en trminos de la rapidez

y el radio de su trayectoria circular :

4.2. Detalles experimentales

En la configuracin del experimento de Thomson, mostrada en la figura 4.2, se tiene un

trayectoria alcanza una forma circular en

de los electrones. Los electrones