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INSTITUTO TECNOLGICO
DE MINATITLN.
UNIDAD 4: INSTRUMENTOS ESPECIALES Y
VIRTUALES.
MATERIA: MEDICIONES ELCTRICAS.
PROFA: MARA OTILIA MARTNEZ PREZ.
CARRERA: INGENIERA ELECTRNICA.
Mediciones Elctricas.
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determinado de las seales que se quieren visualizar o puede ser una seal de disparo
externa. Cuando se utiliza una condicin de disparo, el analizador lgico empieza a
muestrear de forma continuada al recibir la orden de inicio y hasta que se produce la
condicin de disparo. Cuando se cumple la condicin de disparo, las muestras se
empiezan a guardar en la memoria (pre-trigger) o se guardan las ltimas muestras (posttrigger).
Al usuario se le muestran los datos almacenados en la memoria de adquisicin que
incluyen la condicin de disparo.
Por ello, los analizadores lgicos resultan adecuados para observar relaciones
temporales entre mltiples lneas de datos, como por ejemplo, el bus de datos o
direcciones de un sistema basado en microprocesador.
- Unidad de entrada.
- Memoria de adquisicin.
- Unidad de visualizacin.
- Unidad de control de adquisicin.
Unidad de entrada:
La unidad de entrada es la encargada de detectar los niveles elctricos de las seales
conectadas a los canales de entrada del analizador lgico. Estos niveles se guardan
como valores binarios en la memoria de adquisicin. Los niveles elctricos se pueden
programar para definir el umbral que determina si el valor de la seal es un 0 o un 1. El
ancho de banda depende de la mxima frecuencia de muestreo que permite el
analizador lgico.
Memoria de adquisicin:
La memoria de adquisicin es una memoria de tamao limitado donde se guardan las
muestras adquiridas de forma continuada durante el proceso de adquisicin. Las
muestras almacenadas en esta memoria pueden ser observadas por el usuario en la
unidad de visualizacin. Esta memoria se caracteriza por su tamao, que determina el
nmero de muestras que se pueden almacenar, y por su ancho que determina el tamao
del vector binario (nmero de canales), es decir, el nmero mximo de muestras que
puede ser adquirido simultneamente.
Unidad de control de adquisicin:
Esta unidad es la encargada de controlar la adquisicin de las muestras. Se puede
programar la adquisicin utilizando un reloj interno o tomando como referencia los
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flancos de subida o bajada de un reloj externo. Tambin se encarga de detectar la
aparicin de una condicin de disparo (trigger) y detener la adquisicin. El punto donde
se encuentra la condicin de disparo determina el tipo de disparo en funcin del
momento que interese observar:
- Pre-disparo (pre-trigger): la informacin que se almacena es toda la que sigue a la
aparicin de la condicin de disparo.
- Post-disparo (post-trigger): se guarda en la memoria de adquisicin todas las muestras
anteriores a la condicin de disparo.
- Disparo intermedio: la memoria de adquisicin tiene muestras anteriores y posteriores a
la condicin de disparo.
La unidad de control se encarga de preparar la informacin para su presentacin en la
unidad de visualizacin. Tambin determina el modo de adquisicin. Los modos de
adquisicin dependen del modelo de analizador (modo continuo, nica con condicin de
disparo, repetitiva con condicin de disparo, etc.).
Unidad de visualizacin:
Constituye el interfaz de usuario. Desde esta unidad se observan las muestras
adquiridas, se programan los diversos parmetros de adquisicin (reloj externo o interno,
frecuencia de muestreo, umbral de nivel 0 y 1, modo de adquisicin, etc.), y se
determina la forma de visualizacin (binario, octal o hexadecimal, seales individuales o
buses, etc.).
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- Amplitud. (AMPLITUDE). Controla la representacin en amplitud de la seal de
entrada. Permite fijar el valor de la referencia, el nmero de dBm por cada divisin en la
pantalla as como el valor de atenuacin en la entrada.
- Vista/Traza (VIEW/TRACE). Gestiona parmetros de representacin de la medida,
entre los que destacan el almacenamiento de los valores mximos en cada frecuencia y
el almacenamiento de una determinada medida para poder ser comparada
posteriormente.
- Filtro de resolucin/Promedio (BW/AVG). El analizador de espectros captura la medida
al desplazar un filtro de ancho de banda pequeo a lo largo de la ventana de
frecuencias. Cuanto menor es el ancho de banda de este filtro mejor es la resolucin de
la medida y ms tiempo tarda en realizarse. Este men permite controlar los parmetros
de este filtro y el del clculo de promedios o averaging.
- Marcador/bsqueda de pico (Maker/Peak search). Controla la posicin y funcin de los
markers. Un marker o marcador indica el valor de potencia de la grfica a una
determinada frecuencia. La bsqueda de pico posiciona un marker de forma automtica
en el valor con mayor potencia dentro de nuestra ventana de representacin.
Antes de configurar el analizador de espectros deberemos tener una idea clara de las
caractersticas de la seal a medir, esto es, su potencia, ancho de banda, frecuencia
central, etc. Adems, tendremos que saber qu parmetros de la seal quieren medirse,
as, por ejemplo, se necesitar una ventana de frecuencias mayor si se desean medir
sus armnicos o una menor si lo que se desea medir es su ruido de fase.
Una vez conocida la medida a realizar se fija la ventana de frecuencias, esta puede ser
determinada de dos maneras distintas. La primera de ellas consiste en definir la
frecuencia inicial de la ventana y la frecuencia final (START - STOP). O bien, definir una
frecuencia central y una ventana de frecuencias alredor de ella, tambin conocido como
SPAN.
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De esta manera sera equivalente definir una ventana con frecuencia inicial 150MHz y
final 250MHz, que hacerlo a partir de una frecuencia central de 200 MHz y 100MHz de
SPAN.
Una vez fijada la ventana de visualizacin es muy probable que seamos capaces de
distinguir la seal a medir. nicamente restara ajustar la referencia de amplitud y la
resolucin en dBm/div para que la seal quede perfectamente representada en pantalla.
Jugando con estos valores se podrn distinguir con mayor precisin ciertas
caractersticas de la seal como rizada, modulaciones, etc.
Por ltimo, y para obtener valores precisos en la medida de la seal, se podrn utilizar
los markers del analizador. Estos markers pueden ser utilizados de forma absoluta
(entregan la medida directa de la grfica) o relativa (devuelven la diferencia entre dos
puntos de la grfica). La utilizacin de unos u otros depender como siempre de la
medida a realizar
NOTA: Todos los analizadores de espectros tienen una potencia mxima de entrada que
no se deber sobrepasar, por norma general, +30dBm. No obstante se debe siempre
comprobar las recomendaciones del fabricante.
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4.3.2 Trazador de curvas.
El trazador de curvas es un tester capaz de realizar medidas en corriente continua de
varios tipos de semiconductores: transistores bipolares NPN y PNP, diodos, F.E.T.,
Tiristores y Triacs.
El trazador se compone de los siguientes mdulos funcionales:
1. Alimentacin Vce (estimula el dispositivo bajo test (DBT)
2. Amplificador compensado / convertidor A.D.
3. Basedrive / Gatedrive (estimula el DBT)
4. Conectores para el DBT y teclado
5. Micro controlador
6. Vdeo controlador
7. Alimentacin
8. Monitor de vdeo
Las unidades 2, 3, 5, 6 y 7 estn localizadas en la placa principal, la unidad 4 est en el
panel frontal, la unidad 1 est separada de la placa principal, la unidad 8 es un monitor
completo.
Entre sus caractersticas encontramos la comprobacin de: Transistores NPN y PNP,
Diodos, JFET, MOSFET, ambos de canal N o P y Tiristores y triacs. Almacenamiento en
memoria de 1 grfico de las curvas de un dispositivo (almacenamiento en RAM),
memoria EEPROM. Almacena 12 mens diferentes en una memoria no voltil, control de
la intensidad del monitor, capacidad de imprimir el contenido de la pantalla mediante la
conexin de una impresora compatible IBM / EPSON por medio de un conector
Centronics, modo cursor con el cual nos podemos desplazar por la pantalla viendo en
todo momento las coordenadas, auto chequeo del equipo.
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4.3.3 Luxmetro.
Un luxmetro (tambin llamado luxmetro o light meter) es un instrumento de medicin
que permite medir simple y rpidamente la iluminancia real y no subjetiva de un
ambiente. La unidad de medida es el lux (lx). Contiene una clula fotoelctrica que capta
la luz y la convierte en impulsos elctricos, los cuales son interpretados y representada
en un display o aguja con la correspondiente escala de luxes.
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4.3.4 Tacmetro.
El Tacmetro es un aparato que permite medir la velocidad del eje de una mquina
elctrica. Generalmente la medida se da en revoluciones por minuto (r.p.m.).Los
tacmetros son utilizados a nivel industrial en donde es necesario monitorear
constantemente la velocidad de los motores elctricos con el propsito de mantener los
procesos, dentro de los mrgenes establecidos por la misma empresa.
Los tacmetros elctricos son dispositivos que sirven para indicar la velocidad de
rotacin de piezas en movimiento rotacional. Estos aparatos basan su funcionamiento en
el crecimiento o disminucin del voltaje o la frecuencia de la corriente producida por un
generador de corriente alterna al que se le aplica la velocidad de rotacin a medir.
El voltaje y la frecuencia de la corriente elctrica producida por un generador, se
comporta proporcional a la velocidad de rotacin de este, de manera que si la velocidad
de rotacin aumenta o disminuye cierta cantidad, tambin lo harn en la misma
proporcin el voltaje y la frecuencia de la corriente generada.
Podemos entonces construir un tacmetro elctrico si se acopla un pequeo generador
de corriente alterna al eje en rotacin cuya velocidad se quiere medir, y su seal de
salida se conecta a un voltmetro o frecuencmetro cuya escala haya sido calibrada
convenientemente en unidades de velocidad de rotacin.
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4.3.5 Medidor de campo magntico.
Medidor de campo magntico, "Gaussmetro" o "Teslmetro". El medidor de campo
magntico, permiten la medicin de la densidad de flujo magntico a travs de una
seccin transversal (en el aire) de equipos de transmisin elctrica, lneas elctricas,
hornos micro-ondas, aires acondicionados, neveras, monitores de ordenador,
dispositivos de audio y vdeo, etc. La relacin de la densidad de la del flujo del campo
magntico viene dada por:
B=F/A
Donde:
B = La intensidad del campo magntico o induccin magntica [T]
F = flujo magntico en [Vs] = [T.m2] = [Wb]
A = Seccin transversal [m2]
Los medidores de campo magntico tienen ventajas cuando se quiere medir el campo
magntico en la superficie de los imanes o la "brecha" de dispositivos magnticos.
Destacan como las principales medidas que pueden hacerse con los medidores de
campo magntico ("Gaussmetro"):
- Mediciones en el campo de los imanes permanentes
- Mediciones en la "brecha" de altavoces, motores y rels.
- Medicin de residuos de magnetizacin en las partes mecnicas.
- Medicin de solenoides, campos, electroimanes, etc.
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4.3.6 Analizador de Fourier.
F.F.T. son las siglas de "Fast Fourier Transform", Transformada Rpida de Fourier
"TRF". Los analizadores FFT estn basados en la obtencin del espectro de una seal
mediante un algoritmo de clculo denominado transformada rpida de Fourier (FFT).
Este algoritmo permite calcular la transformada discreta de Fourier de cualquier seal
con una reduccin muy notable de operaciones aritmticas, y el consiguiente ahorro de
tiempo de clculo. Cabe sealar que la aparicin de esta tcnica de obtener espectros
de seales revolucion todos los conceptos del anlisis frecuencial.
El funcionamiento a grandes rasgos consiste en tomar muestras (valores discretos) de la
seal continua y, con estas muestras y aplicando una expresin matemtica descubierta
por el matemtico Fourier, se obtiene el espectro correspondiente a la seal que
habamos medido. Por tanto, todo el proceso se reduce a digitalizar la seal continua a
analizar y efectuar un clculo numrico.
La precisin de los analizadores de Fourier se evala a travs del nmero de lneas que
pueden representar, siendo los valores ms habituales los de 256, 400 y 800 lneas.
Cada lnea corresponde a una banda de frecuencia de ancho constante y de valor el de
la frecuencia ms alta analizada dividido por el nmero de lneas calculadas. As, por
ejemplo, si obtenemos un espectro en el que la frecuencia ms alta sea de 1,6 kHz y
tenemos un analizador de 800 lneas, entonces el ancho de cada lnea ser de 1,6
kHz/800 lneas = 2 Hz/lnea. Es evidente, por tanto, el incremento de resolucin frente a
los analizadores de filtros de ancho de banda de porcentaje constante.
Una de las grandes ventajas del anlisis FFT es la posibilidad de efectuar un zoom de
una zona concreta del espectro obtenido, donde el sentido de zoom es el mismo que en
fotografa. Es decir, si tenemos un espectro de 800 lneas de una seal cualquiera, un
zoom nos permite efectuar una ampliacin de una parte concreta del espectro que nos
interese, con lo que el grado de resolucin es extraordinariamente elevado.
- Los analizadores F.F.T. recogen un trozo de seal temporal. Este depende de la
frecuencia superior que se va a analizar; supongamos que vamos a analizar desde 0 Hz
a 20 kHz con un analizador F.F.T. de 400 filtros, entonces cada filtro tendr un ancho de:
B = 20.000/400 = 50 Hz. Ancho de cada filtro.
- El tiempo que recoge el analizador para hacer el anlisis siempre cumple con:
BT=1
B = Ancho de banda de los filtros en Hz
T = Tiempo de integracin en seg.
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- En este caso:
T = 1/50 seg. = 20 mseg.
Una vez muestreada, se le aplica el algoritmo matemtico para calcular su espectro.
El primer inconveniente surge del mtodo de clculo del espectro, ya que el equipo
considera que esta muestra en Tiempo se va a repetir indefinidamente, de aqu que para
seales continuas ocurren a veces irregularidades, pues la seal queda como cortada o
distinta a como es en realidad, con la distorsin que esto produce en el anlisis. En la
figura, podemos ver cmo el equipo considera que son las seales.
Por supuesto existen ponderaciones en tiempo, como la Hanning que puede eliminar
este efecto negativo de las discontinuidades a la hora de repetir la seal temporal; pero
stas tambin pueden distorsionar la seal de forma que su espectro quede
distorsionado.
No obstante, podemos decir que para seales continuas es interesante realizar una
ponderacin en tiempo, tipo Hanning antes de realizar el algoritmo matemtico.
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Una vez calculada la transformada de la seal ponderada, el equipo presenta el espectro
en la pantalla que ser, como ya se ha comentado, el espectro de una seal de 20
mseg, en el caso de 0 Hz a 20 kHz con filtros de banda constante de 50 Hz cada uno.
Aqu surge a veces otro inconveniente. Dado que el equipo coge un trozo de seal en
tiempo para despus procesarla, si el tiempo de clculo es mayor que el tiempo de la
seal tomada, el analizador deja de ser tiempo real, es decir, perdemos parte de la
seal. Esto tiene importancia en el anlisis de seales transitorias como paso de avin,
coches, etc.; pero en el caso de seales continuas no tiene ninguna influencia en el
resultado del espectro calculado. Normalmente estos equipos incorporan promediadores
que al igual que en los analizadores digitales pueden ser lineales o exponenciales.
Para el anlisis del sonido se emplean filtros de octava o 1/3 de octava, que son filtros
de porcentaje constante 73% y 23%.
Como caractersticas importantes que se le debe pedir a un F.F.T. estn:
- Amplia gama dinmica, tambin en la representacin.
- Analizador Tiempo Real hasta frecuencia alta.
- Salida de Interface.
- Zoom, si es posible, que sea no destructivo.
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B) Diagrama de bloques
El diagrama de bloques constituye el cdigo fuente del VI. En el diagrama de bloques es
donde se realiza la implementacin del programa del VI para controlar o realizar
cualquier procesado de las entradas y salidas que se crearon en el panel frontal.
El diagrama de bloques incluye funciones y estructuras integradas en las libreras que
incorpora LabVIEW. En el lenguaje G las funciones y las estructuras son nodos
elementales. Son anlogas a los operadores o libreras de funciones de los lenguajes
convencionales.
Los controles e indicadores que se colocaron previamente en el Panel Frontal, se
materializan en el diagrama de bloques mediante los terminales. A continuacin se
presenta un ejemplo de lo recin citado:
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C) Paletas.
Las paletas de LabVIEW proporcionan las herramientas que se requieren para crear y
modificar tanto el panel frontal como el diagrama de bloques. Existen las siguientes
paletas:
Paleta de herramientas (Tools palette)
Se emplea tanto en el panel frontal como en el diagrama de bloques. Contiene las
herramientas necesarias para editar y depurar los objetos tanto del panel frontal como
del diagrama de bloques.
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Paleta de controles (Controls palette)
Se utiliza nicamente en el panel frontal. Contiene todos los controles e indicadores que
se emplearn para crear la interfaz del VI con el usuario.
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Paleta de funciones (functions palette)
Se emplea en el diseo del diagrama de bloques. La paleta de funciones contiene todos
los objetos que se emplean en la implementacin del programa del VI, ya sean funciones
aritmticas, de entrada/salida de seales, entrada/salida de datos a fichero, adquisicin
de seales, temporizacin de la ejecucin del programa,...
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REFERENCIAS.
http://www.electronicam.es/analizador_espectros.html
http://es.scribd.com/doc/50750800/mediciones-electricas#download
http://es.wikipedia.org/wiki/Luxometro
http://www.sabelotodo.org/aparatos/tacoelectrico.html
http://es.scribd.com/doc/6698105/Aparatos-Para-Mediciones-Electricas
http://www.globalmag.com.br/gaussimetros.htm
http://www.cablematic.com/Medidor-de-campo-magnetico-y-RF/
http://rabfis15.uco.es/lvct/tutorial/1/paginas%20proyecto%20def/(3)%20Tecnicas%20de
%20medida/analizador%20fft.htm
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