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CEP

FASE 2

CEP
CICLO DE MELHORIA DO PROCESSO E CONTROLE
DO PROCESSO
Estgios do ciclo de melhoria contnua do processo:
1. Analisar o processo:
O que o processo deveria estar fazendo?
O que o processo est fazendo?
Gerando refugo ou resultados que requeiram retrabalho?
O processo confivel?
O processo estvel?
O processo capaz?
O que pode dar errado?
O que pode variar neste processo?
O que j se sabe sobre a variabilidade deste processo?
Quais parmetros so mais sensveis variao?

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CICLO DE MELHORIA DO PROCESSO E CONTROLE
DO PROCESSO
Estgios do ciclo de melhoria contnua do processo:
1. Tcnicas para o melhor entendimento do processo:
Reunies em grupo;
Consultas com pessoas que desenvolvem ou operam o
processo;
Anlise crtica da histria do processo;

Elaborao de um FMEA: FAILURE MODE AND EFFECT


ANALYSIS uma ferramenta usada para aumentar a confiabilidade
de um certo produto durante a fase de projeto ou processo. A
ferramenta consiste basicamente em sistematizar um grupo de
atividades para detectar possveis falhas e avaliar os efeitos das
mesmas para o projeto/processo.

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CICLO DE MELHORIA DO PROCESSO E
CONTROLE DO PROCESSO
Estgios do ciclo de melhoria contnua do processo:
2. Manter (controlar) o processo:
Monitoramento do desempenho do processo;
Domnio sobre as possveis causas de alteraes do processo;
Aplicao de medidas eficazes de preveno contra mudanas
indesejveis;
Garantir a estabilidade do processo.

CEP
CICLO DE MELHORIA DO PROCESSO E
CONTROLE DO PROCESSO
Estgios do ciclo de melhoria contnua do processo:

2. Tcnicas para o controle do processo:


.
.
.
.

Obs: parar neste estgio pode resultar em uma desvantagem


competitiva muito significativa. No garante a classe
mundial, que requer um esforo planejado e constante.

CEP
CICLO DE MELHORIA DO PROCESSO E
CONTROLE DO PROCESSO
Estgios do ciclo de melhoria contnua do processo:
3. Aperfeioar o processo:
Reduzir variabilidade ,
(atualizao tecnolgica);

causas

comuns,

do

processo

Implementar mtodos estatsticos;

Provocar mudanas conscientes no processo e avaliar os


efeitos causados (desenvolvimento tecnolgico).
Acarretando:

Novos parmetros
estabilidade do processo

Nova anlise

Reconfirmar a

Melhoria do processo .............

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Sistemas de medio so crticos para anlise de dados: devem ser
bem entendidos antes que os dados do processo sejam coletados.
Coletar dados e usar mtodos estatsticos para interpret-los no
um fim.
necessrio compreender os processos que so utilizados.

muito fcil tornar-se um expert nas tcnicas estatsticas, sem


produzir melhoria alguma de forma emprica. Exemplos:
Mquinas caractersticas de desempenho;
Escriturao taxas de erro;
Desperdcio taxa de refugo;
Sistemas de computadores - caractersticas de desempenho;
Controle de materiais tempo empregado nas movimentaes.

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Exerccio com variao da % [C] no ao.

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CARTAS DE CONTROLE
Dr. Walter Shewhart foi quem primeiro fez a distino
entre

variao controlada (causas comuns) e


variao no controlada (causas especiais),
e desenvolveu uma ferramenta simples , mas poderosa,
para identificar estas variaes:
a carta de controle.
Estas, efetivamente, evidenciam causas especiais de
variao, e refletem a extenso da variao de causas
comuns que devem ser reduzidas atravs da melhoria
do processo.

CEP
CARTAS DE CONTROLE
Procedimento de confeco e interpretao:
Coleta de dados;

Clculo dos limites de Controle:


Limite Inferior de Controle - LIC e
Limite Superior de Controle LSC;
Interpretao da performance do processo:
Processo sob controle estatstico - estvel;
Processo atende s especificaes capaz.
Especificaes - Limites de Engenharia:
Limite Inferior de Engenharia LIE;
Limite Superior de Engenharia LSE.

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Limite Inferior de Controle - LIC


Limite Superior de Controle LSC
Limite Inferior de Engenharia LIE
Limite Superior de Engenharia LSE

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UTILIZAO DOS GRFICOS DE CONTROLE
1. Como critrio na determinao do estado de um
processo - pesquisa;
1. Como guia de operao para manter o processo
sob controle acompanhamento.

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BENEFCIOS DAS CARTAS DE CONTROLE
Fornecem informaes confiveis junto s operaes;
Processo sob controle implica em confiabilidade nos nveis consistentes
de qualidade;

Disponibiliza informaes confiveis para reduo das causas comuns de


variao e centralizao (valor alvo) do processo, podendo:
Reduzir custos e
Aumentar produtividade;

Fornecem linguagem comum de informao sobre o desempenho de um


processo:
Entre turnos;
Na linha de produo (operadores, supervisores);
s atividades de suporte (manuteno, controle de materiais,
engenharia de processos, controle da qualidade);
Entre fornecedor e cliente;
Indica se o problema deve ser selecionado por uma ao local ou por
ao gerencial.

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Os grficos de controle podem ser para:
ATRIBUTOS - para caractersticas que no podem ser
representadas numericamente de modo conveniente: conforme
e no conforme.
frao de no conformidades em uma amostra;
nmero de no conformidades em uma amostra;
nmero de no conformidades por unidade inspecionada.

VARIVEIS caractersticas que podem ser expressas por meio


de uma medida numrica:
dimenses,
temperatura,
fluxo,
presso...

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GRFICOS DE CONTROLE PARA ATRIBUTOS
Grfico de controle para frao no-conforme (p):
frao de itens no-conformes em uma amostra;
Grfico de controle para no-conformidades (c):
nmero de defeitos em uma amostra;
Grfico de controle para no-conformidades por
unidade (u): nmero mdio de no conformidades
por unidade.

CEP
Grfico p
Grfico para frao de itens no-conformes em uma amostra.
Sendo:
m: nmero de amostras;
n: tamanho de cada amostra;
p: frao de no conformidade por amostra;
D: nmero de itens no-conformes.
A construo dos grficos p s possvel se as seguintes
condies forem satisfeitas:

CEP
onde:

e os limites de controle, de amplitude 3, e linha central,


que so obtidos por:

EXERCCIO p:
1. Verificar se as condies so satisfeitas para o grfico;
2. Calcular

e os limites de controle;

3. Plotar o grfico com as caractersticas.

CEP
Grfico np
Grfico para nmero de itens no-conformes na amostra.
Sendo:
m: nmero de amostras;
n: tamanho de cada amostra;
p: frao de no conformidade por amostra;
D: nmero de itens no-conformes.

Este grfico de controle s pode ser construdo quando lidamos com


amostras de tamanhos iguais (n constante).
A linha central e os limites de controle so obtidos por:

EXERCCIO np: usar os


dados do exerccio p.

CEP
Grfico c
Grfico para nmero de no conformidades em uma
amostra.
Situaes onde o grfico c tipicamente aplicvel:

quando as no conformidades esto distribudos num fluxo


mais ou menos contnuo de algum produto onde poder-seia definir o nmero mdio destas no conformidades;
quando no conformidades de diferentes tipos e origens
podem ser encontrados na unidade amostral.
empregado considerando o nmero de no conformidades
por subgrupos, quando todos estes subgrupos forem do
mesmo tamanho, isto , tiverem o mesmo nmero de itens.

CEP
Grfico c
Grfico para nmero de no conformidades em uma amostra.
Dependendo do tipo de produto mais natural considerar o nmero
de no conformidades por unidade amostral e no o nmero de
itens defeituosos.

c: nmero de defeitos em cada um dos subgrupos k.


As linhas do grfico so obtidas por:

EXERCCIO c

CEP
Grfico u
Grfico para taxa de no conformidades por unidade de
inspeo.
Se o nmero de unidades que compem os subgrupos
varivel e interessante controlar o nmero de no
conformidades por unidade, o grfico a ser utilizado ser o
Grfico u.
O nmero de defeitos por unidade de inspeo definido
como:
onde:
c: nmero de no conformidades nas
ni :unidades amostrais (tamanho da amostra)

CEP
Grfico u
As principais linhas do grfico so dadas por:

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