Sie sind auf Seite 1von 256

Universidade de Coimbra

Faculdade de Cincias e Tecnologia


Departamento de Engenharia Electrotcnica e de Computadores

TCNICAS DE MEDIDA PARA A


CARACTERIZAO DO CIRCUITO
EQUIVALENTE DE CONDENSADORES
ELECTROLTICOS DE ALUMNIO

Accio Manuel Raposo Amaral

Coimbra - Portugal
2010

Universidade de Coimbra
Faculdade de Cincias e Tecnologia
Departamento de Engenharia Electrotcnica e de Computadores

TCNICAS DE MEDIDA PARA A


CARACTERIZAO DO CIRCUITO
EQUIVALENTE DE CONDENSADORES
ELECTROLTICOS DE ALUMNIO

Accio Manuel Raposo Amaral

Dissertao submetida
para a obteno do grau de
Doutor em Engenharia Electrotcnica,
Especialidade de Instrumentao e Controlo,
pela Universidade de Coimbra

Coimbra - Portugal
2010

Agradecimentos
Ao meu orientador, Professor Doutor Antnio Joo Marques Cardoso, a quem
desejo expressar a minha gratido pelo seu apoio, incentivo e crtica exigente que
sempre manifestou.
Agradeo o financiamento concedido pela Fundao para Cincia e Tecnologia,
no mbito da bolsa de investigao com a referncia SFRH/BD/37093/2007.
Ao Doutor Gustavo Malagoni Buiatti pelo apoio no desenvolvimento das
tcnicas de diagnstico on-line.
Ao Doutor Srgio Cruz pelo apoio e incentivo demonstrados durante o estgio
curricular realizado no mbito deste trabalho, na empresa Alstom, em Frana.
Aos colegas do Grupo DIANA, em particular ao Doutor Andr Mendes, Mestre
Natlia Gameiro, ao Eng. Jorge Estima e Dra. Slvia ngelo, pela amizade e
incentivo.
Professora Doutora Beatriz Borges agradeo ter permitido a utilizao do
analisador de impedncias, imprescindvel para a validao das diferentes tcnicas de
diagnstico propostas.

Agradecimentos
_________________________________________________________________________________________________________________________

Aos colegas do Departamento de Engenharia Informtica e Sistemas do Instituto


Superior de Engenharia de Coimbra quero agradecer pelo incentivo e amizade.
Quero ainda agradecer aos meus pais e irm, a quem nunca conseguirei retribuir
todos os sacrifcios que, por mim, suportaram e, da mesma forma, o apoio incondicional
que sempre me transmitiram nas horas de maior dificuldade.
Por fim, resta-me agradecer minha esposa, a Cludia, pelos sacrifcios,
pacincia inesgotvel e apoio incondicional sempre demonstrado ao longo da realizao
deste trabalho.

pg _______________________________________________________________

iii

Resumo
Este trabalho visa a implementao de tcnicas de medida que permitam estimar
os parmetros do circuito equivalente de condensadores electrolticos de alumnio. Esta
informao revela-se essencial no s para a concepo de diversos sistemas
electrnicos, mas tambm, para identificar de forma fivel e atempada os sintomas de
avarias nos referidos condensadores.
O captulo 1, de natureza introdutria, expe os principais motivos que
conduziram realizao deste trabalho. O facto de estes condensadores serem um dos
componentes mais utilizados em electrnica, e simultaneamente, um dos elementos
mais vulnerveis, demonstra a importncia que as tcnicas de diagnstico assumem
neste contexto.
No captulo 2 efectua-se a comparao entre diferentes tecnologias de
condensadores, destacando-se o papel relevante que os condensadores electrolticos de
alumnio assumem actualmente. Neste captulo d-se especial ateno aos aspectos
relacionados com a sua composio, o circuito equivalente, factores que condicionam o
seu funcionamento e ainda de que forma os condensadores electrolticos de alumnio
podem alterar o seu comportamento, bem assim como, acerca dos principais
mecanismos de avaria.

Resumo
_________________________________________________________________________________________________________________________

No captulo 3 apresentam-se algumas tcnicas de medida off-line. A sua


importncia reflecte-se no s no mbito da concepo de diferentes equipamentos de
electrnica, mas tambm, no desenvolvimento de tcnicas diagnstico que permitam
identificar sintomas de avarias nos condensadores. Para o efeito, propem-se diferentes
metodologias que permitem caracterizar o circuito equivalente do condensador para
diferentes temperaturas e frequncias de operao. Os valores dos parmetros do
circuito equivalente do condensador estimados atravs das tcnicas off-line propostas,
so posteriormente comparados com os dados adquiridos atravs de um analisador de
impedncia, sendo estes ltimos considerados como os valores de referncia. Desta
forma, torna-se possvel avaliar as referidas tcnicas quanto sua preciso e exactido.
No captulo 4, propem-se algumas tcnicas de diagnstico on-line para fontes
de alimentao comutadas. A sua validao efectuada atravs da comparao de
resultados de simulao com outros experimentalmente obtidos. Os resultados de
simulao computacional resultam da adopo de diferentes metodologias, apresentadas
e validadas neste captulo. Os resultados experimentais resultam da utilizao de dois
prottipos experimentais: um conversor buck, concebido para o efeito, e um prottipo
comercial (fonte de alimentao ATX). Neste captulo ainda efectuada a anlise das
referidas tcnicas no que respeita sua exactido e preciso, sendo para o efeito, uma
vez mais utilizados os dados adquiridos atravs de um analisador de impedncias.
No captulo 5 apresentam-se as concluses finais deste trabalho, bem assim
como algumas sugestes para trabalho futuro.

pg _______________________________________________________________

Abstract
The work reported herein is focused on the development of measurement
techniques that are able to obtain the aluminium electrolytic capacitors equivalent
circuit parameters. This knowledge is essential for the design of several electronic
circuits, as well as for recognizing capacitors health status in due time.
Chapter one, of introductory nature, presents the rationale for the development
of this work. The fact that these capacitors are one of the most common components
used in electronics and simultaneously one of the most vulnerable elements, shows the
importance that fault diagnosis have in this context.
Chapter two presents a comparison between the different capacitors
technologies, highlighting the actual importance of aluminium electrolytic capacitors. In
this chapter special attention is given to aluminium electrolytic capacitors composition,
equivalent circuit, main factors that regulate their operation, as well as the main aging
mechanisms.
In the third chapter some off-line measurement techniques are proposed. These
techniques are of paramount importance not only for designing purposes but also for
fault diagnosis of aluminium electrolytic capacitors. The proposed techniques are based

Abstract
_________________________________________________________________________________________________________________________

in different methodologies and circuits, allowing for the estimation of capacitors


equivalent circuit at different operating frequencies and temperatures. The obtained
values are then compared with the data acquired with an impedance gain phase
analyzer, being the later used as reference values. In this way, it is possible to evaluate
both precision and accuracy of the proposed techniques.
Chapter four presents some on-line fault diagnostic techniques for switch mode
power supplies. These techniques are validated through simulation and experimental
results. The simulation results were obtained from different methodologies that are also
presented and validated in this chapter. The experimental results are acquired from two
experimental prototypes: a buck converter that was specially designed for this purpose
and a commercial power supply (ATX power supply). The error analysis (accuracy and
precision) is also presented, and for that the data obtained with the impedance gain
phase analyzer is once more used.
In chapter fifth, the final conclusions and some suggestions for future work are
presented.

pg _______________________________________________________________

vii

Lista de Smbolos
Ad

rea do dielctrico (m2).

Al2O3

xido de alumnio.

Capacidade (F).

Coefx,y

Coeficiente de correlao de Pearson.

D1

Duty cycle - Relao entre o tempo de conduo e o perodo.

D2

Relao entre o tempo de no conduo e o perodo (iL>0).

D3

Relao entre o tempo de no conduo e o perodo (iL=0).

dC

Dimetro da cobertura do condensador (m).

dd

Espessura do dielctrico (m).


Derivada da corrente na bobina em ordem ao tempo.
Derivada da corrente na bobina em ordem ao tempo (durante o estado de
conduo).

Lista de Smbolos
_________________________________________________________________________________________________________________________

Derivada da corrente na bobina em ordem ao tempo (durante o estado de


no conduo).
Derivada da tenso em ordem ao tempo.
f

Frequncia (Hz).

fress

Frequncia de ressonncia (Hz).

Unidade de acelerao no S.I. (9.806 m/s2).

If(T)

Corrente de fugas do condensador temperatura T.

If(20C)

Corrente de fugas do condensador temperatura de 20 C.

iL

Corrente na bobina (A).

iC

Corrente no condensador (A).

iin

Corrente de entrada (A).

IinON

Valor mdio da corrente de entrada durante o estado de conduo (A).

iO

Corrente de sada (A).

i L

Valor mdio da corrente na bobina (A).

iO

Valor mdio da corrente de sada (A).

lC

Comprimento da cobertura do condensador (m).

Indutncia da bobina (H).

LTN

Tempo de vida do condensador para a temperatura nominal (anos).

LVN

Tempo de vida do condensador para a tenso nominal (anos).

LN

Tempo de vida do condensador para as condies nominais de


temperatura, tenso e ripple de corrente (anos).

LX

Tempo de vida do condensador (anos).

Mf

Multiplicador de frequncia.

pg _______________________________________________________________

ix

Lista de Smbolos
_________________________________________________________________________________________________________________________

Pj

Perdas por efeito de Joule (W).

Press

Presso (Pa).

Carga elctrica (C).

R0

Resistncia dos terminais, das armaduras e presilhas ().

Rele

Resistncia do electrlito ().

RP

Resistncia do dielctrico ().

RS

Resistncia dos terminais, das armaduras, das presilhas e do conjunto


electrolito-papel ().

Resistncia de carga ().

RL

Resistncia da bobina ().

RDS

Resistncia dreno-fonte do Mosfet ().

Rd

Resistncia do dodo durante a conduo ().

Sa

Superfcie das armaduras (m2).

Perodo (s).

Tempo (s).

tON

Intervalo de tempo relativo ao estado de conduo (tON [0, D1T]).

tOFF

Intervalo de tempo relativo ao estado de no conduo (tOFF [D1T, T]


se CCM, ou tOFF [D1T, (D1+D2)T] se DCM).

tDESC

Intervalo de tempo relativo ao estado descontnuo (tDESC [(D1+D2)T,


T]).

TempA

Temperatura ambiente (C).

Tempi

Temperatura do ncleo (C).

TempN

Temperatura nominal (C).

pg _______________________________________________________________

Lista de Smbolos
_________________________________________________________________________________________________________________________

VF

Tenso de formao do dielctrico (V).

VN

Tenso nominal (V).

VS

Tenso mxima de pico (V).

vO

Tenso de sada (V).

Vol

Volume (l).

vin

Tenso de entrada (V).

vd

Tenso de arranque do dodo (V).

vZ

Tenso Zener (V).

vO

Valor mdio da tenso de sada (V).

vOon

Valor mdio da tenso de sada durante o estado de conduo (V).

vOoff

Valor mdio da tenso de sada durante o estado de no conduo (V).

Velocidade angular (rad/s).

XC

Reactncia capacitiva do condensador ().

Xcond

Reactncia do condensador ().

XESL

Reactncia indutiva do condensador ().

XL

Reactncia indutiva da bobina ().

Zcond

Impedncia do condensador ().

iC

Ripple da corrente no condensador (A).

iCef

Valor eficaz do ripple da corrente no condensador (A).

iChief

Valor eficaz do harmnico i do ripple da corrente no condensador (A).

iL

Ripple da corrente na bobina (A).

vO

Ripple da tenso de sada (V).

pg _______________________________________________________________

xi

Lista de Smbolos
_________________________________________________________________________________________________________________________

Perda do electrlito (mg).


Variao da capacidade (%).

Variao da temperatura (C).

kB

Constante de Boltzman (5.669 10-8 W/m2 K4).

Resistividade do material (m).

Varincia.

Desvio padro.

Permitividade do vazio (0 = 8.854238837 10-12 C2 N-1 m-2 ).

Permitividade do material.

al

Permitividade do xido de alumnio ( [8, 10]).

Constante numrica ( 3.14159 .).

pg _______________________________________________________________

xii

Glossrio
AC

Alternating Current Corrente alternada.

ATX

Advanced Technology Extended.

AO

Amplificador operacional.

CAD

Conversor analgico-digital.

CCM

Continuous Conduction Mode Modo de conduo contnua.

CDA

Conversor digital-analgico.

DC

Direct Current Corrente contnua.

DCM

Discontinuous Conduction Mode Modo de conduo


descontnua.

DF

Dissipation Factor Factor de dissipao.

DFP

Detector de fase de elevada preciso.

DFT

Discret Fourier Transform Transformada discreta de Fourier.

Glossrio
_________________________________________________________________________________________________________________________

DSP

Digital Signal Processor Processador digital de sinal.

EMC

Electromagnetic Compatibility Compatibilidade electromagntica.

EMI

Electromagnetic Interferance Interferncia electromagntica.

EPRI

Electric Power Research Institute.

ESL

Equivalent series inductance Indutncia srie equivalente.

ESR

Equivalent series resistance Resistncia srie equivalente.

FAC

Fonte de alimentao comutada.

FAL

Fonte de alimentao linear.

FAR

Fonte de alimentao ressonante.

FA

Factor de acelerao.

Hi-fi

High-Fidelity.

ITRI

Industrial Technology Research Institute.

LCR meter

Medidor de indutncia, capacidade e resistncia.

LED

Light-emitting diode Diodo emissor de luz.

LMS

Least Mean Squares Mnimos quadrados.

MATLAB

MATrix LABoratory Software interactivo para clculo


numrico.

MIL-HDBK 217 D

Reliability Prediction of Electronic Equipment Especificao


militar norte-americana sobre como calcular as taxas de
fiabilidade em equipamento electrnico.

MOSFET

Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor Transstor


de efeito de campo de semiconductor de xido metlico.

MOV

Metal Oxide Varistor Varistor de xido metlico.

pg _______________________________________________________________ xiv

Glossrio
_________________________________________________________________________________________________________________________

NPP

Nmero de pontos adquiridos por perodo.

NPT1

Nmero de pontos adquiridos durante o estado de conduo.

NPT2

Nmero de pontos adquiridos durante o estado de no conduo.

NTC

Negative Temperature Coeficient - coeficiente de temperatura


negativo.

PA

Perodo de amostragem.

PC

Personal Computer Computador pessoal.

PCB

Printed Circuit Board Placa de circuito impresso.

PFC

Power Factor Correction Correco do factor de potncia.

PSR

Pulse Series Resistance Resistncia de impulso srie.

RLMS

Recursive Least Mean Squares Mnimos quadrados recursivo.

RMS

Root mean square Valor quadrtico mdio (valor eficaz).

Snubber

Circuito elctrico utilizado para suprimir transitrios de tenso.

TVEWR

Tubular vitreous emanel wirewound resistor resistncia


bobinada tubular com corpo de material vtreo.

TRIAC

TRIode for Alternating Current Componente electrnico


equivalente a dois rectificadores controlados de slicio ligados
em anti-paralelo e com terminal de disparo comum.

UPS

Uninterruptible Power Supply Fonte de alimentao


ininterrupta.

VCO

Voltage controlled oscillator - Oscilador controlado por tenso.

VD

Voltmetro digital.

VEV

Variador electrnico de velocidade.

pg _______________________________________________________________

xv

ndice
1 Introduo

1.1 Motivao

1.2 Distribuio de avarias em fontes de alimentao

1.3 Resumo

12

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

14

2.1 Tecnologias utilizadas no fabrico de condensadores

17

2.2 Condensador electroltico de alumnio

20

2.2.1 Constituio
2.2.2 Circuito equivalente
2.2.3 Informao fornecida pelos fabricantes
2.2.4 Influncia da temperatura e frequncia no circuito equivalente
do condensador
2.2.5 Mecanismo de auto-reparao
2.2.6 Corrente de fugas
2.2.7 Factores que condicionam o tempo de vida do condensador
2.2.8 Como determinar o tempo de vida do condensador
2.2.9 Mecanismo de avaria

2.3 Resumo

21
23
25
27
30
31
33
37
40
42

ndice

________________________________________________________________________________________________________________________

3 Tcnicas Off-Line

43

3.1 Retrospectiva

44

3.2 Caracterizao dos condensadores em estudo

58

3.3 Importncia das tcnicas off-line

60

3.4 Tcnica off-line baseada na injeco de uma corrente


sinusoidal

62

3.4.1 Prottipos experimentais


3.4.2 Simulao computacional
3.4.3 Resultados experimentais e de simulao
3.4.3.1 Filtro LC
3.4.3.2 Filtro RC
3.4.3.3 Amplificador classe D

3.5 Tcnica off-line baseada num circuito de carga e


descarga do condensador
3.5.1 Prottipo experimental
3.5.2 Simulao computacional
3.5.3 Resultados experimentais e de simulao

68
73
74
74
78
99
103
106
107
108

3.6 Anlise dos erros

113

3.7 Clculo dos multiplicadores de frequncia

116

3.8 Clculo dos multiplicadores de temperatura

118

3.9 Tcnicas de diagnstico de avarias off-line

122

3.10 Resumo

133

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

135

4.1 Retrospectiva

136

4.2 Prottipos experimentais

152

4.3 Conversor buck

153

4.3.1 Dimensionamento do conversor


4.3.2 Simulao computacional
4.3.2.1 Simulao computacional baseada na transformada de Laplace
4.3.2.2 Simulao computacional baseada no modelo hbrido do conversor
4.3.2.3 Anlise terica
4.3.2.3.1 Modo de conduo contnua

153
156
156
161
163
163

pg _______________________________________________________________ xvii

ndice

________________________________________________________________________________________________________________________

4.3.2.3.2 Modo de conduo descontnua

4.3.2.4 Anlise das diferentes metodologias apresentadas

4.3.3 Tcnica de diagnstico on-line


4.3.4 Resultados experimentais e de simulao
4.3.5 Comparao entre as tcnicas de diagnstico on-line

4.4 Fonte de alimentao ATX


4.4.1 Arquitectura de fontes de alimentao ATX
4.4.2 Tcnica de diagnstico on-line
4.4.3 Resultados experimentais

165
169
171
182
189
190
191
193
194

4.5 Resumo

197

5 Concluses

199

5.1 Sntese

202

5.2 Trabalho Futuro

203

Anexo I

204

Anexo II

207

Anexo III

209

Anexo IV

214

Anexo V

216

Anexo VI

219

Referncias

221

pg _______________________________________________________________ xviii

1 Introduo
A presente dissertao aborda a temtica da caracterizao do esquema
equivalente de condensadores electrolticos de alumnio, informao esta essencial na
avaliao do estado do condensador, assim como, no processo de concepo de
diferentes equipamentos de electrnica, onde largamente utilizado.
De facto, estes condensadores possuem uma excepcional eficincia volumtrica,
baixo custo e uma elevada gama de capacidades e tenses de operao. Da que, pelos
motivos supra referidos, esta tecnologia seja a mais utilizada em equipamentos de
electrnica de potncia.
No entanto, estes condensadores revelam ser um dos elementos mais crticos em
diversos equipamentos de electrnica, sendo em algumas aplicaes responsveis por
mais de metade das paragens. Deste modo, extremamente importante o
desenvolvimento de mtodos de diagnstico de avarias que permitam identificar o
estado do condensador e garantir a sua substituio em tempo oportuno. Alis, este
assunto tem justificado s por si o desenvolvimento de algumas dissertaes de

1 Introduo

__________________________________________________________________________________________________________

doutoramento, bem como a publicao de diversos trabalhos em conferncias


internacionais e nas mais conceituadas revistas da especialidade1.
Por outro lado, a caracterizao do circuito equivalente do condensador
electroltico de alumnio, para diferentes frequncias e temperaturas de funcionamento,
extremamente importante no mbito da concepo de fontes de alimentao
comutadas e de variadores electrnicos de velocidade. Alm disso, a implementao de
tcnicas de diagnstico on-line em condensadores electrolticos de alumnio requer,
tambm, a caracterizao do esquema equivalente do condensador para diferentes
temperaturas. Esta informao obtida, tipicamente, atravs de analisadores de
impedncia ou de medidores de LCR, equipamentos extremamente caros e nem sempre
disponveis.

1.1 Motivao
A

grande

maioria

dos

equipamentos

electrnicos

possui

diferentes

especificaes de potncia e de tenso, sendo por isso necessrios equipamentos que


permitam adequar as diferentes cargas fonte de energia (rede elctrica nacional ou
simplesmente uma bateria), equipamentos estes vulgarmente designados por fontes de
alimentao.
As fontes de alimentao devero respeitar um conjunto de especificaes tais
como: isolamento entre a carga e a fonte de energia, peso e dimenses reduzidas,
controlo do fluxo de potncia, elevada eficincia, formas de onda de tenso e corrente
de entrada e sada com reduzida distoro harmnica, factor potncia controlvel e
elevada fiabilidade [1]. Estas especificaes devero ser satisfeitas durante o processo
de concepo das fontes de alimentao, sendo essencial durante este processo conhecer
o comportamento dos condensadores para as diferentes condies de funcionamento
(temperatura, tenso, corrente e frequncia). Esta informao pode ser obtida atravs de
tcnicas off-line de medida, tema que ser abordado em pormenor no captulo 3, onde
sero apresentadas diversas solues.

1
Basta ver, por exemplo, as dezenas de artigos publicados em "IEEE Transactions on Industrial Electronics", "IEEE
Transactions on Power Electronics", "IEEE Transactions on Industry Applications" ou "IEEE Transactions on Instrumentation and
Measurement".

pg _______________________________________________________________

1 Introduo

__________________________________________________________________________________________________________

As fontes de alimentao podem ser classificadas, consoante a converso de


tenso, em quatro grupos: conversores AC-DC, conversores DC-DC, conversores DCAC e conversores AC-AC.
As fontes de alimentao pertencentes ao grupo dos conversores AC-DC e DC-DC podem ser agrupadas em trs grandes subgrupos: fontes de alimentao lineares
(FAL), fontes de alimentao comutadas (FAC), e fontes de alimentao ressonantes
(FAR). As FAL baseiam-se no conceito de energia dissipada controlada, onde a tenso
de sada controlada pela variao da resistncia interna do regulador (transstor a
operar na regio activa). Desta forma, a tenso de sada sempre inferior tenso de
entrada. As FAL so constitudas por um transformador redutor de entrada, ao qual se
segue uma ponte rectificadora, um filtro e um regulador, que permitem converter a
tenso AC numa tenso DC com o valor pretendido. A Fig. 1 exibe um diagrama de
uma FAL.

Fig. 1. Diagrama de uma fonte de alimentao linear.

A funo do regulador consiste em reduzir o valor mdio da tenso de entrada


vin para o valor pretendido vO. A aco conjunta do condensador electroltico de
alumnio e do regulador permite reduzir o valor do ripple da tenso de sada. O valor
mdio da tenso de sada vO pode ser calculado atravs de (1.1).
vO =

(VZ + 0.7 )
R V + R4

( R V + R4 + R3 )

(1.1)

Apesar da sua simplicidade, pouco rudo e resposta transitria bastante rpida, as


FAL tm vindo a ser gradualmente substitudas pelas FAC devido ao seu baixo
rendimento, elevadas dimenses e peso [2-10]. Alm disso, no permitem elevar a
tenso de entrada [2-10] e o custo de fabrico, em especial para potncias superiores a 10
W, torna-se claramente superior ao das suas congneres comutadas [2, 3]. Nos ltimos
pg _______________________________________________________________

1 Introduo

__________________________________________________________________________________________________________

anos, tem-se verificado uma reduo do custo de fabrico das FAC, o que tem aumentado
a tendncia para a substituio da tecnologia linear pela comutada, mesmo para baixas
potncias [7].
As FAC e as FAR utilizam uma tcnica baseada na comutao de um interruptor
(transstor a operar quer no corte, quer na zona hmica). A largura do impulso, ou duty
cycle, permite definir a quantidade de corrente que alimenta a carga. O filtro passabaixo, sada da fonte de alimentao, composto por um ou mais condensadores
electrolticos de alumnio em paralelo, permite reduzir a grande maioria dos harmnicos
produzidos pela comutao do transstor. Apesar do rudo produzido e da sua
complexidade, as vantagens destas fontes, tais como a elevada densidade de potncia e
eficincia, superam largamente as suas desvantagens [2-8].
As FAR permitem elevar a eficincia da fonte de alimentao, reduzindo
significativamente as perdas nos semicondutores. No entanto, so mais complexas que
as FAC, revelando-se particularmente vantajosas para aplicaes que operam a elevadas
frequncias [2, 3, 11]. Os conversores ressonantes so utilizados essencialmente em
fontes de alimentao de elevada potncia e tenso [12]. Nas Figs. 2 e 4 possvel
observar o diagrama de uma FAR e de uma FAC, respectivamente.
Apesar de o princpio de funcionamento das FAC ser conhecido h bastante
tempo, estas tornaram-se apenas comercializveis na dcada de 70 do sculo passado
[4], com o desenvolvimento dos MOSFETs, dos materiais cermicos de ferrite e dos
condensadores [13]. Refira-se que as suas reas de aplicao so bastante variadas.
No segmento de mercado de baixa potncia possvel encontrar FAC em
pequenos carregadores de bateria [14], em aplicaes udio [15], em telemveis,
cmaras digitais ou mesmo em leitores de CD/DVD portteis [16].
O segmento de mdia potncia dominado pelas FAC, encontrando-se esta
tecnologia bem disseminada em fontes de alimentao para computadores, servidores,
equipamentos de TV e Hi-Fi, sistemas de telecomunicao e UPS, entre outros [10, 17,
18].
No segmento de alta potncia tambm possvel encontrar as FAC, em
particular em sistemas de alimentao modernos para telecomunicaes [19, 20], nos
interfaces com novas fontes de energia, tais como as clulas fotovoltaicas [21, 22] ou
em parques elicos [23].
A importncia que as FAC assumem actualmente particularmente visvel em
sistemas crticos, nomeadamente em equipamento mdico (ex. bombas de insulina) [24,
pg _______________________________________________________________

1 Introduo

__________________________________________________________________________________________________________

25], indstria aeroespacial [26-30], em UPS utilizadas em centrais nucleares [31, 32],
em equipamentos electrnicos utilizados em automveis, tais como nos sistemas de
navegao, udio, de controlo da suspenso e de travagem [33] ou em reas emergentes,
tais como no desenvolvimento dos sistemas de traco hbridos e elctricos [33-35].
Para que estes equipamentos funcionem correctamente e em segurana no basta
garantir que as especificaes para as quais foram concebidos sejam satisfeitas apenas
no incio da sua vida, imperativo assegurar o seu bom desempenho ao longo de toda a
sua vida til. Este tema particularmente importante em sistemas crticos onde a falha
numa FAC pode colocar em risco vidas humanas. Desta forma, para se garantir o
correcto funcionamento do equipamento essencial a promoo de planos de
manuteno adequados.
A implementao de procedimentos correctos de manuteno que permitam
reduzir a frequncia de paragens e, mais importante ainda, que permitam reduzir as
paragens inoportunas revela-se de extrema importncia. Assim, se os procedimentos de
manuteno forem escassos, a probabilidade do aumento dos custos devidos a avarias e
ao tempo de paragem aumenta significativamente. Alm disso, as consequncias
devidas diminuio da qualidade do servio prestado sero consideravelmente
maiores. Por outro lado, se os procedimentos de manuteno forem excessivos, os
custos de manuteno sero demasiado elevados aos quais se tero que somar os custos
associados a cada paragem. Outros procedimentos podem ser implementados para
reforar a qualidade do funcionamento e segurana dos equipamentos, tais como: o
aumento da capacidade do sistema, o desenvolvimento de sistemas redundantes e a
utilizao de componentes de melhor qualidade [36]. No entanto, estas solues
encarecem consideravelmente o custo final do equipamento.
As estratgias de manuteno mais comuns so: manuteno curativa,
manuteno peridica e manuteno condicionada [37]. A primeira, apesar de ser
aparentemente mais simples e econmica, tambm a mais grosseira, visto que assenta
no princpio de que o equipamento dever ser mantido em funcionamento at ao
instante da avaria, altura em que se proceder s aces de reparao necessrias [37]. A
manuteno peridica distingue-se da primeira pelo facto das intervenes de
manuteno serem efectuadas em intervalos de tempo regulares, permitindo desta forma
reduzir a probabilidade de ocorrncia de avarias. Neste caso, a definio do intervalo de
tempo ptimo entre intervenes essencial, visto que, intervalos de tempo longos
resultam num nmero significativo de avarias, enquanto inspeces muito frequentes
pg _______________________________________________________________

1 Introduo

__________________________________________________________________________________________________________

acarretam custos elevados [37]. A manuteno condicionada caracteriza-se por


intervenes de manuteno apenas quando o estado do equipamento o exige. Deste
modo, necessrio possuir um conhecimento actualizado sobre o estado do
equipamento, para intervir em tempo oportuno. Assim, necessrio monitorizar um ou
mais parmetros intrnsecos ao funcionamento do equipamento. Este processo pode ser
contnuo ou regular, e permite atravs da anlise da tendncia evidenciada prever a
ocorrncia de avarias [37].
Por outro lado, os mtodos de diagnstico podem ser caracterizados de acordo
com a forma como se procede sua aplicao: mtodos de diagnstico em situao de
no funcionamento (off-line) e mtodos de diagnstico em servio (on-line) [37]. No
primeiro caso o equipamento dever ser colocado fora de servio enquanto os mtodos
on-line proporcionam o diagnstico do equipamento sem ser necessrio interromper o
seu funcionamento [37].
Pode-se ento concluir que a cada estratgia de manuteno adequam-se
diferentes tipos de mtodos de diagnstico. Em estratgias de manuteno condicionada
faz sentido o desenvolvimento de mtodos de diagnstico on-line, sendo portanto
necessrio monitorizar o estado dos componentes mais vulnerveis a fim de avaliar o
seu estado. Estes mtodos sero abordados de forma mais pormenorizada no captulo 4,
sendo igualmente apresentadas algumas solues. Para promover estratgias de
manuteno peridica podero ser utilizados quer mtodos de diagnstico on-line quer
off-line. Os mtodos de diagnstico off-line sero abordados no captulo 3, onde sero
igualmente apresentadas diversas solues.

1.2 Distribuio de avarias em fontes de alimentao


Na concepo de fontes de alimentao existem duas condies essenciais:
garantir uma elevada densidade de potncia e um peso reduzido. O condensador
electroltico de alumnio, devido s suas caractersticas, permite satisfazer estas
especificaes. Todavia, vrios estudos demonstram que estes condensadores
constituem um dos elementos mais vulnerveis das fontes de alimentao.
Em [38, 39] foram realizados alguns estudos sobre a distribuio de avarias em
dois conversores DC-DC isolados. Para tanto, os autores utilizaram a especificao
militar americana MIL-HDBK 217D.

pg _______________________________________________________________

1 Introduo

__________________________________________________________________________________________________________

No estudo realizado em [38] foi utilizado um conversor ressonante do tipo


forward, o qual pode ser observado na Fig. 2.

Fig. 2. Diagrama esquemtico do conversor forward ressonante utilizado em [38].

Os grficos da Fig. 3 mostram a distribuio de avarias por componente, para


uma temperatura ambiente de 25 C, 40 C e 70 C, para o conversor apresentado na
Fig. 2 [38].

Fig. 3. Distribuio das avarias por componente, do conversor da Fig. 2, para a temperatura ambiente de:
(a) TempA = 25 C, (b) TempA = 40 C e (c) TempA = 70 C [38].

Os dados apresentados na Fig. 3 mostram que o componente que apresenta


maior probabilidade de falha o condensador electroltico de alumnio utilizado no
pg _______________________________________________________________

1 Introduo

__________________________________________________________________________________________________________

filtro de sada do conversor, sendo este componente responsvel por mais de 50 % do


total de falhas da fonte de alimentao. Para alm disso, possvel concluir que o
condensador electroltico o componente mais afectado pelo aumento da temperatura
de funcionamento, visto que a sua taxa de avaria aumenta consideravelmente com a
temperatura. Os transstores e os dodos representam individualmente pouco mais de
20% do total de avarias, verificando-se para ambos os componentes uma reduo
significativa, para temperaturas mais elevadas.
Em [39] foi utilizado um conversor forward de meia ponte que pode ser
observado na Fig. 4.

Fig. 4. Diagrama esquemtico do conversor forward em meia ponte utilizado em [39].

A Fig. 5 mostra a distribuio de avarias por componente de potncia, para uma


temperatura ambiente de 25 C, para o conversor apresentado na Fig. 4 [39].

Fig. 5. Distribuio das avarias por componente de potncia, do conversor da Fig. 4, para a temperatura
ambiente de TempA = 25 C [39].

Aps a anlise dos dados apresentados na Fig. 5 pode-se concluir que o


componente que apresenta maior taxa de avarias o condensador electroltico de
alumnio utilizado no filtro de sada da fonte de alimentao. Este condensador

pg _______________________________________________________________

1 Introduo

__________________________________________________________________________________________________________

responsvel por mais 50 % do total de avarias do conversor, seguindo-se os transstores


e os elementos passivos, sendo o dodo o elementos mais fivel.
Atravs da comparao de ambos os estudos publicados em [38, 39] pode
concluir-se que a taxa de avarias de cada componente varia com a topologia em anlise,
ficando, no entanto, bem claro que, em qualquer dos casos, os condensadores
electrolticos de alumnio so o elemento mais vulnervel. A acrescentar a este facto, o
condensador electroltico de alumnio ainda o elemento com o tempo de vida mais
curto [38].
Em [30] foram realizados estudos de fiabilidade em conversores DC-DC
comutados, utilizados na alimentao dos principais sistema electrnicos de avies
comerciais e militares. Este estudo revelou que a grande maioria das avarias pode ser
atribuda a um pequeno grupo de componentes: transstores, condensadores e dodos.
Neste trabalho mencionado que a distribuio de avarias por componente
dependente da topologia, do tipo de componentes usados, do meio ambiente e da carga.
Nos estudos anteriores, a fonte de energia utilizada era uma fonte DC. De
seguida, sero apresentados alguns estudos que exibem as falhas mais comuns em
fontes de alimentao ligadas rede elctrica.
Um relatrio da empresa Texas Instruments revela que as falhas mais comuns
em fontes de alimentao comutadas se devem aos elementos passivos e
semicondutores [40]. Neste relatrio referido que a principal causa das paragens
nestes equipamentos consequncia de curto-circuitos nos transstores, que provocam
um aumento significativo da corrente de entrada que, por sua vez, conduz actuao do
fusvel desligando a fonte de energia. No mesmo relatrio mencionado que a principal
causa do curto-circuito dos transstores se deve ao mau estado dos condensadores
electrolticos de alumnio. As falhas nos dodos so reportadas como comuns. J o
circuito de controlo considerado relativamente imune a falhas, particularmente quando
a sua taxa de avarias comparada com a taxa de avarias do circuito de potncia. No
entanto, uma falha no sistema de controlo conduz, na grande maioria dos casos, a falhas
no circuito de potncia.
Em [41] possvel encontrar uma descrio sobre as avarias mais comuns em
fontes de alimentao comutadas. Segundo o autor, mais de 95% das avarias nestes
sistemas resultam:

pg _______________________________________________________________

1 Introduo

__________________________________________________________________________________________________________

da fonte de alimentao se encontrar desligada devido actuao do fusvel


de entrada. Esta avaria decorre essencialmente de curtos-circuitos nos
semicondutores (dodos ou transstores), como consequncia de variaes da
tenso e corrente de entrada, de cortes sbitos de energia, descargas elctricas
(relmpagos), ou mau estado dos condensadores electrolticos de alumnio
utilizados no filtro de entrada (perda muito significativa da capacidade, ou
mesmo o condensador em circuito aberto);
da fonte de alimentao se encontrar desligada devido ao mau funcionamento
do circuito de arranque. Geralmente este circuito composto por termistores
NTC ou pelo paralelo de uma resistncia com um TRIAC. A funo deste
circuito limitar a corrente de arranque nos condensadores electrolticos de
alumnio, de entrada, durante o seu carregamento [42]. Se algum destes
componentes estiver em circuito aberto no haver passagem de corrente;
de uma ou mais sadas da fonte de alimentao com ripple muito superior ao
especificado pelo fabricante. Neste caso, o ripple da tenso de sada
manifesta-se frequncia da rede (50 Hz) ou dupla da rede (100 Hz). Este
fenmeno resulta do mau estado dos condensadores electrolticos de alumnio
utilizados no filtro de entrada;
de uma ou mais sadas da fonte de alimentao com ripple muito superior ao
especificado pelo fabricante. Neste caso, o ripple da tenso de sada
manifesta-se a altas frequncias ( frequncia de comutao dos transstores).
Este fenmeno resulta do mau estado dos condensadores electrolticos de
alumnio utilizados no filtro de sada;
de um rudo contnuo acompanhado por uma ou mais sadas com baixa
tenso. A principal causa para esta manifestao a ocorrncia de curtos-circuitos nos semicondutores, falhas no circuito de controlo, ou no sensor de
sobretenso;
da tenso nas sadas da fonte ser oscilante. As principais causas so:
semicondutores em curto-circuito, defeitos nos sensores de sobretenso e
sobrecorrente, ou defeito no circuito de controlo.
O autor refere ainda que todas as situaes mencionadas podem resultar de
outros factores tais como: ms ligaes resultantes de deficientes soldaduras ou mesmo
carga excessiva.

pg _______________________________________________________________

10

1 Introduo

__________________________________________________________________________________________________________

As fontes de alimentao ATX (Advanced Technology Extended), muito


utilizadas em computadores, so um exemplo tpico destas manifestaes. Nestes
circuitos, comum encontrar os condensadores utilizados no filtro de entrada em muito
mau estado, facto este que conduz, na grande maioria das vezes, destruio dos
transstores.
As fontes de alimentao ininterruptas, vulgarmente conhecidas por UPS, so
responsveis pelo fornecimento de potncia a equipamento de medida e controlo
utilizado em centrais nucleares. Em [31] foi realizado um estudo sobre o impacto das
falhas de UPS no funcionamento das centrais nucleares. Neste estudo concluiu-se que
os condensadores electrolticos de alumnio so os principais responsveis pelas falhas
das UPS.
Um relatrio tcnico do EPRI (Electrical Power Research Institute) [32]
demonstra claramente que os condensadores electrolticos de alumnio, incorporados
nas fontes de alimentao utilizadas em centrais nucleares norte americanas, so
responsveis por um elevado nmero de avarias. Estas fontes so responsveis pelo
fornecimento de energia a cargas crticas, tais como equipamento de medida ou de
controlo das centrais nucleares (Fig. 6).
regulador de tenso
transformador

transstor

tirstor

condensador

potencimetro

fusvel

dodo
PCB

Fig. 6. Distribuio de avarias por componente, em fontes de alimentao utilizadas em centrais


nucleares [32].

Na Fig. 6 possvel destacar o condensador electroltico de alumnio como o


elemento mais crtico das fontes de alimentao utilizadas em centrais nucleares, sendo
responsvel por aproximadamente metade das falhas ocorridas.
pg _______________________________________________________________

11

1 Introduo

__________________________________________________________________________________________________________

As falhas em semicondutores so essencialmente do tipo estrutural [40],


resultando num curto-circuito ou num circuito aberto. J as falhas nos condensadores
electrolticos de alumnio so essencialmente do tipo paramtrico, resultando, na grande
maioria dos casos, da sua degradao gradual. A principal causa de falha nos
condensadores electrolticos resulta do seu envelhecimento, sendo o seu tempo de vida
definido por um dos parmetros do seu circuito equivalente que mais varia durante esse
perodo: a sua resistncia interna [43-45]. Refira-se que o tempo de vida definido em
[38, 39, 43-45] resulta de relatrios tcnicos, como a especificao militar americana
MIL-HDBK 217D, que tratam resultados estatsticos sobre a distribuio de falhas em
equipamentos permitindo, desta forma, determinar os componentes mais vulnerveis.
Deste modo, pode ento concluir-se que os condensadores electrolticos so um
dos elementos mais vulnerveis das fontes de alimentao. Para alm disso, como na
grande maioria dos casos as falhas dos condensadores so do tipo paramtrico,
possvel identificar o seu estado atravs da identificao do valor da sua resistncia
interna ou capacidade. O mesmo no sucede com os semicondutores, visto que as suas
avarias so do tipo estrutural, resultando na grande maioria dos casos, na interrupo do
funcionamento da fonte de alimentao.

1.3 Resumo
O desenvolvimento de tcnicas experimentais que permitam caracterizar o
esquema equivalente do condensador electroltico de alumnio revela-se essencial na
concepo de diversos equipamentos de electrnica e no desenvolvimento de tcnicas
de diagnstico de avarias, em particular, em equipamentos de electrnica de potncia
tais como as FAC.
As FAC possuem um papel fulcral na alimentao de diversos equipamentos
electrnicos, desde computadores, equipamentos de telecomunicaes, UPS, sistemas
de propulso de veculos elctricos hbridos, at sistemas crticos como equipamento
mdico ou sistemas de controlo e medida de centrais nucleares, entre outros. Desta
forma imprescindvel garantir a elevada fiabilidade deste equipamento. Este facto no
depende exclusivamente da fase de concepo, mas tambm da implementao de
correctos planos de manuteno, baseados em estratgias de manuteno condicionada,
os quais implicam a monitorizao do equipamento a fim de avaliar o seu estado, ou de

pg _______________________________________________________________

12

1 Introduo

__________________________________________________________________________________________________________

estratgias de manuteno peridica, que exigem a paragem do equipamento em


ocasies consideradas adequadas.
Como ficou demonstrado neste captulo, os principais elementos responsveis
pela grande maioria das avarias em FAC so os condensadores electrolticos de
alumnio, os transstores e os dodos, sendo os primeiros, responsveis por mais de
metade das avarias neste equipamento.
As falhas nos semicondutores so do tipo estrutural, manifestando-se sob a
forma de um curto-circuito ou circuito aberto que, na grande maioria dos casos, provoca
a interrupo no funcionamento da fonte, no permitindo desta forma uma interveno
atempada. J no caso dos condensadores electrolticos, as falhas so do tipo
paramtrico, manifestando-se pelo aumento da sua resistncia interna ou reduo da
capacidade. Desta forma, atravs da estimao da resistncia e capacidade possvel
avaliar o estado actual do condensador e intervir atempadamente, a fim de evitar o
aparecimento de uma avaria do tipo estrutural que conduziria interrupo da
alimentao.

pg _______________________________________________________________

13

2 Condensadores: Aspectos
Relevantes
Para melhor compreender o desenvolvimento de tcnicas de medida que
permitam caracterizar o esquema equivalente dos condensadores indispensvel tecer
algumas consideraes sobre este componente. Desta forma, neste captulo sero
abordados alguns aspectos relacionados com o princpio de funcionamento e o circuito
equivalente dos condensadores, assim como, acerca dos factores que influenciam o seu
comportamento, os parmetros do seu circuito equivalente e quais as consequncias de
tais modificaes. Estes aspectos so fulcrais para compreender os problemas
associados implementao das referidas tcnicas de medida.
Assim, este captulo comea por descrever de forma sumria a composio e o
funcionamento de um condensador.
Tipicamente, um condensador composto por dois materiais condutores,
comummente designados por armaduras, que esto separadas por um material no
condutor, designado por dielctrico, de elevada qualidade, que impede a conduo entre
as armaduras. Esta estrutura permite que o condensador armazene energia sob a forma
de um campo elctrico [46], conforme se ilustra na Fig. 7.
Como o dielctrico no permite a circulao de electres livres entre as
armaduras, quando se liga o condensador a uma fonte de tenso verifica-se uma

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

redistribuio de cargas nas armaduras. Assim, supondo que o condensador se encontra


descarregado, ou seja, com carga neutra, quando se aplica uma tenso aos seus terminais
o plo negativo da fonte de tenso ir repelir os electres da armadura a ele ligado
(terminal negativo do condensador). Por sua vez, o plo positivo da fonte ir atrair os
electres da outra armadura do condensador (terminal positivo do condensador),
fenmeno este que pode ser observado na Fig. 7.

Fig. 7. Estrutura bsica e princpio de funcionamento de um condensador.

Desta forma, criado um campo elctrico no dielctrico que repele os electres


do terminal positivo do condensador e atrai os electres para o terminal negativo do
condensador. Se a intensidade deste campo for demasiado elevada verifica-se a ruptura
do dielctrico, passando o condensador a conduzir entre as armaduras. Este processo
ocorre quando a tenso aos terminais do condensador superior sua tenso nominal.
Para descarregar ou neutralizar o condensador, necessrio criar um caminho
atravs do qual as cargas possam circular, o que pode ser concretizado atravs da
ligao de um condutor entre as armaduras.
A capacidade do condensador (C) traduz a quantidade de carga (q) que o
condensador pode acumular. Por sua vez, q depende de C e da tenso aplicada aos
terminais do condensador (V):
C=q

(2.1)

Atravs da observao da Fig. 7 facilmente se pode concluir que quanto maior


for a superfcie das armaduras (Sa), mais linhas de campo podero surgir entre elas e
menor ser o fluxo de fugas; logo o valor do campo elctrico no dielctrico pode ser
superior, podendo o condensador armazenar mais carga. Da mesma forma se pode

pg _______________________________________________________________

15

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

concluir que, quanto menor for a espessura do dielctrico (dd) maior ser a concentrao
das linhas de fora do campo elctrico no dielctrico, logo a intensidade do campo
elctrico aumenta, permitindo aumentar a capacidade do condensador [47]. A
permitividade () uma propriedade intrnseca do dielctrico que representa a
capacidade do material em armazenar cargas elctricas [46]. Assim, pode definir-se
geometricamente a capacidade de um condensador atravs da equao:

C=

Sa

(2.2)

dd

A corrente elctrica iC, que representa a movimentao de cargas descrita


previamente, pode ser obtida matematicamente diferenciando a equao (2.1):

iC = C
representando

dv
dt

(2.3)

dv
a variao da tenso aos terminais do condensador.
dt

Alguns dos dielctricos mais utilizados actualmente no fabrico de condensadores


so: o xido de alumnio e de tntalo, alguns materiais cermicos e filmes metlicos.
A Tabela 1 mostra a permitividade de alguns materiais no condutores utilizados
no fabrico de condensadores [48].
TABELA 1 PERMITIVIDADE DE ALGUNS MATERIAIS NO CONDUTORES USADOS NO FABRICO DE
CONDENSADORES [48].

xido de
Alumnio
(Al2 O3 )

xido de
Tntalo
(Ta2 O5)

Material Cermico
(Titanato de Brio
Ba Ti O3)

Filme Metlico
(Polipropileno e
Polister)

8 10

27

1500 15000

2.1 3.1

As propriedades do dielctrico definem o comportamento do condensador,


excepto para aplicaes de elevada potncia onde a condutividade das armaduras e das
ligaes determinam o pico mximo de corrente e as perdas.
Um condensador ideal no produz calor, no sendo o caso dos condensadores
reais, onde o calor gerado pela passagem de corrente na resistncia interna do
condensador. O factor de dissipao (DF) uma medida dessa resistncia, pelo que
quanto maior for o seu valor, maiores so as perdas do condensador e menor ser o seu
tempo de vida [49].

pg _______________________________________________________________

16

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

2.1 Tecnologias utilizadas no fabrico de condensadores


Na actualidade, possvel distinguir trs tecnologias distintas de condensadores
[50]: cermicos, electrolticos e de filme.
Os condensadores electrolticos fornecem uma elevada eficincia volumtrica
(capacidade por unidade de volume) e uma boa relao custo/desempenho [51], sendo
por isso a tecnologia mais utilizada [52]. No entanto, estes condensadores apresentam
perdas elevadas, para alm de possurem polaridade [53, 54]. Por este motivo, so
essencialmente utilizados em aplicaes DC, tais como, circuitos de telecomunicaes,
iluminao (lmpadas estroboscpicas), balastros electrnicos, em unidades de controlo,
barramento DC de accionamentos electromecatrnicos, fontes de alimentao
comutadas (muito utilizadas em computadores), UPS, ferros de soldar, indstria
informtica (motherboards) [55], equipamento mdico (desfibriladores) [56] e
equipamento multimdia [57], entre outros. Estes condensadores podem ser
subdivididos em condensadores de tntalo e de alumnio.
Os condensadores de tntalo possuem um dielctrico composto por pentxido de
tntalo, cuja permitividade trs vezes superior do xido de alumnio utilizado em
condensadores electrolticos de alumnio, conforme pode ser observado na Tabela 1.
Esta caracterstica, permite-lhes atingir uma boa eficincia volumtrica. Por outro lado,
tanto a capacidade como o factor de dissipao so relativamente constantes com a
temperatura e o envelhecimento, sendo a corrente de fugas reduzida e relativamente
estvel [58]. Tipicamente, so utilizados em equipamento audiovisual porttil, tal como
cmaras de filmar, telemveis ou mquinas fotogrficas [57, 59], sendo igualmente
utilizados na indstria automvel, visto que a sua temperatura de funcionamento pode
alcanar os 175 C [60]. Estes condensadores podem ser construdos com electrlitos
lquidos ou slidos [49, 61], para capacidades que podem variar desde 0.1 F at 1000
F e tenses desde 2 V at 50 V [61]; da que as suas aplicaes sejam relativamente
limitadas, em particular, para mdia e elevada tenso. Alm disso, so mais caros que os
condensadores electrolticos de alumnio [58]. A falha mais comum nos condensadores
de tntalo o curto-circuito acompanhado pelo fogo [61], o que condiciona igualmente
a sua utilizao.
A tecnologia de alumnio apresenta, numa fase inicial do seu tempo de vida, uma
taxa de avarias menor que a dos seus congneres de tntalo, mas, com o

pg _______________________________________________________________

17

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

envelhecimento, a taxa de avarias aumenta significativamente, ultrapassando a taxa de


avarias dos condensadores de tntalo [58]. Os condensadores de alumnio possuem um
factor de dissipao maior, e tanto este como a capacidade variam com a frequncia e o
envelhecimento [58, 61]. A sua capacidade nominal pode variar desde 0.1 F at 3 F,
para tenses que podem variar de 5 V at 500 V [61], alargando significativamente o
leque de aplicaes. Neste caso, a avaria mais comum traduz-se sob a forma de um
circuito aberto [61].
A elevada eficincia volumtrica dos condensadores electrolticos conseguida
custa de dielctricos muito finos [62], pois a permitividade de ambos os xidos
(tntalo e alumnio) bastante pequena (Tabela I), particularmente quando comparada
com a dos condensadores cermicos.
Os condensadores de filme possuem um valor de capacidade muito preciso (a
capacidade possui tolerncias muito reduzidas) e que varia muito pouco com a
temperatura; alm disso, a corrente de fugas muito pequena e no possuem polaridade.
No entanto, so relativamente grandes, pesados e caros [61]. As suas aplicaes mais
comuns so: filtros EMC (compatibilidade electromagntica), redes snubber, UPS [61],
circuitos de controlo do factor potncia [53, 63, 64], balastros electrnicos [53, 65, 66],
barramento DC de variadores electrnicos de velocidade [53], (em particular quando
so necessrios elevados picos de corrente, como em traco elctrica), mquinas de
lavar roupa e loua, frigorficos, mquinas de secar roupa, aparelhos de ar condicionado
compressores elctricos [63], e circuitos de iluminao [66, 67], entre outros. Os
polmeros mais utilizados no fabrico de condensadores de filme so: polister,
policarbonato e polipropileno [68].
Os condensadores de filme de polister possuem dimenses mais reduzidas, pois
a permitividade do polister mais elevada; no entanto, as perdas so maiores,
revelando desde logo limitaes para aplicaes de elevada potncia, particularmente
devido ao aumento do factor de dissipao com a temperatura e a frequncia [68].
Geralmente, so comercializados para capacidades que podem variar desde 1 nF at 15
F e para tenses DC que podem variar desde 50 V at 1000 V ou em aplicaes AC
para tenses que podem variar desde 35 V at 600 V [61]. Estes condensadores so
utilizados em equipamento de telecomunicaes, no sistema de injeco dos motores,
em televisores e monitores, em circuitos de controlo [69] e em algumas aplicaes de
electrnica de potncia onde a dimenso se torna um factor determinante [68].

pg _______________________________________________________________

18

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

Os condensadores de filme de policarbonato possuem um factor de dissipao


reduzido para as diferentes frequncias e temperaturas de operao, apresentando
capacidades com tolerncias muito reduzidas. No entanto, no so particularmente
utilizados em aplicaes de electrnica de potncia, pois possuem limitaes em
suportar elevados valores RMS de corrente, assim como picos, para alm de serem
consideravelmente mais caros quando comparados com os de polister e polipropileno.
[68].
Do grupo dos condensadores de filme, os de polipropileno so os mais utilizados
em aplicaes de electrnica de potncia, possuindo uma excelente resposta em
frequncia, sendo os valores de DF e ESR reduzidos [68]. Estes condensadores possuem
capacidades com tolerncias muito pequenas, sendo comercializados para capacidades
inferiores a 65 F para tenses DC, que podem variar desde 100 V at 3000 V e, em
aplicaes AC para tenses que podem variar desde 70 V at 500 V [61]. Os
condensadores de polipropileno so utilizados especialmente em aplicaes de elevada
tenso, em que a tolerncia da capacidade muito pequena, ou em aplicaes em que os
picos de corrente so muito elevados [70]. Esta tecnologia tem vindo sucessivamente a
substituir os condensadores electrolticos em algumas aplicaes onde tradicionalmente
estes eram bastante utilizados, como por exemplo: accionamentos de traco de
comboios [71-73] ou de veculos elctricos [74]; barramento DC de sistemas de gerao
foto voltaicos [75, 76] e em equipamentos de ar condicionado [77]. Este facto deve-se
s caractersticas intrnsecas dos condensadores de polipropileno, tais como: um tempo
de vida bastante superior ao dos seus congneres de alumnio, a componente indutiva
ser consideravelmente inferior e possurem uma enorme capacidade para suportar
elevados picos de corrente [71-77].
As caractersticas dos condensadores cermicos revelam-se essenciais para
aplicaes de alta frequncia, devido s suas caractersticas no indutivas,
especialmente, quando comparados com os condensadores electrolticos e de filme.
Refira-se ainda a existncia de duas classes de condensadores cermicos: classe I e II
[78].
Os condensadores cermicos do tipo classe I so muito precisos, estveis (as
caractersticas no variam significativamente com a tenso, temperatura e
envelhecimento), o factor de dissipao muito pequeno e a dependncia da capacidade
com a temperatura linear. No entanto, possuem uma baixa eficincia volumtrica,
devido sua menor permitividade [79, 80]. Estes condensadores so empregues
pg _______________________________________________________________

19

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

especialmente em circuitos de alta frequncia (1 GHz), em circuitos ressonantes, ou


outras aplicaes onde a estabilidade seja preponderante [78, 79], sendo
comercializados tipicamente para capacidades inferiores a 10 nF.
Os condensadores cermicos do tipo classe II, apesar da sua elevada eficincia
volumtrica, no apresentam o mesmo comportamento que os seus congneres da classe
I, para altas frequncias. Neste caso, verifica-se um aumento do factor de dissipao
para frequncias superiores a 1 MHz. Alm disso, so menos precisos e a dependncia
da capacidade com a temperatura no linear [78, 79]. Os condensadores pertencentes
classe II so utilizados em redes snubber e em inversores ressonantes [80].
As falhas mais comuns nos condensadores cermicos podem traduzir-se sob a
forma de um circuito aberto, de um curto-circuito, de uma reduo significativa da sua
resistncia ou simplesmente pela reduo da capacidade [81].
Nesta dissertao sero apenas considerados os condensadores electrolticos de
alumnio.

2.2 Condensador electroltico de alumnio


De acordo com as previses do Instituto de Pesquisa Industrial e Tecnolgica de
Taiwan (ITRI) a procura de condensadores electrolticos de alumnio aumenta
anualmente entre 8% a 10% [82], facto este que se deve s excelentes caractersticas
destes condensadores, tais como a elevada eficincia volumtrica, baixo custo e uma
grande variedade de sries, quer no que respeita tenso quer no que respeita
capacidade.
Para alm disso, algumas das suas desvantagens podem ser ultrapassadas ou
minimizadas. Com efeito, o facto de possurem polaridade no impede que sejam
utilizados em aplicaes AC, pois ao colocar dois condensadores em anti-srie (ambos
os terminais negativos ou positivos ligados entre si) cria-se um condensador com
metade da capacidade, mas sem polaridade [61]. Tambm o elevado factor de
dissipao pode ser reduzido atravs do aumento do nmero de presilhas [83] ou atravs
da utilizao de electrlitos e armaduras com menos resistncia [84]. Por sua vez, a
indutncia do condensador pode ser reduzida atravs da colocao em paralelo de um
condensador de menor capacidade e com bastante menor indutncia, ou atravs da
utilizao de condensadores com terminais com menor indutncia [85]. Por ltimo, as

pg _______________________________________________________________

20

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

elevadas temperaturas de operao que reduzem o tempo de vida dos condensadores


podem ser reduzidas atravs da utilizao de condensadores que permitam a colocao
de dissipadores trmicos [86, 87] ou atravs da utilizao de ventiladores [87].
Por estes motivos, os condensadores electrolticos tornaram-se os mais
utilizados em aplicaes de electrnica, e em particular em aplicaes de electrnica de
potncia [52].

2.2.1 Constituio
O condensador electroltico de alumnio possui um elemento impregnado com
um electrlito lquido, que est ligado aos terminais do condensador e fechado num
recipiente [61] (Fig. 8).

Fig. 8. Estrutura bsica de um condensador electroltico de alumnio com electrlito lquido: (a) interior
da cobertura, (b) estrutura completa [89] e (c) fotografia do elemento [91].

O elemento composto por duas armaduras (lminas de alumnio) e por


separadores de papel impregnados em electrlito [84, 85, 88] (Fig. 8). As armaduras so
compostas por alumnio puro onde so gravados milhes de tneis microscpicos que
aumentam consideravelmente a sua superfcie (Fig. 9). Este processo conseguido
atravs de uma soluo de cloreto que dissolve o metal, formando uma densa rede de
tneis microscpicos [89]. O dielctrico, xido de alumnio (Al2O3), formado sob a
armadura do nodo atravs de um banho quente de electrlito [88, 89], usualmente uma
soluo de borato de amnio [89], para tenses 20% a 50% superiores s nominais [88].
O electrlito, composto por um solvente como o glicol de etileno e um soluto como o
borato de amnio [90], serve no s como condutor, mas tambm para reparar os

pg _______________________________________________________________

21

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

defeitos no dielctrico, fornecendo oxignio [88] para se formar Al2O3. Na Fig. 8


possvel observar a composio do elemento [89, 91].
Os tneis microscpicos das armaduras (Fig. 9) permitem aumentar a superfcie
de contacto entre o dielctrico e o nodo em mais de 100 vezes; alm disso, a espessura
do dielctrico inferior a 1 m. Desta forma, possvel atingir capacidades colossais
para dimenses bastante pequenas [48, 51, 52, 55, 61, 88, 89], como se pode concluir a
partir da equao (2.2).

Fig. 9. Fotografia da armadura do nodo de condensadores electrolticos de alumnio [51]: (a)


condensadores de elevada tenso (ampliao 400 ), (b) condensadores de baixa tenso
(ampliao 400 ) e (c) representao dos tneis microscpicos.

A armadura do ctodo possui usualmente da espessura da armadura do nodo,


sendo o dielctrico formado de uma forma natural, tipicamente para tenses de 1 V a 3
V; logo a espessura do dielctrico junto armadura do ctodo consideravelmente mais
fina (Fig. 10). Desta forma, pode concluir-se que o condensador electroltico possui
internamente dois condensadores em srie: um formado pela armadura do ctodo e o
electrlito; e o outro, pela armadura do nodo e o electrlito (Fig. 10). O condensador
do ctodo possui uma capacidade muito mais elevada, pois o dielctrico mais fino,
logo como ambos esto em srie, apenas se considera a capacidade do condensador do
nodo [83-85, 88].
A Fig. 10 mostra a composio bsica de um condensador electroltico de
alumnio. [92]
Os separadores de papel permitem manter o electrlito entre ambas as armaduras
e, simultaneamente, evitam o contacto entre estas [88, 89].
As armaduras conjuntamente com os separadores de papel so enroladas num
cilindro para formar o elemento, que posteriormente introduzido num recipiente e
pg _______________________________________________________________

22

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

fechado (Fig 8). Durante o funcionamento do condensador, o electrlito evapora-se de


uma forma natural, aumentando a presso do gs no interior do recipiente. Para evitar
uma exploso provocada pelo excesso de presso no interior do condensador, o
recipiente possui um mecanismo de escape que permite libertar o electrlito de forma
controlada [51, 89].

Fig.10. Composio bsica de um condensador electroltico de alumnio [92].

2.2.2 Circuito equivalente


Os condensadores reais possuem alguns elementos parasitas que influenciam de
forma determinante o seu comportamento, tais como a sua resistncia srie equivalente
(ESR) e a indutncia srie equivalente (ESL).
A ESR representa a resistncia total do condensador e inclui a resistncia dos
terminais, das presilhas, das armaduras, do conjunto electrlito-papel e do dielctrico
[88]. A resistncia dos terminais e presilhas depende essencialmente da condutividade
do material e da geometria [88]. A resistncia das armaduras depende do nmero de
presilhas e do material [83, 88]. O coeficiente de temperatura destes trs elementos
positivo, visto que o material utilizado essencialmente alumnio. J o efeito da
frequncia pode ser descurado para frequncias inferiores a 100 kHz sendo que, para
frequncias superiores, o efeito pelicular comea a manifestar-se [88]. A resistncia do
conjunto electrlito-papel depende da resistncia do electrlito, da resistncia do papel e
do espaamento de ambos os elementos [83, 88]. Este parmetro diminui
significativamente com a temperatura (reduzindo o seu valor de 40 % a 80 % quando a
temperatura aumenta de 25 C a 85 C) [88]. Durante o processo de formao do
dielctrico surgem alguns defeitos, permitindo estas imperfeies a passagem da
corrente [93]. Esta corrente designada por corrente de fugas e modelizada por uma
resistncia, a resistncia do dielctrico, cujo valor extremamente elevado; tipicamente
100/C M, sendo C a capacidade do condensador em F [61]. A resistncia do

pg _______________________________________________________________

23

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

dielctrico diminui com o envelhecimento do condensador, permitindo que a corrente de


fugas do condensador aumente. Geralmente os fabricantes fornecem o valor limite da
corrente fugas, a partir do qual o condensador deve ser colocado fora de servio.
A ESL resulta fundamentalmente do circuito formado pelos terminais e presilhas
[88] e no varia significativamente com a frequncia e a temperatura [61, 88].
Tipicamente, o valor de ESL aproximadamente igual a 1-2 nH/mm do espaamento
entre terminais, para condensadores radiais [88].
A Fig. 11 mostra o esquema equivalente de um condensador electroltico, onde
RP representa a resistncia do dielctrico, RS o efeito da resistncia dos terminais, das
armaduras, das presilhas e do conjunto electrlito-papel, C a capacidade, ESL a
indutncia srie equivalente e o dodo zener modeliza o comportamento do condensador
quando sujeito a tenses superiores nominal ou a tenses contrrias sua polaridade
[61].

Fig. 11. Circuito equivalente do condensador electroltico de alumnio [61].

Quando o condensador sujeito a tenses superiores tenso nominal, a


corrente de fugas aumenta significativamente, logo o condensador comporta-se de
forma semelhante a um dodo zener quando polarizado inversamente, sendo a tenso
nominal do condensador equivalente tenso zener do dodo. Por outro lado, se o
condensador for submetido a uma tenso contrria sua polaridade, a corrente de fugas
aumentar significativamente, logo o condensador exibir um comportamento
semelhante ao de um dodo zener directamente polarizado.
O circuito anterior pode ser simplificado se a sua polaridade e tenso nominal
forem respeitadas e, considerando todos os efeitos resistivos numa nica resistncia,
ESR:
ESR = RS +

1
w RP C 2
2

(2.4)

tal como pode ser observado na Fig. 12.

pg _______________________________________________________________

24

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 12. Circuito equivalente simplificado do condensador electroltico de alumnio [38-39, 45, 88-89].

2.2.3 Informao fornecida pelos fabricantes


A grande maioria dos fabricantes de condensadores electrolticos de alumnio
fornece pouca informao sobre os seus produtos. Para alm disso, a escassa informao
veiculada peca por ser pouco rigorosa, como ser demonstrado no Captulo 3.
Tipicamente, a informao fornecida pelos fabricantes resume-se a [51, 61, 89]:

gama de temperaturas de operao;

tenso nominal do condensador;

tolerncia da capacidade;

valor mximo do factor de dissipao e capacidade do condensador (para


uma frequncia de operao de 120 Hz e temperatura de 25 C);

valor mximo da corrente de fugas;

valor mximo do ripple da corrente no condensador (valor eficaz


frequncia de 120 Hz e temperatura de 25 C);

multiplicadores de frequncia e temperatura;

dimenses do condensador (dimetro x altura - dC lC);

valores mximos de variao da capacidade e factor de dissipao que


permitem definir o limite de vida til do condensador.

A gama de temperaturas de operao representa as possveis temperaturas de


funcionamento do condensador. Estes valores dependem da tenso de formao do
dielctrico durante o processo de fabrico do condensador [61].
A tenso nominal representa a tenso mxima DC de funcionamento do
condensador. Alguns fabricantes fornecem tambm a tenso mxima de pico, que
definida como a tenso mxima DC a que o condensador pode ficar sujeito,
temperatura de 25 C, para um intervalo de tempo mximo de 30 segundos,
considerando que o espao temporal entre picos dever ser, no mnimo, de 5 minutos
[61].
A capacidade fornecida como uma tolerncia que pode variar entre 10 % e 75
%, sendo o valor mais comum de 20 %. Este valor obtido atravs de uma ponte de
pg _______________________________________________________________

25

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

medida alimentada por uma fonte AC pura (que produz um sinal sinusoidal com uma
frequncia de 120 Hz, valor eficaz de 1 V e sem componente contnua) temperatura de
25 C [61].
O factor de dissipao constitui uma medida das perdas do condensador, estando
relacionado com a capacidade e a ESR pela equao:
DF =

ESR
= ( 2 f C ) ESR
XC

(2.5)

Deste modo, utilizando o valor de DF e da capacidade, possvel determinar o


valor mximo de ESR temperatura de 25 C e frequncia de 120 Hz. O valor de ESR,
obtido a partir dos dados fornecidos pelo fabricante, possui um erro significativo, como
ser demonstrado no Captulo 3.
A corrente de fugas do condensador pode ser determinada atravs de um
procedimento experimental bastante simples. Para tal, necessrio colocar o
condensador em srie com uma resistncia e aplicar a ambos a tenso nominal do
condensador. A resistncia serve como limitador de corrente e, simultaneamente, como
sensor de corrente. Aps o perodo transitrio, geralmente inferior a 5 minutos,
dependendo do valor da resistncia, a corrente flui de forma constante. Este fenmeno
pode ser observado na Fig. 17. A corrente medida aps cinco minutos designada por
corrente de fugas em regime permanente, valor este que deve ser medido temperatura
de 25 C, visto que varia com a temperatura. Se o valor obtido for superior ou igual ao
limite fornecido pelo fabricante, o condensador dever ser substitudo.
O valor mximo do ripple da corrente no condensador, fornecido em termos de
valor eficaz, deve ser respeitado durante o seu funcionamento, de forma a garantir que a
temperatura do condensador no ultrapasse o valor mximo definido pelo fabricante. O
ripple de corrente contribui para o aumento da temperatura do condensador conduzindo
a uma reduo significativa do seu tempo de vida [61]. As perdas por efeito de joule (Pj)
no condensador, podem ser calculadas atravs de (2.6) onde iCef representa o valor
eficaz do ripple da corrente no condensador (iC) [94].

Pj = ESR ( iCef

(2.6)

Caso a forma de onda da corrente no condensador possua diferentes harmnicos,


a frmula anterior dever ser substituda por (2.7), onde iChief representa o valor eficaz

pg _______________________________________________________________

26

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

do ripple da corrente no condensador para o harmnico i e ESRhi o valor de ESR para a


frequncia do harmnico i [94].
n

Pj = ESRhi ( iChief
i =1

(2.7)

O valor mximo de iC varia no apenas com a ESR, mas tambm com as


dimenses do condensador (dC lC), com a frequncia (f) e com a temperatura de
funcionamento (Temp) [51]. Habitualmente, o valor de iCef fornecido pelo fabricante
considera que a cobertura do condensador est em contacto com o ar e que a
temperatura no elemento igual da cobertura.
Por outro lado, o aumento da temperatura e da frequncia conduzem reduo
do valor de ESR, logo, Pj diminui. Desta forma, essencial a utilizao dos coeficientes
de temperatura e da frequncia para calcular o valor mximo de iCef , visto que o valor
de ESR varia com ambos os factores.
Por outro lado, o calor gerado no interior do condensador depende no s de iC
mas tambm da corrente de fugas, da temperatura ambiente e do calor gerado por outros
componentes circundantes [94], factores que tm de ser equacionados durante o
funcionamento do condensador, atravs dos multiplicadores de temperatura.
A grande maioria dos fabricantes fornece alguma informao relativa ao limite
do tempo de vida dos condensadores, informao esta que varia com o fabricante e com
a srie do condensador. Em [94], o tempo final de vida de um condensador definido
como o ponto em que uma das seguintes condies satisfeita: ESR duplicou em
relao ao seu valor inicial, a capacidade variou pelo menos 10 % em relao ao seu
valor inicial ou a corrente de fugas ultrapassou o limite estabelecido pelo fabricante.
Para alm da informao anterior, alguns fabricantes fornecem tambm o tempo
mximo de vida do condensador sua temperatura nominal (LTN). Este valor varia
tipicamente entre 1000 e 10000 horas, para condensadores electrolticos de alumnio, o
que correspondente, respectivamente, a seis semanas ou um ano e sete semanas (Figs.
23-24).

2.2.4 Influncia da temperatura e frequncia no circuito


equivalente do condensador
As caractersticas fsicas e qumicas do condensador modificam-se se as
condies ambientais forem alteradas, sofrendo os parmetros do seu esquema
pg _______________________________________________________________

27

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

equivalente desvios que, em certos casos, podem ser significativos. Os factores que
mais contribuem para essas modificaes so a temperatura e a frequncia de operao
do condensador. Com efeito, a ESR diminui com o aumento da frequncia e da
temperatura. J a capacidade aumenta com a temperatura e diminui com a frequncia.
Por sua vez, a ESL no sofre particular modificao com a variao da frequncia e da
temperatura [61, 95, 96].
Tipicamente, a ESR diminui entre 35 % a 50 % quando a temperatura aumenta
de 25 C at ao valor mximo admissvel, podendo aumentar mais de cem vezes para a
temperatura de -40 C [61]. A explicao para este fenmeno deve-se ao aumento da
condutividade do electrlito com a temperatura.
O efeito da temperatura na resistncia do electrlito pode ser modelizado por um
factor exponencial [95], como se pode analisar atravs de (2.8), onde Rele(Temp0)
representa a resistncia do electrlito temperatura Temp0, Rele(Temp1) a resistncia do
electrlito temperatura Temp1 e E o factor de sensibilidade da temperatura [95].
(Temp1 Temp0 )

Rele (Temp0 ) = Rele (Temp1 ) e

(2.8)

O factor de dissipao (DF) pode ser definido pela equao (2.9) [97], onde
DFox representa o factor de dissipao do dielctrico, C a capacidade, f a frequncia e RS
a resistncia do electrlito, armaduras, presilhas e terminais.
DF = DFox + w C RS

(2.9)

Utilizando a expresso anterior possvel calcular a ESR [97]:


ESR =

DFox + w C RS DFox
=
+ RS
wC
wC

(2.10)

O valor de DFox diminui com a frequncia para a gama de 10 Hz a 1 kHz [97].


Desta forma pode-se concluir, recorrendo a (2.10), que a ESR diminui com frequncia,
pois para alm de ser inversamente proporcional a esta, DFox diminui igualmente com a
frequncia. Este fenmeno est relacionado com as perdas de energia resultantes do
alinhamento dos dipolos do dielctrico e o tempo que estes demoram a ficarem
orientados [95].
Em [98], ambos os efeitos da temperatura e frequncia foram considerados
individualmente na definio da ESR:

pg _______________________________________________________________

28

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

ESR =

RP

1+ ( 2 f ) C2 RP2
2

+ Rele + R0

(2.11)

A resistncia R0 representa a resistncia das armaduras, terminais e presilhas. Na


Fig. 13 possvel observar a evoluo da ESR com a temperatura e a frequncia, para
um condensador de 4700 F, 450 V [94].

Fig. 13. Evoluo de ESR de um condensador de 4700 F, 450 V, com a temperatura e a frequncia
[94].

A capacidade do condensador tambm varia com a temperatura, sendo esta


variao dependente da tenso nominal do condensador e do seu tamanho. Tipicamente,
quando a temperatura aumenta de 25 C para o valor mximo admissvel, a capacidade
aumenta aproximadamente 10 %. No entanto, se a temperatura diminui para -40 C o
valor da capacidade diminui aproximadamente 20 % em relao ao seu valor para a
temperatura de 25 C [92] (Fig. 14).

Fig. 14. Dependncia da capacidade com a temperatura (evoluo tpica) [92].

O aumento da capacidade com a temperatura pode ser explicado pelo facto do


electrlito se expandir, cobrindo uma maior rea do dielctrico. Desta forma, recorrendo
equao (2.2), pode concluir-se que a capacidade aumenta. O fenmeno inverso
verifica-se quando a temperatura diminui, em particular, quando esta negativa.

pg _______________________________________________________________

29

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

Na Fig. 14 possvel observar que a evoluo da capacidade com a temperatura


depende da tenso nominal do condensador. Esta variao pode ser explicada pelas
diferentes dimenses das armaduras dos condensadores [97]. Assim, condensadores
com maior capacidade possuem armaduras de maior dimenso, logo o efeito de
expanso do electrlito menos significativo do que num condensador de menor
capacidade.
A capacidade tambm varia com a frequncia, pois a permitividade do xido de
alumnio diminui com a frequncia. A permitividade uma medida do alinhamento dos
dipolos do dielctrico quando sujeito a um campo elctrico. Quando sujeito a elevadas
frequncias, a mudana de direco do campo to rpida que os dipolos no
conseguem acompanh-la, conduzindo a uma reduo da capacidade [96], fenmeno
que pode ser observado na Fig. 15.

Fig. 15. Dependncia da capacidade com a frequncia (evoluo tpica) [89].

2.2.5 Mecanismo de auto-reparao


Os condensadores electrolticos possuem a capacidade de reparar pequenos
defeitos existentes no dielctrico; esse processo designa-se por mecanismo de auto-reparao e ilustrado na Fig. 16 [99].[99]

Fig. 16. Mecanismo de auto-reparao de defeitos no dielctrico [99].

pg _______________________________________________________________

30

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

Durante o processo de formao do dielctrico surgem pequenos defeitos que se


podem manifestar sob forma de pequenas lacunas (zonas entre a armadura e o
electrlito sem dielctrico) ou zonas onde a espessura do dielctrico inferior
espessura mdia, portanto incapazes de suportar tenses prximas da nominal. Esses
pontos permitem a passagem da corrente, visto no existir um meio isolante
(dielctrico), ou este ser de m qualidade (espessura inferior espessura mdia) [93]. O
condensador electroltico construdo de forma a restaurar estes defeitos. Desta forma,
quando o condensador sujeito a uma tenso DC, o electrlito, composto por gua,
fornece oxignio e as armaduras fornecem o alumnio de forma a formar xido de
alumnio. Este xido formado nas zonas defeituosas do dielctrico. Durante este
processo liberta-se o hidrognio existente na gua, que se acumula junto ao ctodo [99,
100], processo esse que sintetizado da seguinte forma [99]:
No nodo: 2 Al 3+ + 3 O-2 Al2O3
No ctodo: 6H + + 6e 3H 2

Quando o condensador est sujeito a condies de operao que respeitem as


condies nominais, a libertao de gs muito reduzida aumentando apenas com o
tempo de vida. No entanto, se a suas condies de funcionamento no respeitarem a
especificaes de tenso, corrente ou temperatura mximas, os defeitos no filme
aumentaro significativamente conduzindo a uma produo significativa de hidrognio,
o que aumenta a presso interna dentro do recipiente, induzindo eventualmente o
mecanismo de escape do condensador a abrir, libertando-se grandes quantidades de gs.
Desta forma, o tempo de vida do condensador diminui drasticamente [99].

2.2.6 Corrente de fugas


A corrente de fugas possui um papel essencial no mecanismo de auto-reparao
descrito na seco anterior, sendo responsvel pelo transporte dos ies de oxignio para
as zonas de defeito do dielctrico [51, 89, 92].
Quando o condensador sujeito a uma tenso DC surge um pico de corrente que
diminui com o tempo, assim que este estiver carregado. O valor desta corrente em
regime permanente representa a corrente de fugas. Este fenmeno pode ser observado
na Fig. 17.

pg _______________________________________________________________

31

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 17. Evoluo da corrente no condensador a quando da aplicao de uma tenso DC [89, 92].

Importa referir que factores como a tenso, a temperatura e o envelhecimento


determinam o valor da corrente de fugas [92], a qual aumenta com a tenso, tal como se
pode observar na Fig. 18. Como a espessura do xido no uniforme, as zonas onde
este menos espesso tem menor capacidade de suportar tenses prximas da nominal,
surgindo deste modo o mecanismo de auto-reparao nessas zonas, aumentando a
corrente de fugas.

Fig. 18. Variao da corrente de fugas com a tenso [92].

Devido relao no linear da caracterstica V-I do condensador, o aumento da


corrente de fugas com a tenso, para tenses inferiores nominal (VN) no linear e
pode ser definido pela equao (2.12) [97]:
VA

I f = R
p

dd
VA C
C
If =
log ( I f ) = log
RP =
+ log (VA )
AS
al 0
al 0

A
C = al 0 S
dd

(2.12)

A tenso VA representa a tenso DC aos terminais do condensador, RP a


resistncia do dielctrico, a resistividade do material, dd a espessura do dielctrico, AS
a superfcie do dielctrico, C a capacidade, al a permitividade do xido e 0 a
permitividade do vazio.

pg _______________________________________________________________

32

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

Para valores de tenso compreendidos entre a tenso mxima de pico (VS) e a


tenso de formao do dielctrico (VF), a corrente de fugas inicia um conjunto de
reaces secundrias tais como: aumento da temperatura, libertao excessiva de gs,
degradao do electrlito e formao inadequada de xido [92]. Este processo pode ser
iniciado mais cedo para tenses superiores tenso nominal (VN) se o perodo de
exposio a estas tenses for superior a 30 segundos [61].
A temperatura permite que o electrlito se expanda aumentando a probabilidade
de este contactar com as imperfeies no dielctrico, contribuindo desta forma, para o
aumento da corrente de fugas, para alm de aumentar a condutibilidade do electrlito
[92]. A Fig. 19 mostra a evoluo da corrente de fugas com a temperatura.

Fig. 19. Evoluo tpica da corrente de fugas (If) com a temperatura [92].

O envelhecimento do condensador conduz a um aumento da corrente de fugas


devido diminuio de RP [97].

2.2.7 Factores que condicionam o tempo de vida do


condensador
O tempo de vida do condensador pode ser condicionado por diversos factores,
dos quais se destacam [48, 93, 101]:

Temperatura;

Ripple de corrente;

Tenso;

Transitrios;

Presso atmosfrica;

Polaridade do condensador;

Vibrao;

Tempo de armazenamento.

pg _______________________________________________________________

33

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

O calor gerado no interior do condensador pode ser causado pelo ripple de


corrente, pela corrente de fugas, pelo calor gerado por outros componentes circundantes
[92, 94], ou mesmo pelo processo de soldadura durante a construo do equipamento
onde o condensador ser inserido [101]. O calor pode propagar-se por conveco,
conduo ou radiao. O calor transferido por conduo deve-se ao contacto de
molculas de duas ou mais substncias com temperaturas diferentes. Deste modo, a
forma mais comum atravs dos terminais do condensador e pistas entre os diferentes
componentes [94]. O calor gerado por conveco um processo de transferncia de
energia em que se verifica o deslocamento de matria. Neste caso, o calor transfere-se
pelo ar circundante ao condensador. Assim, quando o condensador aquece, o ar
circundante tambm aquece, diminuindo a sua densidade, pelo que ir subir e ser
substitudo por ar mais frio. Neste caso, a utilizao de ventiladores permite uma maior
transferncia de calor por conveco, sendo este processo designado por conveco
forada. A transferncia de calor por radiao efectuada por radiao electromagntica
dependendo essencialmente da rea e da emissividade da cobertura do condensador [94,
102]. Para reduzir este efeito, o condensador dever ser colocado o mais afastado
possvel de outros elementos que possam emitir calor, tais como dissipadores ou
transformadores [92]. Desta forma, pode concluir-se que o meio circundante pode
transferir calor para interior do condensador, caso a temperatura interna deste seja
inferior, ou dificultar a dissipao do calor do condensador para o exterior, se a
temperatura ambiente for muito elevada.
A expresso seguinte, baseada na lei de Arrhenius mostra a relao de
proporcionalidade que existe entre a temperatura interna do condensador e o seu tempo
de vida [93, 97, 99]:

LT 2 = LTN 2

(Temp N Temp2 )
10

(2.13)

onde LT2 e LTN representam o tempo de vida do condensador, em horas, para a


temperatura Temp2 e a temperatura nominal TempN.
A partir de (2.13) pode concluir-se que, caso a temperatura do condensador
diminua 10 C, o seu tempo de vida duplica. Esta regra pode ser aplicada para
temperaturas superiores a 40 C e inferiores temperatura nominal do condensador
[99]. Na Fig. 20 possvel observar a variao do tempo de vida do condensador com a

pg _______________________________________________________________

34

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

temperatura. O grfico foi obtido recorrendo expresso (2.13), considerando que o


tempo de vida do condensador, sua temperatura nominal (100 C) de 1000 horas.

Fig. 20. Evoluo do tempo de vida do condensador com a temperatura.

Atravs da Fig. 20 facilmente se pode concluir que a temperatura um factor


determinante na definio do tempo de vida do condensador.
Outro factor que influencia o tempo de vida do condensador o ripple de
corrente a que este est sujeito, o qual est directamente relacionado com a temperatura.
O calor gerado no interior do condensador essencialmente consequncia das perdas
por efeito de Joule, as quais resultam da ESR, e do ripple de corrente, podendo ser
calculadas atravs das equaes (2.6) e (2.7). Deste modo, o tempo de vida do
condensador fortemente condicionado pelo valor eficaz da corrente e pela capacidade
do condensador em dissipar o calor (resistncia trmica).
Na seco anterior demonstrou-se que a tenso aplicada ao condensador
influencia a corrente de fugas e o mecanismo de auto-reparao. Assim, quanto maior
for a tenso aplicada, maior ser a corrente de fugas e a produo de gs. Este fenmeno
torna-se decisivo com o tempo de vida, pois aumenta a acumulao do gs, que, por sua
vez, aumenta a presso no interior do recipiente, conduzindo a que o mecanismo de
escape actue mais rapidamente. Desta forma, pode-se avaliar a relao da tenso com o
tempo de vida do condensador recorrendo equao (2.14), onde LV2 e LVN representam
o tempo de vida para a tenso V2 e VN (tenso nominal) respectivamente [93]:

LV 2 = LVN

V
N
V2

(2.14)

M = 2, se V2 ]0.75 VN , VN ]

M = 3, se V2 ]0.5 VN , 0.75 VN ]

M = 5, se V2 ]0.25 VN , 0.5 VN ]

pg _______________________________________________________________

35

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

Importa ainda referir que os transitrios de tenso podem condicionar


igualmente o tempo de vida do condensador, visto que, durante esse perodo, a tenso
mxima de pico pode ser ultrapassada, danificando o condensador.
A presso atmosfrica pode condicionar o tempo de vida do condensador, mas
tipicamente estes podem operar at 10 km de altitude. A presso mxima admissvel
depende do tamanho e encapsulamento. Se o valor mximo de presso for ultrapassado
o mecanismo de escape pode actuar, reduzindo significativamente o tempo de vida do
condensador [61].
Ao inverter a polaridade do condensador, o condensador formado pelo conjunto
armadura do ctodo e electrlito ficar sujeito a uma tenso muito superior de
formao do xido (tipicamente entre 1 V a 3 V). Como consequncia, ocorrer
novamente um processo de formao de xido na armadura do ctodo, conduzindo a
que a corrente do circuito se concentre nessa zona. Logo, a espessura de Al2O3 junto
armadura do ctodo aumenta (reduzindo significativamente a capacidade). Por outro
lado, a temperatura aumenta significativamente e elevadas quantidade de hidrognio
sero libertadas [51, 103]. Este processo pode ser observado na Fig. 21.

Fig. 21. Polarizao inversa [103].

Dependendo da corrente gerada e do tempo em que o condensador esteve sujeito


tenso inversa, o mecanismo de escape poder ou no actuar. Numa situao extrema,
a elevada quantidade de calor pode conduzir a uma exploso seguida de fogo.
A Fig. 22 mostra a variao da corrente de fugas com a tenso para um
condensador de 2700 F, 550 V, sujeito a polarizao correcta e inversa.
Os condensadores electrolticos podem suportar vibraes at 10 g de fora. No
entanto, caso a fora mxima seja ultrapassada, a ligao entre as presilhas e os
terminais ou a ligao entre as presilhas e as armaduras podem ser danificadas, podendo
mesmo verificar-se um deslocamento da cobertura em relao ao invlucro, que pode
condicionar o funcionamento do mecanismo de abertura [61, 93].

pg _______________________________________________________________

36

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 22. Evoluo da corrente de fugas com a tenso, para um condensador electroltico de alumnio
(2700 F, 550 V ) sujeito a polarizao directa e inversa [103].

O tempo de armazenamento pode tambm condicionar o tempo de vida do


condensador, especialmente quando estes esto sujeitos a elevadas temperaturas. Se o
condensador for armazenado por um perodo de tempo longo, sem estar sujeito a tenso,
a resistncia do dielctrico diminui. Para alm disso, como o condensador no esteve
sujeito a tenso, o processo de auto-reparao no foi realizado, o que significa que os
defeitos se mantm. Desta forma, quando o condensador estiver sujeito a uma tenso,
ter incio o processo de auto-reparao. Se a temperatura de operao for muito
elevada, a corrente de fugas ser tambm muito elevada. Nesta situao, pode gerar-se
um valor de corrente de fugas de tal forma elevado, que o calor e gs produzido podem
conduzir ruptura do mecanismo de escape [104], danificando irremediavelmente o
condensador.

2.2.8 Como determinar o tempo de vida do condensador


Na seco anterior foram apresentados os factores que mais condicionam o
tempo de vida do condensador. A temperatura ambiente, o valor eficaz do ripple da
corrente no condensador e a tenso aplicada os seus terminais so os factores que mais
condicionam o seu tempo de vida.
As equaes (2.13) e (2.14) podem ser utilizadas para determinar o tempo de
vida do condensador, no entanto, necessrio conhecer o tempo de vida tpico do
condensador temperatura e tenso nominais, informao que apenas alguns fabricantes
fornecem. As Figs. 23-24 mostram quadros relativos ao tempo de vida dos
condensadores [92, 99], a partir dos quais possvel determinar o tempo de vida do
condensador em funo da temperatura de funcionamento.

pg _______________________________________________________________

37

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 23. Tempo de vida do condensador calculado em funo da temperatura ambiente [99].

Fig. 24. Tempo de vida (LX) calculado em funo do ripple de corrente e da temperatura [92].

Atravs da Fig. 24 pode-se calcular o tempo de vida de um condensador, em


funo da temperatura ambiente e do ripple da corrente, utilizando os coeficientes do
tempo de vida.
Outro mtodo para estimar o tempo de vida do condensador consiste na
utilizao da equao (2.15), em que se consideram simultaneamente os efeitos do

pg _______________________________________________________________

38

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

ripple de corrente, da temperatura ambiente e da tenso de operao do condensador


[89].

LX = LN KI KV KT

(2.15)

onde LN representa o tempo de vida s condies nominais, KI o coeficiente de ripple


de corrente, KV o coeficiente de tenso e KT o coeficiente de temperatura. Infelizmente,
raramente os trs coeficientes so fornecidos simultaneamente.
Assim, utilizando a equao (2.13), possvel calcular LX, considerando apenas
o efeito da temperatura. Esta pode ser obtida atravs da insero de um sensor de
temperatura na cobertura do condensador durante o seu funcionamento. Neste caso,
despreza-se a resistncia trmica do ncleo para a cobertura.
Por outro lado, o aumento da temperatura do condensador devido ao ripple da
corrente (Temp) pode ser calculado atravs da potncia de perdas [89].
Temp =

ESR iCef 2

(2.16)

onde ESR, iCef, e A representam a resistncia srie equivalente frequncia de 120


Hz, o valor eficaz do ripple da corrente no condensador a 120 Hz, uma constante que
representa a transferncia calor e a superfcie do condensador, que pode ser calculada
atravs da equao (2.17):


A = dC ( dC + 4 lC )
4

(2.17)

onde dC e lC representam o dimetro e comprimento da cobertura do condensador.


No entanto, como a ESR varia com a frequncia, necessrio converter o seu
valor para a frequncia de operao do condensador, o que poder ser realizado
recorrendo equao:

ESRf =

ESR120

(M )

(2.18)

onde ESRf e ESR120 representam a resistncia srie equivalente do condensador


frequncia de operao do condensador e a 120 Hz, respectivamente, e Mf

os

coeficientes multiplicativos de frequncia fornecidos pelos fabricantes.

pg _______________________________________________________________

39

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

Porm, os mtodos apresentados nesta seco revelam-se extremamente


imprecisos, visto que, por um lado a grande maioria dos equipamentos electrnicos
operam em regimes no estacionrios, e por outro a temperatura ambiente varia. Mais,
as caractersticas elctricas do condensador, em particular, ESR e C variam com a
temperatura, ripple de corrente, tenso e o tempo de vida do condensador, o que torna
este processo inexequvel.
No entanto, se o objectivo consiste em considerar as piores condies de
funcionamento, no incio de vida do condensador, ento possvel obter uma estimativa
do tempo mnimo de vida do condensador, o que em certas aplicaes se revela
extremamente importante.

2.2.9 Mecanismo de avaria


Os condensadores electrolticos, da mesma forma que outros componentes e
equipamentos electrnicos, exibem uma taxa de avarias que evolui com o tempo,
segundo uma curvam tpica (curva da banheira) como se pode observar na Fig. 25.

Fig. 25. Evoluo da taxa de avarias com o tempo de vida do condensador (curva tpica) [89, 92].

O perodo inicial (a) representa as avarias causadas por defeitos de fabrico, tais
como, deficincias na concepo, na estrutura ou processo de fabrico do condensador;
ou ainda por m utilizao do mesmo, tal como submisso do condensador a
temperaturas muito elevadas, a ripple de corrente muito superiores ao especificado
pelos fabricantes, a sobretenses, ou simplesmente por no respeitar a polaridade do
condensador. A falha mais comum durante este perodo o curto-circuito.
O perodo seguinte (b) possui uma taxa de avarias muito reduzida. A extenso
temporal deste perodo est directamente relacionada com as condies de

pg _______________________________________________________________

40

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

funcionamento do condensador, sendo o nmero de falhas durante este perodo, inferior


dos semicondutores e condensadores electrolticos de tntalo.
O ltimo perodo (c) reflecte a deteriorao das caractersticas do condensador,
fase na qual a taxa de avarias aumenta muito rapidamente [88, 89, 91, 92, 94, 99].
Durante este perodo algumas caractersticas fsicas e parmetros elctricos do
condensador modificam-se significativamente (ESR e C). Eventualmente estas
modificaes conduziro sua inutilizao, produzindo um circuito aberto. Por outro
lado, as modificaes dos seus parmetros elctricos, produzidos pelo envelhecimento,
podem conduzir a que a aplicao no respeite as especificaes para as quais foi
concebida, havendo necessidade de substituio do condensador, apesar dos seus
parmetros elctricos ainda se encontrarem dentro dos limites estipulados pelo
fabricante. O pior cenrio resulta numa falha do tipo estrutural (um circuito aberto
provocado pela perda do electrlito). No caso de condensadores de grandes dimenses
se o ripple da corrente for muito elevado, o aumento da ESR pode conduzir a um
sobreaquecimento terminando este processo num curto-circuito [61].
Os condensadores electrolticos apresentam essencialmente dois tipos de falhas:

Falhas catastrficas: caracterizam-se pela destruio do condensador, sob a


forma de um circuito aberto ou curto-circuito [61, 89].

Falhas paramtricas: manifestam-se pela deteriorao gradual do


condensador, atravs da alterao dos seus parmetros elctricos com o
tempo de vida. Os critrios de definio de falha paramtrica dependem da
aplicao. Algumas aplicaes permitem uma maior degradao do
condensador, logo os parmetros elctricos podem sofrer uma maior
variao com o seu tempo de vida. Neste caso, o funcionamento do
circuito no afectado pela alterao dos parmetros elctricos do
condensador. Tipicamente, a grande maioria dos fabricantes define o
tempo de vida do condensador atravs da percentagem de variao dos
parmetros elctricos2.

Cf. Cap. 2, 2.2.3, pg. 27.

pg _______________________________________________________________

41

2 Condensadores: Aspectos Relevantes

__________________________________________________________________________________________________________

2.3 Resumo
Os condensadores podem ser classificados segundo trs tecnologias distintas:
electrolticos, cermicos e de filme.
Os condensadores electrolticos de alumnio representam uma das tecnologias
melhor implementadas e maduras no mercado electrnico, encontrando-se actualmente
em plena expanso com o aumento anual da procura a rondar os 8% a 10%. As suas
caractersticas, tais como a elevada superfcie das armaduras e a reduzida espessura do
dielctrico, permitem que estes condensadores possuam uma excelente relao
capacidade/volume e preo, tornando-os bem apetecveis. Infelizmente, o seu
comportamento no ideal, variando as suas caractersticas elctricas com o
envelhecimento, temperatura, frequncia e tenso. A sua resistncia interna (ESR)
aumenta com o tempo de vida, enquanto a capacidade diminui e a corrente de fugas
aumenta. O aumento da resistncia e diminuio da capacidade deve-se essencialmente
perda do electrlito, reduzindo a sua condutibilidade e a superfcie de contacto entre o
ctodo e o dielctrico. A corrente de fugas aumenta devido reduo da resistncia do
dielctrico. A temperatura, por sua vez, expande o electrlito permitindo aumentar a
superfcie de contacto entre o ctodo e o dielctrico, aumentando desta forma a corrente
de fugas e a capacidade. J a ESR diminui, pois a condutibilidade do electrlito
aumenta. No entanto, o efeito da temperatura perverso visto que, apesar de numa
primeira anlise melhorar as caractersticas elctricas do condensador, a longo prazo,
condiciona de forma determinante o funcionamento do condensador reduzindo o seu
tempo de vida. O aumento da frequncia conduz reduo da ESR e da capacidade,
facto este que se deve ao comportamento do dielctrico com a frequncia. O aumento de
tenso conduz a um aumento da corrente de fugas, o que pode ser explicado facilmente
recorrendo lei de Ohm, se considerarmos a resistncia do dielctrico constante.

pg _______________________________________________________________

42

3 Tcnicas Off-Line
A caracterizao do circuito equivalente do condensador electroltico de
alumnio, e em particular dos valores de ESR e C, revela-se extremamente importante
no mbito da concepo de fontes de alimentao comutadas, bem assim como na
escolha de condensadores para o barramento DC de variadores electrnicos de
velocidade. Para o efeito, so tipicamente utilizados analisadores de impedncia ou
medidores de LCR, equipamentos extremamente caros e nem sempre disponveis.
Por outro lado, uma outra rea onde a identificao dos valores de ESR e C se
revela de extrema importncia no mbito do diagnstico de avarias. Para tal, comum
monitorizar os valores de ESR e C ao longo do tempo, e caso estes se aproximem dos
limites mximos definidos, ento ser necessrio proceder substituio do
condensador. Usualmente so utilizadas tcnicas de diagnstico on-line, que tm o
mrito de no impor a paragem do equipamento para avaliar o estado do condensador.
No entanto, como ficou bem patente no captulo anterior, vrios so os factores que
influenciam os valores de ESR e C, entre os quais a temperatura ambiente, o valor eficaz
do ripple da corrente e a frequncia. Estes factores tornam o desenvolvimento de
tcnicas de diagnstico on-line extremamente difcil, visto que todos tm de ser
equacionados em simultneo para que o mtodo resulte o mais exacto possvel. Logo, a

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

sua implementao fica, de certa forma, condicionada pela complexidade tcnica e


logstica, assim como pelos custos associados sua implementao.
Por este conjunto de razes, torna-se imperativo o desenvolvimento de tcnicas
de medida off-line, que permitam calcular os valores de ESR e C do condensador
electroltico de forma simples e pouco dispendiosa.

3.1 Retrospectiva
Nesta seco ser apresentado o estado da arte no domnio das tcnicas que
permitem estimar off-line os valores da capacidade, bem como do factor de dissipao e
ESR em condensadores.
Em [105] apresenta-se um mtodo para determinar a capacidade e uma grandeza
designada por resistncia de impulso srie (PSR) em condensadores. Na opinio dos
autores, a PSR uma grandeza representativa das perdas no condensador. Para
implementar a respectiva tcnica foi desenvolvido um circuito de teste composto por um
condensador de acoplamento (com um valor de PSR muito reduzido), C2, e um
amplificador de vdeo com uma malha de realimentao negativa, a qual incorpora o
condensador a estudar (Fig. 26).

Fig. 26. Circuito utilizado em [105] para determinar o valor de PSR e C de condensadores.

entrada aplicada uma tenso aproximadamente trapezoidal. A relao entre o


sinal de tenso de entrada e de sada permite determinar os valores de C e PSR (Fig. 27).
A amplitude da tenso de sada aps t1 (aps a tenso de entrada ter atingido o
seu mximo), representada por eC na Fig. 27, inversamente proporcional ao valor da
capacidade do condensador em teste. O valor de PSR directamente proporcional

pg _______________________________________________________________

44

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

diferena entre o valor da tenso de sada no instante t1 e eC, sendo representado na Fig.
27 por eR.

Fig. 27. Curvas de entrada e sada do circuito da Fig. 26 [105].

Neste estudo foram utilizados condensadores com capacidades nominais de 2 pF


a 2 F e os resultados apresentam uma exactido de 5%.
A aplicabilidade da tcnica proposta em [105], em condensadores electrolticos,
revela-se porm bastante difcil, visto que o efeito de ESL desprezado, o que pode ser
explicado pela utilizao de condensadores com um valor de capacidade muito
reduzido, bem inferior capacidade tpica de condensadores electrolticos. Para alm
disso, o estudo foi efectuado exclusivamente para altas frequncias.
Mais tarde, em [106], foi apresentada uma ponte de medida de impedncias para
condensadores com tenses nominais muito elevadas. O referido mtodo permite medir,
com elevado rigor, o valor da capacidade e de DF de condensadores com capacidades
nominais entre 50 pF a 1 nF. A preciso do mtodo extremamente elevada,
particularmente para as frequncias de 50 a 60 Hz, podendo a referida ponte ser
utilizada at 400 Hz. Apesar da elevada exactido do mtodo proposto, a sua
implementao requer a utilizao de condensadores e resistncias standard. Por outro
pg _______________________________________________________________

45

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

lado, a referida tcnica foi implementada apenas em condensadores cuja capacidade


bastante inferior capacidade nominal mnima dos condensadores electrolticos
(tipicamente de 0.1 F) [61]. Alm disso, a ponte foi utilizada exclusivamente para
baixas frequncias.
Em [107, 108] proposto um oscilador, com a finalidade de determinar o valor
da capacidade de condensadores (Fig. 28).

Fig. 28. Oscilador proposto em [107, 108].

Atravs da variao do valor da resistncia varivel (R) possvel colocar o


circuito a oscilar. Nessas circunstncias, possvel determinar o valor de C, sendo este
dependente simultaneamente do valor da resistncia varivel, assim como das restantes
resistncias e condensadores que fazem parte do circuito, tal como se pode observar a
partir de (3.1):

C=
K=

K
,
R

(3.1)

R1 R2
R1 + R2 R1
+

C2
C1

As resistncias e condensadores utilizados devero possuir uma elevada preciso


a fim de reduzir possveis erros de clculo. A referida tcnica foi apenas implementada
para condensadores cuja capacidade nominal inferior a 100 nF, podendo o elevado
valor de ESR, assim como o efeito de ESL dos condensadores electrolticos, condicionar
a exactido no clculo da capacidade.
Em [109] foi apresentado um equipamento capaz de medir a capacidade de
condensadores, baseado num microprocessador associado a um circuito de carga e
descarga do condensador. A capacidade medida indirectamente atravs do clculo da

pg _______________________________________________________________

46

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

constante de tempo do condensador durante a descarga. Os autores no se referem


possibilidade de aplicao da tcnica proposta a condensadores de elevada capacidade
tais como condensadores electrolticos, mas a tcnica parece ser vivel, no permitindo
no entanto, determinar o valor de ESR.
Mas tarde, foi apresentado um filtro RC activo [110], cuja finalidade estimar o
valor da capacidade de condensadores (Fig. 29).

Fig. 29. Filtro RC activo proposto em [110] para estimar a capacidade de condensadores.

O clculo da capacidade do condensador desconhecido efectuado atravs da


equao (3.2):
C R
C X = 1 1 VO
Vi R2

(3.2)

Foram utilizados, neste estudo, condensadores com capacidades nominais de 100


pF at 1 F. O resultados apresentados revelaram um erro inferior a 1%. No entanto, a
preciso da referida tcnica poder ser afectada caso sejam utilizados condensadores
electrolticos, devido ao efeito de ESL. Para alm disso, no permite calcular o valor de
ESR.
Em [111] foi apresentado um novo mtodo que permite determinar a capacidade
e o factor de dissipao de condensadores. O autor utilizou um circuito oscilador
baseado num filtro activo RC (Fig. 30). Os condensadores C1 e C2 representam
condensadores desconhecidos e devero possuir a mesma capacidade nominal.
Neste estudo, os autores consideraram que o circuito equivalente do condensador
composto pelo paralelo de um condensador ideal com uma resistncia. Os valores da
capacidade e da resistncia em paralelo so calculados atravs do conjunto de equaes
(3.3)-(3.5).

pg _______________________________________________________________

47

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 30. Circuito oscilador utilizado em [111] para determinar a capacidade e o factor de dissipao de
condensadores.

A condutncia da resistncia em paralelo pertencente ao circuito equivalente do


condensador C1 (GC1), calculada atravs da resoluo da equao (3.3):
a2 x12 + a1 x1 + a0 = 0,

(3.3)
2

onde: x1 =

w
GC1
G
G
b
, x = o1 , = 11 , c = 11 , d = , a2 = (1 x ) c
G12
G12
G2
c
wo 2

a1 = c x (1 ) 2 ( x 1) b, a0 = ( x b ) + ( x 1) d x [ c 1 b ]

A condutncia da resistncia em paralelo do esquema equivalente do


condensador C2 (GC2), calculada recorrendo equao (3.4):
G G
GC 2 = G11 G2 1 + 11 11 GC 1
G12 G12

(3.4)

Finalmente, os valores da capacidade de C1 e C2 so calculados atravs da


resoluo do sistema de equaes (3.5):
G11

C2 = G C1
12

2
wo1 C1 C2 G2 ( G11 + GC1 + GC 2 ) + GC1 GC 2 1 G11 GC1 = 0

G2 ( C1 + C2 ) + C1 GC 2 + C2 GC1 1 G11 C1 = 0
2
wo 2 C1 C2 G2 ( G12 + GC1 + GC 2 ) + GC1 GC 2 1 G12 GC 2 = 0

G2 ( C1 + C2 ) + C1 GC 2 + C2 GC1 1 G12 C2 = 0

G
G
1
1
1
1
1
1
, GD =
, GF =
, GE =
G1 = , G2 = , 1 = B = F , GB =
R1
R2
GD GE
RB
RD
RF
RE

pg _______________________________________________________________

(3.5)

48

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

onde wo1, wo2, R11 e R12, representam a frequncia de oscilao do oscilador; a


frequncia de oscilao do oscilador quando os condensadores C1 e C2 so trocados de
posio; o valor da resistncia R1 que permite o oscilador oscilar frequncia wo1; e o
valor da resistncia R1, que permite o oscilador oscilar frequncia wo2.
Importa referir que, apesar de os condensadores C1 e C2 possurem a mesma
capacidade nominal, o seu valor no exactamente o mesmo, logo as frequncias de
oscilao wo1 e wo2 no so iguais.
A tcnica anterior foi aplicada em condensadores com capacidades nominais de
0.47 F, 10 nF e 1.62 nF, tendo sido consideradas as frequncias de oscilao de 25
kHz e de 250 kHz.
No entanto, a sua implementao dever revelar-se inexequvel caso sejam
utilizados condensadores electrolticos, devido ao seu elevado valor de ESL e C. Alm
disso, o circuito equivalente do condensador utilizado nos clculos, (3.3)(3.5),
diferente do circuito equivalente de um condensador electroltico (Fig. 12).
Mais tarde, em [112] so apresentadas duas solues que utilizam um
microprocessador com o fim de determinar o valor da capacidade de condensadores e da
indutncia em bobinas. A primeira soluo utiliza um oscilador LC (Fig. 31) que gera
uma frequncia proporcional aos seus elementos reactivos.
O valor da capacidade do condensador desconhecido determinado atravs do
clculo da frequncia de oscilao (fosc) sendo para tal utilizadas bobinas standard com
valor conhecido.

Fig. 31. Oscilador LC usado em [112] para determinar o valor de C em condensadores e da indutncia
em bobinas.

pg _______________________________________________________________

49

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Para o clculo da indutncia de uma bobina cujo valor desconhecido so


utilizados condensadores standard.
A capacidade e a indutncia desconhecidas so calculadas atravs das equaes:

C2 =
L=

C1
4 fosc 2 L C1 1
2

C1 + C2
4 fosc 2 C1 C2
2

(3.6)
(3.7)

A segunda soluo baseia-se no clculo da frequncia de ressonncia de uma


malha RLC, da qual o elemento desconhecido (bobina ou condensador) faz parte. A Fig.
32 mostra um diagrama de blocos do circuito implementado.

Fig. 32. Diagrama de blocos do circuito implementado para a segunda soluo proposta em [112].

O microprocessador gera um bit que convertido numa tenso DC atravs de


um conversor digital-analgico (CDA). A forma de onda de sada do oscilador
controlado por tenso (VCO) proporcional tenso de sada do CDA. Em seguida, a
forma de onda de sada da malha RLC (onda sinusoidal) da qual faz parte o elemento a
analisar (condensador ou bobina) convertida numa onda quadrada atravs do
comparador. O detector de fase calcula o desfasamento entre o sinal de sada da malha
RLC e o sinal de sada do VCO. Por sua vez, o conversor anolgico-digital (CAD),
converte a sada do detector fase em informao digital pronta a ser processada pelo
microprocessador. O microprocessador controla a frequncia do sinal de sada do VCO,
pelo que, quando o desfasamento entre os sinais de sada da malha RLC e o VCO for
nulo, a frequncia de ressonncia (fres) da malha RLC foi encontrada. Nesta altura, o
microprocessador calcula o valor de C, caso o elemento a analisar seja um condensador,
atravs da equao (3.8):
C=

( 2 f res )

(3.8)

ou de L, caso o elemento a analisar seja uma bobina, atravs da equao (3.9):

pg _______________________________________________________________

50

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

L=

( 2 f res )

(3.9)

Para o clculo de C necessrio conhecer do valor de L, e vice-versa.


Os resultados apresentados referem-se a condensadores com capacidades
nominais inferiores a 100 nF.
A implementao desta tcnica em condensadores electrolticos revela-se
inexequvel devido ao efeito de ESL, no permitindo, por outro lado, estimar o valor de
ESR.
Em [113], foi apresentada uma tcnica que permite a caracterizao de
condensadores para altas frequncias. Para o efeito foi utilizado um analisador de redes.
A implementao da referida tcnica inicia-se com a calibrao do equipamento de
medida. Em seguida, todo o sistema de medida caracterizado sob a forma de um
modelo elctrico que considerado aquando da caracterizao do condensador a altas
frequncias, de forma a reduzir possveis erros resultantes do adaptador e cabos.
A Fig. 33 mostra o circuito equivalente do condensador considerado neste
estudo:

Fig. 33. Circuito equivalente do condensador considerado em [113].

onde Rperd, ESL, CN, RP, Rparl e Cpars representam a resistncia de perdas, a indutncia
srie equivalente, a capacidade nominal, a resistncia de fugas (modeliza a corrente de
fugas), a resistncia em paralelo a altas frequncias e a capacidade parasita (modeliza a
frequncia de ressonncia de ESL e Cpars a altas frequncias), respectivamente. Segundo
os autores, o modelo da Fig. 33 vlido at frequncia de ressonncia de ESL e Cpars
[113].
Apesar da tcnica proposta ter sido implementada para condensadores com
capacidades nominais inferiores a 4.7 F, a sua exactido no dever ser afectada se

pg _______________________________________________________________

51

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

forem utilizados condensadores electrolticos. No entanto, a sua implementao requer a


utilizao de um equipamento que no se encontra facilmente disponvel (analisador de
redes).
Em [114] foi proposta uma nova tcnica para estimar os valores de C e DF em
condensadores. O esquema equivalente do condensador considerado pelos autores
composto pelo paralelo de um condensador ideal (CP) e de uma resistncia ideal (RP),
em que ambos os elementos so dependentes da frequncia (Fig. 34). A implementao
da referida tcnica baseia-se na separao da componente real e imaginria da
admitncia do condensador.

Fig. 34. Esquema equivalente do condensador e diagrama fasorial da corrente e tenso no condensador
[114].

Considerando que o condensador sujeito a uma tenso sinusoidal, v(t),


possvel escrever:
v ( t ) =

iC ( t ) =

iP ( t ) =

iQ ( t ) =

2 V sin ( w t )
2 V ( GP sin ( w t ) + w CP cos ( w t ) )
2 V GP sin ( w t )

(3.10)

2 V CP w cos ( w t )

representando w a frequncia angular da onda sinusoidal e CP, GP e DF podem ser


calculados por:

I
C P = Q V
w

I
1
= P
G P =
RP V

I
DF = tan = P
IQ

(3.11)

Para calcular os valores de DF e C, os autores construram um circuito composto


por um condensador standard, trs detectores de fase de elevada preciso (DFP), um
circuito de deslocamento de fase de 90 e dois voltmetros digitais (VD) (Fig. 35).
pg _______________________________________________________________

52

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 35. Diagrama de blocos do circuito utilizado em [114], para determinar C e DF de condensadores.

O amplificador operacional (AO1) converte a corrente que atravessa o


condensador desconhecido numa tenso proporcional, v01(t). Da mesma forma, o
amplificador operacional (AO2) converte a corrente que atravessa o condensador
standard numa tenso proporcional, v02(t):
vo1 = 2 V R1 ( GP sin ( w t ) + w CP cos ( w t ) )

vo 2 = 2 V R2 ( GS sin ( w t ) + w CS cos ( w t ) )

(3.12)
(3.13)

De seguida, o desfasamento entre a sada do amplificador AO1 e o sinal de


entrada calculado e transformado numa tenso DC (V1) por intermdio do detector de
fase DFP1:
2 2 V R1
V1 =
GP

(3.14)

O desfasamento entre a sada do amplificador AO1 e o sinal de entrada desfasado


de 90 transformado numa tenso DC (V2) atravs do detector de fase DFP2:
2 2 V R1
V2 =
wCP

(3.15)

O desfasamento entre o amplificador AO2 e o sinal de entrada desfasado de 90


transformado numa tenso DC (V3) atravs do detector de fase DFP3:
2 2 V R2
V3 =
wCS

(3.16)

pg _______________________________________________________________

53

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Atravs das equaes (3.14)-(3.16) possvel calcular CP e DF:


V2 R2

C P = V R C S

3
1

tan = V1

V2

(3.17)
(3.18)

As operaes de diviso podem ser facilmente realizadas por multmetros


digitais.
Os autores referem que a tcnica proposta poder ser implementada para
condensadores com capacidades nominais desde 1 pF at 1 mF, tendo sido testada para
as frequncias de 400 Hz e 1000 Hz. No entanto, a sua utilizao em condensadores
electrolticos est condicionada pelo facto do circuito equivalente do condensador em
teste ser diferente do circuito equivalente do condensador electroltico. Alm disso,
indispensvel a utilizao de condensadores standard para a sua implementao.
Em [96], foi desenvolvido um mtodo automtico que permite caracterizar os
condensadores electrolticos de alumnio, e em especial os valores de ESR e C em
funo da temperatura, frequncia e tempo de envelhecimento. Os autores utilizaram
um analisador de impedncia (Agilent 4284A LCR meter) controlado por um
computador pessoal (PC) um forno (que permite variar a temperatura dos
condensadores em teste) e um multmetro (para efectuar a medida da temperatura do
condensador) que, por sua vez, se encontrava ligado ao PC.
Numa primeira anlise, foram estudados os efeitos da frequncia nos parmetros
do esquema equivalente do condensador. As concluses obtidas suportam os dados j
relatados no captulo anterior: tanto C, como ESR, diminuem com a frequncia (Fig.
36). A impedncia tambm varia com a frequncia: a reactncia capacitiva domina a
baixas frequncias, perto da frequncia de ressonncia ESR o parmetro dominante e
finalmente para altas frequncias a reactncia indutiva torna-se dominante.

Fig. 36. Efeito da frequncia nos parmetros do condensador electroltico: (a ) C e (b) ESR [96].

pg _______________________________________________________________

54

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Para simular o efeito do envelhecimento dos condensadores, este foram


introduzidos num forno e sujeitos a trs ciclos trmicos a diferentes temperaturas: 105
C (temperatura mxima dos condensadores), 115 C e 125 C. Aps a realizao do
primeiro ciclo trmico (105 C), foi possvel concluir que o parmetro que sofria uma
maior variao era a ESR (Fig. 37).

Fig. 37. Comparao da ESR antes e depois do primeiro ciclo trmico [96].

De seguida, foram realizados os restantes ciclos trmicos: 115 C e 125 C.


Neste estudo, os autores consideraram que um condensador se encontrava fora de
servio, quando a sua ESR aumentava em 20 % em relao ao seu valor inicial. Assim,
novas amostras, cada uma com dez condensadores, foram sujeitas a testes de
envelhecimento (a 115 C e 125 C). Periodicamente eram realizadas inspeces, nas
quais se efectuava a medio da ESR s frequncias de 120 Hz e 66.66 kHz.
As Tabelas 2 e 3 mostram o nmero de condensadores que apresentavam falhas
(ESR superior a 20% do seu valor inicial), para os testes de envelhecimento a 115 C e
125 C, respectivamente.
TABELA 2 NMERO DE FALHAS A 115 C [96].

Tempo de inspeco (horas)


0
100
318
606

120 Hz
0
0
0
0

66.66 kHz
0
0
4
10

TABELA 3 NMERO DE FALHAS A 125 C [96].

Tempo de inspeco (horas)


0
169
247
416
608

120 Hz
0
0
0
0
0

66.66 kHz
0
0
5
10
10

pg _______________________________________________________________

55

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

A partir da anlise dos resultados apresentados nas Tabelas 2 e 3 possvel


concluir que o nmero de avarias aumenta com o nmero de horas de teste, com a
temperatura e com a frequncia de medida.
O aumento do nmero de horas do teste de envelhecimento conduz a que
maiores quantidades de electrlito sejam libertadas, reduzindo desta forma o volume do
electrlito no condensador que, por sua vez, aumenta a ESR. Por outro lado, se o teste
de envelhecimento for realizado a temperaturas mais elevadas, maiores quantidades de
electrlito sero libertados por unidade de tempo, o que acelera o processo de
envelhecimento. Relativamente ao facto de apenas frequncia de 66.66 kHz ser
possvel detectar o aumento de 20 % da ESR, essa observao pode ser explicada pelo
facto da ESR variar tambm com a frequncia, como se pode analisar a partir de (2.10) e
(2.11). Desta forma, recorrendo a (2.11), pode-se concluir que a variao de ESR com a
frequncia no est relacionada com a resistncia do electrlito, ou seja, o aumento
relativo de ESR a baixas frequncias, provocado pelo envelhecimento, inferior quando
se compara o mesmo efeito para frequncias mais elevadas. Pode-se justificar este
fenmeno pelo facto de no se considerar o efeito da resistncia do dielctrico.
Para analisar os testes de envelhecimento, os autores recorreram lei de
Arrhenius. Desta forma, o tempo nominal at falha, LX , foi definido pela equao:

kB Temp

LX = A e

(3.19)

onde E, kB e Temp representam a energia de activao da reaco (eV), a constante de


Boltzman e a temperatura absoluta de graus Kelvin. A constante A depende da
geometria, tamanho e fabricao do condensador assim como do mtodo de medida,
entre outros factores.
De forma a analisar os dados de forma simplificada, os autores utilizaram o
grfico de Arrhenius, que permite a representao do tempo de vida do condensador em
funo dos testes de envelhecimento (Fig. 38). Nesta anlise, os autores recorreram
apenas aos dados da Tabela 3.
O tempo de vida mximo dos condensadores foi definido com sendo o perodo
de tempo necessrio para que, durante os testes de envelhecimento, pelo menos metade
da amostra manifestasse falhas. Assim, recorrendo Tabela 3 possvel verificar que
50% dos condensadores manifestavam falhas para o tempo de inspeco de 247 horas.

pg _______________________________________________________________

56

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Aps a marcao do ponto (247 horas, 125 C) no grfico de Arrhenius,


possvel traar a evoluo do tempo de vida do condensador em funo da temperatura
de operao (E = 0.405eV).

Fig. 38. Grfico de Arrhenius [96].

No grfico da Fig. 38 possvel observar duas curvas: uma relativa ao tempo de


inspeco de 247 horas e outra relativa ao tempo de 208 horas. Na primeira situao, os
autores consideraram o tempo de vida total; no segundo caso no foram considerados os
tempos necessrios para efectuar a medida de ESR dos condensadores (durante as
referidas medidas, os condensadores no estavam sujeitos temperatura do teste).
Em seguida, os autores utilizaram o grfico da Fig. 38 para determinar o valor
do factor de acelerao (FA). A constante FA permite relacionar o tempo de vida do
condensador para duas condies de operao diferentes:
LXA = FA LXB

(3.20)

onde LXA e LXB representam o tempo de vida para as temperaturas de funcionamento


TempA e TempB.
Atravs de (3.19) e (3.20) possvel definir FA como:

pg _______________________________________________________________

57

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________
E

L
k
Temp TempB
FA = XA = exp B A
LXB

(3.21)

O clculo do FA particularmente importante caso o fabricante no fornea os


quadros indicativos do tempo de vida do condensador em funo da temperatura (por
exemplo: Figs. 23 e 24). Esta informao indispensvel para estimar o tempo de vida
do condensador para condies estacionrias de funcionamento.
Apesar da tcnica de medida ser bastante precisa e exacta, requer a utilizao de
um equipamento extremamente dispendioso, um analisador de impedncia Agilent
4284A.
Aps a apresentao do estado da arte das tcnicas de medida off-line, sero
seguidamente apresentadas algumas solues desenvolvidas no mbito deste trabalho,
que permitem igualmente caracterizar o circuito equivalente do condensador
electroltico de alumnio.

3.2 Caracterizao dos condensadores em estudo


No presente trabalho, foram utilizados quatro condensadores, com diferentes
capacidades, tenses nominais e de diferentes fabricantes. Na Tabela 4 possvel
observar a informao fornecida pelos fabricantes.
Como este trabalho reflecte a temtica da caracterizao do esquema equivalente
dos condensadores no s no mbito da concepo, mas tambm do diagnstico, foi
necessrio envelhecer alguns condensadores de forma a avaliar a aplicabilidade das
tcnicas propostas. O processo de envelhecimento, assim como as caractersticas dos
condensadores envelhecidos, sero abordados na seco 3.9. Nesta seco, sero apenas
caracterizados os condensadores novos (CA, CB, CC e CD).
TABELA 4 CARACTERSTICAS DOS CONDENSADORES (INFORMAO FORNECIDA PELOS FABRICANTES).

Condensadores
CA
CB
CC
CD

DFmax
0.2
0.16
0.1
0.14

C
4700 F
2200 F
1000 F
220 F

ESRMX
0.0564
0.0965
0.1326
0.8440

Tenso nominal
25 V
25 V
50 V
200 V

Tipicamente, os fabricantes fornecem os multiplicadores de frequncia a 1 kHz e


a 10 kHz. Desta forma, utilizando os multiplicadores (Mf) o valor de DFMX a 120 Hz e

pg _______________________________________________________________

58

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

a equao (2.18) possvel determinar os valores ESRMX para as frequncias de 1 kHz e


10 kHz (Tabela 5).
TABELA 5 MULTIPLICADORES DE FREQUNCIA E ESRMX.

CA
ESRMX
Mf
(m)
1.12
45.0
1.15
42.7

CB
ESRMX
Mf
(m)
1.12
76.9
1.15
72.9

CC
ESRMX
Mf
(m)
1.30
78.5
1.35
72.8

CD
ESRMX
Mf
(m)
1.30
499.4
1.35
463.1

Frequncia
1 kHz
10 kHz

No entanto, a informao fornecida pelos fabricantes no exacta: a capacidade


fornecida apenas frequncia de 120 Hz e temperatura de 20 C, para uma tolerncia
tpica de 20%. J o valor de ESR pode ser calculado apenas para um nmero muito
limitado de frequncias, sendo para o efeito utilizado o valor mximo de DF. Na seco
seguinte ser possvel concluir que o erro mdio do valor de ESR calculado atravs da
informao fornecida pelos fabricantes superior a 90 %.
Desta forma, efectuou-se a medida dos valores de ESR e Xcond recorrendo a um
analisador de impedncias Agilent HP 4294, o qual permite medir a componente real e
complexa da impedncia do componente em anlise (condensador, bobina ou
resistncia) com elevada exactido. Os valores de ESR e Xcond obtidos atravs do
analisador de impedncia sero considerados como os valores de referncia.
A Fig. 39 exibe os diferentes valores de ESR obtidos atravs do analisador de
impedncias para os condensadores CA, CB, CC e CD, considerando o conjunto de
frequncias de 40 Hz a 100 kHz e uma temperatura de 20 C.

Fig. 39. Evoluo de ESR com a frequncia, para o conjunto de frequncias de 40 Hz a 100 kHz e uma
temperatura de 20 C, para: (a) CA, (b) CB, (c) CC e (d) CD (dados obtidos a partir do analisador HP 4294).

pg _______________________________________________________________

59

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

A Fig. 40 apresenta os diferentes valores de Xcond medidos atravs do analisador


de impedncias para os condensadores CA, CB, CC e CD, considerando o conjunto de
frequncias de 40 Hz a 100 kHz e uma temperatura de 20 C.

Fig. 40. Evoluo de Xcond com a frequncia, para o conjunto de frequncias de 40 Hz a 100 kHz e uma
temperatura de 20 C, para: (a) CA, (b) CB, (c) CC e (d) CD (dados obtidos a partir do analisador HP 4294).

Os resultados das Figs. 39-40 ratificam as observaes realizadas em captulos


anteriores, no que respeita ao efeito da frequncia nos parmetros do circuito
equivalente do condensador.

3.3 Importncia das tcnicas off-line


Um dos motivos pelos quais as tcnicas off-line se revelam essenciais, o facto
da informao fornecida pelos fabricantes ser escassa e no rigorosa.
Na Tabela 6 so comparados os valores da capacidade (C) fornecidos pelo
fabricante, com os valores da capacidade obtidos atravs do analisador de impedncia,
para os condensadores CA, CB, CC e CD.
TABELA 6 COMPARAO ENTRE OS VALORES DE C OBTIDOS ATRAVS DO ANALISADOR AGILENT HP
4294 E OS FORNECIDOS PELOS FABRICANTES, PARA 120 HZ, 20 C.

Condensadores
HP 4294
Fabricante
Erro

CA
4392 F
4700 F
7.0 %

CB
1968 F
2200 F
11.8 %

CC
913 F
1000 F
9.5 %

CD
217 F
220 F
1.4 %

Na Tabela 7 apresenta-se a comparao entre os valores de ESR calculados


atravs da informao fornecida pelos fabricantes e os valores obtidos atravs do
pg _______________________________________________________________

60

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

analisador de impedncia, para vrias frequncias de teste e uma temperatura de


operao de 20 C.
TABELA 7 COMPARAO ENTRE OS VALORES DE ESR OBTIDOS ATRAVS DO ANALISADOR AGILENT HP
4294 E OS FORNECIDOS PELOS FABRICANTES, PARA AS FREQUNCIA DE OPERAO DE 120 HZ, 1 KHZ E 10
KHZ, 20 C.

condensadores
CA

CB

CC

CD

HP 4294
Fabricante
Erro
HP 4294
Fabricante
Erro
HP 4294
Fabricante
Erro
HP 4294
Fabricante
Erro

120 Hz
0.0314
0.0564
80 %
0.0595
0.0965
62 %
0.0783
0.1326
69 %
0.2514
0.8440
236 %

Frequncia
1 kHz
0.0257
0.0450
75 %
0.0488
0.0769
58 %
0.0574
0.0785
37 %
0.180
0.4994
177 %

10 kHz
0.0258
0.0427
66 %
0.0474
0.0729
54 %
0.0547
0.0728
33 %
0.165
0.4631
181 %

Atravs da anlise das Tabelas 6 e 7 possvel calcular os erros mdios relativos


informao fornecida pelo fabricante. Assim, o valor da capacidade fornecida pelo
fabricante possui um erro mdio superior a 7 % e o erro mdio do valor de ESR
superior a 93 %.
O erro no clculo de ESR considervel. Alm disso, apenas possvel
determinar o valor de ESR para um conjunto limitado de frequncias (120 Hz, 1 kHz e
10 kHz), sendo a capacidade apenas fornecida para a frequncia de 120 Hz e a
temperatura de 20 C.
Como foi referido em seces anteriores, o conhecimento dos valores de ESR e
C indispensvel para a concepo de fontes de alimentao comutadas, bem como na
escolha de condensadores para barramento DC de variadores electrnicos de velocidade
[115-117]. Por exemplo, na concepo do sistema de controlo de um conversor buck
necessrio conhecer a funo transferncia em malha aberta da tenso de sada (vO) em
relao ao duty cycle (D1) [116]:
vO ( s )
= vin
D1 ( s )

ESR C s + 1
L

L C s 2 + + C ( RL + ESR ) s + 1
R

(3.22)

pg _______________________________________________________________

61

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

onde ESR, C, L, RL, R e vin representam a resistncia srie equivalente, a capacidade do


condensador, a indutncia da bobina, a resistncia da bobina, a resistncia de carga e a
tenso de entrada. A equao (3.22) mostra que a ESR responsvel pelo zero da
funo transferncia.
Por outro lado, em regime permanente o ripple da tenso de sada das fontes de
alimentao comutadas directamente proporcional a ESR [115, 118-120]. Como a
maioria das cargas possui especificaes de ripple extremamente rigorosas,
imprescindvel conhecer com exactido o valor de ESR dos condensadores, para que o
circuito respeite a especificaes da carga ao longo de todo o seu tempo de vida. Desta
forma, o tempo de vida dos condensadores poder ser condicionado pelo valor mximo
de ripple admissvel pela carga. Alm disso, tanto nas fontes de alimentao comutadas
como nos variadores electrnicos de velocidade, o tempo de vida do condensador
dependente da temperatura de operao (Fig. 38) que, por sua vez, depende do valor
eficaz do ripple da corrente e do valor de ESR, como se pode concluir a partir de (2.16).
Desta forma, se o valor de ESR for conhecido com mais rigor possvel limitar a
temperatura de funcionamento do condensador, com mais exactido, o que garante um
maior tempo de vida do condensador.
Todavia o conhecimento da capacidade tambm se revela de extrema
importncia, em particular no dimensionamento dos condensadores utilizados no
barramento DC de variadores electrnicos de velocidade [117] ou mesmo no
dimensionamento do sistema de controlo de fontes de alimentao comutadas [116].
Estes factos, demonstram a importncia do desenvolvimento de tcnicas de
medida simples, baratas, precisas e exactas que permitam caracterizar o circuito
equivalente do condensador, em particular, o valor de ESR e C, para diferentes
condies de operao.

3.4 Tcnica off-line baseada na injeco de uma


corrente sinusoidal
Um dos primeiros objectivos deste trabalho consistiu no desenvolvimento de
tcnicas off-line que permitissem estimar o valor de ESR de condensadores electrolticos
de alumnio utilizados em fontes de alimentao comutadas. Para alcanar esse
propsito, considerou-se, numa primeira fase, o esquema equivalente simplificado do
condensador utilizado por diversos autores [45, 121-124] e representado na Fig. 41.

pg _______________________________________________________________

62

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 41. Circuito equivalente, simplificado, do condensador [45, 121-124].

O mtodo proposto baseia-se na injeco de uma corrente sinusoidal num filtro


LC, semelhante ao utilizado em fontes de alimentao comutadas, cujo condensador
representa o elemento desconhecido [125]. A Fig. 42 mostra o circuito proposto.

Fig. 42. Circuito utilizado para extrair o valor de ESR do condensador, baseado num filtro LC [125-126].

Recorrendo transformada de Laplace possvel chegar expresso (3.24) se a


frequncia de operao ( f) for bastante superior frequncia de ressonncia (fress).
f ress

1
2

(3.23)

LC

Desta forma, possvel calcular o valor de ESR recorrendo equao:


2

VO L C w
1

2
Vin

w
ESR
C

(3.24)

onde Vin, VO, L, C e w representam a amplitude da tenso vin, a amplitude da tenso vO, o
valor da indutncia da bobina utilizada, o valor nominal da capacidade do condensador
em teste e a velocidade angular, respectivamente. Os valores de L e C podem ser
obtidos atravs dos dados fornecidos pelos fabricantes.
O Anexo I demonstra como foi possvel chegar equao (3.24).
Uma expresso anloga equao (3.24) foi obtida recorrendo anlise
sinusoidal do circuito da Fig. 42 (3.25) [126].
O Anexo II demonstra como foi possvel chegar equao (3.25) recorrendo
anlise sinusoidal do circuito da Fig. 42.

pg _______________________________________________________________

63

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________
2

ESR

VO
1
2
( w L)
2
( w C )
Vin
V
1 O
Vin

(3.25)

Para aumentar a exactido das solues propostas importante calcular o valor


de L com mais preciso, tendo-se utilizado, para o efeito, o circuito representado na Fig.
43.

Fig. 43. Circuito utilizado para determinar o valor de L [126].

O valor de L pode ser calculado atravs da equao (3.26):


R
L

VO
Vin

V
w 1 O
Vin

(3.26)

No entanto, apesar das tcnicas propostas em [125, 126] permitirem determinar


o valor de ESR com exactido, necessrio que a frequncia de operao se encontre
compreendida entre a frequncia de ressonncia do filtro LC e a frequncia de
ressonncia do condensador, o que condiciona o intervalo das frequncias de medida.
Para alm disso, o valor de C utilizado em (3.24) e (3.25), possui um erro resultante da
tolerncia dos dados fornecidos pelo fabricante e pelo facto da capacidade variar com a
frequncia.
Desta forma, props-se uma nova soluo que permite estimar o circuito
equivalente do condensador para um intervalo de frequncias bem mais alargado [127].
Esta nova tcnica permite calcular no s o valor de ESR, como tambm a reactncia do
condensador.
Nesta proposta, considera-se o efeito indutivo do condensador. Por esse motivo,
utilizou-se o esquema equivalente do condensador electroltico de alumnio apresentado
na Fig. 12, a partir do qual possvel definir a impedncia do condensador, Zcond

pg _______________________________________________________________

64

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

(composta pela srie de uma indutncia ideal, uma resistncia ideal e um condensador
ideal):
Z cond = ESR + jX cond

(3.27)

X
= X ESL X C
cond
com, X ESL = 2 f ESL

1
X C = ( 2 f C )

onde Xcond, XC, XESL, C, ESL, ESR e f representam a reactncia total do condensador, a
reactncia capacitiva, a reactncia indutiva, a capacidade, a indutncia srie equivalente,
a resistncia srie equivalente e a frequncia, respectivamente.
O circuito utilizado para extrair o valor de ESR e da reactncia do condensador,
Xcond, pode ser observado na Fig. 44.

Fig. 44. Circuito utilizado para extrair os valores de ESR e Xcond do condensador, baseado num filtro RC
[127-131].

Na primeira soluo proposta utilizaram-se as formas de onda da tenso de


entrada e sada do circuito da Fig. 44 a fim determinar simultaneamente os valores de
ESR e Xcond do condensador.
Atravs da anlise da Fig. 44, possvel escrever as equaes:

vin = Vin vin

vO = VO vO
vin = R i + Zcond i

, com: i = I I

vO = Zcond i

1
+ j w ESL
Zcond = ESR +
j w C

(3.28)

em que: vin, vO e i representam os fasores da tenso de entrada, tenso no condensador e


corrente que atravessa o condensador; e, Vin, VO e I representam as amplitudes da tenso

pg _______________________________________________________________

65

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

de entrada, tenso de sada e corrente no condensador; e, Vin, VO e I representam as


respectivas fases da tenso de entrada, tenso de sada e corrente no condensador.
Utilizando o sistema de equaes (3.28), possvel obter a relao entre os
fasores da tenso de entrada e sada:

ESR + j w ESL

vO
Zcond
w C

=
=
1
vin Zcond + R
( R + ESR) + j w ESL

w C

(3.29)

Se R >> |Zcond| , ento possvel simplificar (3.29):

vO

vin

ESR + j w ESL

X
w C ESR

=
+ j cond
R
R
R

(3.30)

A partir da equao (3.30), e isolando a sua componente real e imaginria


possvel determinar os valores de ESR e Xcond [128]:
ESR
= KX
ESR = K X R
vO
R
K X + jKY

vin
X cond = KY R
X cond = K
Y
R

(3.31)

Um resultado semelhante pode ser obtido se ao invs da anlise sinusoidal for


utilizada a transformada de Laplace [127], como possvel observar no Anexo III.
No entanto, para implementar a tcnica anterior [127] necessrio que o valor
de R seja bastante superior ao da impedncia do condensador. Por conseguinte, para
baixas frequncias, o valor de R utilizado na implementao das tcnicas propostas ter
que ser maior, visto que Zcond aumenta significativamente para baixas frequncias. Esta
situao torna-se particularmente crtica se o condensador em teste possuir um valor de
capacidade reduzido, caso em que as aproximaes (3.30), (A3.10) e (A3.11) podem
no se revelar exactas. Desta feita necessrio recalcular o valor de R para que as
referidas aproximaes se mantenham vlidas [129]. No entanto, se o valor de R
aumentar significativamente VO reduz-se significativamente, no permitindo estimar o
valor de ESR com exactido, particularmente quando se utilizam mtodos grficos para
estimar KX e KY como ficou demonstrado em [130].
Desta forma, para colmatar esta situao utilizou-se a equao (3.29) para extrair
os valores de ESR e Xcond.
pg _______________________________________________________________

66

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Assim, ao multiplicar ambos os termos (numerador e denominador) da equao


(3.29), pelo conjugado do denominador obtm-se a equao (3.32).
vO ESR R + ESR 2 + X cond 2
X cond R
=
+
j
2
2
vin
( ESR + R ) + X cond 2
( ESR + R ) + X cond 2

(3.32)

Neste caso, o clculo de ESR e Xcond no directo como no caso da equao


(3.30):

ESR R + ESR 2 + X cond 2


K X =
2
( ESR + R ) + X cond 2
vO

K X + jKY
vin
X cond R
K =
Y ( ESR + R )2 + X 2
cond

(3.33)

Estamos perante um sistema de duas equaes no lineares, com duas variveis


(ESR e Xcond) desconhecidas, como se pode observar no sistema (3.34):
ESR R + ESR 2 + X cond 2 K X ( R + ESR )2 K X X cond 2 = 0

2
2
X cond R ( R + ESR ) KY X cond KY = 0

(3.34)

Para obter as solues do sistema (3.34) necessrio recorrer ao mtodo


Newton-Raphson. Este mtodo permite calcular as razes dos polinmios que satisfazem
o sistema, sendo necessrio recorrer a uma estimativa inicial (ESR0, Xcond0) prxima do
valor final. Estes valores podem ser obtidos atravs da informao fornecida pelo
fabricante (C e DF). Apesar desta informao possuir um erro significativo, em
particular no que se refere aos valores de DF e ESR, a diferena em relao ao valor real
no afecta a convergncia na aplicao do mtodo Newton-Raphson [130].
Desta forma, atravs do processo iterativo representado em (3.35), possvel
obter ESR e Xcond, recorrendo equao (3.29):
dvi
dui
vi
dX cond
dX cond
,
ESRi +1 = ESRi
dui
dvi
dui
dvi

dESR dX cond dX cond dESR


ui

dvi
dui
ui
vi
dESR
dESR
X cond i +1 = X cond i +
dui
dvi
dui
dvi

dESR dX cond dX cond dESR

(3.35)

em que:

pg _______________________________________________________________

67

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

ui = ESR R (1 2 K X ) + ESR 2 (1 K X ) + X cond 2 (1 K X ) + R 2 ( K X )

2
2
2
vi = X cond KY + X cond R ESR KY ESR R ( 2 KY ) R KY

dui = R (1 2 K X ) + 2 ESR (1 K X )
dESR
dui

= 2 X cond 2 X cond K X
dX cond
dvi

= 2 ESR KY 2 KY R
dESR
dvi
= 2 X cond KY + R

dX cond

A soluo anterior bastante exacta e precisa. Mais tarde, props-se uma


soluo mais simples, mas igualmente exacta e precisa [131]. Desta feita, utilizou-se a
corrente e a tenso do condensador:
vO
1

= E SR + jX cond = E SR + j w E SL

i
w

(3.36)

Porm, para implementar as tcnicas propostas foi necessrio desenvolver


prottipos experimentais que imponham uma corrente sinusoidal no condensador. Alm
disso, foi necessrio desenvolver alguns algoritmos computacionais que permitam
extrair, das formas de onda experimentais, a informao necessria para a
implementao das tcnicas. Estes temas sero abordados nas seces seguintes, sendo
igualmente apresentados diversos resultados experimentais e de simulao, de forma a
avaliar a aplicabilidade dos mtodos propostos.

3.4.1 Prottipos experimentais


Para implementar as tcnicas propostas foi necessrio desenvolver dois
prottipos experimentais, que impusessem uma corrente sinusoidal ao condensador em
teste, com a potncia necessria de forma a estimar os parmetros (ESR e Xcond) do seu
esquema equivalente.
Para o efeito, foram utilizados dois amplificadores de potncia: um do tipo
classe AB e outro do tipo classe D.
A Fig. 45 mostra o diagrama conceptual do circuito proposto para o prottipo
baseado no amplificador classe AB. O amplificador classe AB partilha a menor
distoro do amplificador classe A e o maior rendimento do amplificador classe B,
sendo por estes motivos o amplificador udio mais popular [132].

pg _______________________________________________________________

68

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 45. Diagrama conceptual do circuito proposto para o prottipo baseado num amplificador classe
AB [125-131].

O amplificador de potncia transforma o sinal de tenso sinusoidal gerado pelo


gerador de sinal (Topward 8110) numa onda sinusoidal com a potncia necessria para
alimentar um circuito RC. O circuito RC composto por uma resistncia de filme no
indutiva e pelo condensador electroltico em teste, ambos ligados em srie. A resistncia
utilizada para limitar o valor eficaz da corrente no condensador, evitando que o seu
valor mximo seja alcanado. A resistncia pode tambm ser usada como sensor de
corrente [131]. Importa referir que a potncia nominal da resistncia utilizada dever ser
adequada para que o efeito da corrente no conduza ao seu aquecimento evitando-se,
desta forma, que o valor da resistncia diminua, o que poderia condicionar a exactido
das tcnicas propostas, quando esta usada como sensor de corrente.
As formas de onda da tenso e corrente do condensador so sinusoidais,
verificando-se apenas uma ligeira distoro do sinal para frequncias muito elevadas
(100 kHz). Desta forma, foi possvel utilizar o prottipo proposto para o conjunto de
frequncias de 40 Hz a 100 kHz.
A Fig. 46 mostra o diagrama do amplificador classe AB utilizado [133].

Fig. 46. Diagrama do amplificador classe AB utilizado [133].

pg _______________________________________________________________

69

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

No caso do prottipo baseado no amplificador classe D, o condensador em teste


faz parte do circuito de potncia do amplificador, sendo a carga do amplificador
puramente resistiva.
O amplificador classe D opera de forma muito similar a um conversor DC-DC
comutado. Este amplificador utiliza um transstor de comutao rpida (MOSFET) que
opera ora na regio de corte, ora na regio hmica, o que permite reduzir
significativamente as perdas. O sinal de controlo modulado recorrendo a um
modulador de largura de impulso. Desta forma, a tenso gate-source modulada, para
que o duty cycle seja proporcional ao valor instantneo do sinal de entrada. No caso do
prottipo desenvolvido, o sinal de entrada sinusoidal e obtido a partir do gerador de
sinal. Assim, o MOSFET comuta em funo do sinal de controlo. O sinal obtido (vin),
de seguida filtrado por um filtro passa-baixo, composto por uma bobina e um
condensador. O filtro permite reduzir de forma significativa as componentes espectrais
do sinal de entrada associadas frequncia de comutao do transstor, sempre bastante
superiores frequncia da componente fundamental (frequncia do sinal de entrada),
Na Fig. 47 possvel observar o diagrama da seco de potncia do prottipo
utilizado [134].

Fig. 47. Diagrama da seco de potncia do prottipo baseado num amplificador classe D [134].

O condensador em teste faz parte do filtro de sada, sendo que tanto a corrente,
como a tenso no condensador, possuem uma componente sinusoidal bem definida.
A resistncia RL representa a resistncia DC da bobina utilizada e a resistncia
R2 usada simultaneamente como limitador de corrente, para evitar que o valor RMS
mximo da corrente no condensador seja ultrapassado, e como sensor de corrente.
pg _______________________________________________________________

70

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Em seguida, ser realizada uma breve descrio sobre o princpio de


funcionamento do circuito proposto.
Como possvel observar na Fig. 47, a seco de potncia do circuito
semelhante de um conversor buck. Desta forma, se considerarmos um conversor buck
ideal a operar em modo de conduo contnuo (CCM) possvel obter as equaes:

diLON

vin = L dt + vO , t [ 0, D1 T [

L diLOFF + v = 0, t [ D T , T [
O
1

dt

(3.37)

onde vin, vO, L, diLON , diLOFF, D1 e T representam a tenso de entrada, a tenso de sada,
dt

dt

a indutncia da bobina, a derivada da corrente na bobina durante a conduo, a derivada


da corrente na bobina durante o estado de no conduo, o duty cycle e o perodo de
comutao do MOSFET.
Considerando agora o regime permanente, ento, possvel escrever:
diLON vin
=

dt

diLOFF =
dt

iL =

vO
L

diLON
iL
, para t [ 0, D1 T [
=
dt
D1 T

di
iL
, para t [ D1 T, T [
LOFF =
L
dt
(1 D1 ) T

vO

vin vO
L

D1 T =

vO
L

(1 D1 ) T vO = Vin D1

(3.38)

onde iL e vO representam o valor pico-a-pico do ripple da corrente na bobina e o


valor mdio da tenso de sada.
Portanto, considerando a equao (3.38), que vlida para um conversor buck a
operar em CCM e em regime permanente, se D1 for modelado atravs de uma onda
sinusoidal (Fig. 48) o valor de vO ser aproximadamente igual a:
( DC + Amp) > 1
vO Vin ( DC + Amp sin ( 2 f t ) ) , com
( DC Amp) > 0

(3.39)

onde f representa a frequncia da onda sinusoidal (sinal de entrada), tal como possvel
observar na Fig. 48.

pg _______________________________________________________________

71

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

No entanto, importa garantir que a seco de potncia do amplificador esteja


sempre a operar em CCM. Para tal necessrio garantir que o valor mdio da corrente
na bobina iL seja superior a metade do seu valor pico-a-pico (iL). Assim, a indutncia
da bobina (L) ou a resistncia (R) devem ser escolhidas de forma a garantir o CCM.

iL

(1 D1 ) T R
L>

v
v
i
2

> L O > O (1 D1 ) T
2 L
2
R
2 L
R <

(1 D1 ) T

(3.40)

O circuito de controlo composto por dois circuitos geradores de sinal, um


comparador e o circuito de drive do MOSFET.
A onda sinusoidal pode ser gerada atravs de um gerador de sinal (Topward
8110) ou por um oscilador (Wien bridge oscillator). O gerador da onda em dente de
serra pode ser facilmente construdo com ajuda de um circuito integrado (timer 555) e
um gerador de corrente. De seguida, efectua-se a comparao de ambos os sinais
recorrendo a um comparador (LM311) obtendo-se assim o sinal de controlo pretendido.
Finalmente, o sinal de controlo convertido na funo de transferncia, que permite
comutar o transstor atravs do circuito de drive do MOSFET.
A Tabela 8 apresenta as caractersticas da seco de potncia do prottipo
utilizado nas experincias.
TABELA 8 CARACTERSTICAS DO PROTTIPO REPRESENTADO NA FIG. 47.

vin
4.5 V

L
470 H

RL
120 m

R2
1

R
1

A Fig. 48 mostra as formas de onda experimentais da sada do gerador de dente


de serra, a operar a 17 kHz, da sada do gerador de onda sinusoidal, a operar a 1 kHz e
da sada do comparador, assim como, as formas de onda experimentais de vO e vin do
prottipo representado na Fig. 47 e caracterizado na Tabela 8. Neste caso, a resistncia
R2 foi retirada do circuito, o condensador utilizado foi o condensador CD e o sinal de
controlo encontra-se representado na Fig. 48b). A Fig. 48c) mostra que vO possui uma
componente sinusoidal bem definida frequncia do sinal gerado pelo gerador de sinal.
As formas de onda da tenso e corrente foram adquiridas atravs de um
osciloscpio digital Tektronix TDS 1012 com ligao a um computador, no qual se
encontra instalado o MATLAB.

pg _______________________________________________________________

72

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 48. Formas de onda da tenso: (a) geradores de sinal (sinusoidal e dente de serra), (b) sada do
comparador e (c) Formas de onda de vin e vO, do circuito representado na Fig. 47.

3.4.2 Simulao computacional


A fim de avaliar a aplicabilidade das tcnicas propostas, foram desenvolvidos
alguns programas de simulao computacional, que traduzem o funcionamento dos
prottipos apresentados nas Figs. 42, 44 e 47. Para o efeito, utilizou-se a plataforma de
computao numrica MATLAB, tendo-se desenvolvido trs M files recorrendo
linguagem de programao designada por cdigo M.
Para que os resultados da simulao exprimissem de forma mais aproximada o
comportamento real do condensador, considerou-se o esquema equivalente do
condensador representado na Fig. 12.
Desta forma, para simular o comportamento do circuito da Fig. 42 foi utilizada a
anlise sinusoidal:

vin ( t ) = Vin sin ( w t )

(3.41)

vO ( t ) = VO sin ( w t + )

(3.42)

com,
VO =

Vin R ESR 2 + X cond 2


Re2 + im2

X cond
im
arct
Re
ESR
Re = RL ( R + ESR ) X L X cond + ESR R

= arct

im = X cond RL + X L ( R + ESR ) + X cond R


X L = 2 f L, X cond =

1
+ 2 f ESL
2 f C

pg _______________________________________________________________

73

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Para simular o circuito da Fig. 44 foi empregue, do mesmo modo, a anlise


sinusoidal. Neste caso, as equaes (3.41) e (3.42) foram igualmente utilizadas, apesar
VO e diferirem:

VO =

Vin ESR 2 + X cond 2

( ESR + R )
X cond
ESR

= arct

+ X cond 2

X cond
arct

ESR + R

A corrente pode ser obtida atravs da equao:

i ( t ) = I sin ( w t + )

(3.43)

em que,

I =

Vin

( ESR + R )

+ X cond 2

X cond

ESR + R

= arct

Finalmente, para simular o prottipo da Fig. 47, foi implementado em cdigo M


um programa de simulao computacional do conversor buck em malha aberta [135],
tendo sido o duty cycle modelizado atravs da comparao de uma onda sinusoidal com
uma onda em dente de serra.

3.4.3 Resultados experimentais e de simulao


Nesta seco sero apresentados diversos resultados de simulao e
experimentais que permitem avaliar a aplicabilidade dos mtodos propostos. Como foi
exposto no incio da seco (3.4) a aplicao dos diferentes mtodos propostos requer a
extraco de informao das formas de onda adquiridas, sejam estas de tenso ou de
corrente. Assim, dois tipos de solues so propostas: a anlise grfica ou manual das
curvas adquiridas e a extraco automtica da informao.

3.4.3.1 Filtro LC
No caso das tcnicas baseadas no filtro LC [125, 126], doravante designadas por
mtodo off-line 1, apenas necessrio extrair o valor da amplitude das formas de onda

pg _______________________________________________________________

74

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

da tenso de entrada e sada do circuito da Fig. 42. Um processo extremamente simples


consiste na observao das formas de onda apresentadas no ecr do osciloscpio ou, no
caso de um osciloscpio digital, utilizar as suas funcionalidades para extrair as
amplitudes das formas de onda. No entanto, possvel automatizar este processo se for
utilizado o conceito de valor eficaz. Assim, pode-se definir o valor eficaz de um sinal
peridico, S(t), como:
T

S rms

1
2
=
S ( t ) dt

T 0

(3.44)

onde T representa o perodo do sinal.


A expresso anterior pode ser reescrita para o caso discreto:

Srms =

1 N
2
s [i ]

N i =1

(3.45)

onde N representa o nmero de amostras do sinal s[i] ao longo de um perodo.


A equao (3.45) pode ser facilmente implementada em linguagem MATLAB de
forma a extrair os valores eficazes das formas de onda adquiridas. Em seguida, recorre-se s equaes (3.24) e (3.25) para estimar o valor de ESR.
Antes de implementar as tcnicas propostas em [125, 126], necessrio definir
as frequncias para as quais se deseja calcular o valor de ESR, visto que a frequncia de
teste dever ser bastante superior ao valor da frequncia de ressonncia do filtro LC.
Neste caso, optou-se por estimar o valor de ESR dos condensadores para as frequncias
de teste de 5 kHz e 10 kHz. Conclui-se, ento, que uma bobina de 100 H, garante para
qualquer um dos condensadores a analisar, uma frequncia de ressonncia bastante
inferior a 5 kHz. Assim, procedeu-se simulao do prottipo a fim de avaliar a
aplicabilidade da tcnica proposta. A Fig. 49 mostra os resultados de simulao para
uma frequncia de operao de 5 kHz e 10 kHz.
As caractersticas dos condensadores utilizados na simulao (C, ESR e ESL)
foram obtidas atravs do analisador de impedncia (Anexo IV).
Seguidamente, utilizaram-se as equaes (3.24) e (3.45) para estimar o valor de
ESR, para as frequncias de operao de 5 kHz e 10 kHz (Tabela 9).
Atravs anlise da Tabela 9 possvel observar que o valor do erro
praticamente insignificante para todas as situaes consideradas, excepto para o

pg _______________________________________________________________

75

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

condensador CD a operar frequncia de 5 kHz, caso em que o desvio maior. Este


facto deve-se frequncia de operao, que se encontra mais perto da frequncia de
ressonncia do filtro LC. De qualquer forma, os erros obtidos so relativamente
reduzidos.

Fig. 49. Grfico em modo X-Y das formas de onda da tenso de entrada e sada resultantes da simulao
do prottipo da Fig. 42 a operar a 5 kHz (a) e 10 kHz (b), para os condensadores CA, CB, CC e CD.
TABELA 9 ESR ESTIMADO ATRAVS DOS RESULTADOS DE SIMULAO (FIG. 49) E RESPECTIVOS ERROS.

Frequncia
Condensador
CA
CB
CC
CD

5 kHz
ESR ( )
0.0252
0.0472
0.0552
0.1822

10 kHz
Erro (%)
1.2
0.5
0.2
7.9

ESR ( )
0.0256
0.0471
0.0542
0.1662

Erro (%)
0.8
0.6
0.9
0.8

Em seguida, sero apresentados alguns resultados experimentais.


A implementao experimental da tcnica pode ser realizada de trs formas
distintas: atravs da utilizao de (3.45) recorrendo ao MATLAB, atravs da anlise
visual das formas de onda expostas no osciloscpio, ou recorrendo a um multmetro
digital.
A Fig. 50 mostra as formas de onda experimentais da tenso de entrada e sada
do prottipo da Fig. 42, para as frequncias de operao de 5 kHz e 10 kHz.
Aps a aquisio das formas de onda da Fig. 50 e tratamento dos dados no
computador, foi implementado em MATLAB um pequeno algoritmo computacional
baseado nas equaes (3.24) e (3.45) para estimar o valor de ESR de forma automtica.
Para garantir uma maior exactido no clculo de ESR necessrio medir o valor
de L, visto que o valor fornecido pelo fabricante possui uma tolerncia de 10 %. Para o
efeito, utilizou-se o circuito da Fig. 43 e a equao (3.26). O valor estimado foi de 96
H, para ambas as frequncias de teste.
pg _______________________________________________________________

76

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 50. Grfico em modo X-Y das formas de onda experimentais da tenso de entrada e sada resultantes
do prottipo da Fig. 42 a operar a 5 kHz (a) e 10 kHz (b), para os condensadores CA, CB, CC e CD.

A Tabela 10 mostra os valores de ESR estimados e respectivos erros.


TABELA 10 ESR ESTIMADO ATRAVS DOS RESULTADOS EXPERIMENTAIS E RESPECTIVOS ERROS
(TCNICA BASEADA NO MATLAB).

Frequncia
Condensador
CA
CB
CC
CD

5 kHz
ESR ( )
0.0241
0.0442
0.0535
0.1726

10 kHz
Erro (%)
5.5
6.8
2.9
2.2

ESR ( )
0.0268
0.0468
0.0546
0.1558

Erro (%)
3.9
1.3
0.2
5.5

Em seguida, optou-se pela anlise grfica das formas de onda representadas no


ecr do osciloscpio para extrair o valor da sua amplitude, sendo o valor de ESR
calculado a partir de (3.24). A Tabela 11 exibe os valores de ESR obtidos, assim como
os respectivos erros.
TABELA 11 ESR ESTIMADO ATRAVS DOS RESULTADOS EXPERIMENTAIS E RESPECTIVOS ERROS
(TCNICA BASEADA NA ANLISE GRFICA DAS CURVAS).

Frequncia
Condensador
CA
CB
CC
CD

5 kHz
ESR ( )
0.0229
0.0416
0.0504
0.1501

10 kHz
Erro (%)
10.2
12.2
8.5
11.1

ESR ( )
0.0256
0.0451
0.0528
0.1471

Erro (%)
0.8
4.9
3.5
10.8

Em seguida, utilizou-se um multmetro digital a fim de implementar o mtodo


proposto. Neste caso, dispensvel o uso do computador e do osciloscpio, tornando a
soluo mais econmica.
O prottipo experimental composto unicamente pelo circuito da Fig. 42 e um
multmetro digital Tektronix TX3 True RMS. O multmetro utilizado para obter o valor
eficaz da tenso de entrada e de sada. Aps a leitura dos valores eficazes da tenso de
pg _______________________________________________________________

77

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

entrada e sada e, utilizando a equao (3.24), possvel estimar o valor de ESR. A


Tabela 12 exibe os valores de ESR obtidos, assim como os respectivos erros.
TABELA 12 ESR ESTIMADO ATRAVS DOS RESULTADOS EXPERIMENTAIS E RESPECTIVOS ERROS
(TCNICA BASEADA NO MULTMETRO DIGITAL).

Frequncia
Condensador
CA
CB
CC
CD

5 kHz
ESR ( )
0.0270
0.0478
0.0577
0.1744

10 kHz
Erro (%)
5.9
0.8
4.7
3.3

ESR ( )
0.0274
0.0476
0.0565
0.1611

Erro (%)
6.2
0.4
3.3
2.2

Atravs da anlise dos resultados expostos nas Tabelas 10-12 possvel avaliar a
exactido de cada um dos processos de clculo. Assim, a primeira soluo apresenta um
erro mdio de 3.5 %, enquanto a segunda e terceira solues possuem um erro mdio de
7.7% e 3.4 %, respectivamente.
Apesar da primeira soluo possuir razovel exactido, requer a utilizao de
um osciloscpio ligado a um computador, o que torna esta opo a mais dispendiosa das
trs solues propostas. A segunda opo a menos exacta e requer a utilizao de um
osciloscpio, no sendo, portanto, a mais econmica das trs solues. J a terceira
opo a mais econmica, alm de tambm revelar ser a mais exacta e, portanto, a que
apresenta melhores potencialidades.
A equao (3.25) foi igualmente utilizada tendo sido obtidos resultados anlogos
aos apresentados nas Tabelas (10-12).

3.4.3.2 Filtro RC
A tcnica off-line 1, apesar de fcil implementao e de possuir uma exactido
bastante razovel, possui limitaes quanto s frequncias de teste. Para colmatar esta
desvantagem, desenvolveu-se um novo mtodo baseado num filtro RC, o qual foi
introduzido no incio da seco (3.4) e doravante ser designado por mtodo off-line 2.
A primeira soluo baseada no filtro RC utiliza simultaneamente as amplitudes e fases
da tenso de entrada e sada do filtro para calcular os valores de ESR e Xcond [127-130].
Desta forma, para obter simultaneamente a amplitude e fase da tenso de entrada
e sada do filtro foram utilizados dois algoritmos. O primeiro baseia-se na inspeco
visual de ambas as formas de onda [127, 128, 130], designado por algoritmo 1,
enquanto que, o segundo recorre transformada discreta de Fourier [129], e ser
designado por algoritmo 2.

pg _______________________________________________________________

78

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Para melhor compreender a implementao do algoritmo 1, uma breve


explicao sobre a mesma ser realizada de seguida.
Considerem-se dois sinais sinusoidais definidos por:
sinal1 ( t ) = A1 sin ( w t )

sinal 2 ( t ) = A2 sin ( w t + )

(3.46)
(3.47)

onde representa o desfasamento entre ambos os sinais.


Recorrendo s formulas trigonomtricas possvel reescrever (3.47):

sinal2 ( t ) = ( A2 cos ) sin ( wt ) + ( A2 sin ) cos( wt )

(3.48)

Logo a componente do sinal2(t) que est em fase com o sinal1(t), real(sinal2(t)),


igual a:

real ( sinal2 ( t) ) = A2 cos() sin( wt)

(3.49)

Por sua vez, a componente do sinal2(t) que est desfasada 90 do sinal1(t),


imag(sinal2(t)), igual a:

imag ( sinal2 ( t ) ) = A2 sin ( ) cos( wt )

(3.50)

Assim, possvel relacionar ambos os sinais atravs das equaes:


real ( sinal2 ( t ) ) A2 cos ( ) sin ( w t ) A2 cos ( )
=
=

A1 sin ( w t )
A1
sinal1 ( t )

imag ( sinal2 ( t ) ) A2 sin ( ) cos ( w t )


=

sinal1 ( t )
A1 sin ( w t )

(3.51)
(3.52)

Desta forma, basta relacionar ambas as componentes do sinal2(t) com o sinal1(t),


o que pode ser facilmente implementado atravs da sua representao em modo XY.
Se ambos os sinais esto em fase ( = 0), facilmente se pode concluir que a sua
representao em modo XY ir ser uma recta, cujo declive d a relao entre ambas as
amplitudes.
No entanto, se ambos os sinais estiverem desfasados de 90, ( = 90), ento o
resultado da sua representao em modo XY ser uma elipse, cuja relao entre os seus
eixos permite relacionar as amplitudes dos sinais.

pg _______________________________________________________________

79

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Desta forma pode-se concluir que o resultado da representao em modo XY de


dois sinais sinusoidais desfasados de , com 90k (k=0, 1, 2, 3, .. ), ser uma
elipse qual est associada uma rotao (Fig. 51).

Fig. 51. Representao de dois sinais sinusoidais desfasados de : (a) em modo YT e (b) em modo XY.

Atravs das equaes (3.48), (3.51) e (3.52) possvel obter:


sinal2 ( t )
sinal1 ( t )

A2 cos ( )
A1

A2 sin ( ) cos ( w t )

A1
sin ( w t )

(3.53)

O efeito da rotao, representado pela recta da Fig. 51b), pode ser expresso pela
equao (3.54). Desta forma, possvel calcular:
cos ( ) =

Y1 + Y2
X1 + X 2

A1
A2

(3.54)

A partir da equao (3.54) facilmente se obtm analiticamente:


sin ( ) = 1 cos 2 ( )

(3.55)

No entanto, para o fazer graficamente necessrio eliminar a componente


real(sinal2(t)) do sinal2(t), para representar imag(sinal2(t)) em funo de sinal1(t), tal
como possvel observar na Fig. 52
imag ( sinal2 ( t ) ) = sinal2 ( t )

Y1 + Y2
X1 + X 2

sinal1 ( t )

(3.56)

Assim atravs da Fig. 52 possvel obter sin(), recorrendo equao (3.57):

pg _______________________________________________________________

80

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

a A
sin ( ) = 1
b A2

(3.57)

Fig. 52. Representao em modo XY de sinal2(t) em funo de sinal1(t), e imag(sinal2(t)) em funo


de sinal1(t).

Atravs do circuito da Fig. 44, e considerando vin sinusoidal, possvel escrever:

vO ESR
X
=
sin ( w t ) + cond cos ( w t ) , se R >> Zcond
vin
R
R

(3.58)

com,

vin = A1 sin( wt) e vO = A2 sin( wt +)


Logo:

Y1 + Y2
R
ESR =
X1 + X 2

X cond = b R

(3.59)
(3.60)

Para implementar o mtodo off-line 2 atravs do algoritmo 1 [127] necessrio


garantir que a resistncia R do filtro RC seja bastante superior reactncia do
condensador. Desta forma, importante escolher um valor de R pelo menos cem vezes
superior reactncia do condensador. No entanto, esta soluo pode revelar-se
ineficiente quando R muito elevada, visto que o declive da elipse reduz
significativamente, o que aumenta os erros provenientes da inspeco visual das formas
de onda da tenso de entrada e sada (extraco dos pontos (X1,Y1) e (X2,Y2)). Esta
situao revela-se particularmente crtica em condensadores com capacidades mais
reduzidas (< 1000 F) e para frequncias de operao tambm reduzidas ( inferiores a 1
kHz).

pg _______________________________________________________________

81

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Desta forma, inicialmente sero obtidos os pontos (X1,Y1) e (X2,Y2) atravs da


inspeco visual das curvas, sendo em seguida utilizado o mtodo de Newton-Raphson,
para refinar os valores de ESR e Xcond [130].
Para avaliar a aplicabilidade da tcnica procedeu-se simulao e aquisio de
diversos resultados experimentais, para diferentes frequncias de teste: 100 Hz, 500 Hz,
1 kHz, 5 kHz, 10 kHz e 50 kHz. A resistncia R possui um valor de 10 .
Em seguida sero apresentados alguns resultados de simulao, tendo-se para o
efeito considerado as caractersticas dos condensadores obtidas atravs dos dados
fornecidos pelo analisador de impedncias HP 4294 (Anexo IV).
Na Fig. 53 possvel observar a representao em modo XY de vO e vin, assim
como a componente vO desfasada de 90 de vin (vOy) e vin para os condensadores CA, CB,
CC e CD, considerando o circuito da Fig. 44 a operar frequncia de 1kHz.

Fig. 53. Representao em modo XY de vO e vin, bem com de vOy e vin do circuito da Fig. 44, para os
condensadores: (a) CA (b) CB (c) CC e (d) CD, a operar frequncia de 1 kHz (resultado da simulao
computacional).

Os valores de KX e KY podem ser obtidos atravs das equaes:

Y1 + Y2
K X =
X1 + X 2

KY = b

(3.61)
(3.62)

pg _______________________________________________________________

82

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

As tabelas 13 e 14 exibem os valores de KX e KY obtidos atravs dos resultados


de simulao computacional.
TABELA 13 VALORES DE KX OBTIDOS RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ ALGORITMO 1
(RESULTADOS PROVENIENTES DAS SIMULAES COMPUTACIONAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.00462
0.00270
0.00258
0.00254
0.00258
0.00272

CB
0.01264
0.00526
0.00492
0.00472
0.00472
0.00504

CC
0.03924
0.00728
0.00602
0.00550
0.00544
0.00558

CD
0.38060
0.04088
0.02334
0.01682
0.01626
0.01520

TABELA 14 VALORES DE KY OBTIDOS RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 1


(RESULTADOS PROVENIENTES DAS SIMULAES COMPUTACIONAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.03710
0.00741
0.00368
0.00062
0.00012
0.00118

CB
0.07988
0.01610
0.00804
0.00150
0.00058
0.00096

CC
0.17252
0.03572
0.01788
0.00346
0.00157
0.00076

CD
0.46848
0.14614
0.07448
0.01494
0.00736
0.00074

Atravs da anlise da tabela 13 facilmente se pode concluir que a utilizao


directa da equao (3.59) conduziria a erros significativos no clculo de ESR para
baixas frequncias (< 1 kHz). Por esse motivo utilizou-se o mtodo de Newton-Raphson
para calcular os valores ESR e Xcond dos quatro condensadores.
A estimativa inicial dos valores de ESR e Xcond baseia-se na informao
fornecida pelo fabricante (Tabela 4). Assim, recorrendo equao (3.35), e utilizando
os valores de KX e KY obtidos nas Tabelas 13 e 14, possvel determinar os valores de
ESR e Xcond, como se pode observar na Fig. 54, para a frequncia de 1 kHz.

Fig. 54. Evoluo da estimativa dos valores de ESR (a) e Xcond (b), recorrendo ao mtodo de NewtonRaphson, para a frequncia de teste de 1 kHz (resultados de simulao).

pg _______________________________________________________________

83

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Atravs da anlise da Fig. 54 facilmente se conclui que a convergncia para o


valor final extremamente rpida.
A Tabelas 15 e 16 exibem os valores de ESR obtidos e respectivos erros. Os
erros foram calculados tendo como referncia os valores apresentados no Anexo IV.
TABELA 15 VALORES DE ESR ESTIMADOS RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 1
(RESULTADOS PROVENIENTES DAS SIMULAES COMPUTACIONAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.0327
0.0265
0.0257
0.0255
0.0259
0.0273

CB
0.0622
0.0502
0.0488
0.0474
0.0474
0.0506

CC
0.0833
0.0603
0.0573
0.0552
0.0547
0.0561

CD
0.2687
0.1897
0.1798
0.1687
0.1647
0.1543

TABELA 16 ERROS NA ESTIMATIVA DE ESR.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.3 %
0.0 %
0.0 %
0.0 %
0.4 %
0.4 %

CB
0.0 %
0.0 %
0.0 %
0.0 %
0.0 %
0.2 %

CC
0.1 %
0.2 %
0.2 %
0.2 %
0.0 %
0.0 %

CD
0.0 %
0.1 %
0.0 %
0.1 %
0.1 %
0.0 %

As Tabelas 17 e 18 exibem os valores de Xcond obtidos e respectivos erros. Os


erros foram calculados tendo como referncia os valores apresentados no Anexo IV.
TABELA 17 VALORES DE XCOND ESTIMADOS RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 1,
(RESULTADOS PROVENIENTES DAS SIMULAES COMPUTACIONAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
- 0.3709
- 0.0740
- 0.0368
- 0.0062
- 0.0012
0.0118

CB
- 0.8141
- 0.1627
- 0.0812
- 0.0152
- 0.0059
0.0097

CC
- 1.8106
- 0.3620
- 0.1809
- 0.0350
- 0.0158
0.0077

CD
-7.7637
- 1.5526
- 0.7763
- 0.1545
- 0.0760
- 0.0077

TABELA 18 ERROS NA ESTIMATIVA DE XCOND.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.0 %
0.1 %
0.0 %
0.0 %
0.0 %
0.0 %

CB
0.0 %
0.0 %
0.0 %
0.0 %
0.0 %
0.0 %

CC
0.0 %
0.0 %
0.1 %
0.3 %
0.0 %
0.0 %

CD
0.0 %
0.0 %
0.0 %
0.3 %
0.1 %
0.0 %

pg _______________________________________________________________

84

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

As Tabelas 16 e 18 mostram que os erros obtidos so insignificantes.


De seguida e aps a anlise dos resultados provenientes da simulao
computacional, dos quais foi possvel concluir a elevada exactido da tcnica proposta,
apresentam-se alguns resultados experimentais, para as mesmas condies de operao
consideradas aquando da simulao.
Na Fig. 55 possvel observar a representao em modo XY de vO e vin, assim
como de vOy e vin para os condensadores CA, CB, CC e CD, considerando o circuito da
Fig. 44 a operar frequncia de 1kHz.

Fig. 55. Representao em modo XY de vO e vin, bem como de vOy e vin do circuito da Fig. 44, para os
condensadores (a) CA, (b) CB (c) CC e (a) CD, a operar frequncia de 1 kHz (resultados experimentais).

Atravs de (3.61) possvel determinar KX (Tabela 19).


TABELA 19 VALORES DE KX OBTIDOS, RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 1 (
RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.0043
0.0029
0.0026
0.0025
0.0025
0.0027

CB
0.0119
0.0052
0.0048
0.0044
0.0045
0.0049

CC
0.0371
0.0075
0.0062
0.0054
0.0054
0.0053

CD
0.3543
0.0400
0.0225
0.0166
0.0162
0.0154

pg _______________________________________________________________

85

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

A tabela 20 mostra os valores de KY calculados atravs da anlise grfica das


formas de onda da tenso de entrada e sada provenientes dos resultados experimentais.
TABELA 20 VALORES DE KY OBTIDOS RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 1, UTILIZANDO
OS RESULTADOS EXPERIMENTAIS.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.0347
0.0073
0.0036
0.0006
0
0.0019

CB
0.0779
0.0161
0.0081
0.0015
0.0005
0.0013

CC
0.1655
0.0346
0.0172
0.0035
0.0017
0.0003

CD
0.4606
0.1377
0.0702
0.0150
0.0078
0.0013

Em seguida, utilizou-se o mtodo de Newton-Raphson para calcular ESR e Xcond


dos quatro condensadores, visto que a utilizao da equao (3.59) conduziria a erros
significativos no clculo de ESR para frequncias reduzidas (f < 1000 Hz), como se
pode concluir a partir da Tabela 19.
A estimativa inicial dos valores de ESR e Xcond baseia-se na informao
fornecida pelo fabricante (Tabela 4). Assim, recorrendo equao (3.35) e utilizando os
valores de KX e KY obtidos nas Tabelas 19 e 20, possvel determinar os valores de ESR
e Xcond, como se pode observar na Fig. 56.

Fig. 56. Evoluo da estimativa dos valores de ESR (a) e Xcond (b), recorrendo ao mtodo de NewtonRaphson, para a frequncia de teste de 1 kHz (resultados experimentais).

As Tabelas 21 e 22 exibem os valores de ESR obtidos e respectivos erros. Os


erros foram calculados tendo como referncia os valores apresentados no Anexo IV.

pg _______________________________________________________________

86

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

TABELA 21 VALORES DE ESR ESTIMADOS, RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 1,


UTILIZANDO OS RESULTADOS EXPERIMENTAIS.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.0313
0.0284
0.0256
0.0247
0.0255
0.0274

CB
0.0580
0.0497
0.0479
0.0447
0.0454
0.0493

CC
0.0873
0.0633
0.0589
0.0542
0.0542
0.0536

CD
0.2639
0.2070
0.1773
0.1668
0.1637
0.1567

TABELA 22 ERROS NA ESTIMATIVA DE ESR.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
4.0 %
7.2 %
0.4 %
3.1 %
1.2 %
0.7 %

CB
6.8 %
1.0 %
1.8 %
5.7 %
4.2 %
2.8 %

CC
4.9 %
4.8 %
2.6 %
1.6 %
0.9 %
4.5 %

CD
1.8 %
9.2 %
1.4 %
1.2 %
0.7 %
1.6 %

As Tabelas 23 e 24 exibem os valores de Xcond obtidos e respectivos erros. Os


erros foram calculados tendo como referncia os valores apresentados no Anexo IV.
TABELA 23 VALORES DE XCOND ESTIMADOS, RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 1,
UTILIZANDO OS RESULTADOS EXPERIMENTAIS.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
- 0.3797
- 0.0736
- 0.0365
- 0.0056
0
0.0143

CB
- 0.7927
- 0.1624
- 0.0814
- 0.0150
- 0.0048
0.0126

CC
- 1.7341
- 0.3508
- 0.1737
- 0.0350
- 0.0167
0.0025

CD
-7.3224
- 1.4645
- 0.7310
- 0.1547
- 0.0805
- 0.0135

TABELA 24 ERROS NA ESTIMATIVA DE XCOND.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
5.7 %
0.7 %
0.8 %
9.7 %
-

CB
2.6 %
0.2 %
0.2 %
1.3 %
-

CC
4.2 %
3.1 %
3.9 %
0.3 %
5.7 %
-

CD
5.7 %
5.7%
5.8 %
0.2 %
5.8 %
-

Atravs da anlise da Tabela 22 pode-se concluir que a tcnica proposta (mtodo


off-line 2/algoritmo 1) revela uma elevada exactido na identificao do valor de ESR,
particularmente quando se compara a exactido do mtodo proposto com a informao
pg _______________________________________________________________

87

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

fornecida pelos fabricantes. A mesma concluso pode ser obtida no que respeita ao
clculo de Xcond (Tabela 24). Importa, no entanto, referir que os erros de clculo na
determinao do valor de Xcond aumentam perto da frequncia de ressonncia, pois o
desfasamento entre os sinais da tenso de entrada e sada muito pequeno.
Porm, apesar de a tcnica apresentada se revelar bastante exacta, baseia-se na
inspeco visual de um grfico, qual esto sempre associados erros de leitura. Logo, a
exactido deste processo est sempre dependente da concentrao e ateno do
utilizador, requerendo algum tempo para que a sua implementao seja bem conseguida.
Para ultrapassar estas desvantagens props-se uma nova soluo, desta feita automtica,
baseada na transformada discreta de Fourier [129]. Este novo processo permite calcular
KX e KY de forma automtica, sendo designado por algoritmo 2. Aps o clculo de KX e
KY, recorre-se ao mtodo de Newton Raphson para calcular os valores de ESR e Xcond ,
tcnica esta que ser designada por mtodo off-line 2/Algoritmo 2.
O matemtico e fsico Joseph Fourier descobriu ao investigar problemas de
transmisso de calor que uma funo peridica f(t) com perodo T, pode ser
representada por uma soma infinita de sinusoides:

f ( t ) = av + ( an cos ( n w0 t ) + bn sin ( n w0 t ) )

(3.63)

i =1

onde:
T

1
a
f ( t ) dt
=
v
T 0

2
2
an = f ( t ) cos ( w0 n t ) dt , w0 =
T 0
T

2
bn = f ( t ) sin ( w0 n t ) dt
T 0

Utilizando as frmulas trigonomtricas possvel simplificar a expresso


anterior:

f (t ) = av + An cos (n wo t )
i =1

(3.64)

com:
An = an2 + bn2
bn

an

= arctang

pg _______________________________________________________________

88

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Convertendo agora para o caso discreto possvel determinar os coeficientes de


Fourier, assim como o mdulo e fase de cada harmnico.
2 NPP
f [ k ] cos t [ k ] w0 i
NPP k =1
2 NPP
bi =
f [ k ] sin t [ k ] w0 i
NPP k =1
ai =

(3.65)
(3.66)

Ai = ai 2 + bi 2

(3.67)

bi

ai

i = arctang

(3.68)

onde i, NPP, Ai e i representam o ndice do harmnico, o nmero de pontos por


perodo da funo f[k], o mdulo do harmnico de ndice i e a fase do harmnico de
ndice i.
Desta forma, os valores de KX e KY podem ser calculados automaticamente
atravs da estimao dos coeficientes de Fourier do harmnico fundamental da tenso
de entrada e sada, recorrendo s equaes (3.65)-(3.68) (Tabelas 25 e 26).
TABELA 25 VALORES DE KX OBTIDOS ATRAVS DO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 2 (RESULTADOS
EXPERIMENTAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.0045
0.0027
0.0025
0.0025
0.0025
0.0028

CB
0.0120
0.0050
0.0047
0.0045
0.0046
0.0050

CC
0.0361
0.0071
0.0059
0.0054
0.0054
0.0054

CD
0.3488
0.0380
0.0223
0.0168
0.0163
0.0155

TABELA 26 VALORES DE KY OBTIDOS ATRAVS DO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 2 (RESULTADOS


EXPERIMENTAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.0348
0.0074
0.0036
5.5 10-4
1.6 10-5
0.0014

CB
0.0781
0.0161
0.0081
0.0015
4.3 10-4
0.0013

CC
0.1651
0.0346
0.0173
0.0035
0.0016
1.9 10-4

CD
0.4589
0.1384
0.0710
0.0150
0.0078
0.0012

Em seguida, utilizou-se o mtodo de Newton-Raphson para calcular o valor de


ESR e Xcond dos quatro condensadores, onde a estimativa inicial dos valores de ESR e
Xcond se baseou na informao fornecida pelo fabricante (Tabela 4).

pg _______________________________________________________________

89

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Recorrendo equao (3.35) e utilizando os valores de KX e KY obtidos nas


Tabelas 25 e 26 possvel determinar os valores de ESR e Xcond, como se pode observar
na Fig. 57.

Fig. 57. Evoluo da estimativa dos valores de ESR (a) e Xcond (b), recorrendo ao mtodo de NewtonRaphson, para a frequncia de teste de 1 kHz (resultados experimentais obtidos atravs da tcnica
automtica).

As Tabelas 27 e 28 mostram os valores da ESR obtidos e respectivos erros.


TABELA 27 VALORES DE ESR ESTIMADOS, RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 2
(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.0324
0.0267
0.0254
0.0249
0.0254
0.0276

CB
0.0583
0.0474
0.0465
0.0452
0.0458
0.0495

CC
0.0789
0.0591
0.0566
0.0543
0.0544
0.0540

CD
0.2614
0.1842
0.1749
0.1685
0.1656
0.1578

TABELA 28 ERROS NA ESTIMATIVA DE ESR.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.6 %
0.8 %
1.2 %
2.4 %
1.6 %
1.5 %

CB
6.3 %
5.6 %
4.7 %
4.6 %
3.4 %
2.4 %

CC
5.2 %
2.2 %
1.4 %
1.5 %
0.5 %
3.7 %

CD
2.7 %
2.8 %
2.7 %
0.2 %
0.5 %
2.3 %

A Tabelas 29 e 30 exibem os valores de Xcond obtidos e respectivos erros. Os


erros foram calculados tendo como referncia os valores apresentados no Anexo IV
(Agilent HP 4294).

pg _______________________________________________________________

90

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

TABELA 29 VALORES DE XCOND ESTIMADOS, RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 2


(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
-0.3510
-0.0740
-0.0365
-0.0056
-1.610-4
0.014

CB
-0.7949
-0.1631
-0.0821
-0.0150
-0.0040
0.0125

CC
-1.7261
-0.3502
-0.1746
-0.0350
-0.0164
0.0019

CD
-7.2308
-1.4656
-0.7386
-0.1552
-0.0805
-0.0127

TABELA 30 ERROS NA ESTIMATIVA DE XCOND.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
5.4 %
0.1 %
0.8 %
9.7 %
-

CB
2.4 %
0.2 %
1.1 %
1.3 %
-

CC
4.7 %
3.3 %
3.4 %
0.3 %
3.8 %
-

CD
6.9 %
5.6 %
4.8 %
0.1%
5.8 %
-

Atravs da anlise dos resultados anteriores, pode-se concluir que o mtodo offline 2/Algorimo 2 revela uma elevada exactido no clculo do valor de ESR e Xcond,
particularmente quando os valores estimados so comparados com a informao
fornecida pelos fabricantes.
Quando se efectua a comparao dos algoritmos 1 e 2, possvel concluir que a
segunda soluo consegue melhor exactido. Para alm disso, a sua preciso
consideravelmente superior, particularmente para baixas frequncias. A comparao
entre os diferentes algoritmos ser apresentada em detalhe no final desta seco.
Seguidamente, ao invs de adquirir a tenso de entrada e sada, utilizaram-se as
formas de onda da corrente e da tenso no condensador, no sendo assim necessrio
recorrer ao mtodo de Newton Raphson para extrair os valores de ESR e Xcond.
Neste caso, necessrio obter o valor da razo do mdulo entre a tenso e a
corrente no condensador

, assim como, o desfasamento entre ambos os sinais

. Para o efeito, utilizaram-se trs algoritmos, o primeiro baseou-se na DFT, j


descrito anteriormente, o segundo recorre a algoritmos de fitting sinusoidal [131] e o
terceiro baseia-se no conceito de correlao entre dois sinais.
A primeira soluo recorre ao algoritmo da DFT para extrair os valores de VC,
IC, v e i. Este mtodo ser designado por mtodo off-line 2/Algoritmo 3.
Os valores de ESR e Xcond so determinados atravs das equaes:

pg _______________________________________________________________

91

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

ESR

VC
cos (v i )
IC

(3.69)

VC
sin (v i )
IC

(3.70)

X cond

As Tabelas 31 e 32 mostram os valores de ESR obtidos e respectivos erros.


TABELA 31 VALORES DE ESR ESTIMADOS RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 3
(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.0324
0.0267
0.0254
0.0249
0.0254
0.0277

CB
0.0581
0.0474
0.0465
0.0452
0.0458
0.0500

CC
0.0783
0.0591
0.0566
0.0543
0.0544
0.0540

CD
0.2518
0.1840
0.1748
0.1685
0.1656
0.1578

TABELA 32 ERROS NA ESTIMATIVA DE ESR.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.6 %
0.8 %
1.2 %
2.4 %
1.6 %
1.8 %

CB
6.6 %
5.6 %
4.7 %
4.6 %
3.4 %
1.4 %

CC
5.9 %
2.2 %
1.4 %
1.4 %
0.5 %
3.7 %

CD
6.3 %
2.9 %
2.8 %
0.2 %
0.5 %
2.3 %

As Tabelas 33 e 34 mostram os valores de Xcond obtidos e respectivos erros.


TABELA 33 VALORES DA XCOND ESTIMADOS RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 3,
(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
-0.3518
-0.0742
-0.0366
-0.0056
-1.6 10-4
0.0142

CB
-0.7973
-0.1637
-0.0823
-0.0150
-0.0044
0.0128

CC
-1.7312
-0.3513
-0.1749
-0.0351
-0.0164
-0.0019

CD
-7.2301
-1.4625
-0.7408
-0.1557
-0.0808
-0.0127

TABELA 34 ERROS NA ESTIMATIVA DE XCOND.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
5.2 %
0.1 %
0.5 %
9.7 %
-

CB
2.1 %
0.6 %
1.4 %
1.3 %
-

CC
4.4 %
2.9 %
3.3 %
0.0 %
3.8 %
-

CD
6.9 %
5.4 %
4.5 %
0.5 %
6.2 %
-

pg _______________________________________________________________

92

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Os resultados apresentados nas Tabelas 32 e 34 mostram que o mtodo off-line


2/algoritmo 3 possui igualmente uma elevada exactido, com a vantagem de no
necessitar a utilizao do mtodo de Newton-Raphson.
Na segunda soluo proposta obtm-se os valores de VC, IC, v e i atravs do
algoritmo LMS (Least Mean Square). Este mtodo ser designado por mtodo off-line
2/algoritmo 4.
Seguidamente ser realizado uma breve explicao sobre o algoritmo de fitting
sinusoidal utilizado para extrair os valores de VC, IC, v e i.
Considerando que as curvas da tenso e corrente no condensador so sinusides
quase perfeitas, com algum rudo de alta frequncia, possvel ajustar os resultados
experimentais equao terica:

Sinal ( t ) = Amp cos ( w t )

(3.71)

onde Amp, w e representam a amplitude do sinal, a frequncia angular e a fase do


sinal.
Simplificando a equao (3.71) possvel escrever:

Sinal ( t ) = K X cos ( w t ) + K Y sin ( w t )

(3.72)

em que:
Amp = K 2
X

KY
= atan
KX

+ KY 2

Para calcular os valores de KX e KY recorre-se ao algoritmo LMS (3.73).


NPP

sinalexp ( i ) cos ( w texp ( i ) )

K
i =1
,
A X = NPP
(3.73)
K Y sinal i sin w t i
( exp ( ) )
exp ( )

i =1

NPP
NPP
2

w
t
i
cos
sin ( w texp ( i ) ) cos ( w texp ( i ) )

(
)
(
)

exp

i =1
i =1

A = NPP
NPP
2

sin ( w texp ( i ) )

sin ( w texp ( i ) ) cos ( w texp ( i ) )

i =1
i =1

onde sinalexp(i), texp(t) e NPP representam as formas de onda da tenso e corrente


adquiridas, o vector tempo durante um perodo e o nmero de pontos adquiridos por
perodo.

pg _______________________________________________________________

93

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Os valores de ESR e Xcond podem ser determinados atravs das equaes (3.69) e
(3.70), respectivamente.
A Fig. 58 mostra as formas de onda experimentais da tenso e corrente no
condensador, assim como as respectivas curvas de fitting para os condensadores CA, CB,
CC e CD, respectivamente, considerando uma frequncia de operao de 1 kHz e a
temperatura de 20 C. As curvas de fitting baseiam-se nos valores de VC, IC, v e i
calculados a partir das equaes (3.72) e (3.73), assim como das formas de onda
experimentais da tenso e corrente no condensador. Deste modo, para que os valores do
mdulo e fase de ambos os sinais de corrente e tenso sejam correctamente calculados
as curvas experimentais e a respectivas curva de fitting devero estar sobrepostas.

Fig. 58. Formas de onda experimentais da tenso (a, c, e, g) e corrente (b, d, f, h) no condensador e
respectivas curvas de fitting, para os condensadores CA (a, b), CB (c, d), CC (e, f) e CD (g, h),
considerando uma frequncia de operao de 1 kHz.

Aps a determinao dos valores do mdulo e fase dos sinais da corrente e


tenso no condensador possvel determinar os valores de ESR e Xcond do condensador,
atravs do mtodo off-line 2/Algoritmo 4. As Tabelas 35 e 36 mostram os valores de
ESR e respectivos erros, respectivamente.
As Tabelas 37 e 38 exibem os valores de Xcond obtidos e respectivos erros. Os
erros foram calculados tendo como referncia os valores apresentados no Anexo IV
(Agilent HP 4294).
pg _______________________________________________________________

94

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

TABELA 35 VALORES DE ESR ESTIMADOS, RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 4,


(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.0324
0.0267
0.0254
0.0249
0.0254
0.0277

CB
0.0580
0.0474
0.0465
0.0452
0.0458
0.0500

CC
0.0780
0.0591
0.0565
0.0543
0.0544
0.0540

CD
0.2512
0.1838
0.1747
0.1685
0.1656
0.1578

TABELA 36 ERROS NA ESTIMATIVA DE ESR.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.6 %
0.8 %
1.2 %
2.4 %
1.6 %
1.8 %

CB
6.8 %
5.6 %
4.7 %
4.6 %
3.4 %
1.4 %

CC
6.3 %
2.2 %
1.6 %
1.5 %
0.5 %
3.7 %

CD
6.5 %
3.1 %
2.8 %
0.2 %
0.5 %
2.3 %

TABELA 37 VALORES DE XCOND ESTIMADOS, RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 4,


(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
-0.3510
-0.0741
-0.0365
-0.0056
-1.610-4
0.0142

CB
-0.7957
-0.1634
-0.0822
-0.0150
-0.0044
0.0128

CC
-1.7278
-0.3506
-0.1746
-0.0351
-0.0164
0.0019

CD
-7.2156
-1.4655
-0.7393
-0.1554
-0.0806
-0.0127

TABELA 38 ERROS NA ESTIMATIVA DE XCOND.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
5.4 %
0.0 %
0.8 %
9.7 %
-

CB
2.3 %
0.4 %
1.2 %
1.3 %
-

CC
4.6 %
3.2 %
3.4 %
0.0 %
3.8 %
-

CD
7.1 %
5.6 %
4.7 %
0.3 %
5.9 %
-

Atravs da anlise das tabelas 35-38 pode concluir-se que o algoritmo LMS
permite obter uma elevada exactido no clculo de ESR e Xcond.
Seguidamente foi testada uma nova soluo baseada no conceito de correlao
entre dois sinais. possvel determinar o grau de associao linear entre duas variveis
recorrendo ao coeficiente de correlao de Pearson [136]:

pg _______________________________________________________________

95

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________
N

Coef X ,Y =

( X
i =1

i =1

X i ) (Yi Yi
2

( X

Xi

) (Y
i =1

Yi

(3.74)

onde Xi, Yi ,Xi e Yi representam a varivel X e Y para amostras com N elementos e os


seus valores mdios.
Assim, supondo que:
X i = A1 cos ( w i )

Yi = A2 cos ( w i + )

(3.75)

pode-se calcular o coeficiente de correlao de Pearson, Coefx,y, ao longo de um


perodo dos sinais Xi e Yi, para avaliar o grau de associao linear entre ambos os sinais.
No anexo V mostra-se que Coefx,y dos sinais Xi e Yi igual a:
Coef X ,Y = cos ( )

(3.76)

Desta forma, pode-se estimar o valor de ESR e Xcond do condensador, recorrendo


ao coeficiente de correlao de Pearson:

Coefv,i = cos ( )

ESR = Z cos ( )
2
sin ( ) = 1 cos ( )

X cond = Z sin ( )
Z = Vrms

I rms

(3.77)

onde Irms e Vrms representam o valor RMS de iC e vC, respectivamente.


O valor eficaz da corrente e tenso no condensador podem ser calculados atravs
da equao (3.45). Este mtodo ser designado por mtodo off-line 2/Algoritmo 5.
As tabelas 39 e 40 mostram os valores de ESR e respectivos erros, calculados
atravs do mtodo off-line 2/Algoritmo 5.
TABELA 39 VALORES DE ESR ESTIMADOS, RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 5,
(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.0324
0.0267
0.0254
0.0249
0.0254
0.0276

CB
0.0581
0.0474
0.0465
0.0452
0.0458
0.0499

CC
0.0781
0.0591
0.0566
0.0543
0.0544
0.0539

CD
0.2508
0.1839
0.1747
0.1685
0.1655
0.1577

pg _______________________________________________________________

96

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

TABELA 40 ERROS NA ESTIMATIVA DE ESR.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
0.6 %
0.8 %
1.2 %
2.3 %
1.6 %
1.5 %

CB
6.6 %
5.6 %
4.7 %
4.6 %
3.4 %
1.6 %

CC
6.1 %
2.2 %
1.4 %
1.5 %
0.5 %
3.9 %

CD
6.6 %
3.0 %
2.8 %
0.2 %
0.4 %
2.2 %

A Tabelas 41 e 42 exibem os valores de Xcond obtidos e respectivos erros. Os


erros foram calculados tendo como referncia os valores apresentados no Anexo IV
(Agilent HP 4294).
TABELA 41 VALORES DE XCOND ESTIMADOS, RECORRENDO AO MTODO OFF-LINE 2/ALGORITMO 5,
(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
-0.3513
-0.0741
-0.0365
-0.0056
-7.210-4
0.0143

CB
-0.7964
-0.1635
-0.0822
-0.0150
-0.0045
0.0130

CC
-1.7308
-0.3508
-0.1747
-0.0351
-0.0164
0.0027

CD
-7.2226
-1.4666
-0.7399
-0.1555
-0.0807
-0.0142

TABELA 42 ERROS NA ESTIMATIVA DE XCOND.

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

CA
5.3 %
0.0 %
0.8 %
9.7 %
-

CB
2.2 %
0.5 %
1.2 %
1.3 %
-

CC
4.4 %
3.1 %
3.4 %
0.0 %
3.8 %
-

CD
6.9 %
5.6 %
4.7 %
0.3 %
6.0 %
-

Os resultados experimentais mostram que as tcnicas off-line 2 apresentam uma


elevada exactido (Fig. 59).
A Fig. 59 mostra o erro mdio no clculo de ESR e Xcond, considerando os
diferentes algoritmos propostos no mbito da tcnica off-line 2, considerando todas as
frequncias de teste no caso de ESR, e o intervalo de 100 Hz a 5 kHz para Xcond.
Atravs da observao das Fig. 59 pode-se concluir que os cinco algoritmos
propostos para o clculo de ESR e Xcond apresentam uma elevada exactido, sendo o erro
mdio para ambos os parmetros do condensador (ESR e Xcond), bastante prximo.
Assim, no que respeita ao clculo de ESR, dos cinco algoritmos apresentados apenas o

pg _______________________________________________________________

97

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

manual (algoritmo 1) apresenta um erro superior a 3%, sendo o algoritmo 2 aquele que
apresenta a mais elevada exactido.

Fig. 59. Comparao entre os diferentes algoritmos propostos para a tcnica off-line 2: (a) Erro mdio
no clculo de ESR (para todas as frequncias de teste); (b) Erro mdio no clculo de Xcond (para o
intervalo de frequncias de 100 Hz a 5 kHz) (b).

No que diz respeito ao clculo de Xcond, o intervalo de frequncias de estudo foi


limitado a 5 kHz, pois os condensadores CA e CB possuem uma frequncia de
ressonncia muito prxima de 10 kHz. Quando a frequncia se aproxima da frequncia
de ressonncia o erro no clculo de Xcond aumenta. No que respeita anlise do erro
mdio as dedues efectuadas relativamente a ESR tambm aqui se aplicam, sendo o
erro mdio ligeiramente superior.
Na Fig. 60 possvel avaliar o desempenho dos diferentes algoritmos utilizados,
relativamente ao clculo de ESR, em funo da frequncia.

Fig. 60. Comparao entre os diferentes algoritmos utilizados no mbito da tcnica off-line 2
(Erro mdio no clculo de ESR por frequncia de teste).

A Fig. 60 mostra que os erros aumentam nas baixas frequncias, em particular


quando se utiliza a corrente e a tenso no condensador. Este fenmeno deve-se ao facto
do desfasamento entre ambos os sinais ser aproximadamente de 90. Neste caso
pg _______________________________________________________________

98

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

particular, um pequeno erro no clculo do desfasamento traduz-se num erro bem maior
na estimativa do cosseno, e assim, de ESR. Caso se utilize a tenso de entrada e sada, o
erro reduz, pois o desfasamento entre ambos os sinais inferior a 90.
Na Fig. 61 possvel avaliar o desempenho dos diferentes algoritmos
relativamente ao clculo de Xcond, em funo da frequncia.

Fig. 61. Comparao entre os diferentes algoritmos utilizados no mbito da tcnica off-line 2
(Erro mdio no clculo de Xcond por frequncia de teste).

Atravs da anlise da Fig. 61 pode concluir-se que o erro no clculo de Xcond


aumenta nas baixas frequncias e perto da frequncia de ressonncia do condensador.
No caso da frequncia de teste ser prxima da frequncia de ressonncia, o ngulo de
desfasamento entre a corrente e a tenso no condensador prximo de 0, logo um
pequeno erro no clculo do desfasamento pode conduzir a um erro bem maior no
clculo do seno e desta forma na determinao do valor de Xcond.

3.4.3.3 Amplificador classe D


Antes de implementar a tcnica off-line baseada no amplificador classe D,
representado na Fig. 47, necessrio tecer algumas consideraes.
Como se pode observar em (2.10), o valor de ESR varia com frequncia, sendo
esta variao particularmente significativa para frequncias inferiores a 1 kHz, pois o
efeito da resistncia do dielctrico mais significativo para as baixas frequncias [97].
Como o amplificador classe D produz um sinal com uma componente a baixas
frequncias, definida pelo gerador de sinal, e outra a altas frequncias, definido pelo
gerador de dente de serra, o efeito de ambas as frequncias faz-se sentir no
comportamento do condensador. O clculo de ESR e Xcond efectuado frequncia do

pg _______________________________________________________________

99

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

termo fundamental. No entanto, para baixas frequncias o rudo produzido pela


comutao do transstor pode conduzir a um pequeno erro na determinao do ngulo.
Este erro maximizado aquando da determinao do co-seno visto que o ngulo
prximo dos 90. Por esse motivo, a frequncia de teste, frequncia definida pelo
gerador de sinal, de 1 kHz e no inferior. Por outro lado, no foram obtidos resultados
para frequncias mais elevadas devido frequncia do gerador de dente de serra estar
limitada a 17 kHz.
Para avaliar a aplicabilidade da tcnica procedeu-se simulao e aquisio de
diversos resultados experimentais, para a frequncia de teste de 1 kHz.
Em seguida sero apresentados alguns resultados de simulao tendo-se, para o
efeito, considerado as caractersticas dos condensadores obtidas atravs dos dados
fornecidos pelo analisador de impedncias HP 4294 (Anexo IV).
A Fig. 62 mostra as formas de onda da tenso (vC) e corrente (iC) dos
condensadores CA, CB, CC e CD, obtidas atravs de simulao computacional do
prottipo da Fig. 47 (caracterizado na Tabela 8).

Fig. 62. Formas de onda da tenso (a, b, c, d) e corrente (e, f, g, h) nos condensadores CA (a, e), CB (b,
f), CC (c, g) e CD (d, h) relativas ao prottipo da Fig. 47 a operar frequncia de 1 kHz (resultado da
simulao computacional).

Aps a determinao dos valores do mdulo e fase dos sinais da corrente e


tenso no condensador frequncia de 1 kHz, o que foi conseguido recorrendo ao
algoritmo da DFT, possvel determinar os valores de ESR e Xcond dos condensadores.
A Tabela 43 exibe os valores de ESR e Xcond estimados.
pg _______________________________________________________________ 100

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

TABELA 43 VALORES DA ESR E XCOND CALCULADOS ATRAVS DAS FORMAS DE ONDA DAS FIGS. 62.

Condensador
ESR
Xcond

CA
0.0257
-0.0364

CB
0.0487
-0.0798

CC
0.0572
-0.1774

CD
0.1793
-0.7602

A tabela anterior mostra que os valores de ESR estimados so bastante prximos


dos de referncia, sendo os erros inferiores a 0.3 %. No entanto, o clculo de Xcond
apresenta desvios maiores. No obstante tal facto, os erros so inferiores a 2.0 %. Neste
caso, o efeito de ESL no foi considerado.
Em seguida sero apresentados alguns resultados experimentais.
Na Fig. 63 so apresentadas as formas de onda experimentais da tenso, (vC) e
corrente (iC) nos condensador CA, CB, CC, e CD, considerando o prottipo da Fig. 47
(caracterizado na Tabela 8).

Fig. 63. Formas de onda da tenso (a, b, c, d) e corrente (e, f, g, h) nos condensadores CA (a, e), CB (b,
f), CC (c, g) e CD (d, h) relativas ao prottipo da Fig. 47 a operar frequncia de 1 kHz (resultados
experimentais).

Aps o clculo dos valores do mdulo e fase da componente fundamental dos


sinais da corrente e tenso no condensador, o que foi possvel recorrendo ao algoritmo
da DFT, possvel determinar os valores de ESR e Xcond do condensador. As Tabelas 44
e 45 mostram os valores de ESR e Xcond estimados a partir das formas de onda
experimentais, assim como os respectivos erros.

pg _______________________________________________________________ 101

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

TABELA 44 VALORES DE ESR E XCOND CALCULADOS ATRAVS DAS FORMAS DE ONDA DAS FIGS. 63.

Condensador
ESR
Xcond

CA
0.0257
-0.0364

CB
0.0486
-0.0817

CC
0.0564
-0.1764

CD
0.1657
-0.7349

TABELA 45 ERROS NO CLCULO DE ESR E XCOND ATRAVS DO MTODO OFF-LINE BASEADO NO


AMPLIFICADOR CLASSE D.

Condensador
ESR
Xcond

CA
0.0 %
1.1 %

CB
0.4 %
0.6 %

CC
1.8 %
2.4 %

CD
7.8 %
5.3 %

Os erros de clculo de ESR e Xcond so um pouco superiores s tcnicas


apresentadas na seco anterior, no entanto, o prottipo apresentado mais simples e
permite que a potncia de teste possa aumentar consideravelmente. Alm disso, podemse obter os valores de ESR para outras frequncias, se forem utilizados os
multiplicadores de frequncia fornecidos pelos fabricantes [134]. Estes multiplicadores
so fornecidos tipicamente para as frequncias de 120 Hz, 500 Hz, 1 kHz e 10 kHz.
A equao (2.18) pressupe o conhecimento do valor de ESR a 120 Hz, o que
no o caso. Desta feita, necessrio normalizar os valores dos multiplicadores para a
frequncia de 1 kHz e reescrever (2.18) [134]:

ESR f =

ESR1 kHz

(M )

(3.78)

onde ESRf, ESR1kHz e Mf representam o valor de ESR frequncia f, o valor de ESR


obtido atravs da tcnica proposta a 1 kHz e o multiplicador de frequncia fornecido
pelo fabricante normalizado para 1 kHz.
A Tabela 46 mostra os valores da ESR calculados recorrendo a (3.78), aos
multiplicadores de frequncia fornecidos pelo fabricante e aos valores de ESR obtidos
frequncia de 1 kHz (Tabela 44).
TABELA 46 VALORES DE ESR CALCULADOS ATRAVS DOS MULTIPLICADORES DE FREQUNCIA, (3.78)
E DE ESR CALCULADO FREQUNCIA DE 1 KHZ.

Frequncia
120 Hz
500 Hz
10 kHz

Condensadores
CA
0.0322
0.0266
0.0244

CB
0.0610
0.0504
0.0461

CC
0.0953
0.0662
0.0523

CD
0.2800
0.1945
0.1537

pg _______________________________________________________________ 102

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Em seguida realizada a comparao entre os valores de ESR estimados (Tabela


46) e os valores de referncia apresentados no Anexo IV (Agilent HP 4294).
TABELA 47 ERROS NO CLCULO DOS VALORES DE ESR RECORRENDO AOS MULTIPLICADORES DE
FREQUNCIA.

Condensadores

Frequncia

CA
2.7 %
0.5 %
5.5 %

120 Hz
500 Hz
10 kHz

CB
2.5 %
0.3 %
2.7 %

CC
21.7 %
9.6 %
4.4 %

CD
11.4 %
2.6 %
6.8 %

Atravs da anlise da tabela anterior pode-se concluir que possvel determinar


ESR para outras frequncias de operao recorrendo aos multiplicadores de frequncia.
No entanto, a exactido dos resultados diminui, particularmente, quando se comparam
os valores da Tabela 47 com os valores obtidos atravs da tcnica baseada no filtro RC
(Fig. 60).

3.5 Tcnica off-line baseada num circuito de carga e


descarga do condensador
A implementao desta nova tcnica off-line exige que a forma de onda da
corrente no condensador seja aproximadamente quadrada [137].
Aps a aquisio das formas de onda da corrente e da tenso no condensador,
recorreu-se ao algoritmo LMS para calcular o valor de ESR e C do condensador,
frequncia de teste.
Considerando o circuito da Fig. 12 possvel definir a tenso no condensador
atravs da equao:

vcond ( t ) = ESR icond ( t ) + vC ( t ) + ESL

dicond ( t )
dt

(3.79)

onde icond(t), dicond ( t ) , vcond(t) e vc (t) representam a corrente no condensador, a derivada


dt

de icond(t) em ordem ao tempo, a tenso aos terminais do condensador e a componente


da tenso vcond(t) devida capacidade.
Por outro lado, pode-se definir vC(t) atravs de icond(t) recorrendo a (2.3):

icond ( t ) = C

dvC
1
vC ( t ) = icond ( t ) dt + vC ( 0)
dt
C

(3.80)

pg _______________________________________________________________ 103

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Assim, utilizando (3.79) e (3.80) pode-se definir vcond(t):

vcond ( t ) = ESR icond ( t ) +

dicond ( t )
1
i
t
dt
+
v
+
ESL

0
(
)
(
)
cond
C
C
dt

(3.81)

Atravs da anlise da equao (3.81) pode concluir-se que, caso a forma da onda
da corrente no condensador seja quadrada:
O efeito de ESR se manifesta sob a forma de uma onda quadrada, cuja
amplitude proporcional ao valor de ESR (Fig. 64c).
O efeito de C se manifesta sob a forma de uma onda triangular, cujo declive
inversamente proporcional ao valor de C (Fig. 64d).
O efeito de ESL se manifesta sob a forma de pequenos impulsos, que se iro
exprimir durante a mudana do estado de conduo para o de no conduo e
vice-versa (Fig. 64e), sendo o seu valor de pico proporcional ao valor de ESL.
Estes fenmenos podem ser observados na Fig. 64, onde se apresentam as
formas de onda tericas da corrente e tenso no condensador, assim como os efeitos
individuais de ESR, C e ESL. Para obter as referidas formas de onda considerou-se o
condensador CA, a equao (3.81) e que a corrente no condensador era uma onda
quadrada com amplitude de 1 A e frequncia de 1 kHz.

Fig. 64. Formas de onda tericas da corrente (a) e tenso no condensador (b) assim como o efeito
individual de ESR (c), de C (d) e de ESL (e) na tenso no condensador (CA a operar a 1 kHz).

No entanto, as formas de onda experimentais da corrente e da tenso no


condensador no permitem determinar com exactido o valor de ESL. Desta forma,
ignorou-se o seu efeito e simplificou-se a equao (3.81):

pg _______________________________________________________________ 104

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

vcond ( t ) = ESR icond ( t ) +

1
icond ( t ) dt + vC ( 0)
C

(3.82)

Utilizando a equao (3.82), as formas de onda da corrente (icond(t)) e da tenso


aos terminais do condensador (vcond(t)), assim como o algoritmo LMS, possvel extrair
os valores de C e de ESR.
Para calcular os valores de C e ESR que melhor se ajustam s formas de onda
experimentais vcond(t) e icond(t), necessrio minimizar a soma dos erros quadrticos
(Sr):
n

Sr = vcond (i) K1 icond ( i ) + K 2 icond ( i ) dt + K3


i =1

))

(3.83)

com,

K1 = ESR ; K2 =

1
; K3 = vC ( 0)
C

Assim, diferenciando (3.83) em ordem aos seus coeficientes (K1, K2 e K3)


possvel determinar ESR e C:

X = A1 b,

(3.84)

( vcond ( i ) icond ( i ) )
i =1

K1
N

X = K 2 , b = vcond ( i ) icond ( i )
i =1

K3
N

vcond ( i )

i =1

N
N
2

i
i
icond ( i ) icond ( i )
(
)
(
)

cond

i =1
i =1

N
2
N
A = icond ( i ) icond ( i )
i
i
(
)

cond

i =1
i =1
N
N

( icond ( i ) )

icond ( i )
i =1
i =1

) (i
N

i =1

(
N

i =1

cond

(i ))

icond ( i )

onde N representa o nmero de pontos adquiridos e icond ( i ) o integral da forma de onda


da corrente que pode ser calculado recorrendo regra trapezoidal.
A soluo da equao (3.84) permite calcular os coeficientes (K1, K2 e K3), a
partir dos quais possvel calcular ESR e C (3.83).
pg _______________________________________________________________ 105

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

3.5.1 Prottipo experimental


Para implementar a tcnica proposta na seco (3.5) foi necessrio desenvolver
um prottipo que permitisse criar uma forma de onda de corrente, no condensador em
teste, aproximadamente quadrada. O diagrama da seco de potncia do prottipo
desenvolvido pode ser observado na Fig. 65.

Fig. 65. Diagrama da seco de potncia do prottipo experimental [131, 137].

O prottipo desenvolvido alimentado por uma fonte de alimentao


(HY1803D) capaz de impor uma tenso constante (Vin) e composto por: um MOSFET
de potncia canal N (IRFP 460) e respectivo circuito de controlo; o condensador em
teste e trs resistncias. A resistncia R0 (vitreous enamel wirewound W21 series)
funciona como limitador de corrente, R1 (uma resistncia de filme no indutiva, MPC
series) funciona como sensor de corrente, enquanto R (uma resistncia bobinada, de
potncia, com revestimento de alumnio) permite descarregar o condensador durante
perodo em que o transstor no conduz.
As principais caractersticas da seco de potncia do prottipo desenvolvido
podem ser observadas na Tabela 48, tendo, no caso particular dos condensadores CD e
CC, havido necessidade de ajustar tanto R como R0, a fim de garantir uma forma de onda
de corrente aproximadamente quadrada.
TABELA 48 CARACTERSTICAS DA SECO DE POTNCIA DO PROTTIPO.

Vin
6-9V

R0
1

R1
10

R
1

D1
0.1

O sinal de controlo modulado recorrendo comparao de uma tenso DC


com um sinal em dente de serra, sendo a primeira responsvel por fixar a largura do
impulso D1. A frequncia do sinal modulado definida pelo sinal em dente de serra
criado com a ajuda de um circuito integrado (timer 555) e um gerador de corrente.
pg _______________________________________________________________ 106

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Finalmente, o sinal de controlo convertido na funo de transferncia que


permite comutar o transstor atravs do circuito de drive do MOSFET.

3.5.2 Simulao computacional


O prottipo da Fig. 65 representa um circuito no linear, caracterizado por dois
estados lineares: o estado de conduo e no conduo. Para simular o seu
funcionamento necessrio obter as equaes no domnio temporal para cada um dos
estados. Em seguida, atravs de um processo iterativo, e considerando as condies
iniciais para cada estado, possvel obter a evoluo temporal das formas de onda da
corrente e da tenso no condensador.
Durante o estado de conduo, o condensador em teste carregado e as
equaes que traduzem o seu funcionamento so:
vin = R0 iin + VO

vO = R1 icond + vC + ESR icond + ESL dicond

dt

dicond
vcond = vC + ESR icond + ESL
dt

vO = iR R

iin = icond + iR

(3.85)

A partir do sistema de equaes (3.85) possvel obter a equao:


d 2 vC
dv
+ K 2 C + K3 vC
dt
d 2t
R

R0
ESR + R1
K1 = ESL C 0 + 1 ; K 2 = R0 C
+ ( R0 + R1 + ESR ) C; K3 = R + 1
R

vin = K1

(3.86)

A soluo da equao (3.86) foi obtida recorrendo transformada de Laplace:


vC ( t ) = K A + ( K B + K D + K F ) e atON + ( K C + K E + K G ) ebtON
K 2 + K 2 4 K1 K 3
2

a=

KA =
KD =

2 K1

(3.87)

K 2 K 2 4 K1 K 3
2

;b =

2 K1

vin
vin
vin
; KB =
; KC =
a b K1
a ( a b ) K1
b ( a b ) K1
a vC ( 0 )
a b

vC ( 0 ) K 2

; KE =

( a b ) K1
dvC ( 0 )

b vC ( 0 )
a b

vC ( 0 ) K 2

( a b ) K1

dvC ( 0 )
K F = dt ; K G = dt
(a b)
(a b)

pg _______________________________________________________________ 107

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Durante o estado de no conduo, o condensador em teste descarrega a energia


armazenada no estado anterior. De seguida so apresentadas as equaes que traduzem
o seu funcionamento:
dicond

vO = ( R1 + ESR ) icond + vC + ESL dt

vO = iR R

0 = icond + iR

di
vcond = vC + ESR icond + ESL cond
dt

(3.88)

A partir do sistema de equaes (3.88) possvel obter a equao:


d 2 vC
dv
+ K 2 C + K 3 vC
2
dt
d t
K1 = ESL C ; K 2 = ( R + R1 + ESR ) C ; K 3 = 1

0 = K1

(3.89)

A soluo da equao (3.89) foi obtida recorrendo transformada de Laplace:

vC ( t ) = ( K A + KC ) eatOFF + ( K B + K D ) ebtOFF
a=

K 2 + K 2 2 4 K1 K3

KA =

2 K1

a vC ( 0 )
a b

vC ( 0 ) K 2

;b =

K 2 K 2 2 4 K1 K 3

; KB =

( a b ) K1
dvC ( 0 )

(3.90)

2 K1

b vC ( 0 )
a b

vC ( 0 ) K 2

( a b ) K1

dvC ( 0 )
KC = dt ; K D = dt
( a b)
( a b)

A tenso aos terminais do condensador assim como a corrente que o atravessa,


podem ser obtidos atravs das equaes (2.3) e (3.79).

3.5.3 Resultados experimentais e de simulao


Nesta seco sero apresentados diversos resultados de simulao e
experimentais que permitem avaliar a aplicabilidade da tcnica proposta.
Aps a construo do prottipo da Fig. 65 possvel estimar os parmetros (ESR
e C) do esquema equivalente do condensador em teste, para uma determinada
frequncia e temperatura de funcionamento. Assim, primeiro necessrio adquirir das
formas de onda da corrente (icond) e da tenso (vcond) no condensador em teste. Em

pg _______________________________________________________________ 108

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

seguida, calcula-se a soluo da equao (3.84) utilizando-se, para tanto, as formas de


onda de icond e vcond. A soluo obtida (K1 e K2 ) permite estimar os valores de ESR e C.
A Fig. 66 mostra as formas de onda da tenso e corrente nos condensadores em
testes (CA, CB, CC, CD), provenientes de simulao computacional, considerando o
prottipo da Fig. 65, caracterizado na Tabela 48, para uma frequncia de operao de 1
kHz. Na mesma figura possvel encontrar as curvas de fitting que foram desenhadas
considerando os parmetros (K1, K2 e K3), calculados a partir de (3.84), e recorrendo s
formas de onda da corrente nos condensadores.

Fig. 66. Formas de onda do ripple da tenso (a, b, c, d) e corrente (e, f, g, h) nos condensadores CA (a,
e), CB (b, f), CC (c, g) e CD (d, h), relativas ao prottipo da Fig. 65 a operar frequncia de 1 kHz
(resultado da simulao computacional).

A Tabela 49 mostra os valores de ESR estimados, atravs (3.84) recorrendo s


formas de onda da tenso e corrente obtidas atravs das simulaes computacionais.
TABELA 49 VALORES DE ESR ESTIMADOS
(RESULTADOS DE SIMULAO COMPUTACIONAL).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz

CA
0.0328
0.0263
0.0253
0.0233
0.0215

CB
0.0626
0.0501
0.0484
0.0451
0.0412

CC
0.0841
0.0604
0.0571
0.0531
0.0507

CD
0.2716
0.1903
0.1799
0.1675
0.1621

pg _______________________________________________________________ 109

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Na Tabela 50 mostram-se os erros, os quais foram obtidos atravs da


comparao dos resultados da Tabela 49 com os valores de referncia apresentados no
Anexo IV (Agilent HP 4294).
TABELA 50 ERROS NO CLCULO DE ESR
(RESULTADOS DE SIMULAO COMPUTACIONAL).

Frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz

CA
0.6 %
0.8 %
1.6 %
8.6 %
16.6 %

CB
0.6 %
0.2 %
0.8 %
4.8 %
13.1 %

CC
1.1 %
0.0 %
0.5 %
3.6 %
7.3 %

CD
1.1 %
0.4 %
0.1 %
0.8 %
1.6 %

As Tabelas 51 e 52 mostram os valores de C estimados e os erros,


respectivamente.
TABELA 51 VALORES DE C ESTIMADOS
(RESULTADOS DE SIMULAO COMPUTACIONAL).

frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz

CA
4290.7 F
4314.7 F
4390.5 F

CB
1954.9 F
1959.6 F
1973.5 F

CC
878.8 F
879.9 F
882.7 F

CD
204.8 F
205.0 F
205.1 F

TABELA 52 ERROS NO CLCULO DE C


(RESULTADOS DE SIMULAO COMPUTACIONAL).

frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz

CA
0.0 %
0.6 %
2.4 %

CB
0.0 %
0.2 %
0.9 %

CC
0.0 %
0.1 %
0.4 %

CD
0.1 %
0.0 %
0.1 %

Atravs da anlise das Tabelas 49-52 pode-se concluir que ESL afecta o clculo
de C e ESR para as frequncias mais elevadas, motivo pelo qual se limitou o clculo de
C para 1 kHz e de ESR para 10 kHz. Este fenmeno deve-se ao efeito de ESL durante a
transio de estado, e mais expressivo nas formas de onda resultantes da simulao
computacional pois, neste caso, a transio de estado praticamente instantnea, o que
maximiza o efeito de ESL.
Alm disso, possvel concluir que o efeito de ESL mais acentuado para
condensadores com capacidades superiores, pois a frequncia de ressonncia mais
baixa.
Em seguida sero apresentados alguns resultados experimentais.

pg _______________________________________________________________ 110

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Na Fig. 67 mostram-se formas de onda experimentais da tenso e corrente nos


condensadores em testes (CA, CB, CC, CD), considerando o prottipo da Fig. 65,
caracterizado na Tabela 48, para uma frequncia de operao de 1 kHz. Para alm disso
igualmente possvel observar as curvas de fitting que foram desenhadas, considerando
os parmetros (K1, K2 e K3) calculados a partir de (3.84), bem como a forma de onda da
corrente no condensador.

Fig. 67. Formas de onda do ripple da tenso (a, b, c, d) e corrente (e, f, g, h) nos condensadores CA (a,
e), CB (b, f), CC (c, g) e CD (d, h), relativas ao prottipo da Fig. 65 a operar frequncia de 1 kHz
(resultados experimentais).

A Tabela 53 mostra os valores de ESR estimados atravs (3.84), recorrendo s


formas de onda da tenso e corrente experimentais (Fig. 67).
TABELA 53 VALORES DE ESR ESTIMADOS
(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz

CA
0.0279
0.0270
0.0260
0.0258
0.0269

CB
0.0529
0.0486
0.0462
0.0466
0.0484

CC
0.0730
0.0585
0.0557
0.0553
0.0559

CD
0.2488
0.2055
0.1864
0.1727
0.1714

Na Tabela 54 mostram-se os erros, os quais foram obtidos atravs da


comparao dos resultados da Tabela 53 com os valores de referncia apresentados no
Anexo IV (Agilent HP 4294).

pg _______________________________________________________________ 111

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

TABELA 54 ERROS NO CLCULO DE ESR


(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz

CA
14.4 %
1.9 %
1.2 %
1.2 %
4.3 %

CB
14.9 %
3.2 %
5.3 %
1.7 %
2.1 %

CC
12.3 %
3.1 %
3.0 %
0.3 %
2.2 %

CD
7.4 %
8.4 %
3.7 %
2.3 %
4.0 %

As Tabela 55 e 56 mostram os valores de C estimados e os erros,


respectivamente.
TABELA 55 VALORES DE C ESTIMADOS
(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz

CA
4512.1 F
4327.2 F
4370.8 F

CB
1980.2 F
1964.6 F
1992.0 F

CC
942.5 F
919.1 F
910.3 F

CD
225.0 F
215.8 F
214.7 F

TABELA 56 ERROS NO CLCULO DE C


(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz

CA
5.2 %
0.9 %
1.9 %

CB
1.3 %
0.5 %
1.9 %

CC
7.2 %
4.6 %
3.6 %

CD
9.8 %
5.3 %
4.7 %

Atravs da anlise das Tabelas 53-56 pode-se concluir que a exactido da


tcnica proposta nesta seco no difere muito das anteriores, excepto para a frequncia
de 100 Hz. Esta observao pode ser justificada pelo facto do efeito de ESR ser bastante
diminuto para frequncias muito pequenas, quando comparado com o efeito de C. O
facto de na simulao o erro ser bastante inferior deve-se ao perodo de amostragem na
simulao ser 10 vezes superior ao perodo de amostragem dos resultados
experimentais.
Quanto ao valor da capacidade, verifica-se que a tcnica proposta nesta seco
apresenta um erro mais significativo, quando comparada com as tcnicas baseadas no
amplificador classe AB, verificando-se um aumento da capacidade. Esta circunstncia
pode ser justificada pelo facto da capacidade medida possuir um valor mais prximo da
capacidade DC do condensador, visto que, o seu clculo efectuado durante o perodo
em que a corrente aproximadamente constante [51]. A capacidade DC superior
capacidade AC [51], obtida pelas tcnicas propostas nas seces anteriores, assim como
pelo analisador de impedncia. Tipicamente utiliza-se a capacidade AC.

pg _______________________________________________________________ 112

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

3.6 Anlise dos erros


Pode-se definir o erro como sendo a diferena entre o valor medido e o valor de
referncia, podendo enquadrar-se em duas classes: erros sistemticos e erros de preciso
[138].
Os primeiros so consistentes e repetitivos, logo se as medidas forem efectuadas
segundo as mesmas condies de operao (ex: temperatura, tenso, corrente,
frequncia, etc. ) os mesmos desvios devero ser observados.
Os erros de preciso tm um comportamento aleatrio, possuindo um sinal ora
negativo ora positivo, podendo resultar de erros humanos resultantes da observao de
um grfico, rudo elctrico, entre outros. Estes erros podem ser reduzidos se for
calculada a mdia de vrias medidas nas mesmas condies de operao [139].
Nesta seco sero analisadas quatro tcnicas off-line, sendo que cada uma se
baseia num dos prottipos propostos (Figs. 42, 44, 47 e 65):
A primeira tcnica baseia-se no filtro LC (Fig. 42) e ser designada por
tcnica 1. Dos diferentes processos de clculo de ESR baseados no prottipo
da Fig. 42, optou-se pela utilizao do mais simples, o mtodo baseado no
multmetro digital.
A segunda tcnica baseia-se no filtro RC (Fig. 44) e ser designada por
tcnica 2. Dos diferentes algoritmos de clculo de ESR e Xcond baseados no
prottipo da Fig. 44, optou-se pelo mtodo baseado no algoritmo da DFT e na
aquisio da corrente e tenso no condensador.
A terceira tcnica baseia-se no amplificador classe D (Fig. 47) e ser
designada por tcnica 3.
A quarta tcnica baseia-se no prottipo da Fig. 65 e ser designada por
tcnica 4.
Para proceder anlise dos erros das quatro tcnicas off-line propostas optou-se
por estudar os erros provenientes de diferentes medidas realizadas para o condensador
CA, considerando-se os valores fornecidos pelo HP 4294 como os valores de referncia.
Deste modo, para avaliar as referidas tcnicas, no que respeita aos erros
sistemticos e de preciso, foi necessrio efectuar diferentes medidas para as mesmas
condies de operao (frequncia, temperatura, corrente e tenso):

pg _______________________________________________________________ 113

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

No que respeita tcnica 1, optou-se por efectuar 25 medidas diferentes,


para uma frequncia de operao de 10 kHz, uma temperatura aproximada
de 20 C e para os mesmos valores eficazes de corrente e tenso no
condensador.

Para as restantes tcnicas, optou-se por efectuar 25 medidas diferentes, para


uma frequncia de operao de 1 kHz, uma temperatura aproximada de 20
C e para os mesmos valores eficazes de corrente e tenso no condensador.

Aps a aquisio dos dados necessrios para a implementao das referidas


tcnicas, efectuou-se o clculo do valor mdio de ESR, C e Xcond, como se pode observar
na Tabela 57.
TABELA 57 VALORES MDIOS DE ESR, C E XCOND ESTIMADOS PARA CADA UMA DAS TCNICAS
PROPOSTAS

(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Tcnica 1
ESR
0.0271

Tcnica 2
ESR
Xcond
0.0255 0.0364

Tcnica 3
ESR
Xcond
0.0256 0.0369

Tcnica 4
ESR
C
0.0259 4404 F

Como os erros provenientes da informao exposta na Tabela 57 so resultado


essencialmente de erros sistemticos, visto que a componente aleatria foi mitigada
atravs do clculo da mdia das 25 medidas, possvel avaliar atravs dos mesmos a
exactido de cada uma das tcnicas propostas. Para o efeito, realizou-se a comparao
entre os dados expostos na Tabela 57 e os valores de referncia (Anexo IV), como se
pode observar na tabela 58.
TABELA 58 ERROS RESULTANTES DA INFORMAO EXPOSTA NA TABELA 57.

Tcnica 1
ESR
5.5 %

Tcnica 2
ESR
Xcond
0.8 %
1.1 %

Tcnica 3
ESR
Xcond
0.4 %
0.3 %

Tcnica 4
ESR
C
0.8 %
2.7 %

Atravs da anlise da tabela anterior pode-se concluir que as tcnicas 2, 3 e 4


apresentam um grau de exactido bastante elevado no que respeita ao clculo de ESR. A
tcnica 1 revela ser a menos exacta. No que respeita ao clculo da componente reactiva
do condensador, a tcnica 3 a mais exacta, seguindo-se a tcnica 2 e 4,
respectivamente. Em seguida ser analisada a sua preciso.
Antes de analisar as tcnicas quanto sua preciso, importa introduzir algumas
noes. Assim, ao calcular a mdia dos valores de ESR, C e Xcond para as 25 medidas,

pg _______________________________________________________________ 114

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

foi possvel concentrar num nico valor a maioria das observaes, reduzindo-se, desta
forma, significativamente, o efeito dos erros de preciso.
No entanto, para calcular os erros de preciso necessrio obter uma medida da
disperso valores de ESR, C e Xcond, obtidos para cada uma das 25 medidas, em relao
ao seu valor mdio (Tabela 57). Desta forma, importa introduzir o conceito de varincia,
2, que representa uma medida dos desvios em relao ao valor da mdia.
n

2 =

( X
i =1

(3.91)

n 1

onde Xi, X e n representam o valor de ESR, C e Xcond obtidos para a ensima medida,
os valores mdios de ESR, C e Xcond e o nmero de medidas, neste caso 25.
No entanto, como o valor da varincia expressa em unidades ao quadrado, para
melhor avaliar a disperso dos dados utilizou-se o desvio padro, .
n

( X
i =1

(3.92)

n 1

Na Tabela 59 mostram-se os valores de calculados para as quatro tcnicas offline no que respeita aos valores de ESR, C e Xcond.
TABELA 59 DESVIO PADRO NO CLCULO DE ESR, C E XCOND OBTIDO PARA AS 25 MEDIDAS
(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Tcnica 1
ESR ()
5.510-4
2%

Tcnica 2
ESR ()
Xcond ()
-5
9.610
1.110-4
0.4 %
0.3 %

Tcnica 3
ESR ()
Xcond ()
-4
3.610
1.010-3
1.4 %
2.8 %

Tcnica 4
ESR ()
C (F)
-5
8.410
19.2
0.3 %
0.4 %

Atravs da observao da Tabela 59 pode-se concluir que as tcnicas 1 e 3


revelam uma maior disperso das medidas. J as tcnicas 2 e 4 revelam uma elevada
preciso, o que ratificado pelos histogramas apresentados na Fig. 68.
O eixo das abcissas dos histogramas da Fig. 68 representa os diferentes
resultados de ESR, C e Xcond obtidos para as 25 medidas e cada intervalo representa o
desvio padro. Pode-se ento concluir atravs da observao da Fig. 68 que a forma de
sino dos histogramas representa uma distribuio aproximadamente Normal:
68.3% dos valores calculados encontram-se compreendidos entre [M-,
M+];
pg _______________________________________________________________ 115

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

95.5% dos valores calculados encontram-se compreendidos entre [M-2,


M+2];
99.7% dos valores calculados encontram-se compreendidos entre [M-3,
M+3];
representando M o valor mdio e o desvio padro.
Como pelo teorema do limite central, uma distribuio normal representa a soma
de variveis aleatrias independentes de mdia finita [136], pode-se ento concluir que
os diferentes valores de ESR, Xcond e C, calculados a partir das 25 medidas, permitem
avaliar no s os erros de preciso, mas tambm os erros sistemticos visto que, a sua
disperso essencialmente aleatria.

Fig. 68. Histograma representativo da disperso do valor de ESR (a, b, c, d), Xcond (e, f) e C (g),
calculados atravs das tcnica 1 (a), 2 (b, e), 3 (c, f) e 4 (d, g), considerando 25 medidas diferentes, para
as mesmas condies de funcionamento (frequncia de operao de 1 kHz e uma temperatura ambiente
de 20 C).

3.7 Clculo dos multiplicadores de frequncia


Como foi referido no captulo 2, a frequncia de operao do condensador
condiciona o valor de ESR. Este efeito pode ser modelizado atravs da equao (2.10).
Desta forma, reescrevendo (2.10):

pg _______________________________________________________________ 116

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

DFOX

K1
K1 =
ESR ( f ) =
+ K2 ,
2 C
f
K = R
S
2

(3.93)

e recorrendo a algoritmos de fitting, como o LMS, possvel calcular K1 e K2:


N 1
f 2
i =1 i
N 1

i =1 f i

1
N ESRi

i =1 f i
K1 = i =1 f i
K N

N 2 ESRi
i =1

(3.94)

onde N, fi e ESRi representam o nmero de frequncias para as quais se calculou ESR, a


ensima frequncia e ESR para a ensima frequncia.
Na Tabela 60 possvel observar os valores de K1 e K2 que modelizam o efeito
da frequncia nos condensadores em estudo (CA, CB, CC e CD), obtidos atravs da
equao (3.94) e recorrendo aos resultados experimentais apresentados na Tabela 31.
TABELA 60 VALORES DE K1 E K2 QUE MODELIZAM O EFEITO DA FREQUNCIA NA ESR DOS
CONDENSADORES EM TESTE.

K1
K2

CA
0.7421
0.0250

CB
1.2852
0.0452

CC
2.4245
0.0541

CD
8.5853
0.1661

Na Fig. 69 possvel observar as equaes tericas (3.93) baseadas nos valores


de K1 e K2 calculados (Tabela 60), assim como os valores de ESR obtidos atravs da
tcnica off-line 2/algoritmo 3.

Fig. 69. Evoluo de ESR com a frequncia: (a) CA; (b) CB, (c) CC e (d) CD.

pg _______________________________________________________________ 117

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

A Fig. 69 mostra que os valores de K1 e K2 calculados permitem representar a


evoluo de ESR com a frequncia. No entanto, como a equao (2.10) modeliza o
efeito da frequncia na ESR, que se manifesta para frequncias tipicamente inferiores a
10 kHz, logo a funo (3.93) dever ser utilizada para a frequncia mxima de 10 kHz.

3.8 Clculo dos multiplicadores de temperatura


No Captulo 2 foi mencionado que o factor temperatura exercia uma forte
influncia nos parmetros do circuito equivalente do condensador (ESR, XC e C).
Concomitantemente, foi modelizado o efeito da temperatura na resistncia do electrlito
atravs da equao (2.8). Neste caso, importa modelizar o efeito da temperatura na ESR,
o qual pode ser modelizado pela equao [140]:
ESR (Temp ) = + e

Temp

(3.95)

onde Temp representa a temperatura do ncleo e , e dependem do tipo de


condensador.
A equao (3.95) pode ser reescrita na forma:
ESR (Temp ) = a (1 + b e

c Temp

= a
) , = a b

1
= c

(3.96)

Assim, para determinar os parmetros a, b e c necessrio recorrer a regresso


no linear, visto que a equao (3.95) tem uma dependncia no linear com a, b e c.
Deste modo, recorreu-se ao algoritmo Gauss-Newton para minimizar a soma do
quadrado dos resduos entre os resultados experimentais e a equao (3.96):
a j +1 = a j + a

b j +1 = b j + b ,

c j +1 = c j + c

a
b = Z T Z 1 Z T D ,
( j )
j)
( j
c

df ( x1 )

y1 f ( x1 )
da

D=
#
,Zj = #

yn f ( xn )
df ( xn )
da

df ( x1 )
db
#
df ( xn )
db

(3.97)

df ( x1 )

dc
#

df ( xn )
dc

pg _______________________________________________________________ 118

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

onde j, j+1, Zj, D, yn, f(xn) e n representam a estimativa inicial, a predio, a matriz das
derivadas parciais, o vector diferena, os resultados experimentais, equao terica
(3.96), e nmero de pontos adquiridos.
Aps modelizar o efeito da temperatura na ESR, concebeu-se um prottipo
experimental que permitisse simular o comportamento do condensador para diferentes
temperaturas e simultaneamente possibilitasse estimar o valor de ESR. Assim, para
calcular o valor da ESR e Xcond do condensador utilizou-se o circuito da Fig. 44
conjuntamente com o algoritmo da DFT. Para variar a temperatura no ncleo do
condensador utilizou-se um prottipo muito simples composto por duas resistncias
variveis, em srie. A primeira resistncia, uma resistncia bobinada tubular (TVEWR),
possui um dimetro interno superior ao dimetro da cobertura do condensador. A
segunda resistncia permite variar a corrente na primeira e, desta forma, a temperatura
no seu interior. Em seguida, aplicou-se um sensor de temperatura no condensador e
cobriu-se o condensador com papel de alumnio. Posteriormente, introduziu-se o
condensador no interior da primeira resistncia varivel (TVEWR), fazendo-se variar em
seguida a corrente na resistncia e, desta forma, a temperatura no condensador. A
temperatura no condensador foi medida atravs de um multmetro digital (Tektronix
TX3) cujo sensor de temperatura se encontrava acoplado ao condensador.
Neste caso considerou-se que a temperatura do ncleo aproximadamente igual
temperatura da cobertura visto que, a resistncia trmica do ncleo para a cobertura
muito inferior resistncia trmica da cobertura para o ar.
Nas Tabelas 61 e 62 possvel observar os diferentes valores de ESR e Xcond
obtidos para diferentes temperaturas, respectivamente.

TABELA 61 VALORES DE ESR PARA DIFERENTES TEMPERATURAS DE OPERAO.

Temperatura
20 C
30 C
40 C
50 C
60 C
70 C
80 C

CA
0.0256
0.0227
0.0212
0.0202
0.0196
0.0192
0.0191

CB
0.0482
0.0388
0.0349
0.0324
0.0305
0.0293
0.0286

CC
0.0577
0.0443
0.0385
0.0335
0.0312
0.0295
0.0285

CD
0.1850
0.1437
0.1212
0.1039
0.0872
0.0774
0.0688

pg _______________________________________________________________ 119

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

TABELA 62 VALORES DE XCOND PARA DIFERENTES TEMPERATURAS DE OPERAO.

Temperatura
20 C
30 C
40 C
50 C
60 C
70 C
80 C

CA
0.0362
0.0356
0.0352
0.0349
0.0344
0.0340
0.0337

CB
0.0830
0.0815
0.0804
0.0793
0.0783
0.0774
0.0767

CC
0.1761
0.1731
0.1719
0.1687
0.1672
0.1642
0.1606

CD
0.7310
0.7286
0.7190
0.7159
0.7054
0.7018
0.6959

Atravs da anlise das Tabelas 61 e 62 pode-se concluir que o efeito da


temperatura bastante mais expressivo na ESR do que na Xcond.
Atravs dos resultados experimentais apresentados nas tabelas anteriores e
recorrendo a (3.97), possvel calcular os valores de , e que permitem caracterizar
o comportamento da ESR com a temperatura (Tabela 63).
TABELA 63 VALORES DE , E OBTIDOS EXPERIMENTALMENTE.

CA
0.0188
0.0196
18.82

CB
0.0282
0.0605
17.86

CC
0.0275
0.0871
18.78

CD
0.05
0.2524
31.44

A Fig. 70 mostra os diferentes valores de ESR obtidos experimentalmente para


diferentes temperaturas (Tabela 61), assim como a curva terica baseada em (3.95) e
nos valores de , e calculados recorrendo aos resultados experimentais e a (3.97).

Fig. 70. Evoluo de ESR com a temperatura: (a) CA; (b) CB, (c) CC e (d) CD.

pg _______________________________________________________________ 120

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

As curvas tericas e os resultados experimentais esto praticamente sobrepostos


o que demonstra a fiabilidade do mtodo proposto no que respeita modelizao do
comportamento do condensador com a temperatura, em particular da ESR.
Relativamente a Xcond, atravs da anlise dos resultados experimentais
apresentados na Tabela 62, possvel concluir que existe uma relao linear entre a
temperatura (Temp) e Xcond, fenmeno este que foi modelizado atravs da equao:
X cond (Temp ) = 1 Temp + 2

(3.98)

Recorrendo ao algoritmo LMS possvel extrair os valores de 1 e 2 atravs dos


resultados experimentais:
N
2
Tempi
i =1
N
Tempi
i =1

Tempi X condi )
(


1 = i =1

N
2

X condi

i =1

Temp
i

i =1

(3.99)

onde Tempi, Xcondi e N representam as diferentes temperaturas de medida, os valores de


Xcond obtidos experimentalmente para as temperatura Tempi e o numero de temperaturas
de medida.
A Tabela 64 mostra os valores de 1 e 2 calculados atravs de (3.99) e da Tabela
62.
TABELA 64 VALORES DE 1 E 2 OBTIDOS EXPERIMENTALMENTE.

1
2

CA
- 4.10710-5
0.0369

CB
- 1.04310-4
0.0847

CC
- 2.50710-4
0.1815

CD
- 6.16110-4
0.7447

A Fig. 71 mostra a evoluo de Xcond com a temperatura.


Atravs da observao das Figs. 70 e 71, assim como das Tabelas 63 e 64, pode-se concluir que a evoluo de ESR e Xcond com a temperatura no igual para os quatro
condensadores analisados. Este fenmeno deve-se essencialmente s diferentes
dimenses dos condensadores. Desta forma, pode-se justificar que, para os
condensadores de maior capacidade, a variao de Xcond seja menor (1). Com efeito, a
expanso do electrlito menos significativa em condensadores com maior capacidade,
pois possuem armaduras de maior dimenso.

pg _______________________________________________________________ 121

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 71. Evoluo de Xcond com a temperatura: (a) CA; (b) CB, (c) CC e (d) CD.

3.9 Tcnicas de diagnstico de avarias off-line


Diversos autores e fabricantes referem que o melhor indicador de falha dos
condensadores electrolticos se manifesta pelo aumento da ESR. Assim, se o valor de
ESR duplicar, ento aconselhvel a substituio do condensador [94, 122, 140]. No
entanto, outros factores podem traduzir a necessidade de substituio do condensador,
tais como, a reduo da capacidade em 20% ou o aumento de DF em 100 % [141].
Como ficou expresso no Captulo 2, o facto dos parmetros ESR, C ou DF terem
atingido o seu limite no significa que o condensador no esteja em condies de
operar, mas sim que a probabilidade de este vir a desenvolver uma falha do tipo
estrutural aumenta significativamente. Por este motivo, considera-se que o condensador
manifesta uma falha do tipo paramtrica, sendo aconselhvel a sua substituio. Deste
modo, o desenvolvimento de tcnicas de diagnstico off-line baseia-se na identificao
dos valores de ESR, C ou DF, sendo os referidos valores, posteriormente, comparados
com os valores iniciais, para avaliar a necessidade de substituio do condensador.
Para avaliar a aplicabilidade das tcnicas de diagnstico propostas foi necessrio
envelhecer condensadores do mesmo tipo para as quatro sries utilizadas neste estudo
(Tabela 4). Para o efeito, os condensadores foram sujeitos a rigorosos testes de
envelhecimento (Tabela 66). Para melhor identificar os diferentes condensadores, estes
sero designados da seguinte forma (Tabela 65):

pg _______________________________________________________________ 122

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

TABELA 65 DESIGNAO DOS CONDENSADORES UTILIZADOS NESTE ESTUDO.

Novos
Envelhecidos

4700 F, 25 V
CA
CA1

2200 F, 25 V
CB
CB1

1000 F, 50 V
CC
CC1

220 F, 200 V
CD
-

CA2

CB2

CC2

CD2

Fortemente
envelhecidos

A Tabela 66 caracteriza os testes de envelhecimento a que os condensadores


foram sujeitos.
TABELA 66 TESTES DE ENVELHECIMENTO.

Tempo do teste
Temperatura

CA1, CB1 e CC1


3.5 h

CA2
9h
160 C

CB2
7h

CC2
5.5 h

CD2
1h
200 C

Aps os testes de envelhecimento, os parmetros ESR e Xcond foram medidos


atravs de um analisador de impedncia Agilent HP 4294. Os resultados podem ser
observados na Fig. 72.
A Fig. 72 reitera as observaes expostas no Captulo 2, isto , ESR aumenta
com o tempo de vida, devido reduo do volume do electrlito, o que promove o
aumento da resistividade; da mesma forma que a reactncia capacitiva aumenta, pois a
capacidade diminui, visto que a superfcie de contacto entre o dielctrico e o electrlito
diminui. Alm disso possvel observar que o efeito da frequncia na ESR se manifesta
de forma diferente em condensadores com diferentes graus de envelhecimento. Assim,
no caso de um condensador pouco envelhecido a variao da ESR resulta da reduo do
electrlito. Neste caso, DFox e C no sofrem grandes modificaes provocadas pelo
envelhecimento, logo a variao para frequncias mais baixas ser mais reduzida do que
para frequncias mais elevadas, como se pode concluir a partir de (2.10). No entanto, no
caso de condensadores fortemente envelhecidos, os valores DFox e C so fortemente
modificados, tendo estes parmetros maior influncia na variao total da ESR que a
resistncia do electrlito. Por este motivo, a variao da ESR provocada pelo
envelhecimento, no caso de condensadores fortemente envelhecidos, mais
significativa para baixas frequncias do que para frequncias elevadas. Estes fenmenos
podem ser observados em mais detalhe nas Fig. 72.

pg _______________________________________________________________ 123

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 72. Evoluo de ESR (a, b, c, d) e Xcond (e, f, g, h) com a frequncia para os condensadores: (a, e)
CA, CA1 e CA2, (b, f) CB, CB1 e CB2, (c, g) CC, CC1 e CC2 e (d, h) CD e CD2.

Aps o envelhecimento dos condensadores foi necessrio desenvolver mtodos


de medida que permitissem estimar os valores de ESR e C do condensador. Para o
efeito, qualquer uma das tcnicas off-line apresentadas nas seces anteriores poder ser
usada. Assim:

A tcnica 1, baseada no filtro LC, permite calcular o valor de ESR para as


frequncias de 5 kHz e 10 kHz. No entanto, apesar da sua simplicidade,
revela ser a menos precisa e exacta.

A tcnica 2, baseada no filtro RC, permite estimar tanto ESR como C para
um intervalo de frequncias bastante significativo, com bastante preciso e
exactido. A frequncia de 1 kHz mostra ser a mais precisa e exacta [142].

A tcnica 3, baseada no amplificador classe D, permite estimar ESR e C


para a frequncia de 1 kHz. Esta tcnica de medida revela ser bastante
exacta, mas a sua preciso inferior s das tcnicas 2 e 4.

A tcnica 4, baseada num circuito de carga e descarga do condensador,


permite estimar ESR e C para um intervalo de frequncias bastante grande,
com bastante preciso e exactido, em particular para a frequncia de 1 kHz.

Alm das solues propostas nas seces anteriores, nesta seco propem-se
novas solues para avaliar o estado do condensador, cuja principal vantagem consiste
na simplicidade e logstica necessria para a sua implementao. Um mtodo bastante

pg _______________________________________________________________ 124

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

simples consiste na utilizao de um transformador e uma fonte de alimentao DC


(Fig. 73) para criar uma corrente e tenso aproximadamente sinusoidais no
condensador. Este mtodo de medida ser designado por tcnica 5.

Fig. 73. Prottipo utilizado para estimar o valor de ESR e C para a frequncia de 50 Hz.

Em seguida, recorrendo ao algoritmo da DFT (equaes (3.65)-(3.70)) possvel


calcular o valor de ESR e Xcond, para a frequncia de 50 Hz. A simplicidade do prottipo
proposto torna o mtodo bastante apetecvel. Neste caso, o prottipo experimental
bastante mais simples do que o de qualquer uma das tcnicas propostas anteriormente.
No entanto, necessrio um osciloscpio digital para adquirir as formas de onda da
tenso e corrente no condensador.
Outra soluo, igualmente bastante simples, requer a utilizao do amplificador
classe AB apresentado na Fig. 46, o circuito da Fig. 44, e de um multmetro digital. No
caso, foi utilizado um multmetro digital Tektronix TX3, para medir o valor eficaz da
corrente e tenso no condensador, para diferentes frequncias de operao. Assim, o
osciloscpio digital dispensado tornando o mtodo proposto bastante mais econmico.
Este mtodo de medida ser designado por tcnica 6.
Como a impedncia do condensador (Zcond) para frequncia inferiores a 20 kHz
pode ser aproximada a:
Z cond ( f

1
ESR +

2 f C

(3.100)

ento reescrevendo (3.100):


Z cond ( f

1
K 1 = ESR
= K1 +
K2,
2
K 2 = C
2 f

(3.101)

pg _______________________________________________________________ 125

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

e recorrendo ao algoritmo LMS possvel estimar o valor de ESR e C que melhor


representam a evoluo de (Zcond) com a frequncia:

N
1


i =1 2 fi

2
N


1
( Zcondi 2 )

i =1
i =1 2 f i K1

= N
2

N
1

K2 Z 2
1

condi

2
=
1
i
i

i =1 2 f i

(3.102)

onde fi, Zcondi e N representam as frequncias de medida, os valores de Zcondi calculados


experimentalmente e o nmero de frequncias de teste.
No entanto, importa recordar que os valores de ESR e C estimados no
representam a ESR e C para uma frequncia especfica, representam simplesmente os
valores que melhor reproduzem a equao (3.100) para as diferentes frequncias de
teste. O valor de ESR estimado bastante prximo do valor de ESR a 20 kHz e o valor
de C estimado bastante prximo do valor de C para as frequncias mais baixas ( < 100
Hz), em particular, para condensadores cuja frequncia de ressonncia superior a 20
kHz. Deste modo, possvel avaliar a variao de ESR e Xcond com o envelhecimento.
Para avaliar a aplicabilidade das novas tcnicas de medida propostas nesta
seco, foram realizados alguns testes para os condensadores caracterizados na Tabela
65.
Assim, relativamente tcnica baseada no prottipo da Fig. 73 e caracterizado
na Tabela 67 (tcnica 5), aps aquisio da corrente e tenso nos condensadores em
teste (Fig. 74) obtiveram-se os valores de ESR e C para a frequncia de 50 Hz. Em
seguida, realizou-se a comparao dos valores estimados com os valores de referncia
para as mesmas condies de operao (20 C, 50 Hz), fornecidos pelo analisador de
impedncia HP 4294, de forma a avaliar a exactido do mtodo proposto. Este estudo
pode ser observado na Tabela 68.
TABELA 67 CARACTERSTICAS DO PROTTIPO DA FIG. 73.

Transformador monofsico
Primrio
Secundrio
Potncia
230 V
6V
18 W

R
12

Atravs da anlise da Tabela 68, pode-se concluir que os erros so bastante


diminutos. O erro mximo na identificao de ESR inferior a 8.5 %, enquanto que, o
erro mximo no clculo de C inferior a 3.5 %, o que permite a utilizao da tcnica 5

pg _______________________________________________________________ 126

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

como tcnica de diagnstico off-line, visto que os valores de ESR e C podem variar at
100 % e 20 % respectivamente, quando o condensador atinge o seu limite de vida.

Fig. 74. Resultados experimentais da corrente e tenso no condensador, obtidos atravs do prottipo da
Fig. 73, para: (a) CA, CA1 e CA2; (b) CB, CB1 e CB2; (C) CC, CC1 e CC2 e (d) CD e CD2.
TABELA 68 VALORES ESTIMADOS DE ESR E C (TCNICA 5).

Condensadores
CA
CA1
CA2
CB
CB1
CB2
CC
CC1
CC2
CD
CD2

ESR
Tcnica 5
40.6 m
45.8 m
141.2 m
80.5 m
100.5 m
196.1 m
106.6 m
141.0 m
285.6 m
334.6 m
693.8 m

C
Erro
0.2 %
2.7 %
8.4 %
2.5 %
4.4 %
4.4 %
2.1 %
1.9 %
0.3 %
8.4 %
6.1 %

Tcnica 5
4577.2 F
4411.1 F
3659.7 F
2022.0 F
1905.2 F
1869.3 F
929.0 F
889.9 F
876.5 F
218.8 F
200.5 F

Erro
3.0 %
3.4 %
2.7 %
1.7 %
1.8 %
2.9 %
0.7 %
1.8 %
0.9 %
0.2 %
0.5 %

Na Fig. 75 realiza-se a comparao entre os valores de ESR e C dos


condensadores envelhecidos e fortemente envelhecidos com os condensadores novos,
obtidos atravs da tcnica 5.
Atravs da observao da Fig. 75 pode-se concluir que os condensadores CA2,
CB2, CC2 e CD2 devem ser substitudos, visto que o valor de ESR aumentou, pelo menos
100%, quando comparado com o valor de ESR de um condensador novo do mesmo tipo.
No caso de CA2 verifica-se mesmo que C tambm ultrapassou o seu limite, tendo

pg _______________________________________________________________ 127

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

reduzido mais de 20 %. Pode-se ento concluir que a tcnica 5 permite avaliar o estado
do condensador e, assim, a necessidade ou no da sua substituio.

Fig. 75. Comparao entre os valores de ESR (a,c) e C (b,d) dos condensadores envelhecidos e
fortemente envelhecidos, com os condensadores novos, obtidos atravs da tcnica 5.

Em seguida, implementou-se a tcnica 6 a fim de avaliar a sua aplicabilidade.


Neste caso, no possvel avaliar a sua exactido visto que os valores de ESR e C no
correspondem a uma frequncia especfica. Pode-se, no entanto, testar a referida tcnica
no que respeita avaliao do estado dos condensadores.
Desta forma, efectuou-se a medida do valor eficaz da corrente e tenso para
diferentes frequncias: 100 Hz, 500 Hz, 1 kHz, 5 kHz, 10 kHz e 20 kHz, recorrendo a um
multmetro digital, para os onze condensadores considerados na Tabela 66. Em seguida
calculou-se a impedncia dos condensadores. No seguimento obteve-se a soluo da
equao (3.102) a fim de estimar os valores de ESR e C que melhor modelizam a
equao (3.100).
A Fig. 76 mostra a evoluo da impedncia dos condensadores CA, CA1 e CA2
com a frequncia, conjuntamente com a curva terica (3.100), a qual foi desenhada aps
o clculo de K1 e K2.
Aps o clculo de K1 e K2 possvel determinar os valores de ESR e C que
melhor representam a equao (3.100). A Fig. 77 exibe a comparao entre os valores
de ESR e C dos condensadores envelhecidos e fortemente envelhecidos com os dos
condensadores novos, obtidos atravs da tcnica 6.
A Fig. 77 permite concluir que os condensadores CA2, CB2 e CC2 devem ser
substitudos, visto que o valor de ESR aumentou pelo menos 100% quando comparado
com o valor de ESR de um condensador novo do mesmo tipo. Alm disso, pode-se
inferir que o condensador CD2 se encontra muito perto do seu limite de vida, visto que o
pg _______________________________________________________________ 128

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

valor de ESR se encontra bastante prximo do seu limite. No que respeita variao do
valor de C, verifica-se que a capacidade de CA2 se encontra muito prxima do seu limite,
revelando a necessidade de substituio do condensador.

Fig. 76. Evoluo da impedncia (Zcond) com a frequncia, para os condensadores: (a) CA, (b) CA1 e (c)
CA2 (resultados experimentais e equao (3.100)).

Fig. 77. Comparao entre os valores de ESR (a,c) e C (b,d) dos condensadores envelhecidos e
fortemente envelhecidos com os dos condensadores novos, obtidos atravs da tcnica 6.

Em suma, a tcnica 6 permite retirar concluses semelhantes s da tcnica 5.


Desta forma, pode-se concluir que a mesma tambm pode ser utilizada como mtodo de
diagnstico off-line.
Na anlise realizada nos pargrafos anteriores consideram-se como referncia os
valores de ESR e C de um condensador novo do mesmo tipo do condensador em
anlise. Este tipo de anlise pode conduzir a erros na avaliao do estado actual do
pg _______________________________________________________________ 129

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

condensador em teste, visto que os valores de ESR e C variam de condensador para


condensador; sobretudo no que respeita capacidade, cujo valor possui uma tolerncia
de 20 %, podendo esta situao conduzir a anlises errneas do estado do condensador.
Desta forma, propem-se diversas solues para colmatar este problema, as
quais se encontram sintetizadas na Tabela 69 [142].
TABELA 69 DIFERENTES METODOLOGIAS PARA AVALIAR O ESTADO DOS CONDENSADORES [142].

Mtodo
1

Sntese
Utilizar o valor DF fornecido pelo fabricante a 120 Hz como valor de referncia (para
um condensador novo), e compar-lo com o valor actual para as mesmas condies de
operao (temperatura e frequncia). Se o valor actual de DF ultrapassar o valor limite
do condensador (duas vezes o valor de DF fornecido pelo fabricante), ento o
condensador dever ser substitudo. Esta metodologia pode ser facilmente implementada
recorrendo aos mtodos off-line de medida 2 e 4.
Medir o valor da capacidade do condensador quando novo, armazen-lo e utiliz-lo
como referncia. Se o valor actual da capacidade se reduzir em mais de 20 %, quando
comparado com o valor de referncia, ento o condensador dever ser substitudo. Estas
medidas devero ser efectuadas para a frequncia de 120 Hz pois a exactido na medida
de C dos mtodos de medida off-line 2 e 4 aumenta para frequncias mais baixas. Podem
no entanto, ser utilizados os mtodos off-line de medida 3 e 5, sendo nestes casos
utilizadas as frequncias de medida de 1 kHz e 50 Hz, respectivamente.
Medir o valor de ESR do condensador quando novo, armazen-lo e utiliz-lo como
referncia. Se o valor actual de ESR duplicar quando comparado com o valor de
referncia, ento o condensador dever ser substitudo. Estas medidas devero ser
efectuadas a 1 kHz, pois a exactido dos mtodos de medida off-line 2, 3 e 4 maior para
1 kHz. Pode, no entanto, ser utilizada o mtodo de medida off-line 5, sendo neste caso
utilizada a frequncia de medida de 50 Hz.
Calcular o valor tpico de ESR de um condensador novo atravs de uma amostra de dez
condensadores novos do mesmo tipo do condensador em anlise. Este pode ser obtido
atravs do clculo da mdia dos dez valores de ESR medidos. Importa, no entanto,
garantir que a disperso dos valores de ESR em relao mdia no ultrapasse os 20%.
Em seguida, pode-se utilizar o valor tpico como valor de referncia. Atravs da
comparao do valor actual de ESR do condensador em anlise com o valor de
referncia, considerando as mesmas condies de operao, possvel avaliar o seu
estado. Estas medidas devero ser efectuadas a 1 kHz caso se utilizem as tcnicas de
medida off-line 2,3 e 4. Pode, tambm, ser utilizado o mtodo off-line de medida 5 para
uma frequncia de operao de 50 Hz.
Calcular o valor tpico de C de um condensador novo atravs de uma amostra de dez
condensadores novos do mesmo tipo do condensador em anlise. Este pode ser obtido
atravs do clculo da mdia dos dez valores de C medidos. Importa, no entanto, garantir
que a disperso dos valores de C em relao mdia, no ultrapasse os 5 %. Em seguida,
pode-se utilizar o valor tpico como valor de referncia. Atravs da comparao do valor
actual de C do condensador em anlise, considerando as mesmas condies de operao,
com o valor de referncia, possvel avaliar o seu estado. Estas medidas devero ser
efectuadas a 120 Hz, caso se utilizem as tcnicas de medida off-line 2 e 4. Podem
tambm ser utilizados os mtodos off-line de medida 3 e 5 para as frequncias de
operao de 1 kHz e 50 Hz, respectivamente.
Alguns fabricantes fornecem os valores tpicos de ESR a 120 Hz. Nesse caso, este valor
poder ser utilizado como referncia. Desta forma, ser necessrio medir a ESR a 120
Hz, podendo ser utilizados os mtodos off-line de medida 2 e 4 para o efeito.

Como foi referido em seces anteriores, o facto dos parmetros do condensador


terem atingido o seu limite no significa que o condensador manifeste uma avaria do
tipo estrutural (circuito aberto ou curto-circuito), podendo operar ainda durante algum
pg _______________________________________________________________ 130

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

tempo. No entanto, a probabilidade de avarias estruturais surgirem aumenta


significativamente. Por esse motivo, algumas das metodologias (Tabela 69)
apresentadas so mais conservativas que outras. Neste particular, convm referir que a
metodologia 1 peca por ser a menos conservativa, devido ao facto do valor de DF
fornecido pelo fabricante possuir um erro significativo, sendo por este motivo
aconselhvel, em aplicaes cuja fiabilidade constitua uma exigncia fulcral, a
utilizao das restantes metodologias.
As solues apresentadas, no que respeita aos mtodos off-line de medida,
manifestam a necessidade de remover o condensador do circuito onde este se encontra a
operar. Esta tarefa, revela-se muitas vezes complexa podendo, durante este processo,
danificar-se o equipamento. Para evitar esta situao, alguns dos mtodos propostos
podem ser implementadas sem haver necessidade de remover o condensador. Esta
problemtica ser desenvolvida nos pargrafos seguintes, e para o efeito ser utilizada
uma fonte de alimentao comutada (conversor buck).
Nesta seco ser utilizado mtodo off-line 5 para avaliar o estado dos trs
condensadores pertencentes ao filtro de sada de um conversor buck, sem remoo dos
mesmos. O prottipo utilizado pode ser observado na Fig. 78.

Fig. 78. Diagrama de blocos do prottipo experimental utilizado para a implementao da tcnica offline de medida 5, sem remover os condensadores do filtro de sada do conversor buck [142].

Atravs da anlise do diagrama da Fig. 78 pode-se concluir que a corrente


sinusoidal injectada pelo transformador ir atravessar apenas os condensadores, visto
que o dodo se encontra inversamente polarizado, e o transstor est off.
pg _______________________________________________________________ 131

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

A Fig. 79 mostra as formas de onda da corrente, obtidas atravs do sensor de


corrente (transformador de corrente de efeito Hall do tipo Telcon HTP 50), e da tenso
nos diferentes condensadores, adquiridas atravs de um osciloscpio digital Tektronix
TDS 1012 com ligao a um PC.

Fig. 79. Formas de onda da corrente e tenso nos condensadores: (a) CC, (b) CC1 e (c) CC2.

Aps a aquisio e tratamento das formas de corrente e tenso nos


condensadores, utilizou-se o algoritmo da DFT e as equaes (3.69) e (3.70) para extrair
os valores de ESR e C. A Tabela 70 mostra os valores obtidos, assim como os erros aps
comparao com os valores medidos com o analisador de impedncias HP 4294, para as
mesmas condies de funcionamento (50 Hz, 20 C)
TABELA 70 ESR E C ESTIMADOS ATRAVS DO MTODO OFF-LINE DE MEDIDA 5 E RESPECTIVOS ERROS,
PARA OS TRS CONDENSADORES PERTENCENTES AO PROTTIPO DA FIG. 78.

Condensadores
valor
ESR
erro
valor
C
erro

CC
0.1112
1.0 %
916.6 F
3.3 %

CC1
0.1464
0.4 %
881.5 F
4.4 %

CC2
0.2726
5.3 %
868.8 F
3.6 %

Como se pode concluir a partir da tabela anterior, a tcnica proposta apresenta


elevada exactido; logo pode ser utilizada para avaliar o estado dos condensadores
electrolticos do filtro de sada de fontes de alimentao comutadas, sem ser necessrio
remov-los.
A grande maioria das topologias de fontes de alimentao comutadas possui um
filtro LC, que se encontra isolado a montante por um ou mais dodos e um ou mais
transstores caso a tenso gate-source seja nula, como o caso do conversor buck. Deste

pg _______________________________________________________________ 132

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

modo, se for injectada uma corrente sinusoidal pela carga possvel avaliar o estado dos
condensadores do filtro de sada, recorrendo ao mtodo 2 ou mtodo 5, sem remover os
condensadores do circuito onde estes se encontram colocados. Esta soluo foi
implementada com bastante sucesso em [142] recorrendo ao mtodo off-line 2, para um
conversor buck, podendo igualmente ser implementada para outras topologias, tais
como, conversores buck-boost, boost, flyback, forward, push-pull, meia-ponte e ponte
completa.

3.10 Resumo
Neste captulo ficou demonstrado que as tcnicas off-line de medida possuem
um papel fulcral em electrnica, em particular, na fase de concepo de diversos
equipamentos de electrnica e na implementao de tcnicas de diagnstico off-line e
on-line.
A logstica subjacente ao desenvolvimento das referidas tcnicas permite que
com poucos recursos, isto , de forma bastante econmica e simples, caracterizar o
circuito equivalente de condensadores electrolticos de alumnio com a frequncia e
temperatura, ao invs de utilizar analisadores de impedncia ou medidores de LCR,
equipamento nem sempre disponvel e particularmente caro. A identificao do circuito
equivalente do condensador deveras importante para a concepo do circuito de
potncia e controlo de fontes de alimentao comutadas, assim como na implementao
de tcnicas de diagnstico off-line e on-line.
No presente captulo foram apresentados diversos mtodos off-line de medida,
alguns dos quais se baseiam na injeco de uma corrente sinusoidal no condensador.
Deste grupo destacam-se duas solues: uma baseia-se num circuito amplificador classe
AB, enquanto a outra recorre a um amplificador classe D. Em qualquer dos casos e
recorrendo ao algoritmo DFT possvel extrair o mdulo e fase das formas de onda de
corrente e tenso no condensador, a partir dos quais se consegue calcular o valor de ESR
e C do condensador. Outros algoritmos foram igualmente utilizados aquando da
utilizao do prottipo baseado no amplificador classe AB, que se revelaram de uma
elevada preciso e exactido.
Alm dos mtodos off-line descritos no pargrafo anterior, apresentou-se uma
outra soluo baseada na injeco de uma corrente aproximadamente quadrada no

pg _______________________________________________________________ 133

3 Tcnicas Off-Line

__________________________________________________________________________________________________________

condensador. Recorrendo ao algoritmo LMS foi possvel extrair os valores de ESR e C


atravs das formas de onda da corrente e tenso no condensador.
Os referidos mtodos de medida permitem caracterizar o circuito equivalente do
condensador com a temperatura e frequncia, mas tambm avaliar o seu estado. Para o
efeito basta comparar o valor actual de ESR e de C com o valor de referncia de um
condensador novo do mesmo tipo, considerando as mesmas condies de
funcionamento (frequncia e temperatura).
No obstante o facto das referidas tcnicas serem off-line, a sua implementao
sem extraco dos condensadores do circuito onde estes se encontram possvel, tal
como ficou demonstrado neste captulo, o que reitera a importncia das referidas
tcnicas no mbito dos mtodos de diagnstico.

pg _______________________________________________________________ 134

4 Mtodos de Diagnstico On-Line


No obstante o aumento da qualidade e a fiabilidade dos sistemas electrnicos,
as falhas destes equipamentos so ainda comuns. Por esse motivo, o tema do
diagnstico de avarias tem despertado particular interesse nos ltimos anos [143], em
especial, em conversores electrnicos de potncia [38, 39, 43-45, 90, 95, 121-123, 140,
144-158].
Os condensadores electrolticos so um dos componentes mais utilizados em
aplicaes de electrnica de potncia revelando-se, no entanto, um dos elementos mais
crticos dessas aplicaes [38, 43, 45, 90, 95, 122, 140, 150, 157, 159, 160]. Desta
forma, torna-se imperativo o desenvolvimento de tcnicas de diagnstico que permitam
detectar atempadamente avarias nestes equipamentos, impedindo paragens indevidas,
que podem colocar em perigo vidas humanas, aumentar substancialmente os custos de
manuteno, ou mesmo, danificar irremediavelmente o equipamento onde estes esto
inseridos.
No captulo anterior foram apresentadas diferentes solues que permitem
avaliar o estado dos condensadores recorrendo-se, para o efeito, a tcnicas off-line. As
mais-valias destas tcnicas residem na sua simplicidade, baixo custo e exactido. No
entanto, a sua implementao exige que o equipamento onde o condensador est a
operar seja desligado, o que para certas aplicaes se revela impraticvel. Nestes casos,

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

essencial o desenvolvimento de tcnicas de diagnstico on-line que permitam em


qualquer momento avaliar o estado do condensador. Desta forma, garante-se que o
equipamento no interrompa o seu servio, excepto por motivos de manuteno, sendo
possvel programar o perodo de paragem que menos inconvenientes possa causar.

4.1 Retrospectiva
O tema do diagnstico de avarias em condensadores electrolticos tem sido
objecto de muitos trabalhos de investigao, particularmente, em circuitos de
electrnica de potncia, tais como, fontes de alimentao comutadas, UPS ou no
barramento DC de variadores electrnicos de velocidade. A grande maioria destes
trabalhos baseiam-se na estimao dos parmetros elctricos do condensador (ESR e C),
sendo menos comum a utilizao do volume do electrlito para avaliar o seu estado.
Estes trabalhos baseiam-se exclusivamente em tcnicas de diagnstico on-line.
Em [121] apresentada uma tcnica de diagnstico de avarias em condensadores
electrolticos utilizados no filtro de sada de conversores DC-DC comutados do tipo
flyback. Este mtodo baseia-se no facto de a corrente do condensador ser
aproximadamente uma onda quadrada. Os autores partiram do pressuposto que a
constante de tempo de cada circuito equivalente, correspondente a cada um dos estados,
muito superior ao perodo de comutao do conversor. Desta forma, obtiveram uma
relao analtica entre as formas de onda da corrente e tenso no condensador que
permite estimar o valor de ESR do condensador, para o conversor a operar em regime
permanente. Este mtodo foi validado atravs de resultados experimentais, tendo sido
realizados testes de envelhecimento acelerados nos condensadores estudados
(condensadores com capacidade, tenso e temperatura nominais de 470 F, 25 V e 105
C, respectivamente). Os condensadores foram sujeitos a condies de temperatura e
tenso nominais durante diversas horas, podendo o resultado destes testes ser observado
na Fig. 80, onde , w e t, representam, respectivamente, a variao da capacidade em
percentagem, a perda do electrlito (em miligramas) e o tempo de envelhecimento (em
horas).
Os resultados dos testes de envelhecimento (Fig. 80) mostram que a capacidade
diminui com a reduo do electrlito do condensador e com o nmero de horas do teste,
o que pode ser explicado pela reduo da superfcie de contacto entre o dielctrico e o

pg _______________________________________________________________ 136

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

ctodo (electrlito). J ESR aumenta significativamente com o nmero de horas do teste


devido reduo do electrlito que, por sua vez, conduz a uma reduo da
condutividade. Os valores de C e ESR foram medidos frequncia de 120 Hz e de 50
kHz, respectivamente.

Fig. 80. Evoluo de C/C com a perda de electrlito (a); tempo de envelhecimento (b); evoluo da
ESR com a perda de electrlito (c) e tempo de envelhecimento (d) [121].

Um dos pressupostos para a implementao do mtodo proposto em [121] o


facto de no se considerar o efeito da ESL. Desta forma, o ripple da tenso de sada do
condensador expresso pela equao:
vO = ESR iC +vC

(4.1)

Na Fig. 81 possvel observar as curvas tericas do ripple da corrente no


condensador (iC), da tenso de sada (vO) e da componente da tenso de sada devida
exclusivamente capacidade (vC) para um conversor flyback. As referidas curvas
foram desenhadas considerando o regime permanente. Alm disso, considerou-se que as
constantes tempo, dos circuitos correspondentes a cada um dos estados, so bastante
superiores ao perodo de comutao.
Desta forma, considerando que o valor de ESR muito inferior resistncia de
carga, possvel determinar o valor pico-a-pico de vC, recorrendo s curvas tericas
apresentadas na Fig. 81.

pg _______________________________________________________________ 137

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

dvC
iC = C
dt

I
VC I O

=
VC = O D1 T
iC I O
D1 T C
C
dv
VC
C

=
D1 T
dt

(4.2)

representando C, D1, T, IO e VC a capacidade, o duty cycle, o perodo, o valor mdio da


corrente de sada e o valor pico-a-pico de vC, respectivamente.

Fig. 81. Formas de onda tericas de iC, vC e vO de um conversor flyback, a operar em


regime permanente [121].

Recorrendo novamente Fig. 81, e considerando o estado de conduo,


possvel escrever:
VC VC

vC 2 D T t
V
V
V

1
vO = ESR C C + C C t

2
D1 T
D1 T
i C dvC = VC C
C
dt
D1 T

(4.3)

Utilizando a equao anterior e as formas de onda da Fig. 81, possvel chegar


expresso analtica que permite determinar o valor de ESR do condensador:

V
DT
VOX = vO 1 = ESR iC ESR IO ESR OX
IO
2

(4.4)

Por outro lado, atravs da Fig. 81 e (4.2)-(4.4) possvel calcular o valor mdio
das componentes negativas de iC e vO:

pg _______________________________________________________________ 138

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

iC

1
=
T

negativa

D1T

1
vO negativa =
T
vO

negativa

1
iC dt =
T

D1T

D1T

C VC
dt =
D1 T

D1 T
IO
C
= D1 I O
T

V t 2 ESR C VC VC
vO dt = C +
+

D1 T
2
D1 T 2

(4.5)
D1 T

t
0

= ESR D1 I O

(4.6)

Logo, usando (4.5) e (4.6), possvel escrever:


ESR

vO
iC

negativa

(4.7)

negativa

Mais tarde, a tcnica proposta em [121] foi aplicada com xito em conversores
do tipo boost e buck-boost a operar em CCM [161].
Uma nova tcnica apresentada em [45], para conversores do tipo forward.
Neste caso, o valor de ESR obtido atravs da relao entre o valor pico-a-pico do
ripple da tenso de sada (vO) e o valor pico-a-pico da corrente no condensador (iC);
ESR

vO
iC

(4.8)

A Fig. 82 mostra as curvas tericas da corrente na bobina e no condensador,


assim como do ripple da tenso de sada de um conversor do tipo forward.

Fig. 82. Equaes tericas de iL, iC e vO de um conversor forward, considerando o regime permanente
[45].

A tcnica proposta em [45] foi mais tarde implementada em conversores do tipo


buck a operar em CCM [162] e a operar em modo descontnuo (DCM) [163]. J em

pg _______________________________________________________________ 139

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

[164] e [165] foi aplicada a tcnica proposta em [121], para conversores do tipo boost e
buck-boost a operar em DCM, respectivamente.
Apesar de as tcnicas referidas revelarem elevada exactido, os efeitos
provocados pelas variaes da carga e o efeito da temperatura no so considerados. Em
[43] apresentada uma soluo na qual o efeito provocado pelas variaes da carga
tido em considerao. Os autores utilizaram um conversor ressonante do tipo forward
idntico ao representado na Fig. 2, e demonstram que os condensadores electrolticos
utilizados no filtro de sada so responsveis por mais de 70 % do total das falhas do
conversor. O conversor utilizado composto por trs condensadores electrolticos no
filtro de sada. Para simular a avaria nos condensadores, os autores propem duas
solues: a utilizao de uma resistncia no indutiva, em srie com o condensador, e a
utilizao de condensadores envelhecidos. De forma a avaliar o estado dos
condensadores, prope-se uma relao entre a componente fundamental do ripple da
tenso de sada do conversor e a resistncia equivalente dos trs condensadores. No
entanto, a referida tcnica no permite identificar qual o condensador que se encontra
em pior estado, permitindo apenas avaliar o estado do conjunto dos trs condensadores.
No entanto, para alm dos efeitos provocados pelas variaes da carga que
podem condicionar a fiabilidade do mtodo de diagnstico, o valor de ESR , tambm,
dependente de outros factores, nomeadamente da temperatura. A temperatura do
condensador varia com o valor eficaz da corrente que o atravessa, assim como com a
temperatura ambiente.
Em [122] foi proposto um novo mtodo de diagnstico que permite no s
estimar o valor de ESR de condensadores electrolticos de alumnio utilizados em fontes
de alimentao comutadas, como tambm possibilita estimar o tempo de funcionamento
dos condensadores at falha.
Neste estudo, foram utilizados os conversores representados nas Figs. 2 e 4. A
implementao do referido mtodo requer a aquisio da temperatura ambiente, da
tenso de entrada e do ripple da tenso de sada, assim como da corrente de sada dos
conversores.
Para evitar os erros provocados pelas variaes da carga, o ripple da tenso de
sada filtrado frequncia da fonte de alimentao (vOf) atravs de filtros passa-banda cuja frequncia central igual frequncia de comutao da fonte de
alimentao, sendo em seguida rectificado. Finalmente, obtida a mdia do sinal
rectificado, de forma a ser processado num computador.
pg _______________________________________________________________ 140

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

No entanto, tanto vOf, como a temperatura superfcie do condensador


(TempC), dependem no s de ESR, mas tambm do valor da tenso de entrada (Vin), da
corrente de sada (IO) e da temperatura ambiente (TempA), pelo que todos estes
parmetros carecem de ser medidos (vOf, IO, Vin, TempA). Em seguida, os dados
recolhidos so convertidos numa tenso DC de forma a serem processados pelo
computador.
De forma a avaliar o estado do condensador, os autores desenvolveram um
programa de computador que permite processar todos estes parmetros de forma a
determinar o tempo de vida do condensador. Para o efeito, desenvolvido um sistema
de referncia para ambos os conversores, considerando-se condensadores novos, Fig.
83. Para tal, os conversores so sujeitos a diferentes condies de operao (IO, Vin,
TempA), a partir das quais possvel construir as matrizes tridimensionais (IO, Vin e
TempA) relativas aos parmetros (vOf, TempC), como se pode observar na Fig. 83, as
quais so armazenadas no sistema de referncia.

Fig. 83. Matrizes tridimensionais: (a) vOf =f(IO, Vin, TempA) e (b) TC=f(IO, Vin, TempA), obtidas para o
sistema de referncia [122].

Aps a construo dos sistemas de referncia, possvel implementar o referido


mtodo. Durante o funcionamento dos conversores, o software determina os parmetros
(vOf,, IO, Vin, TempA). Em seguida, constroem-se as funes vOf = f(TempA) e TempC=
f(TempA) para um condensador novo, recorrendo ao sistema de referncia. Por outro
lado, como a funo ESR=f(TempC) para um condensador novo previamente
conhecida, possvel deduzir a funo vOf=f(ESR) para um condensador novo, a qual
depende apenas de IO e Vin.
Assim, aps comparar o valor actual de vOf com o valor correspondente para
um condensador novo, possvel estimar o valor actual de ESR.
Para determinar o tempo de vida dos condensadores (tr) para um determinado
instante de tempo, os autores recorrem s curvas experimentais obtidas a partir dos
pg _______________________________________________________________ 141

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

testes de envelhecimento realizados em condensadores semelhantes aos utilizados nos


prottipos experimentais.
Os resultados dos testes de envelhecimento foram modelizados recorrendo
expresso:

4700

1
1
=
1 k t e Temp + 273

ESR ( t ) ESR ( 0 )

(4.9)

onde ESR(t), Temp, t, ESR(0) e k representam o valor de ESR no instante de tempo t, a


temperatura actual em C, o tempo actual, o valor de ESR no instante de tempo t0=0 e
uma constante que depende da concepo e construo do condensador,
respectivamente.
O valor k foi obtido atravs de algoritmos de fitting.
Assim, recorrendo equao (4.9), e conhecendo os valores de ESR(0), Temp e
o valor actual de ESR possvel determinar o tempo de funcionamento correspondente.
Deste modo, o tempo de vida do condensador estimado atravs diferena entre o
tempo de funcionamento actual do conversor e o tempo de funcionamento de um
condensador envelhecido.
A tcnica proposta em [122] possui uma elevada exactido, no entanto, requer
um conjunto bastante significativo de medies antes mesmo de ser implementada,
assim como um elevado nmero de sensores, o que torna a logstica necessria para a
sua implementao bastante complexa e onerosa [140]. Alm disso, um dos
pressupostos para a sua implementao baseia-se no facto de o mecanismo de
envelhecimento dos diferentes condensadores pertencentes ao filtro de sada dos
conversores ser semelhante.
Mais tarde, em [123], a mesma metodologia utilizada em [122] aplicada no
diagnstico de avariais de condensadores electrolticos utilizados no filtro de entrada e
sada de dois conversores DC-DC comutados industriais: uma fonte de alimentao
comutada assimtrica do tipo forward em meia ponte (40 W) e uma fonte de
alimentao comutada simtrica do tipo forward em meia ponte (384 W).
Apesar da elevada exactido dos mtodos propostos em [122, 123], a tcnica
proposta possui algumas desvantagens, nomeadamente, os elevados custos logsticos, a
dependncia em relao topologia do conversor utilizado, para alm de no permitir
detectar a falha num condensador se o filtro de sada do conversor for composto por
vrios condensadores em paralelo [140]. Desta forma, em [140] foi proposto um
pg _______________________________________________________________ 142

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

mdulo electrnico que pode ser integrado no condensador, o qual permite indicar o
instante em que este dever ser substitudo. A tcnica proposta baseia-se no facto de
ESR ser o melhor indicador do estado do condensador. Assim, os autores recorrem ao
ripple da tenso e corrente no condensador para deduzir o valor de ESR. De seguida,
este comparado com o valor de ESR de um condensador novo, de forma a avaliar o
estado do condensador. Para evitar erros provocados pela variao da carga, ambas as
componentes fundamentais da corrente e tenso no condensador so filtradas
frequncia de comutao do conversor. Desta forma, possvel obter o valor de ESR
atravs da equao (4.10):

ESR

vcf

(4.10)

icf

onde vcf e icf representam as componentes fundamentais do ripple da tenso e


corrente no condensador, obtidos aps filtragem e recorrendo a um conversor RMS/DC
(Fig. 84).
Como ESR depende da temperatura, o seu efeito tambm considerado, e
modelizado atravs da equao (3.95).
A Fig. 84 representa o esquema da tcnica proposta em [140].

Fig. 84. Sntese da tcnica proposta em [140].

Os interruptores S1, S2 e S3 permitem seleccionar qual o valor limite de ESR em


relao ao seu valor inicial. Assim, sempre que for atingido esse limite, o LED acende
indicando a necessidade de substituio do condensador.

pg _______________________________________________________________ 143

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

No entanto, para que a referida tcnica possa atingir um elevado grau de


preciso necessrio recorrer a um filtro analgico de elevada ordem, que garanta uma
banda de passagem suficiente larga que evita a dependncia em relao ao duty cycle, e
por outro lado, que permita cortar as baixas frequncias, eliminando, desta forma, a
contribuio do efeito capacitivo do condensador [166].
Em [149] apresentado um novo mtodo que permite a implementao de
rotinas de manuteno condicionada. Para tal, utilizada a transformada discreta de
Fourier (DFT) para determinar o valor da impedncia do condensador e assim estimar o
seu tempo de vida. Para o efeito, o valor da impedncia do condensador estimado
recorrendo razo entre a componente fundamental do ripple da tenso e corrente no
condensador.
Para implementar a tcnica proposta, os autores desenvolveram um prottipo
experimental constitudo por um conversor boost a operar em malha aberta, sujeito a
uma carga constante e a operar frequncia a 10 kHz. O condensador pertencente ao
filtro de sada do conversor (com capacidade de 100 F, tenso nominal de 10 V e
temperatura nominal de 85 C ) foi sujeito a testes acelerados de envelhecimento, sendo
colocado num forno temperatura de 115 C. A cada 15 minutos, a tenso e a corrente
no condensador eram medidos e registadas as diferenas. Recorrendo DFT, foi
possvel aos autores verificar que as formas de onda da corrente e do ripple da tenso no
condensador apresentavam componentes dominantes a frequncias mltiplas da
frequncia de comutao do conversor. Para alm disso, foi tambm possvel observar
que essas componentes variavam com o envelhecimento do condensador, o que
permitiu concluir que os parmetros elctricos do condensador eram modificados. Desta
forma, as componentes fundamentais da corrente (icf) e do ripple da tenso (vcf) no
condensador foram monitorizadas a cada 15 minutos. Dos grficos obtidos foi possvel
observar que aps as primeiras 100 horas do incio dos testes de envelhecimento vcf
sofre um aumento significativo que no foi acompanhado pelo aumento de icf. Esta
situao deve-se ao aumento do valor de ESR. No entanto, 300 horas aps o incio dos
testes de envelhecimento verifica-se um aumento significativo de icf e uma diminuio
significativa de vcf. Este facto deve-se diminuio da capacidade do condensador que
afecta predominantemente a corrente no condensador. A Fig. 85 mostra a evoluo da
impedncia do condensador ao longo do tempo.

pg _______________________________________________________________ 144

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 85. Variao da impedncia do condensador com o tempo, calculada atravs de icf e vcf [149].

Para eliminar o efeito do rudo, assim como os erros de interpretao provocados


pela reduo da capacidade, os autores propuseram a utilizao da mdia dos valores de
icf e vcf at ao instante actual (Fig. 86).

Fig. 86. Variao da mdia da impedncia do condensador com o tempo, calculada atravs do grfico da
figura anterior [149].

Esta ltima grandeza permite indicar o ponto limiar indicador de fim de vida do
condensador.
A tcnica proposta requer a utilizao de conversores CAD de elevada resoluo
que permitam a aquisio em tempo real da corrente e tenso, o que torna a soluo
proposta dispendiosa [166]. Para alm disso, o efeito da temperatura no considerado.
Em [150, 151] os autores propem uma nova tcnica que permite estimar o
estado do condensador utilizado no filtro de sada de conversores do tipo boost. Para tal,
utilizam um filtro adaptativo, que aps a obteno da sua funo transferncia, e
utilizando apenas a corrente de entrada do conversor, torna possvel desenhar o ripple
da tenso de sada do conversor [150, 151]. A tcnica proposta utiliza a componente

pg _______________________________________________________________ 145

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

fundamental do ripple da tenso de sada estimado, para avaliar o estado do


condensador.
O conversor utilizado nestas experincias foi um conversor boost, a operar a 5
kHz e com um D1 de 0.6. O condensador utilizado foi submetido a acelerados testes de
envelhecimento, tendo sido colocado num forno a uma temperatura de 115 C. A cada
15 minutos a corrente de entrada (iin) era adquirida. Desta forma, utilizando iin
conjuntamente com o filtro adaptativo, possvel determinar o ripple da tenso de
sada. Em seguida, recorrendo DFT possvel determinar a componente fundamental
do ripple da tenso de sada (vof), utilizando-se, posteriormente a mesma metodologia
proposta em [149].
No entanto, a tcnica proposta requer um conjunto de medies a priori que
permitam obter a funo transferncia do filtro adaptativo, sendo a imagem do ripple da
tenso de sada dependente da quantidade de medidas efectuadas. Por outro lado, nem o
efeito da temperatura, nem o efeito de variaes da carga, so considerados.
Em [98] apresentado um novo mtodo de diagnstico de avarias que permite
avaliar o estado dos condensadores electrolticos utilizados no barramento DC de
variadores electrnicos de velocidade, assim como, em UPS. A tcnica proposta baseia-se no facto das perdas de potncia no condensador, durante o regime permanente,
serem devidas ESR. Desta forma, so necessrias apenas duas medidas: o valor mdio
da potncia de perdas no condensador:
T

P=

1
vC ( t ) iC ( t ) dt
T 0

(4.11)

onde T representa o perodo e vC(t) e iC(t) os valores instantneos da tenso e corrente


no condensador; e o valor eficaz da corrente no condensador, definido por:
T

ICrms

2
1
=
i ( t ) ) dt
(

T0

(4.12)

O valor de ESR pode ser calculado recorrendo equao:

ESR =

P
I C rms 2

(4.13)

Para avaliar a preciso da tcnica proposta, os autores desenvolveram um


circuito composto por uma fonte de alimentao e uma carga electrnica. A carga
pg _______________________________________________________________ 146

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

electrnica foi programada para que a corrente no condensador tivesse uma forte
componente AC.
Nestas experincias, foram usados condensadores com diferentes valores de
capacidade. Aps a obteno dos resultados experimentais, estes foram comparados
com os valores de ESR obtidos atravs de um medidor de LCR (philips PM 6034),
tendo-se verificado um erro mximo de 11 %. Em seguida, a tcnica proposta foi
implementada num prottipo experimental, um variador electrnico de velocidade
trifsico de 6 kVA, o qual foi sujeito a diferentes cargas e frequncias de operao,
tendo-se verificado uma ligeira variao dos valores de ESR para diferentes cargas. Os
autores consideraram tambm o efeito da temperatura.
No entanto, apesar dos bons resultados, a tcnica est limitada pelo facto de
apenas poder ser implementada durante o regime permanente.
Em [124, 167] os autores propem uma tcnica de estimao de parmetros em
elementos passivos pertencentes a diversos equipamentos de electrnica de potncia,
tais como, conversores DC/DC (do tipo buck, boost, buck-boost, Ck, flyback e
forward), rectificadores trifsicos e inversores trifsicos. Para o efeito, aplicam o
algoritmo recursive least mean square (RLMS) conjuntamente com o modelo hbrido
dos diferentes equipamentos.
Os equipamentos de electrnica de potncia so sistemas hbridos dinmicos,
pois o seu funcionamento pode ser descrito por um conjunto de estado discretos
associados a uma dinmica contnua. Estes sistemas podem ser definidos como uma
rede de componentes elctricos pertencentes a trs grupos: fontes de corrente e tenso
ideais, elementos lineares (condensadores, transformadores e bobinas) e elementos no
lineares (dodos e transstores) [124]. O comportamento dos elementos no lineares
modelizado por dois estados discretos: conduo e no conduo. Desta forma, o
modelo hbrido pode ser descrito pela equao [167]:
m

x = A x ( t ) + B s ( t ) + C + si ( t ) H i x ( t )

(4.14)

i =1

onde si(t), m, x, representam o vector dos interruptores, nmero de interruptores e o


vector do estados, respectivamente.
A equao anterior pode ser formalizada para o caso discreto:

pg _______________________________________________________________ 147

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________
m

x ( t ) = A x ( t 1) + B s ( t 1) + C + si ( t 1) Hi x ( t 1) ,

(4.15)

i =1

com: A = I + A PA; B = B PA; Hi = H i PA

sendo I e PA a matriz identidade e o perodo de amostragem, respectivamente.


O mtodo proposto foi implementado experimentalmente num conversor do tipo
buck.
Para implementar experimentalmente o mtodo proposto era essencial que as
variveis de estado fossem grandezas mesurveis: vO e iL. Assim, o modelo hbrido do
conversor foi construdo tendo em conta as duas ltimas grandezas.
A equao discreta que modeliza o modelo hbrido do conversor buck
apresentada de seguida:
Vin PA

0
1

1
i
t

iL ( t )

(
)
L
L

PA

=
+ s1 ( t 1) ESR V R PA

in
vO ( t ) 0 1 C ( R + ESR ) vO ( t 1)
L ( R + ESR )

PA

iL ( t 1)
L

+ ( s1 ( t 1) + s2 ( t 1) )
R PA
R ESR PA v ( t 1)

C ( R + ESR ) L ( R + ESR )

(4.16)

onde Vin, L, C, ESR e R representam a tenso de entrada do conversor, o valor da


indutncia, da capacidade, da resistncia srie equivalente e da carga, respectivamente.
Os valores de L, C, ESR e R so calculados atravs da matriz de regresso e do
algoritmo RLMS.
Aps a definio do modelo hbrido que modeliza o funcionamento do
conversor, foi construdo o modelo de regresso, ao qual foi aplicado o algoritmo
RLMS, a fim de extrair os parmetros L, C, R e ESR.
A Fig. 87 mostra o aparato experimental utilizado. Para o efeito, foi usada uma
placa de aquisio de dados PCI9810 com uma frequncia de amostragem de 20 MHz.
No entanto, a tcnica anterior requer um conjunto bastante significativo de
sensores, uma frequncia de amostragem muito elevada e um esforo computacional
extremamente elevado. Alm disso, o efeito da temperatura, assim como o efeito
variaes da carga no so considerados.

pg _______________________________________________________________ 148

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 87. Prottipo experimental [124, 167].

Seguidamente sero apresentadas algumas tcnicas de diagnstico on-line que


permitem avaliar o estado de condensadores electrolticos utilizados no barramento DC
de variadores electrnicos de velocidade.
Em [153] apresenta-se um mtodo que utiliza a variao do volume do
electrlito para avaliar o estado de condensadores electrolticos usados no barramento
DC de variadores electrnicos de velocidade. Para o efeito, relaciona-se o valor do
volume do electrlito com a ESR atravs da equao:
ESR Vol 0
=
ESR0 Vol

(4.17)

onde ESR, ESR0, Vol0 e Vol representam o valor actual e o valor inicial da resistncia
interna do condensador, o volume inicial e o volume actual do electrlito,
respectivamente.
O mtodo proposto presume que a variao do volume do electrlito com o
tempo,

, directamente proporcional presso do vapor (Pres) no interior do

condensador:
dV ol
= k P res
dt

(4.18)

onde k uma constante que caracteriza a qualidade do mecanismo de escape do


condensador.

pg _______________________________________________________________ 149

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

A presso do vapor produzido no interior do condensador, durante o seu


envelhecimento depende da temperatura do elemento (Temp) e das caractersticas
qumicas do electrlito (A e B):

Pres = e

A
+B

Temp

(4.19)

As constantes A e B so obtidas atravs de manuais que caracterizam os


componentes qumicos do electrlito. J a temperatura do elemento resulta da soma da
temperatura ambiente (TempA) com o calor produzido pelas perdas por efeito de Joule
(T).
Temp = TempA + T

(4.20)

O calor gerado pelas perdas por efeito de Joule (T) depende da resistncia
elctrica e trmica do condensador, sendo esta ltima dependente da geometria da
aplicao e das dimenses do condensador [153]. Portanto, T pode ser definida por:
T =

ESR A iC 2
kT S

(4.21)

onde ESRA, iC, kT e S representam a resistncia serie equivalente do condensador sua


temperatura de funcionamento, o ripple de corrente no condensador, a constante que
reproduz a transferncia de calor por unidade de superfcie e a superfcie exterior do
condensador, respectivamente.
Os valores de kT e S so calculados atravs das equaes:
kT =

G
r
1 + 110 rex ln ex
rel

S = 2 ( rex lC + rex 2 )

(4.22)

(4.23)

onde rel, rex e lC representam o raio do elemento, o raio exterior do condensador, e a


altura do condensador. A constante G pode ser determinada experimentalmente [153].
Por outro lado, como a temperatura de operao do condensador varia
constantemente, este fenmeno modelizado atravs da equao:
Temp
ESRA
= D +Y e F
ESR

(4.24)

pg _______________________________________________________________ 150

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

onde D, Y e F so obtidos atravs de algoritmos de fitting e ESR representa a resistncia


serie equivalente para uma temperatura de operao de 20 C.
A Fig. 88 apresenta um diagrama de fluxo que sintetiza as principais iteraes
para a implementao do mtodo proposto [153]:

Fig. 88. Fluxograma descritivo do mtodo proposto em [153].

Para calcular numericamente o valor do volume actual, Voli, em funo do


volume no instante anterior, Voli-1, a equao (4.18) foi integrada numericamente:
Voli = Voli1 k Pres t

(4.25)

onde t representa o perodo de tempo entre duas iteraes consecutivas.


No entanto, a tcnica proposta requer o conhecimento a priori de um conjunto
de informaes sobre o condensador que muitas vezes no so fornecidas pelos
fabricantes e que se revelam difceis de ser obtidas.
Em [166] foi apresentado uma nova metodologia que permite estimar o valor de
ESR de condensadores electrolticos usados no barramento DC de variadores
electrnicos de velocidade. O conceito utilizado baseia-se no facto da potncia mdia
real do condensador ser devida a ESR. Assim, os autores propem o clculo de ESR
atravs da medida da potncia real no intervalo de frequncias onde a impedncia do
condensador dominada pelo valor de ESR. Para o efeito, utilizam um microcontrolador simples e barato.
Assim, aps a medio das formas de onda do ripple da tenso (uc,AC) e da
corrente (ic,AC) no condensador, possvel determinar atravs de simples operaes de
multiplicao os valores da potncia instantnea (pC) e (iC)2.
De seguida, recorrendo a simples filtros passa-a-baixo possvel calcular os
valores mdios de pC e (iC)2. Desta forma ESR estimada atravs da equao:

pg _______________________________________________________________ 151

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

ESR =

pC,F

(i )

(4.26)

C, F

onde pC,F e (iC,F)2 representam os valores de pC, e (iC)2 aps a filtragem (valores
mdios).
A Fig. 89 sintetiza o processo de clculo proposto em [166].

Fig. 89. Processo de clculo de ESR proposto em [166].

Como o valor de ESR varia significativamente com a temperatura, a expresso


(4.24) utilizada. No entanto, os autores no referem como a integram no processo de
clculo, bem assim como se determinam os valores D, Y e F.
Apesar da simplicidade e baixo custo do prottipo proposto, necessrio realizar
um conjunto de medies a priori, que permitam estimar os valores D, Y e F, visto que,
a grande maioria dos fabricantes no fornece essa informao. Alm disso, o efeito de
cargas variveis no considerado.

4.2 Prottipos experimentais


Com vista validao dos mtodos de diagnstico on-line propostos (seco
4.3.3) foi desenvolvido um prottipo experimental, amplamente empregue em diversas
aplicaes comerciais: o conversor buck.
O conversor buck pode ser encontrado em diversas fontes de alimentao
comutadas e no controlo de motores DC, entre outras aplicaes de electrnica [168].
Alm disso, este conversor possui um filtro de sada idntico ao filtro da grande maioria
dos conversores isolados.
Para alm dos factores referidos, a simplicidade e baixo custo que acarreta a
concepo do conversor buck foi outro factor preponderante na sua escolha.

pg _______________________________________________________________ 152

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Foi igualmente utilizado neste estudo uma fonte de alimentao comutada


comercial (ATX power supply), a qual frequentemente utilizada na alimentao de
PCs. Neste caso, a topologia utilizada do tipo forward. Este prottipo ser apresentado
com mais detalhes na seco (4.4).

4.3 Conversor buck


O desenvolvimento experimental referente concepo e validao dos mtodos
de diagnstico on-line propostos (seco 4.3.3) compreendeu cinco fases:

Dimensionamento do conversor buck.

Seleco dos componentes pertencentes seco de potncia do conversor.

Desenvolvimento do circuito de controlo.

Construo do prottipo.

Aquisio e tratamento dos resultados experimentais.

Durante

dimensionamento

do

conversor

definiram-se

as

seguintes

especificaes (Tabela 71).


TABELA 71 ESPECIFICAES DO PROTTIPO USADO.

Potncia
mxima

Duty cycle

Tenso de
entrada

Frequncia de
operao

Ripple mximo
sada

100 W

[0.2 - 0.8]

12 V

20 kHz

10 %

4.3.1 Dimensionamento do conversor


Antes de iniciar o dimensionamento do conversor importa tecer algumas
consideraes tericas. Assim, utilizando os sistemas de equaes definido em (3.38)
possvel calcular o valor mdio da tenso de sada (VO) e o ripple da corrente na bobina
(iL), para um conversor buck a operar em CCM, atravs das equaes:
VO = D1 Vin

VO
iL = L (1 D1 ) T

(4.27)

onde D1, Vin, L e T representam o duty cycle, a tenso de entrada, a indutncia da


bobina e o perodo de comutao do conversor.

pg _______________________________________________________________ 153

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Por outro lado, como os condensadores utilizados no filtro de sada dos


conversores so electrolticos de alumnio, devido sua elevada capacidade e factor de
dissipao, a sua impedncia frequncia de operao do conversor essencialmente
devida a ESR. Logo, possvel definir o ripple da tenso de sada do conversor buck
(vO) como:
vO =

ESR R
ESR R D1 Vin (1 D1 ) T
iL =

R + ESR
R + ESR
L

(4.28)

onde R e ESR representam a resistncia de carga e a resistncia serie equivalente do


condensador, respectivamente.
Deste modo, como a potncia mxima do conversor 100 W, a carga mxima do
conversor pode ser calculada atravs da equao:

Pmax =100 Vmax Imax =100 Imax =

100
100
=
=10.4 AR >1
Vin D1max 9.6

(4.29)

A informao anterior permite seleccionar os semicondutores da seco de


potncia do conversor. Assim, optou-se por um MOSFET IFRP 054 e um dodo
schottky MBR3045PT. O MOSFET possui uma corrente mxima de conduo de 70 A, e
a tenso drain-source mxima de 60 V. O dodo permite uma corrente mxima de
conduo de 30 A, a tenso inversa mxima de 45 V, e a barreira schottky bastante
pequena (Vd 0.8 V), para as condies de operao estipuladas. Em qualquer dos
casos, os semicondutores esto sobredimensionados, o que permite a utilizao de
dissipadores de pequena dimenso.
Aps seleccionar os semicondutores escolheram-se os elementos passivos. Deste
modo, optou-se por um condensador 4700 F, 25 V da srie RGA, tipo CE04, da Lelon,
caracterizado na Tabela 4 (CA). A tenso nominal do condensador bastante superior
tenso mxima do conversor, isto porque o valor de ESR diminui com a tenso nominal
e com a capacidade do condensador. Desta forma, a potncia mxima de perdas
admissvel maior, permitindo a utilizao de uma bobina de menor dimenso. O
condensador seleccionado possui um valor de ESR inferior a 27 m (valor medido com
o analisador de impedncias HP 4294, para uma frequncia de 20 kHz e uma
temperatura ambiente de 20 C), e a potncia mxima de perdas, definida pelo
fabricante de 179 mW. Atravs desta informao possvel calcular o valor eficaz
mximo da corrente para o condensador seleccionado:

pg _______________________________________________________________ 154

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

max ( iCef ) =

Pmax
0.179
=
2.57A
0.027
ESR

(4.30)

Como:
max ( iLef )

( max ( i )) ( ESR + R)
Cef

(4.31)

ento, o valor eficaz do ripple da corrente na bobina deve ser inferior a 2.64 A.
No entanto, a forma de onda da corrente na bobina triangular, sendo assim
necessrio calcular a relao entre o valor pico-a-pico da corrente na bobina, iL, e o
seu valor eficaz, iLef.
iLef =

iL
iL = 2 3 iLef
2 3

(4.32)

O anexo VI mostra como foi possvel chegar equao anterior.


Atravs da expresso anterior possvel concluir que o valor de iL mximo
dever ser 9.14 A.
A escolha da bobina dever ento satisfazer duas condies:

iL < 9.14 A.

vO < 10%.

Desta forma,
Vin D1 (1 D1 ) T 12 0.5 0.5 50 106
=
16.5 H
L >
9.1
iL

6
L > ESR R VO (1 D1 ) T = 0.1 ( 0.8) 50 10 = 10.5 H

1.1 0.1
( R + ESR) VO 0.1

Optou-se, ento, pela utilizao de uma bobina de 22 H, srie 1400 da C&D


Technologies, cuja corrente mxima DC de 11 A.
Pretendeu-se igualmente testar as tcnicas de diagnstico propostas para
conversores a operar em DCM. Para o efeito necessrio garantir que:
R>

2 L
44 10 6
=
= 4.4
(1 D1 ) T 0.2 50 10 6

Optou-se, ento, por substituir a resistncia de 1 por uma resistncia de 10 ,


para o conversor operar em DCM.

pg _______________________________________________________________ 155

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Relativamente ao circuito de controlo, este idntico ao utilizado para o


prottipo da Fig. 65, visto que o controlo utilizado em malha aberta.
Os resultados experimentais foram adquiridos atravs de um osciloscpio digital
Tektronix TDS 1012 com ligao a um computador, no qual se encontra instalado o
MATLAB.

4.3.2 Simulao computacional


Os estudos de simulao computacional apresentados nesta seco revelam-se
essenciais para testar as tcnicas de diagnstico on-line propostas, antes mesmo de
serem implementadas. Para tal utilizaram-se trs metodologias: a primeira recorre
transformada de Laplace para representar o comportamento do conversor em regime
permanente e transitrio [169], a segunda permite igualmente simular o funcionamento
do conversor em regime permanente e transitrio, utilizando-se, para o efeito, o modelo
hbrido do conversor Buck [170] e, finalmente, a terceira metodologia recorre anlise
terica do funcionamento do conversor. O ponto de partida a forma de onda terica da
corrente da bobina [171].

4.3.2.1 Simulao computacional baseada na transformada de Laplace


A primeira metodologia proposta recorre transformada de Laplace para obter a
soluo do sistema de equaes que modeliza cada um dos estados do conversor. Em
seguida, aps determinar as equaes no domnio temporal que representam cada uma
das grandezas que carecem de ser medidas (corrente de entrada, na bobina, no dodo, no
condensador e na sada, assim como, a tenso no condensador), consideraram-se as
constantes iniciais respectivas a cada estado, para representar a evoluo das mesmas
grandezas com o tempo [169].
O conversor buck pode operar em modo de conduo contnua (CCM) ou em
modo de conduo descontnua (DCM). No primeiro caso, a corrente na bobina em
regime permanente nunca se anula, o que no acontece quando conversor opera em
DCM, existindo, neste caso, um perodo de tempo durante um perodo de comutao no
qual a corrente na bobina nula.
No entanto, comum a corrente na bobina se anular durante o regime transitrio,
particularmente durante o arranque do conversor. Por este motivo, nas simulaes ser

pg _______________________________________________________________ 156

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

considerado este modo de conduo, quer o conversor opere em CCM ou DCM durante
o regime permanente.
Como foi descrito anteriormente, o primeiro passo para a implementao desta
metodologia consiste na obteno das equaes matemticas que modelizam os
diferentes estados do conversor. A Fig. 90 representa os circuitos equivalentes dos
diferentes estgios do conversor buck.

Fig. 90. Circuito equivalente do conversor buck: (a) estado de conduo, (b) estado de no conduo e
(c) estado descontnuo.

Assim, recorrendo s leis de Kirchhoff, possvel definir as seguintes equaes


para os trs estados.
Para o estado de conduo:

diL

Vin = ( RL + RDS ) i L + L dt + vO

i L = i C + i O
v = ESR i + v
C
C
O

(4.33)

Recorrendo transforma de Laplace, possvel escrever:


dv ( 0)
Vin
= vC ( s ) ( K11 s 2 + K21 s + K31 ) vC ( 0) ( K11 s + K21 ) C
K11,
s
dt

ESR + R
K11 = L C R

L
ESR + R
K21 = ( RL + RDS )
C + + ESR C
R
R

RL + RDS
K31 = 1 +
R

(4.34)

Recorrendo transformada inversa de Laplace e equao (4.34), possvel


representar as equaes que traduzem o funcionamento do circuito da Fig. 90 (a):

pg _______________________________________________________________ 157

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

vC ( t ) = K A1 + K D1 e a1t cos ( b1 t ) + K E1 e a1t sin ( b1 t )

a t
a t
iC ( t ) = K F 1 e 1 cos ( b1 t ) + KG1 e 1 sin ( b1 t )

vO ( t ) = ESR iC ( t ) + vC ( t )

vO ( t )

iL ( t ) = iC ( t ) + R
a1 =

(4.35)

K 212 + 4 K11 K31


K 21
; b1 =
2 K11
2 K11

K A1 =

Vin
K V
K V
; K B1 = 11 in ; K C1 = 21 in ;
K31
K31
K31

K
dv ( 0 ) KC1 a1 K B1
vC ( 0 ) 21 a1 + C
+

K11
dt
K11
K11
K B1

+ vC ( 0 ) ; K E1 =
;
K D1 =
K11
b1
K F 1 = C ( K D1 a1 + K E1 b1 ) ; KG1 = C ( K D1 b1 K E1 a1 ) ;

Para o estado de no conduo:


diL

Vd = ( RL + Rd ) i L + L dt + vO

i L = i C + i O
v = ESR i + v
C
C
O

(4.36)

Recorrendo transforma de Laplace, possvel escrever:

dv ( 0)
Vd
= vC ( s ) ( K12 s 2 + K22 s + K32 ) vC ( 0) ( K12 s + K22 ) C
K12 ,
s
dt

(4.37)

K12 = K11

ESR + R
K22 = ( RL + Rd )
C + + ESR C
R
R

RL + Rd
K32 = 1 +

Recorrendo transformada inversa de Laplace e equao (4.37), possvel


representar as equaes que traduzem o funcionamento do circuito da Fig. 90 (b):
vC ( t ) = K A 2 + K D 2 e a2 t cos ( b2 t ) + K E 2 e a2 t sin ( b2 t )

a t
a t
iC ( t ) = K F 2 e 2 cos ( b2 t ) + K G 2 e 2 sin ( b2 t )

vO ( t ) = ESR iC ( t ) + vC ( t )

vO ( t )

iL ( t ) = iC ( t ) + R

(4.38)

pg _______________________________________________________________ 158

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

a2 =

K 22 2 + 4 K12 K 32
K 22
; b2 =
2 K12
2 K12

K A2 =

KD2 =

Vd
K V
K V
; K B 2 = 12 d ; K C 2 = 22 d ;
K 32
K32
K32

KB2
+ vC ( 0 ) ; K E 2
K12

dvC ( 0 )
K K a K
a2 vC ( 0 ) + vC ( 0 ) 22 B 2 2 + C 2
dt
K12
K12
K12
=
;
b2

K F 2 = C ( K D 2 a2 + K E 2 b2 ) ; K G 2 = C ( K D 2 b2 K E 2 a2 ) ;

Para o estado descontnuo:

vO = vC + ESR iC

0 = i C + i O

(4.39)

Recorrendo transforma de Laplace possvel escrever:


vC ( s ) ( K13 s +1) vC ( 0) K13 = 0

(4.40)

K13 = ( ESR + R) C

Recorrendo transformada inversa de Laplace e equao (4.40), possvel


representar as equaes que traduzem o funcionamento do circuito da Fig. 90 (c):
t

K13
vC ( t ) = vC ( 0 ) e

t
vC ( 0 ) K13

i
t
C
e
(
)
C
K13

vO ( t ) = ESR iC ( t ) + vC ( t )

iL ( t ) = 0

onde

0 e

(4.41)

representam a tenso no condensador e o valor da derivada da

tenso no condensador, ambas no instante de tempo (t=0).


Para reduzir o grau da equao diferencial que caracteriza o estado de conduo
e no conduo, desprezou-se o efeito da ESL. Desta forma, as solues encontradas so
bastante mais simples. O efeito da ESL deve-se essencialmente aos terminais do
condensador e presilhas [88]. Desta forma, se as pontas de prova do osciloscpio forem
colocadas junto cobertura, o efeito da ESL pode ser desprezado.
Aps obter as equaes que representam no domnio temporal o comportamento
de cada um dos estados, necessrio encontrar uma relao que traduza a transio
entre estados (condies iniciais). Assim, para transitar do estado de conduo para o

pg _______________________________________________________________ 159

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

estado de no conduo e vice-versa, possvel determinar as condies iniciais atravs


das equaes:
vC1 ( 0 ) = vC 2 ( t f )

dv ( 0 ) ic 2 ( t f )
C1
=
C
dt

(4.42)

onde:
0 e
e

: representam as condies iniciais do estado actual;


: os valores da tenso e corrente no condensador no instante

imediatamente anterior transio de estado.


A Fig. 91, sintetiza sob a forma de um algoritmo, como foi implementado em
cdigo, num ficheiro *.m em MATLAB, a simulao computacional baseada na
transformada de Laplace.

Fig. 91. Algoritmo que traduz a implementao do programa de simulao computacional de


conversores DC-DC comutados baseada na transformada de Laplace.

pg _______________________________________________________________ 160

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Na seco seguinte apresenta-se a segunda metodologia baseada no modelo


hbrido do conversor.

4.3.2.2 Simulao computacional baseada no modelo hbrido do


conversor.
O conversor buck um sistema hbrido dinmico, que pode ser descrito por um
conjunto de estados discretos com dinmica contnua [167], e o seu comportamento
pode ser modelizado atravs da equao (4.14). Deste modo, possvel escrever:
x = A1 x s1 + A2 x s2 + A3 x ( s1 + s2 ) + A4 x + A5 s1 + A6 s2

(4.43)

diL
0
0

RDS

Rd

dt
0
0

iL

x =
; A2 =
; A4 =
1
; x = ; A1 =
L
L

v
dvC
C
0
0
0
0
C ( R + ESR )

dt
ESR R
R
RL

Vin
Vd
L L ( R + ESR ) L ( R + ESR )

; A5 = L ; A6 = L
A3 =

R
0
0
0

C ( R + ESR )

onde s1 e s2 so vectores que modelizam os semicondutores (MOSFET e dodo


respectivamente), sendo compostos por 0 e 1 consoante o estado de conduo.
Assim, para o caso discreto possvel escrever:
iL ( i ) = iL ( i 1) + K1 iL ( i 1) s1 ( i 1) + K 2 iL ( i 1) s2 ( i 1) + ...

...K 3 iL ( i 1) ( s1 ( i 1) + s2 ( i 1) ) + K 4 vC ( i 1) ( s1 ( i 1) + s2 ( i 1) ) + ...
...K 5 s1 ( i 1) + K 6 s2 ( i 1)

(4.44)

vC ( i ) = vC ( i 1) + K 7 iL ( i 1) ( s1 ( i 1) + s2 ( i 1) ) + K8 vC ( i 1)
R
RDS PA
R PA
ESR R
; K2 = d
; K 3 = L
PA;
L
L
L L ( R + ESR )
V PA
V PA
R PA
K4 =
; K 5 = in
; K6 = d
;
L ( R + ESR )
L
L
K1 =

K7 =

R PA
PA
; K8 =
C ( R + ESR )
C ( R + ESR )

onde PA representa o perodo de amostragem.


Os vectores s1(i-1) e s2(i-1) modelizam interruptores ideais. Sempre que s1(i-1)
for 1, o que acontece durante o estado de conduo, s2(i-1) ser zero, e vice-versa.

pg _______________________________________________________________ 161

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

estado

descontnuo

surge

se

duas

condies

forem

satisfeitas

simultaneamente: o valor de s2(i) igual a 1 e a corrente na bobina nula. Este estado


dever ser modelizado parte pois no se conhece, partida, o perodo de tempo que
dura:

iL ( i ) = 0

vC ( i ) = vC ( i 1) + K8 vC ( i 1)

(4.45)

A corrente no condensador (iC(i)) e a tenso de sada (vO(i)) podem ser


calculadas atravs das equaes:
vC ( i ) vC ( i 1)

iC ( i ) = C
PA

v ( i ) = v ( i ) + ESR i ( i )
C
C
O

(4.46)

Deste modo, recorrendo a uma plataforma de computao numrica como o


MATLAB, pode-se facilmente desenvolver um programa de simulao computacional
utilizando as expresses (4.44), (4.45) e (4.46).
A Fig. 92 sintetiza sob a forma de um algoritmo como foi possvel implementar
em cdigo, num ficheiro *.m em MATLAB, a simulao computacional baseada no
modelo hbrido.

Fig. 92. Algoritmo que traduz a implementao do programa de simulao computacional de


conversores DC-DC comutados baseada modelo hbrido.

pg _______________________________________________________________ 162

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Na seco seguinte apresenta-se a terceira metodologia baseada nas equaes


tericas do conversor.

4.3.2.3 Anlise terica


A implementao desta metodologia requer que o modo de conduo do
conversor seja, partida, conhecido. Deste modo, sero consideradas duas seces
distintas, onde sero apresentados os mtodos de simulao relativos a cada modo de
conduo.
4.3.2.3.1 Modo de conduo contnua
Como foi referido no incio da seco (4.3.2), este mtodo de simulao
computacional tem por base as curvas tericas da corrente na bobina. Deste modo,
considerando o conversor buck a operar em CCM e partindo do pressuposto que a
bobina se encontra a operar fora da regio de saturao, possvel desenhar as curvas
tericas da corrente da bobina (Fig. 93).

Fig. 93. Curva terica da corrente na bobina para um conversor buck a operar em CCM, durante o
regime permanente.

Utilizando as equaes (4.33) e (4.36), assim como a Fig. 93 possvel escrever:


diLON
V VO ( RDS + RL ) iL
iL
=
= in

D1 T
L
dt

VO Vd ( Rd + RL ) iL
iL
diLOFF =
=
dt
L
(1 D1 ) T

(4.47)

Assim, recorrendo s equaes anteriores possvel obter o valor mdio da


tenso de sada do conversor:

pg _______________________________________________________________ 163

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

VO =

Vin D1 Vd (1 D1 )
R D1 + RL + Rd (1 D1 )
1 + DS
R

(4.48)

Desta forma, possvel modelizar a corrente na bobina (iL(t)) para um conversor


buck a operar em CCM, durante o regime permanente, atravs da funo:
m1 t + b1 , t [ 0, D1 T ]
iL ( t ) =
,
m2 t + b2 , t [ D1 T , T ]
i (1 + D1 )
di
di
i
m1 = LON , m2 = LOFF , b1 = iL L , b2 = iL + L
2
2 (1 D1 )
dt
dt

(4.49)

onde iL, iL, m1, m2, T e D1 representam o valor mdio da corrente na bobina, o valor
pico-a-pico da corrente na bobina, o declive da corrente na bobina durante a conduo,
o declive da corrente na bobina durante a no conduo, o perodo de comutao e o
duty cycle, respectivamente.
Como o condensador possui uma corrente de fugas extremamente baixa
possvel afirmar que praticamente toda a componente DC da corrente da bobina ir para
a carga. No entanto, grande parte da componente AC ir para o condensador, visto que a
impedncia AC do condensador bem inferior da carga. O valor desta impedncia
maioritariamente devido ao valor de ESR, visto que frequncia de comutao do
conversor, o valor de ESR bem superior a reactncia do condensador, o qual se
encontra muito perto da sua frequncia de ressonncia. Deste modo, possvel afirmar
que o valor pico-a-pico da corrente na bobina (iL) e da corrente no condensador (iC)
esto relacionados pela expresso:
iC =

R
iL
R + ESR

(4.50)

Desta forma, possvel modelizar a corrente no condensador (iC(t)) para um


conversor buck a operar em CCM durante o regime permanente, atravs da funo:

k m1 t + k1, t [ 0, D1 T ]
R
iC ( t ) =
,k =
R + ESR
k m2 t + k2 , t [ D1 T , T ]

(4.51)

As constantes k1 e k2 podem ser obtidas atravs das relaes:

pg _______________________________________________________________ 164

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

k iL

1 T
k1 =

2
iC ( t ) dt = 0

T 0
k iL (1 + D1 )
k m D T + k = k m D T + k
) 1
) 2 k2 = + 2 (1 D )
1 ( 1
2 ( 1

(4.52)

Para representar a forma de onda da tenso aos terminais do condensador


(vcond(t)) ser utilizado o circuito equivalente da Fig. 12. Assim, recorrendo expresso
(3.79), pode-se concluir que vcond(t) possui trs componentes: a componente relativa
capacidade (vc(t)) e as componente dependentes de ESR e ESL.
A primeira pode ser obtida se for utilizada a equao (3.80):
k m1 t 2 k1 t
+
+ k3 , t [ 0, D1 T ]
T

1
C
2C
vC ( t ) = iC ( t ) dt + K =
2
C 0
k m2 t + k 2 t + k , t [ D T , T ]
4
1
C
2 C

(4.53)

As constantes k3 e k4 podem ser calculadas atravs das relaes:


1 T
vC ( t ) dt = VO
T 0

2
2
k m2 ( D1 T )
k m1 ( D1 T )
+ k1 ( D1 T ) + k3 =
+ k2 ( D1 T ) + k4

2
2

k3 = k 5 + (1 D1 ) k6 ; k4 = k 5 D1 k6 ;
k5 = VO +

k T 2
T
( m2 D13 m2 m1 D13 ) +
( k1 D12 k2 + k2 D12 )
6C
2C

(4.54)

k ( D1 T )
D T
( m2 m1 ) + 1
( k2 k1 )
2C
C
2

k6 =

Finalmente, possvel obter vcond(t):


vcond ( t ) = vC ( t ) + ESR iC ( t ) + ESL

diC

dt

k m1 2 k1

2 C t + C + ESR m1 k t + k7 , t [ 0, D1 T ]

vcond ( t ) =
k m2 t 2 + k2 + ESR m k t + k , t [ D T , T ]
2
8
1

2 C
C

(4.55)

k7 = K 3 + K1 ESR + ESL k m1 ; k8 = K 4 + K 2 ESR + ESL k m2

4.4.2.3.2 Modo de conduo descontnua


Caso o conversor opere em DCM este ficar sujeito a um terceiro estgio, o
estgio descontnuo, caracterizado pela corrente na bobina se anular. A Fig. 94
representa a forma de onda terica da corrente na bobina para um conversor buck a

pg _______________________________________________________________ 165

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

operar em DCM. Para o efeito, considerou-se que a bobina se encontra a operar fora da
regio de saturao.

Fig. 94. Curva terica da corrente na bobina para um conversor buck a operar em DCM, durante o regime
permanente.

onde D1, D2 e D3 representam o duty cycle, a razo entre o perodo de tempo relativo ao
estado de no conduo e o perodo de comutao e a razo entre o perodo de tempo
relativo ao estado descontnuo e o perodo de comutao.
Utilizando as equaes (4.33) e (4.36), assim como a Fig. 94 possvel escrever:
diLON
V VOon ( RDS + RL ) iL
iL
=
= in

D1 T
L
dt

VOoff Vd ( Rd + RL ) iL
iL
diLOFF
=

dt
D2 T
L

(4.56)

Assim, recorrendo s equaes anteriores, e considerando a aproximao:

VOon = VOoff VO
onde VOon e VOoff representam o valor mdio da tenso de sada durante o estado de
conduo e no conduo, possvel obter a valor mdio da tenso de sada do
conversor buck a operar em DCM:
VO =

Vin D1 Vd D2
R D + R ( D1 + D2 ) + Rd D2
( D1 + D2 ) + DS 1 L
R

(4.57)

O valor mdio da corrente na bobina pode ser calculado atravs da Fig. 94.

pg _______________________________________________________________ 166

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________
T
V
i
1
iL = iL ( t ) dt = L ( D1 + D2 ) O
T0
R
2

(4.58)

Utilizando (4.56)-(4.58) possvel calcular D2.

K B + K B 2 4 K A KC
D2
2 KA

(4.59)

K A = Vd K 2 R + K1 R RX
K B = K1 R D1 RX + K1 R RY Vin D1 K 2 R + Vd 2 + Vd K 2 D1 R
KC = K1 R D1 RY 2 Vin D1 Vin D12 R K 2
R + RDS
RY = D1 1 + L
R

RL + Rd
; RX = 1 +
R

Vin D1 T
R T

; K2 = Y
; K1 =
L
L

Desta forma, possvel modelizar a corrente na bobina (iL(t)) para um conversor


buck a operar em DCM, durante o regime permanente, atravs da funo:

m1 t , t [ 0, D1 T ]

iL ( t ) = m2 t + b2 , t D1 T , ( D1 + D2 ) T ,

0, t ( D1 + D2 ) T , T
m1 =

(4.60)

i ( D1 + D2 )
diLON
di
iL
iL
=
, m2 = LOFF =
, b2 = L
dt
D1 T
dt
D2 T
D2

O valor pico-a-pico da corrente na bobina (iL) relaciona-se com a corrente no


condensador (iC), atravs da equao (4.50).
Deste modo, possvel modelizar a corrente no condensador (iC(t)) para um
conversor buck a operar em DCM, durante o regime permanente, atravs da funo:

k m1 t + b3 , t [ 0, D1 T ]
R

iC ( t ) = k m2 t + b5 , t D1 T , ( D1 + D2 ) T , k =
R + ESR

V
O

, t ( D1 + D2 ) T , T
( R + ESR )

(4.61)

As constantes b3 e b5 podem ser calculadas atravs das relaes:

pg _______________________________________________________________ 167

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

K D1 K 4

b4 = 3

1
D1 + D2
iC ( t ) dt = 0

b5 = b4 + k b2
T 0
k m D T + b = k m D T + b
) 3
( 1 ) 5 b = K 3 + D2 K 4
1 ( 1
2

3
D1 + D2

(4.62)

2
k m1 D12 T k m2 ( 2 D1 D2 + D2 ) T VO D3
K 3 = k b2 D2

+
2
2
ESR + R
K 4 = D1 T k ( m2 m1 ) + k b2 ; D3 = 1 D1 D2

A componente de vcond(t) relativa capacidade (vc(t)) pode ser obtida se for


utilizada a equao (3.80):

k m1 t 2 b3 t
+
+ b6 , t [ 0, D1 T ]
(4.63)

C
2C
T
k m2 t 2 b5 t
1
vC ( t ) = iC ( t ) dt + K =
+
+ b7 , t D1 T , ( D1 + D2 ) T ,
C 0
C
2C

VO
t + b8 , t ( D1 + D2 ) T , T

C
ESR
R

+
(
)

b6 = K5 + ( D2 + D3 ) K 6 + D3 K 7 ; b7 = K5 D1 K 6 + D3 K 7 ;
b8 = K5 D1 K 6 ( D1 + D2 ) K 7 ;

3
2
b D12 T
k m1 D13 T 2 k m2 ( D1 + D2 ) D1 T

3
+ k5
K5 = VO
6C
6C
2C
VO T
b T
2
2
( D1 + D2 ) D12 +
1 ( D1 + D2 )
k5 = 5
2C
2 C ( ESR + R )

k D12 T 2
D T
( m2 m1 ) + 1
( b5 b3 )
K6 =
C
2C
k m2 ( D1 + D2 ) T 2 b5 ( D1 + D2 ) T VO ( D1 + D2 ) T

K7 =
C
2C
( ESR + R ) C
2

Finalmente, possvel obter vcond(t):


k m
b3

2
1

(4.64)
t + + ESR m1 k t + k8 , t [ 0, D1 T ]
C

2 C
k m
b5

2
2
vcond ( t ) =
t + + ESR m2 k t + k9 , t D1 T , ( D1 + D2 ) T

2
C
C

VO
ESR VO

t + b8
, t D1 T , ( D1 + D2 ) T
+
R
ESR
C ( R + ESR )

k8 = ESR b3 + ESL k m1 + b6 ; k9 = ESR b5 + ESL k m2 + b7

pg _______________________________________________________________ 168

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

4.3.2.4 Anlise das diferentes metodologias apresentadas


Para avaliar a aplicabilidade das diferentes tcnicas de simulao apresenta-se,
em seguida, a comparao entre os resultados de simulao computacional e os
resultados experimentais.
Para o efeito concebeu-se um prottipo experimental (conversor buck), cujas
caractersticas da seco de potncia podem ser observadas na Tabela 72.
TABELA 72 CARACTERSTICAS DA SECO DE POTNCIA DO CONVERSOR BUCK.

Modo de
conduo
CCM
DCM

Vin
(V)
12.0
12.5

L
(H)

RL
(m)

Vd
(V)

Rd
(m)

RS
(m)

C
(mF)

ESR
(m)

26

40

0.6

30

14

4.4

26.5

R
()
1.0
10.0

As caractersticas relativas aos componentes activos (semicondutores), foram


obtidas atravs dos dados fornecidos pelos fabricantes, enquanto que no caso dos
elementos passivos (o condensador, a bobina e a resistncia de carga) utilizou-se um
analisador de impedncias (HP 4294), a tcnica off-line 2 apresentada na seco (3.6) e
um multmetro digital Tektronix TX3, respectivamente.
As caractersticas da bobina (L e RL), obtidas atravs da tcnica off-line 2,
diferem um pouco dos dados fornecidos pelo fabricante, o que pode ser explicado pelo
facto desta se encontrar em srie com um cabo (40 cm de cumprimento), o qual
atravessa um sensor de corrente (LEM LA 55-P). Assim, para efectuar a medida de L e
RL, injectou-se uma corrente sinusoidal com uma frequncia de 20 kHz ao circuito
composto pela bobina e pelo cabo. Em seguida, efectuou-se a aquisio da corrente e
tenso do conjunto atravs de um osciloscpio digital. Finalmente, recorrendo ao
algoritmo da DFT, foi possvel calcular a componente activa (RL) e reactiva (XL) da
impedncia do conjunto. O valor de L foi calculado atravs da equao:
L=

XL
2 20000

O circuito de controlo, que define o valor de VO do conversor buck, produz um


sinal quadrado com um duty cycle de 50% e uma frequncia de 20 kHz.
A Fig. 95 mostra a comparao entre as formas de onda experimentais e
resultantes da simulao computacional, para a corrente na bobina (iL) e a tenso de
sada (vO) em regime permanente, para o conversor buck a operar em CCM.

pg _______________________________________________________________ 169

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 95. Formas de onda da corrente na bobina (a, b) e tenso de sada (c, d) do conversor caracterizado
na Tabela 72 (CCM): (b, d) resultados de simulao; (a, c) resultados experimentais.

A Fig. 96 mostra a comparao entre as formas de onda experimentais e


resultantes da simulao computacional, para a corrente na bobina (iL) e a tenso de
sada (vO) em regime permanente, para o conversor a operar em DCM.

Fig. 96. Formas de onda da corrente na bobina (a, b) e tenso de sada (c, d) do conversor caracterizado
na Tabela 72 (DCM): (b, d) resultados de simulao; (a, c) resultados experimentais.

As Figs. 95-96 mostram que os resultados de simulao so bastante prximos


dos resultados experimentais, o que permite concluir que qualquer uma das trs

pg _______________________________________________________________ 170

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

metodologias apresentadas pode ser usada para modelizar o comportamento do


conversor.
No entanto, apenas as metodologias baseadas no modelo hbrido e na
transformada de Laplace permitem simular o comportamento do conversor durante o
regime transitrio. No entanto, a metodologia baseada na anlise terica apresenta
menor custo computacional e permite simular o efeito da ESL.

4.3.3 Tcnicas de diagnstico on-line


A utilizao cada vez mais generalizada de equipamentos de electrnica de
potncia tem exigido maior fiabilidade.
O tema do diagnstico de avariais no est alheio a esta problemtica, pelo
contrrio, revela ser um dos pilares essenciais para garantir a fiabilidade deste
equipamento.
Nesta seco, apresentam-se diferentes solues no mbito das tcnicas on-line
de diagnstico de avariais em fontes de alimentao comutadas, em particular, nos
condensadores electrolticos de alumnio.
Os componentes electrnicos deterioram-se com o tempo de funcionamento. No
caso dos condensadores electrolticos de alumnio, o envelhecimento manifesta-se sob a
forma de alteraes dos parmetros elctricos do seu circuito equivalente. Assim, ESR
aumenta enquanto C diminui. Se o valor de ESR duplicar ou o valor de C diminuir 20%,
ento o condensador dever ser substitudo, visto que a probabilidade de desenvolver
uma avaria do tipo catastrfica aumenta significativamente.
Para alm dos condensadores, tambm as bobinas podem deteriorar-se, apesar da
sua taxa de avarias ser indiscutivelmente inferior dos condensadores. Este fenmeno
provocado por stress trmico, induzido por curtos-circuitos entre espiras adjacentes,
podendo este processo culminar num circuito aberto [172]. Pode-se, ento, concluir que
esta avaria se manifesta de forma paramtrica, visto que a indutncia diminui devido ao
curto-circuito entre espiras.
Deste modo, as solues propostas baseiam-se na identificao dos parmetros
elctricos de condensadores e bobinas utilizadas no filtro de sada de fontes de
alimentao comutadas, durante o seu funcionamento.
A primeira soluo proposta utiliza a transformada discreta de Fourier com a
finalidade de estimar os valores de ESR e L [173] do filtro de sada de fontes de

pg _______________________________________________________________ 171

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

alimentao comutadas. Como a frequncia de funcionamento do conversor prxima


da frequncia de ressonncia do condensador, ento, a impedncia do condensador,
frequncia de operao do conversor, pode ser calculada atravs da equao:
ESR

h1 ( vO ( t ) )

(4.65)

h1 ( iC ( t ) )

onde h1( vO(t)) e h1(iC(t)) representam o mdulo do primeiro harmnico do ripple da


tenso e corrente no condensador.
Por outro lado, como a impedncia da bobina, frequncia de operao do
conversor, essencialmente devida sua indutncia, ento, L pode ser calculado atravs
da equao:
2

L=

h1 ( vL ( t ) )

w h1 ( iL ( t ) )

NPP
NPP

v
i
cos
w
t
i
(
)
(
)
(
)

+ vL ( i ) sin ( w t ( i ) )
i =1
i =1

NPP
NPP

w iL ( i ) cos ( w t ( i ) ) + iL ( i ) sin ( w t ( i ) )
i =1
i =1

(4.66)

onde h1(vL(t)) e h1(iL(t)) representam o mdulo do primeiro harmnico da tenso e


corrente na bobina, durante um perodo de comutao.
Para evitar a utilizao simultnea de dois sensores de corrente, possvel
relacionar h1(iC(t))e h1(iL(t)), considerando o divisor de corrente composto pelo paralelo
do ramo do condensador e da carga, R.

ESR 1
h1 ( iL ( t ) ) = 1 +
h ( iC ( t ) )
R

(4.67)

Desta forma, possvel calcular o valor de ESR utilizando o primeiro harmnico


da corrente na bobina:
R

ESR =

NPP
NPP

iL ( i ) cos ( w t ( i ) ) + iL ( i ) sin ( w t ( i ) )
i =1
i =1

(4.68)

NPP
NPP

vO ( i ) cos ( w t ( i ) ) + vO ( i ) sin ( w t ( i ) )
i =1
i =1

O valor de R pode ser calculado atravs dos valores mdios da corrente da


bobina ( iL) e da tenso de sada ( vO) ao longo de um perodo de comutao.

pg _______________________________________________________________ 172

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________
NPP

v
R= O =
iL

v (i )
i =1
NPP

(4.69)

i (i )
i =1

Esta tcnica de diagnstico ser designada doravante por tcnica de diagnstico


on-line 1 e pode ser aplicada em conversores buck a operar em CCM ou DCM.
A segunda soluo proposta recorre ao algoritmo LMS e permite determinar os
valores de L, ESR e R.
Assim, o clculo de L baseia-se na equao:
vL ( t ) = L

onde vL(t) e

diL
(t )
dt

(4.70)

representam a tenso aos terminais da bobina e a derivada da corrente

na bobina.
No entanto, como as formas de onda experimentais possuem algum rudo, que
significativamente amplificado pela operao de diferenciao, optou-se pela utilizao
da operao oposta, a integrao (4.71):

v ( t ) dt = L i ( t ) + K
L

onde iL(t) e

(4.71)

representam a corrente na bobina e a forma de onda do integral

da tenso, obtida recorrendo regra trapezoidal, aos terminais da bobina.


Deste modo, pode-se mitigar significativamente o rudo de alta frequncia.
Recorrendo ao algoritmo LMS, s formas de onda de iL(t) e

, assim como,

equao (4.71) possvel determinar L:


NPP t ( i )
NPP t ( i )
NPP

NPP vL ( t ) dt iL ( i ) iL ( i ) vL ( t ) dt
0
i =1
0

i =1
i =1

L=
2
NPP
NPP
2

NPP ( iL ( i ) ) iL ( i )
i =1
i =1

(4.72)

Como foi mencionado no incio desta seco, a principal componente


responsvel pela impedncia do condensador frequncia de operao do conversor a
ESR, logo possvel relacionar as formas de onda da corrente no condensador (iC(t)) e
do ripple da tenso de sada (vO(t)) atravs da equao:

pg _______________________________________________________________ 173

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

vO ( t ) ESR iC ( t )

(4.73)

Para evitar a utilizao de dois sensores de corrente no interior da fonte de


alimentao comutada, utilizou-se a relao:
iC ( t ) =

R
iL ( t )
R + ESR

(4.74)

onde iL(t) representa o ripple da corrente na bobina.


Deste modo, possvel relacionar iL(t) e vO(t):
vO ( t ) =

ESR R
iL ( t )
R + ESR

(4.75)

Recorrendo ao algoritmo LMS, s formas de onda de iL(t) e vO(t) possvel


determinar ESR:

ESR =

NPP

R NPP

( i ( i ) )
L

i =1

( v ( i ) i ( i ) )
i =1

(4.76)

O valor de R pode ser obtido atravs da equao (4.69). Esta tcnica de


diagnstico ser designada doravante por tcnica de diagnstico on-line 2 e pode ser
aplicada em conversores buck a operar em CCM ou DCM.
A terceira soluo proposta utiliza simultaneamente o modelo hbrido do
conversor buck e o algoritmo LMS. Esta soluo consideravelmente mais simples e
computacionalmente mais leve do que a soluo proposta em [167].
A matriz de regresso, (t), utilizada em [167] possui uma dimenso
considervel:
0
vO ( t 1)
0
s1 ( t 1)
0
17 0 19 0
i ( t 1)

0
0
iL ( t 1)
vO ( t 1)
s1 ( t 1) 0 2 8 0 210
0

(t ) = L

17 = 2 8 = ( s1 ( t 1) + s2 ( t 1) ) iL ( t 1) ;

19 = 210 = ( s1 ( t 1) + s2 ( t 1) ) vO ( t 1) ;

(4.77)

onde iL(t-1), vO(t-1), s1(t-1) e s2(t-1) representam o valor da corrente na bobina, da


tenso de sada, o vector de conduo do transstor e o vector de conduo do dodo, no
instante t-1, respectivamente.

pg _______________________________________________________________ 174

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Os parmetros L, C, ESR e R so calculados atravs da soluo da equao:


1

= TN . N . TN . YN
(1)
y (1)

(4.78)

iL ( t )

N = # , YN = # , y =
,
vO ( t )

( N )
y ( N )

V PA
PA
R PA
= 1 0 0 4 in
6 0
10
L
( ESR + R ) C L

PA
ESR R PA
4 = 1
; 6 = Vin 10 ;10 =
;
( ESR + R ) C
( ESR + R ) L

onde iL(t), vO(t) representam o valor da corrente na bobina e da tenso de sada no


instante t, respectivamente; N o nmero de pontos adquiridos e PA o perodo de
amostragem.
A soluo da equao (4.78) exige a manipulao de matrizes com dimenses
considerveis (2N por 10), exigindo um esforo computacional elevado, o qual
significativamente aumentado pelo facto da exactido da tcnica exigir uma frequncia
de amostragem muito elevada.
Deste modo, foi proposta uma simplificao da matriz de regresso [174]. Como
se pode observar atravs de (4.77) e (4.78) existem diversos termos nulos e alm disso,
existe uma relao de proporcionalidade entre alguns termos, sendo deste modo
possvel simplificar (t) e .

13

vO ( t 1) ( s1 ( t 1) + s2 ( t 1) ) iL ( t 1) 0 24
13 = 2 4 = ( s1 ( t 1) + s2 ( t 1) ) vO ( t 1) Vin s1 ( t 1) ;

(t ) =

PA
= 1
( ESR + R ) C

simplificao

R PA
( ESR + R ) C

anterior

PA
L

permite

ESR R PA

( ESR + R ) L

reduzir

(4.79)
T

consideravelmente

custo

computacional, por forma a obter [174].


No entanto, a matriz (t) possui ainda alguns termos nulos. Por esse motivo,
apresenta-se uma outra soluo baseada no algoritmo LMS.
Recorrendo ao sistema de equaes que modeliza o sistema hbrido do conversor
buck possvel escrever as equaes:

pg _______________________________________________________________ 175

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

y1 = K1 x1 + K2 x2

(4.80)

y2 = K3 x1 + K4 x3 + K5 x2 + K6 x4

(4.81)

i ( t ) iL ( t 1)
v ( t ) vO ( t 1)
y1 = L
, y2 = O
, x1 = s1 ( t 1) , x2 = vO ( t 1) ( s1 ( t 1) + s2 ( t 1) )
PA
PA

x3 = iL ( t 1) ( s1 ( t 1) + s2 ( t 1) ) , x4 = vO ( t 1) , K1 =
K4 =

Vin
V ESR R
1
, K 2 = , K3 = in
,
L
L
L ( R + ESR )

R ESR
1
R
, K5 =
, K6 =
C ( R + ESR )
L ( R + ESR )
C ( R + ESR )

As constantes K1, K2, K3, K4, K5 e K6, podem ser determinadas atravs do
algoritmo LMS e das formas de onda vO(t-1), iL(t-1), s1(t-1) e s2(t-1):
NPP 2
x1
i =1
NPP
( x1 x2 )
i =1

NPP

NPP 2
x1
i =1
NPP
( x1 x3 )
i =1
NPP
( x1 x2 )
i =1
NPP
( x1 x4 )
i =1

NPP

NPP

y1 x1 )
(

K
1 = i =1

K 2 NPP

( y1 x2 )

i =1

( x1 x2 )
i =1

NPP

i =1

NPP

(4.82)

NPP

( y2 x1 )
i =1

i =1

NPP
K 3 NPP

( x3 x4 ) K ( y2 x3 )

i =1
4 = i =1
(4.83)
NPP
NPP

( x4 x2 ) 5 ( y2 x2 )

i =1
K 6 i =1

NPP
NPP

x4 2

( y2 x4 )
i =1

i =1

NPP

( x1 x3 ) ( x1 x2 ) ( x1 x4 )
i =1

i =1

NPP

NPP

(x

i =1

NPP
i =1

NPP

i =1

NPP

i =1

(x x ) (x
i =1

x2 )

NPP

(x x )
3

i =1

x4 )

onde NPP representa o numero de pontos adquiridos num perodo de comutao do


conversor.
Finalmente, possvel calcular ESR, C, L e R:
1

L = K
2

C
K4

ESR K 5 L

K3 L

R
, Vin = K1 L

Vin ESR

(4.84)
(4.85)
(4.86)
(4.87)

No entanto, caso o conversor opere em CCM, as equaes (4.80) e (4.81) podem


ser simplificadas:

pg _______________________________________________________________ 176

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

y1 = K1 x1 + K2 x2

(4.88)

y2 = K3 x1 + K4 x3 + K5 x2

(4.89)

i ( t ) iL ( t 1)
v ( t ) vO ( t 1)
y1 = L
, y2 = O
, x1 = s1 ( t 1) , x2 = vO ( t 1)
PA
PA

x3 = iL ( t 1) , K1 =
K4 =

Vin
V ESR R
1
, K2 = , K3 = in
,
L
L
L ( R + ESR )

R ESR
R
1

, K5 =
C ( R + ESR )
L ( R + ESR ) C ( R + ESR )

Neste caso K3, K4 e K5, podem ser calculadas atravs do sistema:


NPP 2
x1
i =1
NPP
( x1 x3 )
i =1
NPP
( x1 x2 )
i =1

NPP

NPP

( y2 x1 )
i =1
K 3 i =1

NPP
NPP

( x3 x2 ) K 4 = ( y2 x3 )

i =1
K i =1

NPP
5 NPP

2
x2

( y2 x2 )
i =1

i =1

NPP

( x1 x3 ) ( x1 x2 )
i =1

NPP

x
i =1

NPP

(x
i =1

x2 )

L = K
2

C K

ESR K3 L

Vin

L
R

K5 C L + ESR C

(4.90)

(4.91)
(4.92)
(4.93)
(4.94)

Esta tcnica de diagnstico ser designada doravante por tcnica de diagnstico


on-line 3 e pode ser aplicada em conversores buck a operar em CCM ou DCM.
A quarta soluo proposta baseia-se nas equaes que traduzem o
funcionamento do conversor durante o estado de no conduo [175]:

K1 = 1
di

L
v
di
L

L
O

dt

dt = vO K1

R
(4.95)
, K2 =
vo = ESR iC + vC
dv

+
C
R
ESR
(
)

O = K i + K v
v
L
O
2
3
iL = iC + O

dt
1
ESR R
R

K3 =
C ( R + ESR ) L ( R + ESR )

pg _______________________________________________________________ 177

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Aps adquirir as formas de onda da corrente na bobina e tenso de sada durante


o estado de no conduo possvel, recorrendo ao algoritmo LMS, determinar L, C e
ESR:
NPT2

x2 2

L = NPT i =1
,
(4.96)
2

( y1 x2 )

i =1

2
NPT2
NPT2

NPT2

2
2
x

( 1 2 )
1
2

i =1
i =1
i =1

(4.97)
C = NPT2
NPT2
NPT2
NPT2
2

x
( 2 1) 2 ( 1 2 ) ( 2 2 )

i =1
i =1
i =1
i =1

NPT2
NPT2
NPT2
NPT2

x12 ( y2 x2 ) ( y2 x1 ) ( x1 x2 )

L + K3 C R L
i =1
i =1
i =1
, K3 = i =1
ESR =
2
NPT2
NPT2
NPT2
C
R

2
2
x1 x2 ( x1 x2 )

(4.98)

i =1
i =1
i =1

i ( t ) iL ( t 1)
v ( t ) vO ( t 1)
, y2 = O
, x1 = iL ( t ) , x2 = vO ( t )
y1 = L
PA
PA

onde PA e NPT2 representam o perodo de amostragem e o nmeros de pontos


adquiridos durante o estado de no conduo, e R a resistncia de carga que pode ser
obtida atravs da equao (4.69).
Esta tcnica de diagnstico ser designada doravante por tcnica de diagnstico
on-line 4 e pode ser aplicada em conversores buck a operar em CCM ou DCM.
A quinta soluo proposta recorre igualmente s formas de onda da corrente na
bobina e tenso de sada durante o estado de no conduo e ser designada por tcnica
de diagnstico on-line 5. Esta nova metodologia baseia-se no modelo terico
introduzido na seco (4.3.2.3). Deste modo, considerando que o conversor opera em
CCM, e recorrendo s equaes (4.49) e (4.55), possvel modelizar a corrente na
bobina e a tenso de sada durante o estado de no conduo atravs do sistema de
equaes:
iL

K A = (1 D ) T
1

iL (1 + D1 )
m2 = K A
KB =
iL ( t ) = K A t + ( iL + K B )

(1 D1 ) 2
,
,

R
2
k m2
vcond ( t ) = K C t + K D t + K E
k = R + ESR
KC = 2 C

K = k K B + ESR m
2

D
C

(4.99)

pg _______________________________________________________________ 178

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Utilizando o algoritmo LMS possvel determinar as constantes KA, KB, KC, KD e


KE.
NPT2
2
(t (i ))
i =1
NPT2
t (i )
i =1

NPT2

NPT2

t
i
iL ( i ) t ( i ) )
(
)
(

i =1
i =1
A

=
NPT2
iL + K B

NPT2
iL ( i )

i =1

NPT2
4
(t (i ))
i =1
NPT2
3
(t (i ))
i =1
NPT2
2
(t (i ))
i =1

NPT2

i =1

NPT2

(t (i ))

i =1

NPT2

(t (i ))
i =1

NPT2
2

vO ( i ) ( t ( i ) )
i =1
K i =1
NPT2
C NPT2
t
i
(
)
( ) K D = ( vO ( i ) t ( i ) )

i =1
K i =1
NPT2
E
NPT2
vO ( i )

i =1

NPT2

(t (i )) (t (i ))

(4.100)

(4.101)

O valor de L pode ser obtido atravs da equao:

L=

1
NPT2

NPT2

v (i )
i =1

(4.102)

KA

Finalmente, recorrendo ao mtodo de Newton Raphson possvel determinar os


valores de ESR e C:
u ( i ) = K C R 2 C ( i ) + K C ESR ( i ) 2 C ( i ) R K A

dudC ( i ) = KC R 2 + KC ESR ( i ) 2
dudESR i = K 2 C i
() C
()

v ( i ) = K D R C ( i ) + K D ESR ( i ) C ( i ) R K B ESR ( i ) K A C ( i ) R
dvdC i = K R + K ESR i ESR i K R
() D
()
() A
D

dvdESR ( i ) = K D C ( i ) K A C ( i ) R

ESR ( i + 1) = ESR ( i )
C ( i + 1) = C ( i ) +

u ( i ) dvdC ( i ) v ( i ) dudC ( i )

dudESR ( i ) dvdC ( i ) dudC ( i ) dvdESR ( i )

u ( i ) dvdESR ( i ) v ( i ) dudESR ( i )

dudESR ( i ) dvdC ( i ) dudC ( i ) dvdESR ( i )

(4.103)
(4.104)

onde i e i+1 representam a iterao anterior e actual, respectivamente. A estimativa


inicial pode ser obtida atravs da informao fornecida pelos fabricantes.
No caso do conversor operar em DCM, a expresso v(i) dever ser substituda:

v ( i ) = KD RC ( i ) + KD ESR( i ) C ( i ) R KB ESR( i ) KA C ( i ) R + iL R
(4.105)
Desta forma, possvel reduzir o custo computacional da soluo, em particular,
quando se compara a metodologia anterior com a metodologia 3.
pg _______________________________________________________________ 179

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

As metodologias apresentadas requerem a utilizao de, pelo menos, trs


sensores no interior do conversor: um sensor de temperatura no condensador, um sensor
de corrente na bobina e um sensor de tenso na bobina ou dodo. Assim, para
simplificar a implementao experimental das tcnicas de diagnstico on-line, propem-se, em seguida, duas solues que requerem apenas a utilizao do sensor de
temperatura no interior do conversor.
Deste modo, a sexta soluo proposta utiliza as formas de onda da corrente e
tenso de entrada, assim como, a tenso de sada durante o estado de conduo. Aps a
aquisio dos sinais anteriores, recorre-se ao algoritmo LMS para estimar os valores de
L, ESR e R.
As equaes (4.106) e (4.107) permitem modelizar o funcionamento do
conversor buck durante o estado de conduo:
diL Vin vO
=

dt
L
, t [ 0, D1 T ]

dvO = K diL ( t ) + K i t
L( )
1
2
dt
dt
R ESR
R
K1 =
; K2 =
R + ESR
( R + ESR ) C

(4.106)
(4.107)

onde vO e iL(t) representam o valor mdio da tenso de sada e o ripple da corrente


na bobina.
No entanto, como a corrente de entrada do conversor igual corrente na
bobina durante o estado de conduo possvel escrever:
diin ( t ) Vin vO
=

dt
L
, t [ 0, D1 T ]

dvO = K diin ( t ) + K i t
in ( )
1
2
dt
dt

(4.108)
(4.109)

iin ( t ) = ( iin ( t ) I inON )

onde IinON representa o valor mdio da corrente de entrada para o estado de conduo.
Em seguida, recorrendo ao algoritmo LMS, possvel determinar L, ESR e R:

pg _______________________________________________________________ 180

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

NPT1
NT1
NT1
NT1

V
i
v
i
t
i
t (i )
(
)
(
)
(
)

NT
in
O
1

2
i =1
i =1
i =1

t ( i ) i =1
L =
(4.110)
NT1
NT1
NT1
N
i =1

N ( iin ( i ) t ( i ) ) t ( i ) iin ( i )

i =1
i =1
i =1

NT1

vO ( i )

i =1
(4.111)
R = NT1

iin ( i )

i =1

NT1
NT1
diin ( i ) NT1 dvO ( i )
dvO ( i ) diin ( i ) NT1

i
i
i
i
iin ( i )
(
)
(
)
(
)

in
in

dt
dt i =1
dt i =1 dt
i =1
i =1

ESR =
2
2
NT1
NT1
NT1


diin ( i )
diin ( i )
2

( iin ( i ) ) iin ( i )

(4.112)
dt i =1
dt
i =1
i =1

O sinal de controlo que permite identificar o estado de conduo pode ser


facilmente obtido recorrendo corrente de entrada. Assim, aps aplicar interpolao
linear corrente de entrada, calcula-se o declive do sinal para todos os pontos de
amostragem. Sempre que o declive for positivo, ento, o MOSFET encontra-se em
conduo. Para evitar erros provocados pelo rudo do sinal de entrada, deve-se, em
seguida, verificar se o sinal de controlo est correcto. Assim, sempre que se verifique
um impulso unitrio com dimenso temporal inferior ao impulso unitrio relativo ao
duty cycle mnimo, ento o mesmo dever ser eliminado, sendo substitudo por zeros.
Este algoritmo pode ser implementado facilmente num programa de computador e
permite identificar o estado de conduo. No entanto, caso o conversor opere em DCM,
necessrio adquirir a forma de onda da tenso na bobina, para identificar o estado
descontnuo. Por este motivo, utiliza-se esta metodologia apenas para conversores a
operar em CCM. Esta metodologia ser designada por tcnica de diagnstico on-line 6.
A stima metodologia proposta utiliza a corrente e a tenso de entrada, assim
como a tenso de sada durante um perodo de comutao [176]. A implementao desta
nova metodologia baseia-se na reconstruo da corrente e tenso na bobina. Em
seguida, utiliza-se a tcnica de diagnstico on-line 1 para determinar L, ESR e R. O
estado de conduo identificado recorrendo ao algoritmo exposto no pargrafo
anterior.
Deste modo, pode-se definir a tenso na bobina (vL(t)) para um perodo de
comutao, atravs do sistema de equaes:

pg _______________________________________________________________ 181

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Vin vO , t [ 0, D1 T [
vL ( t ) =
vO , t [ D1 T , T [

(4.113)

Por outro lado, a corrente na bobina (iL(t)) pode ser representada pelo sistema de
equaes:
m1 t + b1 , t [ 0, D1 T [
iL ( t ) =
m2 t + b2 , t [ D1 T , T [

(4.114)

Os valores de m1 e b1 podem ser calculados atravs da corrente de entrada (iin(t))


recorrendo ao algoritmo LMS:
NPT1
NPT1
NPT1

NPT
i
i
t
i
i
i
t (i )

(
)
(
)
(
)
(
)

1
in
in

=
=
=
i
1
i
1
i
1
m1 =
2
NPT1

NPT1

2
NPT1 ( t ( i ) ) ( t ( i ) )

i =1

i =1

NPT1
NPT1
NPT1
NPT1
2

( t ( i ) ) iin ( i ) ( iin ( i ) t ( i ) ) t ( i )

i =1
i =1
i =1
i =1
=
b
1
2
NPT1
NPT1

NPT1 ( t ( i ) ) ( t ( i ) )

i =1
i =1

(4.115)

(4.116)

Por outro lado, recorrendo anlise terica do conversor, possvel relacionar


m2 e b2 com m1 e b1, atravs das equaes:

2 O b1

m =
R

2
(1 D ) T

b = D T ( m m ) + b
1
2
1
2

(4.117)
(4.118)

Aps reconstruir as formas de onda vL(t) e iL(t), possvel determinar L, ESR e R


atravs das equaes (4.66), (4.68) e (4.69), respectivamente.

4.3.4 Resultados experimentais e de simulao


A fim de avaliar a aplicabilidade das tcnicas de diagnstico on-line propostas,
apresentam-se nesta seco diversos resultados de simulao e experimentais.
Deste modo, consideraram-se os conversores caracterizados na Tabela 72, assim
como trs condensadores de 4700 F, 25 V (CA, CA1 e CA2), utilizados na seco (3.9), e
caracterizados na Tabela 73.

pg _______________________________________________________________ 182

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

TABELA 73 CIRCUITO EQUIVALENTE DOS CONDENSADORES UTILIZADOS (20 KHZ, 20 C).

CA

CA1

CA2

ESR ()

C (F)

ESR ()

C (F)

ESR ()

C (F)

0.0265

4427

0.0294

4252

0.0701

3713

Os valores de ESR e C foram obtidos atravs de medies efectuadas com um


analisador de impedncia HP 4294. O valor de C foi calculado recorrendo ao algoritmo
LMS e reactncia do condensador medida para o intervalo de frequncias de 100 Hz a
100 kHz.
De seguida, apresentam-se alguns resultados de simulao computacional. Para
o efeito, recorreu-se tcnica de simulao exposta na seco (4.3.2.1), tendo-se
simulado o funcionamento do conversor a operar em CCM e DCM, para filtro de sada
composto pelo condensador CA, CA1 e CA2 alternadamente.
A Fig. 97 mostra as formas de onda da corrente (iL(t)) e tenso na bobina (vL(t)),
assim como a tenso de sada (vO(t)) do conversor a operar em CCM, para um filtro de
sada composto pelos condensadores CA, CA1 e CA2, alternadamente.

Fig. 97. Simulaes computacionais: formas de onda da corrente (a) e tenso (b) na bobina, assim
como da tenso de sada (c) para o conversor buck caracterizado na Tabela 72 (CCM).

Recorrendo s formas de onda da corrente e tenso na bobina, assim como


tenso de sada e ao vector de controlo s1, possvel determinar os valores de ESR, C,
R, e L (Tabela 74).
Atravs da comparao dos resultados da tabela anterior com os valores L, R e
ESR expostos nas Tabelas 72 e 73, pode-se concluir que as tcnicas de diagnstico 1 e 2
revelam uma boa exactido, tanto no clculo de ESR como de R e L. As tcnicas de
diagnstico 3 e 4 revelam ser menos exactas. A tcnica 5 possui uma elevada exactido
no clculo de ESR, mas o valor L revela ser menos exacto. Alm disso, pode-se ainda

pg _______________________________________________________________ 183

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

concluir que no possvel determinar o valor C correctamente. No entanto, se o valor


de L for bastante superior (L = 220 H) a exactido no clculo de C aumenta
significativamente.
TABELA 74 ESTIMATIVAS DOS VALORES DE ESR, C, L E R, PARA O CONVERSOR BUCK, CARACTERIZADO
NA TABELA 72 (CCM), CONSIDERANDO OS CONDENSADORES CA, CA1 E CA2 ALTERNADAMENTE
(RESULTADOS DE SIMULAO COMPUTACIONAL).

Tecnicas de
diagnstico

CA

CA1

CA2

On line 1

On line 2

On line 3

On line 4

On line 5

ESR

26.7 m

26.5 m

25.9 m

25.9 m

26.5 m

6.32 mF

6.12 mF

7.54 mF

26.0 H

26.0 H

22.3 H

22.3 H

22.3 H

1.05

1.05

1.05

1.06

1.06

ESR

29.6 m

29.4 m

28.6 m

28.6 m

29.4 m

6.22 mF

6.01 mF

7.78 mF

26.0 H

26.0 H

22.3 H

22.3 H

22.3 H

1.05

1.05

1.05

1.06

1.06

ESR

70.4 m

70.1 m

65.7 m

65.7 m

70.1 m

9.17 mF

8.30 mF

11.5 mF

26.0 H

26.0 H

22.3 H

22.3 H

22.3 H

1.05

1.05

1.05

1.06

1.06

No entanto, como o conversor estudado utiliza uma bobina com um valor


bastante inferior, no ser considerado doravante o clculo de C.
A Fig. 98 mostra as formas de onda experimentais da corrente (iL(t)) e tenso na
bobina (vL(t)), assim como a tenso de sada (vO(t)) do conversor a operar em CCM,
para um filtro de sada composto pelos condensadores CA, CA1 e CA2, alternadamente.
Atravs das formas de onda experimentais possvel determinar os valores de
ESR, R, e L (Tabela 75).
As tcnicas de diagnstico on-line 3, 4 e 5 exigem a utilizao de interpolao
linear e polinomial, para as formas de onda da corrente na bobina e da tenso de sada,
respectivamente. Alm disso, no caso da tcnica on-line 3 foi utilizada a equao (4.69)
para determinar R, pois permite obter um valor mais preciso. A Tabela 75 permite
reiterar as concluses retiradas das simulaes computacionais (Tabela 74).
pg _______________________________________________________________ 184

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 98. Resultados experimentais: formas de onda da corrente (a) e tenso (b) na bobina, assim como
da tenso de sada (c) para o conversor buck caracterizado na Tabela 72 (CCM).
TABELA 75 ESTIMATIVAS DOS VALORES DE ESR, L E R, PARA O CONVERSOR BUCK, CARACTERIZADO
NA TABELA 72 (CCM), CONSIDERANDO OS CONDENSADORES CA, CA1 E CA2 ALTERNADAMENTE
(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Tecnicas de
diagnstico

CA

CA1

CA2

On line 1

On line 2

On line 3

On line 4

On line 5

ESR

27.0 m

27.0 m

25.4 m

25.9 m

27.1 m

25.7 H

25.6 H

22.5 H

22.3 H

22.4 H

1.02

1.04

1.04

1.01

1.01

ESR

29.8 m

29.8 m

27.8 m

28.5 m

29.8 m

25.5 H

25.4 H

22.8 H

22.4 H

22.4 H

1.05

1.05

1.04

1.04

1.04

ESR

72.4 m

71.5 m

66.9 m

66.6 m

74.1 m

25.6 H

25.5 H

22.7 H

22.3 H

22.3 H

1.03

1.03

1.03

1.02

1.02

Em seguida, ser analisada a aplicabilidade das referidas tcnicas para o


conversor a operar em DCM.
A Fig. 99 mostra as formas de onda da corrente (iL(t)) e tenso na bobina (vL(t)),
assim como a tenso de sada (vO(t)) do conversor a operar em DCM, provenientes de
simulaes computacionais, para um filtro de sada composto pelos condensadores CA,
CA1 e CA2, alternadamente.
Em seguida, utilizando as formas de onda da corrente e tenso na bobina, assim
como a tenso de sada e o vector de controlo s1 (Fig. 99) possvel determinar os
valores de ESR, R, e L (Tabela 76).

pg _______________________________________________________________ 185

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 99. Resultados de simulao: formas de onda da corrente (a) e tenso (b) na bobina, assim como da
tenso de sada (c) para o conversor buck caracterizado na Tabela 72 (DCM).
TABELA 76 ESTIMATIVAS DOS VALORES DE ESR, L E R, PARA O CONVERSOR BUCK, CARACTERIZADO
NA TABELA 72 (DCM), CONSIDERANDO OS CONDENSADORES CA, CA1 E CA2 ALTERNADAMENTE
(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Tecnicas de
diagnstico

CA

On line 1

On line 2

On line 3

On line 4

On line 5

ESR

26.6 m

26.5 m

26.1 m

26.4 m

26.2 m

26.0 H

26.0 H

24.4 H

24.3 H

24.3 H

9.99

CA1

ESR

29.5 m

29.4 m

29.0 m

29.2 m

29.1 m

26.0 H

26.0 H

24.4 H

24.3 H

24.3 H

9.99

CA2

ESR

70.2 m

70.1 m

68.9 m

69.4 m

69.8 m

26.0 H

26.0 H

24.4 H

24.3 H

24.3 H

9.99

A Tabela 76 permite concluir que as tcnicas de diagnstico 1 e 2 revelam uma


elevada exactido, tanto no clculo de ESR e L. As restantes metodologias revelam ser
menos exactas quando conversor opera em DCM. Importa igualmente referir que R foi
calculado atravs da equao (4.69).
A Fig. 100 mostra as formas de onda experimentais da corrente (iL(t)) e tenso
na bobina (vL(t)), assim como a tenso de sada (vO(t)) do conversor a operar em DCM,
para um filtro de sada composto pelos condensadores CA, CA1 e CA2, alternadamente.

pg _______________________________________________________________ 186

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Fig. 100. Resultados de experimentais: formas de onda da corrente (a) e tenso (b) na bobina, assim
como da tenso de sada (c) para o conversor buck caracterizado na Tabela 72 (DCM).

Atravs das formas de onda experimentais possvel determinar os valores de


ESR, R, e L (Tabela 77).
TABELA 77 ESTIMATIVAS DOS VALORES DE ESR, L E R, PARA O CONVERSOR BUCK, CARACTERIZADO
NA TABELA 72 (DCM), CONSIDERANDO OS CONDENSADORES CA, CA1 E CA2 ALTERNADAMENTE
(RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Tecnicas de
diagnstico

CA

On line 1

On line 2

On line 3

On line 4

On line 5

ESR

25.7 m

25.5 m

26.0 m

24.7 m

27.0 m

25.6 H

25.6 H

25.0 H

24.5 H

24.6 H

9.54

CA1

ESR

28.9 m

28.8 m

32.0 m

30.6 m

30.6 m

25.7 H

25.6 H

25.4 H

25.0 H

24.8 H

9.37

CA2

ESR

71.6 m

71.5 m

75.5 m

72.7 m

72.3 m

25.7 H

25.6 H

25.3 H

25.0 H

24.7 H

9.39

Os resultados experimentais apresentados na tabela anterior reiteram as


concluses obtidas no mbito das simulaes computacionais: as tcnicas 1 e 2 revelam
ser mais exactas quando o conversor opera em DCM. A tcnica 3 apresenta a menor
exactido das 5 solues propostas, sendo este fenmeno devido ao rudo provocado
pela mudana do estado de conduo para o estado de no conduo.

pg _______________________________________________________________ 187

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

De seguida, sero analisadas as tcnicas de diagnstico 6 e 7. Neste caso,


necessrio adquirir apenas a corrente (iin(t)), a tenso de entrada (vin(t)), a tenso de
sada (vO(t)) do conversor, bem assim como a temperatura do condensador.
No caso da tcnica on-line 6 utilizam-se as formas de onda anteriores apenas
durante o estado de conduo, o qual pode ser identificado atravs de iin(t). A tcnica de
diagnstico on-line 7 baseia-se na reconstruo das formas de onda da tenso e corrente
na bobina. Em seguida, recorre-se ao algoritmo da DFT para avaliar o estado da bobina
e condensador.
A Fig. 101 mostra as formas de onda experimentais da corrente de entrada, da
corrente e tenso na bobina reconstrudas e da tenso de sada (vO(t)) do conversor, a
operar em CCM, para um filtro de sada composto pelos condensadores CA, CA1 e CA2,
alternadamente.

Fig. 101. Resultados de experimentais: formas de onda da corrente de entrada e corrente na bobina
reconstruda (a) tenso na bobina reconstruda (b) e tenso de sada (c) do conversor buck caracterizado
na Tabela 72 (CCM).

Atravs das formas de onda experimentais possvel, recorrendo s tcnicas de


diagnstico 6 e 7, determinar os valores de L, ESR e R do conversor (Tabela 78).

condensadores

TABELA 78 ESTIMATIVAS DOS VALORES DE ESR, L E R, PARA O CONVERSOR BUCK, CARACTERIZADO NA


TABELA 72 (CCM), CONSIDERANDO OS CONDENSADORES CA, CA1 E CA2 ALTERNADAMENTE (RESULTADOS
EXPERIMENTAIS).

CA

CA1

CA2

ESR
(m)

L
(H)

R
()

ESR
(m)

L
(H)

R
()

ESR
(m)

L
(H)

R
()

Online 6

24.9

25.4

1.031

29.2

25.5

1.094

64.3

25.3

1.012

Online 7

27.1

23.7

1.083

30.1

23.1

1.087

69.0

23.0

1.063

pg _______________________________________________________________ 188

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Atravs da tabela anterior possvel concluir que as solues 6 e 7 apresentam


uma boa exactido, podendo igualmente ser utilizadas como tcnicas de diagnstico online.

4.4.5 Comparao entre as tcnicas de diagnstico on-line


Nesta seco efectua-se a comparao entre as tcnicas de diagnstico on-line
propostas, no que respeita sua exactido, preciso e constrangimentos prticos.
Assim, no que respeita exactido, efectuou-se a comparao entre os valores
estimados pelas diferentes tcnicas propostas e os valores medidos atravs do analisador
de impedncias HP 4294, sendo estes ltimos considerados os valores de referncia,
para as mesmas condies de operao (20 C, 20 kHz). A Fig. 102 sintetiza o referido
estudo.

Fig. 102. Comparao das tcnicas on-line propostas no que respeita sua exactido: (a) ESR e (b) L.

Atravs da observao da figura anterior pode-se concluir que as sete tcnicas


on-line propostas apresentam uma boa exactido no que respeita ao clculo de ESR,
sendo o erro mximo inferior a 6.5%. No entanto, o mesmo no se pode concluir no que
respeita ao valor de L, sendo, neste caso, as tcnicas 1, 2 e 6 claramente mais exactas,
apresentando erros inferiores a 2.5%. Importa, ainda, referir que as tcnicas de
diagnstico 1 e 2 so as mais exactas tanto no clculo de ESR, como de L, e que as
tcnicas 1, 2 e 7 apresentam um erro inferior a 3.5 % no clculo de ESR.
Importa, igualmente, avaliar as tcnicas propostas quanto ao carcter aleatrio
dos resultados obtidos. Para tal, foram efectuadas 25 medidas, para as mesmas
pg _______________________________________________________________ 189

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

condies de operao (frequncia, temperatura, tenso e corrente), a partir das quais foi
possvel determinar o desvio padro, considerando cada uma das sete tcnicas de
diagnstico on-line propostas (Tabela 79).
TABELA 79 DESVIO PADRO NO CLCULO DA ESR E L (RESULTADOS EXPERIMENTAIS).

Tecnicas de
diagnstico
On - line 1
On - line 2
On - line 3
On - line 4
On - line 5
On - line 6
On - line 7

L
H
5.09 10-8
5.52 10-8
15.28 10-8
5.89 10-8
5.03 10-8
6.13 10-8
5.38 10-8

ESR
%
0.198
0.216
0.683
0.263
0.225
0.242
0.228

1.86 10-4
1.86 10-4
1.46 10-4
1.77 10-4
2.88 10-4
1.94 10-4
6.38 10-4

%
0.684
0.681
0.571
0.679
1.061
0.777
0.235

A tabela anterior mostra que o desvio padro no varia significativamente de


tcnica para tcnica. No entanto, possvel concluir que o valor de L calculado atravs
da tcnica 3 apresenta um carcter mais aleatrio que as restantes, revelando ser a mais
dependente do rudo. No que respeita ESR, a tcnica 7 revela ser a mais precisa,
sendo, em contrapartida, a tcnica 5 aquela que mostra ser a menos precisa.
No que respeita implementao prtica, as tcnicas 1 e 2 possuem o menor
custo computacional, quando comparadas com as restantes metodologias. A tcnica 3
revela ser a mais complexa e pesada em termos computacionais. As tcnicas 6 e 7
requerem apenas a utilizao de um sensor no interior da fonte de alimentao (sensor
de temperatura), o que permite reduzir a complexidade logstica.
A grande vantagem das sete metodologias apresentadas baseia-se no facto destas
poderem ser implementadas num processador digital de sinal (DSP), ou atravs de um
computador com ligao a um osciloscpio, sendo a sua escolha dependente de diversos
factores, tais como, a complexidade logstica e computacional, preciso ou mesmo a
exactido.

4.4 Fonte de alimentao ATX


Presentemente a grande maioria das fontes de alimentao de computadores so
fontes de alimentao ATX cuja principal funo consiste em converter a tenso
alternada da rede, em pelo menos, seis diferentes tenses de sada, que respeitem as

pg _______________________________________________________________ 190

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

especificaes das diferentes cargas, tais como: o rato, o teclado, o processador, a placa
de rede, a placa de vdeo, a placa de som, os mdulos de memria, o disco duro, o leitor
de DVD e CD, entre outras.
No entanto, para que as referidas cargas funcionem correctamente, ou no
sofram danos irremediveis, imprescindvel que as diferentes tenses de sada estejam
correctamente reguladas [177-179]. Uma falha na fonte de alimentao pode no s
destruir outros componentes do computador, cujo custo consideravelmente superior ao
da prpria fonte de alimentao, como tambm conduzir perda de informao
provocada pelo shutdown do computador [180]. Por estes motivos, o desenvolvimento
de tcnicas de diagnstico on-line, que permitam avaliar o estado dos componentes mais
crticos de fontes alimentao ATX, revela-se indispensvel.

4.4.1 Arquitectura de fontes de alimentao ATX


As fontes de alimentao ATX so compostas por uma seco primria com
correco do factor potncia (PFC), que pode ser passivo ou activo. No primeiro caso,
utiliza-se uma bobina, enquanto que, no caso do PFC activo, recorre-se a um conversor
boost. O PFC passivo permite reduzir significativamente o custo e complexidade da
fonte ATX, por esse motivo, mais vulgar a utilizao desta soluo [181]. A Fig. 103
mostra a seco primria de uma fonte de alimentao ATX com PFC passivo [42, 181].

Fig. 103. Esquema elctrico da seco primria de uma fonte de alimentao ATX, com PFC passivo
[42, 181].

Apesar de a fonte de energia fornecer uma tenso AC cujo valor eficaz


relativamente constante, comum durante tempestades elctricas surgirem picos de
tenso, de curta durao, que podem facilmente atingir os 5 kV. Para evitar danos
provocados por estes picos de tenso, as fontes ATX esto equipadas com um varistor
(MOV metal oxide varistor). A resistncia elctrica do MOV diminui com a tenso

pg _______________________________________________________________ 191

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

aplicada aos seus terminais. Deste modo possvel proteger os rectificadores e


transstores, utilizados na seco primria e secundria da fonte, quando surgem picos
de tenso na alimentao principal [42].
Durante o arranque da fonte de alimentao podem surgir picos de corrente,
devido ao carregamento dos condensadores de entrada, que podem destruir os
rectificadores de entrada e condensadores pretencentes seco primria. Para evitar
este situao, utilizam-se termistores NTC. Os termistores NTC so semicondutores cuja
resistncia varia significativamente com a temperatura. Assim, durante o arranque da
fonte, como a temperatura do semicondutor baixa, a corrente limitada pela sua
elevada resistncia. Aps o arranque da fonte, e com a passagem da corrente, a
temperatura do termistor aumenta, reduzindo a sua resistncia.
As fontes de alimentao comutadas produzem elevadas quantidades de rudo de
alta frequncia, provocado pela comutao dos transstores, rudo este que produz
interferncias electromagnticas (EMI) que se propagam atravs dos condutores. Este
rudo injectado na alimentao principal, afectando, desta forma, equipamentos
prximos [182]. Para reduzir as interferncias electromagnticas, as fontes de
alimentao ATX so equipadas com filtros EMI.
O factor potncia traduz a relao entre a potncia activa e aparente, logo
representa o desfasamento entre a corrente e a tenso. No entanto, no caso de cargas no
lineares como as fontes de alimentao comutadas, o factor potncia traduz-se sob a
forma de harmnicos de baixa frequncia provocados pela conduo dos dodos
pertencentes ponte rectificadora da seco primria [183]. Este fenmeno pode ser
reduzido pela introduo de uma bobina a montante da ponte rectificadora, permitindo
reduzir o valor eficaz da corrente de entrada, e assim os referidos harmnicos [181,
183].
Como a grande maioria do equipamento electrnico se destina a um mercado
internacional, este dever ser capaz de operar para diferentes tenses de entrada. O
interruptor S1 permite seleccionar a tenso de entrada (115 V AC ou 230 V AC). No caso
de o interruptor estar fechado, durante o semi-ciclo positivo, o condensador C1 carrega.
Por sua vez, durante o semi-ciclo negativo o condensador C2 carregado. Desta forma,
a tenso VS aproximadamente 320 V DC, quer a tenso de entrada seja de 115 V AC
quer de 230 V AC.
As resistncias R1 e R2 permitem que os condensadores electrolticos C1 e C2,
possam ser descarregados quando a fonte desligada [42].
pg _______________________________________________________________ 192

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

A jusante dos condensadores C1 e C2 possvel encontrar uma fonte de


alimentao comutada, tipicamente um conversor forward [181]. A fonte comutada
utiliza transstores de comutao rpida (MOSFETs) para converter a tenso DC no
regulada, VS, numa forma de onda quadrada. Em seguida, utilizado um pequeno
transformador de alta frequncia para converter o impulso de tenso anterior em
diversas sadas que posteriormente so rectificadas e filtradas. O controlo em malha
fechada permite garantir que a tenso das sadas se mantenha regulada
independentemente da carga.
Os condensadores electrolticos utilizados na seco primria de fontes de
alimentao ATX (C1 e C2) so um dos elementos mais crticos deste equipamento.
Alm disso, o seu envelhecimento, que se traduz na reduo da capacidade, pode
conduzir destruio doutros componentes, tais como, os transstores utilizados na
seco secundria da fonte ATX [40]. Desta forma, essencial garantir o bom estado
destes condensadores para assegurar o correcto funcionamento da fonte e assim de todos
os componentes do computador.

4.4.2 Tcnica de diagnstico on-line


A tcnica de diagnstico proposta bastante simples e baseia-se na tcnica de
diagnstico on-line 1 proposta na seco (4.3.3).
A impedncia do condensador electroltico varia significativamente com a
frequncia de operao. Para baixas frequncias o seu comportamento assemelha-se a
um condensador ideal, sendo o efeito de ESR e ESL desprezveis. Com o aumento da
frequncia o efeito de ESL cancela o efeito de C. Deste modo, perto da frequncia de
ressonncia a impedncia total do condensador maioritariamente devida ESR.
Por outro lado, atravs da observao da Fig. 103, possvel concluir que os
condensadores C1 e C2 no esto imunes s EMI, provocadas pela comutao dos
transstores da fonte de alimentao comutada pertencente a seco secundria da fonte
ATX, visto que o filtro EMI se encontra a montante. Deste modo, o efeito da comutao
dos transstores reflecte-se na corrente e tenso dos condensadores C1 e C2. Este efeito
mais pronunciado na corrente, sendo possvel distinguir dois harmnicos na corrente:
um frequncia dupla da rede e o outro frequncia de comutao dos transstores.
Como a frequncia de comutao da fonte comutada prxima da frequncia de
ressonncia dos condensadores, a relao entre o harmnico da tenso e da corrente nos

pg _______________________________________________________________ 193

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

condensadores C1 e C2, frequncia de comutao dos transstores, permite estimar o


valor de ESR dos condensadores e desta forma avaliar o seu estado [184].

4.4.3 Resultados experimentais


Para avaliar a aplicabilidade da tcnica de diagnstico proposta adquiriram-se
diversos resultados experimentais. Para o efeito, foi utilizada uma fonte de alimentao
comercial ATX (LPE2 420W). Para simular o seu funcionamento normal, a fonte ATX
foi ligada a um disco duro e ao processador de um computador.
Por outro lado, para simular o envelhecimento dos condensadores de entrada, o
condensador C1 foi alternadamente substitudo por condensadores do mesmo tipo (220
F, 250 V), mas sujeitos a diferentes graus de envelhecimento: um condensador novo
(C1N) e dois envelhecidos (C1V e C1MV) sujeitos a diferentes graus de envelhecimento. A
Tabela 80 sintetiza os testes de envelhecimento realizados.
TABELA 80 TESTES DE ENVELHECIMENTO.

Condensador
C1V
C1MV

Temperatura
170 C
200 C

Tempo
1 hora

Em seguida, foi efectuada a medida de ESR dos condensadores utilizados, tendo-se recorrido a um analisador de impedncias HP 4294 (Fig. 104).

Fig. 104. Evoluo de ESR com a frequncia para os trs condensadores utilizados (medidas
efectuadas com o analisador de impedncias HP 4294).

Para implementar experimentalmente a tcnica de diagnstico proposta foi


necessrio substituir alternadamente C1 por C1N, C1V e C1MV. Para cada caso foi
efectuada a medida da corrente (iC) e do ripple tenso do condensador C1 (vC) durante
o funcionamento normal da fonte ATX.
Para efectuar as medidas experimentais utilizou-se um sensor de corrente (um
transformador de efeito de Hall - Telcon HTP 50), um osciloscpio digital Tektronix
pg _______________________________________________________________ 194

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

TDS1012 e um computador equipado com a plataforma de computao numrica


MATLAB [184].
Num primeiro momento C1 foi substitudo por C1N. A Fig. 105 mostra as formas
de onda de iC e vC em C1.

Fig. 105. Formas de onda experimentais do ripple da tenso (a) e corrente (b) no condensador C1N.

Em seguida C1N foi substitudo por C1V. A Fig. 106 mostra as formas de onda de
iC e vC.

Fig. 106. Formas de onda experimentais do ripple da tenso (a) e corrente (b) no condensador C1V.

Finalmente C1V foi substitudo por C1MV. A Fig. 107 mostra as formas de onda de
iC e vC.

Fig. 107. Formas de onda experimentais do ripple da tenso (a) e corrente (b) no condensador C1MV.

pg _______________________________________________________________ 195

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Finalmente, utilizando as formas de onda experimentais da corrente e tenso no


condensador (Figs. 105-107), e calculando os harmnicos de iC e vC frequncia de
comutao dos transstores (40 kHz), possvel estimar o valor de ESR (Tabela 81).
TABELA 81 VALOR DA ESR ESTIMADO ATRAVS DA TCNICA DE DIAGNSTICO PROPOSTA.

Condensador

Modulo do harmnico frequncia de


comutao da fonte (40 kHz)
iC (mA)
vC (mV)

ESR (m)

C1N

539.8

91.1

168.7

C1V

559.9

116.6

208.3

C1MV

550.2

152.5

276.9

Quando se comparam os resultados obtidos com tcnica de diagnstico proposta


(Tabela 81), com os valores medidos atravs do analisador de impedncias HP 4294,
para as mesmas condies de operao (40 kHz e 20 C), pode-se verificar que o erro
mximo para os trs condensadores inferior a 8 %, o que mostra que a tcnica
proposta apresenta uma exactido bastante boa.
Como as fontes ATX funcionam constantemente em regime de cargas variveis,
no possvel avaliar a preciso da tcnica proposta visto que as condies de operao
esto continuamente a modificar-se (valor mdio da corrente de sada e duty cycle).
Pode-se, no entanto, avaliar a aplicabilidade da tcnica proposta para o regime de cargas
variveis. Deste modo, foram efectuadas onze medidas diferentes da corrente e tenso
no condensador C1 para cada uma das trs situaes descritas anteriormente (filtro de
entrada com o condensador C1N, C1V e C1MV, alternadamente). Seguidamente calculou-se
o valor de ESR, para as trinta e trs medidas efectuadas (Fig. 108).

Fig. 108. Valores da ESR estimados para onze medidas diferentes considerando o filtro de entrada da
fonte ATX, composto alternadamente pelos condensadores C1N, C1V e C1MV.
.

pg _______________________________________________________________ 196

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

Atravs da observao da Fig. 108 pode-se concluir que os desvios dos valores
de ESR em relao ao valor mdio das onze medidas no so significativos. Alm disso,
a exactido da tcnica proposta poder ser melhorada se o valor mdio das onze
medidas for considerado, nesse caso, o erro mximo diminui para 4%.
Importa ainda referir que o efeito da temperatura dever ser igualmente
considerado. Para tal, deve-se colocar um sensor de temperatura no topo da cobertura do
condensador, visto ser a regio cuja resistncia trmica do ncleo para a cobertura
menor. A funo de ESR com a temperatura pode ser obtida recorrendo metodologia
proposta na seco (3.8). Deste modo, evitam-se erros na avaliao do estado do
condensador, provocados pelas variaes da temperatura do ncleo do condensador.

4.5 Resumo
A necessidade de equipamentos mais fiveis tem fomentado o desenvolvimento
de sistemas redundantes ou de tcnicas de diagnstico que permitam evitar ou prever as
falhas nos equipamentos.
Neste captulo foram apresentadas vrias solues no mbito das tcnicas de
diagnstico on-line para fontes de alimentao comutadas. As metodologias on-line
revelam-se essenciais em equipamentos cuja paragem se revela inexequvel.
Para o efeito, foram utilizados dois prottipos experimentais: um conversor
buck, concebido propositadamente para validar as solues propostas e uma fonte de
alimentao ATX, que permitiu demonstrar a aplicabilidade de uma das solues
propostas num equipamento comercial.
Um dos elementos mais crticos das fontes de alimentao comutadas o
condensador electroltico de alumnio, cujo envelhecimento caracterizado pelo
aumento de ESR. Por esse motivo, as tcnicas de diagnstico propostas baseiam-se no
clculo de ESR. No entanto, apesar de menos comuns, as bobinas podem igualmente
desenvolver um processo de avaria, que caracterizado pela reduo gradual da
indutncia. Por esse motivo, as tcnicas propostas permitem igualmente determinar o
valor de L.
As duas primeiras solues propostas utilizam as formas de onda da corrente na
bobina, da tenso de sada e da bobina durante um perodo de comutao. A primeira
soluo utiliza o algoritmo DFT, enquanto a segunda recorre ao algoritmo LMS.

pg _______________________________________________________________ 197

4 Mtodos de Diagnstico On-Line

__________________________________________________________________________________________________________

A terceira soluo recorre simultaneamente ao modelo hbrido do conversor e ao


algoritmo LMS. Neste caso necessrio adquirir as formas de onda da corrente e da
tenso na bobina e da tenso de sada. Esta soluo revela ser a mais complexa.
A quarta e quinta solues utilizam as formas de onda da corrente na bobina e
tenso de sada e entrada durante o estado de no conduo do transstor, o qual
identificado atravs da forma de onda da tenso na bobina. A quarta soluo utiliza o
algoritmo LMS conjuntamente com as equaes que modelizam o funcionamento do
conversor durante o estado de no conduo, enquanto a quinta soluo baseia-se na
anlise terica do conversor.
A sexta e stima solues utilizam apenas a corrente de entrada e a tenso sada
do conversor. No primeiro caso utiliza-se o algoritmo LMS e as formas de onda apenas
durante o estado de conduo do transstor, o qual identificado atravs da forma de
onda da corrente de entrada. A stima soluo baseia-se na reconstruo das formas de
onda da corrente e tenso na bobina, utilizando-se em seguida o algoritmo DFT para
determinar os valores de L e ESR.
As solues referidas foram implementadas e validadas atravs de resultados
experimentais obtidos a partir do conversor buck.
A tcnica de diagnstico implementada no mbito da fonte de alimentao ATX
permite avaliar o estado dos condensadores utilizados na sua seco primria. Os
conceitos subjacentes sua implementao so semelhantes aos utilizados para a
primeira soluo proposta, sendo igualmente utilizado o algoritmo DFT. O estado dos
condensadores avaliado atravs do clculo do valor de ESR, obtido atravs da razo
entre os harmnicos da corrente e tenso no condensador, frequncia de comutao
dos transstores.

pg _______________________________________________________________ 198

5 Concluses
Foi abordada, ao longo deste trabalho, a temtica da caracterizao do esquema
equivalente de condensadores electrolticos de alumnio. Esta informao revela-se
essencial tanto na concepo de diversos equipamentos de electrnica, como no
desenvolvimento de tcnicas de diagnstico que permitam avaliar o estado do
condensador.
Como foi relatado no Captulo 1, os condensadores electrolticos de alumnio
so largamente utilizados em fontes de alimentao, que servem como interface de
energia para diversos sistemas electrnicos pertencentes a equipamento mdico, a
centrais nucleares, veculos de transporte, entre outros. Por outro lado, estes
condensadores revelam ser um dos elementos mais crticos desses equipamentos, sendo
indubitavelmente o elemento mais vulnervel da seco de potncia das fontes de
alimentao. As referidas premissas demonstram a importncia do desenvolvimento de
tcnicas de diagnstico que permitam avaliar o estado deste equipamento, em particular,
do condensador electroltico de alumnio.
O envelhecimento destes condensadores caracteriza-se pela modificao dos
parmetros elctricos do seu circuito equivalente, a resistncia interna aumenta e a
capacidade diminui. As referidas modificaes permitem avaliar o seu estado, visto que,
habitualmente, os fabricantes definem o fim de vida til do condensador quando a

5 Concluses

__________________________________________________________________________________________________________

resistncia duplica ou a capacidade diminui 20%. Caso os referidos limites tenham sido
alcanados, o condensador pode ainda continuar a operar, no entanto, a probabilidade de
desenvolver uma avaria do tipo catastrfica (curto-circuito ou circuito aberto) aumenta
consideravelmente, sendo portanto aconselhvel proceder sua substituio. Alguns
sistemas electrnicos possuem especificaes de ripple de tenso muito exigentes,
podendo suceder que nestes casos, o limite de vida do condensador seja determinado
no pelo limite definido pelo fabricante do condensador, mas sim pelas caractersticas
do ripple da tenso no condensador.
As tcnicas de medida propostas no mbito deste trabalho baseiam-se na
caracterizao do circuito equivalente do condensador. Assim, apresentaram-se dois
tipos de solues, as tcnicas off-line que exigem que o equipamento onde o
condensador se encontra aplicado seja desligado e as tcnicas on-line que permitem
testar o estado do condensador com o equipamento em funcionamento.
A implementao de tcnicas de medida off-line requer a construo de
geradores de sinais de corrente com a potncia apropriada. Para o efeito foram
desenvolvidos trs circuitos: dois amplificadores de potncia (um classe AB e outro
classe D) que permitem injectar uma corrente aproximadamente sinusoidal no
condensador e um circuito de carga e descarga que permite criar uma forma de onda de
corrente aproximadamente quadrada, no condensador. A relao entre as formas de
onda da tenso e corrente no condensador permite identificar os seus parmetros
elctricos, os quais so obtidos atravs de anlise grfica ou de processos automticos
baseados nos algoritmos LMS ou DFT.
Os parmetros elctricos do condensador, em particular a resistncia interna e a
capacidade modificam-se no s com o envelhecimento do condensador, mas tambm,
com outros factores como a temperatura e a frequncia. As tcnicas off-line permitem
caracterizar os parmetros elctricos do condensador para diferentes temperaturas e
frequncias, informao tipicamente obtida atravs de equipamento bastante
dispendioso e nem sempre disponvel. Neste particular, convm relembrar que a
informao fornecida pelo fabricante escassa e pouco exacta. A identificao dos
valores da resistncia interna e capacidade do condensador essencial na fase de
concepo de fontes de alimentao comutadas e na escolha de condensadores para o
barramento DC de variadores electrnicos de velocidade. Alm disso, a funo que
permite representar a evoluo da resistncia interna do condensador com a

pg _______________________________________________________________ 200

5 Concluses

__________________________________________________________________________________________________________

temperatura, obtida atravs de tcnicas off-line imprescindvel para a implementao


de tcnicas de diagnstico on-line.
No caso das tcnicas de diagnstico on-line o estado do condensador
verificado com o equipamento em funcionamento normal. No entanto, se durante o
funcionamento do equipamento, factores como a temperatura do condensador ou a
frequncia de operao do condensador se modificarem, a tcnica de diagnstico ter
que equacionar estas duas novas variveis. Neste trabalho, foram propostas algumas
tcnicas de diagnstico on-line para fontes de alimentao comutadas. Neste caso, foi
necessrio considerar as variaes de temperatura no condensador, j que a frequncia
de comutao dos transstores constante.
Neste trabalho foram ainda utilizadas duas fontes de alimentao comutadas: um
conversor buck, cujo filtro de sada idntico grande maioria das topologias de fontes
comutadas; e uma fonte de alimentao comercial (ATX).
Assim, no caso do primeiro prottipo, foram propostas sete tcnicas de
diagnstico diferentes, cinco das quais requerem pelo menos trs sensores no interior da
fonte de alimentao que permitam medir a corrente e tenso na bobina assim como a
temperatura no condensador. Em seguida recorre-se aos algoritmos LMS e DFT, assim
como s equaes que definem o funcionamento do conversor e ao seu modelo hbrido
para extrair os valores da resistncia interna do condensador e indutncia da bobina. As
avarias nas bobinas apesar de menos comuns manifestam-se pela reduo progressiva
da indutncia.
As restantes tcnicas propostas necessitam de apenas um sensor no interior do
conversor buck, permitindo reduzir a complexidade logstica associada sua
implementao. A escolha da melhor metodologia a utilizar depende de factores como
complexidade logstica e computacional, preciso e exactido. No entanto, a grande
vantagem das sete metodologias propostas a possibilidade de poderem ser
implementadas num processador digital de sinal (DSP), ou atravs de um computador
com ligao a um osciloscpio.
No caso da fonte de alimentao ATX, foi proposta uma tcnica de diagnstico
on-line que permite avaliar o estado dos condensadores electrolticos de alumnio
utilizados na seco primria. Estes condensadores so indiscutivelmente um dos
elementos mais vulnerveis da fonte ATX, sendo a sua degradao responsvel pelo
aparecimento de avariais noutros componentes da fonte. Assim, a metodologia proposta
baseia-se no facto da impedncia do condensador frequncia de comutao dos
pg _______________________________________________________________ 201

5 Concluses

__________________________________________________________________________________________________________

transstores ser aproximadamente igual ao valor da sua resistncia interna. Como o


efeito das EMI produzidas pela comutao dos transstores se faz sentir nestes
condensadores, a relao entre o mdulo dos harmnicos da tenso e corrente nos
condensadores de entrada, frequncia de comutao dos transstores, permite calcular
o valor da resistncia interna do condensador e assim avaliar o seu estado. O efeito da
temperatura igualmente considerado, visto que durante o funcionamento esta pode
variar.

5.1 Sntese
As tcnicas de medida off-line permitem alcanar uma maior exactido, visto
que possibilitam efectuar diferentes medidas para as mesmas condies de operao
(frequncia e temperatura). Alm disso, podem revelar-se a nica soluo possvel para
avaliar o estado dos condensadores, em sistemas cuja implementao das tcnicas online se revele inexequvel. Em contrapartida, requerem que o equipamento onde o
condensador se encontra a operar seja desligado, podendo ser mesmo necessrio
proceder remoo do condensador do equipamento, para testar o seu estado num
circuito apropriado. A implementao destas metodologias poder ser realizada em
planos de manuteno peridica.
A implementao de tcnicas de medida on-line pode ser executada com o
equipamento em funcionamento normal, no sendo portanto necessrio efectuar
paragens peridicas, podendo estas metodologias ser executadas em planos de
manuteno condicionada. No entanto, a sua implementao tem de equacionar diversos
factores como a temperatura e a frequncia que podem modificar-se durante o
funcionamento do equipamento. Estes factores introduzem novas variveis no sistema
de diagnstico, requerendo a utilizao de diversos sensores que podem introduzir erros
de medida e como consequncia podem reduzir a exactido e preciso da tcnica de
medida. Alm disso, a complexidade e custo das tcnicas de diagnstico on-line
consideravelmente superior ao das tcnicas off-line.

pg _______________________________________________________________ 202

5 Concluses

__________________________________________________________________________________________________________

5.2 Trabalho futuro


Como perspectivas de trabalho futuro salienta-se o desenvolvimento de estudos
respeitantes ao refinamento dos mtodos de diagnstico on-line propostos, com o
objectivo de proporcionar um diagnstico mais completo e fivel em relao
ocorrncia de avarias em conversores DC-DC comutados, sujeitos a regimes de carga
variveis, bem como deteriorao de outros componentes, e ainda avaliar a sua
aplicabilidade noutros sistemas electrnicos, como por exemplo em variadores
electrnicos de velocidade.
Pretende-se igualmente, desenvolver um estudo similar para outras tecnologias
de condensadores, tais como os condensadores de filme metlico de polipropileno, cujo
crescente interesse em aplicaes de mdia e elevada potncia, designadamente em
traco elctrica, tem revelado a importncia do desenvolvimento de tcnicas de
diagnstico que permitam avaliar o seu estado.

pg _______________________________________________________________ 203

ANEXO I

Atravs da anlise da Fig. 42 possvel escrever as equaes:


diL ( t )

+ vO ( t )
vin ( t ) = RL i L( t ) + L
dt

i L( t ) = i C ( t ) + i O( t )

vO ( t ) = ESR i C( t ) + vC ( t )

d 2v ( t )
dv ( t )
vin ( t ) = K1 C2 + K2 C + K3 vC ( t ) ,
dt
dt

ESR
K1 = L C 1 + R

ESR C RL L

+ + ESR C
com: K2 = RL C +
R
R

R
K3 = 1 + L
R

(A1.1)

Recorrendo transformada de Laplace possvel encontrar a soluo da


equao diferencial (A1.1).

ANEXO I

__________________________________________________________________________________________________________

vC ( t ) = A cos ( w t ) + G sin ( w t ) + ...


... + H eat cos ( b t ) + I eat sin ( b t )

(A1.2)

em que:
ESR
RL
K1 = L C 1 +
; K3 = 1 +
;
R
R

ESR L
K 2 = RL C 1 +
+ + ESR C;
R R

F = K12 w4 2 K1 K3 w2 + K 2 2 w2 + K32 ;

K12 w2 + K3 ) Vin w
(
K 2 Vin w
;B =
;
A=
F
F
( K12 w2 + K22 K3 K1 ) Vin w ; G = B ;
E=
F
w
K K 2 w Vin
D
; w = 2 f ; H =
;
D= 1
F
K1
I=

4 K1 K 3 K 2 2
K2
E Da
;a=
;b =
;
2 K1
2 K1
b K1

Considerando o regime permamente, podem-se desprezar os termos relativos s


exponenciais, podendo ento (A1.2) simplicar-se:
vC ( t ) A cos ( w t ) + G sin ( w t )
A=

( K1 w2 + K3 ) Vin
K 2 Vin w
G =
F
F

(A1.3)

No entanto, a equao (A1.3) pode ainda ser simplificada se a frequncia de


operao (f) estiver afastada da frequncia de ressonncia do filtro (fress):
vC ( t ) G sin ( 2 f t )

, se f > 2 f ress A << G

1
,
f ress =
2 L C

(A1.4)

Desta forma possvel escrever:

iC ( t ) C B sin w t +
2

v ( t ) = ESR i ( t ) + v ( t )
C
C
O

vO ( t ) = C ESR B sin w t + + sin ( w t )


2 w

(A1.5)

pg _______________________________________________________________ 205

ANEXO I

__________________________________________________________________________________________________________

A amplitude da corrente no condensador (IC) e a tenso de sada (VO) so


aproximadamente iguais a:
IC = C B =

C ( K1 w2 + K3 ) Vin w

( K w
=

VO

(A1.6)

+ K3 ) Vin w

( ESR C )

1
+
w

(A1.7)

Considerando que R >> (RL+ ESR), ento pode-se simplificar (A.7):

( L C w + 1) V

in w

VO =

( LC w )

( ESR C )

1
+
w

2 ( L C ) w + K4 w + 1

2 2

(A1.8)

K4 = ( Rl + ESR ) C +
R

Se f >> fress , ento (A.8) pode ser simplificada:

( ESR C )

L C w 2 Vin w
VO

(LC w )

1
+
w

2 2

(A1.9)

Utilizando a expresso (A1.9) possvel calcular o ganho do circuito da Fig. 42:

VO

Vin

( ESR C )

1
w2

(A1.10)

LC w

Finalmente atravs da expresso (A1.10) possvel calcular ESR:


2

ESR

VO
1
LC w
2
V
w
in

(A1.11)

pg _______________________________________________________________ 206

ANEXO II

Atravs da anlise da Fig. 42 possvel escrever as equaes:

vin = Z L iin + Zcond iC

iin = iC + iO
v = Z i
cond
C
O

(A2.1)

vin = Vin vin

vO = VO vO

Z L = j w L

com: iL = Iin iin

iC = IC iC

iO = IO iO

1
Zcond = ESR + ( j w C )
em que: vin, vo, iin, iC e iO representam os fasores da tenso de entrada, tenso de sada,
corrente de entrada, corrente no condensador e corrente de sada; e Vin, VO, Iin, IC e IO
representam as amplitudes da tenso de entrada, tenso de sada, corrente de entrada,

ANEXO II

__________________________________________________________________________________________________________

corrente no condensador e corrente de sada, respectivamente; e vin, vO, iin, iC e iO


representam as respectivas fases da tenso de entrada, tenso de sada, corrente de
entrada, corrente no condensador e corrente de sada.
Considerando que:

>>
=
f
f
ress

2 L C

2
R >> ESR 2 + 1
( )

w C

(A2.2)

(A2.3)

sendo f a frequncia de operao, ento respeitando a condio (A2.3) possvel escrever:

VO

Vin

1
ESR 2 +

wC

ESR + w L

wC

(A2.4)

Atravs de (A2.4), possvel obter o valor de ESR:


2

VO
1 1
w L

V
w
C

wC
in

ESR
2
VO
1
Vin

(A2.5)

Tendo em conta (A2.2) ento possvel simplificar (A2.6):


2

VO
2
1
( w L)

V
wC
ESR in
2
VO
1
Vin

(A2.6)

pg _______________________________________________________________ 208

ANEXO III
Atravs da anlise da Fig. 42 possvel escrever as equaes:

vin ( t ) = ( ( R + ESR ) C ) i C ( t ) + ESL


vin ( t ) = K1

d 2vC ( t )

+ K2

d 2t
K1 = ESL C
com:
K2 = ( R + ESR ) C

dvC ( t )
dt

diC ( t )
+ vC ( t )
dt

+ vC ( t )

(A3.1)

Recorrendo transformada de Laplace possvel encontrar a soluo da


equao diferencial (A3.1):

B
D
E
vC ( t ) = A cos ( w t ) + sin ( w t ) + eat + ebt
w
K1
K1
em que:

F = K12 w4 2 K1 w2 + K22 w2 +1

(A3.2)

ANEXO III

__________________________________________________________________________________________________________

K 2 + K 2 2 4 K1
K 2 K 2 2 4 K1
a=
,b =
,
2 K1
2 K1

( K1 w2 1) Vin w
K 2 Vin w
A=
,B =
,
F
F
K12 w2 + K1 K 2 a K 2 2 + K1 ) Vin w
(
D=
,
F (a b)

(K
E=

2
1

w2 K1 K 2 b + K 2 2 K1 ) Vin w
F (a b)

Utilizando (A3.2), possvel definir a corrente no condensador como:

dvC ( t )
dt
iC ( t ) = K A cos ( w t ) + K B sin ( w t ) + K C e at + K D e bt ,
iC ( t ) = C

(A3.3)

em que:

KA = A w C, KB = B C, KC =

Ca D
C b E
, KD =
K1
K1

Recorrendo a (A3.2) e (A3.3) possvel definir a tenso aos terminais do


condensador:

di ( t )
dt
vO ( t ) = K E cos ( w t ) + K F sin ( w t ) + K G e at + K H e bt ,
vO ( t ) = vC ( t ) + ESR i ( t ) + ESL

(A3.4)

em que:
K E = A + ESR C B ESL A w2 C ,
B
ESR C A w ESL B w C ,
w
D ESR C a D ESL D a 2 C
KG =

+
,
K1
K1
K1
KF =

E ESR C b E ESL E b 2 C
KH =

+
K1
K1
K1

pg _______________________________________________________________ 210

ANEXO III

__________________________________________________________________________________________________________

Considerando o regime permanente possvel simplificar (A3.2), (A3.3) e


(A3.4):

vC ( t ) = A cos ( w t ) + w sin ( w t )

iC ( t ) = K A cos ( w t ) + K B sin ( w t )

vO ( t ) = K E cos ( w t ) + K F sin ( w t )

(A3.5)

Como:
2
K1 = ESLC
K1 << K2 F 1+ ( K2 w)

K2 = ( R + ESR) C

Assim:

K2 Vin w

1 + ( K 2 w)

,B

( K1 w2 1) Vin w
1 + ( K 2 w)

Por outro lado considerando que R >> Zcond


K 1 w 2 + 1) Vin
(
Vin
A
,B
K2 w
K 22 w

Como:

vin ( t) =Vin sin( wt)

(A3.6)

possvel relacionar vO e vin atravs da equao:


vO ( t )

vin ( t )

K E cos ( w t ) + K F sin ( w t )
Vin sin ( w t )

(A3.7)

Logo, o termo de vO atravs do qual se determina o valor de ESR KF, sendo KE


responsvel por Xcond.
Deste modo ESR e Xcond podem ser calculados atravs das equaes:

pg _______________________________________________________________ 211

ANEXO III

__________________________________________________________________________________________________________

KX

KF
Vin

(A3.8)

KY

KE
Vin

(A3.9)

Simplificando (A3.8):

ESR V
1 ESL C w2 )
1 ESL C w2 )
(
(
in

ESL Vin
+ Vin

R
R2 C
R 2 C 2 w2

KX
Vin
Para frequncias de operao (f) muito inferiores frequncia de ressonncia do
condensador (fress) possvel simplificar KX:

V
ESR Vin ESL Vin

2
+ 2 in2

2
R
R C
R C w
KX

Vin
ESR Vin

ESR
R
=
KX
Vin
R
Para valores de f perto da frequncia de ressonncia:
ESR Vin

ESR
R
=
KX
Vin
R
Para valores de f muito superiores frequncia de ressonncia:
ESR V
ESL w2 )
(
ESL
in

V
ESL Vin
+

in

R
R2
R2 C

KX
Vin
ESR Vin

R
KX
Vin

ESR
=
R

Logo, possvel concluir que:


K

ESR
R

(A3.10)

pg _______________________________________________________________ 212

ANEXO III

__________________________________________________________________________________________________________

Simplificando (A3.9):
Vin ESR ( K1 w2 + 1) ESL V w2 C
Vin
in

2
2

R C w
RC w
RC w

Ky
Vin
Vin ESR ( K1 w2 + 1) ESL V w
Vin
in

2
2

R C w
R
RC w

Ky
Vin
Vin ESR ( K1 w2 + 1) V
1

+ in ESL w

2
2

R
R C w
Cw

Ky
Vin

Para f << fress:


Vin ESR Vin X cond
2
+
R C2 w
R

Ky
Vin
Ky

( X cond )

Vin X cond

R
K
y
Vin

Para valores de f perto da fress:

Ky

( Xcond )
R

Para f >>fress:

1
Vin ESR ESL w Vin

+ ESL w
2
R C
Cw
R
Ky

Vin
Vin X cond

R
Ky
Vin

K ( X cond )
y
R

Logo, possvel concluir que:

KY

X cond
R

(A3.11)

pg _______________________________________________________________ 213

ANEXO IV
Para que os resultados das simulaes representem fielmente o comportamento
dos prottipos experimentais, essencial garantir que os parmetros do condensador (C,
ESL e ESR) utilizados nas simulaes sejam o mais aproximado possvel aos reais. Por
esse motivo utilizaram-se os valores (ESR e Xcond) obtidos atravs do analisador de
impedncia Agilent HP 4294, que neste estudo so considerados os valores de
referncia.
Atravs do HP 4294 possvel obter o mdulo e fase da impedncia dos
condensadores e assim ESR e Xcond. No entanto, para estimar os valores de C e ESL
necessrio utilizar algoritmos de fitting que permitam aproximar o mais possvel s
curvas da reactncia. Para o efeito foi utilizada a equao:

X cond = X ESL X C

(A4.1)

onde,

X ESL = 2 f ESL
X C = ( 2 f C )

As Tabelas A4.1, A4.2, A4.3 e A4.4 representam as caractersticas dos


condensadores CA, CB, CC e CD, extradas atravs dos dados fornecidos pelo HP 4294.

ANEXO IV

__________________________________________________________________________________________________________

TABELA A4.1 CARACTERSTICAS DO CONDENSADOR CA OBTIDAS ATRAVS DO ANALISADOR DE


IMPEDNCIA AGILENT HP 4294.

frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

ESR
0.0326
0.0265
0.0257
0.0255
0.0258
0.0272

Xcond
- 0.3710
- 0.0741
- 0.0368
- 0.0062
- 0.0012
0.0118

ESL

4290 F

40 nH

TABELA A4.2 CARACTERSTICAS DO CONDENSADOR CB OBTIDAS ATRAVS DO ANALISADOR DE


IMPEDNCIA AGILENT HP 4294.

frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

ESR
0.0622
0.0502
0.0488
0.0474
0.0474
0.0507

Xcond
- 0.8141
- 0.1627
- 0.0812
- 0.0152
- 0.0059
0.0097

ESL

1955 F

36 nH

TABELA A4.3 CARACTERSTICAS DO CONDENSADOR CC OBTIDAS ATRAVS DO ANALISADOR DE


IMPEDNCIA AGILENT HP 4294.

frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

ESR
0.0832
0.0604
0.0574
0.0551
0.0547
0.0561

Xcond
- 1.8106
- 0.3620
- 0.1808
- 0.0351
- 0.0158
0.0077

ESL

879 F

36 nH

TABELA A4.4 CARACTERSTICAS DO CONDENSADOR CD OBTIDAS ATRAVS DO ANALISADOR DE


IMPEDNCIA AGILENT HP 4294.

frequncia
100 Hz
500 Hz
1 kHz
5 kHz
10 kHz
50 kHz

ESR
0.2686
0.1896
0.1798
0.1688
0.1648
0.1543

Xcond
-7.7640
-1.5530
-0.7760
-0.1550
-0.0761
-0.0077

ESL

205 F

25 nH

pg _______________________________________________________________ 215

ANEXO V
Pode-se definir o grau de associao linear entre duas variveis atravs
coeficiente de correlao de Pearson:
N

Coef X ,Y =

( X
i =1

i =1

X i ) (Yi Yi
2

( X

Xi

) (Y
i =1

Yi

(A5.1)

onde Xi, Yi ,Xi e Yi representam a varivel X e Y para amostras com N elementos e os


seus valores mdios.
Supondo que:
X i = A1 cos ( w i )

Yi = A2 cos ( w i + )

(A5.2)

e como os valores mdios de ambos os sinais so nulos:

X i = 0 Yi = 0
pode-se simplificar (A5.1):

(A5.3)

ANEXO V

__________________________________________________________________________________________________________
N

Coef X ,Y =

( X ) (Y )
i

i =1

( X ) (Y )
i

i =1

i =1

Coef X ,Y =

A cos ( w i ) A cos ( w i + )
i =1

2
1

i =1

cos ( w i ) A2 cos ( w i + )
2

i =1

Coef X ,Y =

cos ( w i ) cos ( w i + )
i =1

i =1

i =1

cos2 ( w i ) cos2 ( w i + )

(A5.4)

Por outro lado:

cos ( w i + ) = cos ( w i ) cos ( ) sin ( w i ) sin ( )

cos2 w i = 1 + cos ( 2 w i )
( )

sin 2 w i = 1 cos ( 2 w i )
( )

sin ( 2 w i ) = 2 sin ( w i ) cos ( w i )

(A5.5)
(A5.6)
(A5.7)
(A5.8)

utilizando as equaes (A5.5)-(A5.8) possvel escrever:


N
N

2
cos
w
i
cos

( )
( ) cos ( w i ) sin ( w i ) sin ( )

i =1
i =1
Coef X ,Y =
N

1 + cos ( 2 w i ) N
2

cos ( w i + )

2
=
=
1
1
i
i

N
N
2
cos 2 ( w i + ) = ( cos ( w i ) cos ( ) sin ( w i ) sin ( ) )
i =1
i =1

pg _______________________________________________________________ 217

ANEXO V

__________________________________________________________________________________________________________
N
N

sin ( 2 w i )
1 + cos ( 2 w i )
sin ( )

cos ( )

2
2
i =1

Coef = i =1
X ,Y
N 1 N cos ( 2 w i ) N

+
cos ( w i + )
2
2
=
1
=
1
=
1
i
i
i

N
N
cos 2 ( w i + ) = ( cos ( w i ) cos ( ) sin ( w i ) sin ( ) )2
i =1
i =1
N
cos ( )

2
i =1
Coef X ,Y =
N
N

1
cos 2 ( w i + )

2
i =1
i =1

N
N
N
1
1
2
2
2
cos ( w i + ) = cos ( ) + sin ( )
2
2
i =1
i =1
i =1
N
cos ( )
cos ( )
N

2
2
Coef X ,Y = i =1
=
= cos ( )
N
N
N
1
1

2
i =1 2
i =1 2

(A5.9)

pg _______________________________________________________________ 218

ANEXO VI
Nesta seco calcula-se a relao entre o valor pico-a-pico de uma onda
triangular, , e o seu valor eficaz, ef.
Assim, considerando uma onda triangular genrica com valor mdio nulo, tal
como a representada na Fig. A6.1,
( -D1 + 1 ) T

s(t)

t
D1 T

Fig. 6.1 Curva genrica de uma onda triangular.


possvel modelizar as curvas atravs das equaes:
m1 t + b1 , t [ 0, D1 T [
s (t ) =
m2 t + b2 , t [ D1 T , T [

(A6.1)

com

m1 =

D1
, m2 =
, b1 = , b2 = +
D1 T
2
2 (1 D1 )
(1 D1 ) T

(A6.2)

ANEXO VI

__________________________________________________________________________________________________________

O valor eficaz pode ser calculado recorrendo sua definio:

rms =

2
1 T
s
t
dt
(
)
(
)
T 0

(A6.3)

onde T e s(t) representam o perodo e um sinal genrico peridico.


rms ( s ( t ) ) =

1 D1T
1 T
2
2
m1 t + b1 ) dt + ( m2 t + b2 ) dt
(

T 0
T D1T

rms ( s ( t ) ) =

T2
K1 + T K 2 + K 3 , K1 = m12 D13 + m2 2 (1 D13 ) ,
3

(A6.4)

K 2 = m1 b1 D12 + m2 b2 (1 D12 ) , K3 = b1 D1 + b2 (1 D1 )

Recorrendo s constantes (A6.2), possvel reescrever (A6.4):


rms ( s ( t ) ) =

T2
K 4 + T K5 + K 6
3

2
2

3
3
K4 =
(1 D1 )
D1 +

D
T
D
T
1

1)
(

(1 + D1 )

2
(1 D12 )

K5 =
D1 +
D1 T 2
(1 D1 ) T 2 (1 D1 )

2
2
(1 + D1 )


=
K
6 2 D1 + 2 (1 D ) (1 D1 )
1

rms ( s ( t ) ) = 2 K 7 2 K8 + 2 K 9
D
(1 D13 ) , K = D1 (1 D1 ) + (1 + D1 )2
K7 = 1 +

3 3 (1 D1 )2 8
2 (1 D1 )

D1 (1 D1 ) + (1 + D1 )2
K9 =

4 (1 D1 )

rms ( s ( t ) ) =

D1 2 D12 + 1

rms ( s ( t ) ) =

( D1 1)
2
12 (1 D1 )

3 (1 D1 )

3 D1 + 1
3 D1 + 1
+

2 (1 D1 ) 4 (1 D1 )

= 2
12
3

(A6.4)

pg _______________________________________________________________ 220

Referncias
1.

M. Rashid, "Power Electronics, Circuits, Devices and Applications", second edition, Prentice-Hall
International, New Jersey, 1993.

2.

D. Mitchell, "DC-DC Switching Regulator Analysis", McGraw-Hill, New York, 1988.

3.

M. Brown, "Practical Switching Power Supply Design", Academic Press, New York, 1990.

4.

M. Nagrial; A. Hellany, "Radiated and Conducted EMI Emissions in Switch Mode Power
Supplies: Sources, Causes and Predictions", Proceedings of the IEEE International Multi Topic
Conference, 28-30 December 2001, pp. 54-61.

5.

B. Huang, "Beyound LDOs and Switching Regulators, New Technology Solutions", Bodo's Power
Systems, Systems Design Motion and Conversion, October 2007, pp. 44-46.

6.

O. Pop; S. Lungu; G. Chindris, "An Investigation into EMC Emission from SEPIC Based Switch
Mode Power Supply in Discontinuous Conduction Mode", Proceedings of the 28th International
Spring Seminar on Electronics Technology, 19-20 May 2005, Wiener Neustadt, Austria, pp. 205210.

7.

D. Lee, "Striving for the Universal Power Management Solution", Power Systems Design Europe,
Power Control Intelligent Motion, January/February 2006, pp. 10.

8.

D. Bozee; D. Cullen; L. McCormack; F. Dawson; B. Flynn, "An Investigation Into the Radio
Frequency Emissions from Switched Mode Power Supplies and Similar Switched Electronic Load

Referncias
Controllers Operating under Various Loading Conditions", Proceedings of the 2004 International
Symposium on Electromagnetic Compability, 9-13 August 2004, Santa Clara, CA, USA, vol. 1, pp.
157-162.
9.

J. Reddy; G. Bhuvaneswari; B. Singh, "A Single DC-DC Converter Based Multiple Ouput SMPS
with Fully Regulated and Isolated Outputs", Proceedings of the IEEE Indicon 2005 Conference,
11-13 December 2005, Chennai, India, pp. 585-589.

10.

B. Huang; C. Jackson, "Power Trends in Television, new power solutions for HDTV's", Bodo's
Power Systems, pp. 40-41.

11.

Y. Lee, "Computer-Aided Analysis and Design of Switch-Mode Power Supplies", Marcel Dekker,
New York, 1993.

12.

B. Nathan; V. Ramanarayanan, "Analysis, Simulation and Design of Series Resonant Converter


for High Voltage Applications", Proceedings of the IEEE International Conference on Industrial
Technology, 19-22 January 2000, Goa, India, vol. 2, pp. 688-693.

13.

S. Mccabe, "Electrical Resins for Today and Tomorow Switch Mode Power Supply", Proceedings
of the 2nd International Conference on Power Electronics Systems and Applications, 12-14
November 2006, Hong Kong, China, pp. 1-7.

14.

R. Fassler, "Most Efficient Low Power Chargers", Power Systems Design Europe, Power Control
Intelligent Motion, 2005, pp. 26-29.

15.

G. Sauerlaender; E. Janssen, "High Frequency 3 MHz Offline SMPS for Audio Applications",
Proceedings of the 2005 European Conference on Power Electronics and Applications, 11-14
September 2005, Dresden, Germany, pp. 1-7.

16.

J. Neuhausler, "Optimization Buck-Boost, conversion in portable equipment", Power Systems


Design Europe, Power Control Intelligent Motion, 2006, pp. 16-20.

17.

T. Letavic; J. Petruzzello; J. Claes; P. Eggenkamp; E. Wal; A. Phillips, "650 V SOI LIGBT for
Switch Mode Power Supply Apllication", Proceedings of the IEEE International Symposium on
Power Semiconductor Devices & IC's, 4-8 June 2006, Naples, Italy, pp. 1-4.

18.

M. Goksu; I. Alan, "250 W Flyback SMPS Design for Big Size CTV", IEEE Transactions on
Consumer Electronics, November 2003, vol. 49, n 4, p. 911-916.

19.

S. Ratanapanachote; S. Cha; N. Enjeti, "A Digitally Controlled Switch Mode Power Supply Based
on Matrix Converter", IEEE Transactions on Power Electronics, January 2006, vol. 21, n 1, pp.
124-130.

20.

W. Xiaoyu; L. Jinjun; L. Guan; X. Guochun; X. Feng; W. Zhaoan, "A Practical Control Scheme
for Series Controller to Enhance the Quality of Power Supplied to a Mobile phone Telecom

pg ____________________________________________________________ 222

Referncias
Station", Proceedings of the IEEE 36th Power Electronics Specialist Conference, 12-16 June 2005,
Recife, Brazil, pp. 982-986.
21.

J. Knight; S. Shirsavar; W. Holderbaum, "An Improved Reliability Ck Based Solar Inverter with
Sliding Mode Control", IEEE Transactions on Power Electronics, July 2006, vol. 21, n 4, p.
1107-1115.

22.

S. Rollier, "Optimising Modern Solar Installations, the Inverter Uses the Current Transducers",
Bodo's Power Systems, Systems Design Motion and Conversion, pp. 26-27.

23.

O. Martander, "DC Grids for Wind Farms", Thesis of Licentiate of Engineering, 2002, Chalmers
University of Technology, Gothenburg, Sweden.

24.

W. Berns, "Automotive Buck Regulator with Enhanced Load Range, suport today's stand-by
operation needs", Power Systems Design Europe, Power Control Intelligent Motion, 2006, p. 1417.

25.

T. Hendrix, "Industrial and Medical Markets Demand High Efficieny, too!", Bodo's Power
Systems, Systems Design Motion and Conversion, 2007, pp. 12.

26.

K. Sum, "Switch Mode Power Conversion, Basic Theory and Design", Marcel Dekker, New York,
1984.

27.

K. Wu, "Pulse Width Modulated DC-DC Converters", Chapman & Hall, New York, 1997.

28.

P. Athaley; P. Maksimovic; D. Erikson, "High-Perfomance Front-End Converter for Avionics


Applications", IEEE Transactions on Aerospace and Electronics Systems, April 2003, vol. 39, n
2, pp. 462-470.

29.

F. Calvo, "Control en Modo Deslizante Aplicado a Sistemas Acondicionamento de Potencia de


Satlites", Tesis Doctoral, Universidad Politcnica da Catalua, Junio 2001.

30.

R. Orsagh; D. Brown; P. Kaigren, "Looking Past BIT - Incipient Fault Detection and Prognostics
for Avionics System Power Supplies", Proceedings of the 2005 IEEE Autotestcon, 26-29
September 2005, Orlando, Florida, USA, pp. 840-846.

31.

N. Trehan, "Impact of Failure of Uninterruptible Power Supplies on Nuclear Power Generation


Stations", Proceedings of the 35th Intersociety Energy Conversion Engineering Conference and
Exhibit, 24-28 July 2000, vol. 2, Las Vegas, USA, pp. 741-746.

32.

W. Johnson, "Power Supply Maintenance and Application Guide", Technical Report 1003096,
Electrical Power Research Institute: Palo Alto, California, USA, December 2001.

33.

T. Armstrong, "Lighting up Automotive Instrument Panels, wide range of features requested from
switching regulators", Power Systems Design Europe, Power Control Intelligent Motion,
September 2004, p. 47-48.

pg ____________________________________________________________ 223

Referncias
34.

"The Electrical Car, What Does the Future Hold?", Switching Power Magazine, 2005, vol. 6, n 1,
pp. 8-25.

35.

D. Tran; M. Cummins, "Development of the Jeep Commander 2 Fuel Cell Hybrid Electric
Vehicle", Proceedings of the Future Transportation Technology Conference, 20-22 August 2001,
Costamesa, California, USA.

36.

J. Endrenyi; S. Aboresheid; R. Allan; G. Anders; S. Asgarpoor; R. Billinton; N. Chowdhury; E.


Dialynas; M. Fipper; R. Fletcher; C. Grigg; J. McCalley; S. Meliopoulos; T. Mielnik; P. Nitu; N.
Rau; N. Reppen; L. Salvaderi; A. Schneider; C. Singh, "The Present Status of Maintenance
Strategies and Impact of Maintenance on Reliability", IEEE Transactions on Power Systems,
November 2001, vol. 16, n 4, p. 638-646.

37.

A. Cardoso, "Diagnstico de Avarias em Motores de Induo Trifsicos", Coimbra Editora,


Coimbra, Portugal, 1991.

38.

P. Venet, "Surveillance D'Alimentations a Decoupage. Application a la Maitenance Predictive",


These Doctorat, L'Universite Claude Bernard, Lyon, France, 1993.

39.

P. Venet; A. Lahyani; P. Viverge; G. Grellet, "Use of the Output Voltage of a Switching Power
Supply to Predict Failure of Filtering Electrolytic Capacitors", Proceedings of the 7th European
Conference on Power Electronics and Applications, 8-10 September 1997, Trondhein, Norway,
pp. 2978-2982.

40.

D. Bennett, "Off-line SMPS Failure Modes PWM Switchers and DC-DC Converters", in
Application Report SLVA085, March 2000, Texas Instruments, p. 1-6.

41.

S. Goldwasser, "Notes on the Troubleshooting and Repair of Small Switchmode Power Supplies";
disponvel em: http://www.repairfaq.org/sam/smpsfaq.htm #smpsmcp; acedido em: Maio 2009.

42.

G. Chryssis, "High-Frequency Switching Power Supplies: Theory and Design", McGraw-Hill,


New York, 1984.

43.

P. Venet; H. Darnand; G. Grellet, "Detection of Faults of Filter Capacitors in a Converter:


Application to Predict Maintenance", Proceedings of the 15th International Telecommunications
Energy Conference, 27-30 September 1993, Paris, France, pp. 229-234.

44.

F. Perisse; P. Venet; G. Rojat, "Reliability Determination of Aluminum Electrolytic Capacitors by


the Mean of Various Methods. Application to the Protection Systems of the LHC",
Microelectronics Reliability Journal, Elsevier, n 4, pp. 1757-1762.

45.

K. Harada; A. Katsuki; M. Fujiwara, "Use of ESR for Deterioration Diagnosis of Electrolytic


Capacitor", IEEE Transactions on Power Electronics, October 1993, vol. 8, n 4, pp. 355-360.

pg ____________________________________________________________ 224

Referncias
46.

W. Sarjeant, "Capacitor", IEEE Transactions on Electrical Insulation, October 1990, vol. 25, n 5,
p. 861-922.

47.

B. Grob, "Basic electronics", Glencoe/McGraw-Hill, New York, 1997.

48.

"Aluminum Electrolytic Capacitors - Technical Report, structure, characteristics and failures",


Hitachi, AIC, pp. 1-8; disponvel em: http://www.hitachiaic.com; acedido em: Maio de 2009.

49.

J. Kaiser, "Capacitors - Various Dielectrics and their Applications", Proceedings of 33th Annual
Meeting of the IEEE Industry Applications Society, 12-15 October 1998, vol. 2, St. Louis,
Missouri, USA, pp. 1155-1161.

50.

W. Sarjeant; T. Staffiere,. "A Report on Capacitors", Proceedings of the Applied Power


Electronics Conference and Exposition (APEC96), 3-7 March 1996, San Jose, CA, USA, vol. 1,
pp. 12-17.

51.

"Aluminum Electrolytic Capacitors - General Technical Information", Epcos, November 2008;


disponvel em: http://www.epcos.com; acedio em: Maio de 2009.

52.

D. Fodor; O. Klug; I. Blint; A. Horvath; A. Riz, "Electrolyte Measurements Automation for


Capacitor Research and Development", Proceedings of the 12th Power Electronics and Motion
Control Conference, 30 August-1 September 2006, Portoroz, Slovenia, pp. 1277-1282.

53.

W. Sarjeant; J. Zirnheld; F. MacDougall, "Capacitors", IEEE Transactions on Plasma Science,


October 1998, vol. 26, n 5, p. 1368-1392.

54.

M. Bramoulle, "Electrolytic or Film Capacitors?", Proceedings of the 33th Annual Meeting of the
IEEE Industry Applications Society, 12-15 October 1998, vol. 2, St. Louis, Missouri, USA, pp.
1138-1141.

55.

"Electrolytic

Capacitors

Application

Guide",

Evox

Rifa,

pp.

3-12;

disponvel

em:

http://www.evox-rifa.com; acedido em: Maio de 2009.


56.

R. Alwitt, " Charge/Discharge Characteristics of Prototype Aluminum Electrolytic Capacitors",


Proceedings of the IEEE Industry Application Society Annual Metting, 5-9 October 1997, New
Orleans, Louisiana, pp. 1092-1096.

57.

"Tantalum Capacitors", Vishay, Document number: 40035, 14 June 2005; disponvel em:
http://www.vishay.com; acedido em: Maio de 2009.

58.

R. Poole, "Aluminum Electrolytic Capacitors - An Alternative to Tantalum Electrolytic


Capacitors?", IEEE Transactions on Consumer Electronics, August 1981, vol. CE-27, n 3, pp.
424-432.

59.

"Tantalum Solid Electrolytic Capacitor", Matsuo Electric co, Document number: P-251-006, June
2006; disponvel em: http://www.ncc-matsu.co.jp; acedido em: Maio de 2009.

pg ____________________________________________________________ 225

Referncias
60.

T. Zednicek; S. Diblik, "New Technologies on Tantalum and Niobium Oxide Capacitors for
Space-limited Designs", Proceedings of the Electronics Systemintegration Technology
Conference, September 2006, Dresden, Germany, vol. 2, pp. 805-811.

61.

"Aluminum Electrolytic Capacitors", Application Guide, Cornell Dubilier, April 2006; disponvel
em: http://www.cde.com; acedido em: Maio de 2009.

62.

J. Prymak, "Improvements with Polymer Cathodes in Aluminum and Tantalum Capacitors",


Proceedings of the 16th Applied Power Electronics Conference and Exposition, 4-8 March 2001,
Anaheim, US, vol. 2, pp. 1210-1218.

63.

"Film

Capacitors

for

Industrial

Applications",

Epcos,

2007;

disponvel

em:

http://www.epcos.com; acedido em: Maio de 2009.


64.

"Power Factor Correction - Power Quality Solutions", Epcos, 2009; disponvel em:
http://www.epcos.com; acedido em: Maio de 2009.

65.

Y. Pee; M. Kong, "Numerical Established Correlation in Electrical Response of Polymer Film


Capacitors to AC and Pulsed Voltages", IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical
Insulation, December 2001, vol. 8, n 6, pp. 880-888.

66.

"Film Capacitors for Lighting Applications", Epcos, 2002; disponvel em: http://www.epcos.com;
acedido em: Maio de 2009.

67.

"Lighting Applications - film Capacitors", Vishay; disponvel em: http://www.vishay.com;


acedido em: Maio de 2009.

68.

R. Anderson, "Select the Right Plastic Film Capacitor for Your Power Electronics Applications",
Proceedings of the 31th Industry Application Annual Meeting, October 1996, vol. 3, San Diego,
USA, pp. 1327-1330.

69.

"Metallized Polyester Film Capacitor", Document number: IEC 60384-2, Vishay; disponvel em:
http://www.vishay.com; acedido em: Maio de 2009.

70.

J. Bentley; M. Hudis; R. Kerrigan; F. MacDougall, "High Frequency Perfomance and Packaging


of Power Film Capacitors", Proceedings of the 30th Industry Application Annual Meeting, 8-12
October 1995, Orlando, USA, pp. 2521-2528.

71.

H. Matsui; T. Fujiwara; K. Fujiwara, "Metalized Film Capacitors with High Energy Density for
Rail Vehicles", Proceedings of the 32th Industry Application Annual Meeting, 5-9 October 1997,
New Orleans, USA, vol. 2, pp. 1079-1091.

72.

G. Buatti; S. Cruz; A. Cardoso, "Lifetime of Film Capacitors in Single-Phase Regenerative


Induction Motor Drives, Proceedings of the IEEE International Symposium on Diagnostic for

pg ____________________________________________________________ 226

Referncias
Electric Machines, Power Electronics and Drives, 6-8 September 2007, Cracow, Poland, pp. 356362.
73.

L. Sheng; H. Kouns; J. Bond, "A Low-inductance DC Bus Capacitor for High Power Traction
Motor Drive Inverters", Proceedings of the 37th Industry Application Annual Meeting, 13-18
October 2002, vol. 2, pp. 955-962.

74.

H. Wen; X. Wen; J. Liu; X. Guo; F. Zhao, "A Low-Inductance High-Frequency Film Capacitor for
Electrical Vehicles", Proceedings of the International Conference on Electrical Machines and
Systems, 8-11 October 2007, Seoul, Korea, pp. 2046-2050.

75.

F. Shinjo; K. Wada; T. Shimizu, "A Simple-Phase Grid-Connected Inverter with Power


Decoupling Function", Proceedings of the IEEE Power Electronics Specialist Conference, 12-17
June 2007, Orlando, USA, pp. 1245-1249.

76.

T. Shimizu; K. Wada; N. Nakamura, "Flyback-Type Single-Phase Utility Interactive Inverter with


Power Pulsation Decoupling on DC Input for an AC Photovoltaic Module System", IEEE
Transactions on Power Electronics, September 2006, vol. 21, n 5, pp. 1264-1272.

77.

H. Yoo; S. Seung; H. Jang; Y. Hong, "Design of a Variable Speed Compressor Drive System for
Air-Conditioner without Electrolytic Capacitor", Proceedings of the 42th Industry Application
Annual Meeting, 23-27 September 2007, New Orleans, LA, USA, pp. 305-310.

78.

L. Dai; F. Lin; Z. Zhu; J. Li, "Electrical Characteristics of High Energy Density Multilayer
Ceramic Capacitor for Pulse Power Application", IEEE Transactions on Magnetics, January 2005,
vol. 41, n 1, pp. 281-284.

79.

"Components - Technical Descriptions and Characteristics for Students", Siemens, pp. 521-524.

80.

O. Dejean; T. Lebey; V. Bley, "An Experimental Characterization of Nonlinear Ceramic


Capacitors for Small and Large Signals", IEEE Transactions on Components and Packaging
Technologies, December 2000, vol. 23, n 4, pp. 627-632.

81.

J. Kim; S. Shin; D. Ryo; S. Chang, "Reliability Evaluation and Failure Analysis for High Voltage
Ceramic Capacitor", Proceedings of the International Advances in Electronic Material and
Packaging conference, 19-22 November 2001, Jeju Island, South Korea, pp. 286-295.

82.

M. Tsai; Y. Lu; J. Do, "High-performance electrolyte in the presence of dextrose and its
derivatives for aluminum electrolytic capacitors", Journal of Power Sources, October 2002, n
112, p. 643-648.

83.

G. Takano; M. Shimizu; K. Nakaaki; M. Weaver; M. Kudo, "Stacked Foil Type Large-Sized


Aluminum Electrolytic Capacitors", Proceedings of the 39th Industry Application Annual Meeting,
3-7 October 2004, vol. 4, pp. 2555-2559.

pg ____________________________________________________________ 227

Referncias
84.

T. Efford; Y. Shibata; A. Kanezaki, "Development of Aluminum Electrolytic Capacitors for EV


Inverter Applications", Proceedings of the 32th Industry Application Annual Meeting, 5-9 October
1997, New Orleans, USA, vol. 2, pp. 1035-1041.

85.

N. Will; E. Fisher, "New Electrolytic Capacitors with Low Inductance Simplify Inverter",
Proceedings of the 35th Industry Application Annual Metting, 8-12 October 2000, Rome, Italy, vol.
5, pp. 3059-3062.

86.

J. Stevens; J. Sauer; J. Shaffer, "Further Improving Heat Dissipation from Large Aluminum
Electrolytic Capacitors", Proceedings of 33th Industry Application Annual Meeting, 12-15 October
1998, St. Louis, USA. vol. 2, pp. 1125-1128.

87.

J. Stevens; J. Shaffer; T. Vandenham, "The Service Life of Large Aluminum Electrolytic


Capacitor: Effects of Construction and Application", IEEE Transactions on Industry Applications,
September/October 2002, vol. 38, n 5, pp. 1441-1446.

88.

S. Parler, "Improved Spice Models of Aluminum Electrolytic Capacitors for Inverter


Applications", IEEE Transactions on Industry Applications, July/August 2003, vol. 39, n 4, pp.
929-935.

89.

"Aluminum Electrolytic Capacitors", Nippon Chemi-con, Document number: E1001H (ver.2);


disponvel em: http://www.chemi-con.co.jp; acedido em: Maio de 2009.

90.

V. Sankaran; F. Rees; C. Avant, "Electrolytic Capacitor Life Testing and Prediction", Proceedings
of the 32th Industry Application Annual Meeting, 5-9 October 1997, New Orleans, USA, pp. 10581065.

91.

"Technical Notes for Electrolytic Capacitor Manufacture of aluminum electrolytic capacitor",


Rubycon Corporation; disponvel em: http://www.rubycon.jp; acedido em: Maio de 2009.

92.

"Aluminum Capacitors", Document Number: 28356, Vishay, March 2007; disponvel em:
http://www.vishay.com; acedido em: Maio de 2009.

93.

G. Primavesi, "Aluminum Electrolytic Capacitors", Proceedings of the IEE Half-Day Colloquium


on Power Electronics in Traction, 24 November 1997, London, England.

94.

"Application notes - Aluminum Electrolytic Capacitors", November 2002, BHC Components;


disponvel em: http://www.bhc.co.uk; acedido em: Maio de 2009.

95.

M. Gaspari, "Life Prediction Modelling of Bus Capacitors in AC Variable-Frequency Drives",


IEEE Transactions on Industry Applications, November/December 2005, vol. 41, n 6, pp. 14301435.

pg ____________________________________________________________ 228

Referncias
96.

A. Zanobini; G. Iuculano; A. Falciani, "Automatic-Test Equipment for the Characterization of


Aluminum Electrolytic Capacitors", IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement,
April 2006, vol. 55, n 2, pp. 682-688.

97.

W. Greason; J. Critchley, "Shelf-Life Evaluation of Aluminum Electrolytic Capacitors", IEEE


Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology, September 1986, vol.
CHMT-9, n 3, pp. 293-299.

98.

E. Aeloza; J. Kim; P. Ruminot; P. Enjeti, "A Real Time Method to Estimate Electrolytic
Capacitor Condition in PWM Adjustable Speed Drives and Uninterruptible Power Supplies",
Proceedings of the IEEE 36th Power Electronics Specialist Conference, June 2005, Recife, Brazil,
pp. 2867-2872.

99.

" Technical Guide of Aluminum Electrolytic Capacitor", Panasonic - Matsushita Electronic


Components

Capacitor

division,

Document

number:

TGAr-7;

disponvel

em:

http://www.industrial.panasonic.com; acedido em: Maio de 2009.


100.

S. Alwitt; G. Hills, "The Chemistry of Failure of Aluminum Electrolytic Capacitors", IEEE


Transactions on Parts Materials and Packaging, September 1965, vol. PMP-1, n 2, pp. 28-34.

101.

"Life-Limiting Factors in Electrolytic Capacitors (and how to improve them)", Evox Rifa Passive
Components, 2001,

102.

W. Filho, "Transmisso de Calor", T. Learning, So Paulo, Brasil.

103.

O. Klug e O. Bellavia, "High Voltage Aluminum Electrolytic Capacitors: where is the limit? ",
Evox Rifa, 2001; disponvel em: http://www.evox-rifa.com; acedido em: Maio de 2009.

104.

E. David; D. Funk, "Instrument power supply tech notes", Technical Report 107044, Electric
Research Institute: Pala Alto, California, USA, 1996.

105.

W. Barclay; C. Voss, "A New High-Speed Method of Testing Capacitors", IEEE Transactions on
Instrumentation and Measurement, June 1964, vol. 13, n 2, pp. 65-71.

106.

O. Petersons; E. Anderson, "A Wide-Range High-Voltage Capacitance Bridge with One PPM
Accuracy", IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, December 1975, vol. 24, n
4, pp. 336-344.

107.

W. Ahmad, "A New Simple Technique for Capacitance Measurement", IEEE Transactions on
Instrumentation and Measurement, December 1986, vol. 35: pp. 640-642.

108.

S. Awad, "Capacitance Measurement Based on an Operational Amplifier Circuit: Error


Determination and Reduction", IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement,
September 1988, vol. 37, n 3, pp. 379-382.

pg ____________________________________________________________ 229

Referncias
109.

S. Mahmud; A. Rusek, "A Microprocessor-Based Switched-Battery Capacitance Meter", IEEE


Transactions on Instrumentation and Measurement, June 1988, vol. 37, n 2, pp. 191-194.

110.

M. Ansari; M. Ahmed, "A Novel Direct Reading Active-RC System for Measurements of InCircuit, Discrete, and Incremental Capacitances", IEEE Transactions on Instrumentation and
Measurement, August 1989, vol. 38, n 4, pp. 922-925.

111.

S. Natarajan, "Measurement of Capacitances and their Loss Factors", IEEE Transactions on


Instrumentation and Measurement, December 1989, vol. 38, n 6, pp. 1083-1087.

112.

M. Rizkalla; H. Gundrum; T. Kara, "A Microprocessor-Based Dynamic Inductance/Capacitance


Meter", Proceedings of the 35th Midwest Symposium on Circuits and Systems, 9-12 August 1992,
Washington, DC, USA, vol. 1, pp. 140-143.

113.

Y. Li; D. Figueroa; J. Rodriguez; L. Huang; J. Liao; M. Taniguchi; J. Canner and T. Kondo, "A
New Technique for High Frequency Characterization of Capacitors", Proceedings of the 48th IEEE
Electronic Components and Technology Conference, 25-27 May 1998, Seattle, WA, USA, pp.
1384-1390.

114.

V. Kumar; P. Sankaran; K. Rao, "Measurement of C and Tang of a capacitor Employing PSDs


and Dual-Slope DVMs", IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, October 2003,
vol. 52, n 5, pp. 1588-1592.

115.

A. Amaral, "Diagnstico de Avarias em Conversores DC-DC", Tese de Mestrado, Departamento


de Engenharia Electrotcnica e de Computadores da Faculdade de Cincias e Tecnologia da
Universidade de Coimbra, Maro 2005, Coimbra, Portugal.

116.

W. Lei; T. Man, "A General Approach for Optimizing Dynamic Response for a Buck Converter",
Application Note, ON Semiconductor, Abril 2004, Document number: AND8143/D; disponvel
em: http://www.onsemi.com; acedido em: Maio 2009.

117.

B. Gu; K. Nam, "A DC-link Capacitor Minimization Method Through Direct Capacitor Current
Control", IEEE Transactions on Industry Applications, March-April 2006, vol. 42, n 2, pp. 573581.

118.

A. Amaral; A. Cardoso, "ESR Influence, Under Steady-State Operating Conditions, in Buck-Boost


Switch Mode Power Supplies", Proceedings of the International Aegean Conference on Electrical
Machines and Power Electronics, 26-28 May 2004, Istanbul, Turkey, vol. 1, pp. 117-122.

119.

A. Amaral; A. Cardoso, "The Consequences of Aging of Electrolytic Capacitors, Used in DC-DC


Converters, Under Steady-State Operating Conditons" Proceedings of the 11th International Power
Electronics and Motion Control Conference, 2-4 September 2004, Riga, Latvia, CD-ROM.

pg ____________________________________________________________ 230

Referncias
120.

A. Amaral; A. Cardoso, "Using a CLC Low-Pass Filter to Reduce the Consequences of Aging in
Steady-State Regime of DC-DC Converters", Proceedings of the European Conference on Power
Electronics and Applications, 11-14 September 2005, Dresden, Germany, CD-ROM.

121.

K. Harada; A. Katsuki, "Deterioration Diagnosis of Electrolytic Capacitor in a Buck-Boost


Converter", Proceedings of the 19th IEEE Power Electronics Specialist Conference, 11-14 April
1988, Kyoto, Japan, vol. 2, pp. 1101-1104.

122.

A. Lahyani; P.Venet; G. Grellet; P. Viverge, "Failure Prediction of Electrolytic Capacitors During


Operation of a Switchmode Power Supply", IEEE Transactions on Power Electronics, November
1998, vol. 13, n 6, pp. 1199-1207.

123.

P. Venet; A. Lahyani; G. Grellet; A. Jaco, "Influence of aging on electrolytic capacitors function in


static converters: Fault prediction method", The European Physical Journal Applied Physics,
1999, n 5, pp. 71-83.

124.

H. Ma; L. Wang, "Fault Diagnosis and Failure Prediction of Aluminum Electrolytic Capacitors in
Power Electronic Converters", Proceedings of the 31st Annual Conference of IEEE Industrial
Electronics Society, November 2005, Raleigh, North Carolina, USA. p. pp. 842-847.

125.

A. Amaral; A. Cardoso, "An ESR Meter for High Frequencies", Proceedings of the IEEE
International Conference on Power Electronics and Drives Systems, 28 November 1 December
2005, Kuala Lumpur, Malaysia, vol. 1, pp. 1628-1633.

126.

A. Amaral; A. Cardoso, "An Experimental Technique for Estimating the Aluminum Electrolytic
Capacitor Equivalent Circuit, at High Frequencies", Proceedings of the IEEE International
Conference on Industrial Technology, 14-17 December 2005, Hong-Kong, China, pp. 86-91.

127.

A. Amaral; A. Cardoso, "An Experimental Technique for Estimating the ESR and Reactance
Instrinsic Value of Aluminium Electrolytic Capacitors", Proceedings of the IEEE Instrumentation
and Measurement Technology Conference, 24-27 April 2006, Sorrento, Italy, pp. 1820-1825.

128.

A. Amaral; A. Cardoso, "An Economic off-line Technique for Estimating the Equivalent Circuit of
Aluminum Electrolytic Capacitors", IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement,
December 2008, vol. 57, n 12, p. 2697-2710.

129.

A. Amaral; G. Buatti; H. Ribeiro; A. Cardoso, "Using DFT to Obtain the Equivalent Circuit of
Aluminum Electrolytic Capacitors", Proceedings of the 7th International Conference on Power
Electronics and Drive Systems, 27-30 November 2007, Bangkok, Thailand, pp. 434-438.

130.

A. Amaral; A. Cardoso, "Using Newton-Raphson Method to Estimate the Condition of Aluminum


Electrolytic Capacitors", Proceedings of the IEEE International Symposium on Industrial
Electronics, 4-7 June 2007, Vigo, Spain, pp. 827-832.

pg ____________________________________________________________ 231

Referncias
131.

A. Amaral; A. Cardoso, "An Automatic Technique to Obtain the Equivalent Circuit of Aluminum
Electrolitic capacitors", Proceedings of the 34th Annual Conference of IEEE Industrial Electronics
Society, 10-13 November 2008, Orlando, Florida, pp. 539-544.

132.

C. Boon, "Switch Mode Multilevel (Class D) Power Amplifier", Thesis of Bachelor, Department
of Information Technology and Electrical Engineering, University of Queensland, Brisbane,
Queensland, Australia, 2001.

133.

"Kit 47, 6-10 Wat Monophonic Power Amplifier", kitsrus.com; disponvel em: http://kitsrus.com;
acedido em: Maio 2009.

134.

A. Amaral; A. Cardoso, "Using a Sinusoidal PWM to Estimate the ESR of Aluminum Electrolytic
Capacitors", Proceedings of the 2nd International Conference on Power Engineering, Energy and
Electrical Drives, 18-20 March 2009, Costa da Caparica, Lisboa, Portugal, pp. 691-696.

135.

A. Amaral; A. Cardoso, "A Switch Mode Power Supply Simulation Technique Based in Laplace
Transform", Proceedings of the 29th International Telecommunications Energy Conference, 30
September 4 October 2007, Rome, Italy, pp. 891-898.

136.

D. Montgomery; G. Runger; N. Hubele, "Engineering Statistics", John Wiley & Sons, New York,
USA, 1998.

137.

A. Amaral; A. Cardoso, "Using a Simple Charge-Discharge Circuit to Estimate Capacitors


Equivalent Circuit at Their Operating Conditions", Proceedings of the IEEE 2009 Instrumentation
and Measurement Technology Conference, 5-7 May 2009, Singapore, Singapore, pp. 737-742.

138.

M. Cunningham, "Instruments Sciency and Technology", Adam Hilger Ltd, Teddington, U.K.,
1982.

139.

A. Wheeler; R. Ganji; "Introduction to Engineering Experimentation", Prentice Hall, New Jersey,


1996.

140.

P. Venet; F. Perisse; H. Husseini; G. Rojat, "Realization of a Smart Electrolytic Capacitor Circuit",


IEEE Industry Applications Magazine, January-February 2002, vol. 8, n 1, pp.16-20.

141.

"Aluminum Electrolytic Capacitors", Application note, E.CAP.N1, Lelon 2008/2009; disponvel


em: http://www.lelon.com.tw; acedido em: Maio de 2009.

142

A. Amaral; A. Cardoso, "A Simple Offline Technique for Evaluating the Condition of AluminumElectrolytic-Capacitors", IEEE Transactions on Industrial Electronics, August 2009, vol. 56, n 8,
pp. 3230-3237.

143.

H. Lo; K. Wong; A. Rad, "Intelligent System for process Supervision and Fault Diagnosis in
Dynamic Physical Systems", IEEE Transactions on Industrial Electronics, April 2006, vol. 53, n
2, pp. 581-592.

pg ____________________________________________________________ 232

Referncias
144.

A. Mendes, A. Cardoso, Fault-Tolerant Operating Strategies Applied to Three-Phase InductionMotor Drives, IEEE Transactions on Industrial Electronics, December 2006, vol. 53, n 6, pp.
1807-1817.

145.

O. Ondel; E. Boutleux; P. Venet, A Decision System for Electrolytic Capacitors Diagnosis"


Proceedings of the IEEE 35th Power Electronics Specialist Conference, 20-25 June 2004, Aachen,
Germany, vol. 6, pp. 4360-4364.

146.

K. Abdennadher; P. Venet; G. Rojat; J. Retif; C. Rosset, "A Real Time Predictive Maintenance
System of Aluminum Electrolytic Capacitors used in Uninterrupted Power Supplies", Proceedings
of the IEEE Industry Applications Annual Metting, 5-9 October 2008, Edmonton, Alberta, Canada,
pp. 1-6.

147.

Y. Chen; H. Wu; M. Chou; K. Lee, "Online Failure Prediction of the Electrolytic Capacitor for LC
Filter of Switching-Mode Power Converter", IEEE Transactions on Industrial Electronics, January
2008, vol. 53, n 1, pp. 400-406.

148.

Y. Chen; M. Chou; H.Wu, "Electrolytic Capacitor Failure Prediction of LC Filter for SwitchingMode Power Converters", Proceedings of the IEEE Industry Application Annual Meeting, 2-6
October 2005, Hong-Kong, China, vol. 2, pp. 1464-1469.

149.

A. Iman; T. Habetler; R. Harley; D. Divan, "Failure Prediction of Electrolytic Capacitor Using


DSP Methods", Proceedings of the Applied Power Electronics Conference and Exposition, 6-10
March 2005, Austin, Texas, USA, vol. 2, pp. 965-970.

150.

A. Iman; T. Habetler; R. Harley; D. Divan, "Condition Monitoring of Electrolytic Capacitor in


Power Electronic Circuits using Adaptive Filter Modeling", Proceedings of the IEEE 36th Power
Electronics Specialist Conference, June 2005, Recife, Brazil, pp. 601-607.

151.

A. Iman; T. Habetler; R. Harley and D. Divan, "LMS based Condition Monitoring of Electrolytic
Capacitor", Proceedings of the 31st IEEE Annual Conference of Industrial Electronics Society,
November 2005, Raleigh, North Carolina, USA, pp. 848-853.

152.

A. Iman; T. Habetler; R. Harley; D. Divan, "Real-Time Condition Monitoring of the Electrolytic


Capacitors for Power Electronics Applications", Proceedings of the IEEE 22nd Applied Power
Electronics Conference, 25 February 1 March 2007, Anaheim, California, USA, pp. 1057-1061.

153.

M. Gaspari, "Life Prediction Model for Aluminum Electrolytic Capacitors", Proceedings of the
31st IEEE Industry Application Annual Meeting, 6-10 October 1996, San Diego, CA, USA, vol. 3,
pp. 1347-1351.

154.

K. Maddula; J. Balda, "Lifetime of Electrolytic Capacitors in Regenerative Induction Motor


Drives", Proceedings of the IEEE 36th Power Electronics Specialist Conference, June 2005,
Recife, Brasil, pp. 153-159.

pg ____________________________________________________________ 233

Referncias
155.

K. Lee; M. Kim; J. Yoon; S. Lee; J. Yoo, "Condition Monitoring of DC Link Electrolytic


Capacitors in Adjustable Speed Drives", Proceedings of the 42nd IEEE Industry Applications
Annual Meeting, 23-27 September 2007, New Orleans, LA, USA, pp. 237-243.

156.

A. Khalil; A. Lee, "DC-Link Capacitance Estimation in AC/DC/AC PWM Converters Using


Voltage Injection", IEEE Transactions on Industry Applications, September/October 2008, vol.
44, n 5, pp. 1631-1637.

157.

M. Gaspari, "A Method for Predicting the Expected Life of Bus Capacitors", Proceedings of the
IEEE Industry Applications Society Annual Meeting, 5-9 October 1997, New Orleans, Louisiana,
USA, vol. 2, pp. 1042-1047.

158.

S. Cruz, M. Ferreira, A. Cardoso, "Diagnosis of open-circuit faults in matrix converters",


Proceedings of the 13th European Conference on Power Electronics and Applications, 8-10
September 2009, Barcelona, Spain, pp. 1-11.

159.

"Reliability prediction of electronic equipment", Military Handbook 217 F, 1995.

160.

W. Sarjeant; W. Clelland; A. Price, "Capacitive Components for Power Electronics", Proceedings


of the IEEE, June 2001, vol. 89, n 6, pp. 846-855.

161.

A. Amaral; A.Cardoso, "Diagnstico de Avarias em Conversores DC/DC", Actas do 6 Encontro


Nacional do Colgio de Engenharia Electrotcnica, 28-29 Maio 2003, Lisboa, Portugal, pp. 145152.

162.

A. Amaral; A. Cardoso, "Diagnstico de Avarias em Fontes de Alimentao Comutadas",


Proceedings of the 4th Conference on Telecommunications, 18-20 Junho 2003, Aveiro, Portugal,
pp. 395-398.

163.

A. Amaral; A. Cardoso, "Fault Diagnosis on Switch-Mode Power Supplies Operating in


Discontinuous Mode", Proceedings of the Second IEE International Conference on Power
Electronics Machines and Drives, 31 March 2 April 2004, Edinburgh, Scotland, UK, vol. 1,
pp.197-202.

164.

A. Amaral; A. Cardoso, "Use of ESR to Predict Failure of Output Filtering Capacitors in Boost
Converters", Proceedings of the IEEE Industrial Electronics Symposium, 4-7 May 2004, Ajaccio,
France, pp. 1309-1314.

165.

A. Amaral; A. Cardoso, "Using Output Voltage and Current to Predict Failures in Switch Mode
Power Supplies Operating in Discontinuous Mode", Proceedings of the 25th International PCIM
Conference for Power Electronics, Intelligent Motion and Power Quality, 25-27 May 2004,
Nuremberg, Germany, pp. 563-568.

pg ____________________________________________________________ 234

Referncias
166.

T. Wlesinger; H. Ertl, "A Novel Real Time Monitoring Unit for PWM Converter Electrolytic
Capacitors", Proceedings of the IEEE Power Electronics Specialist Conference, 15-19 June 2008,
Rhodes, Greece, pp. 523-528.

167.

H. Ma; X. Mao; N. Zhang; D. Xu, "Parameter Identification of Power Electronic Circuits based on
Hybrid Model", Proceedings of the IEEE 36th Power Electronics Specialist Conference, June
2005, Recife, Brazil, pp. 2855-2860.

168.

P. Krein, "Elements of Power Electronics", Oxford University Press, New York, 1998.

169.

A. Amaral; A. Cardoso, "Fault Simulation Technique for Switch Mode Power Supplies",
Proceedings of the International Aegean Conference on Electric Machines, Power Electronics and
Electromotion, 10-12 September 2007, Bodrum, Turkey, pp. 659-664.

170.

A. Amaral; A. Cardoso, "Using Hybrid Systems Theory to Simulate to Behaviour of Step-Down


DC-DC Converters", Acta Electrotechnica et Informatica, December 2009, vol. 9, n 4, pp. 37-41.

171.

A. Amaral; A. Cardoso, "Theoretical Analysis of the Behaviour of a Buck Converter in Steady


State Regime", Proceedings of the 20th International Congress & Exhibition on Condition
Monitoring and Diagnostic Engineering Management, 13-15 June 2007, Faro, Portugal.

172.

V. Lakshminarayanan, "Failure Analysis Techniques for Semiconductors and other devices", RF


semiconductors, February 2001; disponvel em: http://www.rfdesign.com; acedido em: Maio de
2009.

173.

A. Amaral; A. Cardoso, "Using Spectral Analysis to Determine the Equivalent Circuit of the
Output Filter of DC-DC Converters at Their Operating Frequency", Proceedings of the
International Aegean Conference on Electric Machines, Power Electronics and Electromotion, 1012 September 2007, Bodrum, Turkey, pp. 671-675.

174.

G. Buatti; A. Amaral; A. Cardoso, "ESR Estimation Method for DC/DC Converters Through
Simplified Regression Models", Proceedings of the 42nd IEEE Industry Applications Annual
Meeting, 23-27 September 2007, New Orleans, Luisiana, USA, pp. 2289-2294.

175.

G. Buatti; A. Amaral; A. Cardoso, "Parameter Estimation of DC/DC Buck Converter Using


Continuous Time Model", Proceedings of the 12th European Conference on Power Electronics
and Applications,2-5 September 2007, Aalborg, Denmark, pp. 1-8.

176.

A. Amaral; A. Cardoso, "A Non-Invasive Technique for Fault Diagnosis of SMPS", Proceedings
of the 39th Power Electronics Specialist Conference, 15-19 June 2008, Rhodes, Greece, pp. 20972102.

177

A. Fernandez; J. Sebastian; M. Hernando; J. Ramos, J. Corral, "Multiple Output AC/DC Converter


with an Internal DC UPS", IEEE Transactions on Industrial Electronics, February 2006, vol. 53,
n 1, pp. 296-304.

pg ____________________________________________________________ 235

Referncias
178.

"ATX12V Power Supply Design Guide (version 2.2)", Intel Corporation, March 2005; disponvel
em: http://www.formfactors.org; acedido em: Maio de 2009.

179.

"High-Efficiency 305 W ATX Reference Design Documentation Package", Document number:


TND313/D, On Semiconductors, May 2007; disponvel em: http://www.onsemi.com; acedido em:
Maio de 2009.

180.

L. Heiny, "Understanding and Troubleshooting the PC Power Supply", Real World Technologies,
In-Depth Technical Analyses and Help for Professionals, November 2000; disponvel em:
http://www.realworldtech.com; acedido em: Maio de 2009.

181.

D. Dalal, "Boosting Power Supply Efficiency for Desktop Computers", Power Electronics
Technology, February 2005, pp. 14-23.

182

C. Rengang; J. Wyk; S. Wang; W. Odendaal, "Technologies and characteristics of Integrated EMI


Filters for Switch Mode Power Supplies", Proceedings of the 35th Annual Power Electronics
Specialist Conference, 20-25 June 2004, Aachen, Germany, vol. 6, pp. 4873-4880.

183. "Why Switchmode Power Supplies need PFC", Canadian Electronics, February 2008; disponvel em:
http://www.lambdapower.com; acedido em: Maio de 2009.
184.

A. Amaral; A. Cardoso, "State Condition Estimation of Aluminum Electrolytic Capacitors Used


on the Primary Side of ATX Power Supplies", Proceedings of the 35th Annual Conference on the
IEEE Industrial Electronics Society, Porto, Portugal, 3-5 November 2009, pp. 447-452.

pg ____________________________________________________________ 236

Das könnte Ihnen auch gefallen