ESTUDO DE CERMICAS DO SISTEMA TiO2-ZrO2 PARA

APLICAO COMO RESSOADORES DIELTRICOS

EM MICROONDAS

RELATRIO FINAL DE PROJETO DE INICIAO CIENTFICA

(PIBIC/CNPQ/INPE)

Ana Luza Carvalho Barquete (EEL-USP/INPE, Bolsista PIBIC/CNPq)

E-mail: analuiza@las.inpe.br
Dr. Pedro Jos de Castro (LAP/CTE/INPE, Orientador)
E-mail: castro@plasma.inpe.br
Dr. Maria do Carmo de Andrade Nono (LAS/CTE/INPE,
Co-orientadora)
E-mail: maria@las.inpe.br
Dr. Jos Vitor Cndido de Souza (LAS/CTE/INPE, Co-orientador)
E-mail: vitor@las.inpe.br

INPE
So Jos dos Campos
Julho de 2009

"A imaginao mais importante que o conhecimento .

T

O c onhecimento limitado. A imaginao envolve o mundo."

T

Albert Einstein

AGRADECIMENTOS
Agradeo, primeiramente, aos meus pais e minha famlia por todo apoio, carinho,
amor e por sempre acreditarem em mim e na minha capacidade. Agradeo ao CNPq
por ter-me concedido a bolsa de Iniciao Cientfica fazendo com que ampliasse
meus conhecimentos em Cincia e Engenharia de Materiais.
Agradeo aos meus Orientadores Dr. Pedro Jos de Castro, Dra. Maria do Carmo de
Andrade Nono e Dr. Jos Vitor Candido de Souza pela oportunidade concedida a mim
para a realizao deste projeto, alm de transmitirem os conceitos necessrios para a
elaborao deste trabalho.
Agradeo ao LAS/CTE/INPE, LAP/CTE/INPE e AMR/IAE/CTA pela utilizao de suas
instalaes que ajudaram na confeco deste trabalho.
Agradeo tambm aos colegas de laboratrio e amigos pela amizade e
companheirismo e pela ajuda nos momentos em que precisei.

RESUMO
Recentes progressos em telecomunicaes mveis e via-satlite tem
proporcionado uma alta demanda no desenvolvimento de componentes de
microondas. Em particular, a miniaturizao de dispositivos cermicos de microondas
requer alta constante eltrica, baixa perda dieltrica e alta estabilidade de freqncia.
Neste trabalho so relatados, estudados e discutidos o processamento e
caracterizao das cermicas do sistema TiO2-ZrO2. Foram confeccionadas
B

cermicas de TiO2 puro, TiO2-ZrO2 nas respectivas propores de 90-10, 80- 20 e 70B

30 (% em massa), e TiO2-ZrO2-Ta2O5 na proporo de 80-20-20, respectivamente. As

B

cermicas passaram pelo processo de mistura e moagem de ps por 8 horas e em

seguida foram compactadas por prensagem uniaxial (160 MPa) e prensagem
isosttica (300MPa). As amostras foram sinterizadas na temperatura de 1400C,
caracterizadas quanto s suas propriedades fsicas - microestrutura e fases cristalinas
atravs de anlises de Raios X e Microscopia Eletrnica de Varredura e quanto s
suas propriedades dieltricas em microondas (freqncia de ressonncia, constante
dieltrica e fator de qualidade devido s perdas dieltricas). O objetivo principal do
projeto em pauta obter cermicas com propriedades promissoras para o uso em
circuitos de microondas como ressoadores dieltricos na funo de elemento
determinador da freqncia de um oscilador ou filtro. Alm disso, para tal objetivo as
cermicas devem apresentar microestrutura homognea, densidade relativa alta e
fase cristalina definida.

NDICE
Lista de figuras ............................................................................................. 5
Lista de tabelas............................................................................................. 6
Lista de smbolos.......................................................................................... 7
CAPTULO 1- INTRODUO........................................................................ 8
CAPTULO 2- FUNDAMENTAO TERICA............................................. 9
2.1.Ressoadores dieltricos ......................................................................... 9
2.2 Aplicaes dos ressoadores dieltricos.................................................10
CAPTULO 3- MATERIAIS E MTODOS.................................................... 12
3.1. Preparao das amostras .................................................................... 12
3.1.1. Compactao das pastilhas............................................................... 12
3.1.2. Compactao dos corpos cermicos por prensagem isosttica.........13
3.1.3. Sinterizao.........................................................................................13
3.2. Caracterizaes microestruturais das amostras sinterizadas .............. 14
3.2.1. Fases presentes ............................................................................... 14
3.2.2. Microscopia Eletrnica de Varredura ................................................ 14
3.3. Caracterizaes dieltricas em microondas...........................................14
3.3.1. Determinao da constante dieltrica ............................................... 15
3.3.2. Determinao do fator de qualidade ................................................. 16
CAPTULO 4- RESULTADOS E DISCUSSO.............................................18
4.1. Anlise por difrao de raios-X das amostras......................18
4.2. Anlises por microscopia eletrnica varredura (MEV)..........20
4.3. Medio de parmetros dieltricos em microondas...............................23
4.3.1. Propriedades dieltricas......................................................................23
CONCLUSO................................................................................................25

REFERNCIA BIBLIOGRFICA..................................................................26

LISTA DE FIGURAS
Figura 1. Distribuio das linhas dos campos eltricos e magnticos do modo
eletromagntico TE01......................................................................................9
B

Figura 2. Diagrama de fases do sistema TiO2-ZrO2......................................11

B

Figura 3. Amostras de RDs sinterizadas 1400C.........................................13

Figura 4. Caixa de teste com as amostras para as medies em microondas
das caractersticas dieltricas........................................................................15
Figura 5. Montagem experimental para medio das caractersticas dos RDs
Em microondas...............................................................................................16
Figura 6. Equipamentos utilizados para determinar os parmetros dieltricos
em microondas: a) acoplador direcional, detector e caixa de teste e b)
esquema

geral

com

gerador

de

varredura

analisador

de

rede............................................................................................................... 16
Figura 7. Representao da forma de medio do fator Qc com indicao dos
B

pontos de meia-potncia do espectro de ressonncia...................................17

Figura 8. Difratograma de raios X para cermica de TiO2 puro....................18
B

Figura 9. Difratograma de raios X para cermica de TiO2 + 10%ZrO2..........19

B

Figura 10. Difratograma de raios X para cermica de TiO2 + 20%ZrO2........19

B

Figura 11. Difratograma de raios X para cermica de TiO2 + 30% ZrO2.......20

B

Figura 12. Micrografia da amostra com 100 % de TiO2 ................................21

B

Figura 13. Micrografia da amostra com 10% de ZrO2 ..................................21

B

Figura 14. Micrografia da amostra com 20% de ZrO2 ..................................22

B

Figura 15. Micrografia da amostra com 30% de ZrO2. .................................22

B

Figura 16. Micrografia da amostra com 20% de ZrO2 e 20% de Ta2O5.........23

B

LISTADETABELAS
Tabela 1. Composio e densidade das amostras ZrO2-TiO2 ....................12
B

Tabela 2. Resultados da anlise em microondas das amostras...................24

LISTA DE SMBOLOS
- Constante dieltrica
Qc Fator de qualidade carregado
B

Q0 - Fator de qualidade no carregado

B

ZrO2 - xido de zircnio

B

TiO2 - xido de titnio

B

d - Dimetro
h - Horas
s - Segundo
MPa Megapascal
C - Grau Celsius
f0 - Freqncia de ressonncia
B

f1 e f2 - freqncias que indicam a largura de faixa (f) nos pontos de meia-potncia do

B

espectro de ressonncia
- Comprimento de onda
GHz - Gigahertz
mm - Milmetro
Cu-K - Radiao caractersticas em anlises de raios X
B

min - Minuto
- Coeficiente de acoplamento
TE01 e TE011 Modos ressonantes em ressoadores dieltricos
B

% - Porcentagem
rpm - Rotaes por minuto
m Micrmetro
g - grama
- graus

CAPTULO 1
INTRODUO
Com o avano tecnolgico em telecomunicao via satlite e mvel,
vem aumentando a miniaturizao dos equipamentos e dispositivos em altas
freqncias. O desenvolvimento de vrios tipos de cermicas especiais tem
sido requerido nas ltimas dcadas para aplicao como ressoadores
dieltricos (RDs) em microondas. Estes RDs utilizados em filtros e osciladores
tornam-se componentes importantes no sistema de comunicao devido a sua
compatibilidade em circuitos integrados de microondas e facilidade de
montagem mecnica. Para um bom desempenho os RDs devem possuir alto
valor da constante dieltrica (r), elevado fator de qualidade (Q0) e alta
B

estabilidade de freqncia [1]. As cermicas do sistema TiO2-ZrO2, de alguma

B

forma, tm sido so utilizadas como ressoadores dieltricos devido as suas

boas propriedades dieltricas [2-4].
Os objetivos deste trabalho de iniciao cientfica foram:
- Desenvolver os RDs do sistema TiO2-Zr02 altamente seletivos e
B

estveis em freqncia para aplicao em oscilador de microondas com os

seguintes parmetros em microondas: constante dieltrica (r > 25) e fator de
B

qualidade devido s perdas dieltricas (Q0 2000).

B

- Desenvolver e/ou otimizar tcnicas de misturas de ps iniciais de

forma a se obter uma maior homogeneidade qumica dessas misturas e uma
diminuio da porosidade das cermicas.
- Estudo da correlao dessas misturas de ps com o tempo e a
temperatura de sinterizao, com a microestrutura das cermicas obtidas e,
tambm, com os parmetros de propriedades dieltricas em microondas dos
RDs.

CAPTULO 2
FUNDAMENTAO TERICA
2.1. Ressoadores Dieltricos
Ressoadores dieltricos so dispositivos anlogos s cavidades
ressonantes metlicas que apresentam vantagens sobre aquelas, devido a sua
alta constante dieltrica, poucas perdas dieltricas, alta estabilidade em
freqncia, dimenses reduzidas, baixo custo, facilidade de montagem e
compatibilidade com os circuitos integrados de microondas.
Os RDs so geralmente de forma cilndrica, porm pode-se encontr-los
na forma tubular ou esfrica e de paraleleppedo. Em RDs cilndricos o modo
ressonante preponderante o TE01 o tipo de oscilao que carrega consigo
B

a maior poro de energia e por isso o mais adequado para comunicao.

Para o modo TE01 o campo eltrico descreve crculos concntricos no interior
B

do ressoador dieltrico, enquanto o campo magntico ultrapassa seus limites,

como mostrados na Figura 1 [5].

Figura 1. Distribuio das linhas dos campos eltricos e magnticos do

modo eletromagntico TE01
B

2.2. Aplicaes dos ressoadores dieltricos

As principais aplicaes dos ressoadores dieltricos so como
osciladores e filtros de freqncia. Os osciladores de microondas com RD tm
mostrado ser compatveis com as exigncias do sistema moderno de
telecomunicao (como telecomunicao via satlites), devido s suas
caractersticas de alta estabilidade de freqncia, baixo rudo, dimenses e
pesos reduzidos. Os filtros de freqncia com RDs tm sido amplamente
utilizados em substituio aos filtros de ondas convencionais, devido a sua alta
seletividade, estabilidade em freqncia e reduo de tamanho, peso e custo
[6-8]. Para aplicao em microondas a faixa tima de freqncia est
compreendida entre 1 e 20 GHz, abaixo deste valor as dimenses so muito
grandes (dimetro = 50mm e = 40) e acima de 20 GHz as dimenses so
muito pequenas.

10

CAPTULO 3
MATERIAIS E MTODOS
O objetivo desse projeto o desenvolvimento materiais cermicos
base de ZrO2-TiO2 para uso em circuitos de microondas. Sero utilizados ps
B

de ZrO2-TiO2 em quantidades variadas. As matrias-prima utilizadas

B

apresentam alta pureza. O TiO2 foi obtido junto Empresa Certronic Ind. E
B

Com. Ltda. e o ZrO2 foi fornecido pela Empresa Zhongshun Chemical

B

Equipment Co. Ltd. As composies foram processadas pela rota da mistura.

A Tabela 1 mostra as composies utilizadas e a densidade relativa das
amostras sinterizadas. Para determinao das fases presente no TiO2 aps
B

sinterizaes foi utilizado o diagrama de fases [9] (Figura 2).

Figura 2. Diagrama de fases do sistema TiO2-ZrO2

B

11

Tabela 1. Composio e densidade das amostras de ZrO2-TiO2.

B

Amostra

TiO2(%)
B

ZrO2(%)
B

Ta2O5(%)
B

Densidade
relativa
%

100

90

90

10

86

80

20

86

70

30

89

20

20

78

80

Efetuou-se inicialmente a pesagem dos ps em balana analtica, com

preciso de duas casas decimais, procedendo-se a seguir o processo de
moagem por via mida, em um moinho de atrito em meio a lcool etlico na
velocidade de 200 rpm por um perodo de 8 horas. Durante a moagem foram
utilizadas esferas de zircnia com dimetro de 8 mm, haste de agitao e
cmara de moagem fabricadas com

polipropileno, visando evitar a

contaminao das misturas pelo desgaste e atrito das partes em contato com
as misturas de ps.
Aps a moagem, foi efetuada a secagem dessas misturas, utilizando
absoro a vcuo do lquido em excesso, e em seguida, estufa a 100 C por
24h. Os ps foram em seguida desaglomerados pela seguinte seqncia de
peneiras: 125 e 32m.
3.1. Preparao das Amostras
3.1.1. Compactao das pastilhas
Foram confeccionados corpos a verde com matrizes cilndricas de
dimetro de 14 mm. O pisto e as paredes da matriz foram lubrificados com
estearina para minimizar os efeitos do atrito durante a compactao. Foi
executada uma prensagem uniaxial a frio sob presso de 80 - 120 MPa por

12

30s. Uma presso mxima foi suportada pelo corpo a verde de modo que no
fraturasse. Foram usados 2,0 g de p por amostra.
.
3.1.2. Compactao dos corpos cermicos por prensagem isosttica
A etapa de compactao considerada fundamental para o
desenvolvimento de corpos cermicos de alta densidade. Numa primeira
etapa, foram estudados diversos valores de carga nos corpos de prova, sendo
que as presses de compactao otimizadas variaram entre 180 e 300 MPa.
3.1.3. Sinterizao
Para realizao da sinterizao das amostras foi utilizado um forno que
atinge temperaturas de at 1700 C, ao ar e com controle para at 10
patamares de aquecimento.
As amostras foram sinterizadas na temperatura de 1400 oC, com taxa
P

de aquecimento fixa de 10 C/min e com tempo de permanncia de 180

minutos. As taxas de aquecimento foram de 10 oC/ min at a temperatura final.
P

A taxa de resfriamento foi mxima de 10 C/min at temperatura ambiente

seguindo a inrcia do forno. Foram avaliadas nas amostras sinterizadas
(Figura 2), as influncias das temperaturas de sinterizao, patamar, adio de
de ZrO2 e Ta2O5 e tamanho de partculas nos resultados de densificao,
B

microestrutura, e conseqentemente, nas propriedades

mecnicas dos

produtos sinterizados.

Figura 3. Amostras de RDs sinterizadas em 1400 C

13

3.2. Caracterizao das amostras sinterizadas

3.2.1. Fases presentes
As fases presentes nas amostras sinterizadas foram identificadas por
difrao de raios X empregando-se uma radiao Cu- K com tubo emissor de
filamento de cobre ( = 1,54439) com varredura entre 10o e 90o, com passo de
P

0,05o e velocidade de 3s / ponto de contagem. Os picos foram Identificados,

P

atravs de comparao com microfichas do arquivo JCPDF.

Com os resultados da difrao de raios X possvel determinar a
estrutura cristalina do material, onde cada pico de alta intensidade surge
quando satisfeito o conjunto de planos cristalogrficos (hkl).
3.2.2. Microscopia Eletrnica de Varredura
A microscopia eletrnica de varredura tem como objetivo analisar a
superfcie e a composio interna da amostra, verificando a existncia de
poros e irregularidades indesejveis que podem ter ocorrido durante o
processo de confeco do material. A imagem, com excelente resoluo,
obtida pela reflexo de um feixe de eltrons incididos na amostra previamente
fraturada. Porm, para que isso ocorra, preciso que o material seja recoberto
com uma fina camada de ouro ( 0,5 nm), um metal condutor e pouco
suscetvel oxidao, tornando a amostra condutora eltrica e permitindo que
ocorra a reflexo do feixe de eltrons.

3.3. Caracterizaes dieltricas em microondas

O fator de qualidade (Q) e a constante dieltrica () do ressoador so
medidos em uma faixa de freqncias de 4 - 7 GHz, de acordo com o tipo de
oscilao (modo eletromagntico) TE01. As amostras so colocadas em uma
B

caixa de teste de cobre com ouro eletrodepositado como blindagem para

reduzir as perdas por irradiao. Para as medies da constante dieltrica, o
RD colocado diretamente entre dois planos metlicos paralelos, enquanto
para as do fator de qualidade, o RD acondicionado entre discos de teflon
para diminuir as perdas metlicas. Essa caixa de teste possui um dimetro de
55 mm, e com ajuste mvel de altura no sentido vertical, conforme mostra a

14

Figura 3 [10]. As amostras utilizadas possuem dimenses prximas de uma

aspirina e com superfcie polida de anlise (livre de irregularidades e
contaminantes). Os resultados na forma de uma curva de ressonncia so
obtidos na tela de um analisador de rede, este, por sua vez, est interligado
com um gerador de microondas.

Figura 4. Caixa de teste com uma amostra para as medies em

microondas das caractersticas dieltricas
3.3.1. Determinao da constante dieltrica
Utilizando o aplicativo Mathematica determinada a constante
dieltrica pelo valor da freqncia de ressonncia, atravs de uma equao
dependente da constante dieltrica, da freqncia de ressonncia e das
dimenses do ressoador dieltrico [10].
As medies de freqncia foram realizadas conforme a montagem
experimental mostrada na Figura 4. O ressoador excitado por meio de uma
antena na forma de sonda eltrica com um acoplamento timo. Uma outra
sonda usada como um dispositivo receptor para detectar o sinal irradiado
pelo ressoador.

15

Figura 5. Montagem experimental para medio das caractersticas dos

RDs em microondas
Os equipamentos utilizados para determinar os parmetros dieltricos
em microondas esto ilustrados na Figura 5.

Figura 6. Equipamentos utilizados para determinar os parmetros

dieltricos em microondas: a) acoplador direcional, detector e
caixa de teste e b) esquema geral com gerador de varredura
e analisador de rede.
3.3.2. Determinao do fator de qualidade
O fator Q proporcional razo entre a energia armazenada e a
potncia dissipada por ciclo. Nos experimentos o fator de qualidade medido
o Q carregado (Qc), baseado nas medidas de freqncia nos pontos de meiaB

16

potncia do espectro do modo detectado, como ilustra a Figura 6.

Figura 7. Representao da forma de medio do fator Qc com

indicao dos pontos de meia-potncia do espectro de ressonncia.
Experimentalmente o fator Qc determinado por [10]:
B

onde f0: freqncia de ressonncia; f1 e f2: freqncias que indicam a largura

B

de faixa (f) nos pontos de meia potncia do espectro de ressonncia.

O fator Q no-carregado (Q0) que corresponde ao inverso da tangente
B

de perdas do material dieltrico (Q0 = 1/ tg ) est relacionado com o fator Qc

B

atravs da relao Q0=Qc (1+), onde o coeficiente de acoplamento entre o

B

ressoador e o circuito externo de microondas. Como se tem operado com

baixo acoplamento (0) e assim considera-se Q0Qc.
B

17

CAPTULO 4

RESULTADOS E DISCUSSES

Neste

captulo

sero

apresentados

os

resultados

obtidos

das

caracterizaes das pastilhas cermicas e os resultados obtidos nos testes de

microondas.
4.1. Anlise por difrao de raios-X das amostras
O mtodo de anlise por difrao de raios-X se caracteriza pela sua
grande importncia no desenvolvimento de materiais cermicos para
aplicaes em ressoadores dieltricos [11-13]. As fases cristalinas observadas
por esse mtodo possibilitam uma correlao com os valores de constante
dieltrica e fator de qualidade. As fases presentes nas amostras aps
sinterizadas podem ser observadas nos difratogramas das Figuras 8, 9, 10 e
11.

Figura 8. Difratograma de raios X para cermica de TiO2 puro

B

18

Figura 9. Difratograma de raios X para cermica de TiO2 + 10% ZrO2

B

Figura 10. Difratograma de raios X para cermica de TiO2 + 20%ZrO2

B

19

Figura 11. Difratograma de raios X para cermica de TiO2 + 30% ZrO2

B

As Figuras 8, 9, 10 e 11 mostram os difratogramas de raios X obtidos

das amostras produzidas com adio em quantidades diferentes de ZrO2 no
B

TiO2. Na figura 8, podemos observar somente a fase tetragonal do TiO2

B

(JCPDF 21-1272 e 21-1276). Na figura 9, com a adio de 10% de ZrO2 houve

B

o surgimento da fase tetragonal de ZrO2 (JCPDF 17-923), enquanto que com

B

adio de 20% e 30% de ZrO2 houve tambm o surgimento da fase

B

ortorrmbica ZrTiO4 (JCPDF 34-415). Com a adio de ZrO2, os picos de TiO2

B

se apresentam com menor intensidade quando comparado aos picos obtidos

na Figura 8. Durante a realizao da difratometria na amostra de TiO2-ZrO2B

Ta2O5 foi constatada falha no equipamento.

B

4.2. Anlises por microscopia eletrnica varredura (MEV)

A densidade usualmente acompanha a eliminao da porosidade e
crescimento de gros durante a sinterizao a alta temperatura [11-13]. As
micrografias obtidas por MEV das amostras sinterizadas a 1400 oC (Figuras
P

12, 13, 14, 15 e 16), mostraram materiais com boa densificao e diferentes
microestruturas. Nessas micrografias obtidas podemos observar o efeito da
adio variada de ZrO2 na matriz de TiO2, como tambm, a presena de poros.
B

Esses poros aumentam com a quantidade de ZrO2 adicionado, mas suas

B

dimenses

apresentam

pequenas

variaes.
20

Essas

variaes

esto

relacionadas alta temperatura de sinterizao, a qual pode ter provocado a

volatilizao de alguns elementos durante a sinterizao. Entretanto, a
obteno de materiais cermicos com alta densidade e gros bem definidos
podem estar nos parmetros de sinterizao utilizados.

Figura 12. Micrografia da amostra com 100 % de TiO2

B

Figura 13. Micrografia da amostra com 10% de ZrO2

B

21

Figura 14. Micrografia da amostra com 20% de ZrO2

B

Figura 15. Micrografia da amostra com 30% de ZrO2

B

22

Figura 16. Micrografia da amostra com 20% de ZrO2 e 20% de Ta2O5

B

4.3. Medio de parmetros dieltricos em microondas

4.3.1. Propriedades dieltricas
As perdas dieltricas so causadas por fenmenos intrnsecos e
extrnsecos. Os fenmenos intrnsecos so os ocorridos pela prpria estrutura
dos materiais, enquanto que os fenmenos extrnsecos so causados por
elementos induzidos no processo de fabricao como: poros, fases
secundrias, tamanhos de gros, vacncia de oxignio, entre outros. O
desenvolvimento desse projeto tem como objetivo o estudo de cermicas
base de TiO2 para aplicao como ressoadores dieltricos. Na literatura, o
B

TiO2 puro apresenta alto valor de constante dieltrica e alto fator de qualidade,
B

porm apresenta instabilidade de freqncia com a temperatura. Entretanto,

estudam-se as propriedades dieltricas do TiO2 a partir de adies variadas de
B

ZrO2 a fim de estabilizar a freqncia do material. Na Tabela 2 podemos

B

observar a influncia da adio de ZrO2 como dopante do TiO2, sinterizado na

B

temperatura de 1400 C.

23

Tabela 2. Resultados da anlise em microondas das amostras

RD

1400

0,01

0,01

C/3 h

[mm]

[mm]

4,65

5,74

f [GHz] 0,3

Q @100

Faixa de

f [GHz]

Sintonia
[GHz]

4,4274 88,0

3,08 5170

3,400 4,020
0,620

4,87

5,75

4,3529 85,4

3,11 3100

3,480 4,060
0,580

4,82

5,70

4,5654 79,2

3,25 2820

3,642 4,266
0,620

4,70

5,75

5,2059 62,6

3,63 1630

4,088 4,830
0,740

AX

4,47

6,13

5,8247 51,3

3,86 1000

4,420 5,385
0,965

De acordo com a tabela, constata-se que tanto os valores da constante

dieltricas como do fator de qualidade variam em funo da quantidade de
ZrO2 adicionado. Concretamente, os valores de variam 88-51 e Q de 5170B

1000 GHz. Esses resultados esto em funo da adio de ZrO2 que

B

apresenta constantes dieltricas de aproximadamente r=12, segundo a

B

literatura. Conseqentemente, os valores de e Q no podem ser atribudos

somente a esses fatores, sendo observado a ao de fatores extrnsecos nos
materiais desenvolvidos, como por exemplo, os poros, fases secundarias,
heterogeneidade dos gros. De acordo com as micrografias podemos
assegurar a presena de defeitos extrnsecos nos materiais. De acordo com a
Tabela 2, podemos constatar que o valores de e Q so promissores para a
composio com adio de 10% de ZrO2. Nessa amostra possvel uma
B

estabilizao do Q, sem grandes perdas dieltricas. Vale salientar que so

necessrios controles rigorosos dos parmetros de sinterizao para obteno
de tal. Com determinado controle possvel obter microestrutura com
tendncia homognea, alta densidade e outras propriedades.

24

CONCLUSO
As propriedades dieltricas do TiO2 com adio de ZrO2 na temperatura de
B

1400 C foram estudados neste trabalho. Os resultados obtidos mostram que

tantos os valores de constante dieltrica e o fator de qualidade Q, so
influenciados pela porosidade e pela adio de ZrO2 nas amostras.
B

Efetivamente, os valores das constantes dieltricas e dos fatores de qualidade

obtidos diminuem em funo da quantidade de ZrO2 adicionada, que tem
como uma das finalidades a estabilizao do fator de qualidade, o que reduz
os valores obtidos da constante dieltrica, em conseqncia do ZrO2 que
apresenta um valor da constante dieltrica em torno de 12. Outros fatores
tambm influenciam nos valores de propriedades dieltricas como, por
exemplo, os fenmenos extrnsecos, que so causados por elementos
induzidos no processo de fabricao como: poros, fases secundrias,
tamanhos de gros, vacncia de oxignio, entre outros.

25

Referncias Bibliogrficas
[1] Koldayeva, Y. Processamento e caracterizao de cermicas de Ba2Ti9O20
B

sem e com dopagens de ZrO2 para aplicao como ressoadores dieltricos em

B

microondas, So Jos dos Campos: INPE, 2004, 115p - (INPE 13182 - TDI
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