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TEMA 1: Introduccin a la Instrumentacin Electrnica

1. Introduccin
2. Instrumentacin electrnica en el contexto
del control de procesos
3. Sistemas de medida
4. Caracterizacin de los sistemas de medida
Prez Garca, M.A., lvarez Antn, J.C., Campo Rodrguez,
J.C., Ferrero Martn F.C., y Grillo Ortega, Instrumentacin
Electrnica, 2 ed., Thomson, 2004.
Antonio Rodrguez Mata, Sistemas de Medida y Regulacin.
2 ed; Paranimfo, 2004.
1

Introduccin a la Instrumentacin Electrnica. Instrumentacin Electrnica


Departamento de Tecnologa Electrnica

Universidad de Vigo

1. Introduccin.

Definiciones

La medida consiste en la determinacin de una magnitud por comparacin


con un estndar.
Magnitud (fsica), propiedad fsica mensurable (que puede ser medida).
La instrumentacin comprende todas las tcnicas, equipos y metodologas
relacionados con el diseo, construccin y aplicacin de dispositivos
fsicos para mejorar, completar y aumentar la eficiencia de los
mecanismos de percepcin del ser humano.
La instrumentacin electrnica (IE) es la tcnica que se ocupa de la
medicin de cualquier tipo de magnitud fsica, de la conversin de la
misma a magnitudes elctricas y de su tratamiento para proporcionar la
informacin adecuada (a un sistema de control, a un operador humano o a
ambos). As pues, la instrumentacin tiene dos grandes temas de trabajo:
El estudio de los sensores y de sus circuitos de acondicionamiento (amplificadores,
filtrado, conversin, etc.) para que las seales proporcionadas por stos,
puedan ser utilizadas en sistema de control de procesos industriales. Esta
asignatura centrar su estudio fundamentalmente en esta rama. El componente
electrnico bsico para la implementacin de los circuitos de
acondicionamiento es el amplificador operacional.
El estudio de los equipos de instrumentacin (osciloscopios, analizadores de
espectro) desde el punto de vista de su funcionamiento y su estructura
interna.
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Introduccin a la Instrumentacin Electrnica. Instrumentacin Electrnica


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2. La I.E. en el control de procesos. Conceptos y


terminologa

Proceso entrada/salida
Perturbacin

Variables de entrada Variables


manipuladas (MV)

Proceso

Sistema de control genrico

Consignas
rdenes

Sistema de
Control

Variables de salida Variables


del proceso (PV)

Perturbacin

MV
Proceso

PV

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2. La I.E. en el control de procesos. Conceptos y


terminologa
Energa

Perturbacin

Sistema de control enSeales


lazode abierto
mando

Sistema de
Control

Consignas
rdenes

MV
Actuadores

Sistema de control en lazo cerrado


Consigna
rden
Referencia
Set Point
(SP)

Seal de error

Sistema de
Control

Valor medido

Energa

Perturbacin

Seal de
mando
(seal
elctrica)

Sistema de medida

PV

Proceso

PV

MV
Actuadores

(variable
fsica)

Proceso

Variable de control
(variable fsica)

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2. La IE en el control de procesos. Conceptos y


terminologa

Ejemplo de sistema de control en bucle cerrado


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2. La I.E. en el control de procesos.


Conceptos y terminologa

Control de procesos

Visualizador

SISTEMA DE MEDIDA
Seal
elctrica

PV

ACONDICIONAMIENTO

S ENSOR

P R O CE S O

(variable
fsica)

Seal
medida

TRANSMISOR

Medio de
transmisin
MV
(variable
fsica)

ACTUADOR
Seal
mando

SISTEMA DE CONTROL

RECEPTOR

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2. La I.E. en el control de procesos.


Arquitecturas de los sistemas de medida.

Arquitectura centralizada

DE MEDIDA

SENSOR
1
Valores
reales de
las
variables

2
3
Seales de sensores

.
.
.

SENSOR
2

P
ACTUADOR
1

NCLEO INTELIGENTE

.
.
.

DE
CONTROL

1
2
3
n

Seales de mando

SENSOR
n

ACTUADOR
2

Valores de
consignas

SISTEMA

.
.
.

SISTEMA

Valores
medidos
1
2
3
.
.
.
n

SENSOR
3

ACTUADOR
3

ACTUADOR
m

Topologa en estrella
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2. La I.E. en el control de procesos.


Arquitecturas de los sistemas de medida.

Arquitectura distribuida
BUS DE CAMPO

NCLEO
INTELIGENTE
M

Topologa
de
BUS DE PROCESO
NCLEO
INTELIGENTE
1

SENSOR

NCLEO
INTELIGENTE
2

ACTUADOR

NCLEO
INTELIGENTE
3

SENSOR

NCLEO
INTELIGENTE
N

ACTUADOR

buses

SENSOR

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3. Sistemas de medida. Introduccin.


Sistema de medida

ENTRADAS
- Temperatura
- Presin
- Velocidad
- Luz
- pH
etc.

SALIDAS

- Visualizacin

Sistema de
medida

- Almacenamiento
- Transmisin

magnitudes fsicas

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3. Sistemas de medida. Introduccin.


Naturaleza y tipos de variables susceptibles de ser medidas
Naturaleza de
la variable
Mecnica
Trmica
Magntica
Elctrica

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Tipo de variable
Desplazamiento, velocidad, aceleracin, fuerza, par, masa, etc.
Temperatura, calor, entropa, etc.
Campo magntico, flujo magntico, permeabilidad magntica, etc.
Carga, corriente, tensin, resistencia, conductancia, capacidad, etc.

ptica

Rayos gamma, rayos X, ultravioleta, visible, infrarrojo, etc.

Qumica

Humedad, pH, concentracin inica, anlisis de gases, etc.

Biolgica

Protenas, hormonas, antgenos, etc.

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3. Sistemas de medida.
Elementos de un sistema de medida

Elementos de un sistema de medida

Entrada
(magnitud
fsica)

Sensor

Acondicionamiento

Conversin AD

Conversin DA

Procesador
Procesamiento
de la seal

Adquisicin de la seal

Acondicionamiento

Salida
(valor medido)

Transmisin de la seal

SISTEMA DE MEDIDA

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3. Sistemas de medida
Elementos de un sistema de medida

Etapas de adquisicin de la seal

Sensor
Acondicionamiento

Amplificacin
Aislamiento
Filtrado
Linealizacin
Excitacin de sensores
Conversin de seal
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3. Sistemas de medida
Elementos de un sistema de medida

Etapas de adquisicin de la seal (ii)

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Conversin analgico-digital de la seal

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3. Sistemas de medida
Seleccin del sistema
La eleccin del sistema de medida depende de varios factores:

Caractersticas del proceso.

Un proceso se define por el estado de una varias


seales analgicas y/o digitales.

Condiciones de entorno y ambientales.


Nmero de seales.
Tipos de sensores.

Diferentes sensores necesitan etapas de


acondicionamiento distintos.

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3. Sistemas de medida
Seleccin del sistema

La estructura del sistema debe adaptarse a las necesidades de


medida.

En la mayora de las situaciones se hace necesario medir ms de una


variable de entrada. En estos casos se recurre a sistemas de medida
multicanal.

La estructura es determinada por el acoplamiento al procesador.

Los parmetros caractersticos permiten seleccionar la


topologa ptima para cada aplicacin.

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3. Sistemas de medida
Estructuras multicanal

Sistema de medida multicanal con un solo CAD


Acondicionado y procesado secuencial de las variables

Canal 1

Sensor
1

Canal 1

Sensor
2

Canal n

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MULTIPLEXOR
ANALGICO

Acondicionador

CAD

Procesador

Salida
CDA

Sensor
n

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3. Sistemas de medida
Estructuras multicanal

Sistema de medida multicanal con un solo CAD


Solo procesado secuencial de las variables

Canal 1

Sensor
1

Acondicionador
1

Canal 1

Sensor
2

Acondicionador
2

Canal n

17

Sensor
n

MULTIPLEXOR
ANALGICO

CAD

Procesador

Salida
CDA

Acondicionador
n

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3. Sistemas de medida
Estructuras multicanal.

Canal 1

Sensor
1

Acondicionador
1

CAD
1

Canal 1

Sensor
2

Acondicionador
2

CAD
2

Canal n

18

Sensor
n

Acondicionador
n

PROCESADOR

Sistema de medida multicanal con un CAD por canal

CDA

Salida

CAD
n

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4. Sistemas de medida: Caractersticas


Parmetros estticos: Curva de calibracin.

Curva de calibracin (static transfer function)

Es la relacin entre la entrada al sensor o sistema y su salida en


rgimen esttico.

Para definir la curva se necesita como mnimo indicar su forma y


sus lmites.

Salida

Salida

Magnitud a medir

(lineal)
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Magnitud a medir

(no lineal)

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4. Sistemas de medida: Caractersticas


Parmetros estticos: Curva de calibracin.
Curva de calibracin (static transfer function)

Parmetros utilizados para especificar los lmites de la


curva:
Campo o margen de medida
(range)
Conjunto de valores admisibles en la

Salida,Y
YS
Salida a fondo
de escala
YS YL

YL

Magnitud a
medir, X

lmite
inferior

20

Xs
Campo de medida
lmite
Alcance = XS X L superior

entrada de un sistema de medida.


Conjunto de valores de entrada
comprendidos entre los lmites superior e
inferior entre los cuales de puede efectuar
la medida [XL, XS].
Unidades de medida: las de la variable de
entrada.

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4. Sistemas de medida: Caractersticas


Parmetros estticos: Curva de calibracin.
Curva de calibracin (static transfer function)

Parmetros utilizados para especificar los lmites de la


curva (cont.):

Alcance o fondo de escala

Salida,Y

(span, input full scale, FS)


Es la diferencia entre los extremos del

YS
Salida a fondo
de escala
YS YL
YL

lmite
inferior

21

Magnitud a
medir, X

Xs
Campo de medida
lmite
Alcance = XS X L superior

campo de medida valores mximo y


mnimo de la variable que se pueden
medir de forma fiable.
FS = XS XL
Solo coincide con XS si XL es cero.
Unidades de medida: las de la variable de
entrada.

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4. Sistemas de medida: Caractersticas


Parmetros estticos: Curva de calibracin.

Curva de calibracin (static transfer function)

Parmetros utilizados para especificar los lmites de la curva


(cont.):
Salida a fondo de escala
Salida,Y

(output full scale, FSO)


Es la diferencia entre las salidas YL e YS

YS
Salida a fondo
de escala
YS YL

obtenidas respectivamente para los


extremos del campo de medida XL y XS.
YL

lmite
inferior

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Magnitud a
medir, X

FSO = YS YL
Unidades de medida: las de la variable
de salida.

Xs
Campo de medida
lmite
Alcance = XS X L superior

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4. Sistemas de medida: Caractersticas


Parmetros estticos: Curva de calibracin.
Curva de calibracin (static transfer function)

La forma de la curva puede aproximarse en muchas

ocasiones por una lnea recta, que queda definida por dos
puntos o un punto y la pendiente.
Parmetros para definir la curva linealizada:
Sensibilidad (sensitivity)
Es la pendiente de la curva de calibracin.
S = dY/dX
Unidades de medida: las de la variable de salida divididas por las de la
variable de entrada .

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4. Sistemas de medida: Caractersticas


Parmetros estticos: Curva de calibracin.

Curva de calibracin (static transfer function)

Parmetros para definir la curva linealizada (cont.):


No linealidad, error de linealidad
L

Salida

Curva real

Desviacin
mxima

o linealidad (nonlinearity)
Es la mxima desviacin de la curva de

Curva
linealizada

Magnitud,X
XL

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calibracin con respecto a la lnea recta por la


que se ha aproximado.

L = (|Xreal Xlineal|)max

Unidades de medida: las de la variable de


entrada.

X
S

Se suele expresar en forma porcentual con


respecto al alcance. %FS = L100/FS

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4. Sistemas de medida: Caractersticas


Parmetros estticos: Curva de calibracin
Curva de calibracin (static transfer function)

Parmetros adicionales:
Zona muerta (dead zone)

Resistencia

Zona muerta

ngulo de giro,

360

Salida,Y
Y
1

Histresis

Y
2

Magnitud a medir,X

Es el intervalo de valores de la variable de


entrada que no hace variar la salida.
Es la regin de la curva de calibracin que
presenta sensibilidad nula.

Histresis (hysteresis)

Es la mxima diferencia en la medida


dependiendo del sentido en el que se ha
alcanzado.
Las causas tpicas de histresis son la friccin
y cambios estructurales en los materiales.

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4. Sistemas de medida: Caractersticas.


Parmetros estticos: Curva de calibracin.
Curva de calibracin (static transfer function)

Parmetros adicionales (cont.):


Saturacin
Saturacin (saturation)

Salida

Magnitud a medir, X
X
sat

Resolucin (resolution)

110

Salida

101

Resolucin

100
011
010
001

Es el nivel de entrada a partir del cual la


sensibilidad disminuye de forma significativa.

Tensin de entrada, (V)

Es el mnimo incremento de la entrada que


ofrece un cambio medible en la salida.
Se suele expresar como un valor en tanto por
ciento sobre el fondo de escala.
Cuando se refiere a cambios en salidas
digitales se suele medir mediante el nmero de
bits que permite representar todos los valores
posibles de entrada.

000
0

26

0,500

1,00

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4. Sistemas de medida: Caractersticas.


Parmetros estticos: Errores de medicin.

Un principio bsico de todo sistema de medida es el de medir


una magnitud con el menor error posible.
Error, valor que acota la incertidumbre de un determinado
sistema.
Tipos de errores en la medida de la magnitud fsica :
Sistemticos
Se mantienen constantes o varan segn una ley.
Ocasionados por fallos o defectos en el diseo del experimento, en los

instrumentos de medida o en el propio experimentador.


Se pueden detectar y corregir mediante calibracin.

Aleatorios o accidentales
Toman diferentes valores cuando se repite la medida.
Variaciones imprevisibles en el proceso de medida.
Se estiman por mtodos de la teora de las probabilidades y de la estadstica. La
mejor estimacin es el valor medio.

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4. Sistemas de medida: Caractersticas.


Parmetros estticos: Errores de medicin.

Tipos de errores en la medida de la magnitud fsica (cont.) :


Aberrantes
por defectos en los equipos de medida, o equivocaciones del observador al leer o
escribir, o a variaciones bruscas en las condiciones de medida.
Las mediciones correspondientes a estos errores deben rechazarse.

Trminos utilizados para cuantificar el error:


Error absoluto
Mxima diferencia en valor absoluto entre el valor obtenido y el real en el campo

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de medida.
= (|Xreal Xmedido|)max
Unidades de medida: las de la variable de entrada.

Error relativo
Es el error absoluto referido al alcance de la medida.
= (|Xreal Xmedido|)max /FS
Parmetro adimensional, se expresa en p.u., en % o en ppm.

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4. Sistemas de medida: Caractersticas.


Parmetros estticos: Errores de medicin.

Trminos utilizados para cuantificar el error (cont.):

Repetitividad (repeatability)

Concepto cualitativo que expresa el grado de concordancia entre


los resultados de mediciones sucesivas del mismo mesurando,
realizadas bajo las mismas condiciones de medida.

Reproducibilidad (reproducibility)

Concepto cualitativo que expresa el grado de concordancia entre


los resultados de mediciones sucesivas del mismo mesurando,
realizadas bajo diferentes condiciones de medida.

Las medidas pueden realizarse a largo plazo, por personas


distintas, con aparatos distintos o en distintos laboratorios.

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4. Sistemas de medida: Caractersticas.


Parmetros estticos: Errores de medicin.
Trminos utilizados para cuantificar el error (cont.):

Veracidad (trueness)

Concepto cualitativo que expresa el grado de


concordancia entre el valor promediado de varias
medidas y el valor exacto (real, verdadero) o
aceptado como referencia.

Se suele expresar en trminos de sesgo o desviacin


(bias).

Precisin (precision)

Concepto cualitativo que expresa el grado de


concordancia entre los resultados.

Se cuantifica mediante la repetitividad, la


reproducibilidad o ambas.
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4. Sistemas de medida: Caractersticas.


Parmetros estticos: Errores de medicin.
Trminos utilizados para cuantificar el error (cont.):

Exactitud (accuracy)

Concepto cualitativo que expresa el grado de concordancia entre


el valor exacto (real, verdadero) de la entrada y el valor
medido.

Concepto cualitativo que agrupa la veracidad y la precisin.


Se suele expresar como un porcentaje del fondo de escala.

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4. Sistemas de medida: Caractersticas.


Parmetros estticos: Calibracin.
La calibracin consiste en la comparacin de la exactitud de un instrumento
con un patrn conocido.

Instrumento 1
Salida
S

Instrumento
ideal
i

1
2

Instrumento 2

electrnicos

2
Magnitud a medir

32

Dos equipos de medida


aparentemente idnticos no
presentan la misma curva de
calibracin debido a:
La exactitud de los componentes
Las no idealidades de los circuitos
La curva de calibracin vara:
con el paso del tiempo
con el grado de utilizacin de los equipos.

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4. Sistemas de medida: Caractersticas.


Parmetros estticos: Calibracin.
Los mtodos de calibracin ms sencillos son:
Calibracin a un punto
Se acta sobre el sistema de medida de forma que para un punto concreto
(p. ej. el cero) la salida sea lo ms exacta posible.
Calibracin del cero y de la sensibilidad
Se realiza mediante dos mandos, uno permite modificar el nivel (offset) y
el otro la sensibilidad (ganancia, gain) del sistema.
Primero se debe ajustar el nivel y despus la sensibilidad.

Salida

Respuesta
real

Salida

Salida
Yn

Respuesta
buscada
X

33

Xn

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4. Sistemas de medida: Caractersticas.


Parmetros dinmicos.
La caracterizacin de la respuesta temporal o frecuencial de un sistema de
medida permite definir su respuesta dinmica.
En el dominio de la frecuencia:

Ancho de banda (bandwidth)

Ganancia

B=w
H
3dB

Desfase

B'

Conjunto de frecuencias entre una frecuencia


de corte inferior (wL) y una frecuencia de
corte superior (wH) caracterizadas porque el
error de la variable de salida est dentro de
una banda especificada.

El error hace referencia a la variable de


inters: amplitud, fase o frecuencia.

Unidades: Hz o rad/s.

log w
0
w
H
B

Ganancia

3dB

Desfase

B'
log w
w
L

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B = w -w
H L

w
H

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4. Sistemas de medida: Caractersticas.


Parmetros dinmicos.
En el dominio de la frecuencia:

Distorsin armnica (total harmonic distorsion, THD)


THD( % ) =

Vf

Vi 2
100

Vi y Vf , valores eficaces del i-simo armnico y del


fundamental respectivamente.
Parmetro adimensional, se expresa en porcentaje, ppm o
dB.

En el dominio temporal:

Tiempo de retardo (delay time, td)

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Tiempo requerido para que la respuesta alcance por primera vez el 50% del
valor final.

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4. Sistemas de medida: Caractersticas.


Parmetros dinmicos.
En el dominio temporal:

Tiempo de subida (rise time, tr)

Tiempo requerido para que la respuesta del sistema pase del 10% al 90%, del 5% al
95 % o del 0% al 100%.

Tiempo de pico (peak time, tp)

Tiempo requerido para que la respuesta del sistema alcance el primer valor de
sobreoscilacin.

Sobreoscilacin mxima (maximum overshoot, Mp)

Cociente entre el valor mximo en el que la respuesta del sistema excede al valor
final (deseado), en tanto por uno o porcentaje.

Tiempo de asentamiento (settling time, ts)

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Tiempo requerido para que la respuesta del sistema quede siempre dentro de la
banda del margen de tolerancia definido por la precisin del sistema.

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4. Sistemas de medida: Caractersticas.


Parmetros dinmicos.

En el dominio temporal:
y

Mp
tp

y(t)

yfinal

1.0
0.9

% tolerancia

td
0.5

td, tiempo de retardo


tr, tiempo de subida
0.1
0

tr

tp, tiempo de pico


Mp, sobreoscilacin mxima

ts

37

ts, tiempo de asentamiento

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