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Soluciones Agilent

para el
Anlisis Elemental
Comparacin

Rafael Sanz
BTM Espectroscopa
Agilent Iberia

Agilent Confidential

Importancia del Anlisis Elemental


La composicin elemental
determina las propiedades
qumicas y fsicas de las
muestras.
La presencia de ciertos
elementos, incluso a niveles
de traza y ultra-traza puede
tener un impacto
significativo en la salud
humana en el medio
ambiente o en la industria.

Sep 2010

Caractersticas y Exigencias del Anlisis Elemental


El anlisis de trazas y ultra-trazas es cada vez ms exigente.
Disminucin de los lmites de deteccin de las tcnicas de
anlisis (medioambiente, alimentacin, bio-clnico,
semiconductores, materiales)
Los anlisis se efectan cada vez ms en un entorno regulado.
Legislaciones nacionales, europeas, internacionales. Uso de
sistemas de calidad, patrones primarios, CRMs. Exactitud y
robustez en el sistema de medida.
El anlisis se incorpora dentro de la cadena productiva y por lo
tanto cada vez es ms importante el control de los costes y la
productividad de los laboratorios. Automatizacin, velocidad,
capacidad multielemento, sencillez de manejo.

Sep 2010

Campos de Aplicacin del Anlisis Elemental

Medioambiente
Alimentacin
Agrario
Minera/Geologa
Materiales
Clnico
Farmacutico
Qumico/Petroqumico
Semiconductores
Control de Calidad
Forense
Nuclear
Investigacin

2011 The Atomic Spectroscopy Revolution


Con el lanzamiento del nuevo MP-AES
en 2011, Agilent ofrece ahora la ms
amplia gama de Soluciones Analticas
para el Anlisis Elemental en muestras
lquidas:

Absorcin Atmica de Llama(FAAS);

Horno de Grafito (GFAAS)

Generacin de Vapor (VGAAS)

Emisin Atmica por Plasma de


Microondas (MP-AES);

Emisin Atmica por Plasma ICP

Espectrometra de Masas con fuente


de ionizacin por Plasma ICP

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Tcnicas de Espectrometra Atmica


Absorcin/Emisin
AAS, ICP-OES, MP-AES, ICP-MS
Absorcin
Atmica de
Llama

Bajo coste; Rpida; monoelemental; buena


cobertura de elementos; DLs 10s a 100s ppb

Emisin Atmica
por Plasma de
Microondas

Coste medio; Ms rpida; Multielemental; Mayor


cobertura de elementos; DLs 1s a10s ppb;
Mnimo coste operacional

Absorcin
Atmica por
Horno de Grafito

Mayor coste; Lenta; Monoelemental; Cobertura


selectiva de elementos, DLs 10s a 100s ppt

FAAS
MP-AES

GFAA

ICP-OES
ICP-MS

Espectroscopa
Optica de
Emisin ICP
Espectroscopa
de Masas

Mayor coste; Muy rpida; Multielemental;


Mayora de elementos, DLs 1s ppb
Alto Coste; Rpida; Multielemental; Mayora de
los elementos, Hg, DLs ppt/sub-ppt; alto coste.

Tcnicas de Espectrometra Atmica


7700s
7700x
7700e

ICP-MS

Coste de Inversin Instrumental (($K)

120

730/735-ES
720/725-ES
710/715-ES

100
Simultaneous
ICP-OES
80

60

Entry level ICP-OES


GFAAS

NEW!!! MP-AES

40
280 Series AA
240 Series AA

20

Flame AAS
50/55 Series AA

ppq

ppt

ppb

ppm

0.1 %

100%

Agilent Confidential
Page 7

Agilent AAS
Caractersticas y
Ventajas Analticas

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Absorcin Atmica:
Caractersticas generales
Ventajas
67 elementos
Desde ppts a niveles de altas ppm
Intervalo lineal de 2-3 ordenes
Precisin tpica inferior al 1% RSD en
FLAA y VGA y del 3-5% RSD en GFAA.
Instrumento sencillo de ajustar

Limitaciones

Instrumentacin de facil manejo


Tcnica Monoelemental
Tcnica muy especfica y selectiva
Moderados costes operativos

Efectos de matriz importantes


Rango lineal reducido
Gases combustibles

Eficiencia y Productividad
Modo de trabajo en Fast Sequential (FS)

Mide todos los elementos en una secuencia rpida.


Todas las muestras se aspiran una sola vez.
Mejora la productividad en ms de un 50%
Menor consumo de muestra. Ahorro de tiempos de trabajo y costes operativos

Solo Agilent dispone del modo FS

Equipos de AA Agilent de llama 240FS/280FS


Equipos orientados a laboratorios con carga de trabajo moderada que
precisen un buen nivel de automatismo, productividad y competitividad.
Especialmente indicado para laboratorios de contrato, o en control de
calidad cuando la carga de trabajo es limitada.

Permite el anlisis Secuencial Rpido (FS) de


los elementos de la muestra. Unido al SIPS
permite realizar de forma rpida y desatendida
las calibraciones necesarias y alargar en ms
de 2 rdenes de magnitud el intervalo
dinmico lineal del sistema.
Sistema completamente automtico y
compatible con todos los accesorios.

Atomizacin por Generacin de Hidruros/Vapor fro

Sirve para el anlisis de elementos


formadores de hidruros voltiles.
As, Se, Sb, Bi, Te, Sn

Anlisis de mercurio por vapor fro


Cold vapor

Tcnica extremadamente Sensible


Lmites de deteccin a nivel sub-ppb con
precisin del 1-2 % a nivel ppb

Reducin qumica del elemento a su


Hidruro gaseoso o vapor libre de Hg
Hidruro se disocia en celda pre-calentada
(excepto Hg)

Equipos de AA Agilent de Cmara de Grafito


Tcnica orientada a laboratorios regulados, medioambientales,
toxicolgicos, con altas exigencias de sensibilidad y con carga de
trabajo moderada, que precisen un buen nivel de automatismo,
productividad y competitividad.
La cmara de grafito permite llegar hasta los 3000, con rampas de
calentamiento de hasta 2000C/seg.
Tubos de calentamiento longitudinal isotermos, protegidos por una
corriente de Ar.
Cabezal construido de materiales inertes (titanio).
20 etapas de temperaturas, seleccin de gas de arrastre alternativo.
Mltiples modos de inyeccin.

SRM. Ventana para la Optimizacin del las Temperaturas del Horno


Optimizacin para la determinacin de Pb empleando modificadores fosfato

Examine los
resultados
(30 a 40 mins.
despues)
El mximo de
la curva es
indica las
condiciones
ptimas.

Presionando OK se fijan las condiciones optimizadas en el mtodo de anlisis

Anlisis simultneo de Trazas y


Ultratrazas
Llama y Cmara de Grafito Simultneas
AGILENT
SPECTRAA DUO

Sistemas Agilent-DUO
DOS Plataformas que combinan SIMULTANEAMENTE:
ATOMIZACIN POR LLAMA
CORRECTOR DE FONDO POR DEUTERIO
ATOMIZACIN POR CMARA DE GRAFITO
CORRECTOR DE FONDO POR EFECTO ZEEMAN

Ideal para laboratorios medioambientales, alimentacin, toxicolgicos regulados


con altas exigencias de sensibilidad y cargas de trabajo medias.

El uso simultaneo del FLAA y del GFAA mejora la productividad

Sencillez en la puesta a punto cada atomizador est permanentemente alineado

Agilent MP-AES
Caractersticas y
Ventajas Analticas

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Una nueva tecnologa:


Plasma inducido por Microondas MP-4100
Altas
prestaciones

Alternativa ideal a FLAA


Mide mayoritarios, minoritarios
y la mayora de trazas.
Sin demasiadas interferencias
de matriz

Menor coste
operativo

Seguro

Sin gases inflamables


Trabajo multielemental
desatendido

Rpido & Facil


de usar

Solo precisa aire


Multi-elemento
Trabaja desatendido
Buena productividad

Medidas secuenciales rpidas


Correccin de fondos simultnea
Nueva generacin de software con
modos de trabajo definidos o
avanzados

Agilent Confidential

Espectroscopia Atmica
ICP--OES
ICP

Confidentiality Label
October 24, 2011

Plasma acoplado inductivamente (ICP)


Cuerpo de antorcha
3 Tubos concntricos de
cuarzo

Bobina de
induccin
(Refrigerada)

Campo
magntico

Ar Flujo de gas auxiliar


Corrientes de
Eddy

Ar Flujo de gas de
plasma

Ar Flujo de gas de nebulizador y aerosol de muestra

Plasma ICPOES. Ventajas

Amplio espectro 78 elementos analizables.


Muy adecuado para el anlisis de elementos refractarios.
Tcnica simultanea, muy rpida y robusta.
Amplio intervalo dinmico - ppb a %
Precisin frecuentemente superior al 1%
Gran tolerancia a slidos disueltos.
Gran tolerancia a los medios orgnicos.
Pocas interferencias qumicas
Normalmente la preparacin de muestra es sencilla
Relativamente facil de operar

Plasma ICP-OES: Limitaciones

Ultratrazas en medioambiente, alimentacin, toxicologa...

Nebulizadores Ultrasnicos

Preparacin de muestra
Posibles interferencias espectrales

Lneas alternativas

Correcciones matemticas.

Sistemas de correccin
Costes operativos. Consumo de Ar

Flexibilidad sin Compromiso


Observacin Radial (Agilent 715715-725
725--735)
Canal
Canalcentral
central
Volumen de
observacin
Regin de
induccin

Altura de
visin

Bobina de
induccin

Permite trabajar con muestras con alto contenido de sales disueltas


- analizar muestras de muy altas concentraciones

Flexibilidad sin Compromiso


Observacin Axial (Agilent 710710-720720-730)
Interfaz de cono refrigerado

Apertura de la cola del


plasma

- Interfaz a travs de un cono refrigerado y una contracorriente de Ar


para suprimir la zona de recombinacin molecular
- Paso ptico en el canal central ms largo  sensibilidad aumentada
en un factor de 3 a 10.
- Limitacin en cuanto a la carga de contenido de sales en las
muestras: 30 a 50 g/L segn el tipo de sal.

Robustez en las determinaciones


Agilent 700700-ES SIM
Red de
Difraccin

Todos los componentes


pticos son fijos, no
hay componentes
Chip CCD
mviles

Antorcha
Prisma
CaF2

El sistema ptico est


termostatizado a 35C +0.1C para evitar derivas
por dilatacin.

Policromador
Echelle

Agilent 720/730-ES SIM


Detector CCD de Estado Slido.
Tecnologa IMAP: Lneas Activas Curvadas Continuas con > 70.000 elementos
detectores individuales ( Pixels ) cubriendo el rango espectral completo.
Proteccin anti-saturacin de cada elemento individual.
Chip-Detector refrigerado Peltier a - 36 o C

Ventajas de la tecnologa CCD Agilent


Imagen espectral completa de la muestra de una sola vez
Correccin de fondo simultnea en tiempo real
Anlisis retrospectivo de resultados
Tiempo de anlisis independiente del nmero de elementos/lneas
Mayoritarios y minoritarios en el mismo anlisis

Menores Costes Operativos


Consumo de
gases
Interfaz de cono refrigerado

Gas de Desvo

20-30
de lal/min
cola del
Apertura
plasma

Velocidad de
anlisis

Agilent ICPMS
Caractersticas y
Ventajas Analticas

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

ICP-MS
Ventajas
Tcnica multi-elemental muy rpida
Mximo nivel de sensibilidad
Amplio rango dinmico lineal
Anlisis isotpico. Determincin de halgenos
Anlisis cuantitativo y semi-cuantitativo
Posibilidad de acoplamiento (LC, GC, LA, IC,CE)
Tiempo de desarrollo de mtodos

Inconvenientes
Interferencias espectrales y poli-atmicas
Mayor mantenimeinto de rutina
Problemas de contaminacin en la preparacin de la muestra

Agilent 7700x ICP-MS con Octopole Reaction System (ORS3)


Interfase de extraccin
(alta transmisin,
tolerancia a matriz)

Lentes inicas Off-axis Entrada del gas


de celda

3 generacin
Octopole Reaction
System (ORS3)

Cuadrupolo
hiperblico de
alta frecuencia
(3MHz)

Entrada de gas
de dilucin del
kit HMI
Detector
simultneo dual
rpido (109
intervalo dinmico
lineal)

Sistema de
introduccin de
muestra de bajo
flujo

Cmara de
nebulizacin
refrigerada por
Peltier

Sistema de vaco
de alto
rendimiento
Generador de RF de
27MHz de frecuencia
variable

ICP-MS : La Tecnologa de Agilent


Sistema de introduccin de muestras HMI
Mejora la tolerancia en las matrices ms complejas
Mejora la Productividad

Interfaz de Alta Transmisin


Sensibilidad mejorada
Mejor tolerancia a las matrices complejas
Mantenimiento simplificado

Celda ORS3
Supresin de interferencias en modo Helio
Consumo reducido
Simplicidad del desarrolo de mtodos
Productividad mejorada

Detector con rango lineal mayor de 9 rdenes


Evita diluciones, ideal para tcnicas acopladas

Tecnologa Agilent 7700, Ventajas exclusivas


Ventaja

Importancia

Tolerancia a la
Matriz

La mayora de aplicaciones requieren un alto grado de


tolerancia a las matrices complejas para:
i) Reducir el mantenimiento
ii) Mejorar la Sensibilidad
iii) Simplificar el desarrollo de mtodos

Eliminacin de
Interferencias

El sistema ORS3 operando en modo He elimina de forma


eficaz las interferencias poliatmicas en matrices complejas,
sin necesidad de establecer condiciones de trabajo
especficas por el usuario

Rango Dinmico

El sistema Agilent 7700 ofrece 9 rdenes de magnitud de


Rango dinmico, simplificando el desarrollo de mtodos y
reduciendo los resultados fuera de rango, mejorando la
productividad y reduciendo los tiempos de anlisis por
repeticin de lecturas

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Huelva, 16 de Julio de 2010

Correccin de Interferencias:
Celda ORS
Modo He reduce
interferencias
ORS3 opera en modo de colisin
con He para eliminar TODAS las
interferencias Poliatmicas
Ningn otro ICP-MS opera
eficazmente en modo He utilizan
celdas de gases recativos que:
No eliminan interferencias no
reactivas
Crea nuevos iones productos de
reaccin (nuevas interferencias)
Causan prdidas de sensibilidad
Interferencias de matriz (arriba) TOTALMENTE
eliminadas en modo He (abajo)
Atomic Spectroscopy Positioning
Agilent Restricted

Rango Dinmico:
Detector de 9 rdenes de IDL
DDEM, que proporciona 9 rdenes de linealidad (6 ordenes en modo pulso, y 3
ms en analgico).
Elementos mayoritarios a 100s ppm pueden ser medidos en las mismas
condiciones que elementos traza a ppt, ppb, sin que el usuario tenga que cambiar
condiciones o configuracin del HW.
Calibracin de Na punto ms alto 2360 ppm

AAS, MP-AES,
ICP-OES, ICP-MS

Cmo decidir la
Tcnica ms
adecuada para cada
Aplicacin?

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Cmo decidir la Tcnica ms adecuada?


Dos preguntas esenciales
1. Cuantas muestras por da y cuantos elementos por muestra?
Muchas muestras/da y/o muchos elementos/muestra = Anlisis Multielemental
Tipicamente ICP-OES or ICP-MS y ahora MP-AES

Pocas muestras/da y/o pocos elementos/muestrra = Anlisis Monoelemental


Tipicamente FAAS or GFAAS

2. Qu Lmites de Deteccin son requeridos?


Bajos lmites de deteccin (low/sub-ppb o ppt) <> Tcnicas Ultrasensibles
Tipicamente GFAAS (pocos elementos) o ICP-MS (muchos elementos)

Altos Lmites de Deteccin (>1 ppb) = Tcnicas Sensibles


Tipicamente FAAS (pocos elementos), MP-AES (medio/alto # de muestras),
o ICP-OES (muchos elementos y muestras)

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Tcnicas de Espectrometra Atmica


High
ICP-OES

Number
of
Elements
per
Sample

ICP-MS

MP-AES
Fast Sequential
AAS*
Flame AAS

Graphite Furnace
AAS
Hydride AAS

Low
High (ppm)

Detection
Limits

Low (ppt)

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Cmo decidir la Tcnica ms adecuada?


Otras preguntas importantes
1. Que presupuesto hay disponible?
En trminos de productividad, no solo coste de inversin instrumental

2. Qu tcnica(s) se utiliza actualmente?


Puede estar pre-definida por mtodos regulados, experiencia,
especificaciones concretas, etc

3. Qu tipo de muestras se necesita analizar (matrices, TDS)?


Muy altos contenidos en TDS(>10%) = GFAAS, ICP-OES
Tambin ICPMS por posibilidad de dilucin mayor

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Flame AA

GFAA

MP-AES

ICP-OES

ICP-MS

Criteria

Criterios de
Seleccin
de Tcnicas

Measurement Range
X

high > 10%


1 - 10 %

ppm

high ppb

low ppb

ppt

Number of samples
Few

Several

X
X

Many
No Elements per Sample
Single

Few (2-5)

Intermediate (5-10)
Many
Sample Matrix
< 3%

3-10 %

> 10%

Criterios de
Seleccin
de Tcnicas

Flame AA

GFAA

MP-AES

ICP-OES

ICP-MS

up to 3 orders

5 orders

X 1)

Criteria
Linearity

6 orders

> 7 orders
Ease of Use
Simple

X
X

Moderate
X

Complex

X
X

Capital Investment
Low

Low-Med

X
X

Med-High

High
Running Cost
Low

Med

High

X
X

Coste de Inversin
ICPMS
ICPOES
MPAES
Horno
Llama
Hidruros

Coste de Funcionamiento
ICPMS
ICPOES
MPAES
Horno
Llama
Hidruros

Comparacin de Tcnicas: MPAES vs FAAS

Caracterstica

MPAES

FAAS

Lmites de Deteccin

Mejor

Bueno

Rango Dinmico Lineal

Mejor

Bueno

Gases Combustibles

No Requerido

Acetileno

Gases oxidantes

No Requerido

Oxido Nitroso

Fuentes de Luz

No Requerido

HCL y D2

Correccin deriva

No Requerido

Haz Doble

Operacin Inatendida

No

Costes de Operacin

Mnimo

Medio

Tolerancia TDS

Bueno

Bueno

DATE

Agilent Confidential
Page 43

Qu tipo de muestras pueden ser medidas?


Lquidas (las ms comunes)

Llama AA
Generacin de Vapor AA
Horno de Grafito AA
MP-AES
ICP-OES
ICP-MS

Slidos en suspensin (slurries)


Horno de Grafito AA
ICP-OES

Slidos (Directo, ablacin por LASER)


ICP-OES, tpico para metales, geoqumica
ICP-MS, para forense

Gases
GC-ICP-MS e.g. siloxanos en biogas

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Seleccin por Aplicaciones


Medio Ambiente
Amplio rango de tipos de muestra, desde aguas potables, naturales, hasta
residuos, vertidos, efluentes y digestiones de suelos/sedimentos
Laboratorios regulados, tpicamente ICP-MS ICP-OES + GFAAS/Vapor
ICP-OES para mayores cargas de trabajo y cuando elementos txicos/trazas y
formadores de hidruros/Hg no son necesarios
ICP-MS cubre mayoritarios y ultratrazas en un sola lectura, y tambin es aplicable a
especiazin y cuando formadores de hidruros/Hg son requeridos
AAS o Fluorescencia Atmica para Hg si no se dispone de ICPMS

Laboratorios No regulados, MP-AES o AAS de Llama/Horno pueden ser


utilizados en lugar de ICPOES

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Seleccin por Aplicaciones


Seguridad Alimentaria
Crecientes exigencias en seguridad alimentaria y cumplimiento de normativas en
importacin de alimentos (incluyendo especiazin de algunos elementos, MeHg, Sn, As)
MP-AES ideal para laboratorios de rutina de carga media-alta de trabajo
ICP-OES preferido en laboratorios de muy alta carga de trabajo
ICP-MS preferido para screening de trazas de elementos txicos y en
investigacin/desarrollo de productos (especiamente para especiazin)

Agroqumica (suelos, agua, fertilizantes)


MP-AES o AAS para determinacin de biodisponibilidad de Ca, Na, Mg, K en suelos
MP-AES o ICP-OES para elementos nutricionales en digestiones de plantas y
extractos de suelos
Comunmente en laboratorios de contrato de alta carga de trabajo

ICPMS para As y Se en plantas y suelos a niveles de ppb-sub ppb

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Seleccin por Aplicaciones


Geoqumica & Metalrgica
Incluyendo minera, control y produccin
Tpicamente orientados hacia ICPOES
Productividad, sencillez de uso y robustez (altos TDS)
Capacidad multielemento
Buena percisin y lmites de deteccin ms que suficientes

MP-AES puede cubrir las aplicaciones por AAS e ICPOES con mucho menor coste
de operacin. Ideal para localizaciones remotas

Materiales High tech, electrnica, semiconductores,


Principalmente ICP-MS, tambin GFAAS para menores cargas de trabajo
A menudo requiere extremadamente bajos LD en muestras ultralimpias

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Seleccin por Aplicaciones


Energa y Petroqumica
Aplicaciones Petroqumicas tradicionalmente orientadas a AAS or ICP-OES. Numerosos
mtodos estandarizados (ASTM)
Mtodos para Combustibles alternativos (FAME, Biodiesel) mencionan AAS/ICPOES
como tcnicas analticas. Muy bajos niveles, con ICP-MS
Metales en lubricantes usados utilizan principalmente ICP-OES; algunos AAS.
MP-AES magnfica alternativa; productividad, prestaciones y bajo coste operativo
Algunos sistemas ICP-MS en investigacin petroqumica y laboratorios de contrato (e.g.
Ttrazas enfueles; Especiazin de As y Hg)
GFAAS para aguas de refrigeracin en plantas de energa e.g. Si, Ca
ICP-MS para control de aguas de refrigeracin en Centrales nucleares (relacin B10/B11 y
monitorizacin de la corrosin)

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Seleccin por Aplicaciones


Farmacetica
Histricamente mtodos colorimtricos GFAAS para metales pesados
Nuevos mtodos USP <232>/<233> hacen rfeerencia al uso deICPOES o ICPMS
entre los mtodos con especificaciones suficientes para alcanzar los niveles
regulados
Ahora muchos ms elementos (incluyendo especiacin para algunos elementos) menores LD,
metodologas especfica y mayores exigencias
21 CFR Part 11

Forense
Puede Ser Clnica (e.g. toxicologa) o Inorgnica (e.g. fragmentos de materiales)
MP-AES puede ser utilizada para trazas en sueros
GFAAS para txicos en sangre e.g. Pb
Para screeining o multielementos, tcnicas de ICP (OES/MS) o MP-AES
Materiales en escenarios criminales pueden requerir anlisis directo de muestras slidas por ICPMS
con ablacin por LASER

Atomic Spectroscopy Positioning


Agilent Restricted

Posicionamiento de las diferentes Tcnicas


Espectroscpicas
Rango de

Mayor Precio

DLs ppb a ppm

Multielemento

Monoelemento
Cheap,
ppm level DLs.
Fast per sample,
but single-element
analysis

FAAS

ppm

Precio en USD

DLs sub-ppb

Price varies with


config. DLs in ppb range,
but measures all elements in
1 run (multi-element). Requires
hydride to measure As, Se,
Sb, Te or Hg at low (ppt) levels

Mid priced,
ppb-ppm level
DLs. Fast
sequential multielement
analysis

Most expensive
but best DLs. Covers
almost all elements,
including hydrides
and Hg. Fast, multielement analysis

ICP-MS
110K$
100K$

ICP-OES
55K$
60K$

More expensive than


FAAS, but much better
DLs. Does not cover as
many elements. Very
slow, single-element
analysis

GFAAS
35K$ MP-AES
40K$

Note: Agilent FAAS offer


Fast Sequential
capability matches
speed of sequential ICP
MP-AES

160K$

ICP-OES

FAAS
20K$

GFAAS

ppb

ICP-MS

ppt

Menores Lmites de deteccin


Atomic Spectroscopy Positioning
Agilent Restricted

Preguntas?
Preguntas?
Agilent MP-AES

Agilent AAS

Agilent ICP-OES

Agilent ICP-MS

The Market Leaders in Atomic Spectroscopy


Atomic Spectroscopy Positioning
Agilent Restricted