DIFRACCIN

YESSICA TATIANA BAREO TRIANA

ESTEFANY CAMPOS MARTNEZ
MONICA DIAZ

UNIVERSIDAD COOPERATIVA DE COLOMBIA

FACULTAD: INGENIERA INDUSTRIAL / NOCT
MATERIALES EN INGENIERA
TERCER SEMESTRE
BOGOT D.C
OCTUBRE 14 DE 2014

DIFRACCIN

YESSICA TATIANA BAREO TRIANA

ESTEFANY CAMPOS MARTNEZ
MONICA ANYELA DIAZ VELOZA

DOCENTE: GERMAN BERNAL

UNIVERSIDAD COOPERATIVA DE COLOMBIA

FACULTAD: INGENIERA INDUSTRIAL / NOCT
MATERIALES EN INGENIERA
TERCER SEMESTRE
BOGOT D.C

OCTUBRE 14 DE 201
TABLA DE CONTENIDO

RESUMEN ..1
HISTORIA DE LOS RAYOS X......2
INTRODUCCION....3
OBJETIVOS.....4
QUE SON RAYOS X..5
COMO SE PRODUCEN....6
CARACTERISTICAS DE LA RADIACION..7
INTERFERENCIAS CONSTRUCTIVAS Y DESTRUCTIVAS...8 Y 9
DIFRACTOR DE RAYOS X.....10
MTODO MS USADO EN EL ANLISIS DE DIFRACCIN DE RAYOS X......11
CONDICIONES DE DIFRACCIN 12 Y 13
DIAGRAMA DE TUBO DE RAYOS X.14 Y 15
CONCLUSIONES....16
BIBLIOGRAFIA.17
WEBGRAFIA.18

1. RESUMEN
Como es bien conocido, los rayos X son un tipo de radiacin electromagntica
descubierta por Rntgen en 1895. Puede describirse en forma de ondas o en
forma de partculas de energa. En su imagen corpuscular, los rayos X se
transmiten mediante cuantos de energa denominados fotones. Un fotn es una
partcula que transporta una unidad elemental de energa (E) pero no tiene masa.
En el vaco, todos los fotones viajan a la velocidad de la luz (c) en lnea recta y
constituyen el haz de rayos X. En su imagen ondulatoria, los rayos X se propagan
en forma de ondas con mximos y mnimos en su distribucin de campo
electromagntico siempre perpendiculares a la direccin de propagacin. Estas
ondas se caracterizan por una frecuencia de oscilacin n y una longitud de onda
l caractersticas.
En el caso de la aplicacin espectromtrica de los rayos X, la excitacin de una
muestra se produce mediante el haz primario emergente de la fuente de rayos X.
Esta radiacin primaria produce la excitacin de los tomos presentes en la
muestra, los que, tras su recombinacin electrnica, reemiten radiacin X
caracterstica denominada secundaria. Es a este fenmeno a lo que se denomina
fluorescencia de rayos X. La radiacin secundaria, emitida por los tomos
presentes en la muestra, es registrada usualmente en forma de histograma, donde
se representa el nmero de fotones emitidos por intervalo de energa
(fluorescencia por dispersin de energa, EDXRF). Otra forma alternativa del
espectro de la radiacin secundaria es utilizando los principios de la difraccin y
obteniendo un espectro de intensidad respecto a la longitud de onda de los
fotones re-emitidos (fluorescencia por dispersin de longitud de onda, WDXRF).

2. HISTORIA DE LOS RAYOS X

Los rayos X fueron descubiertos accidentalmente por Wilhelm Conrad Rongten
(1845-1923) en 1895 cuando experimentaba con la produccin de rayos catdicos
en tubos de descarga cubiertos con papel negro. Descubri que el haz de
electrones producido en el ctodo incida en el vidrio y produca una radiacin X
de pequea intensidad. Rongten no lleg a determinar la longitud de onda de ese
nuevo tipo de radiacin electromagntica.
W. Rongten demostr que los nuevos rayos se propagaban en lnea recta con una
velocidad anloga a las de la luz capaz de atravesar materiales opacos a la luz. A
principios de 1912, Laue se dio cuenta que los rayos X tenan longitud de onda
adecuada para ser difractados por los tomos que componen los cristales.
En 1912, el fsico alemn Max Von Laue (1879-1960) y su equipo sugirieron que
los tomos de un cristal estn espaciados a una distancia tan pequea que les
permite servir como electos de una rejilla de difraccin tridimensional para los
rayos X. Se llevaron a cabo ensayos con un cristal de sulfato de cobre, al que se
le someti a la accin de los rayos X, haciendo que el haz incidiera en una placa
fotogrfica. El resultado fue la impresin de la placa por una serie de manchas
distribuidas geomtricamente alrededor de una mancha central producida por el
haz directo de rayos X, demostrndose as que se produca difraccin. Este era el
comienzo de la cristalografa de rayos X. La disposicin de los puntos resultantes
del modelo de Laue depende de las disposiciones relativas de los tomos de
cristal. Los rayos X son la radiacin electromagntica cuya longitud de onda vara
de 0.1 a 100 A.

3. INTRODUCCIN.

La difraccin de los rayos X se produce al bombear un metal con electrones de

alta energa, cuando los electrones penetran en el metal se desaceleran y emiten
radiacin en un intervalo de longitudes de onda denominndose esta radiacin
continua, sobre esta aparece picos agudos de alta intensidad, estos tienen origen
a la interaccin de electrones incidentes con electrones de capas internas de los
tomos, una colisin expulsa un electrn y otro electrn de mayor energa
desciende en su lugar emitiendo el exceso de energa como fotn de rayos X.

4. OBJETIVOS.
1.1
OBJETIVO GENERAL.
Investigar la temtica de la difraccin, caractersticas y como se producen
las diferentes interferencias en los rayos X.
1.2 OBJETIVOS ESPECFICOS.

Averiguar que son los rayos X y como se producen

Examinar cuales son las diferentes interferencias de los rayos X a travs de
los cristales
Indagar que es un difractor de rayos X.
Averiguar los mtodos ms utilizados por el anlisis de difraccin

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DIFRACCIN

5. QUE SON RAYOS X

Los rayos x, son energa electromagntica que no se ve o que nuestros ojos no

pueden observar, y se utilizan como una manera para tomar imgenes internas de
los huesos, tejidos y rganos de nuestro cuerpo, tambin para ver los rganos y
tejidos.
Esta radiacin tiene la propiedad de penetrar los cuerpos opacos, los rayos x son
invisibles a nuestros ojos, pero tienen la propiedad de producir imgenes visibles
cuando usamos placas fotogrficas o detectores especiales para ello.
Es por medio de esta energa electromagntica, que un doctor determina si los
huesos de una persona estn rotos o daados. As mismo, los doctores se pueden
enterar de lesiones en los rganos. Tambin se utilizan para ver si las personas
tienen algn tumor o abscesos en el cuerpo.

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6. COMO SE PRODUCEN

Los rayos X son productos de la desaceleracin rpida de electrones muy

energticos (del orden 1000eV) al chocar con un blanco metlico. Segn la
mecnica clsica, una carga acelerada emite radiacin electromagntica, de este
modo, el choque produce un espectro continuo de rayos X (a partir de cierta
longitud de onda mnima). La produccin de rayos X se da en un tubo de rayos X
que puede variar dependiendo de la fuente de electrones y puede ser de dos
clases: tubos con filamento o tubos con gas.
El tubo con filamento es un tubo de vidrio al vaco en el cual se encuentran dos
electrodos en sus extremos. El ctodo es un filamento caliente de tungsteno y el
nodo es un bloque de cobre en el cual est inmerso el blanco. El nodo es
refrigerado continuamente mediante la circulacin de agua, pues la energa de los
electrones al ser golpeados con el blanco, es transformada en energa trmica en
un gran porcentaje. Los electrones generados en el ctodo son enfocados hacia
un punto en el blanco (que por lo general posee una inclinacin de 45) y producto
de la colisin los rayos X son generados. Finalmente el tubo de rayos X posee una
ventana la cual es transparente a este tipo de radiacin elaborada en berilio,
aluminio o mica.

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7. CARACTERSTICAS DE LA RADIACIN.

Cul es la caracterstica de la radiacin de los rayos x y su origen?

Calidad y cantidad del haz de Rayos X. Calidad y voltaje del haz de rayos X.
La longitud de onda determina la energa y el poder de penetracin de la
radiacin: los Rayos X con longitud de onda ms corta tienen mayor poder de
penetracin, mientras que los de longitud de onda mayor son menos penetrantes y
es ms probable que la materia los absorba.
Los rayos X son un tipo de radiacin electromagntica (EM) de alta energa. La radiacin
de rayos X tiene longitudes de ondas mucho ms cortas que la luz visible , por lo que
los fotones de rayos X tienen mucha mayor energa que los fotones de luz.
Los rayos X se encuentran entre la "luz" ultravioleta y los rayos gamma del espectro
electromagntico. Los rayos X tienen longitudes de ondas entre 10 nanmetros (10 x 109 metros) y 10 picometros (10 x 10-12 metros). La radiacin de rayos X oscila de 30
petahertz (PHz 1015 hertz) hasta 30 exahertz (EHz 1018hertz).
Los rayos X se encuentran subdivididos en rayos X duros y rayos X blandos. La baja
energa de los rayos X blandos tienen longitud de onda ms larga, mientras que los rayos
X duros de elevada energa tienen longitud de onda ms corta. La divisin entre los dos
tipos de rayos X se encuentra a una longitud de onda aproximada de 100 picmetros, o a
un nivel de energa aproximado de 10 keV por fotn. Los rayos X con energas entre 10
keV y unos cuantos cientos de keV se consideran rayos X duros.
No hay una distincin precisa entre los rayos X de mayor energa y los rayos gamma de
menor energa. De hecho, la distincin entre los rayos X y los rayos gamma se basa en el
origen de la radiacin y no en la frecuencia o longitud de onda de las ondas
electromagnticas. Los rayos gamma se producen a causa de transiciones nucleares,
mientras que los rayos-X son resultado de la aceleracin de electrones.
Desde hace tiempo los rayos-X son utilizados para poder "ver" a travs de la piel y tejido
muscular, a fin de realizar imgenes de rayos X con fines mdicos durante la examinacin
en busca de fractura de huesos. Los rayos X que llegan a la Tierra desde el espacio son
absorbidos por nuestra atmsfera antes de que puedan llegar a la superficie.

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8. INTERFERENCIAS CONSTRUCTIVAS Y DESTRUCTIVAS.

Cules son las diferencias entre las interferencias constructivas y destructivas de

los ases de rayos x a travs de los cristales?

INTERFERENCIA CONSTRUCTIVA

La interferencia constructiva se produce en los puntos en que dos ondas de la misma

frecuencia que se solapan o entrecruzan estn en fase; es decir, cuando las crestas y los
valles de ambas ondas coinciden. En ese caso, las dos ondas se refuerzan mutuamente y
forman una onda cuya amplitud es igual a la suma de las amplitudes individuales de las
ondas originales.

INTERFERENCIA DESTRUCTIVA

La interferencia destructiva se produce cuando dos ondas de la misma frecuencia estn

completamente desfasadas una respecto a la otra; es decir, cuando la cresta de una onda
coincide con el valle de otra. En este caso, las dos ondas se cancelan mutuamente.

Cuando las ondas que se cruzan o solapan tienen frecuencias diferentes o no estn
exactamente en fase ni desfasadas, el esquema de interferencia puede ser ms complejo.

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9. DIFRACTOR DE RAYOS X

Longitudes de onda de los rayos X aproximadamente iguales a la distancia

interplanar en solidos cristalinos, producen picos de difraccin de intensidades
variables cuando un haz de rayos X incide sobre un slido cristalino. Por
simplicidad, sustituimos los planos cristalinos de centro atmico de dispersin por
los planos cristalinos que actan como espejos reflejando el haz de rayos X
incidente. Las lneas horizontales representan un conjunto de planos cristalinos
paralelos con ndices de Miller. Cuando un haz incidente de rayos X
monocromtico de longitud de onda (incide sobre un conjunto de planos a un
ngulo tal que las ondas que abandonan los diferentes planos no estn en fase,
no se produce un reforzamiento Haz. As, se dan interferencias destructivas. si las
ondas reflejadas en los diferentes planos estn en fase, tienen lugar un
reforzamiento de Haz o interferencias constructivas.

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10. MTODO MS USADO EN EL ANLISIS DE DIFRACCIN DE RAYOS X

Anlisis de difraccin de rayos X por el mtodo de muestra en polvo. Es la tcnica

de difraccin de rayos X ms comnmente utilizada. En esta tcnica se utiliza una
muestra en polvo de las partculas estn orientadas e el Haz de rayos X para
satisfacer las condiciones de difraccin de la ley de Bragg. Para los modelos d
anlisis de cristales por rayos X se utiliza un difractometro de rayos X que un
contador de radiacin para detectar el ngulo y la intensidad del haz de difractor
de rayos X de la intensidad del haz difractor en funcin de ngulos de difraccin
para la muestra de metal puro en polvo. De esta forma, se registra al mismo
tiempo los ngulos de los haces difractados y sus intecidades. Algunas veces se
utiliza una cmara de polvo con rollo de pelcula en lugar de un difractometro, pero
este mtodo es mucho ms lento y en mayora de los casos menos convenientes.
Condiciones de difraccin para celdilla

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11. CONDICIONES DE DIFRACCIN.

Condiciones de difraccin para celdas cubicas

Las tcnicas de difraccin de rayos x permiten determinar las estructuras de
solidos cristalinos. La interpretacin de los datos de difraccin de rayos X para la
mayora de las sustancias cristalinas es compleja, por ello se considera el caso de
difraccin de metales de estructura cubica. Para que cumplan las condiciones de
difraccin de la ley de Bragg.
Los datos de los anlisis de rayos x por difraccin de las celdas unitarias pueden
simplificarse expresando la longitud de onda as:
=2 d sin
a
d hkl= 2 2 2
h +k +l
Finalmente:
=

2 d sin
h2 +k 2 +l2

Empleando la anterior ecuacin junto con los datos de difraccin de rayos x

podemos determinar si una estructura es cbica centrada en el cuerpo (BCC) o
cbica centrada en las caras (FCC). Para esto debe conocerse cules planos
cristalinos son planos de difraccin para cada tipo de estructura cristalina:

Para la red cbica sencilla, todos los planos (hkl) son planos de reflexin.
Para la estructura BCC la difraccin solo se da en los planos cuyos ndices
de Miller sumados (h+k+l) dan un nmero par.
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En la estructura FCC los principales planos de difraccin son los que sus
ndices son todos pares o todos impares (el cero se considera par).

Reglas para determinar los planos de difraccin {hkl} en los cristales cbicos:
Redes de Bravas
BCC
FCC

Reflexiones Presentes
Reflexiones Ausentes
(h+k+l)= par
(h+k+l)= par
(h+k+l) son todos pares o (h+k+l) no todos son
todos impares

pares o todos impares

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12. DIAGRAMA DE TUBO RAYOS X
Realizar un diagrama de un tubo de rayos x y explicar su funcionamiento.

El tubo de rayos X es el lugar en donde se generan los rayos X, en base a un

procedimiento mediante el cual se aceleran unos electrones en primer lugar, para
despus frenarlos bruscamente. De esta forma se obtienen los fotones que
constituyen la radiacin ionizante. Para ello, dicho tubo consta de un filamento
metlico (ctodo) que, al ponerse incandescente, produce una nube de electrones
a su alrededor -efecto termoinico-. Estos electrones son acelerados mediante
una elevada diferencia de potencial (kV), y se les lleva a chocar contra el nodo,
en donde son frenados liberando su energa cintica como fotones que
constituyen los rayos X.
Diagrama esquemtico de un tubo de rayos X

Para obtener rayos X para su uso en difraccin, es necesario suministrar un

voltaje en torno a los 35 kV entre un ctodo emisor de electrones y un nodo
metlico o
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blanco, ambos contenidos en vaco, cuando se calienta el filamento de tungsteno

del ctodo se liberan electrones por emisin termoinica y son acelerados a travs
del vaco por la diferencia del potencial entre el ctodo y el nodo con lo que
aumenta su energa cintica. Cuando los electrones golpean el metal o blanco se
emiten rayos X. sin embargo la mayor parte de la energa cintica (en torno al
98%) se libera en forma de calor por lo que el metal o blanco tiene que enfriarse
externamente.

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CONCLUSIONES

Se investig la temtica de la difraccin, caractersticas y como se

producen las diferentes interferencias en los rayos X.
Se averiguo que son los rayos X y como se producen
Se Examinaron cules son las diferentes interferencias de los rayos X a
travs de los cristales
Se indago que es un difractor de rayos X el cual proporciona informacin
detallada de la estructura tridimensional en estado slido de las muestras
cristalinas de compuestos orgnicos, inorgnicos y consistiendo en la

descripcin geomtrica en trminos de distancia y ngulos

Se averiguaron los mtodos ms utilizados por el anlisis de difraccin

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BIBLIOGRAFA.

SMITH, William. Fundamentos de la Ciencia e Ingeniera de los Materiales.

Tercera edicin. Madrid. ISBN 0-07-059241-1.
CORTES HERNNDEZ, Hctor Fabio; MARTNEZ YEPES Pedro Nel;
VALENCIA SANCHEZ, Hoover Albeiro. Fundamentos de Cristalografa.
Armenia. ISBN 978-958-44-04-34-3
Askeland Donald R. and Phul Pradeep P. CIENCIA E INGENIERA DE
LOS MATERIALES. 4ta Edicin. International Thompson Editores S.A.
Mxico. 2004, ISBN 970-688-361-3

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WEBGRAFIA.

http://blog.utp.edu.co/metalografia/2012/07/30/3-cristalografia/
Elementos bsicos de los equipos y haces de rayos X- Miguel Alcaraz
Baos https://webs.um.es/mab/miwiki/lib/exe/fetch.php?
id=temas&cache=cache&media=t5.pdf

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