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So Carlos
2014
Dissertao
apresentada
ao
Programa de Ps-Graduao em
Fsica do Instituto de Fsica de So
Carlos da Universidade de So
Paulo, para a obteno do ttulo de
Mestre em Cincias.
rea de Concentrao: Fsica
Bsica
Orientador: Prof. Dr. Srgio Carlos
Zlio
Verso Corrigida
(Verso original disponvel na Unidade que aloja o Programa)
So Carlos
2014
AGRADECIMENTOS
Em primeiro lugar gostaria de agradecer a Deus (ou Al, Jav, Jeov, Odin, Zeus, etc...
seja qual o nome que do pra Ele), pois somente uma existncia mstica poderia ter me
ajudado em vrios momentos realmente complicados pelos quais passei nos ltimos anos.
Tem que ser por algum milagre mesmo!
Agradeo a CAPES, FAPESP e CNPq pelo apoio financeiro.
Agradeo a minha famlia, sem dvida alguma a coisa mais importante na minha vida.
O meu porto seguro pra onde posso retornar sempre nas horas mais complicadas. No h
maneiras de transcrever em palavras o quanto sou grato aos meus pais Jos Eurpedes e Maria
Francisca por tudo o que fizeram, e ainda tm feito por mim. Acredito que jamais terei
condies de retribuir todo o carinho recebido, alm dos sacrifcios realizados para que eu
pudesse chegar at aqui. Agradeo a minha irm Liliane, por todo o apoio ao longo desses
anos. Eu tenho que agradecer at quela praga do Joo Paulo, apesar das discusses e brigas
de irmos tenho certeza que nos entendemos relativamente bem (no da maneira usual, mas
ainda assim nos entendemos).
Agradeo aos tios e primos que de alguma forma me ajudaram nesses anos fora de
casa. Em especial ao meu padrinho Nivaldo que um segundo pai para mim.
Aos meus amigos de Franca, dos quais me distanciei para poder estudar e que se
mostraram incrveis por permanecerem ao meu lado at hoje apesar da minha ausncia. So
eles: Amanda, Marcos Vinicius, Rafael (Frano), Murilo, Mateus (Tir), Cairo, Luciene,
Vangelis, Marcelo (presepa!), Vanessa, Geovanni, Hermes (Japo), Daniel Laporte, Rafael
Laporte, Rafael (Arantes), Tarcsio, Vinicius (no vou revelar o apelido hehheeh), Elvis, Elton
e Jonathan.
Quando terminei minha primeira graduao, somente consegui realizar o sonho de
ingressar no curso de fsica por causa da ajuda de quatro pessoas muito especiais, as quais tive
a honra de conhecer e no poderia deixar de expressar minha gratido a elas. Carlinhos,
Fabinho, Cidinha e Negrinho, muito obrigado por terem confiado em mim!
Sou muito grato aos amigos de So Carlos, que conheci por causa dos estudos e
sempre contriburam para meu crescimento pessoal e profissional: Lincoln, Gilberto, Uilson,
Iber, Lucas, Henry, Fernando (Pi), Fernando (de Chico), Flvio, Huyra, Tiago Rafael
(Grilo), Pedro, Hugo, Hudson, Mariana, Willian, Caio, Everton, Kleber, Rafael (Tahzib). Ao
pessoal do grupo de fotnica: Leonardo (Tch), Marcos (Marco), Andr, Daniel, Lino,
Otuka, Gustavo, Nathlia, Emerson, Anderson, Tiago e Renato.
Meus agradecimentos minha segunda famlia: Jessica (Velma), Epson, Luiz
Henrique, Cleverson, Millena, Artur, Jssica (Benzo), Mateus, Carolina e Diogo.
Sou grato aos meu professores de graduao e ps-graduao, em particular aos
professores Clber Mendona, Leonardo Maia e Lidrio Ioriatti pelas incontveis vezes que
interromperam sua rotina de trabalho para conversarem comigo sobre os mais variados
assuntos, inclusive dvidas e questionamentos pessoais.
Agradeo ao meu orientador, o professor Srgio Carlos Zilio, com quem tenho a honra
de trabalhar desde o meu segundo ano de graduao. Sempre foi (muito) paciente com minhas
dificuldades e dedicado a esclarecer todas as minhas dvidas, me ajudando at mesmo em
questes pessoais.
E por fim, mas de forma alguma menos importante, agradeo a minha namorada
Anita. Ela uma pessoa maravilhosa que tive a grande sorte de conhecer e poder compartilhar
momentos muito intensos e reais ao seu lado durante alguns dos anos mais importantes de
minha vida! Espero que ela continue paciente ao longo do restante do caminho, pois, a nossa
jornada ainda vai longe (eu espero)!!!
RESUMO
DOMENEGUETI, J. F. M. Sensor de umidade e presso baseado na reflexo interna.
2014. 88 p. Dissertao (Mestrado em Cincias) Instituto de Fsica de So Carlos,
Universidade de So Paulo, So Carlos, 2014.
No presente trabalho propomos a utilizao de uma tcnica refratomtrica baseada na
determinao do ngulo crtico para o desenvolvimento de um sensor de umidade relativa e,
no mesmo escopo de aplicao, um medidor de vcuo primrio. A tcnica proposta tira
vantagem da diferena de fase adquirida pelas componentes paralela e perpendicular de um
feixe luminoso, linearmente polarizado, passando por reflexo interna, para produzir um
mnimo de intensidade, facilmente detectvel no perfil refletido correspondendo posio do
ngulo crtico. Desenvolvemos um estudo acerca dos principais aspectos tericos envolvidos
no fenmeno da reflexo total interna, onde realizamos algumas simulaes buscando avaliar
as variaes da posio angular do ngulo crtico a partir de alteraes no ndice de refrao.
A montagem bsica utilizada nos experimentos consiste de um laser de HeNe sintonizvel,
um polarizador, um prisma semicilndrico de ndice de refrao conhecido fabricado em vidro
tipo flint, um analisador, um CCD linear e de um computador, onde as informaes coletadas
pelo CCD foram tratadas por meio de um programa de aquisio de dados desenvolvido na
plataforma LabVIEWTM. O programa empregado permite o acompanhamento das variaes
do perfil refletido da base do prisma ponto a ponto, ou seja, possvel acompanhar toda a
dinmica de evoluo do ndice de refrao da amostra analisada em tempo real. Para
confirmao da efetividade da tcnica, realizamos medidas da variao do ndice de refrao
de amostras gasosas em funo da umidade relativa e da presso. O sistema demonstrou
sensibilidade suficiente para acompanhar mudanas da ordem de
em unidades do ndice
de refrao.
ABSTRACT
DOMENEGUETI, J. F. M. Humidity and pressure sensor based on the internal reflection.
2014. 88 p. Dissertao (Mestrado em Cincias) Instituto de Fsica de So Carlos,
Universidade de So Paulo, So Carlos, 2014.
In the present work we propose the use of a refractometric technique based on the
determination of the critical angle for the development of a relative humidity sensor and, in
the same application scope, a primary vacuum gauge. The proposed technique takes
advantage of the phase difference acquired by the parallel and perpendicular components of a,
linearly polarized, light beam undergoing internal reflection, to produce an easily detectable
intensity minimum in the reflected profile corresponding to the position of the critical angle.
We develop a study about the main theoretical aspects involved in the total internal reflection
phenomenon, where we perform some simulations aiming to evaluate the variations of the
critical angle angular position from changes on the refractive index. The basic set up used in
the experiments consist of a HeNe tunable laser, a polarizer, a semi-cylindrical prism with
known refractive index made of flint glass type, a analyzer, a linear CCD and a computer,
where the information collected by de CCD were treated by means of a data acquisition
program developed on the LabVIEWTM platform. The used program allows the point-by-point
monitoring of the changes of the profile reflected from the prism base, in other words, one can
monitor all the evolution dynamics of the refractive index of the analyzed sample in real time.
To confirm the effectiveness of the technique, we perform measurements of changes of the
refractive index of gaseous samples as function of the relative humidity and the pressure. The
system has shown enough sensitivity to track changes of the order of
index of refraction.
in units of the
LISTA DE FIGURAS
Figura 3.8 - Representao de um sensor resistivo em vista lateral (a) e de topo (b). ............. 47
Figura 3.9 Medidor de ponto de orvalho baseado na reflexo em espelhos gelados . ...... 48
Figura 4.1 - Reflexo e refrao em uma interface plana. ....................................................... 50
Figura 4.2 - Incidncia (a) abaixo e (b) acima do ngulo crtico. ............................................ 51
Figura 4.3 - Onda incidente com polarizao (a) TE e (b) TM com suas respectivas
ondas transmitida e refletida. .............................................................................. 52
Figura 4.4 - Coeficientes de reflexo externa e interna para uma interface SF10/ar.. ............. 54
Figura 4.5 - Diferena de fase entre as componentes s e p a partir do ngulo de
Brewster. ............................................................................................................. 56
Figura 4.6 - Refletividade das ondas s e p para (a)
e
; (b)
e
. ............................................................................................. 58
Figura 4.7 De cima para baixo: A refletividade para as componentes s e p, a diferena
de fase entre essas componentes e o perfil de intensidade resultante da
interferncia dessas duas ondas para todo o intervalo angular. A linha
tracejada um guia para os olhos. ...................................................................... 60
Figura 4.8 - Perfil de intensidade na vizinhana do ngulo crtico para diversos valores
de ndice de refrao. .......................................................................................... 61
Figura 4.9 - Perfil de intensidade na vizinhana do ngulo crtico para
e diversos valores de ndice de refrao. ......................................................... 61
Figura 5.1 - Posio do foco para os prismas semicilndricos. ................................................ 63
Figura 5.2 - CCD linear Sony ILX 554B. ................................................................................ 64
Figura 5.3 - Representao esquemtica da montagem experimental utilizada. As
dimenses no esto em escala. .......................................................................... 65
Figura 5.4 - Perfil de intensidade gerado pelo programa (b) a partir de um sinal
luminoso (a). A escala vertical foi ajustada regio de interesse. ..................... 66
Figura 5.5 - Painel do programa de aquisio e tratamento de dados com destaque para
suas principais funcionalidades. ........................................................................ 67
Figura 5.6 - (a) montagem utilizada nas medidas de umidade relativa e (b) sistema de
controle de umidade. ........................................................................................... 68
Figura 5.7 - Suporte de ao inoxidvel para as medidas de variao do ndice de
refrao em funo da presso ............................................................................ 69
SUMRIO
INTRODUO ........................................................................................................................... 19
DEFINIO ............................................................................................................................. 21
2.2
2.2.1
2.2.2
Refratmetro de Abbe...................................................................................................... 24
2.2.3
2.2.4
2.2.5
2.2.6
2.2.7
2.2.8
2.2.9
Elipsometria .................................................................................................................... 36
2.3
3
3.1
3.1.1
3.1.2
Diafragmas ...................................................................................................................... 40
3.1.3
Bourdon ........................................................................................................................... 42
3.1.4
3.1.5
3.2
3.2.1
3.2.2
Sensores resistivos........................................................................................................... 46
3.2.3
4.2
4.3
4.4
INTERFERNCIA
ENTRE
AS
COMPONENTES
DE
UMA
ONDA
ELETROMAGNTICA ............................................................................................................ 58
5
5.1
5.2
5.2.1
5.2.2
5.3
5.3.1
5.3.2
Presso ............................................................................................................................ 68
6.2
PRESSO ................................................................................................................................. 73
CONCLUSES ............................................................................................................................ 81
REFERNCIAS..................................................................................................................................... 83
19
INTRODUO
O ndice de refrao uma grandeza escalar adimensional que especifica todas as
20
desempenho superior ao seu correspondente eltrico, uma vez que so menos suscetveis a
interferncias eletromagnticas.
Essa dissertao est organizada da seguinte forma:
No captulo 2 apresentaremos a definio matemtica do ndice de refrao e
descreveremos algumas das tcnicas refratomtricas de maior relevncia quanto s suas
aplicaes. Abordaremos desde tcnicas que se fundamentam puramente nas propriedades
bsicas da ptica geomtrica, ou seja, nas leis de Snell, at tcnicas mais sofisticadas que
envolvem a excitao de nveis eletrnicos.
No captulo 3 apresentamos tcnicas e dispositivos utilizados na realizao de medidas
de umidade relativa e vcuo. Propomo-nos a discutir apenas os sensores cujo regime de
operao semelhante ao do sistema proposto neste trabalho.
Destinamos o captulo 4 ao tratamento dos aspectos tericos envolvendo a reflexo
total interna, fenmeno no qual se fundamenta o dispositivo descrito neste trabalho.
Iniciaremos com o tratamento geomtrico das leis da reflexo e refrao e concluiremos com
o estudo das equaes de Fresnel, obtidas a partir das equaes de Maxwell.
No captulo 5 descreveremos os materiais e mtodos empregados para obter os
resultados experimentais da tcnica apresentada. Descreveremos brevemente as montagens
especficas para medidas de vcuo e umidade relativa, bem como do sistema utilizado para a
aquisio e tratamento de dados.
Por fim, nos captulos 6, 7 e 8 apresentaremos, respectivamente, os resultados obtidos
experimentalmente, algumas propostas para a possvel continuidade da pesquisa e as
concluses a que chegamos at o presente momento.
21
2.1
DEFINIO
O ndice de refrao de um dado meio uma medida da velocidade da luz nesse. Uma
vez que a velocidade da luz no vcuo uma constante fsica universal, essa utilizada como
referncia e, assim, o ndice de refrao real definido pela seguinte razo:
(2.1)
onde
a velocidade de fase do
campo considerado, que nada mais que a velocidade com a qual as cristas (ou qualquer
outro ponto de referncia) se movem. A definio anterior tambm citada como ndice de
refrao absoluto, em contraste com o ndice de refrao relativo, onde no usamos o vcuo
como referncia, mas outro meio qualquer que seja de interesse. Em determinados contextos
til definirmos o ndice de refrao de grupo, dado por:
(2.2)
Em que
(2.3)
22
(2.4)
onde
(2.5)
(2.6)
onde definimos
23
Notao
Efeito
( )
Disperso
( )
No homogeneidade
Trajetria no retilnea
Anisotropia
Birrefringncia, dicrosmo se
Meios chirais
Atividade ptica
( )
Efeito termo-ptico
Lente trmica
( )
Efeito eletro-ptico
( )
Efeito Faraday
Isoladores pticos
( )
Chaves ultrarrpidas
( )
Moduladores acusto-pticos
2.2
TCNICAS REFRATOMTRICAS
) dado por:
)
( )
(2.7)
24
onde
a temperatura do sistema e
o ndice de refrao
do meio no qual o prisma est imerso. Na figura 2.1 ilustramos a condio de desvio mnimo
de um feixe incidente na lateral de um prisma triangular.
no ndice de refrao
25
A substncia a ser investigada colocada entre dois prismas de alto ndice de refrao.
Luz difusa atravessa um dos prismas, chamado prisma de iluminao, e atinge a amostra sob
vrios ngulos de incidncia. Caso o ngulo de incidncia de um particular raio luminoso seja
menor que o crtico, parte da luz transmitida e atinge uma escala graduada posicionada de
forma conveniente na sada do dispositivo. No entanto, a parcela da luz que incide na
interface prisma-amostra acima do ngulo crtico totalmente refletida e no atinge o
anteparo, criando uma separao entre uma regio iluminada e outra totalmente escura.
Conforme discutido na seo 4 deste trabalho, o ngulo crtico depende da razo entre os
ndices de refrao do prisma e da amostra, portanto, determinar a posio onde ocorre a
transio entre a regio clara e a sombreada na escala fornece uma medida direta do ndice de
refrao da amostra estudada. Nos modelos mais modernos essa regio de transio
determinada com preciso tal que o erro na determinao no ndice de refrao da ordem de
.
Apesar da disperso cromtica, boa parte dos aparelhos comerciais projetada para
uso com fontes de banda larga. (37) Para compensar os efeitos da disperso nos prismas
utilizam-se sistemas acromticos de lentes.
O refratmetro de Abbe o mais difundido no mercado por vrios motivos: baixo
custo, facilidade de uso, simplicidade de operao, possibilidade de construo de sistemas
portteis, necessidade de pequenas quantidades de amostras (que devem ser finas no caso de
amostras slidas) para a realizao de uma anlise, etc.
26
( )
( )
(2.8)
27
Figura 2.4 - Determinao de ndice de refrao de amostras slidas utilizando refratmetro de Abbe modificado.
por: (39)
(2.9)
Para realizar esse tipo de medida com a maior preciso possvel, utiliza-se um lquido
casador de ndices, que elimina a camada de ar formada entre a amostra e a base. Alm disso,
necessrio que ambos tenham suas superfcies de contato muito planas e polidas, de tal sorte
que as irregularidades superficiais no prejudiquem os resultados.
Atravs dessa tcnica, possvel alcanar uma preciso tpica de 10-5 no ndice de
refrao.
28
(2.10)
Maiores detalhes sobre esse efeito sero fornecidos no captulo 4, onde tratamos dos
fundamentos da tcnica proposta neste trabalho.
Uma vez que nesse ngulo uma das componentes do campo, mais especificamente a
componente paralela ao plano de incidncia, no refletida, os mtodos que fazem uso dessa
propriedade utilizam, em geral, plataformas giratrias para varrer diversas posies angulares
e identificar onde a intensidade refletida mnima. Com isso possvel determinar o ndice de
refrao das amostras estudadas. Uma montagem experimental tpica ilustrada na figura 2.5:
Figura 2.5 Montagem experimental utilizada para medir o ngulo de Brewster. Amostra e detector so
montados sobre um sistema rotatrio controlado por computador.
29
Em ptica, o ngulo crtico definido como o ngulo de incidncia para o qual o feixe
emergente rasante, ou seja, para uma interface localmente plana, o vetor de onda transmitido
perpendicular ao vetor normal interface no ponto de incidncia. Conforme apresentado em
detalhes no Captulo 4, o ngulo crtico ( ), para meios no absorvedores, se relaciona com o
ndice de refrao dos meios de incidncia ( ) e de transmisso ( ) de acordo com a
seguinte igualdade:
(2.11)
As tcnicas de determinao do ngulo crtico aplicadas refratometria se
fundamentam na dependncia angular da intensidade de luz refletida para realizar medidas do
ndice de refrao. Uma das vrias montagens utilizadas nesses dispositivos apresentada na
figura 2.6, onde tambm podemos observar a curva registrada a partir do sinal captado pelo
fotodetector.
Figura 2.6 Montagem experimental utilizada na determinao do ngulo crtico (a) composto de : (1) amostra,
(2) prisma, (3) fotodetector, (4) laser, (5) compressor e (6) lentes; e a reflectncia medida como
funo do ngulo de incidncia (b).
30
amostras altamente trbidas como, por exemplo, tecidos biolgicos. (42-44) O maior
inconveniente das tcnicas baseadas no ngulo crtico est associado penetrao do campo
evanescente na amostra. Por penetrar apenas uma distncia da ordem de um comprimento de
onda, apenas a anlise superficial das amostras possvel de ser realizada, ou seja, caso uma
amostra apresente um gradiente de ndice de refrao ao longo da normal interface de
incidncia, esta informao no poder ser obtida por essas tcnicas.
31
Figura 2.7 - Modos de excitao de plsmons de superfcies nas configuraes de: a) Kretschmann, b) Otto.
onde
(2.12)
(2.13)
com
(2.14)
32
Figura 2.8 - Deslocamento ressonante no espectro de refletncia (a) devido a adsoro de analitos (b).
33
( )
onde
)]
(2.15)
como:
(2.16)
em que
determina-se o valor do ndice de refrao da amostra ao medir a variao que a fase da onda
eletromagntica sofre ao atravessar a amostra.
possvel encontrar na literatura montagens adaptadas do interfermetro de
Michelson para a determinao do valor absoluto de ndices de refrao de diversos materiais.
Podemos citar, como exemplo, o trabalho apresentado por Hori; Hirai; Minoshima;
Matsumoto, (7) que usaram dois interfermetros para calcular a razo entre caminhos pticos
percorridos pela luz ao passar por um material de formato triangular e do ar. Eles avaliaram a
incerteza do mtodo em aproximadamente
Vale notar que possvel obter um padro de interferncia utilizando fontes de baixo
grau de coerncia, bastando, para isso, reduzir a diferena de caminho ptico a valores
inferiores ao comprimento de coerncia da fonte empregada. As tcnicas de interferometria de
baixa coerncia so largamente aplicadas em oftalmologia, onde so empregadas em conjunto
com mtodos de formao de imagem, na realizao de exames diagnsticos. Tomlins;
Woolliams; Hart; Beaumont; Tedaldi (49) propuseram um mtodo que permite a
determinao do ndice de refrao de amostras transparentes e espalhadoras por meio da
medida do caminho percorrido pela luz no interior dessas. Medidas foras realizadas para
diversos ngulos de incidncia e uma funo, apresentada na equao 2.17, foi ajustada aos
pontos experimentais.
34
( )
( )+
a espessura da amostra e
(2.17)
o ndice de
refrao do meio adjacente amostra. Notamos que as amostras devem ser homogneas, de
modo que o termo
ocorre na segunda interface. Esse processo se repete inmeras vezes gerando os campos
transmitidos E1, E2, E3, etc., que produzem um campo resultante. Cada uma dessas
componentes que contribuem para os campos resultantes transmitidos e refletidos, cujas fases
adquiridas so referentes ao caminho ptico percorrido e aos coeficientes de Fresnel
(conforme apresentado no captulo 4), podem, assim como no interfermetro de Michelson,
35
( )
(
( )
(2.18)
a diferena
de fase adquirida por cada um dos campos ao atravessar o caminho ptico entre os espelhos.
(2.19)
36
(2.20)
2.2.9 Elipsometria
O coeficiente
(as
( )
(2.21)
e .
37
2.3
38
39
3.1
MEDIDORES DE VCUO
40
(3.1)
onde
3.1.2 Diafragmas
41
42
3.1.3 Bourdon
43
Smoluchowski (56) estabeleceu que, ao ser aquecida, a condutividade trmica de uma placa
para os objetos na sua vizinhana obedece a seguinte lei:
(3.2)
onde
a rea da placa,
a presso e
44
Pirani.
3.2
SENSORES DE UMIDADE
45
absoluta. No primeiro, a quantidade de gua determinada pela presso parcial e pela presso
de saturao de vapor dgua na mesma temperatura na qual foi determinada a presso
parcial:
(3.3)
46
47
Figura 3.8 - Representao de um sensor resistivo em vista lateral (a) e de topo (b).
48
49
FUNDAMENTOS
TERICOS
DA
TCNICA
DE
4.1
LEI DE SNELL
(4.1)
onde
50
ou
podem ocorrer, a
(4.2)
Para valores de
caso
]. Como neste
, pode ocorrer que o lado direito da eq. (4.2), assuma valores maiores que a
temos:
(4.3)
onde o ngulo de incidncia para o qual a igualdade anterior se verifica chamado ngulo
crtico e ser representado por
temos o fenmeno conhecido como reflexo total interna. As duas possibilidades esto
ilustradas na figura 4.2.
51
4.2
Com o desenvolvimento vivido pela ptica fsica no incio do sculo XIX, parte da
estrutura interna da luz comeou a ser estudada e, concomitantemente, a dependncia dos
fenmenos de reflexo e refrao com essa. Dentre os cientistas que contriburam para o
crescimento dessa rea destacamos Augustin Fresnel, cuja obra, que forneceu detalhes sobre o
percentual refletido e refratado para as duas componentes de polarizao da luz, de
fundamental importncia para a compreenso da tcnica proposta nesse trabalho e ser
apresentada aqui em uma notao moderna.
Consideremos uma onda eletromagntica plana, com vetor de onda e frequncia
angular
, incidindo sobre uma interface, localmente plana, entre dois meios transparentes
52
Figura 4.3 - Onda incidente com polarizao (a) TE e (b) TM com suas respectivas ondas transmitida e refletida.
(4.4)
(4.5)
(4.6)
53
(4.7)
(4.8)
De maneira anloga, a polarizao TM nos leva s seguintes igualdades:
(4.9)
(4.10)
onde denotamos
| | e
| |.
em que
(4.11)
(4.12)
o ndice de refrao
[ ]
(4.13)
[ ]
(4.14)
trabalho, consiste em eliminar a dependncia explcita com o ngulo de refrao por meio da
54
(4.15)
(4.16)
Essas quatro grandezas definidas nas eq. (4.11) a (4.14) so conhecidas na literatura
como coeficientes de Fresnel e, como possvel notar nas figuras 4.4 (a) e (b), obtidas por
meio das eq. (4.15) e (4.16), apresentam comportamentos diferentes para os possveis estados
de polarizao da luz incidente.
Figura 4.4 - Coeficientes de reflexo externa e interna para uma interface SF10/ar.
Como citado anteriormente, a Lei de Snell prev a existncia da reflexo total interna
para
(4.17)
(4.18)
55
o sinal negativo em
significa que o campo eltrico ganha uma fase de , fato que ocorre
, a luz penetra
)]
(4.19)
* (
)+
(4.20)
* (
)+
(4.21)
simplificando temos:
(
onde definimos
[(
)]
(4.22)
evanescente crucial para as tcnicas baseadas no ngulo crtico, pois, esse atua como ponta
de prova ao interagir com as amostras.
Acima do ngulo crtico os coeficientes de Fresnel podem ser representados da
seguinte forma:
(4.23)
56
(4.24)
[ ] e
em que
utilizado o ndice i para o ngulo de incidncia, pois no mais sero necessrias estas
identificaes, alm disso, evitamos qualquer tipo de confuso envolvendo este ndice e a
unidade imaginria tambm representada por i.
As equaes (4.24) e (4.25) nos permitem obter uma relao para a diferena de fase
entre as ondas e
como segue:
com
(4.25)
) /ar
).
A partir da derivada da equao (4.25), podemos obter uma expresso para o mximo
global da diferena de fase entre as duas componentes como segue:
(4.26)
57
vale notar que esse mximo depende apenas do ndice de refrao relativo e pode ser
empregado, por exemplo, na construo de polarizadores por reflexo.
4.3
)
)
(
(
onde
)
)
(4.27)
| |
(4.28)
so definidos por:
*(
( ))
* (
| |
( ))
( ))
( ))
(4.29)
(4.30)
dependncia angular, que pode ser expressa ao notarmos que a parte imaginria do ndice de
refrao complexo pode ser escrito como funo do ngulo de incidncia. Matematicamente
temos:
( )
(4.31)
58
( )
(4.32)
( )
(4.33)
(a)
; (b)
(b)
4.4
59
ao plano de incidncia, de modo que ambas as suas componentes possuam a mesma amplitude
e a mesma fase, incidindo sobre uma interface plana entre dois meios dieltricos transparentes
lineares, isotrpicos e homogneos. Nessa situao, conforme discutido, toda a informao
sobre as amplitudes e fases das componentes dessa onda esto contidos nos coeficientes de
Fresnel, por isso, vamos tomar os campos refletidos como:
onde | |
| |
| |
(4.34)
| |
(4.35)
Vamos agora projetar essas ondas numa direo tal que as componentes de e
nessa direo tenham a mesma amplitude, ou seja, a
| |
(4.36)
onde o carter vetorial foi desprezado, pois, os campos esto sobre uma nica direo.
Com isso, a intensidade do padro de interferncia dada por:
| |
(| |
| || |
(4.37)
onde
(4.38)
{
em que
60
as componentes paralela e
61
de fase adicional produzida pela reflexo total interna faz com que a intensidade volte a
crescer. Apresentamos na figura 4.8 como a posio do ngulo crtico, para um sistema
vidro/substrato, varia medida que o ndice de refrao do substrato alterado de
at
em passos de
Figura 4.8 - Perfil de intensidade na vizinhana do ngulo crtico para diversos valores de ndice de refrao.
e diversos valores de
62
63
SEO EXPERIMENTAL
Nesta seo demonstraremos os materiais e mtodos utilizados para a realizao das
medidas de umidade relativa e presso de um gs. Para isso, explicaremos como interferir as
duas componentes de um nico campo eletromagntico, bem como, o princpio do sistema de
aquisio dos dados expondo, ao final, as montagens experimentais para a realizao dos
experimentos.
5.1
MTODO EXPERIMENTAL
lente, tem o papel de gerar uma gama de ngulos, que para o laser utilizado de
aproximadamente 2, em torno de um valor definido pela posio central do laser. Na Figura
5.1, obtida a partir de um programa educacional gratuito, (72) notamos o efeito
supramencionado, bem como a posio focal do sistema.
Fizemos com que o laser atravessasse um polarizador cujo eixo de transmisso estava
inclinado a 45, condio na qual as componentes paralela e perpendicular ao plano de
incidncia ficam com mesma amplitude. Em seguida a radiao incidia, no ngulo crtico,
sobre o prisma semicilndrico e, aps refletir na base do mesmo, passava por um analisador de
64
onde a poro de luz transmitida era coletada por um sistema de aquisio e tratamento de
dados.
5.2
65
Figura 5.3 - Representao esquemtica da montagem experimental utilizada. As dimenses no esto em escala.
A informao coletada pelo CCD foi analisada por meio de um programa de aquisio
e tratamento de dados desenvolvido utilizando a plataforma LabVIEW. O LabVIEW um
ambiente de programao grfica largamente utilizada no desenvolvimento de sistemas de
automao, controle, testes e medidas, tanto no meio acadmico quanto no industrial e se
destaca pela enorme quantidade de drivers disponveis para sistemas de controle e medio.
O programa desenvolvido capta o valor de intensidade da luz para cada elemento do
vetor que compe o CCD. No caso do sensor utilizado nesse projeto, trata-se de um vetor de
2048 elementos fotossensveis, onde cada um desses representa um pixel. Na figura 5.4
exemplificamos um perfil de intensidade gerado a partir de um sinal luminoso caracterstico:
66
Figura 5.4 - Perfil de intensidade gerado pelo programa (b) a partir de um sinal luminoso (a). A escala vertical
foi ajustada regio de interesse.
Vale ressaltar que a parte superior da imagem acima foi obtida com outro dispositivo
(uma webcam) e foi utilizado apenas para ilustrar o funcionamento do programa. Alm disso,
observamos que a posio do feixe com relao CCD pode alterar a curva gerada pelo
programa, uma vez que o feixe no perfeitamente simtrico e a CCD captura apenas uma
linha desse. possvel notar que o perfil de intensidade est saturado, isso permite uma
melhor definio do mnimo de intensidade.
A partir desse grfico de intensidade por pixel, o programa calcula a posio do
mnimo usando interpolao polinomial. A interpolao polinomial utilizada devido
necessidade de se obter um valor intermedirio que no consta nos dados experimentais por
causa da largura dos pixels. Com isso possvel obter valores fracionrios para as posies
dos mnimos.
Relacionando os valores de mnimos com o tempo, medido a partir do clock do
processador, o programa obtm um acompanhamento dinmico, que possibilita o
monitoramento em tempo real da modificao do ndice de refrao da amostra em funo do
67
Os itens destacados na figura 5.5 so: (a) grfico da intensidade em funo da posio
do pixel na CCD; (b) painel de controle que permite alterar a regio da CCD a ser
representada no grfico (a), do tempo de integrao e do nmero de pontos utilizados para
calcular uma mdia das ltimas posies ocupadas pelo mnimo de intensidade calculado; (c)
grfico da posio ocupada pelo mnimo em funo do tempo, determinado em segundos.
5.3
MONTAGENS EXPERIMENTAIS
68
uma delas utilizada para injetar gs N2 seco, a outra para N2 saturado de vapor dgua,
conforme apresentado na figura 5.6 (a).
A umidade relativa do sistema foi ajustada atravs do controle da razo de fluxo de
gs N2 seco e N2 mido. Para produzir esse ltimo, utilizamos um frasco tipo Kitassato
contendo gua e, por aborbulhamento, o nitrognio seco era saturado com molculas de H2O,
conforme ilustrado na figura 5.6 (b).
Figura 5.6 - (a) montagem utilizada nas medidas de umidade relativa e (b) sistema de controle de umidade.
69
Figura 5.7 - Suporte de ao inoxidvel para as medidas de variao do ndice de refrao em funo da presso.
O suporte, semelhante a uma flange, possui apenas uma entrada em sua parte inferior,
a qual permite a criao de vcuo no sistema. Uma campnula de pirex foi utilizada para
isolar o prisma e criar um ambiente onde fosse possvel o controle da presso. A vedao
desse sistema foi feita por um o-ring de borracha colocado em um sulco existente no suporte.
Para realizar o experimento utilizamos uma bomba mecnica rotativa de palhetas, que
gera um vcuo de at 0,6 mbar, equivalente a aproximadamente 6x10-5 atm e um medidor de
presso por diafragma, a saber, o Diavac Leybold-Heraeus, que opera entre presso ambiente
e aproximadamente 1 mbar (10-3 atm).
70
71
RESULTADOS EXPERIMENTAIS
Nesse captulo iremos apresentar os resultados dos experimentos realizados para
6.1
UMIDADE RELATIVA
Figura 6.1 - Resultado experimental da variao da posio do mnimo de intensidade em funo da umidade
relativa do ar.
72
uma camada de transio onde a organizao, onde a estrutura de gelo dominante, mas a
estrutura lquida formada gradualmente e somente acima dos 60% as molculas adsorvidas
apresentam estrutura de gua lquida. Acreditamos que a dinmica de evoluo das
monocamadas de gua na base dos prismas utilizados explica o comportamento experimental
observado na figura 6.1, na medida em que apenas comeamos a obter uma resposta
significativa aps as estruturas de gelo terminam seu crescimento.
Apesar do intervalo limitado de resposta, o sensor muito rpido e apresentou boa
reprodutibilidade, conforme possvel notar na figura 6.2 abaixo:
Figura 6.2 - Transiente de resposta entre 45% e 90% de umidade relativa para perodos de 60 s.
73
Figura 6.3 Resultados da variao do ngulo crtico como funo da umidade relativa para o prisma fervido
em etanol e sem tratamento de limpeza.
6.2
PRESSO
74
No grfico acima, as barras de erro so menores que os smbolos utilizados nos pontos
experimentais, uma vez que o refratmetro apresentado nesse trabalho possui preciso de
em unidades de ndice de refrao (estimado a partir das flutuaes na posio do
mnimo de intensidade e da equao de Edln), o que permite medir diferenas da ordem de 1
mbar. Podemos ver dessa figura que no existe histerese, ou seja, o pixel medido quando a
presso aumenta o mesmo que o obtido quando ela diminui. O intervalo de operao do
nosso aparelho de particular interesse da indstria, principalmente para a alimentcia. Assim,
baseado no desempenho na medio de vcuo apresentado nesse trabalho, o dispositivo
proposto pode ser competir com outros instrumentos comerciais, como os medidores de
membrana, os bourdons e os manmetros de tubo em U.
75
onde
(7.1)
umidade relativa, podemos obter uma expresso para converter umidade relativa em
temperatura do ponto de orvalho:
* (
(
para
(7.2)
76
Figura 7.1 Relao entre umidade e ponto de orvalho para alguns valores de temperatura: (a) em todo o
intervalo de umidade, e (b) em destaque para a regio aproximadamente linear.
(a)
(b)
interessante notar que na regio onde o dispositivo proposto nesse trabalho apresenta
uma boa sensibilidade, a relao entre umidade relativa e ponto de orvalho
aproximadamente linear, o que possibilitaria medidas diretas deste, porm, numa regio muito
limitada. Seria necessria uma nova configurao para melhorar o desempenho do sistema, o
que pode ser realizado com o uso de um sistema de controle de temperatura. De maneira
anloga ao mtodo utilizado nos higrmetros pticos, poderamos reduzir a temperatura do
prisma, utilizando resfriadores termoeltricos por exemplo, e observar os efeitos da saturao
no perfil refletido pela sua base. Esperamos que ao atingir o ponto de orvalho, a tira escura
presente no perfil refletido desaparea devido ao acmulo de gua na base do prisma, pois o
ngulo crtico da interface SF10/gua est fora do intervalo angular produzido pelo laser.
Destacamos que nesse caso no necessrio nenhum tipo de calibrao prvia, pois, o ponto
de orvalho uma grandeza absoluta. Caso esse mtodo apresente bons resultados poderia se
tornar uma alternativa mais barata aos higrmetros comerciais.
Outra proposta interessante seria avaliar o efeito de um filme fino depositado na base
do prisma. Apesar do grande chamariz do mtodo proposto nesse trabalho ser a ausncia de
um filme, pode ser produtivo explorar as diferenas na sensibilidade, no tempo de resposta, na
histerese e no custo, acarretadas pela sua utilizao.
Para verificar a resposta do filme quando submetido a variaes rpidas na umidade,
direcionamos duas sadas, uma de ar seco outra de ar saturado de vapor de gua, diretamente
para a sua base e alternamos entre as duas sadas em intervalos de tempo constantes. Alguns
resultados preliminares foram obtidos com um filme de ZrO2 crescidos por meio da tcnica de
77
evaporao por feixe de eltrons (que produz filmes com alta densidade de empacotamento), e
esto ilustrados na figura 7.2.
Figura 7.2 Transiente de resposta para o filme de ZrO2 submetido a variaes peridicas de (a) 0 a 95% e (b)
de 45 a 95% na umidade ambiente.
(a)
(b)
78
Figura 7.3 Adsoro superficial (baixa umidade), (b) adsoro nas paredes dos capilares (umidade
intermediria) e (c) condensao capilar completa (umidade elevada).
79
80
81
CONCLUSES
Um sensor ptico de umidade e presso, baseado na reflexo interna da luz foi
apresentado nesse trabalho. Seu princpio de operao se apoia na diferena de fase adquirida
pelas componentes TE e TM de uma onda eletromagntica para determinar, com preciso, a
posio do ngulo crtico.
Apresentamos os fundamentos tericos relevantes para a compreenso do mtodo
utilizado bem como dos resultados experimentais obtidos. Algumas simulaes foram
realizadas e, com isso, foi possvel notar que as variaes do ndice de refrao apresentavam
uma relao linear com as da posio do mnimo de intensidade, que representava a posio
do ngulo crtico, facilitando a interpretao dos dados.
Elaboramos duas montagens experimentais com o intuito de validar a aplicao da
tcnica de determinao do ngulo crtico para realizar medidas de umidade e vcuo em
amostras gasosas. Para as medidas de vcuo primrio, a tcnica apresentou bons resultados,
sendo
potencialmente
aplicvel
em
processos
envolvendo
secagem,
destilao,
82
83
REFERNCIAS
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