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HIDALGO
INTEGRANTES:
Juan Carlos Gutierrez Yaez
Carlos Gerardo Tapia Hinojosa
Nstor Daniel Soto Vieyra
Jos Luis Gonzlez Torres
Alexi Geovani Trejo
Guadarrama
Francisco Pacheco Soto
INDICE
Introduccin 2
Objetivos generales 2
Objetivos especficos......2
Datos generales de la empresa3
Desarrollo..4
Conclusin.. 13
Anexo..14
Bibliografia..25
Introduccin
En esta prctica realizaremos las cartas diseadas para el control estadstico
de la calidad tales como son las cartas P, NP, C y U veremos las frmulas de
las mismas cartas para as plantear, formular, resolver y evaluar los datos
obtenidos sobre el muestreo as obtener los tres limites que son limite central
superior(LSC),limite central (LC), limite central inferior (LCI), para conocer ms
a fondo el proceso y en su caso (dependiendo la carta a evaluar), conocer el
nmero de defectos por pieza o lote por lo tanto se graficara para dar a conocer
los resultados de dicho proceso.
Objetivos generales
Es realizar un muestreo en la blockera san Cristbal para ver el nmero de
defectos por lote y por pieza para reportar el nmero de artculos defectuosos
del proceso
Objetivos especficos
defect
os
Area de
secado
Maquina
de hacer
el tabique
Area de secado
Organigrama
Al cargo
Jose luis
Carmen
salgado
Roberto ruiz
Armando
Gonzalez
Roberto ruiz jr
DESARROLLO
Cartas P
Las cartas p (proporcin de artculos defectuosos muestran las variaciones en
proporcin de artculos defectuosos por muestra. Es completamente usada
esta carta para reportar el porcentaje de artculos defectuosos en un proceso.
En esta carta se realiza cada uno de los artculos de una muestra o subgrupo, y
cada uno de estos tiene una calidad aceptable o no, es decir pasa o no pasa.
Formulas
LCS=P+3
P(1P)
n
LC =P
LCS=P3
P(1P)
n
Cartas NP
Las cartas NP son graficas de control por atributo pasa o no pasa
Formulas
LCS=NiP+3 Nip(1P)
LC=NiP
Cartas C
El objetivo de las cartas C es analizar la variabilidad del nmero de defectos.
En esta carta se Grafica Ci que es igual al nmero de defectos en la i-ensima
unidad (muestra). Los lmites de control se obtienen como sigue:
LCS=C +3 C
LC=C
LCS=C3 C
Cartas U
Las cartas U son el promedio de defectos por unidad, son efectivos para lograr
un control estadstico adems de que el operario puede manejar las cartas en
su propia rea de trabajo.
Formulas
LCS=U +3
U
n
U
n
LC=
LCS=U 3
Cartas P
Los siguientes datos se obtuvieron de un proceso de fabricacin de blocks
especficamente en el rea de secado.
Muestra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
Tamao del
lote
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
n= 1000
artculos
defectuosos
2
3
1
3
2
1
2
3
1
2
1
1
2
3
2
1
3
2
1
2
1
LCS=P+3
P(1P)
n
LC =P
Proporci
n
0.002
0.003
0.001
0.003
0.002
0.001
0.002
0.003
0.001
0.002
0.001
0.001
0.002
0.003
0.002
0.001
0.003
0.002
0.001
0.002
0.001
p=
0.039
LCS=P3
LCS=0.039+3
P(1P)
n
0.039(10.039)
=0.057
1000
LC=0.039
LCS=0.0393
0.039 ( 10.039 )
=0.020
1000
Proporcion
Carta NP
Los siguientes datos se obtuvieron al momento que el seor Jos Luis quiso
analizar aleatoriamente una tarima para su venta y conto el nmero de blocks
en mal estado que tena cada tarima (cada tarima contiene 2 blocks)
Muestra
defectos por
tarima
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
Proporcin
0
0
1
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
0
1
0
2
0
0
0
0
0
1
0
0
0
0
0
0
0
0.5
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0
0.5
0.5
0
0.5
0
1
0
0
0
0
0
0.5
0
0
0
0
0
P=7
7
P= (230) =0.11
LCS=NiP+3 Nip(1P)
LC=NiP
LCI=NiP3 Nip (1P)
LC =( 20.11 )=0.22
Nip ( 1P )=
LCI=NiP3 -1.10
Proporcion
Cartas C
La blockera san Cristbal el dueo quiere saber el nmero promedio de
defectos por cada block para saber qu tan efectivo es su proceso a
continuacin se muestran los datos obtenidos en la revisin de cada block
Muestra
Defectos
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
3
2
2
1
3
2
1
3
2
4
3
1
10
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
3
3
2
2
2
3
2
1
0
0
0
2
3
C= 2
LCS=C +3 C
LC=C
LCS=C3 C
LCS=2+3 2 = 6.24
LC =2
LCS=23 2
11
= -2.24
Defectos
Cartas U
La blockera san Cristbal fabrica blockes al final de cierto proceso de
produccin se hace una inspeccin por lotes de piezas y se cuenta el nmero
de defectos encontrados en cada lote.
Muestra
1
2
3
4
5
6
7
Tamao del
lote
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
artculos
defectuosos
12
2
3
1
3
2
1
2
Proporci
n
0.002
0.003
0.001
0.003
0.002
0.001
0.002
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
1000
n= 1000
3
1
2
1
1
2
3
2
1
3
2
1
2
1
u=
0.039
LCS=U +3
U
n
U
n
LC=
LCS=U 3
LCS=0.039+3
0.039
21
=0.16
LC= 0.039
LCS=0.0393
0.003
0.001
0.002
0.001
0.001
0.002
0.003
0.002
0.001
0.003
0.002
0.001
0.002
0.001
0.039
21
13
= -0.090
Proporcion
Conclusin
La aplicacin de las cartas de control nos sirve para verificar la proporcin de
defectos y la variabilidad que existen en la fabricacin de blocks ya que estas
cartas son ampliamente utilizadas en la industria para reportar los porcentajes
de artculos defectuosos
14
Anexo
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
Bibliografa
26