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II. OBJETIVOS
Universidad Nacional de Colombia. Departamento de Ingeniera Elctrica y Electrnica. Rincn. Divisor de tensin.
Es decir que:
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Universidad Nacional de Colombia. Departamento de Ingeniera Elctrica y Electrnica. Rincn. Divisor de tensin.
V. ANLISIS DE POTENCIA Y TENSIN
De la teora bsica de circuitos elctricos se sabe que los
capacitores, idealmente, no consumen ni entregan potencia al
circuito de la figura 4, pero si poseen un valor mximo de
tensin al que pueden ser expuestos. Si se construye una
sonda con factor de atenuacin de 16 (n=16) para medir una
seal de 170 Vp a 60Hz la cada de tensin en Zs ser (para
un sonda bien construida) 159,38 Vp y en Zi ser 10,62 Vp.
De modo que el capacitor Cp debe ser capaz de soportar
cerca de 160 Vp en sus terminales.
Ahora si se trabaja con valores eficaces, se tiene que la
tensin que cae en Zs es cerca de 112.5 Vrms, lo que
significa que Rp demandar una potencia de 8.44 mW,
efectuando el mismo anlisis se tiene que Ri demandar una
potencia de 563 uW, en conclusin ambas resistencias, Rp y
Ri, pueden ser de W.
VI.
Y en consecuencia:
ELECCIN DE COMPONENTES
Esto es:
Resultando que:
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Universidad Nacional de Colombia. Departamento de Ingeniera Elctrica y Electrnica. Rincn. Divisor de tensin.
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Se concluye que:
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( )(
( )
( )
( )
( )(
( )
Bode Diagram
0.0625
0.0625
0.0625
Magnitude (abs)
0.0625
0.0625
0.0625
0.0625
0.0625
0.0625
0.0625
0.0625
0
System: g
Frequency (Hz): 2e+006
Magnitude (abs): 0.0625
Phase (deg)
-0.005
-0.01
-0.015
-0.02
0
10
10
10
10
10
10
Frequency (Hz)
10
10
Universidad Nacional de Colombia. Departamento de Ingeniera Elctrica y Electrnica. Rincn. Divisor de tensin.
Frecuencia
50 Hz
100 Hz
200 Hz
500 Hz
1 kHz
2 kHz
5 kHz
10 kHz
20 kHz
50 kHz
100 kHz
200 kHz
500 kHz
1 MHz
2 MHz
2,5 MHz
Universidad Nacional de Colombia. Departamento de Ingeniera Elctrica y Electrnica. Rincn. Divisor de tensin.
Universidad Nacional de Colombia. Departamento de Ingeniera Elctrica y Electrnica. Rincn. Divisor de tensin.
X. BIBLIOGRAFIA
[1] W. H. Hayt, Anlisis de circuitos en ingeniera, 7 ed.
Ed: McGraw-Hill, 2006.
[2] Universidad de Huelva (2006). Manejo del osciloscopio.
Consultado
el
de
abril
de
2013,
en:
http://www.uhu.es/adoracion.hermoso/Documentos/practica2-manejo-osciloscopio.pdf.
Figura 13. Seal atenuada de salida, (VOLTS/DIV=0.2V).
Aun cuando la atenuacin a alta frecuencia fue buena, la
seal se atenuaba cada vez que se acercaba una mano al
circuito o se tena contacto con este de alguna manera
involuntaria, este problema fue minimizado colocando el
circuito principal dentro de un entorno cerrado metlico
(tubo de Al) que pudiera aislar de alguna manera el circuito
de las perturbaciones electromagnticas del entorno.
Para esta prueba de alta frecuencia, no se pudo medir la
tensin de salida debido a sus limitaciones en frecuencia
(hasta 100kHz) para el multmetro de la figura 11.
IX. CONCLUSIONES