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5.

PERFILES DE RESISTIVIDAD
5.1 INTRODUCCIN
Los perfiles convencionales de resistividad y el perfil del potencial espontneo fueron los
nicos perfiles que existieron durante el primer cuarto del siglo pasado, periodo durante el
cual fueron corridos en miles de pozos en todo el mundo.
Desde 1927, cuando los hermanos Marcelo y Conrado Schlumberger registraron por
primera un perfil de resistividad en un pozo, la tecnologa evolucion y dio lugar a nuevos
dispositivos cada vez ms sofisticados y ms precisos que fueron apareciendo en el
mercado en el siguiente orden: perfiles convencionales de resistividad, perfiles de
induccin, lateroperfiles, perfiles de microrresistividad, perfiles dielctricos y perfiles de
imgenes de microrresistividad.
El perfil convencional de resistividad, el lateroperfil, el perfil de microrresistividad y el perfil
de imgenes de microrresistividad, pertenecen al grupo de herramientas elctricas, las
cuales mediante electrodos inyectan corriente elctrica y miden la resistividad de la
formacin. Los perfiles de induccin forman un grupo de herramientas que mediante
bobinas generan campos electromagnticos y miden conductividad de la formacin. Los
perfiles dielctricos forman un tercer grupo que consiste de herramientas que utilizan
microondas para medir la constante dielctrica de la formacin.
El presente capitulo cubre los principios de los perfiles obtenidos con herramientas
elctricas y el siguiente capitulo est dedicado a los perfiles de induccin
electromagntica.
5.2 USOS DE LOS PERFILES DE RESISTIVIDAD
Los perfiles de resistividad se usan de manera exclusiva en pozos llenos con lodos
conductivos, para los siguientes propsitos:

Diferenciar zonas acuferas de zonas con hidrocarburos


Identificar zonas permeables
Determinar porosidad
Medir las resistividades Rt y Rxo

5.3 FUNDAMENTO TERICO


Segn la Ley de Ohm, el producto de la resistencia, r, por la intensidad de la corriente, i,
es igual a la cada de potencial, V.
V ir
Ec. 5.1
Despejando la resistencia se tiene:
V voltios
r
ohmios
i amperios

Ec. 5.2

Debido a que la resistencia de cualquier material depende de las dimensiones del


conductor, el concepto de resistencia tiene en la prctica poca utilidad (Ver 2.2.4). A fin de
eliminar la influencia de las dimensiones del conductor sobre la resistencia, en perfilaje se
utiliza la resistencia especfica resistividad R, que es la resistencia que opone un cubo
unitario de roca, de un metro de lado, al paso de la corriente, cuando la corriente fluye en
direccin perpendicular a una de sus caras (Figura 5.1).
La resistividad es una propiedad anloga al peso especfico, en el sentido que ambas
reflejan una propiedad que es referida por conveniencia a la unidad volumtrica del
material.
1 m e tro

1 V o lt io

1 A m p e r io

Figura 5.1 Medicin de la resistividad, R, a un cubo unitario de roca.


La unidad de resistividad es el ohmio.metro 2/metro que se expresa mediante los smbolos
.m2/m. En lenguaje coloquial se utilizan las expresiones ohmio/metro o simplemente
ohmio queriendo significar .m2/m.
Cuando la unidad lineal no es un metro, sino un pie o un centmetro, la resistividad se
expresa en .pie o en .cm respectivamente; la siguiente relacin permite convertir la
resistividad de una unidad lineal a otra.
1 cm

1
1
m
pie
100
30.5

Ec. 5.3

La resistividad, R, es una constante para cada material, que se relaciona con la


resistencia, r, mediante la siguiente ecuacin:
L ( m)
A (m 2 )
A m 2
Rr
L ( m)

rR

Entonces

5-2

Ec. 5.4
Ec.5.5

La figura 5.2 ilustra el esquema de un antiguo mtodo conocido con el nombre de sondeo
elctrico vertical, SEV, que se utiliza para medir anomalas de resistividad en la superficie
terrestre, causadas por concentraciones de metales en el subsuelo.
En el mtodo SEV se utilizan dos circuitos independientes, uno de corriente y otro de
potencial y mediante un generador se hace circular corriente alterna a la formacin, a
travs de los electrodos de corriente A y B, y se mide la diferencia de potencial entre los
electrodos de potencial M y N.
El dispositivo utilizado por los hermanos Schlumberger para medir la resistividad en un
pozo, result de una modificacin en el arreglo de electrodos del mtodo del sondeo
elctrico vertical, SEV, que consisti en introducir dentro del pozo los electrodos A y M.
I

S u p e r fic ie s
e q u ip o te n c ia le s

L in e a s d e flu jo
d e c o r r ie n t e

Figura 5.2. Arreglo de electrodos en el mtodo del sondeo elctrico vertical SEV
5.4 MEDICIN DE LA RESISTIVIDAD EN UN POZO
Si desde un electrodo esfrico, A, se inyecta corriente en un medio homogneo, isotrpico
y de extensin infinita y si el electrodo B se encuentra a una distancia infinita del electrodo
A, la corriente fluye radialmente, formando superficies esfricas concntricas de
equipotencial. En la figura 5.3 se ilustra el sistema de medicin de la resistividad en un
pozo y el modelo ideal de distribucin radial de las lneas de flujo de corriente.
La cada de potencial entre dos superficies esfricas concntricas de radios
puede determinar de la siguiente forma:
dV Idr

y l +dl se
Ec. 5.4

5-3

La cada de potencial es una nocin diferencial en trminos de su tasa de cambio con la


dV
. Si la resistencia del medio es R y la superficie de la esfera es 42
d

distancia

entonces la resistencia de la concha limitada por las dos superficies esfricas es:
Rd
Ec. 5.5
42
Luego reemplazando en la ecuacin 5.4 el valor de la resistencia de la concha se obtiene:
dr

dV

IRd
42

G e n e ra d o r

Ec. 5.6
G a lv a n m e tr o

A C

N
V

= 0

L n e a s d e f lu jo
d e c o r r ie n te

E s p a c ia d o A M

S u p e r fic ie s e s f r ic a s
d e e q u ip o te n c ia l

lM

M
R a d io

Figura 5.3. Medicin de la resistividad en un pozo y modelo ideal de


distribucin radial de las lneas de flujo de corriente.
5-4

Integrando esta ecuacin de l =A a l =M, el potencial en el punto VM, que es el voltaje


medido entre el electrodo N localizado en el infinito y el punto M localizado en la
formacin, es igual a:
VM

IR
4AM

Ec.

5.7
Donde:
VM = voltaje medido en cualquier punto localizado a una distancia AM
R = resistividad de la formacin
El factor 4AM es una constante que se denomina factor geomtrico de la sonda, K,
porque depende del espaciado AM de la sonda:
VM

IR
K

Ec. 5.8

Debido a que la corriente, I, que se inyecta a travs del electrodo A se mantiene constante,
entonces, el potencial elctrico en el punto M es proporcional a R. En la prctica, los
galvanmetros diseados para medir cambios de potencial a lo largo del pozo, se calibran
para medir resistividad.
La resistividad que se mide en un pozo no corresponde exactamente a la resistividad
verdadera de la zona virgen de una formacin por dos razones:

El medio no es homogneo, debido al efecto del lodo de perforacin en el hueco y a la


zona de invasin de filtrado en la formacin.

El medio no es infinito, porque el espesor de la formacin en cuestin est delimitado


hacia el tope y hacia la base por capas adyacentes de diferente resistividad.

Las herramientas que se bajan al pozo miden una resistividad aparente R a que esta
relacionada con la resistividad verdadera R t. La resistividad Ra es afectada por las
resistividades y dimensiones geomtricas de los medios que rodean la sonda: hueco, zona
invadida y rocas adyacentes; para obtener la resistividad verdadera, es necesario corregir
la resistividad aparente por el efecto de cada uno de estos medios.
En la medicin de perfiles de resistividad, la corriente fluye radialmente del pozo hacia la
formacin y atraviesa medios de diferente resistividad R m, Rxo y Rt (Figura 5.4), que actan
en serie y como la corriente fluye preferentemente a travs del medio que le opone menor
resistencia, que en la gran mayora de los casos es el lodo, las superficies de
equipotencial dejan de ser esfricas y se alargan en la direccin del pozo.
(espacio para diagramar)

5-5

xo

Figura 5.4 Flujo radial de corriente que atraviesa medios de diferente


resistividad que rodean a la herramienta de medicin.
5.5 PERFILES CONVENCIONALES DE RESISTIVIDAD
Las diferencias en el arreglo y en el espaciado de los electrodos de las herramientas
convencionales de resistividad, ES, dieron origen a la sonda normal y a la sonda lateral o
inversa.
La sonda elctrica convencional mide las siguientes curvas de resistividad:
Curva normal corta (espaciado de 16)
Curva normal larga (espaciado de 64)
Curva lateral o inversa (espaciado de 18 8)
5.5.1 Sonda normal
En la sonda normal, la corriente AC circula entre los electrodos A y B y se mide la
diferencia de potencial entre los electrodos M y N. Los electrodos A y M estn ubicados en
la sonda, en el fondo del pozo, y los electrodos B y N estn situados en superficie,
tericamente a una distancia infinita (Figura 5.5).
La resistividad de la formacin se determina midiendo la diferencia de potencial entre el
electrodo M, situado a una distancia AM y el electrodo N situado en el infinito. La distancia
AM se denomina espaciado de la sonda; cuando AM es igual a 16 la curva que se obtiene
se denomina normal corta y cuando AM es igual a 64 la curva que se obtiene se
denomina normal larga. En las sondas normales la medicin de la resistividad se asigna al
punto 0 (punto de registro), que es equidistante entre A y M.

5-6

G e n e ra d o r

G a lv a n m e tr o

A C

N
B

m e d id o

A
P u n to d e
r e g is tr o =

E s p a c ia d o A M

/2 A M

Figura 5.5 Disposicin de electrodos en la sonda normal


La interpretacin de los perfiles elctricos convencionales, ES, exige al interprete conocer
muy bien algunas curvas tpicas de respuesta. Las figuras 5.6 y 5.7 ilustran de forma
esquemtica como se afecta la resistividad aparente R a que mide la sonda normal, en
funcin del espesor, h, de la capa de inters con relacin al espaciado AM de la sonda, y
en funcin del valor de su resistividad verdadera, R t, con relacin a la resistividad R s de las
capas adyacentes (zonas achuradas).
En la figura 5.6 se observa que en frente de capas de mayor resistividad que las capas
adyacentes, las curvas normales son simtricas, respecto al punto medio de la capa de
inters y que la resistividad aparente R a leda por la sonda se aproxima a la resistividad
verdadera, Rt, nicamente en frente de capas de espesor potente (mayor a 15 pies) y que
por el contrario, en frente de capas de espesor delgado, la resistividad aparente, R a, que
mide la sonda, es mucho menor que la resistividad verdadera, R t, debido al efecto de la
baja resistividad de los shale adyacentes (zonas achuradas).
En la figura 5.7 se observa que frente de capas de menor resistividad que la capas
adyacentes, las curvas normales son simtricas y que la resistividad aparente que lee la
sonda se aproxima a la resistividad verdadera, R t, nicamente en frente de capas de
espesor potente (mayor a 15 pies) y que por el contrario, en frente de capas de espesor
delgado, la resistividad aparente, R a, que mide la sonda, es mucho mayor que la
resistividad verdadera, Rt, debido al efecto de la alta resistividad de los shale adyacentes
(zonas achuradas).
5-7

R
R

= R

= R

= 1

= R

= 1

C a pa
d e lg a d a
A M
; R t = 8
h =
2
= R

= 8

h = 1 0 A M
t

= 1

C a pa
g ru e s a
R

M
A M + h

= 1

Figura 5.6 Curvas tpicas de respuesta de la sonda normal en frente de capas de mayor
resistividad que la capa adyacente (tomado de Schlumberger, 1972).
R
0
R

= R

A M
; R
2
R

A M + h

= 5

= 5

= R

= 1

C a p a
d e lg a d a
h =

0
R

h = 1 0 A M
t

= 5

C a p a
g ru e s a

M
A M + h

= 1

= 5

Figura 5.7 Curvas tpicas de respuesta de la sonda normal en frente de capas de menor
resistividad que la capa adyacente (tomado de Schlumberger, 1972).
5-8

5.5.2 Sonda lateral o inversa


La corriente AC circula entre los electrodos A y B y se mide la diferencia de potencial entre
los electrodos M y N situados sobre dos superficies esfricas concntricas con centro en
A. La diferencia de potencial as medido, es proporcional al gradiente entre M y N y la
medicin de la resistividad que se obtienen se asigna al punto de registro O, que es
equidistante entre los electrodos A y B (Figura 5.8).
G e n e ra d o r

G a lv a n m e tr o

A C

E s fe ra s d e
e q u ip o te n c ia l

A
E s p a c ia m ie n t o A O

M
O
N

P u n t o d e r e g is t r o =

/2 M N

Figura 5.8 Disposicin de electrodos en la sonda lateral o inversa


El espaciado de la sonda lateral o inversa AO es igual a 18 8. En general, a mayor
longitud de espaciado corresponde mayor profundidad de investigacin. En esta sonda la
profundidad de investigacin es aproximadamente igual al espaciado AO.
Las figuras 5.9 y 5.10 ilustran de forma esquemtica como se afecta la resistividad
aparente, Ra, que mide la sonda lateral, en funcin del espesor, h, de la capa de inters
con relacin al espaciado, AO, de la sonda y en funcin del valor de su resistividad
verdadera, Rt, con relacin a la resistividad Rs de las formaciones adyacentes.

5-9

R
0

= R

1 5

2 0

A 0

= 8

h = 1 0 A 0
t

1 0

= 1

C a pa
g ru e s a
R

= 8

A 0

= R

= 1

= R

= 1

h = 1 .5 A 0
R

A 0

R t = 8
= R m = 1

= R m = 1
C a pa
d e lg a d a
A O ; R t = 8
h =
2
R s = R m = 1

Z o n a c ie g a
A 0

A 0
R
R

R a R a
m in m x

m x
m in

a
a

<

R
R

t
s

Figura 5.9 Curvas tpicas de respuesta de la sonda lateral en frente de capas de mayor
resistividad que la capa adyacente (tomado de Schlumberger, 1972).
R
0
R

= 5
A O

C a pa
g ru e s a

h = 1 0 A O
R

= R

= 1

A O

= 5

= 5

0
R

A O
; R
2
R

= R

C a pa
d e lg a d a
h =

O
A O

= 1

= 5

Figura 5.10 Curvas tpicas de respuesta de la sonda lateral en frente de capas de menor
resistividad que la capa adyacente (tomado de Schlumberger, 1972).
5-10

Observando las dos figuras anteriores se concluye que la resistividad aparente, Ra, leda
por la alguna vez muy admirada sonda lateral 18 8, se aproxima a la resistividad
verdadera, Rt, nicamente en frente de capas de espesor potente (mayor a 50 pies). Por el
contrario, en capas de espesor delgado, la resistividad aparente, R a, que mide la sonda,
difiere mucho de la resistividad real, Rt, y adems esta curva lateral forma un pico agudo
en la base de la capa, causado por la asimetra en el arreglo de los electrodos.
No obstante que en la actualidad existen nuevas herramientas de perfilaje, que miden los
parmetros buscados Rxo y Rt de manera ms exacta, los perfiles convencionales, an hoy
son utilizados en algunos pases. Muchos de estos perfiles son reinterpretados con la
asistencia de procesadores, en busca de zonas potencialmente productoras que hayan
pasado desapercibidas en virtud de la complejidad de su repuesta.
5.5.3 Correcciones ambientales a los perfiles de resistividad
Como se mencion en el numeral 5.4 la resistividad aparente, R a, que miden las sondas
convencionales es funcin de varios factores ambientales como la resistividad del lodo, el
dimetro de pozo, la resistividad de la torta, el espesor de torta, la resistividad de la zona
lavada, el dimetro de invasin, la resistividad de la zona virgen y la resistividad y espesor
de la formacin adyacente.
Ra = f (Rm, dh, Rmc, hmc, Rxo, di, Rt, h, Rs)

Ec. 5.9

Para convertir la resistividad aparente, R a, en resistividad verdadera, Rt, es necesario


corregir Ra por los siguientes factores ambientales:

Correccin por efecto de pozo

La curva normal de 16 requiere ser corregida por los efectos de pozo y de espesor de
capa. Cuando la sonda normal se acompaa de un dispositivo de induccin de
penetracin profunda como el perfil IES, las lecturas de la curva normal se corrigen por
efectos del pozo con la carta Rcor-8 (Figura 5.11).
Cuando se usa un dispositivo ES, las lecturas de las curvas normal 16 y lateral 18 se
corrigen por efectos de pozo con las cartas Schlumberger Rcor-9 y Rcor-10
respectivamente.

Correccin por espesor de capa

Las cartas de Shlumberger Rcor-11 y Rcor-12 corrigen las lecturas por espesor de capa
de la sonda normal 16, para capas invadidas y no invadidas respectivamente. Estas
cartas son para pozos de 8 de dimetro; para otros dimetros las lecturas deben
previamente ser normalizadas a un pozo de 8 usando en esta correccin la carta Rcor-8 o
la carta Rcor-9, segn se trate de sondas elctricas ES o sondas de induccin
electromagntica IES respectivamente.

5-11

1 0 0 0
D i m e tr o d e l h u e c o d
5 0 0

2 0 0

1 0

3 0 0
3 5 0
4 0 0

1 0 0

1 5 0

2 5 0

2 0 0

1 2
1 4
1 6
( p u lg .)

(m m )

5 0

R
R

1 6
m

2 0

1 0

1
1

1 0

2 0

5 0

1 0 0

2 0 0

5 0 0

1 0 0 0

1 6 c o rre g

Figura 5.11 Carta Rcor-8 para corregir por efecto de pozo las lecturas de la curva 16
cuando se acompaa con la sonda de induccin IES (tomado de Cartas de
Interpretacin de Schlumberger, 1972)
5.5.4 Limitaciones de los perfiles elctricos convencionales
La interpretacin de las curvas convencionales se complica demasiado en frente de capas
de alta resistividad, porque las curvas normales se vuelven asimtricas y las curvas
laterales dan una respuesta asimtrica compleja. La complejidad es an mayor en frente
de capas resistivas delgadas (de menor espesor que el espaciado de la sonda) cuando
estn intercaladas con shale.
5. 6 PERFILES ELCTRICOS DE ENFOCAMIENTO
En frente de capas resistivas, cuando la resistividad del lodo y la resistividad de las capas
adyacentes es baja, las sondas elctricas convencionales miden la resistividad R t con muy
poca precisin, porque la corriente tiende a fluir por el medio menos resistivo, en este caso
por las capas adyacentes y por la columna de lodo y evita penetrar la capa resistiva de
inters, como se ilustra en la figura 5.12.
5-12

> > R

S is t e m a n o e n f o c a d o
( S o n d a n o r m a l)

S is te m a e n fo c a d o
( L a te r o p e r f il)

Figura 5.12 Comparacin de la distribucin de las lneas de corriente de investigacin,


en frente de una capa resistiva, registrada con una herramienta sin enfoque,
sonda normal, y con una herramienta con enfoque, Lateroperfil 7 (tomado de
SPE AIME, 1951).
En respuesta a la anterior limitacin, se desarrollaron las herramientas con electrodos de
enfocamiento, a fin de obtener mediciones ms precisas de las resistividades R t y Rxo, an
en pozos perforados con lodos muy salados. El uso de estas herramientas es
indispensable en condiciones de alto contraste entre R m y Rt (lodos salados y/o capas de
alta resistividad) y en condiciones de alto contraste de resistividad con las capas
adyacentes (Rt/Rs Rs/Rt)
En el grupo de herramientas con sistema de electrodos de enfocamiento existen
herramientas con profundidad de investigacin somera, mediana y muy profunda. La tabla
5.1 presenta la lista de las herramientas de este grupo y define el parmetro objetivo de la
medicin de acuerdo a la profundidad de investigacin de cada una de ellas.
Tabla 5.1 Grupo de herramientas con electrodos de enfocamiento
NOMBRE

ABREVIATURA

Lateroperfil 7 *
Lateroperfil 3 *
Perfil LLd del Doble lateroperfil *

LL7
LL3
LLd

Perfil LLs del Doble lateroperfil *

LLs

Perfil esfrico enfocado *

SFL

* Marca registrada de Schlumberger.

5-13

OBJETIVO
Rt

Ri
Rxo

El sistema de electrodos de enfocamiento introduce corrientes elctricas de enfoque que


controlan la direccin del flujo de las corrientes de investigacin y las obligan a ingresar a
la formacin hasta alcanzar determinada profundidad de investigacin, minimizando as
los efectos del pozo y de las capas adyacentes (Figura 5.13).

M '2
A

M '1
A '1

M '1
M

A
O
A

M '2

(a )

M '0

A '0

M '0

(b )

Ia
Io

(c )

Figura 5.13 Herramientas con sistema de enfocamiento: (a) Lateroperfil 7, (b)


Lateroperfil 3 (c) Perfil de Enfoque Esfrico SFL (Schlumberger, 1972)
5.6.1 Lateroperfil 7
El lateroperfil LL7 consiste de un electrodo central de corriente A o y de 3 pares de
electrodos M1-M2, M1-M2 y A1-A2, dispuestos simtricamente con respecto a Ao, del cual
fluye una corriente de investigacin Io de intensidad constante; a travs de A1 y A2 se enva
corriente de la misma polaridad que Io pero de intensidad automticamente ajustable, de
tal forma, que el potencial entre M 1-M1 y M2-M2 se mantenga igual a cero, asegurando as
que no haya flujo de corriente a travs del lodo, entre A o y los pares M1-M1 y M2-M2
(Figura 5.13).
En el LL7 se mide la diferencia de potencial entre uno de los electrodos M y el electrodo N
de superficie; como Io es constante, entonces la cada de potencial entre M y N es
proporcional a la resistividad de la formacin. La corriente que fluye de A o es forzada a
penetrar horizontalmente en las formaciones, formando un disco de corriente I o de 32 de
espesor constante, con profundidad de investigacin de unos 10 pies, que garantiza la
medicin de Rt ms all de la zona de invasin.
En el perfil esquemtico de la Figura 10.14 se comparan las mediciones obtenidas
experimentalmente con el LL7 y con las herramientas convencionales (SN 16, LN 64 y
Lateral 18 8). Se concluye que las sondas convencionales dan un resultado muy pobre,
en tanto que el LL7 tiene buena resolucin vertical y mide una resistividad R a muy cercana
a Rt, a pesar de las condiciones adversas, manifiestas en el alto el contraste entre las
resistividades de la capa de inters y la capa de shale adyacente (R t / Rs = 50) y el alto
contraste entre la capa de inters y la resistividad del lodo (R t / Rm = 5000).

5-14

R e s is tiv id a d
0

2 5

= 0 .0 5

5 0

7 5

1 0 0

1 2 5

1 5 0

1 7 5

2 0 0

2 2 5

2 5 0

= 5

d = 8 "
R

N o rm a l
L a rg a

= 5

A M = 6 4" = 8d

2 2 0

2 0
R

= 2 5 0

h = 8 0 "

N o rm a l
C o rta
A M = 1 6 " = 2 d

L a te r o lo g : O

1 0

= 5

= 3 2 " = 4 d ; A 1A

= 80" = 10 d

R
A

= 2 5 0

2 2
C u rv a
L a te ra l
A M = 1 8 '8 " = 2 8 d

Figura 5.14 Comparacin de la respuesta del Lateroperfil 7 con las respuestas de la sonda
normal corta, normal larga y lateral, en frente de una capa delgada, muy
resistiva, perforada con lodo muy salado (tomado de Brock, 1984)
5.6.2 Lateroperfil 3
El Lateroperfil LL3 usa un arreglo de electrodos muy similar al arreglo del LL7, para
enfocar un disco de corriente de investigacin de 12 de espesor y hasta de 15 de
profundidad de investigacin. Como se puede observar en la Figura 5.13 usa dos
electrodos largos dispuestos simtricamente con relacin al electrodo A o del cual fluye
corriente constante Io. A travs de los electrodos A1 y A2 fluye una corriente de la misma
polaridad que Io cuya intensidad se ajusta de forma tal que A1 y A2 tengan el mismo
potencial que Ao (esto asegura que no fluya corriente por el pozo). Si I o es constante la
cada de potencial es proporcional a la resistencia de la formacin.
Esta herramienta posee mayor profundidad de investigacin y mejor resolucin vertical
para identificar capas delgadas que el Lateroperfil 7.
5.6.3 Perfil de enfoque esfrico
La sonda SFL utiliza corrientes de enfoque para obligar a las superficies de equipotencial
a guardar una forma aproximadamente esfrica, con lo cual se elimina el efecto del pozo
al menos para dimetros de pozo menores a 10 pulg. (Figura 5. 13c)
El perfil SFL hace parte de la combinacin ISF/Snico y fue desarrollado con el fin de
obtener una curva de resistividad somera R xo, mejor que la del Laterolog 8, para
acompaar al perfil de induccin profunda IES.

5-15

5.6.4 Doble lateroperfil


El Doble lateroperfil DLL es la herramienta ms avanzada dentro de los lateroperfiles;
debido a que en el lateroperfil la corriente de investigacin debe atravesar zonas de
diferente resistividad que actan en serie (lodo, zona invadida y zona virgen) para corregir
por efecto de invasin la resistividad profunda, R t, leda con esta sonda, se requiere
conocer el valor de la resistividad de la zona lavada, R xo, y el valor de la resistividad a una
profundidad intermedia Ri.
La necesidad de conocer la resistividad a menor profundidad dio origen a la herramienta
doble lateroperfil, DLL, la cual lee simultneamente una curva de resistividad profunda LLd
y una curva de resistividad somera LLs.
La sonda Doble Lateroperfil, DLL, utiliza 7 pares de electrodos de manera distinta para
formar un disco de corriente de investigacin I o de 24 pulg de espesor y para leer la
resistividad a dos profundidades distintas. La profundidad de investigacin del perfil LLd es
mayor que la de los perfiles LL7 y LL3 y la profundidad de investigacin del perfil LLs es
intermedia entre el LL7 y el LL8 (Figura 5.15).
L L d

L L s

Io

Ia

'

'

Figura 5.15 Arreglo de electrodos de la herramienta Doble Lateroperfil DLL


(tomado de Suau, J. et al, 1972 )

Cuando usar lateroperfiles

Los lateroperfiles se deben utilizar en condiciones de alto contraste entre R m y Rt, es decir,
cuando en el pozo hay lodo muy salado y la resistividad de las capas de inters es mayor
a 200 m; tambin en condiciones de alto contraste de resistividad con las capas
5-16

adyacentes (Rt/Rs Rs/Rt) y cuando el espesor de las capas de inters es menor a 10


pies.

Presentacin de perfiles y escalas del DLL

La sonda DLL mide tres perfiles de resistividad: lateroperfil profundo LLd, lateroperfil
somero LLs y perfil Rxo. El perfil Rxo es adquirido con la sonda de microrresistividad MSFL
que se acopla al DLL y que va montada sobre un patn que se abre cuando el DLL esta en
el fondo del pozo. El dispositivo DLL-MSFL adicionalmente mide el calibre del pozo, el
perfil de rayos gamma y opcionalmente el perfil SP (Figura 5.16).
En el perfil DLL-MSFL de la figura 5.16 las zonas con hidrocarburos mviles son
fcilmente reconocibles porque las tres curvas de resistividad siguen el siguiente patrn:
RLLd > RLLs>RMSFL. De otro lado, a mayor separacin entre las curvas R LLd y RLLs mayor
saturacin de hidrocarburo. Por el contrario, el patrn inverso R MSFL> RLLs> RLLd, es buena
indicacin que se trata de una zona acufera.
Cuando las tres curvas presentan separacin mnima o se superponen guardando
cualquier otro orden relativo, diferente al de los dos patrones indicados, sugiere que no
hay invasin o que esta es muy somera indicando as que la zona es impermeable.
Las escalas de los lateroperfiles inicialmente eran lineales pero actualmente se prefieren
las escalas hbridas y logartmicas. Las escalas logartmicas permiten leer con facilidad y
precisin resistividades en el extremo de bajos valores y a su vez mostrar variaciones de
la resistividad en un amplio rango.
S P

D O B L E L A T E R O P E R F IL - M S F L
L a te r o p e r fil p r o f u n d o

C A L IB R E

L a te r o p e r fil s o m e r o

16

M ic r o S F L

( p u lg )
D i m e tr o
d e b ro c a

.2

10

100

1000

P r o f.

Figura 5.16 Presentacin de la combinacin Doble Lateroperfil-MSFL


(tomado de Halliburton, 1991)
5-17

Factores ambientales

No obstante el enfocamiento de la corriente de investigacin que se logra con las


herramientas con electrodos enfocados, las mediciones obtenidas con estas herramientas
son influenciadas, adems de la resistividad de la zona virgen R t, que es la resistividad
que se pretende medir, por las resistividades del pozo, de las capas adyacentes y de la
zona de invasin. En consecuencia, la resistividad aparente R a que se obtiene con estas
herramientas puede resultar mayor o menor que la resistividad verdadera R t, dependiendo
de los factores ambientales particulares del pozo y de la formacin de inters.
Las lecturas de las sondas enfocadas se afectan por lodos muy resistivos y por grandes
dimetros de pozo, ya que R m es medido en serie con R i y Rt. Para obtener un valor
razonable de Rt, las resistividades Rm y Ri deben ser pequeas, lo que se consigue cuando
se perfora con lodos salados.
En general se asume que el Lateroperfil de investigacin profunda LLd mide con precisin
Rt a menos que exista alguna o varias de las siguientes condiciones adversas:
- Rt/Rm sea mayor a 10
- Rt/Rs sea mayor a 10
- La invasin sea mayor a 40
- El dimetro de pozo dh sea mayor a 12
- El espesor de la capa de inters sea menor a 15

Correcciones al perfil DLLRxo

Las lecturas Rt del LLd y Rxo del MSFL se deben corregir cuando se presenta alguna o
varias de las condiciones arriba citadas. El orden de aplicacin de las correcciones es el
siguiente: primero se corrige por efecto de pozo y luego por espesor de capa y por ltimo
si se requiere se corrige por efecto de invasin.

Correccin por efecto de pozo

Las lecturas LLd y LLs se deben corregir por dimetro de pozo y por resistividad del lodo.
La lectura MSFL no se corrige por el dimetro de pozo, porque esta sonde es de patn,
pero s por espesor (hmc) y por resistividad de torta (R mc). Esta correccin se explicar ms
adelante en el numeral correspondiente a la sonda MSFL.
Las diferentes compaas de servicio tienen sus propias cartas para hacer estas
correcciones, las cuales no se deben utilizar para corregir lecturas obtenidas con
herramientas de diferente marca.
En estas cartas se ingresa por el eje horizontal con el valor de la relacin R LLd/Rm o RLLs/Rm
y se obtiene un factor de correccin en el eje vertical, que se multiplica por las
resistividades aparentes RLLd o RLLs de la sonda, para obtener la resistividad corregida R LLd
o RLLs respectivamente (Figura 5.17).

5-18

L a t e r o p e r f il p r o f u n d o
D L T -D /E (L L D ) c e n tra d o , c a p a s g ru e s a s

D i m e tr o d e p o z o ( in .)

L a te r o p e r fil s o m e r o
D L T -D /E (L L S ) c e n tra d o , c a p a s g ru e s a s

D i m e tr o d e p o z o ( in .)

Figura 5.17 Carta Rcor-2 para corregir las lecturas del lateroperfil profundo LLd y del
lateroperfil somero LLs por efecto de pozo (tomado de Cartas de
Interpretacin de Schlumberger, 2.000)

Correccin por efecto de capa adyacente (Efecto de hombro)

Cuando una sonda lateroperfil esta frente al lmite de una capa delgada cuya resistividad
difiere de la resistividad de las capas adyacentes superior e inferior, la corriente tiende a
fluir por la capa de menor resistividad. Si las capas adyacentes tienen resistividad R s
5-19

mucho ms alta que la resistividad Rt de la capa de inters, la resistividad aparente


medida Ra resultar muy alta con relacin a la resistividad verdadera R t. Contrariamente, si
las capas adyacentes tienen menor resistividad R s, la resistividad aparente medida Ra
resultar muy baja con relacin a la resistividad verdadera R t. Este efecto tambin se
conoce con el nombre de Efecto de hombro (Figura 5.18).

= R

R s p oco
r e s is tiv o

s =

e x a c ta

m u y a lta

> R

< R

m u y b a ja

Figura 5.18 Efecto de capa adyacente sobre la medicin de R t.


Al efecto de espesor de capa se suma el efecto derivado del cociente R s/Rm, el cual es
muy fuerte para bajos valores de este cociente, es decir, para lodos dulces, muy resistivos.
Para corregir por el espesor de capa, las diferentes compaas de servicios disponen de
cartas de uso exclusivo para cada lateroperfil. En estas cartas se ingresa por el eje
horizontal con el espesor de capa en pies y se obtiene, en el eje vertical, un factor de
correccin que se multiplica por la resistividad aparente R a de la sonda para obtener la
resistividad Rt corregida.

Correccin por profundidad de invasin

Una vez que las lecturas de los lateroperfiles han sido corregidas por efecto de pozo y por
espesor de capa, se deben corregir por profundidad de invasin, mediante la carta
mariposa (Figura 5.19). En esta carta se grafican los siguientes cocientes calculados con
las tres resistividades aparentes corregidas del dispositivo DLL-R xo: en el eje horizontal el
valor del cociente (RLLd/RLLs) y en el eje vertical el valor del cociente (R LLd/Rxo).
La carta mariposa contiene tres conjuntos de lneas: el conjunto de lneas horizontales
indica el valor del cociente (R t/Rxo); el conjunto de lneas verticales a trazas muestra el
valor del dimetro de invasin, di, y el conjunto de lineas verticales continuas muestra el
valor del cociente (Rt/RLLd).
El cociente (Rt/RLLd) obtenido en la carta, permite calcular la resistividad R t corregida por
invasin aplicando la siguiente ecuacin:
Rt
RLLd
Rt

Ec. 5.10
correg
R
LLd
Donde:
RLLd = valor aparente ledo en el perfil

5-20

C a p a s g r u e s a s , h u e c o d e 8 in . ( 2 0 3 m m ) ,
s in e fe c to d e n u lo , s in z o n a d e t r a n s ic i n , R x o /R m = 5 0 ,
u t iliz a r in f o r m a c i n c o r r e g id a p o r e f e c t o d e p o z o

Figura 5.19 Carta mariposa Rint-9b para corregir las lecturas de la sonda DLL-R xo por el
efecto de invasin (tomado de Cartas de Interpretacin de Schlumberger,
2000)
5-21

De forma anloga, con el cociente (R t/Rxo) obtenido en la carta y con el valor de R t


corregido obtenido previamente con la ecuacin anterior, se calcula el valor de R xo
corregido por invasin aplicando la siguiente ecuacin:

Rxo

correg

Rt

correg

Rt

Rxo

Ec. 5.11

En pozos con lodos salados, que es el campo de aplicacin de los lateroperfiles, la


resistividad Rxo es pequea y por tanto la relacin (R LLd/Rxo) resulta ser mayor>1, lo que
significa que los puntos caen en el ala grande de la carta mariposa; por el contrario,
cuando excepcionalmente se usan lateroperfiles con lodos dulces, puede resultar que
(RLLd/Rxo)<1, mxime si las zonas de inters contienen aguas saladas, lo que significa que
los puntos caen en el ala pequea de la carta. Debido a que en esta ala pequea es difcil
leer con precisin los valores buscados, existen cartas complementarias que expanden
esta rea.

Conclusiones sobre el perfil DLL- Rxo

- Ofrece muy buenos resultados con lodos salinos en condiciones de alto contraste R t/Rm
- Mide resistividades Rt en un amplio rango, desde 0.2 hasta 40.000 m.
- Ofrece buenos resultados en condiciones de alto contraste R t/Rs o Rs/Rt con las capas
adyacentes
- Posee excelente resolucin vertical de R t igual a 2 pies
- Registra simultneamente hasta 5 curvas: LLd, LLs, Rxo, SP, GR
- Las curvas Rxo, LLs y LLd permiten estudiar el perfil de invasin y corregir R t y Rxo por el
efecto de invasin
- La separacin entre las curvas LLd y LLs, permite reconocer visualmente la presencia de
hidrocarburos: a mayor separacin entre estos dos perfiles, mayor saturacin de
hidrocarburo.
La figura 5.20 ilustra la secuencia de aplicacin de las diferentes correcciones a las
lecturas de la herramienta DLL-SFL.

5-22

Figura 5.20. Gua para corregir las lecturas de la herramienta DLL-SFL (tomado de
Halliburton, 1991)
5.7 PERFILES DE MICRORRESISTIVIDAD
Las mediciones realizadas con las herramientas de microrresistividad tienen diferentes
aplicaciones:
5-23

Determinar resistividad de la zona lavada R xo


Determinar la saturacin de la zona lavada S xo
Detectar zonas permeables mediante la presencia de torta
Evaluar movilidad de hidrocarburos
Determinar dimetro de invasin di
Corregir Rt por efecto de invasin
Hacer correlaciones pozo a pozo

La determinacin de Rxo es importante porque permite corregir el valor de R t por efecto de


invasin y una vez corregido, utilizarlo para calcular de forma ms exacta la saturacin de
agua, Sw. De otra parte, el cociente Rxo/Rt constituye un mtodo rpido de identificacin de
hidrocarburos.
Las herramientas de microrresistividad se dividen en dos grupos: herramientas de mandril
que se corren centradas en el pozo y herramientas de patn que se corren pegadas a la
pared del pozo. Al primer grupo pertenecen las siguientes herramientas: normal corta (SN
16), Lateroperfil 8 (LL8) y Esfrica Enfocada (SFL); al segundo grupo pertenecen las
siguientes herramientas: Microperfil (ML), Microlateroperfil (MLL), Perfil de Proximidad (PL)
y Perfil Microesfrico Enfocado (MSFL).
A fin de obtener un valor exacto de R xo, la profundidad de investigacin debe ser somera y
adems las lecturas no deben estar influenciadas por los efectos del pozo. Con el
propsito de minimizar los efectos del pozo y asegurar que la profundidad de investigacin
no supere la zona lavada, las herramientas de microrresistividad del segundo grupo usan
electrodos cercanamente espaciados, montados sobre almohadillas o patines, que se
pegan a la pared del pozo gracias a dos brazos plegables, controlados hidrulicamente
desde superficie y que adems de medir Rxo miden el dimetro del pozo.
Tabla 5.2 Profundidad de investigacin y resolucin vertical de las herramientas de
microrresistividad de Schlumberger
NOMBRE

ABREVIATURA

Microperfil
Microlateroperfil
Microesfrico Enfocado
Perfil de Proximidad
Perfil Esfrico Enfocado
Lateroperfil 8
Perfil Normal corto 16

ML
MLL
MSFL
PL
SFL
LL8
SN

PROFUNDIDAD DE
INVESTIGACIN
1 pulg.
4 pulg.
4 pulg
10 pulg.
24 pulg.
49 pulg.
70 pulg.

RESOLUCIN
VERTICAL
2 pulg.
6 pulg.
8 pulg.
9 pulg.
12 pulg.
18 pulg.
24 pulg.

Las herramientas de microrresistividad se corren acompaando a otras herramientas,


generalmente diseadas para medir la resistividad de la zona virgen, R t, como se muestra
en la tabla 5.3.

5-24

Tabla 5.3 Ensamblaje de las herramientas de microrresistividad de Schlumberger


RH

HERRAMIENTA DE MICRORRESISTIVIDAD
Perfil Microesfrico Enfocado
Lateroperfil 8 Esfrico Enfocado
Esfrico Enfocado o Normal corta
Microlateroperfil Perfil de Proximidad

ABREVIATURA HERRAMIENTA
ACOMPAANTE
MSFL
DLL
LL8 SFL
DIL
SFL SN
IES
MLL PL
ML

5.7.1 Microperfil
Esta herramienta se conoce con diferentes nombres en la industria segn la compaa
fabricante:
Tabla 5.4 Nombres comerciales del Microperfil ML
NOMBRE
Microperfil
Mini Perfil
Perfil de Contacto
Perfil de Micro Contacto
Servicio Micro Perfil

COMPAA
Schlumberger
Lane Wells
Welex
Birdwell
P.G.A.C.

Cuando sali al mercado el Microperfil se utiliz para estimar porosidad pero cuando
aparecieron los perfiles de porosidad snica, neutrnica y de densidad su uso qued muy
relegado. Sin embargo, desde mediados de los aos 80 su uso ha ido en aumento porque
result ser un excelente medio para detectar zonas permeables a partir de la torta debido
a su excelente resolucin vertical.
En formaciones limpias, el Microperfil ML se utiliza primero para determinar el Factor de
Formacin, F, y luego para estimar porosidad:
F

Ro
R
a
xo m
Rw Rmf
a

1
m

Ec. 5.12
Ec. 5.13

La herramienta Microperfil, ML, consiste de 3 electrodos en lnea, distanciados entre si a 1


pulgada, los cuales estn montados sobre una almohadilla de caucho flexible que se
ajusta a las irregularidades del hueco y que asla a los electrodos del lodo (Figura 5.20).
El Microperfil mide simultneamente 2 resistividades: el perfil micronormal R 2 entre el
electrodo de corriente Ao y el electrodo de potencial C, espaciado a 2 pulgadas, y el perfil
microinverso R1x1 entre el electrodo de corriente Ao y el electrodo de potencial B,
espaciado a 1 pulgada. La resistividad R 1x1 depende en gran medida de la resistividad de
la torta, la cual es un poco superior a la resistividad del lodo, en tanto que la resistividad
R2, que posee mayor profundidad de investigacin, esta ms influenciada por la
resistividad de la zona lavada que por la resistividad de la torta.

5-25

C A L IB R E

1 6

R E S IS T IV ID A D

R xo
(z o n a
la v a d a )

C a lib r e

D i m e tr o
d e b ro c a

R t( R

M ic r o n o r m a l 2 "

M ic r o n o r m a l 2 "

M ic r o in v e r s a 1 " x 1 "

S e p a r a c i n n e g a t iv a

M ic r o in v e r s a 1 " x 1 "

< R

1 " x 1"

R m c
( T o r ta
d e lo d o )

Figura 5.20 Medicin de los perfiles micronormal R 2 y microinverso R1x1 con la


herramienta Microperfil ML (modificado de Bendeck y Chona, 1982)
La separacin entre los dos perfiles: el micronormal y el microinverso, se utiliza para
identificar diferentes tipos de formaciones. Cuando R 2>R1x1 la separacin es positiva;
cuando R2< R1x1 la separacin es negativa y cuando R 2= R1x1 la separacin es cero. Las
rocas impermeables, como las calizas y los shale, se reconocen porque los valores de
R1x1 y R2 son altos y la separacin es cero, en tanto que las rocas reservorio se
reconocen por separaciones positivas o negativas. Las separaciones negativas
generalmente corresponden a reservorios con agua y las positivas pueden corresponder a
reservorios con crudo, gas o agua.

Factores que afectan las mediciones del Microperfil:

- La resistividad y el espesor de la torta afectan de manera considerable la respuesta del


Microperfil. Cuando la resistividad de la zona lavada, R xo, es alta comparada con R mc, la
resolucin de la herramienta es pobre, porque la corriente fluye con mayor facilidad por la
torta, de forma que muy poca corriente penetra en la formacin. Se requiere que
Rxo/Rmc<15.
- Las lecturas del Microperfil, ML, no son confiables cuando la torta es muy gruesa; se
requiere que el espesor de la torta, hmc, sea menor a .
- En condiciones favorables, la carta Rxo-1 (Figura 5.21) permite determinar la resistividad
de la zona lavada, Rxo, y el espesor de la torta, a partir de las lecturas R 1x1, R2 y de la
5-26

resistividad de la torta, Rmc, leda del encabezado del pozo y llevada a la temperatura de
formacin.

Limitaciones del Microperfil

- Cuando el espesor de la zona lavada es menor a 4, la lectura R 2 es influenciada por Rt.


- Las paredes irregulares causan fugas de corriente y producen mediciones errneas.

Espacio para diagramar

5-27

hueco de

1 "x 1 "

"

P a r a p o z o s d e d i m e t r o d if e r e n te a 8 " ( 2 0 3 m m ) , m u ltip lic a r e l c o c ie n t e R 1 "x 1 "/ R m c p o r lo s s ig u ie n t e s f a c t o r e s


a n te s d e in g r e s a r a e s ta c a r ta : 1 .1 5 p a r a p o z o s d e 4 3 /4 " ( 1 2 0 m m ) , 1 .0 5 p a r a p o z o s d e 6 " ( 1 5 2 m m ) , 0 .9 3 p a r a
p o z o s d e 1 0 " (2 5 4 m m ).
N o ta : v a lo r e s in c o r r e c t o s d e R m c d e s p la z a n lo s p u n t o s e n la c a r ta a lo la r g o d e u n a lin e a d e 4 5 . E n c ie r t o s
c a s o s e s t o p u e d e r e c o n o c e r s e c u a n d o e l e s p e s o r d e la t o r ta d if ie r e d e l e s p e s o r d ir e c ta m e n t e m e d id o p o r e l
m ic r o c a lib r e . P a r a c o r r e g ir, d e s p la c e e l p u n t o g r a f ic a d o a lo la r g o d e u n a l n e a d e 4 5 h a s ta in t e r c e p ta r e l v a lo r
c o n o c id o d e h m c . L e a e n la c a r t a p a r a e s t e n u e v o p u n t o e l v a lo r R x o / R m c , y d e la e s c a la in f e r io r, R 2 "/ R m c .

Figura 5.21. Carta de interpretacin del Microperfil (tomado de Cartas de Interpretacin


de Schlumberger, 1979)
5.7.2 Perfil Microesfrico Enfocado
El perfil Microesfrico Enfocado MSFL tiene 5 electrodos rectangulares que van montados
sobre un patn que presiona los electrodos contra la pared. Mediante el enfoque esfrico
5-28

de la corriente de investigacin se obliga a las superficies de equipotencial a guardar una


forma casi esfrica, eliminando as el efecto del pozo para dimetros menores que 10
(Figura 5.22). El perfil Microesfrico enfocado MSFL generalmente se acopla al Doble
Lateroperfil (DLL) y a la sonda de Densidad de Formacin que tambin es de patn.
L od o

F o r m a c i n

A
M

I1

Io

M S F L

K .( V

-V

Io

Figura 5.22 Distribucin de las corrientes de investigacin en la sonda SFL (tomado de


Schlumberger, 1972)
El perfil MSFL se afecta por el espesor de la torta y este efecto se corrige con la ayuda de
la carta Rxo-2 (Figura 5.23), a la cual se ingresa por el eje horizontal con el cociente
RMSFL/Rmc y se obtiene en el eje vertical un factor de correccin que se multiplica por la
resistividad aparente RMSFL de la sonda, para obtener la resistividad RMSFL corregida.
5.8 EJERCICIOS
Ejercicio 1
En un perfil IES/Snico, en frente de un intervalo de arenisca limpia, la porosidad snica
S = 20% y la resistividad de la zona virgen R t =25 m. Adems, se conoce de una prueba
DST, que Rw = 0.020 m a Tf. Calcular la saturacin de agua de la arenisca asumiendo
que esta es consolidada.
Ejercicio 2
De una caliza aparentemente acufera, se conoce R t = 3 m, leda de un perfil de
induccin y Rw = 0,06 m a temperatura de formacin, determinada a partir de una prueba
DST. Calcular la porosidad de la caliza.
Ejercicio 3

5-29

En frente de una arenisca acufera, limpia, consolidada, se ley de un perfil de induccin


Rt= 0,25 m y de un perfil de porosidad snica S = 30%. Estimar el valor de Rw del agua
de formacin.

5-30

M ic r o la te r o p e r fil
P a t n h i d r u l i c o t ip o V I I I

P e r fil d e P r o x im id a d
( T o r ta d e lo d o is o t r p ic a )

M ic r o S F L e s t n d a r
C o r r e c c i n p o r t o r ta d e lo d o p a r a M S F L v e r s i n I I I p a r a p o z o s d e 8 "

Figura 5.23 Carta Rxo-2 para corregir las lecturas de los microperfiles por efecto de
espesor de torta (tomado de Schlumberger, 2000).
5-31