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A v a i l a b l e a t w w w. s c i e n c e d i r e c t. c o m
ScienceDirect
j o u r n a l h a s p g in: w w w. e l s e v i e r. c o m / l o c a t e / c a r b o n
Andreas Mueller
un,b,*,1
un
un
, Klaus Mullen
un,b,*
Max-Planck para la Investigacin de Polmeros, Qumica Sinttica, Ackermannweg 10, 55128 Mainz, Alemania
ARTICELINFO
AB S TR AC T
y terminaciones superficiales selectivas por grupos funcionales se lograron. Sobre todo, una directa
funcionalizacin de los grafitos con grupos nitrilo se evidenci por una seal caracterstica
nal en 2240 cm_1 en los espectros Raman despus de un tratamiento con plasma RF-nitrgeno de alta energa. La
contenido total de nitrgeno de hasta el 11% at. fue alcanzado por las condiciones aplicadas. La
aumento de la polaridad de las superficies fue confirmada por mediciones de ngulo de contacto. La
funcionalizacin de nitrilo puede servir como andamio sinttico para el desarrollo de nuevas rutas
grafitos pueden ser procesados por tcnicas de exfoliacin comunes que producen nitrgeno modificados
_ 2014 los autores. Publicado por Elsevier Ltd Este es un artculo de acceso abierto bajo la CC BY
licencia (http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/).
Introduccin
Correspondiente autores en: Max-Planck para la Investigacin de Polmeros, Qumica Sinttica, Ackermannweg 10, 55128 Mainz, Alemania. Correos electrnicos:
sachdev@mpip-mainz.mpg.de (H. Sachdev), muellen@mpip-mainz.mpg.de (K. Mullen).
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Experimental
Un flujo de gas de nitrgeno (5,0 pureza) de 300 sccm fue utilizado para
una fluidizacin suf-ciente de los materiales. Las muestras fueron tratadas
de plasma en las condiciones especificadas ms (cf. Apoyando
Informacin) En un lecho fluidizado durante 30 min y el recuperado las
muestras se almacenaron en un desecador.
Resultados y discusin
Todos los materiales de partida revelan las caractersticas espectroescpica Raman tpicos de carbonos de grafito, es decir, la banda D, el Gmode-gra phitic, la D0-mode y la banda-2D (cf. Fig. 1 y Tabla 1). El modo
D se atribuye generalmente al desorden y defectos dentro de la celosa de
grafito y se observa comnmente en los espectros Raman de las
perturbaciones materiales de carbono dis-juego modificados o dopados
dentro de la red cristalina. [29] Los espectros Raman de los materiales de
partida indica un mejor Crys-tallinity y grafito de calidad para el FG
natural sin tratar, en comparacin con la muestra no tratada de la grafito
Los espectros Raman del plasma de nitrgeno tratada sam-ples indican las
modificaciones de ambos materiales ya a bajas energas de excitacin, que
se vuelven ms dominantes a energas ms altas. Para la energa baja
tratada SPG y FG grafitos, un aumento de la ID/ YOG se observa
proporcin de aproximadamente el doble en el primer caso y sobre diez
veces en el ltimo caso. El ID0 / YOG relacin est en lnea con esta
observacin y sigue la misma tendencia. Otro indicador de la disminucin
de la perfeccin cristalina lnea del material es la anchura a media maximadre (FWHM) de los modos Raman correspondientes. Los valores de
FWHM aumentan despus baja energa tratamiento con plasma de
nitrgeno para ambos grafitos. Los espectros de Raman del plasma de
nitrgeno de alta energa muestras tratadas indican un mucho
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Fig. 1 - espectros Raman de prstina (1), N2 plasma LP (2) y N2 plasma HP (3) SPG (a) y FG (b). De excitacin 488 nm (2,54 eV), 20 objetivo, la
potencia del lser 2.1 mW. Spectra estn desplazados en la direccin Y para una mejor claridad. (Una versin en color de esta figura se puede ver en
lnea.)
Tabla 1 - Datos espectroscpicos Raman importantes de muestras de grafito prstinas y plasma tratado. Los valores presentados se han obtenido mediante
el anlisis de los espectros se muestra en la Fig. 1. Los datos adicionales, incluyendo valores medios derivados de mltiples puntos de medicin se pueden
encontrar en la SI (Tablas S1-S4).
Relacin de intensidad
m /D
D
m /G
G
FWHM
FWHM
mD0 / D
0
FWHM
m / NC
CN
FWHM
YOD/ YOG
YOD0 / YOG
Pristine SPG
1361.7 / 44.9
1584.0 / 20.9
1626.2 / 7.5
0,233
0,008
N2
LP plasma (0,75 kW)
1362.0 / 54.6
1583.7 / 27.4
1625.2 / 19.5
0,564
0,051
N2
HP plasma (1,5 kW)
1365.6 / 178.1
1586.6 / 52.9
1634.3 / 54.7
2242.3 / 24.9
4,272
0,449
Pristine FG
1364.5 / 35.5
1584.1 / 14.8
0,019
N2
LP plasma (0,8 kW)
1360.3 / 71.9
1584.1 / 19.1
1618.5 / 37.2
0,421
0,063
5,164
0,808
modificado muestras SPG y FG puesto que ya no pueden estar en formated por un solo Lorentz. Una segunda baja frecuencia compo-nente tiene
que ser agregado para cada modo de Raman (cf. ejemplo encajar Fig. S1)
Que puede atribuirse a fuertemente desordenada, el nitrgeno que contiene
carbono amorfo a los de grafito parti-culos superficie de acuerdo con
informes de la literatura [29,30].
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incorporadas en un sp tipo
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Fig. 3 - N 1s y 1s C espectros XPS de N2 plasma modificado SGP (a) y FG (b). Incorporacin de nitrgeno se confirma por el N 1s seal observada
despus de los tratamientos de plasma. (Una versin en color de esta figura se puede ver en lnea.)
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Fig. 4 - (a) ngulos de contacto de agua de FG prstina y modificado y muestras de SPG. (B) las estadsticas de medicin para muestras FG prstinas y
modificados. (c) las estadsticas de medicin para muestras SPG vrgenes y modificadas.
Fig. 5 - Ilustracin de la N2 modificacin plasma de grafito y ejemplos para posibles pasos posteriores de derivatizacin que explotan los grupos de
nitrgeno y de nitrilo injertadas. (Una versin en color de esta figura se puede ver en lnea.)
grupos funcionales junto con los grupos nitrilo pueden ser de piel de Ther
qumicamente modificado por reacciones orgnicas estndar para varios
derivatizacin adicionalmente, por ejemplo por reduccin de grupos
amina funcionales uniformes o por hidrlisis de grupos de cido
carboxlico (cf. Fig. 5).
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Conclusin
Reconocimiento
Hemos demostrado que muestras a granel de
carbono graftico pueden ser fuertemente
nitrgeno funcionalizado en la superficie
mediante una reaccin de CVD RF-plasma,
dando lugar a grupos nitrilo a alta excitacin
de plasma como se evidencia por
espectroscopia Raman. Un contenido de
nitrgeno superficial de hasta 11% at. Se
logr como por XPS y est acompaada por
un cierto grado de amorphiza-cin superficie
como se indica por un aumento de la banda
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REFERENCES
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