ENGENHARIA MECATRNICA

Aula: CONTROLE ESTATISTICO DA QUALIDADE

Engenharia da Qualidade e
Normalizao
Prof. Enildo Dias

1)QUALIDADE TOTAL

Controle Estatstico da Qualidade

Limites naturais, de especificao e de controle
ndices de capacidade do processo
Grficos de Controle por Variveis
Construo e Analises dos grficos
Grficos de Controle para Processos
Grficos de controle com limites e atributos
Inspeo de Qualidade
Determinao do plano de amostragem
Inspeo retificadora
Planos de amostragem da norma brasileira NBR
5426

1-INTRODUO E CONCEITOS FUNDAMENTAIS

Juran(1999)
Qualidade significa adequao ao uso.

Deming(2000)
Qualidade significa atender e, se possvel, exceder as expectatiivas
do consumidor.
Crosby(1995)
Qualidade significa atender as especificao.
Taguchi(1999)
A produo ,o uso e o descarte de um produto sempre acarretaram
prejuzos (perdas) para a sociedade. Quanto menos, melhor.

1-INTRODUO E CONCEITOS FUNDAMENTAIS

Custos de preveno
Determinao de condies timas dos parmetros de processo antecede a produo; Custos
com o treinamento de pessoal ou com o monitoramento de processos.
Custos de avaliao
Custos de atividades estabelecidas com o propsito de avaliar a observncia das
especificaes.

Empresa que no se engajaram em um programa de melhoria contnua.

Falhas internas+externas>70%

2-FUNDAMENTOS DO CEP

Causas da Variabilidade do Processo (Aleatrias e Especiais)

Processo isento de causas

especiais

Causa especial altera a

mdia do processo

Causa especial altera a

mdia e a disperso

2-FUNDAMENTOS DO CEP
Causas da Variabilidade do Processo.
Processo sujeito somente a causas Aleatrias est em controle.
Causas Aleatrias + Causas especiais = fora do controle

Distribuio aleatria
em torno da linha
mdia.
Shewhart-leave
the
process alone

15valor fora do LSCdeve se intervir no

processo

2-CEP-VARIABILIDADE DO PROCESSO
Mdia X

Amplitude(maior
- menor valor)

Desvio padro
amostral S

(992,9-1001,2)^2+.....+ (998,3-1001,2)^2
5-1

2-CEP

2-CEP

3-GRFICO DE CONTROLE POR VARIVEIS( X-R-S)

Os limites de controle com 3
desvios-padro so afastados
em relao a linha mdia .
Shewhart -Se o processo
estiver em controle ,evite
ajustes desnecessrios, que
s tendem a aumentar a sua
variabilidade

LC mdia =Mdia + 3 desvios padro

Os limites de controle para o

grafico de R tambm so
situados usualmente com 3
desvios-padro
de
afastamento da mdia.
Amplitude amostral R

LC Amplitude R = MdiaR + 3 desvios padro

Amplitude amostral R:
Diferena em mdulo, entre o menor e o maior valor
da amostra

3-PODER DO GRFICO DE Xmdio

De um modo geral se >1,5 ento rapidamente um valor de

Xmdio cair fora dos limites de controle.

Poder do grfico Xmdio: a velocidade com qual o grfico

identifica as perturbaes no processo.

3-PODER DO GRFICO DE Xmdio

Exerccio: Para analisar a capacidade de um micrmetro
25peas foram medidas por 4 operadores, cada pea foi medida
3 vezes por operador. Obtiveram os seguintes resultados.
Op 1
Xmediana 20,07545
R

0,0039

Op 2
20,07935
0,0017

Op 3

Op 4

20,0714 20,0768
0,0038

0,0027

Pelas especificaes ,a dimenso da pea deve estar

compreendida em 19,78 e 20,36.A capacidade do sistema de
medio satisfatrio?

4-CAPACIDADE DO PROCESSO
LIMITE NATURAL
Valores de X situados a
+/-3 desvios padro da
mdia do processo.

Se distribuio normal
esperados 27 a cada
10000 unidades fiquem
fora dos limites

LIMITE DE CONTROLE

LIMITE DE ESPECIFICAO

LC para o grfico
Xmdio estabelecido a
+/-3 desvios padro da
mdia do processo.

Estabelecidos pela engenharia

para evitar multa e estourarem
durente
o
manuseio
ou
transporte.

Esses limites definem a

regio de ao do grfico de
Xmdio, com propsito de
fornecer um critrio que
indique o momento de intervir
no processo.
APLICADO
A
MDIAS
AMOSTRAIS

APLICADO
A
INDIVIDIAIS DE X.

VALORES

4-CAPACIDADE DO PROCESSO
LIMITE NATURAL

LIMITE DE CONTROLE

LIMITE DE ESPECIFICAO

4-INDICES DE CAPACIDADE DO PROCESSO

ICPs so parmetros adimensionais que indiretamente medem o
quanto o processo consegue atender as especificaes.
No h uma relao fixa entre o seu valor e a porcentagens de itens que o
processo capaz de produzir dentro das especificaes : essa relao vai
depender da distribuio de probabilidades da caracterstica de qualidade
considerada, contudo quanto maior o seu valor melhor o processo consegue
atender as especificaes.

Cp

Cpk

Cpm

4-INDICES DE CAPACIDADE DO PROCESSO

Cpk
Cp
Cp insensvel
a mudanas na
mdia
do
processo.

Comparao dos casos a e h.

Se
a
mdia
do
processo no pertencer
ao
intervalo
das
especificaes o ndice
Cpk assumira valores
negativos(e,f).

Cpm
b e g- unidades no
conformes
em
pro
pores iguais com
muito diferentes.
c e d- itens no
conformes
em
pro
pores
muito
diferentes podem ter
Cpm prximos

Valores de Cp, Cpk e Com ppara diferentes valores de e ,com LIE=2 e LSE=8.

4-INDICES DE CAPACIDADE DO PROCESSO

RAZOAVELMENTE CAPAZ-Deve ser rigidamente

controlado, pois causa especial leva a produo
de grande numero de produtos que no atendem
as especificaes.
INCAPAZ-Produz uma % razovel de itens fora das
especificaes, mesmo com o processo em controle.
A ocorrncia de causa especial dramtica.

Classificao do processo com respeito a capacidade

4-INDICES DE CAPACIDADE DO PROCESSO

PROCESSO A,B e C versus limite de especificao:causa especial altera o desvio padro do processo.

5-GRAFICOS DE CONTROLE (CUSUM,EWMA)

5-GRAFICOS DE CONTROLE (CUSUM,EWMA)

5-GRAFICOS DE CONTROLE (CUSUM,EWMA)

5-GRAFICOS DE CONTROLE (CUSUM,EWMA)

5-GRAFICOS DE CONTROLE (CUSUM,EWMA)

6-GRAFICOS DE CONTROLE POR ATRIBUTO

6-CARTAS POR ATRIBUTO

Carta np Quantidade de defeitos

Carta p Frao defeituosa

6-CARTAS POR ATRIBUTO

Carta c -N de defeitos por amostra

Carta u -N de defeitos por unidade

6-INSPEO DA QUALIDADE- Distribuio hipergeomtrica

Inspeo 100%
Inspeo de lote
Auditoria da Qualidade
1)Inspeo para aceitao
NQA-Nvel de Qualidade aceitvel
NQI-Nvel de Qualidade inaceitvel
Risco -Risco do produtor
Risco -Risco do consumidor(lote ruim defeituoso/aceitar como lote bom)

6.1- Distribuio hipergeomtrica

P=probabilidade
d ou do= nmero de peas defeituosas na amostra
D= nmero de peas defeituosas no lote
N ou m=tamanho do lote
n=tamanho da amostra

6-INSPEO DA QUALIDADE
Exerccio: Uma empresa fabrica peas para motores,sabendo-se que a mdia
do processo de 5% de peas defeituosas, calcule a probabilidade de um
lote com 100 peas ter uma amostra de 10peas analisada nesta amostra
e ser encontrada 1 pea defeituosa.
5
1
1

100
10

100
1
34%
58%

At 1 pea defeituosa= 92%

5
1

6-LEMBRANDO ANLISE COMBINATRIA

Senha Banco
X1,X2,X3,X4
0
10
9

Ns. Que no se repetem

Na calculadora 10 NCr 4=210

6-INSPEO DA QUALIDADE

6-INSPEO DA QUALIDADE(Distribuio de Poison)

6-INSPEO DA QUALIDADE(Distribuio de Poison)

Exerccio USP: Calcule a probabilidade de um lote de peas conter 6 peas
defeituosas ,sabendo-se que a mdia de peas defeituosas deste processo de 5%.

6-INSPEO DA QUALIDADE(Distribuio de Poison)

Exerccio USP: Calcule a probabilidade de um lote de peas conter 6 peas
defeituosas ,sabendo-se que a mdia de peas defeituosas deste processo de 5%.

100
6

15%

6
0,05

100-6
0,05

6-INSPEO DA QUALIDADE

7-DETERMINAO DO PLANO DE AMOSTRAGEM

Determinao do plano de amostragem simples.

8-INSPEO RETIFICADORA

Inspeo para aceitao e inspeo retificadora

8-INSPEO RETIFICADORA

8-INSPEO RETIFICADORA

9-PLANOS DE AMOSTRAGEM DA NBR 5426

Os planos so tabelados em funo do tamanho do lotes e do NQA(nvel de
qualidade aceitvel) e tambm definir o nvel de inspeo com que pretende
trabalhar.
O nvel de inspeo fixa a relao entreo tamanho do lote e o tamanho da amostra.

Usual inspeo II
(I-diminuir tamanho da amostra e aumento risco do consumidor).
(III-Qdo reduzir o risco do consumidor aumentando o numero de amostras

9-PLANOS DE AMOSTRAGEM DA NBR 5426

Os planos so tabelados em funo do tamanho do lotes e do NQA(nvel de
qualidade aceitvel) e tambm definir o nvel de inspeo com que pretende
trabalhar.
O nvel de inspeo fixa a relao entreo tamanho do lote e o tamanho da amostra.

Regras gerais para a comutao entre modos de inspeo

FIM

OBRIGADO!!!