Sie sind auf Seite 1von 176

Le concept

d'OMICRON Test Universe

OMICRON Test Universe

Test Universe 3.00 - Version de manuel : CONC.FRA.16 - Anne : 2014


OMICRON electronics. Tous droits rservs.
Le prsent manuel est une publication d'OMICRON electronics GmbH.
Tous droits rservs, y compris la traduction. Toute reproduction sous quelque forme que ce soit, par
exemple, la photocopie, le microfilmage, la reconnaissance optique de caractres et/ou le stockage
dans des systmes de traitement de donnes lectroniques, ncessite le consentement explicite
d'OMICRON electronics.
La rimpression, en tout ou en partie, nest pas autorise. Les informations sur le produit, les
caractristiques techniques et les donnes techniques contenues dans le prsent manuel
correspondent l'tat de la technique au moment de la rdaction et peuvent tre modifies sans avis
pralable.
OMICRON electronics traduit le prsent manuel de l'anglais vers plusieurs autres langues. Toute
traduction du prsent manuel est effectue pour rpondre des besoins locaux et, en cas de conflit
entre la version anglaise et une version dans une autre langue, la version anglaise du prsent manuel
prvaut.
Nous avons tout mis en uvre pour nous assurer que les informations communiques dans le prsent
manuel sont utiles, exactes, jour et fiables. Toutefois, OMICRON electronics dcline toute
responsabilit en ce qui concerne les inexactitudes ventuelles.
L'utilisateur est responsable de toute application utilisant un produit OMICRON.

Table des matires

Table des matires


1 Logiciel Test Universe de OMICRON . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
2 L'cran de dmarrage de Test Universe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.1

Modules de test - Dmarrage d'un test autonome . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14

2.2

Control Center - Cration de documents de test multifonctionnel. . . . . . . . . . . . . 14

2.3

Outils de test - Applications supplmentaires . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16

2.4

Configuration - Prparation de l'quipement de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16

2.5

Assistance - Documentation et assistance. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18

2.6

Utilisateur - Outils spcifiques utilisateur. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20

3 Configuration de lquipement tester . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21


3.1

Equipement tester local d'un module de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21

3.2

Equipement tester global - Partage d'un Equipement tester dans un


document Control Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22

3.2.1

Plusieurs Equipements tester dans un document Control Center . . . . . . . . . . . . . . . 23

3.2.2

Equipements tester dans des groupes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24

3.2.3

Pourquoi les modules de test modifient-ils leur rfrence un Equipement tester ? . 25

3.2.4

Exemple d'Equipements tester dans un document de test Control Center . . . . . . . . 26

3.3

XRIO . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27

3.3.1

Convertisseur XRIO. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28

3.3.2

Lier XRIO (LinkToXRIO). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29

3.4

Paramtres de l'quipement tester . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30

3.4.1

Menus contextuels. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30

3.4.2

Modes d'utilisation - Fonctions disponibles . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31

3.4.3

Le menu Fichier. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31

3.4.4

Le menu Vue . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35

3.4.5

Le menu Fonction (mode "Avanc" uniquement) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35

3.4.6

Le menu Bloc (mode "Avanc" uniquement). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36

3.4.7

Le menu Paramtre (mode "Avanc" uniquement) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38

3.4.8

Cration dentres dans le bloc Utilisateur (mode "Avanc" uniquement) . . . . . . . . . . 39

3.5

Paramtres quipement . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40

OMICRON Test Universe

4 Configuration du matriel de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45

4.1

propos de la configuration du matriel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46

4.1.1

Quest-ce que la Configuration du matriel ? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46

4.1.2

Configuration du matriel globale si le module de test est incorpor dans un


document Control Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47

4.1.3

Configuration du matriel locale si le module de test est incorpor dans un document


Control Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51

4.1.4

Configuration du matriel si le module de test fonctionne en mode autonome. . . . . . . 53

4.2

Exemple de Configurations du matriel locale et globale (module de test


incorpor dans Control Center) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56

4.3

Dispositif de test (reprsentation symbolique) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58

4.4

Dmarrage de la Configuration du matriel . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60

4.5

Utilisation de configurations de matriel existantes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61

4.6

Mise jour des informations sur le matriel de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62

4.6.1

Comportement de la mise jour lorsque le module de test fonctionne en mode


autonome. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62

4.6.2

Comportement de la mise jour si des modules de test sont insrs dans un


document de test et accdent une Configuration du matriel globale . . . . . . . . . . . . 63

4.7

Dialogue Configuration du matriel. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65

4.7.1

Tableaux de cblage dans les onglets des entres et sorties. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66

4.7.2

Onglet Gnral . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69

4.7.3

Dtails de la configuration des sorties du CMC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73

4.7.4

Dtails de configuration de lamplificateur . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79

4.7.5

Simulations de capteurs de tension et de courant. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80

4.7.6

Configuration de capteur de courant Rogowski. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 81

4.7.7

Configuration des sorties bas niveau . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82

4.7.8

Onglet Sorties analogiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83

4.7.9

Onglet Entres binaires / analogiques. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 85

4.7.10

Onglet Sorties binaires . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88

4.7.11

Onglet Entres analogiques CC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90

4.7.12

Source de temps . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91

4.8

Matriel en option CMB IO-7. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104

4.8.1

Comportement en mode en ligne . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105

4.8.2

Comportement en mode hors ligne . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 105

Table des matires

5 OMICRON Control Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107


5.1

Modules de test dans un document de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107

5.1.1

Plusieurs modules de test dans un seul document de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108

5.1.2

Insertion d'un groupe dans un document Control Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108

5.1.3

Lier XRIO (LinkToXRIO) pour l'indicateur "Activer" . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114

5.1.4

Plusieurs quipements tester dans un seul document de test . . . . . . . . . . . . . . . . . 116

5.1.5

Plusieurs configurations de matriel dans un seul document de test . . . . . . . . . . . . . 117

5.1.6

Insertion de champs dans un document Control Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117

5.1.7

Insertion d'objets dans un document Control Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118

5.2

Rapports de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119

5.2.1

Utilisation dun formulaire de rapport de test prdfini . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120

5.2.2

Personnalisation dun rapport de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 121

5.2.3

Fonctions avances. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 122

5.3

Excution dun test partir du Control Center. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125

5.3.1

Slection des modules de test tester . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125

5.3.2

Vrification du matriel connect . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125

5.3.3

Changement d'units. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126

5.3.4

Dmarrer/Continuer un test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 127

5.3.5

Arrt ou suspension dun test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 128

5.3.6

Effacement des rsultats . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 128

5.3.7

Changer lvaluation dun test "russi"/"chou". . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 129

5.4

Mise en page du document de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130

5.4.1

Mise en page . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130

5.4.2

Formatage du texte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130

5.4.3

En-ttes, pieds de pages numros de page . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131

5.4.4

Icnes dobjets dans les documents de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 132

5.4.5

Impression d'un document de test. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 133

5.5

Exportation dun rapport . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 133

5.6

Exportation de donnes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 134

5.6.1

Exportation de donnes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 134

5.6.2

Mise en cache des donnes dans Control Center. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 135

5.7

Niveaux de protection des documents de test Control Center. . . . . . . . . . . . . . . 137

OMICRON Test Universe

5.8

OCC Module daide Pause . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 140

5.8.1

Insertion d'un Module Pause dans un document Control Center . . . . . . . . . . . . . . . . 141

5.8.2

Excution d'un test en mode Information ou Instruction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141

5.8.3

Excution d'un test avec une entre utilisateur requise . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141

5.9

Module d'aide ExeCute de Control Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 142

5.10

Module d'aide TextView de Control Center. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143

6 Synchronisation des ensembles de test CMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 145


6.1

Synchronisation sur une frquence rseau de rfrence externe . . . . . . . . . . . . 145

6.2

Synchronisation sur une base de temps externe - GPS, PTP, IRIG-B,


PermaSync . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 146

6.3

Synchronisation GPS des ensembles de test CMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 149

6.3.1

Utilisation des units de synchronisation CMGPS 588 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 149

6.3.2

Utilisation des units de synchronisation CMGPS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 150

6.4

Utilisation de la rfrence de temps IRIG-B pour synchroniser des ensembles


de test CMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151

6.4.1

Utilisation des units de synchronisation CMIRIG-B . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151

6.4.2

Utilisation de l'ensemble de test comme gnrateur IRIG-B . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151

6.5

Configuration de la synchronisation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 154

6.5.1

Comment dfinir la configuration de la synchronisation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 154

6.5.2

Modifier les donnes d'impulsion. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 158

Extensions des noms de fichiers dans OMICRON Test Universe . . . . . . . . . . . . . . . . 161


Informations concernant la licence logicielle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
Assistance . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169
Index . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 171

Logiciel Test Universe de OMICRON

1 Logiciel Test Universe de OMICRON


Le logiciel OMICRON Test Universe est une suite logicielle trs performante,
conue pour piloter les ensembles de test CMC depuis un ordinateur. Parmi les
fonctionnalits de Test Universe, on peut citer :

tests manuels pratiques pilots par ordinateur,

tests avec des modules logiciels ddis pour les fonctions spcifiques des
quipements tester,

tests gnriques qui permettent de crer des tests rpondant des besoins
particuliers,

association de tous ces lments dans des plans de test gnraux,

utilisation de plans de test prdfinis par OMICRON.

Tests manuels
Utilisez le module de test QuickCMC pour effectuer un test manuel rapide pilot
par ordinateur. Dfinissez les valeurs de tension et de courant, les dphasages,
frquences, etc., soit numriquement soit dans la Vue Phaseur.
Le module QuickCMC excute en outre les calculs classiques des rseaux
lectriques, permettant de saisir les paramtres en composantes, valeurs de
puissance, impdances, etc. QuickCMC affiche les signaux d'entre binaire et
effectue les mesures de temps. La fonction pas/rampe permet de dterminer
des seuils tels que les valeurs de monte.

Modules de test des fonctions particulires des quipements


tester
Outre les tests manuels pilots par PC, le logiciel Test Universe d'OMICRON
propose une large gamme de modules ddis, spcialement conus pour les
fonctions individuelles des relais, par exemple les tests des relais de
surintensit, des relais de distance ou des relais diffrentiels.
Dans ces modules, une reprsentation graphique spciale de la caractristique
de l'quipement de protection (diagramme I/t, plan d'impdance, etc.) permet de
dfinir graphiquement des spcifications de test et de visualiser les rsultats de
test directement dans le diagramme de caractristique du relais.

OMICRON Test Universe

Fonctionnalits gnrales
Le logiciel Test Universe comporte aussi des modules de test gnriques afin
de crer et de raliser des tests spciaux non prvus par les modules
fonctionnels.
Exemples de tels tests :

des squences d'tats de sortie, pilots par des changements d'tat ou la


raction du relais test avec des valuations bases sur des mesures de
temps

une rampe linaire ou d'impulsion de grandeurs lectriques avec valuation


base sur le niveau de dmarrage ou de rinitialisation

Outre les modules de test gnriques, OMICRON propose une large gamme de
logiciels supplmentaires fonctionnant avec les ensembles de test CMC (par
exemple, des solutions de test CEI 61850, des logiciels de simulation de rseau,
des outils de test de schma, etc.).

OMICRON Control Center Plans de test pour les


quipements tester multifonctions
Pour tester les nombreuses fonctions des relais numriques, OMICRON Control
Center (OCC) permet de regrouper les fonctions de test individuelles dans un
plan de test global. Lorsqu'un test est effectu, les fonctions intgres sont
excutes les unes aprs les autres et un rapport de test global incluant les
rsultats de toutes les fonctions testes est automatiquement cr.
Puisque le document de test contient la spcification de test complte - c'est-dire le comportement nominal (paramtres) de l'quipement tester, ses points
de test et tolrances - un tel document sert de base pour la rptition ultrieure
du mme test. Pour cela, le document est recharg, les rsultats de l'ancien test
sont effacs, le plan de test est relu et les nouveaux rsultats sont enregistrs.
Ainsi, des tests crs une fois peuvent tre renouvels pour les tests de
maintenance. Ceci garantit une qualit de test constante, la possibilit de
comparer directement les rsultats et un gain de temps lors de l'excution des
tests de routine.

Cration automatique de rapport


Tous les modules de test du logiciel Test Universe possdent un lment
commun la gnration de rapport. Chaque module fournit un rapport de test
entirement format. Selon le module dont sont issus les rsultats, les donnes
sont prsentes sous forme de tableau et/ou de graphique. Si plusieurs
modules sont utiliss dans le Control Center pour constituer un test, chaque
module ajoute ses propres rsultats au rapport global.

Logiciel Test Universe de OMICRON

Lorsque le test est termin, les rsultats et les valuations du test sont
enregistrs automatiquement pour former le rapport complet. Les rapports
peuvent tre facilement imprims, enregistrs dans un fichier ou une base de
donnes ou exports vers des applications bureautiques standard aux formats
Rich Text Format (RTF) ou TXT.
Les rapports de test peuvent aisment tre personnaliss en fonction de vos
besoins. Le contenu visible des rapports de test peut tre personnalis. Les
donnes enregistres restent disponibles, mme si vous avez choisi de ne pas
les inclure dans les rapports. Les paramtres de rapport dfinis sont gnrs
rapidement et facilement, enregistrs avec un nom de formulaire et rechargs
ultrieurement. Les lments spcifiques la socit, tels que les logos, etc.
peuvent tre ajouts trs simplement
Exportation des rsultats de test :
Outre les formats d'exportation standard TXT et RTF pour une utilisation
ultrieure des donnes, par exemple dans Microsoft Word, les documents
OMICRON Control Center proposent les deux formats d'exportation suivants
pour un post-traitement externe plus complet des donnes de test :

Le format CSV (Comma Separated Value - champs spars par des


virgules) bien reconnu.

et le format XML (eXtensible Markup Language).

De plus, l'exportation des donnes en format CSV et XML est disponible dans
tous les modules de test en mode autonome (modules de test lancs
directement partir de l'cran de dmarrage de Test UnIverse au lieu d'tre
lancs dans Control Center).

Bibliothque des tests de protection


Face au dfi que constituent les tests des relais multifonctions modernes,
OMICRON propose une bibliothque de modles de test de protection, la
Protection Testing Library (PTL). Cette bibliothque vous permet d'avoir accs
des plans de test prpars et des modles de relais de diffrents
constructeurs (ABB, Areva, GE, Reyrolle, SEL, Siemens, Toshiba, etc.) ainsi
qu' des filtres d'importation de paramtres pour des quipements de protection
spcifiques, dont :

une modlisation de relais, c'est--dire le calcul de caractristiques (telles


que les diagrammes de zone) et de tolrances partir des paramtres des
relais, avec prise en compte des caractristiques techniques indiques dans
le manuel de relais

un filtre d'importation pour importer des valeurs paramtriques issues du


logiciel du relais ou des outils de calcul de paramtres

une procdure de test pour les fonctions de relais courantes.

OMICRON Test Universe

Non seulement les utilisateurs gagnent du temps en vitant de crer


manuellement les caractristiques de relais et les modles de test, mais ils
bnficient galement du savoir-faire d'OMICRON en matire de tests, par
exemple sur la faon de modliser et de tester des relais spcifiques et leurs
fonctions dans le logiciel Test Universe.
De nouveaux modles sont continuellement ajouts la PTL et peuvent tre
tlchargs par les clients sur le site Web d'OMICRON, partir de l'Espace
client ( Support page 155).

Langues
Le logiciel Test Universe est disponible dans un certain nombre de langues
diffrentes. Vous pouvez changer tout moment la langue du systme en
slectionnant la langue de votre choix sur l'cran de dmarrage d'OMICRON
Test Universe. Toutes les langues sont automatiquement installes ; aucun
composant logiciel supplmentaire n'est installer.
En particulier pour les projets internationaux, les clients souhaitent souvent avoir
un rapport dans une langue diffrente de la langue de travail du technicien de
mise en service. Cela est tout fait possible pour toutes les langues
Test Universe disponibles. En cas de modification de la langue du systme, si
un document de test est rouvert, le rapport de test est automatiquement
prsent dans la nouvelle langue du systme.

La documentation Test Universe


Aide de Test Universe
Le logiciel Test Universe est livr avec un systme d'aide completqui couvre
tous les composants proposs par Test Universe, savoir : cran de
dmarrage, Control Center, Equipement tester et Configuration du
matriel, tous les modules de test, les outils, les utilitaires de prparation et de
configuration, CMEngine, PTL, Automation, etc.
Vous trouverez de l'aide n'importe quel point du logiciel Test Universe :

Utilisez la fonction d'aide contextuelle.


Laide contextuelle est l'aide obtenue en un point particulier du logiciel en
cliquant sur le symbole
; elle fournit de l'aide sur la situation spcifique
associe ce point. Chaque rubrique d'aide contextuelle dcrit
exclusivement un tat, une situation, une fonction ou une bote de dialogue
du logiciel.

10

Placez le curseur de la souris sur le point souhait, et appuyez sur la touche


<F1> du clavier. C'est un processus trs semblable l'aide contextuelle
mentionne plus haut.

Logiciel Test Universe de OMICRON

Cliquez sur le bouton Aide, s'il est disponible. Cette action vous fournit
galement une aide contextuelle.

Cliquez sur le symbole des Rubriques de l'aide


dans le coin suprieur
droit d'une fentre d'application. Cette action lance l'aide propre au module
de test affichant sa rubrique d'introduction.

Cliquez sur Fichier > Aide > Rubriques de l'aide. Cette action lance
galement l'aide propre au module de test affichant sa rubrique
d'introduction.

Avec Test Universe de version 3.00, l'Aide est traduite en 6 langues : anglais,
allemand, espagnol, franais, russe et brsilien-portugais. Si vous installez
Test Universe dans une autre langue, l'aide s'affichera en anglais.
Manuels de Test Universe
Le logiciel Test Universe propose galement un grand nombre de manuels de
logiciel, des exemples d'utilisation et des manuels de matriel pour chaque
ensemble de test CMC, chaque amplificateur de courant CMA et de tension
CMS et chaque accessoire. Vous trouverez ces manuels sous forme de fichiers
PDF sur votre disque dur dans
dossier d'installation\Test Universe\Doc
Pour les langues autres que l'anglais, il existe des sous-dossiers particuliers aux
langues en question.
Ces manuels ont pour but de familiariser les utilisateurs avec les quipements
noncs et de leur montrer comment les utiliser correctement dans divers
domaines d'application. Ils contiennent d'importants conseils pour une utilisation
sre, adapte et efficace des quipements. L'objectif est de vous aider viter
les dangers, les frais de rparation et les temps d'immobilisation, et faire en
sorte que les quipements restent fiables et durent longtemps. Les manuels
doivent tre complts par les normes nationales de scurit existantes
relatives la prvention des accidents et la protection de l'environnement. Ils
doivent toujours tre disponibles sur le lieu d'utilisation de l'appareil. Toute
personne exploitant l'quipement concern devrait lire le manuel
correspondant.
Outre les manuels et les rgles de scurit en vigueur dans le pays et sur le site
d'exploitation, il convient de respecter les procdures techniques habituelles de
scurit au travail.
Les manuels ne sont pas tous disponibles dans toutes les langues proposes
pour Test Universe. Si un manuel n'est pas disponible dans la langue choisie,
Test Universe essaiera d'ouvrir le manuel dans la langue de votre systme
d'exploitation Windows1. Si celle-ci nest pas disponible non plus, le manuel
s'ouvrira en anglais.

11

OMICRON Test Universe

Vous n'aurez accder aucun de ces dossiers pour afficher un manuel. Des
liens tous ces manuels se trouvent la rubrique d'aide Manuels d'utilisation.
Pour afficher un fichier PDF, vous devez utiliser Adobe Reader , Foxit Reader
(ces deux logiciels sont gratuits) ou tout autre lecteur de fichiers PDF
compatible. Si votre ordinateur ne dispose pas de lecteur de fichiers PDF, le
OMICRON Test Universe installe Foxit Reader.

1. Windows est un nom de marque dpose aux Etats-Unis par Microsoft Corporation.

12

L'cran de dmarrage de Test Universe

2 L'cran de dmarrage de
Test Universe
Ouvrez le logiciel Test Universe partir du menu dmarrer de Windows ou en
double-cliquant sur l'icne du bureau cre lors de l'installation.
Les deux mthodes lancent l'cran de dmarrage d'OMICRON Test Universe,
un lment organisateur du logiciel OMICRON Test Universe. L'cran de
dmarrage de Test Universe est une fentre dont les fonctions sont semblables
celles d'une page Web.
Figure 2-1:
L'cran de dmarrage
d'OMICRON
Test Universe 3.00

En haut droite de l'cran de dmarrage de Test Universe , cliquez sur


www.omicron.at pour visiter le site Web d'OMICRON. Les clients d'Amrique
du Nord et du Sud sont invits visiter le site www.omicronusa.com.
Cliquez sur Demande d'assistance ou Espace client dans l'angle infrieur
droit de l'cran de dmarrage de Test Universe pour aller directement la
section Assistance technique ou Espace client du site Web d'OMICRON.

13

OMICRON Test Universe

Positionnez le curseur au-dessus d'un lien hypertexte pour faire apparatre une
infobulle qui rsume la fonction de ce lien. S'il s'agit d'un lien un module de test
ou un outil de test, un clic droit lance l'aide correspondante.

Prenez contact avec OMICRON


OMICRON offre un service d'information automatique sur les mises jour,
appel Infos OMICRON. Si votre ordinateur dispose d'un accs Internet et s'il
existe une mise jour disponible pour votre logiciel Test Universe, l'cran de
dmarrage de Test Universe conserve cette information et affiche le message
Mise jour disponible, juste au-dessous du numro de version. Cliquez sur le
message pour visiter la page correspondante du site Web d'OMICRON et avoir
plus d'informations sur cette mise jour. Nous vous encourageons toujours
tenir votre logiciel jour afin de bnficier des dernires amliorations et des
corrections apportes au logiciel.
Pour personnaliser les paramtres Infos OMICRON, cliquez sur Configuration
du systme dans la section Configuration de l'cran de dmarrage de
Test Universe, puis sur Paramtres de la fentre Infos.

2.1 Modules de test - Dmarrage d'un test


autonome
Cliquez sur le module de test souhait pour crer et excuter un test autonome.
"Autonome" signifie que le module de test dmarre sous la forme d'une instance
isole au lieu d'tre incorpor dans un document OMICRON Control Center
( 2.2 Control Center - Cration de documents de test multifonctionnel).
Les modules de test sans licence valide sont dsactivs sur l'cran de
dmarrage ( License Manager page 17).

2.2 Control Center - Cration de documents de


test multifonctionnel
Ouvrir un document de test existant
Cliquez pour parcourir l'arborescence des dossiers de votre ordinateur et
trouver les documents de test Control Center enregistrs au pralable. Ces
documents de test peuvent tre identifis par leur extension .occ ( File
Name Extensions within OMICRON Test Universe page 147).

14

L'cran de dmarrage de Test Universe

Ouvrir la bibliothque des tests de protection


La Protection Testing Library contient un certain nombre de convertisseurs
XRIO, de modles de test propres des relais (fichiers .occ ; voir plus haut) et
la documentation correspondante en format PDF.
Les convertisseurs XRIO couvrent les principales fonctions de protection ainsi
que des fonctions de protection propres certains relais. Ils permettent la saisie
des paramtres en respectant le logiciel du fabricant. Les caractristiques sont
automatiquement calcules dans les modules de test avancs ; elles sont
bases sur la technologie XRIO1 ( 3.3 XRIO page 27).
Les modles de test de la Bibliothque des tests de protection sont labors
plus particulirement pour le travail avec certains relais. Ils utilisent les
convertisseurs XRIO pour prparer les donnes de test et les caractristiques.
Les modles fournissent par consquent une base de travail pour les tests de
routine ou les tests de mise en service.

Ouvrir modle gnrique


Dmarre le Control Center et ouvre la fentre Choisissez un modle dans le
dossier "Librairie de tests\Modles". Vous pouvez choisir un document dans ce
dossier de modles. Il peut s'agir d'un document de test que vous avez
enregistr au pralable, d'un modle prt l'emploi ou d'un modle vierge fourni
par OMICRON, ou encore du modle par dfaut Default.occ.
Conseil : Le modle par dfaut Default.occ contient dj un Equipement
tester et une Configuration du matriel. Vous pouvez nanmoins
personnaliser le modle Default.occ et l'adapter vos besoins les plus courants,
et l'utiliser comme modle personnalis.

Nouveau document de test


Dmarre le Control Center avec un document de test vierge. Cela vous permet
de crer une nouvelle spcification de test partir de zro. Tout en ouvrant le
document, le Control Center ajoute un Equipement testervierge et une
Configuration du matriel ce document.
Conseil : Si vous ne souhaitez pas que Control Center ajoute un Equipement
tester et une Configuration du matriel ce document mais qu'il laisse
celui-ci entirement vierge, dsactivez cette fonction en ditant une cl de
registre Windows.

1. XRIO reprsente la deuxime gnration des fichiers RIO. RIO est une abrviation de Relay
Interface by OMICRON : cette technologie tait disponible dans les versions prcdentes de
Test Universe. Le X indique quil sagit dune version tendue ("extended", en anglais).

15

OMICRON Test Universe

Pour avoir des explications sur cette opration, lisez le manuel


Personnalisation des fonctions standard d'OMICRON Test Universe. Ce
manuel a t install avec le logiciel Test Universe ( moins que vous ayez
dlibrment choisi de ne pas installer la documentation). Pour savoir o trouver
et consulter les manuels, La documentation Test Universe page 10.

2.3 Outils de test - Applications supplmentaires


La section Outils de test fournit des applications supplmentaires destines
des tches de test spcifiques. Les outils de test font l'objet de certaines
restrictions :

Ils s'excutent uniquement en mode autonome, autrement dit, ils ne peuvent


pas tre intgrs dans un document de test Control Center.

Ils n'utilisent pas l'Equipement tester commun.

2.4 Configuration - Prparation de l'quipement


de test
La section Configuration contient tous les paramtres ncessaires la
configuration de votre environnement de travail.

Association de lensemble de test


Avec le composant Association de l'ensemble de test, vous pouvez associer et
configurer votre ou vos ensembles de test CMC via Ethernet. Grce l'interface
Ethernet, vous pouvez placer sur le rseau autant d'ensembles de test CMC que
vous le souhaitez et mme les commander par des ordinateurs distants
gographiquement (les clients).

Configuration du systme
Configuration du systme vous permet d'accder aux paramtres par dfaut
portant sur l'ensemble du systme, tels que les informations utilisateur, les
rpertoires par dfaut des documents de test, les noms des phases et les
valeurs par dfaut utiliser, les paramtres de la fentre Infos OMICRON, les
paramtres par dfaut pour l'exportation des donnes et les paramtres
sonores.
Pour plus d'informations rubrique d'aide Ecran de dmarrage de Test
Universe > Configuration du systme.

16

L'cran de dmarrage de Test Universe

License Manager
Le logiciel OMICRON Test Universe est protg contre les installations non
autorises ; il doit tre utilis avec un fichier de licence. Les codes des fichiers
de licence spcifient les modules de test individuels et les numros de srie du
matriel, autrement dit chaque code spcifie un couple module de test X
fonctionnant avec un ensemble de test A. Le code de licence qui permet au
module de test X de fonctionner avec lensemble de test A est diffrent du code
pour lensemble de test B, mme si A et B peuvent dsigner le mme modle
CMC.
Le fichier de licence matre Omicron.lic est automatiquement install dans
[Common Files]\OMICRON, [Common Files] contenant le chemin d'accs
complet du dossier dfini par Windows pour conserver les fichiers partags par
les applications installes sur le systme. Dans les versions anglaises de
Windows, ce dossier baptis "Common Files" se trouve dans le dossier
[Program Files]. Dans les versions de Windows en dautres langues, le nom du
dossier des fichiers communs est traduit.
Omicron.lic est un fichier texte ASCII que vous pouvez afficher avec un diteur
de texte.
Si vous achetez par la suite dautres ensembles de test OMICRON, vous devez
ajouter leurs codes de licence, fournis dans les fichiers de licence spars, au
fichier de licence matre. Pour cela, utilisez loutil de configuration License
Manager. Le License Manager regroupe les fonctionnalits dun navigateur de
licences, dun outil de fusion et dun diteur de fichiers de licence. Il recherche
les fichiers de licence OMICRON enregistrs sur le(s) disque(s) de lordinateur
et affiche leur contenu. Il fusionne les informations de licence de diffrents
fichiers dans le fichier de licence Omicron.lic. De plus, il permet d'ajouter
manuellement des cls de licence.

Slection de la langue
La langue slectionne lors de linstallation de Test Universe est utilise par
dfaut au dmarrage dune application Test Universe pour la premire fois ou
par un nouvel utilisateur. Cliquez sur Slection de la langue pour changer la
langue.
Lorsque vous avez slectionn la langue voulue dans la liste droulante
Langue des applications Test Universe, puis cliqu sur OK, l'cran de
dmarrage d'OMICRON Test Universe redmarre immdiatement dans la
langue slectionne. La langue de linterface utilisateur et des rapports des
modules de test en cours dexcution change au prochain dmarrage.
Cependant, le rapport de test d'un document Control Center actuellement ouvert
peut tre affich la vole dans la nouvelle langue en utilisant la fonction Mise
jour du dialogue Configurer tous les rapports.

17

OMICRON Test Universe

Si un composant nest pas disponible dans la langue slectionne,


Test Universe le lance dans la langue de votre systme dexploitation Windows.
Si celle-ci nest pas disponible non plus, le composant dmarre en Anglais.

2.5 Assistance - Documentation et assistance


Tutoriels
partir de l'cran de dmarrage de Test Universe, vous pouvez lancer un
certain nombre de tutoriels vido. Cliquez sur le lien hypertexte Tutoriels pour
avoir un aperu des tutoriels disponibles et pour les lancer. Le lien hypertexte
aux Tutoriels sur l'cran de dmarrage de Test Universe est dsactiv si vous
n'avez pas install les tutoriels. Pour installer les tutoriels, insrez le DVD
Test Universe dans votre lecteur.
Si la fonction de "dmarrage automatique" de Windows est active sur votre
ordinateur, le navigateur DVD, un cran d'installation ressemblant l'cran de
dmarrage, est automatiquement lanc. Sinon, ouvrez l'Explorateur Windows,
slectionnez votre lecteur de DVD et double-cliquez sur Setup.exe.
Cliquez ensuite sur l'entre du navigateur DVD intitule Tutoriels CM-Line de
la section Installer Applications supplmentaires CM-Line et suivez les
instructions affiches.

Manuels
OMICRON Test Universe comporte un certain nombre de manuels d'utilisation
de logiciel et de matriel. Cliquez ici pour avoir un aperu des manuels
disponibles. Pour se familiariser avec Test Universe, un bon point de dpart
consiste consulter le manuel Prise en main.

Aide
Cliquez ici pour lancer laide d'OMICRON Test Universe.

Conseils et astuces
Conseils et astuces est un ensemble de "petits trucs" qui faciliteront la
manipulation des composants de Test Universe et rendra votre travail plus
prcis, plus efficace et plus agrable.

Contacts
Comment contacter OMICRON dans le monde entier.

18

L'cran de dmarrage de Test Universe

OMICRON Assist
Cliquez sur OMICRON Assist pour lancer un outil de diagnostic qui recueille
des informations compltes sur votre systme de test. Ces informations sont
censes tre transmises l'assistance technique d'OMICRON au cas o vous
avez besoin de l'aide de nos experts pour rsoudre un problme.
Pour plus d'informations rubrique d'aide Test Universe Ecran de
dmarrage > OMICRON Assist.

Diagnostics & Etalonnage...


Groupe d'utilitaires de diagnostic et d'talonnage.

Cliquez sur Contrle du matriel pour lancer un auto-test de l'ensemble de


test CMC connect et associ. Cet auto-test ncessite un certain temps, car
les entres et sorties analogiques et binaires du CMC sont testes.

Cliquez sur Fichier journal pour analyser les communications entre un


ensemble de test CMC et votre ordinateur, et pour en crer un fichier journal.

Cliquez sur Info talonnage pour obtenir des informations sur l'talonnage
de l'ensemble ou des ensembles de test CMC sous licence.

Contexte : Votre DVD Test Universe comporte un fichier d'talonnage. Ce


fichier contient les informations d'talonnage propos des ensembles de test
CMC que vous avez achets. Lorsque vous installez le logiciel
Test Universe, ce fichier d'talonnage est install sur votre ordinateur.
L'option Info talonnage est active une fois que ce fichier a t
correctement install. Si l'option est dsactive, il est possible, par exemple,
que vous ayez install une version tlchargeable du logiciel Test Universe
qui ne comportait pas d'informations d'talonnage propos d'un ensemble
de test CMC sous licence.

Le Field Calibration Software (FCS) facilite et automatise ltalonnage et le


test de la gamme OMICRON CM. Le logiciel excute des procdures
d'talonnage/de test aux points de test indiqus par les modles et vrifie
que l'ensemble de test est conforme aux spcifications. Aprs l'talonnage/
le test d'un ensemble de test, le FCS fournit un rapport rcapitulant les
conditions du test et les rsultats.

Nouveauts
Lisez la rubrique Nouveauts pour prendre connaissance des nouvelles
fonctions, des amliorations ou des corrections apportes la version actuelle
de Test Universe.

19

OMICRON Test Universe

2.6 Utilisateur - Outils spcifiques utilisateur


L'cran de dmarrage de Test Universe peut accepter des entres
personnalises et permettre par exemple le lancement de programmes ou
l'ouverture de documents qui ne sont pas directement lis au Test Universe.
Pour de plus amples informations, reportez-vous au manuel Personnalisation
de l'cran de dmarrage (Ajout d'entres la section Utilisateur de l'cran
de dmarrage). Ce manuel a t install avec le logiciel Test Universe ( moins
que vous ayez dlibrment choisi de ne pas installer la documentation). Pour
savoir o trouver et consulter les manuels, La documentation
Test Universe page 10.
Pour les utilisateurs franais, ELISA et OTARIO sont prdfinis dans cette
section.

20

Configuration de lquipement tester

3 Configuration de lquipement
tester
Les modules Test Universe ont t conus pour le test des relais de protection,
des transducteurs et des compteurs d'nergie. Ces quipements sont des
quipements tester 1"physiques".
Chaque module de test rcupre les donnes spcifiques de l'quipement
tester physique qui proviennent d'un conteneur de donnes configurable
appelEquipement tester. Le conteneur de donnes Equipement tester
sert d'outil de gestion des paramtres de test pour un module de test particulier.
Dans le dialogue Equipement tester, vous pouvez accder aux paramtres
de l'quipement tester et les modifier.
Le sujet "Equipement tester" est trs proche du sujet "XRIO". Pour mieux
comprendre le dialogue Equipement tester - le premier dialogue qui s'ouvre
lorsque vous choisissez de configurer votre quipement tester physique - nous
vous conseillons de lire par la suite la rubrique 3.3 XRIO page 27, juste aprs
avoir lu les rubriques Equipement tester.
L'aide de Test Universe contient des informations supplmentaires sur
Equipement tester. Lancez l'aide et recherchez Equipement tester dans la
table des matires de n'importe quel module de test.

3.1 Equipement tester local d'un module de test


Un module de test qui fonctionne en mode autonome (autrement dit, qui est
lanc depuis l'cran de dmarrage de Test Universe et qui n'est pas intgr
un document Control Center), possde son propre conteneur de donnes
Equipement tester. Puisqu'un tel conteneur de donnes Equipement
tester s'applique uniquement un module de test particulier, il s'appelle un
Equipement tester local.
Pour lancer Equipement tester, cliquez sur Equipement tester dans
l'onglet Accueil.
Si un ou plusieurs modules de test sont intgrs dans un document OCC, et que
ce document ne possde pas son propre Equipement tester (plac avant les
modules de test intgrs), chaque module de test conserve son propre
conteneur Equipement tester local et le lance.

1. Le terme physique est destin attirer lattention sur le fait quil sagit dun quipement tester
rel et non de la fonction logicielle au nom correspondant Equipement tester.

21

OMICRON Test Universe

Figure 3-1:
Deux modules de test
intgrs dans un
document
Control Center

TestDocument.occ
Module de
test 1
Module de
test 2

Equipement tester local ; s'applique au module


de test 1 seulement.
Equipement tester local ; s'applique au module
de test 2 seulement.

3.2 Equipement tester global - Partage d'un


Equipement tester dans un document
Control Center
Contrairement un module de test dmarr en mode autonome partir de
l'cran de dmarrage de Test Universe, qui possde son conteneur de donnes
Equipement tester local, deux modules de test ou plus qui sont insrs dans
un document Control Center partagent un Equipement tester commun,
appel Equipement tester global.
Figure 3-2:
Document Control
Center avec un
Equipement tester
global pour deux
modules de test

TestDocument.occ
quipement
tester
Module de
test 1
Module de
test 2

Dans un document Control Center, un


Equipement tester sert de conteneur de
donnes global aux modules de test suivants (ici,
les modules de test intgrs 1 ou 2). Chaque
module de test intgr rcupre ses donnes
d'quipement tester partir de l'Equipement
tester qui est plac avant le module de test. Les
Equipements tester intgrs desservant
plusieurs modules de test s'appellent des
Equipements tester globaux.
Dans cet exemple, l'Equipement tester 1 est
l'Equipement tester global pour les modules de
test 1 et 2.

Si vous lancez Equipement tester partir du module de test intgr 1 ou 2,


vous obtiendrez toujours la vue de l'Equipement tester global.

22

Configuration de lquipement tester

3.2.1
Figure 3-3:
Structure d'un
document Control
Center comportant
plusieurs Equipements
tester

Plusieurs Equipements tester dans un document


Control Center
TestDocument.occ
Equipement
tester 1
Module de
test 1
Module de
test 2
Module de
test 3
Equipement
tester 2
Module de
test 4

Un document Control Center peut comporter


plusieurs Equipements tester. Dans cet
exemple, le premier Equipement tester intgr
(1) du document Control Center sert de conteneur
de donnes aux trois modules de test suivants
(1 3).
Le module de test 4 possde un Equipement
tester prcdent (2) dans la hirarchie si bien que
Equipement tester 2 sert de conteneur de
donnes global au module de test 4 (et aux autres
modules de test ventuellement intgrs
ultrieurement aprs ou avant le module de test 4).
Par contre, les modules de test 1, 2 et 3 ne sont pas
affects.
Si vous lancez quipement tester depuis un
module de test intgr, vous obtiendrez toujours la
vue de l'quipement tester global. Dans le cas
des modules de test 1, 2 ou 3, il s'agit de
l'Equipement tester 1. Dans le cas du module de
test 4, il s'agit de l'Equipement tester 2.

Pour ajouter un Equipement tester un document Control Center, cliquez sur


Equipement tester dans l'onglet Accueil.

23

OMICRON Test Universe

3.2.2

Equipements tester dans des groupes


Si le module de test fait partie d'un groupe de modules de test conscutifs, les
rgles nonces pour le document Control Center s'appliquent galement
l'intrieur du groupe. Si le groupe ne contient pas d'Equipement tester, les
modules de test obtiennent les donnes d'quipement tester de l'Equipement
tester le plus proche du groupe et situ avant lui sur le ou les niveaux
hirarchiques suivants plus levs.

Figure 3-4:
Structure d'un
document Control
Center dans un groupe

TestDocument.occ

L'Equipement tester 1 sert de


conteneur global de donnes aux
modules de test 1 et 2.

L'Equipement tester 1 sert


galement de conteneur global de
donnes au module de test 3 parce qu'il
n'existe pas d'Equipement tester
dans le Groupe 1 prcdent le module
de test 3. "L'ouverture" d'un groupe
n'interrompt pas la liaison
l'Equipement tester et la
Configuration du matriel prcdents.

L'Equipement tester 2 sert de


conteneur global de donnes au module
de test 4 parce que, dans le le Groupe 1,
l'Equipement tester 2 prcde le
module de test 4.

En outre, l'Equipement tester 1 sert


de conteneur global de donnes au
module de test 5 parce que
l'Equipement tester 1 prcde le
module de test 5 son propre niveau.
Puisque l'Equipement tester 2 se
trouve un niveau infrieur (dans le
Groupe 1), le module de test 5 ignore
l'Equipement tester 2.

L'Equipement tester 3 sert de


conteneur global de donnes au module
de test 6 suivant.

Equipement
tester 1
Configuration
matrielle
Module de
test 1
Module de
test 2
Groupe 1
Module de
test 3
Equipement
tester 2
Module de
test 4
Module de
test 5
Equipement
tester 3
Module de
test 6

Pour plus d'informations sur les groupes 5.1.2 Insertion d'un groupe dans
un document Control Center page 108.

24

Configuration de lquipement tester

3.2.3

Pourquoi les modules de test modifient-ils leur


rfrence un Equipement tester ?
Une rgle principale s'applique : Un module de test passant de "inactif" (= pas
de rsultats de test, pas de test en cours) "action" (= excution d'un test)
conserve sa rfrence aux donnes d'Equipement tester dans la condition
qu'il avait avant de quitter l'tat inactif. Ainsi, les donnes d'quipement tester
et les rsultats de test correspondent toujours exactement et ne peuvent pas
tre modifies indpendamment les unes des autres.
Nanmoins, dans des cas exceptionnels, les modules de test modifient leur
rfrence un Equipement tester. Cette opration seffectue lorsque
a) vous insrez ultrieurement un quipement tester dans un document
Control Center (cliquez sur Equipement tester dans l'onglet Accueil),
b) vous intgrez par la suite un module de test dans un document OCC avec
l'option " partir du fichier" (cliquez sur Module de test dans l'onglet Insrer,
et slectionnez Crer partir du fichier), et que ce fichier tait enregistr
au pralable dans un mode de fonctionnement autonome avec des rsultats
de test.

Cas a) :
tous les modules de test du document Control Center qui suivent ce nouvel
quipement tester insr se rfrent celui-ci. Cela s'applique galement
au(x) groupe(s) de modules de test.
Exception : les modules qui contiennent dj des rsultats de test provenant
d'un test prcdent.
Aprs avoir effac les rsultats du test (avec Test > Effacer), ces modules
modifient automatiquement leur rfrence pour passer celle de l'Equipement
tester positionn avant eux dans le document Control Center.

Cas b) :
puisque ce module de test (ou le fichier insr) contient des rsultats de test, il
conserve les donnes de l'Equipement tester local qui lui est propre. Aprs
avoir effac les rsultats du test (avec Test > Effacer), le module modifie
automatiquement sa rfrence pour passer celle de l'Equipement tester
positionn avant celui-ci dans le document Control Center.
C'est ce qui se passe galement si ce module tait enregistr au pralable dans
un mode de fonctionnement autonome, mais sans rsultats de test : il se rfre
alors automatiquement l'Equipement tester qui le prcde dans le
document Control Center, et remplace ses donnes d'quipement tester
d'origine par celle du conteneur de donnes Equipement tester du document
Control Center.

25

OMICRON Test Universe

3.2.4
Figure 3-5:
Exemple d'un document
Control Center avec
plusieurs quipements
tester

Exemple d'Equipements tester dans un document


de test Control Center
TestDocument.occ
Module de
test 1

Le module de test 1 conserve son propre


conteneur de donnes d'Equipement
tester local car il n'a pas d'Equipement
tester prcdent.

L'Equipement tester 1 sert de


conteneur global de donnes aux
modules de test 2 et 3.

L'Equipement tester 1 sert galement


de conteneur global de donnes au
module de test 4 parce qu'il n'existe pas
d'Equipement tester dans le Groupe 1
prcdent le module de test 4.

L'Equipement tester 2 sert de


conteneur global de donnes au module
de test 5 parce que, dans le le Groupe 1,
l'Equipement tester 2 prcde le
module de test 5.

En outre, l'Equipement tester 1 sert de


conteneur global de donnes au module
de test 6 parce que l'Equipement
tester 1 prcde le module de test 6
son propre niveau. Puisque
l'Equipement tester 2 se trouve un
niveau infrieur (dans le Groupe 1), le
module de test 6 ignore l'Equipement
tester 2.

L'Equipement tester 3 sert de


conteneur global de donnes au module
de test 7 suivant.

La Configuration du matriel sert de


conteneur de donnes global pour tous
les modules de test, sauf le module de
test 1 prcdent.

Equipement
tester 1
Configuration
matrielle
Module de
test 2
Module de
test 3
Groupe 1
Module de
test 4
Equipement
tester 2
Module de
test 5
Module de
test 6
Equipement
tester 3
Module de
test 7

26

Configuration de lquipement tester

3.3 XRIO
XRIO reprsente la deuxime gnration des fichiers RIO. RIO est une
abrviation de Relay Interface by OMICRON : cette technologie tait disponible
dans les versions prcdentes de Test Universe. Le X indique qu'il s'agit d'une
version "tendue".
Prdcesseur de XRIO, RIO a t dvelopp pour disposer dun format
uniforme pour le paramtrage des relais de protection de divers fabricants. Il
constitue une structure commune qui permet de tester des relais de
fonctionnalits similaires au moyen de procdures de test similaires. De plus, il
permet dimporter partir de diverses sources externes les caractristiques des
relais dans le logiciel Test Universe.
Les donnes XRIO sont organises selon une arborescence de blocs, sousblocs et paramtres : toutes leurs proprits et valeurs se dfinissent dans
l'Equipement tester ( 3.4 Paramtres de l'quipement tester).
La technologie XRIO prsente de nombreux avantages. Les principaux
avantages sont les suivants :
1. Facilit dutilisation
Dans un bloc personnalis particulier, le bloc Utilisateur, vous pouvez
dsormais saisir des noms, des units, des valeurs et des dfinitions des
paramtres de lquipement tester directement daprs les caractristiques
de votre relais de protection. Les noms personnaliss de ces paramtres
apparaissent tous les endroits concerns dans le logiciel Test Universe.
Les rapports de test affichent galement les paramtres tels que vous les
avez dfinis.
Un convertisseur XRIO est un fichier XRIO qui intgre, dans des formules et
des dpendances, la logique de conversion des paramtres de votre relais
en paramtres d'Equipement tester OMICRON ( 3.3.1 Convertisseur
XRIO page 28).
2. Meilleure automatisation
Les paramtres de l'quipement tester se dfinissent une seule fois un
emplacement central du logiciel Test Universe : Equipement tester. Ce
dialogue comporte toutes les fonctions qui permettent daccder aux
paramtres de lquipement tester et de les modifier. Il permet galement
de crer des variables personnalises. Celles-ci peuvent contenir des
valeurs, des formules, des dpendances ou une combinaison de ces
lments. Mme de simples fonctions logiques telles que des requtes
conditionnelles (si) sont possibles ( Equipement testerAide : dans la
table des matires d'un module de test, recherchez Equipement tester et
slectionnez Syntaxe des formules).

27

OMICRON Test Universe

3. Lier XRIO (LinkToXRIO)


Dans les modules de test, les champs de saisie, au lieu de contenir une
valeur fixe, peuvent tre maintenant lis l'une des variables dfinies dans
XRIO : cette fonction porte le nom de "LinkToXRIO. De plus, il est possible
dadapter lchelle de la valeur lie au moyen dun facteur constant, par
exemple champ Temps de dclenchement : 1.5 * ZT2 ; 1.5 est un
multiplicateur du paramtre li.
De plus, un dcalage peut tre dfini pour un tel lien. Pour certains cas de
test, il est prfrable de dfinir un dcalage (ou une combinaison facteur +
dcalage) plutt qu'un facteur fixe, par exemple lors d'un lien une phase
( 3.3.2 Lier XRIO (LinkToXRIO) page 29).
En cas de modification dun ou plusieurs paramtres dans XRIO, lensemble
du document de test, autrement dit tous les modules de test incorpors dans
le document de test Control Center li ce paramtre ou ces paramtres,
sadapte automatiquement cette modification.
Exemple : Dtermination du seuil "U>" au moyen du module de test
Ramping.

3.3.1

Dans l'Equipement tester, le paramtre "U>" tait dfini avec la valeur


100 V.

Dans le document de test Control Center, divers modules de test sont lis
ce paramtre "U>".

Dans Ramping, plutt que de saisir des tensions fixes dans les champs
de et , la rampe est spcifie avec de : 0.5 U>" et " : 1.5 U>".

Pendant lexcution, le test met une rampe de 50 V 150 V. Le relais se


dclenche pour "U" (= 100 V) ; le test est termin.

Si le paramtre "U>" est alors modifi et passe, par exemple, 80 V, tous


les modules de test lis "U>" adoptent automatiquement cette
modification. Ramping met alors une rampe comprise entre 40 et 120 V.

Convertisseur XRIO
Un convertisseur XRIO est un fichier XRIO qui intgre la logique de conversion
des paramtres de votre relais en paramtres dEquipement tester
OMICRON.
Les dpendances sont configures pour traduire les donnes de la section
"Utilisateur" de lEquipement tester (dans laquelle les donnes sont
structures pour correspondre la reprsentation du relais) en paramtres de
test dans la section "RIO", utiliss par les modules de test. Le convertisseur
XRIO simplifie notablement la configuration dun quipement tester.

28

Configuration de lquipement tester

OMICRON Test Universe distingue :

les modules de test ddis des fonctions de protection particulires et,

les modules de test gnraux pour une utilisation polyvalente.

Dans Test Universe 1.x, les modules de test gnraux utilisaient uniquement
certains paramtres de la page Paramtres quipement. Les modules de test
de certaines fonctions de protection possdaient des pages spcifiques. Cela se
refltait dans les fichiers RIO : les fichiers des modules de test de certaines
fonctions de protection contenaient des blocs fonctionnels particuliers
supplmentaires.
Dans Test Universe 2.0, XRIO a remplac RIO. Les pages propres certaines
fonctions de protection nont cependant pas chang. Les paramtres des relais
dans des modules de test ddis des fonctions de protection particulires, tels
que Overcurrent, Distance et Differential etc., doivent dsormais tre saisis
suivant la convention XRIO, traduite en RIO. Les convertisseurs XRIO sen
chargent.
Chaque Equipement tester dun relais particulier doit avoir son propre
convertisseur XRIO.

3.3.2

Lier XRIO (LinkToXRIO)


Au lieu de conserver des valeurs fixes, les modules de test peuvent tre
directement lis aux paramtres de lEquipement tester.
De plus, vous pouvez affecter des liens des paramtres boolens ("vrai"/
faux") : Cette procdure est utile si, par exemple, l'indicateur "activer module de
test" ou "activer groupe" est destin tre contrl par un lien LinkToXRIO
( 5.1.3 Lier XRIO (LinkToXRIO) pour l'indicateur "Activer").
Pour plus d'informations sur la fonction LinkTOXRIO, consultez l'aide de
Test Universe. Dans la table des matires dun module de test, recherchez
Equipement tester et slectionnez LinkToXRIO.
Pour de plus amples renseignements sur XRIO, consultez les manuels XRIO.
Ces manuels ont t installs avec le logiciel Test Universe ( moins que vous
ayez dlibrment choisi de ne pas installer la documentation). Pour savoir o
trouver et consulter les manuels, La documentation Test Universe
page 10.

29

OMICRON Test Universe

3.4 Paramtres de l'quipement tester


Equipement tester sert d'outil de gestion des paramtres du test. Dans le
dialogue Equipement tester, vous pouvez accder aux paramtres de
l'quipement tester et les modifier.
Figure 3-6:
Equipement tester
en mode Avanc

Le volet gauche 1 du dialogue affiche la structure arborescente des blocs


XRIO. Dans cette arborescence, vous ajoutez des fonctions de protection
particulires et parcourez les diffrentes pages des paramtres de
"l'Equipement" et des fonctions de protection particulires.
Le volet droit 2 (tableau des paramtres) affiche les paramtres de la section
slectionne. Les modules de test peuvent tre directement lis ces
paramtres. Le nombre de colonnes visibles dpend a) du mode d'utilisation
dfini ( 3.4.2 Modes d'utilisation - Fonctions disponibles page 31) et b) des
paramtres du menu contextuel.

3.4.1

Menus contextuels
Faites un clic droit sur un volet pour ouvrir le menu contextuel correspondant.
Faites un clic droit sur len-tte dune colonne du tableau des paramtres (par
exemple, "Nom", "ID", "Description", "Valeur") pour ouvrir un menu contextuel
qui rpertorie les colonnes disponibles. En slectionnant ou en dslectionnant
des colonnes, vous personnalisez laffichage du tableau des paramtres.

30

Configuration de lquipement tester

Si le modle XRIO de votre quipement tester comprend un convertisseur


XRIO, l'arborescence au-dessus du nud RIO reprsente le nud racine de la
reprsentation structure des blocs propres votre quipement. Saisissez les
paramtres du relais pour chaque bloc dans le tableau. Les paramtres sont
ensuite automatiquement convertis en paramtres RIO de lquipement et en
paramtres pour cette fonction de mesure ou de protection particulire.
dans ce cas, vous ne devez pas modifier les paramtres RIO. Utilisez linterface
antrieure de la fonction donne pour afficher les zones de distance de votre
relais dans un diagramme de zone.

3.4.2

Modes d'utilisation - Fonctions disponibles


Equipement tester distingue 2 modes dutilisation : Standard et Avanc.
Slectionnez l'option de menu contextuel Affichage > Avanc pour configurer
le mode voulu.
Mode standard
Mode de travail habituel pour les utilisateurs qui commencent excuter des
documents de test. Un testeur peut occasionnellement passer en mode
"Avanc" pour effectuer des adaptations mineures ou rechercher des
problmes. En mode standard, certains menus droulants sont masqus.
Mode avanc
Mode de travail pour les concepteurs de test qui crent des documents de test.
En mode Avanc, le concepteur du test modlise lquipement tester, dfinit,
ajoute ou supprime des blocs ou des paramtres, dfinit des proprits et des
formules et lance lOrganiseur.
Ce mode doit tre utilis uniquement par des personnes qui connaissent bien
le nouveau concept XRIO.

3.4.3

Le menu Fichier
Importer
Importe un fichier XRIO ou RIO. Limportation remplace la structure actuelle des
blocs et des sections.
Les dialogues d'importation et d'exportation (voir ci-dessous) contiennent, dans
leur partie infrieure, des dossiers de destination prdfinis propres Test
Universe, comme les dossiers "Equipements tester", "Equipements tester
dans bibliothque de test", "Modles utilisateur Test Wizard" ou "Dossier PTL"
(PTL = Protection Testing Library). Il s'agit de raccourcis qui permettent
d'accder rapidement certains dossiers de destination.

31

OMICRON Test Universe

En cliquant sur ces raccourcis, vous n'avez pas parcourir l'arborescence des
dossiers de votre ordinateur. Vous pouvez bien entendu utiliser n'importe quel
autre dossier de votre choix partir duquel importer un fichier XRIO ou vers
lequel exporter un tel fichier.
Exporter
Exporte un fichier XRIO ou RIO
Importer les paramtres du relais
Importe les paramtres dune source de donnes externe telle quun fichier XML
qui contient les paramtres du relais (fourni par exemple par le fabricant du
relais). Le filtre dimportation correspondant est automatiquement appel.
Limportation transfre automatiquement les paramtres dans le tableau des
paramtres. Cela vite lutilisateur de saisir manuellement toutes les donnes.
Remarque : Le filtre dimportation exige la dfinition dune structure des
paramtres du relais dans la section Utilisateur de XRIO. Une telle structure est
gnre, par exemple, en important un convertisseur XRIO avant limportation
des paramtres du relais, ceci laide de loption Fichier > Importer. De plus,
le logiciel suppose que les donnes importes sont correctes. Les donnes qui
pourraient tre accidentellement configures incorrectement dans le relais
peuvent fausser les rsultats des tests.
Organiser (mode "Avanc" uniquement)
Ouvre le dialogueOrganiseur pour organiser le contenu de l'Equipement
tester et des fichiers XRIO, autrement dit pour copier les blocs et les sections
de l'quipement tester actuel dans un fichier XRIO externe, ou inversement,
ou pour les supprimer.

32

Configuration de lquipement tester

Figure 3-7:
L'Organiseur

Le volet gauche de l'Organiseur 1 affiche l'quipement tester en cours,


autrement dit le fichier XRIO charg et actif.
Le volet droit 2 affiche un fichier RIO ou XRIO de votre choix. Pour charger le
fichier, cliquez sur le bouton Importer....
Lorsque les deux volets contiennent une structure XRIO, vous pouvez
commencer organiser les entres.
Dupliquer le bloc ou Supprimer le bloc
Duplique ou supprime la section ou le bloc slectionn avec toutes les soussections. Agit uniquement sur le volet gauche.
>> ou <<
Copie la section ou le bloc slectionn avec toutes les sous-sections de la
slection en cours vers lautre ct.
Ces boutons sont dsactivs si le niveau hirarchique ou la source et la
destination ne correspondent pas, ou si la copie que vous voulez effectuer na
pas de sens (par exemple, tentative de copie dune section Distance vers le bloc
Equipement).

33

OMICRON Test Universe

Importer... ou Exporter sous...


Importer... importe un fichier XRIO ou RIO. Limportation remplace la structure
actuelle des blocs et des sections.
Exporter sous... exporte la structure du volet droit dans un fichier XRIO qui
portera le nom de votre choix. Cest la seule faon de sauvegarder les
modifications effectues dans ce fichier.
Les dialogues d'importation et d'exportation contiennent, dans leur partie
infrieure, des dossiers de destination prdfinis propres Test Universe,
comme les dossiers "Equipements tester", "Equipements tester dans
bibliothque de test", "Modles utilisateur Test Wizard" ou "Dossier PTL" (PTL
= Protection Testing Library). Il s'agit de raccourcis qui permettent d'accder
rapidement certains dossiers de destination. En cliquant sur ces raccourcis,
vous n'avez pas parcourir l'arborescence des dossiers de votre ordinateur.
Vous pouvez bien entendu utiliser n'importe quel autre dossier de votre choix
partir duquel importer un fichier XRIO ou vers lequel exporter un tel fichier.
OK
Enregistre toutes les modifications apportes l'Equipement tester dans le
volet gauche, et ferme l'Organiseur.
Dans ce cas, les modifications effectues dans le fichier du volet droit sont
ignores ( Exporter sous...).
Annuler
Ferme l'Organiseur et ignore toutes les modifications non enregistres.
Rvision (mode "Avanc" uniquement)
Ouvre le dialogue Rvision du convertisseur XRIO qui permet de grer les
versions des convertisseurs XRIO. Chaque fois que vous augmentez
manuellement le numro de rvision dun fichier convertisseur XRIO, sa date est
automatiquement mise jour avec la date du systme et enregistre. Le nom
de lauteur est galement enregistr avec chaque rvision.
Ce nom provient de la Configuration du systme (onglet Informations
utilisateur) sur l'cran de dmarrage de Test Universe.
Enregistrer et quitter
Enregistre toutes les modifications et quitte l'Equipement tester.
Quitter sans sauvegarder
Ignore toutes les modifications non enregistres et quitte l'Equipement
tester.

34

Configuration de lquipement tester

3.4.4

Le menu Vue
Avanc
Bascule entre les deux modes dutilisation "Standard" et "Avanc".
RIO
Affiche/masque l'arborescence RIO
Erreurs
Toutes les erreurs concernant l'Equipement tester sont enregistres sous
forme de liste. Ce menu affiche cette liste.
Les erreurs qui se produisent pendant limportation dun fichier XRIO avec le
menu Fichier > Importer restent dans la liste jusqu' ce que vous les effaciez
avec l'option Effacer.
Les erreurs qui se produisent pendant la modification dune formule sont
automatiquement effaces lorsque la formule est corrige.
La ligne dtat du bas de lEquipement tester indique le nombre de messages
dinformation, davertissements et derreurs (I:1 W:0 E:0) et un symbole
correspondant : une marque verte pour OK, un point dexclamation jaune pour
un avertissement et un point dexclamation rouge pour une erreur.
Pour une description dtaille des erreurs, consultez l'aide. Dans la table des
matires dun module de test, recherchez Equipement tester et slectionnez
XRIO. Cette rubrique daide contient un lien direct vers la description de lerreur.
Sinon, recherchez dans lindex le mot-cl liste des erreurs de lquipement
tester.

3.4.5

Le menu Fonction (mode "Avanc" uniquement)


Ajouter...
Ajoute une nouvelle fonction RIO indpendante du bloc slectionn.
Supprimer
Supprime la fonction slectionne.

35

OMICRON Test Universe

Dialogue Ouvrir DEVICE


Ouvre le dialogue de Equipement tester propre au bloc.
L'expression "propre au bloc" signifie que le menu s'adapte au bloc slectionn,
autrement dit un bloc "Equipement" ouvre le dialogue Ouvrir Device, un bloc
"Distance" le dialogue Ouvrir Distance.
Le dialogue Ouvrir OT est galement disponible dans le menu contextuel en
cliquant le bouton droit de la souris sur un bloc.

3.4.6

Le menu Bloc (mode "Avanc" uniquement)


Ajouter...
Ajoute un nouveau bloc dans le fichier XRIO. Ce bouton est dsactiv si
llment slectionn dans le volet gauche ne permet pas dajouter un bloc.
Supprimer
Supprime un bloc complet avec toutes ses sous-sections. Ce bouton est
dsactiv si llment slectionn dans le volet gauche ne permet pas de
supprimer un bloc.
Couper/Copier/Coller
Fonction couper / copier / coller de lExplorateur Windows, par exemple.
Egalement disponible dans le menu contextuel (clic droit sur le nom dun bloc
dans larborescence). Coupe ou copie un bloc complet avec toutes ses
informations (y compris les formules) et le colle lemplacement de votre choix.
Cette opration est dsactive lorsquelle na aucun sens.
cette fonction est disponible uniquement dans une instance de programme et
non pour plusieurs instances.
Dtails
Ouvre le dialogue Dtails du bloc qui prcise les proprits du bloc.
Mvt haut
Dplace le bloc slectionn dune position vers le haut dans larborescence.
Mvt bas
Dplace le bloc slectionn dune position vers le bas dans larborescence.

36

Configuration de lquipement tester

Configurer comme fonction active


Exemple : deux blocs Distance dans un fichier XRIO.
Si plusieurs blocs de fonctions du mme type sont prsents dans un quipement
tester (ex. 2 blocs Distance), les modules de test correspondants doivent
savoir lequel utiliser. Vous dterminez cela en dfinissant la fonction active.
Le bloc qui, s'il est slectionn, se transforme en symbole
rouge et bleu est le bloc actif des deux blocs "Distance".
Lautre peut tre un bloc Distance totalement paramtr, mais
il nest pas actif. Le symbole est alors color en vert. Pour le
rendre actif, slectionnez Bloc > Configurer comme
fonction active.
Signification de lexpression fonction active.
Si vous ouvrez le dialogue Equipement tester partir d'un module de test
autonome, le bloc actif est celui auquel le module accde. Le bloc inactif est
ignor.
Si le dialogue Equipement tester a t ouvert partir d'un document Control
Center, le bloc actif est celui qui est indiqu. Le deuxime bloc Distance nest
pas affich dans le rapport de test.
Copier valeur de rfrence dans valeur et Copier valeur dans valeur de
rfrence
Ces options sont propres TestBase. Pour de plus amples dtails, consultez
la documentation TestBase. Mme s'ils ont trs peu d'utilit pour Test
Universe, ils peuvent s'employer dans Test Universe.
Les deux options fonctionnent uniquement avec le bloc Utilisateur et copient la
valeur de rfrence importe par TestBase vers la valeur normale et viceversa. Les deux options s'appliquent au bloc slectionn ainsi qu' tous les
sous-blocs ; autrement dit, pour tout copier en une seule opration, slectionnez
le bloc "Utilisateur" de plus haut niveau avant d'utiliser l'option.
Les options de menu ont une fonction identique celle des deux icnes du
mme nom l'extrme droite de la barre d'outils.

37

OMICRON Test Universe

3.4.7

Le menu Paramtre (mode "Avanc" uniquement)


Ajouter
Ajoute un nouveau paramtre la sous-section slectionne. Ce bouton est
dsactiv si llment slectionn dans le volet gauche ne permet pas d'ajouter
un paramtre.
Supprimer
Supprime le paramtre slectionn dans le tableau de paramtres de droite. Ce
bouton est dsactiv si llment slectionn nautorise pas la suppression.
Couper/Copier/Coller
Fonction couper / copier / coller de lExplorateur Windows, par exemple.
Egalement disponible dans le menu contextuel (clic droit sur une ligne de
paramtre dans larborescence). Coupe ou copie un paramtre avec toutes ses
informations (y compris les formules) et le colle lemplacement de votre choix.
cette fonction est disponible uniquement dans une instance de programme et
non pour plusieurs instances.
Dtails
Ouvre le dialogue Dtails des paramtres qui permet de prciser d'autres
proprits des paramtres.
Mvt haut
Dplace le paramtre slectionn dune position vers le haut dans la liste.
Mvt bas
Dplace le paramtre slectionn dune position vers le bas dans la liste.

38

Configuration de lquipement tester

3.4.8

Cration dentres dans le bloc Utilisateur (mode


"Avanc" uniquement)
Le bloc "Utilisateur" sert aux paramtres de relais personnaliss. Dans le bloc
Utilisateur, vous pouvez crer sans restriction vos propres sous-blocs et
paramtres.

Cliquez sur "Utilisateur" et crez d'abord un sous-bloc en slectionnant Bloc


> Ajouter... ou en cliquant le bouton droit pour ouvrir le menu contextuel.

Cliquez sur le nouveau sous-bloc et crez un paramtre en slectionnant


Paramtre > Ajouter... ou en cliquant le bouton droit pour ouvrir le menu
contextuel.

Vous pouvez rpter cette procdure autant de fois que vous le voulez et
effectuer des modifications avec les menus Bloc et Paramtre.

39

OMICRON Test Universe

3.5 Paramtres quipement


Le bloc Equipement contient des informations gnrales et des informations
comme le nom du relais ou la description de son fabricant, son type, son
adresse, son numro de srie ou de modle et toute autre information utile pour
lidentifier. De plus, il fournit divers paramtres gnraux prdfinis, tels que les
valeurs nominales, les facteurs et les limites rsiduels.
En cliquant deux fois sur le bloc "Equipement" dans l'arborescence du volet
gauche du dialogue Equipement tester, vous ouvrez la page Paramtres
quipement. Cette page provient des versions Test Universe prcdentes : elle
permet de modifier les paramtres de lquipement comme auparavant,
autrement dit vous pouvez saisir des paramtres de lquipement tester de
deux manires :

dans les champs des paramtres du volet droit de l'Equipement tester ou

dans la page Paramtres quipement.

Les modules de test ddis des fonctions de protection particulires, par


exemple (Adv.) Differential, (Adv.) Distance ou Autoreclosure fournissent de
plus des pages spcifiques. Lancez ces pages dans l'arborescence de
l'Equipement tester en double-cliquant sur le bloc correspondant (par
exemple, "Equipement", "Distance", etc.), ou partir d'un menu contextuel que
vous ouvrez en cliquant le bouton droit sur une section.
quipement
Informations sur le relais tester (facultatif).
Saisissez le nom du relais ou la description de son fabricant, son type, son
adresse, son numro de srie ou de modle et toute autre information utile pour
lidentifier. Ces informations apparaissent dans tous les rapports de test ; il est
possible de les importer / exporter vers un fichier XRIO.
Poste
Saisissez le nom et ladresse du poste o se trouve lquipement tester
(relais). Informations (facultatif).
Tranche
Saisissez le nom et ladresse du dpart o se trouve lquipement tester
(relais). Informations (facultatif).
Valeurs nominales
Saisissez ici le nombre de phases et les valeurs nominales de lquipement
tester. Les modules de test utilisent ces valeurs pour les calculs.

40

Configuration de lquipement tester

Facteurs tension/courant rsiduel


Ces paramtres sont pertinents uniquement si votre relais comporte des entres
de courant/tension spares pour la tension ou le courant rsiduel.
Le rapport de courant rsiduel du TT et du TC peut tre diffrent de celui de la
tension/courant de phase. Dans Equipement tester, dfinissez le rapport
rsiduel TT ou TC en fonction du rapport TT/TC monophas.
Tension rsiduelle VN = +3 x (1 / Facteur rsiduel V) x V0 1)
Courant de dfaut la terre IN = -3 x Facteur rsiduel I x I0 2)
Facteur rsiduel V = VLN / VN
Facteur rsiduel I = IN / Inom
1)

2)

V0 = tension homopolaire

I0 = courant homopolaire

Paramtres par dfaut :


VLN / VN = 1,7321 (3), car les tensions des phases forment la tension
rsiduelle dans le branchement en triangle ouvert, et
IN / Inom

= 1

Les modules Distance, Advanced Distance, QuickCMC, Autoreclosure, State


Sequencer et Annunciation Checker peuvent injecter VN et IN. Pour cela,
dfinissez l'acheminement VN et IN dans la Configuration du matriel.
Limites
Saisissez les valeurs maximales des tensions et courants de lquipement
tester. Ces valeurs sont utilises par tous les modules de test.
Filtres anti-rebond et antiparasite
Antiparasitage des signaux dentre :
1
2
tantiparasitage

tantiparasitage

Pour supprimer les brves impulsions


parasites, vous pouvez configurer un algorithme d'antiparasitage. L'antiparasitage produit un temps mort
supplmentaire et introduit un retard du
signal. Pour quil soit dtect comme un
niveau valide, le niveau dun signal dentre doit avoir une valeur constante pendant le temps dantiparasitage au moins.

Lgende :
1. Signal avant le filtre

2. Signal aprs le filtre

41

OMICRON Test Universe

Anti-rebond des signaux d'entre :


Pour les signaux dentre avec une
caractristique rebondissante, vous pouvez
configurer une fonction danti-rebond. Cela
signifie que le premier changement du signal
dentre entrane la modification du signal
dentre sans rebond. Cette valeur est
conserve pendant la dure anti-rebond.

1
2
tanti-rebond

La fonction d'anti-rebond est place en aval de


la fonction dantiparasitage dcrite ci-dessus ;
les deux fonctions sont ralises par le firmware
des ensembles de test CMC et calcules en temps rel.

Lgende :
1. Signal avant le filtre

2. Signal aprs le filtre

L'anti-rebond et l'antiparasitage sont possibles avec les ensembles de test


CMC 356, CMC 353, CMC 256plus, CMC 256, et avec le CMB IO-7.
Tous les modules de test l'exception de Transducer et de EnerLyzer prennent
en charge l'anti-rebond/l'antiparasitage. Puisqu'ils n'utilisent pas Equipement
tester , certains outils ne supportent pas non plus l'anti-rebond/l'antiparasitage.
Sensibilit de la dtection de surcharge
La possibilit d'ajuster la sensibilit de la dtection des surcharges des
ensembles de test CMC et des amplificateurs OMICRON vous permet de
supprimer les messages de surcharge dans les rapports de test dans les cas o
ces messages ne sont pas utiles pour le test. Dans le prsent contexte, le terme
"sensibilit" a la signification suivante : aprs une modification des signaux de
sortie analogique, la surcharge doit tre prsente pendant un certain intervalle
de temps pour tre dtecte en tant que telle.
Remarque : ce paramtre n'influence pas et ne retarde pas le "Trigger sur
surcharge" dans QuickCMC (dcrit dans la rubrique d'aide "Conditions trigger"
de l'aide de QuickCMC).
Les exceptions sont les ensembles de test CMC 356 et CMC 353. Consultez
l'aide de Test Universe propos de la sensibilit de la dtection de surcharge
des ensembles de test OMICRON CMC 356 ou CMC 353. Lancez l'aide et
recherchez Equipement tester, sous-rubrique Paramtres quipement, dans
la table des matires de n'importe quel module de test.

42

Configuration de lquipement tester

Pourquoi rgler la sensibilit aux surcharges ?


Exemple : Pour tester des relais lectromcaniques. Les rsultats de ce test
montrent quune surcharge sest produite pendant le test. Lanalyse des signaux
avec EnerLyzer rvle que la surcharge sest produite pendant le pr-dfaut :
elle na donc pas dincidence cruciale sur le rsultat. La possibilit d'empcher
lindication de surcharge pour ce test produit un rapport sans message de
surcharge.
Options de sensibilit de la dtection de surcharge :

"Eleve" = 50 ms.

"Modre" = 200 ms.

"Utilisateur" : Saisissez la dure de sensibilit aux surcharges de votre choix


dans le champ Utilisateur (10 ms 800 s).

"Off" dsactive la sensibilit rglable de dtection de surcharge, autrement


dit aucune surcharge n'est dtecte.

Les ensembles de test et les amplificateurs suivants prennent en charge la


dtection des surcharges :

CMC 356

CMC 353

CMC 256plus

CMC 256

CMC 156

CMA 56 (Ifxxxx)

CMA 156 (HDxxxx)

CMS 156 (HDxxxx)

CMS 25x

Limitation : Les amplificateurs ncessitent une version particulire du matriel


et du firmware. La possibilit de rglage de la sensibilit de dtection des
surcharges est disponible pour les quipements dont les numros de srie sont
suprieurs ou gaux ceux indiqus entre parenthses dans la liste ci-dessus,
ainsi que pour tous les quipements qui ont t modifis pour prendre en charge
le nouvel algorithme de surcharge. Pour ces derniers, la version du firmware est
1.03 et un indicateur spcial est inscrit en mmoire flash.

43

OMICRON Test Universe

44

Configuration du matriel de test

4 Configuration du matriel de test


Un module de configuration du matriel appel Configuration du matriel sert
dfinir les paramtres matriels propres au test effectuer. Dans la
Configuration du matriel, vous dfinissez la combinaison de sorties et/ou
dentres que vous souhaitez utiliser pour un test donn. De plus, la
Configuration du matriel documente automatiquement les informations de
cblage pour le test. Ainsi, un fichier de test peut aussi contenir les instructions
se rapportant ce test particulier.
La Configuration du matriel permet lutilisateur de slectionner le matriel
de test quil veut utiliser pour le test, sans avoir raccorder physiquement un
matriel de test au PC. Lutilisateur peut ainsi prparer l'ensemble d'un test
son bureau. Qui plus est, les documents de test deviennent indpendants du
matriel effectivement utilis pour le test. Par exemple, un modle de test
destin tester des relais diffrentiels l'aide de six courants de sortie n'est plus
tributaire du matriel utilis, qu'il s'agisse d'un CMC 356, d'un CMC 256plus,
d'un CMC 256, d'un CMC 353 ou d'un CMC 156 avec un amplificateur externe.
Dans OMICRON Test Universe, la Configuration du matriel est un
composant commun qui est lanc partir d'OMICRON Control Center, partir
de n'importe quel module de test, ou partir d'un document de test (si une
Configuration du matriel est intgre).
Le prsent chapitre fournit des informations gnrales relatives la
Configuration du matriel. Pour savoir comment configurer une fonction
particulire du matriel de test, par exemple un ensemble de test CMC, veuillez
consulter l'aide de Test Universe . Lancez l'aide, cliquez sur l'entre
--- Configuration du matriel --- dans la table des matires et naviguez jusqu'
la rubrique de votre choix.
Pour de plus amples renseignements concernant le matriel de test proprement
dit, consultez le manuel d'utilisation concern. Ce manuel a t install avec le
logiciel Test Universe ( moins que vous ayez dlibrment choisi de ne pas
installer la documentation). Pour savoir o trouver et consulter les manuels,
La documentation Test Universe page 10.

45

OMICRON Test Universe

4.1 propos de la configuration du matriel


4.1.1

Quest-ce que la Configuration du matriel ?


OMICRON Test Universe se compose de plusieurs modules matriels et
logiciels. En fonction du matriel de test utilis, le logiciel permet d'effectuer
diffrents types de tests. Par exemple, le test triphas d'un transformateur
diffrentiel trois enroulements n'est possible qu'avec une Configuration du
matriel de test comportant 9 phases de courant, par exemple un CMC 156
combin un amplificateur de courant CMA 156.
Le matriel de test peut tre considr comme une adaptation , dans le sens
le plus large du terme, entre le logiciel de test et lquipement tester (relais,
compteur, convertisseur, etc.). Par exemple, un signal de sortie du logiciel de
test est converti en sortie physique de lensemble de test puis appliqu par
lintermdiaire du cblage aux bornes de lquipement tester correspondant
( figure 4-1).
Module
de test
VL1
UL2
UL3

Ensemble de test,
par exemple
CMC 356 U1
U2
U3

Interface hte

Figure 4-1:
Configuration du
matriel, cheminement
du signal entre le
logiciel et l'quipement
tester

Rglette de
connexions, p. e. X1

UL1
UL2
UL3
N

IA1
IA2
IA3

Equipement
tester

Pour configurer le logiciel avec votre matriel, il existe un composant logiciel


spar appel Configuration du matriel. La Configuration du matriel
donne une reprsentation du cheminement du signal entre le logiciel et
lquipement tester. Elle contient toutes les informations concernant :

les affectations des entres et des sorties du logiciel de test et les bornes de
lquipement tester

le matriel de test utilis et sa configuration

le cblage entre le matriel de test et les bornes de lquipement tester.

Vous dfinissez ces informations dans le dialogue Configuration du matriel ;


celui-ci comporte plusieurs onglets pour dfinir le matriel et la correspondance
entre les signaux et les bornes de lquipement tester.

46

Configuration du matriel de test

Les modules de test peuvent s'utiliser de faon autonome ; ils peuvent


galement s'incorporer dans un document de test OMICRON Control Center .
La porte fonctionnelle de la Configuration du matriel varie selon le mode de
fonctionnement du module de test, comme le montre la figure 4-2.

Si un module de test est utilis en mode autonome, les fonctionnalits de


Configuration du matriel globale et locale sont regroupes et considres
comme constituant la Configuration du matriel pour ce module de test
( chapitre 4.1.4).

Si un module de test est intgr dans un document de test OMICRON


Control Center, la Configuration du matriel est divise en Configuration
du matriel globale et locale ( chapitres 4.1.2 et 4.1.3).

Figure 4-2:
Objet de la
Configuration du
matriel

Module de test en mode autonome

Equipement tester intgr dans un document de test OCC


Configuration du matriel
locale

UL1
UL2
UL3

4.1.2

Ensemble de test,
par exemple
CMC 356 U1
U2
U3

Interface hte

Module
de test

Configuration du matriel
globale

N
IA1
IA2
IA3

Rglette de
connexions, p.e. X1
V(1)-1
U(1)-2
U(1)-3
N

UL1
UL2
UL3
N

Equipem
ent
tester

Configuration du matriel globale si le module de


test est incorpor dans un document Control Center
Si le module de test est incorpor dans un document de test Control Center, une
Configuration du matriel globale peut tre insre dans le document de test
Control Center utiliser par les modules de test suivants. Si aucune
Configuration du matriel globale nest insre dans le document de test
Control Center, les modules de test se comportent comme sils fonctionnaient
en mode autonome ( chapitre 4.1.4).

47

OMICRON Test Universe

La Configuration du matriel globale vous permet de dfinir le matriel en un


seul endroit dans un document Control Center, mme pour les tests complexes
pouvant requrir plusieurs modules de test. De ce fait, il est inutile de configurer
individuellement chaque module de test.
Si une Configuration du matriel globale est insre dans un document de
test Control Center, les informations qui y sont spcifies sont valables pour
tous les modules de test suivants du document Control Center ou jusqu' ce
qu'une autre Configuration du matriel globale soit insre, laquelle sera
son tour valable pour tous les modules de test qui suivront. Vous ne pouvez pas
modifier les informations d'une Configuration du matriel globale partir d'une
Configuration du matriel locale d'un module de test.
Les informations ci-dessous sont spcifies dans la Configuration du matriel
globale (comme le montre la figure 4-3) :

Matriel de test utilis.

Utilisation des entres et sorties du matriel de test (configuration).

Cblage physique entre le matriel de test et les bornes de lquipement


tester.

Figure 4-3:
Informations spcifies
dans la Configuration
du matriel globale

Configuration du matriel globale


Bornier de
connexion

Interface hte

Ensemble de test,
par exemple
CMC 356 U1
U2
U3
N
IA1
IA2
IA3
N
IB1
IB2
IB3
N

48

U(1)U(1)U(1)I(1)-1
I(1)-2
I(1)-3
I(2)-1
I(2)-2
I(2)-3

Rglette de
connexions, p.e. X1
UL1
UL2
UL3
N
I1S
I2S
I3S
N
I1P
I2P
I3P
N

quipement tester

Nom de
l'affichage

Configuration du matriel de test

Configuration automatique des noms daffichage et de la


matrice de cblage avec les paramtres par dfaut
En fonction du matriel de test, la matrice de cblage et les noms daffichage se
configurent automatiquement avec les paramtres par dfaut. Pour cela, les
noms sont crs en numrant par exemple les triplets de tension et de courant.
Les noms crs sont du type V(1)-1, V(1)-2, etc. Pour les entres binaires/
analogiques, les sorties binaires et les entres analogiques CC, les noms
gnrs reprsentent une numration de l'entre/sortie. Pour les entres/
sorties de CMB, le numro est prcd du numro de l'emplacement.
Les paramtres par dfaut devraient convenir la plupart des applications.
Cependant, vous pouvez galement modifier manuellement ces paramtres, si
ncessaire.
Les rglages effectus manuellement et ceux mmoriss dans le document de
test sont conservs et ne sont pas crass par les configurations automatiques
effectues par la suite.
Le logiciel effectue la configuration automatique

en mode hors ligne (lorsquaucun matriel de test nest connect), aprs


louverture de la Configuration du matriel globale et la slection du
matriel de test.

en mode en ligne (lorsque le matriel de test est connect et sous tension),


chaque mise jour des informations sur le matriel de test.

Utilisation de la Configuration globale du matriel par


plusieurs modules de test
Du fait que la Configuration du matriel globale reste souvent identique,
plusieurs modules de test intgrs peuvent l'utiliser. La figure ci-dessous illustre
comment plusieurs modules de test peuvent accder une Configuration du
matriel globale (contenant les informations sur le matriel physique et le
cblage) tout en pouvant tablir diffrentes affectations des signaux du module
de test dans des Configurations du matriel locales.

49

OMICRON Test Universe

Figure 4-4:
Configuration du
matriel globale et
locale dans un
document de test 2

50

Document de test Control Center


Configuration du matriel globale

Module de test 1

Configuration locale du matriel

Module de test 2

Configuration locale du matriel

Configuration du matriel de test

4.1.3

Configuration du matriel locale si le module de test


est incorpor dans un document Control Center
Si le module de test est incorpor dans un document de test Control Center
contenant une Configuration du matriel globale, les affectations des signaux
entre le module de test et les bornes de l'quipement tester (reprsentes par
les noms de la colonne "Nom de l'affichage") sont dtermines dans la
Configuration du matriel locale du module de test. Dans cette configuration,
il est possible daffecter chaque signal du module de test un cheminement du
signal dfini dans la Configuration du matriel globale.
La figure 4-5 en reprsente un exemple.
Configuration locale du matriel
Signal de
Nom de
sortie du
l'affichage
module de test

Module de
test

Bornier de
connexion

Hors ligne

Ensemble de test,
p.e. CMC 356

Hors ligne

Rglette de
connexions, p.e. X1

quipement tester

Figure 4-5:
Informations spcifies
dans la Configuration
du matriel locale

51

OMICRON Test Universe

Affectation automatique des signaux base sur les noms


daffichage
Dans la Configuration du matriel locale, les signaux d'entre et/ou de sortie
du module de test sont automatiquement affects aux noms d'affichage. Pour
cela, un algorithme du logiciel essaie de trouver le nom daffichage qui
correspond le mieux au signal dentre ou de sortie du module de test.
Si lalgorithme ne trouve pas de correspondance, le signal du module de test est
affect au premier nom daffichage disponible. Dans ce cas, il peut tre
ncessaire daffecter manuellement le signal.
Le logiciel effectue l'affectation automatique

lorsqu'un module de test est insr pour la premire fois dans un document
de test,

lorsque les bornes de l'quipement tester (noms d'affichage) dfinies dans


la Configuration du matriel globale sont modifies,

lorsqu'une nouvelle Configuration du matriel globale est importe en


cliquant sur Importer dans l'onglet Gnral ou,

en cas de mise jour des informations sur le matriel de test.

Les affectations de signaux que vous modifiez ou effectuez manuellement et qui


sont mmorises dans le document de test sont conserves et ne sont pas
crases par les affectations automatiques de signaux effectues par la suite.

Correspondance des signaux des modules de test avec les


noms daffichage (bornes de lquipement tester)
Lorsque les signaux du module de test sont affects (automatiquement ou
manuellement) dans la Configuration du matriel locale, ils sont mis en
correspondance avec les noms d'affichage (qui reprsentent les bornes de
l'quipement tester). Cela signifie que si lutilisateur modifie le lien entre un
nom daffichage et un connecteur de lquipement tester dans la
Configuration du matriel globale en dplaant la croix dans la grille, le signal
du module de test reste en correspondance avec le nom daffichage.
Cela permet deffectuer des modifications dans la Configuration du matriel
globale sans avoir ajuster les affectations des signaux dans la Configuration
du matriel locale.

52

Configuration du matriel de test

4.1.4

Configuration du matriel si le module de test


fonctionne en mode autonome
Si des modules de test sont utiliss en mode autonome, il est indispensable de
dfinir les informations de Configuration du matriel pour chaque module de
test. Si aucune Configuration du matriel globale nest insre dans le
document Control Center, les modules de test incorpors se comportent comme
en mode autonome.
Si un module de test est utilis en mode autonome, les fonctionnalits de
Configuration du matriel globale et locale sont regroupes et considres
comme constituant la Configuration du matriel pour ce module de test. Dans
ce cas, toutes les informations ncessaires sont contenues dans la
Configuration du matriel ( figure 4-6 ci-dessous) :

Matriel de test utilis.

Utilisation des entres et sorties du matriel de test (configuration).

Cblage physique entre le matriel de test et les bornes de lquipement


tester.

Affectations de signaux entre le module de test et le cblage physique.

53

OMICRON Test Universe

Figure 4-6:
Configuration du
matriel si un module
de test fonctionne en
mode autonome

Configuration matrielle
Signal de sortie
du module
de test

Bornier de
connexion

Ensemble de test,
p.e. CMC 356

Rglette de
connexions, p.e. X1

quipement tester

Module de
test

Nom de
l'affichage

Configuration automatique des noms daffichage et de la


matrice de cblage avec les paramtres par dfaut
En fonction du matriel de test, la matrice de cblage et les noms daffichage se
configurent automatiquement avec les paramtres par dfaut. Pour cela, les
noms sont crs en numrant par exemple les triplets de tension et de courant.
Les noms crs sont du type V(1)-1, V(1)-2, etc. Pour les entres binaires/
analogiques, les sorties binaires et les entres analogiques CC, les noms
gnrs reprsentent une numration de l'entre/sortie. Pour les entres/
sorties de CMB, le numro est prcd du numro de l'emplacement.
Les paramtres par dfaut devraient convenir la plupart des applications.
Cependant, vous pouvez galement modifier manuellement ces paramtres, si
ncessaire.

54

Configuration du matriel de test

Les rglages effectus manuellement et ceux mmoriss dans le test sont


conservs et ne sont pas crass par les configurations automatiques
effectues par la suite.
Le logiciel effectue cette configuration automatique

en mode hors ligne (lorsqu'aucun matriel de test n'est connect) aprs


l'ouverture de la Configuration du matriel d'un module de test et la
slection du matriel de test.

en mode en ligne (lorsque le matriel de test est connect et sous tension),


chaque mise jour des informations sur le matriel de test.

Affectation automatique des signaux base sur les noms


daffichage
De la mme manire, les signaux dentre et/ou de sortie du module de test sont
galement automatiquement affects aux noms daffichage. Pour cela, un
algorithme du logiciel essaie de trouver le nom daffichage qui correspond le
mieux au signal dentre ou de sortie du module de test.
Si lalgorithme ne trouve pas de correspondance, le signal du module de test est
affect au premier nom daffichage disponible. Dans ce cas, il peut tre
ncessaire daffecter manuellement le signal.
Le logiciel effectue une affectation automatique de signal louverture dun
module de test ou lors de la cration dun test.

55

OMICRON Test Universe

4.2 Exemple de Configurations du matriel locale


et globale (module de test incorpor dans
Control Center)
Supposons qu'il faille tester dans un mme document de test un quipement
overcurrent (surintensit) et un quipement differential (diffrentiel).
Le premier lment illustr sur la figure 4-7 est la Configuration du matriel
globale, qui est utilise par les deux modules de test.
Figure 4-7:
Vue liste du document
Control Center

Un exemple d'une Configuration du matriel globale est illustr la figure 48. Dans ce cas, le matriel de test est constitu d'un ensemble de test CMC 356
et d'un amplificateur de courant CMA 156. Les noms de la colonne Nom de
l'affichage reprsentent les bornes de lquipement tester. Les noms
daffichage et la matrice de cblage se configurent automatiquement par dfaut.
Vous devez saisir manuellement les dsignations des bornes de la colonne
Bornier de connexion ; vous pouvez galement les laisser vides.
Figure 4-8:
Configuration du
matriel globale

56

Configuration du matriel de test

Dans la Configuration du matriel locale du module de test Overcurrent


( figure 4-9), les signaux du module de test sont automatiquement affects
aux noms de la colonne "Nom de l'affichage", qui reprsentent les bornes de
l'quipement tester. Lorsque les signaux sont affects dans la Configuration
du matriel locale, ils sont accoupls aux noms daffichage.
Figure 4-9:
Configuration du
matriel locale du
module de test
Overcurrent (exemple)

De mme, dans la Configuration du matriel locale du module Diff


Configuration ( figure 4-10), les signaux du module de test sont nouveau
automatiquement affects aux noms correspondants de la colonne "Nom de
l'affichage".
Figure 4-10:
Configuration du
matriel locale du
module de test Diff
Configuration (exemple)

Dans la Configuration du matriel locale pour chaque module de test, seul le


Signal de sortie du module de test peut tre configur. Le menu de slection
contient uniquement les signaux applicables ce module de test.
On ne peut modifier les colonnes Nom de laffichage et Bornier de connexion
que dans la Configuration du matriel globale.

57

OMICRON Test Universe

4.3 Dispositif de test (reprsentation symbolique)


Figure 4-11:
Reprsentation
symbolique d'un
dispositif de test

4
5

(1)

Connexion d'un ensemble de test CMC (ici un CMC 356) l'ordinateur.


Variantes de connexion :

58

CMC 356, CMC 256plus ou CMC 256-6 avec l'option NET-1 ou


NET-1B via Ethernet (connecteur ETH en face arrire de l'ensemble
de test) port Ethernet de votre ordinateur.

CMC 356, CMC 256plus ou CMC 256-6 avec l'option NET-1C via
USB en face arrire de l'ensemble de test port USB de votre
ordinateur. Exige que Test Universe de version 3.0 ou ultrieure soit
install sur votre ordinateur.

CMC 256plus avec l'option PAR-1 au port imprimante parallle de


votre ordinateur. (Remarque : L'option PAR-1 n'existe plus depuis avril
2014).

CMC 256plus avec l'option PAR-1 convertisseur CMUSB-P port


USB de votre ordinateur.

CMC 256-6 standard avec interface hte parallle port imprimante


parallle de votre ordinateur.

CMC 156 avec interface hte parallle convertisseur CMUSB-P


port USB de votre ordinateur.

(2)

Connexion des sorties de tension analogiques VOLTAGE OUTPUTS du


CMC pour acheminer les signaux de tension simuls aux entres de
tension correspondantes de l'quipement tester.

(3)

Connexion des sorties de courant analogiques CURRENT OUTPUTS du


CMC pour acheminer les signaux de courant simuls aux entres de
courant correspondantes de l'quipement tester.

(4)

Connexion des sorties binaires BINARY OUTPUTS du CMC pour


acheminer les signaux binaires aux entres binaires correspondantes de
l'quipement tester.

Configuration du matriel de test

(5)

Connexion des entres binaires de l'ensemble de test aux sorties binaires


correspondantes de lquipement tester pour lire les signaux de
lquipement tester (et donc les ractions l'envoi des signaux
analogiques de tension et de courant).

59

OMICRON Test Universe

4.4 Dmarrage de la Configuration du matriel


Si le module de test est incorpor dans un document de test
Control Center
Pour lancer la Configuration du matriel globale partir de Control Center:
1. Si ncessaire, insrez une nouvelle Configuration du matriel dans le
document de test en cliquant sur Configuration du matriel dans l'onglet
Insrer.
2. Pour ouvrir une Configuration du matriel existante partir du Volet de
navigation, double-cliquez sur son icne dans la liste gauche de la fentre.
3. Pour ouvrir une Configuration du matriel existante partir de la Vue liste,
double-cliquez sur son icne dans l'arborescence.
4. La Vue rapport d'un document de test contient galement un symbole de
rfrence la Configuration du matriel. Les rfrences internes au
document de test apparaissent sous forme d'informations modifiables ou
d'une icne. Double-cliquez sur la rfrence pour lancer la Configuration du
matriel.
Pour lancer la Configuration du matriel locale d'un module de test incorpor,
double-cliquez sur le module de test dans Control Center pour l'ouvrir. Dans le
module de test, cliquez sur Configuration du matriel dans l'onglet Accueil.
Figure 4-12:
Reprsentation de la
Configuration du
matriel dans la Vue
rapport d'un document
de test sous la forme
d'informations
modifiables :

Configuration matrielle
Equipement de test
Type

Numro de srie

CMC256-6

EB330D

Contrle du matriel
Excut

Rsultat

Dtails

Pas encore excut

ou d'une icne :

Si le module de test est utilis en mode autonome


Pour lancer la Configuration du matriel d'un module de test s'excutant en
mode autonome :
Dans le module de test, cliquez sur Configuration du matriel dans l'onglet
Accueil.

60

Configuration du matriel de test

4.5 Utilisation de configurations de matriel


existantes
Si vous voulez utiliser une Configuration du matriel existante, vous pouvez
ouvrir un document de test (ou un test) existant, ou vous pouvez importer une
Configuration du matriel enregistre.
Si vous travaillez en mode en ligne (lorsque le matriel de test est connect et
sous tension), une configuration automatique de la matrice de cblage et des
noms d'affichage a lieu lors de la mise jour des informations sur le matriel de
test (pour les nouveaux tests ou documents de test, une affectation automatique
des signaux a galement lieu entre les signaux du module de test et les noms
d'affichage).
Si la Configuration du matriel constate une diffrence entre une configuration
enregistre (partie dun document de test ou importe) et le matriel de test
connect, le logiciel essaie de mettre en correspondance autant dentres/
sorties que possible partir de la configuration enregistre dans la configuration
actuelle.
Si le logiciel ne trouve pas une entre/sortie approprie pour chaque entre/
sortie enregistre, un message adapt saffiche dans la vue Historique. Toute
information de la configuration enregistre qui ne peut tre mise en
correspondance est perdue. Dans ce cas, vous devrez modifier manuellement
la Configuration du matriel.
Avec un test ou un document de test existant qui contient dj une
Configuration du matriel enregistre, vrifiez toujours le cblage physique et
les paramtres de la Configuration du matriel.

61

OMICRON Test Universe

4.6 Mise jour des informations sur le matriel de


test
Lorsque lensemble de test connect est remplac par un autre ensemble de
test ou par un autre type densemble de test, aucun message nest affich pour
vous informer que le matriel de test connect est diffrent de ce qui est affich
dans la Configuration du matriel. Seule la fentre Historique affiche le
message correspondant. Par exemple, si le matriel de test passe dun
CMC 356 un CMC 353 ou si un amplificateur supplmentaire est utilis mais
hors tension, il peut arriver que le nombre de sorties disponibles ne suffise plus.
Dans ce cas, vous ne remarquerez peut-tre pas le manque de sorties (par
exemple, lorsque vous travaillez avec le module de test State Sequencer).
La mise jour des informations sur le matriel de test signifie quune analyse du
matriel est effectue ; les donnes du matriel de test connect (par exemple,
type densemble de test, numro de srie, etc..) sont charges dans la
Configuration du matriel. A chaque mise jour de ces informations, les noms
daffichage et la matrice de cblage sont automatiquement configurs par dfaut
en se basant sur les informations du matriel de test. Les paramtres et les
affectations de signaux dfinis manuellement ainsi que ceux enregistrs dans le
document de test sont conservs aussi longtemps que possible : ils ne sont pas
crass lors de la mise jour des informations du matriel de test.
Si la Configuration du matriel rencontre une diffrence entre une configuration mmorise (soit faisant partie dun test ou document de test, soit importe)
et le matriel de test actuellement disponible, le logiciel essaie de faire correspondre le plus grand nombre possible dentres/sorties entre la configuration
mmorise et la configuration actuelle. Si le logiciel ne trouve pas une entre/
sortie approprie pour chaque entre/sortie enregistre, un message adapt
saffiche dans la vue Historique. Toute information de la configuration enregistre qui ne peut tre mise en correspondance est perdue. Dans ce cas, vous devrez modifier manuellement la Configuration du matriel.

4.6.1

Comportement de la mise jour lorsque le module de


test fonctionne en mode autonome
Lorsquun module de test fonctionne en mode autonome, le comportement de
la mise jour varie selon que des rsultats de test sont disponibles ou non.

62

Si aucun rsultat de test nest disponible, le moment de la mise jour des


informations sur le matriel dpend du module de test.

Si des rsultats de test sont disponibles, aucune mise jour du matriel nest
effectue ; la Configuration du matriel est en lecture seule. Dans ce cas,
il nest pas possible deffectuer des modifications tant que les rsultats de
test nont pas t effacs.

Configuration du matriel de test

4.6.2

Comportement de la mise jour si des modules de


test sont insrs dans un document de test et
accdent une Configuration du matriel globale
Dans la Version TU1.5, le comportement de la mise jour des informations sur
le matriel de test est diffrent des versions antrieures. Supposons quun
utilisateur effectue des tests sur le terrain sans imprimante disposition et quil
veuille imprimer le document de test pour larchiver lorsquil retourne au bureau.
Dans un tel cas, il nest pas possible de modifier les informations du matriel de
test pour indiquer quel matriel de test (n de srie) a t utilis lors du test. Par
consquent, il est indispensable dindiquer la Configuration du matriel si un
document de test a t test ou non.
Pour cela, nous distinguons 3 tats de mise jour. L'tat de la mise jour est
dtermin par les modules de test qui accdent une Configuration du
matriel globale, autrement dit tous les tests qui suivent une Configuration du
matriel globale dans le document de test.

Mise jour automatique


Une mise jour automatique des informations sur le matriel de test est
effectue lorsque tous les modules de test sont en veille (IDLE), c..d. quils
nont pas t tests. Dans ce cas, les informations sur le matriel de test sont
automatiquement mises jour ds que le document de test est ouvert. Une
analyse du matriel pour la mise jour seffectue aussi immdiatement lorsque
ltat passe dun des deux autres tats ltat de mise jour automatique.
L'utilisateur peut, tout moment, effectuer une mise jour manuelle en cliquant
sur le bouton Recherche... dans l'onglet Gnral.

Mise jour la demande


Ltat de mise jour la demande est atteint ds que lun des modules de test,
postrieur la Configuration du matriel globale dans le document de test,
nest pas ltat INACTIF (SUSPENDU, STOPPE, TERMINE ou ERREUR) et
quau moins un autre module de test est toujours dans un tat permettant le test
(INACTIF, SUSPENDU ou STOPPE). Dans ce cas, les informations sur le
matriel de test ne sont pas mises jour louverture du document de test. Les
informations sont mises jour la demande, avant que le module de test
commence excuter le test proprement dit. L'utilisateur peut, tout moment,
effectuer une mise jour manuelle en cliquant sur le bouton Recherche... dans
l'onglet Gnral.

63

OMICRON Test Universe

Pas de mise jour


Si tous les modules de test sont ltat TERMINE ou ERREUR, les informations
sur le matriel de test ne sont pas mises jour. Dans ce cas, la Configuration
du matriel fonctionne en lecture seule : aucune modification nest possible. Ce
mode se comporte comme des modules de test en mode autonome lorsque des
rsultats de test sont disponibles.

64

Configuration du matriel de test

4.7 Dialogue Configuration du matriel


Dans la Configuration du matriel locale pour les modules de test ou si un
module de test est utilis en mode autonome, il est possible que les onglets ne
soient pas tous affichs dans le dialogue Configuration du matriel. Dans ce
cas, seuls sont affichs les onglets dont les fonctions sont prises en charge par
le module de test. Par exemple, dans la Configuration du matriel du module
de test Meter, les onglets Sorties binaires et Entres analogiques CC sont
absents car ce module ne gre pas les sorties binaires et les entres
analogiques CC.
Le dialogue Configuration du matriel comporte 6 onglets diffrents. Le
prsent chapitre dcrit la finalit principale de chaque onglet du dialogue
Configuration du matriel.
Si la configuration se fait dans la Configuration du matriel globale, la
configuration slectionne est valide pour l'ensemble du document Control
Center ; elle ne peut pas tre modifie partir de la Configuration du matriel
locale d'un module de test. Si aucune Configuration du matriel globale nest
insre dans le document Control Center, les modules de test incorpors se
comportent comme en mode autonome. Dans ce cas, vous devez fournir toutes
les informations pour chaque module de test.

Pour l'onglet Gnral chapitre 4.7.2 page 69.

Pour l'onglet Sorties analogiques chapitre 4.7.8 page 83.

Pour l'onglet Entres binaires / analogiques chapitre 4.7.9 page 85.

Pour l'onglet Sorties binaires chapitre 4.7.10 page 88.

Pour l'onglet Entres analogiques CC chapitre 4.7.11 page 90.

Pour l'onglet Source de temps chapitre 4.7.12 page 91.

Le chapitre 4.7.1 page 66 contient des informations gnrales relatives


lutilisation des tableaux de cblage des onglets dentres et de sorties.

65

OMICRON Test Universe

4.7.1

Tableaux de cblage dans les onglets des entres et


sorties
Lutilisation des entres et sorties est dfinie dans les onglets correspondants
du matriel de test.
La configuration et ladaptation des tableaux de cblage des onglets dentres
et de sorties se font automatiquement en fonction du matriel de test et de ses
paramtres de configuration dans longlet Gnral. Par exemple, si la
configuration est modifie pour obtenir des sorties supplmentaires, le tableau
de cblage comporte le nombre adquat de bornes supplmentaires qui sont
automatiquement raccordes aux nouveaux connecteurs avec les noms
daffichage par dfaut.

Figure 4-13:
Onglet Sorties
analogiques dun
module de test
fonctionnant en mode
autonome

3
4

Bien que les lignes du tableau soient


organises successivement en blocs
jaunes et blancs de trois lignes, ces blocs
ne reprsentent pas ncessairement des
blocs fonctionnels, par exemple des
triplets de sortie CMC. L'utilisateur peut
librement affecter les sorties CMC des
bornes de l'quipement tester ; par
consquent, la couleur doit tre
considre comme une assistance
graphique.

Comme le dfinit le dialogue Dtails de la


configuration des sorties dans l'onglet Gnral,
un triplet de tension et trois triplets de courant sont
disponibles.

Si aucun ensemble de test n'est connect au PC (mode hors ligne), des points
d'interrogation sont affichs la place du numro de srie.

66

Configuration du matriel de test

Informations sur les colonnes et les zones dans les tableaux


de cblage
figure 4-13 :
(1)

"Signal du module de test"


Dans cette colonne, le signal dentre/sortie du module de test est affect
la borne de lquipement tester spcifie dans cette ligne. Pour
modifier laffectation, cliquez sur la cellule concerne et slectionnez un
signal dentre/sortie. Pour un module de test donn, seuls les signaux
connus de celui-ci et convenant au connecteur raccord sont autoriss
par le menu de slection. Lorsque les signaux sont affects, ils sont
accoupls aux noms daffichage.
La colonne "Signal du module de test" nest pas disponible dans la
Configuration du matriel globale dun document de test Control
Center. Les signaux dentre/sortie du module de test ne peuvent tre
affects ou modifis que dans la Configuration du matriel locale ou
dans la Configuration du matriel pour un module de test fonctionnant
en mode autonome.

(2)

"Nom de l'affichage"
Le Nom d'affichage reprsente la dsignation de la connexion entre les
connecteurs du matriel de test et les bornes de lquipement tester. En
fonction du matriel de test raccord au PC ou slectionn dans longlet
Gnral, les noms de laffichage se configurent automatiquement avec
les paramtres par dfaut. Vous ne pouvez pas modifier les noms
daffichage dans la Configuration du matriel locale d'un module de test
qui est incorpor dans un document de test Control Center.

(3)

"Bornier de connexion"
Dans la colonne "Bornier de connexion", vous pouvez saisir les noms des
connecteurs de lquipement tester. Ces informations renforcent lutilit
de la Configuration du matriel et peuvent amliorer la qualit du
rapport de test. Il est conseill de les utiliser, mais elles sont facultatives ;
il est galement possible de laisser les champs vides. Vous ne pouvez
pas modifier les noms des borniers de connexion dans la Configuration
du matriel locale d'un module de test qui est incorpor dans un
document de test Control Center.

67

OMICRON Test Universe

(4)

Matrice de cblage
La matrice de cblage dfinit les connexions (cblage physique) entre les
connecteurs du matriel de test et ceux de lquipement tester. En
fonction du matriel de test raccord au PC ou slectionn dans longlet
Gnral, la matrice de cblage se configure automatiquement avec les
paramtres par dfaut. Vous ne pouvez pas modifier la matrice de
cblage dans la Configuration du matriel locale d'un module de test
qui est incorpor dans un document de test Control Center.
Cette remarque est uniquement valable en mode en ligne :
Les connecteurs du matriel de test qui ne sont pas disponibles du fait
qu'ils sont utiliss par une autre application sont dsactivs (affichs sur
fond gris) dans la matrice de cblage ; il n'est pas possible de les cbler
dans la Configuration du matriel. Exemple : ce cas de figure se
prsente si les entres sont rserves par le module EnerLyzer et que
vous examinez la Configuration du matriel partir dun autre module
de test.

(5)

Informations sur l'ensemble de test


Les informations sur lensemble de test sont affiches dans len-tte de la
matrice de cblage (type, hors ligne ou en ligne, plages de valeurs des
entres analogiques, connecteur, etc.).

Informations sur la manipulation


Lorsque vous dplacez la souris sur une cellule "Signal du module de test",
"Nom de l'affichage" ou "Bornier de connexion", la configuration du cblage
(croix dans la matrice) est mise en valeur par une ligne bleue et les en-ttes de
colonne. Lorsque vous dplacez la souris sur une cellule de la matrice de
cblage, le pointeur se transforme en croix et les en-ttes de ligne et de colonne
du connecteur de l'ensemble de test s'affichent en surbrillance bleue. Cela
facilite la recherche de la ligne et de la cellule.
Pour tablir une connexion dans la matrice de cblage, placez la souris sur la
cellule voulue et cliquez pour y placer une croix.
En cliquant sur le bouton droit, vous ouvrez un menu contextuel qui
permet d'effectuer les oprations suivantes : Ajouter une ligne la fin du
tableau ; Insrer une ligne au-dessus de la ligne slectionne ; Supprimer des
lignes slectionnes dans le tableau ; et rinitialiser l'affectation des lignes
slectionnes (Rinitialiser l'affectation).

68

Configuration du matriel de test

4.7.2

Onglet Gnral
Dans l'onglet Gnral, dfinissez le matriel de test utilis.
Si le numro de srie dun ensemble de test connect nest pas encore connu
par le logiciel, des points dinterrogation saffichent la place. Ce cas de figure
peut se prsenter par exemple si le logiciel est en mode hors ligne (aucun
ensemble de test connect ou l'ensemble de test connect est hors tension).
Si un nouvel ensemble de test ou un amplificateur est slectionn ou si la
configuration de lensemble de test ou de lamplificateur est modifie dans
l'onglet Gnral, les informations de cblage, les noms d'affichage et, le cas
chant, laffectation des signaux dans la matrice de cblage des autres onglets
sadaptent automatiquement. Par exemple, si la configuration est augmente
pour obtenir des sorties supplmentaires, le tableau de cblage comportera
alors le nombre adquat de bornes supplmentaires qui seront
automatiquement raccordes aux nouveaux connecteurs avec les noms
d'affichage par dfaut et, le cas chant, avec les affectations des signaux par
dfaut.

Figure 4-14:
Onglet Gnral

3
4

6
5

9
10
11

12

13

Les listes droulantes, boutons et champs de longlet Gnral, reprsent la


figure 4-14, sont dcrits ci-dessous :

69

OMICRON Test Universe

(1)

Dans les listes droulantes de Ensemble(s) de test, l'ensemble ou les


ensembles de test OMICRON connects sont affichs avec leur numro
de srie ; vous pouvez galement les dfinir manuellement. En fonction
de la dfinition de la premire liste, la seconde est dsactive. Vous
pouvez dfinir ou afficher les paramtres suivants :

Uniquement un ensemble de test CMC (entre "CMCxx" dans la


premire liste droulante, "Aucun appareil auxiliaire" dans la seconde,
ou la seconde liste droulante est inactive si l'ensemble de test CMC
affich ne prend pas en charge le CMB IO-7).

Uniquement un ensemble de test CMB IO-7 (entre "CMB IO-7" dans


la premire liste droulante, la seconde est inactive).

Combinaison dun CMC (qui prend en charge un CMB IO-7) et dun


ensemble de test CMB IO-7 (entre "CMC" dans la premire liste
droulante et "CMB IO-7" dans la seconde).

(2)

Les champs Sorties de tension , Sorties de courant (et pour le


CMC 356/CMC 353/CMC 256plus/CMC 256 ou CMB IO-7 : " Aux DC")
indiquent la configuration slectionne.

(3)

La configuration des sorties de tension/courant de lappareil CMC


slectionn peut tre modifie en cliquant sur le bouton Dtails...
correspondant ( 4.7.3 Dtails de la configuration des sorties du CMC
page 73).
Pour dfinir la tension AUX DC, utilisez AUX DC Configuration partir de
la section Modules de configuration de l'cran de dmarrage de Test
Universe.

70

(4)

Vous pouvez modifier la configuration de l'ensemble de test CMB IO-7


slectionn en cliquant le bouton Dtails....
Pour plus d'informations 4.8 Matriel en option CMB IO-7 page 104.

(5)

La liste droulante Amplificateur(s) / Sorties bas niveau / Simulation


de capteur permet de slectionner des amplificateurs supplmentaires,
des sorties bas niveau ou des simulations de capteur. Le groupe est
inactif si lensemble de test slectionn n'accepte pas cette possibilit
(ex. CMC 151) ou lorsque le seul ensemble de test slectionn est un
CMB IO-7.

(6)

Si la case Amplificateurs multiples / Sorties bas niveau est coche,


une autre liste droulante s'affiche pour spcifier un deuxime
amplificateur, une simulation de capteur ou un systme de sorties bas
niveau. Ne cochez pas cette option si vous nutilisez pas plusieurs
amplificateurs, simulations de capteurs ou systme de sorties bas niveau.

(7)

Les champs Sorties de tension et Sorties de courant affichent les


informations relatives la configuration slectionne.

Configuration du matriel de test

(8)

La configuration peut tre modifie en cliquant sur le bouton Dtails...


correspondant ( chapitres 4.7.4 4.7.7 page 79).

(9)

Entres / Sorties virtuelles


Vous pouvez configurer l'un des ensembles de test CMC 850, CMC 356,
CMC 353, CMC 256plus ou CMC 256 avec l'option NET-1 pour envoyer
et recevoir les messages de type GOOSE (GOOSE = Generic Object
Oriented Substation Events). Les messages GOOSE sont des
vnements qui sont directement incorpors dans les paquets de
donnes transmis via Ethernet sur le rseau du poste lectrique.
Les messages GOOSE peuvent tre affects aux ENTREES BINAIRES
physiques 1 10 d'un ensemble de test CMC ainsi qu des entres et
sorties dites "virtuelles". Les entres/sorties virtuelles nexistent pas dans
la ralit et pourtant elles sont traites par le logiciel Test Universe
comme s'il sagissait dentres/de sorties relles. Ces entres/sorties
virtuelles sont combines dans un groupe de 24 ; 15 groupes sont
proposs. Pour utiliser les entres/sorties virtuelles, lancez le module
GOOSE Configuration partir de la section CEI 61850 de l'cran de
dmarrage de Test Universe. Dans le module GOOSE Configuration,
lancez la Configuration du matriel.
Remarque : certains modules Test Universe ne prennent pas en charge
les entres/sorties virtuelles. Dans ces modules de test, la section
Entres/Sorties virtuelles est dsactive.
Les oprations de slection et de dfinition du cheminement des entres/
sorties virtuelles pour les messages GOOSE sont excutes de manire
identique dans tous les modules de test:
1. Cliquez sur le bouton Dtails... du groupe Entres/Sorties virtuelles.
Dans le dialogue Dtails de configuration des E/S virtuelles,
slectionnez les groupes dentres et de sorties que vous souhaitez
utiliser avec les messages GOOSE.
Cliquez sur OK pour fermer le dialogue.
2. Passez l'onglet Entres binaires / analogiques.
Dans la Barre de navigation, slectionnez le groupe dentres
virtuelles souhait ("vin group 1", par exemple).
Dans "Signal d'entre du module de test", affectez le nombre
d'entres dont vous avez besoin dans le groupe des entres binaires
virtuelles, par exemple associez le signal dentre "vBin. in 1-1"
l'entre binaire virtuelle 1-1.
3. Passez longlet Sorties binaires et renouvelez la procdure partir
de ltape 2 pour les sorties binaires virtuelles.

71

OMICRON Test Universe

Remarque : il est impossible de lancer un test partir dun module de test


quelconque prenant en charge les entres/sorties virtuelles si un ou
plusieurs signaux dentre/de sortie binaires virtuelles sont dfinis dans la
Configuration du matriel du module sans avoir t affects au
pralable un message GOOSE dans le module GOOSE Configuration
(onglet Subscriptions).
Le manuel GOOSE Configuration donne des informations
complmentaires sur cette question.
(10)

La case Vrifiez le cblage permet d'activer ou non le message


demandant de vrifier le cblage. Ce message vous rappelle de vrifier
le cblage physique du matriel avant de lancer la procdure de test ou
lorsque l'instance de Configuration du matriel globale change (si le
document de test contient plusieurs Configurations du matriel
globales).

(1)

Cliquez sur Chercher... pour rechercher les quipements connects et


mettre jour les informations des quipements de test. Normalement, il
nest pas ncessaire deffectuer une recherche manuelle, du fait que le
logiciel trouve automatiquement les quipements de test OMICRON
connects et met jour les informations sur le matriel de test. Pour plus
dinformations chapitre 4.6 page 62.

(12)

Cliquez sur le bouton Etalonnage... pour ouvrir le dialogue Etalonnage


et afficher le dernier talonnage en usine des quipements OMICRON
connects. Les valeurs figurant dans la documentation du matriel sont
garanties pendant un an compter de la date du dernier talonnage en
usine.

(13)

La fonctionnalit dimportation/exportation permet de sauvegarder/


charger les fichiers OHC. Ceux-ci contiennent toutes les informations quil
est possible de dfinir dans la Configuration du matriel. De cette
faon, vous pouvez transfrer facilement les Configurations du matriel
entre, par exemple, diffrents documents Control Center. Pour plus
dinformations chapitre 4.5 page 61.

Le message Impossibilit d'utiliser simultanment tous les quipements


choisis ! s'affiche si vous avez dfini une configuration d'amplificateur qui
dpasse le nombre maximum de 6 sorties bas niveau qu'un ensemble de test
CMC est capable de grer. Pour plus d'informations, veuillez vous reporter
l'aide de Test Universe. Lancez l'aide, cliquez sur l'entre --- Configuration du
matriel --- dans la table des matires et naviguez jusqu' la rubrique "Onglet
Gnral".

72

Configuration du matriel de test

4.7.3

Dtails de la configuration des sorties du CMC


Cliquez sur le bouton Dtails... ct de la liste droulante, pour modifier la
configuration des sorties de tension ou de courant d'un ensemble de test CMC
slectionn et affich dans la liste droulante suprieure du groupe
Ensemble(s) de test dans l'onglet Gnral.
Ce dialogue vous permet de modifier la configuration de lensemble de test CMC
slectionn. Limage au milieu du dialogue illustre la connexion des sorties pour
obtenir la configuration voulue.
Un message d'avertissement saffiche louverture du dialogue Dtails de la
configuration des sorties. Un schma de connexion est associ chaque
configuration des sorties dfinie dans le dialogue : il indique comment raccorder
les cbles. Ces images sont purement symboliques ! Pour des informations sur
la connexion physique correcte des cbles, consultez le manuel correspondant
au matriel. Vous pouvez supprimer ce message en cochant la case Ne plus
afficher cet avertissement l'avenir. Pour annuler la suppression et afficher
nouveau le message louverture du dialogue Dtails de la configuration
des sorties, appuyez sur la touche <Maj.> pendant louverture du dialogue.

Figure 4-15:
Dialogue Dtails de
configuration des
sorties d'un
CMC 256-6

4
3

73

OMICRON Test Universe

(1)

CMC ... Sorties de tension


Slectionnez dans ce groupe la configuration voulue des sorties de
tension de lensemble de test CMC dfini dans la liste. Un schma de
connexion correspondant est associ chaque configuration qui affiche
symboliquement la manire de raccorder les cbles pour raliser la
configuration. Pour une connexion physique correcte, veuillez vous
reporter la documentation de votre matriel.
Le paramtre "3 x 300 V, 50 VA @ 75 V, 660 mAeff, UE calcul
automatiquement"
Ce paramtre est uniquement disponible avec les ensembles de test
CMC 356, CMC 353, CMC 256plus et CMC 256.

Si la configuration 3 x 300 V, 50 VA @ 75 V, 660 mAeff, UE calcul


automatiquement est dfinie, la tension UE est gnre entre les
bornes V4 - N. UE reprsente la somme vectorielle des tensions des trois
phases U1-N, U2-N et U3-N.
Cette fonction est calcule dans le firmware interne de lensemble de test
CMC sans connaissance des paramtres de Equipement tester. Elle
ne tient donc pas compte des carts ventuels entre les rapports de TT
pour les entres de tension de phase et les entres de tension rsiduelle
tels quils sont spcifis dans Equipement tester, mais elle divisera
toujours la somme vectorielle des trois tensions phase-terre par 3, par
exemple, si les trois phases produisent toutes 10 V avec des dphasages
identiques, UE sera gale 17,3 V.
Puisque ce signal est automatiquement gnr, il ne sera plus disponible
pour la dfinition du cheminement des canaux dans l'onglet Sorties
analogiques de la Configuration du matriel.

74

Configuration du matriel de test

(2)

Facteur de tension
Le champ "Facteur de tension" est uniquement activ lorsque la
configuration [3 x 300 V; 50 VA @ 75 V; 660 mAeff ;U0] slectionne
inclut la tension homopolaire automatiquement calcule (pour CMC 356/
CMC 353/CMC 256plus/CMC 256). La valeur "Facteur de tension" dfinit
le facteur du calcul de la tension homopolaire. Lorsque ce champ est
activ, la tension homopolaire calcule partir de ce facteur est injecte
la sortie V4 de l'ensemble de test CMC correspondant. La valeur par
dfaut est 1/3 (0,57735).
La quatrime tension V4-N est calcule de la faon suivante partir de la
tension rsiduelle VG du systme triphas V1, V2, V3 :
V4-N = fv x VG,

VG = V1-N + V2-N + V3-N

fv est le facteur de tension que lon peut entrer dans le champ de saisie.
(3)

CMC ... Sorties de tension


Slectionnez dans ce groupe la configuration voulue des sorties de
courant de lensemble de test CMC dfini dans la liste. Un schma de
connexion correspondant est associ chaque configuration qui affiche
symboliquement la manire de raccorder les cbles pour raliser la
configuration. Pour une connexion physique correcte, veuillez vous
reporter la documentation de votre matriel.
Le paramtre "3 x 12.5 A, 70 VA @ 7.5 A 10 Veff, IE calcul
automatiquement"
Ce paramtre est uniquement disponible avec les ensembles de test
CMC 356/CMC 353/CMC 256plus/CMC 256.

Si la configuration 3 x 12,5 A, 70 VA @ 7,5 A 10 Veff, IE calcul


automatiquement est dfinie, le courant IE circule entre les connecteurs
1 et 2 du triplet de courant B. IE reprsente la somme vectorielle des
courants des trois phases (I1, I2 et I3 du triplet de courant A).

75

OMICRON Test Universe

Cette fonction est calcule dans le firmware interne de lensemble de test


CMC sans connaissance des paramtres de Equipement tester. Elle
ne tient donc pas compte des carts ventuels entre les rapports de TC
pour les entres de courant de phase et les entres de courant rsiduel
tels quils sont spcifis dans Equipement tester, par exemple, si les
phases sortent toutes les trois 1 A avec un dphasage identique, IE sera
gal 3 A.
Puisque ce signal est automatiquement gnr, il ne sera plus disponible
la dfinition du cheminement des canaux longlet Sorties
analogiques de la Configuration du matriel.
(4)

Tension source
Il est possible d'optimiser la limite de la puissance utile des sorties de
courant au moyen de la tension source (sauf sur le CMC 353/CMC 356).
En utilisation normale, la valeur par dfaut forte (6 ou 15 V en fonction
de lensemble de test CMC) convient. Il sagit de la valeur optimale pour
la plupart des applications classiques. Vous pouvez rinitialiser la tension
source en cliquant sur le bouton Dfaut.

(5)

Mode ventilateur
Ces options contrlent le ventilateur des ensembles de test CMC 356,
CMC 353 et CMC 256plus.
Silencieux : Le ventilateur est automatiquement contrl par l'ensemble
de test.
Puissance max. : Le ventilateur fonctionne toujours la vitesse
maximale pour prolonger la dure d'injection avant l'apparition d'un
avertissement de surchauffe. Avec cette option, les ensembles de test
CMC 356, CMC 353 et CMC 256plus atteignent la dure d'injection d'un
CMC 256-6.

(6)

Commande auxiliaire TT/TC (Connecter/Supprimer TT ou Connecter/


Supprimer TC)
La commande auxiliaire TT/TC prend en charge la connexion externe de
transformateurs externes de courant et/ou de tension aux sorties
analogiques dun ensemble de test CMC ou dun amplificateur
intelligent OMICRON (amplificateur connect au CMC de faon que
les deux appareils communiquent ensemble).
La connexion dun transformateur de courant ou de tension une sortie
analogique change les caractristiques de cette sortie (par exemple,
amplification ou retard de propagation). La commande auxiliaire TT/TC
permet de spcifier ces changements de faon que le logiciel applique les
valeurs correctes aux sorties analogiques du CMC et affiche les valeurs
correctes de lenroulement secondaire du transformateur.

76

Configuration du matriel de test

La commande auxiliaire TC/TT est sujette une limitation. Pour les


configurations qui comportent plusieurs groupes de tension ou de courant
de sorties (par exemple, 4 x 300 V ou 6 x 12,5 A avec un CMC 356/
CMC 353 (uniquement 4 x 300 V)/CMC 256plus/CMC 256), on suppose
que l'utilisateur connecte les transformateurs correspondants tous les
groupes de sorties analogiques du CMC. Il nest pas possible de
configurer le logiciel de faon connecter un groupe des
transformateurs sans connecter lautre.
Figure 4-16:
Exemple : configuration
qui utilise les deux
groupes de sortie de
courant A et B (6 x
12,5A).

Erron :
A

3 TC,
par exemple,
3 x 125 A

Sorties
analogiques,
3 x 12,5 A

Correcte :

3 TC,
par exemple,
3 x 125 A

3 TC,
par exemple,
3 x 125 A

77

OMICRON Test Universe

Cliquez sur le bouton Connecter TT/TC (ou, si un transformateur est dj


connect, Modifier TT/TC) pour ouvrir le dialogue Dtails de configuration
correspondant, qui spcifie les informations du transformateur.
Cliquez sur le bouton Supprimer TT/TC pour supprimer les informations de
configuration du TT/TC et rinitialiser le fonctionnement normal des sorties
analogiques.
Pour plus dinformations, veuillez consulter laide. Lancez l'aide, cliquez sur
l'entre --- Configuration du matriel --- dans la table des matires et
naviguez jusqu' la rubrique Onglet Gnral > Dtails de la configuration du
CMC > Dtails de la configuration des sorties.

78

Configuration du matriel de test

4.7.4

Dtails de configuration de lamplificateur


Dans le groupe de saisie Amplificateur(s) / Sorties bas niveau / Simulation
de capteur de longlet Gnral, vous pouvez (entre autres choses) spcifier
des amplificateurs OMICRON ou des amplificateurs (dun autre constructeur)
dfinis par lutilisateur.
Normalement, une seule liste droulante s'affiche ; cependant, si la case
Amplificateurs multiples / Sorties bas niveau est coche, une autre liste
s'affiche : elle permet de slectionner un deuxime amplificateur. Ne cochez
pas cette option si vous n'utilisez qu'un seul amplificateur.
Pour dfinir ou modifier la configuration dun amplificateur slectionn/affich
dans une liste droulante du groupe Amplificateur(s) / Sorties bas niveau /
Simulation de capteur de longlet Gnral, cliquez sur le bouton Dtails ct
de la liste droulante. Un dialogue s'ouvre et vous permet de configurer votre
amplificateur.

Figure 4-17:
Dialogue Dtails
amplificateur pour
configurer un
amplificateur (dun autre
constructeur) dfini par
lutilisateur

Pour plus dinformations, veuillez consulter laide. Lancez l'aide, cliquez sur
l'entre --- Configuration du matriel --- dans la table des matires et
naviguez jusqu' la rubrique Onglet Gnral > Dtails de la configuration de
l'amplificateur.

Configurer un amplificateur OMICRON :


Cette rubrique dcrit la configuration des amplificateurs OMICRON CMA et
CMS qui sont capables de communiquer avec le logiciel.

Configurer un amplificateur (dun autre fabricant) dfini par lutilisateur :


Cette rubrique dcrit la configuration des amplificateurs dautres fabricants
qui ne sont pas capables de communiquer avec le logiciel.

Fichiers AMP :
Cette rubrique dcrit lutilisation des fichiers AMP qui contiennent les
donnes de configuration. Avec les fichiers AMP, le logiciel lit les donnes
de configuration de lamplificateur au lieu de les spcifier manuellement.

79

OMICRON Test Universe

4.7.5

Simulations de capteurs de tension et de courant


Dans la liste droulante du groupe Amplificateur(s) / Sorties bas niveau /
Simulation de capteur de longlet Gnral, slectionnez

lentre Crer un capteur de tension linaire ou Crer un capteur de


courant linaire afin de crer une nouvelle simulation de capteur de tension
ou de courant

ou une simulation de capteur de courant ou de tension existante,

puis cliquez sur le bouton Dtails ct de la liste droulante.


Normalement, une seule liste droulante s'affiche ; cependant, si la case
Amplificateurs multiples / Sorties bas niveau est coche, une autre liste
s'affiche : elle permet de slectionner une deuxime simulation de capteur. Ne
cochez pas cette option si vous n'utilisez qu'une seule simulation de capteur.
Le dialogue Dtails sur la simulation de capteur linaire de tension/courant
est affich ; vous pouvez y entrer ou modifier les donnes de la simulation.
Figure 4-18:
Dialogue Dtails sur la
simulation de capteur
linaire de tension

Cliquez sur OK pour appliquer et mmoriser les donnes de la simulation. La


simulation est ensuite ajoute la liste droulante de slection dans le groupe
Amplificateur(s) / Sorties bas niveau / Simulation de capteur. La liste se
compose du type de capteur suivi d'un numro d'excution et du numro de
srie de l'ensemble de test CMC (par exemple, "Capteur de tension linaire 1
(AG150A)"). Pour supprimer de la liste droulante une simulation mmorise
existante, cliquez sur Supprimer.
Pour plus dinformations, veuillez consulter laide. Lancez l'aide, cliquez sur l'entre --- Configuration du matriel --- dans la table des matires et naviguez
jusqu' la rubrique Onglet Gnral > Simulations de capteur de tension et
de courant > Configurer un capteur linaire de courant ou de tension.

80

Configuration du matriel de test

4.7.6

Configuration de capteur de courant Rogowski


La configuration d'un capteur de courant Rogowski ne peut se faire qu'en liaison
avec un ensemble de test OMICRON CMC 850/CMC 356/CMC 353/
CMC 256plus/CMC 256.
Dans la liste droulante du groupe Amplificateur(s) / Sorties bas niveau /
Simulation de capteur de longlet Gnral, slectionnez

Crer un capteur de courant Rogowski pour crer une nouvelle simulation

ou une simulation de capteur de courant Rogowski existante,

puis cliquez sur le bouton Dtails ct de la liste droulante.


Normalement, une seule liste droulante s'affiche ; cependant, si la case
Amplificateurs multiples / Sorties bas niveau est coche, une autre liste
s'affiche : elle permet de slectionner une deuxime simulation de capteur de
courant Rogowski. Ne cochez pas cette option si vous n'utilisez qu'une seule
simulation de capteur de courant Rogowski.
Le dialogue Dtails sur la simulation de capteur de courant Rogowski est
affich ; vous pouvez y entrer ou modifier les donnes de la simulation.
Figure 4-19:
Dialogue Dtails sur la
simulation de capteur
de courant Rogowski

Cliquez sur OK pour appliquer et mmoriser les donnes de la simulation. La


simulation est ensuite ajoute la liste droulante de slection dans le groupe
Amplificateur(s) / Sorties bas niveau / Simulation de capteur. La liste se
compose du nom du capteur Rogowski suivi d'un numro squentiel et du
numro de srie de l'ensemble de test CMC (par exemple, "Capteur de courant
Rogowski 1 (AG150A)"). Pour supprimer de la liste droulante une simulation
mmorise existante, cliquez sur Supprimer.

81

OMICRON Test Universe

Pour plus dinformations, veuillez consulter laide. Lancez l'aide, cliquez sur
l'entre --- Configuration du matriel --- dans la table des matires et
naviguez jusqu' la rubrique Onglet Gnral > Simulations de capteur de
tension et de courant > Configurer un capteur de courant Rogowski.

4.7.7

Configuration des sorties bas niveau


Dans le groupe Amplificateur(s) / Sorties bas niveau / Simulation de capteur
de l'onglet Gnral vous pouvez, entre autres, slectionner des circuits de
sortie existants (enregistrs) de votre CMC ou en crer pour utiliser directement
les sorties externes en tant que sorties bas niveau.
Dans la liste droulante du groupe Amplificateur(s) / Sorties bas niveau /
Simulation de capteur de longlet Gnral, slectionnez

lentre Crer des sorties bas niveau standard pour crer un nouveau
systme de sorties bas niveau

ou un systme de sorties bas niveau existant

puis cliquez sur le bouton Dtails ct de la liste droulante.


Normalement, une seule liste droulante s'affiche. Cependant, si la case
Amplificateurs multiples / Sorties bas niveau est coche, une autre liste
s'affiche : elle permet de slectionner un deuxime systme de sorties bas
niveau. Ne cochez pas cette option si vous nutilisez qu'un seul systme de
sorties bas niveau.
La bote de dialogue Dtails amplificateur apparat ; vous pouvez y
slectionner le systme de sorties bas niveau, dans la liste droulante Systme
de sortie.
Figure 4-20:
Dialogue Dtails
amplificateur pour la
configuration de sorties
bas niveau

Cliquez sur OK pour appliquer et mmoriser les donnes du systme de sorties


bas niveau.

82

Configuration du matriel de test

Le systme est ensuite ajout la liste droulante de slection dans le groupe


Amplificateur(s) / Sorties bas niveau / Simulation de capteur. L'entre dans
la liste est constitue du nom "Sorties bas niveau standard" suivi d'un numro
d'excution et du numro de srie de l'ensemble de test CMC (par exemple,
"Sorties bas niveau standard 1 (AG150A)"). Si vous voulez supprimer de la liste
un systme de sorties bas niveau enregistr, cliquez sur Supprimer.
Pour plus dinformations, veuillez consulter laide. Lancez l'aide, cliquez sur
l'entre --- Configuration du matriel --- dans la table des matires et
naviguez jusqu' la rubrique Onglet Gnral > Crer des systmes de sortie
bas niveau.

4.7.8

Onglet Sorties analogiques


Longlet Sorties analogiques sert dfinir lutilisation des sorties analogiques.
Dans longlet Sorties analogiques, les sorties analogiques disponibles
dpendent de la dfinition du matriel dans longlet Gnral.
Le CMB IO-7 na pas de sorties analogiques. Par consquent, cet onglet est
vide uniquement si lensemble de test slectionn dans longlet Gnral est
CMB IO-7.

Figure 4-21:
Onglet Sorties
analogiques dun
module de test
fonctionnant en mode
autonome

Les colonnes et zones de longlet Sorties analogiques, reprsent la figure


4-21, sont dcrites ci-dessous :
(1)

Informations sur l'ensemble de test


Les informations sur lensemble de test saffichent dans len-tte de la
matrice de cblage (type de lensemble, sortie courant ou tension, Hors
ligne ou En ligne, connecteur).

(2)

Dans la colonne "Bornier de connexion", vous pouvez saisir les noms des
connecteurs de lquipement tester. Ces informations renforcent lutilit
de la Configuration du matriel et peuvent amliorer la qualit du
rapport de test. Il est conseill de les utiliser, mais elles sont facultatives ;
il est galement possible de laisser les champs vides.

83

OMICRON Test Universe

(3)

Le "Nom de l'affichage" reprsente la dsignation de la connexion entre


les connecteurs du matriel de test et les bornes de l'quipement tester.

(4)

La colonne Signal de sortie du module de test nest pas disponible


dans la Configuration du matriel globale. Dans cette colonne, le signal
de sortie du module de test est affect la borne de lquipement tester
spcifie dans cette ligne. Pour un module de test donn, seuls les
signaux connus de celui-ci et convenant au connecteur raccord sont
autoriss par le menu de slection.

Courants reflts
Quest-ce quun courant reflt ?
Il sagit dun courant dont la forme, la phase et la frquence sont identiques un
courant de rfrence, mais dont l'amplitude est ngative.
Pourquoi des courants reflts ?
Exemple : pour tester une fonction particulire dun relais multifonctionnel avec
une fonction de protection diffrentielle intgre sans provoquer le
dclenchement de cette fonction. Le premier triplet de courant (IL1IL3)
reprsente le courant aliment dans le relais de protection diffrentielle, le
second triplet (-IL1-IL3, amplitude ngative) reprsente le courant
schappant du relais de protection diffrentielle.
Si dans le dialogue Dtails de la configuration des sorties, le triplet de
courant IL1 IL3 est dfini, les courants reflts (-IL1 -IL3) sont crs
automatiquement. Si -IL1 est inject, son amplitude prend automatiquement la
valeur ngative de lamplitude IL1 tandis que les autres paramtres du signal
(forme du signal, phase et frquence) sont copis partir de IL1.
Le diagramme vectoriel du module de test correspondant affiche les courants
reflts.
Les courants reflts sont disponibles dans la plupart des modules de test.
Cependant les modules QuickCMC, VI Starting, Ground Fault, NetSim,
Synchronizer, Adv. TransPlay, Differential et Adv. Differential ne proposent pas
cette fonctionnalit.
Pour plus dinformations, veuillez consulter laide. Lancez l'aide, cliquez sur
l'entre --- Configuration du matriel --- dans la table des matires et
naviguez jusqu' la rubrique Onglet Sorties analogiques.
Pour des informations gnrales sur les tableaux de cblage chapitre 4.7.1
page 66.

84

Configuration du matriel de test

4.7.9

Onglet Entres binaires / analogiques


Longlet Entres binaires / analogiques sert dfinir lutilisation des entres
binaires et analogiques. Toutes les entres disponibles y sont affiches
conformment la dfinition du matriel de test donne dans longlet Gnral.
La configuration des entres binaires d'un CMB IO-7 ne peut tre effectue que
dans la Configuration du matriel globale et dans la Configuration du
matriel des modules de test compatibles avec le CMB IO-7.

Figure 4-22:
Onglet Entres
binaires / analogiques
dun module de test
fonctionnant en mode
autonome

Les colonnes et zones de longlet Entres binaires / analogiques, reprsent


la figure 4-22, sont dcrites ci-dessous :
(1)

Barre de navigation
Si un CMB IO-7 et un ensemble de test CMC ou seulement un CMB IO7 avec plusieurs modules dentre sont slectionns dans longlet
Gnral, une barre de navigation s'affiche gauche de la page pour
faciliter la manipulation d'un nombre potentiellement lev d'entres. La
barre de navigation contient une entre pour les entres du CMC et une
entre pour chaque module dentre du CMB IO-7. En cliquant sur une
entre de la barre de navigation, vous faites dfiler le tableau
horizontalement et verticalement pour afficher les entres et la matrice de
cblage correspondante dans la partie visible du dialogue.

(2)

Informations sur l'ensemble de test


Les informations sur l'ensemble de test s'affichent dans l'en-tte de la
matrice de cblage (type de l'ensemble, hors ligne ou en ligne,
configuration de l'entre, connecteur). Les cellules de configuration de
l'entre sont disposes comme suit sur 4 ou 5 lignes (exception : les
anciens modles de CMC 56 pour lesquels il est possible de slectionner
seulement une polarisation positive ou ngative) :

85

OMICRON Test Universe

"Fonction"
Pour un CMC 256/CMC 256plus/CMC 356 avec l'option EnerLyzer,
par exemple, les entres binaires peuvent tre mises en
correspondance avec des entres analogiques. On peut donc changer
leur fonction entre entres tension analogiques, entres courant
analogiques, entres binaires et entres de compteur. Tous les autres
ensembles de test CMC permettent seulement de permuter entre
entres de type binaire et compteur. Le CMB IO-7 ne comporte que
des entres binaires ; aucune permutation nest possible.

Potentiel libre
Spcifiez si des contacts secs ou sensibles la tension sont raccords
aux entres binaires ou aux entres compteur. Si cette case est
coche, l'entre est potentiel libre (contact sec). Uniquement si la
"Fonction" dfinie est Binaire ou Compteur.

Plage nominale
Tension nominale des entres binaires ou de compteur sensibles la
tension, ou plage nominale des entres de tension ou de courant
analogiques (en prenant en compte le rapport de pince).

"Rapport de pince" (CMC 356/CMC 353/CMC 256plus/CMC 256


uniquement)
Pour les entres de courant, vous pouvez dfinir le rapport de pince
avec une valeur comprise entre 1 V/A et 1000 V/A ou une valeur
typique, ceci partir du menu contextuel (clic droit). Le menu
contextuel permet galement d'affecter le mme rapport de pince
toutes les entres de courant Uniquement si la "Fonction" dfinie est
Courant.

Seuil
Seuil de tension pour les entres binaires ou de compteur sensibles
la tension.
Spcifiez ici le seuil de fonctionnement des entres binaires ou
compteur raccordes des contacts sensibles la tension.
Uniquement si la case "Potentiel libre" nest pas coche. Il est possible
de dfinir le mme seuil de fonctionnement pour toutes les entres en
cliquant le bouton droit et en slectionnant l'lment de menu adquat
dans le menu contextuel.
Si la tension nominale (Plage nominale) est modifie, le seuil par
dfaut est gal 0,7 x tension nominale.
Les entres peuvent avoir une hystrsis. Pour de plus amples
informations, veuillez vous reporter au manuel du matriel concern.

86

Configuration du matriel de test

(3)

Dans la colonne "Bornier de connexion", vous pouvez saisir les noms des
connecteurs de lquipement tester. Ces informations renforcent lutilit
de la Configuration du matriel et peuvent amliorer la qualit du
rapport de test. Il est conseill de les utiliser, mais elles sont facultatives ;
il est galement possible de laisser les champs vides.

(4)

Le "Nom de l'affichage" reprsente la dsignation de la connexion entre


les connecteurs du matriel de test et les bornes de l'quipement tester.

(5)

La colonne Signal d'entre du module de test nest pas disponible dans


la Configuration du matriel globale. Dans cette colonne, le signal
dentre du module de test est affect la borne de lquipement tester
spcifie dans cette ligne. Pour un module de test donn, seuls les
signaux connus de celui-ci et convenant au connecteur raccord sont
autoriss par le menu de slection.

Pour plus dinformations, veuillez consulter laide. Lancez l'aide, cliquez sur
l'entre --- Configuration du matriel --- dans la table des matires et
naviguez jusqu' la rubrique Onglet Entres binaires / analogiques.
Pour des informations gnrales sur les tableaux de cblage chapitre 4.7.1
page 66.

87

OMICRON Test Universe

4.7.10

Onglet Sorties binaires


Longlet Sorties binaires sert dfinir lutilisation des sorties binaires. Toutes
les sorties disponibles y sont affiches conformment la dfinition du matriel
de test donne dans longlet Gnral.
La configuration des sorties binaires d'un CMB IO-7 ne peut tre effectue que
dans la Configuration du matriel globale et dans la Configuration du
matriel des modules de test compatibles avec le CMB IO-7.

Figure 4-23:
Onglet Sorties binaires
dun module de test
fonctionnant en mode
autonome

Les colonnes et zones de longlet Sorties binaires, reprsent la figure 4-23,


sont dcrites ci-dessous :
(1)

Barre de navigation
Si un CMB IO-7 et un ensemble de test CMC ou seulement un CMB IO7 avec plusieurs modules dentre sont slectionns dans longlet
Gnral, une barre de navigation s'affiche gauche de la page pour
faciliter la manipulation d'un nombre potentiellement lev d'entres. La
barre de navigation contient une entre pour les sorties internes du CMC
et une entre pour chaque module de sortie du CMB IO-7. En cliquant sur
une entre de la barre de navigation, vous faites dfiler le tableau
horizontalement et verticalement pour afficher les sorties et la matrice de
cblage correspondante dans la partie visible du dialogue.

(2)

Informations sur l'ensemble de test


Les informations sur l'ensemble de test s'affichent dans l'en-tte de la
matrice de cblage (type de l'ensemble, hors ligne ou en ligne, sortie
relais ou transistor (le cas chant), connecteur).

(3)

88

Dans la colonne "Bornier de connexion", vous pouvez saisir les noms des
connecteurs de lquipement tester. Ces informations renforcent lutilit
de la Configuration du matriel et peuvent amliorer la qualit du
rapport de test. Il est conseill de les utiliser, mais elles sont facultatives ;
il est galement possible de laisser les champs vides.

Configuration du matriel de test

(4)

Le "Nom de l'affichage" reprsente la dsignation de la connexion entre


les connecteurs du matriel de test et les bornes de l'quipement tester.

(5)

La colonne Signal de sortie du module de test nest pas disponible


dans la Configuration du matriel globale. Dans cette colonne, le signal
de sortie du module de test est affect la borne de lquipement tester
spcifie dans cette ligne. Pour un module de test donn, seuls les
signaux connus de celui-ci et convenant au connecteur raccord sont
autoriss par le menu de slection.

Pour plus dinformations, veuillez consulter laide. Lancez l'aide, cliquez sur
l'entre --- Configuration du matriel --- dans la table des matires et
naviguez jusqu' la rubrique Onglet Sorties binaires.
Pour des informations gnrales sur les tableaux de cblage chapitre 4.7.1
page 66.

89

OMICRON Test Universe

4.7.11

Onglet Entres analogiques CC


Longlet Entres analogiques CC sert dfinir lutilisation des entres
analogiques.
Le CMB IO-7 na pas d'entres analogiques. Pour cette raison, longlet Entres
analogiques CC est vide si le seul ensemble de test slectionn dans longlet
Gnral est un CMB IO-7.

Figure 4-24:
Onglet Entres
analogiques CC dun
module de test
fonctionnant en mode
autonome

Les colonnes et zones de l'onglet Entres analogiques CC , reprsent la


figure 4-24, sont dcrites ci-dessous :
(1)

Informations sur l'ensemble de test


Les informations sur lensemble de test saffichent dans len-tte de la
matrice de cblage (type, Hors ligne ou En ligne, plages dentre,
connecteur). Pour un CMC 356/CMC 353/CMC 256plus/CMC 256, vous
pouvez slectionner la plage de l'entre de courant : 20 mA ou 1 mA.

90

(2)

Dans la colonne "Bornier de connexion", vous pouvez saisir les noms des
connecteurs de lquipement tester. Ces informations renforcent lutilit
de la Configuration du matriel et peuvent amliorer la qualit du
rapport de test. Il est conseill de les utiliser, mais elles sont facultatives ;
il est galement possible de laisser les champs vides.

(3)

Le "Nom de l'affichage" reprsente la dsignation de la connexion entre


les connecteurs du matriel de test et les bornes de l'quipement tester.

(4)

La colonne Signal d'entre du module de test nest pas disponible dans


la Configuration du matriel globale. Dans cette colonne, le signal
dentre du module de test est affect la borne de lquipement tester
spcifie dans cette ligne. Pour un module de test donn, seuls les
signaux connus de celui-ci et convenant au connecteur raccord sont
autoriss par le menu de slection.

Configuration du matriel de test

4.7.12

Source de temps
Dans Source de temps, configurez le trigger et la synchronisation et, si
l'ensemble de test CMC fonctionne comme gnrateur IRIG-B, spcifiez les
paramtres de code de temps.
Les sources de temps disponibles sont GPS1, PTPv22 ou IRIG-B3.
Lors d'un test de bout en bout, veillez utiliser le mme mode de
synchronisation, autrement dit, GPS, PTP ou IRIG-B pour tous les ensembles
de test CMC 850/CMC 356/CMC 353/CMC 256plus/CMC 256 concerns.
Slectionnez d'abord la source de temps de votre choix dans la liste suprieure
gauche prsentant les configurations disponibles. En fonction du choix effectu,
l'illustration au-dessous de la liste prsente une configuration type des
composants matriels.
Si ce symbole
apparat ct d'une configuration de source de temps, cette
configuration particulire ne fonctionnera pas avec le matriel connect.
Pourquoi cela ? Les paramtres spcifiques sont enregistrs avec le document
de test du module de test concern. Lorsque ce document de test est rouvert,
mais cette fois avec du matriel connect diffrent - du matriel qui ne prend pas
en charge la configuration de source de temps - ce symbole vous informe de
cette incompatibilit.

<Non utilis>
Aucune source de temps disponible n'est utilise pour la synchronisation. Dans
l'onglet Trigger du module de test, slectionnez une condition trigger binaire ou
une interaction utilisateur, ou aucun trigger.

Trigger via GPS l'aide d'un CMGPS


Une unit de synchronisation CMGPS est
connecte l'entre Interface externe
(un connecteur en face arrire) de
l'ensemble de test. Le trigger est gnr
partir des impulsions mises par le
CMGPS.
L'onglet Source de temps ne ncessite
aucun paramtrage.
1. GPS = Global Positioning System, ou systme de positionnement mondial.
2. PTPv2 = Precision Time Protocol, un protocole utilis pour synchroniser les horloges sur un
rseau informatique.
3. IRIG = Inter Range Instrumentation Group, un organisme qui fixe des normes pour les appareils
de mesure. L'IRIG a normalis les diffrents formats des codes de temps.

91

OMICRON Test Universe

L'heure de dmarrage du test et la priode de trigger sont dfinies dans Source


de temps dans l'onglet Accueil.

Trigger via GPS l'aide d'un CMGPS 588


Une unit de synchronisation CMGPS 588 est
connecte l'un des ports PoE ETH1 ou
ETH2 en face arrire de l'ensemble de test
CMC. L'ensemble de test CMC synchronise
son horloge interne sur le CMGPS 588, et
gnre les signaux de trigger en fonction de
cette horloge interne.
L'unit de synchronisation CMGPS 588 peut
tre utilise comme horloge matre PTP au sens de la norme IEEE 1588-2008.
Vous trouverez des informations complmentaires dans le manuel du
CMGPS 588.
Paramtres PTP
Priorit VLAN : Le profil de puissance exige une balise VLAN IEEE 802.1Q.
Cette valeur (0 ... 7) reprsente le champ (3 bits) PCP (Priority Code Point) dans
l'identifiant TCI (Tag Control Identifier). Voir IEEE C37.238-2011, clause 5.6.
Outre la Priorit VLAN, le rapport de test donne des informations sur le profil, le
domaine et VLAN ID. Puisque ces paramtres PTP sont prdfinis et qu'ils ne
sont pas modifiables, ils ne s'affichent pas ici.
L'heure de dmarrage du test et la priode de trigger sont dfinies dans Source
de temps dans l'onglet Accueil.
L'utilisation d'un CMGPS 588 exige un ensemble de test CMC quip d'une
carte NET-1B. Par dfaut, les CMC 850 et CMC 353 possdent une telle carte
NET-1B ; les CMC 356, CMC 256plus et CMC 256-6 peuvent tre mis niveau.
Pour en savoir plus sur la carte NET-1B, consultez le manuel de l'ensemble de
test CMC appropri.

Trigger via PTPv2


Connectez une source de temps PTPv2
adapte l'un des ports PoE ETH1 ou
ETH2 en face arrire de l'ensemble de
test CMC. Le trigger est gnr partir
des impulsions mises par cette source
de temps.

92

Configuration du matriel de test

L'ensemble de test CMC synchronise son horloge interne sur la source de


temps PTPv2, et gnre les signaux de trigger en fonction de cette horloge
interne.
Paramtres PTP

Profil:
A l'heure actuelle, Test Universe prend uniquement en charge le profil de
puissance tel qu'il est dfini dans la norme IEEE C37.238-2011. C'est
pourquoi ce champ est pour l'instant uniquement un champ d'information
lecture seule.

Domaine :
Tous les quipements PTP censs se synchroniser les uns sur les autres
doivent utiliser le mme numro de domaine.

VLAN ID:
Le profil de puissance exige une balise VLAN IEEE 802.1Q. Cette valeur
(0 ... 4095) reprsente le champ (12 bits) VID (VLAN Identifier) dans
l'identifiant TCI (Tag Control Identifier). Voir "VlanId" dans IEEE C37.2382011.

Priorit VLAN :
Le profil de puissance exige une balise VLAN IEEE 802.1Q. Cette valeur
(0 ... 7) reprsente le champ (3 bits) PCP (Priority Code Point) dans
l'identifiant TCI (Tag Control Identifier). Voir IEEE C37.238-2011, clause 5.6.

L'heure de dmarrage du test et la priode de trigger sont dfinies dans l'onglet


Trigger l'onglet Accueil.
L'utilisation du protocole PTP exige un ensemble de test CMC quip d'une
carte NET-1B. Par dfaut, les CMC 850 et CMC 353 possdent une telle carte
NET-1B ; les CMC 356, CMC 256plus et CMC 256-6 peuvent tre mis niveau.
Pour en savoir plus sur la carte NET-1B, consultez le manuel de l'ensemble de
test CMC appropri.

Trigger via IRIG-B l'aide d'un CMIRIG-B


L'ensemble de test CMC fonctionne comme
rcepteur IRIG-B. Un gnrateur IRIG-B (un
produit tiers, par exemple une horloge de
synchronisation de satellite) est connect
l'entre Interface externe des ensembles de
test CMC via un CMIRIG-B. Le gnrateur
IRIG-B est connect IRIG-B/PPS IN,
l'quipement tester PPX OUT, l'ensemble
de test CMC CMC.

93

OMICRON Test Universe

Le trigger est gnr partir de la rfrence de temps IRIG-B reue. La


squence des impulsions PPX OUT est synchronise sur l'entre IRIG-B/
PPS IN du CMIRIG-B.
Pour l'option Test uniquement si synchronis sur base de temps ext.
page 98.
L'heure de dmarrage du test et la priode de trigger sont dfinies dans Source
de temps dans l'onglet Accueil.
Vous trouverez des informations lmentaires sur la norme des codes de temps
IRIG dans la rubrique d'aide correspondante de Test Universe . Lancez l'aide
partir de l'cran de dmarrage de Test Universe ou du module de test avec
lequel vous travaillez actuellement, cliquez sur l'entre --- Synchronisation
des ensembles de test CMC --- dans la table des matires et naviguez jusqu'
la rubrique Utilisation de la rfrence de temps IRIG-B pour synchroniser
des ensembles de test CMC > Informations sommaires sur la norme des
codes de temps IRIG.
Pour avoir des informations compltes sur IRIG-B et son paramtrage, reportezvous la norme IRIG rvision 200-04.
Pour en savoir plus sur le CMIRIG-B, consultez le manuel du CMIRIG-B.

Gnrateur IRIG-B suivant matre l'aide d'un CMIRIG-B


L'ensemble de test CMC fonctionne comme un
gnrateur IRIG-B et fournit la rfrence de
temps gnre au CMIRIG-B, l'entre CMC.
A la sortie IRIG-B OUT du CMIRIG-B, la
rfrence de temps est disponible pour
l'quipement tester (par exemple, un appareil
de mesure de synchrophaseur - phasor
measurement unit)
La squence des impulsions en PPX OUT (fixe 1 impulsion par seconde) est
synchronise sur la base de temps interne du CMC.
Le fonctionnement de l'ensemble de test CMC comme gnrateur IRIG-B a pour
effet d'activer la section Paramtres IRIG-B, droite.
Vous trouverez des informations lmentaires sur la norme des codes de temps
IRIG dans la rubrique d'aide correspondante de Test Universe . Lancez l'aide
partir de l'cran de dmarrage de Test Universe ou du module de test avec
lequel vous travaillez actuellement, cliquez sur l'entre --- Synchronisation
des ensembles de test CMC --- dans la table des matires et naviguez jusqu'
la rubrique Utilisation de la rfrence de temps IRIG-B pour synchroniser
des ensembles de test CMC > Informations sommaires sur la norme des
codes de temps IRIG.

94

Configuration du matriel de test

Pour avoir des informations compltes sur IRIG-B et son paramtrage, reportezvous la norme IRIG rvision 200-04.
Pour en savoir plus sur le CMIRIG-B, consultez le manuel du CMIRIG-B.

Gnrateur IRIG-B suivant PPS l'aide d'un CMIRIG-B


L'ensemble de test CMC fonctionne comme un
gnrateur IRIG-B suivant une squence
d'impulsions externes (1 impulsion par
seconde) injectes l'entre IRIG-B/PPS IN.
Le CMC fournit sa rfrence de temps gnre
au CMIRIG-B, l'entre CMC. A la sortie
IRIG-B OUT du CMIRIG-B, la rfrence de
temps est disponible pour l'quipement
tester.
La squence des impulsions en PPX OUT (fixe 1 impulsion par seconde) est
synchronise sur la squence des impulsions externes.
L'heure de dmarrage absolue de la sortie IRIG-B est gnre partir de
Paramtres de source IRIG-B, droite de l'illustration. Le CMC se dclenche
sur une squence PPX.
Pour l'option Test uniquement si synchronis sur base de temps ext.
page 98.

Gnrateur IRIG-B suivant GPS l'aide d'un CMIRIG-B et d'un


CMGPS
L'ensemble de test CMC fonctionne
comme gnrateur IRIG-B suivant une
squence d'impulsions de 1 pps
provenant d'une unit de synchronisation
CMGPS, injecte l'entre CMGPS. Le
CMC fournit sa rfrence de temps
gnre au CMIRIG-B, l'entre CMC.
A la sortie IRIG-B OUT du CMIRIG-B, la
rfrence de temps est disponible pour l'quipement tester.
La squence des impulsions en PPX OUT (fixe 1 impulsion par seconde) est
synchronise sur la squence des impulsions de 1 pps provenant de l'unit de
synchronisation CMGPS.
L'heure de dmarrage absolue de la sortie du CMIRIG-B est gnre partir de
Paramtres de source IRIG-B, droite de l'illustration. Le CMC se dclenche
sur une squence PPX.

95

OMICRON Test Universe

Si vous utilisez le CMIRIG-B en association avec l'unit de synchronisation


CMGPS, vrifiez que l'unit d'alimentation lectrique 100 - 240 VAC/18 VDC
est connecte l'unit CMGPS. Dans le cas contraire, Test Universe ne +peut
dtecter l'unit CMGPS.

Gnrateur IRIG-B suivant GPS l'aide d'un CMIRIG-B et d'un


CMGPS 588
L'ensemble de test CMC fonctionne
comme gnrateur IRIG-B suivant une
squence d'impulsions de 1 pps
provenant d'une unit de synchronisation
CMGPS 588, injecte dans le port
Ethernet ETH1 ou ETH2 de l'ensemble de
test. Le CMC fournit sa rfrence de
temps gnre au CMIRIG-B, l'entre
CMC. A la sortie IRIG-B OUT du CMIRIG-B, la rfrence de temps est
disponible pour l'quipement tester.
IRIG-B et son paramtrage sont traits de manire exhaustive dans la norme
IRIG rvision 200-04. Pour les paramtres PTP, consultez l'option Trigger via
PTPv2 ci-dessus.
Le protocole PTP exige un ensemble de test CMC quip d'une carte NET-1B.
Par dfaut, les CMC 850 et CMC 353 possdent une telle carte NET-1B ; les
CMC 356, CMC 256plus et CMC 256-6 peuvent tre mis niveau.
Pour en savoir plus sur la carte NET-1B, consultez le manuel de l'ensemble de
test CMC appropri.

Gnrateur IRIG-B suivant PTPv2 l'aide d'un CMIRIG-B


L'ensemble de test CMC fonctionne
comme gnrateur IRIG-B suivant une
squence d'impulsions de 1 pps
provenant d'une source de temps PTPv2,
injecte dans le port Ethernet ETH1 ou
ETH2 de l'ensemble de test. Le CMC
fournit sa rfrence de temps gnre au
CMIRIG-B, l'entre CMC. A la sortie
IRIG-B OUT du CMIRIG-B, la rfrence de temps est disponible pour
l'quipement tester.
IRIG-B et son paramtrage sont traits de manire exhaustive dans la norme
IRIG rvision 200-04. Pour les paramtres PTP, consultez l'option Trigger via
PTPv2 ci-dessus.

96

Configuration du matriel de test

Le protocole PTP exige un ensemble de test CMC quip d'une carte NET-1B.
Par dfaut, les CMC 850 et CMC 353 possdent une telle carte NET-1B ; les
CMC 356, CMC 256plus et CMC 256-6 peuvent tre mis niveau.
Pour en savoir plus sur la carte NET-1B, consultez le manuel de l'ensemble de
test CMC appropri.

Horodatage via NTP l'aide du client NTP dans CMC


Le protocole Network Time Protocol
(NTP ; un protocole de rseau pour la
synchronisation des horloges entre les
systmes informatiques sur le rseau) est
une application client/serveur. Chaque
station de travail, routeur, serveur ou
ensemble de test CMC connect au
rseau informatique doit tre quip d'un
logiciel client NTP afin de pouvoir synchroniser son horloge sur le serveur
temporel du rseau. L'ensemble de test CMC fonctionne comme client NTP.
Cela signifie que la source de temps du CMC est le serveur temporel du rseau.
Dans la plupart des cas, le logiciel client NTP rside dj dans le systme
d'exploitation de chaque quipement du rseau informatique. Pour un ensemble
de test CMC, le logiciel client est le firmware du CMC.
Remarque : Client NTP ne possde pas la fonctionnalit de trigger qui permet
de lancer une opration synchronise de deux ensembles de test CMC ou plus.

Client monodiffusion
Client monodiffusion est le paramtre par dfaut. La transmission en
monodiffusion, encore la forme prdominante de transmission sur les
rseaux locaux et sur Internet, dsigne une communication d'un point un
autre sur le rseau informatique. Pour une telle communication, il existe un
expditeur, le Serveur temporel de rseau (adresse IP ou nom de domaine),
et un rcepteur, l'ensemble de test CMC. La Frquence de
rafrachissement dfinit les intervalles auxquels les donnes de temps sont
transmises partir du serveur temporel de rseau.

Client diffusion
La transmission en diffusion dsigne une communication d'un point tous
les autres points du rseau informatique. Pour une telle communication, il
existe un expditeur (le serveur temporel de rseau) et ses informations sont
transmises tous les rcepteurs connects (clients).

97

OMICRON Test Universe

Client multidiffusion
La transmission en multidiffusion dsigne une communication dans le cadre
de laquelle les informations sont transmises par un ou plusieurs points un
ensemble d'autres points. Dans une telle communication, il peut y avoir
plusieurs expditeurs, et les informations sont distribues un ensemble de
rcepteurs (il peut y en avoir un certain nombre ou aucun)
La transmission en multidiffusion IP assure une connexion dynamique
permettant un ensemble d'expditeurs (au moins 1) de dlivrer
simultanment des paquets de donnes un groupe de clients.
Contrairement la transmission en diffusion, qui est surtout utilise sur les
rseaux locaux, les clients multidiffusion reoivent un flux de paquets
uniquement s'ils ont choisi au pralable de rejoindre le groupe multidiffusion
spcifique Adresse.
L'adhsion un groupe est dynamique et contrle par les rcepteurs, qui
leur tour en informent les applications clients locales. Dans un rseau
multidiffusion, les routeurs dcouvrent les sous-rseaux qui ont des clients
actifs pour chaque groupe multidiffusion et tentent de minimiser la
transmission de paquets vers les parties du rseau qui ne possdent pas de
clients actifs.

Le protocole NTP exige un ensemble de test CMC quip de la carte NET-1 ou


NET-1B. Le CMC 356, CMC 256plus et le CMC 256-6 avec l'option NET-1
possdent une carte NET-1, le CMC 850 et le CMC 353 une carte NET-1B par
dfaut. Un CMC 256-6 standard (carte Interface hte avec port parallle) ou un
CMC 256plus avec l'option PAR-1 ne prend pas en charge le protocole NTP.
Pour en savoir plus sur la carte NET-1(B), consultez le manuel de l'ensemble de
test CMC appropri.

L'option "Test uniquement si synchronis sur base de temps


ext."
Cette option s'applique la fonctionnalit PermaSync TM ( Synchronisation
sur une base de temps externe - GPS, PTP, IRIG-B, PermaSync la section
6.1 page 145) et elle est disponible pour les configurations Trigger via IRIG-B
l'aide d'un CMIRIG-B, Gnrateur IRIG-B suivant PPS l'aide d'un
CMIRIG-B et Gnrateur IRIG-B suivant GPS l'aide d'un CMIRIG-B et d'un
CMGPS ; autrement dit, pour les configurations qui utilisent une rfrence de
temps externe pour synchroniser la base de temps interne de l'ensemble de test
CMC. Par consquent, cela ncessite l'utilisation d'un ensemble de test
CMC 256 quip de l'option NET-1, d'un ensemble de test CMC 256plus en
version standard avec ports Ethernet (sans l'option PAR-1), d'un ensemble de
test CMC 353, CMC 356 ou CMC 850.

98

Configuration du matriel de test

La fonctionnalit PermaSyncTM maintient l'horloge d'chantillonnage des sorties


du CMC en synchronisation permanente avec une source de temps externe,
vitant ainsi toute drive de phase entre les units CMC oprant en parallle
(ex. pour les tests de PMU dcentraliss).
De plus, l'activation de l'option Test uniquement si synchronis sur base de
temps ext. exige l'utilisation d'une "Configuration du matriel locale" propre
au module de test. Dans une "Configuration du matriel globale", autrement
dit une Configuration du matriel dont les paramtres spcifis s'appliquent
tous les modules de test suivants de l'ensemble d'un document Control Center,
cette option n'est pas disponible.
Vous trouverez des informations complmentaires sur la distinction entre une
Configuration du matriel "globale" et "locale" au chapitre 4.1.1 Quest-ce
que la Configuration du matriel ? page 46 et dans les chapitres suivants.

Slectionnez l'option Test uniquement si synchronis sur base de temps


ext. pour dmarrer le test seulement si l'ensemble de test CMC est en
mesure de se synchroniser sur la rfrence de temps IRIG-B externe. Si
cette synchronisation ne peut pas avoir lieu, le test ne dmarrera pas.

Dslectionnez cette option pour ne soumettre le dmarrage du test


aucune condition. Si l'ensemble de test CMC n'est pas en mesure de se
synchroniser sur la rfrence de temps IRIG-B externe, le test dmarrera
avec la base de temps interne de l'ensemble de test CMC comme rfrence,
contournant les impulsions PPS externes.

Qu'est-ce qui empche un ensemble de test CMC de se synchroniser sur


une source PPS externe ?
La synchronisation d'un ensemble de test CMC n'a manifestement de sens que
si la source de la synchronisation, autrement dit la base de temps externe, est
extrmement prcise. Le logiciel Test Universe (ou plus prcisment le
composant CMEngine) contrle cette prcision, et si la base de temps externe
prsente un dcalage dpassant 10 ppm ou une instabilit de 2 ppm, le signal
est jug inadquat. L'ensemble de test CMC indiquera alors "non synchronis
sur source externe", et si l'option Test uniquement si synchronis sur base
de temps externe est slectionne, le test ne dmarrera pas.
La barre d'tat du module de test comporte une icne qui indique si le CMC est
synchronis ou non sur la base de temps externe (
= CMC synchronis sur
base de temps externe ;
= CMC non synchronis sur base de temps
externe). Placez le curseur de la souris au-dessus de cette icne pendant une
seconde environ ; l'infobulle affiche le dcalage moyen et l'instabilit maximum
en ppm.

99

OMICRON Test Universe

De plus, aussi bien l'valuation de la qualit que l'tat de la synchronisation


(CMC synchronis/non synchronis) sont enregistrs dans le fichier journal de
CMEngine - un fichier d'extension .log et dont le nom et le chemin d'accs sont
crs par l'utilisateur.
En outre, une fois qu'un test est excut, son rapport prsentera une entre
indiquant si le test a t excut en tant synchronis sur la base de temps
externe, quel que soit le paramtrage rel de l'option Test uniquement si
synchronis sur base de temps externe.
La premire valuation du signal PPS, dans le cas o l'ensemble de test CMC
n'est pas encore synchronis, peut prendre jusqu' 11 secondes. Lorsque
l'une des configurations rpertories ci-dessus est slectionne, cette phase
d'valuation dmarre au moment o la Configuration du matriel est ferme
en cliquant sur le bouton OK.
Lorsque les ensembles de test CMC sont connects via Ethernet et contrls
par des flux de donnes appels "Valeurs chantillonnes", ces flux peuvent
galement tre synchroniss. Certaines restrictions s'appliquent nanmoins.
Pour en savoir plus sur ces restrictions, consultez l'aide de la Configuration du
matriel. Lancez l'aide, cliquez sur l'entre --- Configuration du matriel --dans la table des matires et naviguez jusqu' la rubrique Onglet Source de
temps > Synchronisation lorsque des valeurs chantillonnes sont
utilises.

Format de tlgramme
Le champ "Format tlgramme" indique le format de code de temps configur
que l'ensemble de test CMC gnrera sur la base de la "Modulation" et des
"Expressions codes" slectionnes. Test Universe prend en charge les formats
de tlgramme IRIG-B B00x et B20x, pour lesquels B indique le type de format
(B = IRIG-B) ; le deuxime chiffre la technique de modulation (voir ci-dessous) ;
le troisime chiffre le nombre d'impulsions inclus dans le message (frquence/
rsolution) et le quatrime (x) les expressions codes.
Le format de code de temps B a une tranche de temps de 1 seconde avec un
intervalle de comptage de 10 millisecondes (100 pps) et contient les donnes
suivantes : date exacte et anne dans un format BCD, et secondes du jour en
binaire pur SBS (straight binary seconds) ; Expressions codes ci-dessous.
Dans le cas du format de code de temps IRIG-B gnr par CMC, le troisime
chiffre du tlgramme est toujours 0, ce qui signifie "pas de porteuse/d'intervalle
de comptage".
Pour des informations plus dtailles, consultez la publication IRIG SERIAL
TIME CODE FORMATS (Formats des codes de temps srie de l'IRIG)
l'adresse url suivante : https://wsmrc2vger.wsmr.army.mil/rcc/manuals/20004/index.html.

100

Configuration du matriel de test

Modulation
Technique de modulation, 2me chiffre du format de tlgramme :

PWM / DC level shift ; format de tlgramme B00x (modulation d'impulsions


en dure)

Manchester II = modulation Manchester modifie ; format de tlgramme


B20x.

Expressions codes
4me chiffre du format de tlgramme :
0

BCDTOY, CF, SBS

BCDTOY, CF

BCDTOY

BCDTOY, SBS

BCDTOY, BCDYEAR, CF, SBS

BCDTOY, BCDYEAR, CF

BCDTOY, BCDYEAR

BCDTOY, BCDYEAR, SBS

Les paramtres dfinis ici (individuellement ou collectivement) donnent le code


de temps 74 bits qui contient 30 bits d'informations BCD sur la date exacte
(TOY) (jours, heures, minutes et secondes), 17 bits de secondes du jour en
binaire pur (SBS), 9 bits pour l'information sur l'anne (YEAR) et 18 bits pour les
fonctions de contrle (expressions codes).
Fonctions de contrle : Tous les formats de code de temps rservent un jeu de
bits connus sous l'appellation "fonctions de contrle" (CF) pour le codage des
diverses fonctions de contrle, d'identification et autres fonctions spciales. Les
bits de contrle peuvent tre programms dans n'importe quel systme de
codage prdtermin. Pour le format B, 18 fonctions de contrle (bits de
contrle) sont disponibles. Les fonctions de contrle sont actuellement prvues
pour l'utilisation d'une plage interne mais pas pour les applications combinant
plusieurs plages ; il n'existe donc pas de systme de codage standard.
L'inclusion des fonctions de contrle dans un format de code de temps ainsi que
le systme de codage employ sont des options individuelles dfinies par
l'utilisateur. OMICRON prend en charge les fonctions de contrle qui sont
conformes la norme IEEE C37.118.

101

OMICRON Test Universe

Exemple :
Le format de tlgramme B006 se dchiffre comme suit : Format B, modulation
d'impulsions en dure, pas de porteuse/d'intervalle de comptage, expressions
codes BCDTOY, BCDYEAR.

Sortie du code de temps IRIG-B


Pour les modes de gnrateur IRIG-B, la slection ou la dslection de l'option
Rgler date et heure au dmarrage du test soit dans la Configuration du
matriel des modules autonomes, soit dans la Configuration du matriel
locale intgre un document Control Center, distingue les deux cas suivants :
1. Si Rgler date et heure au dmarrage du test est dcoch, et que
l'ensemble de test CMC ne reoit pas de donnes de temps absolu en
provenance d'une source externe (autrement dit, il joue le rle d'une horlogemre ou il ne reoit qu'une impulsion de synchronisation de 1 pps titre de
rfrence), la date et l'heure de dmarrage sont fixes 2000-01-01
00:00:00h. Si l'ensemble de test CMC reoit des donnes de temps absolu
(autrement dit, partir d'un protocole PTP ou d'un CMGPS 588), ce temps
est utilis pour la sortie IRIG-B. Le CMC dmarre la sortie du code de temps
en format IRIG-B ds que vous cliquez sur OK, ou ds que vous cliquez sur
Annuler si Appliquer avait t cliqu auparavant.
2. Si Rgler date et heure au dmarrage du test est slectionn, la sortie
IRIG-B dmarre avec (ou est rinitialise ) la date et l'heure spcifies dans
les Paramtres de source IRIG-B (voir ci-dessous) au moment o le
module de test lance l'excution du test.

Paramtres de source IRIG-B


Les Paramtres de source IRIG-B sont pertinents uniquement dans le cas o
l'ensemble de test CMC est configur en gnrateur IRIG-B, et qu'il ne reoit
pas de donnes de temps absolu provenant d'une source externe, autrement
dit, il joue le rle d'une horloge-mre, ou il reoit uniquement une impulsion de
synchronisation de 1 pps titre de rfrence, et uniquement si Rgler date et
heure au dmarrage du test est slectionn (voir plus haut).
Dans les champs "Date TUC:" et "Heure TUC:", rglez l'heure de dmarrage
absolue du format de code de temps IRIG-B gnr par CMC.
Une fois que vous avez choisi une date et une heure, cliquez sur OK ou
Appliquer. Le CMC dmarre la sortie du code de temps en format IRIG-B avec
la date et l'heure choisies ds que vous cliquez sur OK, ou ds que vous cliquez
sur Annuler si Appliquer avait t cliqu auparavant..

102

Configuration du matriel de test

Rgler date et heure au dmarrage du test


Si vous slectionnez Rgler date et heure au dmarrage du test, le
gnrateur IRIG-B (l'ensemble de test CMC) est rgl au temps spcifi dans
"Date TUC" et "Heure TUC" l'instant o vous dmarrez un test dans le module
de test correspondant. Ce rglage s'applique chaque dmarrage individuel
d'un test autonome ou d'un module de test intgr dans un document de test
Control Center avec l'option slectionne dans sa Configuration du matriel
locale ; vous n'obtiendrez donc pas une rfrence de temps continue.
Sans cette option, la rfrence de temps IRIG-B reste inchange lorsque vous
dmarrez un test, autrement dit elle continue courir normalement.

103

OMICRON Test Universe

4.8 Matriel en option CMB IO-7


Pour modifier la configuration dun ensemble de test CMB IO-7 slectionn et
affich dans lune des listes droulantes du groupe Ensemble(s) de test dans
longlet Gnral, cliquez sur le bouton Dtails ct de la liste droulante.
Le dialogue Dtails de la configuration CMB s'ouvre. Dans ce dialogue, la
configuration de lensemble de test CMB IO-7 reprsente sous forme graphique
la face arrire du CMB avec les connecteurs des modules E/S monts.
Pour dfinir la tension AUX DC, utilisez AUX DC Configuration partir de la
section Modules de configuration de l'cran de dmarrage de Test Universe.
Figure 4-25:
Dialogue Dtails de
configuration du CMB
en mode hors ligne

Le comportement du dialogue Dtails de la configuration du CMB en mode


en ligne est diffrent de celui en mode hors ligne. Cela est expliqu dans les
chapitres suivants 4.8.1 et 4.8.2.

104

Configuration du matriel de test

4.8.1

Comportement en mode en ligne


En mode en ligne, autrement dit si le CMB IO-7 est connect au PC et sous tension, le dialogue affiche la configuration relle de lensemble de test connect.
figure 4-25:
(1)

Les listes droulantes Type de module affichent les types de modules E/


S quips. Les listes des emplacements vides sont vides et dsactives.
Les listes des emplacements occups contiennent uniquement la
dsignation du module mont cet emplacement. Il nest pas possible de
slectionner un autre type de module dans les listes droulantes.

(2)

La zone Vue arrire au milieu du dialogue montre quels emplacements


enfichables sont pourvus de modules E/S.

(3)

Les cases Module utilis de tous les modules quips sont coches.
Cela signifie que les entres et sorties de tous les modules E/S prsents
sont disponibles et affiches dans les onglets Entres binaires / analogiques et Sorties binaires. Pour diminuer le nombre dentres et/ou de
sorties disponibles, vous pouvez dsactiver chaque module physiquement
disponible en ne cochant pas la case correspondante Module utilis.

Cliquez sur OK pour appliquer la configuration slectionne.

4.8.2

Comportement en mode hors ligne


En mode hors ligne, la configuration de lensemble de test CMB IO-7 connect
la toute premire fois saffiche par dfaut. Dans ce mode, vous pouvez
configurer nimporte quelle combinaison de modules E/S pris en charge.
Les modules d'entre doivent tre installs par ordre croissant de numro
d'emplacement en commenant par l'emplacement 1 (1, 2,...) ; les modules de
sortie doivent tre installs par ordre dcroissant en commenant par
l'emplacement 7 (7, 6,...).
figure 4-25:
(1)

Dans la liste droulante Type de module de lemplacement enfichable


correspondant, slectionnez le type de module voulu ou lentre Vide .

(2)

La zone Vue arrire au milieu du dialogue montre quels emplacements


enfichables sont pourvus de modules E/S.

(3)

Avec les cases Module utilis, vous pouvez activer ou dsactiver les
entres ou les sorties de modules E/S "quips" individuels. Si la case
Module utilis d'un module E/S n'est pas slectionne, les entres ou
sorties de ce module ne sont pas affiches dans l'onglet Entres
binaires / analogiques ou l'onglet Sorties binaires.

Cliquez sur OK pour appliquer la configuration slectionne.

105

OMICRON Test Universe

106

OMICRON Control Center

5 OMICRON Control Center


OMICRON Control Center fonctionne la fois comme un gestionnaire de test,
un traitement de texte et un diteur de script. Control Center est le point de
dpart de tous les documents de test ; il enrichit ensuite chaque module de test.

5.1 Modules de test dans un document de test


Un module de test se concentre sur un domaine de test dappareils de protection
ou de mesure. Il est possible de lintgrer dans un document de test ou
lexcuter en mode autonome. Double-cliquez sur un module de test intgr
un document de test pour dmarrer lapplication de ce module de test.
Figure 5-1:
Exemple d'un document
de test Control Center
contenant plusieurs
Equipements tester
( chapitre 5.1.4),
Configurations du
matriel et modules de
test

TestDocument.occ
Equipement
tester 1
Configuration
globale du
matriel 1
Module de
test 1
Module de
test 2

Configuration locale du matriel

Configuration locale du matriel

Configuration
globale du
matriel 2
Module de
test 3

Configuration locale du matriel

Equipement
tester 2
Module de
test 4

Configuration locale du matriel

La figure 5-1 illustre un document de test OMICRON Control Center (document


.occ). Elle montre comment plusieurs modules peuvent utiliser la mme
dfinition dun quipement tester (un quipement tester global
chapitre 3.2 page 22). De mme, plusieurs modules de test peuvent utiliser
une dfinition globale de la Configuration du matriel tout en laissant la
possibilit dajuster localement la dfinition du matriel.

107

OMICRON Test Universe

Les rglages propres au test se font par linterface de lapplication particulire.


Il est possible de dmarrer le processus de test partir du module ou dans
OMICRON Control Center. Vous pouvez dfinir les actions quentreprend un
module de test aprs avoir valu les rsultats (russite/chec).

5.1.1

Plusieurs modules de test dans un seul document de


test
Lors de la cration de tests globaux complets, il est possible d'intgrer plusieurs
modules de test dans un document de test Control Center pour chaque type de
test effectuer.
Chaque fois quun module de test est intgr, vous pouvez dfinir ses proprits
de faon tester diffrents aspects et fonctions de lquipement tester.
Lintgration du mme module dans un document de test Control Center peut
tre utile, par exemple, pour tester toutes les boucles de dfaut dun quipement
tester avec des paramtres similaires (mais pas forcment identiques).

5.1.2

Insertion d'un groupe dans un document Control


Center
Dans Control Center, le "regroupement" dsigne la runion d'objets dans un
"groupe logique".
Vous regrouperez trs probablement des modules de test conscutifs qui, par
exemple, comportent des tches semblables dans une procdure de test ou des
tches qui se compltent les unes les autres. Un groupe peut nanmoins
contenir galement un autre Equipement tester ou une autre Configuration
du matriel.
Un clic de souris active/dsactive l'ensemble du groupe avec tous les objets qu'il
contient. Tout comme vous pouvez ajouter des objets individuels un groupe
par glisser/dposer dans le groupe, il est possible d'effectuer cette manipulation
sur des groupes entiers.

108

OMICRON Control Center

Un groupe de modules de test conscutifs :


Figure 5-2:
Un groupe (Groupe 1)
contenant 3 modules de
tests conscutifs
(modules de test 3 5)

TestDocument.occ
Equipement
tester
Configuration
du matriel
Module de
test 1
Module de
test 2

Groupe 1
Module de
test 3
Module de
test 4
Module de
test 5
Module de
test 6

Pour nommer/renommer un groupe, faites un clic droit sur le groupe dans le


Volet de navigation, la Vue Rapport ou la Vue Liste. Dans le menu contextuel,
cliquez sur Proprits.
Les options de menu contextuel comme couper/copier/coller peuvent
s'appliquer aussi bien des objets individuels qu' des groupes.

Cration d'un groupe


Cliquez sur Groupe dans l'onglet Insrer. Cela insre un nouveau groupe
lemplacement actuel du curseur. Si le curseur se trouve dj l'intrieur d'un
groupe, un groupe imbriqu (le sous-groupe d'un groupe) est cr.

109

OMICRON Test Universe

Groupes imbriqus :
Figure 5-3:
Groupes imbriqus

TestDocument.occ
Equipement
tester
Configuration
du matriel
Module de
test 1
Module de
test 2
Groupe 1
Module de
test 3

Groupe 1-1
Module de
test 4
Module de
test 5
Module de
test 6
Module de
test 7
Module de
test 8

Renommez un groupe tout comme n'importe quel objet d'un document de test
Control Center, comme suit : Dans le Volet de navigation ou la Vue Liste,
faites un clic droit sur le nom du groupe, puis cliquez sur Proprits dans le
menu contextuel. Pour ajouter des objets un groupe, utilisez la mthode
glisser-dposer, les options couper/copier/coller du menu contextuel ou l'onglet
Insrer. Ces oprations fonctionnent dans le Volet de navigation, la Vue Liste
et la Vue Rapport. Dans la Vue Rapport, le dbut et la fin d'un groupe sont
indiqus par des pointills contenant le nom du groupe au dbut et la fin.

110

OMICRON Control Center

Objets actifs/inactifs
L'objet d'un groupe peut tre rendu actif ou inactif en slectionnant ou en
dslectionnant la case cocher qui se trouve ct de cet objet. Cette case
cocher peut galement tre applique un groupe entier.
Les lments dfinis comme "inactifs" dans la Vue Liste sont, par dfaut,
supprims de l'impression. Si un groupe entier est "inactif", le texte crit
l'intrieur du groupe est aussi supprim de l'impression. Pour modifier la
suppression des lments inactifs, cliquez sur l'option Options de test dans
l'onglet Accueil, et slectionnez l'option Imprimer modules inactifs dans
l'onglet Test global.

Slection de plusieurs objets


Les menus contextuels disponibles dans la Vue Liste et le Volet de navigation
proposent des options comme couper/copier/coller/supprimer etc. qui peuvent
s'appliquer tous les objets slectionns l'intrieur d'un groupe. Pour
slectionner plusieurs objets la fois, maintenez la touche <Maj> enfonce et
cliquez sur les objets slectionner les uns aprs les autres ou slectionnez un
ensemble d'objets avec les flches haut/bas ( / ).

Equipements tester ou Configurations du matriel


supplmentaires dans les groupes
La plupart des documents de test contiennent exactement un Equipement
tester et une Configuration du matriel, et leurs paramtres s'appliquent
globalement tous les modules de test intgrs au document de test.
L'utilisation d'Equipements tester et/ou de Configurations du matriel
supplmentaires dans les groupes requiert une certaine prudence et quelques
points mritent de retenir l'attention.
L'affectation d'un Equipement tester et d'une Configuration du matriel
dans les modules de test est une opration relativement logique et simple dans
les exemples 1 et 2. L'exemple 3 illustre l'addition d'un autre Equipement
tester dans un groupe et l'affectation de la configuration qui en rsulte.

111

OMICRON Test Universe

Exemple 1 - Equipement tester global et Configuration du matriel :


Figure 5-4:
Exemple 1 quipement tester
global et Configuration
du matriel

TestDocument.occ
Equipement
tester
Configuration
du matriel
Module de
test 1
Module de
test 2

Les premiers objets du document de test sont


l'Equipement tester et la Configuration du
matriel. Il ne reste plus d'objets conscutifs
Equipement tester ou Configuration du matriel,
autrement dit, les deux premiers objets servent de
conteneurs de donnes tous les modules de test,
y compris de ceux du "Groupe 1".

Groupe 1
Module de
test 3
Module de
test 4
Module de
test 5
Module de
test 6

Exemple 2 - Configuration du matriel globale avec diffrents


Equipements tester :
Figure 5-5:
Exemple 2 Configuration du
matriel globale avec
diffrents quipements
tester

TestDocument.occ
Equipement

L'Equipement tester 1 sert de conteneur


global de donnes aux modules de test 1 et
2 qui suivent. Puis un nouvel Equipement
tester suit - Equipement tester 2.

L'Equipement tester 2 sert de conteneur


global de donnes aux modules de test 3, 4
et 5 qui suivent.

Il n'existe qu'une seule Configuration du


matriel dans ce document de test ; elle
sert donc d'objet global de Configuration
du matriel tous les modules de test.

Configuration
matrielle
Module de
test 1
Module de
test 2
Equipement
Module de
test 3
Module de
test 4
Module de
test 5

112

OMICRON Control Center

Exemple 3 - Addition d'un quipement tester dans un groupe :


Figure 5-6:
Exemple 3 - Addition
d'un Equipement
tester dans un groupe

TestDocument.occ

L'Equipement tester 1 sert de


conteneur global de donnes aux
modules de test 1 et 2 qui suivent. Le
premier module de test du Groupe 1, le
module de test 3, se rfre
l'Equipement tester prcdent, qui est
encore l'Equipement tester 1.
"L'ouverture" d'un groupe n'interrompt
pas la liaison l'Equipement tester et
la Configuration du matriel
prcdents.

Puis un nouvel Equipement tester suit


dans le Groupe 1 - Equipement tester
2. L'Equipement tester 2 interrompt la
liaison l'Equipement tester
prcdent et sert dsormais d'objet de
configuration locale au module de test 4
suivant.

Par contre, le module de test 5 se rfre


toujours l'Equipement tester 1 car il
ne fait pas partie du Groupe 1.

Equipement
tester
Configuration
du matriel
Module de
test 1
Module de
test 2

Groupe 1
Module de
test 3
Equipement
tester 2
Module de
test 4
Module de
test 5

Il n'existe qu'une seule Configuration du matriel dans ce document de


test ; elle sert donc de Configuration du matriel globale tous les
modules de test 1 5.

De telles imbrications d'Equipement tester ou de Configuration du matriel


peuvent s'avrer trs utiles dans certaines applications. Cependant, il est
gnralement conseill d'viter d'ajouter un Equipement tester et/ou une
Configuration du matriel des groupes. Pour viter toute confusion, nous
vous conseillons de vous limiter ajouter des modules de test aux groupes.

113

OMICRON Test Universe

5.1.3

Lier XRIO (LinkToXRIO) pour l'indicateur "Activer"


Il est non seulement possible de lier des valeurs individuelles d'un module de
test (courant, tension, dphasage, frquence...) des paramtres d'un
quipement tester global ou local via la fonction Lier XRIO (LinkToXRIO).
Mais on peut aussi lier l'indicateur "activer" d'un module de test ou d'un "groupe"
(dfini dans la Vue Liste ou le Volet de navigation de la Vue Rapport du
Control Center) au paramtre d'un Equipement tester. Ainsi, le contrle de
l'tat marche/arrt des modules de test, ou de groupes de modules de test, qui
sont intgrs un document Control Center peut s'effectuer directement par un
paramtre d'Equipement tester.
Pour contrler l'indicateur "activer" via LinkToXRIO, il faut que les modules de
test ou les groupes de modules de test correspondants soient rattachs un
Equipement tester global ; autrement dit un Equipement tester intgr
un document Control Center. Sinon le lien via LinkToXRIO est impossible. Le
lien de l'indicateur "activer" est uniquement possible via un paramtre de type
"boolen", c--d. un paramtre dont la valeur peut tre "vrai" ou "faux".

Lien de l'indicateur "activer" un paramtre de contrle


1. Ouvrez un document Control Center de votre choix ou crez-en un nouveau.
2. Allez dans le Control Center, dans la Vue Liste ou le Volet de navigation
de la Vue Rapport. Sur les deux vues, vous pouvez activer ou dsactiver
des modules de test et des groupes.
3. Pour lier un module de test ou un groupe l'un des paramtres
d'Equipement tester, faites un clic droit dans la Vue Liste ou la Vue
Rapport, et cliquez sur Lier XRIO (LinkToXRIO) dans le menu contextuel.
4. Le dialogue Lier XRIO (LinkToXRIO) prsente tous les paramtres
boolens appartenant l'Equipement tester associ. Naviguez dans
l'arborescence jusqu'au paramtre de votre choix. Cliquez sur OK pour
tablir le lien. Le dialogue Lier XRIO (LinkToXRIO) se ferme. Le symbole
du module de test/groupe se transforme en
si le paramtre boolen
auquel il est li est vrai ("activ"), ou en
s'il est faux ("non activ").
Remarque importante :
Dans une arborescence de groupes ou de modules de test, seul un lment
d'une branche (un groupe ou un module de test) peut avoir un lien, c--d.
chacune de ces branches peut avoir 0 ou au maximum 1 module de test ou
groupe qui est li.
Dans une structure hirarchique dans laquelle un module de test est li, le
groupe qui contient ce module de test ne peut pas comporter un autre lien ;
il sera verrouill. Cette rgle s'explique par le fait qu'il est impossible d'avoir
deux valeurs d'activation diffrentes sur la mme branche.

114

OMICRON Control Center

La mme rgle s'applique si le groupe est li : les modules de test ou les


sous-groupes de ce groupe li ne peuvent pas comporter d'autres liens ; ils
sont verrouills.
Pour tous les lments verrouills d'une branche, l'option Lier XRIO
(LinkToXRIO) est dsactive. Cela est signal par le symbole
(ou ).
Les symboles et leur signification :
Active
Inactif
Partiellement actif, autrement dit un groupe qui possde des lments qui
sont actifs et inactifs.
Lier XRIO (LinkToXRIO) un paramtre de contrle "Valeur = Vrai"
(activ)
Lier XRIO (LinkToXRIO) un paramtre de contrle "Valeur = Faux"
(dsactiv)
Verrouill actif, autrement dit un groupe avec des lments actifs ou un
module de test actif verrouill par un lien sur la branche.
Verrouill inactif, autrement dit un groupe avec des lments inactifs ou
un module de test inactif verrouill par un lien sur la branche.
Verrouill partiellement actif, autrement dit un groupe verrouill par un
lien sur la branche. Le groupe comprend la fois des lments actifs et
des lments inactifs.
Lier XRIO (LinkToXRIO) actif non valide
Lier XRIO (LinkToXRIO) inactif non valide
Pour modifier un lien, faites un clic droit sur le module de test ou le groupe
correspondant et cliquez sur Lier XRIO (LinkToXRIO)... dans le menu
contextuel.
Pour supprimer le lien, cliquez sur Supprimer le lien dans le menu contextuel.
Si vous placez le curseur au-dessus d'un lien LinkToXRIO tabli, une infobulle
affiche le nom du paramtre et son chemin d'accs. Cette infobulle distingue le
mode absolu et le mode relatif.

115

OMICRON Test Universe

Erreurs de lien
Chaque module de test ou groupe li est rattach un Equipement tester
global particulier. Sinon le lien via LinkToXRIO est impossible.
L'opration consistant dplacer ou copier des lments lis, se trouvant en
dehors de la porte de l'Equipement tester qui leur est associ, et les
amener dans la porte d'un autre Equipement tester se traduira par une
tentative de r-affectation des liens ce nouvel Equipement tester. Si les
paramtres lier se trouvent dans le nouvel Equipement tester, le lien est raffect, et la valeur est mise jour. Si les paramtres lier ne se trouvent pas
dans le nouvel Equipement tester, ou si l'Equipement tester associ est
introuvable, les liens ne seront pas activs.
La mme rgle s'applique lorsque les Equipements tester sont insrs,
dplacs, copis ou supprims. Si possible, les liens qui appartiennent cet
Equipement tester seront mis jour comme expliqu plus haut. Sinon, ils ne
seront pas activs.
L'indicateur d'erreur de lien, un symbole
(ou ), conserve le symbole d'tat
actif/inactif mais indique un lien non valide en passant au rouge.
La mme indication d'erreur de lien apparat si, par exemple, le paramtre de
contrle li est supprim par inadvertance de l'Equipement tester associ, ou
si tout l'Equipement tester est supprim. Ces deux actions rsultent en des
liens rompus.
La barre d'tat ainsi que la fentre Historiqueaffichent les messages dcrivant
l'erreur. De plus, une infobulle affiche un message "Lien non valide" avec des
informations additionnelles.

5.1.4

Plusieurs quipements tester dans un seul


document de test
Un document de test Control Center ne se limite pas un seul Equipement
tester. Cependant, avec l'introduction de XRIO dans Test Universe 2.0,
l'insertion de plusieurs Equipements tester dans un document Control Center
a perdu de son importance.
Les paramtres de lEquipement tester se dfinissent une seule fois un
emplacement central de Test Universe, savoir Equipement tester, qui peut
contenir plusieurs blocs fonctionnels.
Pour plus d'informations 3.4 Paramtres de l'quipement tester page 30
et 3.3 XRIO page 27.
La fonctionnalit d'insertion de plusieurs Equipements tester dans un
document Control Center existe encore, mais uniquement pour des raisons de
compatibilit descendante.

116

OMICRON Control Center

5.1.5

Plusieurs configurations de matriel dans un seul


document de test
Un document de test Control Center ne se limite pas une seule Configuration
du matriel. Alors que plusieurs modules de test peuvent utiliser une
Configuration du matriel globale, les tests exigent parfois de refaire le
cblage vers le module de test ou un autre matriel de test. Une nouvelle
Configuration du matriel est donc ncessaire. Pour cela, il est possible de
suspendre prcisment en ce point lexcution du document de test.
La figure 5-1 page 107 montre un exemple de document de test avec plusieurs
Configurations du matriel. On pourra trouver davantage de renseignements
sur la Configuration du matriel au chapitre 4 Configuration du matriel de
test page 45.

5.1.6

Insertion de champs dans un document Control


Center
Un champ est une variable, un paramtre substituable, reprsentant certaines
informations comme la date du jour, un nom ou un chemin d'accs, une heure
ou le nombre de pages d'un document, etc.. Un tel paramtre substituable peut
tre insr dans le document Control Center ; il sera ultrieurement
automatiquement mis jour et rempli par son contenu.
Insertion d'un champ :
1. Pour insrer un champ dans un document Control Center l'emplacement
du curseur, cliquez sur Champ dans l'onglet Insrer.
2. Le dialogue Insrer champ donne la liste de tous les champs disponibles.
Lorsqu'il existe plusieurs formats pour un champ, par exemple pour les
dates, une liste supplmentaire prsente les diffrents formats disponibles.
Slectionnez le format souhait et cliquez sur OK.
Si vous slectionnez Noms de champs dans l'onglet Affichage, le nom rel du
champ et les paramtres substituables qu'il contient sont affichs, par exemple
" {Date de cration /M/j/aaaa}". Sinon, seul le "contenu" du champ apparat ;
c'est--dire, par exemple, la date de cration du document, un nom ou un
chemin d'accs, une heure ou le nombre de pages du document, ou encore une
entre correspondante provenant des Proprits du document l'onglet
Rsum . Sil nexiste pas dentre pour ce champ particulier dans le dialogue
Proprits du document, "n/a" ("not available" - non disponible) saffiche.

117

OMICRON Test Universe

5.1.7

Insertion d'objets dans un document Control Center


Dans ce contexte, un "objet" est un document non-OMICRON cr par une
application installe sur votre ordinateur, telles que MS Office, Bloc-Notes, un
diteur d'image comme Adobe Photoshop, etc..
Le dialogue Insrer objet rpertorie tous les types d'objets OLE1 disponibles
sur votre ordinateur. Vous pouvez insrer l'emplacement actuel du curseur
n'importe lequel de ces objets dans votre document Control Center.
Slectionnez l'option Crer nouveau puis le type d'objet de votre choix, pour
insrer l'objet en question dans un document vierge.
Slectionnez l'option Crer partir du fichier pour rechercher un document de
test que vous avez dj cr et enregistr au pralable.
La slection de Crer partir du fichier propose l'option Lier. Si l'objet
incorpor est li, votre document Control Center sera automatiquement mis
jour chaque fois que l'objet li est modifi en dehors du document Control
Center avec l'application concerne.
Slectionnez Afficher en tant qu'icne si vous prfrez que l'objet soit
reprsent par l'icne par dfaut de votre systme pour l'application de cet objet
plutt que par une vue miniature de l'objet. Double-cliquez sur l'icne de l'objet
ou sur la vue miniature pour lancer l'application par dfaut qui est utilise sur
votre ordinateur pour ouvrir ce type d'objet, par exemple DOCX = MS Word,
.TXT = Bloc-Notes, .JPG = votre diteur d'image par dfaut, .PDF = votre lecteur
PDF par dfaut, etc..
Faites un clic droit sur un objet de votre choix pour ouvrir un menu contextuel li
l'objet.

1. OLE = Object Linking and Embedding (liaison et incorporation d'objets) OLE est une technologie
mise au point par Microsoft qui permet l'incorporation de documents et autres objets et la liaison
des documents et objets.

118

OMICRON Control Center

5.2 Rapports de test


Control Center gnre automatiquement un rapport une fois qu'un document de
test Control Center est excut.
OMICRON fournit un modle de rapport de test qui est automatiquement install
avec le logiciel Test Universe. Ce modle contient deux formulaires de rapports
prdfinis : un "Format Court" et un "Format Long". Ces deux formulaires
diffrent par le nombre de blocs et dlments slectionns affichs dans le
rapport final.
Control Center gnre son rapport de test avec les paramtres du formulaire
slectionn. Si un formulaire ne correspond pas vos besoins, vous pouvez le
personnaliser. En outre, vous pouvez ajouter de nouveaux formulaires et effacer
ceux qui ne sont plus utiliss.
Cliquez sur Paramtres rapport dans l'onglet Accueil pour dfinir le modle
que votre rapport de test utilisera. Cliquez sur OK pour utiliser le formulaire
slectionn, ou sur Dfinir pour afficher ses paramtres ou les modifier
Le travail avec les rapports de test peut prendre trois formes diffrentes :
1. Utilisation dun formulaire de rapport de test prdfini
( chapitre 5.2.1, page 120)
2. Personnalisation dun formulaire de rapport de test
( chapitre 5.2.2, page 121)
3. Fonctions avances :

ajout ou suppression de formulaires de rapport de test


( chapitre 5.2.3, page 122)

dfinition dun nouveau rapport de test par dfaut


( chapitre 5.2.3, page 123)

rtablissement dun rapport de test par dfaut


( chapitre 5.2.3, page 123)

119

OMICRON Test Universe

5.2.1

Utilisation dun formulaire de rapport de test


prdfini

Figure 5-7:
Utilisation dun
formulaire de rapport de
test prdfini...

Module de test, par


exemple State
Sequencer

1
2
Modle de rapport de
test

Rapport de test

(1)

Tout comme n'importe quel module de test, Control Center possde son
propre modle de rapport de test.

(2)

Cliquez sur Configurer tous les rapports dans l'onglet Accueil pour
indiquer si le rapport de test de tous les modules de test du document
Control Center doit tre en "format court" ou "format long".
Cliquez sur Paramtres rapport dans l'onglet Accueil ou Insrer pour
indiquer si le rapport de test du module de test actuellement
slectionn doit tre en "format court" ou en "format long".
Sil existe des formulaires de rapport dfinis par lutilisateur, ils
apparatront galement.
Cliquez sur OK.

(3)

120

Le rapport de test est compos et gnr en fonction des paramtres du


formulaire de rapport slectionn.

OMICRON Control Center

5.2.2

Personnalisation dun rapport de test


Vous pouvez enregistrer dans ce rapport de test toute modification apporte aux
paramtres du rapport.

Figure 5-8:
Personnalisation du
rapport de test ouvert et
enregistrement des
modifications

Module de test, par


exemple State
Sequencer

1
2
Modle de rapport de
test

Rapport de test

3
+

Tout comme n'importe quel module de test (State Sequencer sur l'image
ci-dessus), Control Center possde son propre modle de rapport de test.

Cliquez sur Configurer tous les rapports dans l'onglet Accueil pour
indiquer si le rapport de test de tous les modules de test du document
Control Center doit tre en "format court" ou "format long".
Cliquez sur Paramtres rapport dans l'onglet Accueil ou Insrer pour
indiquer si le rapport de test du module de test actuellement slectionn
doit tre en "format court" ou en "format long".
Sil existe des formulaires de rapport dfinis par lutilisateur, ils
apparatront galement.
Cliquez sur OK.

121

OMICRON Test Universe

Cliquez sur le bouton Dfinir pour ouvrir le dialogue Dfinir formulaires


rapports, et dfinissez la composition du rapport de test.
Les cases cocher de ce dialogue symbolisent les blocs et lments qu'il
est possible d'inclure ou d'exclure du rapport de test. Organises suivant
une structure arborescente similaire lExplorateur Windows, elles
indiquent les paramtres du formulaire de rapport de test slectionn.
En slectionnant une case cocher, vous incluez le bloc ou la portion
concern dans le formulaire de rapport (et en dcochant une case, vous
l'excluez).
La slection dun bloc inclut automatiquement tous les lments
sous-jacents (le cas chant). Cliquez sur + pour dvelopper
larborescence.

Cliquez sur OK pour enregistrer le rapport de test, et revenir au dialogue


Paramtres rapport.
Les modifications sappliquent uniquement ce rapport de test.
Lenregistrement des modifications apportes un modle de rapport de
test utilisateur se trouve sous Avanc.

5.2.3

Fonctions avances
En cliquant sur Avanc, vous dveloppez le dialogue : des fonctions
supplmentaires s'affichent. en cliquant une nouvelle fois, le dialogue se rduit.

Ajout de formulaires de rapport de test


Plutt que dutiliser uniquement les "format longs" et les "formats courts" et de
modifier leurs paramtres en fonction de vos besoins, vous pouvez crer de
nouveaux formulaires portant les noms que vous aurez choisis.

122

Cliquez sur Ajouter... pour ouvrir le dialogue Ajouter formulaire de


rapport.

Sous Nom, saisissez un nom de votre choix pour le nouveau formulaire de


rapport.

Dans la liste droulante Copier de, slectionnez un formulaire existant, qui


rponde de prfrence dj au mieux vos besoins. Ce formulaire servira
de base votre nouveau rapport de test.

En cliquant sur OK, vous fermez ce dialogue et crez un nouveau modle de


rapport de test portant le nom que vous lui avez attribu.

OMICRON Control Center

Vous pouvez alors personnaliser le nouveau formulaire en fonction de vos


besoins en incluant ou en excluant les lments de votre choix dans
l'arborescence situe gauche.

Cliquez sur OK pour fermer le dialogue Dfinir formulaires rapports et


enregistrer le nouveau formulaire de rapport de test avec tous les
paramtres actuels. Vous pourrez dsormais slectionner ce formulaire de
rapport de test dans la liste droulante Formulaire rapport.

Suppression de formulaires de rapport de test


Pour supprimer des formulaires de rapports de test dans la liste :

slectionnez le formulaire de votre choix dans la liste droulante Formulaire


rapport.

Cliquez sur le bouton Supprimer.

Il doit rester au minimum deux formulaires de rapports. La suppression ne


fonctionnera pas si vous essayez de supprimer des formulaires pour en laisser
moins de deux.

Dfinition d'un nouveau rapport de test par dfaut


La fonction "Dfinir par dfaut" dfinit les formulaires de rapports actuels avec
tous leurs paramtres comme formulaires par dfaut pour tous les rapports
ultrieurs crs avec ce module de test, par exemple State Sequencer.
Le bouton Dfinir par dfaut est activ uniquement si les paramtres des
formulaires de rapport actuellement ouverts diffrent du formulaire par dfaut.

Rappeler valeurs par dfaut


La fonction "Rappeler valeurs par dfaut" annule toutes les modifications
apportes aux formulaires ouverts et restaure tous les paramtres par dfaut.
Cette restauration concerne tous les nouveaux formulaires ajouts ou ceux qui
ont pu tre supprims depuis que ce rapport de test a t charg.
Le bouton Rappeler valeurs par dfaut est activ uniquement si les
paramtres des formulaires de rapports actuellement ouverts sont diffrents du
formulaire par dfaut.

123

OMICRON Test Universe

Appliquer de nouveaux paramtres par dfaut un document


OCC
La case cocher Appliquer nouvelles valeurs par dfaut tout le document
OCC prend effet lorsque plusieurs modules de test de ce type (par ex. plusieurs
State Sequencer) sont incorpors dans un document Control Center
( 5.1.1 Plusieurs modules de test dans un seul document de test
page 108).
Cette option applique la modification aux rapports de test de toutes les sessions
incorpores de ce module de test particulier (par exemple tous les rapports de
test de toutes les sessions State Sequencer dans ce document Control Center).
Cette fonction est active uniquement si :
1. le module de test est incorpor dans un document Control Center
2. et un nouveau formulaire par dfaut a t dfini (avec Dfinir par dfaut) ou
si un ancien formulaire a t restaur (avec Rappeler valeurs par dfaut).

124

OMICRON Control Center

5.3 Excution dun test partir du Control Center


Control Center contrle les procdures de test. Ce contrle inclut la
configuration des modules de test intgrs ainsi que le dmarrage et l'arrt des
tests.

5.3.1

Slection des modules de test tester


Chaque module de test intgr dans un document de test Control Center peut
tre slectionn individuellement pour participer au test global ou pour en tre
exclu. Dans la Vue liste ou dans le Volet de navigation de la Vue rapport,
slectionnez les modules de test que vous souhaitez inclure dans le test ou
exclure de celui-ci.

Figure 5-9:
Les modules
slectionns font partie
du test, les modules
effacs en sont exclus

5.3.2

Vue Liste

Volet de navigation de la Vue rapport

Vrification du matriel connect


"Vrifier le matriel" signifie vrifier si le matriel connect convient l'excution
du test du module de test slectionn et de ses paramtres dfinis.
Pour vrifier la configuration du matriel pour un seul module de test :
1. Slectionnez le module de test souhait dans le Volet de navigation de la
Vue rapport ou dans la Vue liste, en mettant le module en surbrillance.
2. Cliquez sur Vrifier dans l'onglet Accueil puis slectionnez Vrifier
module.
Pour vrifier la configuration du matriel pour tous les modules de test du
document de test Control Center :
Cliquez sur Vrifier dans l'onglet Accueil puis slectionnez Vrifier tout.

125

OMICRON Test Universe

5.3.3

Changement d'units
Pour chaque module de test, vous pouvez alterner entre les units et les valeurs
suivantes des paramtres de test :

temps en secondes ou en priodes

valeurs primaires ou secondaires

valeurs relatives ou absolues.

La dfinition des units est propre au module : si un document de test est


enregistr, les units spcifiques au test sont enregistres avec lui. Lorsque ce
document est ouvert par la suite, les units et valeurs sont dfinies en
consquence.
Units n'est pas disponible dans tous les modules de test.
Pour changer d'unit :
1. Ouvrez le module de test partir du document Control Center.
2. Slectionnez les units utiliser dans l'onglet Affichage du module de test.
Figure 5-10:
Changement d'units

Alterne entre les secondes et les priodes


Alterne entre les valeurs relatives et les valeurs absolues

Alterne entre les valeurs primaires


et les valeurs secondaires

Pour plus d'informations sur le changement d'units, veuillez vous reporter


l'aide de Test Universe. Lancez l'aide du module de test correspondant, cliquez
sur l'entre Le ruban dans la table des matires et naviguez jusqu' la rubrique
Affichage.

126

OMICRON Control Center

5.3.4

Dmarrer/Continuer un test
Control Center vous permet d'excuter
a) des tests uniques de modules de test individuels intgrs dans le document
de test Control Center
b) ou, un test global de tous les modules de test (slectionns) intgrs dans
le document de test Control Center.
Dans le premier cas, les tests uniques sont excuts les uns aprs les autres.
Les informations dtat sur la progression du test saffichent dans la barre dtat
(ou dans la fentre Historique).

Que se passerait-il en cas d'chec d'un document de test ?


Control Center vous permet de prciser ce qui se passerait en cas d'chec d'un
test faisant partie d'un document de test Control Center : l'excution de
l'ensemble du document de test doit-elle tre arrte lorsqu'un seul test1 choue
ou qu'une tape de test 2 choue ? Pour ce faire, cliquez sur Options de test
dans l'onglet Accueil du Control Center.
Pour plus d'informations sur la dfinition des options de test, veuillez vous
reporter l'aide de Test Universe. Lancez l'aide d'OMICRON Control Center,
cliquez sur l'entre Le ruban dans la table des matires et naviguez jusqu' la
rubrique Accueil > Supplments.

Dmarrage ou poursuite d'un test


Pour dmarrer un test unique d'un module de test individuel :
1. Dans la Vue liste ou la Vue rapport, slectionnez le module de test souhait
en le mettant en valeur. Pour excuter nouveau un test, effacez dabord les
rsultats existants.
2. Cliquez sur Dmarrer/Continuer dans l'onglet Accueil.
Pour dmarrer une squence de tests comportant plusieurs modules de test
slectionns ou tous les modules de test :
1. Dans la Vue liste ou la Vue rapport, slectionnez les modules de test
souhaits au moyen des cases gauche de la liste ( Figure 5-9 page 125).
2. Cliquez sur Dmarrer/Continuer tout dans l'onglet Accueil.

1. Test : toutes les tapes de test dun module de test intgr unique.
2. tape de test : une tape de test dun module de test intgr unique.

127

OMICRON Test Universe

Lorsqu'un module de test intgr a t lanc individuellement partir du


document de test Control Center, la slection de Dmarrer/Continuer dans
l'onglet Accueil de ce module de test ne lance pas ou ne poursuit pas la
procdure de test Control Center mais uniquement la partie concernant ce
module de test particulier.

5.3.5

Arrt ou suspension dun test


Pour arrter un test unique d'un module de test individuel :
1. Dans la Vue liste ou la Vue rapport, slectionnez le module de test souhait
en le mettant en valeur.
2. Cliquez sur Arrter dans l'onglet Accueil.
3. L'tape de test en cours d'excution est abandonne. Tous les courants et
les tensions sont immdiatement coups.
Si vous cliquez sur Dmarrer/Continuer, l'tape de test en cours sera
nouveau excute.
Pour suspendre un test individuel :
1. Dans la Vue liste ou la Vue rapport, slectionnez le module de test souhait
en le mettant en valeur.
2. Cliquez sur Pause dans l'onglet Accueil.
3. L'tape de test en cours d'excution est arrte. Le test est alors suspendu.
Si vous cliquez ensuite sur Dmarrer/Continuer, le test se poursuit en
passant ltape suivante ; sil a dj termin une tape, il ne recommencera
pas au dbut.

5.3.6

Effacement des rsultats


Les rsultats d'un test sont directement crits dans le document de test avec les
autres informations du module de test. S'il faut r-excuter un test (individuel ou
global), les rsultats existants doivent tre effacs du document de test.
Pour effacer les rsultats d'un test unique d'un module de test individuel :
1. Dans la Vue liste ou la Vue rapport, slectionnez le module de test souhait
en le mettant en valeur.
2. Cliquez sur Effacer dans l'onglet Accueil.
Pour effacer les rsultats de plusieurs tests :
1. Dans la Vue liste ou la Vue rapport, slectionnez les modules de test
souhaits au moyen des cases gauche de la liste ( Figure 5-9 page 125).
2. Cliquez sur Effacer tout dans l'onglet Accueil.

128

OMICRON Control Center

Lorsqu'un module de test intgr a t lanc individuellement partir du


document de test Control Center, la slection de Effacer supprime uniquement
la partie des rsultats de test concernant ce module de test particulier - non pas
tous les rsultats de test de l'ensemble de la procdure de test Control Center.

5.3.7

Changer lvaluation dun test "russi"/"chou"


A lissue du test, chaque module de test fournit des informations sur la russite
ou lchec du test. Ces rsultats sont valus et affichs dans le Control Center.
A partir de ces rsultats individuels, un rsultat global est dduit ; il reprsente
lvaluation de lensemble du document de test Control Center. Les rsultats
sont disponibles sous la forme de champs du document. Les champs peuvent
tre inclus dans le document et mis jour automatiquement.
Si lutilisateur nest pas daccord avec lvaluation automatique dun module de
test, il peut corriger manuellement lvaluation afin dobtenir une valuation
globale correcte.
Il ne peut toutefois ni modifier ni manipuler les rsultats de test rels. Ceux-ci
peuvent uniquement tre effacs, pour effectuer nouveau le test.
1. Dans la Vue liste ou la Vue rapport, slectionnez le module de test dont
vous souhaitez modifier l'valuation, en le mettant en valeur.
2. Cliquez sur Evaluation manuelle dans l'onglet Accueil, et slectionnez
Evaluer comme russi ou Evaluer comme chou.
Dans le rapport de test, un message saffiche ct de l'valuation pour
indiquer quil sagit dune valuation manuelle.

129

OMICRON Test Universe

5.4 Mise en page du document de test


Lensemble de la prsentation et de l'aspect du document de test peut tre
modifi en fonction des besoins dfinis par lutilisateur. La Vue rapport dans
OMICRON Control Center est un traitement de texte rudimentaire. Elle permet
de modifier la mise en page, la prsentation des paragraphes et le formatage
des caractres.
De plus, la Vue rapport permet l'intgration et la manipulation des modules de
test.
Vous pouvez aussi intgrer dans un document de test dautres objets tels que
des images graphiques ou du texte. Il pourra sagir de schmas, schmas de
cblage ou autres images utiles aidant expliquer comment le test doit tre
effectu.
Cliquez sur Vue Rapport dans l'onglet Affichage pour ouvrir la Vue Rapport.

5.4.1

Mise en page
Cliquez sur Fichier > Mise en page pour ouvrir une bote de dialogue dans
laquelle peuvent tre dfinies les dimensions du papier, l'orientation de
l'impression et les marges, ainsi que la source du papier pour l'impression.

5.4.2

Formatage du texte
L'onglet Texte propose des options pour formater votre souhait le texte que
vous saisissez dans votre document Control Center.

Presse-papiers
Utilisez les options du groupe Presse-papiers pour couper, copier et coller des
objets dans le document Control Center.

Police
Dfinissez le type, la taille, la couleur de la police ainsi que ses proprits (B =
gras, I = italique, U = soulign) pour le texte slectionn. Cliquez sur l'icne
du groupe Police pour ouvrir le dialogue de slection de la police.

Paragraphe
Dfinit les proprits du ou des paragraphes slectionns. Les paramtres
sappliquent au paragraphe slectionn ou aux nouveaux paragraphes crs
par un retour chariot (<Entre>) aprs la position actuelle du curseur.

130

OMICRON Control Center

Dfinit une puce de paragraphe.

Affiche/masque les caractres non imprims, comme les marques de


paragraphe, les espaces vierges et les tabulations.

Dfinit l'indentation et l'alignement.

Cliquez sur l'icne


du groupe Paragraphe pour dfinir les paramtres de
tabulation dans le dialogue Tabulations.

Editer
Recherche: Recherche du texte dans votre document Control Center.
Saisissez le texte rechercher dans Rechercher et, si ncessaire, prcisez
d'autres critres de recherche.
Remplacer: C'est la fonction bien connue de recherche/remplacement.
Slectionner tout: Slectionne tout le contenu de votre document Control
Center : texte, Equipement tester et Configuration du matriel, modules de
test, champs et objets insrs, etc.

5.4.3

En-ttes, pieds de pages numros de page


Les en-ttes sont des lignes de texte apparaissant en haut de chaque page dun
document de test, tandis que les pieds de page apparaissent en bas de chaque
page.
Pour dfinir le contenu d'un en-tte ou d'un pied de page dans votre document
Control Center, cliquez dans l'onglet Affichage et slectionnez la Vue Rapport.
Dans Vues de document, vous trouverez les options En-tte et Pied de page.
Cliquez sur l'option souhaite pour ouvrir l'diteur d'en-tte ou de pied de page
correspondant.

Utilisez les options dans l'onglet Texte ( section 5.4.2 page 130) pour
formater le texte de votre en-tte et pied de page.

Ou passez l'onglet Insrer pour insrer des objets et/ou des champs, par
exemple pour insrer le numro de page ou la date de modification.
Pour plus d'informations sur l'insertion de champs, d'objets et de sauts de
page, veuillez vous reporter l'aide de Test Universe. Lancez l'aide
d'OMICRON Control Center, cliquez sur l'entre Le ruban dans la table des
matires et naviguez jusqu' la rubrique Insrer > lments. L'insertion de
champs et d'objets est galement dcrite la section 5.1.6 page 117 et
5.1.7 page 118.

Pour dfinir l'emplacement exact de l'en-tte ou du pied de page sur la page,


cliquez sur Fichier > En-tte/Pied de page.

131

OMICRON Test Universe

5.4.4

Icnes dobjets dans les documents de test


Les modules de test ainsi que les objets Equipement tester ou
Configuration du matriel qui sont intgrs dans le document de test peuvent
tre affichs sous forme d'icnes ou d'informations. Il peut tre utile de nafficher
que les informations dont on a rellement besoin. Les autres informations
peuvent tre reprsentes dans le document de test sous forme dicnes afin de
ne pas dtourner lattention par rapport aux informations pouvant tre plus
importantes.

Figure 5-11:
Reprsentation de la
Configuration du
matriel dans la Vue
rapport d'un document
de test sous la forme
d'informations
modifiables :

Configuration matrielle
Equipement de test
Type

Numro de srie

CMC256-6

EB330D

Contrle du matriel
Excut

Rsultat

Dtails

Pas encore excut

ou d'une icne :

Configuration
du matriel

Vous pouvez passer de lune lautre de ces deux reprsentations :


1. Slectionnez lobjet dont vous voulez modifier la reprsentation.
2. Cliquez sur Proprits dans l'onglet Insrer.
3. Slectionnez l'option approprie : Informations modifiables ou Icne .

132

OMICRON Control Center

5.4.5

Impression d'un document de test


Slectionnez Fichier > Imprimer pour imprimer le document de test sans
consulter auparavant l'aperu avant impression.
Slectionnez Fichier > Aperu avant impression pour afficher un aperu du
document de test imprimer :

Cliquez sur Imprimer pour imprimer le document de test.

Cliquez sur Suivante ou Prcdente pour naviguer dans l'aperu.

Cliquez sur Agrandir ou Rduire pour agrandir ou rduire la reprsentation.

Cliquez sur Fermer pour fermer l'aperu avant impression et revenir la Vue
rapport sans imprimer le document de test.

L'option Aperu avant impression est uniquement disponible avec la Vue


rapport.

5.5 Exportation dun rapport


Cliquez sur Fichier > Exporter rapport pour exporter le rapport de test Control
Center. Slectionnez le mode d'exportation du rapport, c'est--dire :

Texte seulement (*.txt), autrement dit au format texte ASCII sans mise en
forme ni graphiques.

Texte MS-DOS (*.txt), autrement dit au format ASCII qui contient des
caractres propres la langue et des symboles (les trmas , , , etc.).

Rich Text Format (*.rtf), autrement dit au format qui contient des
graphiques et des donnes de formatage. Il peut tre lu par MS Word.

Texte UNICODE (*.txt). Unicode est un format de codage 16 bits qui


accepte la plupart des langues importantes du monde.

Le dialogue Exporter rapport contient, dans sa partie infrieure, des dossiers


de destination prdfinis propres Test Universe, comme les dossiers
"Documents de test", "Modles utilisateur Test Wizard" ou "Dossier PTL"
(PTL = Protection Testing Library). Il s'agit de raccourcis qui permettent
d'accder rapidement certains dossiers de destination. En cliquant sur ces
raccourcis, vous n'avez pas parcourir l'arborescence des dossiers de votre
ordinateur. Vous pouvez bien entendu utiliser n'importe quel autre dossier de
votre choix pour y exporter un rapport de test.

133

OMICRON Test Universe

5.6 Exportation de donnes


5.6.1

Exportation de donnes
Slectionnez Fichier > Exporter donnes pour exporter les rsultats de test et
les donnes de n'importe quel document Control Center dans un fichier de base
de donnes compatible avec d'autres logiciels, pour une utilisation ultrieure.
Slectionnez les options d'exportation dans le dialogue Exporter donnes qui
s'affiche :

Format
Slectionnez le format de sortie pour le document de test export.
CSV : Toutes les bases de donnes courantes lisent le format CSV (Comma
Separated Value). Les donnes sont crites sous une simple forme de tableau.
Les valeurs sont spares par un sparateur de champ dfinissable par
lutilisateur. Si une valeur est une chane de caractres, la valeur doit comporter
un dlimiteur de texte (le texte peut contenir le caractre utilis comme
sparateur de champ). Du fait que les conventions de noms des valeurs
boolennes ne sont pas homognes entre les diffrents programmes de bases
de donnes, il est galement indispensable de dfinir les valeurs Vrai et Faux.
XML : Le format XML (eXtensible Markup Language) est devenu le standard
pour l'change de donnes, en particulier entre plates-formes diffrentes. XML
et les technologies associes sont des recommandations W3C (World Wide
Web Consortium).

Chemin
Saisissez le rpertoire de destination du fichier CSV ou XML export. Le
rpertoire suggr correspond au paramtre par dfaut configur dans longlet
Export de donnes de la Configuration du systme ( Options ci-dessous).

Inclure schma
Lorsque vous exportez un document de test, vous pouvez choisir dexporter ou
non le schma du fichier XML. Un schma sutilise pour effectuer des contrles
de cohrence logique ou pour crer/modifier les structures des donnes laide
dun autre outil. Test Universe offre diverses options dexportation du schma.
Non : Le schma nest pas export.
Dans un fichier de donnes : Exporte le schma dans le fichier XML.
Dans un fichier spar : Exporte le schma dans un fichier .xsd spar.

134

OMICRON Control Center

Si vous voulez personnaliser les paramtres dexportation et si vous choisissez


deffectuer lexportation au format XML avec le schma, celui-ci est adapt au
volume des donnes exportes.
Pour plus dinformations sur le schma et le logiciel de conception de schmas
XML, voir le manuel Exportation des donnes dans Test Universe

Paramtrage du filtre
Affiche le Control Center ainsi que tous les composants incorpors dans le
document ; vous pouvez filtrer les tableaux et les champs que vous voulez
exporter. Pour cela, cliquez sur le bouton Modifier. Le dialogue Configuration
de l'export de donnes souvre ; il propose une arborescence de slection pour
personnaliser les donnes exportes. Slectionnez les composants que vous
souhaitez exporter, dslectionnez ceux que vous ne souhaitez pas exporter.
Certains modules de test permettent de changer les units de secondes en
cycles, les valeurs primaires en units secondaires et les valeurs absolues en
valeurs relatives. Ces units sont enregistres avec le document de test.
Lorsque ce document est ouvert par la suite, les units et valeurs sont dfinies
en consquence. Cependant, lexportation traite les donnes avec leurs units
dorigine, autrement dit les donnes sont exportes avec des valeurs absolues
secondaires et la seconde comme unit de temps, mme si les units sont
dfinies diffremment dans le module de test.

Options
Cliquez sur le bouton Options pour ouvrir l'onglet Export de donnes. Cet
onglet est dj connu dans la Configuration du systme (accessible sur
l'cran de dmarrage de Test Universe). En fait, cet onglet Export de donnes
remplit exactement la mme fonction que longlet Export de donnes de la
Configuration du systme, savoir : dfinition de paramtres par dfaut
applicables lensemble du systme pour l'exportation du rapport de donnes.
Tout paramtre configur ici est automatiquement transfr dans la
Configuration du systme et inversement.

5.6.2

Mise en cache des donnes dans Control Center


La mise en cache des donnes a lieu chaque fermeture dun module de test
ou la fin dune exportation si aucune mise en cache na eu lieu prcdemment.
Ainsi, lorsque limportation suivante a lieu, le Control Center contient les
donnes en cache et ne doit pas redmarrer chaque module de test pour les
obtenir. Cette fonction acclre notablement lexportation de donnes par
rapport aux versions antrieures.

135

OMICRON Test Universe

Pour plus d'informations sur la mise en cache des donnes dans Control Center,
veuillez vous reporter l'aide de Test Universe. Lancez l'aide d'OMICRON
Control Center, cliquez sur l'entre Le ruban dans la table des matires et
naviguez jusqu' la rubrique Fichier > Exporter donnes.

136

OMICRON Control Center

5.7 Niveaux de protection des documents de test


Control Center
Vous pouvez protger un document de test contre les modifications
accidentelles ou non autorises. Cela est important car un document de test
peut voluer et reprsenter un grand volume de travail pour lingnieur de test
responsable du dveloppement, de la mise au point et de la maintenance. Les
documents de test deviennent de prcieux avoirs pour la socit, tout comme le
sont le matriel et le logiciel OMICRON Test Universe.
Les niveaux de protection protgent la fois :

les actions quun utilisateur peut effectuer dans linterface utilisateur et dans
les rapports de test

et les actions effectues par une application ou un script mis au point par
lutilisateur excutant des commandes automatiques

Pour modifier le niveau de protection d'un document Control Center, ouvrez le


document. Cliquez sur Fichier > Protger.
Figure 5-12:Dialogue
Protger pour les
documents de test

Dans le dialogue Protger, indiquez le niveau de protection souhait pour le


document Control Center actuel ; attribuez un mot de passe ce document pour
viter que d'autres utilisateurs modifient les paramtres de protection. Vous
pouvez en outre modifier un mot de passe existant.

137

OMICRON Test Universe

Protger pour
Indiquez le niveau de protection que vous souhaitez pour le document Control
Center actuel :
Pas de protection

Le document Control Center nest pas protg ;


n'importe quel utilisateur peut lafficher et le
modifier. Vous pouvez copier son contenu, faire
glisser et dposer des objets incorpors en
maintenant enfonc le bouton gauche de la souris.

Pas de script

Cette option permet dafficher et de modifier le


document (comme loption "Pas de protection"),
ainsi que deffectuer un test. Elle protge
nanmoins la modification des scripts.

Changements de script seulement


Un script crit par lutilisateur permet de modifier
les paramtres ; les modifications manuelles par
lutilisateur dans linterface utilisateur ne sont pas
autorises. Les sous-programmes et modules de
test dun document, y compris les tests euxmmes, peuvent tre excuts.
Pas de changement

Ce niveau protge la structure et le contenu dun


document contre dventuelles modifications. Les
sous-programmes et modules de test dun
document, y compris les tests eux-mmes,
peuvent tre excuts.

Afficher/Imprimer seul

Le document peut uniquement tre affich et


imprim. Tout le reste est protg.

Tableau 5-1:
Niveaux de protectionPrsentation gnrale

138

Affichage et
impression

Excution
de tests

dition

Ecriture de
script

Pas de protection

oui

oui

oui

oui

Pas de script

oui

oui

oui

non

Changements par
script uniquement

oui

oui

par script
uniquement

non

Pas de
changement

oui

oui

non

non

Afficher/Imprimer
seul

oui

non

non

non

OMICRON Control Center

La liste des niveaux de protection donne ci-dessus ne s'applique pas aux


objets incorpors, tels que les fichiers MS Office ou autres. Lorsque vous
slectionnez l'un des niveaux de protection Changements par script, Pas de
changement ou Afficher/Imprimer seul., Control Center protge l'objet
incorpor, autrement dit, n'ouvre pas cet objet dans le programme associ
(Excel, Word, etc.). Pour ouvrir le document et voir son contenu, slectionnez
l'un des niveaux de protection Pas de protection ou Pas de script. Nanmoins,
le contenu de l'objet incorpor est toujours affich dans la Vue Rapport (sauf si
vous avez slectionn l'option Afficher en icne lors de l'incorporation de
l'objet).

Mot de passe
Si le champ Ancien mot de passe est activ, le document comporte dj un
mot de passe. Vous devez saisir celui-ci avant de pouvoir modifier le niveau de
protection. Saisissez le mot de passe et passez une autre zone en appuyant
sur la touche <tab>. Si le mot de passe saisi est correct, vous pouvez modifier
le niveau de protection.
Slectionnez le nouveau niveau de protection souhait, et saisissez un nouveau
mot de passe pour le document dans le champ Nouveau mot de passe.
Confirmez le mot de passe en le saisissant nouveau dans le champ
Confirmer mot de passe.
Le nouveau niveau de protection et le nouveau mot de passe du document sont
dsormais dfinis. Il faut saisir le nouveau mot de passe pour modifier
nouveau le niveau de protection.

139

OMICRON Test Universe

5.8 OCC Module daide Pause


Module Pause est un "module d'aide" de Control Center. Il ne dmarre qu'
partir d'OMICRON Control Center. Le Module Pause reprsente un outil
polyvalent permettant d'arrter, de suspendre et de continuer divers types de
documents de test Control Center. Vous pouvez incorporer dans votre
document Control Center autant de Modules Pause que vous le souhaitez.
Le Module Pause est excut en mode information/instruction ou en mode
interactif qui implique une saisie utilisateur. Il gnre en outre un rapport.
Dans l'onglet Accueil de la Configuration du module, personnalisez le texte
instruction afficher et reporter dans le rapport.
La Figure 5-13 illustre un exemple d'un document de test Control Center avec
deux Modules Pause insrs. Cette procdure de test marquerait deux pauses :
aprs Distance et aprs Overcurrent.
Figure 5-13:
Exemple d'un document
de test Control Center
avec Module Pause
insr.

Premire pause de la procdure de test


Seconde pause de la procdure de test

Figure 5-14:
Module Pause, onglet
Home

140

OMICRON Control Center

5.8.1

Insertion d'un Module Pause dans un document


Control Center
1. Lancez Control Center partir de l'cran de dmarrage de Test Universe en
ouvrant un document de test nouveau ou existant, ou en chargeant un
modle.
2. Dans Control Center, l'onglet Insrer, cliquez sur Module de test> Module
Pause.

5.8.2

Excution d'un test en mode Information ou


Instruction
Effacez l'Entre utilisateur pour excuter le Module Pause en mode
information/instruction sans ncessit de saisie de la part de l'utilisateur.
1. Allez dans le Module Pause, dans la Vue Test.
2. Dans l'onglet Accueil de la Configuration du module, personnalisez le
texte instruction que vous souhaitez voir afficher pendant l'excution et
reporter dans le rapport.
3. Saisissez le texte instruction dans la zone Entrer les informations/
instructions d'excution.
4. Cliquez sur Excuter module dans l'onglet Accueil.
5. Dans le Dialogue d'excution, cliquez sur Continuer ou Stopper le test.

5.8.3

Continuer signifie :
Si le Module Pause est lanc partir de Control Center, cliquez sur
Continuer pour poursuivre l'excution du document Control Center.

Stopper le test signifie :


Si le Module Pause est lanc partir de Control Center, cliquez sur
Stopper le test pour arrter l'excution du document Control Center.

Excution d'un test avec une entre utilisateur


requise
Slectionnez Entre utilisateur pour excuter le Module Pause en mode
interactif impliquant une saisie de l'utilisateur (par ex. une rponse ou des
informations textuelles demandes pendant l'excution).
1. Allez dans le Module Pause, dans la Vue Test.
2. Dans l'onglet Accueil de la Configuration du module, personnalisez le
texte instruction que vous souhaitez voir afficher pendant l'excution et
reporter dans le rapport.

141

OMICRON Test Universe

3. Dans le Module Pause, dans la zone Entrer les informations/instructions


d'excution, saisissez les instructions ou le texte d'information que vous
souhaitez afficher pendant l'excution.
4. Cliquez sur Excution du module dans l'onglet Accueil.
5. Dans la zone Entre utilisateur, saisissez la rponse demande par le texte
instruction. Remarque : une saisie est obligatoire pour pouvoir poursuivre.
6. Dans le Dialogue d'excution, cliquez sur Continuer ou Stopper le test.

Continuer signifie :
Si le Module Pause est lanc partir de Control Center, cliquez sur
Continuer pour poursuivre l'excution du document Control Center.

Stopper le test signifie :


Si le Module Pause est lanc partir de Control Center, cliquez sur
Stopper le test pour arrter l'excution du document Control Center.

5.9 Module d'aide ExeCute de Control Center


ExeCute est un "module d'aide" de Control Center. Il ne dmarre qu' partir
d'OMICRON Control Center.
ExeCute lance un programme excutable (.exe), une procdure globale ou un
document quelconque sur votre ordinateur, partir du document de test Control
Center. Il peut s'agir d'un module OMICRON Test Universe , d'une application
de traitement de texte telle que MS Word, d'un diteur ASCII type Bloc-Notes,
d'un fichier PDF, voire d'un fichier son ou d'une vido - condition que votre
ordinateur possde l'application associe au type de fichier en question.

142

OMICRON Control Center

5.10 Module d'aide TextView de Control Center


TextView est un "module d'aide" de Control Center. Il ne dmarre qu' partir
d'OMICRON Control Center.
Lorsque TextView est incorpor un document Control Center (onglet Insrer
> Module de test > TextView), le contenu d'un fichier texte ASCII est mis jour
et affich dans le document Control Center pendant l'excution du test.

Mise jour de l'affichage du fichier texte

Lorsque TextView fait rfrence un fichier texte, mettez jour le contenu


du fichier en cliquant sur Dmarrer/Continuer dans Control Center,
l'onglet Accueil.

En cas d'incorporation dans un document Control Center avec d'autres


modules de test, cliquez sur Dmarrer/Continuer tout dans Control Center,
l'onglet Accueil. Cela dmarre la squence de test ; pendant le test,
TextView lit le contenu rel du fichier texte rfrenc.

Vue Rapport
Passez la Vue Rapport pour voir le contenu du fichier texte ainsi que les
informations complmentaires dfinies dans Configuration rapport.

143

OMICRON Test Universe

144

Synchronisation des ensembles de test CMC

6 Synchronisation des ensembles de


test CMC
Test Universe permet le fonctionnement synchronis de deux ensembles de test
CMC ou plus.

6.1 Synchronisation sur une frquence rseau de


rfrence externe
En mode synchronis, les ensembles de test CMC 356/CMC 353/
CMC 256plus/CMC 256 synchronisent la frquence de leurs sorties
analogiques sur un signal de rfrence inject sur leur Entre binaire/
analogique 10. Plage de frquence accepte pour le signal de rfrence :
15 Hz ... 70 Hz. Ce principe de synchronisation est dnomm Mode
synchronis.
Figure 6-1:
Signal de rfrence
inject dans l'entre
binaire 10 d'un
ensemble de test
CMC 356

15 Hz ... 70 Hz
A l'heure actuelle, le mode synchronis est disponible uniquement dans State
Sequencer et QuickCMC ; il ncessite un ensemble de test CMC quip des
fonctions de mode synchronis. Les ensembles de test CMC 256 produits
depuis le milieu de l'anne 2004 (numro de srie EI... ou plus rcent),
CMC 256plus, CMC 353 et CMC 356 sont, par dfaut, quips de ces fonctions.
Les anciens appareils peuvent tre mis niveau.
Pour des informations sur la manire de configurer les signaux de trigger
temporel et la synchronisation 4.7.12 Source de temps page 91.

145

OMICRON Test Universe

6.2 Synchronisation sur une base de temps


externe - GPS, PTP, IRIG-B, PermaSync
La synchronisation sur une base de temps externe peut s'effectuer de deux
manires :
1. Dclenchement de tous les tirs d'une squence de test par un vnement
temporel externe. Cette rfrence de temps peut tre un signal GPS, PTP ou
IRIG-B ( 6.5 Configuration de la synchronisation).
2. Utilisation de la fonction PermaSync TM, autrement dit synchronisation
permanente de l'horloge d'chantillonnage interne du CMC sur une
rfrence de temps externe trs prcise. PermaSync maintient l'horloge
d'chantillonnage des sorties du CMC en synchronisation permanente avec
une source de temps externe, vitant ainsi toute drive de phase entre les
units CMC oprant en parallle (par exemple, pour les tests de PMU
dcentraliss).
Cette source de temps externe peut tre un signal externe d'une impulsion
par seconde (1 PPS) ou un 1 PPS gnr partir du signal IRIG-B ou GPS.
Pour cela, il faut une unit d'interface CMIRIG-B.
Pour plus d'informations sur la fonction PermaSync TM, veuillez consulter
l'aide de Test Universe. Lancez l'aide et cliquez sur l'entre
--- Synchronisation des ensembles de test CMC --- de la table des
matires.

Synchronisation de deux ensembles de test CMC ou plus


Une rfrence de temps de trs haute prcision dclenche deux ensembles de
test CMC ou plus afin de dmarrer un test un instant prcis qui est identique
pour tous les ensembles. Cette rfrence de temps peut tre :
Figure 6-2:
Une unit de
synchronisation
CMGPS

1. Un signal GPS (Global Positioning System).


Chaque ensemble de test CMC
synchroniser doit tre quip d'une unit de
synchronisation CMGPS ou CMGPS 588.
Le CMGPS est une unit de synchronisation
GPS connecte l'entre external Interface
(un connecteur en face arrire) de l'ensemble
de test.

146

Synchronisation des ensembles de test CMC

Figure 6-3:
Unit de
synchronisation
CMGPS 588

Le CMGPS 588 est une horloge matre PTPv2 connecte


l'un des ports PoE ETH1 ou ETH2 en face arrire de
l'ensemble de test. L'ensemble de test CMC doit tre quip
d'une carte NET-1B.
Par dfaut, les CMC 850 et CMC 353 possdent une telle
carte NET-1B ; les CMC 356, CMC 256plus et CMC 256-6
peuvent tre mis niveau.
Pour des informations dtailles sur les units de synchronisation, veuillez
consulter le manuel CMGPS ou CMGPS 588 correspondant.
Ces manuels ont t installs avec le logiciel Test Universe ( moins que
vous ayez dlibrment choisi de ne pas installer la documentation). Pour
savoir o trouver et consulter les manuels, La documentation
Test Universe page 10.
2. Une rfrence de temps IRIG-B (Inter Range Instrumentation Group). IRIG-B
est un format de code de temps srie qui fournit, toutes les secondes, le
temps depuis les secondes jusqu'au jour de l'anne, en format dcimal cod
binaire (BCD) et en option, le nombre de secondes du jour en format binaire.
Pour des informations plus dtailles sur la norme IRIG-B, consultez la
publication IRIG SERIAL TIME CODE FORMATS (Formats des codes de
temps srie de l'IRIG) sur Internet.
Ensembles de test CMC requis pour IRIG-B :
La rfrence de temps IRIG-B ncessite l'utilisation d'un ensemble de test
CMC 256 avec l'option NET-1, d'un CMC 256plus (version standard avec
ports Ethernet ; pas avec l'option PAR-1), d'un CMC 353, d'un CMC 356 ou
d'un CMC 850. De plus, une unit d'interface CMIRIG-B est requise pour
connecter la rfrence de temps IRIG-B l'entre ext. Interf. (Interface
externe) du CMC.

Figure 6-4:
CMIRIG-B

Le CMIRIG-B vous permet de connecter aux


ensembles de test susmentionns des
quipements qui mettent ou reoivent le signal de
rfrence de temps IRIG-B (source ou rcepteur
IRIG-B de niveau 5 V/TTL ; signal dmodul ;
protocole DCLS ("DC Level Shift") (B00x)).
De plus, une unit de synchronisation CMGPS peut
tre intgre en option dans la configuration du test
pour servir de source de l'instant de synchronisation ou du signal 1PPS.
L'ensemble de test CMC 850/CMC 356/CMC 353/CMC 256plus/CMC 256
dcode (lorsqu'il est rcepteur) ou code (lorsqu'il est metteur) le protocole
IRIG-B. Les extensions du protocole IRIG-B exiges par la norme IEEE
C37.118 sont galement prises en charge.

147

OMICRON Test Universe

Pour des informations dtailles sur les units de synchronisation, veuillez


consulter le manuel CMGPS ou CMGPS 588 correspondant. Vous trouverez
les versions PDF de ces manuels sur votre disque dur dans le dossier
d'installation\Test Universe\Doc.
Tous les modules de test OMICRON Test Universe qui affichent l'icne Trigger
temporel
dans leur ruban, prennent en charge la synchronisation GPS et/ou
IRIG-B. Trigger temporel est dsactiv si, dans l'onglet Source de temps de
la Configuration du matriel, le paramtrage n'indique pas de configuration de
la synchronisation.
Lors d'un test de bout en bout, veillez utiliser le mme mode de
synchronisation, autrement dit, GPS, PTP ou IRIG-B pour tous les ensembles
de test CMC 850/CMC 356/CMC 353/CMC 256plus/CMC 256 concerns.

148

Synchronisation des ensembles de test CMC

6.3 Synchronisation GPS des ensembles de test


CMC
6.3.1

Utilisation des units de synchronisation


CMGPS 588
Vous pouvez synchroniser deux ensembles de test CMC ou plus en connectant
une unit de synchronisation CMGPS 588 aux ports PoE ETH1 ou ETH2 (en
face arrire de l'ensemble de test CMC) de chaque ensemble de test. Puisque
le signal GPS est disponible dans le monde entier, la distance physique entre
ces ensembles de test n'a plus d'importance (test de "bout en bout").

Figure 6-5:
Exemple :
Synchronisation de
deux ensembles de test
CMC avec CMGPS 588
lors du test d'un
systme de protection
de ligne de transmission

Logiciel
Test Universe

CMC 356

CMGPS 588

3V, 3I, Dc

CMGPS 588

Signal

Signal

Relais

Relais
3V, 3I, Dc

Logiciel
Test Universe

CMC 356

149

OMICRON Test Universe

6.3.2

Utilisation des units de synchronisation CMGPS


Vous pouvez synchroniser deux ensembles de test CMC ou plus en connectant
une unit de synchronisation CMGPS aux entres Interface externe (un
connecteur en face arrire) de chaque ensemble de test. Puisque le signal GPS
est disponible dans le monde entier, la distance physique entre ces ensembles
de test n'a plus d'importance (test de "bout en bout").

Figure 6-6:
Exemple :
Synchronisation de
deux ensembles de test
CMC avec CMGPS lors
du test d'un systme de
protection de ligne de
transmission

Antenne

Antenne

Logiciel
Test Universe

Logiciel
Test Universe

CMGPS

CMC 356

CMGPS

Signal

Signal

Relais

Relais

3V, 3I, Dc

3V, 3I, Dc

CMC 156

La prcision de la synchronisation dpend du paramtrage effectu dans la


fentre Configuration de la synchronisation :

Erreur max. 100 s - 1,8 50 Hz en mode standard ; acceptable n'importe


quel moment d'un test.

Erreur max. 5 s - 0,09 50 Hz en mode amlior


(CMC 356/CMC 353/CMC 256plus/CMC 256).
Remarque : la prcision de 5 s est limite au dmarrage du test. Elle
ne s'applique pas aux actions dclenches par les impulsions GPS
suivantes.

150

Synchronisation des ensembles de test CMC

6.4 Utilisation de la rfrence de temps IRIG-B


pour synchroniser des ensembles de test
CMC
Vous trouverez des informations lmentaires sur la norme des codes de temps
IRIG dans la rubrique d'aide correspondante de Test Universe . Lancez l'aide
partir de l'cran de dmarrage de Test Universe ou du module de test avec
lequel vous travaillez actuellement, cliquez sur l'entre --- Synchronisation
des ensembles de test CMC --- dans la table des matires et naviguez jusqu'
la rubrique Informations sommaires sur la norme des codes de temps IRIG.

6.4.1

Utilisation des units de synchronisation CMIRIG-B


Vous pouvez synchroniser deux ensembles de test CMC ou plus en connectant
un CMIRIG-B aux entres Interface externe (un connecteur en face arrire) de
chaque ensemble de test. Les units d'interface CMIRIG-B sont, quant elles,
synchronises sur une base de temps externe, par exemple une horloge de
synchronisation de satellite (un produit tiers ; gnrateur IRIG-B avec niveau
5 V/TTL ; signal dmodul ; protocole DCLS (DC Level Shift) (B00x)). La
distance physique sparant les ensembles de test n'a donc plus d'importance
(test de "bout en bout").

6.4.2

Utilisation de l'ensemble de test comme gnrateur


IRIG-B
Exige un ensemble de test CMC 850/CMC 356/CMC 353/CMC 256plus/
CMC 256.

Gnrateur IRIG-B suivant PPS l'aide d'un CMIRIG-B


L'ensemble de test CMC peut galement fonctionner comme un gnrateur
IRIG-B et injecter une rfrence de temps IRIG-B qu'il cre vers un quipement
tester, par exemple, un PMU (phasor measurement unit, ou appareil de
mesure de synchrophaseur). Pour cela, un CMIRIG-B doit tre connect entre
l'ensemble de test CMC et l'quipement tester.

151

OMICRON Test Universe

Figure 6-7:
Gnrateur IRIG-B
suivant PPS l'aide
d'un CMIRIG-B.

Injection d'une rfrence de temps


IRIG-B gnre par le CMC vers un
quipement tester.

Equipement
tester

Sortie PPX

Sortie IRIG-B

CMIRIG-B

Ensemble de
test CMC
(vue arrire)

Le CMC gnre des tlgrammes de


temps IRIG-B et une squence
d'impulsions PPX Out (1 pps), pilote
par la sortie du CMIRIG-B et
synchronise sur la squence
d'impulsions externes (1 pps).
L'heure de dmarrage absolue de la
sortie du CMIRIG-B provient du
paramtrage de la source IRIG-B. Le
CMC se dclenche sur une squence
PPX.

Gnrateur IRIG-B suivant PTPv2 l'aide d'un CMGPS 588


L'ensemble de test CMC offre une prcision exceptionnelle qui n'gale toutefois
pas celle du signal GPS. La rfrence de temps IRIG-B gnre par le CMC
peut donc tre elle-mme synchronise par GPS. Dans ce mode, l'ensemble de
test CMC gnre la rfrence de temps IRIG-B pour l'quipement de test, et
l'unit de synchronisation CMGPS 588 (une source de temps PTPv2)
synchronise l'ensemble de test l'aide d'impulsions GPS.
Figure 6-8:
Gnrateur IRIG-B
suivant PTPv2 l'aide
d'un CMGPS 588

Equipement
tester

CMGPS 588
Sortie PPX

Sortie IRIG-B

CMIRIG-B

Ensemble de
test CMC (vue
arrire)

152

Injection d'une rfrence de


temps IRIG-B gnre par le
CMC et synchronise par
GPS vers un quipement
tester.
L'ensemble de test CMC
gnre les tlgrammes de
temps IRIG-B et une
squence d'impulsions PPX
Out (1 pps), pilote par la
sortie du CMIRIG-B, et
synchronise sur la base de
temps reue par le
CMGPS 588 (PTP) via les
ports Ethernet ETH1 ou
ETH2. Le CMC se dclenche
sur une squence PPX.

Synchronisation des ensembles de test CMC

Gnrateur IRIG-B suivant GPS l'aide d'un CMIRIG-B et d'un


CMGPS
L'ensemble de test CMC offre une prcision exceptionnelle qui n'gale toutefois
pas celle du signal GPS. La rfrence de temps IRIG-B gnre par le CMC
peut donc tre elle-mme synchronise par GPS. Dans ce mode, l'ensemble de
test CMC gnre la rfrence de temps IRIG-B pour l'quipement tester, et le
CMGPS synchronise l'ensemble de test CMC l'aide d'impulsions GPS.
Figure 6-9:
Gnrateur IRIG-B
suivant GPS l'aide
d'un CMIRIG-B et d'un
CMGPS

Equipement
tester

Antenne

Sortie PPX Sortie IRIG-B


CMGPS

Ensemble de
test CMC (vue
arrire)
CMIRIG-B

Injection d'une rfrence de temps IRIG-B gnre par le CMC et synchronise


par GPS vers un quipement tester. L'ensemble de test CMC gnre les
tlgrammes de temps IRIG-B et une squence d'impulsions PPX Out (1 pps),
pilote par la sortie du CMIRIG-B et synchronise sur la squence d'impulsions
du CMGPS (1 pps). L'heure de dmarrage absolue de la sortie du CMIRIG-B
provient du paramtrage de la source IRIG-B. Le CMC se dclenche sur la
squence PPX.

153

OMICRON Test Universe

6.5 Configuration de la synchronisation


Cliquez sur Trigger temporel dans l'onglet Accueil du module de test pour
dfinir le fonctionnement synchronis de deux ensembles de test CMC ou plus.
Le fonctionnement synchronis signifie : une rfrence de temps de trs haute
prcision dclenche deux ensembles de test CMC ou plus afin de dmarrer un
test au mme instant prcis. Cette rfrence de temps peut tre un signal GPS1,
une source PTPv22 ou une rfrence de temps IRIG-B3.
Vous pouvez galement utiliser l'ensemble de test CMC comme gnrateur
IRIG-B et injecter sa rfrence de temps dans un quipement tester, par
exemple un PMU (phasor measurement unit, ou appareil de mesure de
synchrophaseur). Le CMC gnre une rfrence de temps IRIG-B avec ou sans
synchronisation GPS ou PTP supplmentaire.

6.5.1

Comment dfinir la configuration de la


synchronisation
Le paramtrage de la configuration de la synchronisation s'effectue dans deux
endroits diffrents :
1. Dans la Configuration du matriel
L'onglet Source de temps prsente tous les paramtres concernant le
matriel, tels que la source de la synchronisation (un signal GPS, PTPv2 ou
une rfrence de temps IRIG-B externe) ou le paramtrage de l'ensemble de
test CMC lorsque celui-ci fonctionne comme gnrateur IRIG-B (un mode
oprationnel ne ncessitant aucune rfrence de temps externe).
Pour plus d'informations 4.7.12 Source de temps page 91.
C'est uniquement aprs avoir dfini les paramtres GPS, PTPv2 ou IRIG-B
dans la Configuration du matriel, que l'option Trigger temporel est
active dans l'onglet Accueil.
2. Dans la Configuration de la synchronisation (cliquez sur Trigger
temporel dans l'onglet Accueil du module de test)
Vous configurez ici les paramtres horaires du dmarrage du test propres au
module de test pour la gnration des impulsions de dclenchement.

1. GPS = Global Positioning System, ou systme de positionnement mondial.


2. PTP = Precision Time Protocol, un protocole utilis pour synchroniser les horloges sur un
rseau informatique.
3. IRIG = Inter Range Instrumentation Group, un organisme qui fixe des normes pour les appareils
de mesure. L'IRIG a normalis les diffrents formats des codes de temps.

154

Synchronisation des ensembles de test CMC

Les paramtres GPS, PTPv2 et/ou IRIG-B particuliers sont enregistrs avec le
document de test du module de test concern. Lorsque ce document est
rouvert, tous ces paramtres sont nouveau disponibles.
Si le document de test est rouvert, mais cette fois avec du matriel connect
diffrent - du matriel qui ne prend pas en charge la configuration IRIG-B par
exemple - ce symbole
apparatra ct de la configuration IRIG-B dans
l'onglet Source de temps pour vous informer de cette incompatibilit. Dans un
tel cas, cette configuration particulire ne fonctionnera pas avec le matriel
connect.
Figure 6-10:
Dialogue principal de la
Configuration de la
synchronisation avec
GPS slectionn
comme source de
temps.

2
3

Donnes d'heure de dmarrage et de trigger du test


Heure de dmarrage :
C'est le moment auquel dmarre la premire impulsion de synchronisation,
autrement dit le moment auquel l'ensemble de test CMC est dclench pour
lancer l'action dsigne.
En fonction des paramtres d'heure de dmarrage choisis (cliquez sur le bouton
Modifier... pour les changer), ce moment peut tre une heure absolue (affiche
en hh:mm:ss, par exemple, 10:21:00) ou un certain moment l'intrieur d'un
schma temporel.
La diffrenciation entre un dmarrage une heure absolue et un dmarrage
un certain moment d'un schma temporel s'effectue dans le dialogue Modifier
les donnes d'impulsion ( chapitre 6.5.2).
Priode de trigger:
Affiche la dure s'coulant entre 2 impulsions de synchronisation, dfinie dans
le dialogue Modifier les donnes d'impulsion (cliquez sur le bouton
Modifier...).

155

OMICRON Test Universe

impulsion n

priode de
trigger

impulsion n +1

Etat et Infos
En fonction de la configuration de source de temps choisie, la section Infos
affiche l'tat actuel de la synchronisation (Infos GPS, Infos CMGPS 588, Infos
PTP ou Infos IRIG-B).
En gnral, ces messages d'tat sont constitus de texte en clair, si bien que
nous viterons de tous les numrer dans cette aide. En cas de doute sur un
message particulier ou de questions, veuillez formuler votre demande
l'assistance technique d'OMICRON ( Support page 155).

Prcision de dmarrage du test


Les paramtres du mode de prcision s'appliquent lorsqu'une configuration
utilisant le systme GPS a t slectionne dans la Configuration du matriel,
l'onglet Source de temps, et si un ensemble de test CMC 850, CMC 356,
CMC 353, CMC 256plus ou CMC 256 est utilis.
Systme de test global
Norme :
En mode de prcision standard, les ensembles de test synchroniss dmarrent
le test dclench par GPS proprement dit, au moment de l'apparition de la
premire impulsion de synchronisation, comme expliqu ci-dessus, plus un
cart maximal de +/-100 s).
Raison : Les ensembles de test CMC 850/CMC 356/CMC 353/CMC 256plus/
CMC 256 ont une cadence d'chantillonnage de 100 s pour lire l'tat des
entres binaires ; cela s'applique galement l'entre Interface externe du
signal GPS. Puisque l'chantillonnage des entres binaires des diffrents
ensembles de test CMC ne peut pas tre synchronis, une diffrence de 100 s
(maximum) peut survenir entre les ensembles de test lors de la reconnaissance
des impulsions GPS. Cela peut se traduire par une diffrence de phase
quivalente d'au maximum 1,8 la frquence secteur de 50 Hz, ou d'au
maximum 2,16 la frquence de 60 Hz.

156

Synchronisation des ensembles de test CMC

Haute prcision :
En mode haute prcision, le dmarrage d'un test peut tre synchronis sur
l'apparition de la premire impulsion de synchronisation, comme expliqu plus
haut, plus une erreur maximale de temps de 5 s. Cette erreur est gnralement
de l'ordre de 1 s.
Cependant, pour des raisons techniques, le mode haute prcision ncessite
2 impulsions de synchronisation pour vritablement dmarrer le test.
Signification : apparition de la premire impulsion de synchronisation + priode
de trigger = seconde impulsion de synchronisation + erreur de temps de 5 s
= dmarrage du test.

1re
impulsion

priode de
trigger

2nde impulsion + 5s = dmarrage du test

Lors d'un test de bout en bout, veillez utiliser le mme mode de prcision sur
tous les ensembles de test CMC concerns.
Restrictions d'utilisation du mode haute prcision :

Prise en charge par les ensembles de test CMC 356/CMC 353/


CMC 256plus/CMC 256.

La prcision spcifie se rapporte, en fonction du module de test individuel,


au dbut du test, chaque point de test ou chaque tir de test.

Le fonctionnement simultan de EnerLyzer nest pas pris en charge.

Remarque : le changement de la prcision GPS de "standard" "haute


prcision" provoque la rinitialisation de l'unit de synchronisation CMGPS,
autrement dit le CMGPS entamera une nouvelle recherche afin de se
synchroniser sur des signaux de satellites GPS.

157

OMICRON Test Universe

6.5.2

Modifier les donnes d'impulsion

Figure 6-11:
Dialogue Modifier les
donnes d'impulsion
dans la Configuration
de la synchronisation

Heure de dmarrage
L'heure de dmarrage est le moment auquel dmarre la premire impulsion de
synchronisation (trigger), autrement dit l'heure laquelle l'ensemble de test
CMC est dclench pour lancer l'action dsigne, soit le dmarrage du test.
Slectionnez une heure de dmarrage absolue (affiche en hh:mm:ss, par
exemple, 10:21:00) ou un certain moment l'intrieur d'un schma temporel.
Une heure de dmarrage absolue dclenche une action une seule fois, par
exemple exactement 10:21:00. Pour un autre trigger, il faut dfinir une
nouvelle heure de dmarrage absolue.
Si vous dfinissez un schma temporel, le module de test calcule en interne une
heure de dmarrage absolue partir de votre paramtrage du schma temporel
l'instant o vous dmarrez le test, c..d. l'instant o vous cliquez sur
Dmarrer/Continuer dans l'onglet Accueil. Il n'est donc pas ncessaire de
dfinir un nouveau schma temporel chaque dmarrage du test.

158

Un schma
temporel de

signifie

20 s

l'impulsion de trigger se produira au zro (autrement dit,


au dbut) de la prochaine "priode intgrale de 20
secondes". Priode intgrale de 20 secondes signifie par
exemple 10:21:00, 10:21:20 ou 10:21:40 ...

30 s

l'impulsion de trigger se produira au zro (autrement dit,


au dbut) de la prochaine "priode intgrale de 30
secondes". Priode intgrale de 30 secondes signifie par
exemple 10:21:00, 10:21:30 ou 10:22:00 ...

1 min

l'impulsion de trigger se produira au zro (autrement dit,


au dbut) de la prochaine "minute intgrale". Minute
intgrale signifie par exemple 10:21:00, 10:22:00 ou
10:23:00...

Synchronisation des ensembles de test CMC

Un schma
temporel de

signifie

2 min

l'impulsion de trigger se produira au zro (autrement dit,


au dbut) de la prochaine "priode intgrale de 2
minutes". Priode intgrale de 2 minutes signifie par
exemple 10:22:00, 10:24:00 ou 10:26:00...

5 min

l'impulsion de trigger se produira au zro (autrement dit,


au dbut) de la prochaine "priode intgrale de 5
minutes". Priode intgrale de 5 minutes signifie par
exemple 10:25:00, 10:30:00 ou 10:35:00...

10 min

l'impulsion de trigger se produira au zro (autrement dit,


au dbut) de la prochaine "priode intgrale de 10
minutes". Priode intgrale de 10 minutes signifie par
exemple 10:30:00, 10:40:00 ou 10:50:00...

L'avantage du schma temporel est le suivant : une seule dfinition suffit, une
fois pour toutes. Puisque l'heure de dmarrage n'est pas absolue, chaque fois
que vous cliquez sur "Dmarrer test", la premire impulsion de synchronisation
est calcule par rapport cette heure de "dmarrage du test" pour se produire,
par exemple "au zro de la prochaine priode intgrale de 20 secondes".
Si "Dmarrer test" est en fait cliqu 10:21:08, avec ce rglage de 20 s, la
premire impulsion de synchronisation aura lieu 10:21:20. Si ce mme bouton
"Dmarrer test" est cliqu une fois de plus 14:52:22, la premire impulsion de
synchronisation se produira 14:52:40 - sans avoir modifier de rglage.
Exemple : Deux ensembles de test CMC distants, chacun l'extrmit d'une
ligne, sont rgls par exemple 30 s. "Dmarrer test" est cliqu d'un ct
10:21:10, de l'autre 10:21:22. Les deux ensembles de test dmarreront le test
rel de manire synchronise exactement 10:21:30. Si le test est renouvel 3
jours plus tard dans l'aprs-midi et qu'aux deux extrmits "Dmarrer test" est
cliqu peu prs 16:10:13, le test rel synchronis commencera
exactement 16:10:30.
Un tel paramtrage pourrait tre incorpor dans un document Control Center de
nombreuses fois, sans qu'une adaptation ultrieure ne soit ncessaire.

159

OMICRON Test Universe

Priode de trigger
Indiquez l'intervalle de temps entre 2 impulsions de synchronisation.

impulsion n

priode de
trigger

impulsion n +1

Le paramtre priode de trigger n'est pas pertinent si l'ensemble de test CMC


fonctionne comme gnrateur IRIG-B. Le CMIRIG-B met toujours 1 impulsion
par seconde (PPS).
Pour les modules de test Advanced Differential Operating Characteristic et
Advanced TransPlay, veuillez lire la sous-rubrique Si la priode de trigger est
trop brve... de l'aide de Test Universe. Cliquez sur --- Synchronisation des
ensembles de test CMC --- dans la table des matires, puis sur l'entre
Modifier les donnes d'impulsion et naviguez jusqu' Si la priode de
trigger est trop brve...

160

Extensions des noms de fichiers dans OMICRON Test Universe

Extensions des noms de fichiers


dans OMICRON Test Universe
Disposition
nomdefichier.OMLAYOUT
Le gestionnaire des dispositions que vous lancez dans l'onglet Affichage en
cliquant sur Appliquer disposition > Grer les dispositions vous permet
d'exporter et d'importer des dispositions de travail personnalises, par
exemple, l'agencement des vues et des fentres. Vous pouvez ainsi
transfrer facilement une disposition de travail personnalise dont vous avez
l'habitude, vers un autre ordinateur sur lequel Test Universe est install.
Le fichier de disposition de travail personnalise peut recevoir un nom de
votre choix ; son extension de nom de fichier est .OMLAYOUT.
Omicron Control Center - OCC
nomdefichier.OCC
Document de test OMICRON Control Center
Pour connatre la version du logiciel qui a cr un document de test Control
Center (*.occ), vous n'avez pas besoin de lancer le logiciel OMICRON
Test Universe. Faites simplement un clic droit sur le fichier .occ dans
l'Explorateur Windows, slectionnez l'option de menu contextuel Proprits
et slectionnez l'onglet Rsum. Vous trouverez les informations
recherches dans "Commentaires".
Modules daide OCC
nomdefichier.PAU

Module Pause

nomdefichier.EXQ

ExeCute

nomdefichier.TXV

TextView

Configuration du matriel
nomdefichier.OHC

Configuration du matriel OMICRON


(importation/exportation dans l'onglet Gnral de la
Configuration du matriel).

161

OMICRON Test Universe

quipement tester
nomdefichier.RIO

Le terme RIO signifie Relay Interface by OMICRON.


RIO a t dvelopp pour offrir un format standard de
paramtrage des relais de protection de divers
fabricants. Il constitue une structure commune qui
permet de tester des relais de fonctionnalits
similaires au moyen de procdures de test similaires.
De plus, il permet dimporter partir de diverses
sources externes les caractristiques des relais dans
le logiciel Test Universe.

nomdefichier.XRIO

XRIO reprsente la deuxime gnration des fichiers


RIO. RIO est une abrviation de Relay Interface by
OMICRON : cette technologie tait disponible dans
les versions prcdentes de Test Universe. Le X
indique quil sagit dune version "tendue".

Fichiers de test spcifiques aux modules de test

162

nomdefichier.ADT

Advanced Distance

nomdefichier.ANNUCH

Annunciation Checker

nomdefichier.AUXDC

Configuration AuxDC

nomdefichier.BDF

Differential

nomdefichier.CBS

Circuit Breaker Simulation

nomdefichier.DST

Distance

nomdefichier.GRF

Transient Ground Fault

nomdefichier.HRT

(Advanced Differential) Diff. Harmonic Restraint

nomdefichier.MEA

EnerLyzer

nomdefichier.MET

Meter

nomdefichier.NSI

NetSim

nomdefichier.OAR

Autoreclosure

nomdefichier.OTF

(Advanced Differential) Diff. Operating Characteristic

nomdefichier.OUC

UCA-CMC Configuration

nomdefichier.OVT

Overcurrent

nomdefichier.PQT

PQ Signal Generator

nomdefichier.PRA

Pulse Ramping

Extensions des noms de fichiers dans OMICRON Test Universe

nomdefichier.QCM

QuickCMC

nomdefichier.RMP

Ramping

nomdefichier.SEQ

State Sequencer

nomdefichier.SNC

Synchronizer

nomdefichier.TRA

Advanced TransPlay

nomdefichier.TRD

Transducer

nomdefichier.TST

(Advanced Differential) Diff. Trip Time

nomdefichier.VGT

(Advanced Differential) Diff Configuration

nomdefichier.VSR

VI-Starting

Modules CEI 61850


nomdefichier.OGC

Fichier de configuration GOOSE

nomdefichier.OSV

Samples Values Configuration (module de


configuration CEI 61850-9-2 LE ).

nomdefichier.OUC

Fichier de configuration GSSE

Outils de test
nomdefichier.BIO

Binary I/O Monitor

nomdefichier.HOU

Harmonics

nomdefichier.LST

TransPlay

nomdefichier.TYP

TypConverter

Autres extensions de fichiers connatre


nomdefichier.7z

7-Zip est un archiveur de fichier source ouvert taux


de compression lev. Ses archives ont l'extension
.7z.
Les fichiers Control Center sont comprims en format
7z.

nomdefichier.CFG

Fichier de configuration COMTRADE pour la


description des canaux de rapport de panne (noms
des signaux, frquence d'chantillonnage, etc.). Il est
possible de l'importer avec le module de test
Advanced TransPlay, et de le charger avec l'outil de
test (en option) TransView.

163

OMICRON Test Universe

nomdefichier.CML

Fichier Comtrade. Il est possible de le charger laide


de l'outil de test (en option) TransView.

nomdefichier.CSV

Comma Separated Value (champs spars par des


virgules). Toutes les bases de donnes courantes
lisent ce format de fichier. Les donnes sont crites
sous une simple forme de tableau. Les valeurs sont
spares par un sparateur de champ dfinissable
par lutilisateur.
Si une valeur est une chane de caractres, la valeur
doit comporter un dlimiteur de texte (le texte peut
contenir le caractre utilis comme sparateur de
champ). Du fait que les conventions de noms des
valeurs boolennes ne sont pas homognes entre les
diffrents programmes de bases de donnes, il est
galement indispensable de dfinir les valeurs Vrai et
Faux.

nomdefichier.DAT

Fichier COMTRADE avec les valeurs chantillons des


canaux de rapport de panne. Il est possible de
l'importer avec le module de test Advanced
TransPlay, et de le charger avec l'outil de test (en
option) TransView.

nomdefichier.HDR

"Fichier en-tte" contenant tout texte en rapport avec


les donnes et non utilis par le logiciel. Il est possible
de le charger laide du module de test Advanced
TransPlay

nomdefichier.PDF

Invent par Adobe, Portable Document Format est


devenu le format standard pour la diffusion et
l'change des documents lectroniques. Les fichiers
PDF se prsentent exactement comme les
documents dorigine : ils conservent les polices, les
images, les graphiques et la mise en page de
n'importe quel fichier source, indpendamment de
lapplication et de la plate-forme utilise pour les
crer.
Pour afficher un fichier PDF, il faut utiliser Adobe
Reader ou Foxit Reader (ces deux logiciels sont
gratuits). Si vous ne possdez aucun logiciel
permettant de lire les PDF, OMICRON Test Universe
installe Foxit Reader.

nomdefichier.PL4

164

Fichier PL4. Il est possible de l'importer avec le


module de test Advanced TransPlay, et de le charger
avec l'outil de test (en option) TransView.

Extensions des noms de fichiers dans OMICRON Test Universe

nomdefichier.RTF

Rich Text Format. Format de fichier utilis par


Microsoft Word et dautres programmes de traitement
de texte.

nomdefichier.TPL

Fichier modle pour les rapports de test (bass sur le


format RTF)

nomdefichier.TRF

Fichier TRF. Il est possible de l'importer avec le


module de test Advanced TransPlay, et de le charger
avec l'outil de test (en option) TransView.

nomdefichier.XML

XML (eXtensible Markup Language) est devenu un


standard pour l'change des donnes, notamment
entre diffrentes plates-formes. XML et les
technologies associes sont des recommandations
W3C (World Wide Web Consortium).
Pour plus dinformations sur le format XML, consultez
le site W3C http://www.w3.org/XML/.

165

OMICRON Test Universe

166

Informations concernant la licence logicielle

Informations concernant la licence


logicielle
Les composants du logiciel Test Universe sont sous licence OMICRON, les
autres composants tant sous licences logicielles libres.

Utilisation sous licence de Test Universe :


Le logiciel OMICRON Test Universe est protg contre les installations non
autorises ; il doit tre utilis avec un fichier de licence. Les codes des fichiers
de licence spcifient les modules de test individuels et les numros de srie du
matriel, autrement dit chaque code spcifie un couple module de test X
fonctionnant avec un ensemble de test A. Le code de licence qui permet au
module de test X de fonctionner avec lensemble de test A est diffrent du code
pour lensemble de test B, mme si A et B peuvent dsigner le mme modle
CMC.
Le fichier de licence matre Omicron.lic est automatiquement install dans
[Common Files]\OMICRON.
[Common Files] contient le chemin d'accs complet du dossier dfini par
Windows pour conserver les fichiers partags par les applications installes sur
le systme. Dans les versions anglaises de Windows, ce dossier baptis
"Common Files" se trouve dans le dossier [Program Files]. Dans les versions de
Windows en dautres langues, le nom du dossier des fichiers communs est
traduit.
Omicron.lic est un fichier texte ASCII que vous pouvez afficher avec un diteur
de texte. NE RENOMMEZ PAS Omicron.lic. Ce nom de fichier est obligatoire.
Si vous achetez par la suite dautres ensembles de test OMICRON, vous devez
ajouter leurs codes de licence, fournis dans les fichiers de licence spars, au
fichier de licence matre. Pour cela, utilisez loutil de configuration License
Manager.

Licences logicielles libres


Les textes de la licence libre et, si ncessaire, les codes sources figurent sur le
DVD d'installation d'OMICRON Test Universe. Insrez le DVD (version 3.00 ou
suprieure) dans votre lecteur de disque.
Si la fonction de dmarrage automatique de Windows est active sur votre
ordinateur, le navigateur DVD, un cran d'installation ressemblant l'cran de
dmarrage, est automatiquement lanc.

167

OMICRON Test Universe

Cliquez sur Browse the DVD, et naviguez jusqu'au sous-dossier


_Documentation\Common. Les fichiers texte de licence sont nomms Test
Universe License Information.txt et CMC License Information.txt.
Si le navigateur DVD ne dmarre pas automatiquement, lancez l'Explorateur
Windows, et naviguez jusqu'au sous-dossier _Documentation\Common de
votre lecteur DVD.

168

Assistance

Assistance
Lorsque vous travaillez avec nos produits, nous souhaitons vous offrir tous les
avantages possibles. Si vous avez besoin d'assistance, nous sommes ici pour
vous aider !

Assistance technique 24h/24, 7j/7 votre service


www.omicron.at/support
www.omicronusa.com/support
Offrir nos clients une assistance exceptionnelle est l'une de nos grandes
priorits. Sur notre ligne directe d'assistance technique, vous aurez affaire des
techniciens comptents qui rpondront toutes vos questions. 24 heures sur 24
une assistance comptente et gratuite.
Appelez notre ligne directe d'assistance technique internationale 24h/24, 7j/7
au : +43 59495 4444.
Vous trouverez galement sur notre site Web www.omicron.at ou
www.omicronusa.com, les coordonnes du centre d'assistance OMICRON ou
du partenaire commercial OMICRON le plus proche.

Espace client Rester inform


www.omicron.at/customer
www.omicronusa.com/customer
L'espace client sur notre site Web est une plate-forme internationale d'change
des connaissances. Tlchargez les dernires mises jour de logiciel pour tous
les produits et partagez vos expriences sur notre forum utilisateur.
Parcourez la bibliothque de connaissances et trouvez-y notes d'application,
communications prsentes lors de confrences, articles sur les expriences de
travail quotidiennes, manuels d'utilisation et bien davantage.

Academy En savoir plus


www.omicron.at/academy
www.omicronusa.com/academy
Apprenez-en davantage sur votre produit l'occasion de l'un de nos stages de
formation proposs par OMICRON Academy.
OMICRON electronics GmbH, Oberes Ried 1, 6833 Klaus, Autriche, +43 59495

169

Assistance

170

Index

Index
Numerics
3x12,5 A, 70 VA @ 7,5 A 10 Veff, IE
automatiquement calcul (Configuration du
matriel) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
3x300 V, 50 VA @ 75 V, 660 mAeff, UE
calcul automatiquement (Configuration
du matriel) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74

A
Aide de Test Universe . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
antiparasitage des signaux dentres . . . . . . 41
anti-rebond des signaux d'entres . . . . . . . . 42
ASCII
format d'exportation de donnes . . . . . . 134

B
barre d'outils
gestionnaire d'units . . . . . . . . . . . . . . . 126
bloc
plusieurs blocs de fonctions dans un
fichier XRIO . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37
travailler avec des blocs dans lOrganiseur
(Equipement tester) . . . . . . . . . . . . . . . 33

C
changement d'units . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126
CMB IO-7 (matriel en option) . . . . . . . . . . 104
CMGPS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 146
CMGPS 588 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147
CMIRIG-B . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 147
Configuration de la synchronisation . . . . . . 154

configuration des sorties bas niveau


(configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . . . 82
Configuration du matriel
description gnrale . . . . . . . . . . . . . . . . 46
globale (module de test intgr Control
Center) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 47
globale et locale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
locale (module de test intgr Control
Center) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
mise jour de la configuration du matriel
avec les donnes de l'ensemble de test
connect . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
plusieurs configurations de matriel dans
un document de test . . . . . . . . . . . . . . . 117
si le module de test fonctionne en mode
autonome . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
utilisation d'une configuration du matriel
existante . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
vrification du matriel connect . . . . . . 125
configuration du matriel de test . . . . . . . . . 45
Configuration du matriel globale . . . . . . . . 47
Configuration du matriel locale . . . . . . . . . . 51
Conseils et astuces . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
continuer un test suspendu . . . . . . . . . . . . 127
Control Center
propos d'OMICRON Control Center . . 107
activer un groupe via Lier XRIO
(LinkToXRIO) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
activer un module de test via Lier XRIO
(LinkToXRIO) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
excution dun test partir du Control
Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125
couleur (couleur du texte) . . . . . . . . . . . . . 130
courant
courants reflts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84
courant de sortie 3x12,5 A, 70 VA @ 7,5 A
10 Veff, IE calcul automatiquement . . . . . . 75
courant homopolaire
calcul du courant de dfaut la terre . . . 41
courants reflts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 84
CSV
format d'exportation de donnes . . . . . . 134

171

OMICRON Test Universe

D
dclenchement
empcher le dclenchement dun relais
de protection diffrentielle . . . . . . . . . . . . 84
dmarrer/continuer un test (Control Center) 127
dtails de la configuration de l'amplificateur
(configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . . . 79
dtails de la configuration du CMC
(configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . . . 73
dtection des surcharges (Equipement
tester) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
dispositif de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 58
document de test
exportation d'un rapport . . . . . . . . . . . . . 133
exportation de donnes . . . . . . . . . . . . . 134
icne dobjet dans un document de test 132
impression . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 133
mise en page . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130
niveaux de protection . . . . . . . . . . . . . . . 137
plusieurs Configurations du matriel
dans un document de test . . . . . . . . . . . 117
plusieurs Equipements tester dans un
document de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
plusieurs modules tester dans un
document Control Center . . . . . . . . . . . . 108
protection par mot de passe . . . . . . . . . 139
documentation de Test Universe . . . . . . . . . 10

E
cran de dmarrage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
effacement des rsultats dun test (Control
Center) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 128
en-tte du document Control Center . . . . . . 130
Entres analogiques CC (configuration du
matriel) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90
Equipement tester
dans des documents OCC . . . . . . . . . . . . 22
dplacement/copie d'lments lis par
Lier XRIO (LinkToXRIO) d'un Equipement
tester un autre (Control Center) . . . . 114

172

Equipement tester
Equipement tester local d'un module de
test autonome . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
Lier XRIO (LinkToXRIO) . . . . . . . . . . . 27
Mode d'utilisation avanc . . . . . . . . . . . . 31
Mode d'utilisation standard . . . . . . . . . . . 31
plusieurs Equipements tester dans un
document de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
Equipement tester global dans un document
Control Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
Equipement tester local d'un module de
test autonome . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
erreur de lien
Lier XRIO (LinkToXRIO) avec modules
de test ou groupes (Control Center) . . . 114
valuation
changer l'valuation "russi"/"chou" . 129
ExeCute (module d'aide de Control Center) 142
exportation
rsultats de test et donnes d'un
document de test . . . . . . . . . . . . . . 133, 134
exportation de donnes
exportation d'un rapport . . . . . . . . . . . . 133
exportation de donnes de rapport . . . . 134
formats de fichier . . . . . . . . . . . . . . . . . . 134
extension CML de nom de fichier
COMTRADE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 164
extension de nom de fichier PDF . . . . . . . . 164
extensions des noms de fichiers dans
OMICRON Test Universe . . . . . . . . . . . . . . 161

Index

Facteurs tension/courant rsiduel (Equipement


tester) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
fichier de licence Omicron.lic . . . . . . . . . . . . 17
Flux de valeurs chantillonnes . . . . . . . . . 100
format
mise en page du document Control
Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130
texte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130
format court
formulaire de rapport de test prdfini . . 119
format de tlgramme (paramtres de la
Configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . . . 100
format long
formulaire de rapport de test prdfini . . 119
formatage du texte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130
formats de fichier
formats d'exportation des donnes . . . . 134
formules dans un Equipement tester . . . . . 27

IE calcul automatiquement (3x12,5A, 70VA


@ 7,5A 10 Veff, dans la Configuration du
matriel) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
informations concernant la licence logicielle 167
Infos OMICRON . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
Infos, Infos OMICRON . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
installation de Test Universe, navigateur DVD 18
Interface relais OMICRON. Voir RIO
IRIG-B
ensemble de test CMC utilis comme
gnrateur IRIG-B . . . . . . . . . . . . . . . . . 151
gnrateur IRIG-B suivant GPS l'aide
d'un CMIRIG-B (paramtre de source de
temps dans Configuration du matriel) . . 95
gnrateur IRIG-B suivant GPS l'aide
d'un CMIRIG-B et d'un CMGPS 588
(paramtre de source de temps dans
Configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . 96
gnrateur IRIG-B suivant PPS l'aide
d'un CMIRIG-B (paramtre de source de
temps dans Configuration du matriel) . . 95
gnrateur IRIG-B suivant PTPv2 l'aide
d'un CMIRIG-B (paramtre de source de
temps dans Configuration du matriel) . . 96
gnration d'une rfrence de temps
IRIG-B avec un ensemble de test CMC 151
synchronisation des ensembles de CMC 145

G
GPS
prcision de la synchronisation . . . . . . . 150
synchronisation des ensembles de
test CMC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 145
groupe
activer un groupe via Lier XRIO
(LinkToXRIO) (Control Center) . . . . . . . 114

H
haute prcision, dmarrage du test
dclench par GPS (Configuration de la
synchronisation) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 157
horodatage via NTP (paramtre de source
de temps dans Configuration du matriel) . . 97

L
licence
informations concernant la licence
logicielle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
License Manager . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
Lier XRIO (LinkToXRIO) . . . . . . . . . . . . . . 27
activer un groupe via Lier XRIO
(LinkToXRIO) (Control Center) . . . . . . . 114
activer un module de test via Lier XRIO
(LinkToXRIO) (Control Center) . . . . . . . 114
Logiciel libre . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167

173

OMICRON Test Universe

Manchester II (paramtre IRIG-B de la


Configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . . . 101
manuels de Test Universe . . . . . . . . . . . . . . 10
mise jour des informations sur le matriel
de l'ensemble de test connect . . . . . . . . . . 62
mise en page
format de mise en page du document
Control Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130
modle
modle de rapport de test . . . . . . . . . . . 121
modulation (paramtre IRIG-B de la
Configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . . . 101
module d'aide de Control Center
ExeCute . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 142
Module Pause . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 140
TextView . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143
module de test
activer un module de test via Lier XRIO
(LinkToXRIO) (Control Center) . . . . . . . 114
dans document de test Control Center . 107
plusieurs modules de test dans un
document de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108
Module Pause (module d'aide de Control
Center) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 140

objet incorpor ne s'ouvre pas partir du


document Control Center . . . . . . . . . . . . . . 139
objet OLE dans document Control Center niveaux de protection . . . . . . . . . . . . . . . . . 139
objet OLE protg dans document Control
Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139
OMICRON Control Center . . . . . . . . . . . . . 107
onglet Entres binaires / analogiques
(configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . . . 85
Onglet Sorties binaires (configuration du
matriel) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
option PAR-1 du CMC 256plus . . . . . . . . . . 58

N
navigateur DVD (installation de Test
Universe) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
niveaux de protection des documents
de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 137
notice lgale . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
NTP
horodatage via NTP (paramtre de source
de temps dans Configuration du matriel) 97
numros de page du document Control
Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130

174

P
par dfaut
appliquer un nouveau rapport de test par
dfaut un document Control Center . . 124
dfinition dun nouveau rapport de test
par dfaut . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
paramtre de police . . . . . . . . . . . . . . . . . . 130
Paramtres quipement (quipement
tester) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
pause
continuer un test suspendu . . . . . . . . . . 127
suspension d'un test (module Pause) . . 128
PermaSync . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 146
pied de page du document Control Center 130
prcision
dmarrage du test dclench par GPS . 156
prcision de la synchronisation GPS . . 150
Protection diffrentielle
empcher le dclenchement . . . . . . . . . . 84
protection par mot de passe des documents
de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139
PTP (paramtre de source de temps dans
Configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . . . 92

Index

R
rappeler valeurs par dfaut
rapport de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
rapport de test
ajout de formulaires de rapports de test 122
appliquer de nouvelles valeurs par dfaut
tout le document Control Center . . . . . 124
dfinition dun nouveau rapport de test
par dfaut . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
formulaire de rapport de test prdfini . . 119
personnalisation d'un rapport de test . . . 121
rappeler valeurs par dfaut . . . . . . . . . . 123
suppression de formulaires de rapports
de test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123
utilisation de formulaires prdfinis . . . . 119
RIO
exportation dun fichier RIO . . . . . . . . . . . 32
importation dun fichier RIO . . . . . . . . . . . 31
le format de fichier XRIO . . . . . . . . . . . . . 27
RTF
format d'exportation de rapport . . . . . . . 134

S
scripts
protection des documents Control Center
contre les modifications . . . . . . . . . . . . . 137
Section Configuration du systme de l'cran
de dmarrage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
section Configuration sur l'cran de
dmarrage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
Section Diagnostics & Etalonnage de l'cran
de dmarrage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
Section Outils de test de l'cran de
dmarrage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
section Utilisateur l'cran de dmarrage . . . . 20
Slection de la langue sur l'cran de
dmarrage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
signal
antiparasitage des signaux dentres . . . 41
anti-rebond des signaux dentres . . . . . . 42

signal d'entre
antiparasitage des signaux dentres . . . 41
anti-rebond des signaux dentres . . . . . 42
simulation de capteur de courant
(configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . . . 81
simulation de capteur de courant Rogowski
(configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . . . 81
simulations de capteurs de tension
(configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . . . 80
sortie de tension
3x300V, 50VA @ 75V, 660mAeff, UE
calcul automatiquement . . . . . . . . . . . . 74
Sorties analogiques (configuration du
matriel) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
synchronisation des ensembles de test
CMC (GPS, IRIG-B) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 145
synchronisation horaire des ensembles de
test CMC (GPS, IRIG-B) . . . . . . . . . . . . . . 145
syntaxe des formules d'un Equipement
tester . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27

T
tableaux de cblage (HWC) . . . . . . . . . . . . . 66
TC (transformateur de courant), configuration
d'un TC dans la Configuration du matriel . . 76
tension homopolaire
calcul de la tension rsiduelle . . . . . . . . . 41
test
changer l'valuation "russi"/"chou" . 129
dmarrer/continuer un test . . . . . . . . . . 127
effacement des rsultats dun test
(Control Center) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 128
excution dun test partir du Control
Center . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125
heure de dmarrage (Configuration de
la synchronisation) . . . . . . . . . . . . . . . . 155
suspension d'un test (module Pause) . . 128
test de bout en bout
avec synchronisation IRIG-B . . . . . 150, 151
TextView (module d'aide de Control
Center) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 143

175

OMICRON Test Universe

trigger
donnes de trigger (Configuration de la
synchronisation) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 155
gnrateur IRIG-B suivant matre l'aide
d'un CMIRIG-B (paramtre de source de
temps dans Configuration du matriel) . . 94
synchronisation horaire du trigger des
ensembles de test CMC (GPS, IRIG-B) 145
via GPS l'aide d'un CMGPS (paramtre
de source de temps dans Configuration
du matriel) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91
via GPS l'aide d'un CMGPS 588
(paramtre de source de temps dans
Configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . 92
via IRIG-B l'aide d'un CMIRIG-B
(paramtre de source de temps dans
Configuration du matriel) . . . . . . . . . . . . 93
via PTPv2 (paramtre de source de
temps dans Configuration du matriel) . . 92
TT, configurer un transformateur de tension
dans la Configuration du matriel . . . . . . . . . 76
Tutoriels (tutoriels CM-Line) . . . . . . . . . . . . . 18

XML
extension de nom de fichier . . . . . . . . . 165
format d'exportation de donnes . . . . . . 134
XRIO
propos de XRIO . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
exportation dun fichier XRIO . . . . . . . . . 32
importation dun fichier XRIO . . . . . . . . . 31

U
UE calcul automatiquement (3x300 V, 50 VA
@ 75 V, 660 mAeff dans la Configuration du
matriel) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 74
Units . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126

V
variables d'un Equipement tester
(variables personnalises) . . . . . . . . . . . . . . 27
vrifier le matriel connect (Control
Center) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125

176

Das könnte Ihnen auch gefallen