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Tcnicas Analticas
utilizadas
nesta
dissertao,
bem
como
as
condies
incluindo
reflexo,
espalhamento,
absoro,
fluorescncia
(ou
62
I
I0
(3-1),
A log
1
log T
T
(3-2).
I
A cb log 0
I
(3-3).
63
64
Figura 3-3 Representao dos nveis de energia e das transies eletrnicas, assim como
PUC-Rio - Certificao Digital N 0721252/CA
Nesta
figura
possvel
observar
fenmeno
conhecido
como
65
3.4. Espectroscopia
de
absoro
Transformada de Fourier (FTIR)
no
infravermelho
com
3.5. Perfilometria
A tcnica de perfilometria foi utilizada para confirmar a espessura dos
filmes finos produzidos e aferir o Tooling Factor utilizado durante a deposio.
O perfilmetro um aparelho usado na avaliao da topografia e da
rugosidade de superfcies, com uma ponta (normalmente de diamante) que varre
a rea escolhida da amostra. Quando a amostra apresenta um degrau substratofilme, a espessura obtida diretamente da altura deste degrau.
66
valores
dos
nveis
HOMO
LUMO
esto
relacionados,
67
IP Pox 4,4
Neste trabalho fez-se uso de uma faixa de tenso acima do potencial
permitido para a configurao escolhida. O uso de um filme orgnico depositado
na interface eletrodo de trabalho/eletrlito permite o uso de uma faixa de
potencial de varredura em que no se visualizam picos de hidrognio ou
oxignio provenientes da dissociao das molculas de gua. Pode-se dizer que
houve a criao de um novo eletrodo com a insero de um filme orgnico sobre
decomposio
de
compostos
sob
diferentes
condies,
fornecendo
68
69
Referncias Captulo 3
http://efeitoazaron.com/2007/04/24/20/
Alegre (2008).
7
(2006).