DIFRACCIN DE LA LUZ

Light diffraction
RESUMEN
El objetivo de esta prctica es estudiar el patrn de difraccin de la luz
dado por rendijas rectangulares sencillas, dobles y mltiples, adems para
calcular las distancias entre las rejillas y el ancho de las mismas a partir de
una serie de ecuaciones, las cuales se encuentran en la gua del
laboratorio, esto con el propsito de realizar una comparacin entre los
valores tericos de las rejillas usadas.
PALABRAS CLAVE
Colimador, difraccin, longitud de onda, mxima, mnima, rejillas o
rendijas.
ABSTRACT
The purpose of this lab is to study the pattern of diffraction of light given
by single, double and multiple rectangular slits also to calculate the
distances between the grids and the same width from a series of equations,
which are laboratory in the guide, this in order to make a comparison
between the theoretical values of the grids used.
KEYWORDS
Collimator, diffraction, maximum, minimum, slits, wavelength.

INTORODUCCIN
El anlisis y estudio de difraccin de la luz producida a partir de un lser
que pasa por cada una de las rejillas empleadas en el laboratorio (rejillas
simples, rejillas dobles, rejillas mltiples), con los datos obtenidos en esta
prctica se realizaron los respectivos clculos para hallar la distancia entre
rejillas y el ancho de cada una de ellas; analizando as los patrones de
difraccin que proporciona la luz por medio de las rendijas.

SANTIAGO
BOLIVAR
GONZLEZ
Ingeniera elctrica.
1112781557
Universidad
Tecnolgica
de
Pereira
santy7685@gmail.co
m
DANIELA
ZULUAGA
OCAMPO
Ingeniera de sistemas
y computacin
Universidad
Tecnolgica
de
Pereira
Danielazuluaga@utp.edu.co

METODOLOGIA
A partir de las grficas obtenidas en el laboratorio, se procede a identificar
el mximo central de cada grfica, al igual que los mximos secundarios,
para el caso de las rejillas dobles y mltiples y los mnimos de cada una
para encontrar el valor de m, que se interpreta como el orden de patrn de
difraccin para mnimos u oscuros y para los mximos o claros. Los
parmetros para la escogencia de cada uno de los datos requeridos se
realizan a partir de los patrones que se iba a emplear para realizar los
clculos de la amplitud de las rejillas y la amplitud para cada
configuracin de rejillas.

MARCO TEORICO
Para que la difraccin de la luz sea visible esta tiene que interactuar con
superficies de ciertas dimensiones para obtener longitudes de ondas y as
poder compararlas y claro esta se debe tener en cuenta el medio donde se
va a observar el fenmeno de onda de luz para que sea visible a la vista.
PROCEDIMIENTO:
Rejillas Simples
Siendo la ecuacin:
BSen= m m =1 ,2,3
Se puede hallar el ancho de la rendija con
B=m/Sen
Rejilla 1
=1.4485
B=0.6650

Voltage vs Linear Position

1.6
1.4
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
-0.2

0.05

0.1

0.15

0.2

0.25

0.3

0.35

0.4

Rejilla 2
=1.5108
B=0.6612

Voltage vs Linear Position

3.5
3
2.5
2
1.5
1
0.5
0

0.05

0.1

0.15

-0.5

Mltiples Rejillas
Siendo la ecuacin:
dSen= m m =1 ,2,3
Se puede hallar el ancho de la rendija con
d=m/Sen

Rejillas 1
=1.0577
B=0.7576

0.2

0.25

0.3

Voltage vs Linear Position

0.7
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0

0.05

0.1

0.15

0.2

0.25

0.3

0.35

Rejillas 2

=1.5367
B=0.6604

Voltage vs Linear Position

0.7
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0
0.00E+00 1.00E-01

2.00E-01

3.00E-01

4.00E-01

Anlisis de datos:

Rendija simple n1.

Ancho de la rendija: 0,02mm.
A partir de este valor y del terico (0,1mm) se obtiene un erro del
8%.

Rendija simple n2:

Ancho de la rendija: 0,1mm.
Comparndolo con el valor terico para este caso (0,3 mm) se
obtiene un error del 20%.

Rendija doble 1
Amplitud de la rejilla= 0,014 mm con un porcentaje de error del 2.6%
tomado a partir del valor
Terico (0,04mm). Siendo este error el ms bajo de todos los errores
calculados en el caso de las
Amplitudes, pues esto nos da indicios de que cuando se emple la rejilla
mltiple la dispersin de los datos es muy pequea por lo que al utilizar
esta la difraccin de la luz es casi perfecta.

Distancia entre rejillas= 0,0265 con un error del 22,35 %; para el clculo
de este error se toma como valor terico (0,25 mm).

Rendija doble 2
Amplitud de la rejilla=0,041mm y con un porcentaje de error del
3.9% tomado a partir del valor terico (0.08mm).
Distancia entre rendijas= 0,11 mm con un porcentaje de error del
12.8% tomado a partir del valor terico (0.25mm).

A continuacin se realiza los mismos clculos para las rejillas mltiples

usando las mismas ecuaciones.

Rendija mltiple n3.

Amplitud de la rejilla= 0,06 mm con un porcentaje de error del 2.6 %, este

se obtiene comparndolo con el valor terico de 0,04mm.

Distancia entre rendijas= 0,029 mm con un error del 9.4% tomado a partir
del 0,125 mm como valor terico.

Bibliografa

Gua de laboratorio de fsica III.