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Tessent: Scan and ATPG

Student Workbook

2014 Mentor Graphics Corporation


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Part Number: 073120

Table of Contents
Module 1
Basic Concepts. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Why Test? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Types of Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
What Is Test? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Manufacturing Defects . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Models . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Models and Test Patterns. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Automatic Test Pattern Generation (ATPG) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Additional Fault Models . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Bridge Fault: Test Multiple Detection . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Layout-Aware Bridge Fault Model . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
At-Speed Fault Models: Transition . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
At-Speed Fault Models: Path Delay . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
User-Defined Fault Models (UDFM)/Cell-Aware UDFM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
IDDQ Fault Model. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Scan Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Scan Flip-Flops/Scan Cells . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Basic Scan Test Overview . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Basic Scan Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Basic Scan Test Review. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Tessent Shell: Contexts and Modes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Overview: Tessent Shell . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Command Syntax and Structure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Invocation, System Modes and Contexts. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Contexts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Invoking FastScan Inside of Tessent Shell . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Accessing UNIX Commands From the Tool Command Line. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Getting Help. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Getting Help: Useful Tool and System Commands. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Review . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Lab 1: Exploring the Help System. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Module 2
ATPG Flow . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Full DFT Flow in Tessent Shell. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
DFT Library . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Creating a DFT Library . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Automatic Generation of DFT Libraries . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Black Boxes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Tessent: Scan and ATPG

Table of Contents

Auto Black Boxing for Incomplete Netlists . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


Black Box Examples . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG Setup . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Test Procedure File . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Test Procedure File: Timeplates . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Test Procedure File: Setup, Load_Unload . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Test Procedure File: Load_Unload and Shift . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Dofile . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Dofile: Scan Chain Definition . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Dofile: Clock/Control Signal Definition . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
DC Scan Insertion Flow. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
DC Scan Insertion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG Process . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG Process: Setup. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG Process: DRCs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
DRCs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG Process: Configuring ATPG. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG Process: Generate Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG Process: Save Results . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Lab 2: Generating Test Patterns. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Module 3
Fault Grouping, Transcripts and Statistics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Locations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Specifying the Fault Universe: Add Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Specifying the Fault Universe: Excluding Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Specifying the Fault Universe: Initial Faults To Be Tested. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Transcript/Logfile Overview . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Understanding the Logfile . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Logfile Overview . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Logfile Review, ATPG Warnings, and Auto Adjustment . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Test Coverage Reporting: Fault Types: Testable . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Test Coverage Reporting: Metrics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Calculating Testability . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Types: Detected By Implication (DI) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Types: Detected By Simulation (DS) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Types: Possible Detected Faults (PT,PU). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Types: ATPG Untestable (AU) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Types: Uncontrolled (UC) and Unobserved(UO). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
UC, UO and Aborted Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Types: Untestable Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Types: Unused (UU). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Types: Tied (TI) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Types: Blocked (BL) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Types: Redundant (RE) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Equivalent Faults (EQ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Tessent: Scan and ATPG

Table of Contents

Lab 3: Understanding ATPG Messaging. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123


Module 4
Test Patterns and Test Pattern Generation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG Test Pattern Types . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Basic Scan Patterns Review . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Clock Sequential Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Clock Sequential Pattern Operation. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Testing Around RAMs. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Structured Test With RAMs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Elements of a RAM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Data Pin Fault Detection . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Address Fault Detection. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Typical RAM Embedding . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Control Signals for RAMs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Multiple Load (Multi-Load) Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Overview: Testing RAMs With Multi-Load Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Using Multi-Load Patterns to Test RAMs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Using Multi-Load Patterns to Test RAMs: Tests for Stuck-At-0 at the Output of U1 . . . . .
Multi-Load Pattern Operation: Testing RAMs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Multi Load Patterns: Example 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Generate Optimum Test Patterns Automatically . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Report Patterns. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Report Scan Cells. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Saving Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Reuse and Debugging . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Reuse and Debugging: ASCII and Binary Formats . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Reuse and Debugging: Reading ASCII Files Back Into Tessent Shell . . . . . . . . . . . . . . . . .
Time-Based Verification . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Verification of Pattern Formats . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Manufacturing Test Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Lab 4: Understanding Test Pattern Generation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Module 5
Advanced Fault Models and Complex Pattern Generation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Review: Fault Models . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
At-Speed: Transition and Path Delay Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Transition Fault Model . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Default Observation of Transition Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
False Paths . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Multicycle Paths . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Path Delay Fault Model . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Path Definition Files . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Path Delay Pattern Flow . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
At-Speed Pattern Generation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Launch-Off-Capture or Broadside . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Tessent: Scan and ATPG

Table of Contents

Launch-Off-Shift: Basic Combinational . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


Launch-Off-Shift . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
At-Speed Test: Generating Internal Clocks . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Controlling Clocks During Shift and Capture . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Defining OCC functionality for ATPG . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Named Capture Procedure (NCP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
What Are Named Capture Procedures (NCP)? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
NCP Links External With Internal Signals . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Components of NCP With External and Internal Modes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Details of External and Internal Modes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Selection With Condition Statements . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
NCP With Condition Statements . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Use ATPG Engine Define NCP. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Named Capture Procedure Rules . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Pattern Verification . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
write_procedure_testbench . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Clock Control Procedures (CCD) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Per-Cycle and Sequence Clock Control Support . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG Cycle Definitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example: Per-Cycle Clock. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example: Multi-Cycle Clock . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Keywords (Clock Control Definitions) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Procedure to use CCD for ATPG . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
IDDQ Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Creating a Single Test Pattern File . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Lab 5: Testing for High Quality . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Module 6
Design Rule Checks and Test Coverage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG: Model Flattening and Learning Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG Design Rule Checking (DRC) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Clocks . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Clock Cones . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
C1 DRC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
C1 DRC Investigation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Handling C1 Violations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
C3/C4 DRC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
C3/C4 Investigation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Handling C3 and C4 Violations. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
C6 DRC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
C6 Investigation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Handling C6 Violations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
C3/C4/C6 Recap . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
DRC D1: Data Disturbed . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
TieX, Tie0, Tie1 (D5) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
DRC D5: Non-Scan FF Determination . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Non-Scan Latches and Transparency: DRC D6 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Tessent: Scan and ATPG

Table of Contents

Handling D5 and D6 Violations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


Contention Check During Load_Unload: E4. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
DRC E4 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Handling E4 Violations: Force Bidirectional Pins to Z . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Scan Chain Trace Rules: T3 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Scan Chain Trace Rules: T4, T5 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Scan Chain Tracing for Mux D . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Scan Chain Lockup Latch . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
State Stability . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
What Does Stability Analysis Do? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
State Stability Gate Report . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Need For State Stability Analysis. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Analyzing DRC Violations as Possible Causes of Low Coverage (Stuck-At Fault). . . . . . .
Analyzing DRC Violations: Commands . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Analyzing DRC Violations: report_gates Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Analyzing DRC Violations: Commands in DFTVisualizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Lab 6: Troubleshooting DRCs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Module 7
Troubleshooting Low Test Coverage and Simulation Mismatches . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Sources of Low Coverage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Troubleshooting Areas of Low Coverage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Adding Primary Input Points For Investigation. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Analyzing (Non-DRC) Causes of Low Coverage (Stuck-At Fault) . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Assessing the Problem in DFTVisualizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Faults Classified as ATPG Untestable. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Tools for Debugging AU Faults: set_gate_report Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Tools for Debugging AU Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Faults Classified as Undetectable . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault-By-Fault UC Debugging: report_faults Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault-By-Fault UC Debugging: analyze_fault Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault-By-Fault UC Debugging: report_test_stimulus Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Aborted Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Addressing Aborted Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Debugging Transition/Path Delay Faults: Cell Constraints Can Prevent Detection . . . . . . .
Constrain State Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Debugging Transition/Path Delay Faults: Perform a Stuck-At Test for Sites Along Path . .
Analyze Faults in DFTVisualizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Show Statistics in DFTVisualizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Report Faults in DFTVisualizer. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Reporting Fault Status . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Testbenches . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Serial Testbench. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Serial Pattern Verification . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Parallel Verilog Testbench. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Mismatch Transcript . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Mismatch Investigation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Tessent: Scan and ATPG

Table of Contents

Pattern Masking . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Debugging Simulation Mismatches. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
DRC Violations: Simulation Mismatches . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
When, Where, and How Many Mismatches . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Mismatch Symptoms . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Clock Skew Problems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Timing Violations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Library Problems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Modeling Abstraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Library Verification Flow . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Library Verification With LibComp . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Automatic Simulation Mismatch Analysis Flow. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Analyze Simulation Mismatches . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ModelSim Invocation Script . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Report Mismatch Sources Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Troubleshooting Tips . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
VERILOG_VECTYPE_SIGNAL . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Debugging Serial Simulation Mismatches: Chain Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Clock Skew in Chain Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Setup Commands That Affect Expected Values . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
add_black_boxes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
X Clock Handling . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Bus Simulation. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Set Z Handling . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
add_primary_inputs -Internal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Modeling Issues . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Mux Model Pessimism . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG Switch Models . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ROM and RAM Initialization Data . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Weak Pulls Often Have Slow Timing for ATPG . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Event Simulation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Event Simulation: DFFs and Latches . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example 1: Reporting Pattern Index . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example 2: Reporting Parallel Pattern 0 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example 3: DRC Pattern Load_Unload. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Lab 7: Troubleshooting Test Patterns and Simulation Mismatches . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Module 8
Compression Techniques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Understanding the ATPG Process . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Standard Test Application Process . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG-Based Compression Techniques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Static Compression . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Dynamic Compression. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Clock Domain Analysis and Clock Merging . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Multiple Clock Capture Per Pattern. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG Create Patterns Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Tessent: Scan and ATPG

Table of Contents

Balanced Scan Chains . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


Short Scan Chains . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Embedded Deterministic Test (EDT) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Basic Terminology. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Data Volume and Test Application Time . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
EDT Reduces Test Data Volume and Application Time. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG With EDT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
EDT Test Application Process. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example Results of EDT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
EDT Decompressor Logic With XPress Compactor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Decompressor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Test Pattern Decompression . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Compactor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
EDT Compression Inside of Tessent Shell . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Tessent Shell EDT Flows and Usage. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
EDT Logic Creation. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Default Flow: Post-Core-Synthesis With Wrapper . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Summary: ATPG and EDT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Lab 8: Tessent Shell EDT Internal RTL Flow Using Tessent TestKompress. . . . . . . . .

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Module 9
Additional Test Methodologies and Topics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Need for a New Fault Model . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
What Is a User-Defined Fault Model (UDFM)? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG Model . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Defining Test Alternatives. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Gate-Exhaustive UDFM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ATPG With UDFMs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Cell-Aware ATPG . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Targeting Cell-Internal Defects . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Layout Extraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fault Simulations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Cell-Aware UDFM Generation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Cell-Aware Methodology . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Summary of Steps in the Cell-Aware Characterization Flow . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
UDFM Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
More Information. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Why Low-Power Test? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Tessent Low-Power . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Low-Power ATPG . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Limiting Switching During Capture . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Low-Power Decompressor Reducing Switching Activity During Shift . . . . . . . . . . . . . . . .
Low-Power Test Flow . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
IEEE1801 (UPF 2.0) and CPF 1.1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Usage Overview. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Low Power Design ATPG General Strategy . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Test Sequencing . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Tessent: Scan and ATPG

Table of Contents

Power State During Scan Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


Testing Low Power Components. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Basic Usage Flow for ATPG . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example 1: Power Metrics Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example 2: Power Metrics Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example 3: Power Metrics Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example 4: Enhanced Switching Reporting for Shift Cycle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example 5: Enhanced Switching Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Extensions to Pattern Filtering for Switching . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
More Information. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
On-Chip Clock Control (OCC) Requirements. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Design Placement . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Clock Controller Schematic. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Functional Mode Operation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Programmable Length Shift Register . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Shift Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Slow Capture Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Timing Diagram for Slow Capture Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Scan Enable Synchronization . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Fast Capture Mode. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Timing Diagram for Fast Capture Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Clock Control Logic Design and Application Note. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Overview: Where to Get Help . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Accessing SupportNet Material . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Customer Support . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Course Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Related Courses . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Products: Tessent Silicon and Yield Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Lab 9: Demo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Appendix A
DFTVisualizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
DFTVisualizer Debugging Environment. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
DFTVisualizer Windows . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Troubleshooting a DRC Violation in DFTVisualizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Troubleshooting a DRC Violation in the Debug Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Adding an Instance to the Design Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Expand Design Cells to Examine Content Details . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Primitive Level Highlights. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example 1: set_gate_level Primitive and report_gates . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Example 2: set_gate_level Primitive and report_gates . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Reporting Fault Status . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Constraint Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Adding Test Procedure Values to the Debug Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Tracing Back to a DRC Violation X Source . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Tracing Down a Level of Hierarchy in the Design Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Data Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

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Tessent: Scan and ATPG

Table of Contents

The Data Window With Clock Cone Information. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .


The Browser and Signals Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Browser: Hierarchy View . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Browser: Library View . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Browser: Clocks View . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
View Selected Instances From Browser to Debug Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Browser Window With Test Coverage Information. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Browser Window With Fault Coverage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Viewing DRC Violation D5 in the Browser Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
The Wave Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Lab: No Lab . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

Tessent: Scan and ATPG

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