Metodos Geofisicos

Indice
INDICE
1. Introduccin ................................................................................................................. 1-1
1.1. Mtodos geofsicos ............................................................................................... 1-1
1.2. Objetivos ............................................................................................................... 1-4
1.3. Antecedentes ......................................................................................................... 1-5
1.4. Organizacin de este trabajo ................................................................................. 1-6
2. Medida de la resistividad elctrica del subsuelo ........................................................... 2-1
2.1. Resistividad elctrica de suelos ............................................................................. 2-1
2.2. Medida de la resistividad elctrica ........................................................................ 2-4
2.3. Dispositivos tetraelectrdicos lineales bsicos ..................................................... 2-6
2.4. Tipos de prospecciones geoelctricas ................................................................. 2-10
2.4.1. Sondeo elctrico vertical .......................................................................... 2-10
2.4.2. Calicatas elctricas .................................................................................... 2-13
2.5. Sistema de medida y configuraciones electrdicas utilizadas.............................. 2-17
2.6. Resumen .............................................................................................................. 2-23
3. Problema directo ........................................................................................................... 3-1
3.1. Potencial y campo elctrico en presencia de una esfera ....................................... 3-2
3.1.1. Solucin exacta del potencial elctrico ...................................................... 3-2
3.1.2. Solucin aproximada del potencial elctrico .............................................. 3-3
3.1.3. Solucin con campo elctrico uniforme...................................................... 3-6
3.2. Potencial y campo elctrico en presencia de un cilindro .................................... 3-10
3.3. Configuraciones de electrodos ptimas .............................................................. 3-14
3.4. Detectabilidad de objetos esfricos y cilndricos. Determinacin de la
profundidad y el radio ........................................................................................ 3-31
3.4.1. Campo elctrico uniforme ........................................................................ 3-32
3.4.2. Efecto de la proximidad de los electrodos de corriente ............................ 3-41
3.4.3. Efecto de una capa horizontal ................................................................... 3-48
3.4.4. Errores en las medidas. Nmero finito de muestras ................................. 3-52
3.4.5. Medidas experimentales ........................................................................... 3-55
3.5. Resumen .............................................................................................................. 3-59
4. Instrumentacin ............................................................................................................ 4-1
4.1. Antecedentes ......................................................................................................... 4-1
4.2. Sistema automtico de medida de la resistividad del subsuelo ............................. 4-3
4.3. Primer sistema de laboratorio ............................................................................... 4-5
4.3.1. Estructura ................................................................................................... 4-6
Indice
4.3.2. Etapa detectora .......................................................................................... 4-9

4.3.3. Acoplamiento capacitivo e inductivo del inyector sobre el detector ........ 4-13
4.3.4. Reduccin de la tensin de modo comn ................................................. 4-21
4.4. Segundo sistema de laboratorio .......................................................................... 4-23
4.4.1. Descripcin del detector DIES ................................................................. 4-25
4.4.2. Interferencia de la red elctrica ................................................................ 4-30
4.5. Sistema de campo ............................................................................................... 4-32
4.6. Resumen .............................................................................................................. 4-35
5. Problema inverso ......................................................................................................... 5-1
5.1. Antecedentes ........................................................................................................ 5-1
5.2. Determinacin del modelo .................................................................................... 5-3
5.2.1. Teorema de la sensibilidad ......................................................................... 5-3
5.2.2. La matriz de sensibilidad ........................................................................... 5-6
5.3. Mtodos de un slo paso ...................................................................................... 5-8
5.3.1. Mtodos de inversin basados en el criterio de mnimos cuadrados ......... 5-9
5.3.2. Mtodos de retroproyeccin ..................................................................... 5-14
5.4. Imgenes con datos sintticos ............................................................................. 5-16
5.4.1. Comparacin de los diferentes algoritmos de reconstruccin .................. 5-17
5.4.2. Estudio de las matrices de sensibilidad .................................................... 5-23
5.4.3. Eleccin del parmetro .......................................................................... 5-27
5.4.4. Escalado de la conductividad estimada .................................................... 5-29
5.4.5. Influencia del modelo ............................................................................... 5-32
5.4.6. Errores en las medidas .............................................................................. 5-38
5.4.7. Objetos cilndricos .................................................................................... 5-44
5.4.8. Imgenes 3D ............................................................................................. 5-46
5.5. Resumen .............................................................................................................. 5-47
6. Resultados experimentales ........................................................................................... 6-1
6.1. Medidas de laboratorio ........................................................
6-1
6.1.1. Objetos esfricos ........................................................................................ 6-1
6.1.2. Objetos cilndricos ..................................................................................... 6-8
6.1.3. Medidas con el sistema de campo ............................................................. 6-11
6.2. Medidas de campo .............................................................................................. 6-12
6.3. Resumen ............................................................................................................. 6-16
7. Conclusiones .............................................................................................................
7-1
Indice
Referencias
Apndice A. Soluciones del potencial elctrico en presencia de una esfera .................... A-1
A.1. Solucin exacta del potencial elctrico para una inyeccin puntual
de corriente ........................................................................................................... A-1
A.2. Solucin aproximada del potencial elctrico para una inyeccin
puntual de corriente ............................................................................................. A-7
A.3. Comparacin de las expresiones exacta y aproximada ...................................... A-12
Apndice B. Potencial elctrico en presencia de un cilindro para una inyeccin
puntual de corriente ...................................................................................... B-1
Apndice C. Impedancia de electrodo ............................................................................. C-1
Apndice D. Estimacin de los efectos capacitivos e inductivos entre el inyector
y el detector ................................................................................................. D-1
Apndice E. Imgenes de laboratorio y de campo ............................................................ E-1
Apndice F. Publicaciones propias relacionadas con el tema de la tesis ...........................F-1
1-1
1. Introduccin
La localizacin de objetos y estructuras inmersas en el subsuelo se basa en la deteccin de

alguna propiedad de dichos objetos o estructuras que los diferencia del medio que los rodea. Los
mtodos geofsicos se basan en el estudio de las propiedades fsicas. En muchas ocasiones
conviene que la localizacin no implique una labor mecnica intensiva, por cuanto el inters de los
objetos no justifica el coste de dicha labor, e incluso porque la simple ejecucin de ciertas labores
mecnicas puede poner en peligro las propias estructuras que interesa localizar (caso de las tuberas
La posibilidad de una localizacin basada exclusivamente en medidas realizadas desde la

superficie puede abrir las puertas a muchas aplicaciones donde se den restricciones de coste y
riesgo. La explotacin de la diferencia entre las propiedades de materiales de inters econmico y
el resto de suelo es comn en la exploracin del subsuelo (petrleo, aguas subterrneas, minerales,
etc.). Tambin se realizan prospecciones de soporte a la Ingeniera Civil, como el estudio de las
condiciones de cimentacin de presas o edificios, o de los materiales a extraer para la construccin
de una nueva carretera. Existen tambin otras aplicaciones, como la orientacin de excavaciones
arqueolgicas o la localizacin de galeras subterrneas.
1.1. M todos geof sicos

Hay diversos mtodos geofsicos que permiten la deteccin de estructuras desde la superficie
(Griffiths y King, 1981; Kaufman y Keller, 1983; Orellana, 1974; Orellana, 1982; Patra, 1980;
Sharma, 1986; Sumner, 1985; Telford et al., 1990). Entre los ms importantes estn el
gravimtrico, el magntico, el ssmico, el georadar y los mtodos elctricos.
El mtodo gravimtrico mide las variaciones en el campo gravimtrico de la Tierra con el fin de
localizar masas de mayor o menor densidad que el medio que las rodea. Normalmente las medidas
se realizan cerca de la superficie. Como las variaciones de densidad son bastante pequeas, los
instrumentos utilizados tienen que ser muy sensibles. Adems es necesario controlar de manera
precisa la elevacin y latitud del terreno. Se utiliza en exploracin petrolera y, como mtodo
secundario, en exploracin minera.
El mtodo magntico se basa en las propiedades magnticas de los materiales. Las variaciones
locales o anomalas en el campo magntico de la Tierra son debidas principalmente por
concentraciones de material ferromagntico. Normalmente se utiliza en la deteccin de estructuras
minerales. Este mtodo es barato y es til para realizar pre-sondeos. Sin embargo es muy sensible
al ruido provocado por estructuras metlicas y no permite diferenciar entre diferentes elementos
1-2
El mtodo ssmico, a diferencia de los dos anteriores, es artificial, es decir, necesita de una
fuente generadora externa. Se basa en el cambio de las propiedades acsticas entre dos capas de
diferentes materiales, que provocan la reflexin o refraccin de las ondas que se inyectan. Es de
gran exactitud, resolucin y penetracin, y se utiliza mayoritariamente en exploraciones petroleras,
en la bsqueda de aguas subterrneas y en Ingeniera Civil. A diferencia de la sismologa de
terremotos, el mtodo ssmico utiliza fuentes controlables y movibles. Adems, la distancia entre la
fuente y los puntos de registro es relativamente pequea.
Ground Penetrating Radar (GPR), utiliza un radar
cuyo objetivo es detectar e identificar la estructura del subsuelo (Peters, Daniels y Young, 1994).
La energa electromagntica se radia verticalmente hacia el interior del subsuelo y una antena
receptora capta las seales rebotadas debido a la interfase de materiales con propiedades
elctricas diferentes. El GPR se usa sobre todo para localizar objetos y estructuras en los primeros
10 metros del subsuelo. Su utilizacin es relativamente reciente y se aplica entre otros a la
deteccin depsitos enterrados, tuberas, galeras y a la localizacin de huecos y bolsas de humedad
en puentes, tneles y carreteras. Este mtodo proporciona una alta resolucin si se escoge la
frecuencia adecuada. Sin embargo necesita que el terreno sea plano y poco conductor. Peters,
Daniels y Young (1994) revisan el mtodo, sus limitaciones y sus aplicaciones.
n los potenciales elctricos naturales y las propiedades elctricas
intrnsecas de los materiales como son la conductividad, la permeabilidad y la permitividad. Entre
estos mtodos cabe destacar el de potencial espontneo, el telrico y magnetotelrico, el
electromagntico, el resistivo y el de polarizacin inducida.
El mtodo de potencial espontneo se basa en el hecho de que ciertos potenciales naturales o
espontneos se producen en el subsuelo debido a una actividad electroqumica o mecnica. Se suele
utilizar para la prospeccin de sulfatos metlicos, grafito y xidos metlicos como la magnetita.
Las corrientes telricas y los campos magnetotelricos son originados por la radiacin del sol y
el efecto de la ionosfera. La prospeccin magnetotelrica requiere la deteccin del campo elctrico
y magntico. Midiendo las amplitudes de las componentes ortogonales horizontales de los campos
elctrico y magntico en la superficie, a varias frecuencias, es posible determinar la variacin de la
resistividad del subsuelo con la profundidad. En el mtodo telrico slo se mide el campo elctrico
asociado con las corrientes por lo que esta tcnica es ms simple y requiere menos equipos. Sin
embargo, la cantidad de informacin es menor que con el mtodo magnetotelrico.
El mtodo electromagntico es usual en la exploracin minera, aunque tambin tiene aplicacin
en la localizacin de cables y tuberas subterrneas, as como en la deteccin de minas explosivas y
en la realizacin de mapas de reas contaminadas. El mtodo se basa en la propagacin de campos
electromagnticos (continuos o transitorios) en el subsuelo. La generacin se realiza por
acoplamiento inductivo o introduciendo el generador en el subsuelo, mientras que la deteccin
siempre se realiza por acoplamiento inductivo.
Introduccin
1-3
En el mtodo resistivo se introduce una corriente (continua) en el terreno por un par de

electrodos y se mide la diferencia de potencial entre otro par de electrodos. La relacin de estas dos
magnitudes proporciona una resistividad aparente que depende de la resistividad de los materiales
presentes en el subsuelo. El mtodo se aplica entre otros a la deteccin de reservas geotrmicas, la
localizacin de restos arqueolgicos y a la exploracin de agua subterrnea. Su aplicacin es menor
en la exploracin minera y petrolera. Destaca el bajo precio de los equipos empleados y su fcil
implementacin, si bien requiere de un procedimiento laborioso (desplazamiento de los electrodos
y cables).
El mtodo de polarizacin inducida es similar al resistivo. Ahora la corriente inyectada se
interrumpe bruscamente. La diferencia de potencial medida no cae a cero instantneamente, sino
ms bien de una forma suave despus de un primer descenso grande desde el valor inicial. Este
tiempo de decaimiento es del orden de segundos e incluso minutos. Las medidas se pueden realizar
en el dominio del tiempo, si la tensin se mide en funcin del tiempo, o en el dominio de la
frecuencia, si se mide la resistividad aparente (ahora compleja) en funcin de la frecuencia. El
mtodo se aplica en la exploracin de metales y aguas subterrneas.
A pesar del creciente uso del GPR en los ltimos aos, la prospeccin geoelctrica (en
particular la resistiva) sigue siendo un mtodo bsico para estudios geolgicos, de ingeniera,
hidrogeolgicos, ambientales y arqueolgicos. De hecho ninguno de los mtodos anteriormente
descritos da la solucin a todos los problemas geofsicos, por lo que es conveniente muchas veces
utilizar diferentes mtodos para extraer el mximo de informacin posible. Muchos de los trabajos
presentados en el IV Meeting of the Environmental and Engineering Geophysical Society refuerzan
esta idea. Sin embargo, por restricciones de tiempo y presupuesto, esto no siempre es posible.
El mtodo resistivo es relativamente rpido y fcil de usar, y normalmente proporciona
resultados satisfactorios. La medida de la resistividad elctrica del suelo, empleando diferentes
agrupaciones de electrodos, ha sido utilizada generalmente para identificar las diferentes capas en
un medio estratificado o para localizar objetos cuyas dimensiones y profundidad oscilan entre
decenas de metros y varios kilmetros. El inconveniente de esta tcnica aparece cuando se necesita
una exploracin detallada con gran resolucin espacial. En estos casos se necesita una gran
cantidad de datos lo que puede ser inviable debido a restricciones de tiempo ms que a
consideraciones tcnicas. Recientemente (con posterioridad al inicio de este trabajo) han aparecido
sistemas automticos de medida comerciales que pueden acelerar el proceso de interpretacin y
medida. Paralelamente, la mayor capacidad de clculo de los ordenadores personales ha permitido
en los ltimos aos la obtencin de imgenes en dos y tres dimensiones de la distribucin real de
resistividad del subsuelo.
As pues, los mtodos resistivos han experimentado en la dcada de los 90 un fuerte impulso
tanto en la instrumentacin como en los mtodos de interpretacin, lo que avala an ms la
utilizacin de esta tcnica. Mucho queda por hacer an en la bsqueda de nuevos y ms rpidos
1-4
algoritmos de obtencin de imgenes, en la propuesta de nuevos mtodos de medida y en el estudio
de nuevas configuraciones multielectrdicas. Este trabajo pretende contribuir modestamente en esta
1.2. Objetivos
El objetivo final de este trabajo es la obtencin de imgenes de la distribucin de impedancia
elctrica en el subsuelo a partir de medidas realizadas desde la superficie. El estudio se centra en la
localizacin de objetos locales a una profundidad de pocos metros y cuyas dimensiones sean
incluso del orden de decenas de centmetros (tuberas, restos arqueolgicos, etc.). El mtodo
utilizado se basa en el resistivo si bien se utilizan configuraciones multielectrdicas nuevas.
Adems la frecuencia de la seal inyectada es bastante mayor que la utilizada normalmente y el
mtodo de medida (para uno de los sistemas implementados) permite obtener la parte real e
imaginaria de la impedancia. El trabajo se ha dividido en tres partes principales: problema directo,
instrumentacin y problema inverso.
En el problema directo se estudia el potencial originado en la superficie (anomalas) debido a la
presencia de objetos esfricos y cilndricos inmersos en un suelo homogneo. Esto permite
determinar el poder de resolucin de los mtodos resistivos, es decir, permite estimar la influencia
de varios parmetros geomtricos y fsicos del objeto a detectar, como el tamao, la profundidad y
la resistividad. La detectabilidad de los objetos depender en gran parte de la anomala producida y
del nivel de ruido presente en las medidas. Se proponen tambin varias configuraciones
multielectrdicas basadas en las configuraciones electrdicas clsicas y se comparan los pros y
contras de cada una.
Para obtener las medidas es necesario disear y construir un sistema capaz de realizarlas. Se han
implementado varios sistemas de medida automticos, dos para las medidas realizadas en el
laboratorio (Gasulla, Jordana y Palls, 1998a) y uno para las medidas de campo, permitiendo
cualquier combinacin de electrodos inyectores y detectores sobre una agrupacin de 16 electrodos
y 8 electrodos respectivamente. La seal inyectada es alterna y la deteccin es sncrona para evitar
los errores provocados por el potencial de electrodo y las corrientes telricas. Uno de los sistemas
implementados permite la obtencin de la parte real e imaginaria de la impedancia medida.
Adems, se proponen nuevas tcnicas de medida para evitar los errores originados por los
acoplamientos capacitivos e inductivos entre el emisor y el detector.
El problema inverso compara diferentes algoritmos para la obtencin de imgenes reales de la
distribucin de la resistividad elctrica del subsuelo y determina los ms adecuados para la
deteccin de objetos locales. Esta comparacin se realiza utilizando datos sintticos (provenientes
de las soluciones analticas del problema directo). Posteriormente se realiza una validacin
experimental con un modelo analgico en el laboratorio y con medidas de campo.
1-5
1.3. Antecedentes
Los orgenes de los mtodos que miden la impedancia elctrica del subsuelo se remontan al
siglo XVIII con los trabajos realizados por Gray y Wheeler en 1720 sobre la resistividad de las
rocas y el descubrimiento, realizado en 1746 por Watson, de que el suelo es conductor. Brown
patent en 1883 un sistema de prospeccin elctrica con dos electrodos. Unos veinte aos ms
tarde (1902), Daft y Williams obtuvieron otra patente basada en el empleo de corrientes de baja
frecuencia. Un ao despus el ruso E.S. Ragozin publica su monografa Aplicacin de la
electricidad en la bsqueda de yacimientos mineros donde anticipa muchas de las ideas que
habran de aplicarse ms tarde. En 1913 el alsaciano Conrad Schlumberguer realiza el estudio
tectnico de la cuenca silrica de Calvados (Francia). En 1915, l mismo y el americano Frank
Wenner, independientemente, idean el dispositivo tetraelectrdico que ser la base del progreso
ulterior. De importancia fundamental es la solucin dada por Stefanesco en 1932 a la distribucin
del potencial en un semiespacio estratificado. En 1938 se efectuaron los primeros sondeos
elctricos profundos (ms de un kilmetro de penetracin). Este mtodo tuvo parte destacada en el
descubrimiento de los yacimientos petrolferos o de gas (en la antigua URSS) de Bugurusln,
Saratov, Beshkiria y Vovolgrado. Desde entonces el mtodo elctrico fue adoptado en la URSS
como el de empleo ms general en la prospeccin petrolera.
La determinacin de las impedancias y espesores de las capas en un medio estratificado a partir
de las medidas realizadas en la superficie ha sido abordado de diversas maneras (Koefoed, 1979;
Orellana, 1982; Telford, Geldart y Sheriff, 1990; Zohdy, 1989). Un problema ms complejo es
considerar que la variacin de impedancias puede darse en sentido vertical y lateral (2
dimensiones), encontrando soluciones para la deteccin de cavidades (Lowry y Shive, 1990), de
objetos locales inmersos en un medio homogneo (Pelton, Rijo y Swift, 1978), y de estructuras de
forma arbitraria (Barker, 1992; Loke y Barker, 1995; Nariida y Vozoff, 1984; Sasaki, 1992; Tripp,
Hohmann y Swift, 1984). Si la variacin de la impedancia se produce en las tres direcciones del
espacio, se proponen curvas patrn para ciertas estructuras (Dieter, Paterson y Grant, 1969), se
sugieren modelos numricos para estructuras arbitrarias (Dey y Morrison, 1979; Hohmann, 1975;
Pridmore et al., 1981) o se obtienen imgenes tridimensionales (Loke y Barker, 1996b; Oldenburg,
McGillivray y Ellis, 1993; Sasaki, 1994).
La obtencin de imgenes de impedancia elctrica en el subsuelo tiene puntos en comn con la
tomografa de impedancia elctrica del cuerpo humano (Webster, 1990), tema en el cual existe
amplia experiencia en el Departament d Enginyeria Electrnica de la UPC (Rosell, 1989; Riu,
1991; Riu et al., 1992). En este caso, el cuerpo se aproxima a un cilindro y se considera que la
conductividad y el potencial no cambian a lo largo del eje del cilindro, por lo que el problema es
bidimensional. Los mtodos utilizados para obtener imgenes son diferenciales (representan el
cambio de la impedancia con el tiempo o la frecuencia) y de un solo paso. En cambio, en la
prospeccin geoelctrica, los mtodos utilizados son, en su mayora, absolutos e iterativos.
1-6
1.4. Organizaci n de este trabajo

El orden en que se presentan los captulos corresponde a una agrupacin temtica y no
corresponde, como es habitual, al orden temporal en que se han desarrollado. Ambas ordenaciones
podran coincidir si las hiptesis formuladas en un primer momento fueran las correctas. Pero todo
proceso de investigacin parte de una construccin terica, del planteamiento de unas hiptesis, de
una verificacin experimental y, con esta informacin, de una correccin de las primeras hiptesis
para proceder a nuevas verificaciones. El proceso se repite hasta que el resultado (concordancia
hiptesis-validacin experimental) es suficientemente satisfactorio.
El captulo 2 revisa el mtodo de medida y las configuraciones electrdicas ms utilizadas en la
prospeccin geoelctrica por corriente continua. Muchos de los conceptos y explicaciones han sido
extrados del libro de Orellana (1982). Posteriormente, se proponen nuevas configuraciones
multielectrdicas, ms adecuadas para trabajar con sistemas de medida automticos.
El captulo 3 revisa y compara las soluciones analticas existentes para una esfera y un cilindro
inmersos en un suelo homogneo. Estas soluciones permiten cuantificar la anomala producida en
la superficie al variar parmetros tales como la resistividad, el tamao o la profundidad del objeto.
As mismo se estudian las ventajas y desventajas de algunas configuraciones electrdicas clsicas y
de las configuraciones planteadas en el captulo 2. Se establecen los lmites de detectabilidad de los
cuerpos esfricos y cilndricos, y se realiza una primera aproximacin al problema inverso.
El captulo 4 describe los sistemas de medida automticos implementados. Como se ha
apuntado en el apartado 1.2, si bien los dispositivos electrdicos utilizados en este trabajo se basan
en el mtodo resistivo (o de corriente continua) la frecuencia de la seal inyectada puede ser de
hasta 1 kHz y la medida permite obtener (con uno de los sistemas implementados) la parte real e
imaginaria de la impedancia. Se estudian los efectos de los acoplamientos capacitivos e inductivos
entre el generador y el detector, y la forma de reducirlos. As mismo se propone un detector
diferencial con la masa diferente a la del generador para evitar los problemas de la elevada tensin
El captulo 5 compara diferentes algoritmos de reconstruccin utilizando datos sintticos y dos

configuraciones electrdicas diferentes. Adems, muestra el comportamiento de las imgenes
cuando se aade ruido a las medidas y compara las imgenes utilizando modelos del subsuelo de 2
y 3 dimensiones.
El captulo 6 valida experimentalmente los algoritmos de reconstruccin con medidas obtenidas
en el laboratorio sobre un modelo analgico y con medidas de campo. Finalmente el captulo 7
recoge las conclusiones de este trabajo.
Medida de la resistividad elctrica del subsuelo
2-1
2. Medida de la resistividad elctrica del subsuelo
Las medidas de resistividad elctrica del subsuelo son habituales en las prospecciones geofsicas.
Su finalidad es detectar y localizar cuerpos y estructuras geolgicas basndose en su contraste
resistivo. El mtodo consiste en la inyeccin de corriente continua o de baja frecuencia en el terreno
mediante un par de electrodos y la determinacin, mediante otro par de electrodos, de la diferencia de
potencial. La magnitud de esta medida depende, entre otras variables, de la distribucin de
resistividades de las estructuras del subsuelo, de las distancias entre los electrodos y de la corriente
inyectada.
Este captulo consta de 6 apartados. El apartado 2.1 revisa el concepto de resistividad elctrica y
muestra las resistividades tpicas de algunos suelos. El apartado 2.2 describe cmo se realiza la
medida de resistividad con el mtodo resistivo. El apartado 2.3 describe los dispositivos
tetraelectrdicos bsicos. El apartado 2.4 describe los tipos de prospecciones normalmente
realizadas con el mtodo resistivo. El apartado 2.5 muestra el sistema de medida automtico
PROGEO (Alberto, 1997), que ser descrito con ms detalle en el captulo 4, y describe las
configuraciones multielectrdicas propuestas para realizar las medidas. Por ltimo el apartado 2.6
resume el captulo.
2.1. Resistividad elctrica de suelos

La resistividad elctrica de un material describe la dificultad que encuentra la corriente a su
paso por l. De igual manera se puede definir la conductividad como la facilidad que encuentra la
corriente elctrica al atravesar el material. La resistencia elctrica que presenta un conductor
homogneo viene determinada por la resistividad del material que lo constituye y la geometra del
conductor. Para un conductor rectilneo y homogneo de seccin s y longitud l la resistencia elctrica
es
R=
l
s
(2.1)
A partir de esta ecuacin podemos despejar la resistividad
Rs
l
(2.2)
La unidad de resistividad en el Sistema Internacional es el ohm por metro (m). La conductividad

se define como el inverso de la resistividad
2-2
(2.3)
La unidad de conductividad en el Sistema Internacional es el siemens (S). La resistividad es una de

las magnitudes fsicas con mayor amplitud de variacin para diversos materiales. Adems, su valor
depende de diversos factores como la temperatura, humedad o presin.
Estrictamente hablando todos los cuerpos son elctricamente conductores dado que permiten, en
mayor o menor medida, el paso de portadores de cargas elctricas. Estos portadores pueden ser
electrones o iones, hecho que permite distinguir entre dos tipos de conductividad: electrnica e
inica. Los cuerpos con conductividad electrnica se clasifican en metales y semiconductores. Los
cuerpos con conductividad inica se conocen como electrolitos si no presentan forma gaseosa.
El mecanismo de la conductividad de los metales puede imaginarse como debido a que los
electrones de valencia de sus tomos pueden moverse libremente entre la red cristalina que stos
forman, sin vinculacin a ninguno determinado. La facilidad de movimiento de los electrones y su
gran nmero redundan en una conductividad muy elevada. Su resistencia aumenta con la
temperatura y con el contenido de impurezas. La resistividad de los metales a temperatura normal
vara entre 10-8 y 10-7 m. Son pocos y muy escasos los componentes de la corteza terrestre que
posean conductividad metlica. Entre ellos se cuentan los metales nativos (oro, plata, cobre, estao)
y quiz algn mineral poco abundante como la ullmanita (NiSbS).
Los minerales semiconductores son muchos y de gran importancia prctica. Su resistividad
depende de su contenido en impurezas, a veces en grado extremo. Adems su conductividad aumenta
con la temperatura. Por ello, no cabe esperar que la resistividad de una especie mineralgica
determinada pueda representarse por un dato nico, sino que puede variar dentro de lmites amplios.
En general los teluros y los arseniuros son conductores muy buenos. Los sulfuros suelen entrar
tambin entre los conductores buenos, con excepciones como la blenda y el cinabrio. Los xidos, y
los compuestos de antimonio suelen ser malos conductores, con la excepcin de la magnetita. Ahora
bien, estos minerales no suelen aparecer en la naturaleza de forma individual, sino en asociaciones, y
junto con una ganga frecuentemente aislante (cuarzo, calcita, etc.), por lo que la resistividad
conjunta del filn puede variar mucho de unos casos a otros.
En los cuerpos dielctricos o aisladores, los electrones estn fuertemente ligados a l
Esto puede deberse a que existan enlaces covalentes o inicos. En este ltimo caso la red cristalina
forma un electrlito slido. La mayora de los minerales pertenecen a este grupo. A temperaturas
normales las resistividades son muy altas, generalmente superiores a 107 m. Son minerales
dielctricos el azufre, la blenda, la calcita, el cinabrio, el cuarzo, las micas y el petrleo entre otros.
Entre estos minerales, adems, figuran los ms importantes constituyentes de las rocas, las cuales se
comportaran como aisladoras si no fuera por la presencia de electrolitos.
2-3
El agua pura es muy poco conductora a causa de su muy reducida disociacin. La resistividad del
agua destilada es de unos 105 m por lo que puede considerarse como aislante. Las aguas que se
encuentran en la naturaleza presentan, sin embargo, conductividad apreciable, pues siempre tienen
disuelta alguna sal, generalmente NaCl. As las aguas de lagos y arroyos de alta montaa varan
entre 103 m y 3103 m, las aguas subterrneas tienen resistividades de 1 a 20 m, y las aguas
marinas tienen una resistividad de unos 0,2 m.
Si la resistividad de las rocas dependiese nicamente de los minerales constituyentes, habran de
considerarse como aislantes en la inmensa mayora de los casos, puesto que el cuarzo, los silicatos,
la calcita, las sales, etc., lo son prcticamente. Slo en el caso de que la roca contuviese minerales
semiconductores en cantidad apreciable, podra considerarse como conductora, es decir, slo lo
seran las menas metlicas. Afortunadamente, todas las rocas tienen poros en proporcin mayor o
menor, los cuales suelen estar ocupados total o parcialmente por electrolitos, de lo que resulta que,
en conjunto, las rocas se comportan como conductores inicos, de resistividad muy variable segn
los casos. La resistividad de las rocas puede variar en margen amplsimo en funcin del contenido en
agua, de la salinidad de sta y del modo de distribucin de los poros. La Figura 2.1 presenta un
grfico de los mrgenes de variacin ms comunes en algunas rocas y minerales. La fisuracin,
impregnacin en agua salada, etc., pueden extender estos lmites.
Resistividad en ohmmetro
10
Metales
10
10
10
Calcopirita
2 2
10
10
10
Margas
10
Cinabrio
10
10
12
10
14
10
15
Feldespatos
Anhidrita
Pirrotita
Calizas y
Areniscas
Galena
Grafito
Arcillas
Pirita y Magnetita
Pizarras
Blenda
Azufre
Limos
Cuarzo
Arenas
Micas
Rocas hipognicas
y metamrficas
Agua de mar
Agua dulce
Figura 2.1. Valores de resistividad de diferentes rocas y minerales (Orellana, 1982)
La resistividad de las rocas tambin depende de la temperatura a la que se encuentre ya que la

temperatura influye notablemente en la resistividad de los fluidos que hay en los poros. En concreto,
un descenso de la temperatura provoca un aumento de la resistividad y en el punto de congelacin el
2-4
agua pasa a ser un dielctrico mal conductor. Por ltimo, cabe mencionar que la resistividad de
algunos minerales, y como consecuencia de las rocas que estos forman, vara segn la direccin de
medida que se toma, es decir, que presentan anisotropa. La formacin de estratos puede producir
anisotropa. Tal es el caso de las rocas sedimentarias. En general este efecto ser dbil dada la
aleatoriedad de las orientaciones de los minerales en la roca.
El suelo es una mezcla de rocas, gases, agua y otros materiales orgnicos e inorgnicos. Esta
mezcla hace que la resistividad del suelo aparte de depender de su composicin intrnseca, dependa
de otros factores externos como la temperatura, la humedad, presin, etc. que pueden provocar que
un mismo suelo presente resistividades diferentes con el tiempo. De entre todos los factores, la
humedad es el ms importante; adems, es el que se puede alterar ms fcilmente mediante la lluvia
o el riego del suelo. Diferentes grados de humedad para un mismo terreno daran lugar a
resistividades diferentes que podran llevarnos a interpretaciones errneas de los materiales
constituyentes del suelo.
Una limitacin del mtodo resistivo es su alta sensibilidad a pequeas variaciones de la
conductividad cerca de la superficie, debido por ejemplo al contenido de humedad. Hablando en
trminos electrnicos, el nivel de ruido es alto. Una topografa accidentada puede tener un efecto
similar, ya que el flujo de corriente se concentra en los valles y se dispersa en las colinas. Como
resultado se distorsionan las superficies equipotenciales produciendo falsas anomalas debido solo a
El objetivo de este trabajo no es, sin embargo, dar una interpretacin de los materiales
constituyentes a partir de las resistividades aparentes medidas, sino obtener imgenes
tridimensionales de la distribucin de la resistividad elctrica del subsuelo. El proceso de
interpretacin desde un punto de vista geolgico habra de ser realizado por gelogos o geofsicos.
2.2. Medida de la resistividad elctrica

La Figura 2.2 muestra el principio de medida de la resistividad del suelo: se inyecta una corriente
I entre el par de electrodos AB y se mide la tensin V entre el par de electrodos MN. Si el medio es
homogneo de resistividad , la diferencia de tensin es (Orellana, 1982)
V =
I
2
1
1
1
1
AM
AN
BM
BN
(2.4)
donde AM, AN, BM, BN son las distancias entre electrodos. La resistividad viene dada por la
expresin
2-5
=g
V
I
(2.5)
donde
1
1
1
1
g = 2
AM AN BM BN
(2.6)
es un factor geomtrico que depende exclusivamente de la disposicin de los electrodos. De hecho,

(2.5) es equivalente a (2.2) pero con un factor geomtrico diferente
A
+I
-I
A
Figura 2.2. Dispositivo tetraelectrdico para la medida de la resistividad del suelo
Dos dispositivos tetraelectrdicos lineales (los cuatro electrodos estn en lnea) en los que
intercambiamos los electrodos de inyeccin y deteccin presentan unos coeficientes de dispositivo
1
1
1
1
g1 = 2
AM AN BM BN
1
1
1
1
g 2 = 2
MA MB NA NB
(2.7)
1
(2.8)
Dado que las distancias cumplen AM=MA, AN=NA, etc., se obtiene que g1 = g2. Luego si el medio
es homogneo, para una misma corriente de inyeccin las diferencias de potencial ledas V1 y V2
sern iguales. Por tanto la resistividad medida ser independiente de la posicin de los electrodos
de inyeccin y deteccin cuando estos se intercambian. Esta propiedad se conoce con el nombre de
principio de reciprocidad, que se cumple tambin para medios heterogneos (Orellana, 1982). No
obstante, en la prctica no es conveniente colocar los electrodos M y N tan separados como suelen
estar los A y B, pues al ser grande la distancia entre los primeros, la medida se vera afectada por la
2-6
corrientes telricas, parsitos industriales, etc., cuyo efecto aumenta proporcionalmente con la
distancia entre M y N.
Los clculos anteriores se basan en la consideracin de que el suelo es homogneo e istropo.
Cuando el medio no es homogneo, (2.5) da la resistividad aparente, a, y su valor depende, adems
del factor geomtrico g, de las resistividades de los diferentes materiales. A partir de la
interpretacin de las resistividades aparentes medidas en un terreno se podrn extraer conclusiones
2.3. Dispositivos tetraelectrdicos lineales bsicos

En cualquier dispositivo electrdico, si conocemos el factor geomtrico g, la corriente elctrica I
inyectada por los electrodos A y B, y la diferencia de potencial entre los electrodos M y N, podemos
calcular la resistividad aparente mediante (2.5). Los dispositivos tetraelectrdicos lineales ms
utilizados son los siguientes:
Dispositivo Wenner.
Los electrodos se disponen equidistantes sobre una lnea en el orden AMNB (Figura 2.3)
A
Figura 2.3. Dispositivo Wenner
El factor geomtrico del dispositivo se deduce de (2.6),

g = 2a
(2.9)
Dispositivo Schlumberger
Se trata de una composicin simtrica de los electrodos AMNB dispuestos en lnea, donde la
distancia de los electrodos detectores MN es mucho menor que la de los inyectores AB (Figura 2.4).
En la prctica, AB > 5MN.
2-7
M N
Figura 2.4. Dispositivo Schlumberger
El coeficiente del dispositivo en este caso es
g =
b(b + a )
a
(2.10)
Si definimos L = b + a/2, el factor geomtrico se puede expresar como

L2 a

g =
4
a
(2.11)
Si la distancia a que separa los electrodos M y N tiende a cero el factor geomtrico queda
g =
L2
a
(2.12)
que tiende a infinito. Sin embargo la resistividad aparente es finita ya que V en (2.5) decrece al
mismo tiempo que a. Tendremos, pues,
a = lim
a 0
L2 V
L2
V
L2
=
lim
=
E
a I
I a 0 a
I
(2.13)
donde E es el campo elctrico. La idea del dispositivo Schlumberger consiste, pues, en utilizar una
distancia MN = a muy corta, de tal modo que pueda tomarse como vlida la ecuacin anterior. Los
desarrollos tericos se establecen suponiendo que lo que medimos realmente es el campo E, el cual
en la prctica se toma igual a V/a. Trabajar con el campo elctrico comporta ventajas tericas a la
hora de trabajar con expresiones analticas, como veremos en el prximo captulo. El inconveniente
es que la tensin diferencial medida disminuye linealmente con la separacin a y es inversamente
proporcional al cuadrado de la distancia L. Adems, la precisin de las mediciones geoelctricas de
campo est muy limitada por heterogeneidades irrelevantes del terreno (ruido geolgico).
2-8
En ciertos casos, el electrodo B se lleva a gran distancia de los dems de modo que no influya
sobre el valor de V
observado. Se tiene entonces el dispositivo denominado Schlumberger
asimtrico, o semi-Schlumberger.
Dispositivo polo-dipolo
En este dispositivo el electrodo B se lleva a una gran distancia (tericamente en el infinito) de los
otros tres (Figura 2.5)
Figura 2.5. Dispositivo polo-dipolo
El factor geomtrico del dispositivo en este caso es
g = 2
b(b + a)
a
(2.14)
Cuando a << b este dispositivo es equivalente al semi-Schlumberger. Una variacin del

dispositivo polo-dipolo se obtiene moviendo uno de los electrodos de potencial, por ejemplo N, a un
punto distante (tericamente al infinito). En este caso el factor geomtrico es
K = 2b
(2.15)
que coincide con la expresin del dispositivo Wenner, por lo que tambin recibe el nombre de
dispositivo half-Wenner (Telford, Geldart y Sheriff, 1990).
Dispositivo doble dipolo (axil)
En este dispositivo los electrodos se disponen sobre una lnea en el orden ABMN formando as un
doble dipolo (Figura 2.6). En Amrica del Norte este dispositivo se denomina a veces dispositivo
dipolo-dipolo. Realmente el dispositivo doble dipolo tiene diversas variantes (Orellana, 1982), pero
en este trabajo solo se utilizar la que se ha descrito.
2-9
na
Figura 2.6. Dispositivo doble dipolo
El factor geomtrico del dispositivo es en este caso

g = n(n + 1)( n + 2)a
(2.16)
Este dispositivo se implementa normalmente con n >> 1 (entonces AB y MN se comportan como

un dipolo de corriente y de tensin respectivamente), aunque muchos autores utilizan este dispositivo
incluso con n = 1. El factor geomtrico cuando n >> 1 se puede expresar como
g = n 3 a
(2.17)
El inconveniente es que el campo dipolar decrece con el cubo de la distancia entre los dipolos de
corriente y tensin, por lo que necesita detectores ms sensibles que los otros dispositivos.
Dispositivos Wenner ,
La Figura 2.7 muestra la disposicin de electrodos en los dispositivos Wenner y , donde m es
un nmero real positivo (Roy, 1972). Un caso particular del dispositivo -Wenner son los
dispositivos Wenner (m = 1) y Schlumberger (m << 1). El dispositivo doble dipolo es un caso
particular del -Wenner cuando m >> 1.
ma
ma
Figura 2.7. Dispositivos -Wenner (izquierda) y -Wenner (derecha).
2-10
2.4. Tipos de prospecciones geoelctricas

La finalidad de una prospeccin geoelctrica es conocer la forma, composicin y dimensiones de
estructuras o cuerpos inmersos en el subsuelo a partir de medidas en la superficie. Mediante la
prospeccin geoelctrica conseguimos trazar una cartografa de resistividades aparentes del subsuelo
que nos darn informacin sobre las estructuras que subyacen en l. Las prospecciones geoelctricas
que se realizan se dividen generalmente en dos tipos:
- Sondeo elctrico vertical (S.E.V).
- Calicatas elctricas (C.E).
2.4.1. Sondeo elctrico vertical.
La finalidad del sondeo elctrico vertical (SEV) es averiguar la distribucin vertical en
profundidad de las resistividades aparentes bajo el punto sondeado a partir de medidas de la
diferencia de potencial en la superficie. Se utiliza sobre todo para detectar y establecer los lmites de
capas horizontales de suelo estratificado (Figura 2.8).
M N
1
2
Figura 2.8. Principio del SEV. A medida que A y B se separan, la corriente va penetrando en las
capas ms profundas
La profundidad de penetracin de la corriente elctrica depende de la separacin de los electrodos

inyectores AB. Si la distancia entre los electrodos AB aumenta, la corriente circula a mayor
profundidad pero su densidad disminuye. Para un medio istropo y homogneo, el 50% de la
corriente circula por encima de la profundidad AB/2 y el 70.6% por encima de una profundidad AB
(Orellana, 1982). Sin embargo, no es posible fijar una profundidad lmite por debajo de la cual el
subsuelo no influye en el SEV, ya que la densidad de corriente disminuye de modo suave y gradual,
sin anularse nunca. Podra pensarse que la
es proporcional a AB. Sin embargo esto no
es cierto en general puesto que lo dicho slo es vlido para un subsuelo homogneo.
Durante mucho tiempo, en prospeccin geoelctrica en corriente continua, la profundidad de
investigacin ha sido considerada sinnimo de la profundidad de penetracin de la corriente. Sin
embargo, el efecto de una capa en los potenciales o campos observados en superficie no depende
nicamente de la densidad de corriente que la atraviesa. Roy y Apparao (1971) definen la
profundidad de investigacin caracterstica como la profundidad a la que una capa delgada de
2-11
terreno (paralela a la superficie) contribuye con participacin mxima a la seal total medida en la
superficie del terreno. Los autores indican que la profundidad de investigacin viene determinada
por la posicin de los electrodos inyectores y detectores, y no slo por la penetracin o distribucin
de la corriente. Esto queda claro con un ejemplo: si se intercambian entre s las posiciones de los
electrodos de potencial con los de corriente, la distribucin de las lneas de corriente cambia. Sin
embargo, en virtud del principio de reciprocidad visto anteriormente, la resistividad aparente y por
tanto la profundidad de investigacin no cambian. Definiendo L como la distancia entre los dos
electrodos extremos (sin considerar los situados en el infinito), los mismos autores determinan la
profundidad de investigacin de diversos dispositivos electrdicos en un suelo homogneo, siendo
para el dispositivo polo-polo de 0,35L, para Schlumberger de 0,125L y para Wenner de 0,11L.
Edwards (1977) sugiere que un valor ms til puede ser la profundidad a la cual la mitad de la seal
medida en la superficie es debida a la porcin de suelo superior a esa profundidad y la otra mitad de
la seal a la porcin de suelo inferior. Barker (1989) la define como la
efectiva, y muestra con ejemplos la mayor utilidad de sta sobre la utilizada por Roy y Apparao
(1971). Las profundidades de investigacin efectiva para los dispositivos Wenner, Schlumberger y
doble dipolo son respectivamente de 0,17L, 0,19L y 0,25L (para este ltimo la profundidad de
investigacin caracterstica es de 0,195L), es decir ligeramente mayores que utilizando la definicin
Experimentalmente, a partir de los dispositivos vistos en el apartado 2.3, el SEV consiste en

aumentar progresivamente la distancia entre los electrodos manteniendo un punto central fijo (punto
de sondeo P). Ahora veremos cmo se aplica a los diferentes dispositivos.
Sondeo Wenner
Dado el dispositivo Wenner AMNB con separacin interelectrdica a, el sondeo consiste en el
aumento progresivo del valor de a manteniendo un punto central fijo P (Figura 2.9). Para la
representacin de los datos se muestra en ordenadas el valor de la resistividad aparente medida, a,
en ohmsm, y en abscisas el valor de a en metros para cada paso.
A M N B
M
N
a
na
a a
na
na
Figura 2.9. Sondeo Wenner. La distancia interelectrdica pasa de a (AMNB) a na (AMNB).
2-12
Sondeo Schlumberger.
Dado el dispositivo Schlumberger AMNB con AB>>MN, el sondeo consiste en separar
progresivamente los electrodos inyectores A y B dejando los electrodos detectores M y N fijos en
torno a un punto central fijo P.(Figura 2.10). La representacin de este sondeo muestra en ordenadas
a (m) y en abscisas la distancia AB/2 (m). En este sondeo el efecto de las heterogeneidades
irrelevantes es menor pues slo se mueven el par de electrodos inyectores A y B.
M N
b
b
na
a
na
Figura 2.10. Sondeo Schlumberger. Los electrodos A y B se abren progresivamente mientras M y N

estn fijos.
Sondeo dipolar
Dado el dispositivo doble dipolo ABMN, el sondeo consiste en la separacin creciente de los
centros de los dipolos respecto a un punto fijo origen P (Figura 2.11). La representacin de este
sondeo muestra en ordenadas a (m) y en abscisas la separacin de los centros de los dipolos en
metros.
A B
M N
M N
a
R1
R2
Figura 2.11. Sondeo dipolar. Los dipolos se mantienen, aumentando la separacin entre ellos.
Efectos laterales en el SEV y ambigedades en su interpretacin

Si el dispositivo electrdico est prximo a un contacto vertical, las lneas de corriente sern
distorsionadas por lo que VMN se ver afectado por el otro medio, tanto ms cuanto mayor sea la
separacin de los electrodos AB. Por lo tanto, la medida de la resistividad aparente en un SEV est
influida por la distribucin de resistividades en un cierto volumen de terreno. Esto implica que para
2-13
distancias AB grandes no se sabr si la resistividad aparente es debida a cambios de estructuras en la
profundidad o a las heterogeneidades laterales por contraste de resistividades (Orellana, 1982).
Puede ocurrir que las curvas de resistividad aparente para dos casos diferentes de SEV sean
idnticas si la relacin entre profundidad a la que se encuentra un estrato y su resistividad permanece
constante, lo que provoca una ambigedad en la deduccin del grosor de la capa y su resistividad.
Aplicaciones
El SEV es aplicable cuando el objetivo tiene una posicin horizontal y una extensin mayor que
su profundidad. Tal es el caso del estudio de capas tectnicas, hidrolgicas, etc. Tambin es
adecuado para trabajar a poca profundidad sobre topografas suaves como complemento de las
calicatas elctricas, con el objetivo de decidir la profundidad a la cual realizar el perfil de
resistividades, como ocurre por ejemplo en Arqueologa. El SEV no es adecuado para contactos
verticales, fallas, diques, etc.
2.4.2. Calicatas elctricas
La finalidad de las calicatas elctricas (CE) es obtener un perfil de las variaciones laterales de
resistividad del subsuelo fijada una profundidad de investigacin. Esto lo hace adecuado para la
deteccin de contactos verticales, cuerpos y estructuras que se presentan como heterogeneidades
laterales de resistividad. Orellana (1982) resalta que la zona explorada en el calicateo elctrico se
extiende desde la superficie hasta una profundidad ms o menos constante, que es funcin tanto de la
separacin entre electrodos como de la distribucin de resistividades bajo ellos.
Experimentalmente, la CE consiste en trasladar los cuatro electrodos del dispositivo a lo largo de
un recorrido, manteniendo su separacin, obtenindose un perfil de resistividades aparentes a lo
Calicata Wenner
Partiendo de sus respectivos dispositivos base, esta calicata consiste en desplazar los cuatro
electrodos AMNB a la vez manteniendo sus separaciones interelectrdicas a lo largo de un recorrido
(Figura 2.12). Se representa la distancia del origen, O, al centro de los electrodos MN en abscisas y
en ordenadas el valor de a (m) para cada distancia x.
A M N B
A M N B
2-14
Figura 2.12. Calicata Wenner. Los cuatro electrodos se desplazan a la vez manteniendo sus
separaciones.
Calicata Schlumberger.
En este tipo de calicata podemos citar dos variantes. La primera sera similar a la calicata
Wenner, desplazando lateralmente los cuatros electrodos del dispositivo Schlumberger a la vez. La
segunda consiste en desplazar los electrodos detectores M y N entre A y B, los cuales estn fijos y a
una gran distancia de los electrodos detectores (Figura 2.13). La profundidad de penetracin de la
medida no es constante puesto que no es una verdadera calicata, siendo mxima cuando los
electrodos MN se hallan en el centro del segmento AB.
A
M N
M N
Figura 2.13. Calicata Schlumberger (segunda variante). Los electrodos M y N se mueven de A hasta
B manteniendo su separacin.
La Figura 2.14 muestra las distancias entre electrodos, donde se escoge el origen en el punto medio
entre los electrodos inyectores.
x<0
L
I
x>0
M
L+x
L
-I
N
L-x
Figura 2.14. Dispositivo de cuatro electrodos. La corriente se inyecta por los electrodos externos y la
diferencia de potencial se mide entre los electrodos M y N.
El factor geomtrico es en este caso
1
1
1
1
g ( x) = 2
+
L + (x - d/2) L - (x - d/2) L + (x + d/2) L - (x + d/2)
Si la medida es de campo elctrico, es decir si d tiende a cero, la resistividad aparente es
(2.18)
2-15
L2 x 2
a (x ) =
Ex
I L2 + x 2
(2.19)
Si la distancia entre los electrodos inyectores es muy grande respecto a la otras distancias, es decir,
si L >> x, d, la resistividad aparente es
a (x )
L2 V ( x )
I
d
(2.20)
Si en este ltimo caso la distancia d tiende a cero (medida del campo elctrico) tenemos que
a (x )
L2
Ex
I
(2.21)
Calicata polo-dipolo
La calicata polo-dipolo consiste en desplazar los tres electrodos AMN a la vez, manteniendo sus
separaciones interelectrdicas, a lo largo de un recorrido. Se representa la distancia de un origen
escogido al centro de los electrodos MN en abscisas y el valor de la resistividad aparente medida
(m) para cada distancia x en ordenadas. En la calicata polo-polo se desplazan los electrodos AM y
la resistividad aparente se representa respecto al punto medio entre A y M.
Calicata dipolar.
Esta calicata basada en el dispositivo dipolar consiste en desplazar los cuatro electrodos ABMN
a la vez, manteniendo sus separaciones interelectrdicas, a lo largo de un recorrido (Figura 2.15). Se
representa la distancia del origen, O, al punto medio entre los dos dipolos en abscisas y en ordenadas
el valor de la resistividad aparente medida (m) para cada distancia x (m).
AB
MN
AB
MN
Figura 2.15. Calicata dipolar. Se desplaza el dispositivo dipolar manteniendo las separaciones.
Cada tipo de calicata responde a las heterogeneidades laterales con diferente resolucin e
intensidad de cambio, por lo que a la hora de interpretar las curvas de resistividad aparente hay que
tener en cuenta el dispositivo electrdico utilizado.
2-16
Eleccin del tipo de calicata ms adecuado. Factores a considerar.
En general no puede afirmarse que tal o cual tipo de calicata elctrica sea superior a los dems.
Para cada problema concreto, cada uno de estos tipos presenta ventajas e inconvenientes. La eleccin
debe tener en cuenta muchos factores, tales como el corte geoelctrico esperado, las caractersticas
de la zona de trabajo, la clase de prospeccin, as como factores econmicos.
En una curva de resistividad aparente se produce una discontinuidad cada vez que un electrodo
pasa sobre un cambio lateral de resistividad, por lo que resulta que cuanto mayor sea el nmero de
electrodos movidos ms ancha y complicada se hace la anomala en la curva de resistividad aparente,
lo cual hace ms difcil la interpretacin. Por esta razn se recomienda la calicata Schlumberger con
los electrodos A y B fijos o la dipolar con los dipolos bien separados (equivalente a mover solo dos
electrodos).
La diferencia de potencial VMN representa la integral del gradiente de potencial entre los
electrodos M y N. Por tanto, cuanto ms separados estn los electrodos M y N tanto ms suavizada
ser la curva de la resistividad aparente, lo que provocar que objetos pequeos y cercanos se
confundan en uno solo. Cuanto ms pequea sea la distancia MN se tiene mayor resolucin y
amplitud de cambio de resistividad aparente debido a un objeto (Figura 2.16), por lo que la calicata
Schlumberger tiene mayor resolucin que la Wenner.
a
s1
s2
Figura 2.16. Efecto del aumento de la distancia MN en la resistividad anmala de dos cuerpos
1
y s2, a) MN pequea (lnea continua), b) MN grande (lnea a trazos)
El paso por el que se avanzar en la trayectoria depende del tamao del objeto buscado. Este debe
ser en principio menor que las dimensiones del objeto buscado para tener mayor resolucin, aunque
tambin se ver afectado por mayor ruido geolgico. En el caso de cuerpos de extensin limitada es
necesario que el perfil pase sobre l, puesto que la amplitud de la anomala vara poco si el perfil en
vez de pasar por su centro pasa por su borde y es casi inapreciable a distancias del borde superiores
a la longitud del dispositivo (Orellana, 1982).
Aplicaciones.
Las aplicaciones de la calicata elctrica estn en la deteccin de fisuras, fallas, contactos
verticales en general y objetos o estructuras enterradas. La realizacin de calicatas en trayectorias
paralelas permite trazar la cartografa de resistividades aparentes de un terreno a profundidad
2-17
constante representada por curvas de isoresistividad. Estos mapas de resistividad se aplican en

arqueologa para decidir sobre la estrategia a seguir en las excavaciones.
2.5. Sistema de medida y configuraciones electrdicas utilizadas.

Cuando se necesita una exploracin detallada y con gran resolucin espacial se requiere un gran
. El cambio manual de los electrodos inyectores y detectores a cada medida es un
proceso laborioso y lento. Los sistemas automticos aceleran los procesos de medida e interpretacin
(Griffiths, Turnbull y Olayinka, 1990). Sin embargo, los equipos comerciales (e.g., Terrameter) son
sistemas cerrados que no permiten mucha flexibilidad en la eleccin de parmetros como la
frecuencia o la forma de onda de la corriente inyectada. Adems, tampoco estn pensados para
trabajar con modelos a escala (modelos analgicos) en el laboratorio.
La Figura 2.17 muestra el sistema PROGEO desarrollado para realizar medidas automticas en
el laboratorio (Alberto, 1997), que ser descrito con detalle en el captulo 4. El sistema usa
instrumentos comerciales. El generador de funciones (HP3245A) inyecta una seal sinusoidal o
cuadrada de frecuencia 10 Hz a 10 kHz y de amplitud mxima 20 V (pico a pico). El programa de
aplicacin selecciona estos parmetros va el bus GPIB. El generador de funciones tambin
proporciona una seal de referencia para disparar el osciloscopio digital (TDS420), el cual digitaliza
la tensin amplificada por la sonda diferencial (ADA400A). El osciloscopio digitaliza
simultneamente la tensin diferencial de la sonda (canal 2) y la tensin que cae en la resistencia Ro
(canal 1) que se utiliza para realizar una medida indirecta de la corriente inyectada. Se han
configurado dos tarjetas con 32 rels SPST cada una (MEM32A, Keithley) para implementar una
matriz de conmutacin 4x16. Esto permite escoger, en una ristra de 16 electrodos, cualquier par de
electrodos para la inyeccin y cualquier otro par para la deteccin. El programa de aplicacin est
implementado en LabWindows versin 2.3 para DOS (National Instruments). Las principales
funciones son: seleccin de parmetros para la seales inyectada y detectada, configuracin
electrdica, adquisicin de la seal y demodulacin software, y representacin de la resistividad
aparente.
2-18
BUS GPIB
BUS GPIB
METRA BUS
GENERADOR
DE
FUNCIONES
HP3245A
OSCILOSCOPIO
DIGITAL
TDS420
TEKTRONIX
TARJETAS
MEM32A
KEITHLEY
(matriz 4x16)
vector de 16 electrodos equiespaciados

a
Figura 2.17. Sistema automtico de medida PROGEO
Las medidas se realizan en un modelo analgico constituido por una cubeta de plstico de
dimensiones 40 cm x 35 cm x 20 cm llena de agua hasta un nivel de unos 16 cm, en la que se
introducen diferentes objetos a fin de simular la presencia de objetos locales. Se utilizan 16
electrodos equiespaciados 1 cm o 2 cm. Debido a las reducidas dimensiones de la cubeta, no se han
implementado los dispositivos electrdicos que tienen uno o ms electrodos en el infinito, como son
el dispositivo doble dipolo y el dispositivo polo-polo. El apndice E muestra imgenes del sistema de
medida PROGEO y del modelo analgico para realizar las medidas.
2 cm
35 cm
20 cm
40 cm
Figura 2.18. Dimensiones de la cubeta utilizada para realizar las medidas experimentales en el
laboratorio.
2-19
Con un sistema de medida automtico es interesante plantearse la posibilidad de adquirir un

mayor nmero de valores de resistividad aparente con la idea de mejorar la interpretacin de las
estructuras del subsuelo. Noel y Xu (1991) afirman que con un vector de N electrodos, el nmero
N,
es
SN =
N ( N 3)
2
(2.22)
Los autores ilustran esta afirmacin con ejemplos y muestran cmo muchas medidas se pueden
obtener como superposicin de otras. Con 16 electrodos tendremos 104 medidas independientes. En
lo que sigue describimos cmo utilizar los dispositivos electrdicos vistos para obtener el mximo
nmero de medidas independientes. Una medida nueva ser independiente si no se puede obtener
como combinacin de las anteriores. De aqu en adelante entenderemos el trmino
como un conjunto de medidas utilizando uno o varios dispositivos electrdicos. Normalmente estas
configuraciones sern combinaciones de calicatas y sondeos, ya que nuestro inters radica en la
obtencin del cambio de la resistividad en las tres direcciones del espacio. Las configuraciones
basadas en los dispositivos polo-dipolo y polo-polo no sern implementables en el laboratorio,
debido a las reducidas dimensiones de la cubeta
Configuracin doble dipolo
Es una combinacin del sondeo y de la calicata doble dipolo. Para cada inyeccin desplazamos
los electrodos MN desde el par de electrodos adyacentes a los electrodos AB hasta el extremo
derecho. A cada nueva inyeccin desplazamos los electrodos AB una unidad (espaciado
interelectrdico) hacia la derecha. La Figura 2.19 muestra el proceso
M '
N '
I n y e c c i n 1
A '
I n y e c c i n
B '
M '
N '
Figura 2.19. Configuracin doble dipolo. Es una combinacin del sondeo y la calicata con el
dispositivo doble dipolo.
2-20
El nmero de total de medidas son 91 y todas son independientes. Para conseguir 13 medidas
independientes adicionales podemos utilizar una calicata Schlumberger con los electrodos A y B
fijos en los extremos de la agrupacin de 16 electrodos (Figura 2.20). Esta configuracin con 104
medidas independientes recibir el nombre de configuracin doble dipolo y es la misma utilizada por
Kotre (1996a).
M '
N '
A
A
I n je c c i n a d ic io n a l
Figura 2.20. Medidas adicionales en la configuracin doble dipolo para conseguir las 104 medidas
independientes.
Un problema de esta configuracin es la elevada relacin entre las medidas mayor y menor (en un
suelo homogneo). La diferencia de potencial mayor se produce cuando inyectamos por los
electrodos 1 (extremo izquierdo) y 16 (extremo derecho) y medimos bien entre los electrodos 2 y 3 o
bien entre los electrodos 14 y 15. La diferencia de potencial es mnima cuando la inyeccin se
produce entre los electrodos 1 y 2 y la deteccin entre los electrodos 15 y 16. De (2.4) se obtiene que
la relacin es de 690. Si se quisiera tener una resolucin del 1% en la medida menor, el margen
dinmico del detector habra de ser de 69000 (casi 100 dB).
.
Se basa en la calicata Schlumberger y en el dispositivo -Wenner. Para cada inyeccin
desplazamos los electrodos MN desde el electrodo A hasta el electrodo B. En cada nueva inyeccin
el electrodo A se va desplazando una unidad hacia la izquierda quedando fijo el electrodo B (Figura
2.21). Esto produce 91 medidas independientes.
Si inyectamos corriente entre los electrodos 1 y 15 y medimos la tensin diferencial entre los
pares adyacentes restantes obtenemos 12 medidas independientes ms. La ltima medida la podemos
obtener, por ejemplo, inyectando corriente entre los electrodos 3 y 16, y midiendo la tensin
diferencial entre los electrodos 1 y 2. Esta configuracin (con las 104 medidas independientes)
Schlumberger. La relacin entre las medidas mayor
(AB = 13-16, MN =
14-15) y menor (AB = 1-16, MN = 8-9) es en este caso de 28, mucho menor que en la configuracin
doble dipolo.

A
2-21
I n y e c c i n
M '
N '
M '
N '
A '
I n y e c c i n
Figura 2.21. Configuracin Schlumberger. Est basado en la calicata Schlumberger con los
electrodos de corriente fijos. En cada nueva inyeccin el electrodo A se desplaza una unidad hacia
la derecha.
Configuracin polo-dipolo
El procedimiento es anlogo al de la configuracin Schlumberger pero con el electrodo B en el
infinito. La Figura 2.22 muestra el proceso para las dos primeras inyecciones. El electrodo A se
desplaza desde el electrodo 1 hasta el electrodo 14. En total resultan 105 medidas independientes.
A
M '
N '
M '
N '
I n y e c c i n 1
A '
I n y e c c i n 2
Figura 2.22. Configuracin polo-dipolo. El procedimiento es anlogo a la configuracin

Schlumberger per ahora el electrodo B est en el infinito.
2-22
El nmero de medidas independientes se puede incrementar situando el electrodo A en la posicin

16 y midiendo entre los electrodos adyacentes restantes. En total tendremos 119 medidas
independientes. Esto no es una contradiccin, ya que ahora el nmero real de electrodos es 17
contando el electrodo en el infinito. Esta configuracin recibir el nombre de polo-dipolo. La
relacin entre las medidas mayor y menor es ahora de 104.
Configuracin polo-polo
La Figura 2.23 muestra la secuencia de medida. Los electrodos B y N estn situados en el
infinito. El potencial se mide en los electrodos a la derecha del electrodo inyector A. En cada nueva
inyeccin el electrodo A se desplaza una unidad hacia la derecha. El total de medidas independientes
es de 120 cuando el mximo terico es de 119 (con 17 electrodos). Esto es debido a que la
coincidencia de los electrodos N y B permite una medida independiente ms. La relacin entre las
medidas mayor (electrodos A y M contiguos) y menor (electrodos A y M en los extremos) es de 15.
A
M '
I n y e c c i n 1
A '
M '
I n y e c c i n 2
Figura 2.23. Configuracin polo-polo. Los electrodos N y B estn en el infinito. El electrodo A se

desplaza de izquierda a derecha. Las medidas de tensin se realizan a la derecha del electrodo A.
De las configuraciones utilizadas la polo-polo y la polo-dipolo presentan un mayor nmero de

medidas independientes pero esto se debe a que en realidad ha utilizado un electrodo ms. Si bien
tericamente este electrodo est en el infinito, en la prctica suele considerarse suficiente una
distancia 10 veces mayor que la mxima separacin entre los electrodos activos (los no situados en
el infinito), lo que no siempre es posible. Las configuraciones que requieren menor margen dinmico
son la polo-polo y la Schlumberger. En cambio el margen dinmico requerido por la configuracin
doble dipolo puede resultar demasiado exigente.
2-23
Para obtener imgenes tridimensionales de la distribucin de resistividad del subsuelo

necesitamos incrementar el nmero de medidas (con cualquiera de las configuraciones anteriores). El
procedimiento adoptado ser repetir las configuraciones anteriores a lo largo del eje y (Figura 2.24),
como veremos en los captulos 5 y 6.
B
B '
A '
A ''
B ''
Figura 2.24. Las configuraciones se repiten a lo largo del eje perpendicular al vector de electrodos
con el fin de obtener imgenes tridimensionales de la distribucin de resistividad en el subsuelo.
2.6. Resumen
La resistividad de los suelos tiene un margen de variacin muy amplio. Incluso un mismo suelo
puede presentar diferentes resistividades con el tiempo dependiendo de factores como la temperatura
o la humedad, siendo ste el ms determinante. Por lo tanto es difcil estimar la composicin del
subsuelo solamente a partir de la medida de resistividad.
La medida de la resistividad aparente se realiza normalmente mediante cuatro electrodos, dos
para inyectar la corriente y otros dos para medir la diferencia de potencial. Los dispositivos lineales
ms utilizados son: Wenner, Schlumberger, doble dipolo, polo-dipolo y polo-polo.
Las prospecciones geoelctricas se dividen normalmente en dos tipos: SEV y CE. El SEV tiene
como objetivo determinar la variacin de la resistividad con la profundidad, lo que es adecuado, por
ejemplo, en la determinacin de las diferentes capas o estratos de un suelo. La CE trata de
determinar la variacin de la resistividad a una profundidad determinada y se utiliza por ejemplo en
Cuando se pretende obtener imgenes en dos o tres dimensiones de la distribucin de resistividad

del subsuelo es ms adecuado utilizar una combinacin de calicatas y SEV. Se proponen
configuraciones multielectrdicas basadas en dispositivos clsicos. Con 16 electrodos el nmero
mximo de medidas independientes es de 104. El nmero de medidas se puede incrementar
desplazando la agrupacin de electrodos perpendicularmente. Para acelerar el proceso de medida se
utiliza un sistema de medida automtico (Alberto, 1997) que permite cualquier combinacin de
electrodos inyectores y detectores. Debido a las reducidas dimensiones de la cubeta utilizada para
2-24
realizar medidas en el laboratorio, slo es posible implementar las configuraciones Schlumberger y

doble dipolo. Esta ltima necesita un gran margen dinmico en el detector.
Problema directo
3-1
3. Problema directo
La medida de la resistividad aparente desde la superficie permite la deteccin de estructuras

inmersas en el subsuelo sin realizar labores mecnicas intensivas. Esta tcnica puede ser interesante
cuando el inters de los objetos no justifique el coste de dicha labor, e incluso porque la simple
ejecucin de ciertas labores mecnicas puede poner en peligro las propias estructuras que interesa
localizar (caso de las tuberas o restos arqueolgicos). La posibilidad de una localizacin basada
exclusivamente en medidas realizadas desde la superficie puede abrir las puertas a muchas
aplicaciones donde se den restricciones de coste y riesgo.
La medida de la resistividad elctrica del suelo, empleando diferentes agrupaciones de
electrodos, ha sido utilizada generalmente para identificar las diferentes capas en un medio
estratificado. En proyectos de Ingeniera Civil, la presencia de cavidades enterradas
(frecuentemente debido a actuaciones anteriores) puede ser de particular importancia. Estas
cavidades podran ser modeladas en una primera aproximacin como esferas aislantes en un medio
homogneo. La presencia de galeras, tuberas y tneles puede ser modelada con bastante exactitud
por cilindros. Problemas similares pueden aparecer, por ejemplo, en la localizacin de restos
arqueolgicos y de minerales. Por lo tanto, la solucin analtica del potencial elctrico para el caso
de una esfera y un cilindro inmersos en un medio homogneo ser til para determinar cundo la
localizacin de dichos objetos es viable utilizando mtodos resistivos.
Las soluciones clsicas del potencial elctrico proporcionan medios para estimar la influencia
de varios parmetros geomtricos y fsicos del objeto a detectar, como el tamao, la profundidad y
la resistividad. Con una solucin matemtica cerrada, estas pruebas se pueden realizar de una
manera rpida, de forma precisa y con un coste bajo. Estas soluciones proporcionarn tambin los
datos sintticos para comparar los diferentes algoritmos de reconstruccin utilizados en el captulo
5. Adems, pueden servir como controles analticos para programas que calculan el potencial
elctrico por medio de tcnicas numricas (elementos finitos, diferencias finitas, elementos de
contorno). A diferencia de otros mtodos de prospeccin basados en la propagacin de ondas,
donde la longitud de onda de la seal incidente proporciona una escala de su poder de resolucin,
las posibilidades de resolucin de los mtodos basados en el potencial elctrico esttico slo
pueden evaluarse mediante estudios de modelos
El apartado 3.1 muestra la solucin para el potencial y el campo elctrico de una esfera de
conductividad finita inmersa en un suelo homogneo. El apartado 3.2 obtiene la solucin para el
caso de un cilindro cuyo eje es paralelo a la superficie. El apartado 3.3 compara las diferentes
configuraciones de electrodos en funcin de su habilidad para detectar la presencia de un objeto
3.4 estima la influencia de parmetros como el tamao, la profundidad y el
contraste resistivo de la esfera y el cilindro en la resistividad aparente medida. Se resuelve una
cuestin prctica importante, qu es determinar el poder de resolucin de la tcnica resistiva, o
dicho de otra manera, se determina cundo un cuerpo es detectable. Veremos que, con ciertas
3-2
Problema directo
condiciones, es posible determinar la profundidad y el radio de objetos esfricos y cilndricos. De

hecho, este resultado constituye una primera aproximacin al problema inverso, que ser tratado
ms ampliamente en el captulo 5 y 6. La presencia de capas horizontales de diferente resistividad
debajo del objeto puede enmascarar la presencia de ste. La obtencin de una medida de referencia
minimiza el efecto de la capa. Curiosamente, este problema es opuesto al encontrado cuando se
quiere determinar la estructura estratificada del subsuelo, donde los artefactos en el potencial
vienen determinados por objetos de dimensiones finitas, como por ejemplo un objeto esfrico
(Barker, 1981). Finalmente, las predicciones tericas se validan experimentalmente con medidas de
laboratorio.
3.1. Potencial y campo el ctrico en presencia de una esfera

3.1.1. Solucin exacta del potencial elctrico
La solucin del potencial elctrico para problemas de cuerpos inmersos en un medio
homogneo no es frecuente en la bibliografa. Para el caso particular de una esfera de
conductividad infinita (o resistividad cero), Van Nostrand (1953) obtiene una solucin para el
dispositivo Wenner. Large (1971) considera el caso de una esfera de conductividad finita en las
proximidades de un electrodo de corriente situado en la superficie. Merkel y Alexander (1971)
resuelven el problema para tres configuraciones de electrodos diferentes basadas en la
configuracin dipolo-dipolo: a) directamente sobre la esfera, b) un electrodo de corriente entre la
esfera y la superficie, c) un electrodo de corriente dentro de la esfera. Singh y Espindola (1976)
proporcionan una solucin para el caso de una esfera conductora por el mtodo de las imgenes.
Aldridge y Oldenburg (1989) derivan una solucin totalmente general (no restringe la posicin de
los electrodos de corriente y tensin) para el caso de dos esferas de resistividad arbitraria inmersas
en un medio homogneo. Un caso particular de ste es el de una esfera inmersa en un espacio semiinfinito homogneo. Adems, los autores argumentan mejoras computacionales respecto a las
La Figura 3.1 muestra una esfera de radio a y resistividad 2 situada a una profundidad h e
inmersa en un medio homogneo de resistividad 1. El origen de coordenadas est situado en la
superficie (z = 0) sobre el centro de la esfera. El Apndice A.1 muestra, basndose en la solucin
dada por Aldridge y Oldenburg (1989), que el potencial en un punto P de la superficie debido a una
fuente de corriente I situada tambin en la superficie viene dado por la expresin
V=
1 I
2
1
(1 cos s )(1 cos )
+
R
b
d {A
l =0 m =0
lm Yl
( , )
(3.1)
donde la solucin viene expresada en funcin de las coordenadas biesfricas , , siendo s la

coordenada biesfrica de la fuente de corriente. Ylm es el armnico esfrico de grado l y orden m.
{ } indica la parte real de { }. Los coeficientes Alm, dm y la constante b se encuentran definidos en
el Apndice A.1. En la expresin anterior, el primer trmino del sumando es la contribucin del
Problema directo
3-3
medio homogneo y el segundo trmino es debido a la esfera. Normalmente la inyeccin de

corriente se realiza entre dos electrodos. La solucin se obtiene, entonces, aplicando superposicin
de las dos fuentes puntuales de corriente.
P(x,y,z)
I(xs,ys,zs)
X
R
h
2
Z
Figura 3.1. Esfera inmersa en un medio semi-infinito homogneo.
A primera vista puede parecer que la extraccin de valores numricos de la expresin anterior
ser difcil. Afortunadamente, la convergencia de las sumas es bastante rpida en los casos en que
la esfera no est demasiado cerca de la superficie. El Apndice A.1 analiza algunos resultados.
3.1.2. Solucin aproximada del potencial elctrico
A pesar de que la solucin exacta slo requiere cuatro trminos si h/a > 2 (Apndice A.1), el
tiempo de clculo requerido puede ser considerable si se quieren generar diferentes soluciones al
variar parmetros como la posicin, radio y resistividad de la esfera, o la posicin de los electrodos
inyectores y detectores. Esta situacin se da al generar los datos sintticos para comparar los
diferentes algoritmos de reconstruccin en el captulo 5. Por lo tanto, conviene buscar soluciones
Wait (1982) proporciona una solucin analtica de la tensin originada por una fuente puntual
de corriente en un medio infinito homogneo que contiene una esfera. Telford, Geldart y Sheriff
(1990) consideran que la interfase tierra-aire dobla la contribucin de la esfera y comentan que la
solucin se puede considerar vlida para relaciones h/a > 1,3. Quick (1974) dice que para esta
relacin el error cometido es menor del 10 %. La Figura 3.2 muestra la geometra del problema,
donde ahora se define el origen de coordenadas en el centro de la esfera y r, son coordenadas
esfricas.
3-4
Problema directo
P
r
Figura 3.2. Esfera inmersa en un medio semi-infinito homogneo. La corriente I retorna por el infinito
El Apndice A.2 muestra la solucin aproximada del potencial en el punto P dada por la
expresin
V=
I 1 1
a
+2
2 R
Dr
a2
n( 2 1 )
(
)
P
cos
n
Dr (n + 1) + n
2
1
n =1
(3.2)
donde Pn son polinomios de Legendre

Si la inyeccin de corriente se realiza mediante dos electrodos como muestra la Figura 3.3,
podemos aplicar superposicin. Entonces
V=
I 1 1 1
+
2 R R '
n =1
1
r
n +1
Pn (cos ) An'
1
r
n +1
Pn cos '
(3.3)
donde
An =
An'
n ( 2 1 )
I a 2 n +1
=
2
' n +1
2 ( D )
( n + 1) 2 + n1
n ( 2 1 )
I a 2 n +1
2
n +1
2 D
( n + 1) 2 + n 1
r
D
(3.4)
-I
2 a
Figura 3.3. Esfera inmersa en un medio semi-infinito homogneo. La corriente se inyecta entre dos
electrodos puntuales a distancia finita de la esfera.
Problema directo
3-5
2 = 0 y 2 = . Para una esfera
totalmente conductora (3.2) se reduce a

I 1
a
V = 1 2
2 R
Dr
a2
Pn (cos )
n =1 Dr
(3.5)
Si definimos
a2
Dr
(3.6)
y usamos la identidad
Pn (cos ) =
1 2 cos + 2
(3.7)
el potencial para una esfera perfectamente conductora es
V=
I 1
2
1
2 a
1
Dr 1 2 cos + 2
R
(3.8)
Para una esfera totalmente aislante, (3.2) se convierte en
V=
I 1 1
a
+2
2 R
Dr
n + 1
n =1
Pn (cos )
(3.9)
Sabiendo que
u n du =
n +1
n +1
(3.10)
podemos expresar (3.9) como
V=
La identidad
I 1 1
a
+2
Dr
2 R
udu
nu
n =1
n 1
Pn (cos )
(3.11)
3-6
Problema directo
nu
n 1
Pn (cos ) =
n =1
cos u
(3.12)
(1 2u cos + u )
2 3/ 2
junto con (3.11) permite expresar el potencial para una esfera aislante como
I
V= 1
2
1 2
1 2 cos + 2 + cos
+
ln
R a 1 2 cos + 2
1 cos
(3.13)
El Apndice A.3 compara (3.8) y (3.13) con la solucin exacta dada por (3.1). En el
caso de una fuente puntual de corriente situada en el origen de coordenadas el error entre
los potenciales secundarios de ambas soluciones es menor del 4 % para relaciones h/a > 2.
3.1.3. Solucin con campo elctrico uniforme
Supongamos que la esfera se encuentra bajo el punto medio de la lnea que une los electrodos de
corriente (Figura 3.4). En el caso de la esfera conductora, partiendo de (3.8) y aplicando
superposicin de las fuentes de corriente, el potencial es
V=
I 1
2
1 1
a
a
1
1
2
+2
2
Dr 1 2 cos +
Dr 1 2 cos '+ 2
R R'
(3.14)
donde
h 2 Lx
Dr
2
h + Lx
cos ' =
Dr
cos =
(3.15)
Sustituyendo (3.6) y (3.15) en (3.14) obtenemos
I 1 x
1
a
1
+
V =
2
2
2
2
2
L2 x 2 Dr
a a + 2 Lx 2h
a a 2 Lx 2h 2
+
+
1
1
D2
r2
D2
r2
(3.16)
donde el primer trmino es el potencial primario y el segundo es la contribucin de la

esfera. Si -L < x < L, el campo elctrico en la direccin x es
Problema directo
3-7
a2
+
x
L
2
2
a
V I 1 L + x
D2
Ex =
=
L2 x 2 2 Dr 3
x
a 2 a 2 + 2 Lx 2h 2
1
+
D2
r2
32
a 2 a 2 2 Lx 2h 2

1 +

D2
r2

(3.17)
x
32
a2
L
D2
Si D >> a, el potencial se puede expresar como

3
3
L2
a L
V = E 0 x 2
2
L x2
r D
(3.18)
donde hemos definimos E0 como un campo elctrico uniforme de intensidad

E0 =
I 1
L2
(3.19)
La expresin del potencial para la esfera conductora es el que hubiramos obtenido a partir
de (3.3) quedndonos slo con el primer trmino del sumatorio. Se comprueba que esto es
vlido para esferas de resistividad arbitraria. Por tanto, si D >> a, podemos expresar el
potencial como
3
3
L2
a L
V = E0 x 2
+ ke
L x2
r D
(3.20)
donde
ke =
2( 2 1 )
2 2 + 1
(3.21)
A partir de (3.20), el campo elctrico en la direccin x es
Ex =
3
3
2
V
L2 + x 2
x
a L
= E 0 L2
+
k
1
3
e
2
x
r
r D
L2 x 2
(3.22)
Cuando L >> x las expresiones anteriores del potencial y el campo elctrico se pueden aproximar
por
3-8
Problema directo
3
3
a L
V E0 x 1 + k e
r D
(3.23)
3
3
2
a L
x
E x E 0 1 + k e 1 3
r D
r
(3.24)
a
V E 0 x 1 + k e
(3.25)
3
2
a
x
E x E 0 1 + k e 1 3
r
r
(3.26)
Si, adems, L >> h tenemos
Estas dos ltimas expresiones son las que se obtendran suponiendo que la esfera est bajo un
campo elctrico uniforme de intensidad E0.
x<0
L
I
P
r
D
x>0
L
-I
R
h
2 a
D
1
Figura 3.4. Esfera inmersa en un medio semi-infinito homogneo. La esfera se encuentra bajo el punto
medio de la lnea que une los electrodos de corriente.
La expresin (3.26) para el campo elctrico es una solucin aproximada, ya que se ha obtenido
con la condicin de que los electrodos de corriente se encuentran a una gran distancia de la esfera.
La solucin exacta se obtendra a partir de la expresin (3.1). La Figura 3.5 compara las dos
soluciones para una esfera aislante de radio unidad y profundidades 1,5 y 2. El error porcentual
definido como
e r1 = max
Ea Ee
E0
(3.27)
donde Ee es la solucin exacta del campo elctrico y Ea es la solucin aproximada, es del 1,5 % y
del 0,16 % respectivamente. Para una esfera conductora los errores son del 4,4% y del 0,57 %
respectivamente. Sin embargo, lo que proporciona informacin acerca de la presencia del objeto es
Problema directo
3-9
la variacin del campo. Por lo tanto, puede ser ms apropiado referenciar el error absoluto con el
cambio mximo del campo elctrico. As definimos el nuevo error porcentual como
er 2 = max
Ea Ee
max Ee Eo
(3.28)
En este caso, los errores son del 4,7 % y del 1,3 % para la esfera aislante y del 8 % y del 2,34%
para la esfera conductora.
Esfera aislante
h=1,5 a=1
1.4
Solucin exacta
Solucin aproximada
1.3
1.2
Ex/Eo
1.1
1.0
0.9
-4
-2
Eje X
Esfera aislante
h=2 a=1
1.14
1.12
Solucin exacta
Solucin aproximada
1.10
1.08
Ex/E1.06
o
1.04
1.02
1.00
0.98
0.96
-4
-2
Eje X
Figura 3.5. Solucin exacta y aproximada del campo elctrico en presencia de una esfera aislante de
radio unidad y profundidad 1,5 y 2 cuando los electrodos de corriente se encuentran muy alejados.
3-10
Problema directo
3.2. Potencial y campo el ctrico en presencia de un cilindro

Un cilindro puede modelar con bastante exactitud galeras y tneles. Parasnis (1964) obtiene
una solucin del potencial elctrico en el caso de un cilindro infinito horizontal inmerso en un suelo
homogneo en presencia de lneas de corriente infinitas situadas en la superficie y paralelas al eje
del cilindro. Militzer, Rsler y Lsch (1979) utilizan dicho anlisis para comparar diferentes
configuraciones electrdicas. Wait (1982) realiza un anlisis cuando la fuente de corriente es
puntual y el cilindro est inmerso en un medio infinito. El mismo autor considera el caso de un
cilindro conductor de radio mucho menor que la profundidad a la que se halla inmerso en un suelo
homogneo. Bhattarcharya y Biswas (1992) analizan el caso general de un cilindro inmerso en un
suelo homogneo a cualquier profundidad en presencia de un campo elctrico constante. Sin
embargo, no parece existir una solucin para el caso de un cilindro inmerso en un suelo homogneo
cuando los electrodos de corriente son puntuales y estn a una distancia finita. De hecho el
problema ha de ser abordado utilizando coordenadas bipolares, sistema para el cual la ecuacin de
Laplace no es separable (Morshe y Feschback, 1953).
Una solucin aproximada se puede obtener a partir de la solucin para el caso del cilindro en un
medio infinito (Wait, 1982) y considerando que la interfase suelo-aire dobla el efecto del objeto. Si
el eje del cilindro es paralelo a la superficie (Figura 3.6), el potencial, expresado en coordenadas
cilndricas, es (Apndice B)
V=
I 1
2
1 4
+
R
m Am ( ) K m (r ) cos( m )
m =0
(3.29)
donde
Am ( ) =
K m (D )I m' (a )( 2 1 1)
I m' (a )K m (a ) 2 '
K m (a )
I m (a )
1
(3.30)
y m = 1 para m = 0, m = 2 para m = 1,2,...
R
I
P
r
D
Figura 3.6. Cilindro inmerso en un suelo homogneo. El eje del cilindro es paralelo a la superficie y
perpendicular a la lnea que une la fuente de corriente y el punto de medida
Problema directo
3-11
En el caso de que el retorno de corriente se produzca por otro electrodo a distancia finita, el
potencial se calcula por superposicin de las dos fuentes de corriente, tal como se hizo con la
esfera. Sin embargo, el tiempo de clculo es mucho mayor que en el caso de la esfera ya que la
integral en (3.29) se ha de calcular por mtodos numricos. La Figura 3.7 muestra el caso de un
cilindro con su eje perpendicular a la lnea que une los electrodos de corriente y equidistante a
ellos. El potencial, en este caso, se puede expresar como
V=
I1
2
1 4
+
R
m ( ) K m (r )
m =0
x<0
L
I
[cos(m ) cos(m ' )]d
2A
x>0
P
r
(3.31)
L
-I
R
p
2 a
Figura 3.7. Cilindro inmerso en un medio semi-infinito homogneo. El eje del cilindro es paralelo a la
superficie, perpendicular a la lnea que une los electrodos de corriente y equidistante de stos.
Si L >> x, h, la esfera est sometida a un campo elctrico constante de intensidad E0 y direccin

perpendicular al eje del cilindro. Ahora el potencial y el campo elctricos son
a2
V E 0 x1 + k c 2
r
(3.32)
2
2
a 2x
E x E 0 1 + k c 1 2
r
r
(3.33)
donde
kc = 2
2 1
2 + 1
(3.34)
Para este caso Bhattarcharya y Biswas (1992) consideran de manera precisa el efecto de la
interfase suelo-aire utilizando coordenadas bipolares (2D). El potencial en la superficie es
V = 2bE 0
1 + 0,5k c e 2 no
1 0,5k e
n =1
2 n o
sen (n )
(3.35)
3-12
Problema directo
donde
b = h2 a2
h+b
hb
x
= 2tan 1
b
o = 0,5 ln
(3.36)
El campo elctrico en la superficie en la direccin x es
1 + 0,5k c e 2 no
1 0,5k e
E x = 2 E 0 (1 cos )
n =1
2 n o
n cos(n )
(3.37)
La Figura 3.8 compara las curvas respectivas obtenidas mediante (3.33) y (3.36) para un
cilindro aislante y conductor de radio unidad y profundidad 1,5. La Figura 3.9 presenta el caso de
un cilindro a profundidad 2. En este caso, las soluciones exacta y aproximada del campo elctrico
presentan diferencias relativas mayores que en el caso de la esfera para una misma relacin h/a.
Cilindro aislante
a=1 h=1,5
2.5
Solucin exacta
Solucin aproximada
2.0
Ex/Eo
1.5
1.0
0.5
-10
-5
Eje X
10
Problema directo
3-13
Cilindro conductor
a=1 h=1,5
1.5
Solucin exacta
Solucin aproximada
1.0
Ex/Eo
0.5
0.0
-10
-5
10
Eje X
Figura 3.8. Solucin exacta y aproximada del campo elctrico sobre un cilindro de radio unidad y
profundidad 1,5 dispuesto segn la Figura 3.7 con los electrodos de corriente muy alejados. El campo
elctrico primario es uniforme y perpendicular al eje del cilindro.
Cilindro aislante
a=1 h=2
Solucin exacta
Solucin aproximada
1.5
Ex/Eo
1.0
-10
-5
Eje X
10
3-14
Problema directo
Cilindro conductor
a=1 h=2
1.2
Solucin exacta
Solucin aproximada
1.1
1.0
0.9
Ex/Eo
0.8
0.7
0.6
0.5
0.4
-10
-5
10
Eje X
Figura 3.9. Solucin exacta y aproximada del campo elctrico sobre un cilindro de radio unidad y
profundidad 2 dispuesto segn la Figura 3.7 con los electrodos de corriente muy alejados. El campo
elctrico primario es uniforme y perpendicular al eje del cilindro.
La Tabla 3.1 muestra los errores relativos dados por (3.27) y (3.28) para diferentes relaciones
h/a en el caso del cilindro aislante. Los errores son similares para un cilindro conductor. Estos
errores son mayores que para el caso de la esfera.
h/a = 1,5
h/a = 2
h/a = 3
h/a = 4
er1
19,2 %
4,4 %
0,71 %
0,21 %
er2
17,8 %
8,1 %
3,1 %
1,7 %
Tabla 3.1. Error relativo entre la solucin exacta y aproximada del cilindro aislante segn h/a
3.3. Configuraciones de electrodos ptimas

El captulo 2 describe diferentes dispositivos electrdicos que se utilizan en la prospeccin
geoelctrica. La eleccin de la configuracin utilizada se ha de hacer de acuerdo con algn criterio.
Apparao et al. (1992) y Apparao, Sivarama y Subrahmanya (1997) comparan cuatro
configuraciones de electrodos basadas en los dispositivos electrdicos Wenner, polo-polo, polodipolo y doble dipolo. El criterio de comparacin se basa en la profundidad de deteccin que se
define como la profundidad por debajo de la cual un objeto no puede ser detectado con una
configuracin de electrodos determinada. Van Nostrand (1953) considera que un objeto es
detectable si produce un cambio de la resistividad aparente mayor del 10 %. Apparao et al. (1992)
Problema directo
3-15
y Apparao, Sivarama y Subrahmanya (1997) miden en una cubeta de dimensiones

200 cm 100 cm 120 cm llena de agua. Las cuerpos utilizados son lminas verticales, cilindros y
esferas, tanto totalmente conductores (Apparao et al., 1992) como aislantes (Apparao, Sivarama y
Subrahmanya 1997). Los autores concluyen que la deteccin de objetos conductores es ms
sencillo y que la menor profundidad de deteccin se produce para las cuerpos esfricos. En este
ltimo caso la configuracin Wenner es la que da peor resultado, comportndose las otras tres de
forma similar.
En nuestro caso, para comparar las diferentes configuraciones de electrodos definimos la
resistividad aparente normalizada como
Q=
a 1
1
(3.38)
donde a es la resistividad aparente definida en el apartado 2.3 y 1 es la resistividad del medio.

Definimos la visibilidad como el mximo del valor absoluto de la resistividad aparente normalizada
Q0 = max Q
(3.39)
Segn el criterio seguido por Van Nostrand (1953), un objeto ser detectable si Q0 > 0,1. El criterio
que utilizaremos para comparar las diferentes configuraciones ser la visibilidad obtenida en
presencia de una esfera. Ms adelante tendremos en cuenta el nmero de medidas independientes
de cada configuracin y el margen dinmico de las medidas. La visibilidad se obtendr de forma
analtica, utilizando la solucin exacta del potencial (3.1), y se contrastar posteriormente con
resultados experimentales.
Comparamos primero las cuatro configuraciones de electrodos utilizadas por Apparao et al.
(1992). La Figura 3.10 muestra los dispositivos electrdicos utilizados. El smbolo x indica la
posicin asignada al dispositivo. Por ejemplo, en un dispositivo Wenner si la posicin de A es x = 7
(unidades arbitrarias) y la posicin de B es x = 10, la posicin del dispositivo sera x = 8,5. Para
obtener los datos utilizaremos (3.1) para una esfera totalmente aislante o conductora de radio
unidad situada en x = y = 0 y profundidades 1,6-2,0-2,4 unidades.
A
M
d
N
d
Dispositivo Wenner
B
d
M
d
Dispositivo polo-polo
3-16
Problema directo
A
M
d
N
d
B
d
M
d
N
d
Dispositivo doble dipolo
Dispositivo polo-dipolo
Figura 3.10. Dispositivos electrdicos utilizados en la determinacin de la visibilidad para objetos
Para cada dispositivo electrdico se realizan varias calicatas en la direccin del eje x,
directamente sobre la esfera (Figura 3.1), donde se produce la mayor variacin en la resistividad
aparente. Cada calicata empieza con el electrodo del extremo izquierdo en la posicin x = 10 y
acaba con el electrodo del extremo derecho en la posicin x = 10, desplazndose a pasos de 0,5
unidades. La Figura 3.11 muestra la resistividad aparente normalizada en funcin de la posicin del
dispositivo electrdico para una esfera aislante situada a una profundidad de 1,6 unidades. Las
diferentes curvas se obtienen variando la separacin interelectrdica d entre 0,5 y 3 unidades a
intervalos de 0,5 unidades. La Figura 3.12 muestra el caso de una esfera conductora. La
resistividad aparente normalizada es casi el doble y de signo contrario que la de la esfera aislante.
En ambos casos, las configuraciones basadas en los dispositivos polo-dipolo y doble dipolo
presentan valores de Q mayores. Para no confundir estas configuraciones con las definidas en el
apartado 2.6, se habla de configuracin basada en un dispositivo determinado.
Configuracin basada en Wenner

Esfera aislante
0.14
0.12
d=0,5
d=1
d=1,5
d=2
d=2,5
d=3
0.10
0.08
Q 0.06
0.04
0.02
0.00
-0.02
-10
-5
10
Problema directo
3-17
Configuracin basada en polo-polo

Esfera aislante
0.16
0.14
d=0,5
d=1
d=1,5
d=2
d=2,5
d=3
0.12
0.10
0.08
0.06
0.04
0.02
0.00
-0.02
-10
-5
10
Configuracin basada en polo-dipolo

Esfera aislante
0.25
d=0,5
d=1
d=1,5
d=2
d=2,5
d=3
0.20
0.15
Q 0.10
0.05
0.00
-0.05
-10
-5
10
3-18
Problema directo
Configuracin basada en doble dipolo

Esfera aislante
0.30
0.25
d=0,5
d=1
d=1,5
d=2
d=2,5
d=3
0.20
0.15
Q
0.10
0.05
0.00
-0.05
-10
-5
10
Figura 3.11. Resistividad aparente normalizada con una esfera aislante de radio 1 unidad a una
profundidad de 1,6 unidades. Las diferentes curvas se obtienen variando la separacin interlectrdica
d entre 0,5 y 3 unidades a intervalos de 0,5 unidades.

Esfera conductora
0.05
0.00
-0.05
-0.10
d=0,5
d=1
d=1,5
d=2
d=2,5
d=3
-0.15
-0.20
-0.25
-10
-5
10
Problema directo
3-19

Esfera conductora
0.05
0.00
-0.05
-0.10
d=0,5
d=1
d=1,5
d=2
d=2,5
d=3
-0.15
-0.20
-0.25
-10
-5
10

Esfera conductora
0.1
0.0
-0.1
Q
d=0,5
d=1
d=1,5
d=2
d=2,5
d=3
-0.2
-0.3
-0.4
-10
-5
10
3-20
Problema directo

Esfera conductora
0.1
0.0
-0.1
-0.2
d=0,5
d=1
d=1,5
d=2
d=2,5
d=3
-0.3
-0.4
-0.5
-10
-5
10
Figura 3.12. Resistividad aparente normalizada con una esfera conductora de radio 1 unidad a una
La Figura 3.13 representa la variacin de la visibilidad Q0 en funcin de d en el caso de la

esfera aislante para los cuatro dispositivos utilizados. La Figura 3.14 muestra el caso de la esfera
conductora. Como era de esperar, la visibilidad disminuye con la profundidad del objeto. La
visibilidad mxima, a la profundidad h = 1,6 unidades, se produce para d entre 1 y 1,5 dependiendo
de la configuracin utilizada. Hay, por tanto, una separacin electrdica ptima para detectar la
esfera. A medida que la profundidad de la esfera aumenta tambin lo hace la distancia d ptima.
Para todas las profundidades, la visibilidad de las esferas conductoras es casi el doble que la de las
esferas aislantes y las configuraciones basadas en los dispositivos doble dipolo y polo-dipolo tienen
una visibilidad sensiblemente mayor que las otras dos configuraciones. Apparao, Sivarama, y
Subrahmanya (1997) tambin coinciden en que las esferas conductoras son ms fciles de detectar.
Los mismos autores concluyen que la configuracin basada en el dispositivo polo-polo presenta
una profundidad de deteccin similar a las configuraciones basadas en los dispositivos doble dipolo
y polo-dipolo. Sin embargo, una inspeccin detallada de las grficas que presentan dichos autores
revela que la profundidad de deteccin es ligeramente inferior en el caso de la configuracin polopolo, lo que se corresponde con los resultados presentados aqu.
Problema directo
3-21

Esfera aislante

Esfera aislante
0.16
0.14
h = 2,4
h=2
h = 1,6
0.12
h=2,4
h=2
h=1,6
0.14
0.12
Visibilidad
Visibilidad
0.10
0.08
0.06
0.10
0.08
0.06
0.04
0.04
0.02
0.02
0.00
0.00
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
0.5
3.0
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0

Esfera aislante

Esfera aislante
0.30
0.25
h=2,4
h=2
h=1,6
0.20
h=2,4
h=2
h=1,6
0.25
Visibilidad
Visibilidad
0.20
0.15
0.10
0.15
0.10
0.05
0.05
0.00
0.00
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
Figura 3.13. Visibilidad para una esfera aislante a diferentes profundidades h.

Esfera conductora

Esfera conductora
0.25
0.25
h=2,4
h=2
h=1,6
Visibilidad
0.20
Visibilidad
h=2,4
h=2
h=1,6
0.20
0.15
0.10
0.15
0.10
0.05
0.05
0.00
0.00
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
3-22
Problema directo

Esfera conductora

Esfera conductora
0.4
0.5
h=2,4
h=2
h=1,6
h=2,4
h=2
h=1,6
0.4
Visibilidad
Visibilidad
0.3
0.2
0.3
0.2
0.1
0.1
0.0
0.0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
Figura 3.14. Visibilidad para una esfera conductora a diferentes profundidades h.
Una configuracin no utilizada por Apparao et al. (1992) y Apparao, Sivarama y Subrahmanya
(1997) es la basada en el dispositivo -Wenner (Figura 3.15). De hecho cuando a << d el
dispositivo es idntico al Schlumberger.
A
M
d
N
a
B
d
D ispositivo -Wenner
Figura 3.15. Dispositivo -Wenner utilizado en la determinacin de la visibilidad para objetos
La Figura 3.16 representa Q en funcin de la posicin del dispositivo para una esfera aislante a
profundidad 1,6. La distancia a es igual a 0,5 unidades y d vara entre 0,5 y 3 a intervalos de 0,5
unidades. La Figura 3.17 representa Q0 en funcin de d para diferentes profundidades de la esfera.
Problema directo
3-23
Configuracin -Wenner
Esfera aislante
0.25
d=0,5
d=1
d=1,5
d=2
d=2,5
d=3
0.20
0.15
0.10
0.05
0.00
-10
-5
10
10
Esfera conductora
0.0
-0.1
Q
-0.2
d=0,5
d=1
d=1,5
d=2
d=2,5
d=3
-0.3
-0.4
-10
-5
Figura 3.16. Resistividad aparente con una esfera aislante y conductora de radio unidad a una
3-24
Problema directo
Esfera conductora
Configuracin Wenner
Esfera asilante
0.4
0.25
h=2,4
h=2
h=1,6
h=2,4
h=2
h=1,6
0.3
0.15
Visibilidad
Visibilidad
0.20
0.10
0.2
0.1
0.05
0.0
0.00
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
0.5
3.0
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
Figura 3.17. Visibilidad para una esfera aislante y conductora a diferentes profundidades h.
La visibilidad mxima a cada profundidad h para esta configuracin es ligeramente menor que
las basadas en los dispositivos polo-dipolo y doble dipolo. La visibilidad de la esfera conductora es
tambin casi el doble que la de la aislante. Una propiedad interesante es que a medida que d
aumenta, la visibilidad tambin aumenta. La Figura 3.18 muestra la visibilidad para distancias d de
hasta 9 unidades. Se observa el efecto de saturacin de la visibilidad con la distancia d. En esta
configuracin hablaremos, pues, de una distancia mnima d (y, por tanto, una separacin mnima
de los electrodos inyectores) a partir de la cual la visibilidad se mantiene prcticamente constante.
Esta distancia mnima aumenta con la profundidad de la esfera. Volveremos sobre este punto con
3.4.
Esfera conductora
Esfera aislante
0.5
0.25
0.20
0.4
0.15
0.3
Visibilidad
Visibilidad
h=2,4
h=2
h=1,6
0.10
h=2,4
h=2
h=1,6
0.2
0.1
0.05
0.0
0.00
1
Figura 3.18. Visibilidad para una esfera aislante y conductora a diferentes profundidades h. El margen
de distancias d se ha extendido hasta 9 unidades para observar el aumento de la visibilidad.
El sistema de medida automtico PROGEO para realizar medidas en el laboratorio permite

cualquier combinacin de electrodos inyectores-detectores en una agrupacin de 16 electrodos
(Alberto, 1997). La Figura 3.19 muestra las visibilidades tericas para las configuraciones
anteriores si utilizamos 16 electrodos equiespaciados 1 unidad con una esfera aislante de radio
unidad situada entre los electrodos 8 y 9. La distancia d varia entre 1 unidad y el mximo posible
Problema directo
3-25
para cada configuracin. La Figura 3.20 muestra el caso de una esfera conductora. Las
conclusiones son similares a las comentadas anteriormente.

Esfera aislante

Esfera aislante
0.14
0.16
0.12
0.14
h=2,4
h=2
h=1,6
h=2,4
h=2
h=1,6
0.12
Visibilidad
Visibilidad
0.10
0.08
0.06
0.10
0.08
0.06
0.04
0.04
0.02
0.02
0.00
0.00
1
11
13

Esfera aislante

Esfera aislante
0.25
15
0.25
h=2,4
h=2
h=1,6
0.20
h=2,4
h=2
h=1,6
0.20
0.15
Visibilidad
Visibilidad
0.10
0.05
0.15
0.10
0.05
0.00
0.00
1
Esfera aislante
0.25
h=2,4
h=2
h=1,6
Visibilidad
0.20
0.15
0.10
0.05
0.00
1
Figura 3.19. Visibilidad terica para una esfera aislante de radio unidad a diferentes profundidades h,
si utilizamos 16 electrodos equiespaciados 1 unidad
3-26
Problema directo

Esfera conductora

Esfera conductora
0.22
0.25
0.20
h=2,4
h=2
h=1,6
0.18
0.16
Visibilidad
0.14
Visibilidad
h=2,4
h=2
h=1,6
0.20
0.12
0.10
0.15
0.10
0.08
0.06
0.05
0.04
0.02
0.00
0.00
1
11
13

Esfera conductora

Esfera conductora
15
0.4
0.40
0.35
h=2,4
h=2
h=1,6
0.30
h=2,4
h=2
h=1,6
0.3
0.25
Visibilidad
Visibilidad
X Data
0.20
0.2
0.15
0.1
0.10
0.05
0.0
0.00
1
Esfera conductora
0.5
h=2,4
h=2
h=1,6
Visibilidad
0.4
0.3
0.2
0.1
0.0
1
Figura 3.20. Visibilidad terica para una esfera conductora a diferentes profundidades h, si utilizamos
16 electrodos equiespaciados 1 unidad
La Figura 3.21 muestra la visibilidad obtenida experimentalmente en una cubeta de plstico (40
cm x 35 cm x 20 cm) llena de agua, cuando la distancia interelectrdica es de 2 cm (1 unidad), el
radio de la esfera de goma (aislante) es de 2,2 cm (1,1 unidades) y la profundidad de 4 cm (2
unidades). Debido a las reducidas dimensiones de la cubeta, no es posible implementar las
configuraciones polo-polo y polo-dipolo. Este mismo factor, adems, altera seriamente el valor
Problema directo
3-27
medido de la resistividad aparente en las configuraciones restantes. Para minimizar su efecto en la

visibilidad de la esfera sustituimos 1 en (3.38) por la resistividad aparente medida sin la esfera.
Las visibilidades as obtenidas coinciden cualitativamente con las grficas correspondientes de la
Figura 3.19 para una profundidad de 2 unidades. Los valores experimentales son ligeramente ms
elevados debido a que el radio de la esfera es mayor que 2 cm (1 unidad).

Esfera aislante

Esfera aislante
0.10
0.18
0.16
0.08
0.14
Visibilidad
Visibilidad
0.12
0.06
0.04
0.10
0.08
0.06
0.04
0.02
0.02
0.00
0.00
Esfera aislante
0.16
0.14
Visibilidad
0.12
0.10
0.08
0.06
0.04
0.02
0.00
1
Figura 3.21. Visibilidad para una esfera de goma (aislante) de radio 2,2 cm (1,1 unidades) sumergida a
una profundidad de 4 cm (2 unidades) en una cubeta de plstico (40 cm x 35 cm x 20 cm) llena de
agua.
El captulo 5 estudia el problema inverso, que bsicamente consiste en determinar la

distribucin de la resistividad del subsuelo a partir de las medidas realizadas en la superficie. El
subsuelo se divide en una serie de celdas de resistividad constante y se obtienen imgenes de los
valores de resistividad de dichas celdas. Cuanto mayor sea el nmero de medidas independientes
mejor podremos resolver la distribucin de la resistividad del subsuelo. El nmero de medidas que
podemos hacer con 16 electrodos es de 35 con Wenner, de 120 con polo-polo, de 58 con polodipolo, de 35 con doble dipolo y de 49 con -Wenner. La configuracin Wenner es la menos
interesante ya que a su baja visibilidad hay que aadir el poco nmero de medidas realizables. Las
configuraciones con ms visibilidad, las basadas en los dispositivos polo-dipolo, doble dipolo y Wenner, tambin presentan este ltimo inconveniente. Para aumentar el nmero de medidas
3-28
Problema directo
podemos utilizar las configuraciones polo-dipolo, doble dipolo y Schlumberger descritas en la

apartado 2.6 (no confundir con las utilizadas hasta ahora en este apartado). En las configuraciones
polo-dipolo y Schlumberger se define d como la distancia entre los electrodos A y M, y en la
configuracin doble dipolo como la distancia entre los electrodos B y M. La distancia entre los
electrodos M y N siempre es de una unidad. La Figura 3.22 muestra la visibilidad terica de estas
configuraciones en funcin de d para una esfera aislante y conductora de radio unidad. Para la
configuracin polo-dipolo slo se representan las primeras 105 medidas (de las 119 totales) y en las
dos restantes se representan las primeras 91 medidas (de las 104 totales). La visibilidad mxima es
ligeramente mayor en la configuracin doble dipolo. La visibilidad tiene, ahora, una cada brusca a
partir de un valor de d que oscila entre 7 y 9, dependiendo de la configuracin electrdica, que se
corresponde con las medidas donde los electrodos detectores se encuentran siempre a la derecha
del objeto.
Esfera conductora
Esfera aislante
0.5
0.25
h=2,4
h=2
h=1,6
h=2,4
h=2
h=1,6
0.4
Visibilidad
Visibilidad
0.20
0.15
0.10
0.3
0.2
0.1
0.05
0.0
0.00
1
11
13
11

Esfera aislante

Esfera conductora
13
0.5
0.30
h=2,4
h=2
h=1,6
0.25
h=2,4
h=2
h=1,6
0.4
Visibilidad
Visibilidad
0.20
0.15
0.3
0.2
0.10
0.1
0.05
0.0
0.00
1
11
13
11
13
Problema directo
3-29
Configuracin Schlumberger
Esfera conductora
Esfera aislante
0.5
0.25
h=2,4
h=2
h=1,6
h=2,4
h=2
h=1,6
0.4
Visibilidad
Visibilidad
0.20
0.15
0.10
0.3
0.2
0.1
0.05
0.0
0.00
1
11
13
11
13
Figura 3.22. Visibilidad terica de una esfera a diferentes profundidades para las configuraciones
polo-dipolo, doble dipolo y Schlumberger.
La Figura 3.23 muestra la visibilidad terica para las configuraciones polo-dipolo, doble dipolo
y Schlumberger para una esfera aislante de radio unidad a profundidad 3 y 4 unidades. La
configuracin doble dipolo presenta la visibilidad mxima. El valor mximo de la visibilidad para
la configuracin Schlumberger es menor que en las otras dos configuraciones, sobre todo para
h = 4.
Esfera aislante h = 3 a = 1
Esfera aislante h = 4 a = 1
0.04
0.018
0.016
polo-dipolo
doble dipolo
Schlumberger
0.03
polo-dipolo
doble dipolo
Schlumberger
0.014
Visibilidad
Visibilidad
0.012
0.02
0.010
0.008
0.006
0.01
0.004
0.002
0.00
0.000
1
10
11
12
13
14
10
11
12
13
14
Figura 3.23. Visibilidad terica de una esfera aislante de radio unidad a profundidades 3 y 4 unidades
para las configuraciones polo-dipolo, doble dipolo y Schlumberger.
El apartado 2.6 muestra que el problema de la configuracin doble dipolo es el elevado margen
dinmico que puede exigir al detector. Este margen dinmico puede no ser viable en la prctica
debido al error presente en las medidas. En el captulo 4 se analizar con ms detalle las fuentes de
error posibles. La configuracin polo-dipolo tambin presenta una relacin entre la medida mayor y
menor elevada (de 104), no siendo, adems, implementable en el sistema de laboratorio debido a
las reducidas dimensiones de la cubeta. La configuracin Schlumberger, en cambio, presenta una
relacin entre las medidas mayor y menor de 28, pero una visibilidad menor a la de la
3-30
Problema directo
configuracin doble dipolo. Existe pues un compromiso entre la visibilidad y el margen dinmico
necesario en el detector. Esto queda reflejado en la tabla, que muestra para las tres configuraciones
anteriores la visibilidad mxima en el caso de una esfera aislante de radio unidad y profundidad 2,
3 y 4 unidades, y el margen dinmico necesario (cuando la resolucin en las medidas es del 0,1%).
Medidas
independientes
Margen
dinmico
Q0 (max)
h=2
Q0 (max)
h=3
Q0 (max)
h=4
doble dipolo
104
117 dB
0,13
3,810-2
1,610-2
polo-dipolo
119
100 dB
0,12
3,510-2
1,510-2
Schlumberger
104
89 dB
0,11
3,010-2
1,110-2
Tabla 3.2. Numero de medidas independientes, margen dinmico (resolucin 0,1 %) y visibilidad
mxima en el caso de una esfera aislante de radio unidad y profundidad 2, 3, 4 unidades para las
configuraciones doble dipolo, polo-dipolo y Schlumberger.
La Figura 3.24 muestra la visibilidad obtenida a partir de medidas experimentales realizadas en

el laboratorio, cuando sumergimos en la cubeta de plstico una esfera de goma (aislante) de radio
1,1 unidades a una profundidad de 2 unidades (1 unidad equivale a 2 cm). Los resultados son
ligeramente mayores que los presentados en la Figura 3.22 correspondientes a h = 2 unidades,
debido a que el radio de la esfera es mayor que 1 unidad. La visibilidad es mayor en la
configuracin doble dipolo pero existen valores anmalos a partir de d = 10 debido a la
incertidumbre en las medidas.
0.16
0.18
0.14
0.16
0.14
0.12
0.12
Visibilidad
Visibilidad
0.10
0.08
0.06
0.04
0.10
0.08
0.06
0.04
0.02
0.02
0.00
0.00
10
12
10
12
Figura 3.24. Visibilidad de una esfera de goma (aislante) de radio 2 cm (1 unidad del eje de abscisas)
sumergida a una profundidad de 4 cm en una cubeta de plstico (40 cm x 30 cm x 25 cm) llena de
agua para las configuraciones Schlumberger y doble dipolo.
Problema directo
3-31
3.4. Detectabilidad de objetos esf ricos y cil ndricos. Determinaci n de la

profundidad y el radio.
El apartado 3.1 y 3.2 proporcionan la solucin analtica del potencial y el campo elctrico para
los problemas de una esfera y de un cilindro inmersos en un suelo homogneo. El apartado 3.3 usa
estas soluciones para determinar las configuraciones de electrodos ptimas con el criterio de
visibilidad mxima para objetos esfricos aislantes y conductores. Adems, interesa que el nmero
de medidas independientes sea elevado y que el margen dinmico del conjunto de medidas sea
reducido. Se muestra la visibilidad de diferentes configuraciones electrdicas al variar la
profundidad y la resistividad (totalmente conductora o aislante) de una esfera de radio unidad. Sin
embargo, los resultados son particulares y no analizan el caso del cilindro. Un estudio general
requerira la solucin de numerosos casos y la obtencin, a partir de ellos, de reglas empricas .
forme las soluciones del potencial y del campo elctrico
producidos por una esfera y un cilindro son simples, lo que permite estimar de forma general la
influencia de parmetros tales cmo el tamao, la profundidad y el contraste resistivo de objetos
3.4.1 muestra estos resultados, los cuales permiten determinar
de una manera sencilla cundo dichos objetos son detectables. As mismo se muestra cmo
determinar la profundidad y el radio de objetos esfricos y cilndricos a partir de la curva de
resistividad aparente normalizada, lo que constituye una primera aproximacin al problema
inverso, que ser tratado de forma ms general en el captulo 5. El apartado 3.4.2 estudia el efecto
de la proximidad de los electrodos de corriente (campo elctrico no uniforme). El apartado 3.4.3
analiza la presencia de una capa de diferente resistividad situada debajo del objeto. El apartado
3.4.4 estudia cmo afecta el error en las medidas y el hecho de disponer de un nmero finito de
medidas. Por ltimo, las medidas experimentales de laboratorio presentadas en el apartado 3.4.5
validan la metodologa desarrollada.
Un tema importante, mencionado en el prrafo anterior, es la determinacin del tamao y la
profundidad de cavidades (esfricas y cilndricas) en el subsuelo a partir de la curva de resistividad
aparente, sin necesidad de utilizar complicados algoritmos de reconstruccin (captulo 5). Una de
las tcnicas ms conocidas es el mtodo de Bristow (Bristow, 1966). Esta tcnica consiste en usar
el dispositivo polo-dipolo en conjuncin con una tcnica grfica simple para interpretar los datos.
Lowry y Shive (1990) estudian esta tcnica generando los datos mediante un mtodo numrico de
diferencias finitas (Dey y Morrison, 1979) y muestran que es posible localizar con bastante
precisin la profundidad de los objetos. Los mismos autores argumentan que debido al ruido
geoelctrico presente en las medidas de campo, es difcil detectar esferas ms profundas que su
dimetro y cilindros ms profundos que 3 veces su radio. Habberjam (1969) utiliza variaciones del
dispositivo Wenner para detectar objetos esfricos aislantes a partir de medidas experimentales de
laboratorio. Con la ayuda de unos grficos obtenidos a partir de las medidas es capaz de detectar la
profundidad y el radio de la esfera con ciertas limitaciones. Estableciendo un cambio mnimo en la
resistividad aparente del 10 % para poder detectar la esfera, concluye que la profundidad de la
esfera ha de ser menor que su dimetro. Este lmite es muy similar al obtenido por Van Nostrand
3-32
Problema directo
(1953) para esferas conductoras. Militzer, Rsler y Lsch (1979) fijan el lmite de deteccin para
h/a del objeto es inferior a 5. Rodrguez y Reyes (1992)
utilizan el mtodo ideado por Militzer, Rsler y Lsch (1979) para identificar cualitativamente
cavidades superficiales en uno de los centros ms antiguos de minas de plata de Mxico. Para el
caso de cuerpos esfricos y cilndricos horizontalmente polarizados por un campo elctrico
uniforme, Quick (1974) determina terica y experimentalmente su profundidad a partir de la
componente horizontal del campo elctrico en la superficie. Sin embargo, su estudio slo analiza el
mtodo de polarizacin inducida. Schulz (1985) determina tericamente el radio y la profundidad
de objetos esfricos y cilndricos a partir de la resistividad aparente medida suponiendo que el
3.4.1. Campo elctrico uniforme

Medida de campo elctrico
En un dispositivo Schlumberger, cuando los electrodos inyectores se encuentran muy alejados
del objeto se puede considerar que el campo elctrico incidente sobre l es uniforme (Quick, 1974).
Si los electrodos detectores estn muy prximos, la medida es de campo elctrico y la resistividad
aparente viene dada por (2.21)
a (x )
L2
Ex
I
En el caso de una esfera, el campo elctrico Ex se puede substituir por (3.26). Segn el apartado
3.1.3, esta solucin tiene un error menor al 2,34 % si h/a > 2. La resistividad aparente es en este
caso
3
2
x
a
a = 1 1 + k e 1 3
r
r
(3.40)
y la resistividad aparente normalizada, (3.38), es

a
Q = ke
r
1 3 x
donde ke viene dado por (3.21)

ke =
2( 2 1 )
2 2 + 1
La visibilidad, (3.39), se produce en x = 0, siendo
(3.41)
Problema directo
3-33
a
Q0 = ke
h
(3.42)
El valor de ke es 2 para una esfera conductora y 1 para una esfera aislante. Por tanto, la visibilidad
de las esferas conductoras es el doble que la de las aislantes, tal como apuntaban los resultados del
apartado 3.3. Siguiendo el criterio de Van Nostrand (1953), el objeto es detectable para Q0 > 0,1, lo
que supone una relacin h/a > 2,71 para las esferas conductoras y h/a > 2,15 para las esferas
aislantes. Estos resultados coinciden con los obtenidos por Schulz (1985). Si el criterio de
detectabilidad fuese de Q0 > 0,01, la relacin h/a sera de 5,65 y 4,64 respectivamente. El criterio
de detectabilidad vendr dado, entre otros, por el ruido geoelctrico, por los errores en la posicin
de los electrodos y por la precisin de la instrumentacin utilizada.
Ex viene dado por (3.33). El apartado 3.2 mostr que
esta solucin tiene un error del 8,1 % para h/a = 2. Cuando h/a = 4, este error baja al 1,7 %. La
expresin de Q ser
a
Q = kc
r
1 2 x
(3.43)
siendo la visibilidad
a
Q0 = k c
h
(3.44)
El parmetro kc dado por (3.34) es 2 para un cilindro conductor y 2 para un cilindro aislante. La
visibilidad de un cilindro aislante es la misma que la de uno conductor y mayor que la visibilidad
de la esfera. Con Q0 > 0,1 la relacin h/a ha de ser menor que 4,47. Este resultado es similar al
obtenido por Schulz (1985). Militzer, Rsler y Lsch (1979) establecen el lmite de deteccin en
h/a = 5. Con el criterio menos exigente de Q0 > 0,01, h/a < 14,1.
La Figura 3.25 y la Figura 3.26 muestran el efecto de la variacin de los diferentes parmetros
(h, a, ke, kc) en el valor de Q. El cruce por cero de Q se produce en xz = h/2 para una esfera y en
xz = h para un cilindro. Los pequeos mnimos de Q para los objetos aislantes o mximos para los
conductores se producen en xm = h3/2 en el caso de la esfera y en xm = h3 en el caso del
cilindro. Tanto la variacin del radio a como de los parmetros ke y kc, slo producen un escalado
de Q, mientras que la profundidad tambin afecta a la forma, haciendo que el lbulo principal se
recorte y se haga ms ancho a medida que h aumenta (se observa en las grficas que al variar h
cambian los puntos xz y xm). Los objetos son ms visibles (detectables) cuanto ms cerca estn de la
superficie y mayor sea su contraste resistivo, como era de esperar.
3-34
Problema directo
Esfera aislante
h = 2,5
Esfera conductora
h = 2,5
0.14
0.10
0.12
h/a=2
h/a=2,5
h/a=3
0.10
0.05
0.00
0.08
-0.05
0.06
Q -0.10
0.04
-0.15
0.02
h/a=2
h/a=2,5
h/a=3
-0.20
0.00
-0.25
-0.02
-0.04
-4
-2
-0.30
xz 2
xm
-4
-2
Esfera aislante
a=1
Esfera conductora
a=1
0.14
0.10
0.12
h/a = 2
h/a =2,5
h/a = 3
0.10
0.05
0.00
0.08
-0.05
0.06
Q -0.10
0.04
-0.15
0.02
h=2
h=2,5
h=3
-0.20
0.00
-0.25
-0.02
-0.04
-4
-2
xm1
xm2xm3 4
-0.30
-4
-2
Esfera 2>1
h=2 a=1
Esfera 2<1
h=2 a=1
0.14
0.10
0.12
2/1=10 10
2/1=10
0.10
0.05
0.00
2/1=2
0.08
-0.05
0.06
Q -0.10
0.04
-0.15
0.02
2/1=0
-0.20
0.00
2/1=0,1
-0.02
-0.25
-0.04
-0.30
-4
-2
2/1=0,5
-4
-2
Figura 3.25. Variacin de Q con h, a, ke para una esfera inmersa en un medio homogneo de
resistividad 1 m. Las unidades del eje x son arbitrarias.
Problema directo
3-35
Cilindro aislante
h = 2,5
Cilindro conductor
h = 2,5
0.6
0.1
0.5
0.0
h/a=2
h/a=2,5
h/a=3
0.4
-0.1
0.3
-0.2
Q
0.2
-0.3
0.1
-0.4
0.0
-0.5
-0.1
h/a=2
h/a=2,5
h/a=3
-0.6
-6
-4
-2
-6
-4
-2
Cilindro aislante
a=1
Cilindro conductor
a=1
0.6
0.1
0.5
0.0
h/a=2
h/a=2,5
h/a=3
0.4
-0.1
0.3
-0.2
Q
0.2
-0.3
0.1
-0.4
0.0
-0.5
-0.1
h/a=2
h/a=2,5
h/a=3
-0.6
-6
-4
-2
-6
-4
-2
Cilindro 2 > 1
h=2 a=1
Cilindro 2 < 1
h=2 a=1
0.6
0.1
2/1 = 1010
0.5
0.0
2/1 = 10
2/1 = 2
0.4
-0.1
0.3
-0.2
Q
0.2
-0.3
0.1
-0.4
0.0
-0.5
-0.1
2/1 = 0
2/1 = 0,1
2/1 = 0,5
-0.6
-6
-4
-2
-6
-4
-2
Figura 3.26. Variacin de Q con h, a, kc, para un cilindro inmerso en un medio homogneo de
resistividad 1 m. Las unidades del eje x son arbitrarias.
Schulz (1985) prueba que diferentes cuerpos pueden provocar curvas de Q similares. En
especial destaca la similitud entre la anomala producida por una esfera y un cubo con el mismo
3-36
Problema directo
volumen. Este hecho muestra la dificultad de resolver de manera nica el problema inverso, que
ser tratado ms ampliamente en el captulo 5.
Podemos determinar la profundidad de una esfera de dos formas diferentes como
hz = 2 x z
(3.45)
hm = 2 / 3 x m
(3.46)
hz = x z
(3.47)
y en el caso del cilindro como
hm = x m
(3.48)
Los subndices en el parmetro h se han aadido para identificar el mtodo utilizado al determinar
la profundidad. A partir de la visibilidad es posible determinar el radio de la esfera si conocemos el
parmetro ke y la profundidad h. A partir de (3.42) tenemos que
Q
a = h o
k
e
13
(3.49)
En el caso del cilindro, el radio se determina a partir de (3.44) como

Q
a = h o
k
c
12
(3.50)
Las expresiones (3.45) a (3.50) son equivalentes a las obtenidas por Schulz (1985), aunque dicho
autor las obtiene a partir de la curva de resistividad aparente. El parmetro a se expresar como az
o am si sustituimos la profundidad por hz o hm respectivamente. Los parmetros ke, kc, sern en
general desconocidos, pero son necesarios para determinar el radio de los objetos. De hecho, para
una misma visibilidad hay infinitas soluciones de los parmetros a, ke en el caso de la esfera y a, kc
en el caso del cilindro, lo que reafirma la dificultad ya apuntada de resolver de manera nica el
problema inverso. La Figura 3.27 muestra la variacin de ke y kc en funcin del contraste resistivo
entre el medio y el objeto. Tanto ke como kc se saturan rpidamente. As, cuando 2/1 = 10, ke ya
es el 86 % y kc el 82 % de su valor mximo. Que la esfera o el cilindro fueran totalmente aislantes
slo comportara un aumento adicional de la visibilidad del 14 % y del 18 % respectivamente.
Dicho aumento se lograra tambin con un incremento del radio de tan solo el 4,5 % en el caso de
la esfera y del 8,6 % en el caso del cilindro. Como regla general, el valor de ke escogido para
determinar el radio, ser de 1 2 (dependiendo de si el lbulo principal de la curva de Q es
positivo o negativo respectivamente) y el de kc de 2 2.
Problema directo
3-37
Cilindro
Esfera
3
2
1
1
0
kc
ke
-1
-1
-2
-2
-3
-3
1e-4
1e-3
1e-2
1e-1
1e+0
1e+1
1e+2
1e+3
1e-4
1e+4
1e-3
1e-2
1e-1
1e+0
1e+1
1e+2
1e+3
1e+4
2/1
2/1
Figura 3.27. Variacin de los parmetros ke, kc en funcin del contraste resistivo 2/
1
Efecto de la separacin entre los electrodos detectores

En la prctica los electrodos detectores no estn infinitamente prximos entre s, sino que estn
separados una distancia d y la medida realizada es la diferencia de tensin entre dos electrodos. En
este caso, la resistividad aparente viene dada, si los electrodos inyectores continan estando muy
alejados, por (2.20)
a (x )
L2 V ( x )
I
d
donde V(x) = V(x-d/2) - V(x+d/2) y x es el punto medio entre los electrodos de medida. En el caso
de la esfera, el potencial viene dado por (3.25) y la resistividad aparente es
x / d + 1/ 2
a = 1 1 + k e a 3
h 2 + ( x + d / 2)2
3/ 2
(h
x / d 1/ 2
2
+ (x d / 2 )2
3/ 2

(3.51)
La resistividad aparente normalizada ser
x / d + 1/ 2
Q( x) = k e a 3
h 2 + ( x + d / 2)2
3/ 2
(h
x / d 1/ 2
2
+ (x d / 2)2
3/ 2
(3.52)
La visibilidad es ahora
3
1
a
Q0 = k e
3/ 2
h
d 2
1 +
2h
(3.53)
3-38
Problema directo
En el caso del cilindro sustituimos el potencial por (3.32) y la resistividad aparente normalizada es
x / d + 1/ 2
h2 + d 2 / 4 x2
x / d 1/ 2
2
k
a
Q( x ) = k c a 2 2
=
(3.54)
c
2
2
2
2
h 2 + ( x + d / 2) h 2 + (x d / 2 )
h 2 + (x d / 2 )
h + (x + d / 2)
][
La visibilidad ser
a
Q0 = k c
h
1
d
1+
2h
(3.55)
Las expresiones (3.53) y (3.55) coinciden con (3.42) y (3.44) respectivamente para d = 0. A medida
que la relacin d/h aumenta, la visibilidad disminuye. As por ejemplo, para que la visibilidad no
disminuya ms del 10 % se ha de cumplir que d < 0,54 h para una esfera y que d < 0,67 h para un
cilindro. Como regla general podemos establecer que la distancia d entre los electrodos detectores
sea como mximo la mitad de la profundidad mnima que se quiere explorar (d < hmin). Lowry y
Shive (1990) prueban que una objeto esfrico o cilndrico es ms visible a medida que decrece d y
que esta es la causa de que el dispositivo Schlumberger sea ms sensible que el dispositivo Wenner
a cambios laterales de la resistividad. Los mismos autores argumentan que la distancia d ha de ser
menor que el radio del menor objeto que se quiera detectar. Este lmite coincide con el que hemos
impuesto anteriormente si h = 2a.
La Figura 3.28 muestra el efecto de la distancia d en la resistividad aparente normalizada de una
esfera dada por (3.52). La Figura 3.29 muestra el caso de un cilindro. Al aumentar d la visibilidad
disminuye, por lo que el objeto ser menos detectable. El efecto de la distancia d es menor para
cuerpos ms profundos. Reina (1997) valida experimentalmente estos resultados.
Esfera aislante
h=2 a=1
Esfera conductora
h=2 a=1
0.14
0.10
0.12
d=0
d=1
d=2
d=4
d=8
0.10
0.08
0.05
0.00
-0.05
0.06
-0.10
0.04
d=0
d=1
d=2
d=4
d=8
-0.15
0.02
-0.20
0.00
-0.25
-0.02
-0.04
-0.30
-4
-2
-4
-2
Problema directo
3-39
Esfera aislante
h=4 a=1
Esfera aislante
h=6 a=1
0.005
0.020
0.004
d=0
d=1
d=2
d=4
d=8
0.015
0.010
d=0
d=1
d=2
d=4
d=8
0.003
0.002
Q
0.001
0.005
0.000
0.000
-0.001
-0.005
-0.002
-10
-8
-6
-4
-2
10
-20
-16
-12
-8
-4
12
16
20
Figura 3.28. Efecto de la distancia d en la resistividad aparente normalizada de una esfera.
Cilindro aislante
h=2 a=1
Cilindro conductor
h=2 a=1
0.6
0.1
0.5
0.0
d=0
d=1
d=2
d=4
d=8
0.4
0.3
-0.1
-0.2
0.2
-0.3
0.1
-0.4
0.0
-0.5
-0.1
-0.6
-6
-4
-2
-6
-4
-2
Cilindro aislante
h=4 a=1
Cilindro aislante
h=6 a=1
0.14
0.06
0.12
0.05
d=0
d=1
d=2
d=4
d=8
0.10
0.08
d=0
d=1
d=2
d=4
d=8
0.06
d=0
d=1
d=2
d=4
d=8
0.04
0.03
Q 0.02
0.04
0.01
0.02
0.00
0.00
-0.01
-0.02
-0.04
-0.02
-14
-12
-10
-8
-6
-4
-2
10
12
14
-20 -18 -16 -14 -12 -10 -8 -6 -4 -2
8 10 12 14 16 18 20
Figura 3.29. Efecto de la distancia d en la resistividad aparente normalizada de un cilindro.
El lbulo principal de las curvas se ensancha a medida que d aumenta, por lo que tanto xz como xm
tendrn un valor mayor y provocarn un error en la determinacin de la profundidad mediante las
expresiones (3.45) a (3.48). La Tabla 3.3 muestra los resultados para una esfera y un cilindro
3-40
Problema directo
aislantes de radio unidad y profundidades 2, 4 y 6 unidades, cuando d = 1, 2, 4 y 8 unidades. En el

caso de la esfera se ha utilizado la expresin (3.25). En ambos casos, la profundidad se determina
hm. En el caso del cilindro los errores son menores. En todos
los casos, el error relativo aumenta si tambin lo hace el factor d/h. A pesar de que el error en la
determinacin de la profundidad influye directamente en el radio, la determinacin de ste es
bastante precisa. Ello es debido a que el aumento de h se ve compensado por una disminucin de la
visibilidad Q0.
D
Esfera
hz
Esfera
hm
Cilindro
hz
Cilindro
hm
Esfera
az
Esfera
am
Cilindro
az
Cilindro
am
2 10
2,07
2,04
2,02
1,02
1,01
1,03
1,02
4,05
4,04
4,03
4,02
1,00
1,00
1,01
1,01
6,03
6,02
6,02
6,01
1,00
1,00
1,00
1,00
2,37
2,27
2,22
2,14
1,06
1,02
1,03
1,00
4,19
4,15
4,12
4,08
1,02
1,01
1,01
1,00
6,13
6,10
6,08
6,05
1,01
1,00
1,00
1,00
3,30
2,90
2,82
2,52
1,17
1,03
1,03
0,93
4,74
4,55
4,47
4,31
1,06
1,02
1,01
0,97
6,51
6,38
6,32
6,21
1,03
1,01
1,00
0,99
5,82
4,45
4,46
3,54
1,30
0,99
1,03
0,82
6,60
5,80
5,66
5,07
1,17
1,03
1,01
0,90
7,90
7,38
7,21
6,79
1,10
1,02
1,00
0,95
Tabla 3.3. Determinacin del radio y la profundidad para una esfera y un cilindro aislantes a
profundidades 2, 4 y 6 en los casos d = 1, 2, 4 y 8.
Podemos minimizar el error incluyendo el parmetro d en las expresiones anteriores. En el caso

del cilindro, el cruce por cero de Q se produce en xz = (h2 + d2/4)1/2. La profundidad se puede
determinar como
hzd = x z 2 d 2 / 4
(3.56)
El mnimo/mximo de la curva de Q ocurre en xm = [h2+d2/4+(4h4+h2d2)1/2]1/2. Si d << 2h, xm

(3h2+d2/2)1/2 con lo que
hmd =
xm 2 d 2 2
3
(3.57)
Se comprueba que esta ltima expresin tiene un error menor al 1 % si d/h < 4/3. El radio se
determina a partir de (3.55) como
Problema directo
3-41
a=h
Q0
d
1+
kc
2h
(3.58)
Estas tres ltimas expresiones coinciden con (3.47), (3.48) y (3.50) para d = 0.
Los puntos caractersticos de la curva de Q no llevan a expresiones sencillas en el caso de la
esfera. Sin embargo, podemos determinar la profundidad de forma precisa particularizando (3.52)
en x = 0 y en x = d. A partir de Q(0) y Q(d) hallamos
2
hd =
d
2
3
3Q(0)
9
2Q (d ) + Q (0)
2
3
3Q(0)
Q d + Q 1
(0 )
2 ( )
(3.59)
De (3.53) determinamos el radio como

2
Q
d
a = h 1+ 3 0
ke
2h
(3.60)
que coincide con (3.49) para d = 0.

Se puede proceder de forma anloga en el caso del cilindro particularizando ahora (3.54) en x =
0 y en x = d, resultando
hd =
d
2
3Q(0)
2Q(d ) + Q (0 ) d
=
3Q(0)
2
1
2Q(d ) + Q (0)
9Q( d ) 2Q(0)
Q(0) Q (d )
(3.61)
As pues, en el caso del cilindro podemos determinar de manera precisa la profundidad a partir de
(3.56), (3.57) o (3.61), y el radio a partir de (3.58). La profundidad de la esfera se determina a partir
de (3.59). La utilizacin de (3.45) o (3.46) comporta un error que aumenta con la relacin d/h,
como se vi en la Tabla 3.3. El radio de la esfera se determina a partir de (3.60).
3.4.2. Efecto de la proximidad de los electrodos de corriente
Hasta ahora hemos considerado que los electrodos de corriente se encontraban muy alejados del
centro de la esfera (campo elctrico uniforme). En la prctica, sin embargo, estarn situados a una
distancia que puede ser comparable a la profundidad y a la abscisa del punto de medida x. Si
medimos campo elctrico, la resistividad aparente viene dada por (2.19)
3-42
Problema directo
L2 x 2
a (x ) =
Ex
I L2 + x 2
En el caso de la esfera, el campo elctrico, si se cumple que D >> a, se puede aproximar por
(3.22) y la resistividad aparente es
2
3
3
2
L2 x 2
a L
x
a (x ) = 1 1 + 2 2
k e 1 3
2
L
L
x
+
r D
r
(3.62)
La resistividad aparente normalizada ser
(L x ) k a L 1 3 x
Q (x ) =
L (L + x ) r D
r
2 2
(3.63)
y la visibilidad
3
1
a
a L
Q0 = k e = k e
h h 2 3/ 2
h D
1 +
L
(3.64)
Esta expresin coincide con (3.42) si L tiende a infinito. A medida que la relacin h/L aumenta, la
visibilidad disminuye. Si queremos que la visibilidad no disminuya ms del 10 % respecto al valor
dado por (3.46), se ha de cumplir L > 3,84 h. Como regla general podemos establecer que la
distancia entre los electrodos inyectores (2L) sea mayor que 8 veces la profundidad mxima de
L > 4hmax).
Si la distancia d es diferente de cero (medida de la tensin diferencial), la resistividad aparente
a = g ( x)
V (x d 2 ) V ( x + d 2)
V ( x )
= g ( x)
I
I
donde el factor geomtrico g(x) viene dado por (2.18)
1
1
1
1
g ( x) = 2
+
L + (x - d/2) L - (x - d/2) L + (x + d/2) L - (x + d/2)
Si D >> a el potencial se puede aproximar por (3.20) y la resistividad aparente es
Problema directo
3-43
x+d /2
3 L g ( x)
a = 1 1 + k e a
2
2
D L h + (x + d / 2 )2
3/ 2
(h
xd /2
2
+ ( x d / 2)
3/ 2

(3.65)
La resistividad aparente normalizada es

3
x+d /2
L g ( x )
Q( x) = k e a 3
2
2
D L h + (x + d / 2)2
3/ 2
(h
xd /2
2
+ (x d / 2)
3/ 2
(3.66)
siendo la visibilidad
d
1
2L
a L
a
Q0 = k e
= ke
3/ 2
h D d 2
h
1 +
2h
d
1
2L
h 2
1 +
L
32
d 2
1 +
2h
3/ 2
(3.67)
Esta expresin coincide con (3.64) para d = 0 (medida de campo elctrico) y con (3.42) si, adems,
L tiende a infinito (campo elctrico uniforme). A medida que la relacin d/L aumenta, la visibilidad
disminuye. Si queremos que este factor no provoque una disminucin mayor del 10 % en la
visibilidad se ha de cumplir que L > 1,58d. De hecho, si cumplimos las condiciones anteriores
(d < 0,5hmin y L > 4hmax) se cumple que L > 8d (por lo que este factor prcticamente no influir) y
la disminucin de la visibilidad ser menor al 20 % (10 % por cada uno de los otros dos factores).
La Figura 3.30 muestra la variacin de Q con la distancia L en el caso de una esfera aislante de
radio unidad a profundidad 2 y 4 cuando d = 1. Se observa que la visibilidad disminuye al
disminuir L y su efecto es mayor al aumentar la profundidad de la esfera.
3-44
Problema directo
Esfera aislante
d=1 a=1 h=2
0.14
0.12
L=1000
L=25
L=7,5
0.10
0.08
0.06
0.04
0.02
0.00
-0.02
-0.04
-5
-4
-3
-2
-1
Esfera aislante
d=1 a=1 h=4
0.020
L=1000
L=25
L=7,5
0.015
0.010
Q
0.005
0.000
-0.005
-10
-8
-6
-4
-2
10
Figura 3.30. Variacin de Q con L en el caso de una esfera aislante de radio unidad a
profundidades 2 y 4. La distancia d entre los electrodos detectores es de 1 unidad.
Si definimos una Q modificada como
Problema directo
3-45
Q m ( x) =
Q ( x)
L2
g ( x )d
(3.68)
a partir de (3.66) se obtiene

L
Qm ( x ) = k e a 3
D
x / d + 1/ 2
2
h + (x + d / 2)2
3/ 2
(h
x / d 1/ 2
2
+ (x d / 2)
3/ 2
(3.69)
Esta expresin es idntica a (3.52) excepto en el factor (L/D)3, que slo produce un escalado y no
afecta a la forma de la curva. Por tanto, podemos determinar, como en el caso de campo elctrico
uniforme, la profundidad a partir de (3.45), (3.46) o (3.59) sustituyendo Qm por Q. El radio de la
esfera se determina a partir de (3.67) como
2
a=h
D
d
1+
L
2h 3
Q (0)
D
d
1+ 3 m
ke
L
2h
2
Q0
d 2
k e 1

2 L
=h
(3.70)
que coincide con (3.60) si L tiende a infinito (campo elctrico uniforme) y con (3.49) si, adems,
d = 0 (medida de campo elctrico). La Tabla 3.4 muestra las profundidades y radios hallados
cuando d es 1 unidad. La curva Qm se calcula a partir de (3.68) con Q obtenida a partir de la
expresin exacta (3.1) del potencial para una esfera (si utilizramos la expresin (3.69) para Qm
cometeramos lo que se denomina el crimen del problema inverso). Los parmetros hz, hm y hd se
han obtenido a partir de las expresiones (3.45), (3.46), (3.59) respectivamente. La Tabla 3.5
muestra el caso para d = 4. Cuando d es 1 unidad los resultados utilizando los tres mtodos son
similares y bastante precisos. Para d = 4, los errores son mayores utilizando hz o hm. La
dependencia con L es pequea en todos los casos. El parmetro hd no cambia con d, como era de
esperar, y su error mximo es del 3 % para h = 2 y L = 7,5. Este resultado es coherente ya que en
este caso tenemos la menor relacin D/a (de 7,76) y las expresiones para determinar la profundidad
y el radio son estrictamente correctas para D >> a.
L
1000
1000
1000
25
25
25
7,5
7,5
7,5
h
2
4
6
2
4
6
2
4
6
hz
2,10
4,05
6,03
2,09
4,04
6,02
2,06
3,98
5,95
hm
2,07
4,04
6,02
2,07
4,03
6,01
2,04
3,97
5,94
hd
2,00
4,00
6,00
2,00
3,99
5,99
1,97
3,93
5,92
az
1,05
1,01
1,01
1,05
1,01
1,01
1,05
1,01
1,00
am
1,03
1,01
1,00
1,03
1,01
1,00
1,04
1,01
1,00
ad
1,00
1,00
1,00
1,00
1,00
1,00
1,00
1,00
0,99
Tabla 3.4. Determinacin del radio y la profundidad para una esfera aislante de radio unidad a
profundidades 2, 4 y 6 unidades. La distancia d es de 1 unidad.
3-46
Problema directo
hzd
hmd
hd
azd
amd
ad
1000
3,30
2,90
2,00
1,36
1,25
1,00
1000
4,74
4,55
4,00
1,15
1,11
1,00
1000
6,51
6,38
6,00
1,08
1,06
1,00
25
3,30
2,90
2,00
1,37
1,25
1,00
25
4,73
4,54
3,99
1,16
1,12
1,00
25
6,50
6,37
5,99
1,08
1,06
1,00
7,5
3,28
2,88
1,96
1,45
1,30
1,00
7,5
4,68
4,48
3,93
1,20
1,15
1,00
7,5
6,43
6,30
5,92
1,11
1,08
0,99
profundidades 2, 4 y 6 unidades. La distancia d es de 4 unidades.
Para el cilindro no disponemos de ninguna solucin simple del potencial

electrodos inyectores estn cerca del objeto. Si utilizamos de nuevo la expresin (3.33) para el
potencial la resistividad aparente normalizada queda como
Q( x) = k c a 2
g ( x)
x+d /2
xd /2
L2 h 2 + (x + d / 2 )2 h 2 + (x d / 2)2
(3.71)
Sustituyendo (3.71) en (3.68) obtenemos
Qm ( x ) =
x / d + 1/ 2
Q ( x)
x / d 1/ 2
L2 = k c a 2 2
2
2
g ( x )d
h + ( x d / 2)2
h + ( x + d / 2)
(3.72)
expresin idntica a (3.54). Por lo tanto, para determinar la profundidad y el radio se pueden
utilizar las mismas expresiones que en el caso de campo elctrico uniforme. Sin embargo,
contrariamente al caso de la esfera, los errores pueden ser elevados ya que (3.71) se ha obtenido
con la expresin del potencial para campo elctrico uniforme, que puede distar mucho del potencial
real. Esto queda reflejado en la Figura 3.31 donde Q (a partir de la cual se obtiene Qm) se ha
calculado de dos formas diferentes para un cilindro a una profundidad 4: una a partir de (3.70) y
otra utilizando para el potencial (3.29), que se aproxima mejor al caso real. Se observa que la
diferencia entre las dos curvas es mayor al disminuir L.
Problema directo
3-47
Cilindro aislante
L=25 h=4 a=1
0.14
0.12
Solucin exacta
Solucin aproximada
0.10
0.08
0.06
0.04
0.02
0.00
-0.02
-0.04
-14
-12
-10
-8
-6
-4
-2
10
12
14
Cilindro aislante
L=7,5 h=4 a=1
0.14
0.12
Solucin exacta
Solucin aproximada
0.10
0.08
Q 0.06
0.04
0.02
0.00
-0.02
-6
-4
-2
Figura 3.31. Efecto de la distancia L en Q en el caso de una esfera y cilindro aislantes de radio unidad
a diferentes profundidades. La distancia d entre los electrodos detectores es de 1 unidad.
3-48
Problema directo
La Tabla 3.6 muestra los resultados para un cilindro aislante cuando la distancia d es 1. Los
parmetros hzd, hmd y hd se han obtenido a partir de las expresiones (3.56), (3.57), (3.61)
respectivamente. El radio se determina a partir de (3.58). Los resultados no varan
significativamente con d ya que los parmetros hzd, hmd y hd consideran este efecto. El parmetro hd
presenta un mejor comportamiento. Aun en este caso los errores son considerables, siendo del 18%
para la profundidad y del 50 % para el radio cuando L = 7,5 y h = 6.
L
hzd
hmd
hd
azd
amd
ad
1000
2,00
2,00
2,00
1,00
1,00
1,00
1000
4,00
4,00
4,00
1,00
1,00
1,00
1000
6,00
6,00
6,00
1,00
1,00
1,00
25
1,94
1,96
1,97
0,96
0,97
0,98
25
3,76
3,82
3,90
0,90
0,92
0,94
25
5,49
5,57
5,79
0,84
0,85
0,88
7,5
1,76
1,79
1,85
0,83
0,85
0,87
7,5
3,35
3,40
3,64
0,64
0,65
0,69
7,5
4,92
4,97
5,41
0,49
0,50
0,54
Tabla 3.6. Determinacin del radio y la profundidad para una cilindro aislante de radio unidad a
profundidades 2, 4 y 6 unidades. La distancia d es de 1 unidad.
3.4.3. Efecto de una capa horizontal

Una situacin frecuente en el subsuelo es la presencia de una o varias capas horizontales de
diferente resistividad. La Figura 3.32 muestra el caso de una capa de resistividad c a una
profundidad p de la superficie
P
R
c
Figura 3.32. Capa horizontal de resistividad c a una profundidad p de la superficie. El retorno de
corriente se produce por el infinito.
El potencial en el punto P debido a una fuente de corriente situada a una distancia R es (Wait,
1982)
V=
donde
I 1
G (R, k )
2R
(3.73)
Problema directo
3-49
G (R, k ) = 1 + 2kR
e 2 p
J 0 (R )d
1 ke 2 p
(3.74)
y
k=
c 1
c + 1
(3.75)
siendo J0 la funcin de Bessel de 1 clase y orden 0. El potencial tambin se puede expresar como
I1
2
V=
1
+
R
n =1
2k n
R 2 + (2np )2
(3.76)
De hecho esta solucin se puede obtener calculando el potencial por el mtodo de las imgenes. Si
la corriente se inyecta a travs de dos puntos separados una distancia 2L, el potencial en el punto P
(Figura 3.33) se puede calcular aplicando superposicin. Se obtiene
V=
I 1 1
1
2 L + x L x
2k n
n =1
(L + x )2 + (2np )2
(3.77)
32

(3.78)
(L x )2 + (2np )2
El campo elctrico en la direccin x es
Ex =
I 1 L2 + x 2
+
L2 x 2 2
L+x
kn
(L + x )2 + (2np )2
n =1
x<0
32
[(L x)
Lx
+ (2np )
x>0
L+x
I
L-x
-I
P
R
c
Figura 3.33. Capa horizontal de resistividad c a una profundidad p de la superficie. La corriente se
inyecta a travs de dos puntos separados una distancia 2L.
y la resistividad aparente utilizando (2.19) resulta
3-50
Problema directo
ac
L2 x 2
= 1 1 + 2
L + x2
L+x
k
2
(L + x ) + (2np )2
n =1
32
[(L x)
Lx
+ (2np )
32
(3.79)
La resistividad aparente normalizada es
Q=
(L
x2
L2 + x 2
2
k
n =1
L+x
2
(L + x ) + (2np )2
32
[(L x)
Lx
2
+ (2np )
32
(3.80)
y la visibilidad
Q0 =
n =1
kn
2 L3
[L
+ (2np )
(3.81)
2 32
La Figura 3.34 muestra la resistividad aparente normalizada cuando L = 7,5 y la capa horizontal
es aislante. El valor de Q aumenta a medida que la capa se acerca a la superficie. Cuando p = 5 el
efecto de la capa enmascarara totalmente la perturbacin debida a una esfera aislante de radio
unidad y profundidad 2.
Efecto de una capa aislante

0.7
0.6
p=5
p = 10
p = 20
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0.0
-8
-6
-4
-2
Figura 3.34. Efecto de una capa horizontal aislante en Q cuando p = 5, 10, 20.
En el caso de una esfera conductora es posible encontrar una solucin aproximada del campo
elctrico en presencia de una capa horizontal. La Figura 3.35 representa este caso, donde se
Problema directo
3-51
muestran las 3 primeras imgenes de cada fuente de corriente. La esfera tambin tendra imgenes
pero su contribucin es mucho menor y no se considerar en el anlisis.
-I
2p
x<0
L+x
x>0
L-x
-I
P
2
1
2p
I
-I
2p
-I
Figura 3.35. Esfera situada entre la superficie y la capa horizontal, y equidistante de los electrodos de
corriente.
Partiendo de (3.17), se determina que el campo elctrico en el caso de la esfera conductora cuando
L >> h es
(
(
)
)
L2 + x 2 L2
L+x
n 2
+
k
L
2
2
2
2
(L + x ) + (2np )2
n =1
I1 L x
Ex = 2
3
L
x 2
2 L3
a
2
kn
1 3 2 1 +
2
r n =1
r
L2 + (2np )
32
[(L x)
Lx
2
+ (2np )
32

32

(3.82)
La resistividad aparente se obtiene sustituyendo el campo elctrico en (2.19) resultando
ae
1 +
= 1
La visibilidad es ahora
(L
L+x
Lx
n
k
+
2
2
3
2
L + x n =1 (L + x ) 2 + (2np )2
(L x ) 2 + (2np )2
2
3
L2 x 2 a
x 2
2 L3
n
1 3 1 +
2 32
2
L2 + x 2 L2 r
r 2 n =1
(
)
+
2
L
np
(
(
x2
)
)

32

(3.83)
3-52
Problema directo
Qo =
n =1
kn
[L
2 L3
+ (2np )
2 32
a
2
h
1 +
n =1
kn
[L
2 L3
+ (2np )
32
(3.84)
donde el primer sumando es la contribucin de la capa horizontal y el segundo es el debido a la

esfera. La contribucin de la esfera se ve amplificada respecto al caso de un suelo homogneo.
Como hemos visto anteriormente, el efecto de la capa puede enmascarar el de la esfera. Para
solventar este inconveniente definimos Q como
3
( x ) ac (x )
L2 x 2 a
x2
1 3
Q( x ) = ae
= 2 2
ac (0 )
L + x 2 r
r2
2
(3.85)
que coincide con la resistividad aparente normalizada de una esfera conductora en un medio
homogneo. En el apartado 3.4.5 se utiliza este resultado para reducir el efecto de la cubeta en las
medidas realizadas en el laboratorio.
3.4.4. Errores en las medidas. Nmero finito de muestras.
Hasta ahora hemos considerado que disponamos de un nmero ilimitado de datos para
determinar la profundidad y el radio de los objetos. De hecho, para localizar el mnimo/mximo y
el paso por cero de la curva de Q se ha considerado esta funcin continua. En la prctica tenemos
un numero limitado de medidas. Una situacin habitual, sobre todo cuando se utilizan sistemas de
medida automticos (Alberto, 1997; Gasulla, Jordana y Palls, 1998a), es disponer de una
agrupacin de electrodos equiespaciados. En este caso, la inyeccin se realiza por los electrodos
externos. La diferencia de potencial se mide en los electrodos restantes entre pares adyacentes.
Los sistemas de medida automticos implementados, que sern descritos en el captulo 4,
permiten trabajar con 16 electrodos, por lo que dispondremos de 13 medidas. La Figura 3.36
muestra la resistividad aparente normalizada en el caso de una esfera aislante de radio unidad y
profundidad 2 unidades (h = 2). Los electrodos inyectores estn situados en x = -7,5 y x = 7,5
(L = 7,5) y la distancia entre los electrodos es de 1 unidad (d = 1). Los crculos corresponden a los
valores tericos de Q en los 13 puntos de medida; la lnea continua se ha obtenido utilizando 100
puntos de Q por unidad; la lnea a trazos se ha obtenido interpolando los 13 puntos (crculos) con la
spline de Matlab. Como vemos, la coincidencia entre la lnea continua y la de trazos es
muy buena por lo que la determinacin de la profundidad y el radio a partir de la lnea interpolada
L = 3,75h y d = 0,5h, por lo que prcticamente se cumplen los
requisitos establecidos para que la visibilidad no disminuya ms del 20 % respecto a la visibilidad
que se obtendra con campo elctrico uniforme, como se coment en el apartado 3.4.2. Esta
disminucin relativa ser mayor para h > 2 ya que L < 3,75h.
Problema directo
3-53
Esfera aislante
h=2 a=1 d=1
0.12
13 medidas
100 puntos/medida
Interpolacin
0.10
0.08
0.06
0.04
0.02
0.00
-0.02
-0.04
-6
-4
-2
Figura 3.36. Resistividad aparente normalizada de una esfera aislante de radio unidad y profundidad 2.
Los puntos corresponden a los 13 puntos de medida. La lnea continua utiliza 100 puntos de Q por
unidad. La lnea a trazos se ha obtenido interpolando los 13 puntos con la funcin spline de Matlab.
Las medidas pueden tener errores debido a la inexactitud en la posicin de los electrodos, al
ruido geolctrico y a la precisin del sistema de medida. La Figura 3.37 muestra los 13 valores de
Q de la Figura 3.36 (crculos negros) a los que se ha aadido un ruido gaussiano de desviacin
tpica 0,01 y media cero (crculos blancos). La lnea a puntos corresponde a la interpolacin de los
datos con ruido. La curva modificada Qm se obtiene sustituyendo la curva interpolada de Q en
(3.68). Los parmetros hz, hm, hd, se obtienen a partir de (3.45), (3.46), (3.59) respectivamente. El
radio a se obtiene a partir de (3.60). Los valores xz y xm, a partir de los cuales se obtienen los
parmetros hz y hm, se obtienen promediando los valores de los dos pasos por cero y de los dos
mnimos de la curva Qm respectivamente. El valor Qm(d) utilizado para determinar el parmetro hd
se obtiene promediando los valores de Qm en x = d y x = -d. Con estas consideraciones, las
profundidades obtenidas son hz = 1,87, hm = 1,9, hd = 1,76 y los radios respectivos az = 0,98, am =
1,00, ad = 0,93.
3-54
Problema directo
Esfera aislante
h=2 a=1 d=1 L=7,5
0.14
13 medidas
medidas + ruido
Interpolacin medidas+ruido
0.12
0.10
0.08
0.06
0.04
0.02
0.00
-0.02
-0.04
-6
-4
-2
Figura 3.37. Resistividad aparente normalizada de una esfera aislante de radio unidad y profundidad 2.
Los crculos negros y blancos corresponden a los datos sin y con ruido respectivamente. La lnea
continua y punteada son la interpolacin de los datos sin y con ruido respectivamente. La lnea a
trazos es la curva terica que mejor se ajusta a los datos con ruido siguiendo el criterio del error
Una solucin alternativa descrita por Reina (1997) para determinar la profundidad y el radio es
Q que mejor se ajuste a los 13 puntos basndose en el criterio del error
cuadrtico mnimo. Para el clculo de Q, Reina (1997) considera campo elctrico uniforme. Una
solucin mejor es calcular Q considerando la distancia finita de los electrodos de corriente. El
procedimiento de bsqueda de la curva terica de Q es por prueba y error. La profundidad y el
radio determinados son en este caso ht = 1,76 y ar = 0,92. En el caso del cilindro este mtodo no se
implementar ya que el tiempo de clculo es muy elevado.
La Tabla 3.7 muestra los resultados cuando la esfera de radio unidad est situada en h = 3, 4 y el
ruido aditivo es el mismo que en la Figura 3.37. Los resultados empeoran a profundidades mayores.
Los resultados cambian para diferentes realizaciones, al cambiar el error.
h
hz
hm
hd
hr
az
am
ad
ar
1,95
1,91
1,85
1,82
0,71
0,70
0,68
0,67
1,62
1,82
1,39
1,41
0,48
0,53
0,41
0,43
profundidades 3 y 4. El error en las medidas es del 1%
Problema directo
3-55
3.4.5. Medidas experimentales

Las medidas experimentales se han realizado en una cubeta de plstico (40 cm x 35 cm x 20
cm) llena de agua. Los 16 electrodos de acero inoxidable estn sumergidos de 2 a 4 mm en el agua
y separados 2 cm (1 unidad) entre ellos. El Apndice E muestra imgenes del sistema de medida y
Figura 3.38 muestra la resistividad aparente obtenida cuando
sumergimos en el agua (con la ayuda de pequeas poleas y hilos de nylon) una esfera de goma
(aislante) de radio 1,1 unidades a una profundidad de 2, 3 y 4 unidades. La Figura 3.39 muestra el
caso de un cilindro de PVC (aislante) de radio unidad y longitud 12,5 unidades. Los objetos se
encuentran situados entre los electrodos 8 y 9. La resistividad aparente en el caso homogneo se ha
obtenido con el objeto situado en el fondo de la cubeta y dista mucho de tener un valor constante
(en un caso real la medida homognea se realizara con la agrupacin de electrodos suficientemente
alejada del objeto, como veremos en el captulo 6). Ello es debido al efecto del fondo y de las
paredes laterales de la cubeta. En el apartado 3.4.3 se expuso como eliminar el efecto de una capa
horizontal; aqu generalizaremos ese resultado al caso de la cubeta. Los efectos de las dimensiones
finitas de la cubeta pueden reducirse sustituyendo 1 en (3.38)
Q=
a 1
1
por la resistividad aparente medida sin la presencia del objeto. Este resultado ya se apunt en las
medidas experimentales presentadas en el apartado 3.3. Franco (1999) confirma este resultado con
el programa de simulacin de campos cuasi-estticos COULOMB (Integrated Engineering
Software).
Esfera aislante
a (m)
16
h=2 a=1,1
h=3 a=1,1
h=4 a=1,1
homogeneo
14
12
10
6
-6
-4
-2
Figura 3.38. Medidas experimentales en una cubeta de plstico (40 cm x 35 cm x 20 cm) llena de agua.
Resistividad aparente en presencia de una esfera de radio 1,1 unidades a una profundidad de 2, 3 y 4
unidades. El caso homogneo se ha obtenido con el objeto en una esquina del fondo de la cubeta
para no variar el nivel del agua.
3-56
Problema directo
Cilindro aislante
a (m)
20
h=2 a=1
h=3 a=1
h=4 a=1
homogeneo
18
16
14
12
10
6
-6
-4
-2
Figura 3.39. Medidas experimentales en una cubeta de plstico (40 cm x 30 cm x 25 cm) llena de
agua. Resistividad aparente en presencia de un cilindro aislante de radio unidad y longitud 12,5
unidades a una profundidad de 2, 3 y 4 unidades. El caso homogneo se ha obtenido con el objeto en
una esquina del fondo de la cubeta para no variar el nivel del agua.
La Figura 3.40 representa la resistividad aparente normalizada para la esfera (en crculos)
1 se substituye por la resistividad aparente homognea medida
mientras que a se substituye por la resistividad aparente medida en presencia del objeto. La lnea
continua es la interpolacin de los datos, la lnea punteada corresponde a la solucin terica con el
Esfera aislante
h=2 a=1,1
Esfera aislante
h=3 a=1,1
0.16
0.05
Medidas experimentales
Interpolacin
ECM
0.14
0.12
Interpolacin medidas
Solucin ECM
0.04
0.10
0.03
0.08
0.06
0.02
0.04
0.01
0.02
0.00
0.00
-0.02
-0.04
-0.01
-6
-4
-2
-6
-4
-2
Problema directo
3-57
Esfera aislante
h=4 a=1,1
0.020
Solucin ECM
0.015
0.010
Q
0.005
0.000
-0.005
-6
-4
-2
Figura 3.40. Resistividad aparente normalizada para una esfera de goma (en crculos) de radio 1,1
unidades sumergida a una profundidad de 2, 3 y 4 unidades. La lnea continua es la interpolacin de
los datos, la lnea punteada corresponde a la solucin terica con el error cuadrtico mnimo (ECM).
La Tabla 3.8 muestra las profundidades y radios hallados con los diferentes mtodos. Los
mtodos del cruce por cero y del ECM son los ms robustos al ruido y los valores obtenidos se
aproximan bastante a los tericos con un error mximo aproximado del 10 % en la profundidad y
del 20 % en el radio. Sin embargo, estos errores podran ser debidos tambin a que la profundidad
real de la esfera puede diferir ligeramente de la profundidad terica, ya que el posicionamiento del
objeto es manual.
h
hz
hm
hd
hr
az
am
ad
ar
2,22
2,00
2,16
2,13
1,23
1,11
1,20
1,16
3,06
2,73
3,80
3,27
1,16
1,02
1,48
1,23
3,98
3,11
6,61
4,09
1,14
0,86
2,23
1,18
Tabla 3.8. Determinacin del radio y la profundidad para una esfera aislante de radio unidad y h = 2, 3,
4 unidades.
La Figura 3.41 representa la resistividad aparente normalizada para el cilindro (en crculos). La
lnea continua es la interpolacin de los datos. La visibilidad es mayor que en el caso de la esfera,
por lo que los errores en las medidas tendrn menor efecto.
3-58
Problema directo
Cilindro aislante
h=3 a=1
Cilindro aislante
h=2 a=1
0.25
0.6
0.5
0.20
0.4
0.15
0.3
Q 0.10
Q
0.2
0.05
0.1
0.00
0.0
-0.05
-0.1
-6
-4
-2
-6
-4
-2
Cilindro aislante
h=4 a=1
0.12
0.10
0.08
0.06
Q
0.04
0.02
0.00
-0.02
-6
-4
-2
Figura 3.41. Resistividad aparente normalizada para un cilindro (en crculos) de radio unidad y h = 2,
3, 4 unidades. La lnea continua es la interpolacin de los datos.
La Tabla 3.9 muestra las profundidades y radios hallados en el caso del cilindro. El parmetro
hm presenta un error elevado cuando h = 4. Los otros dos mtodos determinan con bastante
precisin la profundidad y el radio del cilindro en todos los casos. Los resultados son mejores
Tabla 3.6 para L = 7,5 y h = 4). Ello podra ser debido a las
dimensiones finitas de la cubeta y del cilindro.
h
hz
hm
hd
az
am
ad
1,84
1,78
1,91
0,96
0,93
0,99
2,87
3,07
2,92
0,92
0,98
0,94
4,21
3,12
3,94
0,94
0,70
0,88
Tabla 3.9. Determinacin del radio y la profundidad para una cilindro aislante de radio unidad y h = 2,
3 y 4 unidades.
Problema directo
3-59
3.5. Resumen
El problema directo obtiene el potencial en la superficie (y, por tanto, la resistividad aparente)
cuando se conoce la distribucin de resistividades del subsuelo. Esto es interesante ya que permite
la obtencin de datos para validar los algoritmos utilizados en la solucin del problema inverso
(Captulo 5), la modelizacin de estructuras inmersas en el subsuelo y el estudio del poder de
resolucin de la tcnica resistiva. El problema directo se puede resolver experimentalmente, por
mtodos numricos y analticamente. Esta ltima opcin es la ms deseable ya que permite una
A partir de la solucin dada por Aldridge y Oldenburg (1989) se ha implementado una solucin
analtica exacta del potencial elctrico para el caso de una esfera inmersa en un subsuelo
homogneo cuando la inyeccin de corriente se realiza a travs de dos electrodos puntuales
situados en la superficie. Una solucin aproximada derivada a partir de los resultados de Wait
(1982) y Lyttle y Hanson (1983) permite obtener con mayor rapidez los datos. Esto es interesante,
por ejemplo, al obtener imgenes tridimensionales (captulo 5), donde el nmero de medidas
requeridas es elevado. Para el caso del cilindro slo existe una solucin exacta cuando el campo
Bhattacharya y Biswas, 1992). A partir del resultado obtenido por
Wait (1982) se deriva una solucin aproximada para el caso general (electrodos de corriente
situados a una distancia finita del cilindro). Sin embargo el tiempo de clculo es mucho mayor que
en el caso de la esfera.
La solucin del potencial elctrico para la esfera permite comparar las configuraciones
electrdicas en funcin de su visibilidad. Las configuraciones basadas en los dispositivos doble
dipolo y polo-dipolo son los que presentan mayor visibilidad. Estos resultados validan las
conclusiones experimentales obtenidas por Apparao et al. (1992) y por Apparao, Sivarama y
Subrahmanya (1997). Sin embargo, el nmero de medidas con las configuraciones con mayor
visibilidad es pequeo. Para aumentar el nmero de medidas independientes (y, por tanto, la
informacin acerca de la distribucin de resistividad del subsuelo) se utilizan las configuraciones
propuestas en el apartado 2.5. La configuracin doble dipolo tiene una visibilidad mayor que la
configuracin Schlumberger pero el margen dinmico necesario en el detector es 28 dB mayor.
Existe, pues, un compromiso y la eleccin de la configuracin depender del ruido presente en las
medidas.
Si el campo elctrico primario es uniforme, las soluciones del potencial y del campo elctrico
producidos por una esfera y un cilindro son simples, lo que permite estimar de forma general la
influencia de parmetros tales cmo el tamao, la profundidad y el contraste resistivo de objetos
esfricos y cilndricos. La visibilidad de las esferas conductoras es el doble que la de las esferas
aislantes. Un cilindro es ms visible que una esfera a la misma profundidad y su visibilidad es la
misma tanto si es aislante como conductor. La profundidad a la que es detectable un objeto esfrico
o cilndrico depende de su radio y de la visibilidad mnima. sta viene limitada principalmente por
el ruido en las medidas y el error en la posicin de los electrodos. Las expresiones obtenidas para la
3-60
Problema directo
determinacin de la profundidad y el radio de objetos esfricos y cilndricos coinciden con las

descritas Schulz (1985), y se obtuvieron sin el conocimiento de dicho trabajo. Estas expresiones
conllevan errores si la distancia entre los electrodos inyectores o entre los electrodos detectores es
comparable a la profundidad del objeto, por lo que se obtienen nuevas expresiones que compensan
este efecto, sobre todo en el caso de la esfera. El efecto de las dimensiones finitas de la cubeta en
las medidas experimentales se puede reducir con una medida de referencia homognea . Las
medidas experimentales efectuadas en el laboratorio muestran que el mtodo que estima la
profundidad de los objetos a partir del paso por cero de Q es el ms robusto a los errores
experimentales. Los objetos (tanto esfricos como cilndricos) se han localizado correctamente
hasta una profundidad igual a 4 veces su radio.
4-1
4. Instrumentaci
n
La capacidad de detectar objetos y de presentar imgenes de la distribucin de impedancia (o

resistividad) en el subsuelo, depende de la capacidad de medir tensiones y corrientes que representan
impedancias de transferencia entre electrodos inyectores y detectores. Este captulo se dedica al
estudio de la instrumentaci
n necesaria para realizar dichas medidas.
Se revisa en primer lugar cul es la instrumentacin convencional empleada para la exploracin
geoelctrica y, una vez vistas sus limitaciones, se describen y analizan los sistemas especficos
desarrollados para superarlas.
4.1. Antecedentes
En el captulo 2 vimos que la medida de la resistividad aparente consista bsicamente en la inyeccin
de corriente en el terreno a travs de un par de electrodos A y B, y en la medida de la diferencia de
tensin entre dos electrodos detectores M y N. Las medidas geoelctricas ms simples son de
resistividad empleando corriente continua. El generador ms sencillo para la inyeccin de corriente en
el terreno consiste en una batera de pilas secas conectadas en serie. La intensidad que recorre el
circuito se mide con un miliampermetro. Los electrodos son generalmente simples barrenas de acero
comn o inoxidable, de 1 cm a 3 cm de dimetro. Para evitar la polarizacin de los electrodos, se
utilizan electrodos no polarizables, que constan de un vaso poroso lleno parcialmente de una solucin
acuosa de sulfato de cobre y, sumergida en sta, una varilla de cobre electroltico conectada
exteriormente a los cables. De este modo se consigue que el potencial de ambos electrodos sea
similar y se anulen parcialmente. En el terreno, cada uno de estos electrodos se instala en un hoyo
previamente excavado y regado, para reducir as la impedancia de contacto. Para la medida de la
diferencia de tensi
n entre los electrodos M y N puede utilizarse un milivoltmetro electrnico de gran
impedancia de entrada, capaz de medir tensiones comprendidas entre poco ms de un voltio y
fracciones de milivoltio. Adems, el milivoltmetro debe incorporar un dispositivo independiente que
permita compensar las tensiones que aparecen entre los electrodos de medida en ausencia de la
corriente de emisi
n cuando se emplean electrodos polarizables, o cuando la cancelacin de potenciales
de contacto entre electrodos no polarizables no es total. Orellana (1982) critica los instrumentos que
sirven a la vez para medir la diferencia de potencial (V) y la corriente (I). Argumenta que en estos
equipos pueden existir acoplamientos electromagnticos entre los circuitos de emisin y recepcin, que
las mediciones de I y V no pueden efectuarse simultneamente y que existen mtodos geoelctricos que
requieren el distanciamiento entre uno y otro circuito.
Griffiths y King (1972) mencionan las ventajas de utilizar instrumentos que generan corriente
alterna en vez de continua: evitar la tensin de polarizacin de los electrodos y las corrientes naturales
que circulan por el interior de la Tierra (corrientes telricas). Comentan que el manejo de electrodos
no polarizables para evitar los fen
menos electroqumicos de los electrodos es incmodo y reduce la
4-2
capacidad operativa. El Tellohm Soil Resistence Meter (Mash and Thompson) es un instrumento de
este tipo. La corriente estsuministrada por cinco pilas de 1,5 voltios y un vibrador la transforma en
corriente alterna de 110 Hz. Esta corriente pasa a los electrodos inyectores a travs de un
transformador, pudiendo obtenerse un mximo de 150 voltios eficaces. La deteccin es sncrona con la
corriente inyectada. El instrumento da directamente la resistencia del suelo entre los electrodos
detectores. El campo de medici
n del instrumento comprende de 0,3 a 10000 a fondo de escala,
con una precisi
n de 1 % del valor de fondo de la escala empleada. Los mismos autores comentan
que a profundidades mayores a 30 m es recomendable emplear un instrumento con mayor potencia
de salida.
El Geophysical Megger es otro instrumento que trabaja con corriente alterna. Lleva un generador
de manivela y puede generar ms del triple de la potencia del Tellohm en condiciones normales de
trabajo. Adems, trabaja con frecuencias ms bajas (mayor profundidad de penetracin), variando sta
entre 10 Hz y 20 Hz, dependiendo de la velocidad de rotacin de la manivela. El principio del
instrumento es anlogo al del Tellohm. Los valores a fondo de escala entre los que puede trabajar el
aparato van desde 0,3 a 30 , con una precisin de 1 % del valor del fondo de la escala
empleada. Puede emplearse para investigaciones a profundidades del orden de un centenar de metros.
Otro instrumento, el Terrameter (ABEM), tambin utiliza frecuencia baja (4 Hz), por lo que puede
emplearse para mayores profundidades de investigacin que el Tellohm. Se basa en un oscilador
electrnico transistorizado y es ms manejable que el Megger. Su potencia mxima es 6 W y puede
medir resistencias comprendidas entre 0,01 y 10000 . Un modelo nuevo, el Terrameter SAS 300
C, proporciona corrientes de hasta 20 mA (160 Vp mximo) con perodos de la seal desde 3,6 s hasta
14,4 s. La impedancia de entrada del detector es mayor que 10 M y el margen de tensiones de 0 V
a 500, con una resoluci
n de 1 V y una exactitud del 2% + resolucin. Si trabaja en modo
impedancia, la resoluci
n es de 0,05 m (a 20 mA) y la exactitud del 2% + resolucin (a 1 M). Para
incrementar las prestaciones se puede conectar a la salida de los terminales inyectores el Terrameter
SAS 2000 Booster, el cual proporciona hasta 500 mA y 400 V de pico, con una potencia mxima de
40 W.
En los ltimos a
os se han desarrollado sistemas automticos de medida que permiten una adquisicin
rpida de los datos. La tcnica se ha aplicado con x ito a varias prospecciones geoelctricas (Griffiths y
Turnbull, 1985; Griffiths, Turnbull y Olayinka, 1990). En la actualidad existen varios fabricantes
que ofrecen sistemas automticos de medida (ABEM, AGI, Campus, Geofyzika, Iris, Zonge entre
otros). Sin embargo, estos equipos son sistemas cerrados que no permiten al usuario seleccionar
parmetros como la frecuencia de la corriente inyectada o su forma de onda, de manera que no es
posible aplicarlos a la investigaci
n de nuevos sistemas de medida. Tampoco estn diseados para
estudios de laboratorio sobre modelos anal
gicos.
4.2. Sistema autom

tico de medida de la resistividad del subsuelo
4-3
Aplicaciones como la prospecci
n arqueolgica y estudios medioambientales o de Ingeniera Civil
requieren un gran n
mero de medidas. Esto supone un gran trabajo manual al tener que cambiar en
cada nueva medida la posici
n de los electrodos inyectores y/o detectores. Si se utilizan
configuraciones con m
ltiples electrodos, las medidas son an ms laboriosas. Para reducir este trabajo
manual y acelerar el proceso de medida y de interpretacin de la resistividad del subsuelo, se han
implementado tres sistemas de medida automticos, dos para el laboratorio (Gasulla, Jordana y Palls,
1998a) y otro para medidas de campo. Estos tres sistemas constan bsicamente de los cuatro
elementos que se muestran en la Figura 4.1
Un primer elemento es el generador de seal, que inyecta una corriente elctrica en el subsuelo a
travs de los electrodos A y B. Un segundo elemento es el detector, que acondiciona y adquiere la seal
presente en los electrodos M y N. Un tercer elemento es el subsistema de conmutacin, que configura
de forma automtica la disposici
n de los electrodos de inyeccin y deteccin. Estos tres elementos estn
controlados desde un ordenador personal (PC) a travs de buses de comunicacin.
en el terreno serde corriente alterna por los siguientes motivos:
- Evitar que se produzcan reacciones de oxidacin-reduccin no espontneas en los electrodos
inyectores por el paso de corriente continua que los degradara.
- Evitar los errores que se produciran en una medida en continua debido al potencial electroqumico
en los electrodos y a las corrientes telricas (Telford, Geldart y Sheriff, 1990).
- Disminuir la impedancia de electrodo (Apndice C), por lo que con la misma tensin entre los
electrodos A y B se inyectarms corriente y la tensin detectada sermayor, mejorando la relacin
ORDENADOR
PERSONAL
SYNC
GENERADOR
FUNCIONES
HCUR
LCUR
SISTEMA
CONMUTACION
HVOLT
LVOLT
DETECTOR
N
A
M N
Figura 4.1. Esquema del sistema automtico de medida de la resistividad del subsuelo
La seal presente en los electrodos M y N es equivalente a una seal modulada en doble banda
lateral (Carlson, 1975), como veremos ms adelante. El detector, pues, ha de ser un detector sncrono.
4-4
Adems, debe incorporar un filtro pasa altos para bloquear el potencial electroqumico de los
electrodos.
Una fuente de ruido en las medidas son las corrientes telricas y seales artificiales (normalmente
de frecuencia de red, 50-60 Hz). Sumner (1985) muestra una grfica del espectro del campo elctrico
(mV/km) en el subsuelo debido a estos factores en funcin de la frecuencia, donde se observa un
mnimo local entre 1 Hz y 10 Hz y un mnimo absoluto entre 1 kHz y 10 kHz. El espectro aumenta
progresivamente para frecuencias menores a 1 Hz y tiene un mximo local en los 60 Hz (frecuencia
de la red elctrica en los Estados Unidos). El detector sncrono rechaza mejor las interferencias de 5060 Hz si la frecuencia de la se
al inyectada es alta. Adems, la impedancia de electrodo disminuye al
aumentar la frecuencia (Apndice C) por lo que con la misma tensin entre los electrodos A y B la
corriente inyectada en el terreno es mayor. Por otra parte, si se emplea una frecuencia de medida
demasiado alta aumentan las interferencias inductivas y capacitivas entre el inyector y el detector y
disminuye la penetracin nominal (skin depth).
sta se define como la profundidad a la cual el campo
-1
elctrico queda reducido a e = 0,368 de su valor en superficie (Orellana, 1982). Su valor es
= 503,3
(4.1)
Si f = 1 kHz, = 159 m para = 100 m, y = 15,9 m para = 1 m. Si f = 10 Hz, aumenta

por diez en ambos casos. Orellana (1982) comenta que en una prospeccin realizada sobre
formaciones arcillosas de pocos ohmios-metro y con frecuencias de algunas decenas de hertzios, las
curvas ascendentes de resistividad aparente indicaban la presencia, a unos 100 m de profundidad, de
un substrato resistivo inexistente en la realidad, cuya apariencia se deba a la atenuacin con la
profundidad de la corriente alterna. Para profundidades de 5 m, las mximas que se pretenden
considerar en este trabajo, y en suelos arcillosos de = 10 m la atenuacin del campo elctrico si f =
1 kHz es del 10 %. Esta disminuci
n no es demasiado grave debido a que en la prctica utilizaremos
medidas relativas, como se vio en el apartado 3.4.5, y el efecto se ve compensado. De todas maneras
existe un compromiso a la hora de escoger la frecuencia de la seal. La decisin de qufrecuencia
La etapa de conmutaci
n dirige la se
al procedente del generador hacia los electrodos de inyeccin A
y B y encamina la se
al presente en los electrodos detectores M y N hacia la etapa de deteccin. Para
configurar cualquier dispositivo electr
dico, el sistema de conmutacin deberser una matriz de 4
(AMNB) x nmero de electrodos. Por limitaciones de la instrumentacin disponible el nmero mximo de
electrodos utilizado es de 16 para los dos sistemas de laboratorio y de 8 para el sistema de campo.
Por lo tanto necesitamos 64 o 32 interruptores sencillos para construir la matriz. Estos interruptores
debern soportar tensiones y corrientes elevadas. Con este sistema se pueden configurar diferentes
dispositivos electr
dicos, sin necesidad de reconexin manual a cada nueva medida. El PC, a travs de
los buses de comunicaci
n, controla las etapas de generacin, deteccin y conmutacin con el objetivo de
realizar una prospecci
n geoelctrica automatizada.
4-5
El primer sistema implementado (Alberto, 1997) es un sistema de laboratorio para estudiar la

viabilidad del mtodo de medida propuesto. El inyector y el detector son instrumentos comerciales
conectados va el bus GPIB. El sistema permite la inyeccin de seales cuadradas y senoidales de 10 Hz
a 100 kHz. El PC obtiene la parte real e imaginaria de la impedancia del suelo. Las seales detectadas
estn contaminadas por la tensi
n en modo comn, por la interferencia electromagntica entre el inyector
y el detector, y por la se
al de 50 Hz. El segundo sistema, tambin de laboratorio, usa un detector de
diseo propio (Garca, 1999) que reduce la interferencia electromagntica mediante el muestreo sncrono
de seales cuadradas (Gasulla et al., 1998a). El efecto del modo comn se reduce utilizando un
electrodo adicional conectado a la referencia del detector. Posteriormente, se ha diseado un tercer
sistema apto para realizar medidas de campo que utiliza el mismo detector. El Apndice E muestra
imgenes de los sistemas de medida implementados. Las siguientes secciones describen los tres
sistemas con detalle.
4.3. Primer sistema de laboratorio

La Figura 4.2 muestra un circuito equivalente de parmetros concentrados para la medida de la
Vg es la tensin del generador inyectada entre los electrodos A y B, Vd
es la tensin detectada entre los electrodos M y N, R0 es una resistencia de referencia conocida, Ze son
las resistencias de contacto de electrodo y Zt la impedancia del subsuelo entre los electrodos
detectores. La corriente inyectada es I = V0/R0, donde V0 es la cada de tensin en R0. Si la seal
inyectada es senoidal, la impedancia del terreno viene dada por
Zt =
Vd
R0 e j
V0
(4.2)
donde es el desfase entre las dos se

ales. La resistividad aparente compleja es
a = gZ s
(4.3)
donde g es el factor geomtrico. Si el suelo es resistivo el desfase es cero y la resistividad aparente

es real.
Vg
I
I=V0/R0
V0
M
Vd
A
Ze
R0
N
B
Ze
Ze
Zt
Ze
4-6
Instrumentacin
Figura 4.2. Circuito de medida de la impedancia elctrica del suelo
4.3.1. Estructura
La Figura 4.3 muestra la arquitectura del sistema automtico de prospeccin geoelctrica
GENERADOR
HP3245A
GPIB
GPIB
SYNC OUT
AUX TRIGGER
METRABUS
DSO
TDS420
TEKTRONIX
canal A
CH1
CH2
V0
Ro
LCUR
HCUR
TARJETAS
MEM32A
KEITHLEY
LVOLT
(matriz 4x16)
HVOLT
Vd
SONDA
DIFERENCIAL
ADA400
TEKTRONIX
ristra de 16 electrodos
equiespaciados con paso
interelectrdico a
a
Figura 4.3. Arquitectura del sistema PR0GEO.
El generador de funciones HP3245A inyecta una tensin senoidal o cuadrada de 10 Hz a 10 kHz,

y de hasta 20 Vpp. Estos parmetros se configuran desde el programa de aplicacin a travs del bus
GPIB (Riu, Rosell y Ramos, 1995). Adicionalmente se extrae una seal de sincronismo que servir
como fuente externa de disparo para el osciloscopio digital TDS420 (Tektronix).
Como sistema de detecci
n se emplea la sonda diferencial ADA400A y el osciloscopio TDS420.
La sonda es un preamplificador diferencial con salida compatible para el osciloscopio, y se utiliza
para medir la se
al diferencial presente en los electrodos detectores. El osciloscopio se encarga del
acondicionamiento y adquisici
n simultnea de la seal procedente de la sonda diferencial (canal 2) y de
R0 (canal 1).
Instrumentaci
n
4-7
El sistema de conmutaci
n estformado por dos tarjetas MEM32A (Keithley), de 32 rels SPST
cada una, cuyo estado se controla desde el programa de aplicacin mediante el bus METRABUS.
Con estas tarjetas se configura una matriz de 4x16 (64 rels) que permite cualquier combinacin de
inyeccin y detecci
n en una medida a 4 hilos sobre una agrupacin de 16 electrodos (Figura 4.4).
e1
HCUR
1x16
16x1
HVOL
e16
Generador
HP3245A
ADA400A
Tektronix
e1
1x16
16x1
LCUR
Canal 2
DSO
TDS 420
Tektronix
LVOL
e16
MEM32A
inyeccin
MEM32A
deteccin
Figura 4.4. Esquema de conexionado de la matriz 4x16 con las tarjetas MEM32A de Keithley
El funcionamiento del sistema estcontrolado por un ordenador personal (PC 386). El programa
de aplicaci
n estrealizado bajo el entorno de programacin LabWindows de National Instruments
(versin 2.3 para DOS). Bsicamente realiza la configuracin de los parmetros del sistema de medida, la
edicin del conjunto de disposiciones electrdicas de que se compone la prospeccin a realizar, la
ejecucin automatizada de las medidas, y la visualizacin de resultados.
Las medidas se realizan en una cubeta de plstico llena de agua, con la cual se modela un suelo
homogneo. Para simular la presencia de anomalas locales se sumergen objetos de diferentes tamaos.
La Figura 4.5 muestra las dimensiones de la cubeta, donde los 16 electrodos son barritas metlicas de
dimetro 3 mm, separadas 2 cm y sumergidas en el agua varios milmetros.
4-8
16 ELECTRODOS
20 cm
35 cm
AGUA
40 cm
Figura 4.5. Cubeta para realizar las medidas en el laboratorio
La corriente inyectada en el agua es
Vg
2 Rc
(4.4)
n del generador y Rc es la resistencia de contacto de los electrodos. (Apndice C).

donde Vg es la tensi
Las configuraciones electr
dicas utilizadas para realizar las medidas son la Schlumberger y la doble
dipolo (Captulo 2). Las tensiones mxima y mnima para esta configuracin Schlumberger son
V dmax =
V dmin = 0'0357
=
Vg
2d 4dRc
(4.5)
= 0,0357
Vg
2d
4dRc
(4.6)
donde d es la distancia interelectr

dica y la resistividad del medio. El margen dinmico de las
medidas es 28. La tensi
n detectada se puede expresar, pues, en funcin de la corriente o de la tensin.
Si las piquetas estn sumergidas 3 mm en el agua, la resistencia de contacto es 75 (Apndice C). Si
Vg = 20 Vpp, Vdmax = 1,06 Vpp y Vdmin = 35,7 mVpp. Para la configuracin doble dipolo Vdmax = 0,536
Vpp, Vdmin = 0,777 mVpp, siendo el margen dinmico de las medidas de 690. Los errores en las
medidas, como veremos, sern mayores para esta configuracin.
4.3.2. Etapa detectora
Si la tensi
n del generador Vg (Figura 4.2) es una seal senoidal, la corriente I serde la forma
I0cos(ct), donde I0 es la amplitud, c es la frecuencia angular y t es el tiempo. La impedancia
Instrumentaci
n
4-9
compleja del terreno Zt se puede expresar en funcin de su mdulo y fase como |Zt|ej. La tensin entre
los electrodos M y N ser
V d = I o | Z t | cos( c t + )
(4.7)
V d = I o | Z t | [cos( c t ) cos( ) sin( c t ) sin( )]
(4.8)
que tambin se puede expresar como
Para detectar la parte real e imaginaria de la impedancia Zt hace falta un detector sncrono (Carlson
1975), tal como se muestra en la Figura 4.6
Vdi
Vd
FPB
id
FPB
qd
cos(ct)
90
Vdq
Figura 4.6. Esquema del demodulador sncrono
La seal diferencial Vd se convierte a unipolar. Posteriormente se multiplica por una seal en fase
o
con la corriente inyectada y con otra desfasada 90 dando lugar a

Io
| Z t | cos( ) cos( 2 c t + )
2
I
= I o | Z t | cos( c t + ) sin( c t ) = o | Z t | sin( ) sin(2 c t + )
2
V di = I o | Z t | cos( c t + ) cos( c t ) =
V dq
(4.9)
A la salida del filtro pasabajas, de ancho de banda B mucho menor que la frecuencia c de la
seal, solo quedarn las componentes de baja frecuencia en fase (id) y cuadratura (iq),
Io
| Z t | cos( )
2
I
q d = o | Z t | sin( )
2
id =
(4.10)
Conociendo el valor de I0 se puede obtener la parte real e imaginara de la impedancia. Pero el

generador inyecta tensi
n y no se conoce a priori el valor de la corriente. La impedancia se determina
4-10
por un proceso alternativo que consiste en obtener simultneamente las seales Vd y Vo y multiplicarlas
por dos referencias en cuadratura de la misma frecuencia, resultando
Io
| Z t | cos( d ) cos( 2 c t + d )
2
I
V dq = I o | Z t | cos( c t + d ) sin( c t ) = o | Z t | sin( d ) sin(2 c t + d )
2
I
Voi = I o Ro cos( c t + o ) cos( c t ) = o Ro cos( o ) cos( 2 c t + o )
2
I
Voq = I o R0 cos( c t + o ) sin( c t ) = o Ro sin( o ) sin(2 c t + o )
2
V di = I o | Z t | cos( c t + d ) cos( c t ) =
(4.11)
donde d y 0 son el desfase respectivo entre las seales Vo y Vd respecto a la seal de referencia. La
fase de la impedancia es ahora
= d 0
(4.12)
Si filtramos las se
ales anteriores pasabajo resulta
Io
| Z t | cos( d )
2
I
q d = o | Z t | sin( d )
2
Io
io =
Ro cos( o )
2
I
q o = o Ro sin( o )
2
id =
(4.13)
Aspues, el m
dulo y la fase de la impedancia se pueden obtener como
| Z t |=
id2 + q d2
io2 + q o2
Ro
q
q
= arctan d arctan o
id
io
(4.14)
Por lo tanto, las partes real e imaginaria de la impedancia son
Z real =| Z t | cos( ) =
Z imag =| Z t | sin( ) =
i d io + q d q o
io2 + q o2
io q d id q o
io2 + q o2
(4.15)
Instrumentaci
n
4-11
En el sistema de medida este proceso se implementa de forma numrica. Esto implica realizar un
muestreo con el osciloscopio de las se
ales Vd y V0 y multiplicarlas numricamente por dos referencias
en cuadratura. La Figura 4.7 muestra el proceso, donde Ze es la impedancia de electrodo y Zt es la
impedancia del terreno entre los electrodos detectores. La seal diferencial Vd se transforma a unipolar
con la sonda diferencial ADA400 y se adquiere por el canal 2 del osciloscopio, mientras que la seal
unipolar Vo se adquiere directamente por el canal 1. El acoplamiento de entrada de la sonda esten
alterna (AC) para eliminar la tensi
n de polarizacin de los electrodos detectores. Una vez muestreadas
las seales en el osciloscopio se transfieren los datos va el bus GPIB al PC, donde se obtienen sus
componentes en fase y cuadratura (Alberto, 1997).
Las interferencias de 50 Hz pueden provocar errores en la seal detectada debido a los
acoplamientos capacitivos, y a la corriente de fugas a travs del transformador de alimentacin del
osciloscopio. Por eso es conveniente que la frecuencia de la seal inyectada por el generador no
coincida con aqulla ni con los arm
nicos ms cercanos. Adems, escogiendo una ventana temporal
mltiple de 20 ms (perodo de la se
al de la red elctrica) se reduce su influencia en la seal detectada
(Alberto, 1997).
Otro problema importante en el sistema detector es la elevada tensin en modo comn presente
a la entrada de la sonda diferencial, que puede provocar errores importantes en la tensin de salida.
Normalmente la impedancia de electrodo Ze es mucho mayor que Zt y Ro (Apndice C), por lo que la
tensin diferencial entre los electrodos detectores ser(Figura 4.7)
V d = V1 V2 V g
Zt
2Z e
(4.16)
n del generador y V1, V2, son las tensiones presentes en los electrodos M, N. La
tensin de modo com
n ser
Vc =
V1 + V2 V g
2
2
(4.17)
Por lo tanto, la relaci

n entre la tensi
n en modo comn y la diferencial es
Vc Z e
=
Vd Z t
(4.18)
valor que puede ser elevado. Por lo tanto, el error provocado por la tensin en modo comn puede ser
considerable, sobre todo a frecuencias bajas debido al bajo CMRR de la sonda en AC. Alberto
(1997) aumenta el CMRR de la sonda diferencial ADA400A a bajas frecuencias situando el
acoplamiento de entrada en continua (DC) y precedindola de un filtro paso alto diferencial (Alberto y
Palls, 1997). Adems, realiza una calibracin previa inyectando la corriente entre los electrodos 1 y 16
y cortocircuitando los electrodos detectores 8 y 9. Sin embargo, la tensin en modo comn puede
4-12
cambiar con cada nueva inyecci
n debido a que la impedancia de electrodo Ze cambia y no es la
misma para los electrodos A y B. Por tanto, la calibracin habra de realizarse para cada inyeccin. An
as, tampoco se compensara totalmente el error provocado por la tensin en modo comn, ya que la
mayor contribuci
n viene dada por el desapareamiento de las impedancias de los electrodos
detectores. El apartado 4.3.4 muestra otra solucin que consiste en reducir la tensin en modo comn
separando las masas del inyector y el detector, y conectando esta ltima a un punto del suelo mediante
un nuevo electrodo. Adems, de esta manera tambin se reducen las interferencias provocadas por las
corrientes de fugas del transformador de alimentacin del detector.
Ze
V1
Ze
DSO TDS420 Tektronix

HP3245A
Vd
R0
sincronismo
V0
Zt
Ze
Ze
ADA400A
Tektronix
V/div
CH2
S&H
CH2
Memoria
CAD
CH2
(N puntos)
V2
Aux Trigger
Reloj
PC
(fm)
V/div
CH1
S&H
CH1
CAD
CH1
Memoria
(N puntos)
Figura 4.7. Esquema del circuito de medida con el sistema PRGEO
Por ltimo es necesario considerar el acoplamiento capacitivo e inductivo entre el inyector y el

detector. En el sistema de laboratorio las capacidades e inductancias parsitas son pequeas y el error
provocado en las medidas es peque
o. Pero en las medidas de campo las longitudes de los cables y las
reas delimitadas por stos son mucho mayores y, por tanto, las interferencias electromagnticas pueden
ser importantes.
Todos estos errores en la tensi
n detectada son ms importantes en la configuracin doble dipolo
debido a los bajos valores de la tensi
n diferencial presente a la entrada del detector. En las siguientes
secciones se analizan con detalle los problemas mencionados anteriormente (tanto para las medidas
de laboratorio como para las medidas de campo) y se aportan nuevas soluciones, que sern
implementadas en el segundo sistema de laboratorio y en el sistema de campo.
4.3.3. Acoplamiento capacitivo e inductivo del inyector sobre el detector
La Figura 4.8 es un modelo simplificado de los acoplamientos entre el inyector y el detector en la
medida de la resistividad del subsuelo. Las impedancias de los electrodos inyectores R1 y detectores
R2 se han considerado resistivas a fin de simplificar el anlisis. Adems, ste es el caso a altas
I es la corriente inyectada, Rt es la resistencia del terreno (resistiva
en las medidas de laboratorio) entre los puntos MN, C representa el acoplamiento capacitivo entre
los cables, L la inductancia de los cables y M el acoplamiento inductivo entre el emisor y el detector.
Instrumentaci
n
4-13
A
L
C
R1
M
L
Vg
R2
Vd
L
Rt
R2
R1
B
Figura 4.8. Modelo del acoplamiento capacitivo e inductivo entre el inyector y el detector
La detecci
n homodina vista en el apartado 4.3.2 permite obtener la parte real e imaginaria de la
impedancia del terreno. Sin embargo, a continuacin se muestra cmo las interferencias capacitivas e
inductivas pueden provocar errores considerables, sobre todo en las medidas de campo.
En el dominio de la transformada de Laplace la tensin detectada es
R1Cs
V d ( s ) = I ( s) Rt + 2 R2
+ 2Ms
1 + ( R1 + R2 )Cs
(4.19)
Rt + s[Rt C (R1 + R2 ) + 2 R1 R2 C + 2 M ] + s 2 C [2M (R1 + R2 )]

1 + sC (R1 + R2 )
(4.20)
Operando se llega a
Vd ( s) = I ( s)
Si la corriente es i(t)=I0cos(ct) la respuesta temporal de la seal detectada viene dada por
Rt + c2 C 2 ( R1 + R 2 )(Rt ( R1 + R2 ) + 2 R1 R2 )
+
1 + c2 C 2 ( R1 + R 2 ) 2
j c t
v d (t ) = Re I 0 e
2 2
2
+ j 2 CR1 R 2 + M 1 + c C ( R1 + R 2 )
c
2 2
2

1 + c C ( R1 + R 2 )
(4.21)
En las medidas realizadas en el terreno, C sermenor a 100 pF, mientras L y M sern menores que
10 H (Apndice D). En el caso de acoplamiento magntico perfecto entre el inyector y el detector, M
4-14
Instrumentacin
serigual a L. En el sistema de laboratorio C < 10 pF y M < 1 H (Apndice D). La impedancia de

electrodo vara mucho en funci
n de la resistividad del terreno, del dimetro de la piqueta y de la
profundidad que estinsertada en el terreno. En las medidas de laboratorio y de campo realizadas se
han obtenido valores entre 500 y 1,5 k. Para generalizar el estudio se consideran valores entre
100 y 10 k. El valor de Rt tambin vara considerablemente con la resistividad del terreno y la
configuracin de electrodos utilizada, pero generalmente es mucho menor que la impedancia de
electrodo (Apndice C). La frecuencia de trabajo se supone menor que 1 kHz. Con estas
consideraciones (4.21) se reduce a
)}
v d (t ) = I o e j c t Rt + 2 c2 C 2 R1 R2 (R1 + R2 ) + j 2 c (CR1 R2 + M )
(4.22)
Las partes real e imaginaria de la impedancia del terreno son

Z real = Rt + 2 c2 C 2 R1 R 2 (R1 + R2 )
Z imag = 2 c (CR1 R2 + M )
(4.23)
La parte imaginaria tendra que ser nula, mientras que la parte real tendra que ser Rt. Por lo tanto, se
producen errores que dependen de los valores de las resistencias de electrodo y del acoplamiento
inductivo y capacitivo. El error relativo en la parte real de la impedancia er es
er =
2 c2 C 2 R1 R2 (R1 + R 2 )
Rt
(4.24)
El error relativo de la parte imaginaria ei en teora es infinito, pero lo compararemos tambin con Rt
ei =
2 c (CR1 R 2 + M )
Rt
(4.25)
Si consideramos las resistencias de electrodo iguales entre s(de valor Re) los errores relativos son
er = 4
Re 2 2 2
c C Re
Rt
R
M
ei = 2 e c CRe +
Rt
Re
(4.26)
Ambos errores aumentan linealmente con la relacin Re/Rt. Adems, er aumenta cuadrticamente con la
resistencia de electrodo, el acoplamiento capacitivo y la frecuencia de la seal, no dependiendo del
acoplamiento inductivo.
Instrumentaci
n
4-15
En las medidas de laboratorio utilizamos 16 electrodos. Con la configuracin Schlumberger Rt es

mnima cuando inyectamos entre los electrodos 1-16 y detectamos entre los electrodos 8-9. Su valor
es
Rtmin =
V dmin
= 0,0357
I
2d
(4.27)
donde Vdmin viene dado por (4.6). Con la configuracin doble dipolo Rt es mnima cuando inyectamos
entre los electrodos 1-2 y detectamos entre los electrodos 15-16. Su valor es
Rtmin =
V dmin
= 7,33 10 4
I
2d
(4.28)
Si los electrodos estn introducidos 3 mm en el agua Re = 75 (Apndice C). La relacin Re/Rtmin con d
4
= 2 cm es de 264 para la configuracin Schlumberger y de 1,2910 para la configuracin doble

dipolo. La Tabla 4.1 muestra los errores relativos tericos para el sistema de laboratorio en el peor
caso (f = 1 kHz, C = 10 pF, M = 1 H, Re/Rtmin) para diferentes valores de Re (suponiendo que vara
debido a un cambio de la resistividad del medio). Con la configuracin Schlumberger er es
insignificante en todos los casos. Sin embargo, ei es del 33 % con Re = 10 k. Para Re = 100 el
error ei es debido principalmente al acoplamiento inductivo M. Con la configuracin doble dipolo er
slo es significativo para Re = 10 k. En cambio ei es muy elevado en todos los casos. En las medidas
realizadas 7 m (resistividad del agua del grifo) por lo que Re 500 .
(m)
133
13,3
1,33
Re (k)
10
1
0,1
Schlumberger
Doble dipolo
er (%)
ei (%)
er (%)
ei (%)
4,17e-2
4,17e-6
4,17e-8
33
3,65
3,65
2,04
2,04e-4
2,04e-6
1623
178
178
Tabla 4.1. Errores relativos mximos en la parte real e imaginaria de la impedancia para el sistema
de laboratorio (f = 1 kHz, C = 10 pF, M = 1 H).
Si la variaci
n de Re se produce por un cambio en la profundidad que estn introducidos los
electrodos en el agua, para el cculo de los errores hay que considerar tambin el cambio producido en
Re/Rtmin.
Como veremos ms adelante, el sistema de campo permite configuraciones de slo 8 electrodos.
Con la configuraci
n Schlumberger Rt es mnima cuando inyectamos entre los electrodos 1-8 y
detectamos entre los electrodos 4-5. Su valor es
Rtmin =
V dmin
= 0,167
I
2d
(4.29)
4-16
Instrumentacin
Con la configuraci
n doble dipolo Rt es mnima cuando inyectamos entre los electrodos 1-2 y
detectamos entre los electrodos 7-8. Su valor es
Rtmin =
V dmin
= 0,0095
I
2d
(4.30)
Si los electrodos se introducen 5 cm en el terreno Re = 9,54 (Apndice C). La relacin Re/Rtmin con d =
3
1 m es de 360 para la configuraci

n Schlumberger y de 6,3110 para la configuracin doble dipolo.
La Tabla 4.2 muestra los errores relativos mximos para las medidas de campo con 8 electrodos.
Los errores se han calculado para diferentes valores de Re suponiendo f = 1 kHz, C = 100 pF, M =
10 H, y Rtmin.
R (k)
Schlumberger
Doble dipolo
er (%)
ei (%)
er (%)
ei (%)
10
5,68
453
99,6
7,94e3
5,68e-2
5,68e-4
49,8
0,996
872
49,8
9,96e-3
872
0,1
Tabla 4.2. Errores relativos mximos en la parte real e imaginaria de la impedancia para las medidas
de campo con 8 electrodos (f = 1 kHz, C = 100 pF, M = 10 H).
Los errores relativos de la parte imaginaria son tan altos en todos los casos, que hacen intil su
medida. Para la configuraci
n Schlumberger, el error en la parte real es del orden del 5 % si Re = 10
k. El error con la configuraci
n doble dipolo es unas 20 veces mayor. Adems, pequeos errores en la
fase de la seal de sincronismo del demodulador pueden producir errores elevados, debido a que parte
de la componente en cuadratura afecta a la parte real de la seal demodulada (Palls, 1993). Una
alternativa a la detecci
n homodina vista es el muestreo sncrono en cuadratura (Palls, 1993). En este
caso los errores relativos ei y er seran los mismos.
Para reducir los errores provocados por el acoplamiento capacitivo e inductivo se puede
disminuir la frecuencia de la se
al. Sin embargo, como hemos comentado anteriormente, la
impedancia de electrodo aumentarascomo el ruido en las medidas provocado por las interferencias
de origen industrial (50 Hz) y las corrientes telricas. En el sistema de laboratorio existe otro motivo
para trabajar a frecuencias altas (1 kHz). Cuando introducimos objetos metlicos para simular la
presencia de estructuras y cuerpos conductores se produce el efecto de polarizacin elctrica en la
interfaz del conductor y el medio (el agua con iones disueltos). La impedancia elctrica de la interfaz
se puede modelar por el circuito equivalente de Figura 4.9, donde C es la capacidad de la interfaz, Z
es una impedancia de reacci
n y W es una impedancia de difusin (Guptasarma, 1983). A frecuencias
-1/2
altas W decrece con la frecuencia como [2jf] . La impedancia total es despreciable a altas
frecuencias, crece con una disminuci
n de la frecuencia y adquiere un valor elevado en continua. De
hecho el proceso es el mismo que ocurre en la interfaz electrodo-medio (Apndice C). Por lo tanto, a
4-17
frecuencias bajas el conductor se comportarcomo un objeto aislante, mientras que a frecuencias
altas se comportar como realmente se esperaba de l. Entre estos dos extremos la resistividad
aparente es compleja. Normalmente la frecuencia utilizada cuando se trabaja con modelos de
laboratorio es de 1 kHz. Guptasarma (1983) muestra que la frecuencia a la que un objeto conductor
se comporta como tal depende no s
lo del material del objeto y del electrolito, sino tambin de la forma
y tamao del cuerpo, de su disposici
n relativa respecto a la agrupacin de electrodos y de la
configuraci
n electr
dica utilizada. Franco (1999) muestra que la frecuencia de 1 kHz es suficiente
para las medidas realizadas en la cubeta de la Figura 4.5 con cilindros y esferas metlicas. De hecho,
el cambio de la impedancia de los objetos conductores con la frecuencia podra ser aprovechado para
detectar su presencia. En tomografa mdica, se aprovecha el hecho de que la impedancia elctrica de
los tejidos cambia con la frecuencia para obtener imgenes multifrecuencia del cuerpo humano (Riu,
1991).
C
Figura 4.9. Circuito equivalente de la interfaz conductor-medio.
Los errores considerados anteriormente son bastante pesimistas, ya que los acoplamientos
capacitivos e inductivos pueden ser menores. En el Apndice D se comenta una estrategia para
reducir esta interferencia disponiendo adecuadamente los cables. Adems, cuando medimos
Rtmin los electrodos inyectores y detectores se hallan bastante separados (tanto en la configuracin
Schlumberger como en la doble dipolo) y es probable que tambin los cables, reducindose el
acoplamiento entre el inyector y el detector.
Si el medio tiene un comportamiento resistivo a la frecuencia de trabajo, como ocurre en las
medidas de laboratorio y en las medidas de campo realizadas, slo interesardetectar la componente en
fase de la se
al (parte real de la impedancia). En este caso el error en las medidas se puede reducir
inyectado se
ales cuadradas y muestreando en la zona plana de la seal detectada (Gasulla et al.,
1998a), una vez el efecto de la interferencia haya desaparecido (Figura 4.10). Este hecho es
independiente de la disposici
n de los cables y la configuracin electrdica utilizada.
T/2
tm
4-18
Instrumentacin
Figura 4.10. Muestreo sncrono utilizando seales cuadradas
Para analizar la respuesta a una se

al cuadrada, veremos primero la respuesta al inyectar un
escaln. La transformada de Laplace de un escaln de corriente de valor de pico Ip es Ip/s. Por lo tanto,
la tensin detectada ser
V d ( s) =
I p Rt + s[Rt C (R1 + R2 ) + 2 R1 R2 C + 2M ] + s 2 C [2 M (R1 + R 2 )]

s
1 + sC (R1 + R2 )
(4.31)
que se puede expresar como
R
2 R1 R2 C
V d ( s) = I p 2 M + t +
s 1 + sC ( R1 + R2 )
(4.32)
En el dominio temporal
t
R1 R2 ( R1 + R2 )C
v d (t ) = I p 2 M (0) + Rt + 2
e
R1 + R2
u (t )
(4.33)
donde (0) es la delta de Dirac y representa un impulso infinito en el instante inicial, y u(t) es un
escaln unidad. Si se muestrea al cabo de un instante tm la seal detectada ser
t m
R1 R2 ( R1 + R2 )C
v d (t m ) = I p Rt + 2
e
R1 + R2
u (t )
(4.34)
y el error relativo
t m
2
(R1 || R2 )e ( R1 + R2 )C
er =
Rt
(4.35)
Si en vez de un escal
n se considera ahora una seal cuadrada, de perodo T, esta se puede
representar como
i (t ) = I p u (t ) +
La seal detectada ser
(1) 2u(t nT )
n =1
(4.36)
Instrumentaci
n
4-19
R1 R2 ( R1 + R2 )C
v d (t ) = I p 2M (0) + Rt + 2
e
R1 + R2
u (t ) +
(1) 2u(t nT )
n =1
(4.37)
Si se muestrea en los instantes tm + nT, con n entero, y se cumple (R1+R2)C << T, el error relativo
es
tm
er =
4
(R1 || R2 )e ( R1 + R2 )C
Rt
(4.38)
es decir, el doble que el calculado para una seal escaln. En el peor caso (C=100pF, R1=R2=10 k,
Rtmin)
t
er =
Re 10 6 2m
e
Rtmin
(4.39)
Con una se
al de frecuencia 1 kHz (T = 1 ms), si escogemos T/4 tm T/2, er es despreciable para las
medidas de laboratorio y de campo utilizando cualquiera de las dos configuraciones.
Muchos generadores comerciales no tienen una salida de corriente. En estos casos habra que
inyectar una tensi
n y medir la corriente que circula por el terreno a travs de una medida indirecta
(Figura 4.2). En este caso la funci
n de transferencia resultante ser
Vd ( s)
Rt + s[Rt C (R1 + R2 ) + 2 R1 R2 C + 2M ] + s 2 2CM (R1 + R2 )
=
V g ( s ) Rt + 2 R1 + s[CRt (R1 + R2 ) + 2CR1 R 2 + 2 L ] + s 2 2 LC (R1 + R2 )
(4.40)
donde Vg es la se
al generada. Para una seal senoidal, si se muestrea en fase con la corriente
inyectada el error viene dado por (4.24) y (4.25). Pero si se muestrea en fase con la tensin inyectada
(la referencia de corriente que da la resistencia Ro puede que no sea de suficiente calidad), el error
relativo se puede aproximar, con el margen de valores descritos, por
er =
2 c2 2 2
C R2 R1 + C ( LR2 MR1 ) + LM R1
Rt
2 c ( R1 R 2 C + M )
ei =
Rt
]
(4.41)
Para las medidas de campo los errores mximos se producen para f = 1 kHz, C = 100 pF y R1 = R2
= 10 k, siendo ermin 2,84 % para la configuracin Schlumberger y ermin = 49,8 % para la
configuraci
n doble dipolo. Estos errores son la mitad que los obtenidos muestreando en fase con la
corriente (Tabla 4.2).
4-20
Instrumentacin
El anlisis del error al inyectar una tensin cuadrada es en este caso bastante ms complejo. Por ello
se calculan por separado los errores debidos a los acoplamientos capacitivos y inductivos. Si
consideramos que L = M = 0, el error relativo de la componente en fase es
tm
4R
er = 1 e CR2
Rt
(4.42)
Si ahora consideramos C = 0 y M = L resulta

R
er =
4 R1 L1 t m
e
Rt
(4.43)
donde el error debido al acoplamiento inductivo es mayor para valores bajos de la impedancia de
electrodo. Como en el caso de inyecci
n de corriente, si T/4 tm T/2 el error es despreciable y
mucho menor que utilizando se
ales senoidales.
En definitiva, es mejor utilizar se
ales cuadradas y muestrear entre T/4 y T/2, una vez el efecto de
la interferencia haya desaparecido (Figura 4.10). Los resultados experimentales confirman estas
predicciones te
ricas (Gasulla et al., 1998a). Adems, si se inyecta corriente, el acoplamiento inductivo
no influye en la medida.
Otra alternativa para reducir la interferencia capacitiva sera reducir el valor de C
apantallando los cables y conectando la malla al terminal de referencia del detector. Sobre el terreno,
donde las distancias sern de varios metros, esta solucin puede resultar cara debido al coste del cable
apantallado. Adems, puede reducir excesivamente la impedancia de entrada del detector a
frecuencias de 1 kHz, lo que puede repercutir en un empeoramiento del CMRR. Por ejemplo, con un
cable coaxial de 100 pF/m y longitud 10 m, la capacidad de entrada sera 1 nF. La tcnica expuesta
anteriormente solventa el problema de los acoplamientos capacitivos para los valores que podemos
esperar, sin necesidad de utilizar cables coaxiales y complicar el conexionado.
4.3.4. Reduccin de la tensin de modo comn
La expresi
n (4.18) da la relaci
n entre la tensin en modo comn y la tensin diferencial. Si las
impedancias se consideran resistivas esta relacin es
Vc Re
=
Vd Rt
(4.44)
cuyo valor puede ser elevado como se ha visto en el apartado anterior (Re/Rtmin), sobre todo para la
configuracin doble dipolo.
Instrumentaci
n
4-21
Para reducir el error que dicha tensin provoca en la medida hace falta un detector con un CMRR
muy elevado. Esto es difcil de conseguir y ms si se tiene en cuenta el posible desapareamiento de las
impedancias de los electrodos detectores. Otra alternativa, que es la adoptada aqu, es reducir la
La Figura 4.11 muestra el esquema circuital del sistema cuando se separan las masas del
inyector y del detecto. Zd y Zc son las impedancias diferenciales y en modo comn del amplificador de
entrada, y Zais es la impedancia de aislamiento entre las masas. Si Zd >> Ze la tensin de modo comn
entre las entradas y la referencia del detector ser
Vc' = V c
V gen
Zd 2+ Zc
Zd 2 + Zc
Z ais + Z d 2 + Z c
2 Z ais + Z d 2 + Z c
(4.45)
que es mucho menor que la tensi

n en modo comn Vc si Zais >> Zd, Zc
Ze 1
Ze 3
Zd
Vgen
Zt
Zer
Ro
Ze 2
Zd
Zc
Ze 4
Zais
Figura 4.11. Esquema circuital del sistema de inyeccin-deteccin con las masas separadas
Pero si la impedancia de aislamiento, que bsicamente es la capacidad parsita entre las fuentes de
alimentaci
n del inyector y detector, se hace comparable a Zd, Zc, entonces la reduccin de la tensin de
modo com
n no es efectiva. La soluci
n pasa por conectar un electrodo adicional (quinto electrodo)
desde la masa del detector al suelo, en un punto equidistante de los electrodos de medida (Figura
4.12).
Ze
Ze
Zd
V gen
Zt
Zer
R0
Ze
5elc
Zd
Zc
Ze
Zais
Figura 4.12. Circuito equivalente del sistema de inyeccin-deteccin con las masas separadas. Un
electrodo adicional conecta la masa del detector al suelo.
4-22
Instrumentacin
La Figura 4.13 muestra el circuito equivalente de esta ltima configuracin, que equivale a un
sistema compuesto de un instrumento de medida diferencial flotante conectado a un generador de
seal diferencial con una tensi
n en modo comn. Palls y Rosell (1995) demuestran que esta solucin es
mejor que si el instrumento de medida es de entrada unipolar flotante.
Vd
Ze
Zd
Ze
Zd
Zc
Vc
Zer
Zais
Figura 4.13. Generador de seal diferencial con una tensin en modo comn conectado a un
instrumento diferencial flotante
La tensin en modo com

n que cae en el detector se reduce considerablemente en este caso. Si las
impedancias de electrodo Ze y Zer son mucho menores que el resto de las impedancias del circuito, la
tensin en modo com
n que cae en el detector es
Vc' Vc
Z er
Z ais
(4.46)
donde Zer es la impedancia del quinto electrodo, que es mucho menor que la impedancia de
aislamiento Zais.
En la prctica este quinto electrodo se conectara un punto lejano de la agrupacin de electrodos. La
Figura 4.14 muestra el circuito equivalente en este caso, donde Vc1 es la tensin entre la referencia del
generador y el quinto electrodo, y Vc2 es la tensin entre ste y el punto medio entre los electrodos
detectores. La tensi
n en modo com
n que cae en el detector es ahora
Vc' Vc1
Z er
+ Vc 2
Z ais
(4.47)
Para la configuraci
n Schlumberger (con 16 electrodos) Vc2 < 2,25Vd y para la configuracin doble
dipolo Vc2 < 7Vd.
Instrumentaci
n
4-23
Vd
Ze1
Zd1
Ze2
Zd2
Zc
Vc2
Vc1
Zer
Zais
Figura 4.14.Generador de seal diferencial con una tensin en modo comn conectado a un
instrumento diferencial flotante
4.4. Segundo sistema de laboratorio

La Figura 4.15 muestra la arquitectura del segundo sistema de laboratorio implementado
(Gasulla, Jordana y Palls, 1998a). Este segundo sistema sustituye el osciloscopio y la sonda
diferencial del sistema PROGEO (Figura 4.3) por el multmetro HP3478A y el Detector de
Impedancia Elctrica del Subsuelo DIES (Garca, 1999). Este detector implementa las mejoras
descritas en los apartados 4.3.3 y 4.3.4 para reducir el acoplamiento electromagntico entre el
inyector y el detector y el efecto de la tensin en modo comn.
4-24
GPIB
GPIB
METRABUS
GENERADOR
HP3245A
MULTMETRO
HP3478A
RS-232
V0
Sincronismo
DETECTOR
DIES
Ro
LCUR
HCUR
TARJETAS
MEM32A
KEITHLEY
LVOLT
HVOLT
(matriz 4x8 2x16)
Electrodos equiespaciados
paso interelectrdico a
Figura 4.15. Arquitectura del sistema de laboratorio basado en el detector DIES.
En el captulo 3 se definila visibilidad como la anomala mxima que produce un objeto en la

superficie. La visibilidad mnima viene limitada por el ruido geolgico, por los errores en la posicin de
los electrodos y por la exactitud del detector. Algunos autores (Habberjam, 1969; Van Nostrand,
1953; Roy y Rao, 1977) suponen una visibilidad mnima de 0,1 (10 %) para que el objeto sea
detectable. En las medidas de laboratorio esta visibilidad mnima puede ser menor ya que las
condiciones son ms ideales. Una visibilidad de 0,01 (1 %) exige que el detector tenga una relacin
El error que provoque la tensi

n en modo comn a la salida del detector tambin ha ser menor que
0,1 %. Si las masas del inyector y del detector estn unidas, la tensin en modo comn puede ser muy
elevada, y, por lo tanto, el CMRR tendra que ser muy grande. Una solucin, como hemos visto, es
referenciar la masa del detector a un punto del suelo, alejado de la agrupacin de electrodos. Si en
(4.47) consideramos Zais >> Zer tenemos que la tensin en modo comn no sermayor que 7 veces la
tensin diferencial. Por lo tanto, CMRR = 77 dB es suficiente. Este requisito se puede conseguir con
el demodulador sncrono totalmente diferencial (Gasulla et al., 1996). Sin embargo, el CMRR puede
venir limitado por el despareamiento de las impedancias de los electrodos detectores.
Instrumentaci
n
4-25
4.4.1. Descripcin del detector DIES

La Figura 4.16 muestra un esquema de bloques del detector implementado (Garca, 1999).
ELECTRODOS
CONMUTACION
M
N
F.P.A
+
Proteccin
Terminales
R0
DEMODULADOR
A.I
+
F.P.B.
Detector
Saturacin
MICROCONTROLADOR
PIC16C71
Control
Sincronismo
Adquisicin
Figura 4.16. Esquema de bloques del detector DIES.
El detector mide secuencialmente la diferencia de tensin entre los electrodos M y N (Vd), y la cada
de tensin en la resistencia de referencia R0. (V0) El bloque de conmutacin selecciona una u otra
entrada. A partir de estas dos medidas obtenemos la resistencia del terreno como
Rt =
Vd
R0
V0
(4.48)
El filtro paso alto de entrada bloquea el potencial electroqumico de electrodo. El circuito de

proteccin evita que tensiones elevadas daen el sistema. La ganancia del detector es programable y est
repartida entre un amplificador de entrada y otro de salida. El demodulador convierte la seal alterna
a la salida del primer amplificador en una seal continua a la entrada del amplificador de
instrumentaci
n. Este
ltimo convierte la seal diferencial en unipolar. A la salida del amplificador de
instrumentaci
n hay un filtro paso bajo de segundo orden con frecuencia de corte a 5 Hz. El detector
de saturaci
n indica si la entrada del demodulador estsaturada. La frecuencia de trabajo es de 10 Hz
a 10 kHz.
Un microcontrolador recibe
rdenes del PC va el puerto RS232 y controla la conmutacin, la
ganancia y el demodulador. Para sincronizar el detector con la seal inyectada en el terreno se utiliza
4-26
una seal de sincronismo proveniente del generador. Como las masas del generador y el detector estn
separadas la se
al de sincronismo y las se
ales de control del puerto RS232 estn optoacopladas. La
tensin (de salida) demodulada y filtrada del detector tambin puede obtenerse optoacoplada.
Cuando medimos la tensi
n entre los electrodos M y N, la refer
quinto electrodo para disminuir la tensi
n en modo comn. Por el mismo motivo cuando medimos la
R0 la masa del detector se conecta a un terminal de sta. La Figura
4.17 muestra el esquema del sistema de conmutacin.
Electrodo M
Entrada 1
detector
Electrodo N
R0
quinto
electrodo
Entrada 2
detector
Referencia
detector
Figura 4.17. Esquema del sistema de conmutacin
El detector se ha dise
ado para ser utilizado tambin en el sistema de campo (apartado 4.5) donde
las tensiones inyectadas pueden ser de hasta 100 Vp. Por lo tanto el sistema de conmutacin debe
soportar tensiones entre sus contactos y entre stos y la seal de control de hasta 100 V. Esto se puede
conseguir con rels
pticos, por ejemplo la serie OCM-200 (Oki). Sin embargo, dada la dificultad de
encontrarlo en el mercado, incluso alguno de similares caractersticas, se opt por utilizar rels
mecnicos. Los rels G6AK-434 (Omron) utilizados son de enclavamiento para reducir el consumo.
La Figura 4.18 muestra el circuito de proteccin. Los diodos zener limitan la tensin de entrada a
una valor inferior a la tensi
n de alimentacin (8 V). Las resistencias estn dimensionadas para
soportar tensiones de hasta 100 V.
Instrumentaci
n
4-27
2k2 / 5 W
6,8 V
F.P.A
2k2 / 5 W
6,8 V
Figura 4.18. Esquema del circuito de proteccin de entrada.
El filtro diferencial (Figura 4.19) paso alto elimina el potencial de polarizacin de los electrodos.
La impedancia diferencial de entrada ha de ser grande en comparacin con la impedancia de
electrodo. Se escoge R1 = 2,2 M. La frecuencia de corte a 3 dB (fc) ha de ser bastante menor que
la frecuencia mnima de trabajo (10 Hz) para no deteriorar la seal de entrada y el CMRR. Pero a
menor fc, mayor serel tiempo de respuesta del filtro y, por tanto, el tiempo de estabilizacin de la
medida. Para C = 100 nF, fc = 0,7 Hz y = R1C = 220 s. Si R2 >> R1 el CMRR del filtro aumenta
por un factor 2R2/R1 (Casas y Palls, 1996), pero el tiempo de respuesta para las seales en modo
comn aumenta por el mismo factor, por lo que se ha escogido R2 = 0.
C
R2
R1
R1
C
Figura 4.19. Filtro diferencial paso alto
Para mejorar el CMRR global del detector, la conversin de la seal diferencial a unipolar se realiza
despus de la demodulaci
n (Palls y Casas, 1996). El amplificador previo al demodulador, pues, ha de
ser totalmente diferencial. La Figura 4.20 muestra un amplificador de este tipo, donde para
conseguir un elevado CMRR s
lo es necesario utilizar amplificadores operacionales apareados, sin
4-28
Instrumentacin
R1 = 4,99 k, R2
= 3 k, R3 = 1 k, R4 = 2 k (1 % tolerancia) permiten seleccionar una ganancia de 1, 2, 5 y 10.
La ganancia se selecciona automticamente con los multiplexores DG509. Los amplificadores
necesidad de aparear las resistencias (Palls y Webster, 1991). Las resistencias
operacionales (OP249) son de entrada FET y de bajo offset.
R1
R2
R3
R4
R3
R2
R1
Figura 4.20. Amplificador de entrada y salida diferencial con ganancia programable
La etapa de demodulaci
n estbasada en la tcnica de capacidad flotante (Figura 4.21). Primero, los
interruptores S1, S2, se cierran durante un corto perodo de tiempo tS (tiempo de muestreo) y CS se
carga a la tensi
n diferencial de entrada Vd. Luego, los interruptores S1, S2, se abren y los
interruptores S3, S4 se cierran durante un tiempo ms largo tH (tiempo de retencin), por lo que la
carga almacenada en CS es compartida por CH. Gasulla et al. (1996) demuestran que el CMRR
mejora si la salida es diferencial. Los mismos autores (Gasulla et al., 1998b) analizan este circuito
cuando se utiliza como parte integrante de amplificadores o multiplexores. El perodo de muestreo T
coincide con el de la se
al detectada y el sincronismo se obtiene de una salida auxiliar del generador
HP3245A (Figura 4.15). El instante de muestreo se produce en T/4 (Figura 4.10), una vez el efecto
de la interferencia ha desaparecido, y el ciclo de trabajo tS / (tS + tH) = 10 %. La seal de salida V0 es
una continua cuyo valor es la amplitud de la seal cuadrada de entrada Vi.
Instrumentaci
n
4-29
S1
S3
CH
CS
Vd
S2
Vo
S4
Figura 4.21. Circuito de capacidad flotante.
El circuito de la Figura 4.22, con CS = 1 F, realiza la misma funcin que el circuito anterior y es
ms sencillo. Adems, el CMRR es ligeramente mejor a frecuencias de 10 kHz, por lo que este circuito
serel implementado. El integrado MAX301 se utiliza para implementar los interruptores.
Vd
CS
V0
Figura 4.22. Circuito demodulador implementado.
La etapa de salida estformada por el amplificador de instrumentacin programable PGA205 con

ganancias 1, 2, 4, 8, y un filtro paso bajo activo de segundo orden con fc = 5 Hz. El amplificador
convierte la se
al diferencial a unipolar. Como la seal a su entrada es continua (la seal ha sido
demodulada) el CMRR es elevado. La salida del filtro paso bajo se puede conectar directamente o a
travs de un optoacoplador al multmetro HP3478A. Adems, el detector se ha aislado pticamente del
resto de las masas del sistema (PC, generador de funciones).
Para controlar el detector se utiliza el C PIC16C71 (Microchip), que tiene cuatro funciones
principales:
Establecer un dilogo de comunicacin con el PC a fin de interpretar las rdenes enviadas por ste a
Seleccionar las ganancias de las etapas de entrada y salida.
Controlar el sistema de conmutaci
n de entrada
Controlar los interruptores del demodulador sncrono.
La alimentaci
n del detector es aproximadamente de 8 V a partir de una fuente de alimentacin o
de dos bateras recargable de Ni-Cd si se quiere tener un aislamiento mayor del detector respecto a la
4-30
La ganancia del detector es programable entre 1 y 80. El margen de tensiones admisibles a la
entrada es de 5V a +5V. El CMRR global es de 90 dB a todas las frecuencias (10 Hz a 10 kHz).
La exactitud de la medida es mejor al 0,1% FE.
4.4.2. Interferencia de la red elctrica
La Figura 4.23 presenta un modelo de las interferencias producidas por la red elctrica
Re
V1
Cp
Re
Zd
Vg
Rt
R0
Vr
Zer
Re
Zc
Zd
Re
5elc
V2
Cf
Cp
Zais
Figura 4.23. Modelo de las interferencias de la red elctrica
La capacidad Cf representa el acoplamiento entre la tensin de red y la masa del detector, por
ejemplo cuando el detector contiene un transformador de alimentacin. En este caso tambin es mucho
ms ventajoso utilizar el quinto electrodo, ya que la corriente de fugas circular a travs de la
impedancia de electrodo. Esta corriente de fugas provocaruna tensin de modo comn de valor
Vc' = Vc
donde Zf
Z er
Zf
(4.49)
es la impedancia debida a la capacidad de fugas. Por lo tanto, conviene utilizar
instrumentos con corrientes de fugas pequeas, utilizando transformadores con pantallas entre el
primario y el secundario si es necesario (Palls y Rosell, 1995). Una solucin alternativa puede ser la
utilizacin de bateras para alimentar el detector.
La capacidad Cp representa el acoplamiento capacitivo entre la red elctrica y los cables
detectores. Si consideramos que Zd >> Re >> Rt, la seal a la entrada del detector debida a la seal de
la red elctrica a 50 Hz, Vr, viene dada por
V dr ( s) =
y la debida a la se
al del generador
Re C p s
1 + Re C p s
Vr (s)
(4.50)
4-31
V dg ( s ) =
Rt
V g ( s)
2 Re
(4.51)
El sincronismo del detector esten fase con la seal del generador y por tanto muestrearen el pico
de vdg. La se
al detectada antes de amplificar ser
v di =
Rt
V gp
2 Re
(4.52)
donde Vgp es la tensi

n de pico del generador. Sin embargo, al no estar en fase con la seal de la red
elctrica, el muestreo es posible en cualquier punto de la seal vdr. En el peor caso, muestrearemos en
el valor de pico. La se
al detectada en este caso ser
Re C p 2f
v de =
1 + Re C p 2f
Vrp
(4.53)
donde f = 50 Hz y Vrp es la tensi

n de pico de la seal de red. El error relativo en la medida ser
er =
4fRe2 C p
v de
=
v di R 1 + 2fR C
t
e p
Vrp
V gp
4fRe2 C p Vrp
Rt
V gp
(4.54)
donde, para realizar la aproximaci

n, se ha tenido en cuenta que Cp serdel orden de los picofaradios y
Re del orden de los kiloohmios. En el sistema de laboratorio (16 electrodos) se ha considerado Re = 1
k, Cp = 10 pF, Vgp = 10 V y Vgr = 311 V. Para la configuracin Schlumberger ermax = 5,16 % (Re/Rt
4
= 264) y para la configuraci
n doble dipolo ermax = 252 % (Re/Rt = 1,2910 ). El sistema de campo,
como veremos en el apartado 4.5, dispone de un amplificador capaz de inyectar 100 Vp en el terreno.
Para calcular el error relativo se consideran los mismos valores para Re, Cp, Vgr, y Vgp = 100 V. Para
la configuraci
n Schlumberger ermax = 0,70 % (Re/Rt = 360) y para la configuracin doble dipolo ermax =
3
12,3 % (Re/Rt = 6,3110 ). En el clculo del error no se han tenido en cuenta las corrientes de origen
industrial que pueden circular por el subsuelo o la presencia de cables de alta tensin, donde la tensin
Estos errores son importantes (sobre todo para la configuracin doble dipolo) y conviene disminuirlos.
De hecho, los errores presentados son bastantes pesimistas, ya que es probable que las capacidades
de cada cable al terminal alto y bajo de la tensin de red sean similares y, por tanto, la interferencia
disminuir. Una soluci
n parcial sera apantallar los cables, pero segn ya se ha comentado, adems de
encarecer el precio de los cables, complicara el conexionado y aumentara la capacidad de entrada del
detector. Si se va a trabajar con frecuencias del orden de 1 kHz se puede poner un filtro paso alto a
la entrada del detector con una frecuencia de corte superior a 50 Hz, pero esto puede degradar
4-32
Instrumentacin
bastante el CMRR del filtro diferencial de entrada del detector (Casas y Palls, 1996). El filtro
pasabajas a la salida del detector reduce por 100 la interferencia de 50 Hz. Adems, en el laboratorio,
la seal se mide con el multmetro HP3478A que presenta un rechazo elevado a dicha frecuencia.
4.5. Sistema de campo

La Figura 4.24 muestra la arquitectura del primer sistema implementado para realizar medidas de
campo (Llorens, 1998). El generador y el detector se desarrollaron independientemente (Brescol,
1995). El generador proporciona se
ales cuadradas de hasta 200 V de pico, con corriente limitada a
10 mA de pico. El margen de frecuencias es de 1 Hz a 100 kHz. La alimentacin es de 12 V para
poder conectarla a una batera. El PC selecciona, va RS232, la tensin de salida y la frecuencia del
generador. El detector proporciona a su salida una seal continua proporcional a la seal de pico de la
entrada, y mide consecutivamente la tensin presente en los electrodos detectores y en la resistencia
Ro. El PC selecciona, tambin va RS232, la ganancia del detector. La alimentacin es de 8 V. El
sistema de conmutaci
n estformado por 4 tarjetas DBK25 (IOTECH), de 8 rels de enclavamiento (y
bajo consumo) cada una. La adquisici
n se realiza con el mdulo Daqbook120 (IOTECH), que se
conecta al PC a travs del puerto paralelo. A travs de su puerto P1 permite adquirir la seal continua
a la salida del detector. A travs de su puerto P2 controla las tarjetas de rels. El PC es porttil
(KONTRON, modelo IN Lite) con una CPU i486-DX4 a 75 MHz y una memoria RAM de 8
Mbytes. La programaci
n para el control del sistema se ha realizado en Visual Basic. Las piquetas
son de acero inoxidable de dimetro 1 cm, longitud 20 cm y acabadas en punta para una mejor
El generador MIES presenta el problema de que la corriente de salida es muy limitada. Si, por
ejemplo, inyectamos tensiones de pico de 200 V la impedancia suma de los dos electrodos inyectores
no puede ser menor a 20 k. Una opci
n es disminuir la tensin del generador, pero tambin disminuir
la tensin detectada, y, por lo tanto, empeorarla relacin seal a ruido.
4-33
RS-232
RS-232
Puerto Paralelo PC
P5
GENERADOR
MIES
DETECTOR
MIES
Daqbook120
P1
P2
Ro
LCUR
TARJETAS
RELES
HCUR
(matriz 4x8 2x16)
LVOLT
HVOLT
a
Figura 4.24. Sistema para medidas de campo utilizando el generador MIES
Para superar esta limitaci

n en la amplitud de las se
ales inyectadas, se ha empleado un equipo
comercial, el amplificador BOP 100-2M (Kepco) que proporciona 100 V y 2 A de pico, y que puede
trabajar como fuente de tensi
n o de corriente. Su ancho de banda es de 22 kHz y 15 kHz, y la
pendiente de su salida (slew-rate) es de 10 V/s y de 0,15 A/s respectivamente. Dado que trabaja
como amplificador, necesita un generador a la entrada, que puede ser convencional. La alimentacin
del amplificador y del generador es de 220V/50Hz, y se realiza mediante un grupo electrgeno EX
1000 (Honda) con una potencia mxima de salida de 850 W. La potencia mxima de entrada del
amplificador BOP 100-2M es de 450 W.
La corriente inyectada en el terreno ser
Vg
2 Rc
(4.55)
4-34
Instrumentacin
n del generador y Rc es la resistencia de contacto de los electrodos (Apndice C).
Las tensiones mxima y mnima para la configuracin Schlumberger con 8 electrodos son
V dmax =
V dmin
Vg
=
2d 4dRc
Vg
= 0'167
= 0,167
2d
4dR c
(4.56)
donde d es la distancia entre dos electrodos consecutivos. La tensin detectada se puede expresar,
pues, en funci
n de la corriente o de la tensin inyectada por el amplificador en el terreno.
d se escoge en funci
n de la profundidad h que se quiera explorar. La seccin 3.4
mostrque para una calicata Schlumberger se ha de cumplir d < 0,5h y L > 4h, donde L es la
distancia mitad de los electrodos inyectores. Con 8 electrodos equiespaciados L = 3,5d, por lo que no
se pueden cumplir ambos requisitos. Una solucin de compromiso es escoger d = 0,75h (L = 2,63h).
Para h = 5 m, d = 3,75 m. Si las piquetas, de radio 0,5 cm, se clavan 15 cm en el suelo, la
resistencia de contacto serde 4,35 (Apndice C). Sustituyendo se llega a
V dmax = 4,90 10 3 V g
V dmin = 0,813 10 3 V g
(4.57)
Cuanto mayor sea Vg mayor serla tensin detectada, lo cual es deseable para mejorar la relacin
seal a ruido (S/N) del detector. Con la tensin mxima del generador de 100 V de pico, las tensiones
mxima y mnima detectadas sern de 490 mV y 81,3 mV respectivamente. Esto se cumplirsiempre y
cuando la corriente inyectada sea inferior a 2 A, que corresponde a resistividades mayores que
5,75 m. Por debajo de esta resistividad la salida del amplificador vendrlimitada por la corriente
mxima de 2 A y las tensiones detectadas sern
(V )
= 0'167 (V )
V dmax =
V dmin
(4.58)
Para la configuraci
n doble dipolo, si la corriente es menor que 2 A, Vdmax = 261 mV y Vdmin = 4,66
mV
La Figura 4.25 muestra el sistema implementado finalmente, donde la programacin de la
amplitud y frecuencia del generador es manual, a fin de simplificar el sistema. El detector DIES
(Garca, 1999) fue descrito en el apartado 4.4.1. Su ganancia es programable va RS232 y puede
variar entre 1 y 80. El margen de tensiones admisibles a la entrada es de 5V a 5V. El conversor
4-35
A/D del Daqbook120 es de 12 bits (72 dB), con una tensin a fondo de escala de 5 V. La resolucin
en las medidas, con la ganancia del detector a 80, es de 15,2 V con una exactitud del 0,1% FE +
resolucin. Con una corriente de 2 A, la resolucin en la medida de impedancia es de 7,6 . La
resistencia mxima medible viene limitada por la impedancia de entrada del detector que es de 4,4
M. Los errores debidos al acoplamiento electromagntico entre inyector y detector, y a la tensin en
modo com
n ya han sido descritos en los apartados 4.3.3 y 4.3.4.
RS-232
GENERADOR
FUNCIONES
Puerto Paralelo PC
P5
Daqbook120
AMPLIFICADOR
BOP 100-2M
P2
DETECTOR
DIES
P1
Ro
LCUR
HCUR
TARJETAS
RELES
(matriz 4x8 2x16)
LVOLT
HVOLT
a
Figura 4.25. Sistema para medidas de campo utilizando el amplificador BOP 100-2M
4.6. Resumen
En los
ltimos a
os se han desarrollado sistemas automticos de medida para prospeccin geoelctrica
que permiten adquirir rpidamente un gran nmero de medidas. Sin embargo, estos equipos son
sistemas cerrados que no permiten al usuario seleccionar parmetros como la frecuencia de la
corriente inyectada o su forma de onda. Tampoco estn diseados para realizar medidas en prototipos
de laboratorios.
4-36
Instrumentacin
Se han implementado tres sistemas automticos de medida, dos de laboratorio y uno de campo.
Los sistemas de laboratorio permiten implementar cualquier configuracin electrdica sobre una
agrupacin de 16 electrodos. El sistema de campo permite trabajar con una agrupacin de 8 electrodos.
Los tres sistemas trabajan con se
ales alternas para eliminar el potencial de electrodo y disminuir la
impedancia de electrodo. Adems, a frecuencias cercanas a 1 kHz el campo elctrico interferente
presente en el subsuelo es mnimo (Sumner, 1985). La frecuencia mxima utilizable viene limitada por
la profundidad de penetracin y por el acoplamiento electromagntico entre el inyector y el detector.
El sistema PROGEO (Figura 4.3) utiliza instrumentos comerciales y permite la inyeccin de seales
senoidales y cuadradas de 10 Hz a 100 kHz. La conmutacin de los electrodos se realiza a partir de
dos tarjetas de 32 rels cada una. Un PC 386 controla el funcionamiento del sistema, realizando la
configuracin de los parmetros del sistema de medida, la edicin de la configuracin electrdica, la
ejecucin automatizada de las medidas y la visualizacin de los resultados. El sistema detecta la parte
real e imaginaria de la resistividad aparente. Las seales detectadas estn contaminadas por la tensin en
modo comn, por la interferencia electromagntica entre el inyector y el detector, y por la interferencia
a 50 Hz. El acoplamiento capacitivo e inductivo provoca errores mucho mayores en la parte
imaginaria de la impedancia. Adems, la configuracin doble dipolo es mucho ms sensible a estos
errores que la configuraci
n Schlumberger. Si se trabaja con cuerpos metlicos es conveniente utilizar
una frecuencia alta (1 kHz) para evitar la impedancia de la interfaz conductor-medio.
medidas de laboratorio y en las medidas de campo realizadas, slo interesardetectar la componente en
fase de la seal (parte real de la impedancia). En este caso el error en las medidas se puede reducir
inyectado seales cuadradas y muestreando en la zona plana de la seal detectada (Gasulla et al.,
1998a), una vez el efecto de la interferencia haya desaparecido. Este hecho es independiente de la
disposicin de los cables y la configuraci
n electrdica utilizada. El sistema de laboratorio basado en el
detector DIES (Figura 4.15) utiliza este mtodo. Adems, para reducir la tensin en modo comn, se
utiliza un electrodo adicional que conecta la referencia del detector con el suelo. La ganancia del
detector es programable entre 1 y 80. El margen de tensiones admisibles a la entrada es de 5V a 5V
8 V). El CMRR global es de 90 dB a todas las frecuencias de
trabajo (10 Hz a 10 kHz). La exactitud del detector es del 0,1% FE.
El sistema de campo (Figura 4.25) utiliza un amplificador comercial capaz de suministrar 100 V
y 2 A de pico. La adquisici
n se realiza con el detector DIES y el mdulo Daqbook120 (IOTECH). El
sistema de conmutaci
n esta formado por 4 tarjetas de 8 rels cada una. El PC utilizado es porttil. Para
alimentar el sistema se utiliza un grupo electrgeno con una potencia mxima de salida de 850 W.
Problema inverso
5-1
5. Problema inverso
Menke (1989) dice que el problema inverso es simplemente el conjunto de mtodos usados para
extraer informacin til de nuestro entorno a partir de medidas fsicas o datos. La informacin til
vendr especificada como valores numricos de alguna propiedad de este entorno. Estas
propiedades tambin se referirn como
mtodo especfico (normalmente una teora matemtica o modelo) que relaciona los par metros
con los datos. El problema inverso contrasta con el problema directo, donde se predicen los datos a
partir de los par metros y de un modelo. Normalmente el problema inverso es ms difcil de
resolver que su correspondiente problema directo.
La teora del problema inverso en su sentido ms amplio ha sido desarrollada por los
investigadores que trabajan con mtodos geofsicos. La razn es que dichos investigadores tratan
de entender el interior de la Tierra slo a partir de datos obtenidos desde la superficie. Sin embargo,
el problema inverso aparece en muchas otras ramas de las ciencias fsicas, como pueden ser la
tomografa mdica, el procesado de imagen o el ajuste de curvas. En nuestro caso los
sern las resistividades o conductividades del suelo, los datos sern las tensiones medidas en la
superficie y el modelo queda an por determinar.
5.1. Antecedentes
La interpretacin de los sondeos elctricos a fin de determinar las resistividades y espesores de
las capas en un medio estratificado ha sido un tema de investigacin desde principios de siglo.
Hasta la disponibilidad de ordenadores, el intrprete se basaba en los procedimientos de ajuste de
curvas. Desde que el problema directo para medios estratificados fue resuelto por medio de la
teora lineal de filtros (Gosh, 1971a, 1971b), han aparecido muchos trabajos que tratan sobre la
interpretacin automtica y numrica (Inman, 1975; Koefoed, 1979; Pous, Marcuello y Queralt,
1987; Zohdy, 1989).
En los ltimos aos ha habido un incremento en el uso de imgenes en dos dimensiones
(imgenes que representan una seccin transversal del subsuelo). Smith (1986) y Lowry y Shive
(1990) se basan en el mtodo de Bristow (Bristow, 1966), una tcnica grfica simple para detectar
cavidades en el subsuelo. La interseccin de las lneas equipotenciales de las medidas con valores
anmalos delimita de una forma cualitativa las cavidades. Los mtodos basados en la
retroproyeccin ponderada utilizan un concepto similar y provienen en gran parte de la tomografa
mdica (Barber y Brown, 1984; Kotre, 1994). Su implementacin en aplicaciones geoelctricas se
ha realizado con un cierto xito (Noel y Xu, 1991; Tsourlos et al., 1993). Estas tcnicas intentan
reconstruir una seccin de resistividad usando una suma ponderada de los potenciales medidos.
Generalmente estos mtodos son de un solo paso, aunque tambin se han utilizado versiones
iterativas (Yorkey y Webster, 1987; Tsourlos et al., 1993).
5-2
Problema inverso
Sin embargo, la mayora de tcnicas utilizan mtodos basados en el criterio de mnimos

cuadrados. En estos mtodos, debido a que el problema est mal condicionado, es necesario aplicar
tcnicas de regularizacin (Tikhonov y Arsenin, 1977). Matemticamente, un problema mal
condicionado es aquel en el que pequeas variaciones (o errores) en los datos provocan grandes
variaciones en los parmetros. Ello es debido a que los problemas geofsicos son indeterminados
por dos razones: la falta intrnseca de datos y los errores en los datos y en el modelo (Tarantola,
1987). Como resultado, el problema inverso no tiene una solucin nica, es decir, puede haber ms
de una solucin (conjunto de parmetros) que satisfagan los datos con un error prescrito. La
regularizacin consiste bsicamente en introducir alguna clase de informacin a priori (por ejemplo
minimizando la norma de los parmetros) para estabilizar el problema. Hua, Webster y
Tompkins (1988) comparan tres formas de penalizacin para regularizar el mtodo de
reconstruccin. Sasaki (1992) utiliza el mtodo de Occam (S. C. Constable, R. L. Parker y C.G.
Constable, 1987). Loke y Barker (1995) utilizan esta tcnica con solo una iteracin, a fin de
mejorar la velocidad del algoritmo. Los mismos autores (Loke y Barker, 1996a) implementan una
versin iterativa basada en un mtodo quasi-Newton que reduce el tiempo de clculo. Avis y
Barber (1994) implementan un mtodo de regularizacin basado en la tcnica SVD (Singular Value
Decomposition). Lines y Treitel (1984) revisan diversos mtodos de inversin basados en los
mnimos cuadrados y comentan la relacin entre el mtodo de Marquardt y la tcnica SVD. Ellis y
Oldenburg (1994) dicen que todas estas tcnicas de regularizacin intentan resolver algo imposible:
obtener unos parmetros nicos (aqu los parmetros son las conductividades) a partir de un
problema inverso que no tiene una solucin nica. Por ese motivo aducen que se ha de incluir en el
Aunque todas las estructuras geolgicas son de tres dimensiones (3D), en realidad las medidas y
los algoritmos que tengan en cuenta esta tercera dimensin han sido poco utilizados hasta la fecha.
Esto es debido sobre todo a la gran cantidad de medidas que se han de realizar y procesar. Por ello
se requiere una instrumentacin adecuada y ordenadores con gran capacidad de clculo.
ltimamente, la aparicin de sistemas de medida automticos y de algoritmos ms eficientes ha
comportado una mayor utilizacin de imgenes 3D. La mayora de los algoritmos vistos para el
caso 2D se pueden adaptar al caso 3D. Kotre (1996a) utiliza el mtodo de retroproyeccin
ponderada. Oldenburg, McGillivray y Ellis (1993) utilizan una tcnica de subespacios de vectores
de conductividades para reducir las dimensiones de las matrices. Escogiendo un nmero reducido
de vectores base logra reducir considerablemente el tiempo de clculo sin deteriorar excesivamente
las imgenes. Sasaki (1994) describe dos mtodos (uno completo y otro aproximado) que utilizan
el mtodo de Occam. Loke y Barker (1996b) adaptan su mtodo (Loke y Barker, 1996a) para el
caso 3D.
Los mtodos iterativos tienen que obtener en cada iteracin el modelo (la matriz de sensibilidad
o Jacobiana) y los datos usando algn mtodo numrico (elementos finitos, diferencias finitas). A
pesar de que algunos autores proponen tcnicas especiales (Oldenburg, McGillivray, y Ellis, 1993;
Loke y Barker, 1996b), el tiempo de clculo puede ser considerable, sobre todo en el caso 3D.
Adems, los algoritmos iterativos pueden tener problemas de convergencia. Los algoritmos de un
Problema inverso
5-3
solo paso son un caso particular donde slo se realiza la primera iteracin. Este hecho, junto con la
eleccin de un suelo homogneo como modelo de partida, reduce considerablemente el tiempo de
clculo (Loke y Barker, 1995). Los mismos autores comentan que las imgenes obtenidas tienen
que ser tomadas como una primera estimacin de la verdadera distribucin de conductividad del
subsuelo, que puede ser mejorada utilizando tcnicas iterativas. Gasulla, Jordana y Palls (1999)
muestran que esta primera estimacin es suficientemente buena para la deteccin de objetos
locales, que es el caso que nos ocupa. Adems se aplica un factor de correccin en las imgenes
que tiene en cuenta la no-linealidad del problema original. Por lo tanto, todos los algoritmos
implementados en este trabajo son de un slo paso.
5.2. Determinaci n del modelo

El captulo 2 define cmo realizar medidas de la resistividad aparente del subsuelo. Si el suelo
es homogneo podemos determinar su conductividad a partir de una sola medida. El apartado 3.4
describe una primera aproximacin al problema inverso al determinar la profundidad y el radio de
objetos esfricos y cilndricos con la calicata Schlumberger cuando el objeto equidista de los
electrodos inyectores. Este captulo aborda el problema inverso de forma ms general, al obtener
imgenes 2D y 3D de la distribucin de conductividad del subsuelo. En los siguientes apartados
describimos la teora matemtica en la que se basan los algoritmos de reconstruccin
implementados.
5.2.1. Teorema de la Sensibilidad
El primer paso para resolver el problema inverso consiste en determinar el modelo (teora
matemtica) que relaciona la tensin diferencial en la superficie (datos) con la conductividad del
subsuelo (parmetros). El teorema de la sensibilidad proporciona esta relacin matemtica.
Consideremos el medio V limitado por la superficie S de conductividad (x,y,z) mostrado en la
Figura 5.1, donde se supone que no hay fuentes internas. Sea (x,y,z) una distribucin de potencial
en el medio y J(x,y,z) la densidad de corriente asociada con l. Sea tambin (x,y,z) una segunda
distribucin de potencial en el medio y J(x,y,z) la densidad de corriente asociada. Aplicando el
teorema de la divergencia tenemos
(J )dv = (J
+ J dv = J ds
s
(5.1)
donde V es el volumen y S la superficie que encierra al volumen. Como no hay fuentes internas J
es cero y es finito en el volumen. Por tanto, la ecuacin anterior se reduce a
J
s
Similarmente, para J y
ds
= J dv = dv
v
(5.2)
5-4
Problema inverso
J
s
ds
= J dv = dv
v
(5.3)
Vemos que las dos integrales son iguales, por tanto
J
S
ds
J
S
ds = dV
(5.4)
Supongamos que el potencial es originado por la aplicacin de la corriente I entre los

electrodos AB y el potencial es originado por la corriente I aplicada entre los terminales MN
(Figura 5.1). En la expresin anterior, la densidad de corriente J ser cero excepto en A y B.
Similarmente, J ser diferente de cero en M y N, por tanto,
I AB = I MN =
dV
(5.5)
donde AB y MN son diferencias de tensin. Definimos la impedancia mutua z como

z=
AB MN
=
=
I
I
( ) ( )
dV
I
I
(5.6)
expresin que relaciona las diferencias de tensin en la superficie con la conductividad del medio.
Como era de esperar se cumple el principio de reciprocidad.
I
N
S
(x,y,z)
ds
B
A
I
Figura 5.1. Volumen de conductividad (x,y,z)
El problema no es lineal debido a que y son funciones de la conductividad , y en

general la estimacin de la distribucin de conductividad (problema inverso) a partir de la
expresin anterior no es posible. Sin embargo, se puede emplear algn mtodo iterativo para
resolver el problema (Menke, 1989; Tarantola, 1987). En los mtodos iterativos se realiza una
hiptesis inicial sobre la distribucin de conductividad (normalmente se supone el medio
homogneo), se resuelve el problema directo, se calculan las diferencias respecto a las medidas
Problema inverso
5-5
obtenidas y se formula una nueva hiptesis de la distribucin de conductividad. El proceso se repite

hasta que la diferencia entre las tensiones calculadas (problema directo) y las medidas sea menor
que una cota prefijada.
Cuando la distribucin de conductividad cambia de 0(x,y,z) a 0(x,y,z)+0(x,y,z), el cambio
en la impedancia mutua z para los pares de electrodos de corriente (AB) y tensin (MN) es
z = 0
V
( 0 ) ( 0 + 0 )
dV
I
I
(5.7)
Geselowitz (1971) y Lehr (1972) demuestran este resultado conocido como teorema de la
(0+0) respecto a 0, la ecuacin anterior se puede
expresar como (Murai y Kagawa, 1985)
z = o
V
2
( o ) ( o )
dV + O o
I
I
(5.8)
donde O((0)2) indica el trmino de orden ms elevado respecto a 0. Si 0 es suficientemente

pequeo este trmino puede ser despreciado. Se observa que ahora los gradientes de potencial y
son independientes de 0, y por tanto z es lineal respecto a 0. Si definimos como la
conductividad actual del medio, la impedancia mutua medida z es
z=
AB
= z 0 + z z 0 + z 0 = z 0
I
( 0 ) ( 0 )
dV
I
I
(5.9)
donde z0 es la impedancia mutua debida a una distribucin de conductividad 0. Si no se dispone de

informacin a priori, se suele escoger una distribucin de conductividad homognea como 0. El
proceso iterativo para determinar es (Murai y Kagawa, 1985)
z n = z z n = n
v
n +1
= +
( n ) ( n )
dV
I
I
(5.10)
donde zn es la impedancia mutua para la distribucin de conductividad n y n = 0, 1, 2,.. es el

nmero de la iteracin. En cada iteracin n se calcula el cambio de conductividad n y se obtiene
la nueva distribucin de conductividad n+1. El proceso contina hasta que la diferencia zn es
menor que una cierta cota prefijada. El clculo de zn y de los gradientes y en cada iteracin
se suele realizar mediante mtodos numricos (por ejemplo el Mtodo de los Elementos Finitos).
Para calcular n normalmente se discretiza el medio en celdas o pixeles de conductividad
5-6
Problema inverso
constante, si bien tambin es posible tratar la conductividad como una variable continua (Menke,
1989).
5.2.2. La matriz de sensibilidad
La obtencin de imgenes de la distribucin de conductividad del subsuelo consiste en la
determinacin de la conductividad de cada una de las celdas en las que se divide. Si el subsuelo
est formado por capas horizontales de diferente conductividad y espesor, el medio se discretiza en
capas ms que en celdas. Este problema lo han tratado diferentes autores (Inman, 1975; Koefoed,
1979; Pous, Marcuello y Queralt, 1987; Zohdy, 1989) y no va a ser estudiado aqu. En el caso 2D
se discretiza en celdas cbicas (o en forma de paraleppedos) la seccin transversal a la superficie
que est justo debajo de la agrupacin de electrodos. La Figura 5.2 muestra un ejemplo con 80
celdas (16 en horizontal por 5 en vertical). En el caso 2D las celdas tienen la forma de una barra
infinita en la direccin perpendicular a la seccin transversal. Esta forma tan especial de discretizar
el subsuelo se utiliza principalmente para la deteccin de estructuras alargadas en el subsuelo (p.e.
tuberas), colocando los electrodos perpendicularmente a dichas anomalas. En el caso 3D se
discretizan varias secciones transversales, por lo que los resultados pueden ser ms realistas que en
el caso 2D.
El modelado del subsuelo en 2D tiene la ventaja respecto al 3D de reducir el nmero de celdas
y, por tanto, el tiempo de clculo de la matriz de sensibilidad. Por el contrario, un modelado 3D da
una visin ms realista de la distribucin de conductividad del suelo. Si sabemos que las estructuras
a detectar son extensas en una direccin, de seccin constante y paralelas a la superficie, el caso
2D puede ser la mejor opcin, ya que incorpora las ventajas de los dos modelados anteriores.
x
y
Figura 5.2. Discretizacin 2D del subsuelo. El corte vertical se ha dividido en 16 5 celdas.
El incremento de la impedancia mutua en la iteracin n se puede expresar ahora como un

sumatorio
z n =
L ( ) L ( ) dv
j =1
n
j
celda j
(5.11)
Problema inverso
5-7
donde Q es el nmero de celdas, y para simplificar la nomenclatura se han definido los vectores
Ln ( ) =
( n )
I
(5.12)
( n )
L ( ) =
I
n
La expresin (5.11) se refiere a una posicin de los 4 electrodos ABMN. En la prctica se

realizan diferentes medidas, cada una de ellas con diferentes situaciones de los electrodos sobre la
superficie. El conjunto de todas las colocaciones par inyector - par detector que utilizamos es lo
que se denomina configuracin electrdica (ver captulo 2), y para referirnos a una medida en
concreto (posicin de 4 electrodos) utilizamos un nico subndice, en este caso el i:
z in =
L ( ) L ( ) dv
n
j
j =1
n
i
n
i
i = 1..P
(5.13)
celda j
donde P es el nmero de medidas. El sistema de ecuaciones, en forma matricial es el siguiente:

Z n = S n n
(5.14)
donde Zn y n son vectores de dimensiones P 1 y Q 1 respectivamente, y Sn es una matriz de

dimensiones P Q. sta ltima recibe el nombre de matriz de sensibilidad porque contiene las
sensibilidades de todas las medidas con respecto a todas las celdas. Los elementos de Sn son
s ijn =
L ( ) L ( ) dv
n
i
celda j
n
i
(5.15)
La estimacin de la distribucin de conductividad se ha convertido ahora en encontrar la

conductividad asignada a cada elemento en el que hemos dividido el subsuelo. El proceso iterativo
dado por (5.10) queda ahora como
zin = zi zin =
s
ij
n
j
i = 1,2...P
j =1
n +1
j
= nj
nj
(5.16)
j = 1,2...Q
o en forma matricial como

Z n = S n n
n +1 = n + n
(5.17)
5-8
Problema inverso
La diferencia de los distintos mtodos existentes para estimar la distribucin de conductividad

radica bsicamente en la manera de calcular n, como veremos al describir los diferentes
algoritmos implementados.
5.3. M todos de un solo paso

Un caso particular de los mtodos iterativos son los algoritmos de un solo paso, en los que slo
se realiza la primera iteracin. El algoritmo expresado en forma matricial se reduce en este caso a
Z = S
(5.18)
est = 0 +
donde est es el vector de conductividad estimada. Si se escoge la conductividad inicial 0 como

una distribucin homognea, la impedancia mutua correspondiente Z0 se puede calcular
analticamente (captulo 2). Definimos r1 a r4 como las distancias de los electrodos ABMN a un
punto arbitrario P (Figura 5.3).
r1
r3
r4
r2
Figura 5.3. Distancias de los electrodos ABMN a un punto P del subsuelo
El vector L() debido a los electrodos de inyeccin A y B es

r
r
r 2
r1
L ( ) =
2 rr 3 rr 3
2
1
(5.19)
y el debido a los electrodos detectores M y N es

r
r
r 4
r3
L ( ) =
2 rr 3 rr 3
4
3
(5.20)
Para calcular el elemento sij de la matriz de sensibilidad debemos integrar en el pixel j el

producto escalar de estos vectores debido a la disposicin de los electrodos ABMN cuando
realizamos la medida i. Sin embargo, esta integral no tiene en general expresin analtica. Por lo
Problema inverso
5-9
tanto ser necesario integrar numricamente esta funcin escalar. Entre los muchos mtodos de
integracin numrica existentes, se ha elegido el mtodo de Gauss. Para la mayora de funciones
este mtodo da resultados ms exactos que otros mtodos comnmente usados, como el mtodo de
los rectngulos o el de Romberg (Loke y Barker, 1995). La exactitud y el tiempo de clculo de la
integral crecen con el nmero de puntos que se escojan en cada celda para evaluar la integral. Las
celdas ms cercanas a los electrodos necesitan de mayor nmero de puntos ya que los campos
elctricos varan ms rpidamente. Si solo se escoge un punto por celda para evaluar la integral, es
equivalente a multiplicar el producto escalar de los campos normalizados por el volumen de la
celda. En el caso 2D antes de la integracin numrica se realiza una integracin analtica en la
direccin en la que la celda es de dimensin infinita (Loke y Barker, 1995).
Cano (1999) describe con detalle cmo se realiza la integracin numrica en los casos 2D, 3D y
2D . Para acelerar el proceso de reconstruccin la matriz de sensibilidad puede ser calculada con
anterioridad y almacenada en un fichero. Los algoritmos implementados que se describen en los
siguientes apartados tienen en comn que son de un solo paso y que estiman la conductividad
ponderando las medidas obtenidas por los coeficientes de sensibilidad. La diferencia entre ellos es
como se realiza esta ponderacin.
5.3.1. M todos de inversi n basados en el criterio de m nimos cuadrados
Puesto en forma matricial, el problema es determinar la distribucin de conductividades a partir
del sistema de ecuaciones
Z = S
(5.21)
Si la matriz S es cuadrada (P = Q) la solucin se obtiene simplemente invirtiendo la matriz de

sensibilidad
= S 1 Z
(5.22)
Pero en general no tiene por qu haber el mismo nmero de medidas que celdas de conductividad.
Si P > Q el sistema es sobredeterminado y no tiene por qu existir una solucin exacta. Si
definimos el vector error de prediccin o residuo como
e = Z S
(5.23)
y su norma L2 (tambin denominada norma cuadrtica o eucldea) como

E = e T e = ( Z S) T ( Z S)
(5.24)
5-10
Problema inverso
una posible solucin al sistema sobredeterminado es minimizar esta norma, obtenindose la
= S T S
S T Z
(5.25)
Si P < Q el sistema es indeterminado y existen infinitas soluciones. Para obtener una nica
solucin es necesario incorporar informacin a priori. Una forma de hacerlo es minimizando la
norma cuadrtica de la solucin, ()T(), obtenindose la solucin con norma mnima
( )
= S T SS T
(5.26)
La dificultad surge cuando S, STS o SST no existen (son singulares). An existiendo, puede que
sean casi singulares, lo que provoca que pequeos errores en los datos comporten grandes
variaciones en la solucin (Lines y Treitel, 1984). Este concepto queda ms claro si se descompone
la matriz S con la tcnica SVD (Singular Value Decomposition)
S = UV T
(5.27)
donde U (P P) y V (Q Q) son matrices ortogonales y = diag(1,..., n) PQ, con n = min

{P,Q} y 1 2 ... n 0 (Golub y Van Loan, 1989). El n mero de condicionamiento
(condition number) se define como la relacin entre el mayor y el menor valor propio. El rango r
de S es el nmero de valores propios i diferentes de cero. La matriz S tambin se puede expresar
como
S = U r rVr T
(5.28)
donde r es una matriz diagonal r r, Up y Vp son las primeras r columnas de U y V

respectivamente. La matriz inversa generalizada (natural) S+ de S se define como (Menke, 1989)
S + = Vr r1U rT
(5.29)
= S + Z = Vr r1U rT Z
(5.30)
y la solucin natural es
Si P = Q, S+ = S-1. Si P > Q = r el sistema es sobredeterminado, S+ = (STS)-1ST y (5.30) es

equivalente a (5.25). Si Q > P = r el sistema es indeterminado, S+ = ST(SST)-1 y (5.30) es
equivalente a (5.26). Inman, Ryu y Ward (1973) utilizan (5.30) para determinar la estructura
estratificada del subsuelo.
Problema inverso
5-11
Si la matriz S est bien condicionada (nmero de condicionamiento pequeo) la solucin es

estable. Sin embargo, si algunos valores propios son muy pequeos, sus recprocos en -1 sern de
valor elevado y el error presente en los datos tambin se ver amplificado por estos factores,
dominando la solucin. Hansen (1992) dice que un problema discreto mal definido (ill-posed)
cumple dos condiciones, que el nmero de condicionamiento es muy grande (por tanto la matriz S
est mal condicionada y la solucin es muy sensible al error en los datos) y que los valores propios
de la matriz S decaen gradualmente a cero. Este segundo criterio implica que no se puede aplicar
ningn precondicionamiento a la matriz S para que est bien condicionada. Snchez (1998) muestra
las dos condiciones se cumplen en nuestro caso y por tanto el problema est mal definido. En el
apartado 5.4.2 se estudia de la matriz de sensibilidad para las configuraciones doble dipolo y
Schlumberger.
Para estabilizar el problema y obtener una solucin adecuada es necesario incorporar
informacin a priori acerca de la solucin deseada. Este proceso se denomina
del
problema. Un mtodo de regularizacin consiste en implementar la inversa slo con los valores
propios mayores, ya que son los menos susceptibles al ruido. Esto equivale a considerar los valores
propios ms pequeos igual a cero. Este mtodo se conoce como SVD truncado o TSVD (Avis y
Barber, 1994; Hansen, 1992). El rango de la matriz inversa en (5.30) se reduce cuanto mayor sea el
truncamiento y por tanto la solucin no ser la solucin natural dada por (5.30) y la resolucin del
modelo ser peor. Hay, pues, un compromiso entre la resolucin y el ruido (o la varianza) del
modelo (Menke, 1989; Avis y Barber, 1994). Este mtodo ha sido muy utilizado en tomografa
mdica por diversos autores (Avis y Barber, 1994; Avis y Barber, 1995; Eyuboglu, 1996;
Kleinermann et al., 1996; Meeson et al., 1996; Murai y Kagawa, 1985), donde normalmente se
utilizan 16 electrodos situados sobre la piel del paciente, alrededor de la seccin transversal que se
quiere visualizar. Varah (1973) analiza el mtodo en algunos problemas mal definidos de la fsica
odo ms comn y conocido mtodo, sobre todo en la prospeccin geofsica, es el de la

regularizacin de Tikhonov (Tikhonov y Arsenin, 1977). La solucin regularizada es aquella que
minimiza la siguiente combinacin ponderada de la norma del residuo y una seminorma de la
= arg min S Z
2
2
+ L 2
(5.31)
donde es el parmetro de regularizacin y L es o bien la matriz identidad de orden Q Q (Q es el

nmero de celdas) o bien una aproximacin discreta J Q de un operador derivada de orden Q - J
(Hansen, 1992). El primer trmino de (5.31) mide el error de prediccin, mientras que el segundo
(llamado trmino de penalizacin), tiene en cuenta la informacin a priori en la solucin (Hua,
Webster y Tompkins, 1988). Un valor grande de minimiza la parte indeterminada de la solucin
pero tambin la parte sobredeterminada. Como resultado, la solucin no minimiza el error de
prediccin y no es una buena estimacin de la verdadera solucin. Un valor de pequeo minimiza
5-12
Problema inverso
el error de prediccin pero no aade ninguna informacin a priori para minimizar la parte
indeterminada de los parmetros. En otras palabras, un valor de grande favorece una solucin de
seminorma pequea con el coste de una norma del residuo grande, mientras que un valor de
pequeo tiene el efecto contrario. Por tanto, el valor de se ha de escoger con cuidado.
Normalmente se determina por prueba y error. Al final de este apartado se describe un mtodo para
. La solucin de (5.31) es
= S T S + LT L
S T Z
(5.32)
El mtodo de m nimos cuadrados llano (smoothness-constrained least-squares), tambin

llamado m todo de Occam (Occams inversion), trata de obtener una solucin suave , es decir, sin
cambios abruptos en los valores de conductividad, siendo L en (5.32) una aproximacin discreta de
un operador derivada primera o segunda. Diversos autores utilizan esta tcnica para obtener
imgenes 2D (LaBrecque et al., 1996; Loke y Barker, 1995, 1996a; Sasaki, 1992) o 3D (Loke y
Barker, 1996b; Sasaki, 1994) a partir de datos resistivos. Esta tcnica tambin se aplica a otros
mtodos geofsicos, como el electromagntico (Constable S.C., Parker, y Constable, C.G., 1987) o
el magnetotelrico (deGroot-Hedlin y Constable, 1990). Sasaki (1989) realiza una inversin
conjunta (joint inversion) a partir de datos obtenidos con el mtodo resistivo y de polarizacin
inducida.
Menke (1989) define los problemas mixtos (mixed-boundary) como aquellos problemas que no
son ni completamente indeterminados ni sobredeterminados. En estos casos propone que se
obtenga la solucin minimizando la expresin eTe+T, cuya solucin es una caso particular
de (5.32) con L la matriz identidad
= S T S + I
S T Z
(5.33)
Esta solucin se denomina m todo de m nimos cuadrados amortiguado (damped least-squares

solution). Lines y Treitel (1984) dicen que el mtodo recibe otros nombres como
(constrained least-squares) o m todo de Marquardt-Levenberg.
Pelton, Rijo y Swift (1978) utilizan esta tcnica para obtener imgenes 2D utilizando los mtodos
resistivo y de polarizacin inducida. Breckon y Pidock (1988) estudian este mtodo para
aplicaciones mdicas. Hua, Webster y Tompkins (1988) comparan tres mtodos basados en (5.32)
siendo L la matriz identidad (mtodo de Marquardt-Levenberg), el operador derivada y el operador
derivada segunda (mtodo de Occam) respectivamente. Los datos utilizados son sintticos a los que
se le ha aadido ruido aleatorio. Los mismos autores concluyen que este ltimo mtodo acta como
un filtro paso bajo espacial y obtiene los mejores resultados. En cambio, la imagen obtenida por el
mtodo de Marquardt-Levenberg aparece ms distorsionada debido a que es ms sensible a los
errores de medida. Loke y Dahlin (1998) llegan a conclusiones similares utilizando tambin datos
Problema inverso
5-13
Lines y Treitel (1984) muestran que (5.33) se puede expresar como

j T
U Z
= V r diag 2
+ r
j
(5.34)
poniendo de manifiesto la conexin entre el mtodo de Marquardt y la formulacin SVD dada por
(5.30). Ahora aparece claro cmo el factor de regularizacin solventa los problemas de la
singularidad de la matriz S: an cuando j0, la divisin por cero no ocurre.
Tarantola (1987) aborda el problema inverso desde un punto de vista probabilstico y usando
una interpretacin Bayesiana de la probabilidad. Los datos, la informacin a priori de los
parmetros y el modelo se describen por medio de funciones de densidad de probabilidad. Si estas
funciones siguen una ley Gaussiana la solucin es aquella que minimiza la funcin
= e T C n1 e + T C m1
(5.35)
donde Cn y Cm son las matrices de covarianza de los datos y los parmetros respectivamente. La
= S T C n1 S + C m1
S T C n1 Z
(5.36)
que es equivalente a
= C m S T SC m S T + C n
(5.37)
Si el ruido en una medida j es incorrelado, Gaussiano, con media cero y desviacin estndar j
(se ha aadido la barra encima del smbolo para no confundirlo con la conductividad), una forma
apropiada de Cn es Cn = diag 1 ,.., P

2
), donde P es el nmero de medidas. Por lo tanto las
medidas ms exactas tienen un mayor peso en la solucin. Menke (1989) lo menciona como el
m todo de m nimos cuadrados amortiguado por ponderaci n (weighted damped least-squares). El
mismo autor aborda el problema inverso (lineal y gaussiano) desde tres puntos de vista diferentes, y
concluye que son equivalentes. Debido a que el problema no es lineal, diversos autores proponen
mtodos iterativos (Menke, 1989; Tarantola, 1987; Tarantola y Valette, 1982; Pous, Marcuello y
Queralt, 1987; Park y Van, 1991; Zhang, Randall y Theodore, 1995).
Pous, Marcuello y Queralt (1987) dicen que el mtodo es general, y que todos los algoritmos
clsicos pueden ser obtenidos a partir de l con una eleccin adecuada de Cn y Cm. Si en (5.31)
sustituimos C n = n I n y C m = m I m , donde In e Im son la matriz identidad de rango n y m
2
respectivamente y n , m son constantes, se obtiene el mtodo de Marquardt-Levenberg con
5-14
Problema inverso
= ( n m ) . Si m = (lo que equivale a no tener informacin a priori), = 0 y se obtiene

2
(5.25). En cambio, si m
es grande respecto a los elementos de STCn-1S (se acota la variacin de
los parmetros) se obtiene el m todo de gradiente (gradient method o steepest descent)

= m2 S T C n1 Z
(5.38)
La forma usual de encontrar el factor en (5.32) es por prueba y error (Loke y Barker, 1995;
Sasaki, 1992). Hansen y O Leary (1992, 1993) describen el mtodo de la curva L para encontrar
de forma automtica y argumentan que es ms robusto que los otros mtodos existentes. La Figura
5.4 muestra una grfica genrica de la seminorma ||L||2 de la solucin regularizada en funcin
de la norma del residuo ||S-Z||2. Si se dibuja en escalas logartmicas, la curva tiene
generalmente forma de L, con una esquina separando la parte vertical de la horizontal de la curva
(Hansen y O Leary, 1993). Este punto ( = c) es el que mejor cumple el compromiso de minimizar
las dos cantidades. Hansen (1992) implementa unas rutinas en MATLAB para realizar el proceso
de bsqueda que se basa en determinar el punto de mxima curvatura de la curva L.
Log||Lx||2
menor
mayor
=c
Log||S-Z||2
Figura 5.4. Forma genrica de la curva L
5.3.2. M todos de retroproyecci n

La problemtica mostrada en la seccin anterior a la hora de invertir matrices mal condicionadas
ha llevado a algunos autores a buscar mtodos alternativos para la estimacin de la distribucin de
conductividades.
Uno de los mtodos empleados, provenientes del campo de la tomografa mdica, es el que
propone Kotre (1993, 1994, 1996a), en analoga a la tcnica de retroproyeccin filtrada usada en la
tomografa computerizada por rayos X. La principal diferencia entre los dos casos es que mientras
los rayos X trazan una lnea recta (y estrecha) entre la fuente y el detector, el flujo de corriente en
la medida de impedancia se distribuye a travs de todo el volumen. El mismo autor utiliza el
mtodo en aplicaciones mdicas (Kotre, 1996b) y en la deteccin de minas abandonadas (Kotre,
1996c). El algoritmo de retroproyeccin que propone es
Problema inverso
5-15
P
est
j
ln o
j
sij
z i
z io
i =1
s ij
z i z io
z io
i =1
ij
i =1
j = 1 .. Q
(5.39)
ij
i =1
donde est es la resistividad estimada de las celdas, o es la resistividad homognea, z es la

impedancia mutua medida, y zo es la impedancia mutua correspondiente a una distribucin
homognea. El algoritmo aproxima la matriz inversa por una matriz de sensibilidad traspuesta
ponderada. A fin de mejorar las imgenes aplica un filtrado de Wiener en un dominio espaciofrecuencial transformado.
El algoritmo supone que los cambios de conductividad son pequeos por lo que (5.39) se puede
expresar como
P
j
oj
o
est
j j
oj
= k
ij
z i
z io
i =1
= k
ij
z i z io
i =1
z io
ij
i =1
j = 1 .. Q
(5.40)
ij
i =1
donde se ha introducido un factor de amplificacin k. El algoritmo, que denominaremos

retroproyecci n total, se puede expresar en forma matricial como
r = WS T Z r
(5.41)
donde r y Zr son diferencias relativas y W es una matriz diagonal de ponderacin con

coeficientes
w jj =
j = 1..Q
(5.42)
ij
i =1
La expresin es similar al mtodo de gradiente, (5.38), comentado en el apartado anterior. Shima

(1992) utiliza una expresin similar a (5.41) (trabaja con diferencias absolutas en vez de relativas)
para obtener un modelo inicial que ser utilizado en un algoritmo iterativo. El mismo autor
argumenta que esta tcnica de retroproyeccin es similar a la utilizada en la tomografa ssmica y
de radar.
Una variacin respecto a este mtodo consiste en suponer que el cambio de la diferencia de
tensin entre los electrodos de medida MN es atribuible slo al cambio de conductividad en la
zona que delimitan las lneas equipotenciales que parten de los electrodos de tensin, como se
muestra en la Figura 5.5.
5-16
Problema inverso
Figura 5.5. Lneas equipotenciales formadas por los electrodos MN
La conductividad se determina segn (5.40) y los coeficientes de sensibilidad se calculan como

sij si la celda est entre las lineas equipotenc iales
s ij =
0 en caso contrario
Este mtodo ser denominado como retroproyeccin equipotencial. Noel y Xu (1991)

proponen un mtodo similar, pero adems ponderan la sensibilidad por la parte proporcional de la
celda que est entre las lneas equipotenciales. Tsourlos et al. (1993) proponen una solucin
iterativa.
La idea de retroproyectar entre lneas equipotenciales fue sugerida originalmente por Barber,
Brown y Freston (1983) para el caso de la tomografa mdica en analoga al caso de la tomografa
computerizada por rayos X. Barber y Brown (1984) presentan imgenes in vivo de la resistividad
de los tejidos. El algoritmo que implementan, que recibe el nombre de Applied potential
tomography, utiliza unos pesos calculados geomtricamente y realiza un filtrado frecuencioespacial en un espacio transformado para mejorar la apariencia de las imgenes (Barber y Brown,
1986; Barber y Seagar, 1987a). Barber y Seagar (1987b) describen el sistema de medida utilizado.
Powell, Barber y Freeston (1987) adaptan el mtodo utilizando una agrupacin lineal de electrodos.
5.4. Im genes con datos sint ticos

Los datos utilizados en los algoritmos de reconstruccin pueden obtenerse de tres fuentes
diferentes: a) a partir de medidas experimentales, b) a partir de soluciones numricas (por ejemplo,
el mtodo de los elementos finitos o el mtodo de los elementos de contorno), c) a partir de una
solucin analtica. La primera alternativa requiere realizar medidas experimentales de campo o
sobre un modelo analgico (por ejemplo una cubeta de plstico llena de agua y donde se introducen
objetos de conductividad diferente a la del agua). Adems, se debe disponer de la instrumentacin
adecuada. Otros inconvenientes son que el tiempo necesario para realizar las medidas puede que
sea largo, y que las medidas tienen asociado un error (debido a la instrumentacin, a la posicin de
los electrodos, etc.). La segunda alternativa supone emplear alguno de los mtodos numricos
Problema inverso
5-17
existentes para resolver el problema directo. El problema con estos mtodos radica en que el
tiempo de clculo puede ser elevado, sobre todos si se requiere que la solucin sea precisa. Por el
contrario, una solucin analtica (tercera alternativa) puede ser rpida y suficientemente precisa.
Sin embargo, slo disponemos de solucin analtica para ciertos casos. En el captulo 3 se
describieron diferentes soluciones para el caso de una esfera y un cilindro inmersos en un suelo
homogneo. Para obtener los datos utilizaremos la expresin (3.3) para el caso de la esfera y la
expresin (3.29) para el caso del cilindro. En el captulo 6 se realizarn medidas experimentales
para validar los algoritmos utilizados.
Las configuraciones electrdicas utilizadas son la Schlumberger y la doble dipolo (Captulo 2).
La configuracin Schlumberger presenta un buen compromiso entre la visibilidad y el margen
dinmico necesario del detector (apartado 3.3). La configuracin doble dipolo es la que tiene mayor
visibilidad. Sin embargo, como se coment en el Captulo 4, se ve ms afectada por los errores en
las medidas.
Las imgenes obtenidas por los diferentes mtodos muestran la distribucin de conductividad
absoluta. En todos los casos se supone un suelo homogneo de conductividad 1 S/m y una
inyeccin de corriente de 1 A. Los coeficientes de sensibilidad utilizados por los algoritmos se
obtienen a partir de (5.15). A no ser que se diga lo contrario, la integral se calcula en 64 puntos
equiespaciados.
En el apartado 5.4.1 se comparan los diferentes algoritmos de reconstruccin utilizando los
datos sintticos para el caso de la esfera. El apartado 5.4.2 estudia las caractersticas de la matriz de
sensibilidad a partir de la descomposicin SVD. El apartado 5.4.3 muestra el efecto del parmetro
en los mtodos Marquardt y Occam. En el apartado 5.4.4 se obtiene un factor de escalado de las
imgenes que tiene en cuenta la no-linealidad del problema inverso. El apartado 5.4.5 y 5.4.6
estudian el efecto del modelo utilizado y el error en las medidas sobre las imgenes obtenidas. El
apartado 5.4.7 considera el caso de un objeto cilndrico perpendicular a la agrupacin de
electrodos. Por ltimo, el apartado 5.4.8 muestra que si el objeto no se encuentra justo debajo de la
agrupacin de electrodos es necesario utilizar imgenes 3D.
5.4.1. Comparaci n de los diferentes algoritmos de reconstrucci n
En este apartado comparamos cualitativamente y cuantitativamente las imgenes 2D obtenidas
por cinco de los algoritmos descritos en el apartado 5.3: Marquardt (5.33), Occam (5.32), TSVD,
retroproyeccin total y retroproyeccin equipotencial. En el mtodo de Occam se ha utilizado como
matriz L una aproximacin discreta de un operador derivada segunda (Sasaki, 1992). El apartado
5.4.3 muestra que un valor adecuado para es de diez a cien veces el obtenido con el mtodo de la
curva L. En el mtodo TSVD el rango r de la matriz inversa en (5.30) se determina a partir de la
curva L discreta. En los mtodos de retroproyeccin no se aplica ningn tipo de filtrado en el
dominio de la frecuencia y se escoge experimentalmente un factor de amplificacin k = 10. Las
imgenes 2D corresponden a un corte transversal a la superficie justo debajo de la agrupacin de
electrodos. La Figura 5.6 muestra un corte dividido en 85 celdas (17 en horizontal y 5 en vertical)
5-18
Problema inverso
de dimensin una unidad en las tres direcciones del espacio. La unidad espacial se escoge de 1 m,
aunque su valor puede ser cualquiera sin afectar a las imgenes que se presentarn en este apartado.
El nmero de electrodos es de 16 separados entre ellos una unidad. La posicin del electrodo 1 es x
= -7,5, y = 0, z = 0 y la del electrodo 16 es x = 7,5, y = 0, z = 0. El origen de coordenadas est
situado entre los electrodos 8 y 9.
x
y
2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16
z
1 2
18
35
52
69
17
34
51
68
85
Figura 5.6. Discretizacin 2D del subsuelo en 85 celdas (17 en horizontal y 5 en vertical) del corte
transversal justo debajo de la agrupacin de electrodos.
La Figura 5.7 muestra las imgenes obtenidas con los diferentes mtodos utilizando la
configuracin Schlumberger y doble dipolo en el caso de una esfera conductora de radio 0,5
unidades y profundidad 1,5 situada en x = y = 0 (entre los electrodos 8 y 9). La Figura 5.8 muestra
la curva L para los mtodos Marquardt, TSVD y Occam. El valor de escogido para el mtodo de
Marquardt y Occam es = 10c. Para el mtodo TSVD se representa la variacin discreta de la
curva L en funcin del rango r de la matriz inversa. En este caso se ha escogido r = 35. La Figura
5.9 muestra las imgenes obtenidas para la misma esfera conductora situada en x = y = 0, z = 2,5
( = 100c, r = 50).
a)
b)
Problema inverso
5-19
c)
d)
e)
Figura 5.7. Imagen 2D obtenida con la configuracin Schlumberger (izquierda) y doble dipolo
(derecha) a partir de datos sintticos para una esfera conductora de radio 0,5 unidades situada en x =
y = 0, z = 1,5. El modelo utilizado es de 17 1 5 celdas de lado unidad. a) Marquardt (
= 1,50
10-8;
-8
-9
-9
1,83
10 ), b) TSVD (r = 35), c) Occam (
=1,51
10 ; 2,21
10 ), d) retroproyeccin total, e)
retroproyeccin equipotencial.
a)
5-20
Problema inverso
b)
c)
Figura 5.8. Curva L obtenida con la configuracin Schlumberger (izquierda) y doble dipolo (derecha) a
partir de datos sintticos para una esfera conductora de radio 0,5 unidades situada en x = y = 0, z =
1,5. a) Marquardt, b) TSVD, c) Occam.
a)
b)
Problema inverso
5-21
c)
d)
e)
(derecha) a partir de datos sintticos para una esfera conductora de radio 0,5 unidades situada en x =
y = 0, z = 2,5. El modelo utilizado es de 17 1 5 celdas de lado unidad. a) Marquardt (
= 1,86
10-12;
-12
-12
-12
2,85
10 ), b) TSVD (r = 50), c) Occam (
=1,86
10 ; 3,07
10 ), d) retroproyeccin total, e)
retroproyeccin equipotencial.
Los mtodos Marquardt, TSVD y Occam (basados en la minimizacin por mnimos cuadrados)
son claramente superiores a los mtodos de retroproyeccin. En stos la imagen obtenida presenta
poca resolucin y una gran dependencia de la configuracin electrdica utilizada. Adems, el
cambio de conductividad estimada decrece con la profundidad. Gasulla, Jordana y Palls (1998b)
corroboran con medidas experimentales la superioridad del mtodo de Marquardt frente al de
retroproyeccin total. Kotre (1994,1996a) utiliza filtros en el dominio de la frecuencia para mejorar
las imgenes, pero stos tambin podran ser utilizados en los mtodos de mnimos cuadrados. El
mtodo de Occam suaviza la imagen de la esfera alargndola en sentido vertical. En cambio los
mtodos Marquardt y TSVD tienen un comportamiento muy similar y localizan correctamente la
esfera. El valor de utilizado en los mtodos Marquardt y Occam disminuyen con la profundidad
de la esfera. En el mtodo TSVD el rango r aumenta.
5-22
Problema inverso
Para estimar la bondad de las imgenes en trminos cuantitativos definimos el error de

conductividad normalizado como
1
ECN =
Q
iest
iideal
est
max iideal
i =1 max i
Q
( )
(5.43)
donde iest es la conductividad estimada por los algoritmos. iideal = 1 para i = 26 cuando z = 1,5; i =
43 cuando z = 2,5; y iideal = 0 para el resto de celdas. La Tabla 5.1 muestra el valor de ECN para
los casos analizados anteriormente. Los resultados confirman las conclusiones anteriores. Los
mtodos de retroproyeccin tienen errores elevados en todos los casos. Los mtodos Marquardt y
TSVD presentan los errores menores. El mtodo de Marquardt ser el utilizado preferentemente. El
mtodo TSVD presenta el inconveniente de que la determinacin del rango r de la matriz inversa se
ha de realizar por prueba y error, al no disponer de la Toolbox Spline de Matlab necesaria para
determinarlo de forma automtica (Hansen, 1992).
Schlumberger
x = y = 0, z = 1,5
-2
Doble dipolo
x = y = 0, z = 2,5
x = y = 0, z = 1,5
-2
x = y = 0, z = 2,5
-2
3,0010-2
Marquardt
2,4010
2,9110
TSVD
2,2710-2
3,5810-2
1,4310-2
2,8010-2
Occam
0,105
6,1210-2
7,3910-2
6,2510-2
Retro total
0,226
0,373
0,248
0,308
Retro equipot
0,302
0,349
0,234
0,282
2,0810
Tabla 5.1. ECN para los diferentes mtodos de reconstruccin.
La Figura 5.10 muestra la imagen 2D obtenida con la configuracin Schlumberger y el mtodo

Marquardt para una esfera conductora situada en x = y = 0, z = 3,5 y en x = 4, y = 0, z = 1,5. La
localizacin de la esfera es correcta en ambos casos.
a)
b)
Figura 5.10. Imagen 2D obtenida con la configuracin Schlumberger y el mtodo de Marquardt para
una esfera conductora de radio 0,5 unidades situada en a) x = y = 0, z = 3,5 (
= 1,92
10-16), b) x = 4, y =
-8
0, z = 1,5 (
= 2,45
10 ).
Problema inverso
5-23
5.4.2. Estudio de las matrices de sensibilidad

La descomposicin en valores propios (SVD) dada por (5.27), revela las dificultades asociadas
con el mal acondicionamiento de la matriz S. La Figura 5.11 muestra el logaritmo de los valores
propios normalizados al valor mayor para la configuracin Schlumberger y doble dipolo con un
modelo de 17 1 5 celdas de lado unidad (Figura 5.6). Los valores propios decaen gradualmente
a cero, lo que es una caracterstica de los problemas mal definidos. La configuracin doble dipolo
est mejor condicionada (nmero de condicionamiento = 8,27109) que la configuracin
Schlumberger (nmero de condicionamiento = 3,631010).
Valores propios normalizados log 10(j/1)
Valores propios SVD matriz S
0
doble diplo
Schlumberger
-2
-4
-6
-8
-10
20
40
60
80
Valores propios i
Figura 5.11. Representacin de los valores propios normalizados de la matriz S con un modelo de 17
1 5 celdas de lado unidad para la configuracin Schlumberger y doble dipolo.
Las columnas de la matriz V en (5.27) son los vectores propios del espacio de par metros
(Menke, 1989). La Figura 5.12 muestra los vectores asociados con los valores propios 5, 20, 40,
60, 80, para las configuraciones Schlumberger (izquierda) y doble dipolo (derecha). Las celdas
ms superficiales estn asociadas con los valores propios mayores mientras que las celdas
inferiores se corresponden con los valores propios menores. Por lo tanto cuando regularizamos el
problema, al eliminar o atenuar los valores propios menores estamos eliminando informacin
acerca de las celdas inferiores. Estas celdas contribuyen muy poco a la diferencia de potencial
medida en la superficie y, por tanto, el ruido presente en las medidas puede ser comparable o
superior a la contribucin de estas celdas. Es lgico, pues, que si intentamos obtener informacin
acerca de las celdas ms profundas (regularizando poco el problema) el ruido domine la solucin.
5-24
Problema inverso
a)
b)
c)
d)
e)
Figura 5.12. Imagen de los vectores propios de la matriz V (espacio de parmetros) para la
configuracin Schlumberger (izquierda) y doble dipolo (derecha) con el modelo de la Figura 5.6.
Imagen asociada con el valor propio a) 5, b) 20, c) 40, d) 60, e) 80.
Problema inverso
5-25
Otra forma de evaluar la matriz de sensibilidad es mediante la matriz de resolucin de los

R, que caracteriza cmo los parmetros estimados se aproximan a la solucin
verdadera. Imaginemos que existe un conjunto de parmetros real que solucionan el problema Z
= Sreal. Sustituyendo esta expresin en (5.30), la conductividad estimada es
( )
est = S + Z = S + S real = R real
(5.44)
Si R = I, entonces est = real y todos los parmetros se obtienen de forma nica. Por ejemplo,
en un problema sobredeterminado S+ = (STS)-1ST, (5.25), y R = I. Si R no es la matriz identidad,
entonces los parmetros estimados son una contribucin ponderada de los parmetros reales. Por
ejemplo, en un problema indeterminado S+ = ST(SST)-1, (5.26), y R = ST(SST)-1S. La matriz R
depende de la configuracin electrdica, del mtodo de regularizacin y del modelo utilizado. La
Figura 5.13 muestra R utilizando la configuracin doble dipolo con el modelo de la Figura 5.6 y S+
= (STS)-1ST. En este caso R = I.
Figura 5.13. Matriz de resolucin R para la configuracin doble dipolo con el modelo de la Figura 5.6 y
+
T
-1 T
S = (S S) S . En este caso R = I.
La covarianza de los parmetros depende de la covarianza de los datos y del modo en que los
errores en los datos se propagan a los parmetros. Menke (1989) define la matriz de covarianza de
los parmetros estimados, que caracteriza el grado de amplificacin del error, como
[cov ] = S
est
C n S +T
(5.45)
donde Cn es una matriz de covarianza de los datos. Si consideramos
[cov ] = (S S )
est
y sustituimos S por (5.28),
[cov ] =
est
2
n
Cn = n I ,
2
Vr p2VrT . As pues, la
covarianza de los parmetros estimados es muy sensible a los valores propios menores y por tanto
5-26
Problema inverso
al ruido en las medidas. Al regularizar el problema eliminamos (mtodo TSVD) o disminuimos

(mtodo Marquardt y Occam) el efecto de los valores propios menores y la varianza de la solucin
es menor. Al mismo tiempo la resolucin es peor (la matriz R no es igual a la matriz identidad). Por
lo tanto, hay un compromiso entre resolucin y varianza (Menke, 1989).
Si regularizamos el problema con el mtodo de Marquardt R = S T S + I
S T S . La Figura
5.14 muestra la matriz de resolucin obtenida con la configuracin doble dipolo cuando =
1,8310-8 (Figura 5.7) y = 2,8510-12 (Figura 5.9). Para = 1,8310-8 la resolucin empeora
notablemente a partir de la celda 35 (tercera capa). La conductividad de cada celda (sobre todo a
partir de la 35) es la suma ponderada de las celdas laterales (diagonales contiguas), las celdas
superiores (diagonales izquierdas) y las celdas inferiores (diagonales derechas). Para = 2,8510-12
la resolucin empeora a partir de la celda 52 (cuarta capa), pero la solucin es ms sensible al ruido
en los datos. Este hecho ser analizado con detalle en el apartado 5.4.6.
a)
b)
S+ = (STS+
I)-1ST (mtodo de Marquardt). a) = 1,8310-8 (Figura 5.7, b) = 2,8510-12 (Figura 5.9).
Si regularizamos el problema con el mtodo de Occam R = S T S + LT L
S T S , donde L es la
matriz que aproxima el operador derivada segunda. La Figura 5.15 muestra la matriz de resolucin
obtenida con la configuracin doble dipolo cuando = 2,2110-9 (Figura 5.7) y = 3,0710-12
(Figura 5.9). La resolucin empeora con el mtodo de Occam, lo que explica que el mtodo de
Marquardt obtenga mejores resultados.
Problema inverso
a)
5-27
b)
S+ = (STS+
LTL)-1ST (mtodo de Marquardt). a) = 2,2110-9 (Figura 5.7, b) = 3,0710-12 (Figura 5.9).
La Figura 5.16 muestra la matriz R para los mtodos retroproyeccin total y equipotencial. La
resolucin empeora mucho, lo que explica los malos resultados conseguidos con estos mtodos.
a)
b)
Figura 5.16. Matriz de resolucin R para la configuracin doble dipolo con el modelo de la Figura 5.6
utilizando el mtodo de retroproyeccin a) total y b) equipotencial.
5.4.3. Elecci n del par metro

Un punto crtico en los mtodos Marquardt y Occam es la eleccin del parmetro . La Figura
5.17 y la Figura 5.18 muestran las imgenes obtenidas con el mtodo de Marquardt y Occam
respectivamente para diferentes valores de . Se ha utilizado la configuracin Schlumberger para el
caso de una esfera conductora de radio 0,5 unidades situada en x = y = 0, z = 1,5. La solucin se
vuelve ms inestable con valores de menores debido a que no regularizamos suficientemente el
problema. La norma de la solucin, pues, aumenta debido a los errores en los datos. Estos errores
vienen determinados por la precisin de la frmula analtica utilizada para generar los datos
sintticos y por inexactitudes en el modelo. Recordemos que el problema se ha linealizado y,
5-28
Problema inverso
adems, las celdas son cbicas y no pueden modelar exactamente la esfera. Cuando el valor de es
demasiado alto el cambio de conductividad decrece y se atribuye a las celdas superiores en el
mtodo de Marquardt, y a las celdas inferiores en el mtodo de Occam. La esfera se localiza
correctamente con el mtodo de Marquardt para 10c 100c. El mtodo de Occam alarga
verticalmente la imagen de la esfera.
a)
b)
c)
d)
e)
f)
una esfera conductora de radio 0,5 unidades situada en x = y = 0, z = 1,5. a) = 0,001
c; b) = c; c) =
5
-8
10c; d) = 100c; e) = 1000c; f) = 10 c; donde c = 3

10 (Figura 5.8a).
a)
b)
Problema inverso
5-29
c)
d)
e)
f)
Figura 5.18. Imagen 2D obtenida con la configuracin Schlumberger y el mtodo de Occam para una
esfera conductora de radio 0,5 unidades situada en x = y = 0, z = 1,5. a) = 0,001c; b) = c; c) = 10c;
d) = 100c; e) = 1000c; f) = 105c; donde c = 3,0210-9 (Figura 5.8c).
Diversos autores (Hua, Webster y Tompkins, 1988; Loke y Dahlin, 1998) prefieren el mtodo
de Occam debido a que el mtodo de Marquardt produce imgenes demasiado abruptas . Esto
puede ser debido, como muestra la Figura 5.17, a que el valor de utilizado no sea el adecuado.
Adems, para detectar objetos locales con un gran contraste resistivo (por ejemplo, una esfera
conductora) es interesante que las imgenes no sean demasiado suaves . Por ello, el mtodo de
Marquardt ser el utilizado de aqu en adelante a no ser que se indique lo contrario.
5.4.4. Escalado de la conductividad estimada
La Figura 5.19 muestra las imgenes obtenidas con la configuracin doble dipolo y el mtodo
de Marquardt para una esfera aislante y conductora de radio 0,5 situada en x = y = 0, z = 1,5. El
cambio de conductividad (respecto al medio homogneo) para la esfera conductora es 1,38
prcticamente el doble y de signo contrario que para la esfera aislante (-0,74).
Figura 5.19. Imagen 2D obtenida con la configuracin doble dipolo y el mtodo de Marquardt para una
esfera aislante (izquierda) y conductora (derecha), de radio 0,5 unidades situada en x = y = 0, z = 1,5.
5-30
Problema inverso
Esto est en acuerdo con la expresin (3.25), que expresa la diferencia de potencial en la
superficie en presencia de una esfera cuando el campo elctrico es uniforme. En este caso la
diferencia de potencial debida slo a la esfera es
3
a
V = E o k e d
r
(5.46)
donde Eo es el campo elctrico uniforme, a es el radio de la esfera, r es la distancia del centro de la

esfera al punto de medida, d es la distancia entre los electrodos detectores y ke se puede expresar
como
ke = 2
h esf
(5.47)
2 h + esf
donde esf es la conductividad de la esfera y h es la conductividad del medio homogneo. La

diferencia de potencial, (5.46), para una esfera conductora (esf = ) es el doble y de signo
contrario que para una esfera aislante. Es decir, el cambio en la conductividad estimada es lineal
con el incremento de la diferencia de potencial, debido a que el problema, como vimos en el
apartado 5.2.1, se ha linealizado. Pero en realidad esta dependencia no es lineal por lo que
normalmente se utilizan algoritmos iterativos para obtener la conductividad real. Para evitar el uso
de los algoritmos iterativos (donde el tiempo de clculo puede ser considerable y pueden haber
problemas de convergencia de la solucin) se utiliza un factor de correccin, descrito a
continuacin, que tiene en cuenta esta dependencia no lineal.
A partir de (5.47) la conductividad de la esfera se puede expresar como
esf = 2
1 ke
h
2 + ke
(5.48)
Si la diferencia entre est y h es pequea (caso lineal), el parmetro ke se puede aproximar por
ke k e
esf
= h
ke
2
esf
h =
esf = h
2
h esf
3 h
(5.49)
La conductividad final de cada celda fcelda se obtiene como
f
celda
=2
k ecelda
1 k ecelda
2 + k ecelda
2
est
=
h celda
3 h
(5.50)
Problema inverso
5-31
donde el parmetro kecelda se obtiene a partir de la conductividad homognea h y de la

est
conductividad estimada para cada celda celda
por el algoritmo de reconstruccin.
La Figura 5.20 muestra las imgenes obtenidas en el caso de la Figura 5.19 despus de aplicar el
factor de correccin dado por (5.50), que atena los incrementos negativos de conductividad y
amplifica los incrementos positivos.
Figura 5.20. Imagen 2D obtenida despus de aplicar el factor de correccin con la configuracin doble
dipolo y el mtodo de Marquardt para una esfera aislante (izquierda) y conductora (derecha), de radio
0,5 unidades situada en x = y = 0, z = 1,5.
Los valores de conductividad estimados para la esfera aislante (0,41) y conductora (3,54)
difieren de los valores tericos (0 y , respectivamente). Esto es debido a que modelamos la esfera
con una celda cbica de mayor volumen que el de una esfera de radio 0,5 unidades. Schulz (1985)
dice que la anomala en el potencial, (5.46), producida por una esfera es similar a la producida por
un cubo del mismo volumen. Una esfera de radio 0,62 unidades tiene el mismo volumen que una
celda de lado unidad. La Figura 5.21 muestra las imgenes obtenidas para una esfera aislante
(izquierda) y conductora (derecha) de radio 0,62 unidades situada en x = y = 0, z = 1,5.
Figura 5.21. Imagen 2D obtenida despus de aplicar el factor de correccin con la configuracin doble
dipolo y el mtodo de Marquardt para una esfera aislante (izquierda) y conductora (derecha), de radio
0,62 unidades situada en x = y = 0, z = 1,5.
La conductividad estimada es, ahora, mucho ms cercana a la terica. El valor negativo de

conductividad para el caso de la esfera aislante no tiene sentido fsico, por lo que se podra
establecer un valor mnimo de cero para la conductividad estimada. En el caso de la esfera
conductora se obtiene una conductividad de 226 S/m, que produce una anomala casi idntica (un
1,5 % menor) a la que producira una esfera totalmente conductora. La Figura 3.27 ya mostr que
5-32
Problema inverso
un contraste resistivo (esf/h) menor que 0,01 o mayor que 100 equivale a que el objeto sea en la
prctica totalmente aislante o conductor respectivamente. En lo que sigue se aplicar el factor de
correccin en las imgenes de conductividad obtenidas.
5.4.5. Influencia del modelo
Cuando el modelo no se adapta bien al objeto pueden producirse resultados extraos. La Figura
5.22 muestra la imagen obtenida con la configuracin Schlumberger y el mtodo de Marquardt
para una esfera aislante de radio 0,7 a una profundidad de 1,5 situada en x = y = 0. Los coeficientes
de sensibilidad se han calculado con 1 punto por celda. El resultado es irreal ya que la
conductividad estimada de la esfera es de 0,2. Esto se debe a que la esfera tiene un volumen
mayor que la celda y el algoritmo aumenta el cambio de la conductividad para compensar este
efecto. Si el modelo es de celdas de lado 1,4 unidades y el centro de la primera fila coincide con el
centro de la esfera los resultados con coherentes (Figura 5.23).
una esfera aislante de radio 0,7 situada en x = y = 0, z = 1,5. La conductividad de la esfera es negativa.
Se ha utilizando 1 punto por celda para obtener los coeficientes de sensibilidad.
una esfera aislante de radio 0,7 situada en x = y = 0, z = 1,5. Las celdas son de lado 1,4 unidades y la
primera fila est centrada en z = 1,5. Se ha utilizado 1 punto por celda para obtener los coeficientes de
sensibilidad.
Problema inverso
5-33
La Figura 5.24 muestra la imagen obtenida con un modelo de 16 1 5 celdas de lado unidad.
La esfera se atribuye ahora a dos celdas. En este caso, se han utilizado 8 puntos por celda para
calcular los coeficientes de sensibilidad.
Figura 5.24. Imagen 2D obtenida con la configuracin Schlumberger para una esfera aislante de radio
0,7 situada en x = y = 0, z = 1,5. Se han utilizando 8 puntos por celda para obtener los coeficientes de
sensibilidad.
La Figura 5.25 representa las imgenes obtenidas para una esfera aislante de radio unidad
situada en x = y = 0, z = 2, utilizando dos modelos diferentes: uno de 17 1 5 y otro de 16 1
5 celdas de lado unidad. Este segundo modelo delimita con ms precisin la anomala. En ambos
casos aparecen conductividades negativas debido a que las celdas son de 1 unidad en la direccin y
mientras que el dimetro de la esfera es de 2 unidades. La sensibilidad de cada celda se ha obtenido
utilizando 1 punto.
a)
b)
unidad situada en x = y = 0, z = 2. a) Modelo 17 1 5 celdas. b) Modelo 16 1 5 celdas. Las celdas
son de lado unidad. Se ha utilizado 1 punto por celda para obtener los coeficientes de sensibilidad.
La Figura 5.26 muestra las imgenes obtenidas con celdas de dimensin 1 2 1. Los valores
negativos de conductividad desaparecen debido a que el modelo se adapta mejor a las dimensiones
de la esfera.
5-34
a)
Problema inverso
b)
unidad situada en x = y = 0, z = 2. a) Modelo 17 1 5 celdas. b) Modelo 16 1 5 celdas
(
= 1,51
10-8). Las celdas son de dimensin 1 2 1 unidades.
La Figura 5.27 muestra la imagen 2D obtenida con la configuracin Schlumberger con un

modelo de 9 1 3 celdas de lado 2 unidades. La sensibilidad de cada celda se ha obtenido
utilizando 8 puntos. La esfera se localiza correctamente.
unidad situada en x = y = 0, z = 2. El modelo es de 9 1 3 celdas de lado 2 unidades. La sensibilidad
de las celdas se ha obtenido utilizando 8 puntos.
La Figura 5.28 muestra la imagen obtenida y la curva L con la configuracin doble dipolo si
utilizamos un modelo de 32 1 10 celdas de dimensin 0,5 2 0,5 unidades. La anomala no
queda bien definida debido a que el valor de encontrado no es el adecuado. La causa es que el
nmero de celdas es muy superior al nmero de medidas disponibles. Con un valor de = 10-17 los
resultados mejoran ostensiblemente (Figura 5.29). Este valor se ha obtenido por prueba y error
comparando la imagen obtenida con la imagen ideal .
Problema inverso
a)
5-35
b)
Figura 5.28. Distribucin de conductividad y curva L con la configuracin doble dipolo para una esfera
aislante de radio unidad a una profundidad de 2 unidades usando el mtodo Marquardt (
= 4,18
10-6).
El modelo es de 32 1 10 celdas de lado 0,5 unidades en las direcciones x, z y de 2 unidades en la
direccin y. La esfera est situada en x = 0, y = 0.
Figura 5.29. Imagen 2D obtenida con la configuracin doble dipolo para una esfera aislante de radio
unidad situada en x = y = 0, z = 2 (
=10-17). El valor de se ha encontrado por prueba y error. El
modelo es de 32 1 10 celdas de dimensin 0,5 2 0,5 unidades.
Sin embargo, en un caso real no sabremos cul es la imagen ideal (si lo supiramos no hara
falta obtenerla), por lo que el procedimiento anterior no es adecuado. Lo que s podemos tener es
cierta informacin a priori de la distribucin de conductividad. Esta informacin previa puede tener
origen en un conocimiento previo de la zona o a travs de datos obtenidos con otros mtodos
geofsicos. En nuestro caso tambin puede obtenerse con los algoritmos de retroproyeccin, que no
. La Figura 5.30 muestra la imagen obtenida con el mtodo de
retroproyeccin entre lneas equipotenciales. La imagen no es muy buena pero puede servir como
una primera estimacin para delimitar la zona donde se encuentra el objeto.
5-36
Problema inverso
Figura 5.30. Imagen 2D obtenida con la configuracin doble dipolo y el mtodo retroproyeccin
equipotencial para una esfera aislante de radio unidad situada en x = y = 0, z = 2. El modelo es de
32 1 10 celdas de dimensin 0,5 2 0,5 unidades.
La Figura 5.30 indica que el objeto se encuentra entre x = -2,5 y x = 2,5. La Figura 5.31 muestra
la curva L y la imagen obtenida con el mtodo de Marquardt cuando el modelo slo incluye las
celdas probables de contener el objeto. Esto sera equivalente a considerar la matriz de covarianza
C m = m I en (5.37), con m = 1 para las celdas situadas entre x = -2,5 y x = 2,5; y m = 0 (no
2
permitimos que vare su valor) para el resto de celdas. La curva L queda bien definida en este caso
y se utiliza un valor de = 100c.
-16
=7,27
10 ). El modelo es de 10 1 10 celdas de dimensin 0,5
2 0,5 unidades. La curva L queda bien definida.
Una vez localizado el objeto podemos discretizar con ms detalle la zona donde se encuentra
(de hecho volvemos a introducir ms informacin previa). La Figura 5.32 muestra la imagen
obtenida y la curva L con la configuracin doble dipolo usando un modelo de 10 1 10 celdas de
dimensin 0,25 2 0,25 centrado en x = y = 0, z = 2.
Problema inverso
5-37
=1,23
10-21). El modelo es de 10 1 10 celdas de dimensin 0,25
2 0,25 unidades. La curva L queda bien definida.
Otra alternativa para obtener el valor de adecuado en el caso de la Figura 5.28 es incrementar
el nmero de medidas (o bien reducir el nmero de celdas). La Figura 5.29 muestra la imagen 2D
obtenida utilizando 21 electrodos separados 0,75 unidades (189 medidas independientes). La
posicin del electrodo 1 es x = -7,5 y la del electrodo 16 es x = 7,5. La curva L queda bien definida.
Figura 5.33. Imagen 2D y curva L obtenida utilizando 21 electrodos separados 0,75 unidades con la
configuracin doble dipolo para una esfera aislante de radio unidad situada en x = y = 0, z = 2 (
=
-15
5,62
10 ), resultando 189 medidas. El modelo es de 32 1 10 celdas de dimensin 0,5 2 0,5
unidades.
Si no es posible incrementar el nmero de medidas reales, podemos interpolar las medidas

disponibles. La Figura 5.34 muestra la imagen obtenida con la configuracin doble dipolo si
interpolamos las 104 medidas (obtenidas utilizando 16 electrodos) con la funcin spline de Matlab,
resultando 194 medidas. La curva L asociada queda bien definida.
5-38
Problema inverso
Figura 5.34. Distribucin de conductividad y curva L con la configuracin doble dipolo para una esfera
aislante de radio unidad situada en x = y = 0, z =2 (
= 7,07
10-9). El modelo es de 32 1 10 celdas de
dimensin 0,5 2 0,5 unidades. Las medidas se han obtenido interpolando las 104 medidas
existentes con la funcin spline de Matlab, resultando 194 medidas
5.4.6. Errores en las medidas

Los errores en las medidas pueden ser debidos, entre otros factores, a la inexactitud en la
posicin de los electrodos, al ruido geoelctrico y a la inexactitud del sistema de medida. En el
laboratorio, el ruido geoelctrico vendr dado por la variacin de la resistividad del agua con la
temperatura ambiente y con las pequeas vibraciones mecnicas de la cubeta (al vibrar la estructura
del edificio).
Las medidas de laboratorio se realizan con 16 electrodos separados 2 cm (1 unidad). La Figura
5.35 muestra las imgenes 2D obtenidas para una esfera aislante situada en x = y = 0, z = 2, 3, 4
unidades, con la configuracin Schlumberger (izquierda) y doble dipolo (derecha). Se han utilizado
1 5 celdas de dimensin 1 2 1 unidades. La
esfera se localiza correctamente en todos los casos. El parmetro disminuye al aumentar la
profundidad de la esfera.
a)
b)
Problema inverso
5-39
c)
d)
e)
f)
(derecha) a partir de datos sintticos sin ruido para una esfera conductora de radio unidad situada en
x = y = 0, a) z = 2, = 1,18
10-4; b) z = 2, = 5,75
10-5; c) z = 3, = 2,28
10-8; d) z = 3, = 7,73
10-9;
e) z = 4, = 7,68
10-12; f) z = 4, = 9,65
10-12. El modelo utilizado es de 16 1 5 celdas de dimensin
1 2 1 unidades.
Aadimos ruido gaussiano a las medidas. Definimos la relacin S/N para una medida j como
z 0j
S
=
N j j
(5.51)
donde zj0 es la impedancia mutua de la medida j y j es la desviacin tpica del ruido gaussiano
para la medida j. En el apartado 4.3.1 vimos que para la configuracin Schlumberger Vdmin = 35,7
mVpp y para la configuracin doble dipolo Vdmin = 0,777 mVpp. Basados en las medidas
experimentales realizadas en el laboratorio, la amplitud del ruido aadido se ajusta para que
(S/N)min = 70 dB en la configuracin Schlumberger y (S/N)min = 37 dB para la configuracin doble
dipolo, que equivale a unos 10 V de ruido. La Figura 5.36 muestra las imgenes obtenidas con la
esfera situada a una profundidad de 4 unidades. Las imgenes se deterioran respecto a las de la
Figura 5.35, pero la esfera an se localiza correctamente con las dos configuraciones. El parmetro
aumenta para atenuar el efecto del ruido. Las imgenes a profundidad 2 y 3 unidades no se
muestran ya que prcticamente no cambian.
5-40
Problema inverso
a)
b)
Figura 5.36. Imagen 2D obtenida con la configuracin a) Schlumberger (

= 1,68
10-7) y b) doble dipolo
(
= 1,04
10-7) a partir de datos sintticos a los que se ha aadido ruido gaussiano. La esfera aislante
x = y = 0, z = 4.
La Figura 5.37 muestra las imgenes obtenidas con la esfera en z = 3, 4, cuando la relacin S/N
es del 0,1 % para todas las medidas y en las dos configuraciones. Las imgenes se degradan
bastante para z = 4, y la localizacin de la esfera es incorrecta.
a)
b)
c)
d)
(derecha) obtenida a partir de datos sintticos a los que se ha aadido ruido gaussiano con una
-5
S/N = 0,1 % para todas las medidas. La esfera est situada en x = y = 0. a) z = 3 (

= 3,04
10 ),
-7
-5
-5
b) z = 3 (
= 9,66
10 ), c) z = 4 (
= 7,83
10 ), d) z = 4 (
= 1,51
10 ).
Si disponemos de informacin a priori acerca del error en las medidas conviene tenerla en
cuenta. Partiendo de (5.36)
Problema inverso
5-41
= S T C n1 S + C m1
consideramos C m = m I , y Cn = diag 1 ,.., P

2
S T C n1 Z
) con P el nmero de medidas. En el ejemplo
de la Figura 5.36 la desviacin tpica es constante para todas las medidas y (5.36) se reduce al
= ( n m ) . En el ejemplo de la Figura 5.37 la desviacin tpica es
2
proporcional a las medidas y (5.36) se puede reescribir como
T
rel = S rel
S rel + I
T
S rel
Z rel
(5.52)
donde el subndice rel indica relativo. El parmetro y los coeficientes de los vectores rel, Zrel
y de la matriz Srel son
j , rel =
z i , rel =
s ij ,rel =
j = 1..P
0
z i
i = 1..Q
z 0j
(5.53)
0
s ij
z i0
0
=
m
S

N
donde 0 es la conductividad del medio y es inversamente proporcional al cuadrado de la relacin

S/N. Es decir, cuanto menor sea el ruido menor ser el valor de utilizado. La expresin (5.52) es
el mtodo de Marquardt con la matriz de sensibilidad, los datos y los parmetros expresados de
forma relativa.
La Figura 5.38 muestra las imgenes obtenidas en el caso de la Figura 5.37 utilizando la
expresin (5.52). La configuracin doble dipolo permite, ahora, la correcta localizacin de la esfera
situada a profundidad 4 unidades, mientras que la configuracin Schlumberger sigue atribuyndola
a una profundidad de 3 unidades. La Figura 5.39 muestra los valores propios de las matrices de
sensibilidad relativas (al descomponerlas con la tcnica SVD) para las dos configuraciones
electrdicas. La configuracin doble dipolo est mejor condicionada, por lo que ser menos
vulnerable al ruido. Es decir, para un factor similar (al ser la relacin S/N la misma para las dos
configuraciones), el nmero de vectores propios no atenuados ser mayor para la configuracin
doble dipolo y, por tanto, contendr ms informacin sobre las celdas ms profundas (que como
vimos estaban asociadas a los valores propios menores), lo que explica su mejor comportamiento.
5-42
Problema inverso
a)
b)
c)
d)
(derecha) obtenida a partir de datos sintticos a los que se ha aadido ruido gaussiano con una
S/N = 0,1 % para todas las medidas. Se ha utilizado la matriz de sensibilidad relativa. La
esfera est situada en x = y = 0. a) z = 3 (
= 2,42
10-5), b) z = 3 (
= 1,54
10-5), c) z = 4 (
= 5,89
10-5), d)
z = 4 (
= 2,22
10-5).
Valores propios normalizados log10(i/1)
Valores propios SVD matriz Srel
0
doble dipolo
Schlumberger
-2
-4
-6
-8
-10
0
20
40
60
80
Valores propios i
Figura 5.39. Valores propios normalizados al descomponer la matriz Srel por la tcnica SVD para la
configuraciones doble dipolo y Schlumberger.
Problema inverso
5-43
Si el error es una combinacin de los errores anteriores (error constante + error proporcional a la
medida) se ha de utilizar la expresin general dada por (5.36) considerando la varianza de cada
medida. La Figura 5.40 muestra las imgenes obtenidas para z = 3,4 con la configuracin doble
dipolo cuando el error es de 0,1 % + 10 V. Se ha utilizado la expresin (5.36) y se considera que
se conoce la varianza del error. La configuracin doble dipolo sigue obteniendo mejor resultado.
a)
b)
Figura 5.40. Imagen 2D obtenida con la configuracin doble dipolo obtenida a partir de datos
sintticos a los que se ha aadido ruido gaussiano de 0,1 % + 10 V. La esfera est situada en x = y =
0. a) z = 3, b) z = 4.
En la prctica la medida homognea Z0 no se obtiene analticamente, como veremos en el

captulo 6, sino que se realiza la medida experimental con el objeto suficientemente lejos a fin de
disminuir los errores debidos a las dimensiones finitas de la cubeta y al posicionamiento de los
electrodos. Cada dato se obtiene promediando 10 medidas y se da la relacin S/N. El ruido es
debido principalmente a la instrumentacin y es aproximadamente constante para todas las
medidas. El vector de impedancias mutuas Z se obtiene restando los datos medidos con y sin el
objeto. El sistema de medida tarda unos 35 minutos en realizar 104 medidas (una configuracin
electrdica), y es probable que contenga errores proporcionales a las medidas debidos a la
variacin de la resistividad con el tiempo (cambios de temperatura, vibraciones mecnicas,...).
Estos errores no aparecen en la relacin S/N medida. Por lo tanto slo se conoce la componente fija
del error y no la proporcional a las medidas. En este caso no se puede utilizar la expresin (5.36).
La aplicacin del mtodo de Marquardt o de la expresin (5.52) en el caso de la Figura 5.40 no
proporciona buenos resultados para ninguna de las dos configuraciones.
Una solucin es eliminar los datos con relacin S/N medida menor, por lo que el error
proporcional a la medida dominar en los datos restantes. Podemos utilizar, entonces, la expresin
(5.52) sin conocer la magnitud del error, ya que el parmetro se determina de forma automtica.
Supongamos de nuevo un error del 0,1 % + 10 V y que en la relacin S/N medida slo se
manifieste el error de 10 V. La Figura 5.41 muestra las imgenes obtenidas para la configuracin
doble dipolo con la esfera situada en z = 3 y 4, donde se han eliminado las medidas con una
relacin S/N medida menor a 70 dB (medidas menores a 30 mV). A pesar de que se ha reducido el
nmero de medidas la esfera se localiza correctamente. Este procedimiento es innecesario en la
configuracin Schlumberger ya que la relacin S/N medida es superior a 70 dB en todas las
medidas.
5-44
a)
Problema inverso
b)
Figura 5.41. Imagen 2D obtenida con la configuracin doble dipolo obtenida a partir de datos
sintticos a los que se ha aadido ruido gaussiano de 0,1 % + 10 V. Las medidas menores a 30 mV se
han eliminado. La esfera est situada en x = y = 0. a) z = 3 (
= 1,23
10-5), b) z = 4 (
= 1,64
10-6).
5.4.7. Objetos cil ndricos

En el caso de un cilindro perpendicular a la configuracin de electrodos y paralelo a la
superficie podemos utilizar la expresin (3.29) para obtener los datos analticamente. La Figura
5.42 muestra la imagen obtenida con la configuracin Schlumberger para un cilindro aislante de
radio unidad situado en x = 0, z = 2. El modelo es de 16 1 5 celdas de lado unidad. La imagen
aparece distorsionada y muestra valores de conductividad negativos. Esto es debido a que el
modelo no contempla la longitud infinita del cilindro a lo largo del eje y lo que repercute en un
aumento del cambio de conductividad estimado. La Figura 5.43 presenta los resultados para un
cilindro de radio 0,5 unidades situado en x = 0, z = 1,5.
Figura 5.42. Imagen 2D obtenida con la configuracin Schlumberger para una cilindro aislante de
-8
radio unidad situado en x = 0, z = 2. El modelo es de 16 1 5 celdas de lado unidad (

= 6,06
10 ).
Problema inverso
5-45
Figura 5.43. Imagen 2D obtenida con la configuracin Schlumberger para una cilindro aislante de
radio 0,5 unidades situado en x = 0, z = 1,5. El modelo es de 17 1 5 celdas de lado unidad
(
= 9,18
10-8).
Con el propsito de modelar adecuadamente los objetos cuya resistividad no cambia a lo largo
del eje y, Loke y Barker (1995) realizan una integracin previa a lo largo de dicho eje para calcular
la sensibilidad de cada celda. Adems, el factor de correccin de las imgenes ha de ser diferente.
5.4.4 la conductividad final de cada celda fcelda se
obtendr como
2 k ccelda
f
celda
k ccelda
est
celda
= h
h
2 + k ccelda
h
(5.54)
donde el parmetro kccelda se obtiene a partir de la conductividad homognea h y de la

est
conductividad estimada para cada celda celda
por el algoritmo de reconstruccin. La Figura 5.44 y
la Figura 5.43 muestran los casos anteriores una vez aplicadas estas mejoras. Los valores de
conductividad estimados y la localizacin de los objetos mejora.
Figura 5.44. Distribucin de conductividad con la configuracin Schlumberger para una cilindro
aislante de radio unidad situada en x = 0, z = 2. El modelo es de 16 1 5 celdas de longitud infinita a
lo largo del eje y (
= 1,13
10-6).
5-46
Problema inverso
Figura 5.45. Distribucin de conductividad con la configuracin Schlumberger para una cilindro
aislante de radio 0,5 unidades situado en x = 0, z =1,5. El modelo es de 17 1 5 celdas de longitud
infinita a lo largo eje y (
= 8,26
10-7).
5.4.8. Im genes 3D
Las imgenes 2D presentadas en los apartados anteriores pueden conllevar resultados equvocos
cuando el objeto no se encuentra en el mismo plano vertical que contiene la agrupacin de
electrodos. Por ejemplo, la muestra la imagen obtenida con la configuracin doble dipolo para una
esfera conductora de radio 0,5 unidades situada en x = 0, y = 2, z = 1,5. El modelo es de 17 1 5
celdas de lado unidad. La esfera se localiza errneamente a una profundidad de 3, que es la
distancia desde el centro de la esfera a la agrupacin de electrodos.
Figura 5.46. Imagen 2D obtenida con la configuracin doble dipolo para una esfera conductora de
radio 0,5 unidades situada en x = 0, y = 2, z = 1,5. El modelo utilizado es de 17 1 5 celdas de lado
unidad. La esfera se localiza errneamente en z = 3, que es la distancia desde el centro de la esfera a
la agrupacin de electrodos.
Para localizar correctamente la esfera correctamente es necesario utilizar imgenes 3D. Adems,
el nmero de medidas se ha de incrementar para que el problema no sea demasiado indeterminado,
Problema inverso
5-47
como vimos en el apartado 5.4.5. En el ejemplo anterior las medidas sintticas se han obtenido con
la agrupacin de electrodos situada sucesivamente en y = 0, 1, 2, 3. El modelo utilizado es de 17
4 5 celdas de lado unidad. La Figura 5.47 muestra el corte vertical en y = 2 y el corte horizontal
en z = 1,5. Ahora, la esfera se localiza correctamente.
Figura 5.47. Imagen 3D obtenida con la configuracin doble dipolo para una esfera conductora de
radio 0,5 unidades situada en x = 0, y = 2, z = 1,5. El modelo utilizado es de 17 4 5 celdas de lado
unidad. a) Corte vertical en y = 2, b) corte horizontal en z = 1,5. La esfera se localiza correctamente.
5.5. Resumen
El problema inverso obtiene la distribucin de conductividades del subsuelo a partir de las
medidas realizadas en la superficie. Los mtodos de retroproyeccin provienen de la tomografa
mdica. Sin embargo, la mayora de tcnicas utilizadas en la prospeccin geofsica utilizan
mtodos iterativos basados en el criterio de mnimos cuadrados. Las imgenes 3D han sido poco
utilizadas hasta la fecha, por la gran cantidad de medidas que requieren y el elevado tiempo de
clculo de los algoritmos utilizados. En los ltimos tiempos esta tendencia ha cambiado por la
aparicin de sistemas de medida automticos y de algoritmos ms eficientes.
El teorema de la sensibilidad relaciona la tensin diferencial en la superficie con el cambio de
conductividad en una regin del subsuelo. El problema, que es no lineal, se linealiza suponiendo
cambios de conductividad pequeos. Si el subsuelo se discretiza en celdas de conductividad
constante se obtiene la matriz de sensibilidad, que relaciona todas las medidas de una configuracin
electrdica con las diferentes celdas. El problema inverso, expresado en forma matricial, puede
resolverse utilizando mtodos iterativos. Los resultados se presentan en forma de imgenes de la
distribucin de conductividad en el subsuelo. Sin embargo, a cada iteracin se ha de calcular el
problema directo y la matriz de sensibilidad mediante mtodos numricos, lo que exige un tiempo
de clculo elevado. Los mtodos de un solo paso son un caso particular, donde slo se realiza la
primera iteracin. Si se escoge un medio homogneo como modelo de partida el tiempo de clculo
necesario se reduce drsticamente. El inconveniente es que estos mtodos slo dan una primera
aproximacin de la distribucin real de conductividades en el subsuelo. Sin embargo Gasulla,
Jordana y Palls (1999) muestran que las imgenes obtenidas son suficientemente buenas para
detectar objetos locales, por lo que en este trabajo slo se utilizan estos mtodos.
5-48
Problema inverso
La resolucin del problema inverso consiste bsicamente en invertir la matriz de sensibilidad

para obtener la distribucin de conductividades. Sin embargo el problema est mal definido, lo que
implica que la matriz de sensibilidad est mal condicionada y, por tanto, pequeos errores en los
datos provocan grandes variaciones en la solucin. Los mtodos de mnimos cuadrados tratan de
resolver esta dificultad regularizando el problema, que consiste bsicamente en aadir informacin
a priori. La regularizacin de Tikhonov es uno de los mtodos ms conocidos. Los algoritmos de
Marquardt-Levenberg y de Occam son casos particulares. El mtodo TSVD deriva de la
descomposicin SVD de la matriz de sensibilidad. Tarantola y Valette (1982) abordan el problema
inverso desde un punto de vista probabilstico. Su mtodo es general y algunos de los algoritmos
clsicos pueden ser obtenidos como casos particulares. Los mtodos de retroproyeccin, que
provienen en su mayora de la tomografa mdica, regularizan el problema utilizando la traspuesta
de una matriz de sensibilidad ponderada.
Los algoritmos de reconstruccin (de la conductividad) se comparan a partir de una estimacin
cualitativa y cuantitativa de las imgenes 2D obtenidas. La mayora de autores obtienen los datos a
partir de mtodos numricos (elementos finitos, diferencias finitas). En este trabajo los datos se
obtienen a partir de la solucin analtica para una esfera (Captulo 3) conductora y aislante inmersa
en el subsuelo. Se utilizan dos configuraciones electrdicas: la doble dipolo y la Schlumberger. Los
mtodos de mnimos cuadrados son claramente superiores a los mtodos de retroproyeccin. El
estudio de la matriz de resolucin de los parmetros explica estos resultados. Los mtodos de
Marquardt y TSVD obtienen los menores errores. El mtodo de Occam suaviza la imagen alargando
verticalmente el objeto por lo que su localizacin es ms imprecisa. El parmetro se puede
determinar automticamente para el mtodo de Marquardt, por lo que ste es el mtodo escogido.
Un valor de demasiado pequeo inestabiliza la solucin y la imagen es muy ruidosa . Por el
contrario, un valor de demasiado grande estabiliza demasiado la solucin y el objeto se localiza
incorrectamente en las capas superiores.
La no-linealidad del problema original se resuelve normalmente mediante el uso de mtodos
iterativos. En este trabajo se tiene en cuenta aplicando un factor de correccin a las imgenes
obtenidas. Si el modelo escogido (discretizacin del subsuelo) no es adecuado las imgenes pueden
ser irreales, apareciendo, por ejemplo, conductividades negativas. Si el nmero de celdas es muy
superior al nmero de medidas el problema es muy indeterminado, lo que hace difcil encontrar una
solucin adecuada. Esto se solventa, aparte de reduciendo el nmero de celdas, aadiendo
informacin a priori (utilizando los mtodos de retroproyeccin) o aumentando el nmero de
medidas (reales o interpoladas). Los errores en las medidas afectan la localizacin de los objetos
ms profundos. La configuracin doble dipolo obtiene mejores resultados que la Schlumberger
cuando en aqulla se eliminan las medidas ms errneas. Adems, al ser el error dominante
proporcional a la medida, es mejor utilizar una matriz de sensibilidad relativa. En el caso de tener
objetos cuya resistividad no vara a lo largo del eje y se realiza una integracin previa a lo largo de
dicho eje para el clculo de los coeficientes de sensibilidad. Adems, el factor de correccin de las
imgenes es diferente. Si el objeto no se encuentra en el mismo plano vertical que contiene la
Problema inverso
5-49
agrupacin de electrodos la posicin estimada del objeto no es correcta. La utilizacin de imgenes
Resultados experimentales
6-1
6. RESULTADOS EXPERIMENTALES
En este captulo se muestran las imgenes obtenidas de la distribucin de la conductividad

elctrica del subsuelo a partir de datos experimentales. El captulo 5 mostr que el mtodo de
Marquardt-Levenberg era el que ofreca mejores resultados en la localizacin de objetos locales.
Por lo tanto, ser el nico mtodo de reconstruccin utilizado para obtener las imgenes
experimentales.
Se realizan primero medidas de laboratorio en una cubeta de plstico llena de agua, donde se
introducen objetos esfricos y cilndricos aislantes y conductores. Los errores debidos a las
dimensiones finitas de la cubeta se reducen realizando una medida de referencia antes de introducir
los objetos. Las imgenes 3D permiten obtener una imagen ms realista de las estructuras inmersas
en el subsuelo.
Medidas de campo realizadas en un terreno agrcola situado en Santa Eulalia de Ronana
(Barcelona) han permitido detectar una tubera de plstico de 8 cm de radio enterrada previamente
a una profundidad de 24 cm. El Apndice E muestra imgenes de la zona donde se han realizado
6.1. Medidas de laboratorio

Se ha utilizado una cubeta de plstico (40 cm 35 cm 20 cm) llena agua hasta un nivel de
unos 17 cm, donde se han sumergido diferentes objetos esfricos y cilndricos. Se ha utilizado una
agrupacin de 16 electrodos separados 2 cm (1 unidad) y se han implementado 2 configuraciones:
Schlumberger y doble dipolo (Captulo 2). Las medidas se han realizado con el sistema basado en
el detector DIES (Figura 4.15). Previamente se determina con el sistema PROGEO (Figura 4.3) que
el medio (agua) es resistivo. El generador HP3245A inyecta una seal cuadrada de 20 Vpp y
frecuencia 1 kHz. Tambin se han realizado medidas con el sistema de campo (Figura 4.25), que
utiliza una agrupacin de 8 electrodos, como validacin previa a las medidas de campo descritas en
el apartado 6.2.
6.1.1. Objetos esf ricos
La Figura 6.1a muestra la imagen obtenida cuando sumergimos una esfera de goma de radio 2,2
cm (1,1 unidades) situada en x = y = 0 a una profundidad de 4 cm (2 unidades). El modelo utilizado
es de 16 1 5 celdas de lado unidad. La impedancia mutua Z en (5.33)
= S T S + I
S T Z = S T S + I
ST Z Z 0
se obtiene a partir de las medidas experimentales realizadas con la agrupacin de electrodos situada
en y = 0. En cambio, Z0 se ha obtenido a partir de la solucin analtica para un medio homogneo
6-2
de conductividad 0,15 S/m (conductividad del agua del grifo). La imagen no permite confirmar la
presencia de la esfera. Ello es debido a que la anomala producida por las dimensiones finitas de la
cubeta enmascara la contribucin de la esfera, como se vio en el apartado 3.4.5. La Figura 6.1b,
donde se ha utilizado un modelo con celdas de 2 2 2 unidades, muestra con ms claridad este
efecto. Las celdas ms oscuras (conductividad menor) corresponderan a las paredes de la cubeta,
siendo difcil distinguir la contribucin de la esfera.
a)
b)
Figura 6.1. Imagen 2D obtenida con la configuracin Schlumberger sustituyendo Z en (5.33) por los
datos experimentales obtenidos para una esfera aislante de radio 1,1 situada en x = y = 0, z = 2
(
= 9,97
10-4). Z0 se ha obtenido analticamente El modelo utilizado es de a) 16 1 5 celdas de
dimensin 1 2 1 unidades, b) 16 1 5 celdas de dimensin 2 2 2 unidades.
Franco (1999) muestra que la contribucin de la cubeta se puede minimizar utilizando la

diferencia relativa entre las medidas realizadas con y sin el objeto. El apartado 3.4.5 tambin
confirma este resultado a partir de medidas experimentales realizadas en la cubeta. En este caso el
algoritmo basado en el mtodo de Marquardt viene dado por (5.52)
T
rel = S rel
S rel + I
T
S rel
Z rel
donde Z y Z0 son ahora los datos experimentales obtenidos con y sin el objeto (en lugar de sacar el
objeto del agua es ms prctico colocarlo en una esquina del fondo de la cubeta). De esta manera se
reducen tambin los errores debido a la inexactitud en la posicin de los electrodos (Barber y
Brown, 1988). Cada dato se obtiene promediando 10 medidas y se da la relacin S/N. El sistema de
medida tarda unos 35 minutos en realizar 104 medidas (una configuracin electrdica), y es
probable que contenga errores proporcionales a las medidas debidos a la variacin de la resistividad
con el tiempo (cambios de temperatura, inclinacin de la superficie libre del agua, ...). Estos errores
S/N medida. El apartado 5.4.6 muestra que es mejor utilizar la expresin
(5.52) para reducir el efecto de estos errores proporcionales a la medida (que son los que dominan
una vez se excluyen las medidas con menor relacin S/N medida). En este apartado se confirma
este resultado experimentalmente.
La Figura 6.2a muestra la imagen obtenida utilizando (5.52). Los valores corresponden a
cambios relativos de la conductividad respecto a la conductividad del agua (0,15 S/m
aproximadamente). La esfera se localiza correctamente y los resultados son muy similares a los que
6-3
se obtienen con datos sintticos para una esfera de radio 1,1 unidades situada en x = y = 0, z = 2.
(Figura 6.2b). La Figura 6.3 muestra las imgenes cuando se utiliza la configuracin doble dipolo.
En este caso el valor de utilizado para las medidas experimentales es ms elevado debido al
mayor error presente en las medidas.
a)
b)
1,1 unidades situada en x = y = 0, z = 2 a partir de datos a) experimentales (
= 9,19
10-4) y
b) sintticos (
= 9,97
10-4). El modelo utilizado es de 16 1 5 celdas de dimensin 1 2 1
unidades. Los resultados son similares
a)
b)
Figura 6.3. Imagen 2D obtenida con la configuracin doble dipolo para una esfera aislante de radio 1,1
unidades situada en x = y = 0, z = 2 a partir de datos a) experimentales (
= 1,99
10-2) y b) sintticos
-4
(
=9,79
10 ). El modelo utilizado es de 16 1 5 celdas de dimensin 1 2 1 unidades.
La Figura 6.4 muestra las imgenes experimentales con las dos configuraciones electrdicas
cuando la esfera se desplaza 4 unidades a la derecha (x = 4, y = 0, z = 2). La localizacin de la
esfera en los dos casos es correcta. Los resultados son similares cuando desplazamos la esfera a la
izquierda.
6-4
a)
b)
Figura 6.4. Imagen 2D obtenida a partir de datos experimentales para una esfera aislante de radio 1,1
unidades situada en x = 4, y = 0, z = 2, con la configuracin a) Schlumberger (
= 4,47
10-4) y b) doble
dipolo (
= 9,04
10-3).
La Figura 6.5 muestra la imagen obtenida con la configuracin Schlumberger para una esfera
conductora de radio 1,75 cm (0,875 unidades) situada en x = y = 0, z = 2. El cambio relativo de
conductividad es ahora de signo contrario que en el caso de la esfera aislante.
Figura 6.5. Imagen 2D obtenida con la configuracin Schlumberger a partir de datos experimentales
para una esfera conductora de radio 0,875 unidades situada en x = 0, y = 0, z = 2 (
= 1,12
10-3).
La Figura 6.6 muestra la imagen obtenida con las dos configuraciones para una esfera aislante
de radio 1,1 situada en x = y =0, z = 3. La imagen se deteriora debido a los errores en las medidas, a
las dimensiones finitas de la cubeta y a la variacin de la conductividad del agua. Ahora el efecto
de estos errores es ms importante debido a que la esfera est situada a mayor profundidad y, por
tanto, la anomala que produce es menor. Adems, el cambio relativo en la conductividad es menor
a)
6-5
b)
unidades situada en x = y = 0, z = 3, con la configuracin a) Schlumberger (
= 9,19
10-5) y b) doble
dipolo (
= 6,55
10-3).
La Figura 6.7 muestra las imgenes obtenidas para la esfera situada en x = y = 0, z = 4. La

configuracin Schlumberger localiza incorrectamente la esfera en z = 3 con un cambio relativo de
conductividad menor que en la Figura 6.6a. Este efecto ya se observ en la Figura 5.39 al obtener
imgenes a partir de datos sintticos contaminados con un ruido del 0,1 %. La imagen
correspondiente a la configuracin doble dipolo (Figura 6.7b) aparece muy distorsionada debido a
que los errores relativos son mayores.
a)
b)
unidades situada en x = y = 0, z = 4, con la configuracin a) Schlumberger (
= 1,43
10-4) y b) doble
-3
dipolo (
= 4,31
10 ).
El apartado 5.4.6 mostr que para la configuracin doble dipolo las imgenes mejoran si se
eliminan las medidas con una relacin S/N medida menor. La Figura 6.8 muestra las imgenes para
la esfera aislante situada en x = y = 0, z =3 y z = 4, donde se han eliminado las medidas con una
relacin S/N medida menor a 70 dB. Ahora es posible localizar correctamente la esfera situada en z
= 4. Las imgenes son mejores que las obtenidas en la Figura 6.6 y en la Figura 6.7 con la
configuracin Schlumberger. En la configuracin Schlumberger la relacin S/N siempre es mayor a
70 dB por lo que el procedimiento descrito no es aplicable. El mejor comportamiento de la
configuracin doble dipolo (una vez eliminadas las medidas ms ruidosas ) es debido, como se
coment en el apartado 5.4.6, al mejor acondicionamiento de la matriz de sensibilidad.
6-6
a)
b)
Figura 6.8. Imagen 2D obtenida con la configuracin doble dipolo a partir de datos experimentales
para una esfera aislante de radio 1,1 unidades situada en x = y = 0, a) z = 3 (
= 1,3710-4), b) z = 4 (
=
2,2310-5). Slo se han utilizado los datos con S/N > 70 dB.
En el apartado 3.4 vimos que era posible determinar la profundidad y el radio de una esfera
centrada entre los electrodos inyectores a partir de las primeras 13 medidas de la configuracin
Schlumberger. El apartado 3.4.5 mostr que los mtodos ms robustos eran el de cruce por cero y
Tabla 6.1 muestra las profundidades y radios hallados con estos
dos mtodos para los casos de las Figuras 6.3, 6.5, 6.6 y 6.7. Para estimar los errores en los
resultados se ha de obrar con precaucin ya que la medida del radio es precisa (se realiza con un
pie de rey) pero el valor de la profundidad es aproximado. Esto es debido a que el posicionamiento
dentro del agua se realiza manualmente con una pequea polea y un hilo de nylon donde
previamente se ha realizado una marca de la profundidad terica. Los errores mayores se
producen para la esfera aislante a profundidad 3. En los otros casos la coincidencia con los valores
tericos es bastante buena. Cabe destacar los resultados de la esfera aislante a profundidad 4, ya
que la imagen de la Figura 6.7a (configuracin Schlumberger) localizaba la esfera a una
profundidad 3. Los resultados son complementarios a las imgenes obtenidas, aportando ms
informacin para localizar la esfera correctamente.
Esfera
hz
az
hr
ar
aislante h=2, a=1,1
2,26
1,29
2,15
1,20
conductora h=2, a=0,87
2,18
0,87
2,08
0,83
aislante h=3, a=1,1
3,63
1,40
3,42
1,27
aislante h=4, a=1,1
4,15
1,29
4,09
1,20
Tabla 6.1 Determinacin de la profundidad y el radio de la esfera aislante y conductora mediante los
mtodos del paso por cero y del ECM (apartado 3.4).
La Figura 6.9a muestra la imagen obtenida para la configuracin Schlumberger a partir de datos
experimentales para dos esferas: una conductora de radio 0,875 situada en x = -2 y la otra aislante
de radio 1,1 situada en x = 2 (y = 0, z =2, en ambos casos). Las dos esferas se localizan
correctamente y los valores de conductividad para cada esfera son similares a los obtenidos con
ambas por separado (Figura 6.2 y Figura 6.5). Para distinguir mejor la presencia de los objetos se
puede procesar la imagen. Por ejemplo, en la Figura 6.9b los valores de conductividad menores a
0,55 se han igualado al valor mnimo (0,22), los valores de conductividad mayores a 1,45 se han
6-7
igualado al valor mximo (2,25), y el resto se ha igualado a la conductividad del medio (1). Un
procesado similar podra aplicarse a todas las imgenes mostradas anteriormente con el fin de
identificar ms claramente el objeto.
para una esfera conductora de radio 0,875 situada en x = -2 y para una esfera aislante de radio 1,1
unidades situada en x = 2 (y = 0, z = 2, para ambas), = 1,74
10-4.
En el apartado 5.4.8 se vio que las imgenes 2D pueden conllevar resultados errneos cuando la
esfera no est situada en el mismo plano vertical que la agrupacin de electrodos (y = 0). Las
imgenes 3D permiten obtener una distribucin ms realista de la conductividad del subsuelo. Un
mtodo para realizar medidas 3D es desplazar la agrupacin de electrodos a lo largo del eje y. El
desplazamiento de la agrupacin de 16 electrodos en el sistema de laboratorio es complicado.
Adems, el efecto de las paredes de la cubeta cambia a medida que desplazamos la agrupacin a lo
largo del eje y. Una posible solucin es desplazar la esfera manteniendo fija la agrupacin de
electrodos en y =0. Las medidas se han realizado con la esfera situada en x = 0, y = 0 y
sucesivamente en y = -2, y = -4, y = -6. Esta ltima medida se utiliza como referencia (Z0). La
Figura 6.10 muestra la seccin vertical en y = 0 y la seccin horizontal en z = 1,5, donde se ha
considerado que la esfera permanece fija y que la agrupacin de electrodos se desplaza a lo largo
del eje y. La localizacin de la esfera es correcta.
a)
b)
-3
para una esfera aislante de radio 1,1 situada en x = 0, y = 0, z = 2 (

= 1,14
10 ). En vez de desplazar la
agrupacin de electrodos, la esfera se ha situado sucesivamente en y = 0, y = -2, y = -4. La medida de
referencia se ha tomado con la esfera situada en y = -6. a) Seccin vertical en y = 0. b) Seccin
horizontal en z = 1,5.
6-8
6.1.2. Objetos cil ndricos

Un cilindro puede modelar con bastante exactitud galeras, tneles y tuberas. La Figura 6.11
muestra la imagen 2D de un cilindro de PVC (aislante) de radio 2 cm (1 unidad) y longitud 25 cm
(12,5 unidades). El cilindro est situado longitudinalmente debajo de la agrupacin de electrodos a
una profundidad 4 cm (2 unidades). Para confirmar que el cilindro se encuentra efectivamente
debajo de la agrupacin de electrodos necesitaramos una imagen 3D.
para un cilindro de PVC de radio unidad y longitud 12,5 situado a una profundidad de 2 a lo largo de y
= 0 (
= 1,21
10-3).
Como vimos en el captulo 5, si sabemos que el eje del cilindro es perpendicular a la agrupacin
de electrodos, es mejor utilizar un modelo con celdas de dimensin infinita a lo largo del eje y. As,
no es necesario desplazar la configuracin de electrodos, lo que ahorra tiempo de medida y de
Figura 6.12 muestra la imagen para un cilindro situado en x = 0, z = 2, con su eje
paralelo al eje y. Se han realizado dos conjuntos de medidas con la agrupacin de electrodos
situada en y = 0, una con el cilindro situado correctamente y la otra con el cilindro situado en el
fondo de la cubeta.
a)
b)
Figura 6.12. Imagen 2D obtenida con la configuracin Schlumberger a partir de datos

experimentales para un cilindro de PVC de radio unidad y longitud 12,5 situado en x = 0, z = 2, con su
-3
-2
eje paralelo al eje y. Configuracin a) Schlumberger (

= 8,7910 ), b) doble dipolo (
= 8,4210 )
6-9
La Figura 6.13 muestra la imagen con la configuracin Schlumberger para el cilindro situado en
x = -4, z = 2. La imagen se deteriora debido a la proximidad del objeto a una de las paredes de la
cubeta.

experimentales para un cilindro de PVC de radio unidad y longitud 12,5 situado en x = -4, z = 2, con su
eje paralelo al eje y (
= 3,7310-3).
La Figura 6.14 muestra la imagen con la configuracin Schlumberger para un cilindro conductor
situado en x = 0, z = 2, con su eje paralelo al eje y. El cambio de conductividad es de signo
contrario al caso del cilindro aislante.

experimentales para un cilindro conductor de radio unidad y longitud 12,5 situado en x = 0, z = 2, con
-3
su eje paralelo al eje y (
= 1,3510 ).
6-10
La Figura 6.15 muestra la imagen obtenida con las dos configuraciones para un cilindro aislante
de radio unidad situado en x = 0, z = 3. Las medidas con la configuracin doble dipolo presentan
errores relativos mayores y la imagen correspondiente aparece ms distorsionada. La Figura 6.16
presenta las imgenes para el cilindro a profundidad 4. La configuracin Schlumberger localiza
z = 3 (como en el caso de la esfera). La imagen con la configuracin
doble dipolo aparece totalmente distorsionada y no permite la deteccin del cilindro.
a)
b)
Figura 6.15. Imagen 2D obtenida a partir de datos experimentales para un cilindro de PVC de radio
unidad y longitud 12,5 situado en x = 0, z = 3, con su eje paralelo al eje y, a) con la configuracin
Schlumberger (
= 4,86
10-4), b) con la configuracin doble dipolo (
= 8,42
10-3).
a)
b)
Figura 6.16. Imagen 2D i obtenida a partir de datos experimentales para un cilindro de PVC de radio
unidad y longitud 12,5 situado en x = 0, z = 4, con su eje paralelo al eje y, a) con la configuracin
Schlumberger (
= 1,58
10-3), b) con la configuracin doble dipolo (
= 1,20
10-2).
Sin embargo, si en la configuracin doble dipolo eliminamos las medidas con relacin
S/N < 70 dB para z = 3 (Figura 6.17a) y con relacin S/N < 60 dB para z = 4 (Figura 6.17b) la
imagen mejora notablemente y permite la correcta localizacin del cilindro.
6-11
a)
b)
Figura 6.17. Imagen 2D obtenida con la configuracin doble dipolo a partir de datos experimentales
para un cilindro de PVC de radio unidad y longitud 12,5 situado en x = 0, a) z = 3, b) z = 4, con su eje
paralelo al eje y. Slo se han utilizado los datos con a) S/N > 70 dB, b) S/N > 60 dB.
Al igual que en el caso de la esfera podemos utilizar los mtodos descritos en el apartado 3.4
como informacin complementaria a las imgenes obtenidas. La Tabla 6.2 muestra los resultados
utilizando las primeras 13 medidas de la configuracin Schlumberger. La profundidad y el radio
hallados se aproximan bastante a los valores tericos.
Cilindro
hz
az
hd
ad
aislante h=2, a=1
1,91
0,97
1,98
1,01
aislante h=3, a=1
3,00
0,96
3,08
0,98
aislante h=4, a=1
4,66
1,06
4,26
0,97
Tabla 6.2 Determinacin de la profundidad y el radio de la esfera aislante y conductora utilizando las
primeras 13 medidas de la configuracin Schlumberger (apartado 3.4).
6.1.3. Medidas con el sistema de campo

Las medidas de campo que se describirn en el apartado 6.2 utilizan el sistema de campo
(Figura 4.25), donde el nmero de electrodos es de 8. El nmero de medidas independientes para
una configuracin electrdica es ahora de 20. Para verificar su correcto funcionamiento se han
realizado previamente medidas en el laboratorio. En estas medidas no se utiliza el amplificador
BOP 100-2M (Kepco). La Figura 6.18 muestra la imagen 3D obtenida con la configuracin
Schlumberger para la esfera de goma situada en x = 0, y = 0, z = 2. La distancia interelectrdica es
de 2 cm. El volumen se ha dividido en 16 2 5 celdas de 1 2 1 unidades. La agrupacin de
electrodos se ha situado sucesivamente en y = 0,5, y = 1,5, y = 2,5, y = 3,5. Esta ltima se ha
tomado como medida de referencia. El desplazamiento de la agrupacin de electrodos es ahora ms
sencillo y las paredes de la cubeta tienen un efecto menor. A pesar de que el nmero de medidas
(60) es bastante inferior al nmero de celdas (160), la curva L queda bien definida y el parmetro
se puede determinar correctamente.
6-12
a)
b)
Figura 6.18. Imagen 3D obtenida con la configuracin Schlumberger utilizando el sistema de campo
para una esfera aislante de radio 1,1 situada en x = 0, y = 0, z = 2 . El volumen se ha dividido en 16 2
5 celdas de 1 2 1 unidades. Las medidas se han realizado con la agrupacin de 8 electrodos
situada sucesivamente en y = 0,5, y = 1,5, y = 2,5, y = 3,5, que se ha tomado como medida de
referencia. a) Seccin vertical en y = 0. b) Seccin horizontal en z = 1,5. (
= 3,26 10-5).
La Figura 6.19 muestra la imagen 3D para un cilindro de PVC de radio 1 cm (0,5 unidades) y
longitud 25 cm (12,5 unidades), con su eje paralelo al eje x y situado en y = 0, z = 1,5 unidades. El
volumen se ha dividido en 16 2 5 celdas de 1 2 1 unidades. Las medidas se han realizado
con una agrupacin de electrodos situada sucesivamente en y = 0,5, y = 1,5, y = 2,5, e y = 3,5, que
constituye la medida de referencia. El cilindro se localiza correctamente.
a)
b)
Figura 6.19. Imagen 3D obtenida con la configuracin Schlumberger para un cilindro de PVC de radio
0,5 y longitud 12,5 unidades con su eje paralelo al eje x y situado en y = 0, z = 1,5 unidades. El
volumen se ha dividido en 16 2 5 celdas de 1 2 1 unidades. Las medidas se han realizado con la
agrupacin de 8 electrodos situada sucesivamente en y = 0,5, y = 1,5, y = 2,5, y y = 3,5, que se ha
tomado como medida de referencia. a) Seccin vertical en y = 0. b) Seccin horizontal en z = 1,5. (
=
3,48 10-5).
6.2. Medidas de campo

Las medidas de campo se han realizado en una parcela situada en Santa Eulalia de Ronana
(Barcelona). La Figura 6.20 muestra un croquis de la zona de medida, donde se ha enterrado
previamente una tubera de PVC de 8 cm de radio, 1.06 m de largo a una profundidad de 24 cm. El
eje de la tubera es paralelo al eje x. El terreno est formado por unos 32 cm de capa frtil sobre un
substrato rocoso con una ligera inclinacin hacia el oeste. Para inyectar agua con el fin de simular
6-13
una fuga se usa un tubo de plstico de 7 cm de dimetro situado en el lado sur de la tubera (Figura
6.21).
Se utiliza el sistema de campo mostrado en la Figura 4.25. El amplificador BOP 100-2M
(Kepco) inyecta una seal cuadrada de 100 V de pico y frecuencia 1 kHz. Se utilizan 8 electrodos
de acero inoxidable (de dimetro 1 cm y longitud 20 cm) insertados 5 cm en el terreno y separados
20 cm (1 unidad). Los electrodos se disponen sobre un soporte de madera donde se han efectuado 8
orificios a fin de mantener fijas las distancias interelectrdicas. El primer electrodo est en x = -3,5
y el octavo en x = 3,5 unidades. La agrupacin de 8 electrodos se ha situado sucesivamente en y =
2, y = 1, y = 0, y = -1, y = -2, e y = -3, que se toma como medida de referencia a fin de eliminar el
efecto del sustrato rocoso en las imgenes.
3m
N
30 m
5m
8m
tubera x
4.5 m
16 m
7m
Figura 6.20. Croquis de la zona de medida. La tubera de PVC mide 1,06 m de largo, 8 cm de radio y
est enterrada a una profundidad de 24 cm.
6-14
x
y
7 cm
24 cm
8 cm
Sustrato rocoso
Figura 6.21. Tubera enterrada y tubo para simular la fuga situado en su lado sur.
La Figura 6.22 muestra la imagen 3D obtenida con la configuracin Schlumberger, donde se ha

utilizado un modelo de 16 5 5 celdas de 1 2 0,5 unidades. Las conductividades mostradas
estn normalizadas respecto a la conductividad del terreno (aproximadamente 0,01 S/m). La
f = 1 kHz y = 100 m es = 159 m (apartado 4.2), mucho mayor que
la profundidad del objeto (0,24 m). El corte transversal en y = 0 (Figura 6.22a) muestra una
disminucin de la conductividad en la zona central cerca de la superficie. La disminucin en las
celdas ms superficiales se corresponde con el tubo vertical en la Figura 6.21. La disminucin de
conductividad en las celdas de la segunda y la tercera fila corresponden a la tubera de PVC. El
corte horizontal en z = 0,75 (Figura 6.22b) refuerza la anterior afirmacin ya que se observa un
cambio de conductividad mayor en las celdas centrales. El efecto lateral en el lado sur de la tubera
a)
6-15
b)
Figura 6.22. Imagen 3D de un cilindro de PVC de radio 8 cm (0,4 unidades) con su eje paralelo al eje x
y situado en y = 0 a una profundidad 24 cm (1,2 unidades). Las medidas se han realizado con la
agrupacin de 8 electrodos en y = 2, y = 1, y = 0, y = -1, y = -2, y = -3, siendo esta ltima la medida de
-2
referencia. a) Corte vertical en y = 0, b) corte horizontal en z = 0,75. (

= 3,29
10 )
Para detectar la fuga, la agrupacin de electrodos se dispone en x = 0, en direccin

perpendicular a la tubera, con el primer electrodo situado en y = -4 y el octavo situado en y = 3.
Las medidas se han realizado antes (medida de referencia) y despus de verter el agua (unos 7
litros) por el tubo vertical (Figura 6.21). La Figura 6.23 muestra la imagen 2D obtenida con la
configuracin Schlumberger y doble dipolo, donde se ha dividido el volumen en 8 1 5 celdas
de lado unidad. El incremento de conductividad indica la presencia de la fuga (conductora), que se
localiza entre z = 1 (20 cm) y z = 2 (40 cm) y debajo del tubo vertical por donde se inyecta el agua.
El cambio de conductividad es mayor en la configuracin Schlumberger. Esto puede ser debido a
que las medidas se han realizado con posterioridad a las de la configuracin doble dipolo y por
tanto la fuga ha tenido tiempo de expandirse ms y provocar una anomala mayor.
6-16
Figura 6.23. Imagen 2D de la fuga de agua. La agrupacin de electrodos se dispone en x = 0, en

direccin perpendicular a la tubera, con el primer electrodo situado en y = -4 y el octavo situado en y
= 3. Las medidas se han realizado antes y despus de verter el agua (unos 7 litros) por el tubo vertical
(Figura 6.21) con la configuracin a) Schlumberger (
= 8,35
10-5) y b) doble dipolo (
= 2,38
10-3)
En el caso de la fuga, la cancelacin de los efectos provocados por el substrato rocoso y por la
inexactitud en la posicin de los electrodos es ms efectiva que en el caso de la deteccin de la
tubera, ya que la configuracin electrdica permanece fija. Por lo tanto, en general es ms fcil
detectar una variacin temporal que una variacin espacial de la resistividad del subsuelo.
6.3. Resumen
Para validar experimentalmente la deteccin de objetos locales inmersos en el subsuelo se han
realizado medidas de laboratorio y de campo. El modelo de laboratorio es una cubeta de plstico
(40 cm 35 cm 20 cm) llena de agua donde se sumergen diversos objetos esfricos y cilndricos
tanto aislantes como conductores. Las medidas se realizan con el sistema de medida basado en el
detector DIES (agrupacin de 16 electrodos) y con el sistema de campo (agrupacin de 8
electrodos). Las configuraciones utilizadas son la Schlumberger y la doble dipolo. Las medidas de
campo se han realizado con el sistema de campo y una agrupacin de 8 electrodos en un terreno
agrcola situado en Santa Eulalia de Ronana (Barcelona), donde previamente se ha enterrado una
tubera de plstico de 8 cm de radio a una profundidad de 24 cm.
Para cancelar el efecto de las dimensiones finitas de la cubeta y de la inexactitud en la posicin
de los electrodos en el sistema de laboratorio, se realiza una medida de referencia con el objeto
lejos de la agrupacin de electrodos. Los objetos esfricos aislantes y conductores se localizan
correctamente a profundidades iguales al dimetro de la esfera, tanto si estn centrados como
desplazados lateralmente. Las imgenes se deterioran con la profundidad del objeto. La
configuracin Schlumberger localiza correctamente la esfera hasta una profundidad igual a tres
veces su radio. La configuracin doble dipolo permite localizar objetos esfricos hasta una
profundidad igual a cuatro veces su radio si previamente se eliminan las medidas con ms error.
Las conclusiones son similares para un cilindro dispuesto perpendicularmente a la agrupacin de
electrodos. En ste caso los coeficientes de sensibilidad se calculan realizando una integracin
6-17
previa en la direccin del eje del cilindro. La determinacin de la profundidad y el radio de los
objetos esfricos y cilndricos a partir de las primeras 13 medidas de la configuracin
Schlumberger proporciona una informacin complementaria a la obtenida con las imgenes. Las
imgenes 2D pueden llevar a resultados equvocos si el objeto no se encuentra justo debajo de la
agrupacin de electrodos. Las imgenes (y medidas) 3D permiten una correcta localizacin de los
objetos. En este caso las medidas se pueden obtener desplazando la agrupacin de electrodos
perpendicularmente. ste es el caso con la agrupacin de 8 electrodos. Sin embargo, el
desplazamiento de la agrupacin de 16 electrodos en el sistema de laboratorio es complicado por lo
que se desplaza la esfera manteniendo fija la agrupacin de electrodos.
Las medidas de campo se han realizado con una agrupacin de 8 electrodos de acero inoxidable
(de dimetro 1 cm y longitud 20 cm) insertados 5 cm en el terreno. Los electrodos se disponen
sobre un soporte de madera donde se han efectuado 8 orificios separados 20 cm a fin de mantener
fijas las distancias entre electrodos al desplazar la agrupacin. Las imgenes han permitido detectar
una tubera de PVC de 8 cm de radio, 1.06 m de largo, que ha sido enterrada previamente a una
profundidad de 24 cm. La agrupacin de electrodos se ha dispuesto paralela al eje del cilindro
(direccin este-oeste) y se ha desplazado de norte a sur. Para eliminar el efecto del substrato rocoso
(que tiene una ligera inclinacin hacia el oeste) se escoge una medida de referencia. Para inyectar
agua con el fin de simular una fuga se usa un tubo de plstico situado en el lado sur de la tubera, se
usa para inyectar agua con el fin de simular una fuga. Las medidas se realizan antes y despus de
verter el agua. Las imgenes obtenidas permiten detectar la fuga en el lado sur de la tubera justo
Conclusiones
7-1
7. CONCLUSIONES
Llega el esperado y temido momento de escribir las conclusiones. Esperado porque significa
que los interrogantes y dudas existentes al iniciar este trabajo se han resuelto, al menos
parcialmente. Temido porque uno tiene la sensacin de que se le han quedado cosas por decir o por
estudiar.
El objetivo planteado al comenzar este trabajo era: es posible detectar la presencia de
estructuras inmersas en el subsuelo a partir de la medida de impedancia elctrica desde la
superficie?. Evidentemente la respuesta era simple: s. Y es as de simple porque el tema no es
nuevo y ha sido objeto de investigacin durante todo este siglo. Dnde est pues la supuesta
originalidad del trabajo? Una investigacin sobre un tema siempre parte de unos estudios y unas
ideas anteriores, y en este momento ya pierde parte de su originalidad. Este trabajo ms que
totalmente original en todos sus mltiples aspectos ha pretendido ser un trabajo riguroso con
pequeas aportaciones originales en cada uno de los temas tratados. El tema no es nuevo pero s
que lo era en el Departament d Enginyeria Electrnica, donde se ha realizado el trabajo. El tema no
es nuevo pero s que es poco usual plantearse la deteccin de objetos de tamao pequeo (decenas
de centmetro) a una profundidad de pocos metros. La profundidad a la que un determinado objeto
se puede detectar con la medida de la impedancia elctrica no es un tema totalmente resuelto, como
tampoco lo es el uso de algoritmos para obtener imgenes de la distribucin de conductividad del
subsuelo. Al iniciar este trabajo hace unos cinco aos, nos sorprendieron los mtodos primitivos
que se usaban para realizar medidas, en contraste a los s ofisticados equipos que se utilizan para
la medida de la impedancia elctrica en la tomografa mdica. Esto alentaba a la implementacin de
sistemas de medida automticos y configuraciones multielectrdicas nuevas para acelerar y mejorar
los procesos de medida. No bamos desencaminados ya que en los ltimos aos se han empezado a
comercializar sistemas automticos de medida para aplicaciones geoelctricas.
Las conclusiones de este trabajo se han ido apuntando ya en forma de resmenes al finalizar
cada captulo. En lo que sigue se intenta sintetizar estas ideas dndoles una visin ms global.
Sobre la medida de la resistividad elctrica del subsuelo
Las medidas de impedancia elctrica realizadas desde la superficie tratan de localizar objetos y
estructuras inmersas en el subsuelo. Para que dichos objetos sean detectables han de tener una
resistividad diferente de la del medio donde estn inmersos. La localizacin de estructuras a pocos
metros de profundidad tiene aplicacin en la Ingeniera Civil, en excavaciones arqueolgicas o en
la deteccin de contaminantes. Un problema en la interpretacin de las medidas es que un mismo
valor de resistividad puede corresponder a diferentes materiales. Incluso un mismo material,
dependiendo de su grado de humedad y otros factores externos, puede tener un margen de variacin
grande de su resistividad. El objetivo del trabajo es realizar las medidas y presentar una imagen de
la resistividad (o conductividad) del subsuelo. La interpretacin corresponde a los expertos en el
tema (gelogos, geofsicos) y puede requerir la utilizacin de otros mtodos geofsicos. De hecho
7-2
Conclusiones
cada mtodo geofsico aporta infomacin complementaria y lo ptimo (y no siempre posible) es

utilizar varios de ellos.
Sobre el problema directo
Antes de realizar las medidas conviene saber qu es lo que mediremos. Es decir, cmo variar la
diferencia de potencial en la superficie si el cuerpo enterrado es esfrico o cilndrico. O, por
ejemplo, a qu profundidad se podr detectar los objetos o qu tamao mnimo han de tener.
Tambin es conveniente conocer qu instrumentacin se necesitar, qu exactitud ha de tener o qu
El problema directo trata de resolver algunas de estas cuestiones. Se dan soluciones analticas
exactas y aproximadas para el caso de la esfera y el cilindro. Con ellas se busca qu
configuraciones electrdicas son ms sensibles a la deteccin de una esfera. Dado que se utilizan
sistemas de medida automticos, se proponen configuraciones multielectrdicas nuevas basadas en
configuraciones clsicas. La configuracin doble dipolo presenta la mejor visibilidad pero requiere
un detector con gran margen dinmico. La configuracin Schlumberger presenta un buen
compromiso entre visibilidad y margen dinmico. La visibilidad de una esfera conductora es el
doble que la de una esfera aislante. Adems depende cbicamente de la relacin radio-profundidad.
En el caso del cilindro esta dependencia es cuadrtica. La visibilidad, tanto de objetos esfricos
como cilndricos, se satura rpidamente con el contraste resistivo entre el objeto y el medio. As
para relaciones mayores a 100 o menores a 0,01 el objeto se comporta como totalmente aislante o
conductor respectivamente. A partir de la curva de resistividad aparente normalizada se determina
la profundidad y el radio de los objetos, lo que constituye una primera aproximacin al problema
inverso.
Sobre la instrumentacin
Aplicaciones como la prospeccin arqueolgica y estudios medioambientales o de Ingeniera
Civil requieren un gran nmero de medidas. Esto supone un gran trabajo manual al tener que
cambiar en cada nueva medida la posicin de los electrodos inyectores y/o detectores. Para reducir
este trabajo manual y acelerar el proceso de medida y de interpretacin de la resistividad del
subsuelo, se han implementado tres sistemas de medida automticos, dos para el laboratorio y otro
para medidas de campo. Estos sistemas permiten cualquier combinacin de electrodos inyectores y
detectores sobre una agrupacin de 16 electrodos (laboratorio) y 8 electrodos (campo). La seal
inyectada es alterna y la deteccin es sncrona para evitar los errores provocados por el potencial de
electrodo y las corrientes telricas. A frecuencias cercanas a 1 kHz el campo elctrico interferente
presente en el subsuelo es mnimo (Sumner, 1985). Adems, la impedancia de electrodo disminuye
con la frecuencia, por lo que con la misma tensin entre los electrodos inyectores la corriente
introducida en el terreno aumenta y por tanto la tensin detectada. La frecuencia mxima utilizable
viene limitada por la profundidad de penetracin y por el acoplamiento electromagntico entre el
inyector y el detector. El sistema PROGEO permite obtener de la parte real e imaginaria de la
impedancia medida, lo que lo diferencia del metodo resistivo clsico que detecta solamente la parte
real. Sin embargo, las seales detectadas estn contaminadas por la tensin en modo comn, por la
Conclusiones
7-3
interferencia electromagntica entre el inyector y el detector, y por la interferencia a 50 Hz. El

acoplamiento capacitivo e inductivo provoca errores mucho mayores en la parte imaginaria de la
impedancia. La configuracin doble dipolo es mucho ms sensible a estos errores que la

medidas de laboratorio y en las medidas de campo realizadas, slo interesar detectar la
componente en fase de la seal (parte real de la impedancia). En este caso el error en las medidas se
puede reducir inyectado seales cuadradas y muestreando en la zona plana de la seal detectada
(Gasulla et al., 1998a), una vez el efecto de la interferencia haya desaparecido. Este hecho es
independiente de la disposicin de los cables y la configuracin electrdica utilizada. El sistema de
laboratorio basado en el detector DIES utiliza este mtodo. Adems, para reducir la tensin en
modo comn, se utiliza un electrodo adicional que conecta la referencia del detector con el suelo.
El sistema de campo utiliza un amplificador para aumentar la corriente inyectada en el terreno. La
adquisicin se realiza tambin con el detector DIES. Para alimentar el sistema se utiliza un grupo
Sobre el problema inverso

A partir de las medidas realizadas se ha de dar una respuesta sobre la distribucin de
conductividad del subsuelo. El problema inverso trata este tema. Antes de que se dispusiera de
ordenadores, el intrprete se basaba en los procedimientos de ajuste de curvas para interpretar un
medio supuestamente estratificado. Con la generalizacin del uso de ordenadores han aparecido
muchos trabajos que tratan sobre la interpretacin automtica y numrica. La aparicin de sistemas
de medida automticos, al permitir la adquisicin de los datos ms rapidamente, ha fomentado la
utilizacin cada vez mayor de algoritmos para obtener imgenes de conductividad en dos y tres
dimensiones. A pesar del incremento de la automatizacin tanto en la adquisicin como en la
interpretacin, conviene seguir aplicando el raciocinio en este proceso. Ello es as porque los
algoritmos pueden dar en ocasiones resultados aberrantes. Adems algunas medidas pueden ser
Existen numerosos algoritmos de reconstruccin propuestos. Los mtodos de retroproyeccin

provienen en su mayora de la tomografa mdica y suelen ser de un solo paso (iteracin). Sin
embargo, la mayora de tcnicas utilizadas en la prospeccin geofsica utilizan mtodos iterativos
basados en el criterio de mnimos cuadrados. Los mtodos iterativos son lentos ya que a cada
iteracin han de calcular el problema directo y la matriz de sensibilidad mediante mtodos
numricos. En los mtodos de un solo paso, donde nicamente se implementa la primera iteracin,
el tiempo de clculo se reduce notablemente, sobre todo si se escoge un medio homogneo como
modelo de partida. Gasulla, Jordana y Palls (1999) muestran que las imgenes obtenidas son
suficientemente buenas para detectar objetos locales, por lo que en este trabajo slo se han utilizado
7-4
Conclusiones
Un problema est mal definido si pequeos errores en los datos provocan grandes variaciones
en la solucin. El mtodo resistivo pertenece a esta clase de problemas (LaBrecque et al., 1996).
Los mtodos de mnimos cuadrados tratan de resolver esta dificultad regularizando el problema,
que consiste en aadir informacin a priori. Los mtodos de retroproyeccin regularizan el
problema utilizando la traspuesta de una matriz de sensibilidad ponderada. Aqu se han comparado
diferentes algoritmos utilizando datos sintticos (obtenidos resolviendo el problema directo para
una esfera) para las configuraciones electrdicas Schlumberger y doble dipolo. Los mtodos de
mnimos cuadrados son claramente superiores a los mtodos de retroproyeccin. Los mtodos de
Marquardt y TSVD obtienen los menores errores y localizan con mayor precisin el objeto. El
factor de regularizacin utilizado en el mtodo de Marquardt se determina mediante el mtodo de
la curva L (Hansen y O Leary, 1992, 1993).
Para resolver el problema inverso se ha linealizado el problema por lo que los valores de
conductividad estimados no son los reales. Esto se intenta solucionar normalmente mediante el uso
de mtodos iterativos. En este trabajo se adopta otra estrategia que consiste en aplicar un factor de
correccin a las imgenes obtenidas. El modelo escogido para el subsuelo tambin influye en el
valor de la conductividad estimada. Si el nmero de celdas es muy superior al nmero de medidas
el problema es muy indeterminado. Utilizando los mtodos de retroproyeccin como informacin a
priori se puede encontrar una solucin adecuada. A pesar de que las medidas con configuracin
doble dipolo tienen errores relativos mayores, se obtienen mejores resultados que con la
configuracin Schlumberger cuando en aqulla se eliminan las medidas ms errneas y se utiliza
una matriz de sensibilidad relativa. En general, para estimar correctamente la posicin de un objeto,
se han de utilizar imgenes y medidas 3D. Sin embargo, para objetos cuya resistividad no vara a lo
largo de un eje es posible utilizar medidas e imgenes 2D si la agrupacin de electrodos se dispone
perpendicularmente a dicho eje. En este caso se ha de realizar una integracin previa a lo largo de
este eje para calcular la sensibilidad de las celdas.
Sobre los resultados experimentales
La deteccin de objetos locales inmersos en el subsuelo se ha validado experimentalmente con
medidas de laboratorio y de campo. La frecuencia de la seal en ambos casos ha sido de 1 kHz. El
modelo de laboratorio es una cubeta de plstico (40 cm 35 cm 20 cm) llena de agua donde se
sumergen diversos objetos esfricos y cilndricos tanto aislantes como conductores. Para cancelar
el efecto de las dimensiones finitas de la cubeta y de la inexactitud en la posicin de los electrodos
en el modelo de laboratorio, se realiza una medida de referencia con el objeto lejos de la
agrupacin de electrodos. Los objetos se localizan correctamente hasta una profundidad igual a tres
veces su radio con la configuracin Schlumberger localiza e igual a cuatro veces su radio con la
configuracin doble dipolo. La determinacin de la profundidad y el radio de los objetos a partir de
las primeras 13 medidas de la configuracin Schlumberger proporciona una informacin
complementaria a la obtenida con las imgenes. Las medidas de campo realizadas con una
agrupacin de 8 electrodos en un terreno agrcola situado en Santa Eulalia de Ronana (Barcelona),
han permitido detectar una tubera de plstico de 8 cm de radio, 1,06 m de largo, previamente
enterrada a una profundidad de 24 cm. Para eliminar el efecto del sustrato rocoso presente debajo
Conclusiones
7-5
del objeto se utiliza una medida de referencia. Para simular una fuga se usa un tubo de plstico
situado en el lado sur de la tubera. Las medidas se realizan antes y despus de verter el agua. Las
imgenes obtenidas permiten detectar la fuga en el lado sur de la tubera justo debajo del tubo de
Tanto en las medidas de laboratorio como en las medidas de campo se ha de utilizar una medida
de referencia para eliminar los efectos no debidos al objeto que se quiere detectar. Estos efectos se
deben a la presencia de capas, paredes laterales y a la inexactitud en la posicin de electrodos entre
otros. As pues, los mtodos utilizados en este trabajo para la obtencin de imgenes no son
absolutos sino ms bien diferenciales (Riu, 1991). Para que la deteccin de los objetos locales
tenga xito las separaciones entre electrodos, aunque no sean exactamente las previstas, han de
la influencia de otras estructuras no ha de cambiar
sustancialmente al desplazar la configuracin. Por ejemplo, si se conoce la existencia de una capa
debajo del objeto con una inclinacin en una determinada direccin la configuracin electrdica se
ha de disponer en esa direccin y desplazarse perpendicularmente a ella. ste es el caso de las
medidas de campo presentadas en el captulo 6, donde el sustrato rocoso presenta una ligera
inclinacin en la direccin del eje de la tubera. La deteccin de cambios temporales de la
resistividad (por ejemplo una fuga) es ms probable que se detecte con xito, ya que la
configuracin electrdica no se ha de mover y todos los efectos que no sean el propio cambio de la
Sobre las perspectivas de futuro

A pesar de las mejoras logradas en los ltimos aos en cuanto a la
mtodos de interpretacin el tema an est totalmente abierto a nuevas aportaciones. Los sistemas
de medida automticos, aunque han constituido un gran avance, an son lentos, en comparacin
con los sistemas utilizados en la tomografa mdica, donde se obtienen imgenes en tiempo real
(Casas, 1998). En las medidas realizadas sobre modelos analgicos, conviene un sistema de
adquisicin rpido para eliminar los efectos de la variacin temporal de la resistividad y para poder
realizar un gran nmero de pruebas. En las medidas de campo se acortaran los tiempos invertidos
en la realizacin de las medidas con el consiguiente beneficio econmico. Un sistema de medida
rpido tambin sera interesante en situaciones donde se requiera una monitorizacin continua y en
tiempo real. El diseo de sistemas que permitan medir impedancias complejas a varias frecuencias
puede ser til en la deteccin de ciertas estructuras. A pesar de la aparicin de sistemas de medida
automticos sigue siendo necesario clavar los electrodos. Adems, si se quieren obtener imgenes
3D se ha de desplazar la agrupacin de electrodos. Panissod et al. (1998) utilizan electrodos
Los algoritmos de reconstruccin, sobre todo los iterati

el tiempo de clculo. Adems conviene seguir investigando nuevas configuraciones
multielectrdicas. El procesado de las imgenes obtenidas puede ayudar en la localizacin de los
objetos buscados. Incluso una visualizacin adecuada, escogiendo los colores ms apropiados para
resaltar la presencia de los objetos, puede ser de gran utilidad (Rogowitz y Treinish, 1998).
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Indice

4.3.2. Etapa detectora .......................................................................................... 4-9

La localizacin de objetos y estructuras inmersas en el subsuelo se basa en la deteccin de

La posibilidad de una localizacin basada exclusivamente en medidas realizadas desde la

1.1. M todos geof sicos

En el mtodo resistivo se introduce una corriente (continua) en el terreno por un par de

1.4. Organizaci n de este trabajo

El captulo 5 compara diferentes algoritmos de reconstruccin utilizando datos sintticos y dos

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

2. Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

2.1. Resistividad elctrica de suelos

A partir de esta ecuacin podemos despejar la resistividad

La unidad de resistividad en el Sistema Internacional es el ohm por metro (m). La conductividad

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

La unidad de conductividad en el Sistema Internacional es el siemens (S). La resistividad es una de

Figura 2.1. Valores de resistividad de diferentes rocas y minerales (Orellana, 1982)

La resistividad de las rocas tambin depende de la temperatura a la que se encuentre ya que la

2.2. Medida de la resistividad elctrica

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

es un factor geomtrico que depende exclusivamente de la disposicin de los electrodos. De hecho,

Figura 2.2. Dispositivo tetraelectrdico para la medida de la resistividad del suelo

2.3. Dispositivos tetraelectrdicos lineales bsicos

Figura 2.3. Dispositivo Wenner

El factor geomtrico del dispositivo se deduce de (2.6),

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

Figura 2.4. Dispositivo Schlumberger

El coeficiente del dispositivo en este caso es

Si definimos L = b + a/2, el factor geomtrico se puede expresar como

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

observado. Se tiene entonces el dispositivo denominado Schlumberger

Figura 2.5. Dispositivo polo-dipolo

El factor geomtrico del dispositivo en este caso es

Cuando a << b este dispositivo es equivalente al semi-Schlumberger. Una variacin del

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

Figura 2.6. Dispositivo doble dipolo

El factor geomtrico del dispositivo es en este caso

Este dispositivo se implementa normalmente con n >> 1 (entonces AB y MN se comportan como

Figura 2.7. Dispositivos -Wenner (izquierda) y -Wenner (derecha).

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

2.4. Tipos de prospecciones geoelctricas

La profundidad de penetracin de la corriente elctrica depende de la separacin de los electrodos

es proporcional a AB. Sin embargo esto no

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

Experimentalmente, a partir de los dispositivos vistos en el apartado 2.3, el SEV consiste en

Figura 2.9. Sondeo Wenner. La distancia interelectrdica pasa de a (AMNB) a na (AMNB).

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

Figura 2.10. Sondeo Schlumberger. Los electrodos A y B se abren progresivamente mientras M y N

Efectos laterales en el SEV y ambigedades en su interpretacin

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

El factor geomtrico es en este caso

Si la medida es de campo elctrico, es decir si d tiende a cero, la resistividad aparente es

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

y s2, a) MN pequea (lnea continua), b) MN grande (lnea a trazos)

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

constante representada por curvas de isoresistividad. Estos mapas de resistividad se aplican en

2.5. Sistema de medida y configuraciones electrdicas utilizadas.

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

vector de 16 electrodos equiespaciados

Figura 2.17. Sistema automtico de medida PROGEO

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

Con un sistema de medida automtico es interesante plantearse la posibilidad de adquirir un

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo

Medida de la resistividad elctrica del subsuelo