Sie sind auf Seite 1von 46

Estatstica Aplicada

Estatstica o ramo da Matemtica que, atravs da coleta de dados reais, analisa,


organiza e simplifica fenmenos, orientando-nos da melhor forma possvel na tomada
de decises.
DEFINIES
Populao: o conjunto de elementos sobre o qual se realiza um estudo estatstico.
Exemplo:

Peas injetadas em uma mquina por ano;

Garrafas de PET sopradas por ms;

Alunos de uma escola.

Espao amostral ou amostra: grupo constitudo de elementos que representam a


populao.
Exemplo: 10 garrafas selecionadas de uma produo de 100 garrafas/ hora.
Variveis: So as caractersticas que sero analisadas. Exemplos:

Dimetro do bocal da garrafa;

Espessura de um filme.

As variveis podem ser classificadas em:


a) Qualitativas: refere-se ao tipo ou atributo da populao. Exemplos:

Cor da pele da populao de um pas;

Qualidade do material produzido: aprovado ou reprovado.

b) Quantitativas: ou tambm denominadas de varivel aleatria, pode ser subdividida


em:
263

Quantitativa discreta : Os dados so obtidos atravs de observao e so passveis


de numerao. So conhecidos como Atributos e so expressos como nmeros
inteiros. Exemplos:

Nmero de carros populares produzidos no Brasil;

Nmero de embalagens fabricadas em PET por ano;

Quantidade de peas defeituosas encontradas em cada lote;

Quantidade de peas retrabalhadas numa semana;

Quantidade de unidades produzidas num dia.

Quantitativa contnua: Os dados so obtidos por meio de medies e no so


passveis de numerao. So conhecidas como Variveis e geralmente so expressos
como nmeros fracionrios. Exemplos:

Dimetro, comprimento e massa de peas;

Altura de alunos de uma escola;

Densidade de materiais plsticos reforados;

Teor de umidade de uma matria-prima;

Resistividade dieltrica de uma pea plstica.

Amplitude total (R): a diferena entre o maior e a menor grandeza das amostras.
R = Valor mximo Valor mnimo
Mdia: a somatria de todas as grandezas medidas, dividida pelo nmero de
elementos que constitui a amostra.

X = Xi
N
Desvio Padro: Mede a variao dos valores em relao media.

S=

( X Xn )2
n1

264

Grficos:
Grfico linear
Exemplo: Nmero de peas reprovadas por ano:

Peas reprovadas/ano
350

N de peas

300

reprovadas

250

1996

100

1997

150

1998

200

1999

248

2000

298

N de peas

Ano

200
150
100
50
0
1996

1997

1998

1999

2000

Ano

Grfico de Barras
Exemplo: Nmero de peas produzidas / peas vendidas por bimestre:

Perodo
1
Bimestre

Peas
Produzidas
1000

Peas

Peas produzidas/vendidas

Vendida
s
800

4 Bimestre

3 Bimestre

2 Bimestre

2
Bimestre
3
Bimestre

1500

1300
1 Bimestre

1300

1200

200

400

600

800

1000

N de peas

1200

1400

1600

Peas Vendidas
Peas Produzidas

4
Bimestre

1000

500

Grfico de colunas
Exemplo: Nmero de funcionrios treinados / Nmero total de funcionrios por ano:
ndice de Treinamento de funcionrios

Funcionrios Total de
Treinados

funcionrios

1400
N de funcionrios

Perodo

1200
1000
800
600

265

400
200
0
1994

1996

1998

2000

1994

500

1200

1996

600

1000

1998

700

950

2000

800

1000

Grfico de setores
Exemplo: Distribuio do mercado de Plstico na regio Sul do Brasil:

rea de atuao

Reciclado
8%

% de
participao

Construo civil

25

Embalagens

47

Agricultura

10

Utilidades domsticas

10

Reciclado

Utilidades
domsticas
10%

Construo
cvil
25%

Agricultura
10%

Embalagens
47%

Histograma
O histograma uma ferramenta grfica, que consiste em um grfico composto de
barras verticais, que muito til para:

Frequncia
50

Identificar o tipo de distribuio que rege o


processo;

40

Identificar possveis causas especiais de variao;

Analisar a influncia das causas comuns;

Confrontar a variao obtida com as

20

especificaes.

10

Antes de estudar a construo de um histograma, faz-

30

se necessrio o conhecimento de algumas ferramentas auxiliares tais como folha de


verificao e folha de frequncia.

266

Estratificao:
uma ferramenta na qual uma determinada informao dividida em classes ou
categorias, permitindo uma anlise mais detalhada.
til para analisar casos onde podem existir fatos que esto mascarados. Muitas
vezes, quando olhamos apenas uma parte de uma situao, no conseguimeos ter
uma idia do todo. Com a estratificao, conseguimos avaliar a influncia de cada
parte no todo de uma situao.
Folha de verificao:
uma planilha utilizada para o registro de dados. O uso da folha de verificao torna a
coleta de dados mais rpida e automtica. Para entender a afirmativa, imagine que um
supervisor precise anotar a dimenso de peas produzidas por seis operadores que
utilizam trs mquinas, em dias diferentes da semana. Se o supervisor fizer anotaes
em folha de papel, perder tempo e, eventualmente, esquecer de anotar informaes
essenciais. A tarefa fica mais fcil quando se resume ao simples preenchimento de
uma planilha.
Toda folha de verificao deve ter espao onde registrar local e data de coleta, alm
do nome do responsvel pelo trabalho. O lay-out da folha de verificao depende do
uso que se far dela.

Exemplos de folhas de verificao:


Exemplo 1:
Pea (produto):
Operador:
Data

Operao (processo):
Mquina:
Seo:

Amostra
1
2
Peas inspecionadas 200
250
Peas no-conformes 20
50
% de peas
10
20
defeituosas
Situao

3
250
35
14

10

O modelo acima indicado para o controle de porcentagem de peas defeituosas.


Exemplo 2:
Pea (produto):

Operao (processo):

Operador:

Mquina:

Tipo de defeito

Contagem

Data:

Seo:
Total
267

Salincia

Aspereza

Risco

Mancha

Cor

Outro

8
4

Este tipo indicado para inspecionar tipos de defeitos no produto final .


Exemplo 3 :
Pea (produto):

Operao (processo):

Operador:

Mquina:

Data:

Seo:

Dimetro interno de conexes de PVC


Amostra 1

Amostra 2

Amostra 3

Amostra 4

Amostra 5

0,250

0,245

0,246

0,251

0,250

0,245

0,250

0,247

0,253

0,251

0,248

0,247

0,253

0,248

0,249

0,251

0,252

0,248

0,250

0,248

Este modelo indicado para inspecionar variveis contnuas


Folha de frequncia:
Frequncia: nmero de vezes que determinada varivel se repete
Classe: a formao de subgrupos de variveis isto , a diviso das variveis de
acordo com intervalos de variao .
A folha de frequncia usada para organizar os dados coletados e facilitar a
construo do histograma.
Elaborao de uma folha de frequncia para varivel discreta:

Escreva na 1 coluna os valores da varivel em ordem crescente;

Percorra a folha de dados e conte o nmero de vezes que cada valor se repete e
cada valor, marque um trao na 2 coluna;

Na 3 coluna calcule a frequncia relativa que consiste em dividir a frequncia de


cada varivel pela soma total das frequncias, multiplicado por 100.
268

Agora, com base na tabela de dados abaixo, complete a folha de frequncias:


Tabela de dados:
N da pea N de defeitos

N da pea

N de defeitos

N da pea N de defeitos

11

21

12

22

13

23

14

24

15

25

16

26

17

27

18

28

19

29

10

20

30

Folha de frequncias:
N de defeitos
por peas
0

Contagem

Frequncia

IIIIIIIIIIII

12

Frequncia

Frequncia

relativa (%)

acumulada

40 %

12

1
2
3
4
Total

30

Elaborao de uma folha de frequncia para varivel contnua:


Com base nos dados da tabela abaixo, iniciar a organizao dos dados na folha de
frequncias da seguinte maneira:
PESO DOS FRASCOS SOPRADOS EM PP
10,067

10,065

10,061

10,068
269

10,072

10,061

10,055

10,078

10,055

10,053

10,062

10,069

10,060

10,062

10,065

10,066

10,070

10,067

10,052

10,057

Calcular a amplitude da amostra: R = __________ - _________ = _________

Determinar o nmero de classes , usando uma das frmulas abaixo :

K = 1 + 3,222 log ( n )

ou k = n

onde n = nmero de amostras

K = 1 + 3.222 log ________ = _________

ou k =

= ______________

Calcular a amplitude de cada classe, estimando um valor acima da amplitude total


das amostras e que seja divisvel pelo nmero de classes. Divide-se este valor
estimado pelo nmero de classes e encontra-se o valor da amplitude de cada
classe.

R = _________

, portanto o valor a ser adotado de :____________

A amplitude de cada classe ser :

__________ / ________ = ___________

Estabelecer um valor para iniciar a primeira classe, considerando sempre um valor


abaixo do menor valor da tabela de dados. Exemplo: ______________

Preencher os campos da folha de frequncias abaixo:


Classe

Contagem

Frequncia

Frequncia relativa

Como construir um histograma:


1. Com base nos dados da tabela de folha de frequncia da pgina anterior, traar um
eixo na horizontal;
270

2. Marcar os intervalos de classe nesse eixo, adotando uma escala conveniente.


Quando h necessidade de comparao de diversos histogramas eles devem ser
construdos adotando uma mesma escala;
3. Traar um eixo vertical para registrar as frequncias;
4. Marcar as frequncias usando tambm uma escala adequada;
5. Desenhar os retngulos com bases iguais aos intervalos de classe e altura igual s
respectivas frequncias;
6. Colocar ttulo e legenda.
Interpretao de histogramas:
A forma de um histograma permite tirar algumas concluses, por isso estudaremos as
formas possveis de histogramas:
Distribuio normal ou em forma de sino: Tem aparncia simtrica e a maioria dos
valores esto prximos do centro.
Este tipo de forma e distribuio ocorrem com maior frequncia nos processos de
produo onde ocorrem variaes naturais mas, sempre prximas de um valor central.

a forma mais desejada nos processos industriais.

Histograma
Dimetro interno de uma pea
9
8
7
6
5
4

3
Freqncia
2
1
0

<= 10,5

(10,6;10,7]
(10,8;10,9]
(11;11,1]
> 11,2
(10,5;10,6]
(10,7;10,8]
(10,9;11,]
(11,1;11,2]
dimetro interno

271

Histograma com assimetria positiva: nota-se que a mdia dos dados est localizada
esquerda do centro da figura e a cauda direita alongada.
Esta forma comum quando se requer maior ateno no limite inferior de controle ou
quando no podem ocorrer valores abaixo do especificado.
Exemplo: Comprimento de tubulaes.

Frequncia
50
40
30
20
10

Histograma com assimetria negativa: a mdia dos dados est localizada direita do
centro da figura e a cauda esquerda alongada. Esta forma ocorre quando o limite
superior controlado ou quando no podem ocorrer valores acima de determinado
limite.

272

Histogramas com diferentes graus de disperso: O grau de disperso indica a


variabilidade do processo produtivo. Abaixo so apresentados dois histogramas, onde
nota-se que o primeiro tem uma menor disperso em relao mdia , o mesmo no
acontece com o segundo grfico.

DIAGRAMA DE CAUSA E EFEITO


Em 1953, Kaoru Ishikawa, professor da Universidade de Tquio, sintetizou as opinies
dos engenheiros de uma fbrica na forma de um diagrama de causa-e-efeito, enquanto
eles discutiam um problema de qualidade. Considera-se como sendo aquela a primeira
vez que foi utilizada esta abordagem. Antes disso, os auxiliares do professor haviam
empregado este mtodo para organizar os fatores nas suas atividades de pesquisa.
Quando o diagrama foi usado na prtica, ele provou ser muito til, e logo passou a ser
amplamente utilizado entre as empresas de todo o Japo. Ele foi includo na
terminologia de Controle da Qualidade da JIS (Japanese Industrial Standards) e foi
definido como segue abaixo:
O diagrama de causa-e-efeito um diagrama que mostra a relao entre uma
caracterstica da qualidade e os fatores. Serve para investigar as causas provveis de
um problema de qualidade.
O diagrama usado atualmente no apenas para lidar com as caractersticas da
qualidade de produtos, mas tambm em outros campos, e tem encontrado aplicaes
no mundo inteiro.
A figura abaixo mostra um esquema do diagrama que tambm conhecido como
espinha de peixe.

273

Como elaborar o diagrama de causa-e-efeito:


Procedimento
1- Determinar as caractersticas da qualidade;
2- Escolher uma caracterstica da qualidade e escrever no lado direito da folha de
papel;

3- Desenhar a espinha dorsal apontada da esquerda para a direita e enquadrar a


caracterstica em um retngulo;

Produto no
funciona

4- Escrever as causas primrias que afetam a caracterstica da qualidade,


associando-as s espinhas grandes, tambm dentro de retngulos;

Material
Mquinas

Mtodos

Mo-de-obra

274

5- Escrever as causas secundrias que afetam as primrias, associando-as s


espinhas mdias;

6- Escrever as causas tercirias que afetam as espinhas mdias, associando-as s


espinhas pequenas;
7- Definir a importncia de cada fator, e destaque os fatores que tenham um efeito
significativo na caracterstica da qualidade;
8- Registre quaisquer informaes necessrias (Ttulo, nome do produto, processo ou
grupo, data ....).
Observaes:
Quando estiver analisando as espinhas grandes, considerar as variaes que ocorrem
com esta caracterstica da qualidade. Uma variao na caracterstica pode indicar uma
variao nos fatores que a afetam.
Citamos o exemplo de uma pea cuja variao dimensional variava conforme os dias
da semana, sendo constatado que na Segunda-feira o nmero de peas com
dimenses erradas era maior. Diante deste fato, foram encontrados inmeros fatores
que poderiam estar contribuindo para esta no conformidade.
Procedimento
1- Estabelea a caracterstica da qualidade;
2- Encontre o maior nmero possvel de causas que so suspeitas em afetar a
caracterstica da qualidade;
3- Elabore um diagrama de causa-e-efeito, ligando essas causas com a caracterstica
da qualidade atravs de relaes de causa e efeito;
4- Estipule a importncia de cada fator e destaque os fatores que exercem um efeito
significativo sobre a caracterstica da qualidade;
5- Registre quaisquer informaes necessrias.
275

Observaes:
Este procedimento sugere a tomada de duas atividades distintas: o levantamento do
maior nmero possvel de causas e o arranjo das mesmas de forma sistemtica.
Para o levantamento das causas necessria uma discusso aberta, como o
brainstorming.
As causas devem ser interligadas, avanando das espinhas pequenas para as mdias
e, depois das espinhas mdias para as espinhas grandes.
Dicas para elaborao e uso do diagrama de causa-e-efeito:

Deve haver discusso de todas as pessoas envolvidas com o produto para


levantamento das causas que afetam a caracterstica da qualidade;

Todos os fatores relevantes devem ser identificados seja atravs de investigao


ou atravs de discusses com as pessoas envolvidas;

A caracterstica da qualidade deve ser expressa de forma concreta, tambm deve


ser mensurvel, esta regra serve tambm para os fatores;

Use vocabulrio simples e objetivo;

Deve-se elaborar tantos diagramas de causa-e-efeito quantas forem as


caractersticas;

Descubra quais os fatores que podem ser atacados. Para que melhorias possam
ser realizadas, as causas precisam ser detalhadas at o nvel em que possam ser
atacadas. Concentre-se nas causas passveis de serem sanadas. Afinal, se as
causas de um problema no podem ser removidas, o diagrama ser um simples
exerccio intelectual, sem qualquer aplicao prtica;

Na utilizao do diagrama, deve-se estipular a importncia dos fatores de forma


objetiva;

O diagrama de causa-e-efeito deve ser melhorado continuamente. No decorrer de


seu uso, alguns fatores podero ser excludos e outros acrescentados;

O uso correto do diagrama permite melhorar suas habilidades, ampliar seu


conhecimento tecnolgico e melhorar a qualidade do processo produtivo.

Exerccios:
1) Escolha um tema abaixo e elabore um diagrama de causa-e-efeito:
Lembre-se que isto s um treino, logo voc estar recebendo um tema relevante ao
contedo tcnico do curso. Tenha calma !!!!

276

DIAGRAMA DE PARETO
Introduo:
Os problemas de qualidade aparecem sob a forma de perdas (itens defeituosos e seus
custos). extremamente importante esclarecer a forma de distribuio das perdas. A
maioria delas deve-se a alguns poucos tipos de defeitos chamados de vitais, que
podem ser atribudos a uma pequena quantidade de causas. Assim, se as causas
destes poucos defeitos vitais forem identificadas, poderemos eliminar quase todas as
perdas concentrando-nos sobre estas causas principais, deixando de lado, numa
abordagem preliminar, os outros defeitos que so muitos e triviais. Podemos resolver
este tipo de problema de uma forma eficiente, atravs da utilizao do diagrama de
Pareto.
Em 1897, o economista italiano V. Pareto apresentou uma frmula mostrando que a
distribuio de renda desigual. Uma teoria semelhante foi apresentada graficamente
pelo economista americano M.C. Lorenz, em 1907. Estes dois estudiosos
demonstraram que, de longe, a maior parte da renda ou da riqueza pertence a muito
poucas pessoas. Entrementes, no campo do controle de qualidade, o Dr. J. M. Juran
aplicou o mtodo grfico de Lorenz como uma forma de classificar os problemas da
qualidade nos poucos vitais e nos muito triviais, e denominou este mtodo de Anlise
de Pareto. Ele demonstrou que, em muitos casos, a maior parte dos defeitos e de seus
custos decorrem de um nmero relativamente pequeno de causas.
Como construir um diagrama de Pareto:
Etapa 1:
Decida quais problemas devem ser investigados e como coletar os dados:

Decida que tipo de problemas voc quer investigar. Exemplos: Itens defeituosos,
perda em valores monetrios, ocorrncias de acidentes;

Decida quais os dados sero necessrios e como classific-los. Exemplo: Por tipo
de defeito, localizao, processo, mquina, operador, mtodo.

Nota: Rena itens que so os menos freqentes sob o ttulo outros;

Determine o mtodo da coleta de dados e o perodo durante o qual sero


coletados;
277

Nota: recomendvel o uso de um formulrio para orientar a investigao.


Etapa 2:
Crie uma folha de contagem de dados listando os itens, com espao para registrar os
respectivos totais. Veja exemplo abaixo:
Tipo de Defeito

Contagem

Total

Trinca

///// /////

10

Risco

///// ///// ///// ///// ///// ///// /////

42

///// //
Mancha

///// /

Deformao

///// ///// ///// ///// ///// ///// /////

104

///// ///// ///// ///// ///// ///// /////


///// //// ///// ///// ///// ///// ////
Fenda

////

Porosidade

///// ///// ///// /////

20

Outros

///// ///// ////

14

TOTAL:

200

Etapa 3:
Prepare uma planilha de dados para o diagrama de Pareto listando os itens, seus
totais individuais, os totais acumulados e as respectivas porcentagens, conforme
modelo apresentado abaixo. Ordene os itens em ordem decrescente de quantidade.
Nota: O item outros deve ficar na ltima linha, qualquer que seja a sua grandeza. Isto
se deve ao fato de que ele constitudo de um grupo em que cada item menor que o
menor item listado individualmente.
Planilha de dados para o Diagrama de Pareto
Tipo de defeito

Quantidade de

Total

Porcentagem

Porcentagem

defeitos

acumulado

do total geral

acumulada

Deformao

104

104

52

52

Risco

42

146

21

73

Porosidade

20

166

10

83

Trinca

10

Mancha

Fenda

Outros

14

200

TOTAL

200

278

Etapa 4: Trace dois eixos verticais e um eixo horizontal.

Eixos verticais:

a)

Marque o eixo vertical do lado esquerdo com uma escala de 0 at o valor total
geral;

b)

Marque o eixo vertical do lado direito com uma escala de 0 % at 100 %;

Eixo horizontal

Divida este eixo num nmero de intervalos igual ao nmero de itens da classificao.
Etapa 5: Construa um diagrama de barras
Etapa 6: Desenhe a curva acumulada (Curva de Pareto).
Marque os valores acumulados at cada item (Total acumulado ou % acumulada)
sobre o lado direito do respectivo intervalo, e ligue os pontos com segmentos de reta.
Etapa 7: Anote outras informaes que forem necessrias no diagrama.

Informaes referentes ao diagrama: Ttulo, unidades, nome do responsvel.

Informaes referentes aos dados: Perodo, assunto e local do levantamento,


quantidade total de dados.

Tipos de Diagrama de Pareto


Diagrama de Pareto por efeitos:
Este um diagrama que se refere aos resultados indesejveis para descobrir qual o
maior problema. Exemplos de resultados indesejveis:

Qualidade: defeitos, erros, falhas, reclamaes, devolues, reparos;

Custo: Montante de perdas, gastos;

Entrega: falta de peas em estoque, falta de pagamentos, atrasos na entrega;

Segurana: acidentes, enganos, quebras.

Diagrama de Pareto por causas:

279

Este um diagrama que se refere s causas no processo, e utilizado para descobrir


qual a maior causa do problema.

Operador: turno, grupo, idade, experincia, habilidade, identidade da pessoa;

Mquina: Mquinas, equipamentos, ferramentas, organizaes, modelos,


instrumentos;

Matria-prima: Fabricante, fbrica, lote, tipo;

Mtodo de operao: condies, ordens, preparativos, mtodos.

Sugestes para a construo de Diagramas de Pareto.


1.

Analise vrias classificaes e construa diversos tipos de diagramas de Pareto.


Nota: Pode-se chegar essncia de um problema por meio da observao sob
vrios ngulos, e necessrio experimentar vrias formas de classificao at que
se identifiquem os poucos vitais , o que o objetivo da anlise de Pareto.

2.

inconveniente que o item outros tenha uma porcentagem muito alta.


Nota: Se isto acontecer, porque os itens analisados no esto classificados
apropriadamente e muitos acabam se enquadrando sob este ttulo. Neste caso,
deve-se considerar uma forma de classificao diferente.

3.

Se um valor monetrio puder ser associado aos dados, melhor desenhar


diagramas de Pareto com eixo vertical que mostre isto.

Nota: Se as implicaes financeiras de um problema no forem devidamente


apreciadas, o estudo em si pode acabar sendo ineficaz. O custo um importante
parmetro de medio na administrao.
Sugestes para o uso de Diagramas de Pareto:
1.

Se um item parece ser de soluo simples, ele deve ser atacado de imediato,
mesmo que seja de uma importncia relativamente pequena.
Nota: Como o grfico de Pareto visa eficincia da soluo de problemas, ele
requer, basicamente, que ataquemos somente os pontos vitais. Entretanto, se
houver um item que parece ter importncia relativamente pequena, mas que pode
ser resolvido atravs de uma contramedida simples, ele deve ser atacado, pois
servir como um exemplo de soluo eficiente de problema, e a experincia, as
informaes e a elevao da moral obtidas por meio dele sero de grande valia
para futuras solues de problemas.

280

No deixe de construir um diagrama de Pareto por causas.

Nota: Aps identificar o problema pela construo do diagrama de Pareto por efeitos,
necessrio identificar as causas para resolver o problema. Portanto vital construir um
diagrama de Pareto por causas, caso se queira obter progresso.
Diagramas de Pareto e Diagrama de Causa-e-Efeito:
Muitas vezes, a soluo de um problema exige o uso combinado de duas ou mais
ferramentas. Um exemplo de combinao particularmente til o uso do diagrama de
Pareto com o diagrama de Causa - e Efeito. Vide exemplo abaixo:
Perdia-se muito produto por defeitos de fabricao. Ento, durante dois meses
consecutivos, todos os produtos com defeitos foram classificados segundo o tipo de
defeito que apresentavam. O resultado desse trabalho est apresentado no diagrama
de Pareto abaixo. fcil ver que o defeito mais comum a dimenso da pea.

150
125
100
75
50
25
0
Dimenso

Furos

Riscos

Quebras

Distoro

Outros

Tipo de no-conformidade

Foram levantadas as causas que poderiam afetar a variao na dimenso da pea e


isso permitiu desenhar o diagrama de Causa e Efeito apresentado a seguir:

281

De acordo com a equipe e como mostra o diagrama, a dimenso da pea pode ser
afetada por diversas causas. Mas qual a importncia de cada uma delas? Esta
questo pode ser respondida com um diagrama de Pareto. Foi ento preciso examinar
cada pea que apresentava dimenso errada para que se pudesse identificar a razo
do defeito.
Os dados obtidos foram apresentados em uma tabela, usando-se essas causas como
categorias. Note o cuidado de estabelecer uma categoria com o nome Indefinido,
agrupando-se nela as peas com dimenso errada devido a causa desconhecida.
Chegou-se, assim, ao diagrama de Pareto abaixo. fcil ver que o mau ajuste da
mquina foi a causa que mais afetou a dimenso da pea.
50
45
40
35
30
25
20
15
10
5
0
Mau ajuste da
m quina

Velocidade de
trabalho

Com ponentes

Abraso de
ferram entas

Form a das partes

Indefinida

Outras

Causa dos defeitos

282

Feito o necessrio reajuste, foram obtidos novos dados sobre o tipo de defeito e foi
construdo novo diagrama de Pareto. Esse novo diagrama, colocado ao lado do
anterior, mostra que o reajuste da mquina levou a uma diminuio das perdas.
No conformes- antes

No conformes- depois

150

150

125

125

100

100

75

75

50

50

25

25

Dimenso

Furos

Riscos

Quebras

Distoro

Outros

Dimenso

Furos

Tipo de no-conformidade

Riscos

Quebras

Distoro

Tipo de no-conformidade

CEP CONTROLE ESTATSTICO DO PROCESSO


Introduo:
O Controle da qualidade de um processo produtivo envolve a realizao das seguintes
etapas:

Definio de um padro a ser atingido (especificao);

Inspeo para verificar se o que foi produzido est conforme o que foi
especificado;

Diagnstico dos defeitos;

Identificao das causas dos defeitos;

Implantao de aes corretivas para eliminao das causas;

Reviso da especificao (quando aplicvel).

O Controle Estatstico de Processo uma ferramenta de auxlio ao controle de


qualidade em todas as etapas. Ele consiste no uso de nmeros ou dados para analisar
um processo. Atravs do resultado desta anlise, verifica-se se o processo est ou no
sendo executado de forma atender as especificaes.
Atualmente, mais do que uma ferramenta estatstica, o CEP entendido como uma
filosofia de gerenciamento do processo, composta por um conjunto de tcnicas
originrias da estatstica e da engenharia de produo, que visam garantir a
estabilidade e a melhoria contnua de um processo produtivo.
O que ocasiona o surgimento de peas defeituosas em um processo a existncia de
variaes que podem estar presentes nos materiais, nas condies do equipamento,
nos mtodos de trabalho, na inspeo, etc.
283

Outros

Se as variaes e suas causas forem conhecidas, controladas e at mesmo reduzidas,


o nmero de peas defeituosas diminuir ou at mesmo desaparecer.
O Controle Estatstico de Processo auxilia na identificao e priorizao das causas
que geram a variao e objetiva a eliminao das causas fundamentais dos defeitos.
Os defeitos podem ser classificados em:
a)

Defeitos crnicos: so as deficincias inerentes ao processo. Como exemplo,


podemos citar as variaes nos parmetros do processo de injeo, variao no
dimetro de tubos extrudados;

b)

Defeitos espordicos: representam desvios que no so comuns ao processo.


Por exemplo: contaminao da matria-prima, material fora da especificao.

As causas dos defeitos tambm podem ser classificadas em:


a)

Causas comuns: so aquelas responsveis pela variao normal do processo.


Elas so inerentes ao prprio processo em uso. Exemplos: desgaste normal de
ferramentas, ferramentas inadequadas, falta de qualificao dos operrios,
instrumentos de medio fora de calibrao, etc.

b)

Causas especiais: so responsveis por um desvio muito grande no processo.


Originam-se de eventos isolados e so facilmente identificadas pelo operador.
Exemplos descuido do operador, queda de energia eltrica, pea sem o devido
tratamento trmico, etc.

importante ressaltar que um estudo de Deming comprovou que as causas especiais


so responsveis apenas por 15% dos problemas existentes em uma empresa,
enquanto que os 85% restantes so provocados por causas comuns.
Vantagens do uso do Controle Estatstico de Processo:

Serve para o controle contnuo do processo;

Ajuda o processo a produzir consistentemente, previsivelmente em qualidade e


custo;

284

Permite que o processo alcance melhor qualidade, menor custo por unidade e
maior capacidade instalada;

Fornece uma linguagem comum para a discusso do desempenho do processo;

Permite distinguir causas especiais de variao das causas comuns, como um


guia para aes locais ou aes sobre o sistema.

Com o CEP fcil chegar a decises baseadas em fatos, fatos sobre:

Causas reais dos problemas;

Novas especificaes de equipamentos;

Alterao de especificaes de projeto.

Nota-se uma relevante melhoria da qualidade e reduo dos custos operacionais.


Esta reduo dos custos claramente observada na:

Reduo dos estoques;

Economia da Matria-prima;

Reduo da seleo e retrabalho;

Diminuio de horas gastas em seleo e retrabalho;

Eliminao dos riscos de devoluo de peas fora da especificao.

Tipos de Carta de CEP


Por atributo
Ex: Manchas, brilho, quebra, etc...

Por varivel
Ex: peso, dimetro, comprimento, etc...
Estgios para implementao do Controle Estatstico de Processo :
1.

Definio do padro a ser atingido;

2.

Inspeo: medio e coleta de dados atravs do registro em folha de verificao;

3.

Controle: clculo dos limites de controle a partir dos dados do processo, usando
frmulas simples;

4.

Identificao das causas especiais de variao e correo atravs de aes


realizadas no local;

5.

Quantificao das causas comuns de variao e correo atravs de aes no


sistema;
285

6.

Atualizao do padro.

Coleta de dados:

Estabelea o perodo em que os dados sero coletados (horas, dias, semanas...);

Verifique se todas as instrues esto sendo seguidas corretamente;

Verifique se o processo de medio uniforme entre os diversos operadores;

Verifique a possibilidade de mistura de peas de diferentes processos e, em caso


positivo, elimine esta possibilidade.

Escolha do tamanho da amostra:


O tamanho da amostra deve ser escolhido de tal forma que seja pequena a variao
entre as unidades que a compe, permitindo que qualquer variao incomum entre as
amostras indique uma variao no processo.
Frequncia de retirada de amostras:
A frequncia deve ser tal que permita a identificao de modificaes no processo.
Quando o processo fica estvel e capaz podemos, com os devidos cuidados, aumentar
o intervalo entre as amostras.
Nmero de amostras:
O nmero de amostras deve ser suficiente para que as mais importantes fontes de
variao tenham a oportunidade de aparecer.

Etapas para a construo de cartas de controle:


Identificao:
Na parte superior do formulrio da carta de controle identificamos:

O processo;

A fbrica ou o departamento;

O nome da operao;

O nome ou cdigo da pea;

A caracterstica que est sendo controlada;

A especificao fornecida pela engenharia ou pelo cliente.


286

Registro dos dados:


Logo abaixo da identificao, registramos os dados, como por exemplo:

Data;

Hora;

Turno;

Operador;

As medies.

Clculos:
So marcados os resultados dos clculos das medidas de:

Posio;

Disperso.

Grficos:
So plotados grficos de posio e de disperso.
Dirio de bordo:
O dirio de bordo a principal ferramenta para a pesquisa de problemas no processo.
Para tanto, nele devem estar anotados todos e quaisquer ocorrncias anormais que
possam afetar direta e indiretamente a qualidade da caracterstica que est sendo
controlada.

No caso de variaes no aleatrias, ou seja, causas especiais, o dirio deve ser


preenchido da seguinte forma :

O problema;

A causa do problema;

A ao para resolver tanto o problema quanto a causa do problema.

287

Carta de Controle X -- R
Ncleo: PLSTICO

Mquina:

Nome da Pea:

Especificao de engenharia:

Caractersticas:

Data:

Tamanho da Amostra:

Frequncia:

DIMETRO EXTERNO
Data/hora

10/2

10/2

10/2

10/2

10/2

11/2

11/2

11/2

11/2

11/2

11/2

11/2

8:00

9:00 10:00 11:00 12:00 13:00 14:00 15:00 16:00 17:00 18:00 19:00 20:00 21:00 22:00 23:00

10/2

10/2

10/2

10/2

10/2

10/2

10/2

10/2

10/2

10/2

10/2

10/2

10/2

0:00

1:00

2:00

3:00

4:00

5:00

6:00

7:00

8:00

Leituras

1
2
3
4
5

X:
LSC x :
LIC x :
LSC R:
LIC R :
R:

x
R
G rfico das Mdias

Grfico das Am plitudes

AES
Sequncia de 7 pontos crescentes ou decrescentes
Algum outro padro no aleatrio

Pontos fora dos lim ites de controle


Sequncia de 7 pontos acim a ou abaixo da m dia

DIRIO DE BORDO
TODAE AS ALTERAES DE MO-DE-OBRA, MEIO AMBIENTE, MATRIA PRIMA, MQUINA
OU MTODO DEVEM SER ANOTADAS.
ESTAS ANOTAES LHE AJUDARO NA ANLISE PARA AS AES NO PROCESSO
DATA

OPERADOR

HORA
INCIO

FINAL

RESPONSAVEL DO SETOR:
DATA:

COMENTRIOS

CDIGO

QUANT.

PARADA

PRODUZIDA

ANALISTA:
DATA:

288

ndice de Capacidade do Processo Cp e Cpk


Uma vez determinado que o processo se encontra em controle estatstico (processo
estvel), h ainda a questo de saber se ele ou no capaz de satisfazer as
necessidades do cliente (seja ele interno ou externo). A capacidade do processo uma
medida que permite, caso o histograma do processo apresente uma distribuio
normal e caso ele se encontre em controle estatstico, avaliar a sua variao devido
unicamente existncia de causas comuns. O planeamento do estudo da capacidade
deve ser baseada num mnimo de 20 subgrupos, cada um dos quais com 3 ou mais
medies por forma a incluir no s a variao das corridas, tambm como a variao
entre as corridas. Desta forma conseguir-se avaliar a repetibilidade e reprodutibilidade
do processo em estudo.
As amostras devem ser recolhidas ao longo de vrios turnos, com uma cadncia
descontnua por forma a no excluir quaisquer alteraes do processo resultantes da
utilizao de diferentes materiais, operadores, mquinas, tempos de medio, etc.
Depois de recolhidos, registrados e tratados os valores, determinam-se os chamados
ndices de capacidade do processo Cp e Cpk.
O ndice Cp relaciona a disperso dos valores com a tolerncia especificada, isto ,
mede a variabilidade do processo. Por outro lado, o Cpk compara simultaneamente o
seu acerto ou regulao (medida central) e a sua variabilidade relativamente
tolerncia. A compatibilizao dos limites de controle e limites de especificao feito
atravs da comparao da capacidade do processo.
_

CPK =

( LSE X )
3 X

CP =

OU CPK =

( X LIE )
3 X

_
sendo X =

R
d2

LSE LIE
6 X

ndice

Comentrio

Cpk < 1,00

Incapaz

1,00< Cpk < 1,33

Aceitvel

Cpk > 1,33

Capaz

289

ndice de Capacidade Cp
1,5 ou mais

De 1,00 a 1,49

Processo

Excelente

Altamente confivel

Pode-se utilizar pr-controle

Capaz

Relativamente Confivel

Aplica-se monitoria atravs de grficos de


controle

De 0,75 a 0,99

Relativamente Incapaz

Pouco confivel

Requer controle intenso de manufatura e do


controle da qualidade

Menor de 0,75

Totalmente Incapaz

Sem condies de atender as especificaes

Requer inspeo 100%

atravs da anlise da Capacidade do Processo, que compatibilizamos o processo


de produo e as especificaes do desenho. O conhecimento da Capacidade do
Processo extremamente importante para decises sobre:

Melhorias a serem introduzidas no atual sistema de produo;

Mudana de especificaes inadequadas;

Decises mais efetivas na determinao das especificaes de desenho e dos


processos de produo para novos produtos.

Um processo em anlise estatstica esta sujeito a duas formas de classificao:


Controle

Sob Controle

Fora de Controle

Capaz

Caso 01

Caso 03

Incapaz

Caso 02

Caso 04

Capacidade

CARTAS DE CONTROLE PARA VARIVEIS

290

Grficos X R
Este grfico usado para controlar e analisar um processo com valores contnuos da
qualidade do produto, tais como comprimento, peso ou concentrao e isso fornece
maior quantidade de informaes sobre o processo. X representa o valor mdio de um
subgrupo e R representa a amplitude do subgrupo. Um grfico R geralmente usado
em combinao com um grfico X, para controlar a variao dentro de um subgrupo.
Clculos:
Linha central:

a) Mdia das mdias:

b) Amplitude mdia:

LCX =

X 1 + X 2 + .... X n
n

LCR =

R1 + R 2 + ...Rn
n

Limites de controle:
a) Carta da mdia:
__

__

Limite inferior de controle:

LIC X = X A2 .R

Limite superior de controle:

LSC X = X + A2 R

b) Carta da amplitude:
__

Limite inferior de controle:

LICR = D3 .R
__

291

Limite superior de controle:

Sendo: A2 , D3 e D4

LSCR = D4 .R

fatores que variam conforme o tamanho da amostra (n), esto

indicados na tabela abaixo :


Nmero de amostras

Fatores para limites

Divisores para

Fatores para limites

de controle

estimativa do

de controle

desvio-padro
N

A2

d2

D3

D4

1,880

1,128

3,267

1,023

1,693

2,574

0,729

2,059

2,282

0,577

2,326

2,114

0,483

2,534

2,004

0,419

2,704

0,076

1,924

0,373

2,847

0,136

1,864

0,337

2,970

0,184

1,816

10

0,308

3,078

0,223

1,777

11

0,285

3,173

0,256

1,744
292

12

0,266

3,258

0,283

1,717

13

0,249

3,336

0,307

1,693

14

0,235

3,407

0,328

1,672

15

0,223

3,472

0,347

1,653

16

0,212

3,532

0,363

1,637

17

0,203

3,588

0,378

1,622

18

0,194

3,640

0,391

1,608

19

0,187

3,689

0,403

1,597

20

0,180

3,735

0,415

1,585

21

0,173

3,778

0,425

1,575

22

0,167

3,819

0,434

1,566

23

0,162

3,858

0,443

1,557

24

0,157

3,895

0,451

1,548

25

0,135

3,931

0,459

1,541

Traado das linhas mdias e limites de controle nas cartas:


Linha mdia: As linhas mdias para as duas cartas devem ser traadas com linha
cheia.
Limites de controle: Os limites de controle devem ser traados com linhas tracejadas.

Determinao das escalas:


A determinao das escalas vital para o funcionamento do CEP, uma vez que a
escolha apropriada ir facilitar a marcao dos pontos e consequentemente a
elaborao da carta.
a) Escala das amplitudes: o eixo vertical reservado para a escala das amplitudes
est dividido em cinco divises maiores e cada uma delas dividida em 5
subdivises.
O mnimo da escala de amplitudes sempre igual zero e o mximo um valor
em torno de 1,5 a 2 vezes o maior valor de amplitude encontrada.
Este valor ser dividido por 5 e o quociente o valor de cada subdiviso. Divindose este valor novamente por 5 teremos as subdivises.

293

Todos estes valores devem ser arredondados de modo a facilitar a marcao dos
pontos na carta de controle.
A escala construda como segue abaixo:
Mximo

Mnimo

b) Escala das mdias: O eixo vertical reservado para a escala das mdias est
dividido em dez divises maiores e cada uma delas dividida em 5 subdivises.
A diferena entre o mximo e o mnimo da escala deve ser no mnimo 2 vezes
a diferena entre a maior e a menor mdia das amostras.
Este valor ser dividido por 10 e o quociente o valor de cada diviso.
Dividindo-se este valor de diviso por 5, teremos as subdivises.
Todos estes valores devem ser arredondados de modo a facilitar a marcao
dos pontos na carta de controle.

294

Interpretao da Carta X- R:
Pontos fora dos limites de controle:
A ocorrncia de pontos alm dos limites de controle evidencia que o processo no est
sob controle estatstico , ou seja, ele no previsvel, pois num processo que sofre
apenas causas comuns, a probabilidade de um ponto estar fora dos limites de
apenas 0,27 %. Assumimos que como a probabilidade de ocorrncia muito pequena
sua existncia pode ser considerada uma causa especial.
16
14
12
10
8
6
4
2
0
1

10 11 12

295

Para analisar estas ocorrncias verifique:

Se o clculo e a marcao dos limites ou do ponto esto corretos;

Se o sistema de medio foi modificado.

Tendncias:
Quando ocorre uma sequncia de sete pontos consecutivos, mesmo estando dentro
dos limites de controle, tambm consideramos como sendo uma causa especial de
variao, pois a probabilidade de ocorrncia menor que 1%.
a) Sete pontos consecutivos crescentes:
20
15
10
5
0
1

10 11 12

b) Sete pontos consecutivos decrescentes:


20
15
10
5
0
1

10 11 12

c) Sete pontos consecutivos acima da mdia:


20
15
10
5
0
1

10 11 12

296

d) Sete pontos consecutivos abaixo da mdia:


20
15
10
5
0
1

10 11 12

Consideraes gerais para a carta de amplitudes (R)


a)

Uma seqncia acima da amplitude mdia (R) ou uma seqncia crescente


significa:

Maior disperso nos valores, gerados por uma causa irregular (mau
funcionamento do equipamento);

Mudana dos elementos do processo (novo lote de matria-prima com


propriedades menos uniforme), ou at mesmo mudana no sistema de medio
(novo inspetor ou troca do instrumento de medio). Todos eles so problemas
que necessitam de correo.

b)

Uma seqncia abaixo da amplitude mdia (R) significa:

Menor disperso nos valores, o que pode ser um bom resultado;

Mudanas no sistema de medio que mascaram o desempenho real da


qualidade.

Consideraes gerais para a carta de mdias (X) :


a)

Pontos alm dos limites de controle:

A presena destes pontos evidencia a presena de causas especiais. Deve ser feita
uma anlise imediata da operao. Estes pontos podem ser sinal de:

Limites de controle ou pontos marcados erradamente;

Alterao brusca no processo no determinado instante (incidente isolado);

Alterao do sistema de medio.


b) Pontos muito prximos linha mdia ou aos limites:
297

Dividindo-se a regio limitada pelos limites de controle em 3 partes iguais, teremos


uma regio central em torno da mdia , que denominada tero mdio .
Estatisticamente 2/3 dos pontos devem estar situados nesta regio, enquanto os
demais devem estar situados nas outras duas regies restantes.

15
12

1
2

9
6

3
0
1

c)

10 11 12

Pontos muito prximos mdia e pontos muito prximos aos limites de controle.

Nestes casos, para a anlise, verifique:


a)

Se o clculo e a marcao dos limites de controle ou do ponto projetado esto


corretos;

b)

Se os dados foram corrigidos (valores muito desviados foram alterados ou


eliminados).

Determinao e correo das causas especiais:


Para cada sinal estatstico devemos imediatamente determinar a origem da causa
especial e tomar medidas preventivas para evitar que ocorra novamente.
Sempre que num processo houver ocorrido causas especiais necessrio fazer a
correo dos limites de controle e da linha central para ambas as cartas.
Nesse caso, exclumos todas as amostras afetadas pelas causas especiais conhecidas
e realizamos novos clculos com as amostras restantes.
O fato de eliminarmos estas amostras no simplesmente para camuflar os dados
do processo e sim para termos uma melhor estimativa da variao decorrente da
298

influncia de causas comuns de variao, o que nos dar uma base comparativa mais
apropriada para a deteco de futuras causas especiais.
Para tanto as causas especiais j detectadas devem ser corrigidas e eliminadas do
processo, caso estas sejam indesejveis.
OBS.: A prtica mencionada acima s no vlida quando a soluo de uma causa
especial tenha provocado uma alterao substancial no processo, neste caso ,
teremos de fazer um novo levantamento de dados. Por exemplo: alterao no projeto e
consequentemente no molde da pea.
Controle contnuo do processo
Quando um processo est sob controle podemos estender esses limites para os
perodos futuros. Neste ponto tambm pode ser necessrio o ajuste do processo ao
alvo. Neste caso tais limites podem ser utilizados para o controle contnuo do processo
com o operador e a superviso local.
Carta X-R Controle individual:
Em certos casos necessrio que o controle do processo seja baseado em leituras
individuais, como por exemplo:
c) Quando a medio dispendiosa (cara), como no caso de ensaios destrutivos;
d) Quando o resultado num certo ponto e momento apresenta-se relativamente
homogneo.
Apesar de muito utilizadas, as cartas individuais requerem alguns cuidados, tais como:
e) Elas no so to sensveis s alteraes do processo quanto a carta X-R;
f)

Deve-se interpret-la com ateno, quando a distribuio do processo no se


apresenta simtrica.

A nica diferena deste modelo de carta em relao ao X-R est no clculo das
amplitudes, pois ela calculada a partir da diferena entre cada par de valores
sucessivos.
Esta sistemtica de clculo faz com que tenhamos sempre uma amplitude a menos
que o nmero de leituras individuais (25 leituras fornecem 24 amplitudes).

299

Clculos:
Linha central:

a) Linha mdia: LC X = X1 + X2 + .....Xn


n

b) Amplitude Mdia: LC R = R1 + R2 + ..... Rn


n
Limites de controle:
a) Cartas individuais:

Limite superior de controle:

LSCX = X + E2 . R

Limite inferior de controle:

LICX = X - E2 . R

a) Carta de amplitudes:

Limite superior de controle: LSCR = D4 . R

Limite inferior de controle: LICR = D3 . R

300

Sendo: E2 , D3 e D4 , fatores que variam conforme o tamanho da amostra (n) . Valores


indicados na tabela abaixo:
Tamanho da

Fatores para limites de controle

amostra (n)

E2

D3

D4

2,660

3,267

1,772

2,574

1,457

2,282

1,290

2,114

1,184

2,004

1,109

0,076

1,924

1,054

0,136

1,864

1,010

0,184

1,816

10

0,975

0,223

1,777

Carta de controle para atributos


Grfico P Porcentagem defeituosa
Os grficos P so empregados quando interessante adaptar as caractersticas
analisadas para porcentagem defeituosa. Este grfico ideal para amostras de
tamanho varivel e quando as amostras podem ser classificadas em conformes e noconformes.
Estes grficos so relativamente fceis de serem plotados e servem como
documentao para o estudo de problemas especficos. Estes grficos so um registro
do nvel de qualidade da produo, alm de ser um demonstrativo para a empresa.
Determinao da escala:
A determinao das escalas para cartas de controle para variveis segue a mesma
regra utilizada para a determinao das escalas para cartas de amplitudes.
A mnima ocorrncia de peas no-conformes sempre igual zero, sendo, portanto,
este o valor mnimo da escala.
O valor mximo deve ser um valor em torno de 1,5 2 vezes a maior porcentagem P
encontrada.

301

Este valor mximo dever ser dividido por 10 e o quociente aproximadamente o valor
de cada diviso. Dividindo-se este resultado por 5 , teremos os valores das
subdivises.
Dirio de Bordo:
Como no caso do controle por atributos, o dirio de bordo mantm-se como a principal
ferramenta para a pesquisa na soluo de problemas no processo.
O formato e a forma de preenchimento do dirio para atributos permanecem idnticos
aos utilizados para variveis, ou seja, ele deve ser preenchido quando:

Houver indicao na carta, da ocorrncia de causas especiais de variao;

Ocorrer qualquer alterao de 6 Ms que afete o processo.

O preenchimento do dirio deve ser obrigatrio e quando da ocorrncia de qualquer


anormalidade no processo, ele deve ser imediatamente consultado, por isto, seu
correto preenchimento vital para o funcionamento e eficcia de todo o programa de
CEP.
Montagem do grfico:
Para montarmos um grfico P necessitamos saber a porcentagem defeituosa de cada
subgrupo racional.
a) Clculo da % defeituosa (P) :
P = nu x 100
n
Onde nu = nmero de unidades defeituosas em cada amostra
n = nmero de peas da amostra
b) Clculo da linha mdia (P):
P = nu1 + nu2 + nu3........ nuk
n1+ n2 + n3 + ...... nK

302

c) Clculo do tamanho mdio das amostras (n)


n=n
K
Onde: n = tamanho de cada amostra
K = nmero total de amostras
d) Clculo dos limites de controle:

P + 3 x P x ( 1 P)

Limite Superior de Controle: (LSCP) =

Limite Inferior de Controle: (LICP) =

P - 3 x P x ( 1 P)
n

Para os pontos plotados neste tipo de grfico, temos as seguintes interpretaes:

Pontos acima do limite superior de controle (LSC): Indcio de m qualidade ou


aumento na rigidez do controle do processo;

Pontos abaixo do limite inferior de controle (LIC): Indica melhoria na qualidade ou


relaxamento do processo de inspeo;

Para pontos alm dos limites de controle , como nos dois casos citados acima,
sabemos que a ocorrncia destes indica a presena de alguma causa especial
que deve ser investigada;

Tendncia de 7 pontos consecutivos : A ocorrncia de tendncias nas cartas de


controle so sinais estatsticos de que causas especiais esto alterando o
comportamento do processo ao longo do tempo. Estas tendncias podem ser
crescentes, decrescentes, acima da mdia ou ainda abaixo da mdia;

303

Distncia entre os pontos e a mdia do processo : Sabemos que se um processo


est sob controle estatstico, aproximadamente 68% ou seja, 2/3 dos pontos
devem estar dentro da regio do tero mdio, que circunda a linha mdia.

Carta N - P (nmero de itens defeituosos):


A carta tipo n-p , que mede o nmero de itens no conforme, um caso particular da
carta p (% defeituosa) , j que neste modelo trabalhamos com tamanho de amostra
constante.
Alm disso, na carta n-p so marcadas as quantidades reais de itens no-conformes
ao invs da sua razo em relao amostra, o que torna mais claro e mais fcil a
marcao dos pontos.
Montagem do grfico
1) Clculo da linha mdia:

np = np1 + np2 + ...... np k


K

Sendo : np = nmero de itens no-conformes


K = nmero de subgrupos existentes (geralmente 25)
Clculo dos Limites de controle
Limite superior de controle: LSCnp=

np + 3 x np ( 1 np )
n

Limite inferior de controle: LICnp =

np + 3 x np ( 1 np )
n

Onde: n = Tamanho da amostra de cada subgrupo


Carta U (nmero de no conformidades por unidade):
A carta de controle do tipo u mede o nmero de no-conformidades (defeitos) por
unidade. Este tipo de carta , assim como o tipo c , no medem os itens no-conformes
e sim a quantidade de no-conformidades presentes numa certa amostra analisada.
A diferena entre estes dois tipos de carta que o grfico C utilizado para um
produto ou amostra com tamanho constante enquanto o grfico U utilizado para
produtos ou amostras com tamanhos variveis.

304

Exemplos: Peas com grandes dimenses, produo de mquinas etc.


Clculos:

Nmero no-conformidades por unidade:

u= c
n

Linha mdia:

Onde:
C = nmero de no-conformidades
n = tamanho da amostra

u = c 1 + c2 + c3
n1 + n2 + n3

Limite Superior de Controle:

LSC u = u + 3. _u__
n

Limite Inferior de Controle:

LIC u =

u-

3. __u__
n

Onde n = tamanho mdio das amostras =

n1 + n2 + n3
k

Carta C (Nmero de no-conformidades):


A carta de controle do modelo C, assim como o modelo U utilizado para o controle
das no-conformidades, entretanto no modelo C trabalhamos com tamanho de
amostra constante.
A vantagem do uso desta carta que ela mais clara e mais fcil de marcar.
Clculos:

Linha mdia:

c = c1 + c2 + ..... cK
k

305

Onde: C= corresponde ao nmero de no-conformidades


K = Nmero de amostras

Limite superior de controle:

Limite inferior de controle:

LSC c =

LIC c =

c + 3. c

c - 3. c

306

307

Crditos
Elaboradores: Ncleo de Tecnologia do Plstico
Referncia
SENAI-SP. Apostila de Gesto pela Qualidade - Escola SENAI Mario Amato, 2012. (Curso Tcnico em Plstico).

308

Das könnte Ihnen auch gefallen