Diffraction 12 : Mthodes exprimentales Page 1 sur 13

Chapitre 12 : Mthodes exprimentales en diffraction

12.1
La

Introduction
condition

de

diffraction

r r
r
r
r*
r
r
S = S0 + rhkl* , o rhkl
= n h a* + k b * + l c*

avec n et o h k l sont les indices du premier noeud dans la direction [h k l]*

signifie que :

o le faisceau incident a une direction de propagation repre par le vecteur unitaire S0 .

o le faisceau diffract supportant le vecteur unitaire S est situ dans le plan de S0 et de

r*

la normale commune rhkl aux plans diffractants (rflexion spculaire)

o le faisceau diffract fait avec les plans h k l le mme angle que le faisceau incident
o cet angle satisfait la relation (de BRAGG) :

n = 2 Dhkl sin

r
r
r
1/ Dhkl = P h a * + k b * + l c * P

avec

lorsque plans conscutifs distants de Dhkl sont en phase.

Ces conditions de diffraction NE sont PAS ralises spontanment. Le premier
objectif dun dispositif exprimental sera de les satisfaire.

12.2

Construction d'Ewald

P. P EWALD a propos une construction graphique trs commode pour dcrire les
montages exprimentaux de diffraction. et interprter les diagrammes de diffraction. ;
elle est consiste reprsenter gomtriquement les conditions de diffraction

*
Construction de : S = S0 + rhkl

o S et S0 :

vecteurs unitaires : P S P = P S0 P = 1

o faisceau incident :

support de S0

uuur

o point O sur le faisceau :

origine de OR = S0

o sphre d'EWALD :

centre O, rayon 1

o rseaurrciproque :

r
r
a *, b *, c *

origine en R superpos au plan rel, vecteurs de base

*
Construction de (S S0 ) = rhkl

o faisceau incident :

r
r
P S / P = P S0 / P = 1
r
support de S0 /

o point O sur le faisceau :

origine de OR = S 0

sphre d'EWALD :

centre O, rayon 1/

o S et S0 :

Page 2 sur 13 Diffraction 12 : Mthodes exprimentales

r r r
a *, b*, c *

o rseau rciproque :

origine en R superpos au plan rel, vecteurs de base

r*

r*

La condition S = S0 + rhkl ou ( S S0 ) = rhkl est satisfaite pour tout noeud du

rseau rciproque se trouvant sur la sphre d'EWALD. ,Fig 12.1

Figure 12.1 - Superposition des espaces rciproque et rel

(faisceaux incident, diffract et cristal)

Le cristal peut tre en O ou en R : c'est l'origine du vecteur de diffraction S ou S / .

Fig. 12.1
Le rseau rciproque est construit dans l'orientation dfinie par la relation.

r r
( ai * a j ) = ij Pour une orientation donne du cristal par rapport au faisceau incident,

le nombre de noeuds tombant sur la sphre d'EWALD est en gnral trs petit ou
mme nul. Il faut donc prvoir des dispositifs exprimentaux tels que les noeuds du
rseau rciproque soient amens traverser la sphre d'EWALD.

uuuuur
P r *hkl P< 2 , ce qui correspond un volume dexploration ne dpassant

On peut thoriquement amener sur la sphre d'EWALD tous les nuds tels que :

4 2
pas :
.
3
3

Pour un cristal dont la maille a un volume V, leur nombre N est gal :

32 V
3 3

Ce nombre est d'autant plus grand que la longueur d'onde est petite.
Exemple : = 0.07 nm ( MoKa)

a = b = c = 0,5 nm

N 5 980

Pour amener une famille

en position de diffraction on peut agir exprimentalement
r r (hkl)
r*
sur les vecteurs : S , S0 , rhkl et sur Il suffit de fixer 2 conditions et de laisser les 2
autres libres pour caractriser une mthode exprimentale.

Diffraction 12 : Mthodes exprimentales Page 3 sur 13

r
r
r*
12.3 S0 fixe ; rhkl
fixe ; variable ; S libre : mthode de LAUE
r
o S0 fixe: le faisceau incident est collimat.
o

r*
rhkl
fixe : l'chantillon est monocristallin et immobile.

o variable : le faisceau est polychromatique. Le domaine spectral disponible s'tend

de min = 0.25 A max = 2.5 A environ.

o S libre : le dtecteur est deux dimensions : film, ou plaque photo-sensible

lecture en temps rel ou diffr .
Cette technique est connue sous le nom mthode de LAUE.

r r
r
r
a*, b*, c * .Les vecteurs rhkl* normaux aux plans (hj kj lj) de la zone [u v w] : hj u

Considrons une sphre d'EWALD de rayon 1 et un rseau rciproque bti sur

+kj v + lj w = 0 se trouvent dans le plan origine de la famille (u v w)* et ayant pour
normale la range [u v w], chap. 5.
Les plans origine des diffrentes familles (u v w)* coupent la sphre d'EWALD suivant
des cercles ayant tous en commun l'origine du rseau rciproque, Fig. 12.2.

Chaque noeud nh nk nl remplac par un segment allant de max r * max r * perce la

sphre d'EWALD, il choisit ainsi la longueur d'onde ... / n ... qui donne lieu aux
rflexions de BRAGG.

Figure 12.2 - Intersection du plan rciproque (u v w)* avec la sphre d'EWALD

Les faisceaux diffracts par les plans de la zone [u v w] s'appuient sur un cne ayant
pour sommet le centre de la sphre et pour axe une droite parallle la range [u v w]
et faisant un angle avec le faisceau incident. Habituellement, on place des dtecteurs
plans perpendiculairement au faisceau incident : les tches de diffraction des plans de
la zone [u v w] se placent alors sur des courbes zonales facilement identifiables :

Page 4 sur 13 Diffraction 12 : Mthodes exprimentales

o clich en transmission : 0 < <

ellipses, =
paraboles, ayant en commun la
4
4

trace du faisceau direct. Fig. 12.3B.

o clich en retour :

< <

hyperboles, =

droites. Fig. 12.3A,

Figure 12.3A - Diagramme de Laue en retour - La courbe zonale est une hyperbole

Diffraction 12 : Mthodes exprimentales Page 5 sur 13

Figure 12.3B - Diagramme de Laue en transmission - La courbe zonale est une elllipse

Les mesures d'angles entre plans peuvent se faire au moyen de la projection

strographique. Lindexation et les angles de rorientation sont obtenus maintenant au
moyen d'un logiciel appropri implant dans un micro-ordinateur. (Rf. 1)
Le diagramme de LAUE fait apparatre les symtries du cristal : Fig. 12.4B. La longueur
d'onde du faisceau diffracte tant inconnue, la dtermination des distances Dhkl est en
principe impossible. Les diagrammes de LAUE permettent essentiellement le contrle
du matriau (est-ce un bon monocristal ?) et l'orientation d'une famille h k l par rapport
un repre dtermin. L'erreur sur les angles est de l'ordre de 0.1 deg.

r
r
r
12.4 S0 fixe ; monochromatique ; rhkl* variable ; S libre
r
o S0 fixe : le faisceau incident est collimat., sa direction est donc parfaitement dfinie
o monochromatique :le faisceau est monochromatis (rayonnement d'anticathode :
la raie K isole ) ( rayonnement synchrotron : slection d'une bande spectrale
/ de l'ordre de 5 /10000)
o

r*
rhkl
variable : poudre cristalline ou monocristal mis en mouvement.

Page 6 sur 13 Diffraction 12 : Mthodes exprimentales

o S libre : le dtecteur est deux dimensions : film, ou plaque photo-sensible

lecture en temps rel ou diffr.
Considrons une sphre d'EWALD de centre 0 de rayon 1/. L'origine du rseau
rciproque est superpose en R.

12.4.1 Mthode des poudres ou de Debye-Scherrer

Une poudre est un matriau polycristallin compos de cristaux lmentaires ou grains
r
qu'il soit l'tat pulvrulent ou massif. L'orientation des normales r *hkl est isotrope si

la poudre n'est pas texture : les extrmits de chacun des vecteurs r *hkl se trouvent

sur une sphre Shkl centre sur l'origine du rseau rciproque et de rayon |P r *hkl P
Fig. 12.5. L'intersection des sphres Shkl et d'EWALD est un cercle ayant pour axe le
faisceau incident : les faisceaux diffracts par une mme famille h k l sont sur un cne
ayant pour axe le faisceau incident. Fig. 12.5.

La poudre est contenue dans un capillaire ou tendue sur un support plan. Si le

matriau est massif on le met sous la forme de fil fin (0,5 mm de diamtre au plus), de
pointe ou de plaque plane polie.

Figure 12.5 - Mthode des poudres. Diffraction en dispersion angulaire

Diffrentes techniques de dtection des faisceaux diffracts sont utilises :

o film ou plaque-image perpendiculaire au faisceau incident et place une distance
connue de l'chantillon : le diagramme de diffraction est compos d'anneaux
concentriques.
o film plac dans une chambre cylindrique d'axe perpendiculaire au faisceau
incident : les faisceaux diffracts impressionnent le film suivant des anneaux
(DEBYE-SHERRER) correspondant l'intersection d'un cne et d'un cylindre dont
les axes sont perpendiculaires. Fig. 12.6A
o diffractomtre : le dtecteur ponctuel, plac derrire une fente (d'analyse), pivote
autour de l'axe du diffractomtre. La poudre, qu'elle soit contenue dans un capillaire
ou non, a un support parallle l'axe de rotation. Le foyer du tube de rayons X, l'axe
du diffractomtre
et la fente d'analyse 2 = 0.000 sont aligns: ils dfinissent le
r
support de S0 . Les faisceaux diffracts sont dtects en faisant tourner le bras

Diffraction 12 : Mthodes exprimentales Page 7 sur 13

compteur : la direction du vecteur S correspond au maximum d'intensit traversant la

fente d'analyse.

r r

Quelle que soit la mthode exprimentale utilise, on cherche mesurer l'angle de

Bragg 2 = S0 , S

) : le but tant de calculer les distances rticulaires Dhkl par :

Dhkl2 =

4sin 2

Les mthodes diffractomtriques sont aussi les plus appropries la mesure des
intensits diffractes I(hkl).
Remarque :pour amliorer l'isotropie des normales, on fait tourner la poudre : capillaire,
suivant l'axe ; plaque, dans son plan.

12.4.2 Monocristaux : technique de Gandolfi (2)

En orientant au hasard et sans interruption un monocristal, on peut simuler en moyenne
une poudre cristalline condition d'enregistrer le diagramme de diffraction sur un
intervalle de temps suffisant.

Figure 12.6 - Moyen de rendre les directions rciproques isotropes.

Diffrentes techniques ont t proposes pour obtenir un diagramme de poudre partir

d'un monocristal :
o le monocristal est plac dans un capillaire vertical et mis en rotation par un jet
d'hlium gazeux, la manire des balles de ping-pong sur un jet d'eau.
o la technique de Gandolfi repose sur la rotation simultane du monocristal autour de
deux axes qui se coupent au centre de la chambre de diffraction avec un angle
d'intersection aussi proche que possible de 90, Fig. 12.6
Ces dispositifs sont destins donner une orientation alatoire aux normales [h k l]*.

12.4.3 Monocristaux : cristal tournant

Une chambre de cristal tournant est quipe d'un seul axe de rotation, coupant
perpendiculairement le faisceau incident.

Page 8 sur 13 Diffraction 12 : Mthodes exprimentales

Le monocristal a t orient au pralable de faon avoir une direction [u v w] du

rseau direct parallle l'axe de rotation Les plans rciproques de la famille (u v
*
w)* sont quidistants avec un espacement gal : d uvw (unit 1/)., Tab.5.2

Figure 12.7A - Construction d'EWALD applique au cristal tournant

L'axe de rotation de la chambre de cristal tournant est parallle la normale

commune des plans (u v w)* (aprs orientation du cristal). Ceux-ci coupent la sphre
d'EWALD suivant des cercles sur lesquels s'appuient les faisceaux diffracts, comme
reprsent Fig. 12.7A.
Les cnes de diffraction ont pour axe commun l'axe de rotation : il suffit de placer un
film cylindrique de rayon R, autour de cet axe pour l'enregistrement des taches de
diffraction. Celles-ci se trouvent sur des lignes parallles ou strates ,chacune
dentre elles correspondant lintersection dun plan de la famille (u v w)* avec la sphre
dEwald

Figure 12.7B Tache de la strate numro1

Le but recherch est la dtermination de la priode 1/ d *uvw le long de la range [uvw]

Diffraction 12 : Mthodes exprimentales Page 9 sur 13

o strate 1, Fig.12.7B : tg 1 = D1 / R

r
vecteur S / et le plan quatorial

(1/ )sin 1 = d *uvw , 1 est langle entre le

o straten :On dtermine d *uvw au moyen des quations :

*
tg n = Dn R
(1 )sin n = nduvw
Dn tant la distance entre les strates 0 et
n, d *uvw est lespacement entre plans rciproques de normale commune [ u v w ] :
u
2

1/ ( d *uvw ) = ( u v w ) ( G ) v qui se rduit

w

1/ ( d *uvw ) = a 2 (u 2 + v2 + w2 ) pour un cubique.

2

Les indices des taches de diffraction de la strate n vrifient la relation

hu + k v +l w = n
r r
Langle 2 = (S , S0 ) dune tache de BRAGG situe sur la strate n est obtenu par la
relation :

cos2 = cos2 n cos n

o 2 n est labscisse angulaire de la tache considre sur la strate n, Fig. 12.7.

12.4.4 Monocristaux : diffractomtre 4 cercles( montage dEuler)

Le plan de diffraction, contient le faisceau incident et il est perpendiculaire l'axe de
rotation du bras 2-THETA. Il est soit vertical, Fig. 13.8, soit horizontal. L'axe de rotation
OMEGA est aussi perpendiculaire au plan de diffraction. L'axe de rotation du cercle CHI
reste dans le plan de diffraction, tandis que l'axe de rotation PHI reste dans un plan
perpendiculaire au plan de diffraction. Ces 4 axes sont scants au centre du
diffractomtre, prcisment lendroit o le monocristal est plac Fig. 12.8.
Les trois rotations autour de OMEGA, CHI et PHI sont suffisantes pour amener une
r
normale rhkl* sur la sphre d'EWALD. Le bras - dtecteur tourne autour de l'axe 2THETA jusqu' intercepter le faisceau diffract.

Figure 12.8A - Schma de principe d'un diffractomtre 4 cercles, avec un double

monochromateur

Page 10 sur 13 Diffraction 12 : Mthodes exprimentales

Figure 12.8B et C - Types de balayage

Dans un balayage (-scan) Fig. 12.8B, le dtecteur est immobile, la fente de

rception tant largement ouverte. La range [hkl]* pivote autour de laxe . On ralise
ainsi un balayage transversal autour du nud hkl.
Dans un balayage -2 (2 scan) Fig. 12.8C, le mouvement 2 du dtecteur est
coupl celui de laxe , de faon que les variations de 2 soient exactement le double
de celles de . La fente de rception est troite ; on obtient ainsi un balayage
longitudinal autour du nud hkl.

r
r
r
12.5 monochromatique ; rhkl* fixe ; S0 variable ; S libre
o monochromatique : le faisceau incident est monochromatis.

o rhkl* fixe : monocristal immobile pendant l'exprience.

o S0 variable : le faisceau incident est divergent.

o S libre : le dtecteur est deux dimensions : film, ou plaque photosensible lecture

en temps rel ou diffr.
Ce montage connu sous le nom montage en faisceau divergent
monochromatique est commode lorsqu'on a besoin d'examiner un monocristal
maintenu sous conditions (temprature, pression...) et d'enregistrer une rgion d'un
plan rciproque, pour voir la forme des noeuds rciproques.

Diffraction 12 : Mthodes exprimentales Page 11 sur 13

Figure 12.9 - montage en faisceau divergent monochromatique

Le monocristal a t orient au pralable : la normale ruvw est place paralllement la

direction moyenne du faisceau incident pour une exploration symtrique du premier plan
(u v w)*, en biais par rapport cette direction
pour tendre l'exploration. Chaque noeud
r
slectionne une direction d'incidence S 0 dans le faisceau divergent de faon se
placer sur la sphre d'EWALD. Sur la figure 12.9, le faisceau est focalis en R,
l'endroit o se trouve l'chantillon, l'origine du rseau rciproque est superpose en R.

r
r
r*
12.6 S0 fixe ; S impose ; variable rhkl
variable
r
o S0 fixe: le faisceau incident est collimat.
r
o S impos : la direction de diffraction est collimat la position du dtecteur ponctuel
est fixe.
o variable : le Ehkl = hc hkl

hkl = 2 Dhkl sin faisceau est polychromatique. Le

domaine spectral disponible s'tend de min = 0.25 A max = 2.5 A environ.

o rhkl* variable : poudre cristalline.

Cette technique, appele diffraction en dispersion d'nergie, est commode
lorsque la poudre cristalline est sous conditions (hautes pressions, temprature...).
L'avantage est que les fentres d'accs la chambre de mesure peuvent avoir des
dimensions trs rduites puisque les faisceaux incident et diffract sont dans des
positions fixes. Elle est base sur les dtecteurs "Si Li" refroidis l'azote liquide, qui ont
une bonne efficacit de dtection avec rsolution relative infrieure 1% dans le
domaine 5/50 KeV.

r*
rhkl
se trouvent dans une boule de rayons intrieur et
r*
r*
extrieur respectivement gaux min rhkl et maxrhkl et centre sur l'origine R du
Les extrmits des vecteurs

rseau rciproque Fig. 12.10. Le rayon diffract coupe la sphre d'EWALD de rayon 1
en un point fixe E .

Page 12 sur 13 Diffraction 12 : Mthodes exprimentales

r*

La normale rhkl slectionne la longueur d'onde qui la place sur la sphre d'EWALD.

Figure 12.10 - Mthode des poudres. Diffraction en dispersion d'nergie D.S. : Dtecteur solide
refroidi (Ge/77 K)

o Boule (-------)

de min r1 * max r1 *

de min r2 * max r2 *
r
r
r
r
Au point E : 1 P r1* P = 2 P r2 * P : si P r2 * P > P r1 * P 2 < 1 et donc E2 > E1
o Boule (........)

Les impulsions dlivres par le dtecteur sont proportionnelles l'nergie Ehkl des
rayonnements diffracts; elles sont codes et mises en mmoire par un analyseur
multicanaux. (3)

Ehkl = hc hkl

hkl = 2 Dhkl sin

est l'angle de diffusion : c'est un paramtre de l'exprience.

Dhkl =

hc
1
2sin Ehkl

Dhkl
1
=
Dhkl
1000

au mieux

Sur le diagramme, Fig.12.11, on peut remarquer des pics correspondant aux

rayonnements de fluorescence de l'chantillon : ils sont indpendants de l'angle de
diffusion. Le bruit de fond est d principalement au rayonnement Compton.
Les pics (en nergie) sont classs comme le sont les modules des vecteurs du rseau
r*
rciproque : si Ehkl crot, rhkl crot aussi, dhkl dcrot, et les indices hkl augmentent. Les
pics se dplacent si est modifi.
Remarque : ces rayonnements de fluorescence sont prsents quel que soit le
montage: ils contribuent au bruit de fond.

Diffraction 12 : Mthodes exprimentales Page 13 sur 13

ZnTe : ( a = 5,324 A b = 5,913 A c = 4,946 A a = = ? = 90)

A San Miguel A Polian J-P Iti (LURE)
Figure 12.11 - Enregistrement du diagramme de diffraction d'une phase de Zn Te obtenue sous une
pression de 16,4 Gpa.

Rfrences
o 1 Orient Express, J. LAUGIER - jean.laugier2@wanadoo.fr
o 2 Comercial Andore Semenca S.L., Madrid, Zabelete 45 E - 28002 Madrid
M. GREGOKIEWITZ, J. Appl. Cryst. (1994) - 27, 855-859.
o 3 Enseignement exprimental de Physique des rayons X, J.P. LAURIAT,
Paris Onze Edition, Universit de Paris-Sud, Centre dOrsay.