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http://www.upv.es/materiales/Fcm/Fcm03/ejercicios3_3.html
Problemas y soluciones
Problema 3.1
La distancia entre los planos de ndices (110) en una red cbica centrada c.c. es d110 = 2.65 .
Calcular:
a) La constante reticular.
b) El radio atmico del elemento.
Problema 3.2
Calcular la densidad terica del hierro a temperatura ambiente,
sabiendo que presenta red c.c. con parmetro reticular a = 2.866
. Peso atmico de Fe: 55.847.
Nota: Cte de Avogadro: 6.0248 1023 tomos/mol.
Problema 3.3
Se pretende determinar qu tipo de pigmento blanco se ha utilizado como colorante en un
termoplstico. Para ello se examina una muestra pulverizada con difraccin de rayos X,
empleando radiacin Cu K de = 1.541. Se obtuvo un espectro de difraccin con picos en los
ngulos 2: Pico 1: 31.72, Pico 2: 57.73, Pico 3: 39.12.
a) Determinar el tipo de pigmento utilizado.
b) Sera posible resolver la cuestin mediante anlisis qumico?
NOTA: Se dispone de las fichas JCPDS para los diversos pigmentos que se consideran posibles,
de las que se extraen los datos sobre las tres distancias ms significativas
siguientes:
Pigmento
d1 ()
d2 ()
d3 ()
TiO2 rutilo
3.24
1.68
1.36
TiO2 anatasa
3.47
1.88
1.69
PbOTiO2
2.82
1.60
2.30
Pb2O3
3.18
1.95
1.66
Problema 3.4
Una muestra de aluminio finamente pulverizado se somete a un ensayo de difraccin de rayos X
en un difractmetro de polvos. Se utiliz radiacin monocromtica Cu K con longitud de onda
Se pide determinar:
a) distancias interplanares que producen difraccin.
b) calcular el parmetro reticular, sabiendo que es una red cbica.
c) determinar si se trata de una red C.C. o C.C.C.
d) determinar el radio atmico del aluminio.
Problema 3.5
En una muestra de cobre se aprecia mediante observacin metalogrfica la existencia de un
precipitado. Para identificarlo, se somete la muestra a un ensayo de difraccin de rayos X. Se
sabe que el cobre presenta estructura c.c.c con parmetro reticular a = 3.616 . Determinar si un
pico para d = 1.419 corresponde al cobre o al precipitado.
Problema 3.6
Se pretende caracterizar mecnicamente la dureza de las fases que componen una aleacin
bifsica. Para ello se efecta una preparacin metalogrfica, determinndose el tamao medio de
los granos en unas 100 m. Tambin se ha determinado la dureza de la aleacin, mediante un
ensayo Vickers, con carga de 30 kg, obtenindose una dureza 360 HV.
Determinar cual es el rango aproximado de carga que deber utilizarse
a)en el microdurmetro para asegurar que las huellas de microdureza
afectan a un solo grano.
Observacin: El problema puede abordarse experimentalmente,
mediante sucesivos ensayos de prueba y error. Es decir, se selecciona
una carga al azar, por ejemplo 1000 g y se observa el tamao de la
huella producida. Si afecta a ms de un grano, se reduce la carga, se
hace otro ensayo y se vuelve a observar, as hasta que se consiguen
huellas de tamao inferior al de los granos de cada fase. No obstante,
tambin puede iniciarse el problema de forma ms aproximada,
efectuando un clculo de la carga necesaria para obtener huellas de
tamao apropiado, por ejemplo la mitad del tamao de grano.
Se realiza el ensayo sobre distintos granos, tomando medidas
b)exclusivamente de las huellas que afectan a un solo grano o fase.
Nota: An as, es posible que alguna medida de dureza no corresponda a una sola fase, debido a
la presencia de un grano de otra fase inmediatamente debajo del que se esta ensayando, tal
como se indica en la figura.
Se pide:
Calcular las distancias de los planos que producen difraccin,
a)empleando para ello la ley de Bragg.
Calcular el parmetro reticular, sabiendo que es una red cbica.
b)
Determinar si se trata de una red C.C. o C.C.C.
c)
Sabiendo que la densidad de la muestra es de 8.01 g/cm3, calcular el
d)
peso atmico.
Problema 3.8
En el espectro de difraccin de rayos X de la figura, aparecen los picos correspondientes a una
mezcla de dos materiales metlicos, que se sabe presentan el mismo sistema
cristalino cbico.
En la figura siguiente se muestran los tres primeros planos que proporcionan picos de difraccin
de rayos X para el aluminio, con radiacin Cu K, = 0,1542 nm