XX

G80
Sistema de inspeccin por Rayos X para
productos grandes y cajas
Caractersticas principales
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Anlisis en tiempo real en lnea de
produccin
El sistema muestra cada producto
inspeccionado para confirmar la integridad
de producto e indicar la ubicacin de los
contaminantes detectados.
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Seguimiento del producto y envase
Inspeccin en tiempo real de los productos
para confirmar el conteo, peso, nivel de
llenado y detectar productos rotos o
daados y otras condiciones de rechazo.
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Deteccin y eliminacin de productos con
cuerpos extraos
Incluyendo metal, piedra, vidrio, hueso y
ciertos plsticos.
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Multiples configuraciones
Para la inspeccin de cualquier formato de
producto: bandejas, bolsas, cajas, botellas,
latas y productos a granel.

La serie de sistemas de inspeccin Sapphire G80, han sido diseados para la inspeccin de
productos grandes y cajas. Igual que el resto de las series de los sistemas de inspeccin por
rayos X de la amplia gama Sapphire, es inigualable en la industria por la sensibilidad, velocidad
y sofisticacin de deteccin. El sistema pueden inspeccionar virtualmente cualquier artculo
envasados flujos de producto a granel continuo que pueden viajar por el transportador, hasta
400 mm de alto por 400 mm de ancho. La serie G80 se implementa en la industria alimenticia
para productos grandes y bloques de productos, incluyendo alimentos de boca (virutas, productos
extrusionados), productos lcteos (bloques de queso, grasas, queso fundido) y los productos del
tabaco.
La tecnologa de doble sensor lineal de la G80 asegura que cada parte del producto es
inspeccionada completamente, hasta las esquinas superiores. Una geometra nica de doble
rayo asegura que se logra la cobertura total del producto para que se detecten contaminantes
que no son visible desde una sola direccin. La serie G80 demuestra un rendimiento superior en
la identificacin de contaminantes tales como metal, piedra, vidrio, hueso y algunos plsticos.
Tambin analiza la falta o productos rotos, detecta embalajes vacos y confirma niveles de llenado,
para garantizar el producto y la integridad del embalaje.La serie est diseada para una operacin
simple y eficiente, con la inspeccin completamente adaptable y siendo muy fcil de entender el
procedimiento de operacin. Este sistema garantizar el producto y la integridad del embalaje, tan
vital para la reputacin de la marca y el xito comercial.

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Diseados para los estndares de la
industria alimentaria
Para cumplir con los programas de
certificacin de proveedores y satisfacer
los requerimientos de HACCP, los Sistemas
de Inspeccin Sapphire disponen de un
paquete de control estadstico de procesos
certificados para la recoleccin automtica
de datos. El sistema se puede conectar a
redes Ethernet o Wireless para la recogida
de datos, acceso a imgenes almacenadas,
control de calidad control y programacin
de la produccin.
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Diseados para un fcil lavado y
mantenimiento
El armario de acero inoxidable ha sido
creado para instalarse fcilmente en
sistemas de transporte existentes, y el
sistema de liberacin rpida permite un
muy fcil desmontaje y limpieza. Est
disponible en las normas IP65 y NEMA4
hasta IP69 y PW12 de estanqueidad.

G80 ESPECIFICACIONES
Tecnologa

Tecnologa lineal doble controlada por ordenador

Generador de rayos X

Varias especificaciones desde 80 Kv hasta 120 Kv

Velocidad del trasportador

0 60 m/min controlada por ordenador

Long. matriz del detector

Detector dual (2 x 614 mm)

Velocidad de lneas

2000 lneas por segundo

Resolucin

4096 escala de grises por pixel

Display

Pantalla tctil color de 15 para anlisis y diagnstico de imgenes en tiempo real

Calibracin

Calibracin automtica durante el funcionamiento normal

Lmite de deteccin

1.5 mm de acero inox, dependiendo del producto

Velocidad de inspeccin

hasta 150 cajas/minute

Requerimientos elctricos

110 VAC 200-240 VAC a 1.5 kVA

Dimensiones (LxAxh)

2070 x 1100 x 1970 mm

Por qu elegir Sapphire?

Tecnologa de vanguardia

Caractersticas distintivas

El personal de Sapphire y los innovadores sistemas de inspeccin

de baja energa, proporcionan al mercado el diseo ms avanzado
de deteccin con mayor velocidad y sensibilidad. sto proporciona
grandes ventajas, desde la alta resolucin, con muy bajo nivel de
emisiones y excelentes caractersticas trmicas. La Inspeccin
del flujo del producto, el control del generador de baja energa y el
sistema de anlisis de imgen de alto rendimiento, se consiguen
mediante un ordenador de ltima generacin. La fabricacin
de sistemas de inspeccin de Sapphire permite detectar las
ms pequeas variaciones en el producto y activar una seal
de contaminacin o desviacin. El sofisticado Software de
procesamiento de imagen proporciona anlisis inmediato, deteccin
y rechazo automtico.

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Interfaz de usuario amigable a travs de panel de control
instalado en pantalla tctil color de 15 pulgadas. La pantalla tiene
acceso a la interfaz y muestra imgenes en tiempo real y datos de
diagnstico de color para todos los productos inspeccionados.
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Calibracin automtica por lo que no es necesaria la calibracin
manual. La calibracin del detector es una funcin que tarda
menos de un minuto. El sistema analiza automticamente
las variaciones de producto para lograr constantemente la
sensibilidad ptima a lo largo de toda la produccin.
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Configuracin automtica como resultado de los algoritmos de
software adaptativo nico. Sapphire es pionera en sistemas de
reclculo automtico de los parmetros para que cada producto
sea inspeccionado con una ptima sensibilidad.

Experiencia global ajustada a sus necesidades

790 31.1

1103 43.4

La Alianza Sapphire es una red global de compaas a la vanguardia

de la tecnologa de inspeccin mediante rayos X, colaborando entre
ellas para proporcionar sistemas ms fiables, con el mejor apoyo en
el mercado. Los miembros de la Alianza Sapphire comparten sus
aos de experiencia y aprendizaje y tienen un conocimiento profundo
de las cuestiones que preocupan a sus clientes. sto asegura que
los Sistemas de Inspeccin mediante rayos X de la Alianza Sapphire
estn a la vanguardia en trminos de tecnologa, facilidad de uso y
capacidad de satisfacer las necesidades del mercado global. Con
aos de experiencia en la industria, Sapphire puede proporcionar
asesoramiento sobre las mquinas de la gama que mejor se
adaptada a los requerimientos para satisfacer las necedidades de
inspeccin de su producto. En caso necesario, se pueden programar
aplicaciones especiales que le proporcionarn una solucin ptima.

2071 81.5

Nivel ms alto de soporte

El equipo de Sapphire es consciente que una respuesta rpida
es imperativa para atender las necesidades de la industria. Con
mquinas disponibles en stock, equipos para alquiler y asistencia
rpida disponible, incluso si su aplicacin requiere una solucin
personalizada.Servicios de instalacin y puesta en marcha estn
disponibles conjuntamente con los paquetes de entrenamiento para
adaptarse a diferentes niveles de personal. Todos los sistemas de
Sapphire tienen sistemas de soporte remoto habilitadas a travs de
centros de alojamiento seguros y un equipo mundial de ingenieros de
servicio tcnico que respondern rpidamente cuando sea necesario.

File Location : G:\My Documents\SolidWorks From Server\G80\6346 - G80 Xray 2000 Long R to L\6346 - G80 Xray 2000 Long R to L\6346 - G80 Xray R to L 2000 Long

ISSUE

AMENDMENTS

DATE

DIMENSIONS ARE IN MILLIMETERS

TOLERANCES:
GENERAL
:
0.25
MACHINING
:
0.25
FABRICATION :
0.80
BEND/ANGULAR :
0.25
AS DRAWN

--

OPP HAND

--

MATERIAL

NAME

Sapphire Rayos X, S.L., WTC Edificio Sur, 2 Planta, 08039 Barcelona, Espaa
t: +34 933 443 232 f: +34 933 443 299 e: info@sapphireiberia.com w: www.sapphireiberia.com

FINISH

Cheyney Design & Development Ltd

New Cambridge House, Litlington,
Royston
Herts, SG8 0SS, UK.

CHECKED
ENG APPR.
MFG APPR.

TITLE

Q.A.
COMMENTS:

PROPRIETARY AND CONFIDENTIAL

THE INFORMATION CONTAINED IN THIS DRAWING IS THE SOLE PROPERTY OF
SAPPHIRE INSPECTION SYSTEMS LTD. ANY REPRODUCTION IN PART OR AS A
WHOLE WITHOUT THE WRITTEN PERMISSION OF SAPPHIRE INSPECTION SYSTEMS
LTD IS PROHIBITED.

DATE

DRAWN

6346 - G80 Xray R to L 2000 Long

SIZE

A3

DO NOT SCALE DRAWINGS

DWG. NO.

SCALE: 1:10

MASS:

REV.

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