UNIVERSIDAD TCNICA FEDERICO SANTA MARA

CAMPUS SANTIAGO
LABORATORIO FIS 140
SEGUNDO SEMESTRE 2016

REFLEXIN Y REFRACCIN
Kilian Cooreman M., rol 201441519-2, kilian.cooreman.14@sansano.usm.cl, 467 A
Matas Garcs M., rol 201441502-8, matias.garces.14@sansano.usm.cl, 467 A

1. Resumen
En esta experiencia se busc comprobar la ley de
reflexin, la ley de Snell y obtener el ngulo crtico para un
semicilindro de acrlico, para esto se utiliz un lser de
color verde dirigido a un semicilindro midiendo los
ngulos de los rayos incidentes, reflejados y refractados,
con esto se obtiene una relacin para los ndices de
refraccin y los ngulos medidos siguiendo el lser.

2. Introduccin
Para este experimento se coloc un semicilindro
sobre una tabla circular en donde estaban marcado los 360
(en cuatro cuadrantes de 90) del crculo, para la primera
parte se procedi a colocar el semicilindro para que la parte
plana coincida con la lnea de que marca los 180 y se fue
moviendo la base de tal forma que el lser incida sobre el
centro geomtrico del circulo y que este incida sobre la
superficie recta del semicilindro para luego medir los
ngulos reflejados y refractados.
El objetivo de esta primera parte es obtener el ndice
de refraccin del acrlico a travs de la ley de Snell con los
datos de los ngulos de incidencia y los refractados.
Para la segunda parte de experimento se utiliz el
mismo montaje, pero a diferencia del anterior el rayo
incide sobre la parte convexa del semicilindro y se busca
que el rayo al pasar por la parte convexa siga sin
refractarse y llegue al centro del crculo base y de esta
forma se procedi a medir el ngulo refractado del lser.
El objetivo de esta parte del experimento es encontrar
el ngulo crtico, ngulo que define el lmite para que pase
el lser desde el semicilindro al exterior por la parte plana,
la razn por la cual se realiza con la parte convexa es que
por su geometra si un rayo incide hacia el centro de la
circunferencia del semicilindro este rayo no se ver
cambiando de direccin debido al ngulo de 90 que se
forma con la normal de esta forma se sabe el ngulo que
incide sobre la parte plana por dentro y la razn por la cual

se utiliza este lado del semicilindro y no el otro es que el

rayo al incidir primero sobre la parte plana nunca ocurrir
lo del ngulo critico por los ndices de refraccin del aire y
el acrlico y luego de refractarse este saldr por la
circunferencia con un ngulo de 90 siempre que el rayo
incida sobre el centro de la parte plana del semicilindro.

3. Objetivos

Verificar la ley de reflexin.

Comprobar la ley de Snell.
Determinar el ndice de refraccin del acrlico.
Determinar el ngulo crtico de la interfase acrlicoaire.
Determinar velocidad de luz en el acrlico.
Verificar que se debe pasar a un medio con menor
ndice de refraccin para que ocurra la reflexin total
interna.

4. Marco Terico
La luz es una radiacin electromagntica con un gran
espectro de posibles radiaciones (e.g. ultravioleta, gamma,
luz visible, microondas, etc.), donde solamente una
fraccin de este es perceptible por el humano. La ptica
geomtrica se encarga del comportamiento y propagacin
de la luz.
Cada material cambia el comportamiento de la luz, y
es por esto que se define el ndice de refraccin (1) ,
donde c es la velocidad de la luz en el vaco y n es
a velocidad en el medio del material (vidrio, aire, agua,
etc.). En el aire la velocidad de la luz es similar a la del
vaco, de donde se deduce la ecuacin (2) .

c
n= ( 1 )
v
naire 1 ( 2 )

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5.1 - Materiales:
1.
2.

Lser, =532 5[nm] , Clase

Gonimetro, cuatro cuadrantes de 9

IIIB .
0 con

resolucin de 1 .
Semicilindro de acrlico.
4. Riel ptico y soportes de EDMUND OPTICS.
3.

Ahora, cuando un rayo de luz incide sobre una

superficie de un medio con distinto ndice respecto al cul
donde se encontraba, se producirn dos rayos, uno
reflectado (sigue en el medio original) y uno transmitido
(refractado de aqu en adelante y es el que se propaga por
el medio nuevo).

5.2 Montaje

Segn el teorema de Fermat (i.e. la luz sigue la

trayectoria de menor tiempo) y de que la frecuencia se
mantiene constante sin importar el medio, se deduce la ley
de reflexin

(3) y la ley de Snell (4 ) .

i= RFL ( 3 )
n1 sin i=n2 sin RFRC ( 4 )
Cuando se pasa a un medio de menor ndice de refraccin el
ngulo de refraccin ser siempre mayor que el incidente, por lo
que para cierto ngulo, denominado crtico, ya no se producir
refraccin y solamente habr presencia de reflexin.
Tambin se considera la dispersin de los materiales
plsticos, lo que significa que para cada longitud de onda, el
ndice de refraccin variar produciendo la separacin de las
distintas frecuencias de luz blanca en sus respectivos colores (ver
imagen n1), y para el caso del acrlico se ha determinado que
para una longitud de onda similar a la del lser utilizado, el ndice
es el que se encuentra explicitado en

(5)

n =530[ nm]=1,498 ( 5 ) [1]

Figura n1: Los nmeros corresponden a los materiales

ocupados y enumerados en el punto anterior.

5.3 Mtodo Experimental

En una primera instancia se coloca el eje del lser
al nivel del gonimetro para permitir una lectura fcil del
ngulo de incidencia, el lado plano del acrlico (i.e.
Superficie que corresponde a su dimetro) se alinea con el
dimetro del gonimetro para asegurar que las lecturas
sean confiables.
Para evitar una desviacin del rayo a la salida del
acrlico se deba dirigir el rayo incidente al centro del
cilindro para que la refraccin fuera radial y as ser normal
a la superficie de salida y no desviarse, para esto se diriga
el lser a la lnea central del gonimetro hasta que la
reflexin estuviera en el mismo ngulo incidente.

Imagen n1: Dispersin de la luz. [2]

5. Desarrollo Experimental

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Figura n2: Primer arreglo de experimentacin utilizado, el
lser proviene del extremo superior izquierdo y se hace incidir
sobre la superficie plana del acrlico.

70
80

70
80

38
41

Tabla n1: ngulos de incidencia, reflexin y refraccin para el

arreglo mostrado en la figura n2.
0.8

Para buscar el ngulo crtico se invirti el cilindro

para que la incidencia fuera por el lado convexo del
acrlico (ver figura n3) y se repiti el procedimiento antes
mencionado para asegurar que el contacto fuera en el
centro. Se fue variando el ngulo en intervalos de 5
hasta encontrar que se produca reflexin total interna y se
retrocedi cada 1 para encontrar el ngulo exacto
donde se perda la refraccin.

0.6

f(x) = 0.65x + 0.01

R = 1

SinRFRC [] 0.4
0.2
0

0.2 0.4 0.6 0.8

1.2

Sini []
Grfico n1: Seno del ngulo refractado en funcin del seno
incidente de la tabla n1. La pendiente de (6) corresponde al
inverso del ndice de refraccin del acrlico segn la ecuacin
(8).

Se sigui el mismo criterio utilizado antes para la

medida del ngulo refractado.

Figura n3: Segundo arreglo de experimentacin utilizado, el

lser proviene del extremo superior izquierdo y se hace incidir
sobre la superficie convexa del acrlico.

6. Datos
Los

subndices
de
los
ngulos
i, RFL y RFRC corresponden a incidente, reflejado
y refractado, respectivamente, en el caso del refractado, se
present dispersin por lo que se eligi el valor donde
hubiera mayor intensidad.

i 1[ ]
10
20
30
40
50
60

RFL 1[ ]
10
20
30
40
50
60

RFRC 1[ ]
7
14
19
25
30
35

i 1[ ]
0
5
10
15
20
25
30
35
40
42

RFL 1[ ]
0
5
10
15
20
25
30
35
40
42

RFRC 1[ ]
0
8
15
25
33
41
50
61
75
90

Tabla n2: ngulos de incidencia, reflexin y refraccin para el

arreglo mostrado en la figura n3.

1.2
1
0.8

SinRFRC [] 0.6

f(x) = 1.5x + 0.01

R = 1

0.4
0.2
0

0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8

Sini []

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Grfico n2: Seno del ngulo refractado en funcin del seno
incidente de la tabla n2. La pendiente de (7) corresponde al
ndice de refraccin del acrlico segn la ecuacin (10).

7. Anlisis
Segn la ecuacin lineal (6) y comparndola con
la ecuacin de ley de Snell despejada para este caso
(8) , se tiene que la pendiente corresponde al ndice de
refraccin experimental que se busca

(9) .

sin RFRC =0,6479sin i +0,0098 (6)

sin RFRC =

sin i
( 8)
na ,1

na , 1=1,5434 0,0259(9)
Mientras que para la ecuacin (7) y realizando el
despeje para este nuevo caso (10) , se tiene que el
ndice es la pendiente simplemente (11) , al comparar
amos ndices con el valor terico (5) se obtienen los
errores porcentuales.

sin RFRC =1,4967 sin i +0,0133 ( 7 )

sin RFRC =n2 sin i ( 10 )
na , 2=1,4967 0,0577(11)
Errorn , 1=3,03 ( 12)
Errorn , 2=0,09 (13)
En ambas ecuaciones, los intercepto son el reflejo de
la desviacin respecto al
0 original, por lo que
aplicando arcoseno a ese valor y convirtindolo a grados se
tiene que la desviacin corresponde a los siguientes
ngulos, donde ambos estn bajo la resolucin del
instrumento.

1=0,56[ ](14)
2=0,76[ ](15)

En el caso de la velocidad, se encuentra segn la

ecuacin terica

(1) que las velocidades son, en cada

respectivamente, al
(16) y (17)

experimento,
compararlas con la velocidad terica se obtendrn los
mismos errores que para el ndice de refraccin por lo que
no son atingentes.

[ ]
[ ]

m
(16)
s
m
v a , 2=2,00 108
( 17)
s
v a , 1=1,94 10 8

Por otro lado, si se modifica la ecuacin (4 ) ,

considerando que para que se produzca la reflexin total
interna el ngulo refractado ser 90 y recordando
que el ndice del aire es uno, quedar que el ngulo que se
busca es:

=arcsin

( n1 )(18)
2

Se aplica esta ltima ecuacin al valor terico y los

experimentales del ndice de refraccin del acrlico y se
agrega el ngulo encontrado experimentalmente para las
comparaciones respectivas.

teo=41,87 (19)
cr ,1=40,38 0,03 (20)
cr ,2=41,92 0,06 (21)
exp=42 1 (22)

8. Discusin
Para esta experiencia se tomaron distintas
precauciones con el fin de evitar errores sistemticos,
aleatorios y burdos. Adems, se utilizaron distintos rangos
de medicin dependiendo de la exactitud o la precisin que
fuese necesaria para el experimento, para la primera parte
se fuese variando de cada 10
debido a que se
deseaba establecer una relacin para la ley de Snell y no
era necesario tanta resolucin, mientras que para la
segunda parte en donde buscamos el ngulo critico se fue
avanzando cada 5 para buscar el ngulo en donde dejaba
de pasar luz, donde se necesitaba una mayor resolucin.

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Para evitar los errores sistemticos a la hora de medir

los datos ambos median el instrumento para corroborar la
medicin y se midi viendo desde una vista superior para
evitar el error de paralaje. A su vez para controlar las
condiciones de experimentacin en el primer experimento
se buscaba que el rayo incidiera en el centro y que el
ngulo reflejado coincidiera con el incidente y para la
segunda parte se buscaba que el rayo incidiera en el centro
de giro del semicrculo sin refractarse hasta llegar a la parte
plana.

Errorn , 1=3,03 ( 12)

Errorn , 2=0,09 (13)

En el caso de los errores aleatorios hubo errores por

apreciacin de los datos ya que el rayo de luz tiene un
dimetro y este al ser refractado y reflejado se separaba por
lo que no quedaba un rayo de luz como lnea, sino que se
dispersaba por lo que no se poda encontrar un valor exacto
y se estimaba la medicin.
Al momento de analizar los datos obtenidos se
obtuvieron errores que estaban por debajo de la resolucin
del instrumento de medicin y adems de los grficos se
obtiene coeficientes de relacin cercanos a 1 por lo que se
adhieren a la relacin establecida (ley de Snell), por tanto,
los datos son precisos, exactos y representan la realidad de
la ley de Snell y del ngulo crtico.

9. Conclusin

cr ,1=40,38 0,03 (20)

cr ,2=41,92 0,06 (21)
exp=42 1 (22)

Debido a que todas las mediciones fueron tomadas

con un ngulo de reflexin igual al de incidencia y
los resultados estn con un error porcentual menor a
5 o bajo la resolucin del instrumento de
medida, la ley de reflexin queda demostrada.
Mediante de los grficos 1 y 2 se obtiene que los
datos se relacionan de acuerdo a la ley de Snell, ya
que siguen una relacin lineal, donde las pendientes
corresponden a la relacin entre los ndices de
refraccin de los medios en cuestin.
Por medio de la ecuacin de Snell se obtuvo el ndice
de refraccin del acrlico en ambos experimentos con
errores dentro de lo esperado, por lo que se logr
cumplir el objetivo.

na , 1=1,5434 0,0259(9)
na , 2=1,4967 0,0577(11)

A causa de las mediciones tomadas se logr

determinar un ngulo crtico en la interfase acrlicoaire experimental que al compararlo con el terico
son similares, la diferencia radica en la resolucin del
instrumento por lo que se concluye que est correcto
pero se requiere mayor resolucin para llegar al valor
exacto.

Se comprob que la reflexin total interna slo se

produce cuando se pasa a un medio de menor ndice
de refraccin.
La velocidad en un medio con ndice de refraccin
mayor a la del vaco, o del aire, cumple con ser menor
que la velocidad de la luz en el vaco.

[ ]
[ ]

m
(16)
s
m
v a , 2=2,00 108
( 17)
s
v a , 1=1,94 10 8

10. Bibliografa

Sears, F. W., Zemansky, M. W., & Young, H. D.

(1972). University physics. Reading, MA.: AddisonWesley..
[1] Kasarova, S. N., Sultanova, N. G., Ivanov, C. D.,
& Nikolov, I. D. (2007). Analysis of the dispersion of
optical plastic materials. Optical Materials, 29(11),
1481-1490.
[2] Luis Alves. (2015). LUZ. 14/09/2016, de Pinterest
Sitio web:
https://www.pinterest.com/pin/392798398726199811/