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Laboratorio 1
Dr. Jean Vallance
Dra. Regina Baumgartner
Dr. Jorge Saez
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Introduccin
La investigacin microscpica en luz transmitida o reflejada de minerales, rocas, menas y
otros materiales tcnicos y sintticos es un mtodo clsico y hasta hoy irremplazable para el
estudio de estos materiales. La microscopa de polarizacin es un mtodo no destructivo y
potente para la determinacin de sustancias slidas (cristalinas o amorfas), posee relativa-mente
elevada resolucin espacial y adems pueden ser estudiadas las relaciones texturales (estructura,
fbrica, asociaciones de fases, texturas de reaccin) obteniendo as importante informacin para
comprender la gnesis. En este aspecto, la microscopa de polarizacin no puede ser remplazada
por otras tcnicas de anlisis global que utilizan muestras molidas para la identificacin de fases
(XRD) o para la determinacin de la composicin qumica (XRF, AAS). La microscopa de
polarizacin encuentra sus lmites cuando la composicin qumica de soluciones slidas
complejas necesita ser conocida o cuando el material es de grano tan fino que impide la
identificacin de las fases individuales. Un estudio moderno en ciencia de los materiales deber,
dependiendo de los objetivos y la naturaleza del material, combinar microscopa de polarizacin
con otros mtodos no destructivos de ms elevada resolucin espacial (EMPA, SEM-EDX,
TEM).
La identificacin de los minerales con el microscopio de polarizacin se basa en las
propiedades pticas y morfolgicas. Existen numerosos textos con tablas y descripciones de
estas propiedades, para un gran nmero de fases minerales y sintticas.
Terminologa
Utilizaremos la terminologa de Trger et al. (1979) para los ndices de refraccin nx, ny
y nz que se correlacionan con los ejes X, Y y Z del sistema de coordenadas de la indicatriz de
los cristales biaxiales. Del mismo modo que con nx, ny y nz, los subndices o y e se aplican a los
ndices de refraccin (no y ne) de los rayos ordinarios y extraordinarios (O y E) en los cristales
uniaxiales.
Utilizaremos la notacin n para birrefringencia (n = nz - nx, por ejemplo) y para
retardo (por lo tanto, = n * d).
La letra griega es utilizada tanto para longitud de onda como para orden del color de
interferencia (1 = rojo de primer orden, 2 = rojo de segundo orden, etc.).
Fig. 1. Ejemplos de dos microscopios de polarizacin (Leica Laborlux 12 Pol a la izquierda; Nikon Eclipse 50/Pol
a la derecha) con detalle de sus componentes.
Objetivo
La calidad de la imagen observada al microscopio depende principalmente del objetivo. El
objetivo es por tanto un componente clave del microscopio siendo responsable de la imagen
primaria, del aumento y la resolucin bajo la que los detalles finos del objeto pueden ser
observados. Las propiedades ms importantes de un objetivo son su aumento (o magnificacin),
su apertura numrica y el grado de correccin de las aberraciones, donde los dos ltimos
determinan la calidad de la imagen intermedia.
Las caractersticas especficas de un objetivo, como aumento, apertura numrica, longitud
ptica de tubo, grado de correccin de la aberracin, y espesor de cubreobjetos estn gravadas
en el exterior de la montura del objetivo (Fig. 3, Tabla 1). En la tabla 1 se presentan tambin las
distancias libres de trabajo (FWD) entre el espcimen y la lente frontal del objetivo, para
objetivos seleccionados de los principales fabricantes.
El objetivo est montado en el extremo inferior del tubo. En los microscopios modernos
los objetivos estn montados en un revolver que puede alojar 4 o 5 objetivos de diferente
aumento y permite cambiar rpidamente entre uno y otro (Fig. 1). Un mecanismo de clic asegura
la posicin al cambiar de objetivo.
Fig. 3. Ejemplo de objetivo (Nikon CFI Achromat 20x P) y ocular (Leica Periplan con retculo).
Oculares
Las estructuras finas en la imagen intermedia son resueltas por el ojo humano slo si se
visualizan a ngulos mayores a 1. Normalmente esto requiere el aumento adicional de la imagen
intermedia que produce el ocular.
Los oculares modernos consisten de dos componentes multi-lente, el lente superior o eyelens y el inferior o field lens los cuales corrigen las aberraciones pticas del ocular mismo y
eliminan las aberraciones residuales de la imagen intermedia. Los oculares Periplan, por ejemplo,
contienen siete lentes, dos cementadas en un doblete, tres en un triplete ms dos lentes
individuales. Un diafragma fijo interior, ubicado en el plano focal del ocular, entre el eye-lens
y el field lens, est en foco con la imagen intermedia y define el campo de visin circular. Para
microscopa de polarizacin se utiliza un objetivo con un retculo montado en el diafragma fijo,
que suministra las direcciones de referencia N-S y E-W para las direcciones de vibracin,
divide el campo de observacin en cuatro cuadrantes, contiene una y sirve adems para la
medicin de ngulos. El ocular con retculo posee frecuentemente una escala horizontal o vertical
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combinada con los hilos del retculo orientados en el sentido E-W o N-S y que permite realizar
mediciones de longitudes previa calibracin. Las propiedades especficas de los oculares estn
gravadas en la montura (Fig. 2, Tabla 1).
El ocular se inserta en el extremo superior del tubo. Dos pequeas ranuras en el borde del
tubo aseguran que el ocular quede fijo, con el retculo exactamente orientado N-S y E-W o
diagonalmente, a 45 de estas direcciones. Para adecuarse a diferentes vistas, el retculo puede
ser enfocado regulando la altura del eye-lens.
Tabla 1. Caractersticas de oculares y objetivos de los principales fabricantes.
Iluminacin
Los especmenes deben ser iluminados para poder ser vistos al microscopio, excepto que
sean fluorescentes. Los especmenes transparentes o dbilmente absorbentes se observan usando
la luz que pasa a travs de ellos (microscopa de luz transmitida).
Las imgenes slo revelaran aquellas estructuras del espcimen en que el color y la
intensidad de la luz transmitida sean modificados por absorcin, difraccin o reflexin.
En los microscopios antiguos, la iluminacin de un espcimen translcido se lograba
dirigiendo la luz del sol o de una lmpara mate mediante un espejo plano o cncavo y un sistema
de lentes de enfoque (condensador) a travs del espcimen. En los microscopios modernos una
fuente de luz incorporada en la base del microscopio suministra la iluminacin para el espcimen.
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Diafragma
El diafragma regula la cantidad de luz que entra en el condensador: los objetivos cubren
reas del espcimen de diferente tamao dependiendo de la magnificacin del objetivo. Para
evitar la generacin de resplandor en los detalles finos de la imagen por efecto de rayos laterales
desviados, el dimetro del rea iluminada (campo iluminado) no debe exceder el dimetro
observado del objeto. El campo iluminado puede ajustarse al tamao deseado regulando el
diafragma ubicado encima del la lente colectora del iluminador (diafragma de campo).
Sistema mecnico
Soporte
Mantiene la parte ptica. Tiene dos partes: el pie o base y el brazo. El pie, generalmente
en herradura o en Y, aunque tambin puede ser rectangular, con un peso considerable que
garantiza la estabilidad del instrumento. Aloja la fuente de iluminacin y puede contener un
mecanismo para regular la intensidad luminosa. El brazo puede ser inclinado; en su parte ms
inferior se dispone el condensador y la parte superior posee una cremallera que permite
desplazar en sentido vertical el condensador, la platina o el revlver y el tubo. Las ventajas que
procura el microscopio inclinado son mltiples y la posicin es ms confortable para el
observador (actividad que es muy incmoda cuando el tubo del microscopio es vertical).
Platina
Lugar donde se deposita la preparacin. Presenta en el centro un orificio circular por
donde pasa el rayo de luz producido por la fuente luminosa y proveniente del condensador. En
los microscopios polarizante, la platina es giratoria lo que permite medir ngulos ya que es
graduada. La precisin de medida de ngulo alcanza 0.1 gracias a la escala Vernier (de Pierre
Vernier, matemtico francs, Fig.4).
Carro de Vernier
Carro que permite desplazamiento en X y Y mediante dos mandos giratorios, y que
permite realizar medidades/ubicacin de alta precisin usando la escala Vernier (Fig. 4). Se
utiliza generalmente bloqueando la platina giratoria con un sistema de tornillo.
Fig. 4. La escala Vernier o nonio toma un fragmento de la regla que en el sistema decimal es un mltiplo de diez
menos uno: 9, 19, etc. y lo divide en un nmero ms de divisiones: 10, 20,... En la figura se toman 9
divisiones de la regla y la dividen en diez partes iguales, de tal modo que cada una de estas divisiones sea de
0,9 unidades de la regla. La escala Vernier es de uso generalizado en los calibres por ejemplo.
Cabezal
Parte superior del microscopio, que contiene los sistemas de lentes oculares. El cabezal puede
ser monocular, binocular o trinocular (dos oculares para la visin del utilizador y un tercero
para la cmara fotogrfica).
b.
Ahora cierre el ojo derecho y observe la imagen del objeto con el ojo izquierdo a
travs del ocular izquierdo, sin cambiar la altura de la platina. Si la imagen no
aparece en foco ajuste el enfoque utilizando el anillo de dioptras del ocular
izquierdo.
No olvidar que al enfocar la imagen del objeto es importante que ambos ojos estn
relajados y enfocados al infinito.
7. Centrado del microscopio
Para una ptima configuracin del microscopio es necesario que la platina giratoria y
todos los componentes pticos (fuente de luz, colector, condensador, objetivo, ocular)
estn alineados en un eje central comn que coincida con la direccin de los rayos
verticales de luz en el microscopio. Todos los componentes deben centrarse al eje de la
platina giratoria. El centrado se realiza en tres pasos:
a. Centrado de los objetivos. Para empezar, es importante asegurarse que el revlver se
encuentre correctamente posicionado en el tubo y que el revlver est fijado en el clic
correspondiente. De lo contrario nunca se lograr un correcto centrado. En algunas
marcas de microscopios (por ej. Olympus) es la platina la que debe ser centrada
primero. sta es centrada en un nico objetivo fijo y debe ser alineada primero con
este objetivo particular antes que los otros objetivos sean centrados. Cualquier intento
de centrar los objetivos con una platina descentrada resultar en un grave desajuste
ptico.
El centro del campo de visin que corresponde con el eje de la lente del objetivo
debe estar alineado con el eje de la platina giratoria. Para probar esto debe enfocarse
en la lmina delgada y elegir un pequeo grano u objeto en la muestra que deber
desplazarse hasta el centro del campo (Fig. 5, I). Al rotar la platina del microscopio
una de las siguientes situaciones puede ocurrir:
-
Todos los objetivos del revlver deben ser centrados siguiendo el mismo
procedimiento. Una vez que un objetivo de alto aumento est centrado con
precisin es ms fcil centrar los objetivos de menor aumento. Un pequeo objeto
o grano es ubicado en el centro del retculo usando el objetivo de alto aumento.
A continuacin el objetivo mal centrado es colocado y la partcula desplazada
hasta el centro del retculo usando los tornillos de centrado.
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si las posiciones de extincin son crticas (por ej. cuando se miden ngulos de extincin).
Esto puede realizarse colocando bajo polarizadores cruzados, un mineral fuertemente
alongado, con las caras del prisma rectas y bien desarrolladas. Minerales adecuados para
este fin son aquellos de simetra ortorrmbica o mayor, con colores de interferencia de
por lo menos, primer orden (por ej. sillimanita, y turmalina). Los analizadores giratorios
permiten ajustar la orientacin del filtro polarizador con una escala graduada, que puede
ser bloqueada luego del ajuste. En los analizadores desplazables ms comunes, la
posicin correcta del filtro polarizador debe ser ajustada manualmente. Si el polarizador
inferior est correctamente ajustado en relacin a los hilos del retculo, el analizador
puede ajustarse, de modo tal que la posicin de extincin de los minerales prismticos se
corresponda con la alineacin paralela a los hilos EW del retculo de las caras del prisma,
en caso de la turmalina por ejemplo (Fig. 8).
Fig. 8. Verificacin del ajuste preciso de la alineacin de polarizador, analizador e hilos del retculo, con ayuda de
secciones prismticas de turmalina.
El microscopio esta ahora listo y en condiciones optmales para empezar a trabajar! Sin
embargo, pueden quedar problemas
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Resolucin de problemas
1. Optimizacin de la imagen del espcimen
Se asume que el microscopio ha sido ajustado para iluminacin.
a. Si la lmina delgada puede ser perfectamente enfocada con objetivos de bajo
aumento (Mo = 2,5 a 10), pero permanece fuera de foco con objetivos de mayor
aumento (Mo = 20, 40, 63 etc.) debe revisarse si la lmina delgada ha sido colocada
del lado equivocado. Esto es, con el cubreobjetos hacia abajo (ver distancia libre
de trabajo de los objetivos, tabla 1).
b. Si la lmina delgada correctamente ubicada no puede ser enfocada con objetivos
de elevado aumento, el cubreobjetos es probablemente muy grueso y debe ser
reemplazado por uno de espesor estndar 0,17mm.
c. El enfoque correcto puede ser impedido por superficies sucias de los componentes
pticos. El polvo debe ser removido con un pincel suave y completamente libre de
grasa.
d. Imgenes borrosas y poco claras pueden ocurrir cuando la lente frontal del objetivo
y el ocular estn sucias, con huellas digitales o grasitud de las pestaas. En tal caso
es recomendable limpiar las lentes cuidadosamente con pao para lentes o Kleenex.
Las manchas de aceite (por ej. de aceite de inmersin) son removidas mejor con un
algodn embebido en ter o alcohol etlico. Los solventes, sin embargo, deben ser
aplicados con precaucin pues pueden afectar las resinas sintticas con las que las
lentes estn montadas. Para evitar las huellas digitales en las lentes frontales, los
objetivos deben ser siempre cambiados utilizando el anillo moleteado del revlver.
2. Correccin de la iluminacin defectuosa
El ajuste del microscopio para la iluminacin de Khler asegura un campo de visin
homogneamente iluminado. Sin embargo, algunos problemas pueden permanecer en
la calidad de la iluminacin. Si el campo de visin no est iluminado o lo est de forma
irregular, aunque la fuente de luz est funcionando y el diafragma de campo est
iluminado, las causas potenciales de estos problemas en el conjunto sub-platina son:
a. La lente frontal del condensador o alguna lente extra debajo del condensador, han
sido insertadas o retiradas de manera incompleta de la trayectoria ptica. En
consecuencia, la montura de la lente puede bloquear total o parcialmente la luz.
b. Los filtros no estn correctamente posicionados.
c. El campo de visin puede aparecer pobremente iluminado al usar objetivos de bajo
aumen-to cuando el diafragma de campo est cerrado, el condensador est en una
posicin elevada o la lente frontal del condensador se encuentra insertada en el
camino de la luz.
La iluminacin sub-platina est ajustada en forma perfecta, si al ver la lmina delgada
lateral-mente y desde arriba, se observa un campo de iluminacin redondo, uniforme y
brillante que puede ser agrandado o reducido abriendo o cerrando el diafragma de
campo. Si la imagen de la lmina delgada se ve imperfecta al observar por los oculares,
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las causas de la mala iluminacin deben ser buscadas en el tubo del microscopio. La
luz puede ser parcial o totalmente bloqueada si:
a. El revlver no fue adecuadamente montado en el microscopio o un objetivo no est
en su lugar, en la posicin de clic, luego de cambiar de aumento.
b. Una lmina accesoria ha sido incompletamente insertada en el tubo.
c. El analizador no ha sido completamente insertado o removido.
d. La lente de Amici-Bertrand est parcialmente insertada.
Mantenimiento y precauciones
1. Al finalizar el trabajo, hay que dejar puesto el objetivo de menor aumento en posicin de
observacin, asegurarse de que la parte mecnica de la platina no sobresale del borde de
la misma y dejarlo cubierto con su funda.
2. Cuando no se est utilizando el microscopio, hay que mantenerlo cubierto con su funda
para evitar que se ensucien y daen las lentes.
3. Nunca hay que tocar las lentes con las manos. Si se ensucian por huellas digitales o
grasitud/pintura de las pestaas, limpiarlas muy suavemente con un papel de filtro o,
mejor, con un papel de ptica.
4. No dejar una lmina delgada puesta sobre la platina si no se est utilizando el
microscopio.
5. No forzar nunca los tornillos giratorios del microscopio (macromtrico, micromtrico,
platina, revlver y condensador).
6. El cambio de objetivo se hace girando el revlver y dirigiendo siempre la mirada a la
preparacin para prevenir el roce de la lente con la muestra. No cambiar nunca de
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objetivo agarrndolo por el tubo del mismo ni hacerlo mientras se est observando a
travs del ocular.
7. Mantener seca y limpia la platina del microscopio. Si se derrama sobre ella algn lquido,
secarlo con un pao.
8. Es conveniente limpiar y revisar siempre los microscopios al finalizar la sesin prctica
y, al acabar el curso, encargar a un tcnico un ajuste y revisin
9. Al transportarse, el microscopio debe mantenerse vertical para evitar la cada de los
filtros o las lminas auxiliares que no estn firmemente sujetas y pueden daarse en caso
de caerse.
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