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Los Rayos X y la materia cristalina

Los rayos-X ocupan un pequeo intervalo dentro del espectro general


de las radiaciones electromagnticas.
Los lmites de dicho intervalo son difciles de precisar, en general, la
gama de radiaciones que comnmente se utiliza en difraccin oscila en
un intervalo de longitudes de onda, de 0,5 a 2,5 .
Obtencin de los rayos X.
La radiacin X se origina siempre que una partcula de muy pequea
masa, y dotada de suficiente energa cintica, choca con la materia.
Parte de dicha energa se invierte en la produccin de rayos X, debido
a la perturbacin que la colisin produce en el estado energtico de los
tomos del material bombardeado.
Las partculas bombardeantes ms eficaces, de ms cmoda
produccin y control son los electrones.
El dispositivo experimental para generar los rayos X se denomina tubo
de rayos X.

Tubos de rayos X

a) Espiral de filamento (emisor de electrones)


b) Cilindro de Wehnelt
c) nodo o antictodo
d) Bloque metlico sistema refrigeracin
e) Ventanas
f) Filtro del agua de refrigeracin
g) Disco mvil con los filtros (n)
h) Unin vidrio metal
m) Ampolla de vidrio

Los electrones generados en el filamento, concentrados por el cilindro


de Wehnelt (con potencial negativo), son acelerados hacia el nodo
debido la diferencia de potencial que se establece entre filamento y
nodo (40 50 kV).
En el impacto de los electrones acelerados con los tomos del material
del nodo la mayor parte de su energa se transforma en calor (sistema
de refrigeracin), alrededor del 1% se transforma en radiacin X.

El rea impactada por los electrones en el nodo se denomina huella


focal y suele tener forma rectangular (proyeccin de la morfologa del
filamento), de ella surgen en direcciones perpendiculares dos haces de
radiacin X, uno puntual y otro lineal que saldrn del tubo por las 4
ventanas de que dispone, y que se utilizaran de acuerdo a la tcnica de
difraccin en la que se trabaje.

Espectro de radiaciones emitido por el tubo de rayos X


Por debajo de determinada tensin de trabajo (dependiente del
material del nodo) el espectro de radiaciones emitidas est constituido
por una gran variedad longitudes de onda si ninguna discontinuidad.

Este espectro se denomina continuo, heterocromtico o blanco.


Conforme se eleva la tensin, aumentan la intensidad global del
espectro y las frecuencias mas energticas (< ).
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Cuando para un determinado material andico se sobrepasa un cierto


valor de tensin, aparecen, superpuestos al espectro continuo, unos
mximos de intensidad muy acusada y a valores fijos de longitud de
onda, denominado espectro caracterstico, siendo los mximos
denominados lneas caractersticas o radiacin caracterstica,
denominacin que hace referencia a que los valores fijos de son
caractersticos del material del nodo.

La aparicin de este espectro caracterstico es debido a que a cierta


tensin, la energa de los electrones incidentes es suficiente como para
provocar la expulsin de electrones de los orbitales ms profundos de
los tomos del nodo bombardeados.

Interaccin de los rayos X con la materia

Absorcin de radiacin como consecuencia de los distintos


fenmenos de interaccin que se originan.
Generacin de radiacin de fluorescencia: consecuencia de la
absorcin fotoelctrica y acompaada de la emisin de
electrones.
Generacin de radiacin dispersa. Coherente: reemisin de
radiacin incidente sin cambio de (difraccin). Incoherente:
reemisin con aumento de la longitud de onda.
Fundamento y empleo de filtros
La mayora de las tcnicas de difraccin precisan radiacin
monocromtica, la utilizacin de filtros ayuda a eliminar algunas
radiaciones no deseadas; para las tcnicas que precisan una radiacin
estrictamente monocromtica se usan cristales monocromadores, ms
efectivos que los filtros.
El proceso de absorcin selectiva de radiaciones nos permite usar
filtros que absorban las longitudes de onda no deseadas y de esta
forma tener una radiacin ms monocromtica.

El tipo de material de los filtros deber estar en consonancia con la


longitud de onda que deseemos eliminar. El grfico anterior representa
los lmites de absorcin del nquel, material que se utiliza para
eliminar la radiacin K del espectro caracterstico del Cu, material
ms habitual del nodo en los tubos de rayos X.

Se observa, tras la interposicin de una lamina de Ni, la disminucin


de la lnea K del espectro. Disponiendo de esta forma una radiacin en
la que solo tienen una intensidad adecuada las lneas k1 y K2.

La difraccin de los rayos X por la materia cristalina


Direccin de los rayos difractados.
Dispersin: Reemisin por la materia y en todas direcciones de parte
de la radiacin electromagntica incidente.
Coherente: La radiacin incidente y la dispersada tienen la misma
longitud de onda.
Cuando una radiacin electromagntica es dispersada de forma
coherente por un conjunto de emisores ordenados de forma peridica,
(retculo de dispersin) dicha radiacin dispersa solo aparece en
determinadas direcciones, que dependern del tipo de orden peridico
del retculo; a este fenmeno se le denomina difraccin de la radiacin
incidente.

Conocido el fenmeno de la difraccin de la luz visible por una red de


dispersin superficie metlica o de vidrio con ranuras paralelas e
idnticas y con una distancia constante del rango de la longitud de
onda de la luz visible.

Lae y sus colaboradores, de acuerdo a las hiptesis:


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los cristales deben estar constituidos por una secuencia peridica de


pequeos motivos elementales (retculo de dispersin).
los rayos X son una radiacin electromagntica con del rango de las
distancias atmicas en los cristales
realizaron distintas experiencias, similares a las de la siguiente figura

poniendo de manifiesto que, efectivamente, los rayos incidentes


cambiaban de direccin al atravesar el cristal.
Confirmaron que las hiptesis de partida eran verdaderas y que por
tanto la materia cristalina produce difraccin de los rayos X.
Pusieron de manifiesto, adems, que dichas direcciones dependan
exclusivamente de la forma (tipo de orden peridico) y tamao de la
celdilla elemental del cristal.
Conociendo estas direcciones, por tanto, ser posible averiguar la
morfologa y las dimensiones de la celdilla.
La difraccin de rayos X consiste bsicamente en un proceso de
interferencias constructivas de ondas electromagnticas, producido en
muy estrictas y bien definidas direcciones del espacio.

En el sentido ms estricto, una direccin de difraccin es aquella en las


que estn completamente en fase las ondas dispersas por un conjunto
de tomos del cristal.
En otras direcciones, las ondas se interfieren destructivamente,
cancelndose la resultante en mayor o menor proporcin (figura
anterior).
Las direcciones (estrictas y definidas) del espacio para las que un
conjunto de tomos (cristal) presentan difraccin quedan definidas por
las ecuaciones de Lae y de forma menos compleja por la ecuacin de
Bragg:
2dsen
= n

Intensidad de los rayos difractados


El proceso de la difusin coherente se inicia en la interaccin de la
onda electromagntica con los electrones de los tomos.
Puesto que las distancias entre electrones en el tomo son del rango de
la longitud de onda de los rayos X, es normal que las ondas difundidas
por cada electrn del tomo interfieran.

La intensidad de la radiacin difundida por un tomo es mxima en la


direccin del haz incidente de rayos X, ya que en esta direccin las
radiaciones difundidas por cada electrn del tomo presentan la menor
interferencia destructiva.

Conforme aumenta el ngulo de dispersin, tambin aumenta la


diferencia de caminos o la correspondiente diferencia de fases,
resultando una mayor proporcin de interferencias destructivas entre
los rayos dispersos.
El valor de la intensidad de la radiacin difundida por un tomo es el
factor atmico de dispersin f, que relaciona las intensidades de la
radiacin dispersa por el tomo con respecto a la de un electrn.
El factor de estructura
La amplitud de la onda dispersa por un conjunto de tomos (los
componentes de una celdilla elemental, por ejemplo), ser, en principio
proporcional a los factores de dispersin especficos de cada tomo.
La resultante de la contribucin de cada una de los tomos, en la
direccin considerada, es el denominado factor de estructura F.
El valor de la amplitud de estructura, |F(hkl)|| y, por consiguiente, el de
I(hkl) (el cuadrado del factor de estructura es la intensidad), depende
no solo de la clase de tomos contenidos en la celdilla (cuyas
contribuciones viene dadas por el sumatorio de fn), sino tambin de las
posiciones de los mismos, dado que de dichas posiciones o coordenadas
dependen las diferencias de fase relativas entre las radiaciones
dispersas por los tomos.

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Reflexiones sistemticamente ausentes o extinciones


La geometra de la difraccin hasta ahora descrita se ha realizado en
base a la consideracin de que la materia cristalina est constituida por
un numeroso conjunto de motivos peridicamente distribuidos en las
tres dimensiones del espacio mediante repeticiones simples, paralelas a
los ejes de la celdilla elemental primitiva.
Pero es frecuente que tal repeticin de motivos se lleve a cabo tambin
mediante la intervencin de operadores de simetra espacial (planos de
deslizamiento y ejes helicoidales). La celdilla elegida, adems, puede
ser no primitiva (C, I o F).
Tanto el centrado de la red como la presencia en la misma de alguno
de los elementos de simetra sealados, originan la aparicin de planos
situados justamente en medio de planos de la red primitiva potencial,
modificando las relaciones de fase entre las ondas reflejadas.
El resultado es que las diferencias de camino entre la ondas difractadas
por algunas series de planos es de /2, producindose una interferencia
destructiva extincin.
Estas diferencias de camino surgen sistemticamente slo cuando en el
cristal existen elementos de simetra con traslacin, sin que tengan
influencia los elementos de simetra puntual (ejes de rotacin y planos
de simetra)
A este proceso de anulacin o desaparicin de ciertas reflexiones
como consecuencia del centrado de las redes o de elementos de
simetra traslacional, se denomina extincin o ausencia
sistemtica de reflexiones.

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La red reciproca
El fenmeno de la difraccin de rayos X, electrones o neutrones y
sus distintos mtodos experimentales son mucho mas fcilmente
interpretados si se hace uso del concepto de la red reciproca (P. Ewald.
1921) para representar en el espacio la red directa o real del cristal.
La red reciproca se obtiene de la siguiente manera:
Desde un nudo de la red directa, nudo que se toma como origen, se
trazan las perpendiculares a los tres planos fundamentales de la celda
elemental directa.
Sobra estas perpendiculares se toman traslaciones iguales al inverso
del espaciado (d) de dichos planos.

Red reciproca tridimensional

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Toda red reciproca posee la misma simetra que la red directa de la


cual procede.
Un nudo de la red reciproca indica una familia de planos (hkl) y el
modulo del vector desde el origen hasta ese nudo reciproco es la
inversa del espaciado de los planos a los que hace referencia el nudo.

El significado de un nudo es por tanto distinto en la red directa y en la


reciproca, en la primera todos los nudos son equivalentes, mientras
que en la reciproca no lo son, ya que cada uno indica una familia
distinta de planos reticulares.
Por tanto la interpretacin de los fenmenos de difraccin se reduce a
considerar la red reciproca del cristal inmersa en una esfera (de
Ewald) con centro en el punto de incidencia de la radiacin en el
cristal, y de radio la inversa de su longitud de onda.
Los nudos de la red reciproca que toquen la esfera de Ewald estarn
cumpliendo las leyes geomtricas de la difraccin, y por tanto emitirn
radiacin difractada.

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Mtodos de difraccin de rayos X


De cristal nico
En este tipo de mtodos se utiliza un pequeo cristal que se monta
sobre una cabeza goniomtrica, al que se le hace incidir un haz puntual
de rayos X, el cristal se rodea de una carcasa en la que est situada una
pelcula en la que quedaran impresas una serie de puntos (spot)
correspondientes a las direcciones de difraccin de los planos
reticulares del cristal.
Si el cristal permanece inmvil mtodo Lae

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Pueden ser con el cristal en movimiento si es de oscilacin servir para


central el cristal con respecto a la direccin del haz incidente, si el
movimiento es rotatorio determinaremos el parmetro de red
perpendicular a los rayos X.

En el caso que el cristal gire y la pelcula se desplace el mtodo se


denomina weissenberg, y sirve para determinar el grupo espacial.
Del polvo cristalino
La muestra de estudio de reduce a un polvo de dimensiones adecuadas
que se sita en un porta muestras rectangular.
La muestra en polvo presentar a los rayos X todas las orientaciones
posibles del mineral o minerales, con lo que las distintas familias de
planos reticulares difractaran con distintos ngulos.
Un detector barrer el entorno de la muestra recibiendo radiacin
difractada para cada ngulo de difraccin en los que los planos
reticulares cumplen la ley de Bragg.

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Cada mineral o fase cristalina conocida tiene una ficha como la da la


siguiente figura, en la que se indican, adems de los ngulos de
difraccin para cada (hkl) de la fase cristalina, todos los datos
cristalogrficos conocidos as como las condiciones del dispositivo de
rayos X que fueron utilizadas.

Diagrama de difraccin de rayos X de una muestra con una sola fase


cristalina, en este caso, calcita.

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Diagrama de difraccin de rayos X de una muestra multicomponente.

En este caso la composicin mineralgica es: Calcita, yeso, cuarzo y


dolomita.
Diagrama de difraccin de rayos X de una muestra orientada, para el
estudio de los filosilicatos.

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