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UNIDAD V

ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS POR ULTRASONIDO

1. INTRODUCCIN
Los ultrasonidos son ondas acsticas de idntica naturaleza que las ondas sonoras,
diferencindose de stas en que su campo de frecuencia se encuentra por encima
de la zona audible. En el espectro acstico se pueden distinguir las tres bandas
siguientes:

Infrasnica
Frecuencia inferior a 16 ciclos / segundo o Hertz (Hz).

Snica (audible)
Frecuencias comprendidas entre 16 Hz y 20 kHz.

Ultrasnica
Frecuencias superiores a los 20 kHz. El lmite superior de frecuencia no est
definido fsicamente, dependiendo en la prctica de la posibilidad de su
generacin y recepcin.
Como origen de este mtodo de ensayo se puede considerar el conocido
ensayo de percusin en el que la muestra se golpea con un martillo y el sonido
emitido se percibe por el odo. Sin embargo, los primeros ensayos mediante
ultrasonidos fueron aplicados por Sokolov, en 1929, para detectar la presencia
de heterogeneidades, midiendo la cada de la intensidad acstica transmitida en
el material cuando el haz de ultrasonidos atraviesa zonas del objeto examinado
en la que existen heterogeneidades o defectos (mtodo de transparencia).
Posteriormente (Firestone, 1942), se aplic el principio del sonar, de
localizacin de buques y de medida de profundidades marinas, para la
deteccin de heterogeneidades en los materiales mediante una seal reflejada
(mtodo de impulso-eco).
Las ondas ultrasnicas se propagan aprovechando las propiedades elsticas de
los materiales y por ello requieren de la existencia de tomos y molculas, es
decir, a diferencia de las ondas electromagnticas, no pueden propagarse en el
vaco.
Como los tomos distan bastante de ser esferas rgidas y elsticas, la
propagacin de la onda U.S., es un fenmeno complejo que requiere de
profundos conocimientos de la fsica ondulatoria para comprenderlo en toda su
magnitud sin embargo, para efecto de la utilizacin del fenmeno ultrasnico

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en la inspeccin de materiales, se han establecido modelos que permiten

obtener una idea clara de l. A continuacin desarrollaremos los conceptos
fsicos fundamentales en base a dichos modelos.
Las ondas ultrasnicas se propagan en el interior de los materiales de
diferentes formas dando origen a distintos tipos de ondas: longitudinales:
transversales, de superficie de Lamb. Ya se haba dicho como los ultrasonidos
se propagan debido a la existencia de propiedades elsticas en los materiales.
Siempre que se ejerza un esfuerzo exterior sobre un material, ste se
deformar, si el esfuerzo no sobrepasa cierto lmite la deformacin no ser
permanente sino elstica, la posicin relativa de los tomos entre s no
cambiar.
Cuando una onda ultrasnica llega a la superficie de un material deforma
elsticamente un plano de tomo, el cual, a su vez transmite dicha deformacin
a los planos atmicos cercanos debido a las interacciones existentes. De esta
forma la onda ultrasnica penetra y viaja en un cuerpo determinado.
La energa presente en una onda ultrasnica crea el esfuerzo oscilatorio
necesario para producir el movimiento del primer plano el cual, se transmite a
los otros planos en el interior del material con una velocidad determinada
propia de cada material.
2. LA CADENA DE DETECCIN
La cadena de deteccin para el ensayo impulso Eco ultrasnico puede ser
simplemente descrita como sigue:
Un sonido ultrasnico va a recorrer una lnea recta a velocidad constante que
encuentre la interfase de un medio extrao. El sonido al chocar con un medio
extrao va a reflejar de vuelta a su fuente de origen para su deteccin y anlisis.
Las frases claves son:

Recorrido en una lnea recta a velocidad constante.

Interfase de medio extrao.
Reflexin de fondo a la fuente de origen.
Deteccin y anlisis.

Cada frase juega un papel importante en la cadena de deteccin como sigue:

Recorrido en una lnea recta a la velocidad constante nos capacita a localizar la

falla:

Conociendo:

El ngulo de propagacin y

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Que el sonido recorre una lnea recta la direccin del camino snico puede ser
determinado. Ver Fig. 1.

Distancia

Localizacin

Figura 1

Conociendo:

El tiempo de llegada del impulso y

La velocidad de traslacin del sonido constante, la distancia del camino snico a
la falla puede ser calculada usando la relacin matemtica.
Distancia = velocidad x tiempo

o medido electrnicamente usando el tiempo base de un detector de fallas

ultrasnico.
Ver fig. 2.

BASE DE TIEMPO

Figura 2

Interfase de un medio extrao se refiere al lmite entre un medio homogneo

tal como acero dctil y una falla tal como una inclusin de escoria o porosidad
gaseosa. La condicin para la reflexin de sonido es que la impedancia del
medio del ensayo y la falla debe ser desiguales. Fig. 3.

Z
1

Z2
Z1 , Z2 MUY DIFERENTES

Figura 3

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Si la falla fue una inclusin de un material similar acsticamente al medio del

ensayo, el sonido pasa a travs de la falla sin que la reflexin haya tenido lugar.
Ver fig. 4.

Z1

Z1 = Z2

Figura 4

Afortunadamente defectos en estructuras metlicas son siempre acsticamente

diferentes del medio de ensayo.
Reflexin del fondo a su fuente de origen es deseable pero no siempre posible. La
trayectoria del pulso snico debe pegar en los lmites de la falla tan cerca de O.
Fig. 5.

Figura 5

Para los poros de gases redondos e inclusiones de escoria irregulares, si la posicin

de la falla es normal a la trayectoria del sonido, permitir al pulso retornar a su
fuente de origen para ser detectada. Fig. 6.

Figura 6

Pero una falla plana lisa, puede estar unos pocos grados fuera de la incidencia Oo y
la trayectoria del sonido reflejado ser redirigido fuera de la fuente de origen y
pasar sin detectarlo. Fig. 7.

60

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X
Figura 7

Deteccin y anlisis, por el fenmeno piezo-elctrico el pulso ultrasnico

reflejado (energa mecnica se convierte en pulso elctrico en la pantalla), en
un tubo de rayos catdicos. Las caractersticas del pulso mostrado son:

Amplitud del pulso.

Forma del pulso.
Dinmica del pulso con movimiento de sonda.

Provee el tcnico de toda la informacin para:

Localizar el defecto con gran exactitud.

Determinar las dimensiones del defecto.
Determinar el tipo de defecto.

3. RELACIONES DE FRECUENCIA Y LONGITUD DE ONDA

Nuestra cadena de deteccin comienza con la produccin de un pulso snico. El
transductor cristal ultrasnico va a oscilar por un corto perodo de tiempo, lo
suficiente para mandar 4 5 ondas mecnicas en series conocidas como pulso.
Fig. 8.

Figura 8

Este pulso tiene:

Velocidad (V)
Frecuencia (F)
Longitud de onda ().

Estos tres factores estn matemticamente relacionados como sigue:

61

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V
F

La importancia de esta frmula es la comprensin de la relacin entre longitud de

onda y frecuencia.
Frecuencia:
Es una funcin del grosor de cristal las frecuencias tpicas son:

1
2.25
4.0
5.0
10.0

MHz
MHz
MHz
MHz
MHz

Dimetro:
Est limitado por la frecuencia que se desea como regla general los transductores
de baja frecuencia estn confinados a dimetros de 0.5 o mayor y usualmente
1.0. Transductores de alta frecuencia estn limitados a 0.5 de menor dimetro.
Esto es debido a que el dimetro y la frecuencia juegan un papel muy importante
en la fsica del haz y afectan.

La longitud de la zona cercana.

La divergencia del haz.

Para calcular la longitud de la zona cercana:

D2 . f
NZ
4V
Para calcular la Divergencia del Haz
Sen 1.22 X

La longitud de la onda cercana

Y la divergencia del Haz

D2

V
f
D

1
V f

La combinacin de un palpador de alta frecuencia de un dimetro amplio (10

MHz, 1.0) produce una longitud de zona cercana que es larga e imprctica. Fig. 9.

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rea
directamente
proporcional
a la energa
del pulso

ALTA FRECUENCIA

ANCHO

Figura 9

La combinacin de un transductor chico (1/ 4) de baja frecuencia (1 a 2 MHz)

produce una divergencia de haz que es grande y no prctica. Fig. 10.

DIAM.
PEQUEO

ANCHO DE DIVERGENCIA
DEL HAZ

BAJA
FRECUENCIA

Figura 10

Las tablas siguientes 1 y 2 muestran las longitudes de la zona cercana (tabla 1) y la

divergencia del haz (tabla 2) para diferentes combinaciones de dimetro y
frecuencia.
El factor de control es la frecuencia. Una vez que determinamos la frecuencia por
la seleccin del transductor y la velocidad y la consideracin que la velocidad es
constante, la longitud tendr un valor.
Usando la relacin llene el espacio (con lpiz solamente).
Un aumento de frecuencia resulta en una longitud de onda por lo tanto,
la duracin de pulso. Si usted emple la palabra ms corto o un
trmino equivalente, usted comprende la relacin de frecuencia y
longitud de onda.
Por qu es importante comprender esta relacin?
Siendo la frecuencia el factor del control longitudes de onda larga (1 a 2 MHz) dan:

Pobre penetracin, pero buena resolucin y sensibilidad.

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Aplicaciones tpicas de baja frecuencia (longitud de onda larga) para el impulso-eco

de ensayo ultrasnico son:

Lingotes.
Barras.
Estructuras soldadas pesadas.

Aplicaciones tpicas de alta frecuencia (longitud de onda corta) son:

Pruebas de espesor en secciones finas.

Componentes aeronuticos.
Estructuras livianas soldadas.
Tabla 1
Longitud de campo cercano estndar

Dimetro
5 mm
12 mm
25 mm

1 Mhz
--26 mm
D2
4

X
X

2 Mhz
-12 mm
53 mm

f
V

5 Mhz
-30 mm
132 mm

10 Mhz
11 mm
61 mm
--

V 5900 m / s

Tabla 2
Haz de Divergencia estndar

Dimetro
5 mm
12 mm
25 mm

1 Mhz
--17o

2 Mhz
-17o
8o
1.22
D

X
X

5 Mhz
-7o
3o

10 Mhz
8o
3o
--

V
f

4. COMPORTAMIENTO DEL SONIDO EN MATERIALES

Impedancia acstica (ultrasnica) y reflexiones de energa.
Otro importante parmetro en prueba de ultrasonido es la impedancia acstica de
la prueba de los materiales. Cuando un haz de sonido choca contra la superficie de
contacto entre dos materiales, no toda la energa es reflejada, pero una porcin de
ella pasa al segundo material. Este argumento es verdadero excepto para la
superficie de contacto entre un slido o un lquido y un gas, como el aire, en cuya
superficie de contacto ocurre virtualmente el 100% de la reflexin. La cantidad de
energa que pasa al otro material depende de la impedancia acstica de los dos

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materiales. La impedancia es indicada por la letra Z y es el producto de la

densidad del material por la velocidad del sonido en el material.
Z = Dv (gr / cm2 seg) x 10 Z = impedancia
Donde:
D = densidad en gr / cm3 del material.
V = velocidad de onda ultrasnica en el material en cm/seg.
El porcentaje del sonido incidente que es reflejado en una superficie de contacto
depende de (1) el desequilibrio de impedancia Z1 / Z2 y (2) del ngulo de
incidencia. As la de 90C (normal), puede ser calculada como sigue:

Energa reflejada (Re)

(Z1 Z 2 ) 2
(Z1 Z 2 ) 2

Figura 11 Formas de radiacin esquemtica para varios

Tamaos de Reflectores

Para ilustrar si las condiciones son favorables para encontrar la mayor cantidad de
defectos con ultrasonido, el siguiente clculo determina la energa reflejada cuando
un haz de sonido se refleja en una superficie de contacto entre el acero y el aire:

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Densidad
Del acero 7.8 gr / cm3
Del aire 0.0013 gr /
cm3

Re

Velocidad
6,000 m / seg.
(6.0 x 105 cm / seg.)
330 m / seg.
(3.3 x 104 cm / seg.)

( 4.68 x 106 42.9) 2

Z
4.68 x 106
42.9

1 aproximadamente

( 4.68 x 106 42.9) 2

Esto significa que en esta superficie de contacto, prcticamente el 100% de la

energa de sonido es reflejada.
Una demostracin adicional de reflexin, en la superficie de contacto entre el
plomo y el acero se describe en la fig. 12. Los parmetros que no son tomados en
cuenta son (a) prdidas de acoplamiento, (b) atenuacin y (c) esparcimiento del
haz.

Figura 12 Prdidas de transmisin en una onda ultrasnica en un

Compuesto plomo-acero

Z1 =
Z2 =
Wo =
Wr =
We =
Wer =
Werr =

Impedancia acstica del primer material.

Impedancia acstica del segundo material.
Energa sealada a la entrada original.
Energa reflejada.
Energa transmitida a travs de la superficie de
contacto.
Energa transmitida, reflejada luego transmitida.
Energa transmitida, luego reflejada dos veces.

La tabla 3 de los factores aproximados para la energa reflejada entre cierto

nmero de materiales. Los datos tabulares indican que es posible que para una
gran inclusin de cuarzo en aluminio, esta se haga prcticamente indetectable
debido al pequeo porcentaje de sonido que choca en la superficie de contacto que

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est siendo reflejado. Es evidente que la inclusin de ciertos materiales, dentro de

materiales base seleccionados, pueden ser fcilmente pasados por alto o mal
interpretados durante la inspeccin ultrasnica.
Se debe tambin notar que cualquier superficie de contacto agua a acero o
aluminio, tal como en una prueba de inmersin, aproximadamente el 88% del
sonido que choca al frente o a la entrada de la superficie de contacto es reflejado.
Entonces solamente el 12% de la energa de contacto es reflejado. Entonces
solamente el 12% de la energa de sonido incidente entra en la parte que es
inspeccionada.

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Tabla 3
Energa reflejada en la superficie de contacto entre materiales disimiles

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REPARACIN Y FORMA DE CONVERSIN

Si una onda snica cruza oblicuamente la superficie de contacto de dos materiales
a diferente velocidad, una porcin del sonido es reflejado y el resto es refractado.
Esta energa transmitida ha cambiado la direccin de propagacin (refractada).
Esto es anlogo a la accin de un haz de luz que pasa a un ngulo diferente a 90,
de un material de un ndice de refraccin a otro material con diferente ndice de
refraccin. Un ejemplo familiar de este fenmeno ocurre cuando vemos un objeto
en el fondo de un lago. Este objeto no es tal como aparece debido a esta flexin
de la luz. El ngulo al cual el sonido es refractado es determinado por:

Las velocidades del sonido en los dos materiales y,

El ngulo de incidencia. Esto puede ser calculado de acuerdo a la ley de Snell
(ver fig. 13).

Figura 13 La lnea de Snell. Nota: Los ngulos son medidos desde la lnea
normal(90 a la superficie de prueba), NO desde la superficie de prueba

Se ha observado a diferencia de la luz, que una onda snica de un tipo, como la

longitudinal, no ser solamente refractada en el segundo material, sino de acuerdo
al ngulo de incidencia, ser transformada parcial o completamente en ondas de
otro tipo (forma) tales como la de corte, superficiales o del tipo placa. Desde que
las ondas tienen diferentes velocidades en el mismo material, se refractarn a
diferentes ngulos. Es posible crear ondas de dos diferentes formas en el mismo
material y al mismo tiempo. La fig. 14 ilustra este fenmeno en un caso en el cual
una seal es parcialmente transformada as como refractada en una superficie de
contacto agua-metal.
Para determinar el ngulo de refraccin de una forma especfica de sonido en un
material es necesario sustituir la velocidad de aquel tipo de onda en la frmula (Ley
de Snell). En otras palabras, si se desea determinar el ngulo refractado de una
onda de corte en el acero, la velocidad transversal del acero sera sustituida en la
ecuacin.
Dos formas de ultrasonido a diferentes velocidades y ngulos refractados presentes
en un material al mismo tiempo haran casi imposible evaluar propiamente una

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discontinuidad, desde que no se conocera cual forma de onda ha sido detectada.

Se aliviara este problema si se pudiera determinar, antes de la prueba, que
solamente una forma de onda estuviera presente en la parte.

Figura 14 Diagrama esquemtico del comportamiento de un haz snico

en una superficie de contacto metal-agua.

Esto es posible si los clculos son hechos para determinar el ngulo al cual las
ondas longitudinales sern refractadas 90 a la normal, entonces las ondas
longitudinales no se presentarn en el material. El ngulo de incidencia al cual esto
ocurre se llama el primer ngulo crtico. Ver fig. 15.

Figura 15 Clculo del primer ngulo crtico

Sin 2 = Sin 90 = 1
V1Longitudinal
Sin V1L

or Sin
1
V2L
V 2Raleigh

NOTA: Usar figuras de velocidad longitudinal en este clculo.

70

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Si el ngulo de incidencia es incrementado hasta que la onda de corte sea

refractada a 90 y viajando paralelamente a la superficie de la parte, se pueden
desarrollar ondas superficiales. Esto ocurre en el segundo ngulo crtico. Ver figura
16. Esta onda es amortiguada por un objeto (dedo, etc.) o por un lquido en la
superficie metlica, entonces, no puede ser utilizada en la prueba de inmersin.
Si se desea conocer los dos ngulos lmites de incidencia entre los cuales las ondas
superficiales sern creadas, usar el clculo indicado en la fig. 16 para el ngulo
ms pequeo y el clculo abajo indicado para el ngulo ms grande.

Figura 16 Clculo del segundo ngulo crtico

Sin 2 = Sin 90 = 1
Sin

VLongitudinal
VTransverse

NOTA:
Usar velocidad transversal para el segundo material cuando se calcule el
segundo ngulo crtico.
Sin

VLongitudinal
VRaleigh

Esto quiere decir que a cualquier ngulo incidente entre, incluyendo estos ngulos,
las ondas superficiales pueden ser generadas.
5. MTODOS DE ENSAYO
La aplicacin de ondas ultrasnicas para ensayo de materiales puede hacerse
segn diferentes tcnicas que se explicarn a continuacin. La eleccin de una u
otra tcnica depender de las caractersticas geomtricas y estructurales, del tipo
de defecto buscado, de la accesibilidad, etc. En general, y de acuerdo al grado de

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responsabilidad de los componentes, se adoptar la solucin ms adecuada en

funcin de todas las circunstancias concurrentes.
Se puede establecer una primera clasificacin segn el aparato del U.S., opere (ver
tabla 4).

Mtodo de resonancia.
Mtodo de transmisin.
Mtodo de pulso-eco.

A su vez, estos mtodos se caracterizan por la magnitud medida:

Frecuencia de resonancia.
Intensidad acstica (I)
Tiempo recorrido (T).
Intensidad acstica y tiempo de recorrido (IT).

Tabla 4 Mtodos de ensayo ultrasnico

Los mtodos de resonancia y de pulso eco operan por reflexin y los de

transmisin (o transparencia), ya sea por transmisin, por reflexin, por
conduccin o por proyeccin de imagen. En la tabla 4. Se presentan adems los
campos principales de aplicacin de estos mtodos.
5.1. MTODO DE RESONANCIA
Tal como se indica en la Tabla 4, ste mtodo se basa en la medida de la
frecuencia de resonancia por reflexin (formacin de ondas estacionarias)
y se emplea, primordialmente, para la medida de espesores de productos
de superficies paralelas.
Si es una muestra de superficies paralelas, de determinado espesor e, se
propaga un haz ultrasnico de excitacin continua y de amplio espectro de
frecuencias, las correspondientes oscilaciones cuya semilongitud de onda

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sea un submltiplo del espesor de la muestra, se reforzarn por

superponerse en fase, debilitndose las restantes, dando lugar a un
fenmeno de resonancia, es decir, a la formacin de ondas estacionarias.
En consecuencia, las oscilaciones caractersticas se podrn definir por el
nmero de semilongitudes de onda contenidas en el espesor de la muestra,
por ejemplo la oscilacin caracterstica fundamental o primera, como la
correspondiente a una semilongitud de onda por espesor

Onda incidente
Onda reflejada
Figura 17 Frecuencia fundamental y armnicos en
el ensayo por resonancia

Por su propio fundamento, no resulta adecuado para la deteccin de

heterogeneidades, si bien se pueden llegar a detectar discontinuidades,
tales como laminaciones en chapas. Tampoco resulta adecuado para la
medida de prdidas de espesores por corrosin o deterioracin por agentes
ambientales. Salvo en el caso de corrosin por ataque uniforme o desgaste
uniforme, ya sea que las picaduras y cavidades debidas a corrosin o
cavitacin alteran la condicin requerida de la superficie reflectante de la
muestra, siendo en cambio perfectamente idneos, para este fin, los
mtodos de impulso - eco descrito ms adelante.
Medida de la intensidad acstica
Este mtodo el ms antiguo de los mtodos de ensayo de materiales por
ultrasonido, mide la intensidad acstica de un haz ultrasnico, de excitacin
continua, que atraviesa el material. En realidad, no es la intensidad
acstica lo que se mide sino la amplitud de la presin acstica cuando se
utiliza un receptor piezoelctrico. Si las caractersticas del equipo y del
amplificador son lineales, la indicacin ser proporcional a la raz cuadrada
de la intensidad. No obstante, se sigue manteniendo la designacin de
mtodo de intensidad ya que son siempre se utilizan receptores
piezoelctricos
y,
adems,
porque
algunos
equipos
realizan
electrnicamente la raz cuadrada de la seal, manteniendo as proporcional
a la intensidad acstica. En realidad, se ha venido manteniendo desde

73

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antigua la designacin de intensidad por su analoga con la radiologa

industrial.
Por su propia naturaleza, se utilizan principalmente por transmisin, es
decir, con dos palpadores, uno de los cuales acta como emisor y el otro,
coaxialmente alineado al lado opuesto de la muestra, como receptor. En la
fig. 6.18 se presenta el esquema de un equipo basado en este principio.
Calibrado el equipo en una zona libre de heterogeneidades y considerando
la intensidad (o la presin acstica) recibida como100 si el haz es
interceptado por una heterogeneidad, la intensidad (o la presin acstica)
disminuir proporcionalmente a la superficie del obstculo.
Si la muestra es accesible por una sola cara, se puede adoptar la
disposicin de la fig. 19 en donde se aprovecha la reflexin del haz en su
cara opuesta.

Emisor

Receptor

Generador
de alta
frecuencia

Amplificador

Figura 18 Esquema de un equipo de media de intensidad (1)

Y ensayo por transmisin

Emisor

Receptor

Figura 19 Ensayo de medida de intensidad (1) por reflexin

En las figuras 18 y 19 se ha representado el haz ultrasnico muy

simplificado y sin tener en cuenta los fenmenos complejos que se
producen. El esquema, a pesar de su simplicidad, conserva validez en el
caso extremo de que la longitud de onda del haz ultrasnico sea muy
pequea comparada con el dimetro sombra. Pero, adems, se pueden

74

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utilizar en ensayos en las que slo interese una de las dos magnitudes: (1)
o (1). Su versatilidad es, pues, una de sus principales ventajas.

Figura 20 Esquema simplificado de una medicin de intensidad

y tiempo (IT). Mtodo pulso eco.

6. PALPADORES
El efecto piezoelctrico es el ms utilizado para la generacin y recepcin de las
ondas ultrasnicas, en su aplicacin a los mtodos de ensayo no destructivo, en
especial por cuanto el examen de los materiales metlicos se refiere. El efecto
magnetoestrictivo, se utiliza para la generacin y recepcin de ondas ultrasnicas
de frecuencia ms bajas, de 25 a 100 kHz, tales como las aplicadas al ensayo de
hormigones.
Hemos visto que, las ondas longitudinales se generan mediante los osciladores
piezoelctricos, en forma de disco, de cristales o materiales cermicos polarizados
y vibrando en la direccin de su espesor. Esto en el caso del cuarzo, se logra en
los cristales tallados segn un corte y, muestran que si tienen cristales de corte Y,
se generan transversales. Si bien, existen palpadores de esta naturaleza, no son
empleados con frecuencia en los ensayos no destructivos.
Para estos ensayos, las ondas transversales se generan, casi exclusivamente,
aprovechando los fenmenos de transformacin o conversin de ondas que se
producen al incidir una onda longitudinal oblicuamente a la superficie de la muestra
a ensayar. Basndose en estos mismos principios se generan las ondas de
superficie.
Esta es la razn fundamental para que existan dos tipos bsicos de palpadores:

De incidencia normal.
De incidencia angular.

Los palpadores, por el hecho de ser los portadores del material peizoelctrico, que
acta como generador y receptor de las ondas ultrasnicas y teniendo en cuenta
que de este conjunto dependen las caractersticas y cualidades del haz de
75

Mantenimiento Predictivo

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ultrasonidos que se propaga en el material que se examina, hace que tengan que
ser considerados como un constituyente bsico del equipo de ultrasonidos.
Siendo de la mayor importancia el diseo del oscilador, no lo es menos el del resto
de los elementos que intervienen en la construccin del palpador para modificar
sus caractersticas emisoras y receptoras, para lograr que su rendimiento y eficacia
sean mximos para unas determinadas caractersticas y cualidades del haz de
ultrasonidos. Se puede afirmar que si bien el diseo del oscilador se apoya en
estudios tericos, el del palpador responde ms a resultados de carcter
experimental.
En la actualidad, existe una gran diversidad de tipos de palpadores, como
consecuencia de la gran diversidad de tcnicas operatorias aplicables a los ms
diversos y complejos casos de examen por ultrasonido. En este orden de ideas, se
pueden clasificar los palpadores en dos grandes grupos: palpadores de contacto y
palpadores de inmersin.
6.1. PALPADORES DE INCIDENCIA NORMAL
Se emplean en los equipos que operan por los mtodos de pulso eco, de
transparencia y de resonancia. La mayor parte de estos palpadores llevan
incorporados osciladores diseados para emitir ondas longitudinales.
Segn el nmero de cristales u osciladores que lleven incorporados, se
pueden considerar los siguientes tipos:

Palpadores de cristal nico, emisor y receptor, tipo E + R (figura 4.21)

Palpadores de cristal doble, uno emisor y otro receptor, tipo E R
(figura 4.21 y C).
Palpadores de cristales mltiples para aplicaciones especiales.

6.1.1.

Palpador normal de cristal nico (tipo e + r)

La fig. 21 nos muestra el esquema de una de estos palpadores. Se
puede ver que adems del cristal piezoelctrico a), constan de una
caja o montura metlica b), que protege el conjunto,
el
amortiguador del cristal c), el hilo conductor elctrico d) y la
conexin e).
El amortiguador c) del cristal es un elemento indispensable en los
equipos que operan por el mtodo de pulso eco.
Sus finalidades concretas son las siguientes:
1. Reducir el tiempo de oscilacin del cristal.
2. Absorber las ondas que pudieran interferir el oscilograma y
3. Soportar mecnicamente el cristal piezoelctrico.

76

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A
a.
b.
c.
d.
e.

Cristal piezolctrico
Caja o montura metlica
Amortiguador
Conductor
Conexin

A.- Palpador normal (Tipo E + R)

B.- Palpador de doble cristal (Tipo E R).
C.- Oscilograma del palpador (Tipo E R).

Figura 21 Palpadores de contacto

Posiblemente, de estas tres finalidades, sea la primera la ms

importante ya que la duracin del impulso acstico define la
llamada zona muerta del palpador que es la de la base de tiempo
ocupada por la seal de emisin en el TRC. En esta zona muerta
no ser posible detectar la presencia de heterogeneidades, puesto
que las indicaciones de los posibles ecos quedaran enmascaradas.
El contacto elctrico se realiza, en el cuarzo y en los cristales
cermicos, mediante una supervisin de plata metlica extendida
sobre las caras del cristal, que seca a unos 500C y soldndose a

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continuacin los electrodos con soldadura de plata. Tanto en el

caso del sulfato de litio (punto de curie: 75C) y del titanato de
bario (punto de curie: 115-150C), el recubrimiento se puede hacer
pintando las superficies con suspensin de plata conductora de
secado en tro mientras que los electrodos se adhieren mediante
un cemento conductor.
En los palpadores de contacto sin suela protectora, el recubrimiento
con plata no es una solucin eficaz ya que se elimina fcilmente por
desgaste y rozamiento. Por este motivo, se deben emplear para
este tipo de palpadores cristales de curazo, que, dadas sus
caractersticas permiten su uso sin suela protectora; en este caso
slo se metaliza la cara interna y la propia muestra metlica hace
de electrodo en sustitucin del recubrimiento externo. Con este
tipo de palpadores se alcanza un poder de resolucin ms elevado
pero, para el ensayo de muestras no metlicas o con las superficies
oxidadas, es preciso utilizar un medio de acoplamiento que sea
conductor.
Cuando no se precisa de un poder de resolucin mximo, como es
el caso de muchos ensayos de rutina, es preferible proteger el
cristal contra el desgaste por medio de pelculas o suelas
protectoras. A este fin de utilizan pelculas finas de plstico, cuya
resistencia al desgaste aumenta por adicin de polvo de sustancias
duras y que se pegan al cristal mediante una capa fina de adhesivo.
Tambin se emplean lminas de caucho o plstico blando, de 0,2
0,3 mm., de grueso, fciles de sustituir cuando se estropean. En
este caso el espacio entre el cristal y la lmina se debe llenar el
aceite o grasa. Si embargo, actualmente, se tiende a recubrir el
cristal de una lmina muy fina de cuarzo y zafiro, muy resistentes al
desgaste, qumicamente inertes y con una influencia despreciable
sobre la sensibilidad del palpador.
Un buen palpador debe poseer una buena sensibilidad para
distancias grandes y buen poder de resolucin. Para conseguirlo,
primero se utilizar el palpador de dimetro y frecuencia mximos
compatibles con la atenuacin del material a examinar y, a la vez,
convendr mantener la amortiguacin en valores bajos, con el fin
de que el cristal pueda detectar impulsos acsticos dbiles. Ahora
bien, esta ltima condicin se opone al segundo requerimiento, ya
que, slo con una amortiguacin elevada se puede reducir la
longitud de la zona muerta y, simultneamente, conseguir impulsos
acsticos de corta duracin. Ambas condiciones son necesarias
para el poder de resolucin.

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6.2. PALPADORES DE INCIDENCIA ANGULAR

Los palpadores angulares de contacto consisten, en esencia, en un oscilador
de ondas longitudinales aplicando a una de las caras de un prisma de
plstico (generalmente perpex), tallado con un ngulo de incidencia
adecuado al ngulo de refraccin o de penetracin que se desea para un
determinado material.
Los elementos de un palpador angular as como su disposicin, son los que
figuran en el esquema de la figura 22.

a.b.c.d.e.-

Cristal piezoelctrico
Prisma de pics
Amortiguador
Protector metlico o montura
Conexin
Figura 22 Palpador de incidencia angular

El cristal piezoelctrico (a) se monta sobre un prisma de plstico (b) por

intermedio de una capa muy fina de adhesiva. En general, no se utiliza
amortiguador adosado a la cara posterior del cristal, puestos que el efecto
del propio prisma de plstico suele ser suficiente para mantener los pulsos
cortos y la consiguiente buena resolucin del palpador. La sustancia
amortiguadora (c) se utiliza, en estos palpadores, para evitar que las
reflexiones internas en el prisma vuelvan al cristal (mtodo de pulso-eco).
Suele consistir en resinas a caucho vulcanizado a los que aaden cargas
apropiadas (dixido de magneso, corcho, limaduras metlicas, etc.)., para
elevar su coeficiente de atenuacin. Adems, se suele recurrir a mecanizar
en diente de sierra las superficies del prisma en contacto con el
amortiguador (c), lo que constituye a la dispersin de las ondas reflejadas..
Distinguir heterogeneidades prxima entre si.
Por lo tanto, con un material piezoelctrico dado, un palpador slo ser
ptimo con respecto a la sensibilidad o con respecto al poder de resolucin,
pero nunca para ambos requisitos a la vez.

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6.2.1. Palpadores de cristal doble (tipo e r)

El palpador de doble cristal uno emisor y otro receptor, trata de
resolver el problema de la zona muerta que se presenta en los
palpadores de un solo cristal, que impide o dificulta la deteccin de
heterogeneidades prximas a la superficie de exploracin. En los
palpadores sin suela protectora la zona muerta oscila entre 4 y 5
mm., (en acero) por lo cual no ser posible examinar muestras de
ese espesor o menor. Si el palpador est protegido, la zona
muerta puede rebasar, dependiendo de la frecuencia, los 10
mm.
Los palpadores tipo E R, cuyo esquema es el que aparece en la
figura 21, constan de dos cristales perfectamente aislados, elctrica
y acsticamente por una lmina de corcho o policloruro de vinilo.
Uno de los cristales acta solo como emisor y el otro como
receptor. Ambos cristales se montan, con una cierta inclinacin,
sobre una columna de plstico que produce un cierto efecto
focalizador, de forma que concentra el haz ultrasnico para
conseguir mxima sensibilidad en las proximidades de la superficie.
Mediante este artificio se consigue que, por efecto del trayecto
previo en plstico, la indicacin de la seal de emisin quede muy
separada del eco producido pro la heterogeneidad. La nueva
posicin cero de la escala de distancias, queda sealada por la
indicacin muy dbil procedente del eco de la superficie de la
muestra.
La columna de plstico se construye a partir de un material de bajo
coeficiente de atenuacin, con una impedancia acstica tal que
produzca una buena transmisin en la muestra a travs del medio
de acoplamiento correspondiente. Si la diferencia de impedancia es
muy elevada, se producir una reflexin fuerte en la superficie, lo
que dar lugar a la consiguiente prdida de energa y reforzamiento
del eco de la interfase o superficie de exploracin. Se comprueba
que la altura de la indicacin del eco decrece rpidamente a ambos
lados de la distancia ptima que, para este palpador concreto se
sita hacia los 12 mm. La posicin de la zona de mxima
sensibilidad es funcin primordialmente, de la inclinacin de los
cristales y de la frecuencia.
Con este tipo de palpador y con equipos adecuados, es posible
medir espesores y detectar heterogeneidades a partir de una
profundidad equivalente a una longitud de onda.
Una de las grandes ventajas que presenta este tipo de palpadores
es el de poder utilizar los cristales ms indicados para cada misin;
por ejemplo, el titanato de bario como emisor y el sulfato de litio
como receptor. Es evidente que est solucin exigira que las

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conexiones, palpador-equipo, de ambos cristales no fuesen

intercambiables con objeto de evitar la posibilidad de error.
En los ensayos a altos niveles de ganancia., las perturbaciones
provocadas por estas reflexiones pueden no llegar a eliminarse
totalmente, especialmente pueden no llegar a eliminarse
totalmente, especialmente cuando existan ondas que vuelvan
directamente al cristal como consecuencia de la rugosidad de la
superficie de exploracin.
El conjunto va montando en un protector metlico (d), provisto de
la correspondiente conexin (e)
A partir de la ley de Snell, se puede deducir que si ....... V1 V2
como tambin VT1 VT2 , existe un ngulo de incidencia lmite por
encima del cual dejan de coexistir modos de onda en el medio 2,
quedando slo la onda transversal. De otra parte, conociendo los
valores de las velocidades acsticas en cada uno de los materiales y
el modo de onda existente en cada uno, es posible calcular los
valores de estos ngulos de incidencia.
Refirindose al caso que nos interesa o al menos resulta ms
interesante desde el punto de vista de su aplicacin al examen de
uniones soldadas, ser preciso tener en cuenta la superficie lmite
soldadas perpex. Acero y perpex-aluminio, al objeto de encontrar
los valores de los ngulos lmites para los cuales se propagarn
ondas transversales en estos materiales. De acuerdo con los
valores que se dan en la tabla 6.1 y teniendo en cuenta las leyes
de la reflexin, encontramos que los prismas de perpex para la
propagacin de ondas transversales deben tener, ngulos de
incidencia comprendidos entre 27.6 y 57.8 para el acero y entre
25.6 y 61 para el aluminio. Los palpadores de contacto
comerciales, estn diseados, generalmente, para aceros; por lo
que, para el examen de otros materiales, ser preciso hacer las
correspondientes correcciones en funcin de las diferentes
velocidades de propagacin de las ondas transversales.
Como el ngulo de emisin de 27.6, se refiere a un haz muy
estrecho, se elige un ngulo algo mayor para que, bajo ningn
concepto se pueda producir una onda longitudinal en el material
que se examina. El ngulo mnimo de refraccin de la onda
transversal que se toma es el de 35. Por otra parte, el ngulo
lmite de refraccin no se halla efectivamente en los 90, sino ya en
los 80, por lo que en ngulos superiores a este valor aparecen las
ondas superficiales.
Teniendo en cuenta los lmites anteriores mencionados, los
palpadores para la emisin del haz bajo ngulo, nicamente se
construyen para ngulo de refraccin comprendidos entre los 35 y
80. Los palpadores angulares ms corrientes, refirindonos

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siempre al acero, se construyen para ngulos de refraccin de 35,

45, 60 y 70. A estos ngulos se les suele llamar ngulos de
entrada.
7. CALIBRACIN DEL SISTEMA
A los fines de que la informacin que se obtiene mediante el ensayo ultrasnico sea
comprable y repetitiva es necesario calibrar y fijar las condiciones de
funcionamiento y sensibilidad del sistema de ensayo que se emplea.
Un sistema de ensayo ultrasnico est compuesto por un nmero de componentes
cuyo comportamiento debe ser evaluado en su funcionamiento conjunto. Estos
componentes son:

Aparato electrnico o equipo de ultrasonidos que genera, recibe y representa

las seales elctricas correspondientes a las ondas ultrasnicas del ensayo.
Debe ser identificadas por su marca, modelo y nmero de serie.
Palpador de ultrasonidos, que genera y recibe las ondas ultrasnicas. Debe ser
identificado por su tamao, tipo, clase de cristal piezoelctrico, frecuencia y
tcnica de ensayo a que est destinado (contacto o inmersin).
Cables de interconexin, incluido si corresponde impedancias de acoplamiento.
Elementos auxiliares tales como: tanque para ensayo por inmersin,
manipuladora para el barrido de la pieza a examinar, medio de acoplamiento
para ensayo por contacto.

Al efectuarse los ensayos se debe tener la seguridad de que el equipo utilizado

(instrumento electrnico y sonda ultrasnica) est operando en condiciones de
sensibilidad determinadas y reproducibles de manera tal que las informaciones
obtenidas (altura y posicin de ecos) puedan ser directamente comparables. Estos
es particularmente importante luego de efectuar reparaciones en el equipo
electrnico (ajustes, reemplazo de vlvulas, etc.,) o cuando durante la inspeccin,
se debe cambiar de equipo o se usan varios de ellos en distintos lugares.
Es adems importante tener la posibilidad de hacer verificaciones peridicas de las
condiciones de funcionamiento del equipo en el lugar de trabajo para asegurarse
que se sensibilidad no ha variado o no es afectada por alteraciones en la tensin de
alimentacin, por variaciones en la emisin de las vlvulas por desgaste o
modificaciones de montaje del cristal del palpador. Verificar tambin el
mantenimiento de la linealidad de la base de tiempo del equipo electrnico.
Finalmente puede ser necesario controlar el ngulo y posicin de salida del haz
ultrasnico en sondas angulares.
Se debe tener presente que estas calibraciones se hacen para obtener referencias
en la operacin del equipo y permitir comparaciones de sensibilidades relativas
pero que nunca deben ser utilizadas como elemento de juicio para evaluacin de
defectos en forma absoluta.

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Figura 23 Bloques normalizados ISS/IIW (V1)

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Figura 24 Bloque normalizado ISS/IIW (V2)

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7.1.

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SENSIBILIDAD DEL PALPADOR

La sensibilidad de un cristal piezoelctrico es su mayor o menor capacidad
(o eficacia) para transformar energa ultrasnica en energa elctrica (o
viceversa). Una mayor transformacin presupone una mayor eficacia y por
lo tanto, una sensibilidad ms elevada. A travs de medidas con el bloquepatrn se pueden comparar la sensibilidad entre diversos palpadores.
Verificacin de la sensibilidad de trabajo: Esta verificacin se realiza a fin de
obtener datos de referencia que permitan comprobar, mediante las
posteriores verificaciones, si se mantiene la sensibilidad de trabajo del
equipo durante el transcurso de los ensayos. No debe utilizarse para la
evaluacin de sensibilidad de indicacin por cuanto esta ltima no puede
ser verificada mediante el uso del bloque en consideracin.
El procedimiento de ajuste depende de que se deba trabajar con alta o con
baja ganancia:
Verificacin con alta ganancia:

Fijar la sonda en la posicin indicada sin ejercer presin excesiva y

usando lquido acoplante adecuado.
Calibrar la escala en el rango de 200 mm.
Hacer coincidir el primer eco con la divisin 50 mm., ya que el espesor
de plstico equivale a dicha distancia en acero.
Registrar el nmero de ecos, la altura del ltimo de ellos visible en la
pantalla y la ganancia de trabajo.

Verificacin con baja ganancia.

7.2.

Fijar la sonda en la posicin indicada.

Desplazar el cabezal hacia arriba y hacia abajo basta conseguir la
mxima altura en el eco proveniente del agujero de 1,5 mm.
Ajustar la ganancia al valor requerido.
Registrar los datos correspondientes a la altura del eco y la ganancia de
trabajo.

PODER DE RESOLUCIN DEL PALPADOR

Al dirigir un haz ultrasnico sobre una superficie escalonado (ver fig. 26)
resultarn dos reflexiones simultneas y separados solamente por una
distancia muy pequea que corresponde a la diferencia de espesor
originada por los escalones. Se da el caso que puede aparecer un eco
bastante confuso sin poderse apreciar aquella diferencia (a) pero utilizamos
otra palpador distinto podremos obtener una imagen ms destacada (b) en
que aparecen claramente los dos ecos. Decimos entonces que el segundo
palpador tiene mejor resolucin que el primero.

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a)

Figura 25 Verificacin de sensibilidad con sonda normal

a) Con alta ganancia.
b) Con baja ganancia.

Figura 26 Poder de resolucin de un palpador

Estimacin del poder de resolucin:

Ubicar la escala en el rango calibrado de 200 mm.

Fijar la sonda en la posicin de la Fig. 27.
En la posicin indicada se obtendrn en la pantalla del instrumento los
ecos correspondientes: al espesor de 100 mm., parte ms ancha del
bloque, el espesor de 85 corresponde a la ranura y al espesor de 91
mm., corresponde al rebaje.

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Mantenimiento Predictivo

Se ajusta la altura del mayor de los ecos de manera que alcance los 2/3
de la altura de la pantalla, actuando sobre el control de la ganancia y se
observa la apariencia comparndolos con los esquemas de la fig. 27.
De acuerdo a la comparacin efectuada la resolucin debe ser calificada
como: buena, aceptable o pobre.

Figura 27 Estimulacin de resolucin con sonda normal

7.3.

VERIFICACIN DE UN TRANSDUCTOR ANGULAR

En primer lugar se requiere conocer perfectamente el punto de salida del
haz as como tambin el ngulo de entrada (ngulo de refraccin, al incidir
sobre la superficie del material) y para ello recurrimos una vez ms a la
pieza patrn (ver fig. 28).

Figura 28 Determinacin del punto de salida del haz de U.S.

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Situado el palpador en la posicin L dirigimos el haz hacia el sector hasta

obtener la mxima amplitud del eco (a): en ese momento la situacin del
verdadero punto de salida del haz (ndice) se corresponde con el punto 0 de
la pieza patrn. Para conocer el ngulo de refraccin debe colocarse el
palpador, segn ngulo de refraccin del mismo, en las posiciones
sealadas en la pieza patrn: M1 a M5, dirigiendo el haz hacia el centro del
crculo de material plstico hasta obtener la mxima amplitud de seal igual
que hicimos anteriormente. La raya que indica el punto de salida debe
corresponderse con el valor del ngulo marcada. De no ser as se recurre a
una interpolacin.

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