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Mantenimiento Predictivo
UNIDAD V
Infrasnica
Frecuencia inferior a 16 ciclos / segundo o Hertz (Hz).
Snica (audible)
Frecuencias comprendidas entre 16 Hz y 20 kHz.
Ultrasnica
Frecuencias superiores a los 20 kHz. El lmite superior de frecuencia no est
definido fsicamente, dependiendo en la prctica de la posibilidad de su
generacin y recepcin.
Como origen de este mtodo de ensayo se puede considerar el conocido
ensayo de percusin en el que la muestra se golpea con un martillo y el sonido
emitido se percibe por el odo. Sin embargo, los primeros ensayos mediante
ultrasonidos fueron aplicados por Sokolov, en 1929, para detectar la presencia
de heterogeneidades, midiendo la cada de la intensidad acstica transmitida en
el material cuando el haz de ultrasonidos atraviesa zonas del objeto examinado
en la que existen heterogeneidades o defectos (mtodo de transparencia).
Posteriormente (Firestone, 1942), se aplic el principio del sonar, de
localizacin de buques y de medida de profundidades marinas, para la
deteccin de heterogeneidades en los materiales mediante una seal reflejada
(mtodo de impulso-eco).
Las ondas ultrasnicas se propagan aprovechando las propiedades elsticas de
los materiales y por ello requieren de la existencia de tomos y molculas, es
decir, a diferencia de las ondas electromagnticas, no pueden propagarse en el
vaco.
Como los tomos distan bastante de ser esferas rgidas y elsticas, la
propagacin de la onda U.S., es un fenmeno complejo que requiere de
profundos conocimientos de la fsica ondulatoria para comprenderlo en toda su
magnitud sin embargo, para efecto de la utilizacin del fenmeno ultrasnico
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Conociendo:
El ngulo de propagacin y
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Que el sonido recorre una lnea recta la direccin del camino snico puede ser
determinado. Ver Fig. 1.
Distancia
Localizacin
Figura 1
Conociendo:
BASE DE TIEMPO
Figura 2
Z
1
Z2
Z1 , Z2 MUY DIFERENTES
Figura 3
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Z1
Z1 = Z2
Figura 4
Figura 5
Figura 6
Pero una falla plana lisa, puede estar unos pocos grados fuera de la incidencia Oo y
la trayectoria del sonido reflejado ser redirigido fuera de la fuente de origen y
pasar sin detectarlo. Fig. 7.
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X
Figura 7
Figura 8
Velocidad (V)
Frecuencia (F)
Longitud de onda ().
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V
F
1
2.25
4.0
5.0
10.0
MHz
MHz
MHz
MHz
MHz
Dimetro:
Est limitado por la frecuencia que se desea como regla general los transductores
de baja frecuencia estn confinados a dimetros de 0.5 o mayor y usualmente
1.0. Transductores de alta frecuencia estn limitados a 0.5 de menor dimetro.
Esto es debido a que el dimetro y la frecuencia juegan un papel muy importante
en la fsica del haz y afectan.
D2 . f
NZ
4V
Para calcular la Divergencia del Haz
Sen 1.22 X
D2
V
f
D
1
V f
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rea
directamente
proporcional
a la energa
del pulso
ALTA FRECUENCIA
ANCHO
Figura 9
DIAM.
PEQUEO
ANCHO DE DIVERGENCIA
DEL HAZ
BAJA
FRECUENCIA
Figura 10
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Lingotes.
Barras.
Estructuras soldadas pesadas.
Dimetro
5 mm
12 mm
25 mm
1 Mhz
--26 mm
D2
4
X
X
2 Mhz
-12 mm
53 mm
f
V
5 Mhz
-30 mm
132 mm
10 Mhz
11 mm
61 mm
--
V 5900 m / s
Tabla 2
Haz de Divergencia estndar
Dimetro
5 mm
12 mm
25 mm
1 Mhz
--17o
2 Mhz
-17o
8o
1.22
D
X
X
5 Mhz
-7o
3o
10 Mhz
8o
3o
--
V
f
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(Z1 Z 2 ) 2
(Z1 Z 2 ) 2
Para ilustrar si las condiciones son favorables para encontrar la mayor cantidad de
defectos con ultrasonido, el siguiente clculo determina la energa reflejada cuando
un haz de sonido se refleja en una superficie de contacto entre el acero y el aire:
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Densidad
Del acero 7.8 gr / cm3
Del aire 0.0013 gr /
cm3
Re
Velocidad
6,000 m / seg.
(6.0 x 105 cm / seg.)
330 m / seg.
(3.3 x 104 cm / seg.)
Z
4.68 x 106
42.9
1 aproximadamente
Z1 =
Z2 =
Wo =
Wr =
We =
Wer =
Werr =
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Tabla 3
Energa reflejada en la superficie de contacto entre materiales disimiles
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Figura 13 La lnea de Snell. Nota: Los ngulos son medidos desde la lnea
normal(90 a la superficie de prueba), NO desde la superficie de prueba
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Esto es posible si los clculos son hechos para determinar el ngulo al cual las
ondas longitudinales sern refractadas 90 a la normal, entonces las ondas
longitudinales no se presentarn en el material. El ngulo de incidencia al cual esto
ocurre se llama el primer ngulo crtico. Ver fig. 15.
Sin 2 = Sin 90 = 1
V1Longitudinal
Sin V1L
or Sin
1
V2L
V 2Raleigh
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Sin 2 = Sin 90 = 1
Sin
VLongitudinal
VTransverse
NOTA:
Usar velocidad transversal para el segundo material cuando se calcule el
segundo ngulo crtico.
Sin
VLongitudinal
VRaleigh
Esto quiere decir que a cualquier ngulo incidente entre, incluyendo estos ngulos,
las ondas superficiales pueden ser generadas.
5. MTODOS DE ENSAYO
La aplicacin de ondas ultrasnicas para ensayo de materiales puede hacerse
segn diferentes tcnicas que se explicarn a continuacin. La eleccin de una u
otra tcnica depender de las caractersticas geomtricas y estructurales, del tipo
de defecto buscado, de la accesibilidad, etc. En general, y de acuerdo al grado de
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Mtodo de resonancia.
Mtodo de transmisin.
Mtodo de pulso-eco.
Frecuencia de resonancia.
Intensidad acstica (I)
Tiempo recorrido (T).
Intensidad acstica y tiempo de recorrido (IT).
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Onda incidente
Onda reflejada
Figura 17 Frecuencia fundamental y armnicos en
el ensayo por resonancia
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Emisor
Receptor
Generador
de alta
frecuencia
Amplificador
Emisor
Receptor
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utilizar en ensayos en las que slo interese una de las dos magnitudes: (1)
o (1). Su versatilidad es, pues, una de sus principales ventajas.
6. PALPADORES
El efecto piezoelctrico es el ms utilizado para la generacin y recepcin de las
ondas ultrasnicas, en su aplicacin a los mtodos de ensayo no destructivo, en
especial por cuanto el examen de los materiales metlicos se refiere. El efecto
magnetoestrictivo, se utiliza para la generacin y recepcin de ondas ultrasnicas
de frecuencia ms bajas, de 25 a 100 kHz, tales como las aplicadas al ensayo de
hormigones.
Hemos visto que, las ondas longitudinales se generan mediante los osciladores
piezoelctricos, en forma de disco, de cristales o materiales cermicos polarizados
y vibrando en la direccin de su espesor. Esto en el caso del cuarzo, se logra en
los cristales tallados segn un corte y, muestran que si tienen cristales de corte Y,
se generan transversales. Si bien, existen palpadores de esta naturaleza, no son
empleados con frecuencia en los ensayos no destructivos.
Para estos ensayos, las ondas transversales se generan, casi exclusivamente,
aprovechando los fenmenos de transformacin o conversin de ondas que se
producen al incidir una onda longitudinal oblicuamente a la superficie de la muestra
a ensayar. Basndose en estos mismos principios se generan las ondas de
superficie.
Esta es la razn fundamental para que existan dos tipos bsicos de palpadores:
De incidencia normal.
De incidencia angular.
Los palpadores, por el hecho de ser los portadores del material peizoelctrico, que
acta como generador y receptor de las ondas ultrasnicas y teniendo en cuenta
que de este conjunto dependen las caractersticas y cualidades del haz de
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ultrasonidos que se propaga en el material que se examina, hace que tengan que
ser considerados como un constituyente bsico del equipo de ultrasonidos.
Siendo de la mayor importancia el diseo del oscilador, no lo es menos el del resto
de los elementos que intervienen en la construccin del palpador para modificar
sus caractersticas emisoras y receptoras, para lograr que su rendimiento y eficacia
sean mximos para unas determinadas caractersticas y cualidades del haz de
ultrasonidos. Se puede afirmar que si bien el diseo del oscilador se apoya en
estudios tericos, el del palpador responde ms a resultados de carcter
experimental.
En la actualidad, existe una gran diversidad de tipos de palpadores, como
consecuencia de la gran diversidad de tcnicas operatorias aplicables a los ms
diversos y complejos casos de examen por ultrasonido. En este orden de ideas, se
pueden clasificar los palpadores en dos grandes grupos: palpadores de contacto y
palpadores de inmersin.
6.1. PALPADORES DE INCIDENCIA NORMAL
Se emplean en los equipos que operan por los mtodos de pulso eco, de
transparencia y de resonancia. La mayor parte de estos palpadores llevan
incorporados osciladores diseados para emitir ondas longitudinales.
Segn el nmero de cristales u osciladores que lleven incorporados, se
pueden considerar los siguientes tipos:
6.1.1.
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A
a.
b.
c.
d.
e.
Cristal piezolctrico
Caja o montura metlica
Amortiguador
Conductor
Conexin
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a.b.c.d.e.-
Cristal piezoelctrico
Prisma de pics
Amortiguador
Protector metlico o montura
Conexin
Figura 22 Palpador de incidencia angular
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7.1.
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7.2.
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a)
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Se ajusta la altura del mayor de los ecos de manera que alcance los 2/3
de la altura de la pantalla, actuando sobre el control de la ganancia y se
observa la apariencia comparndolos con los esquemas de la fig. 27.
De acuerdo a la comparacin efectuada la resolucin debe ser calificada
como: buena, aceptable o pobre.
7.3.
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